KR200297859Y1 - surface inspection illuminator - Google Patents
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Abstract
결함검사를 정확하게 수행가능하게 하고 발광소자들의 구동을 안정적으로 한 표면 검사용 조명장치에 대해 개시한다. 이 표면 검사용 조명장치는 중앙에 카메라(60) 촬영을 위한 중심구멍(41a)이 형성된 반구형의 통형지지대(41)와, 통형지지대(41)의 내주면에 마련되며 일정수의 구역(A)(B)으로 분할하여 분할된 구역(A)(B)에 선택적으로 전원을 공급하여 검사체(50)의 표면을 조사(照射)하는 복수의 발광소자들(42)로 구성된다.Disclosed is a lighting device for surface inspection which makes it possible to accurately perform defect inspection and makes driving of light emitting elements stable. This surface inspection lighting device is provided on a hemispherical cylindrical support 41 having a center hole 41a formed in the center for photographing the camera 60, and on the inner circumferential surface of the cylindrical support 41 and having a predetermined number of zones A ( It consists of a plurality of light emitting elements 42 which are divided into B) and selectively supply power to the divided areas A and B to irradiate the surface of the test object 50.
본 고안의 표면 검사용 조명장치는 복수의 발광소자들을 다수의 구역으로 분할하여서 각 구역별로 선택적으로 발광가능하게 함으로써, 결함부분에서 발생되는 명암대비로 인하여 검사체 표면에 발생된 결함 유무를 정확하게 검사할 수 있고, 복수의 발광소자들로부터 방출되는 구동열을 방열블럭에 의해 방열토록 함으로써, 조명장치의 구동을 안정적으로 수행가능하게 하고 또한 발광소자들의 수명을 대폭 연장가능하게 할 수 있다.The surface inspection lighting apparatus of the present invention divides a plurality of light emitting elements into a plurality of zones and selectively emits light in each zone, thereby accurately inspecting whether a defect is generated on the surface of the specimen due to contrast caused by a defect. By dissipating the driving heat emitted from the plurality of light emitting elements by the heat dissipation block, the driving of the lighting apparatus can be stably performed and the life of the light emitting elements can be greatly extended.
Description
본 고안은 반사조명에 의해 제품의 표면결함상태를 검사를 하는 표면 검사용 조명장치에 관한 것으로써, 특히 복수의 발광소자의 구동을 선택적으로 분할하여검사체에 조사하므로써 제품표면의 검사정밀도를 향상시킬 수 있고, 복수의 발광소자의 구동에 따라 발생되는 열을 신속하게 방열시킴으로써 발광소자의 구동을 안정적으로 하고 표면 검사용 조명장치에 관한 것이다.The present invention relates to a surface inspection lighting device that inspects a surface defect state of a product by reflecting light, and in particular, by selectively dividing the driving of a plurality of light emitting elements and irradiating the inspection object to improve the inspection precision of the surface of the product. The present invention relates to a lighting device for stably driving a surface of a light emitting device by rapidly dissipating heat generated by driving of a plurality of light emitting devices.
제품의 표면검사 등을 행하는 방법으로서, 저면에서 발광하는 조명장치를 사용하여 제품에 조광(照光)하고, 그 반사광을 그 조명장치 근방에 있어서 목시(目視) 또는 촬영 등을 행하여 검사하는 방법이 일반적으로 알려져 있다.As a method of inspecting the surface of a product, a method of illuminating the product using an illuminating device emitting light from the bottom surface and inspecting the reflected light by visual inspection or photographing in the vicinity of the illuminating device is generally performed. Known as
또한, 피검사체의 표면에 광도의 불균일없이 일정하게 조명할 수 있도록 한 조명장치가 알려져 있다.In addition, a lighting apparatus is known which enables to illuminate the surface of the inspected object constantly without uneven brightness.
