KR20040071532A - Three-dimensional image measuring apparatus - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A three-dimensional image measuring apparatus is provided to more precisely measure three-dimensional image by removing a shadow by means of a projection part having one or more mirrors, which is capable of conveying an image. CONSTITUTION: A three-dimensional image measuring apparatus includes a work stage(20), a light source(31), a diffraction grating(33), a projection optical system(34), a projection part, a viewing optical system, detector arrays, a frame grabber(53), an image processor(54), and a control part(53). An object(22) to be measured is installed on the work stage(20). The light source(31) emits light. The diffraction grating(33) passes light delivered. The projection part includes appliances having mirrors(36) for reflecting light. The detector arrays detect light. The frame grabber(53) image-processes light and stores the light. The image processor calculates phase of a processed image. The three-dimensional image measuring apparatus includes a plurality of projection parts.

Description

3차원형상 측정장치{Three-dimensional image measuring apparatus}Three-dimensional image measuring apparatus

본 발명은 회절격자의 이미지를 이송시킬 수 있는 미러를 갖는 1개 이상으로 구성될 수 있는 투영부에 의해 광삼각법의 단점인 그림자 영역을 제거함으로써, 보다 정밀한 3차원형상을 측정할 수 있는 3차원형상 측정장치에 관한 것이다.The present invention eliminates the shadow area, which is a disadvantage of the optical triangulation method, by a projection unit having one or more mirrors capable of transferring an image of a diffraction grating, thereby measuring a more precise three-dimensional shape. It relates to a shape measuring device.

일반적으로 자유곡면형태의 삼차원 형상을 측정하는 기술은 크게 접촉식과 비접촉식으로 나뉘어지고 있다.In general, the technique of measuring the three-dimensional shape of the free-form surface is largely divided into contact and non-contact.

먼저, 삼차원 측정기를 사용하여 접촉식으로 곡면상의 한 점씩 측정하여 전체 곡면형상을 측정하는 방식이 오래 전부터 널리 사용되어 왔다. 그러나, 이러한 방식은 측정시간이 과다하게 소요되는 단점이 있었다.First, a method of measuring the entire curved shape by measuring one point on the curved surface by a three-dimensional measuring device has been widely used for a long time. However, this method has a disadvantage in that excessive measurement time is required.

한편, 비접촉 3차원 측정법이 연구되고 있으며, 적용분야는 자동화, 품질관리, 의학, 로보스틱스, 3차원 모델링분야 등에서 중요한 역할을 수행하고 있으며, 비접촉 3차원 측정법은 측정원리에 따라 크게 광간섭법과, 광삼각법으로 나뉘어진다.On the other hand, non-contact three-dimensional measuring method is being studied, and the application field plays an important role in the fields of automation, quality control, medicine, robotics, three-dimensional modeling, etc. The non-contact three-dimensional measuring method largely depends on the optical interference method, It is divided into phototriangulation.

광간섭법은 레이저와 같은 단색광을 이용하는 광위상 간섭법과 광을 이용하는 광 주사간섭법이 있으며, nm(nano meter)의 정밀한 측정이 가능하나 넓은 영역을 빠르게 측정하기는 어렵고 고가의 정밀한 스테이지(Stage)가 필요하게 되는 문제점이 있다.Optical interference method includes optical phase interference method using monochromatic light such as laser and optical scanning interference method using light, and precise measurement of nm (nano meter) is possible, but it is difficult to measure large area quickly and expensive and accurate stage There is a problem that is required.

또한, 광삼각법은 정해진 일정 광을 측정 표면에 임의의 정해진 각도로 투영하고 다른 각도에서 표면의 형상에 따라 변형된 광의 밝기를 추출하여 표면의 형상 정보를 해석하는 방법이다.In addition, the optical triangulation method is a method of analyzing the shape information of the surface by projecting a predetermined constant light on the measurement surface at any predetermined angle and extracting the brightness of the light modified according to the shape of the surface at another angle.

상기 광삼각법에서 투영법에 따라 레이저 포인터 또는 레이저 슬릿빔을 이용하는 장치와, 모아레 무늬를 이용하는 장치로 나뉘어질 수 있다. 레이저 포인터 또는 레이저 슬릿빔을 이용하여 스캔하는 장치는 측정부 구성은 간단하나 스캔을 위한 기구 구성이 필요하며 정밀도가 높을수록 스캔 시간이 길어지게 되는 문제점이 있다.According to the projection method in the optical triangulation method, it may be divided into a device using a laser pointer or a laser slit beam, and a device using a moire fringe. An apparatus for scanning using a laser pointer or a laser slit beam has a problem in that the measurement unit is simple, but a mechanism configuration for scanning is required, and the higher the accuracy, the longer the scan time.

근래에 와서는 모아레법이라는 비접촉식으로 측정하는 광학식이 많이 사용되고 있는데, 이는 3차원 측정기를 사용하는 접촉식에 비해 측정시간이 월등히 단축된다.In recent years, a lot of non-contact optical measurement method called the moire method is used, which greatly reduces the measurement time compared to the contact method using a three-dimensional measuring instrument.

모아레법은 측정대상물의 3차원형상정보를 가지는 모아레 무늬를 얻기 위하여 측정대상물에 일정한 간격의 직선줄무늬를 형성시켜야 하고, 이를 정밀하게 이송시켜야 한다.In order to obtain moire patterns with three-dimensional shape information of the measurement object, the moiré method should form a straight line of uniform intervals on the measurement object and transfer it precisely.

이를 위한 종래의 방법에서는 유리의 한쪽 표면에 크롬으로 일정한 간격의직선무늬를 새겨넣은 직선유리격자를 영사광학계를 이용하여 측정대상물에 투영하게 된다.In the conventional method for this purpose, a linear glass grating in which a uniformly spaced linear pattern is engraved on one surface of the glass is projected onto the measurement object using a projection optical system.

또한, 측정대상물에 형성된 직선줄무늬를 일정한 간격으로 이송시키기 위해 직선유리격자 이송장치를 사용하고 있다.In addition, in order to transfer the straight stripes formed on the measurement object at regular intervals, a linear glass grid transfer device is used.

