KR20030080566A - 테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램 - Google Patents

테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램 Download PDF

Info

Publication number
KR20030080566A
KR20030080566A KR1020020019260A KR20020019260A KR20030080566A KR 20030080566 A KR20030080566 A KR 20030080566A KR 1020020019260 A KR1020020019260 A KR 1020020019260A KR 20020019260 A KR20020019260 A KR 20020019260A KR 20030080566 A KR20030080566 A KR 20030080566A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
data
data management
management program
handler
Prior art date
Application number
KR1020020019260A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100445526B1 (ko
Inventor
이종성
이수호
Original Assignee
미래산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 미래산업 주식회사 filed Critical 미래산업 주식회사
Priority to KR10-2002-0019260A priority Critical patent/KR100445526B1/ko
Publication of KR20030080566A publication Critical patent/KR20030080566A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100445526B1 publication Critical patent/KR100445526B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/273Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2268Logging of test results
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30Monitoring
    • G06F11/32Monitoring with visual or acoustical indication of the functioning of the machine
    • G06F11/321Display for diagnostics, e.g. diagnostic result display, self-test user interface

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

모델에 상관없도록 표준화하고 일반 컴퓨터에서도 실행가능하도록 하여 활용범위를 넓힐 수 있도록 한 테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램에 관한 것으로, 테스트 작업중 통계에 관련된 이벤트별 데이터를 취득하여 저장하고 기준시간에 표준화된 형식의 파일(DLL)로 생성한 다음 설정정보에 따라 상기 파일(DLL)을 요약하고 D/B화하여 관리하고 사용자 요청에 따라 GUI(Graphic User Interface) 형태로 사용자에게 제공하므로 데이터 관리 효율을 증대시킬 수 있고, 일반 컴퓨터를 통해서도 실행 가능하므로 프로그램의 활용도를 증대시킬 수 있다.

Description

테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램{Data Management Program of Test Handler}
본 발명은 테스트 핸들러에 관한 것으로서, 특히 테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램에 관한 것이다.
일반적으로 테스트 핸들러는 반도체 소자를 이용한 각종 메모리 또는 비메모리 분야의 제품들을 대량으로 핸들링 및 테스트하기 위한 장비로서, 로직 IC 또는 여러가지의 반도체 소자가 하나의 칩에 실장된 모듈램 등 테스트 대상물에 따라 구성상의 차이를 나타낼 수 있다.
이와 같은 테스트 핸들러는 도 1에 도시된 바와 같이, 테스트 대상물 예를 들어, 모듈 IC를 테스트 과정에 따라 해당 위치로 이동시키고 테스트 결과에 따라 분류 및 적재하는 핸들러(10), 상기 모듈 IC가 삽입되어 일련의 테스트를 수행하기위한 다수의 테스트 PC(11), 상기 핸들러(10)의 동작과 상기 테스트 PC(11)의 파워 온/오프 동작을 제어하는 핸들러 PC(12), 상기 테스트 PC(11)에서 핸들러 PC(12)로 테스트 결과를 송신하기 위한 포토 커플러(13), 각 테스트 PC(11)별로 연결되어 상기 핸들러 PC(12)의 명령에 따라 해당 테스트 PC의 전원을 제어하고 테스트 PC의 테스트 결과에 맞도록 상기 포토 커플러(13)의 동작을 제어하는 제어보드(14)를 포함하여 구성된다.
이와 같이 구성된 테스트 핸들러의 테스트 동작을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 핸들러 PC(12)는 핸들러(10)를 제어하여 테스트 대상물 예를 들어, 모듈 IC를 해당 테스트 PC(11)에 삽입하고, 해당 테스트 PC(11)의 제어보드(14)로 테스트 PC 파워 '온'명령을 전송한다.
이어서 해당 제어보드(14)는 테스트 PC의 전원스위치를 제어하여 테스트 PC(11)가 부팅되도록 한다.
그리고 테스트 PC(11)는 부팅됨과 동시에 자동실행파일(Autoexec.bat)에 정해진 순서에 따라 기 삽입된 모듈 IC에 대해 일련의 테스트를 수행하고 그 결과신호를 제어보드(14)로 송신한다.
이어서 제어보드(14)는 포토 커플러(13)를 제어하여 핸들러 PC(12)로 리테스트(Retest)/굳(Good)/패일(Fail) 등의 테스트 결과를 알린다. 즉, 테스트 PC 측에 연결된 포토 커플러(13)의 발광 다이오드중 해당 결과를 정의하는 발광 다이오드를 '온' 또는 '오프'시키고 이를 핸들러 PC(12) 측에 연결된 포토 트랜지스터에서 검출하여 핸들러 PC(12)가 인식하도록 한다.
따라서 핸들러 PC(12)는 포토 커플러(13)를 통해 해당 테스트 결과를 인식하고 핸들러(10)를 제어하여 상기 모듈 IC를 테스트 PC(11)에서 분리시키고 테스트 결과에 맞도록 분류, 이송 및 적재한다. 그리고 테스트가 종료되면 제어보드(14)를 통해 테스트 PC(11)의 파워를 '오프'시킨다.
이와 같이 테스트 동작을 수행하는 테스트 핸들러는 상술한 테스트 과정동안 발생한 각종 데이터 즉, 테스트한 제품 정보, 에러 발생, 테스트 시간, 테스트 량 등의 데이터를 저장하고 GUI(Graphic User Interface) 형식을 이용한 그래픽 또는 텍스트로 모니터상에 보여주거나, 문서로 프린트하여 작업자가 전체 테스트 공정을 관리하는데 참조할 수 있도록 하는 데이터 관리 프로그램이 내장되어 있다.
종래의 기술에 따른 테스트 핸들러는 다음과 같은 문제점이 있다.
첫째, 데이터 관리 프로그램이 표준화되어 있지 않고 데이터 형식이 통일되지 않아 새로운 모델을 개발할 때마다 데이터 관리 프로그램을 새로 만들어야 하므로 시간적, 인력적으로 비효율적이다.
둘째, 데이터 관리 프로그램이 테스트 핸들러내에서만 구동되므로 각종 데이터가 필요할 경우 꼭 테스트 핸들러를 구동시켜야하는 등 작업자의 불편을 초래한다.
따라서 본 발명은 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로서, 모델에 상관없도록 표준화하고 일반 컴퓨터에서도 실행가능하도록 하여 활용범위를 넓힐 수 있도록 한 테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램을 제공함에 그 목적이 있다.
도 1은 일반적인 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 블록도
도 2는 본 발명에 따른 테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램의 데이터 관리파일 및 D/B 생성방법을 나타낸 플로우챠트
본 발명은 테스트 작업중 통계에 관련된 이벤트별 데이터를 취득하여 저장하고 기준시간에 표준화된 형식의 파일(DLL)로 생성한 다음 설정정보에 따라 상기 파일(DLL)을 요약하고 D/B화하여 관리하고 사용자 요청에 따라 GUI(Graphic User Interface) 형태로 사용자에게 제공함을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 의 바람직한 일실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명에 따른 테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램의 데이터 관리파일 및 D/B 생성방법을 나타낸 플로우챠트이다.
본 발명에 따른 테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램은 표준화된 각종 이벤트(event) 파일을 소정 시간별로 생성하고 그 파일들을 설정주기에 따라 요약하고 D/B(데이터 베이스)화하여 관리하고 사용자 요청에 따라 GUI(Graphic User Interface) 형태로 사용자에게 제공하는 프로그램이다.
이와 같은 데이터 관리 프로그램에서 상술한 파일 생성 및 D/B 생성방법을 살펴보면, 도 2와 같이, 먼저 테스트 작업을 진행하고 각 이벤트가 발생할 때마다 해당 이벤트별 데이터를 취득한다(S21).
이때 이벤트는 테스트결과에 따른 판정 등급별 수량을 정의하는 프라덕트(Procuct), 핸들러가 디바이스를 정확히 집지 못하는 등의 장비 문제 발생을 정의하는 잼(Jam), 장비의 동작시간과 잼(Jam) 시간과 장비 정지 시간 및 장비를 정비하는 데 소요되는 시간 등을 정의하는 타임(Time), 실제 테스트 수량을 정의하는 랏(Lot) 등이 있다.
그리고 각 이벤트별 데이터를 취합하여 매일 기설정된 기준시간에 표준화된 형식의 데이터 파일(DLL:Data Link Library)을 생성한다(S22). 또한 데이터 용량을 고려하여 삭제도 가능하다.
이어서 생성된 각 이벤트별 데이터 파일(DLL)을 설정 정보에 따라 요약하여 기간별 D/B를 생성한다(S23).
이때 데이터 파일(DLL)의 요약방법을 설명하면 다음과 같다. 예를 들어, 잼(Jam) 이벤트에 대한 데이터 파일(DLL)에 하루에 9시, 10시, 11시에 대한 잼(Jam) 발생 데이터들이 존재한다면, 다른 데이터는 무시하고 최종적으로 하루에 몇 번의 잼이 발생하였는지를 총합하고 그 합산 값만을 데이터화하는 것이다.
또한 설정 정보는 작업자에 의해 설정되며 생성 주기 그리고 삭제 주기를 포함하는데, 예를 들어, 생성주기는 일(Day)/교대 순번(Shift)/주(Weekly)/월(Monthly) 단위로 할 수 있으며, 삭제주기 또한 이와 비슷한 형식으로 설정할 수 있다. 이와 같이 주기가 설정되면 일(Day) 단위 즉, 하루마다 D/B를 생성하고 하루 교대 순번(예를 들어, 3교대일 경우 '1교대', '2교대', '3교대')으로 D/B를 생성하며, 일(Day) 단위를 일주일 동안 모아 주(Weekly) 단위로 D/B를 생성하고 주(Weekly) 단위를 한달동안 모아 월(Monthly) 단위로 D/B를 생성한다. 또한 상기 각 단위별 D/B는 예를 들어, 삭제주기가 6개월이면 6개월동안 저장되다가 삭제된다.
그리고 이와 같이 생성된 D/B를 이용하여 사용자 요청에 따라 GUI 화면을 통해 D/B 파일 복사/제거, 출력 및 보고서 작성 등의 정보를 제공한다.
따라서 작업자는 GUI 화면을 통해 핸들러의 작업을 모니터링하고 데이터 관리작업을 수행한다.
본 발명에 따른 테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램은 다음과 같은 효과가 있다.
첫째, 이벤트별로 파일 및 D/B가 표준화되었으므로 장비의 모델 및 개발에 상관없이 적용하여 사용할 수 있어 데이터 관리 효율을 증대시킬 수 있다.
둘째, 장비별로 독립되고 고정된 프로그램이 아니고 일반 컴퓨터를 통해서도 실행 가능하므로 프로그램의 활용도를 증대시킬 수 있다.

Claims (7)

  1. 테스트 작업중 통계에 관련된 이벤트별 데이터를 취득하여 저장하고 기준시간에 표준화된 형식의 파일(DLL)로 생성한 다음 설정정보에 따라 상기 파일(DLL)을 요약하고 D/B화하여 관리하고 사용자 요청에 따라 GUI(Graphic User Interface) 형태로 사용자에게 제공하는 테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 이벤트는 테스트결과에 따른 판정 등급별 수량을 정의하는 프라덕트(Procuct)와, 장비 문제 발생을 정의하는 잼(Jam)과, 장비의 동작시간과 잼(Jam) 시간과 장비 정지 시간 및 장비를 정비하는 데 소요되는 시간을 정의하는 타임(Time)과, 실제 테스트 수량을 정의하는 랏(Lot)을 포함함을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 기준시간은 작업자에 의해 설정됨을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 설정정보는 작업자에 의해 설정된 생성 주기 및 삭제 주기를 포함하는것을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 생성 주기는 생성주기는 일(Day)/교대 순번(Shift)/주(Weekly)/월(Monthly)을 포함함을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 파일(DLL)을 요약한 D/B는 해당 파일의 데이터들의 합산값을 포함함을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램.
  7. 제1 항에 있어서,
    상기 데이터 관리 프로그램은 일반 컴퓨터를 통해서도 설치 및 실행되도록 독립된 소프트 웨어 형태임을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 데이터 관리 프로그램.
KR10-2002-0019260A 2002-04-09 2002-04-09 테스트 핸들러의 데이터 관리방법 KR100445526B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2002-0019260A KR100445526B1 (ko) 2002-04-09 2002-04-09 테스트 핸들러의 데이터 관리방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2002-0019260A KR100445526B1 (ko) 2002-04-09 2002-04-09 테스트 핸들러의 데이터 관리방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20030080566A true KR20030080566A (ko) 2003-10-17
KR100445526B1 KR100445526B1 (ko) 2004-08-21

Family

ID=32378306

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2002-0019260A KR100445526B1 (ko) 2002-04-09 2002-04-09 테스트 핸들러의 데이터 관리방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100445526B1 (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040052016A (ko) * 2002-12-13 2004-06-19 한국전자통신연구원 이벤트 관리 분산처리 시스템에서의 gui기반 이벤트모니터링 방법 및 그 장치
WO2012047215A1 (en) * 2010-10-06 2012-04-12 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and system for processing events
KR101504603B1 (ko) * 2013-07-17 2015-03-23 (주)지컴 Gui를 이용한 반도체 테스트 핸들러의 이동위치 인식방법

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10170602A (ja) * 1996-12-10 1998-06-26 Oki Electric Ind Co Ltd 検査システム
JPH1138084A (ja) * 1997-07-14 1999-02-12 Advantest Corp Icテストハンドラ
US5828674A (en) * 1997-09-16 1998-10-27 Teradyne, Inc. Production interface for integrated circuit test system
JP2001155497A (ja) * 1999-11-29 2001-06-08 Hitachi Ltd Lsiテストパターンプログラム自動生成方法およびその装置並びにlsiテスト方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040052016A (ko) * 2002-12-13 2004-06-19 한국전자통신연구원 이벤트 관리 분산처리 시스템에서의 gui기반 이벤트모니터링 방법 및 그 장치
WO2012047215A1 (en) * 2010-10-06 2012-04-12 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and system for processing events
CN103080922A (zh) * 2010-10-06 2013-05-01 惠普发展公司,有限责任合伙企业 用于处理事件的方法和系统
US9116805B2 (en) 2010-10-06 2015-08-25 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and system for processing events
CN103080922B (zh) * 2010-10-06 2015-09-02 惠普发展公司,有限责任合伙企业 用于处理事件的方法和系统
KR101504603B1 (ko) * 2013-07-17 2015-03-23 (주)지컴 Gui를 이용한 반도체 테스트 핸들러의 이동위치 인식방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR100445526B1 (ko) 2004-08-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1155069C (zh) 控制半导体集成电路测试过程的系统和方法
KR100420418B1 (ko) 필드 프로그램 가능 로직 회로 내의 기능 로직의 하드웨어 상태 추적 방법 및 전자 장치 제어 시스템
US20120331449A1 (en) Device, method and computer program product for evaluating a debugger script
CN105760301A (zh) 一种基于Monkey命令的自动化测试方法及系统
EP0853278A2 (en) Fast traps for computer software instrumentation
IE60444B1 (en) A software verification apparatus
US20110167311A1 (en) System and Method for Analyzing an Electronics Device Including a Logic Analyzer
US20060150023A1 (en) Debugging apparatus
CN113778898B (zh) 用户界面自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质
US7992046B2 (en) Test system with simulation control device for testing functions of electronic devices
US10846212B2 (en) Evidence gathering system and method
CN101196901A (zh) 用于数据库查询的计算机系统和方法
KR100445526B1 (ko) 테스트 핸들러의 데이터 관리방법
CN100416512C (zh) 嵌入式设备调试方法及其调试工具
WO2023185266A1 (zh) 自动化检测方法、单板、电子设备及存储介质
US7873498B2 (en) Remote hardware inspection system and method
US20020099953A1 (en) Debugging of chipcards
US7194658B2 (en) Various methods and apparatuses for interfacing of a protocol monitor to protocol checkers and functional checkers
CN116560586A (zh) 属性值的确定方法及装置、存储介质及电子设备
CN115617612A (zh) 一种日志上报方法、装置、计算机设备和存储介质
CN115470106A (zh) 一种可重构芯片的验证方法和系统
CN1353835A (zh) 同类系统之间的协议确认
CN1735047A (zh) 一种故障自诊断方法和装置
US20040267512A1 (en) Simulation framework with support for multiple integrated circuits having potentially differing characteristics
CN114564413B (zh) 一种同步设备测试方法及装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20090803

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee