KR20040053180A - 광 기록매체 및 광학주사장치 - Google Patents

광 기록매체 및 광학주사장치 Download PDF

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KR20040053180A
KR20040053180A KR10-2004-7005649A KR20047005649A KR20040053180A KR 20040053180 A KR20040053180 A KR 20040053180A KR 20047005649 A KR20047005649 A KR 20047005649A KR 20040053180 A KR20040053180 A KR 20040053180A
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반케스터렌한스더블유.
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코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이.
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Abstract

광 기록매체는 거의 평행한 복수의 트랙(11-16)을 갖는 정보층을 구비한다. 정보는 광학적으로 검출가능한 마크들의 패턴으로 기록된다. 트랙들은 복수의 그룹으로 배치되고, 각각의 그룹은 폭이 넓은 마크들(17)을 갖는 적어도 한 개의 제 1 트랙(11, 13, 15)과 제 1 폭보다 작은 제 2 폭을 지닌 폭이 좁은 마크들(18)을 갖는 적어도 한 개의 제 2 트랙(10, 12, 14, 16)을 포함한다. 이 폭을 주사하도록 설계된 방사 스폿(19)은 트랙 주기보다 크다.

Description

광 기록매체 및 광학주사장치{OPTICAL RECORD CARRIER AND OPTICAL SCANNING DEVICE}
본 발명은, 광학적으로 검출가능한 복수의 마크들의 패턴으로 정보를 기록하기 위해 거의 평행한 트랙들을 갖는 정보층을 포함하는 광 기록매체에 관한 것이다. 또한, 본 발명은, 이와 같은 광 기록매체를 주사하는 광학 플레이어에 관한 것이다.
스칼라 회절효과에 기반을 둔 종래의 광 기록에서는, 마크들의 폭이 λ/3에 접근할 때, 광 기록매체의 정보밀도가 그것의 한계에 이르는데, 이때 λ는 주사에 사용된 방사빔의 파장이다. 그러나, 소위 벡터 회절효과를 사용하면, λ/3보다 작은 폭을 갖는 마크들을 판독할 수 있다.
미국특허 제 5,880,838호에는, 마크들에 의해 반사된 방사빔의 강도와, 반사빔의 편광 성분들 사이의 위상차를 측정함으로써, 이와 같은 작은 마크들의 길이 및 깊이 등의 구조적 파라미터들을 결정하는 다수의 방법이 개시되어 있다. 이들 방법의 문제점은, 인접한 트랙들로부터의 누화를 줄일 수 없다는 것이다. 누화가 감소되지 않으면, 비교적 큰 주사 스폿에 의해 트랙 피치의 저감이 불가능하며, 벡터 회절효과에 의해 발생된 밀도증가가 트랙 방향으로만 얻어진다.
결국, 본 발명의 목적은, 트랙 방향과 이 트랙 방향에 가로지르는 방향으로밀도 증가가 얻어지면서도, 주사시에 트랙간 누화 저감을 얻을 수 있는 광 기록매체를 제공함에 있다. 또 다른 목적은, 이와 같은 기록매체를 주사하는 주사장치를 제공함에 있다.
상기한 제 1 목적은, 본 발명에 따르면, 이 기록매체 상의 트랙들이 복수의 그룹으로 배치되고, 각각의 그룹이, 제 1 폭을 지닌 폭이 넓은 마크들을 갖는 적어도 한 개의 제 1 트랙과, 제 1 폭보다 작은 제 2 폭을 지닌 폭이 좁은 마크들을 갖는 적어도 한 개의 제 2 트랙을 포함하는 구성으로 달성된다. 본 발명은, 마크의 폭이 이 마크에서 반사될 때의 방사빔의 편광 상태에 영향을 미친다는 사실을 이용하여, 폭이 좁은 마크들로부터 반사된 방사빔과 폭이 넓은 마크들로부터 반사된 방사빔을 구별할 수 있다는 착상에 기반을 두고 있다. 따라서, 방사 스폿이 폭이 넓은 마크들을 포함하는 트랙과 폭이 좁은 마크들을 포함하는 인접한 트랙을 동시에 포함할 때, 반사된 방사빔을 방사빔의 편광 상태에 의해 구별할 수 있게 된다. 주사장치에서는, 기록매체에서 발생된 방사빔의 편광 상태에 대해 서로 다른 감도를 갖는 2개의 검출계에 의해, 누화 저감을 달성할 수 있다.
