KR102108724B1 - inspection system using infrared light and visible light - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 피 검사체에 적외선을 조사할 때와 가시광선을 조사할 때 각각 촬영을 진행하여 이물 및 긁힘 및 형상 불량을 효과적으로 검사하기 위한 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection system using infrared light and visible light, and more specifically, when irradiating infrared light to an object to be inspected and when irradiating visible light, photographing is performed to effectively inspect foreign objects, scratches, and shape defects. It relates to an inspection system using infrared and visible light.
과거 피 검사체의 이물 및 불량 여부를 검사하는 것은 작업자의 시각에 의존하여 진행되어 왔다.In the past, inspection of foreign objects and defects of the object to be inspected has been performed depending on the operator's perspective.
반면, 작업자의 숙련도나, 시각 능력에 따라 이물이나 불량의 판단 기준이 달라 검사 품질이 고르지 못한 문제점과 검사에 소요되는 시간이 오래 걸리는 문제점이 있었다.On the other hand, there are problems that the quality of inspection is uneven and the time required for inspection is long because the criteria for determining foreign matter or defects are different depending on the skill level and visual ability of the worker.
이후, 카메라를 이용하여 피 검사체를 촬영하고, 촬영된 이미지를 바탕으로 이물 및 불량 여부를 검사하는 비전 검사시스템이 개발되어 그 수요가 크게 증가하고 있다.Thereafter, a vision inspection system for photographing an object to be inspected using a camera and inspecting whether there are foreign substances and defects based on the photographed image has been developed, and the demand thereof is greatly increased.
반면, 비전 검사를 실시하면서, 가시광선을 조사하여 진행할 수 있는 검사에는 외형 검사나, 컬러 또는 명암 검사 등이 있으며, 표면에 형성된 각인이나, 지문과 같은 표면의 오염이나, 이물의 검사는 어려운 문제점이 있었다.On the other hand, while conducting a vision inspection, inspections that can be performed by irradiating visible light include appearance inspection, color or contrast inspection, etc., and it is difficult to inspect a foreign object, such as imprinting on the surface, contamination of a surface such as a fingerprint, or foreign matter. There was.
이에 따라, 한국등록실용신안 제20-0297859호 "표면 검사용 조명장치"과 같이 복수의 발광소자들을 다수의 구역으로 분할하여서 각 구역별로 선택적으로 발광시켜 결함부분에서 발생되는 명암대비를 이용하여 보다 정밀하게 검사체 표면에 발생된 결함 유무를 검사하기 위한 시스템이 개발되었다.Accordingly, by dividing a plurality of light emitting elements into a plurality of zones, such as the Korean Registered Utility Model No. 20-0297859 "Surface Inspection Lighting Device", it is possible to selectively emit light in each zone to use contrast contrast generated in the defect area. A system for precisely inspecting the presence or absence of defects generated on the surface of an object has been developed.
하지만, 여전히 피 검사체의 이물이나, 오염, 표면의 긁힘, 표면에 형성된 각인의 품질을 정확하게 구분하지 못하고, 피 검사체의 전 방위에 걸친 검사가 어려운 문제점이 있었다.However, there is still a problem in that it is difficult to accurately distinguish the quality of the foreign matter, contamination, scratches on the surface, and the quality of the imprint formed on the surface, and it is difficult to inspect the entire direction of the object.
이에 따라, 피 검사체의 이물이나, 오염, 표면의 긁힘, 표면에 형성된 각인의 품질을 전 방위에 걸쳐 검사를 실시하기 위한 기술 개발의 필요성이 제기되고 있다.Accordingly, there is a need to develop a technique for inspecting foreign objects, contamination, scratches on the surface, and quality of imprints formed on the surface of the object to be inspected in all directions.
본 발명의 목적은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 피 검사체의 이물이나, 표면의 긁힘, 각인의 정상 여부를 정확하게 구분하기 위한 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템을 제공하는 것이다.An object of the present invention is to solve the problems as described above, and to provide an inspection system using infrared light and visible light to accurately distinguish whether a foreign object, a surface scratch, or imprinting is normal. .