복수개의 직선줄무늬가 일정간격으로 구성되어 있는 직선유리격자를 측정대상물에 투영하면 측정대상물의 표면에 복수개의 줄무늬가 형성되는데, 이 줄무늬들은 측정대상물의 높이에 따라 휘어지게 된다.Projecting a straight glass grid composed of a plurality of straight stripes at regular intervals onto the measurement object causes a plurality of stripes to be formed on the surface of the measurement object, and the stripes are curved according to the height of the measurement object.

줄무늬가 형성되어 있는 측정대상물을 직선유리격자와 겹치면 복수개의 곡선으로 이루어진 물결무늬의 형상을 볼수 있는데, 이 무늬를 '모아레무늬'라 한다. 이 모아레무늬는 측정대상물의 높이에 따라 형성되는 등고선이기 때문에, 이 모아레무늬를 해석하여 측정대상물의 형상을 측정하게 된다.When a measurement object with stripes is overlapped with a straight glass grid, the shape of a wave pattern composed of a plurality of curves can be seen. This pattern is called a 'moire pattern'. Since the moiré pattern is a contour line formed according to the height of the measurement object, the shape of the measurement object is measured by analyzing the moire pattern.

이하, 종래의 위상천이 모아레법 측정기를 도면을 이용하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a conventional phase shift moire method measuring device will be described with reference to the drawings.

도 1에 도시된 바와 같이, 광원(1)과, 상기 광원(1)의 일측에 소정간격으로 설치된 집광렌즈(2)와, 상기 집광렌즈(2)의 일측에 설치된 투영격자(3)와, 상기 투영격자(3)의 일측에 설치된 투영격자이송장치(4)와, 투영격자이송장치(4)의 일측에 설치된 투영렌즈(5)와, 상기 투영렌즈(5)로부터 소정간격으로 측정대상물(6)이 위치되어 있다.As shown in FIG. 1, a light source 1, a condenser lens 2 provided at one side of the light source 1 at predetermined intervals, a projection grid 3 provided at one side of the condenser lens 2, A projection lattice transfer device 4 provided on one side of the projection lattice 3, a projection lens 5 provided on one side of the projection lattice transfer device 4, and a measurement object at a predetermined distance from the projection lens 5; 6) is located.

그리고, 상기 투영렌즈(5)의 일측에는 결상렌즈(7)가 설치되어 있고, 상기 결상렌즈(7)의 일측에는 기준격자(8)가 설치되어 있고, 상기 기준격자(8)의 일측에는 릴레이렌즈(9)가 설치되어 있고, 상기 릴레이렌즈(9) CCD카메라(10)가 설치되어 있다.An imaging lens 7 is provided at one side of the projection lens 5, and a reference grid 8 is provided at one side of the imaging lens 7, and a relay is provided at one side of the reference lens 8. The lens 9 is provided, and the relay lens 9 CCD camera 10 is provided.

상기와 같이 구성된 종래의 위상천이 모아레법 측정기는 다음과 같은 동작에 의해 영상을 얻을 수 있다.The conventional phase shift moiré measuring device configured as described above may obtain an image by the following operation.

먼저, 광원(1)으로부터 주사된 광이 집광렌즈(2)와, 상기 집광렌즈(2)의 일측에 설치된 투영격자(3)를 통과하게 된다. 이때, 상기 투영격자(3)는 그 일측에 설치된 투영격자이송장치(4)에 의해 3 내지 5스텝(Step)정도 등간격으로 이송될 수 있다.First, the light scanned from the light source 1 passes through the condenser lens 2 and the projection lattice 3 provided on one side of the condenser lens 2. In this case, the projection grid 3 may be transported at equal intervals by about 3 to 5 steps by the projection grid transfer device 4 installed at one side thereof.

상기 광(11)이 투영격자(3)를 통과하고 투영렌즈(5)를 통하여 측정대상물(6)에 투영되면, 상기 측정대상물(6)에 변형된 줄무늬가 형성된다. 상기 측정대상물(6)에 형성된 변형된 줄무늬는 결상렌즈(7)를 통과하고, 기준격자(8)를 거쳐 릴레이렌즈(9)를 통과하여 CCD카메라(10)에 물결무늬 즉, 모아레무늬의 영상이 맺히게 된다.When the light 11 passes through the projection lattice 3 and is projected onto the measurement object 6 through the projection lens 5, a deformed stripe is formed on the measurement object 6. The deformed stripe formed on the measurement object 6 passes through the imaging lens 7 and passes through the relay lens 9 through the reference lattice 8 to form a wavy pattern, that is, a moire pattern, in the CCD camera 10. This bears.

그런데, 상기와 같이 구성되어 작동되는 모아레법 측정기에서 얻어진 영상은 측정대상물의 높이정보를 나타내는 모아레무늬와 CCD카메라(10) 앞에 놓여 있는 기준격자의 무늬가 동시에 나타나게 된다.However, in the image obtained by the moiré measuring device configured and operated as described above, the moiré pattern representing the height information of the measurement object and the pattern of the reference grid placed in front of the CCD camera 10 are simultaneously displayed.

따라서, 기준격자의 영상을 제거하기 위한 별도의 수단이 필요하게 되어 구조가 복잡해지게 되는 문제점이 있다.Therefore, a separate means for removing the image of the reference lattice is required, which leads to a complicated structure.

또한, 광삼각법을 이용하는 모든 측정법은 측정원리상 측정이 불가능한 그림자 영역이 생기는 문제점이 있다.In addition, all the measurement methods using the optical triangulation method has a problem in that the shadow area is impossible to measure in principle.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해소하기 위하여 발명된 것으로, 본 발명의 목적은 회절격자의 격자이미지를 이송시킬 수 있는 미러를 갖는 1개 이상으로 구성될 수 있는 투영부에 의해 광삼각법의 단점인 그림자 영역을 제거함으로써, 보다 정밀한 3차원형상을 측정할 수 있는 3차원형상 측정장치를 제공하려는데 있다.The present invention has been invented to solve the above problems, an object of the present invention is a disadvantage of the optical triangulation method by the projection that can be composed of one or more having a mirror capable of transferring the grating image of the diffraction grating The object of the present invention is to provide a three-dimensional shape measuring apparatus capable of measuring a more precise three-dimensional shape by removing a shadow area.

도 1은 종래의 모아레법 측정기의 구조를 나타낸 도면이고,1 is a view showing the structure of a conventional moiré measuring device,

도 2a는 본 발명의 3차원형상 측정장치를 나타낸 도면이고,Figure 2a is a view showing a three-dimensional shape measuring apparatus of the present invention,

도 2b는 투영부의 회전방향을 보인 도면이고,Figure 2b is a view showing the rotation direction of the projection,

도 3a는 다른 실시예의 제1 및 제2투영부를 보인 도면이고,3A is a view showing first and second projection parts of another embodiment;

도 3b는 제1 및 제2투영부의 셋팅 상태를 보인 도면이고,3B is a view showing a setting state of the first and second projection parts,

도 4는 본 발명에 적용되는 미러를 보인 도면이다.4 is a view showing a mirror applied to the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

20 : 워크스테이지 22 : 측정대상물20: work stage 22: measuring object

30, 130, 140 : 제1 및 제2투영부30, 130, 140: first and second projection parts

31, 131, 141 : 광원, 제1 및 제2광원31, 131, and 141: light source, first and second light sources

32, 132, 142 : 화이버번들, 제1 제2화이버번들32, 132, 142: fiber bundle, first second fiber bundle

33, 133, 143 : 회절격자, 제1 및 제2회절격자33, 133, 143: diffraction gratings, first and second diffraction gratings

34, 134, 144 : 투영광학계, 제1 및 제2투영광학계34, 134, 144: projection optical system, first and second projection optical system

35, 135, 145 : 미세회전기구, 제1 및 제2미세회전기구35, 135, 145: fine rotating mechanism, first and second fine rotating mechanism

36, 136, 146 : 미러, 제1 및 제2미러36, 136, 146: mirrors, first and second mirror

37, 137, 147 : 셔터, 제1 및 제2셔터37, 137, 147: shutter, first and second shutters

50 : 결상부 51 : 조망광학계50: image forming unit 51: viewing optical system

52 : 디텍터어레이 53 : 프레임 그래버52: detector array 53: frame grabber

54 : 이미지 프로세서 53 : 제어부54: image processor 53: control unit

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 3차원형상 측정장치는 측정대상물이 설치될 수 있는 워크스테이지와; 상기 워크스테이지의 상부에 설치되며, 광을 발산하는 광원과, 상기 광이 전달되는 화이버번들과, 상기 전달된 광이 통과되는 회절격자와, 상기 통과된 광이 투과되는 투영광학계와, 상기 투과된 광이 반사되는 미러를 갖는 미세회전기구로 이루어진 투영부와; 상기 투영부의 일측에 설치되며, 측정대상물로부터 반사되는 광을 수광하는 조망광학계와, 상기 수광된 광을 감지하는 디텍터어레이와, 상기 감지된 광을 영상처리하여 저장하는 프레임 그래버와, 상기 처리된 영상의 위상을 계산하는 이미지 프로세서와, 제어부로 이루어진 결상부로 구성되며, 상기 투영부는 1개 이상으로 구성될 수 있으며, 상기 투영부는 제어부에 의해 제어되어 측정대상물의 주변을 소정의 각도로 회전하여 광을 주사할 수 있다.The three-dimensional shape measuring apparatus according to the present invention for achieving the above object is a work stage on which the measurement object can be installed; A light source disposed above the work stage and emitting light, a fiber bundle through which the light is transmitted, a diffraction grating through which the transmitted light passes, a projection optical system through which the transmitted light passes, and the transmitted light A projection portion formed of a fine rotating mechanism having a mirror on which light is reflected; A projection optical system installed at one side of the projection unit to receive light reflected from a measurement object, a detector array to sense the received light, a frame grabber to image and store the detected light, and the processed image An image processor for calculating a phase of the image and the image forming unit consisting of a control unit, the projection unit may be composed of one or more, the projection unit is controlled by the control unit is rotated around the measurement object at a predetermined angle to emit light Can be injected.

상기 미세회전기구는 그 일측에 설치된 미러를 회전시켜 광의 광경로를 변경시킬 수 있다.The micro rotating mechanism may change the optical path of the light by rotating the mirror provided on one side thereof.

측정대상물이 설치될 수 있는 워크스테이지와; 상기 워크스테이지의 상부에 설치되며, 광을 발산하는 제1 및 제2광원과, 상기 광이 전달되는 제1 및 제2화이버번들과, 상기 전달된 광이 통과되는 제1 및 제2회절격자와, 상기 통과된 광이 투과되는 제1 및 제2투영광학계와, 상기 투과된 광이 반사되는 제1 및 제2미러를 갖는 제1 및 제2미세회전기구로 이루어진 제1 및 제2투영부와; 상기 제1 및 제2투영부의 일측에 설치되며, 측정대상물로부터 반사되는 광을 수광하는 조망광학계와, 상기 수광된 광을 감지하는 디텍터어레이와, 상기 감지된 광을 영상처리하여 저장하는 프레임 그래버와, 상기 처리된 영상의 위상을 계산하는 이미지 프로세서와, 제어부로 이루어진 결상부로 구성되며, 상기 제1 및 제2투영부는 측정대상물의 상부의 수직 선상에 소정의 각도로 대칭되게 설치되며, 상기 제1 및 제2투영부는 제어부에 의해 제어되어 측정대상물에 광을 교대로 주사할 수 있다.A work stage on which the measurement object can be installed; A first and second light sources disposed above the work stage and emitting light, first and second fiber bundles through which the light is transmitted, and first and second diffraction gratings through which the transmitted light passes; First and second projection parts including first and second projection optical systems through which the transmitted light is transmitted, and first and second fine rotating mechanisms having first and second mirrors through which the transmitted light is reflected; ; Installed on one side of the first and second projection units, a viewing optical system for receiving light reflected from a measurement object, a detector array for sensing the received light, a frame grabber for image processing the stored light, and And an image processor for calculating a phase of the processed image and an image forming unit including a control unit. The first and second projection units are symmetrically installed at a predetermined angle on a vertical line of an upper portion of the measurement object. And a second projection unit controlled by the controller to alternately scan the light to the measurement object.

상기 제1 및 제2미세회전기구는 각각의 일측에 설치된 제1 및 제2미러를 회전시켜 광경로를 변경시킬 수 있다.The first and second fine rotating mechanisms may rotate the first and second mirrors provided at one side thereof to change the optical path.

상기 제1 및 제2투영부는 제어부에 의해 제어되는 제 1 및 제2셔터에 의해 측정대상물에 광을 교대로 주사할 수 있다.The first and second projection units may alternately scan the light to the measurement object by the first and second shutters controlled by the controller.

이하, 본 발명의 3차원형상 측정장치를 도면을 이용하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a three-dimensional shape measuring apparatus of the present invention will be described with reference to the drawings.

도 2a는 본 발명의 3차원형상 측정장치를 나타낸 도면이고, 도 2b는 투영부의 회전방향을 보인 도면이다.Figure 2a is a view showing a three-dimensional shape measuring apparatus of the present invention, Figure 2b is a view showing the rotation direction of the projection unit.

먼저, 도 2a에 도시된 바와 같이, 본 발명의 3차원형상 측정장치는 크게 워크스테이지(20)와, 상기 워크스테이지(20)의 상부 일측에 설치되는 투영부(30)와, 상기 투영부(30)의 타측에 설치되는 결상부(50)로 구성된다.First, as shown in FIG. 2A, the three-dimensional shape measuring apparatus of the present invention includes a work stage 20, a projection unit 30 installed on an upper side of the work stage 20, and the projection unit ( It consists of an imaging part 50 provided in the other side of 30).

상기 워크스테이지(20)는 그 상부 표면에는 측정대상물(22)이 설치될 수 있다.The work stage 20 may have a measurement object 22 installed on an upper surface thereof.

상기 투영부(30)는 상기 워크스테이지(20)의 상부에 설치되며, 광을 발산하는 광원(31)과, 상기 광원(31)의 일측에 설치되어 상기 광원(31)에서 발산되는 광을 자유롭게 전달시킬 수 있는 화이버번들(32)과, 상기 화이버번들(32)의 일측에 설치되어 광이 투과되는 회절격자(33)와, 상기 회절격자(33)의 일측에 설치되어 상기 투과된 광을 투영하는 투영광학계(34)와, 상기 투영광학계(34)의 일측에 설치되는 미세회전기구(35)와, 상기 미세회전기구(35)에 설치되어 투영되는 광의 광경로를 각도조절 할 수 있는 미러(36)로 구성된다.The projection unit 30 is installed on the work stage 20, the light source 31 for emitting light and the light source 31 is provided on one side of the light source 31 freely emitted from the light source 31 A fiber bundle 32 capable of transmitting, a diffraction grating 33 installed at one side of the fiber bundle 32 to transmit light, and installed at one side of the diffraction grating 33 to project the transmitted light A projection optical system 34, a microrotation mechanism 35 provided on one side of the projection optical system 34, and a mirror capable of angle adjustment of an optical path of light provided and projected on the microrotation mechanism 35 ( 36).

상기 회절격자(33)는 광이 투과되면서 격자이미지가 발생되고, 상기 발생된 격자이미지는 투영광학계(34)를 거쳐 미세회전기구(35)의 미러(36)에 전달된다.The diffraction grating 33 generates a grid image while light is transmitted, and the generated grid image is transmitted to the mirror 36 of the micro rotating mechanism 35 through the projection optical system 34.

상기 미세회전기구(35)는 그 일측에 설치된 미러(36)의 각도를 미세하게 4번 변환시켜 격자이미지가 측정대상물(22)에 4번 주사될 수 있다.The micro-rotation mechanism 35 finely converts the angle of the mirror 36 installed on one side four times so that the grid image can be scanned four times on the measurement object 22.

상기 결상부(50)는 상기 투영부(30)의 일측 워크스테이지(20)의 상부에 설치되며, 측정대상물(22)로부터 반사되는 격자이미지를 수광하는 조망광학계(51)와, 상기 조망광학계(51)에서 전달된 격자이미지에 의해 형성된 영상을 감지하는 디텍터어레이(52)와, 상기 감지된 영상을 프레임 단위로 저장하는 프레임 그래버(53)와, 상기 감지된 영상을 이용하여 위상계산을 하는 이미지 프로세서(54)와, 제어부(55)로 구성된다.The imaging unit 50 is installed on the upper side of the work stage 20 of the projection unit 30, the viewing optical system 51 for receiving a grid image reflected from the measurement object 22, and the viewing optical system ( A detector array 52 for detecting an image formed by the grid image transmitted from 51), a frame grabber 53 for storing the detected image in units of frames, and an image for phase calculation using the detected image. It consists of a processor 54 and a control part 55.

상기 회절격자(33) 또는 미세회전기구(35)는 각기 미세하게 4번 움직이게 되어, 이에 의해 광경로는 4번 바뀌게 되면서, 디텍터어레이(52)는 결과적으로 4번의 영상을 감지하고, 이에 의해 프레임 그래버(53)는 4장의 영상을 저장하게 되고, 상기 프레임 그래버(53)의 일측에 설치된 이미지 프로세서(54)는 감지한 영상을 이용하여 위상을 계산하게 되므로써, 결과적으로 측정대상물(22)의 3차원 형상을 회득할 수 있게 된다.The diffraction grating 33 or the fine rotating mechanism 35 moves finely four times, thereby changing the optical path four times. As a result, the detector array 52 detects four images and thereby the frame. The grabber 53 stores four images, and the image processor 54 installed on one side of the frame grabber 53 calculates a phase by using the sensed image. As a result, three of the measurement objects 22 The dimensional shape can be acquired.

또한, 도 2b에 도시된 바와 같이, 상기 투영부(30)는 제어부(55)에 의해 측정대상물(22)의 주변으로 소정의 각도로 회전한 후, 소정의 위치에서 광을 측정대상물(22)에 주사시킬 수 있다.In addition, as shown in FIG. 2B, the projection unit 30 is rotated at a predetermined angle around the measurement object 22 by the control unit 55, and then the light is measured at a predetermined position. Can be injected.

상기와 같이 본 발명을 이용하여 광을 주사하면 측정대상물(22)에 그림자영역(23)이 발생되지 않게 되고, 결과적으로 측정대상물(22)에 대해 정밀한 3차원형상을 측정할 수 있게 되는 것이다.When the light is scanned using the present invention as described above, the shadow area 23 is not generated in the measurement object 22, and as a result, a precise three-dimensional shape can be measured with respect to the measurement object 22.

한편, 본 발명의 다른 실시예는 다음과 같다. 도 3a는 본 발명의 다른 실시예의 제1 및 제2투영부를 보인 도면이고, 도 3b는 제1 및 제2투영부의 셋팅 상태를 보인 도면이다.Meanwhile, another embodiment of the present invention is as follows. Figure 3a is a view showing the first and second projection portion of another embodiment of the present invention, Figure 3b is a view showing the setting state of the first and second projection portion.

먼저, 도 3a에 도시된 바와 같이, 본 발명의 3차원형상 측정장치는 크게 워크스테이지(20)와, 상기 워크스테이지(20)의 상부 일측에 소정의 각도로 대칭되게 설치되는 제1 및 제2투영부(130,140)와, 상기 제1 및 제2투영부(130,140)의 사이에설치되는 결상부(50)로 구성된다.First, as shown in Figure 3a, the three-dimensional shape measuring apparatus of the present invention largely the work stage 20, the first and the second is installed symmetrically at a predetermined angle on the upper side of the work stage 20 It consists of the projection part 130,140, and the imaging part 50 provided between the said 1st and 2nd projection part 130,140.

상기 워크스테이지(20)는 그 상부 표면에는 측정대상물(22)이 설치될 수 있다.The work stage 20 may have a measurement object 22 installed on an upper surface thereof.

상기 제1 및 제2투영부(30)는 상기 워크스테이지(20)의 상부에 설치되며, 광을 발산하는 제1 및 제2광원(131,141)과, 상기 제1 및 제2광원(131,141)의 일측에 설치되어 상기 제1 및 제2광원(131,141)에서 발산되는 광을 자유롭게 전달시킬 수 있는 제1 및 제2화이버번들(132,142)과, 상기 제1 및 제2화이버번들(132,142)의 일측에 설치되어 광에 의해 격자이미지가 생성되는 제1 및 제2회절격자(133,143)와, 상기 제1 및 제2회절격자(133,143)의 일측에 설치되어 상기 투과된 격자이미지를 투영하는 제1 및 제2투영광학계(134,143)와, 상기 제1 및 제2투영광학계(134,144)의 일측에 설치되는 제1 및 제2미세회전기구(135,145)와, 상기 제1 및 제2미세회전기구(135,145)에 설치되어 투영되는 격자이미지의 각도를 조절할 수 있는 제1 및 제2미러(136,146)와, 상기 제1 및 제2미러(136,146)의 일측에 설치되어 상기 반사된 격자이미지를 통과시키거나 차단시킬 수 있는 제1 및 제2셔터(137,147)로 구성된다.The first and second projection units 30 are installed on the work stage 20, and emit light of the first and second light sources 131 and 141 and the first and second light sources 131 and 141. First and second fiber bundles 132 and 142 installed on one side and capable of freely transmitting light emitted from the first and second light sources 131 and 141, and on one side of the first and second fiber bundles 132 and 142. First and second diffraction gratings 133 and 143 installed at one side of the first and second diffraction gratings 133 and 143 and provided to one side of the first and second diffraction gratings 133 and 143 to project the transmitted grating image. On the second projection optical system (134,143), the first and second micro-rotation mechanism (135,145) installed on one side of the first and second projection optical system (134,144), and the first and second micro-rotation mechanism (135,145) First and second mirrors 136 and 146 which can adjust the angle of the grid image to be installed and projected, and are installed on one side of the first and second mirrors 136 and 146 It consists of the first and second shutters (137 147) that pass for the reflected image of the grid or can be blocked.

상기 제1 및 제2회절격자(133,143)는 투과되는 광에 의해 격자이미지가 생성되고, 상기 생성된 격자이미지가 제1 및 제2투영광학계(134,144) 제1 및 제2미세회전기구(135,145)의 제1 및 제2미러(136,146)에 전달된다.The first and second diffraction gratings 133 and 143 are grid images are generated by the transmitted light, and the generated grid images are first and second projection optical systems 134 and 144, and the first and second fine rotating mechanisms 135 and 145. Are transmitted to the first and second mirrors 136 and 146.

상기 제1 및 제2미세회전기구(135,145)는 그 일측에 설치된 제1 및 제2미러(136,146)의 각도를 미세하게 4번 변환시켜 격자이미지가 측정대상물(22)에4번 주사된다.The first and second fine rotating mechanisms 135 and 145 convert the angles of the first and second mirrors 136 and 146 on one side four times to finely scan the grid image four times.

상기 결상부(50)는 상기 투영부(30)의 일측 워크스테이지(20)의 상부에 설치되며, 측정대상물(22)로부터 반사되는 격자이미지를 수광하는 조망광학계(51)와, 상기 조망광학계(51)에서 전달된 격자이미지에 의해 형성된 영상을 감지하는 디텍터어레이(52)와, 상기 감지된 영상을 프레임 단위로 저장하는 프레임 그래버(53)와, 상기 감지된 영상을 이용하여 위상계산을 하는 이미지 프로세서(54)와, 제어부(55)로 구성된다.The imaging unit 50 is installed on the upper side of the work stage 20 of the projection unit 30, the viewing optical system 51 for receiving a grid image reflected from the measurement object 22, and the viewing optical system ( A detector array 52 for detecting an image formed by the grid image transmitted from 51), a frame grabber 53 for storing the detected image in units of frames, and an image for phase calculation using the detected image. It consists of a processor 54 and a control part 55.

상기 제어부(55)는 제1 및 제2미세회전기구(135,145)를 구동시키고, 상기 제1 및 제2미세회전기구(135,145)에 의해 제1 및 제2미러(135,145)를 미세하게 4번 소정의 각도로 회전시킬 수 있다.The controller 55 drives the first and second fine rotating mechanisms 135 and 145, and the first and second mirrors 135 and 145 are predetermined four times by the first and second fine rotating mechanisms 135 and 145. Can be rotated at an angle of

상기 제1 및 제2미세회전기구(35)의 제1 및 제2미러(135,145)가 각기 미세하게 4번 움직이게 되어, 격자이미지는 4번 측정대상물(22)에 주사되고, 상기 측정대상물(22)에 반사되는 격자이미지를 디텍터어레이(52)는 4번의 영상을 감지한다.The first and second mirrors 135 and 145 of the first and second fine rotating mechanisms 35 are moved finely four times, respectively, and the grid image is scanned on the measurement object 22 four times, and the measurement object 22 The detector array 52 detects four images of the grid image reflected on the image.

상기 디텍터어레이(52)의 4번의 영상의 감지에 의해 프레임 그래버(53)는 4장의 영상을 저장하게 되고, 상기 프레임 그래버(53)의 일측에 설치된 이미지 프로세서(54)는 감지한 영상을 이용하여 위상을 계산하게 되므로써, 결과적으로 측정대상물(22)의 3차원 형상을 회득할 수 있게 된다.By detecting four images of the detector array 52, the frame grabber 53 stores four images, and the image processor 54 installed at one side of the frame grabber 53 uses the detected image. By calculating the phase, the three-dimensional shape of the measurement object 22 can be obtained as a result.

또한, 도 3b에 도시된 바와 같이, 상기 측정대상물(22)을 중심으로 소정의 각도로 대칭되게 설치되는 제1 및 제2투영부(130,140)는 그 내측에 설치된 제1 및 제2셔터(137,147)가 제어부(55)에 제어되어, 제1 및 제2투영부(130,140)는 광을 측정대상물(22)에 교대로 주사시킬 수 있다.In addition, as shown in FIG. 3B, the first and second projection parts 130 and 140, which are symmetrically installed at a predetermined angle with respect to the measurement object 22, are installed in the first and second shutters 137 and 147. ) Is controlled by the control unit 55, the first and second projection unit 130, 140 may alternately scan the light to the measurement object (22).

상기와 같은 방법으로, 광에 의해 생성된 격자이미지를 주사하면 측정대상물(22)에 그림자영역(23)이 발생되지 않게 되어 결과적으로 측정대상물(22)에 대해 정밀한 3차원형상을 측정할 수 있게 되는 것이다.In the same manner as described above, scanning the grid image generated by the light prevents the shadow area 23 from being generated in the measurement object 22, so that a precise three-dimensional shape can be measured with respect to the measurement object 22. Will be.

그리고, 도 4는 본 발명에 적용되는 미러를 보인 도면이다. 도 4에 도시된 바와 같이, 미세회전기구(35)의 일측에 미러(36)가 가 회전 가능하게 설치된 상태를 보이고 있으며, 상기 미세회전기구(35)와, 미러(36)는 제1 및 제2투영부(130,140)에 적용되어 제1 및 제2미세회전기구(135,145)와, 제1 및 제2미러(136,146)로 사용될 수 있다.4 is a view showing a mirror applied to the present invention. As shown in FIG. 4, the mirror 36 is rotatably installed at one side of the microrotation mechanism 35, and the microrotation mechanism 35 and the mirror 36 are first and first. It may be applied to the two projection parts 130 and 140 to be used as the first and second fine rotating mechanisms 135 and 145 and the first and second mirrors 136 and 146.

상기와 같이 구성된 본 발명의 3차원형상 측정장치의 작동설명은 다음과 같다.Operation of the three-dimensional shape measuring apparatus of the present invention configured as described above is as follows.

먼저, 도 2a와 2b에 도시된 바와 같이, 투영부(30)에 설치된 광원(31)에서 광이 생성되고, 이 광은 상기 광원(31)의 일측에 설치된 상기 화이버번들(32)을 통해 상기 화이버번들(32)의 일측에 설치된 회절격자(33)를 통과하게 된다.First, as illustrated in FIGS. 2A and 2B, light is generated from a light source 31 installed in the projection unit 30, and the light is generated through the fiber bundles 32 installed on one side of the light source 31. Pass through the diffraction grating 33 is installed on one side of the fiber bundle (32).

이때, 상기 회절격자(33)는 투과되는 광에 의해 생성된 격자이미지가 투영광학계(34)를 통과한 후, 미세회전기구(35)의 미러(36)에 반사되고, 상기 미러(36)는 미세하게 4번 회전하고, 이에 의해 격자이미지는 측정대상물(22)에 4번 주사된다.At this time, the diffraction grating 33 is reflected by the mirror 36 of the fine rotating mechanism 35 after the grating image generated by the transmitted light passes through the projection optical system 34, the mirror 36 is It rotates finely four times, whereby the grid image is scanned four times on the measurement object 22.

상기 투영부(30)는 제어부(55)에 의해 구동되면서, 측정대상물(22)을 중심으로 그 주변을 소정의 각도로 회전하여 측정대상물(22)에 그림자영역(23)이 발생되지 않도록 광을 주사할 수 있다.The projection unit 30 is driven by the controller 55 to rotate the light around the measurement object 22 at a predetermined angle so that the shadow area 23 is not generated in the measurement object 22. Can be injected.

상기 측정대상물(22)에 반사된 격자이미지는 결상부(50)의 조망광학계(51)에 수광되고, 상기 조망광학계(51)에 수광된 격자이미지는 상기 조망광학계(51)의 일측에 설치된 디텍터어레이(52)에 전달되어 디텍터어레이(52)에서 격자이미지에 의해 형성된 영상이 감지된다.The grating image reflected by the measurement object 22 is received by the viewing optical system 51 of the imaging unit 50, and the grating image received by the viewing optical system 51 is a detector installed at one side of the viewing optical system 51. The image formed by the grid image in the detector array 52 that is delivered to the array 52 is sensed.

이때, 회절격자(33) 또는 미러(36)의 4번의 이동에 의해 상기 디텍터어레이(52)에서 감지된 4번의 영상이 프레임 그래버(53)에서 4장의 프레임 단위로 저장하고, 상기 저장된 4장의 프레임을 이미지 프로세서(54)에서 위상계산하여 3차원형상을 얻게 된다.In this case, four images detected by the detector array 52 by four movements of the diffraction grating 33 or the mirror 36 are stored in the frame grabber 53 in units of four frames, and the stored four frames. The phase is calculated by the image processor 54 to obtain a three-dimensional shape.

이와 같이, 구성된 본 발명은 1개 이상으로 구성될 수 있는 투영부에의해 측정대상물에 발생될 수 있는 그림자 영역을 없앨 수 있다.As such, the present invention configured can eliminate the shadow area that can be generated on the measurement object by the projection part which can be constituted by one or more.

본 발명의 다른 실시예의 3차원형상 측정장치의 동작 설명은 다음과 같다.Operation of the three-dimensional shape measuring apparatus of another embodiment of the present invention is as follows.

먼저, 제1 및 제2투영부(130,140)에 설치된 제1 및 제2광원(131,141)에서 광이 생성되고, 이 광은 상기 제1 및 제2광원(131,141)의 일측에 설치된 상기 제1 및 제2화이버번들(132,142)을 통해 상기 제1 및 제2화이버번들(132,142)의 일측에 설치된 제1 및 제2회절격자(133,143)를 통과하면서 격자이미지를 생성하고, 상기 생성된 격자이미지는 투영광학계(134,144)를 통과한 후, 제1 및 제2미세회전기구(135,145)의 제1 및 제2미러(136,146)에 반사되어 제1 및 제2셔터(137,147)를 통과하게 된다.First, light is generated from the first and second light sources 131 and 141 installed in the first and second projection parts 130 and 140, and the light is provided on one side of the first and second light sources 131 and 141. A grid image is generated while passing through first and second diffraction gratings 133 and 143 installed on one side of the first and second fiber bundles 132 and 142 through second fiber bundles 132 and 142, and the generated grid image is projected. After passing through the optical systems 134 and 144, the first and second mirrors 136 and 146 of the first and second fine rotating mechanisms 135 and 145 are reflected to pass through the first and second shutters 137 and 147.

상기 제1 및 제2회절격자(133,143)에서 생성된 격자이미지는 제1 및 제2투영광학계(134,144)를 통과되면서 선명하게 측정대상물(22)에 주사되게 된다.The grid images generated by the first and second diffraction gratings 133 and 143 are clearly scanned on the measurement object 22 while passing through the first and second projection optical systems 134 and 144.

이때, 상기 제1 및 제2투영부(130,140)에 설치된 제1 및 제2셔터(137,147)는 제어부(55)에 의해 제어되어 격자이미지을 교대로 차단하여 측정대상물(22)에 격자이미지가 교대로 주사되도록 한다.In this case, the first and second shutters 137 and 147 installed in the first and second projection units 130 and 140 are controlled by the controller 55 to alternately block the grid images so that the grid images are alternately placed on the measurement object 22. To be injected.

상기 측정대상물(22)에 반사된 격자이미지는 결상부(50)의 조망광학계(51)에 수광되고, 상기 조망광학계(51)에 수광된 격자이미지는 상기 조망광학계(51)의 일측에 설치된 디텍터어레이(52)에 전달되어 디텍터어레이(52)에서 격자이미지에 의해 형성된 영상이 감지된다.The grating image reflected by the measurement object 22 is received by the viewing optical system 51 of the imaging unit 50, and the grating image received by the viewing optical system 51 is a detector installed at one side of the viewing optical system 51. The image formed by the grid image in the detector array 52 that is delivered to the array 52 is sensed.

이때, 제1 및 제2회절격자(133,143)의 4번의 이동에 의해 상기 디텍터어레이(52)에서 감지된 4번의 영상이 프레임 그래버(53)에서 4장의 프레임 단위로 저장하고, 상기 저장된 4장의 프레임을 이미지 프로세서(54)에서 위상계산하여 3차원형상을 얻게 된다.In this case, four images detected by the detector array 52 by four movements of the first and second diffraction gratings 133 and 143 are stored in the frame grabber 53 in units of four frames, and the stored four frames are stored. The phase is calculated by the image processor 54 to obtain a three-dimensional shape.

이와 같이, 구성된 본 발명에 따른 다른 실시예의 3차원형상 측정장치는 제1 및 제2투영부가 대칭되도록 구성될 수 있어, 이에 의해 측정대상물에 그림자영역이 발생되지 않도록 광을 주사할 수 있다.As described above, the three-dimensional shape measuring apparatus of another embodiment according to the present invention may be configured such that the first and second projection parts are symmetrical, thereby scanning light so that no shadow area is generated on the measurement object.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 3차원형상 측정장치는 미러를 갖는 1개 이상으로 구성될 수 있는 투영부의 이용하여 측정대상물에 그림자 영역이 발생되지 않게 함으로써, 정밀한 3차원형상을 측정할 수 있는 이점이 있다.As described above, the three-dimensional shape measuring apparatus according to the present invention can measure the precise three-dimensional shape by preventing the shadow area from occurring on the measurement object by using the projection unit, which may be composed of one or more mirrors. There is an advantage to that.

Claims (7)

측정대상물이 설치될 수 있는 워크스테이지와;A work stage on which the measurement object can be installed; 상기 워크스테이지의 상부에 설치되며, 광을 발산하는 광원과, 상기 광이 전달되는 화이버번들과, 상기 전달된 광을 이용하여 격자이미지를 생성시키는 회절격자와, 상기 통과된 격자이미지가 투과되는 투영광학계와, 상기 투과된 격자이미지가 반사되는 미러를 갖는 미세회전기구로 이루어진 투영부와;A light source installed on the work stage, a light source emitting light, a fiber bundle to which the light is transmitted, a diffraction grating to generate a grid image using the transmitted light, and a projection through which the passed grid image is transmitted A projection unit comprising an optical system and a fine rotating mechanism having a mirror on which the transmitted grating image is reflected; 상기 투영부의 일측에 설치되며, 측정대상물로부터 반사되는 격자이미지를 수광하는 조망광학계와, 상기 수광된 격자이미지를 감지하는 디텍터어레이와, 상기 감지된 격자이미지를 영상처리하여 저장하는 프레임 그래버와, 상기 처리된 영상의 위상을 계산하는 이미지 프로세서와, 제어부로 이루어진 결상부로 구성되며,A perspective optical system installed at one side of the projection unit to receive a grid image reflected from a measurement object, a detector array for sensing the received grid image, a frame grabber for image processing the stored grid image, and the It is composed of an image processor for calculating the phase of the processed image, and an image forming unit consisting of a control unit, 상기 투영부는 1개 이상으로 구성될 수 있으며, 상기 투영부는 제어부에 의해 제어되어 측정대상물의 주변을 소정의 각도로 회전하여 광을 주사할 수 있는 것을 특징으로 하는 3차원형상 측정장치.The projection unit may be composed of one or more, wherein the projection unit is controlled by a control unit is a three-dimensional shape measuring apparatus, characterized in that for rotating the light around the measurement object at a predetermined angle to scan the light. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 미세회전기구는 제어부에 의해 제어되며, 그 일측에 회동 가능한 미러가 설치된 것을 특징으로 하는 3차원형상 측정장치.The micro-rotation mechanism is controlled by a control unit, characterized in that the rotatable mirror is installed on one side thereof. 제 1 항 및 제 2 항에 있어서,The method according to claim 1 and 2, 상기 미세회전기구는 그 일측에 설치된 미러를 미세하게 4번 회전시켜 격자이미지를 측정대상물에 4번 주사할 수 있는 것을 특징으로 하는 3차원형상 측정장치.The micro-rotation mechanism is a three-dimensional shape measuring apparatus, characterized in that to rotate the mirror installed on one side finely four times to scan the grid image to the measurement object four times. 측정대상물이 설치될 수 있는 워크스테이지와;A work stage on which the measurement object can be installed; 상기 워크스테이지의 상부에 설치되며, 광을 발산하는 제1 및 제2광원과, 상기 광이 전달되는 제1 및 제2화이버번들과, 상기 전달된 광이 통과되는 제1 및 제2회절격자와, 상기 통과된 광이 투과되는 제1 및 제2투영광학계와, 상기 투과된 광이 반사되는 제1 및 제2미러를 갖는 제1 및 제2미세회전기구로 이루어진 제1 및 제2투영부와;A first and second light sources disposed above the work stage and emitting light, first and second fiber bundles through which the light is transmitted, and first and second diffraction gratings through which the transmitted light passes; First and second projection parts including first and second projection optical systems through which the transmitted light is transmitted, and first and second fine rotating mechanisms having first and second mirrors through which the transmitted light is reflected; ; 상기 제1 및 제2투영부의 일측에 설치되며, 측정대상물로부터 반사되는 광을 수광하는 조망광학계와, 상기 수광된 광을 감지하는 디텍터어레이와, 상기 감지된 광을 영상처리하여 저장하는 프레임 그래버와, 상기 처리된 영상의 위상을 계산하는 이미지 프로세서와, 제어부로 이루어진 결상부로 구성되며,Installed on one side of the first and second projection units, a viewing optical system for receiving light reflected from a measurement object, a detector array for sensing the received light, a frame grabber for image processing the stored light, and And an image processor for calculating a phase of the processed image and an image forming unit including a control unit. 상기 제1 및 제2투영부는 측정대상물의 상부의 수직 선상에 소정의 각도로 대칭되게 설치되며, 상기 제1 및 제2투영부는 제어부에 의해 제어되어 측정대상물에 광을 교대로 주사할 수 있는 것을 특징으로 하는 3차원형상 측정장치.The first and second projection parts are installed symmetrically at a predetermined angle on a vertical line of the upper portion of the measurement object, and the first and second projection parts are controlled by a controller to alternately scan light to the measurement object. Three-dimensional shape measuring device characterized in that. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 제1 및 제2미세회전기구는 제어부에 의해 제어되며, 그 일측에 회동 가능한 제1 및 제2미러가 설치된 것을 특징으로 하는 3차원형상 측정장치.The first and second fine rotating mechanism is controlled by a control unit, the three-dimensional shape measuring apparatus, characterized in that the first and second mirrors are installed on one side thereof. 제 4 항 및 제 5 항에 있어서,The method according to claim 4 and 5, 상기 제1 및 제2미세회전기구는 각각의 일측에 설치된 제1 및 제2미러를 미세하게 4번 회전시켜 격자이미지를 측정대상물에 4번 주사할 수 있는 것을 특징으로 하는 3차원형상 측정장치.The first and second micro-rotation mechanism is a three-dimensional shape measuring device, characterized in that to rotate the first and second mirrors provided on each side of the fine four times to scan the grid image to the measurement object four times. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 제1 및 제2투영부는 제어부에 의해 제어되는 제 1 및 제2셔터에 의해 측정대상물에 광을 교대로 주사할 수 있는 것을 특징으로 하는 3차원형상 측정장치.The first and second projection unit is a three-dimensional shape measuring apparatus, characterized in that for scanning the light to the measurement object by the first and second shutter controlled by the control unit.
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