바람직하게는, 제 1 폭은 λ/(1.5n)보다 크고, 제 2 폭은 λ/(1.5n)보다 작다. 이와 같은 경우에, 폭이 넓은 마크들의 주사는 상당한 벡터 회절효과를 제공하기 않게 되며, 폭이 좁은 마크들의 주사가 상당한 벡터 회절효과를 제공하게 된다. 폭이 좁은 마크들을 판독하는데 유용한 벡터 회절효과는, 이와 같은 마크로부터의 반사시의 방사빔의 편광 상태의 변화이다. 폭이 넓은 마크들은, 통상적인 방법으로, 예를 들면 폭이 넓은 마크들에서 반사된 방사빔의 강도변화를 측정함으로써 판독될 수 있다. 폭이 넓은 마크들의 판독시에 폭이 좁은 마크들로부터의 누화를 줄이기 위해, 폭이 넓은 마크들에서 반사된 방사빔의 검출을 방사빔의 편광 상태의 변화에 대해 감도를 갖지 않게 만들 수 있다. 폭이 좁은 마크들을 판독할 때 폭이 넓은 마크들로부터의 누화를 줄이기 위해, 폭이 좁은 마크들에서 반사된 방사빔의 검출이 방사빔의 강도의 변화에 감도를 갖지 않아야 한다.
기록매체의 또 다른 실시예에 있어서는, 제 1 폭이 λ/(2n)보다 크고, 제 2 폭이 λ/(2n)보다 작다. 이에 따르면, 폭이 넓은 마크들은 작은 벡터 회절효과를 제공하며, 폭이 좁은 마크들은 상당한 벡터 회절효과를 제공하게 된다. 이들 2가지 효과 사이의 차이는, 폭이 넓은 마크들에서 발생된 방사빔과 폭이 좁은 마크들에서 발생된 방사빔을 구별하는데 사용될 수 있다.
제 2 폭이 λ/(3n)보다 작으면, 누화의 더욱 양호한 저감을 얻을 수 있다.
한 개의 방사 스폿을 사용하여 제 1 및 제 2 트랙을 동시에 주사하는데 적합한 기록매체의 특정한 실시예는, 1개의 제 1 트랙과 1개의 제 2 트랙을 포함하는 그룹들을 포함한다. 이에 따르면, 트랙들의 배치가 제 1, 제 2, 제 1, 제 2 등등이 된다. 또 다른 특정한 실시예는, 제 2 트랙, 제 1 트랙 및 또 다른 제 2 트랙을 포함하는 그룹들을 포함하여 다음과 같은 트랙들의 배치를 제공한다: 제 2, 제 1, 제 2, 제 2, 제 1, 제 2, 제 2, 제 1, 제 2 등등, 본 실시예는, 그룹의 각각의 트랙에 대해 1개씩의 3개의 스폿들에 의해 주사하는데 적합하다.
본 발명의 제 2 목적은, 상기 제 1 트랙들과 상기 제 2 트랙들을 갖는 정보층을 주사하며, 소정의 편광 상태를 갖는 방사빔을 발생하는 방사원과, 방사빔을정보층 상에 집광시키는 대물계를 구비한 광학주사장치로서, 본 발명에 따르면, 입사된 방사빔의 제 1 특성값을 감지하여, 정보층으로부터의 방사빔을 폭이 넓은 마크들에 저장된 정보를 표시하는 제 1 전기신호로 변환하는 제 1 검출계와, 입사된 방사빔의 제 1 특성값과 다른 제 2 특성값을 감지하여, 정보층으로부터의 방사빔을 폭이 좁은 마크들에 저장된 정보를 표시하는 제 2 전기신호로 변환하는 제 2 검출계를 구비한 구성으로 달성된다. 제 1 특성값의 예로는, 제 1 검출계가 통상적인 방법으로 폭이 넓은 마크들로부터 방사빔을 검출하는데 적합하도록 하는 방사빔의 강도를 들 수 있다. 제 2 특성값의 예로는, 제 2 검출계가 폭이 좁은 마크들로부터의 방사빔을 검출하는데 적합하도록 하는 방사빔의 편광 상태를 들 수 있다. 이와 같은 2가지 서로 다른 검출계는, 폭이 넓은 마크들에서 사용될 때 통상적인 방법으로 정보를 판독할 수 있도록 하며, 폭이 좁은 마크들에서 사용될 때 벡터 회절효과를 사용하여 판독할 수 있도록 한다.