본 발명의 다른 목적은 피 검사체의 전 방위에 걸친 검사를 진행하기 위한 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide an inspection system using infrared rays and visible light for conducting inspections across all directions of a subject.
상기 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템은 피 검사체가 올려지는 원판 형태의 투명 유리 재질로 구성되어 회전을 통해 피 검사체를 이송시키기 위한 회전 테이블과 상기 회전 테이블에 올려진 피 검사체에 적외선과 가시광선을 교번하여 조사하는 조명과 상기 조명이 적외선을 조사할 때와 가시광선을 조사할 때 각각 촬영을 진행하는 촬영부와 상기 촬영부를 통해 촬영된 이미지 중 적외선이 조사되었을 때 촬영된 이미지를 바탕으로 이물을 검사하고, 가시광선이 조사되었을 때 촬영된 이미지를 바탕으로 긁힘 및 형상 불량을 검사하기 위한 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the inspection system using infrared light and visible light according to the present invention is composed of a transparent glass material in the form of a disc on which the object is placed, and the rotation table and the rotation table for transporting the object through rotation. The infrared light among the images photographed through the photographing unit and the photographing unit performing photographing when the irradiated infrared light and the visible light are alternately irradiated onto the inspected object, and when the illumination irradiates infrared light and the visible light is irradiated respectively. It characterized in that it comprises a control unit for inspecting foreign objects based on the image photographed when irradiated, and scratching and shape defects based on the image photographed when visible light is irradiated.
또한, 상기 조명은 적외선용 LED와 가시광선용 LED가 배열된 발광부와 상기 발광부로부터 조사되는 적외선 또는 가시광선을 피 검사체를 향해 반사시켜주기 위해 경사지게 배치된 하프미러를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.In addition, the illumination is composed of a light emitting unit in which an LED for infrared light and an LED for visible light are arranged, and a half mirror disposed obliquely to reflect infrared or visible light irradiated from the light toward the object under test. Is done.
또한, 피 검사체가 올려지는 원판 형태의 투명 유리 재질로 구성되어 회전을 통해 피 검사체를 이송시키기 위한 회전 테이블과 상기 회전 테이블에 올려진 피 검사체의 하부에서 적외선과 가시광선을 교번하여 조사하는 제1 조명과 상기 조명이 적외선을 조사할 때와 가시광선을 조사할 때 각각 피 검사체의 하면을 촬영하는 제1 촬영부와 상기 회전 테이블에 의해 이송된 피 검사체의 하부에서 적외선과 가시광선을 교번하여 조사하는 제2 조명과 상기 제2 조명이 적외선을 조사할 때와 가시광선을 조사할 때 각각 피 검사체의 측면을 촬영하는 제2 촬영부와 상기 회전 테이블에 의해 이송된 피 검사체의 상부에서 적외선과 가시광선을 교번하여 조사하는 제3 조명과 상기 제3 조명이 적외선을 조사할 때와 가시광선을 조사할 때 각각 피 검사체의 상면을 촬영하는 제3 촬영부와 상기 제1 촬영부, 제2 촬영부, 제3 촬영부를 통해 촬영된 이미지 중 적외선이 조사되었을 때 촬영된 이미지를 바탕으로 이물을 검사하고, 가시광선이 조사되었을 때 촬영된 이미지를 바탕으로 긁힘 및 형상 불량을 검사하기 위한 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, it is composed of a transparent glass material in the form of a disc on which the object is placed, and alternately irradiates infrared light and visible light alternately from a rotating table for transporting the object through rotation and a lower part of the object placed on the rotation table. When the first illumination and the illumination irradiate infrared rays and when irradiating visible light, infrared rays and visible rays are radiated from the lower portion of the subject transferred by the first imaging unit and the rotary table, respectively, to photograph the lower surface of the subject. The second illumination unit irradiating alternately and the second illumination unit that irradiates infrared rays and irradiates visible light when irradiated with infrared rays. In the upper portion of the third light irradiating the infrared light and visible light alternately, and when the third light is irradiating infrared light and when irradiating visible light, respectively Zero-zero inspects foreign objects based on the captured image when infrared rays are irradiated from the third photographing unit and the images photographed through the first photographing unit, the second photographing unit, and the third photographing unit, and photographs when visible light is irradiated It characterized in that it comprises a control unit for inspecting scratches and shape defects based on the image.