그 일예가 한국 공개특허공보 제98-10099호에 개시되고 도 1에 그 일예의 조명장치가 도시되어 있다.An example thereof is disclosed in Korean Laid-Open Patent Publication No. 98-10099, and an example lighting apparatus is shown in FIG.
이 조명장치(4) 저면에는 복수의 LED등의 발광체(1)가 플렉시블 기판등의 굴곡가능한 프린트 배선기판(2)상의 절두원추(切頭圓錐) 오목면(2c)에 배치되어 있고, 조명케이스(3)가 기판(2)을 유지하고 있다.On the bottom of the illuminating device 4, a light emitting body 1 such as a plurality of LEDs is arranged on a frustoconical concave surface 2c on a flexible printed wiring board 2 such as a flexible substrate. (3) holds the substrate (2).
각 발광체(1)에는 상기 기판(2)을 통하여 전원케이블(5)에서 전력이 공급된다. 조명케이스(3)는 목시(目視) 혹은 촬영 등을 위한 중심공(32)과 상기 발광체(1) 및 기판(2)의 유지틀(33)을 가지고 있다.Each light emitter 1 is supplied with power from the power cable 5 via the substrate 2. The lighting case 3 has a central hole 32 for visual or photographing, and a holding frame 33 of the light emitter 1 and the substrate 2.
상기와 같은 조명장치는 프린트 배선기판을 사용하면 각 발광체 기판에의 식설작업이 배선작업을 겸하기 때문에, 각 발광체에 수배선을 실시하는 복잡한 작업이 생략되고 조립작업이 간편하다는 이점이 있지만 다음과 같은 문제점을 가진다.The above-described lighting apparatus has the advantage that, since a printed wiring board is used, the planting work on each light emitting substrate also serves as a wiring work, thus eliminating the complicated work of performing multiple wiring on each light emitting body and simplifying the assembly work. I have the same problem.
첫째, 복수의 발광체들이 동시에 발광됨으로써 표면결함 유무를 정확하게 판단할 수 없으며,First, it is impossible to accurately determine the presence of surface defects by emitting a plurality of light emitters at the same time,
둘째, 복수의 발광체들이 발광할 경우 발생열량이 증가되어 발광체의 동작이 원할하지 못하고 수명이 단축된다.Second, when a plurality of light emitters emit light, the amount of heat generated increases, which makes the operation of the light emitters undesirably shortened.
본 고안은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로써, 다음과 같은 목적을 가진다.The present invention was created to solve the above problems, and has the following objectives.
첫째, 복수의 발광소자들을 일정수의 구역으로 분할하고, 상호 인접된 분할구역의 발광소자들이 선택적으로 발광되도록 함으로써 검사체의 표면에 결함부분이 있는 경우 걸함부분을 중심으로 그 주변부분의 조도 차이가 발생되어 검사체 표면에 발생된 결함 유무의 판단을 향상시킬 수 있도록 한 표면 검사용 조명장치를 제공하는 데 있다.First, by dividing a plurality of light emitting elements into a predetermined number of zones, and selectively emitting light emitting elements of adjacent divisions, there is a difference in illuminance of the peripheral portion around the hanging portion when there is a defective portion on the surface of the test object. It is to provide a surface inspection lighting device that can be improved to improve the judgment of the presence or absence of defects generated on the surface of the test object.
둘째, 복수의 발광소자들이 발광됨에도 불구하고 발생되는 열을 신속하게 방열시켜서 발광소자들의 구동을 안정적으로 하고 수명을 연장시킬 수 있도록 개량된 표면 검사용 조명장치를 제공하는 데 있다.Second, even though a plurality of light emitting devices emit light, it is possible to provide heat improved lighting device for surface inspection that can quickly dissipate the heat generated to stabilize the driving of the light emitting devices and extend their lifespan.
