KR20040080017A - wafer fixing apparatus of ion-implanter - Google Patents

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KR20040080017A
KR20040080017A KR1020030014851A KR20030014851A KR20040080017A KR 20040080017 A KR20040080017 A KR 20040080017A KR 1020030014851 A KR1020030014851 A KR 1020030014851A KR 20030014851 A KR20030014851 A KR 20030014851A KR 20040080017 A KR20040080017 A KR 20040080017A
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위성혁
신금현
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삼성전자주식회사
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Abstract

PURPOSE: A wafer fixing apparatus of ion implantation equipment is provided to form a contact state between a lateral part of a wafer and a finger and reduce the damage of the wafer by sliding a slider to press a wafer toward a fence. CONSTITUTION: A block(30) is fixed on the back side of a disk(10). A slider is used for performing a sliding guide operation to block. A finger is fixed to the slider and penetrates the front side of the disk. An extended part of the finger is opposite to a lateral part of the wafer. An elastic member(42) is used for providing the elastic force for the slider in order to press the wafer toward a fence on a pad. A lift(44) is used for sliding the slider by pressing the elastic member to the opposite direction of the elastic member.

Description

이온주입설비의 웨이퍼 고정장치{wafer fixing apparatus of ion-implanter}Wafer fixing apparatus of ion-implanter

본 발명은 웨이퍼의 표면에 이온이 균일하게 주입되도록 고속 회전하는 임플란트 디스크에 대하여 웨이퍼의 이탈을 방지하도록 고정하기 위한 이온주입설비의 웨이퍼 고정장치에 관한 것이다.The present invention relates to a wafer holding device of an ion implantation facility for fixing the wafer to prevent the separation of the wafer with respect to the implant disk that rotates at a high speed so that ions are uniformly injected to the surface of the wafer.

일반적으로 반도체소자 제조 공정 중의 이온주입공정은 열확산 공정과 더불어 웨이퍼 기판속으로 불순물을 넣어 소자가 전기적인 특성을 갖도록 하는 공정이다. 특히 불순물의 농도 조절이 용이하다는 이점과 불순물의 주입 깊이를 정확하게 컨트롤할 수 있다는 이점에 의해 고집적화와 고밀도화 추세 및 양상 측면에서 대단히 유용한 기술로 각광받고 있다.In general, the ion implantation process in the semiconductor device manufacturing process is a process to add the impurities into the wafer substrate in addition to the thermal diffusion process so that the device has an electrical characteristic. In particular, due to the advantages of easy control of the concentration of impurities and precise control of the implantation depth of impurities, it has been spotlighted as a very useful technology in terms of trends and aspects of high integration and density.

상술한 이온주입공정을 실시하는 인온주입설비의 일반적인 구성은, 도 1에 도시한 바와 같이, 공정 분위기를 이루는 챔버(도시 안됨) 내에 고속 회전토록 구성한 디스크(10)가 있고, 이 디스크(10) 상에는 통상 웨이퍼(W) 일 매씩을 각각 탑재토록 하는 복수개의 패드(1)를 구비하고 있다. 또한, 디스크(10)의 일측에는 웨이퍼(W)를 대응하는 패드(12)에 순차적으로 탑재토록 하는 이송부(14)가 구비되어 있다.As shown in FIG. 1, the general configuration of the in-ion implantation apparatus for performing the ion implantation process described above includes a disk 10 configured to rotate at a high speed in a chamber (not shown) constituting a process atmosphere. Usually, a plurality of pads 1 are provided to mount one wafer W each. In addition, one side of the disk 10 is provided with a transfer unit 14 for sequentially mounting the wafer (W) on the corresponding pad (12).

한편, 상술한 패드(12) 상에는, 도 1 또는 도 2에 도시한 바와 같이, 패드(12)의 일측 가장자리 부위에 패드(12) 상에 놓이는 웨이퍼(W)의 측부를 지지하는 펜스(16)를 구비하고 있으며, 이 펜스(16)의 상대측 부위 즉, 패드(12)의 중심을 기준으로 하여 상대측 부위에는 대응하는 웨이퍼(W)의 측부와 접촉하여 상술한 펜스(16) 방향으로 탄력적으로 미는 핑거(18)가 구비된다.Meanwhile, on the pad 12 described above, as shown in FIG. 1 or 2, the fence 16 supporting the side of the wafer W placed on the pad 12 at one edge portion of the pad 12. The other side portion of the fence 16, that is, the center of the pad 12, is in contact with the side portion of the corresponding wafer W and elastically pushes in the direction of the fence 16 described above. Finger 18 is provided.

이때 웨이퍼(W)에 대한 핑거(18)와 펜스(16)의 관계는, 이들 사이에 놓이는 웨이퍼(W)에 대하여 상호 탄력적으로 가압하는 것으로서, 디스크(10)의 고속 회전에 따른 원심력으로부터 웨이퍼(W)의 이탈을 방지하도록 잡아주는 역할을 담당한다.At this time, the relationship between the finger 18 and the fence 16 with respect to the wafer W is to press elastically against the wafer W placed therebetween, and from the centrifugal force due to the high speed rotation of the disk 10, the wafer ( It plays the role of catching to prevent departure of W).

여기서, 펜스(16)는 고정된 상태로 있으며, 상대적으로 핑거(18)는 웨이퍼(W)가 패드(12)에 놓이는 과정에서 이격되었다가 웨이퍼(W)가 놓인 이후에 대향하는 웨이퍼(W)의 측부를 펜스(16) 방향으로 가압하는 탄력적인 위치 변화를 갖는다.Here, the fence 16 is in a fixed state, and the fingers 18 are relatively spaced apart in the process of placing the wafer W on the pad 12 and then facing the wafer W after the wafer W is placed. It has an elastic position change which presses the side part of the to the fence 16 direction.

상술한 구성에 있어서 웨이퍼(W)를 고정시키기 위한 핑거(18)의 동작 관계의 구성 즉, 웨이퍼(W) 고정장치의 구성에 대한 종래 기술을 도 3으로부터 참조하여 설명하기로 한다.In the above-described configuration, the prior art of the configuration of the operation relationship of the finger 18 for fixing the wafer W, that is, the configuration of the wafer W fixing device will be described with reference to FIG.

도 3에 도시한 바와 같이, 봉 형상의 핑거(18)는 상측 부위가 웨이퍼(W)를 사이에 두고 펜스(16)와 마주보는 위치의 디스크(10)를 관통하여 웨이퍼(W) 측부에 접촉 가능하게 놓이고, 이 핑거(18)의 하측 부위는 디스크(10)의 하부에 고정부재(20)에 고정된 탄성부재(22)에 탄력 지지된다. 그리고, 핑거(18)의 하측 단부에는 핑거(18)로부터 굴곡 연장한 형상의 레버(24)가 연결되어 있고, 이 레버(24)는 핑거(18)와 연동하며 탄성부재(22)의 탄성력과 하측으로부터 승·하강 구동하는 리프트(26)에 의해 소정 각도 범위로 회전하는 구성을 이룬다. 여기서, 탄성부재(22)은 핑거(18)의 상측 단부가 웨이퍼(W)의 측부를 펜스(16) 방향으로 미는 힘을 제공하고, 핑거(18)와 연결된 레버(24)를 상술한 리프트(26)에 접촉 유지되게 탄성력을 제공한다.As shown in FIG. 3, the rod-shaped finger 18 contacts the wafer W side by penetrating the disk 10 at an upper portion thereof facing the fence 16 with the wafer W therebetween. Laid out possibly, the lower part of the finger 18 is elastically supported by the elastic member 22 fixed to the fixing member 20 at the bottom of the disk 10. The lower end of the finger 18 is connected with a lever 24 having a shape extending from the finger 18. The lever 24 is interlocked with the finger 18 and connected with the elastic force of the elastic member 22. The lift 26 which drives up and down from the lower side is configured to rotate in a predetermined angle range. Here, the elastic member 22 provides a force to which the upper end of the finger 18 pushes the side of the wafer W in the direction of the fence 16, and lifts the lever 24 connected to the finger 18 as described above. 26) provide an elastic force to remain in contact with it.

이러한 구성으로부터 웨이퍼(W)의 탑재 과정을 살펴보면, 이송부(14)로부터 웨이퍼(W)가 이송되면 상술한 리프트(26)는 승강 구동하여 레버(24)를 밀어 올리고, 이에 따라 레버(24)와 연결된 핑거(18)는 연동하여 패드(12) 상에 웨이퍼(W)를 안착 가능하도록 이격 위치된다. 이후, 패드(12) 상에 웨이퍼(W)가 놓이면 리프트(26)는 하강 구동하고, 이와 동시에 탄성부재(22)의 탄성력을 받는 핑거(18)와 레버(24)는 연동하며 핑거(18)로 하여금 웨이퍼(W)의 측부를 가압하여 펜스(16) 방향으로 밀어내게 함으로써 웨이퍼(W)를 고정하게 된다.Looking at the mounting process of the wafer (W) from such a configuration, when the wafer (W) is transferred from the transfer unit 14, the above-mentioned lift 26 is driven up and down to push up the lever 24, and accordingly the lever 24 and The connected fingers 18 are spaced apart to enable the wafer W to rest on the pad 12 in cooperation. Subsequently, when the wafer W is placed on the pad 12, the lift 26 is driven downward, and at the same time, the finger 18 and the lever 24, which receive the elastic force of the elastic member 22, interlock with each other and the finger 18. The wafer W is fixed by pressing the side of the wafer W to push it toward the fence 16.