또한, 상기 제2 촬영부는 피 검사체의 전면, 좌측면, 우측면, 배면을 촬영하기 위해 4면 방향에 각각 배치되는 복수 개의 카메라로 구성된 것을 특징으로 한다.In addition, the second photographing unit is characterized in that it consists of a plurality of cameras each disposed in a four-sided direction to photograph the front, left, right, and back surfaces of the subject.
또한, 피 검사체가 이송되는 컨베이어와 상기 컨베이어에서 피 검사체를 픽업하여 회전 테이블에 올려주기 위한 공급부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, it characterized in that it further comprises a conveyor for transporting the object to be inspected and a supply unit for picking up the object from the conveyor and placing it on a rotating table.
또한, 회전 테이블에 올려진 상태로 검사가 완료된 피 검사체를 픽업하여 배출시키기 위한 배출부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, it characterized in that it further comprises a discharge portion for picking up and discharging the inspected object, which has been inspected, while being placed on a rotating table.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템에 의하면, 피 검사체에 적외선과 가시광선을 교번하여 조사하면서 각각 촬영을 진행하여 피 검사체의 이물이나, 표면의 긁힘, 각인의 정상 여부를 정확하게 구분할 수 있는 효과가 있다.As described above, according to the inspection system using infrared light and visible light according to the present invention, the infrared light and visible light are alternately irradiated to the subject to be irradiated, and photographing is carried out, respectively. There is an effect that can accurately distinguish whether or not.
또한, 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템에 의하면, 피 검사체의 전 방위에 걸쳐 검사를 진행할 수 있는 효과가 있다.In addition, according to the inspection system using infrared and visible light according to the present invention, there is an effect that can be carried out over the entire orientation of the object to be tested.
도 1은 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템을 도시한 사시도.
도 2는 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템의 조명 및 촬영부를 도시한 도면.
도 3은 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템의 제2 촬영부를 도시한 도면.
도 4는 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템의 제1 조명 및 제1 촬영부를 도시한 도면.
도 5 또는 도 6은 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템의 촬영부를 통해 촬영된 이미지를 도시한 도면.
도 7은 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템의 다른 실시예에 따른 제2 촬영부를 도시한 도면.
도 8은 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템의 공급부를 도시한 도면.1 is a perspective view showing an inspection system using infrared and visible light according to the present invention.
2 is a view showing a lighting and imaging unit of the inspection system using infrared and visible light according to the present invention.
3 is a view showing a second imaging unit of the inspection system using infrared and visible light according to the present invention.
4 is a view showing a first illumination and a first imaging unit of the inspection system using infrared and visible light according to the present invention.
5 or 6 is a view showing an image taken through the imaging unit of the inspection system using infrared and visible light according to the present invention.
7 is a view showing a second imaging unit according to another embodiment of the inspection system using infrared and visible light according to the present invention.
8 is a view showing a supply unit of the inspection system using infrared and visible light according to the present invention.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템을 도시한 사시도이며, 도 2는 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템의 조명 및 촬영부를 도시한 도면이고, 도 3은 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템의 제2 촬영부를 도시한 도면이며, 도 4는 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템의 제1 조명 및 제1 촬영부를 도시한 도면이고, 도 5 또는 도 6은 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템의 촬영부를 통해 촬영된 이미지를 도시한 도면이며, 도 7은 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템의 다른 실시예에 따른 제2 촬영부를 도시한 도면이고, 도 8은 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템의 공급부를 도시한 도면이다.1 is a perspective view showing an inspection system using infrared and visible light according to the present invention, Figure 2 is a view showing a lighting and imaging unit of the inspection system using infrared and visible light according to the present invention, Figure 3 is a view FIG. 4 is a view showing a second imaging unit of the inspection system using infrared and visible light according to the invention, and FIG. 4 is a view showing a first lighting and first imaging unit of the inspection system using infrared and visible light according to the present invention, 5 or 6 is a view showing an image taken through the imaging unit of the inspection system using infrared and visible light according to the present invention, Figure 7 is another embodiment of an inspection system using infrared and visible light according to the present invention 8 is a view showing a second photographing unit according to the present invention, and FIG. 8 is a view showing a supply unit of an inspection system using infrared and visible light according to the present invention.
도 1은 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템을 도시한 것이며, 피 검사체가 올려지는 원판 형태의 투명 유리 재질로 구성되어 회전을 통해 피 검사체를 이송시키기 위한 회전 테이블(1)과 상기 회전 테이블(1)에 올려진 피 검사체에 적외선과 가시광선을 교번하여 조사하는 조명(2)과 상기 조명(2)이 적외선을 조사할 때와 가시광선을 조사할 때 각각 촬영을 진행하는 촬영부(3)와 상기 촬영부(3)를 통해 촬영된 이미지 중 적외선이 조사되었을 때 촬영된 이미지를 바탕으로 이물을 검사하고, 가시광선이 조사되었을 때 촬영된 이미지를 바탕으로 피 검사체의 이물이나, 표면의 긁힘, 각인의 정상 여부를 검사하기 위한 제어부(미도시)를 포함하여 구성된다.1 shows an inspection system using infrared and visible light according to the present invention, and is composed of a transparent glass material in the form of a disc on which the object is placed, and a rotating table 1 for transporting the object through rotation The illumination (2) for irradiating alternating infrared and visible light to the subject to be placed on the rotating table (1) and the illumination (2) for irradiating infrared light and for irradiating visible light, respectively. Of the images photographed through the photographing
또한, 상기 회전 테이블(1)로 피 검사체를 공급하기 위해서, 피 검사체가 이송되는 컨베이어(6)와 상기 컨베이어(6)에서 피 검사체를 픽업하여 회전 테이블(1)에 올려주기 위한 공급부(4)를 더 포함하여 구성될 수도 있다.In addition, in order to supply the test object to the rotary table 1, a supply unit for picking up the test object from the
또한, 회전 테이블(1)에 올려진 상태로 검사가 완료된 피 검사체를 픽업하여 배출시키기 위한 배출부(5)를 더 포함할 수도 있으며, 상기 공급부(4) 및 배출부(5)는 피 검사체를 진공 흡착을 통해 픽업하도록 구성됨이 바람직하다.In addition, it may further include a discharge portion 5 for picking up and discharging the inspected object which has been inspected while being put on the rotating table 1, and the
도 2는 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템의 조명 및 촬영부를 도시한 것이며, 상기 조명(21, 22, 23)은 촬영부(31, 32, 33)와 셋트로 구성된다.Figure 2 shows the lighting and imaging unit of the inspection system using infrared and visible light according to the present invention, the lighting (21, 22, 23) is composed of a set of imaging units (31, 32, 33).
보다 상세하게는, 상기 회전 테이블(1)에 올려진 피 검사체의 하부에서 적외선과 가시광선을 교번하여 상향으로 조사하는 제1 조명(21)과 상기 조명(21)이 적외선을 조사할 때와 가시광선을 조사할 때 각각 피 검사체의 하면을 촬영하는 제1 촬영부(31)를 기본으로 하며, 상기 회전 테이블(1)의 회전에 의해 이송된 피 검사체의 하부에서 적외선과 가시광선을 교번하여 상향으로 조사하는 제2 조명(22)과 상기 제2 조명(22)이 적외선을 조사할 때와 가시광선을 조사할 때 각각 피 검사체의 측면을 촬영하는 제2 촬영부(32)와 상기 회전 테이블(1)의 회전에 의해 다시 이송된 피 검사체의 상부에서 적외선과 가시광선을 교번하여 하향으로 조사하는 제3 조명(23)과 상기 제3 조명(23)이 적외선을 조사할 때와 가시광선을 조사할 때 각각 피 검사체의 상면을 촬영하는 제3 촬영부(33)를 더 포함하여 구성될 수도 있다.In more detail, when the
또는, 제1 조명(21)과 제1 촬영부(31), 제2 조명(22)과 제2 촬영부(32), 제3 조명(23)과 제3 촬영부(33)로 구성된 3개의 셋트 중 적어도 어느 하나를 포함하여 구성될 수 있는 것이며, 상기 제어부는 상기 제1 촬영부(31), 제2 촬영부(32), 제3 촬영부(33)를 통해 촬영된 이미지 중 적외선이 조사되었을 때 촬영된 이미지를 바탕으로 이물을 검사하고, 가시광선이 조사되었을 때 촬영된 이미지를 바탕으로 피 검사체의 이물이나, 표면의 긁힘, 각인의 정상 여부를 전 방위에 걸쳐 검사하게 된다.Or, the
또한, 제1 조명(21)과 제1 촬영부(31), 제2 조명(22)과 제2 촬영부(32), 제3 조명(23)과 제3 촬영부(33)로 구성된 3개의 셋트가 배치되는 순서는 달라질 수 있으나, 검사 진행 속도를 향상시키기 위해서는 상기 공급부가 상기 회전 테이블(1)에 피 검사체를 올려놓는 위치에 제1 조명(21)과 제1 촬영부(31)가 위치하거나, 상기 배출부가 상기 회전 테이블(1)에 피 검사체를 픽업하는 위치에 제1 조명(21)과 제1 촬영부(31)가 위치하도록 구성됨이 바람직하다.In addition, the
또한, 도 2 또는 도 3에 도시된 바와 같이 상기 제2 촬영부(32)는 피 검사체의 전면, 좌측면, 우측면, 배면을 촬영하기 위해 4면 방향에 각각 배치되는 복수 개의 카메라(30)로 구성되며, 회전 테이블(1)의 하부에 배치된 제2 조명(22)이 상향으로 적외선과 가시광선을 교번하여 조사하도록 구성된다.In addition, as shown in FIG. 2 or 3, the
상기 제2 촬영부(32)는 도 5의 (5-II)에 도시된 바와 같이 피 검사체의 전면, 좌측면, 우측면, 배면을 촬영하고, 상기 제어부는 촬영된 이미지 중 적외선이 조사되었을 때 촬영된 이미지를 바탕으로 이물을 검사하고, 가시광선이 조사되었을 때 촬영된 이미지를 바탕으로 피 검사체의 이물이나, 표면의 긁힘, 각인의 정상 여부를 4개 방위에 걸쳐 검사하게 된다.The second photographing
또한, 상기 제2 조명(22)과 제2 촬영부(32)와 같이 피 검사체를 중심으로 조명과 촬영부가 상, 하로 배치되지 않고, 도 2 또는 도 4에 도시된 바와 같이 제1 조명(21)과 제1 촬영부(31)와 같이 조명과 촬영부가 같은 방향에 설치될 경우에는 상기 조명(21)이 적외선용 LED(11a)와 가시광선용 LED(11b)가 배열된 발광부(11)와 상기 발광부(11)로부터 조사되는 적외선 또는 가시광선을 피 검사체를 향해 반사시켜주기 위해 경사지게 배치된 하프미러(12)를 포함하여 구성되고, 그 하부에 제1 촬영부(31)가 배치되어 제1 촬영부(31)가 하프미러(12)를 거쳐 도 5의 (5-I)에 도시된 바와 같이 피 검사체(10)의 하면을 촬영하게 된다.In addition, as in the
또한, 제3 조명(23)과 제3 촬영부(33)도 상기 제1 조명(21)과 제1 촬영부(31)와 대칭되는 형태로 피 검사체의 상부에 위치하여 도 6에 도시된 바와 같이 피 검사체(10)의 상면을 촬영하게 되며, 적외선과 가시광선을 교번하여 조사함으로써 형상 검사를 진행하면서 동시에 지문과 같은 이물검출이나, 표면의 코팅 및 도색의 정상 여부도 검출할 수 있다.In addition, the
도 7은 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템의 다른 실시예에 따른 제2 촬영부를 도시한 것이며, 상기 제2 촬영부는 회전 테이블(1)의 하부에 배치된 제2 조명(22)을 통해 상향으로 조사되는 적외선과 가시광선을 피 검사체의 상부로 반사시키기 위한 복수 개의 반사부(34)를 더 포함하도록 구성될 수도 있다.7 is a view showing a second photographing unit according to another embodiment of the inspection system using infrared and visible light according to the present invention, the second photographing unit is a