이때, 상기한 미국특허 제 5,880,838호에 개시된 주사장치의 일 실시예는 2개의 검출계를 구비한다는 점에 주목하기 바란다. 이들 검출계의 2가지 출력신호는, 폭이 좁은 피드들에 의해 반사된 방사빔의 2가지 특성값을 표시하며, 이 특성값들은 길이 및 깊이 등과 같은 피트들의 구조적 파라미터들을 유도하는데 사용된다. 이 2가지 신호는, 서로 다른 폭을 갖는 마크들을 포함하는 기록매체의 2가지 서로 다른 트랙들에 저장된 정보를 표시하지 않으며, 그 대신에, 한 개의 트랙의 마크에 저장된 정보를 표시한다.
주사장치의 특정한 실시예에 있어서는, 방사빔이, 제 1 트랙들 중에서 한 개의 트랙과, 이에 인접하는 제 2 트랙들 중에서 한 개의 트랙 위로 연장되는 정보층 상의 한 개의 스폿을 형성한다. 2개의 인접한 트랙들에 있는 폭이 넓은 마크들과 폭이 좁은 마크들은 동시에 판독된다. 정보층으로부터 발생된 방사빔은 2개의 빔으로 광학적으로 분할되며, 이들 중에서 한 개는 제 1 검출계를 향하고, 나머지 한 개는 제 2 검출계를 향한다.
본 실시예에 있어서, 스폿의 방사빔은 바람직하게는 트랙 방향과 45도보다 작은 각도의 방향으로 선편광된다. 45도의 각도는, 폭이 좁은 마크들을 판독할 때 편광 상태의 변화를 결정하는데 적합하다. 동일한 편광 상태가 폭이 넒은 마크들을 판독하는데 사용될 수 있다. 누화를 줄이기 위해, 제 1 검출계는 바람직하게는, 정보층으로부터 발생된 방사빔으로부터, 트랙 방향과 0도 또는 90도보다 작은 각도의 선편광을 광학적으로 필터링하여 제거한다.
또 다른 실시예에서, 방사빔은 정보층 상에 제 1 스폿과 제 2 스폿을 형성하며, 제 1 스폿은 제 1 트랙들 중에서 한 개의 트랙 위로 연장되고, 제 2 스폿은 제 2 트랙들 중에서 한 개의 트랙 위로 연장된다. 이와 같은 구성은, 각각의 스폿들에 있는 방사빔에게 마크들의 폭에 맞추어진 편광 상태가 주어질 수 있도록 한다. 치적의 검출을 위해, 제 1 스폿의 방사빔은 트랙 방향에 수직하게 선편광되는 것이 바람직하고, 제 2 스폿의 방사빔은 트랙 방향과 45도보다 작은 각도로 선편광되는 것이 바람직하다.
이하, 다음의 첨부도면을 참조하여 본 발명을 더욱 더 상세히 설명한다:
도 1은 본 발명에 따른 기록매체를 나타낸 것이고,
도 2는 1/4 파장의 깊이를 갖는 피트의 폭의 함수로써의 피트의 위상 깊이를 나타낸 것이며,
도 3은 본 발명에 따른 주사장치를 나타낸 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 광 기록매체의 정보층의 일부를 나타낸 것이다. 이 도면에는, 각각의 트랙의 점선의 중심선으로 표시된 7개의 트랙(10-16)이 도시되어 있다. 이들 트랙은, 제 1 폭과 이 제 1 폭보다 큰 제 2 폭을 각각 갖는 피트들의 형태를 지닌 폭이 넓은 마크들(17)과 폭이 좁은 마크들(18)을 포함한다. 한 개의 트랙에서는, 폭이 일정하고, 인접한 트랙에 있는 폭들은 다르다. 정보가 종래의 CD-ROM 디스크들에 기록되는 방법과 마찬가지로, 마크들과 이들 마크들 사이의 스페이스들의 변화하는 길이는 기록된 정보를 표시한다. 주사 스폿(19)은 트랙(13)을 따라간다. 그것의 폭이 트랙 피치보다 크므로, 스폿이 제 1 및 제 2 트랙들을 덮게 한다.
이들 트랙들은, 2개의 인접한 트랙들, 즉 제 1 트랙(11, 13, 15)과 제 2 트랙(10, 12, 14, 16)의 그룹으로 배치된다. 제 1 트랙들 위의 폭이 넓은 마크들의 폭은 250nm이고, 제 2 트랙들 위의 폭이 좁은 마크들의 폭은 120nm이다. 피트들의 깊이는 1/4 파장이다. 이 기록매체는, 650nm의 파장과 0.60의 개구수를 갖는 방사빔에 의해 판독되도록 설계된 것이다. 방사빔 입사측에서, 정보층은, 1.58의 굴절률과 0.6mm의 두께를 갖는 폴리카보네이트의 투명층으로 덮여 있다.