그러나, 상술한 핑거는 웨이퍼를 고정하는 과정에서 판스프링에 지지되는 부위를 기준으로 탄력적으로 회전하여 웨이퍼의 가장자리 측부를 국부적으로 가압하게 되며, 리프트의 구동에 따른 레버의 위치와 판스프링의 탄성력에 의한 핑거의동작이 정확한 설정 관계에 있지 않은 경우 핑거는 보다 강한 힘으로 웨이퍼를 가격하여 웨이퍼를 손상시키는 문제를 야기한다. 이것은 핑거가 웨이퍼의 측부에 대응하여 각도를 이루어 접촉 또는 충돌함에 따른 것이고, 웨이퍼에 대하여 핑거가 이루는 각도는 계속적인 사용으로부터의 판스프링의 손상 또는 변형 등에 의해 발생한다. 이에 더하여 상술한 레버를 밀어 올리면서 발생하는 로드가 리프트를 구동시키기 위한 모터의 로드로 작용하여 모터의 교체 주기를 단축하는 문제도 함께 갖고 있다.However, in the process of fixing the wafer, the finger is elastically rotated based on the portion supported by the leaf spring to locally press the edge side of the wafer, and the position of the lever according to the driving of the lift and the elastic force of the leaf spring. If the motion of the finger is not in the correct setting relationship, the finger strikes the wafer with a stronger force and causes a problem of damaging the wafer. This is due to the finger contacting or colliding at an angle corresponding to the side of the wafer, and the angle made by the finger relative to the wafer is caused by damage or deformation of the leaf spring from continuous use. In addition, there is also a problem in that the rod generated while pushing the above-mentioned lever acts as a rod of the motor for driving the lift, thereby shortening the replacement cycle of the motor.

본 발명의 목적은, 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 핑거로 하여금 리프트의 왕복 이동에 의한 미끄럼 작용으로 웨이퍼가 놓이는 면에 대하여 수평하게 슬라이딩 이동시키며 웨이퍼를 펜스 방향으로 가압토록 함으로써 웨이퍼 측부에 대한 접촉 면적을 넓게 하여 웨이퍼의 손상을 줄이도록 하고, 그에 따른 생산성을 향상시키도록 하며, 핑거와 연동하는 각 구성의 사용 수명을 연장시키도록 하는 이온주입설비의 웨이퍼 고정장치를 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the problems of the prior art, by sliding the finger horizontally with respect to the surface on which the wafer is placed by the sliding action of the reciprocating movement of the lift, and pressing the wafer in the fence direction, It is to provide a wafer holding device of the ion implantation equipment to widen the contact area to reduce the damage of the wafer, thereby improving the productivity, and to extend the service life of each component in conjunction with the finger.

도 1은 일반적인 이온주입설비에서의 웨이퍼 장착 관계를 설명하기 위해 개략적으로 나타낸 평면 구성도이다.1 is a plan view schematically illustrating a wafer mounting relationship in a general ion implantation facility.

도 2는 도 1에 도시한 웨이퍼의 고정 관계를 설명하기 위해 개략적으로 나타낸 평면도이다.FIG. 2 is a plan view schematically illustrating the fixing relationship of the wafer illustrated in FIG. 1.

도 3은 도 2에 도시한 Ⅲ-Ⅲ 선을 기준하여 종래 기술에 따른 웨이퍼 고정장치의 구성 및 이들 구성의 결합 관계를 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.3 is a schematic cross-sectional view for explaining the configuration of the wafer holding apparatus according to the prior art and the coupling relationship between these configurations with reference to the III-III line shown in FIG.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 웨이퍼 고정장치의 구성 및 그 결합 관계를 개략적으로 나타낸 단면도이다.4 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the wafer holding apparatus and its coupling relationship according to an embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 웨이퍼 고정장치의 구성 및 그 결합 관계를 개략적으로 나타낸 단면도이다.5 is a cross-sectional view schematically showing a configuration of a wafer holding apparatus and a coupling relationship thereof according to another embodiment of the present invention.

도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 웨이퍼 고정장치의 구성 및 그 결합 관계를 개략적으로 나타낸 단면도이다.6 is a cross-sectional view schematically showing a configuration of a wafer holding apparatus and a coupling relationship thereof according to still another embodiment of the present invention.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

10: 디스크 12: 패드10: disc 12: pad

14: 이송부 16: 펜스14: transfer unit 16: fence

18, 40, 64, 86: 핑거 20: 고정부재18, 40, 64, 86: finger 20: holding member

22, 42, 56a, 56b, 80: 탄성부재 24: 레버22, 42, 56a, 56b, 80: elastic member 24: lever

26, 44, 62, 84: 리프트 30, 50a, 50b, 50c, 70a, 70b: 블록26, 44, 62, 84: lift 30, 50a, 50b, 50c, 70a, 70b: block

52, 72: 간격 조절부재 54: 가이드 홀52, 72: gap adjusting member 54: guide hole

60, 82: 롤러 66: 가이드레일60, 82: roller 66: guide rail

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징적 구성은, 디스크 후면에 고정한 블록과; 상기 블록에 슬라이딩 안내가 이루어지는 슬라이더와; 상기 슬라이더에 고정되고, 상기 디스크의 전면으로 관통하여 연장된 부위가 상기 패드에 놓인 웨이퍼의 측부에 대향하는 핑거와; 상기 블록의 지지를 받아 상기 핑거로 하여금 상기 패드 상의 펜스에 대향하여 웨이퍼를 가압토록 상기 슬라이더에 대한 탄성력을 제공하는 탄성부재; 및 왕복 운동으로 상기 탄성부재에 대향하는 방향으로 가압하여 상기 슬라이더를 슬라이딩이 이동시키도록 하는 리프트를 포함하여 이루어진다.A characteristic configuration of the present invention for achieving the above object is a block fixed to the rear of the disk; A slider for sliding guide the block; A finger which is fixed to the slider and extends through the front surface of the disk and faces the side of the wafer placed on the pad; An elastic member receiving the support of the block and providing an elastic force to the slider such that the finger presses the wafer against the fence on the pad; And a lift for sliding the slider by pressing in a direction opposite to the elastic member in a reciprocating motion.

이하, 본 발명의 실시예에 따른 이온주입설비의 웨이퍼 고정장치에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 설명하기로 한다.Hereinafter, a wafer fixing apparatus of an ion implantation apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 웨이퍼 고정장치의 구성 및 그 결합 관계를 개략적으로 나타낸 단면도이고, 도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 웨이퍼 고정장치의 구성 및 그 결합 관계를 개략적으로 나타낸 단면도이며, 도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 웨이퍼 고정장치의 구성 및 그 결합 관계를 개략적으로 나타낸 단면도로서, 종래와 동일한 부분에 대하여 동일한 부호를 부여하고, 그에 따른 상세한 설명은 생략하기로 한다.4 is a cross-sectional view schematically showing the configuration and the coupling relationship of the wafer holding device according to an embodiment of the present invention, Figure 5 is a schematic view of the configuration and the coupling relationship of the wafer holding device according to another embodiment of the present invention 6 is a cross-sectional view schematically showing a configuration and a coupling relationship of a wafer holding device according to still another embodiment of the present invention. The same reference numerals are given to the same parts as in the prior art, and detailed description thereof will be omitted. Let's do it.

본 발명에 따른 이온주입설비의 웨이퍼 고정장치 구성은, 도 4 내지 도 6에 도시한 바와 같이, 패드(12) 하부의 외측 주연에 근접하는 디스크(10) 저면에 소정 형상의 블록(30, 50a, 50b, 50c, 70a, 70b)을 통상의 방법으로 고정한다. 또한, 블록(30, 50a, 50b, 50c, 70a, 70b) 상에는 슬라이더가 장착되며, 이 슬라이더는 블록(30, 50a, 50b, 50c, 70a, 70b)의 안내를 받아 패드(12)의 중심 방향 즉, 웨이퍼(W) 측부를 펜스(16)에 지지되게 미는 방향으로 슬라이딩 가능한 상태를 이루는 것으로 그 형상이 다양하게 변화될 수 있는 것이다. 그리고, 슬라이더 상에는 핑거(40, 64, 86)가 장착되어 있으며, 이 핑거(40, 64, 86)는 상측 단부가디스크(10) 상에 형성된 홀을 관통하여 패드(12) 상에 놓이는 웨이퍼(W)의 측부에 대향하고, 슬라이더의 슬라이딩 이동에 의해 웨이퍼(W) 측부에 접근 또는 이격 위치된다. 이에 더하여 블록(30, 50a, 50b, 50c, 70a, 70b)과 슬라이더 사이에는 블록(30, 50a, 50b, 50c, 70a, 70b)의 지지를 받아 핑거(40, 64, 86)로 하여금 대향하는 웨이퍼(W)를 펜스(16) 방향으로 밀도록 슬라이더에 탄성력을 제공하는 탄성부재(42, 56a, 56b, 80)가 놓인다. 그리고, 슬라이더의 일측 부위는 패드(12)의 하부로부터 리프트(44, 62, 84)의 승·하강 구동으로부터 탄성부재(42, 56a, 56b, 80)의 탄성력에 대응하는 힘을 받는 구성을 이룬다.As shown in FIGS. 4 to 6, the wafer holding device configuration of the ion implantation apparatus according to the present invention has blocks 30 and 50a having a predetermined shape on the bottom surface of the disk 10 proximate to the outer periphery of the lower portion of the pad 12. , 50b, 50c, 70a, 70b) are fixed by a conventional method. In addition, a slider is mounted on the blocks 30, 50a, 50b, 50c, 70a, 70b, which are guided by the blocks 30, 50a, 50b, 50c, 70a, 70b to the center direction of the pad 12. That is, the shape of the wafer W may be slid in a direction in which the side of the wafer W is supported to be supported by the fence 16. Fingers 40, 64, and 86 are mounted on the slider, and the fingers 40, 64, and 86 are placed on the pad 12 by penetrating holes formed on the disk 10 with upper ends thereof. It is opposed to the side of W), and is approached or spaced apart by the side of the wafer W by sliding movement of a slider. In addition, between the blocks 30, 50a, 50b, 50c, 70a, 70b and the slider, the fingers 40, 64, 86 face each other with the support of the blocks 30, 50a, 50b, 50c, 70a, 70b. Elastic members 42, 56a, 56b, and 80 are provided to provide elasticity to the slider to push the wafer W in the direction of the fence 16. One side of the slider is configured to receive a force corresponding to the elastic force of the elastic members 42, 56a, 56b, and 80 from the lowering and lowering of the lifts 44, 62, and 84 from the bottom of the pad 12. .

여기서, 도 4에 도시한 슬라이더에 대응하는 리프트(44)의 측부 형상은, 승·하강 구동 방향과 탄성부재(42)의 탄성력에 대응하는 방향에 대하여 소정 각도의 경사면을 이루고 있으며, 이에 대응하는 슬라이더의 측부에는 상호 접촉하여 미끄럼 작용으로 슬라이더의 슬라이딩 이동을 유도하는 경사면을 갖는다.Here, the side shape of the lift 44 corresponding to the slider shown in FIG. 4 forms an inclined surface at a predetermined angle with respect to the up / down driving direction and the direction corresponding to the elastic force of the elastic member 42. The side of the slider has an inclined surface in contact with each other to induce sliding movement of the slider by sliding action.

다른 예로서 도 5 또는 도 6에 도시한 슬라이더와 리프트(62, 84) 사이의 실시 구성은, 리프트(62, 84)의 경사면을 형성하고, 이에 대응하는 슬라이더의 측부에 롤러(60, 82)를 구비하여 리프트(62, 84)의 경사면에 대한 슬라이더의 마찰을 줄이도록 하는 구성함이 보다 바람직하다.As another example, the implementation configuration between the sliders 62 and 84 shown in FIG. 5 or 6 forms the inclined surfaces of the lifts 62 and 84 and the rollers 60 and 82 on the side of the slider corresponding thereto. It is more preferable that the configuration to reduce the friction of the slider against the inclined surface of the lift (62, 84).

한편, 도 5와 도 6에 도시한 블록(50a, 50b, 50c, 70a, 70b)의 구성은, 패드(12)가 위치한 외측 주연에 고정되는 제 1 블록(50a, 70a)과 제 1 블록(50a, 70a)으로부터 간격 조절부재(52, 72)에 의해 간격 조절되게 지지를 받아 패드(12) 중심 방향으로 연장된 형상을 이루고, 그 연장 방향으로 슬라이더의 슬라이딩 이동을 안내하기 위한 가이드홀(54)을 갖는 제 2 블록(50b, 70b)으로 구성하여 이루어질 수 있다.Meanwhile, the configurations of the blocks 50a, 50b, 50c, 70a, and 70b shown in Figs. 5 and 6 include the first blocks 50a and 70a and the first block (fixed to the outer periphery where the pad 12 is located). Supported by the gap adjusting member 52, 72 from the 50a, 70a to form a shape extending in the center direction of the pad 12, the guide hole 54 for guiding the sliding movement of the slider in the extension direction It may be made of a second block (50b, 70b) having a).

상술한 구성 중 탄성부재(42, 56a, 56b, 80)는, 도 4 내지 도 6에 도시한 바와 같이, 핑거(40, 64, 86)가 웨이퍼(W) 측부에 접근하는 방향에 있도록 블록(30, 50a, 50b, 50c, 70a, 70b)으로부터 슬라이더를 밀어내는 압축 코일 스프링으로 형성할 수 있고, 도 5의 구성 중 리프트(44, 62, 84)와 근접하는 위치의 블록(30, 50a, 50b, 50c, 70a, 70b)에 일측이 고정되고, 다른 일측은 슬라이더에 고정되어 슬라이더를 패드(12) 중심 방향으로 당기는 인장 코일 스프링으로 구성할 수 있으며, 이들의 조합으로 이루어질 수도 있다. 그리고, 탄성부재(42, 56a, 56b, 80)가 리프트(44, 62, 84)에 근접한 블록(50c)에 지지되는 구성에 있어서, 제 2 블록(50b, 70b)은 탄성부재(42, 56a, 56b, 80)의 탄성력 조절과 이에 따른 슬라이더의 슬라이딩 위치를 조절토록 제 1 블록(50a, 70a)으로부터 리프트(44, 62, 84) 방향으로 제 3 블록(50c)으로 분리한 구성으로 이루어질 수 있고, 이때 제 3 블록(50c)은 제 2 블록(50b, 70b)으로부터 간격 조절부재(52, 72)를 통해 간격 조절되게 함이 바람직하다.In the above-described configuration, the elastic members 42, 56a, 56b, and 80 may be formed of blocks (see Figs. 4 to 6) such that the fingers 40, 64, and 86 are in a direction approaching the side of the wafer W. 30, 50a, 50b, 50c, 70a, 70b, which can be formed by a compression coil spring that pushes the slider, and the blocks 30, 50a, at positions close to the lifts 44, 62, 84 in the configuration of FIG. One side is fixed to 50b, 50c, 70a, and 70b, and the other side is fixed to the slider and may be configured as a tension coil spring that pulls the slider toward the pad 12 center, or a combination thereof. In the configuration in which the elastic members 42, 56a, 56b and 80 are supported by the block 50c proximate to the lifts 44, 62 and 84, the second blocks 50b and 70b are the elastic members 42 and 56a. , 56b, 80 may be configured to be separated from the first block (50a, 70a) to the lift (44, 62, 84) to the third block (50c) to adjust the elastic force and thus the sliding position of the slider. In this case, the third block 50c is preferably adjusted to be spaced apart from the second blocks 50b and 70b through the gap adjusting members 52 and 72.

그리고, 도 5에 도시한 구성에 있어서, 제 1 블록(50a, 70a)과 제 2 블록(50b, 70b) 또는 제 1 블록(50a, 70a)과 제 3 블록(50c) 사이에는 상술한 가이드 홀(54)을 대신하거나 병행하여 슬라이더의 슬라이딩 이동을 안내하는 가이드레일(66)을 더 구비한 구성하여 이루어질 수 있다.In the configuration shown in FIG. 5, the above-described guide hole is provided between the first blocks 50a and 70a and the second blocks 50b and 70b or between the first blocks 50a and 70a and the third block 50c. It may be configured to further comprise a guide rail 66 for guiding the sliding movement of the slider in place of or in parallel with (54).

이러한 구성의 동작 과정을 살펴보면, 이송부(14)로부터 웨이퍼(W)의 이송이이루어짐에 대응하여 리프트(44, 62, 84)는 승강 구동하고, 이 리프트(44, 62, 84)의 상부에 형성된 경사면에 접촉 대응하는 슬라이더는 경사면 또는 롤러(60, 82)가 경사면의 접촉 변위 변화에 따라 탄성부재(42, 56a, 56b, 80)의 탄성력에 상대적인 압력을 받는다. 이로부터 슬라이더는 블록(30, 50a, 50b, 50c, 70a, 70b)에 의해 안내되어 핑거(40, 64, 86)가 패드(12)로부터 이격되는 방향으로 슬라이딩 이동함으로써 패드(12)에 대하여 웨이퍼(W)를 안착 위치시킬 수 있는 상태를 이룬다. 이러한 과정을 통해 웨이퍼가 안착 위치되면, 상술한 리프트(44, 62, 84)는 하강 구동하고, 탄성부재(42, 56a, 56b, 80)의 탄성력을 제공받은 슬라이더는 리프트(44, 62, 84)의 경사면에 대하여 계속적으로 접촉하려는 방향으로 이동 즉, 장착한 핑거(40, 64, 86)의 상측 부위가 대향하는 웨이퍼(W)의 측부에 접촉되게 이동한다. 이러한 과정으로 핑거(40, 64, 86)는 탄성부재(42, 56a, 56b, 80)의 적정 탄성력으로 웨이퍼(W)를 펜스(16) 방향으로 가압하고, 이로부터 패드(12)에 대한 웨이퍼(W)의 고정이 이루어진다. 이와는 반대로 공정이 종료되면, 상술한 과정의 역순에 의해 웨이퍼(W)를 인출할 수 있는 상태로 형성하게 된다.Looking at the operation process of this configuration, in response to the transfer of the wafer W from the transfer unit 14, the lift (44, 62, 84) is driven up and down, formed on the upper portion of the lift (44, 62, 84) In the slider corresponding to the inclined surface, the inclined surface or the rollers 60 and 82 are subjected to pressure relative to the elastic force of the elastic members 42, 56a, 56b and 80 according to the change in contact displacement of the inclined surface. From this, the slider is guided by blocks 30, 50a, 50b, 50c, 70a, 70b to slide the wafer 40 relative to the pad 12 by sliding the fingers 40, 64, 86 in a direction away from the pad 12. A state in which (W) can be placed is achieved. When the wafer is placed and seated through this process, the above-mentioned lifts 44, 62, and 84 are driven downward, and the sliders provided with the elastic force of the elastic members 42, 56a, 56b, and 80 are lifts 44, 62, and 84. ), The upper portion of the mounted fingers 40, 64, 86 moves in contact with the side of the opposite wafer W. In this process, the fingers 40, 64, and 86 press the wafer W toward the fence 16 with the appropriate elastic force of the elastic members 42, 56a, 56b, and 80, and from this, the wafer against the pad 12 (W) is fixed. On the contrary, when the process is completed, the wafer W may be taken out in the reverse order of the above-described process.

따라서, 본 발명에 의하면, 핑거가 리프트의 왕복 이동에 의한 미끄럼 작용으로 슬라이더와 함께 슬라이딩 이동하여 웨이퍼를 펜스 방향으로 가압함에 따라 웨이퍼 측부에 대한 핑거의 접촉이 이루어져 웨이퍼의 손상을 줄이고, 핑거를 포함한 각 구성의 손상 방지 및 그에 따른 수명 연장이 이루어지는 효과가 있다.Therefore, according to the present invention, as the finger slides together with the slider due to the sliding action by the reciprocating movement of the lift and presses the wafer in the fence direction, the finger contacts with the wafer side, thereby reducing damage to the wafer, including the finger. There is an effect of preventing damage to each component and thereby extending the life.

본 발명은 구체적인 실시예에 대해서만 상세히 설명하였지만 본 발명의 기술적 사상의 범위 내에서 변형이나 변경할 수 있음은 본 발명이 속하는 분야의 당업자에게는 명백한 것이며, 그러한 변형이나 변경은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 할 것이다.Although the present invention has been described in detail only with respect to specific embodiments, it will be apparent to those skilled in the art that modifications and variations can be made within the scope of the technical idea of the present invention, and such modifications or changes belong to the claims of the present invention. something to do.

Claims (8)

디스크 후면에 고정한 블록과;A block fixed to the rear of the disk; 상기 블록에 슬라이딩 안내가 이루어지는 슬라이더와;A slider for sliding guide the block; 상기 슬라이더에 고정되고, 상기 디스크의 전면으로 관통하여 연장된 부위가 상기 패드에 놓인 웨이퍼의 측부에 대향하는 핑거와;A finger which is fixed to the slider and extends through the front surface of the disk and faces the side of the wafer placed on the pad; 상기 블록의 지지를 받아 상기 핑거로 하여금 상기 패드 상의 펜스에 대향하여 웨이퍼를 가압토록 상기 슬라이더에 대한 탄성력을 제공하는 탄성부재; 및An elastic member receiving the support of the block and providing an elastic force to the slider such that the finger presses the wafer against the fence on the pad; And 왕복 운동으로 상기 탄성부재에 대향하는 방향으로 가압하여 상기 슬라이더를 슬라이딩이 이동시키도록 하는 리프트를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 이온주입설비의 웨이퍼 고정장치.And a lift for sliding the slider by pressing in a direction opposite to the elastic member in a reciprocating motion. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 리프트에 대응하는 상기 슬라이드 측부에는 슬라이딩 방향에 대한 경사면을 더 형성하고,The inclined surface with respect to the sliding direction is further formed on the slide side corresponding to the lift, 상기 리프트는 왕복 운동에 의해 상기 슬라이더의 슬라이딩 이동이 있도록 상기 경사면과 상호 미끄러지게 접촉 대응하는 경사면을 더 형성하여 이루어짐을 특징으로 하는 이온주입설비의 웨이퍼 고정장치.The lift is a wafer holding device of the ion implantation equipment, characterized in that by further forming a slope corresponding to the sliding contact with the inclined surface so that the sliding movement of the slider by a reciprocating motion. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 리프트에 대응하는 상기 슬라이드 측부에는 롤러를 더 구비하고,Further provided with a roller on the slide side corresponding to the lift, 상기 리프트는 왕복 운동에 의해 상기 슬라이더의 슬라이딩 이동이 있도록 상기 롤러에 접촉 대응하는 경사면을 더 형성하여 이루어짐을 특징으로 하는 상기 이온주입설비의 웨이퍼 고정장치.The lift is a wafer holding device of the ion implantation facility, characterized in that further formed by the inclined surface corresponding to the roller contact so that the sliding movement of the slider by the reciprocating motion. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 블록은 상기 패드의 주연에 고정한 제 1 블록과; 상기 제 1 블록으로부터 간격 조절부재에 의해 간격 조절되게 지지를 받고, 상기 패드 중심으로 연장한 방향의 내부에 상기 슬라이더의 슬라이딩 이동을 안내하기 위한 가이드홀을 갖는 제 2 블록으로 구성하여 이루어짐을 특징으로 하는 상기 이온주입설비의 웨이퍼 고정장치.The block is a first block fixed to the periphery of the pad; The second block is supported by the gap adjusting member from the first block, and consists of a second block having a guide hole for guiding the sliding movement of the slider in the direction extending to the pad center. Wafer fixing device of the ion implantation equipment. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 탄성부재는 상기 제 1 블록에 지지되어 상기 가이드홀 상에 놓이는 상기 슬라이더를 밀어내는 압축 코일 스프링으로 구성하여 이루어짐을 특징으로 하는 상기 이온주입설비의 웨이퍼 고정장치.The elastic member is a wafer holding device of the ion implantation equipment, characterized in that consisting of a compression coil spring which is supported by the first block and pushes the slider placed on the guide hole. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 제 2 블록 상에 구비하여 상기 슬라이더를 패드 중심 방향으로 당기는 인장 코일 스프링으로 구성하여 이루어짐을 특징으로 하는 상기 이온주입설비의 웨이퍼 고정장치.And a tension coil spring provided on the second block to pull the slider toward a pad center direction. 제 6 항에 있어서,The method of claim 6, 상기 탄성부재가 상기 제 2 블록의 연장된 측부로부터 상기 슬라이더를 인장력으로 당기도록 구성함에 대응하여 상기 제 2 블록은 상기 탄성부재의 탄성력 조절과 이에 따른 상기 슬라이더의 슬라이딩 위치를 조절토록 상기 연장된 방향으로 제 3 블록을 갖는 구성으로 분리하고, 상기 제 3 블록에 대하여 상기 간격 조절부재를 통해 간격 조절되게 구성하여 이루어짐을 특징으로 하는 상기 이온주입설비의 웨이퍼 고정장치.In response to the elastic member configured to pull the slider from the extended side of the second block with a tensile force, the second block extends the elastic force of the elastic member and thus adjusts the sliding position of the slider. Separating in a configuration having a third block, and configured to be adjusted to the gap through the gap adjusting member with respect to the third block. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 제 1 블록과 제 2 블록 상에는 상기 슬라이더의 슬라이딩 이동을 안내하는 가이드레일을 더 구비하여 이루어짐을 특징으로 하는 상기 이온주입설비의 웨이퍼 고정장치.And a guide rail for guiding sliding movement of the slider on the first block and the second block.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101703904B1 (en) * 2015-08-28 2017-02-22 (주)오로스 테크놀로지 Wafer gripping apparatus and dual wafer stress inspection apparatus having the same

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