보다 상세하게는, 상기 반사부(34)는 제2 촬영부를 구성하는 각 카메라(30)의 하부에 배치되어 제2 조명(22)을 통해 상향으로 조사된 적외선 또는 가시광선을 피 검사체(10)의 상부로 반사시키게 되며, 피 검사체(10)의 상부에 조사된 적외선 또는 가시광선은 피 검사체의 상면을 통해 맞은편에 배치된 카메라(30)를 향해 반사된다.More specifically, the
이를 통해 상기 제2 촬영부(32)는 피 검사체의 측면과 함께 상면을 동시에 검사할 수 있게 된다.Through this, the second photographing
도 8은 본 발명에 따른 적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템의 공급부의 실시예를 도시한 것이며, 컨베이어(6)를 통해 이송된 피 검사체(10)를 공급부(4)가 순차적으로 픽업하여 회전 테이블(1)에 올려놓음으로써, 순차적으로 연속하여 검사가 실시된다.8 shows an embodiment of a supply part of an inspection system using infrared and visible light according to the present invention, and the
이상과 같이 본 발명은 첨부된 도면을 참조하여 바람직한 실시예를 중심으로 기술되었지만 당업자라면 이러한 기재로부터 본 발명의 범주를 벗어남이 없이 많은 다양한 자명한 변형이 가능하다는 것은 명백하다. 따라서 본 발명의 범주는 이러한 많은 변형의 예들을 포함하도록 기술된 청구범위에 의해서 해석되어져야 한다.As described above, the present invention has been described based on preferred embodiments with reference to the accompanying drawings, but it is apparent to those skilled in the art that many various obvious modifications are possible without departing from the scope of the present invention. Therefore, the scope of the invention should be construed by the claims set forth to cover examples of many of these variations.
1 : 회전 테이블
2 : 조명
3 : 촬영부
4 : 공급부
5 : 배출부
10 : 피 검사체
11 : 발광부
12 : 하프미러
21 : 제1 조명
22 : 제2 조명
23 : 제3 조명
30 : 카메라
31 : 제1 촬영부
32 : 제2 촬영부
33 : 제3 촬영부
34 : 반사부1: rotating table
2: Lighting
3: filming unit
4: Supply part
5: outlet
10: test subject
11: light emitting part
12: half mirror
21: 1st lighting
22: second light
23: third light
30: camera
31: first filming unit
32: second shooting unit
33: third shooting unit
34: reflector
Claims (6)
상기 회전 테이블에 올려진 피 검사체의 하부에서 적외선과 가시광선을 교번하여 조사하는 제1 조명과;
상기 조명이 적외선을 조사할 때와 가시광선을 조사할 때 각각 피 검사체의 하면을 촬영하는 제1 촬영부와;
상기 회전 테이블에 의해 이송된 피 검사체의 하부에서 적외선과 가시광선을 교번하여 조사하는 제2 조명과;
상기 제2 조명이 적외선을 조사할 때와 가시광선을 조사할 때 각각 피 검사체의 측면을 촬영하는 제2 촬영부와;
상기 회전 테이블에 의해 이송된 피 검사체의 상부에서 적외선과 가시광선을 교번하여 조사하는 제3 조명과;
상기 제3 조명이 적외선을 조사할 때와 가시광선을 조사할 때 각각 피 검사체의 상면을 촬영하는 제3 촬영부와;
상기 제1 촬영부, 제2 촬영부, 제3 촬영부를 통해 촬영된 이미지 중 적외선이 조사되었을 때 촬영된 이미지를 바탕으로 이물을 검사하고, 가시광선이 조사되었을 때 촬영된 이미지를 바탕으로 긁힘 및 형상 불량을 검사하기 위한 제어부를 포함하며,
상기 제1 조명, 제2 조명, 제3 조명은 적외선용 LED와 가시광선용 LED가 교번하여 배열되어 있으며,
상기 제2 촬영부는
피 검사체의 전면, 좌측면, 우측면, 배면을 촬영하기 위해 4면 방향에 각각 피 검사체를 향해 하향으로 경사지게 배치되는 복수 개의 카메라와;
각 카메라의 하부에 배치되어 제2 조명을 통해 상향으로 조사되는 적외선과 가시광선을 피 검사체의 상부로 반사시키기 위한 복수 개의 반사부로 구성되어,
각 반사부의 맞은편에 배치된 카메라가 피 검사체의 측면과 함께 상면을 동시에 검사할 수 있는 것을 특징으로 하는
적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템.
It is composed of a transparent glass material in the form of a disc on which the object is placed, and a rotation table for transporting the object through rotation;
A first illumination alternately irradiating infrared light and visible light from a lower portion of the subject to be placed on the rotating table;
A first photographing unit which photographs a lower surface of the object to be inspected when the illumination is irradiated with infrared light and irradiated with visible light;
A second illumination alternately irradiating infrared light and visible light at a lower portion of the object to be transported by the rotating table;
A second photographing unit for photographing a side surface of the object to be inspected when the second illumination is irradiated with infrared light and irradiated with visible light;
A third illumination alternately irradiating infrared light and visible light from an upper portion of the object to be transported by the rotating table;
A third photographing unit which photographs an upper surface of the object to be inspected when the third illumination is irradiated with infrared light and irradiated with visible light;
Among the images photographed through the first photographing unit, the second photographing unit, and the third photographing unit, a foreign material is inspected based on the photographed image when infrared rays are irradiated, and scratches and scratches are made based on the photographed image when visible light is irradiated It includes a control unit for inspecting the shape defect,
In the first illumination, the second illumination, and the third illumination, infrared LEDs and visible LEDs are alternately arranged.
The second photographing unit
A plurality of cameras which are respectively inclined downward toward the subject to be inspected in four directions in order to photograph the front, left, right, and back surfaces of the subject;
It is disposed on the lower part of each camera and is composed of a plurality of reflectors for reflecting infrared rays and visible light irradiated upward through the second illumination to the upper part of the subject,
Characterized in that a camera disposed opposite each reflector can simultaneously inspect the top surface together with the side surface of the subject to be inspected.
Inspection system using infrared and visible light.
피 검사체가 이송되는 컨베이어와;
상기 컨베이어에서 피 검사체를 픽업하여 회전 테이블에 올려주기 위한 공급부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는
적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템.
According to claim 3,
A conveyor to be transported;
It characterized in that it further comprises a supply unit for picking up the object to be tested from the conveyor and putting it on a rotating table.
Inspection system using infrared and visible light.
회전 테이블에 올려진 상태로 검사가 완료된 피 검사체를 픽업하여 배출시키기 위한 배출부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는
적외선과 가시광선을 이용한 검사시스템.
According to claim 3,
It characterized in that it further comprises a discharge portion for picking up and discharging the object to be inspected has been inspected in a raised state on a rotating table
Inspection system using infrared and visible light.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020190026539A KR102108724B1 (en) | 2019-03-07 | 2019-03-07 | inspection system using infrared light and visible light |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020190026539A KR102108724B1 (en) | 2019-03-07 | 2019-03-07 | inspection system using infrared light and visible light |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR102108724B1 true KR102108724B1 (en) | 2020-05-08 |
Family
ID=70678094
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| KR (1) | KR102108724B1 (en) |
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2019
- 2019-03-07 KR KR1020190026539A patent/KR102108724B1/en active IP Right Grant
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