마크 폭이 파장의 분율일 때, 마크의 위상 깊이는, 트랙 방향에 수직한 방사빔의 편광 방향(TE로 표시)과, 트랙 방향을 따르는 편광 방향(TM으로 표시)에 대해 서로 다르게 된다. 계산된 위상 깊이들은 상기한 미국특허 제 5,880,838호에 공지되어 있으며, 도 2에 도시되어 있다. 인접한 트랙들의 마크 폭의 차이와 주사빔의 편광 상태의 적절한 선택을 위해, 반사빔에는 별개의 편광 특성값, 예를 들면 한 개의 트랙에 대해서는 회전 선편광 상태가, 인접한 트랙에 대해서는 원편광 상태가 주어질 수 있다. 이들 2가지 편광 상태는 독립적인 판독 채널로 생각할 수 있다.
주사장치에 있어서 방사빔의 2개의 채널로의 분할은 래디얼 트랙킹 에러신호의 발생을 용이하게 한다. 각각의 채널은 트랙들의 절반만을 보게 되므로, 즉 각각의 채널이 740nm의 외관상 주기를 갖는 트랙들을 관찰하므로, 정보층에 의해 반사된 빔의 제 1 회절 차수는 적어도 일부가 대물계를 통과하게 된다. 광학계에서의 반사빔의 제로의 회절 차수와 제 1 회절 차수의 상호작용이, 예를 들면, 공지된 푸시풀법을 이용하여, 래디얼 트랙킹 에러신호를 발생하는데 사용될 수 있다.
도 3에는 광 기록매체(30)가 도시되어 있다. 이 기록매체는, 주사 방사빔이 정보층(32)에 접근할 때 통과하는 투명층(31)을 포함한다. 정보층은 층 33에 의해 이부의 영향으로부터 보호된다. 이 기록매체는 광학주사장치(34)에 의해 주사된다. 이 장치는, 발산하는 방사빔(36)을 형성하는 방사원(35), 예를 들면 반도체 레이저를 구비한다. 시준렌즈(37)는 방사빔(36)을 평행광으로 변환된 빔(39)으로 변환한다. 빔 스플리터(40)를 통과한 후에, 빔이 광 변환기(41)에 입사한다. 변환기는 방사빔(39)을 정보층(32)을 주사하는데 적합한 방사빔(42)으로 변형시킨다. 변환기는, 한 개의 빔(39)을 회절 격자를 사용하여 주 빔과 2개의 보조 빔으로 변화시킬 수도 있다. 이 변환기는, 예를 들면 1/4λ 파장판을 사용하여, 방사빔(39)의 편광 상태를 변경할 수도 있다. 이 변환기는 방사원(35)과 빔 스플리터(40) 사이에 배치될 수도 있다. 대물렌즈(43)는 평행광으로 변환된 빔(42)을 수렴빔(42)으로 초점을 맞추어, 정보층(32) 상에 스폿(45)을 형성한다. 대물렌즈가 한 개의 렌즈로 도시되어 있지만, 이 대물렌즈는 2개 이상의 렌즈 및/또는 회절소자를 구비할 수도 있다.
정보층(32)에서 반사된 방사빔은 전진하는 빔의 일부를 따라 되돌아온다. 대물계(43)를 통과한 후에, 방사빔은 평행광으로 변환된 빔 46을 형성하고, 변환기(41)를 통과하고 빔 스플리터(40)에 의해 반사된 후에, 평행광으로 변환된 빔 47을 형성한다. 편광 감도를 가질 수 있는 빔 스플리터(48)는, 방사빔(47)의 일부를 제 1 검출계(49)로 향하게 한다. 검출계는, 이 검출계에 입사된 방사빔의 제 1 특성값에 감도를 가지며, 광학계가 기록매체 상의 폭이 넓은 마크들로부터의 방사빔에 감도를 갖도록 하는 제 1 광학 필터(50)를 구비한다. 광학필터는, 편광기, 1/4λ 파장판 또는 편광감지 빔 스플리터를 구비할 수도 있다. 광학필터에서 발생된 빔은 2개 이상의 서브빔을 포함할 수 있으며, 검출기(52)에 입사된다. 검출기는, 필요한 경우에 방사빔(51)의 서브빔들을 가로채도록 구성될 수도 있는 다수의 검출기 소자들을 구비할 수도 있다. 제 1 검출계(49)의 전기 출력신호(들) S1은, 제 1 트랙들에 있는 폭이 넓은 마크들로부터 판독된 정보를 표시하며, 제 1 트랙들로부터의 초점 및 래디얼 트랙킹 에러신호들을 표시할 수도 있다.
평행광으로 변환된 방사빔(47)의 일부는, 빔 스플리터(48)에 의해 투과되어,제 2 검출계(53)에 입사한다. 이 검출계는, 검출계에 입사된 방사빔의 제 2 특성값을 감지하며, 검출계가 기록매체 상의 폭이 좁은 마크들로부터의 방사선을 감지하도록 하는 제 2 광학 필터(54)를 구비한다. 제 2 광학 필터(54)는 검출기(56)에 입사되는 방사빔(55)을 형성한다. 제 2 검출계(53)의 출력신호(들) S2는, 제 2 트랙들에 있는 폭이 좁은 마크들로부터 판독된 정보를 표시하며, 제 2 트랙들로부터의 초점 및 래디얼 트랙킹 에러신호들을 표시할 수 있다.
폭이 넓은 마크들로부터 반사된 방사빔이 도면의 평면과 45도보다 작은 각도로 선편광되고, 폭이 좁은 마크들로부터 반사된 방사빔이 원편광되는 주사장치의 일 실시예에 있어서는, 빔 스플리터들 40 및 48이 비편광 형태를 갖는다. 판독중에, 예를 들어, 트랙 방향에 대해 45도의 각도에서 입사 방사빔의 선편광 방향을 선택함으로써, TE- 및 TM-편광된 방사빔 필드들이 존재해야만 한다. 이와 같은 경우에, TE 및 TM 필드들은 동일한 크기와 위상을 갖는다.
제 1 광학 필터(50)는, 도면의 평면과 45도의 각도를 형성하는 빔 분할면 상의 법선을 갖는 편광 빔 스플리터를 구비한다. 편광 빔 스플리터에 의해 형성된 2개의 서브빔들이 2개의 검출기 소자에 입사되며, 이들 검출기 소자들의 전기 출력신호들이 감사된다. 출력신호 S1은 선편광된 방사빔의 강도와 관련된다. 제 1 검출계(49)에 입사된 원편광된 빛은 2개의 검출기 소자들의 동일한 신호를 생성하므로, 출력신호 S1에 영향을 미치지 않는다.
상기한 실시예에 있어서 제 2 광학 필터(54)는, 1/4λ 파장판과, 그 뒤에 위치하며, 도면의 평면과 45도의 각도를 이루는 빔 분할면 상의 법선을 갖는 편광 빔 스플리터를 구비한다. 편광 빔 스플리터에 의해 형성된 2개의 서브빔들은, 2개의 검출기 소자에 입사하며, 이들 검출기 소자들의 전기 출력신호들이 감산된다. 출력신호 S2는 원편광된 방사빔의 강도와 관련된다. 제 2 검출계(53)에 입사된 선편광된 방사빔은, 2개의 검출기 소자들의 동일한 신호를 발생하므로, 출력신호 S2에 영향을 미치지 않는다.
도 2에 도시된 것과 같이, 예를 들어 0.4㎛ 및 0.15㎛의 마크에 대한 위상 깊이의 차이는 이미 위에서 주어진 요구조건에 상당히 근접하다. 이 폭의 최적의 선택은, 피들의 깊이와 이들 피트들을 덮는 반사층, 예를 들면 박막 금속층에 의존한다. TE 및 TM 모드의 위상 및 진폭은, 반사층의 방사빔 입사층에 유전층을 배치함으로써 최적화될 수 있다. 입사 방사빔의 편광 상태와 2개의 검출계에서 검출된 특정한 편광 상태에 대해 또 다른 선택이 이루어질 수 있다.
통상적인 ROM 디스크에서는, 트랙 폭이 일반적으로 스폿 크기와 비슷하다. 이와 같은 디스크에 대해서는, 반사빔의 제 1 회절 차수가 검출 유효구경을 벗어나므로, 스폿 크기의 절반으로의 트랙 폭의 감소가 가능하지 않다. 본 발명에 따르면, 인접한 트랙들로부터의 반사된 방사빔의 편광 상태를 이전에 알고 있기 때문에, 트랙 밀도가 원리상 2개로 높아진다.