도 1은 종래 조명장치를 나타낸 개략도,1 is a schematic view showing a conventional lighting device,
도 2는 본 고안 조명장치를 나타낸 개략도,2 is a schematic view showing the lighting device of the present invention,
도 3은 본 고안 조명장치에 채용되는 통형지지대를 저면에서 바라면 저면도,3 is a bottom view of the cylindrical support adopted in the present invention lighting device from the bottom,
도 4는 일부 구역의 발광소자들만 발광토록 하여 결함검사를 수행하는 상태를 설명하기 위한 개략도,4 is a schematic diagram for explaining a state in which defect inspection is performed so that only light emitting elements in a partial region emit light;
도 5는 검사체의 확대도이다.5 is an enlarged view of the test object.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
40...방열블럭 41...통형지지대40 ... heat-dissipating block 41 ... cylindrical support
42...발광소자 50...검사체42 Light emitting element 50 Test object
51...결함부분 60...카메라51 Defective 60 Camera
70...메인지지대 80...작업대70 ... Mainland Zone 80 ... Workbench
상기 목적을 달성하는 본 고안의 표면 검사용 조명장치는 중앙에 카메라 촬영을 위한 중심구멍이 형성되며 반구형의 통형지지대와,Lighting device for inspecting the surface of the present invention to achieve the above object is a center hole for camera shooting in the center and the hemispherical cylindrical support;
상기 통형지지대의 내주면에 마련되며, 일정수의 구역으로 분할하여 분할된 구역에 선택적으로 전원을 공급하여 검사체의 표면을 조사하는 복수의 발광소자들을 구비한 것을 특징으로 한다.It is provided on the inner circumferential surface of the cylindrical support, characterized in that it comprises a plurality of light emitting elements for dividing the predetermined number of zones and selectively supplying power to the divided zones to irradiate the surface of the test object.
상기 통형지지대는 상기 발광소자들로부터 발생된 열을 방출시키는 것을 특징으로 한다.The cylindrical support is characterized in that to release the heat generated from the light emitting elements.
상기 본 고안의 표면 검사용 조명장치는 상기 통형지지대의 외주면에 마련되며 상기 발광소자들로부터 발생된 열을 방출시키는 방열블럭을 더 구비한 것을 특징으로 한다.The surface inspection lighting apparatus of the present invention is provided on an outer circumferential surface of the cylindrical support and further comprises a heat dissipation block for dissipating heat generated from the light emitting elements.
이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 고안에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 고안 표면 검사용 조명장치는 MLCC(multiplayer ceramic capacitor), MCI (multiplayer ceramic chip inductor) 또는 R-chip(resistor chip)과 같은 유사한 검사체들에 있어 검사체 표면에 발생된 결함, 예를 들어 검사체 표면의 깨짐, 갈라짐, 파임 등의 결함 유무를 검사하는데 적용된다.The device for surface inspection of the present invention is a defect generated on the surface of the specimen in a similar specimen such as a multiplayer ceramic capacitor (MLCC), a multiplayer ceramic chip inductor (MCI) or a resistor chip (R-chip), for example, It is applied to inspect the presence of defects such as cracks, cracks and dents on the sieve surface.
특히, 본 고안은 검사체의 표면을 조사하는 복수의 발광소자들을 일정수의 구역으로 분할되고, 상호 인접된 분할구역의 발광소자들이 선택적으로 검사체의 표면에 조명을 조사하도록 하여 결함부분을 중심으로 명암의 차이가 발생되어 검사체결함 유무를 정확하게 판단할 수 있다.In particular, the present invention divides a plurality of light emitting elements irradiating the surface of the test object into a predetermined number of zones, and the light emitting elements of adjacent divisions selectively irradiate the surface of the test object to illuminate the center of the defective part. As a result of the difference in contrast, it is possible to accurately determine whether the test is defective.
도 2 내지 도 4를 참조하면, 본 고안의 표면 검사용 조명장치는 중앙에 카메라(60) 촬영을 위한 중심구멍(41a)이 형성된 반구형의 통형지지대(41)와, 상기 통형지지대(41)의 내주면에 마련되며 전원의 공급으로 발광되어 검사체(50)의 표면을 조사(照射)하는 복수의 발광소자들(42)을 구비하여 복수의 발광소자들(42)은 일정수의 구역으로 분할되고, 상호 인접된 분할구역의 발광소자들이 선택적으로 발광되도록 구성된다.2 to 4, the surface inspection lighting device of the present invention is a hemispherical cylindrical support 41 formed with a central hole 41a for taking a camera 60 in the center of the cylindrical support 41 It is provided on the inner circumferential surface and provided with a plurality of light emitting elements 42 to be emitted by the supply of power to irradiate the surface of the specimen 50, the plurality of light emitting elements 42 are divided into a predetermined number of zones The light emitting devices of the divided regions adjacent to each other are configured to selectively emit light.
통형지지대(41)는 발광소자들(42)로부터 발생된 열을 방출시킬 수 있는 구조를 가진다.The cylindrical support 41 has a structure capable of releasing heat generated from the light emitting elements 42.
또한 본 고안의 표면 검사용 조명장치는 상기 통형지지대(41)의 외주면에 마련되며 상기 발광소자들(42)로부터 발생된 열을 방열시키는 방열블럭(40)을 구비하여 된 구조를 가진다.In addition, the surface inspection lighting device of the present invention is provided on the outer peripheral surface of the cylindrical support 41 has a structure provided with a heat radiation block 40 for dissipating heat generated from the light emitting elements (42).
상기 카메라(60)는 하방향의 검사체(50)를 촬영하도록 메인지지대(70)에 지지되어 있으며, 상기 통형지지대(41)는 메인지지대(70)에 지지된 수평지지대(71)에 지지되어 있다. 수평지지대(71)에는 통형지지대(41)의 중심구멍(41a)과 연통하는 구멍이 형성되어서 카메라(60)에 의한 검사체(50)의 촬영이 가능하도록 되어 있다.The camera 60 is supported by the main support 70 so as to photograph the inspection object 50 in the downward direction, the cylindrical support 41 is supported by the horizontal support 71 supported by the main support 70. have. The horizontal support 71 is provided with a hole communicating with the center hole 41a of the cylindrical support 41, so that the photographing of the test object 50 by the camera 60 is possible.
또한 상기 검사체(50)는 작업대(80)에 안착되도록 되어 있으며, 작업대(80)는 검사체(50)를 이동시킬 수 있도록 레일(미도시)이 마련될 수 있다. 이 경우 복수의 검사체(50)를 이동시키면서 연속적인 검사를 가능하게 한다.In addition, the test piece 50 is to be seated on the work table 80, the work table 80 may be provided with a rail (not shown) to move the test piece 50. In this case, the continuous inspection is made possible by moving the plurality of inspection bodies 50.
상기 복수의 발광소자들(42)은 발광다이오드(Light Emiting Diode:LED)를 채용하였으며, 도 3에 도시된 바와 같이 발광소자들(42)은 일정수의 구역(A)(B)으로 분할하여서, 상호 인접된 분할구역(A)(B)의 발광소자들(42)만이 선택적으로 발광되게 하거나 또는 모든 발광소자들(42)이 발광되도록 되어 있다. 즉, 원하는 구역(A)(B)의 발광소자(42)들이 발광되도록 전원을 공급시킬 수 있도록 되어 있다.The plurality of light emitting elements 42 employ a light emitting diode (LED), and as shown in FIG. 3, the light emitting elements 42 are divided into a predetermined number of zones (A) and (B). In this case, only the light emitting elements 42 of the adjacent divisions A and B are allowed to selectively emit light, or all the light emitting elements 42 are made to emit light. That is, the power can be supplied so that the light emitting elements 42 in the desired areas A and B emit light.
도 5에 도시된 바와 같이 결함부분(51)의 좌측 표면(50a)과 우측표면(50b)의형상은 결함부분(51)을 경계로 하여 결함부분(51) 주위는 결함이 없는 정상의 검사체의 표면에 비해 높고, 결함부분(51)을 중심으로 좌측 또는 우측의 표면(50a,50b)은 결함부분의 주변 보다 낮게 된다. 따라서 도 4에 도시된 바와 같이, 결함부분(51)을 중심으로 일측방향에서만 조명이 될 수 있도록 제1구역(A)에 위치한 발광소자들(42)만이 발광되도록 제어되고, 제2구역(B)에 위치한 발광소자들(42)조명되지 않도록 제어할 경우 결함부분(51)을 경계로 하여 제1구역(A)에 위치한 발광소자들(42)의 발광에 의해 결함부분을 경계로 좌측 표면(50a)이 우측 표면(50b)에 비해 보다 많은 빛이 조사되어 카메라(60)로부터 검사체(50)의 표면에 반사되는 영상을 보면 결함부분을 경계로 좌측 표면(50a)이 우측 표면(50b)에 비해 밝은 것을 알 수 있다. 즉, 검사체의 표면에 발생된 결함부분(51)을 중심으로 명암차이가 선명하게 나타나게 된다.As shown in FIG. 5, the shape of the left surface 50a and the right surface 50b of the defective portion 51 is defined as the boundary of the defective portion 51, and a normal test object having no defects around the defective portion 51. The surface 50a, 50b of the left side or the right side of the defect part 51 is lower than the periphery of the defect part. Therefore, as shown in FIG. 4, only the light emitting elements 42 located in the first zone A are controlled to emit light so that only one side of the defect 51 is illuminated, and the second zone B is illuminated. When the light emitting elements 42 positioned at the light emitting element 42 are controlled so as not to be illuminated, the left surface of the light emitting elements 42 positioned at the defect area 51 at the boundary of the defective portion is formed by the light emission of the light emitting elements 42 located in the first zone A. When the light 50a is irradiated with more light than the right surface 50b and is reflected from the camera 60 to the surface of the test object 50, the left surface 50a is the right surface 50b at the boundary of the defect. It can be seen that bright compared to. In other words, the contrast between the defects 51 generated on the surface of the test object is clearly displayed.
따라서 카메라에 촬영된 검사체의 표면에 조사된 그림자 영상을 분석하여 명암차이가 발생되면 검사체의 표면에는 결함부분이 있다는 것을 판단하여 검사체를 불량처리할 수 있다.Therefore, when the contrast image is generated by analyzing the shadow image irradiated on the surface of the test object photographed by the camera, it is determined that there is a defective part on the surface of the test object, and the test object may be treated poorly.
도 3에서는 발광소자(42)들을 (A)구역과 (B)구역으로 분할하여 구획시켰지만, 상기 발광소자들(42)의 구역은 다양한 형태로 다수 분할하여 구획시킬 수 있으며, 다수 분할할 경우 보다 정밀하게 검사체의 표면 불량을 검출할 수 있다. 이 경우 검사체(50)의 결합부분(51)의 형성 위치에 따라 해당 구역을 발광시킴으로써 원하는 영상을 얻을 수 있다.In FIG. 3, the light emitting devices 42 are divided into sections (A) and (B), but the sections of the light emitting devices 42 may be divided into a plurality of sections in various forms. The surface defect of a test object can be detected precisely. In this case, a desired image can be obtained by emitting a corresponding area according to the formation position of the coupling part 51 of the test object 50.
발광소자들(42)은 오랜동안 켜놓으면 발열하게 되어 발광소자들(42)의 수명은 단축되므로 통형지지대(41)와 방열블럭(40)을 열전도율이 높은 알루미늄 등과 같이 열을 빠르게 방출할 수 있는 금속재질로 형성하여 발광소자들(42)의 점등에 의해 발생된 열을 통형지지대(41), 방열블럭(40), 수평지지대(71) 및 메인지지대(70)를 통해 외부로 빠르게 방출시킬 수 있도록 하여 발광소자들(42)의 수명을 대폭 연장시킬 수 있다.Since the light emitting elements 42 generate heat for a long time, the lifespan of the light emitting elements 42 is shortened, so that the cylindrical support 41 and the heat dissipation block 40 can quickly release heat such as aluminum having high thermal conductivity. Formed with a metal material, heat generated by the lighting of the light emitting elements 42 can be quickly released to the outside through the cylindrical support 41, the heat dissipation block 40, the horizontal support 71 and the main support 70. The lifespan of the light emitting elements 42 can be greatly extended.
이와 같이 검사체(50)의 결함부분(51)을 경계로 하여 명암의 대비가 되도록 조명하고 검사체에 표면으로 부터 반사되는 빛을 카메라에 의해 촬영함으로써, 검사체의 표면에 발생된 결함유무를 정확하게 판단할 수 있다.As described above, the defects 51 of the test object 50 are illuminated to be contrasted with contrast, and the light reflected from the surface of the test object is photographed by the camera to check whether there is a defect generated on the surface of the test object. You can judge accurately.
한편, 작업대(80)에 안착된 검사체(50)들은 레일(미도시)의 이동으로 함께 이동되어서 연속적인 검사작업을 가능하게 한다.On the other hand, the test body 50 seated on the work table 80 is moved together by the movement of the rail (not shown) to enable a continuous inspection work.
상술한 바와 같은 본 고안은 상기 실시예에 한정되지 아니하고 본원의 정신과 범위를 이탈함이 없이 많은 변형을 가하여 실시될 수 있음은 두말 할 것도 없다.It is needless to say that the present invention as described above is not limited to the above embodiments and can be carried out with many modifications without departing from the spirit and scope of the present application.
상술한 바와 같은 본 고안의 표면 검사용조명장치는 다음과 같은 이점을 가진다.Surface inspection lighting device of the present invention as described above has the following advantages.
첫째, 복수의 발광소자들을 다수의 구역으로 분할하여서 각 구역별로 선택적으로 발광가능하게 함으로써, 결함부분에서 발생되는 명암대비로 인하여 검사체 표면에 발생된 결함 유무를 정확하게 검사할 수 있다.First, by dividing the plurality of light emitting elements into a plurality of zones to selectively emit light for each zone, it is possible to accurately inspect the presence or absence of defects generated on the surface of the specimen due to the contrast generated in the defect portion.
둘째, 복수의 발광소자들로부터 방출되는 구동열을 방열블럭에 의해 방열토록 함으로써, 조명장치의 구동을 안정적으로 수행가능하게 하고 또한 발광소자들의 수명을 대폭 연장가능하게 한다.Second, by dissipating the driving heat emitted from the plurality of light emitting elements by the heat dissipation block, the driving of the lighting apparatus can be stably performed and the life of the light emitting elements can be greatly extended.
Claims (3)
Priority Applications (1)
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| KR2020020027233U KR200297859Y1 (en) | 2002-09-11 | 2002-09-11 | surface inspection illuminator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2020020027233U KR200297859Y1 (en) | 2002-09-11 | 2002-09-11 | surface inspection illuminator |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR200297859Y1 true KR200297859Y1 (en) | 2002-12-13 |
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ID=73084945
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| KR2020020027233U KR200297859Y1 (en) | 2002-09-11 | 2002-09-11 | surface inspection illuminator |
Country Status (1)
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| KR (1) | KR200297859Y1 (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| KR101392147B1 (en) | 2013-11-25 | 2014-05-08 | (주)엘파인 | Lighting apparatus for inspection |
| KR20180064669A (en) | 2016-12-06 | 2018-06-15 | 이승훈 | Dome type lighting device |
| KR102108724B1 (en) | 2019-03-07 | 2020-05-08 | 문준호 | inspection system using infrared light and visible light |
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2002
- 2002-09-11 KR KR2020020027233U patent/KR200297859Y1/en not_active IP Right Cessation
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| REGI | Registration of establishment | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20031128 Year of fee payment: 3 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |