KR20030062277A - 테스트 스트립 보관 및 분배 장치 - Google Patents

Abstract

테스트 스트립을 분배하는 장치 및 이를 사용하는 방법이 제공된다. 본 발명의 장치는 덮개와, 복수의 테스트 스트립을 보관하도록 구성된 베이스를 구비하는 것을 특징으로 한다. 특정 실시예에서, 베이스의 높이는 테스트 스트립 각각의 높이 보다 작으며, 그래서, 각 테스트 스트립의 일부가 베이스의 말단 또는 상단 에지를 초과하여 연장한다. 본 발명의 장치는 실질적인 기밀 및 방습 밀봉부를 구비하는 것을 다른 특징으로 한다. 본 발명의 장치의 사용시, 본 발명의 장치내에 보관된 복수의 테스트 스트립이 제공된다. 잔여 테스트 스트립에 대하여 말단 방향으로 테스트 스트립을 이동시킴으로써, 단일 테스트 스트립이 제거된다. 또한, 본 발명의 방법의 실시시 사용하기 위한 키트도 본 발명에 의해 제공된다.

Description

테스트 스트립 보관 및 분배 장치{Test strip dispenser}

본 발명은 테스트 스트립 분배기에 관한 것이다.

생리학적 샘플의 분석시료 농도 판정은 현대 사회에 중요성이 증가되고 있다. 이런 분석평가는 임상 연구 시험, 가정용 시험 등을 포함하는 다양한 응용분야들에 사용되며, 여기서, 이 시험 결과는 다양한 질병 상태의 진단 및 관리에 주도적인 역할을 한다. 관심 분석시료는 당뇨병 관리를 위한 포도당, 심혈관 상태를 감시하기 위한 콜레스테롤 등을 포함한다. 분석시료 농도 판정의 이러한 중요성의 확대에 따라, 다양한 분석시료 농도 판정 프로토콜 및 장치가 임상 및 가정용 시험 양자 모두를 위해 개발되어왔다.

시험이 시작될 수 있기 이전에, 생리학적 샘플내의 분석시료의 존재 및/또는 농도를 판정하기를 원하는 개인은 가장 먼저 테스트 스트립을 획득하고, 샘플을 그에 적용하며, 측정계 등으로 수동으로 또는 자동으로 결과를 획득하여야 한다. 그러나, 절차를 시작하기 위해 테스트 스트립을 획득하는 것은 난점이 없지 않다. 예로서, 당뇨병자들은 일반적으로 시각적 및/또는 기민성에 문제를 가지고 있으며, 따라서, 통상적으로 약 50mm의 길이와, 약 7mm의 폭을 가지는 한 장의 테스트 스트립을 다수의 이런 테스트 스트립들로부터 선택하는 것을 어렵게 만든다.

통상적으로, 복수의 테스트 스트립들은 비교적 큰 용기, 즉, 테스트 스트립을 빛, 습기 및 사용자의 손으로부터의 기름 등 같은 다른 환경적 오염물들로부터 보호가도록 테스트 스트립을 완전히 내측에 수납하는 상태로 복수의 테스트 스트립을 유지하기에 충분히 큰 용기에 보관되며, 이런 보호는 시험 결과의 정밀도, 정확성 및 총괄적 완전성을 보증하기 위해 필수적이다. 도 1에 관련 테스트 스트립 보관 용기의 예시적 실시예가 도시되어 있다. 따라서, 시험을 시작하기 위해 용기로부터 단일 테스트 스트립을 획득하기 위해서, 개인은 테스트 스트립을 제거하기 위한 두가지 선택사항을 가진다. 한가지 선택 사항은 개인이 단순히 용기를 전복시켜 테스트 스트립을 쏟을 수 있다. 이는 명백히 용기내측에 보관된 테스트 스트립이 급속히 유출되어 오염되기 때문에 현저한 단점을 가진다. 두 번째 선택사항은 개인이 손가락을 용기내측에 집어넣어 어떠한 스트립도 손상시키지 않고 복수의 테스트 스트립 중 한 장의 테스트 스트립을 잡기를 시도하는 것이다. 그러나, 이런 방법은 시험 또는 반응 영역들(예로서, 시험 시약들 등을 가지는 스트립상의 영역) 등의 만지지 말아야하는 테스트 스트립의 부분을 비의도적으로 사용자가 만지게 되는 결과를 초래하는 경우가 많으며, 여기서, 이런 접촉은 오염을 초래하고, 시험 결과를 부정확하게 만들 수 있다. 유사하게, 비의도적으로 접촉될 수 있는 다른 테스트 스트립들도 마찬가지로 잘못된 시험 결과를 초래하게 될 수 있다.

또한, 용기는 테스트 스트립을 꺼내기 쉽도록 하나 이상의 손가락이 내부에 들어갈 수 있기에 충분한 적절한 형상 및 크기를 가져야만 한다. 달리 말해, 용기는 반드시 개인, 즉, 시각적으로 및 민첩성이 손상되어 있을 수 있는 개인이 어떠한 테스트 스트립도 손상 또는 오염시키지 않고 복수의 테스트 스트립들 중 하나의 테스트 스트립을 구할 수 있게 하여야만 한다.

그러나, 용기는 그 기능을 수행하기에 충분히 큰 크기를 유지하면서, 개인이 하루 생활중 언재나 적절한 시험을 수행할 수 있게 쉽게 용기를 가지고 다닐 수 있도록 용기의 휴대를 가능하게 할 만큼 충분히 작아야만 한다. 그러나, 상술한 형상 및 크기 조건으로 인해, 종래의 용기는 통상적으로 내부에 하나 이상의 손가락을 삽입할 수 있게 하는 원형 단면 형상을 가지며, 약 60mm의 높이와, 약 25mm의 직경을 가지고, 내부에 약 25 테스트 스트립이 보관된 상태로 상업적으로 판매된다. 명백하게, 이런 크기 및 형상은 용기 내측에 현저한 양의 미사용 공간을 형성하며, 용기의 휴대성을 최소화한다. 달리 말해서, 용기는 단순히 테스트 스트립을 유지하기 위해 필요한 것 보다 크며, 따라서, 비용을 증가시키고, 휴대성을 감소시킨다.

카를러(Kahler)에게 허여된 미국 특허 제 4,911,344호는 사용자가 테스트 스트립을 구하기 위해 용기 내측에 손가락을 집어넣을 필요가 없는 테스트 스트립 적층체로부터 단일 테스트 스트립을 분배할 수 있는 스트립 분배기 박스를 개시한다. 또한, '344 특허는 테스트 스트립의 적층체를 유지할 수 있는 수납통을 가지는 하우징에 장착된 스트립 공급 메카니즘을 구비한 캡 조립체를 개시한다. 이 캡은 내부의 슬롯과, 분배기 외측으로, 보다 명확하게, 캡 조립체상에 위치된 개스킷 밀봉식 개구 외측으로 테스트 스트립을 이동시키기 위해 슬롯내에 활주식으로 장착된 슬라이드 바아 조립체를 구비한다. 그러나, 이 '344 특허에 개시된 장치는 특정 단점을 가지고 있다. 첫 번째로, '344 특허의 스트립 분배기는 완전히 습기가 없는환경을 유지하지 못한다. 특히, 분배기의 둘 이상의 영역이 습기가 하우징에 도입될 수 있게 하며, 따라서, 내부의 테스트 스트립과 접촉한다.

방습(moisture free) 밀봉을 제공하지 못하는 제 1 영역은 슬롯/슬라이드 바아 조립체 영역이다. 이 슬라이드 바아는 캡 본체의 내면상에 활주식으로 위치된 십자형 베이스 부재와 캡 조립체의 슬롯을 통해 상향 연장하는 손가락 파지부로 구성된다. 동작시, 손가락 파지부가 사용자의 엄지손가락의 작용에 의해 전향 구동되고, 이는 테스트 스트립을 캡 조립체의 개구 외측으로 운반한다. 이 특허에 설명된 바와 같이, 분배기의 양호한 재료는 폴리에틸렌 플라스틱이다. 달리 말해서, 캡 조립체(슬롯 영역)와, 슬라이드 바아 양자 모두는 폴리에틸렌 플라스틱으로 이루어져 있다. 본 기술 분야의 숙련자들은 두 접촉 폴리에틸렌 플라스틱 표면의 조립체가 습기에 대한 적절한 장벽을 제공할 수 없다는 것을 명백히 알 것이다.

방습 밀봉을 제공하지 못하는 두 번째 영역은 비록, 밀봉 스트립 또는 개스킷이 약 1/32 인치만큼 분배기내로 연장하여 개구를 덮고 있지만, 그를 통해 테스트 스트립이 분배기로부터 인출되는 개구이다. 달리 말해서, 개스킷 등은 제 1 측면상에서 캡 조립체에 부착되어 있으며, 그 나머지 측면에서는 부착되어 있지 않아서, 테스트 스트립이 그를 통해 밀여질 수 있게 한다. 마찬가지로, 본 기술 분야의 숙련자들은 이런 밀봉이 습기에 대한 장벽을 제공할 수 없다는 것을 명백히 알 수 있을 것이다.

본 기술 분야의 숙련자들에게 명백한 바와 같이, 서로 접촉하는 두 표면 사이의 밀봉의 효율은 표면 재료와, 일 표면에 의해 다른 표면에 대해 작용되는 압력, 또는, 달리말해, 이 표면들을 함께 유지하는 법선 또는 수직력이다.

방습 밀봉을 제공하지 못하는 제 1 영역에 관련하여, 슬라이드 바아 표면과, 그를 통해 슬라이드 바아가 연장하는 개구의 정합면 사이의 밀봉은 효과적이지 못하며, 그 이유는 표면을 보다 평탄하게 하거나 보다 탄성적으로 만들어 완전한 밀봉을 형성하려는, 또는, 밀봉 기능을 증가시키려는 시도는 테스트 스트립을 분배하기 위해 필요한, 장치의 본체에 대한 바아의 활주 또는 이동을 보다 곤란하게 만들기 때문이다. 미롱 효율을 증가시키기 위해 두 표면을 함께 유지하도록 부하를 증가시키려는 소정의 시도는 스트립이 배출되는 경로 외측으로 개스킷을 추진하도록 분배되는 테스트 스트립의 단부상에 부하를 증가시키는 것을 필요로 한다. 이 부하는 테스트 스트립을 굴곡시키거나 손상시킬 수 있으며, 또한, 사용자에 의한 슬라이드 바아상의 부하를 증가시키게 된다.

이와 같이, 테스트 스트립 분배를 위한 새로운 장치 및 방법의 개발에 관심이 계속되고 있다. 제조가 쉽고 저가이며, 특히, 시각 및 기민성이 손상된 개인을 위해 사용이 용이하며, 휴대가능하면서 빛, 습기 및 사용자의 손으로부터의 기름 등을 포함하는 다른 환경적 오염물로부터 테스트 스트립의 손상을 방지하는 장치 및 방법의 개발에 특히 관심이 기울여지고 있다.

테스트 스트립을 분배하는 장치 및 이를 사용하는 방법이 제공된다. 본 발명의 장치는 복수의 테스트 스트립을 보유하도록 구성된 베이스 및 덮개로 이루어진 하우징을 가지는 것을 특징으로 한다. 특정 실시예에서, 베이스의 높이는 각 테스트 스트립의 높이 보다 작으며, 그래서, 각 테스트 스트립의 일부가 베이스의 말단 또는 상단 에지를 초과하여 연장한다. 본 발명의 장치는 실질적으로 공기 및 습기 밀봉식 밀봉부를 가지는 것을 특징으로 한다. 본 발명의 장치의 사용시, 본 발명의 장치내에 수납된 복수의 테스트 스트립이 제공된다. 단일 테스트 스트립은 잔여 테스트 스트립에 대하여 멀어지는 방향으로 테스트 스트립을 이동시킴으로써 본 발명의 장치로부터 꺼내진다. 또한, 본 발명에 의해, 본 발명의 방법을 실시하기 위해 사용되는 키트도 제공된다.

도 1은 종래의 테스트 스트립 용기의 예시적 실시예를 도시하는 도면.

도 2a는 본 발명과 함께 사용하기에 적합한 비색 테스트 스트립의 예시적 실시예를 도시하는 도면.

도 2b는 본 발명과 함께 사용하기에 적합한 전자 화학 테스트 스트립의 예시적 실시예를 도시하는 도면.

도 3은 관련 테스트 스트립 분배 하우징의 예시적 실시예를 도시하는 도면.

도 4는 내부 구조를 가상선으로 도시하는, 관련 하우징의 관련 덮개 조립체의 예시적 실시예를 도시하는 도면.

도 4a는 밀봉면상에 위치된 밀봉 홈을 도시하는 도 4의 덮개의 사시도.

도 4b는 덮개의 내부의 밀봉면상에 위치된 밀봉 홈을 가지는 본 발명에 따른 덮개 조립체의 예시적 실시예를 도시하는 도면.

도 4c는 베이스와 덮개가 정합되어, 적어도 대응 나사부와, 도 5a의 밀봉 리지(15')와 도 4b의 밀봉 홈(8') 같은 밀봉 리지 및 정합 밀봉 홈에 의해 긴밀한 밀봉부를 형성하는 본 발명에 따른 예시적 장치를 도시하는 도면.

도 5는 본 발명의 하우징의 관련 베이스 조립체의 예시적 실시예를 도시하는 도면.

도 5a는 밀봉면상에 위치된 밀봉 리지를 가지는 관련 베이스의 예시적 실시예를 도시하는 도면.

도 5b 내지 도 5d는 베이스와 덮개가 함께 정합하여, 적어도 대응 나사부와, 도 4의 밀봉홈(17')과 도 5의 밀봉 홈(16) 같은 정합 밀봉 홈 및 밀봉 리지에 의해 긴밀한 밀봉부를 형성하는 본 발명에 따른 예시적 장치를 도시하는 도면.

도 6은 립(lip) 연장부를 가지는 테스트 스트립 결합 소자를 포함하는 관련 베이스 조립체의 다른 예시적 실시예를 도시하는 도면.

도 6a는 립 연장부를 가지는 테스트 스트립 결합 소자를 사용하는 테스트 스트립의 제거를 보여주는 예시적 실시예를 도시하는 도면.

도 6b는 데이터 보관 소자를 가지는 관련 테스트 스트립 결합 소자의 예시적 실시예를 도시하는 도면.

도 7 및 도 7a는 활주식으로 연계된 테스트 스트립 결합 소자를 가지는 본 발명의 다른 예시적 실시예를 도시하는 도면.

도 7b는 테스트 스트립 적층체와 연계된 도 7 및 도 7a의 테스트 스트립 소자를 도시하는 도면.

도 7c는 도 7a 및 도 7b의 테스트 스트립 같은 단일 테스트 스트립을 제거하는 예시적 방법을 도시하는 도면.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*

2 : 하우징 4 : 덮개 조립체

6 : 베이스 조립체8 : 돌기 또는 리지

14 : 테스트 스트립 적층체22 : 테스트 스트립 결합 소자

17 : 리지 또는 립

테스트 스트립을 분배하기 위한 장치 및 이를 사용하는 방법이 제공된다. 본 발명의 장치는 복수의 테스트 스트립을 보유하도록 구성된 베이스와 덮개로 이루어진 하우징을 구비하는 것을 특징으로 한다. 특정 실시예에서, 베이스의 높이는 테스트 스트립 각각의 높이 보다 작으며, 그래서, 각 테스트 스트립의 일부가 베이스의 말단 또는 상단 에지를 초과하여 연장한다. 본 발명의 장치는 실질적인 기밀 및 습밀식 밀봉부를 가지는 것을 다른 특징으로 한다. 본 발명의 장치의 사용시, 본 발명의 장치내에 보관된 복수의 테스트 스트립이 제공된다. 잔여 테스트 스트립에 대하여 멀어지는 방향으로 테스트 스트립을 이동시킴으로써 본 발명의 장치로부터 단일 테스트 스트립이 제거된다. 또한, 본 발명의 방법을 실시하기 위해 사용되는 키트도 본 발명에 의해 제공된다.

본 발명을 설명하기 이전에, 본 발명은 설명된 특정 실시예에 한정되지 않으며, 이는 가변적이라는 것을 이해하여야 한다. 또한, 본 명세서에 사용된 용어는특정 실시예만을 설명하기 위한 것이며, 본 발명의 범주를 제한하기 위한 것이 아니며, 본 발명의 범주는 첨부된 청구항에 의해서만 한정된다. 값의 범위가 적용되는 경우에, 그 범위의 상한과 하한 사이에 드는 모든 값과 소정의 다른 선언된 값이나, 그 선언된 범위내에 포함되는 값이 본 발명에 포함된다. 이들 보다 작은 범위들의 상한 및 하한은 독립적으로 보다 작은 범위에 포함될 수 있으며, 이 또한 본 발명에 포함되고, 선언된 범위에서 특별히 제외된 한계를 받게 된다. 선언된 범위가 이 한계들 중 하나 또는 양자 모두를 포함하는 경우에, 이들 포함된 한계 중 어느 하나 또는 양자 모두를 제외한 범위가 본 발명에 포함된다.

별도로 규정되지 않는 한, 본 명세서에 사용된 모든 기술적 및 과학적 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상적인 지식을 가진 자가 일반적으로 이해하는 것과 동일한 의미를 가진다. 비록, 여기에 설명된 것들과 유사 또는 대등한 소정의 방법 및 재료도 본 발명의 실시 또는 시험에 사용될 수 있지만, 양호한 방법 및 재료를 이제 설명한다. 본 명세서에 언급된 모든 공보들은 공보들이 인용된 것과 관련된 방법 및/또는 재료를 설명 및 기술하는 것에 관하여 본 명세서에서 참조로 통합되어 있다.

본 명세서 및 첨부된 청구항에 사용된 바와 같이, 단수형 "하나(a)", "및(and)", "상기(said)" 및 "이(the)"는 내용이 명백히 별로도 지정하지 않는 한, 다수의 지시 대상을 포함하는 것이다. 반대로, 청구항은 소정의 선택적 소자를 배제하고 기재될 수 있다. 이 선언은 "단지", "만" 등 같은 이런 배타적 기술용어를 청구 요소의 재인용과 연계하여 사용, 또는, "배제적" 한정을 사용하기 위한 전제적 기초로서 의도된 것이다.

본 명세서에서 언급된 모든 공보는 본 특허 출원의 출원일 이전에 내용이 공개된 것들만 제공되어 있다. 본 명세서에 있는 어떠한 것도 본 발명이 종래 발명인 이런 자료에 선행할 수 없다는 것을 허용하는 것으로서 구성된 것은 아니다. 또한, 제공된 공개일은 실제 공개일과 상이할 수 있으며, 개별적인 확인이 필요할 수 있다.

장치

앞서 요약한 바와 같이, 테스트 스트립을 분배하기 위한 장치가 제공된다. 특히, 복수의 테스트 스트립으로부터 단일 테스트 스트립을 쉽게 분배하기 위한, 즉, 각 테스트 스트립을 개별적으로 또는 한번에 하나의 스트립을 분배하기 위한 장치가 제공된다. 본 발명은 예로서, 전자 화학적 및 비색 또는 광도측정식 테스트 스트립 같은 본 기술 분야에 널리 공지되어 있는 소정 유형의 테스트 스트립을 분배하기에 적합하며, 이런 테스트 스트립은 광범위하게 다양한 상이한 분석 시료 농도의 판정에 사용되며, 각 분석시료는 포도당, 콜레스테롤, 유산, 알콜 등을 비제한적으로 포함한다. 다수의 실시예에서, 관련 테스트 스트립은 생리학적 샘플, 예로서, 간질액, 혈액, 혈액 분액, 그 구성요소들 등 내의 포도당 농도를 판정하기 위해 사용된다. 본 발명을 추가로 설명하면, 비색 및 전자화학 테스트 스트립의 개요가 먼저 설명되어 본 발명을 위한 적절한 기본 지식을 제공하며, 이런 개요는 비제한적 예시이다. 달리 말해, 비색 및 전자화학 테스트 스트립을 비제한적으로 포함하는 광범위하게 다양한 테스트 스트립이 본 발명과 함께 사용하기에 적합할 수있다는 것은 명백하다. 적절한 테스트 스트립의 개요 이후에, 관련 테스트 스트립 분배 장치의 설명이 이어진다.

대표적인 비색 테스트 스트립

본 발명의 실시예에 사용되는 비색 또는 광도측정(본 명세서에서는 상호 호환적으로 사용됨) 시약 테스트 스트립은 일반적으로 적어도 하기의 구성요소들로 이루어진다 : 샘플을 받아들이기 위한 메트릭스, 일반적으로 분석시료 산화 신호 생성 시스템의 하나 이상의 부재들을 포함하는 시약 조성물 및 지지 소자. 비색 테스트 스트립은 통상적으로 후술될 바와 같이, 분석시료의 농도를 자동으로 결정하기 위해 자동화된 측정계내에 수납되도록 구성 및 적응된다. 대표적인 비색 테스트 스트립의 예시적인 실시예가 도 2a에 도시되어 있다.

관련 테스트 스트립에 사용되는 메트릭스(51)는 후술될 바와 같이 신호 생성 시스템의 다양한 부재들을 위한 지지부를 제공하고, 신호 생성 시스템에 의해 생성된 흡광성 또는 비색 생성물, 즉, 지시자를 제공한다. 매트릭스(51)는 생리학적 샘플, 예로서, 혈액을 위한 위치, 도포부 및 신호 생성 시스템의 지시자에 의해 생성된 흡광성 생성물의 검출을 위한 위치를 제공하도록 구성되어 있다. 이와 같이, 매트릭스(51)는 수성 유체가 그를 통해 흐르는 것을 허용하고, 신호 생성 시스템의 화학 반응이 이루어질 수 있는 충분한 보이드 공간을 제공하는 것이다. 다수의 상이한 매트릭스들이 다양한 분석시료 검출 평가를 위해 개발되어 왔으며, 이 매트릭스는 재료, 치수 등에 따라 상이하고, 대표적인 매트릭스는 본 명세서에서 참조하는 미국 특허 제 4,734,360, 4,900,666, 4,935,346, 5,059,394, 5,304,468,5,306,623, 5,418,142, 5,426,032, 5,515,170, 5,526,120, 5,563,042, 5,620,863, 5,753,429, 5,573,452, 5,780,304, 5,789,255, 5,843,691, 5,846,486, 5,968,836 및 5,972,294에 기술된 것들을 비제한적으로 포함한다. 원론적으로, 매트릭스(51)의 특성은 관련 테스트 스트립에 임계적이지 않으며, 따라서, 테스트 스트립을 판독하기 위해 사용되는 기구의 특징, 편리성 등을 포함하는 다른 요인들에 따라 선택된다. 마찬가지로, 치수 및 테스트 스트립(50)의 다공성은 매우 크며, 여기서, 매트릭스(51)는 공극을 가지거나 및/또는 다공성 구배, 예로서, 샘플 적용 영역 및 근방에 보다 큰 공극을 가지고, 검출 영역에 보다 작은 검출을 가질 수 있다. 매트릭스(51)를 제조하는 재료는 변화할 수 있으며, 폴리머들, 예로서, 폴리설폰, 폴리아미드, 셀룰로스 또는 흡습성 페이퍼 등을 포함할 수 있고, 이 재료는 신호 생성 시스템의 다양한 부재들의 공유 또는 비공유 부착을 제공하거나 제공하지 않을 수 있다.

매트릭스(51)에 부가하여, 관련 테스트 스트립은 신호 생성 시스템(52)의 하나 이상의 부재를 추가로 포함하며, 이 신호 생성 시스템(52)은 분석시료의 존재에 응답하여 검출가능한 생성물을 생성하고, 이 검출가능한 생성물은 평가된 샘플내에 존재하는 분석시료의 양을 유도하기 위해 사용될 수 있다. 관련 테스트 스트립에서, 신호 생성 시스템(52)의 하나 이상의 부재가 연계, 예로서, 매트릭스의 적어도 일부(즉, 검출 영역)에, 다수의 실시예들에서는 실질적인 모든 매트릭스에 공유 또는 비공유 부착된다.

예로서, 관심 분석시료가 포도당인 특정 실시예에서, 신호 생성 시스템은 분석시료 산화 신호 생성 시스템이다. 분석시료 산화 신호 생성 시스템은 그로부터 샘플내의 분석시료의 농도가 유도될 수 있는 검출가능한 신호 생성시, 분석시료가 하나 이상의 적절한 효소에 의해 산화되어 분석시료의 산화된 형태 및 대응 또는 비례량의 과산화 수소를 생성하게 되는 것을 의미한다. 그후, 과산화수소는 순차적으로, 하나 이상의 지시제 화합물로부터 검출가능한 생성물을 생성하기 위해 사용되며, 여기서, 신호 측정 시스템에 의해 생성된 검출가능한 생성물, 즉, 신호의 양은 그후, 최초 샘플내의 분석시료의 양에 연관되게 된다. 이와 같이, 관련 테스트 스트립내에 존재하는 분석시료 산화 신호 생성 시스템은 또한, 과산화수소 기반 신소 생성 시스템이라고 정확히 특징지어질 수도 있다.

상술한 바와 같이, 과산화수소 기반 신호 생성 시스템은 분석시료를 산화시키고, 대응량의 과산화수소를 생성하는 효소를 포함하며, 여기서 대응량은 생성되는 과산화수소의 양이 샘플내에 존재하는 부석시료의 양에 비례한다는 것을 의미한다. 이 제 1 효소의 특정 특성은 평가대상 분석시료의 특성에 의존하지만, 일반적으로 산화제이다. 이와 같이, 제 1 효소는 포도당 산화제(분석시료가 포도당인 경우), 콜레스테롤 산화제(분석시료가 콜레스테롤인 경우), 알콜 산화제(분석시료가 알콜인 경우), 유산 산화제(분석 시료가 유산인 경우) 등이다. 이들 및 다른 관심 분석시료와 함께 사용하기 위한 다른 산화 효소는 본 기술 분야의 숙련자들에게 공지되어 있으며, 이들 중 소정의 것이 사용될 수 있다. 시약 테스트 스트립이 포토당 농도의 검출을 위해 설계되는 양호한 실시예에서, 제 1 효소는 포도당 산화제이다. 포도당 산화제는 소정의 편리한 근원, 예로서, Aspergillus niger 또는Penicillum 같은 자연적으로 발생하는 소스이거나, 재조합적으로 생성될 수 있다.

신호 생성 시스템의 제 2 효소는 과산화수소의 존재시 하나 이상의 지시자 화합물을 검출가능한 생성물로 변환시키는 것을 촉진시키는 효소일 수 있으며, 여기서, 생성되는 검출가능한 양은 존재하는 과산화수소의 양에 비례한다. 이 제 2 효소는 일반적으로 과산화제이며, 적절한 과산화제는 양고추냉이 과산화제(HRP), 콩 과산화제, 재조합적으로 생성된 과산화제 및 과산화성 활성도 등을 가지는 합성 유사체를 포함한다. 예로서, 와이. 시(Y. Ci), 에프. 왕(F. Wang)의 Analytica Chimica Acta, 233(1990). 299-302를 참조하라.

지시자 화합물 또는 화합물들, 예로서, 기질은 과산화제의 존재시 과산화수소에 의해 형성 또는 분해되어 소정 파장 범위의 광을 흡수하는 지시자 염료를 생성하는 것이다. 지시자 염료는 샘플 또는 시험 시약이 강하게 흡수하는 것과는 상이한 파장을 강하게 흡수하는 것이 적합하다. 지시자의 산화된 형태는 착색된, 희미하게 착색된 또는 무색의 최종 생성물일 수 있으며, 막의 시험측의 색상의 변화를 표시한다. 즉, 시험 시약은 표백된 착색 영역에 의해 샘플내의 포도당의 존재를 지시하거나, 대안적으로, 무색 영역에 색상을 발생시킴으로써 포도당의 존재를 지시할 수 있다.

본 발명에 유사한 지시자 화합물은 1 및 2-성분 색원체 기질들 양자 모두를 포함한다. 1-성분 시스테믄 방향성 아민, 방향성 알콜, 아진 및 테트라메틸 벤지딘-HCL 같은 벤지딘을 포함한다. 적절한 2-성분 시스템은 일 성분이 MBTH, MBTH 유도체(예로서, 본 명세서에서 참조하는 미국 특허 출원 제 08/302,575호에기술된 것들을 참조) 또는 4-아미노안티피린이며, 나머지 성분은 방향성 아민, 방향성 알콜, 공액 아민, 공액 알콜 또는 방향성이나 지방성 알데히드이다. 예시적인 2-성분 시스템은 3-디에틸아미노벤조익 애시드(DMAB)와 조합된 3-메틸-2-벤조티아졸리논 하이드라존 하이드로클로라이드(MBTH) 및 8-아닐리노-1 나프탈렌 설포익 애시드 아미노뮴(ANS)과 조합된 3-메틸-2-벤조티아졸리논하이드라존 N-설포닐 벤젠설포네이트 모노소듐(MBTHSB)이다. 본 특정 실시예에서, 염료 커플 MBTHSB-ANS가 적합하다.

또 다른 실시예에서, 형광 검출성 생성물(또는, 예로서, 형광성 배경내의 검출가능한 비형광성 물질)을 생성하는 신호 생성 시스템이 사용될 수 있으며, 그 예는 키요시 자이츠, 요스케 오쿠라의 양고추냉이 과산화제를 위한 새로운 형광 물질 : 과산화 수소 및 과산화제를 위한 급속 및 민감성 평가(분석 생화학, 1980, 109, 109-113)에 기술되어 있는 것들이 있다.

매트릭스(51)는 일반적으로 하나 이상의 지지 소자에 부착되며, 여기서는 두 지지 소자(54, 56)에 부착되는 것으로 도시되어 있다. 지지소자(54, 56)는 예로서, 폴리에틸렌 또는 폴리프로필렌 같은 폴리올레핀, 폴리스티렌 또는 폴리에스테르 등의 재료로 이루어지며, 기판 지지부재(54, 56)는 동일 또는 상이한 것일 수 있다. 결과적으로, 하나 이상의 지지소자의 길이는 일반적으로 테스트 스트립(50)의 길이에 대응한다.

지지소자(54, 56)의 길이가 테스트 스트립(50)의 길이에 대응하는지 여부에 무관하게, 테스트 스트립(50)의 길이는 일반적으로 약 3mm 내지 약 1000mm, 일반적으로, 약 10mm 내지 약 100mm, 보다 일반적으로는 약 20mm 내지 약 60mm의 범위이다.

상술한 바와 같이, 지지소자(54, 56)는 일반적으로 측정계내로 테스트 스트립(50)이 삽입될 수 있도록 구성된다. 이와 같이, 지지소자(54, 56)와 이에 따른 테스트 스트립(50)은 일반적으로 실질적으로 직사각형 또는 정사각형 스트립의 형상이며, 지지소자의 치수는 다양한 요인들에 따라, 본 기술 분야의 숙련자들은 명백히 알 수 있는 바와 같이, 동일하거나, 상이할 수 있다.

일반적으로 비색 시험 평가에서, 샘플은 신호 생성 시스템의 부재와 반응하여 샘플내에 존재하는 초기량에 비례하는 양으로 존재하는 검출가능한 생성물을 생성할 수 있다. 검출가능한 생성물의 양, 즉, 신호 생성 시스템에 의해 생성된 신호는 그후, 초기 샘플내의 분석시료의 양을 판정 및 연관되게 된다. 특정 실시예에서, 상술한 검출 및 연관 단계를 수행하는 자동화된 측정계가 사용된다. 상술한 반응, 검출 및 연관 단계들과 이를 수행하기 위한 장비는 본 명세서에서 참조하고 있는 미국 특허 번호 4,734,360, 4,900,666, 4,935,346, 5,059,394, 5,304,468, 5,306,623, 5,418,142, 5,426,032, 5,515,170, 5,526,120, 5,563,042, 5,620,863, 5,753,429, 5,753,452, 5,780,304, 5,789,255, 5,843,691, 5,846,486, 5,968,836 및 5,972,294호에 추가로 기술되어 있다.

본 발명과 함께 사용하기에 적합한 이런 비색 시약 테스트 스트립의 예들은 본 명세서에서 참조하고 있는, 미국 특허 제 5,563,042, 5,753,452, 5,789,255에 기술된 것들을 비제한적으로 포함한다.

대표적인 전자화학 테스트 스트립

일반적으로, 본 발명과 함께 사용되는 전자화학 테스트 스트립은 얇은 스페이서층에 의해 분리된 두 개의 대향한 금속 전극들로 이루어지며, 이들 콤포넌트들은 반응 영역 또는 존을 형성한다. 다수의 실시예에서, 산화환원 시약 시스템이 반응 영역 또는 존내에 배치된다. 전자화학 테스트 스트립은 일반적으로 후술될 바와 같이, 분석시료의 농도를 자동으로 판정하는 자동화된 측정계에 수납되도록 구성 및 적응된다. 대표적인 전자화학 테스트 스트립의 예시적인 실시예가 도 2B에 도시되어 있다.

이들 전자화학 테스트 스트립의 특정 실시예에서, 동작 및 기준 전극(62, 64)은 일반적으로 세장형 직사각형 스트립의 형태로 구성된다. 일반적으로, 전극(63, 64)의 길이는 약 1.9cm 내지 약 4.5cm, 일반적으로 약 2.0cm 내지 약 2.8cm의 범위이다. 전극(62, 64)의 폭은 약 0.07cm 내지 약 0.76cm, 일반적으로 약 0.24cm 내지 약 0.60cm의 범위이다. 동작 및 기준 전극(62, 64) 각각은 약 10mm 내지 약 100nm, 일반적으로 약 10mm 내지 약 20nm의 범위의 두께를 가진다. 동작 및 기준 전극(62, 64)은 적어도 스트립내의 전자화학 셀의 반응 영역(67)에 대면한 전극의 표면들이 금속이며, 관심 금속은 팔라듐, 금, 백금, 은, 이리듐, 탄소(도전성 탄소 잉크), 도핑된 주석 산화물, 스테인레스 강 등을 포함하는 것을 부가적인 특징으로 한다. 다수의 실시예에서, 금속은 금 또는 팔라듐이다.

원론적으로, 전체 전극이 금속으로 이루어질 수 있지만, 각 전극은 일반적으로 그 표면상에 전극의 금속 성분의 얇은 층이 제공된 불활성 지지재료로 이루어진다. 보다 일반적인 실시예에서, 불활성 지지부 재료의 두께는 통상적으로 약 25 내지 500㎛의 범위이고, 금속층은 일반적으로 약 10 내지 100nm, 일반적으로 약 10 내지 40nm의 범위의 두께를 가지는 스퍼터링된 금속층이다. 소정의 편리한 불활성 지지부 재료가 관련 전극에 사용될 수 있으며, 여기서, 통상적으로 재료는 전극에 대한, 순차적으로, 전자 화학 테스트 스트립 전체에 대한 구조적 지지부를 제공할 수 있는 강성적 재료이다. 불활성 지지재료로서 사용될 수 있는 적절한 재료는 예로서, 폴리에틸렌 테레프탈레이트(PET), 폴리에틸렌 테레프탈레이트, 변형 글리콜(PETG), 폴리이미드, 폴리카보네이트, 폴리스티렌, 실리콘, 세라믹, 유리 등을 포함한다.

상술된 바와 같은 동작 및 기준 전극(62, 64)은 일반적으로 서로 대면하며, 단지 짧은 거리만큼 분리되어있으며, 그래서, 전자화학 테스트 스트립의 반응 존 또는 영역(67)의 동작 및 기준 전극 사이의 거리가 극도로 작다. 전자화학 테스트 스트립내의 이 동작 및 기준 전극(62, 64)의 최소 공간은 동작 및 기준 전극 사이에 배치 또는 샌드위치된 얇은 스페이서층(66)의 존재의 결과이다. 이 스페이서층(66)의 두께는 약 50 내지 750㎛, 일반적으로, 약 100 내지 175㎛의 범위일 수 있다. 스페이서층(66)은 반응 존 또는 영역(67)을 제공하도록 절단되고, 여기서, 다수의 실시예에서, 반응 영역 또는 존(67)의 체적은 일반적으로 약 0.1 내지 10㎕, 일반적으로 약 0.2 내지 5.0㎕의 범위이다. 스페이서층은 측면 입구 및 출구 벤트(vent) 또는 포트를 갖고 절단된 원형 반응 영역 또는 예로서, 정사각형, 삼각형, 직사각형, 불규칙형 반응 영역 등의 다른 구성을 가질 수 있다. 스페이서층(66)은 소정의 편리한 재료로 제조될 수 있으며, 대표적인 적절한 재료는 폴리에틸렌 테레프탈레이트(PET), 폴리에틸렌 테레프탈레이트 변형 글리콜(PETG), 폴리이미드, 폴리카보네이트 등을 포함하며, 여기서, 스페이서층의 표면은 그 각 전극들에 대한 접착력을 가지고, 그에 의해, 전자화학 테스트 스트립(60)의 구조를 유지하도록 처리될 수 있다.

다수의 실시예에서, 시약 시스템 또는 조성(69)은 반응 영역에 존재하며, 여기서, 시약 시스템(69)은 평가 동안 유체 샘플내의 성분들과 상호작용한다. 관심 시약 시스템은 일반적으로 산화환원 커플을 포함한다.

시약 조성의 산화환원 커플은 존재시, 하나 이상의 산화환원 커플 보조제로 이루어진다. 다양한, 상이한 산화환원 커플 보조제가 본 기술 분야에 공지되어 있으며, 페리시아니드, 페나진 에토설페이트, 페나진 메토설페이트, 페일렌디아민, 1-메톡시-페나진 메토설페이트, 2,6-디메틸-1,4-벤조퀴논, 2,5-디클로로-1,4-벤조퀴논, 페로센 유도체, 오스뮴 바이피리딜 복합체, 루테늄 복합체 등을 포함한다. 다수의 실시예에서, 특정 관심 산화환원 커플은 페리시아니드 등이다.

예로서, 반응 영역내에 존재할 수 있는 다른 시약은 버퍼링 보조제, 예로서, 시트라코네이트, 시트레이트, 말릭, 말레익, 포스페이트, "굿(Good)" 버퍼스 등을 포함한다. 존재할 수 있는 또 다른 보조제는 칼슘 클로라이드 및 마그네슘 클로라이드 같은 2가 카티온과, 트리톤(Triton), 마콜(Macol), 테트로닉(Tetronic), 실웨트(Silwet), 조닐(Zonyl) 및 플루로닉(Pluronic) 같은 계면활성제, 알부민, 자당, 트레할로스, 만니톨 및 락토제 같은 안정화 보조제를 포함한다.

본 발명과 함께 사용하기에 적합한 이런 시약 테스트 스트립의 예는 본 명세서에서 참조하고 있는 미국 출원 번호 제 09/333,793, 09/497,304, 09/497,269, 09/736,788 및 09/746,116에 기술된 것들을 포함한다.

일반적으로 전자화학 평가에 있어서, 전자화학 측정은 기준 및 작동 전극을 사용하여 이루어진다. 수행되는 전자화학 측정은 전자 화학 테스트 스트립이 사용되는 장치 및 평가의 특정 특성에 따라, 예로서, 평가가 전량 분석, 전류 분석 또는 전위 분석인지에 따라 변화할 수 있다. 일반적으로, 전자화학 측정은 일반적으로 반응 영역내로의 샘플 도입 이후 소정 시간 주기 동안 전하(전량분석), 전류(전류분석) 또는 전위(전위분석)를 측정한다. 상술한 전자화학 측정을 수행하는 방법은 미국 특허 제 4,224,12, 4,545,382 및 5,266,179 및 WO 97/18465, WO 99/49307에 추가로 기술되어 있으며, 이 선행 문헌들의 내용들은 본 명세서에서 참조하고 있다. 측정의 유형에 무관하게, 전자화학 측정치 또는 신호는 테스트 스트립의 반응영역에서 이루어진다.

상술한 바와 같이 반응내에 생성된 전자화학 측정치 또는 신호의 검출에 이어서, 반응 영역내로 도입된 샘플내에 존재하는 분석시료의 양이 그후 샘플내의 분석시료의 양에 전자화학 신호를 연관시킴으로써 결정된다. 사용자가 단지 반응 영역에 샘플을 적용하고, 장치로부터 초래되는 최종 분석시료 농도를 판독하기만하면 되도록 이들 단계들을 자동으로 수행하기 위한 대표적인 판독 장치는 본 명세서에서 참조하고 있는, 동시계류중인 1999년 6월 15일자 미국 특허 출원 번호 09/333,793호에 추가로 기술되어 있다.

테스트 스트립 분배기

상술한 바와 같이, 본 발명은 복수의 수납된 테스트 스트립으로부터 사용을 위해 단일 테스트 스트립을 분배하기 위한 장치를 포함하며, 여기서, 관련 장치는 빛, 습기, 먼지, 분진 및 사람의 손으로부터의 기름 또는 다른 오염물 등 같은 부정적 오염물 또는 조건들로부터 수납된 테스트 스트립을 보호한다. 일반적으로, 관련 장치는 한번에 약 5 내지 약 100 테스트 스트립, 일반적으로 약 10 내지 약 80 테스트 스트립, 보다 일반적으로 약 20 내지 약 60 테스트 스트립을 수납하도록 구성되어 있지만, 관련 장치는 보다 많거나 보다 적은 수의 테스트 스트립을 수납하도록 구성될 수 있다. 또한, 관련 장치는 후술된 바로부터 명백한 바와 같이, 부가적인 테스트 스트립의 재로딩을 용이하게 한다.

따라서, 관련 장치는 2-부재 하우징을 포함하며, 여기서, 이런 하우징은 두 개의 별개의 분리될 수 있는 조립체들, 덮개 조립체 및 베이스 조립체로 이루어진다. 달리말해서, 덮개 및 베이스는 함께 부착되다. 이런 분리될 수 있는 구성은 보다 상세히 후술될 바와 같이, 다양한 수단에 의해 덮개와 베이스 사이에 실질적인 기밀 및 방습 밀봉이 형성 및 유지될 수 있게 하여 바람직하다. 하우징의 크기 및 형상은 다양한 인자들에 따라 변화하며, 이런 인자들은 내부에 수납된 테스트 스트립의 형상 및 수 등을 비제한적으로 포함한다. 따라서, 하우징의 형상은 단순한 것으로부터 복잡한 것 까지 다양한 형상중 소정의 것을 취할 수 있다. 예로서, 하우징은 실질적인 직사각형, 실질적인 정사각형, 실질적인 원통형, 실질적인 라운드형, 실질적인 원형, 실질적인 타원형 또는 실질적인 난형(oval shape) 등으로 이루어질 수 있으며, 특정 실시예에서는 원형, 라운드형 또는 원통형이나 실질적인 원형, 실질적인 라운드형 또는 실질적인 원통형 형상으로 이루어지며, 이들은 덮개와 베이스 조립체 사이에서 나사 결합될 수 있다. 달리 말해서, 다수의 실시예들에서, 장치는 덮개와 베이스 조립체 사이에 나사식 결합을 가능하게 하도록 형성되어 있다. 대안적으로, 언급된 바와 같이, 형상은 실질적인 불규칙 형상 등 같이 보다 복잡할 수 있다.

마찬가지로, 하우징의 크기도 내부에 수납된 테스트 스트립의 유형 및 수 등 같은 다양한 인자에 따라 변화될 수 있다. 특정 실시예에서, 하우징은 복수의 테스트 스트립이 하우징의 베이스 부분에 수납되도록 구성된다. 그러나, 관련 장치의 특정 실시예에서, 테스트 스트립은 대신 덮개내에 수납될 수 있다. 관련 장치의 다수의 실시예에서, 베이스 조립체의 높이는 내부에 수납된 테스트 스트립 각각의 길이 보다 작다. 즉, 수납된 테스트 스트립 각각의 일부가 베이스 조립체의 말단 에지 또는 상단부를 초과하여 연장하며, 일반적으로 베이스 조립체를 초과하여 연장하는 테스트 스트립의 부분은 종래 기술 장치와 연계된 문제점들 중 다수를 회피하면서, 개인이 단일 테스트 스트립을 쉽게 파지할 수 있게 할 수 있도록 테스트 스트립의 접촉 또는 비시험 영역이다. 예로서, 베이스 조립체의 높이는 각 테스트 스트립의 길이의 일반적으로 적어도 약 2/3(즉, 각 테스트 스트립의 약 1/3이 베이스 조립체의 말단 에지 위로 돌출함)이며, 여기서, 베이스 조립체의 높이는 각 테스트 스트립의 길이의 약 1/2 또는 1/4 만큼 작을 수 있다. 비제한적인 예로서, 각각 약 20mm 내지 약 60mm의 범위의 길이를 가지는, 약 10 내지 60 테스트 스트립을 수납하도록 구성된 실질적인 원통형 형상을 가지는 이들 실시예에 대해 하우징의 총 높이(즉, 베이스와 덮게 조립체를 함께) 일반적으로, 약 20mm 내지 약 1300mm, 일반적으로 약 25mm 내지 약 110mm, 보다 일반적으로 약 25mm 내지 약 65mm의 범위이고, 하우징의 폭 또는 직경은 통상적으로 약 10mm 내지 40mm, 일반적으로, 약 10mm 내지 약 30mm, 보다 일반적으로 약 15mm 내지 약 20mm의 범위이다. 이와 같이, 베이스 조립체의 높이는 통상적으로 약 5mm 내지 약 700mm, 일반적으로 약 10mm 내지 약 40mm, 보다 일반적으로 약 15mm 내지 약 30mm의 범위이며, 덮개 조립체의 높이는 통상적으로 약 4mm 내지 약 600mm, 일반적으로 약 8mm 내지 약 35mm, 보다 일반적으로 약 15mm 내지 약 25mm의 범위이다.

하우징은 다양한 재료로 제조될 수 있으며, 하우징의 저면 및 덮개는 도일한 또는 상이한 재료로 제조도리 수 있지만, 이런 재료는 내부에 수납되는 테스트 스트립의 시험 시약들과 실질적으로 간섭하지 않아야 한다. 이런 재료의 예는 폴리에트라플루오로에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리에틸렌, 폴리스티렌, 폴리카보네이트 및 그 혼합물 같은 플라스틱, 스테인레스강, 알루미늄 및 그 합금 같은 금속, 예로서, 유리 재료 같은 규토질 재료 등을 비제한적으로 포함할 수 있다.

덮개 및 베이스 조립체는 폐쇄 구조일 때 하우징이 실질적으로 기밀 및 방습상태가 되도록, 즉, 둘이 폐쇄 위치에서 함께 접촉될 때, 덮개가 베이스와 실질적인 기밀 및 방습 밀봉부를 형성하도록 폐쇄 구조에서 정렬될 수 있다. 실질적인 기밀 및 방습 밀봉부는 하우징이 폐쇄된 위치일 때, 하우징이 실질적으로 공기 및 습기가 하우징에 도입하는 것을 방지할 수 있다는 것을 의미한다. 달리 말해서, 정합된 구조에서, 하우징의 내측이 실질적인 기밀 및 방습 환경이 되며, 보다 명확하게는, 하우징 내측의 테스트 스트립들이 하우징이 폐쇄된 구조일 때, 실질적인 기밀 및 방습 환경으로 존재하게 된다.

상술된 실질적인 기밀 및 방습 환경을 달성하기 위해서, 하우징은 하나 이상의 부착 수단을 포함하고, 여기서, 이런 부착 수단은 정렬 및 정합, 즉, 베이스와 덮개 조립체를 함께 부착하여 긴밀한 밀봉, 즉, 실질적으로 기밀 및 방습인 밀봉을 형성한다. 대표적인 부착 수단은 하나 이상의 나사부 결합, 즉, 하나 이상의 나사 로킹 수단, 스냅 핏(snap fit) 메카니즘, 마찰 결합, 덮개 배치 메카니즘, O-링 개스킷, 로크 및 키 메카니즘 및 인장 클램프를 비제한적으로 포함하며, 여기서, 이들 각각을 보다 상세히 설명한다.

상술된 바와 같이, 나사식 결합, 즉, 하나 이상이 나사 로킹 수단은 베이스와 덮개 조립체 사이에 긴밀한 접촉을 형성하도록 사용될 수 있다. 에로서, 덮개 조립체는 1/4, 1/2, 3/4 또는 그 이상의 나사부들을 덮개 조립체의 내측상에 포함할 수 있으며, 여기서, 이런 나사부들은 베이스 조립체상에 위치된 유사한 나사부들과 대응하며, 작동식으로 연계되어 있다. 이와 같이, 나사를 결합하도록 예로서, 1/4, 1/2, 3/4 또는 보다 큰 회전으로 함께 정합되었을 때(즉, 대응 나사들을 나사결합함으로써 토크가 적용됨), 베이스와 덮개의 나사는 두 조립체를 함께 정렬 및 클램핑하여 덮개와 베이스 사이에 긴밀한 밀봉부, 즉, 실질적으로 기밀 및 방습 밀봉부를 형성하도록 구성된다. 장치의 형상은 이런 나사 결합을 허용하는 것이 적합하다. 달리 말해서, 실질적으로 원형, 원추형 등의 영역내에 밀봉부를 위치시키는기능은 대응 나선형 나사부를 사용하는 것을 가능하게 한다.

마찰 결합, 즉, 배치 메카니즘이 사용되어 베이스와 덮개 조립체 사이에 긴밀한 접촉부를 형성한다. 이 특정 실시예에서, 베이스와 덮개 조립체의 표면 사이의 압력은 힘으로 두 표면을 함께 정합시킴으로써 최대화된다. 예로서, 덮개 조립체는 베이스 조립체의 밀봉면 또는 에지나 리지에 인접하게 정합 또는 배치되는 덮개 내측의 하나 이상의 돌출부 또는 밀봉면을 하나 이상의 돌기 또는 밀봉면을 포함할 수 있고, 및/또는 조립체는 마찰력이 베이스 조립체 위의 덮개 조립체의 삽입시 적용되도록 또는 그 반대의 경우에도 마찬가지로 적용되도록 치수설정될 수 있다. 이와 같이, 배치되었을 때, 베이스 및 덮개는 함께 가력되어 긴밀한 밀봉, 즉, 실질적인 기밀 및 방습 밀봉을 형성한다.

또한, O-링 개스킷이 사용되어 베이스와 덮개 조립체 사이에 긴밀한 접촉을 형성할 수 있다. 예로서, O-링은 덮개 또는 베이스상에 배치되어 덮개와 베이스가 폐쇄 위치에 있을 때, 긴밀한 접촉을 형성할 수 있다.

또한, 로크 및 키 메카니즘이 사용될 수 있다. 예로서, 덮개는 베이스상의 대응 홈과 정합하는 그 내측의 돌출부를 포함할 수 있고, 그 반대도 마찬가지여서 조립체를 긴밀하게 접촉된 구조로 고정한다.

또한, 스키 부츠(본 명세서에서 그 내용을 참조하고 있는 미국 특허 제 6,145,168 참조)를 고정 및 폐쇄하기 위해 사용되는 것과 유사한 장력 클램프를 사용할 수 있다. 이와 같이, 그립핑 아암 등이 캡의 외측에 결합될 수 있다. 예로서, 덮개가 베이스와 폐쇄 구조를 이루고나면, 이런 그립핑 아암은 베이스의 외측으로부터 돌출하는 복수의 이빨들 중 하나와 상호작용한다. 이 둘은 그립핑 아암과 연계된 작동 아암을 이동시킴으로써 추가로 연계되어 클램프에 힘 또는 장력을 적용하고, 따라서, 캡과 베이스를 함께 보다 가깝게 이동시켜 견고한 밀봉을 형성한다.

스냅 핏 메카니즘이 사용될 수 있다. 스냅 핏 메카니즘은 하나의 부품을 다른 것에 부착하기 위한 소정의 적절한 "내장" 또는 일체형 래치 메카니즘을 의미한다. 스냅 핏은 부착 기능을 수행하기 위해 어떠한 부가적인 부재, 재료 또는 공구도 필요로하지 않는다는 것이 루즈(loose) 또는 화학적 부착법과 상이하다. 본 발명과 함께 사용하기에 적합한 대표적인 스냅 핏 메카니즘은 본 명세서에서 참조하고 있는 Bonenberger, P의 "제 1 스냅 핏 핸드북(Hanzer, 2000)"에 기술되어 있으며, 평면 스냅 핏, 외팔보 스냅 핏, 트랩 스냅 핏, 토션 스냅 핏 및 환형 스냅 핏을 비제한적으로 포함한다.

상술한 바와 같이, 하나 이상의, 때때로, 둘 또는 셋 이상의 상술한 부착 수단이 사용되어 덮개와 베이스 사이에 긴밀한 밀봉을 형성할 수 있으며, 여기서, 이런 폐쇄부는 실질적인 기밀 및 방습 밀봉부이다.

관련 장치는 흡습제 시약 또는 건조제 재료, 실리카 겔 등 같은 성분들을 추가로 포함할 수 있으며, 여기서 이런 재료는 보관된 테스트 스트립 주변의 환경으로부터 습기를 흡수할 수 있다. 이런 흡습제 시약 또는 성분은 덮개 및/또는 베이스 조립체 내측에 위치된 하나 이상의 격실내에 수납될 수 있다.

실질적인 기밀 및 방습 밀봉을 형성 및 유지하기 위해서, 덮개(또는 선택적으로 베이스)는 베이스(또는 리지가 베이스 상에 위치된 경우에는 덮개)의 대응 홈이 덮개 및 베이스가 폐쇄 위치에 있을 때, 덮개의 리지를 수용하여 그와 정합하도록 구성되어 있다. 리지는 통상적으로 베이스(또는, 리지가 베이스상에 위치되어 있는 경우에는 덮개)의 리지가 덮개의 벽 및 리지 사이에 끼워져 안치될 수 있게 하도록 테이퍼형성되어 있다. 따라서, 밀봉 리지는 덮개 같은 제 1 조립체 및 베이스 같은 제 2 조립체상에 위치되고, 본 특정 실시예에서는 리지가 제 2 조립체의 홈내에 편안하게 끼워져 실질적인 기밀 및 방습 밀봉부를 형성하도록 제 1 조립체 의 리지를 수용하도록 구성되어 있다.

또한, 본 발명의 베이스(또는, 테스트 스트립을 수납하는 조립체)는 가압수단을 포함할 수 있으며, 여기서, 이런 가압 수단은 장치내에 보관된 테스트스트립에 힘을 적용하여 하우징 외측으로 비의도적으로 테스트 스트립이 빠져나오는 것을 방지하고 분배를 도울 수 있다. 가압 수단은 하우징과 일체로, 즉, 구조상 단일 부재로 형성되거나, 별개의 재료편 또는 별개의 부품으로서 이루어질 수 있다. 다양한 가압 수단이 사용되어 테스트 스트립에 이런 힘의 적용을 달성할 수 있으며, 여기서, 대표적인 수단 또는 메카니즘은 코일 또는 판 스프링 등 같은 스프링, 스폰지, 발포체 및 푸셔 또는 플런저 로드를 비제한적으로 포함한다. 특정 실시예에서, 가압 수단은 테스트 스트립의 하나 이상의 방향으로부터 힘을 작용할 수 있으며, 예로서, 가압 수단은 모든 방향으로부터 힘을 작용하거나, 두 방향으로부터 대향력을 작용할 수 있다. 예로서, 힘은 제 1 방향으로부터 작용되어 가압 수단이 테스트 스트립 적층체의 일 단부상에서 테스트 스트립에 힘을 작용하고, 제 2 힘이 제 2 방향으로부터 작용되어 가압 수단이 힘, 예로서 대향력을 제 1 테스트 스트립 반대쪽의 테스트 스트립의 대향 단부상에서 테스트 스트립에 작용할 수 있으며, 여기서, 제 1 및 제 2 힘은 동일 또는 서로 다른 메카니즘에 의해 적용될 수 있다.

상술한 가압 수단에 부가하여, 또는 상술한 가압 수단 대신, 실질적인 평면형 강체판이 사용되어 테스트 스트립을 함께 적절한 배향 또는 배열로 유지할 수 있다. 예로서, 하나 이상의 이런 실질적인 평면형 강체판은 테스트 스트립의 분배를 돕도록 테스트 스트립 적층체의 일 단부 또는 양단부와 접촉하도록 구성될 수 있고, 테스트 스트립이 하우징 외측으로 비의도적으로 빠져나오는 것을 방지한다. 특정 실시예에서, 이 판은 하나 이상의 돌출부를 포함하여 판과 인접한 테스트 스트립 사이의 접촉 정도를 제한 또는 최소화할 수 있으며, 그래서, 테스트 스트립과 접촉하는 판의 평면의 실질적인 전부 또는 전부가 아닌 단지 돌출부(들)만이 인접한 테스트 스트립에 접촉할 수 있다.

특정 실시예에서, 베이스 조립체, 보다 명확하게는 베이스 조립체의 저면측, 즉, 테스트 스트립의 단부가 그에 대해 놓여지게되는 측면이 정점으로 수렴, 즉, 베이스의 내측을 향해 연장하거나, 내부에 수납된 테스트 스트립의 추가 분리를 가능하게 하도록 그 위에 하나 이상의 돌출부 또는 패턴을 포함할 수 있다. 달리 말해서, 베이스는 테스트 스트립 분리 수단을 포함할 수 있으며, 여기서, 이런 수단은 테스트 스트립이 단차형성, 엇갈림 배치 또는 다른 방식으로 분리되어 적층체로부터 단일 테스트 스트립을 빼내는 것을 용이하게 한다.

본 발명의 장치의 특정 실시예에서, 테스트 스트립 결합 소자가 포함되며, 여기서, 이런 테스트 스트립 결합 소자는 하우징내에 보관된 복수의 테스트 스트립으로부터, 즉, 보관된 테스트 스트립의 적층체로부터 단일 테스트 스트립의 제거를 가능하게 하도록 구성되어 있다. 테스트 스트립 결합 소자는 하우징과 일체, 즉, 구조상 일원화된 부재이거나, 별개의 재료편 또는 부품일 수 있으며, 이런 부품은 적소에 고정되거나, 쉽게 제거될 수 있다.

상술한 바와 같이, 테스트 스트립 결합 소자는 하우징내에 수납된 복수의 테스트 스트립으로부터 단일 테스트 스트립을 제거하는 것을 용이하게 한다. 부가적으로, 테스트 스트립 결합 소자도 소정의 그리고, 모든 다른 테스트 스트립이 제거되는 것을 방지하도록 구성, 즉, 한번에 하나의 테스트 스트립만이 꺼내질 수 있도록 구성되어 있다.

따라서, 특정 실시예에서, 테스트 스트립 결합 소자는 그 말단 단부에 립 연장부를 포함하며, 여기서, 립 연장부는 단일 테스트 스트립이 그 표면을 따라 활주 또는 이동될 수 있게, 즉, 그 표면에 인접하게 전진할 수 있게 구성되어 있으며, 동시에, 립 연장부 아래의 소정의 및 모든 다른 테스트 스트립을 포획할 수 있다. 본 발명의 특정 실시예에서, 테스트 스트립 결합 소자는 각 측면이 대칭이되도록, 즉, 모든 측면이 실질적으로 동일하도록 다중 측면으로 이루어져 있으며, 여기서, 이 구조는 보다 많은 수의 테스트 스트립들이 분배될 수 있게 한다. 예로서, 측면들의 정확한 수는 결합 소자의 특정 구조, 분배 대상 테스트 스트립 등에 따라 변화할 수 있다. 예로서, 결합 소자는 두 개의 측면, 즉, 두 테스트 스트립 분배 측면 이나, 그 이상을 가질 수 있다. 즉, 결합 소자가 이중 측면으로 이루어진 이들 실시예에서, 립은 중앙 영역의 두 측면들 위로 연장하며, 그래서, 제 1 측면 위로연장하는 제 1 립 및 제 2 측면 위로 연장하는 제 2 립이 존재한다. 이와 같이, 테스트 스트립의 제 1 복수체 또는 적층체는 결합 소자의 제 1 측면에 인접하게 배치될 수 있고, 제 2 복수체 또는 적층체는 결합 소자의 제 2 측면에 인접하게 배치될 수 있다.

본 테스트 스트립 결합 소자의 다른 실시예에서, 테스트 스트립 결합 소자는 하나 이상의 테스트 스트립 파지 수단을 포함하고, 여기서, 이런 테스트 스트립 파지 수단은 단일 테스트 스트립을 파지 또는 유지하고, 자동으로 또는 수동으로 테스트 스트립 적층체로부터 멀어지는 방향으로 파지된 테스트 스트립을 전진 또는 이동시키도록 구성된다. 달리 말해서, 하나 이상의 테스트 스트립 파지 수단을 가진 테스트 스트립 결합 소자는 손가락 등에 의해 수동으로 또는 자동으로 테스트 스트립을 이동시킬 수 있다. 하나 이상의 테스트 스트립 파지 수단을 가지는 테스트 스트립 결합 소자가 자동으로 동작되던지 수동으로 동작되던지에 무관하게, 다양한 파지 수단이 테스트 스트립을 파지하기 위해 사용될 수 있다.

따라서, 테스트 스트립 결합 소자는 베이스 조립체 같은 하우징의 일부와 활주식으로 연계된다. 테스트 스트립 결합 소자는 개인에 의해 결합 소자를 활주시키는 것을 용이하게 하도록 그 말단 단부에 핸들을 포함한다. 이 핸들은 로드나 판 등 같은 연결 수단에 부착되며, 이는 하나 이상의 리지, 이빨 또는 결합 소자의 기단 단부로부터 측방향으로 연장하는 아암 같은 하나 이상의 파지 수단과 추가로 연계된다. 달리 말해서, 하나 이상의 리지, 이빨 또는 아암은 연결 수단, 예로서, 로드 또는 판 중앙부에 실질적으로 수직인 기단 단부로부터 연장한다. 따라서, 파지수단은 테스트 스트립의 에지 또는 단부와 결합하여 이를 잔여 테스트 스트립들로부터 멀어지는 방향으로, 즉, 테스트 스트립들의 적층체로부터 멀어지는 방향 또는, 실질적으로 하우징 외측으로 이동, 즉, 이를 활주식으로 이동시키거나, 전향 운반하여, 단일 테스트 스트립이 하우징으로부터 용이하게 제거될 수 있도록 배치되도록 구성되어 있다.

다른 실시예에서, 상술된 리지, 이발 도는 결합 소자의 기단 단부에 위치된 아암에 부가하여, 또는 그 대신에, 결합 소자는 자석 수단을 또한 구비하여 테스트 스트립을 자성적으로 결합하고, 이 테스트 스트립을 이동시키는 자석 수단을 포함할 수 있다. 또한, 결합 소자의 표면 또는 영역은 접착제 등 같은 코팅층을 포함하여 테스트 스트립의 결합을 용이하게하거나 및/또는 테스트 스트립의 결합을 용이하게 하도록 리지들 및/또는 돌기들의 패턴 같은 패턴을 포함할 수 있다.

테스트 스트립 결합 소자는 캘리베이션 데이터, 유효일자 데이터, 사용된/가용한 스트립 수 등 같은 하우징내에 보관된 테스트 스트립에 속하는 데이터를 보관할 수 있는 데이터 보관 소자를 포함하도록 구성될 수 있으며, 여기서, 데이터는 생리학적 샘플내의 하나 이상의 분석시료의 존재 또는 농도를 자동으로 판정하기 위한 측정계 같은 외부 기기에 용이하게 전달 또는 통신될 수 있고, 이런 측정계는 본 기술 분야에 공지되어 있다. 데이터 보관 소자는 보관되는 데이터의 양 등 같은 다양한 인자들에 따라 소정의 편리한 형태가될 수 있으며, 여기서, 대표적인 데이터 보관 소자는 바 코드, 전자 보관 소자 등을 비제한적으로 포함한다. 특정 실시예에서, 테스트 스트립 결합 소자는 또한 측정계 등 같은 이런 외부 기기에 데이터를 작동적으로 연결 또는 전달하기 위한 전기 접점 또는 다른 적절한 수단을 포함한다.

베이스 조립체는 잔여 테스트 스트립으로부터 멀어지는 방향으로 최상단 테스트 스트립을 자동으로 전진 또는 이동시키기 위한 테스트 스트립 이동 수단을 추가로 포함할 수 있다. 달리 말해서, 본 발명의 테스트 스트립 분배기는 테스트 스트립을 자동으로 전진시키기 위한 수단을 포함할 수 있다. 이와 같이, 본 장치의 특정 실시예에서, 테스트 스트립 이동 수단이 제공되고, 여기서, 이런 이동 수단은 장치의 외부상에 제공된 버튼 등에 의해 작동될 수 있다. 이동 수단은 테스트 스트립을 자동으로 결합하고 이동시킬 수 있는 소정의 적절한 수단을 포함할 수 있다.

도면을 참조하면, 유사 참조 번호는 유사 특징부 또는 유사 부품을 나타내며, 도 3은 상술한 바와 같은 하우징 조립체(2)의 예시적 실시예의 외관도를 도시하고 있다. 하우징 조립체(2)는 베이스 조립체(6)와 덮개 조립체(4)를 포함하고, 여기서는 폐쇠된 상태로 도시되어 있다. 상술한 바와 같이, 이런 폐쇄된 위치에서, 하우징은 실질적인 기밀 및 방습 상태이다. 본 특정 실시예에서, 하우징은 원통형 형상을 가지는 것으로 도시되어 있지만, 그러나, 상술한 바와 같이, 하우징은 소정의 편리한 형상을 가질 수 있다.

도 4는 도 3의 덮개 조립체(4) 같은 내부 구조를 도시하는 본 발명의 하우징의 관련 덮개 조립체의 예시적 실시예를 도시한다. 덮개 조립체(4)는 부착 수단을 포함하고, 세 개의 부착 수단 각각은 베이스와 덮개 조립체 사이에 긴밀한 접촉을 형성할 수 있다.

특정 실시예에서, 배치 메카니즘(8)은 돌기 또는 리지(8), 즉, 밀봉면(8)을 포함하며, 이는 덮개 조립체 내측에 배치되어 있고, 이는 인접한 말단 에지, 립 또는 리지, 즉, 도 5의 베이스 조립체의 밀봉면(15) 또는 에지(15) 같은 베이스 조립체의 밀봉면과 마찰식으로 정합 또는 배치되며, 이 배치 메카니즘은 여기서는 덮개의 내주를 둘러싸는 돌기 또는 리지(8)로서 도시되어 있지만, 이 돌기는 전체 둘레를 둘러쌀 필요는 없다는 것은 명백하다. 후술될 바와 같이, 특정 실시예에서, 밀봉면(8)은 밀봉 리지 또는 홈을 포함할 수 있다.

유사하게, 덮개(4)의 밀봉면(17), 즉, 에지, 리지 또는 립(17)도 예로서, 도 5의 밀봉면 또는 에지(13) 같이, 대응 베이스 조립체 부품의 밀봉면, 즉, 에지, 립 또는 리지에 대하여 정합 또는 배치된다. 특정 실시예에서, 하나 이상의 밀봉면은 추가로 후술될 바와 같이, 대응 조립체상의 대응 밀봉홈과 정합하기 위한 밀봉 리지를 포함한다. 예로서, 베이스 조립체는 밀봉면상에 위치된 밀봉 리지(예로서, 도 5a의 리지(15') 및 도 5의 리지(16) 참조)를 포함할 수 있고, 대응 덮개는 베이스와 덮개가 함께 폐쇄된 구조로 정합될 때, 밀봉 리지를 수용하기 위한, 도 4 및 도 4a의 밀봉 홈(17') 및 도 4b의 홈(8') 같은 밀봉홈을 포함할 수 있다(예로서, 밀봉면(13)상에 위치된 밀봉 리지를 가지는 베이스 조립체와, 밀봉면(17)상에 위치된 밀봉 홈을 가지는 대응 덮개 조립체를 도시하며, 이 둘이 정합되어 긴밀한 밀봉부를 형성하는 도 5b, 또는, 긴밀한 밀봉을 형성하도록 밀봉면(15)상에 위치된 밀봉 리지를 가지는 베이스와 정합된 밀봉면(8)상에 위치된 밀봉 홈을 가지는 덮개를 도시하는 도 4c 참조). 따라서, 밀봉 홈과 밀봉 리지가 함께 정합될 때, 베이스와 덮개 조립체는 함께 가력되어 긴밀한 밀봉부, 즉, 실질적인 기밀 및 방습 밀봉을 형성하게 된다.

도 4a는 덮개(4)의 사시도를 도시한다. 따라서, 덮개(4)는 덮개(4)의 종축에 횡단하는 축 둘레에서 약 45° 회전되어 있다. 도 4a는 도 5의 밀봉 리지(16) 같은 베이스 조립체상에 위치된 밀봉 리지를 수용하기 위해 그 위에 위치되어 있는 상술된 밀봉 홈(17')을 가지는 밀봉면(17)을 도시한다. 상술한 바와 같이, 덮개 조립체, 예로서, 밀봉면(17)은 밀봉 리지를 포함하고, 대응 베이스 조립체는 대신 정합가능한 밀봉 홈을 포함할 수 있다.

상술한 바와 같이, 밀봉 리지 또는 밀봉 홈은 추가로, 또는 대안적으로, 덮개의 다른 밀봉면상에 배치될 수 있다. 도 4b는 덮개(9)의 밀봉면(8)상에 위치된 밀봉 홈(8')을 도시하며, 이는 덮개 조립체의 밀봉면(17)상에 위치된 홈 또는 리지에 부가하여, 또는 그 대신에 이루어질 수 있다. 상술한 바와 같이, 밀봉면(8)은 대신 밀봉 리지를 포함할 수 있다. 밀봉 홈(8')은 도 5a의 베이스(11)의 밀봉면(15)상에 위치된 밀봉 리지(15') 같은 베이스 조립체상의 대응 밀봉 리지와 정합하도록 구성된다. 상술한 바와 같이, 도 4c는 긴밀한 밀봉을 형성하도록 밀봉면(15)상에 위치된 대응 밀봉 리지(15')를 가지는 베이스와 정합된 밀봉면(8)상에 위치된 밀봉 홈(8')을 가지는 덮개를 도시한다.

또한, 덮개 조립체(4)는 상술한 바와 같이 두 개의 1/4 회전 나사(본 기술 분야의 숙련자들에게 명백한 바와 같이, 상술한 바와 같이, 3/4 회전 나사, 1/2 회전 나사, 1 회전 나사 또는 1 회전 이상을 가지는 나사도 사용될 수 있음)를 포함한다. 상술한 바와 같이, 나사는 작은 수동 토크로 밀봉면상에 큰 또는 현저한 밀봉 압력 또는 힘을 생성할 수 있게 하여 바람직하다.

도 5는 도 3의 베이스 조립체(6) 같은 예시적 베이스 조립체의 도면을 도시한다. 베이스 조립체(6)는 내부에 보관된 복수의 테스트 스트립(14)을 가지는 상태로 도시되어 있고, 여기서, 테스트 스트립은 가압 수단(12)에 의해 함께 가압되어 있다. 또한, 베이스 조립체(6)는 여기에서는 나사 로킹 수단(11)으로 도시된 부착 수단, 예로서, 상술한 바와 같이, 덮개 조립체(4)의 내부상에 배치된 나사 로킹 수단(10)에 대응하는, 베이스의 외부상에 위치된 1/4 회전 나사(또는 보다 많거나 작은 회전을 가지는 나사)를 포함한다. 베이스 조립체(6)는 둘 이상의 섹션들로 이루어지며, 여기에는 두 개의 일체형 섹션(18, 20)이 도시되어 있고, 여기서, 섹션 18은 섹션 20 보다 작은 직경을 가져서 덮개 조립체를 수용하고 하우징 외부와 표면이 일지된 상태를 만들 수 있다. 섹션(18, 20)의 경계면은 테이퍼형 또는 실질적인 "V"형 밀봉 리지(16)를 가지는 밀봉면(13)이며, 이는 도 4의 덮개(4)의 밀봉면 Ehms 에지(17)의 밀봉 홈(17') 같은 덮개의 밀봉면상에 위치된 대응 밀봉 홈에 수용되거나 그와 정합하도록 구성되어 있으며, 그래서, 리지(16)는 대응 덮개의 홈내에 아늑하게 끼워지게 된다. 선택적으로, 상술한 바와 같이, 베이스는 덮개의 밀봉 리지가 베이스의 홈에 의해 끼워지거나 수용되어 실질적인 기밀 및 방습 밀봉을 제공할 수 있다는 것은 명백하다. 상술한 바와 같이, 베이스 또는 덮개의 어느 한쪽의 밀봉면 또는 에지는 개스킷(미도시)을 추가로 포함할 수 있다.

도 5a는 밀봉면(13)이 아닌 밀봉면상에 위치된 밀봉 리지(15')를 가지는,즉, 밀봉 리지(15')가 밀봉면(15)상에 위치되어 있는 것을 제외하면, 도 5의 베이스 조립체(6)와 실질적으로 유사한 예시적인 베이스 조립체(11)를 도시하고 있으며, 이는 도 5의 밀봉면(13)상에 위치된 리지(16) 같은 다른 밀봉면상에 위치된 밀봉 리지에 추가하여, 또는 그 대신에 이루어질 수 있다. 상술한 바와 같이, 본 발명의 모든 실시예에서, 밀봉 리지는 밀봉 홈을 대신할 수 있으며, 그 반대도 마찬가지이다.

상술한 바와 같이, 밀봉 리지(16) 및 밀봉 리지(15')는 함께 정합되었을 때, 덮개 조립체상의 홈이 그 내부에 리지(16, 15')를 긴밀하게 수용하여 안락한 결합부를 형성하도록 덮개 조립체상에 위치된 각 대응 홈과 대응하도록 구성 및 치수설정된다. 도 5c는 대응 홈과 밀봉 리지를 가지는 덮개 및 예시적 베이스의 밀봉면의 단면도를 도시한다. 따라서, 도 5c는 도 5의 밀봉 리지(16)(또는 도 5a의 밀봉 리지(15')) 같은 밀봉 리지와, 도 4의 홈(17') 같은 정합 홈(또는, 도 4b의 홈(8'))을 가지는 대응 덮개 대응 덮개를 도시한다. 상술한 바와 같이, 리지는 베이스상에 위치된 정합 홈 및 덮개상에 위치될 수 있다. 이 리지는 일반적으로 실질적인 "V"형 형상을 가지도록 형성되지만, 물론, 다른 적절한 형상을 갖는 것도 가능하다.

도 6은 예시적인 본 베이스 조립체의 다른 실시예를 도시한다. 베이스 조립체(6')는 도 5의 베이스 조립체(6)와 실질적으로 유사하다. 그러나, 베이스 조립체(6')는 하우징내에 보관된 복수의 테스트 스트립으로부터 단일 테스트 스트립을 빼내는 것을 용이하게 하도록 구성된 테스트 스트립 결합 소자(22)를 포함한다. 상술한 바와 같이, 테스트 스트립 결합 소자(22)는 또한, 소정의 다른 테스트스트립의 제거를 방지하도록, 즉, 단지 단일 테스트 스트립을 제거하는 것만 가능하도록 구성되어 있다. 따라서, 테스트 스트립 결합 소자(22)는 제 1 측면상에 제 1 립 연장부(23)와, 제 2 측면상에 제 2 립 연장부(27)를 포함하며, 이들 양자 모두는 테스트 스트립 결합 소자의 말단 단부(25)에 위치되어 있으며, 여기서, 립 연장부(23, 27)는 도 6a에 도시된 바와 같이 립 연장부 아래의 소정의 다른 테스트 스트립을 포획하면서, 결합 소자의 표면, 예로서, 립 연장부를 따라 단일 테스트 스트립이 활주 또는 이동되게 할 수 있도록 구성되어 있고, 이에 대해서는 하기에 보다 상세히 설명된다. 본 특정 실시예에서, 결합 소자(22)는 각 립 연장부(23, 27)를 가지는 두 개의 테스트 스트립 결합 측면을 가지지만, 그러나, 도시된 것 보다 작거나 많은 수의 측면들 및 립 연장부들이 존재할 수 있다.

도 6에 도시된 바와 같이, 테스트 스트립 적층체(14)는 테스트 스트립 격실(18)내에 위치되며, 여기서, 이런 격실은 베이스와 일체로 이루어지거나, 별개의 부재로 이루어질 수 있고, 또한, 테스트 스트립 제충전을 위해 용이하게 제거할 수 있을 수 있다. 유사한 테스트 스트립 적층체(14) 및 테스트 스트립 격실(미도시)이 결합 소자의 대향 측면상에 위치될 수 있고, 그래서, 립 연장부(27)와 유사하게 연계되어 있다. 또한, 베이스 조립체(6')상에는 도 6b의 테스트 스트립 결합 소자(28)상의 돌기(1) 같은 테스트 스트립 결합 소자상의 대응 돌기와 작동식으로 연계될 때, 로크-키 부착 수단으로서 기능하도록 구성된 리세스(19)가 존재한다.

도 6b는 도 6의 테스트 스트립 결합 소자(22)와 유사한 예시적인 테스트 스트립 결합 소자의 완전한 모습을 도시하고 있다. 본 실시예에서, 테스트 스트립 결합 소자(28)의 기단 단부(26)는 데이터 보관 소자(29) 및 외부 또는 원격 장치에 작동식으로 연결하여 그에게로 데이터를 통신 또는 전달하기 위한 전자 연결 수단(21)을 포함한다.

도 7 및 도 7a는 활주식으로 연계된 테스트 스트립 결합 소자를 가지는 k본 발명의 다른 예시적 실시예를 도시한다. 도 7은 활주식으로 연계된 테스트 스트립 결합 소자(32)를 가지는 베이스 부재(30)의 외관을 도시하고 있다. 테스트 스트립 결합 소자(32)의 일부는 베이스 조립체 내에 배치되고, 핸들(34)은 장치의 사용자가 억세스할 수 있도록 베이스 외측에 위치된다. 테스트 스트립 결합 소자(32)도 테스트 스트립의 적층체와 연계되어 있으며, 그래서, 이는 여기서는 테스트 스트립(14'0으로 도시된 단일 테스트 스트립을 들어올려 제거를 위해 베이스로부터 멀어지는 방향으로 전진 또는 이동시킬 수 있다(도 7c 참조). 상술한 바와 같이, 활주식으로 연계된 테스트 스트립 결합 소자는 예로서, 개인이 그 핸들을 쥐고 이동시킴으로써, 수동으로, 또는 자동으로 이동될 수 있다.

도 7b는 테스트 스트립 적층체와 테스트 스트립 결합 소자(32)의 연계된 분해도를 예시한다. 도시된 바와 같이, 테스트 스트립 결합 소자(32)의 말단 단부는 연결 수단 또는 로드나 판 중앙 섹션(33)에 부착된 핸들(34)을 포함한다. 테스트 스트립 결합 소자(32)의 기단 단부(35)는 여기에서는 두 개의 리지 또는 아암(36)으로 도시되어 있는 하나 이상의 테스트 스트립 파지 수단을 포함하고, 여기서, 이런 파지 수단은 복수의 테스트 스트립 또는 테스트 스트립 적층체(14)로부터 단부 또는 최상단 테스트 스트립(14')의 에지(E)를 파지 또는 결합하여, 적층체(14)로부터 멀어지는 방향으로 테스트 스트립(14')을 활주식으로 이동시킬 수 있도록 구성되어 있으며, 그래서, 이는 개인에 의해 용이하게 파지될 수 있다. 상술한 바와 같이, 테스트 스트립 적층체(14)는 여기에서는 스프링 소자로 도시된 가압 수단(12)및 적절한 배향으로 테스트 스트립을 함께 유지하기 위한 실질적인 평면형 강체판(39)과 추가로 연계될 수 있다.

도 7a는 도 7의 베이스 조립체(30)의 내부도(가상선으로 도시됨)를 도시한다. 가상선은 베이스내에 테스트 스트립 적층체(14)를 보유하는 리세스(100)를 예시한다. 달리 말해서, 베이스는 장치내에 복수의 테스트 스트립을 수납하도록 치수설정 및 구성된 오목 공간을 포함하도록 구성된다. 또한, 도 7a에 도시된 바와 같이, 결합 소자(32) 및 파지 수단(36)을 수용하도록 리세스(100)가 형성, 즉, 오목 공간이 제공되고, 예로서, 리세스(36')가 형성되어 파지 수단(36)을 수용한다.

방법

또한, 본 발명에 의해 복수의 테스트 스트립 또는 테스트 스트립의 적층체로부터 테스트 스트립을 분배하는 방법이 제공된다. 보다 명확하게, 예로서, 시각적으로 및/또는 기민성이 손상된 당뇨병자 등 같은 시각적으로 및/또는 기민성이 손상된 개인에 의해, 쉽게 단일 테스트 스트립이 파지될 수 있도록하는 방법이 제공된다.

따라서, 제 1 단계는 상술한 테스트 스트립 분배 장치 같은 하나 이상의, 복수의 테스트 스트립을 보관하도록 구성된 테스트 스트립 분배기를 제공하는 것이다.

본 방법의 일 실시예에서, 테스트 스트립은 복수의 테스트 스트립 위에 제 1 힘을 작용함으로써, 사용을 위해 쉽게 분배될 수 있으며, 여기서, 이런 제 1 힘은 복수의 테스트 스트립을 함께 가압하여 분배 임부를 촉진한다. 이런 방법에서, 테스트 스트립은 제 2 대향력을 적용함으로써, 복수체로부터 멀어지는 방향, 예로서, 복수의 테스트 스트립으로부터 떨어진 방향으로 하나의 테스트 스트립을 활주식으로 이동 또는 전진시킴으로써, 복수의 테스트 스트립으로부터 하나의 테스트 스트립이 제거되게 되며, 여기서, 이런 제 2 힘 및 이어지는 이동은 예로서, 적절한 테스트 스트립 이동 수단으로 자동적으로 또는 수동으로 달성될 수 있으며, 통상적으로는 예로서 손가락에 의해 수동으로 달성된다.

보다 명확하게, 테스트 스트립 분배기는 다른 테스트 스트립과의 직접 접촉을 최소화하면서 최상단 테스트 스트립을 쉽게 억세스할 수 있도록, 상술한 바와 같이, 베이스 조립체 또는 테스트 스트립을 수납 또는 보관하는 부분의 높이가 각 수납된 테스트 스트립의 높이 보다 작게 제공된다. 보다 명확하게, 베이스 조립체의 높이는 내부에 수납된 테스트 스트립 각각의 길이 보다 작다. 즉, 수납된 테스트 스트립 각각의 일부가 베이스 조립체의 말단 에지 또는 상단부를 초과하여 연장하며, 여기서, 일반적으로 베이스 조립체를 초과하여 연장하는 테스트 스트립의 부분은 테스트 스트립의 접촉 또는 비시험 영역이다. 예로서, 베이스 조립체는 각 테스트 스트립의 길이의 일반적으로 약 2/3 이상(즉, 베이스 조립체의 말단 에지 위로 각 테스트 스트립의 1/3이 돌출함)이며, 여기서, 베이스 조립체의 높이는 각 테스트 스트립의 길이의 약 1/2 또는 1/4 미만 만큼 작을 수 있고, 수납된 테스트 스트립 각각의 길이 보다 작은 높이를 가지는 베이스 조립체를 가지는 원통형 장치를 위한 예시적인 치수가 상술되었으며, 여기서는 반복하지 않는다.

이와 같이, 도 5d는 도 5의 베이스(6) 같은 본 발명의 베이스로부터 단일 테스트 스트립의 예시적인 제거 방법을 도시하고 있다. 도 5d에 예시된 바와 같에, 예로서, 가압 수단(12)에 의해 복수의 테스트 스트립(14)의 제 1 단부에 제 1 힘이 적용된다. 테스트 스트립 이동 수단, 예로서, 손가락 또는 다른 테스트 스트립 이동 수단(수동 또는 자동)이 테스트 스트립 적층체의 대향 단부에, 즉, 최상단 테스트 스트립(14')에 제 2 힘을 적용하여 테스트 스트립(14')을 복수체로부터 제거하고, 예로서, 복수체로부터 멀어지는 말단 방향으로 이동시킨다. 통상적으로, 손가락 등에 의해 접촉되는 테스트 스트립의 부분은 취급에 적합한 부분, 즉, 비시험 영역 또는 비반응 영역같은 접촉 영역이다. 특정 실시예에서, 복수의 테스트 스트립이 상술한 바와 같이 강체판 등에 의해 함께 유지되고, 여기서, 이런 판도 테스트 스트립이 분배기 외측으로 비의도적으로 유출될 기회를 감소시킨다. 명백하게, 이 특정 실시예는 복잡한, 다수의 가동부를 가지는 장치를 필요로하지 않고 단일 테스트 스트립을 쉽게 억세스할 수 있는 방법을 제공한다. 또한, 본 특정 실시예에서, 테스트 스트립은 정밀하게 적층될 필요가 없으며, 각 테스트 스트립은 소정의 형태로 나머지 것들의 뒤에 위치되기만 하면 된다는 것이 명백하다. 이와 같이, 제조 및 사용의 용이성이 증가된다.

본 발명의 방법의 다른 실시예에서, 테스트 스트립은 복수의 테스트 스트립 또는 테스트 스트립의 적층체로부터 자동으로 또는 손가락을 사용하여 수동으로 립연장부를 따라 또는 립 연장부에 인접하게 테스트 스트립을 이동시킴으로써 제거되고, 여기서, 스트립은 이런 립 연장부가 다른 테스트 스트립의 제거를 방지하면서 복수의 테스트 스트립으로부터 단일 테스트 스트립을 제거하도록 기능한다. 즉, 복수의 테스트 스트립으로부터 단일 테스트 스트립을 분리시키는 단순한 방법을 제공함으로써 단일 테스트 스트립만이 제거될 수 있다. 따라서, 테스트 스트립은 다른 잔여 태스트 스트립들이 립 연장부 아래에 포획 또는 수납되어 제거가 방지되는 상태로, 립 연장부에 인접하게 테스트 스트립 이동 수단(즉, 자동 이동 수단 또는 손가락 같은 수동 이동 수단)에 의해 전진 또는 이동된다. 또한, 이 특정 실시예는 복잡한, 다수의 가동부를 구비하는 장치를 필요로하지 않고, 단일 테스트 스트립을 억세스할 수 있는 쉬운 방법을 제공한다.

보다 명확하게, 상술한 바와 같은, 립 연장부를 구비한 테스트 스트립 결합 소자가 제공된다. 도 6a에 도시된 바와 같이, 손가락 또는 예로서 자동 수단 같은 다른 수단이 제거를 위해, 테스트 스트립과 결합, 즉, 분배기내에 보관된 복수의 테스트 스트립으로부터 최상단 테스트 스트립(14')과 결합한다. 통상적으로, 손가락 등에 의해 접촉된 테스트 스트립의 부분은 취급을 위해 적합한 부분, 즉, 비시험 또는 비반응 영역 같은 접촉 영역이다. 테스트 스트립이 손가락 또는 다른 이동 수단과 결합하고나면, 결합된 테스트 스트립은 복수의 테스트 스트립으로부터 멀어지는 방향, 즉, 화살표로 도시된 바와 같은 말단 방향으로 전진 또는 이동되고, 여기서, 이는 립 연장부에 인접하게 전진하며, 복수체로부터 추가로 분리되어 이것이 사용을 위해 빼내지거나 쉽게 파지될 수 있게 된다. 도 6a에 도시된 바와 같이, 다소 전진될 수도 있는 테스트 스트립(14") 같은 임의의 또는 모든 다른 테스트 스트립은 립 연장부 아래의 영역과 결합됨으로써 부가적인 전진이 방지된다. 상술된 실시예에서, 테스트 스트립은 본 실시예에서 정밀한 방식으로 적층될 필요가 없으며, 각 스트립은 단지 소정 형태로 다른 것들 뒤에 위치되기만 하면 된다는 것이 명백하다. 이와 같이, 제조와 사용의 용이성이 증가된다.

본 방법의 특정 다른 실시예에서, 테스트 스트립, 즉, 단부 또는 최상단 테스트 스트립은 파지 수단에 의해 결합되고, 복수의 테스트 스트립으로부터 멀어지는 방향 즉, 말단 방향으로 전진 또는 이동되며, 그래서, 이는 용이하게 파지될 수 있다.

보다 명확하게, 상술한 바와 같은 파지 수단을 가지는 테스트 스트립 결합 소자가 테스트 스트립과 자동으로 또는 수동으로 결합하고, 테스트 스트립을 잔여 테스트 스트립으로부터 멀어지는 방향으로 전진시킨다(도 7a 및 도 7b의 테스트 스트립 분배기로부터 단일 테스트 스트립을 제거하는 방법 같은 단일 테스트 스트립을 제거하는 예시적인 이런 방법을 도시하고 있는 도 7c 참조). 예로서, 하나 이상의 리지, 이발 또는 아암이 최상단 테스트 스트립의 단부 또는 에지를 파지하고, 이 테스트 스트립을 테스트 스트립 적층체로부터 멀어지는 방향으로 말단 방향으로 이동시키며, 여기서, 파지 수단은 테스트 스트립을 예로서, 손가락 등에 의해 테스트 스트립을 이동시키는 등 수동으로 파지 및 이동시키거나, 적절한 이동 수단에 의해 자동으로 이동시킬 수 있다. 하나 이상의 리지, 이빨 또는 아암과 이를 결합시킴으로써 테스트 스트립을 전진시키는 상술한 방법에 부가하여, 또는 그 대신에,테스트 스트립은 자석 수단, 접착제, 코팅층 또는 테스트 스트립 결합 소자와 연계된 패턴에 의해 파지 및 결합될 수도 있다. 특정 실시예에서, 자석 수단, 접착제, 코팅층 또는 패턴이 테스트 스트립 결합 수단에 부가하여 테스트 스트립과 연계될 수 있다.

상술한 바와 같이, 복수의 테스트 스트립의 테스트 스트립은 예로서, 결합 소자에 대향한 측면상에서 추가로 함께 가압되어 보다 파지 수단에 의한 파지를 보다 양호하게 할 수 있다(예로서, 도 7b 참조). 최상단 테스트 스트립이 복수체로부터 제거되고나면, 즉, 테스트 스트립 분배기로부터 제거되고 나면, 그후, 프로세스는 다음 순서의 테스트 스트립 또는 현재의 최상단 테스트 스트립에 대하여 반복될 수 있다.

또한, 테스트 스트립 분배기의 실질적인 기밀 및 방습 밀봉을 생성 및 유지하기 위한 방법이 제공되며, 여기서, 이런 밀봉은 테스트 스트립 분배기내에 보관된 습기 민감성 테스트 스트립을 보호한다. 실질적인 기밀 및 방습 밀봉은 하우징이 폐쇠된 위치일 때, 실질적인 공기 및/또는 습기가 하우징내로 도입하는 것을 하우징이 방지할 수 있다는 것을 의미한다. 달리 말해서, 정합된 구조에서, 하우징의 내측은 실질적으로 기밀 및 방습 환경이되며, 보다 명확하게는, 하우징이 폐쇄 구조일때, 하우징내의 테스트 스트립이 실질적인 기밀 및 방습 환경에 존재하게 된다. 후술된 실질적인 기밀 및 방습 밀봉을 달성하기 위한 방법 중 하나 이상이 사용될 수 있다.

본 방법의 일 특정 실시예에서, 실질적인 기밀 및 방습은 테스트 스트립 분배 장치의 덮개 및 베이스 조립체를 나사결합함으로써 달성된다. 특히, 덮개 조립체는 실질적인 원형 또는 우너통형 덮개의 내측 같은 덮개상에 위치된 나사를 구비하고, 베이스 조립체는 예로서, 베이스의 외측상에 위치된 대응 나사를 구비한다. 덮개와 베이스 조립체는 함께 정렬 또는 정합되어 폐쇄된 분배기를 형성하며, 일반적으로 덮개는 베이스의 일부, 즉, 나사를 가진 베이스의 영역이 덮게 내측에 존재하여, 하우징 외부의 표면이 일치되게 하도록 베이스의 일부를 둘러싸게 된다. 따라서, 대응 나사가 예로서, 1/4 회전, 1/2 회전, 3/4 회전 또는 완전한 1 회전이나 이회 이상의 회전 등에 의해 함께 나사결합되어, 덮개와 베이스의 나사를 함께 연계시켜 실질적인 기밀 및 방습 밀봉을 형성하게 한다. 상술한 바와 같이, 조립체들을 나사결합하는 것은 j작은 수동 토크로 그들 사이에 긴밀한 밀봉을 생성하도록 큰 또는 현저한 밀봉 압력 또는 힘이 밀봉면상에 생성될 수 있게 한다.

다른 실시예에서, 실질적인 기밀 및 방습 밀봉은 덮개 조립체내로 베이스 조립체를 긴밀하게 배치시킴으로써, 즉, 덮개 조립체와 베이스 조립체를 함께 마찰 결합시킴으로써 달성된다. 예로서, 상술한 바와 같은 배치 메카니즘은 베이스와 덮개 조립체들 사이의 긴밀한 접촉을 형성하도록 사용될 수 있다. 보다 명확하게, 덮개의 내측에 위치된 하나 이상의 돌출부가 베이스 조립체의 말단 에지 또는 리지와 인접하게 정합되고, 여기서, 이런 정합은 진밀한 밀봉, 즉, 실질적인 기밀 및 방습 밀봉을 형성한다.

실질적인 기밀 및 방습 밀봉을 형성 및 유지하기 위한 다른 상술한 방법에 부가하여, 또는 그 대신에, O-링 개스킷이 사용되어 베이스와 덮개 조립체 사이에긴밀한 접촉을 형성할 수 있다. 예로서, O-링은 덮개와 베이스가 폐쇄 위치에 있을 때, 긴밀한 접촉을 형성하도록 베이스 또는 덮개 상에 위치될 수 있다.

또한, 로크 및 키 메카니즘이 사용될 수 있다. 예로서, 내측 덮개상의 돌기가 베이스상의 대응 홈과 정렬 및 정합되거나, 그 반대가 되어, 조립체를 긴밀 접촉 구조로 고정할 수 있다. 두 조립체를 분리하기 위해서, 일 조립체가 다른 조립체로부터 멀어지는 방향으로 가압되어 홈으로부터 돌기를 "언로크"되게 한다. 예로서, 탭 또는 립이 돌기에 인접한 덮개 조립체상에, 예로서, 덮개 조립체의 외측상에 제공될 수 있다. 탭을 결합시키는 것은 돌기를 분리시키거나, 오히려 돌기를 베이스 조립체상의 그 대응홈 외측으로 이동시킨다. 그러나, 이 메카니즘을 "언로킹"하기 위한 다른 수단도 물론 사용될 수 있다.

다른 실시예에서, 스키 부츠를 고정 및 폐쇄하기 위해 사용되는 것(예로서, 본 명세서에서 그 내용을 참조하고 있는 미국 특허 제 6,145,168호 참조)과 유사한 인장 클램프를 사용하는 방법이 사용되어 실질적인 기밀 및 방습 밀봉을 형성할 수 있다. 따라서, 덮개와 베이스는 폐쇄 위치로 가져가지고, 예로서, 덮개의 외측상의 그립핑 아암이 예로서, 베이스의 외측상에 위치된 복수의 이빨 중 하나와 상호작용하게 된다. 그립핑 아암과 작동식으로 연계된 작동 아암을 이동시킴으로써, 인장이 발생되고, 즉, 힘이 적용되고, 덮개와 베이스가 함께 접근하여 폐쇄된, 긴밀한 접촉을 형성하게 되며, 이는 실질적인 기밀 및 방습성이다.

본 방법의 특정 실시예에서, 실질적인 기밀 및 방습 밀봉은 상술한 바와 같은 제 1 조립체(즉, 베이스 조립체 같은 제 1 조립체)의 밀봉 리지를 제 2 조립체(즉, 본 특정 실시예에서는 덮개)상의 대응 홈과 정합시키거나, 긴밀하게 끼우거나 위치치시킴으로써 실행 및 유지된다. 이와 같이, 덮개 조립체 같은 조립체의 밀봉면상에 위치된 수용 홈은 베이스 조립체 같은 정합 조립체상에 위치된 대응 밀봉 리지를 수용하고, 여기서, 이런 홈/리지 상호작용은 이들이 폐쇄 구조에 있을 때, 베이스와 덮개 조립체 사이에 실질적인 기밀 및 방습 밀봉을 제공한다.

키트

마지막으로, 본 방법을 실시하기 위한 키트가 제공된다. 본 키트는 적어도, 하나 이상의 본 발명의 테스트 스트립 분배 장치를 포함한다. 복수의 본 발명의 장치가 포함되는 경우가 많다. 본 발명의 키트는 또한, 하나 이상의 테스트 스트립, 일반적으로는 복수의 테스트 스트립을 포함한다. 키트는 테스트 스트립에 적용된 생리학적 샘플내의 하나 이상의 분석시료의 존재 및/또는 농도를 자동으로 판정하기 위한 측정계를 추가로 포함할 수 있다. 마지막으로, 키트는 테스트 스트립을 분배하기 위해 본 발명의 장치를 사용하기 위한 명령을 추가로 포함할 수 있고, 테스트 스트립에 적용된 생리학적 샘플내의 하나 이상의 분석시료의 존재 및/또는 농도를 판정하기 위한 명령을 또한 포함할 수 있다. 이 명령은 종이 또는 플라스틱 등 같은 기판상에 인쇄될 수 있다. 이와 같이, 명령들은 키트 또는 그 부품(예로서, 패키징 또는 서브 패키징과 연계된)의 용기의 라벨링시, 패키지 삽입체로서 키트내에 제공될 수 있다. 다른 실시예에서, 명령들은 예로서, CD-ROM, 디스켓 등의 적절한 컴퓨터 판독형 보관 매체상에 존재하는 전자 보관 데이터 파일로서 존재할 수 있다.

상술된 본 발명이 단순하고, 신속하며 편리한 방식으로 테스트 스트립을 분배할 수 있게 한다는 것은 상술한 설명으로부터 명백하다. 상술한 본 발명은 제조의 용이성 및 저비용화, 휴대성, 특히, 시각적으로 및 기민성이 손상된 개인들을 위한 사용의 용이성, 및 빛, 습기 및 사용자의 손으로부터의 기름 등을 포함하는 다른 환경적 오염물로부터의 테스트 스트립 손상의 최소화를 포함하는 다수의 장점을 제공하며, 본 발명의 장점은 이에 한정되지 않는다. 이와 같이, 본 발명은 본 기술 분야에 현저한 발전을 제공한다.

본 발명은 가장 실용적이고 양호한 실시예로서 간주되는 내용을 참조로 본 명세서에서 설명 및 예시되었다. 그러나, 본 기술 분야의 숙련자들은 본 발명의 범주로부터 벗어나지 않고 다양한 변형들을 이룰 수 있을 거싱다.

본 명세서에 기술된 특정 장치 및 방법은 예시일 뿐이며 제한의 의미를 갖는 것은 아니다. 본 기술 분야의 숙련자들이 쉽게 이룰 수 있는, 기술된 개념과 대등한 범위 및 의미 이내에서 이루어지는 변형들은 첨부된 청구항의 범주에 포함된다.

Claims (10)

1. 테스트 스트립을 보관하고, 한번에 하나의 테스트 스트립을 분배하기 위한 장치에 있어서,

   상기 장치는 하우징을 포함하고,

   상기 하우징은 덮개와,

   복수의 테스트 스트립들을 보관하도록 구성된 베이스를 포함하고,

   상기 베이스내에 보관된 각 테스트 스트립의 일부가 상기 베이스의 높이를 초과하여 연장하도록 상기 베이스의 높이는 각 테스트 스트립의 길이 보다 작으며,

   상기 베이스와 상기 덮개는 밀봉된 하우징을 제공하도록 정합될 수 있는 테스트 스트립 보관 및 분배 장치.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 베이스의 높이는 상기 각 테스트 스트립의 길이의 약 2/3 이상인 테스트 스트립 보관 및 분배 장치.
3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 베이스는 상기 보관된 테스트 스트립에 힘을 적용하기 위한 가압 소자를 추가로 포함하는 테스트 스트립 보관 및 분배 장치.
4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 베이스는 상기 보관된테스트 스트립을 분배에 적합한 배향으로 유지하기 위한 실질적인 평면형 강체판을 추가로 포함하는 테스트 스트립 보관 및 분배 장치.
5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 하우징은 상기 덮개를 상기 베이스와 정합시키도록 구성된 하나 이상의 부착 수단을 포함하는 테스트 스트립 보관 및 분배 장치.
6. 제 5 항에 있어서, 상기 하나 이상의 부착 수단은 나사 수단, O-링 개스킷, 로크 및 키 메카니즘, 인장 클램프 및 스냅 핏 메카니즘 중 하나 이상인 테스트 스트립 보관 및 분배 장치.
7. 제 6 항에 있어서, 상기 베이스는 상기 하우징으로부터 한번에 하나의 테스트 스트립을 분배하도록 구성된 테스트 스트립 결합 소자를 추가로 포함하는 테스트 스트립 보관 및 분배 장치.
8. 제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 하우징은 상기 덮개와 상기 베이스가 함께 정합될 때, 실질적인 기밀 및 방습 밀봉부를 포함하게 되는 테스트 스트립 보관 및 분배 장치.
9. 하나 이상의 테스트 스트립을 보관하고, 한번에 하나의 테스트 스트립을 분배하는 방법에 있어서,

   내부에 테스트 스트립의 적층체가 보관되어 있는 하우징을 제공하는 단계와,

   상기 적층체의 제 1 측면에 제 1 힘을 작용하는 단계와,

   상기 적층체의 대향한 제 2 측면에 제 2 대향력을 작용하는 단계와,

   상기 적층체로부터 멀어지는 방향으로 한번에 하나의 테스트 스트립을 이동시켜, 상기 단일 테스트 스트립이 상기 하우징으로부터 분배되게 하는 단계를 포함하는 테스트 스트립 보관 및 분배 방법.
10. 하나 이상의 테스트 스트립을 포함하고, 한번에 하나의 테스트 스트립을 분배하는 키트에 있어서,

    제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한항에 따른 하나 이상의 장치와,

    상기 하나 이상의 장치를 사용하기 위한 명령을 포함하는 테스트 스트립 분배 키트.