래디얼 트랙킹 에러는, 분할 검출기들을 사용하여 제 1차 회절된 방사빔의 대칭성을 검출함으로써, 대체로 종래의 방법으로 발생될 수 있다. 주된 차이점은,이들 패턴이 1개의 마크 폭에 대해서는 제 1 검출계에서 검출되고 나머지 마크 폭에 대해서는 제 2 검출계에서 검출된다는 것이다. 주사장치는 4개의 (분할) 검출기들을 구비할 필요는 없다. 주사장치의 1/4 파장판을 기계적으로 도입하거나 제거하는 기구가 포함될 때에는, 2개의 (분할) 검출기들을 갖는 종래의 MO 검출기 구조가 사용될 수 있다.
종래의 ROM 시스템에서와 같이 직접적인 강도 관리 대신에, 차동 검출법이 적용된다는 사실로 인해, 스폿 크기보다 훨씬 작은 좁은 폭들을 갖는 마크들에서 발생된 신호는 충분한 SNR을 갖게 된다. 예를 들면, 레이저 강도 노이즈가 차동 검출기에서는 상쇄되므로, 이 노이즈가 더 이상 SNR을 제한하지 않게 된다. 더구나, 제안된 ROM 기록매체에서의 편광에 미치는 효과는 MO 매체의 작은 커(Kerr) 회전보다 더 크다.

Claims (9)

  1. 광학적으로 검출가능한 복수의 마크들의 패턴으로 정보를 기록하기 위해 거의 평행한 트랙들을 갖는 정보층을 포함하는 광 기록매체에 있어서,
    상기 트랙들이 복수의 그룹으로 배치되고, 각각의 그룹이, 제 1 폭을 지닌 폭이 넓은 마크들을 갖는 적어도 한 개의 제 1 트랙과, 제 1 폭보다 작은 제 2 폭을 지닌 폭이 좁은 마크들을 갖는 적어도 한 개의 제 2 트랙을 포함하는 것을 특징으로 하는 광 기록매체.
  2. 제 1항에 있어서,
    파장 λ를 갖는 방사빔에 의해 주사되도록 구성되고, 제 1 폭은 λ/(1.5n)보다 크고 제 2 폭은 λ/(1.5n)보다 작으며, 이때 n은 그것의 방사빔 입사측에서 정보층에 인접하는 재료의 굴절률인 것을 특징으로 하는 광 기록매체.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 제 2 폭은 λ/(3n)보다 작은 것을 특징으로 하는 광 기록매체.
  4. 제 1항에 있어서,
    각각의 그룹은, 각각의 옆에 제 2 트랙을 갖는 제 1 트랙을 포함하는 것을 특징으로 하는 광 기록매체.
  5. 청구항 1에 기재된 제 1 트랙들과 상기 제 2 트랙들을 갖는 정보층을 주사하며, 소정의 편광 상태를 갖는 방사빔을 발생하는 방사원과, 방사빔을 정보층 상에 집광시키는 대물계를 구비한 광학주사장치에 있어서,
    입사된 방사빔의 제 1 특성값을 감지하여, 정보층으로부터의 방사빔을 폭이 넓은 마크들에 저장된 정보를 표시하는 제 1 전기신호로 변환하는 제 1 검출계와, 입사된 방사빔의 제 1 특성값과 다른 제 2 특성값을 감지하여, 정보층으로부터의 방사빔을 폭이 좁은 마크들에 저장된 정보를 표시하는 제 2 전기신호로 변환하는 제 2 검출계를 구비한 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 방사빔은, 제 1 트랙들 중에서 한 개의 트랙과 이에 인접하는 제 2 트랙들 중에서 한 개의 트랙 위로 연장되는 정보층 상의 한 개의 스폿을 형성하는 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 스폿의 방사빔은 트랙 방향과 45도보다 작은 각도의 방향으로 선편광되는 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  8. 제 5항에 있어서,
    상기 방사빔은 정보층 상에 제 1 스폿과 제 2 스폿을 형성하며, 제 1 스폿은 제 1 트랙들 중에서 한 개의 트랙 위로 연장되고, 제 2 스폿은 제 2 트랙들 중에서 한 개의 트랙 위로 연장되는 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  9. 제 8항에 있어서,
    제 1 스폿의 방사빔은 트랙 방향에 수직하게 선편광되고, 제 2 스폿의 방사빔은 트랙 방향과 45도보다 작은 각도로 선편광되는 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
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