JPH0725607Y2 - すべり抵抗器の摺動子位置測定回路 - Google Patents
すべり抵抗器の摺動子位置測定回路Info
- Publication number
- JPH0725607Y2 JPH0725607Y2 JP9112490U JP9112490U JPH0725607Y2 JP H0725607 Y2 JPH0725607 Y2 JP H0725607Y2 JP 9112490 U JP9112490 U JP 9112490U JP 9112490 U JP9112490 U JP 9112490U JP H0725607 Y2 JPH0725607 Y2 JP H0725607Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- slider
- sliding resistor
- resistance
- resistor
- circuit
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Description
【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案はすべり抵抗器入力カードの摺動子位置測定回路
に関するものである。
に関するものである。
〈従来の技術〉 第３図は従来のすべり抵抗器の摺動子位置測定する回路
の一例を示す回路構成図である。図において、１はすべ
り抵抗器の摺動子位置測定回路、Ｉは電流ｉを定常的に
流す定電流源、r1は定電流源Ｉに直列接続された抵抗値
ｒの配線抵抗、Ｒは配線抵抗r1に直列接続された全抵抗
値Ｒのすべり抵抗器である。このすべり抵抗器Ｒは摺動
子ｐが抵抗器の上を移動可能なもので、Ｇ点を接点とし
ている。r2はすべり抵抗器Ｒの低電位側に直列接続され
た抵抗値ｒの配線抵抗、10は配線抵抗r1の高電位側のＡ
点、すべり抵抗器Ｒの摺動しｐの位置のＢ点、及び配線
抵抗r2の低電位側のＣ点のそれぞれの電位x1、ｘ、x0を
入力とするマルチプレクサ、11はマルチプレクサ10の出
力値をA/D変換するA/D変換器、12はデジタル化された信
号を演算して摺動子の位置を算出するマイクロプロセッ
サである。すべり抵抗器Ｒの高電位側の端をRA点、低電
位側の端をRBとすると、一般に、すべり抵抗器Ｒの摺動
子の位置をＥルートのRA−RB間の電位差とＦルートのＧ
−RB間の電位差の比率から求めていた。この比率をｋと
すると、比率ｋはA/D変換器11をへてマイクロプロセッ
サ12によって次式のように算出される。簡単のため、x0
＝０とする。
の一例を示す回路構成図である。図において、１はすべ
り抵抗器の摺動子位置測定回路、Ｉは電流ｉを定常的に
流す定電流源、r1は定電流源Ｉに直列接続された抵抗値
ｒの配線抵抗、Ｒは配線抵抗r1に直列接続された全抵抗
値Ｒのすべり抵抗器である。このすべり抵抗器Ｒは摺動
子ｐが抵抗器の上を移動可能なもので、Ｇ点を接点とし
ている。r2はすべり抵抗器Ｒの低電位側に直列接続され
た抵抗値ｒの配線抵抗、10は配線抵抗r1の高電位側のＡ
点、すべり抵抗器Ｒの摺動しｐの位置のＢ点、及び配線
抵抗r2の低電位側のＣ点のそれぞれの電位x1、ｘ、x0を
入力とするマルチプレクサ、11はマルチプレクサ10の出
力値をA/D変換するA/D変換器、12はデジタル化された信
号を演算して摺動子の位置を算出するマイクロプロセッ
サである。すべり抵抗器Ｒの高電位側の端をRA点、低電
位側の端をRBとすると、一般に、すべり抵抗器Ｒの摺動
子の位置をＥルートのRA−RB間の電位差とＦルートのＧ
−RB間の電位差の比率から求めていた。この比率をｋと
すると、比率ｋはA/D変換器11をへてマイクロプロセッ
サ12によって次式のように算出される。簡単のため、x0
＝０とする。
ここで、配線抵抗ｒは、 から となる。とから、 が得られる。ここで、このすべり抵抗器Ｒは一様で、か
つ電流一定のとき抵抗値とそれにかかる電圧は比例する
ので、この比率ｋがそのまますべり抵抗器Ｒの長さの比
になる。従って、従来はこの式からすべり抵抗器Ｒの
摺動子ｐの位置を算出していた。
つ電流一定のとき抵抗値とそれにかかる電圧は比例する
ので、この比率ｋがそのまますべり抵抗器Ｒの長さの比
になる。従って、従来はこの式からすべり抵抗器Ｒの
摺動子ｐの位置を算出していた。
〈考案が解決しようとする課題〉 このような従来の摺動子位置測定方法は、式にｒが含
まれないことから、配線が変更されても、再調整が不要
という長所をもつが、高範囲な全抵抗に対応させる場合
は、高分解能なA/D変換器が必要となる。例えば、全抵
抗100Ωから10kΩのすべり抵抗器に対応させ、比率ｋの
精度を0.1％にする場合には、 100×1000＝100000digits以上のA/D変換器が必要にな
り、精度を良くするためには大変高価なA/D変換器を用
いなければならないのでコストが掛かってしまう問題が
ある。
まれないことから、配線が変更されても、再調整が不要
という長所をもつが、高範囲な全抵抗に対応させる場合
は、高分解能なA/D変換器が必要となる。例えば、全抵
抗100Ωから10kΩのすべり抵抗器に対応させ、比率ｋの
精度を0.1％にする場合には、 100×1000＝100000digits以上のA/D変換器が必要にな
り、精度を良くするためには大変高価なA/D変換器を用
いなければならないのでコストが掛かってしまう問題が
ある。
本考案は、このような問題を解決するために為されたも
ので、高分解能のA/D変換器を必要とせずに高精度に測
定が行えるようなすべり抵抗器の摺動子位置測定回路を
提供することを目的とする。
ので、高分解能のA/D変換器を必要とせずに高精度に測
定が行えるようなすべり抵抗器の摺動子位置測定回路を
提供することを目的とする。
〈課題を解決するための手段〉 本考案は、 すべり抵抗器入力カードの摺動子位置を測定する回路に
おいて、 定電圧を回路に供給する定電圧源と、 この定電圧源の高電位側に接続された基準抵抗と、 この基準抵抗に直列接続されたすべり抵抗器と、 前記基準抵抗の高電位側、前記基準抵抗の低電位側、前
記すべり抵抗器の摺動子の位置、及びこの測定回路の最
も低電位側の点の４点を入力とするマルチプレクサと、 このマルチプレクサの出力値をA/D変換するA/D変換器
と、 この変換値よりすべり抵抗器の摺動子の位置を測定する
マイクロプロセッサと、 を具備し、 前記マイクロプロセッサは、すべり抵抗器の摺動子の位
置を次式から算出することを特徴とするすべり抵抗器の
摺動子位置測定回路である。
おいて、 定電圧を回路に供給する定電圧源と、 この定電圧源の高電位側に接続された基準抵抗と、 この基準抵抗に直列接続されたすべり抵抗器と、 前記基準抵抗の高電位側、前記基準抵抗の低電位側、前
記すべり抵抗器の摺動子の位置、及びこの測定回路の最
も低電位側の点の４点を入力とするマルチプレクサと、 このマルチプレクサの出力値をA/D変換するA/D変換器
と、 この変換値よりすべり抵抗器の摺動子の位置を測定する
マイクロプロセッサと、 を具備し、 前記マイクロプロセッサは、すべり抵抗器の摺動子の位
置を次式から算出することを特徴とするすべり抵抗器の
摺動子位置測定回路である。
但し、 ｋ…すべり抵抗器の摺動子の抵抗に対する比率 Ｒ…すべり抵抗器の全抵抗値 Rref…基準抵抗の抵抗値 x1…基準抵抗の低電位側の電位 x2…基準抵抗の高電位側の電位 ｘ…すべり抵抗器の摺動子の接触点の電位 とする。
〈作用〉 このような本考案においては、摺動子位置測定回路に定
電圧源とその高電位側に直列接続された基準抵抗、この
基準抵抗に直列接続された２つの配線抵抗、及びこの２
つの配線抵抗の間に接続されたすべり抵抗器を設け、基
準抵抗の高電位側、低電位側、すべり抵抗器の摺動子の
位置、及び低電位の方の配線抵抗の低電位側の４点をマ
ルチプレクサの入力としてその出力をA/D変換器でA/D変
換する。この変換値をマイクロプロセッサで演算し、摺
動子の位置を算出する。
電圧源とその高電位側に直列接続された基準抵抗、この
基準抵抗に直列接続された２つの配線抵抗、及びこの２
つの配線抵抗の間に接続されたすべり抵抗器を設け、基
準抵抗の高電位側、低電位側、すべり抵抗器の摺動子の
位置、及び低電位の方の配線抵抗の低電位側の４点をマ
ルチプレクサの入力としてその出力をA/D変換器でA/D変
換する。この変換値をマイクロプロセッサで演算し、摺
動子の位置を算出する。
〈実施例〉 以下図面を用いて、本考案を詳細に説明する。
第１図は本考案に係るすべり抵抗器の摺動子位置を測定
する回路の一実施例を示す回路構成図である。尚、第１
図で第３図と同一のものは同一符号を付し、説明を省略
する。第１図において、２はすべり抵抗器の摺動子位置
測定回路、Vrefは定電圧値Vrefをもった定電圧源、Rref
は定電圧源Vrefに直列接続された抵抗値Rrefの基準抵抗
である。21は基準抵抗Rrefの高電位側のＡ点、基準抵抗
Rrefの低電位側のＢ点、すべり抵抗器Ｒの摺動子ｐの位
置のＣ点、及び配線抵抗r2の低電位側のＤ点のそれぞれ
の電位x2、x1、ｘ、及びx0を入力とするマルチプレク
サ、22をマルチプレクサ21の出力値をA/D変換するA/D変
換器、23はデジタル化された信号を演算して摺動子の位
置を算出するマイクロプロセッサである。次に第１図を
用いて本考案の動作を説明する。
する回路の一実施例を示す回路構成図である。尚、第１
図で第３図と同一のものは同一符号を付し、説明を省略
する。第１図において、２はすべり抵抗器の摺動子位置
測定回路、Vrefは定電圧値Vrefをもった定電圧源、Rref
は定電圧源Vrefに直列接続された抵抗値Rrefの基準抵抗
である。21は基準抵抗Rrefの高電位側のＡ点、基準抵抗
Rrefの低電位側のＢ点、すべり抵抗器Ｒの摺動子ｐの位
置のＣ点、及び配線抵抗r2の低電位側のＤ点のそれぞれ
の電位x2、x1、ｘ、及びx0を入力とするマルチプレク
サ、22をマルチプレクサ21の出力値をA/D変換するA/D変
換器、23はデジタル化された信号を演算して摺動子の位
置を算出するマイクロプロセッサである。次に第１図を
用いて本考案の動作を説明する。
この実施例においては、〈従来の技術〉で説明したのと
同様に、すべり抵抗器Ｒの高電位側の端をRA点、低電位
側の端をRB点とすると、すべり抵抗器Ｒの摺動子ｐの位
置をｅルートのRA−RB間の電位差とｆルートのＧ−RB間
の電位差の比率から求める。この比率ｋは、A/D変換器2
2をへてマイクロプロセッサ23によって次式のように算
出される。簡単のため、x0＝０とする。x1、x2は、 となり、これから比率ｋは、 と求まる。とから、 となり、これをに代入して、 が算出される。この式はｒを含んでいないので、比率
ｋを配線抵抗に関係なく求めることができる。従って、
配線が変更されていも再調整が不要である。第２図に従
来と比較した結果を示す。
同様に、すべり抵抗器Ｒの高電位側の端をRA点、低電位
側の端をRB点とすると、すべり抵抗器Ｒの摺動子ｐの位
置をｅルートのRA−RB間の電位差とｆルートのＧ−RB間
の電位差の比率から求める。この比率ｋは、A/D変換器2
2をへてマイクロプロセッサ23によって次式のように算
出される。簡単のため、x0＝０とする。x1、x2は、 となり、これから比率ｋは、 と求まる。とから、 となり、これをに代入して、 が算出される。この式はｒを含んでいないので、比率
ｋを配線抵抗に関係なく求めることができる。従って、
配線が変更されていも再調整が不要である。第２図に従
来と比較した結果を示す。
この図は、第１図の本考案における実施例の回路と第３
図の従来例における回路とを比較した表である。第１図
の実施例の回路においては、基準抵抗Rrefの抵抗値を75
0Ω、配線抵抗r1、r2の抵抗値を０Ω、定電圧源Vrefの
電圧を1Vとし、第３図の従来例の回路においては、配線
抵抗r1、r2の抵抗値を０Ω、定電流源Ｉの電流値を1mA
とする。また、すべり抵抗器Ｒの全抵抗値が100Ωのと
きのx1をｘ1,100、10kΩのときのx1をx1,10kとする。第
３図の従来例の回路では、ｘ1,100は0.1、ｘ1,10ｋは10
と求まり、第１図の実施例の回路では、ｘ1,100は0.11
8、ｘ1,10ｋは0.930と求まる。ここで、すべり抵抗器Ｒ
の抵抗値を100倍変化させたときのx1の変化をｘ1,10k/x
1,100として求めると、従来例の場合は100、本実施例の
場合は7.88となる。この時、比率ｋの精度を0.1％とす
るとA/D変換器の分解能は、第３図の従来例の場合は、 100×1000＝100000digits となり、第１図の本実施例の場合は、 7.88×1000≒8000digits となる。つまり、第１図の実施例における回路では、A/
D変換器の分解能が1/10でも、従来例と同様に比率ｋが
測定できる。また、逆に同じ分解能のA/D変換器を用い
た場合は、本実施例の回路を用いると従来例に比べで比
率ｋを高精度に測定することができる。
図の従来例における回路とを比較した表である。第１図
の実施例の回路においては、基準抵抗Rrefの抵抗値を75
0Ω、配線抵抗r1、r2の抵抗値を０Ω、定電圧源Vrefの
電圧を1Vとし、第３図の従来例の回路においては、配線
抵抗r1、r2の抵抗値を０Ω、定電流源Ｉの電流値を1mA
とする。また、すべり抵抗器Ｒの全抵抗値が100Ωのと
きのx1をｘ1,100、10kΩのときのx1をx1,10kとする。第
３図の従来例の回路では、ｘ1,100は0.1、ｘ1,10ｋは10
と求まり、第１図の実施例の回路では、ｘ1,100は0.11
8、ｘ1,10ｋは0.930と求まる。ここで、すべり抵抗器Ｒ
の抵抗値を100倍変化させたときのx1の変化をｘ1,10k/x
1,100として求めると、従来例の場合は100、本実施例の
場合は7.88となる。この時、比率ｋの精度を0.1％とす
るとA/D変換器の分解能は、第３図の従来例の場合は、 100×1000＝100000digits となり、第１図の本実施例の場合は、 7.88×1000≒8000digits となる。つまり、第１図の実施例における回路では、A/
D変換器の分解能が1/10でも、従来例と同様に比率ｋが
測定できる。また、逆に同じ分解能のA/D変換器を用い
た場合は、本実施例の回路を用いると従来例に比べで比
率ｋを高精度に測定することができる。
〈考案の効果〉 以上詳細に説明したように、本考案においては、高分解
能のA/D変換器を用いずに、高精度に比率ｋ、つまりす
べり抵抗器の摺動子の位置を測定することができる。ま
たこれにより、高分解能のA/D変換器が不必要となるこ
とによって、回路コストを大幅に削減することができ
る。
能のA/D変換器を用いずに、高精度に比率ｋ、つまりす
べり抵抗器の摺動子の位置を測定することができる。ま
たこれにより、高分解能のA/D変換器が不必要となるこ
とによって、回路コストを大幅に削減することができ
る。
【図面の簡単な説明】 第１図は本考案に係るすべり抵抗器の摺動子位置測定回
路の一実施例を示す回路構成図、第２図は従来の摺動子
位置測定回路と本考案の摺動子位置測定回路を比較した
表、第３図は従来のすべり抵抗器の摺動子位置測定回路
の一例を示す回路構成図である。 ２……摺動子位置測定回路 21……マルチプレクサ 22……A/D変換器 23……マイクロプロセッサ Vref……定電圧源 Rref……基準抵抗 Ｒ……すべり抵抗器 ｐ……摺動子 r1、r2……配線抵抗
路の一実施例を示す回路構成図、第２図は従来の摺動子
位置測定回路と本考案の摺動子位置測定回路を比較した
表、第３図は従来のすべり抵抗器の摺動子位置測定回路
の一例を示す回路構成図である。 ２……摺動子位置測定回路 21……マルチプレクサ 22……A/D変換器 23……マイクロプロセッサ Vref……定電圧源 Rref……基準抵抗 Ｒ……すべり抵抗器 ｐ……摺動子 r1、r2……配線抵抗
Claims (1)
- 【請求項１】すべり抵抗器入力カードの摺動子位置を測
定する回路において、 定電圧を回路に供給する定電圧源と、 この定電圧源の高電位側に接続された基準抵抗と、 この基準抵抗に直列接続されたすべり抵抗器と、 前記基準抵抗の高電位側、前記基準抵抗の低電位側、前
記すべり抵抗器の摺動子の位置、及びこの測定回路の最
も低電位側の点の４点を入力とするマルチプレクサと、 このマルチプレクサの出力値をA/D変換するA/D変換器
と、 この変換値よりすべり抵抗器の摺動子の位置を測定する
マイクロプロセッサと、 を具備し、 前記マイクロプロセッサは、すべり抵抗器の摺動子の位
置を次式から算出することを特徴とするすべり抵抗器の
摺動子位置測定回路。 但し、 ｋ…すべり抵抗器の摺動子の抵抗に対する比率 Ｒ…すべり抵抗器の全抵抗値 Rref…基準抵抗の抵抗値 x1…基準抵抗の低電位側の電位 x2…基準抵抗の高電位側の電位 ｘ…すべり抵抗器の摺動子の接触点の電位 とする。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9112490U JPH0725607Y2 (ja) | 1990-08-30 | 1990-08-30 | すべり抵抗器の摺動子位置測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9112490U JPH0725607Y2 (ja) | 1990-08-30 | 1990-08-30 | すべり抵抗器の摺動子位置測定回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0449804U JPH0449804U (ja) | 1992-04-27 |
| JPH0725607Y2 true JPH0725607Y2 (ja) | 1995-06-07 |
Family
ID=31826454
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9112490U Expired - Lifetime JPH0725607Y2 (ja) | 1990-08-30 | 1990-08-30 | すべり抵抗器の摺動子位置測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0725607Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1447670A1 (en) * | 2003-02-12 | 2004-08-18 | Dialog Semiconductor GmbH | Sensor read out |
| JP5696540B2 (ja) * | 2011-03-16 | 2015-04-08 | 株式会社リコー | Ａｄ変換器、ダイヤル式入力装置、及び抵抗−電圧変換回路 |
-
1990
- 1990-08-30 JP JP9112490U patent/JPH0725607Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0449804U (ja) | 1992-04-27 |
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