KR20040073383A - 센서 판독 - Google Patents

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KR20040073383A
KR20040073383A KR1020040009268A KR20040009268A KR20040073383A KR 20040073383 A KR20040073383 A KR 20040073383A KR 1020040009268 A KR1020040009268 A KR 1020040009268A KR 20040009268 A KR20040009268 A KR 20040009268A KR 20040073383 A KR20040073383 A KR 20040073383A
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크뇌드겐호어스트
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다이얼로그 세미컨덕터 게엠베하
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Abstract

예를 들어, 조이스틱용으로 사용되는 센서 내의 직렬 가변 저항기들(예를 들어, 전위차계들)의 저항을 연속적으로 측정하는 회로와 방법이 달성된다. 임의의 수의 가변 저항기들을 포함하는 상기 센서 양단의 전압이 안정화된다. 정전류원이 상기 센서에 흐르는 최소 전류를 제공한다. 센서의 저항의 변동들에 의해 야기된 센서에 흐르는 전류의 변동들을 줌(zoom)하기 위해 가변 전류원이 사용된다. 상기 가변 전류는 미러링되고, 분로 저항기 양단의 전압을 측정함으로써 센서의 총 저항이 확인된다. 각 저항기들 사이의 포트들을 사용하면, 분압기들의 공지된 식들을 사용하여 가변 저항기들 각각의 저항을 나타내는 전압들을 측정할 수 있다. 본 발명의 회로에는 임의의 수의 가변 저항기들이 사용될 수 있다.

Description

센서 판독{Sensor read out}
본 발명은 일반적으로 전자 센서들을 판독하는 분야에 관한 것으로, 더 상세하게는, 예를 들어, 전위차계들(potentiometers)에 따른 가변 저항을 갖는 센서들에 관한 것이다.
가장 편리하고 저렴한 변환기(transducer) 중 하나는 전위차계이다. 전위차계는 기본적으로 전위차계의 샤프트 위치에 따라 가변 전압이 연속적으로 발생되도록 구성될 수 있는 장치이다.
전위차계들의 응용들 중 하나는 조이스틱 장치들과 함께 아날로그 입력 장치로서 사용하는 것이다. 조이스틱의 위치는 조이스틱에 부착된 전위차계의 저항값을 판독함으로써 결정된다. 전위차계들은 간단하고 매우 저렴한 시스템이며, 표준 컴퓨터 인터페이스와 인터페이스하도록 설계될 수 있다. 전위차계들은 위치 기준(position reference)으로서 데스크탑을 사용할 수 있고, 조이스틱은 보통 흡입관(suction)이거나 또는 미끄러져 움직이는 것을 방지하기 위해 미끄러지지 않도록 데스크탑에 장착된다.
2차원 공간에서 위치를 정하기 위해서는 2개의 전위차계들이 필요하다. 도 1은 2개의 전위차계들(1, 2)을 포함하는 센서(10), 분로 저항기(shunt resistor)(3), 전원 전압(Vdd), 2개의 전위차계들(1, 2)의 총 저항을 나타내는 전압을 측정하기 위한 포트(4) 및 상기 전위차계들(1, 2)의 저항값들을 나타내는 전압들을 측정하기 위한 포트(5)를 구비하는 회로의 전형적인 종래의 구현을 도시한다. 전위차계들(1, 2)은 분압기(voltage divider)로서 작용한다. 전압(Vs)(6)은 전위차계들(1, 2)의 입력 전압(entry voltage)이다. 각 전위차계의 저항을 얻기 위해서, 2개의 전위차계들(1, 2)의 저항의 합(Z)은 다음과 같이 공지되어야 한다.
Z = R1+ R2
여기서, R1은 전위차계(1)의 가변 저항이고, R2는 전위차계(2)의 가변 저항이다. Z 값은 스위치들(7, 9)을 개방하고 스위치(8)를 폐쇄함으로써 측정된다. 두 전위차계들(1, 2)의 총 저항은 다음과 같이 계산한다.
여기서, Vs는 포트(4)에서 측정된 전압이고, R3은 저항기(3)의 공지된 정저항(constant resistance)이다.
전위차계들(1, 2)의 저항을 측정하기 위해서는 부가적인 스위치(9)가 필요하다. 이 측정을 위해서는, 최대 신호에 대해 이용 가능한 완전한 전압(complete voltage)(Vdd)을 갖기 위해 스위치(7)가 폐쇄된다. 따라서, 스위치(7)가 폐쇄되는 동안 Vs는 Vdd와 같다.
전압(V1)은 출력 포트(5)에서 측정된 전압에 대한 센서의 입력 전압들(Vs)(6)(이 경우, Vs는 Vdd와 같음)간의 차를 포함한다.
또는
여기서, R1은 전위차계(1)의 저항이다.
전압(V2)은 출력 포트(5)에서 측정된 전압 레벨을 포함한다.
또는
여기서, R2는 전위차계(2)의 저항이다.
이 종래 기술의 방법에는 몇 가지 문제점들이 있다. R1, R2의 저항 및 가능한 총 저항(Z)의 연속적인 저항 측정이 안된다. 첫 번째로 총 저항(Z)을 측정하고 두 번째로 각 전위차계의 저항을 측정하기 위해 필요한 2개의 시간 슬롯들이 존재한다. 이어지는 아날로그-디지털 컨버터에 있어서, 포트(5)와 포트(4)에서 측정된 전압값들을 변환하기 위해서 이용 가능한 시간 슬롯들은 매우 짧으며, 잡음-대-신호비가 증가할 것이다. 포트(4, 5)에서 측정된 전압들의 전압 변조는 크며, 따라서 필터의 시상수(time constant)가 상당히 제한된다.
부가적으로, 총 저항(Z)의 측정에 있어서는, 전압이 센서(10)와 저항기(3) 사이에서 분압되어야 하기 때문에 신호들은 상당히 작다.
미국 특허(제4,864,513호, 레빈 등(Levine et al.))는 전위차계의 오퍼레이터 조정을 나타내는 신호를 형성하기 위한 기술을 개시한다. 이 기술은 전위차계와 커패시터의 고정 단자들 사이의 저항의 기준 시상수를 측정하고, 고정 단자와 오퍼레이터가 설정하는 가변 단자 사이의 전위차계 및 이 동일한 커패시터의 저항의 가변 시상수를 측정하고, 전위차계 및 커패시터의 고정 단자들 사이의 저항의 기준 시상수를 다시 측정하는 것을 포함한다. 이 시상수 측정치들은, 커패시터를 방전하고, 전위차계의 적절한 단자를 통해 커패시터를 충전하고, 미리 결정된 임계레벨에 도달하기 위해 커패시터 양단의 전압에 대해 요구되는 시간을 측정함으로써 이루어진다.
미국 특허(제5,247,680호, 후버(Huber))는 상이한 저항비들을 설정하기 위해 조정 가능한 슬라이더(slider) 및 2개의 접속부들을 갖는 조정 제어부(예를 들어, 전위차계)를 포함하는 회로를 개시한다. 전위차계의 두 종단 접속부들은 마이크로프로세서의 두 접속부들 중 하나에 각각 접속되고, 슬라이더는 커패시터의 한 접속부에 접속된다. 다른 커패시터 접속부는 미리 결정된 위치(potential)에 접속된다. 2개의 마이크로프로세서 접속부들 각각에 대해서는, 제 1 위치 또는 제 2 위치에 선택적으로 접속하기 위해 적어도 하나의 제어 가능한 스위치가 관련 마이크로 접속부에 접속된다. 마이크로프로세서는 미리 초기 충전 상태로 되어있는 커패시터가 하나의 저항 섹션을 통해 먼저 재충전되고 이어서 전위차계의 다른 저항 섹션을 통해 재충전되는 프로그램 실행을 수행한다. 각각의 경우에, 커패시터-재충전 기간에 대응하는 측정값(Z)이 결정되고, 결정된 측정값들(Z)로부터, 그의 지수(quotient)를 형성함으로써 디지털 데이터 워드 신호가 발생된다. 이 디지털 신호는 전위차계의 슬라이더에 의해 설정된 저항비를 나타낸다.
미국 특허(제5,786,808호, 커리(Khoury))는 조이스틱용 디지털 위치결정 시스템을 개시한다. 이 시스템은 일정한 전원 전압에 연결되는 하나의 입력 및 조이스틱의 전류 상태(current position)를 나타내는 가변 저항을 발생하기 위해 조이스틱 게임 포트에 연결되는 제 2 입력을 갖는 전위차계를 사용한다. 조이스틱의 전류 상태를 나타내는 가변 저항을 조이스틱의 전류 상태를 나타내는 전압 레벨로변환하기 위한 전류를 발생하기 위해 조이스틱 게임 포트에는 정전류원이 연결된다. 아날로그-디지털 변환기 회로가 조이스틱 게임 포트에 연결되고, 조이스틱의 전류 상태를 나타내는 전압 레벨을 조이스틱의 전류 상태의 디지털 표현으로 변환하기 위해 사용된다.
본 발명의 기본 목적은 센서 내의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하기 위한 회로 및 방법을 달성하는 것이다.
본 발명의 목적에 따르면, 센서 내의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하기 위한 회로가 달성된다. 상기 회로는 하나 이상의 직렬 가변 저항기들 및 상기 가변 저항기들 각각의 가변 저항을 확인하는 신호들을 제공하는 하나 이상의 출력 포트들을 포함하는 제 1 센서를 포함한다. 또한, 상기 회로는 가변 저항기들을 포함하는 상기 센서에 흐르는 전류의 일부분을 제공하는 정전류원 수단, 상기 센서의 저항의 변동들을 적응시키기 위한 상기 센서에 흐르는 전류의 나머지 부분에 대한 가변 전류원 수단, 상기 센서 양단의 전압을 안정화시키는 수단 및 상기 가변 전류를 미러링하는 수단을 포함한다. 또한, 상기 회로는 상기 전류 미러 양단의 전압을 안정화시키는 수단 및 상기 센서의 총 저항을 확인하기 위해 상기 미러링된 전류를 사용하는 수단을 포함한다.
또한, 본 발명의 목적에 따르면, 센서의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하기 위한 방법이 달성된다. 상기 방법은 먼저 하나 이상의 직렬 가변 저항기들 및 상기 가변 저항기들 각각의 가변 저항을 확인하는 신호들을 제공하는 하나이상의 출력 포트들을 포함하는 센서, 가변 저항기들을 포함하는 상기 센서에 흐르는 전류의 일부분을 제공하는 정전류원 수단, 상기 센서의 저항의 변동들을 적응시키기 위한, 상기 센서에 흐르는 전류의 나머지 부분에 대한 가변 전류원 수단, 상기 센서 양단의 전압을 안정화시키는 수단, 상기 가변 전류를 미러링하는 수단, 상기 전류 미러 양단의 전압을 안정화시키는 수단, 및 상기 센서의 총 저항을 확인하기 위해 상기 미러링된 전류를 사용하는 수단을 제공하는 단계를 포함한다. 또한, 상기 방법은, 상기 센서 양단의 전압을 안정화시키는 단계, 센서에 흐르는 정전류를 제공하는 단계, 상기 센서의 저항의 변동들을 커버하기 위해 센서에 흐르는 가변 전류를 제공하는 단계, 센서의 저항의 변동들을 나타내는 상기 가변 전류를 미러링하는 단계, 공지된 분로 저항기 양단의 상기 미러링된 전류의 전압을 측정함으로써 센서의 총 저항을 확인하는 단계, 및 전압들을 나타냄으로써 센서 내의 각 가변 저항기의 저항을 확인하는 단계를 포함한다.
첨부 도면은 상세한 설명의 필수적인 부분을 이룬다.
도 1은 센서 내의 가변 저항기들의 저항을 측정하는 종래의 회로를 도시하는 도면.
도 2a는 센서 내의 가변 저항기들의 저항의 연속적인 측정을 위한 본 발명의 회로를 도시하는 도면.
도 2b는 2개 이상의 가변 저항기들 및 관련된 출력 포트들을 갖는 센서를 도시하는 도면.
도 3은 본 발명의 방법의 흐름도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
1, 2 : 가변 저항기 10 : 센서
20 : 증폭기 21, 23, 25 : 트랜지스터
22 : 정전류원 26 : 저항기
바람직한 실시예는, 예를 들어, 조이스틱들과 함께 사용되는 저항기들의 가변 저항을 연속적으로 측정할 수 있는 방법 및 회로를 개시한다.
도 2a는 본 발명의 회로를 도시하는 개략도이다. 센서(10) 양단의 전압이 안정화된다. 이것은 기준 전압(27)을 사용하여 증폭기(20)와 트랜지스터(21)에 의해 수행된다. 단지 센서(10)의 저항(Z)의 변동들을 축소(zoom out)시키기 위해서 정전류원(22)이 필요하며, 이 정전류원은 상기 센서(10)에 흐르는 전류의 일정한부분을 제공한다. 상기 센서(10)는 2개의 가변 저항기들(1, 2)을 포함한다.
예를 들어, 센서에 흐르는 전류가 1㎃이고 전류원(22)이 950㎂의 정전류를 제공하면, 단지 50㎂의 전류가 트랜지스터(21)에 흐를 것이다. 상기 센서(10)에 흐르는 전류가 10㎂ 만큼 증가하면, 트랜지스터(21)에 흐르는 상기 전류는 이어서 50㎂에서 60㎂로 증가할 것이다. 이것은 20%의 변화이다. 정전류원(22)이 없다면, 트랜지스터(21)에 흐르는 전류는 1000㎂에서 1010㎂로 증가할 것이다. 이것은 정전류원(22)을 사용하여 달성되는 20% 증가에 대비되는 단지 1%의 변화이다.
트랜지스터(23)는 트랜지스터(21)의 미러의 기능을 갖는다. 증폭기(24)는 트랜지스터(23) 양단의 전압을 트랜지스터(25)와 함께 안정화시킨다. 상기 트랜지스터(23) 양단의 전압은 트랜지스터(21) 양단의 전압과 같은 값을 가져야 한다. 이러한 전압 레벨들의 동일성은 트랜지스터들(21, 23)에 흐르는 전류들이 상기 전압 레벨들에 의존하지 않도록 하는 필수 조건이다. 저항기(26)에 흐르는 전류량은 센서(10)에 흐르는 전류량에서 정전류원(22)에 의해 제공되는 전류를 뺀 것과 같다. 상술된 예를 사용하면, 1000㎂의 전류가 센서(10)에 흐르고 전류원(22)이 950㎂를 제공할 경우, 50㎂의 전류가 저항기(26)에 흐를 것이다. 따라서, 센서(10)의 총 저항(Z)의 값은 게이트(4)에서 전압 레벨을 측정함으로써 확인될 수 있다. 전류원(22)의 상기 줌 효과(zooming effect)에 의해, 센서(10)의 총 저항(Z)의 작은 변동들조차도 확인하기 위한 고도의 전압 스케일(high voltage scale)이 달성된다.
센서(10)의 입력 전압 레벨은 전압(Vs)(28)에 의해 나타난다. 예를 들어,상기 전압(Vs)은 증폭기(20)와 트랜지스터(21)를 포함하는 조절기(regulator)의 정밀도에 따라 Vdd미만에서 300 내지 500㎷일 수 있다.
저항기들(1, 2)의 가변 저항은 포트(5)에서 전압을 측정함으로써 확인될 수 있다. 상기 가변 저항기들(1, 2)의 저항은 종래기술 부분에서 예시된 다음 식들에 따라 계산될 수 있다.
또는
여기서, R1은 가변 저항기(1)의 저항이고, Vs는 센서(10)의 입력 전압(28)이고, V1은 상기 입력 전압(Vs)과 포트(5)에서 측정된 전압간의 전압차이다. 그에 따라, 가변 저항기(2)의 저항이 측정될 수 있다. 전압(V2)은 출력 포트(5)에서 측정된 전압 레벨을 포함한다.
또는
여기서, R2는 전위차계(2)의 저항이다.
본 발명의 회로의 이점은 첫 번째로 각 전위차계의 저항 및 센서(10)의 총 저항의 측정이 연속적으로 행해질 수 있고 더 이상의 변조를 필요로 하지 않는다는 것이며, 두 번째로 센서의 총 저항을 나타내는 신호가 종래 기술에 비해 훨씬 크고 훨씬 양호한 스케일을 유지한다는 것이다.
도 2b는 센서(20)의 다른 실시예를 도시한다. 여기서는 부가적인 입력 파라미터를 처리하기 위해 3개의 전위차계들(1, 2, 29)이 사용된다. 부가적인 전위차계(29)의 저항은 부가적인 포트(30)의 전압을 측정함으로써 확인된다. 도 2a에 도시된 것과 같은 회로의 모든 다른 구성요소들은 동일하다. 센서(20)의 총 저항(Z)은 도 2a에 도시된 바와 같이 포트(4)에서 전압 레벨을 측정함으로써 측정될 수 있다.
본 발명의 회로에 있어서, 부가적인 전위차계들 및 부가적인 출력 포트들을 사용하여 임의의 수의 입력 파라미터들이 처리될 수 있음이 이 기술분야에 숙련된 사람들에게 명백할 것이다.
도 3은 센서의 총 저항 및 가변 저항기들 각각의 저항의 연속적인 측정을 달성하는 방법을 도시한다. 제 1 단계 31은 센서 양단의 전압의 안정화를 나타내고, 이어지는 단계 32는 정전류가 센서에 제공되는 것을 나타낸다. 단계 33은 상기 센서의 저항의 변동들을 커버하기 위해 센서에 흐르는 또다른 가변 전류가 제공되는 것을 나타낸다. 단계 34에서는 상기 가변 전류가 미러링된다. 단계 35는 센서의 저항이 공지된 분로 저항기 양단의 상기 미러링된 전류의 전압 레벨을 측정함으로써 확인되는 것을 나타낸다. 단계 36에서는 센서에 위치된 각 가변 저항기의 저항이 대표적인 전압들을 측정함으로써 확인되는 것을 나타낸다.
본 발명은 바람직한 실시예를 참조하여 자세히 예시되고 설명되었지만, 이 기술분야에 숙련된 사람들에게는 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 변형예들이 이루어질 수 있음이 명백할 것이다.
본 발명의 회로 및 방법에 의해 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정할 수 있다.

Claims (20)

  1. 센서 내의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 회로에 있어서:
    하나 이상의 직렬 가변 저항기들 및 상기 가변 저항기들 각각의 가변 저항을 확인하는 신호들을 제공하는 하나 이상의 출력 포트들을 포함하는 센서;
    가변 저항기들을 포함하는 상기 센서에 흐르는 전류의 일부분을 제공하는 정전류원(a constant current source) 수단;
    상기 센서의 저항의 변동들을 적응시키기 위한, 상기 센서에 흐르는 전류의 나머지 부분에 대한 가변 전류원 수단;
    상기 센서 양단의 전압을 안정화시키는 수단;
    상기 가변 전류를 미러링(mirror)하는 수단;
    상기 전류 미러 양단의 전압을 안정화시키는 수단; 및
    상기 센서의 총 저항을 확인하기 위해 상기 미러링된 전류를 사용하는 수단을 포함하는, 센서 내의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 회로.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 센서 양단의 전압을 안정화시키는 상기 수단은 입력 및 출력을 갖는 증폭기이고, 상기 입력은 기준 전압 및 상기 센서의 입력 전압(entry voltage)이고, 상기 출력은 상기 가변 전류원 수단에 연결되는, 센서 내의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 회로.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 가변 전류원 수단은 상기 센서 양단의 전압을 안정화시키는 수단에 연결되는 베이스를 갖는 트랜지스터이고, 상기 트랜지스터는 전원 전압 및 상기 센서의 입력점에 연결되는, 센서 내의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 회로.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 가변 저항기들은 전위차계들(potentiometers)인, 센서 내의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 회로.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 정전류원에 의해 제공된 전류의 상기 일부분은 상기 센서의 저항이 그 최대 가능치를 가질 경우의 전류 흐름과 동등한, 센서 내의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 회로.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 가변 전류를 미러링하는 상기 수단은 상기 가변 전류를 상기 센서에 제공하는 상기 트랜지스터의 베이스에 접속되는 베이스를 갖는 또다른 트랜지스터이고, 상기 또다른 트랜지스터는 전원 전압 및 상기 전류 미러 양단의 전압을 안정화시키는 상기 수단에 연결되는, 센서 내의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 회로.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 전류 미러 양단의 전압을 안정화시키는 상기 수단은 입력 및 출력을 갖는 증폭기이고, 상기 입력은 전류 미러로서 사용되는 상기 트랜지스터에 연결되고, 상기 센서의 입력 전압에는 또다른 입력이 연결되고, 상기 출력은 상기 미러링된 전류의 흐름을 제어하는 트랜지스터의 베이스에 연결되는, 센서 내의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 회로.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 센서의 총 저항을 확인하기 위해 상기 미러링된 전류를 사용하는 상기 수단은 상기 미러링된 전류의 흐름에 위치된 저항기이고, 상기 저항기 양단의 전압은 상기 총 저항을 확인하기 위해 사용될 수 있는, 센서 내의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 회로.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 센서는 2개의 직렬 가변 저항기들 및 상기 2개의 가변 저항기들 각각의 저항을 나타내는 전압을 측정하기 위해 상기 2개의 가변 저항기들 사이에 존재하는 하나의 포트를 포함하는, 센서 내의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는회로.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 센서는 임의의 수(n)의 직렬 가변 저항기들 및 상기 가변 저항기들 각각의 저항을 나타내는 전압들을 측정하기 위해 상기 가변 저항기들 각각 사이에 존재하는 n-1개의 포트들을 포함하는, 센서 내의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 회로.
  11. 센서 내의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 방법에 있어서:
    하나 이상의 직렬 가변 저항기들 및 상기 가변 저항기들 각각의 가변 저항을 확인하는 신호들을 제공하는 하나 이상의 출력 포트들을 포함하는 센서, 가변 저항기들을 포함하는 상기 센서에 흐르는 전류의 일부분을 제공하는 정전류원 수단, 상기 센서 양단의 전압을 안정화시키는 수단, 상기 센서의 저항의 변동들을 적응시키기 위한, 상기 센서에 흐르는 전류의 다른 부분에 대한 가변 전류원 수단, 상기 가변 전류를 미러링하는 수단, 상기 전류 미러 양단의 전압을 안정화시키는 수단, 및 상기 센서의 총 저항을 확인하기 위해 상기 미러링된 전류를 사용하는 수단을 제공하는 단계;
    상기 센서 양단의 전압을 안정화시키는 단계;
    상기 센서에 흐르는 전류의 일정한 부분을 제공하는 단계;
    상기 센서의 저항의 변동들을 커버하기 위한, 상기 센서에 흐르는 전류의 나머지 부분에 대한 가변 전류원을 제공하는 단계;
    상기 센서의 저항의 변동들을 나타내는 상기 가변 전류를 미러링하는 단계;
    공지된 분로 저항기(a known shunt resistor) 양단의 상기 미러링된 전류의 전압을 측정함으로써 상기 센서의 총 저항을 확인하는 단계; 및
    전압들을 나타냄으로써 상기 센서 내의 각 가변 저항기의 저항을 확인하는 단계를 포함하는, 센서의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 방법.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 센서 양단의 전압을 안정화시키는 상기 수단은 입력 및 출력을 갖는 증폭기이고, 상기 입력은 기준 전압 및 상기 센서의 입력 전압이고, 상기 출력은 상기 가변 전류원 수단에 연결되는, 센서의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 방법.
  13. 제 11 항에 있어서,
    상기 가변 전류원 수단은 상기 센서 양단의 전압을 안정화시키는 상기 수단에 연결되는 베이스를 갖는 트랜지스터이고, 상기 트랜지스터는 전원 전압 및 상기 센서의 입력점에 연결되는, 센서의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 방법.
  14. 제 11 항에 있어서,
    상기 가변 저항기들은 전위차계들인, 센서의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 방법.
  15. 제 11 항에 있어서,
    상기 정전류원 수단에 의해 제공되는 전류의 상기 일부분은 상기 센서의 저항이 그 최대 가능치를 갖는 경우의 전류 흐름과 동등한, 센서의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 방법.
  16. 제 11 항에 있어서,
    상기 가변 전류를 미러링하는 상기 수단은 상기 센서에 상기 가변 전류를 제공하는 상기 트랜지스터의 베이스에 접속되는 베이스를 갖는 또다른 트랜지스터이고, 상기 또다른 트랜지스터는 전원 전압 및 상기 전류 미러 양단의 전압을 안정화시키는 상기 수단에 연결되는, 센서의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 방법.
  17. 제 11 항에 있어서,
    상기 전류 미러 양단의 전압을 안정화시키는 상기 수단은 입력 및 출력을 갖는 증폭기이고, 상기 입력은 전류 미러로서 사용되는 상기 트랜지스터에 연결되고, 상기 센서의 입력 전압에는 또다른 입력이 연결되고, 상기 출력은 상기 미러링된 전류의 흐름을 제어하는 트랜지스터의 베이스에 연결되는, 센서의 가변 저항기들의저항을 연속적으로 측정하는 방법.
  18. 제 11 항에 있어서,
    상기 센서의 총 저항을 확인하기 위해 상기 미러링된 전류를 사용하는 상기 수단은 상기 미러링된 전류의 흐름에 위치된 저항기이고, 상기 저항기 양단의 전압은 상기 총 저항을 확인하기 위해 사용될 수 있는, 센서의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 방법.
  19. 제 11 항에 있어서,
    상기 센서는 2개의 직렬 가변 저항기들 및 상기 2개의 가변 저항기들 각각의 저항을 나타내는 전압을 측정하기 위해 상기 2개의 가변 저항기들 사이에 존재하는 하나의 포트를 포함하는, 센서의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 방법.
  20. 제 11 항에 있어서,
    상기 센서는 임의의 수(n)의 직렬 가변 저항기들 및 상기 가변 저항기들 각각의 저항을 나타내는 전압들을 측정하기 위해 상기 가변 저항기들 각각 사이에 존재하는 n-1개의 포트들을 포함하는, 센서의 가변 저항기들의 저항을 연속적으로 측정하는 방법.
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