KR200268613Y1 - 엠오에프 자동결상검출장치 - Google Patents

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KR200268613Y1
KR200268613Y1 KR2020010036404U KR20010036404U KR200268613Y1 KR 200268613 Y1 KR200268613 Y1 KR 200268613Y1 KR 2020010036404 U KR2020010036404 U KR 2020010036404U KR 20010036404 U KR20010036404 U KR 20010036404U KR 200268613 Y1 KR200268613 Y1 KR 200268613Y1
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이영철
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이화전기통신 주식회사
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Abstract

본 고안은 전류 결상 발생시 정확하고, 신속히 결상 검출을 제공키 위한 것으로서, CT출력 및 센서회로-비교검출회로-보상회로-NAND회로-타이머회로-표시, 경보, 복귀회로로 구성된 MOF 자동결상 검출장치를 제공함에 그 목적이 있다.
본 고안의 목적은 배전선로의 각 상의 선로에 연결된 제 1 내지 제 3 입력단자(1S, 2S, 3S)에 링코어형 전류 트랜스센서(CTS)를 각각 직렬연결하고, 각 링코어형 전류 트랜스센서(CTS)에 비교검출 집적회로장치(IC1, IC1',IC1")를 각각 직렬연결하고, 비교검출 집적회로장치(IC1,IC1',IC1")의 출력단에 각 다이오드(D3,D3',D3")와 저항(R4,R4',R4")을 각각 직렬연결하고, 각 다이오드(D3,D3',D3")와 저항(R4,R4',R4")사이에 컨덴서(C1,C1',C1")를 병렬연결하며, 저항(R4,R4',R4")에 비교검출 집적회로장치(IC2)를 직렬연결하고, 비교검출 집적회로장치(IC2)에 발광다이오드(LED1,LED1',LED1")를 병렬연결하고, 각 비교검출 집적회로장치(IC2)의 출력단을 NAND집적회로장치(IC3)에 연결하며, NAND 집적회로장치(IC3)의 출력단에 타이머 집적회로장치(IC4)에 연결하며, 타이머 집적회로장치(IC4)의 출력측에 타임 선택스위치(SW1)를 연결하여 선택스위치(SW1)의 선택에 따라 시리스터(SCR)의 구동에 의해 동작하도록 발광다이오드(LED2)와 부저(B)를 연결하는 것을 특징으로 하다.

Description

엠오에프 자동결상검출장치 {Apparatus for automatic open phase detection of MOF}
본 고안은 엠오에프(Mettring Out Fit : 이하 'MOF'라 약칭함) 전류 결상기에 관한 것으로, 배전선로에 있어서, 결상을 자동으로 검출하기 위한 MOF 자동결상 검출장치에 관한 것이다.
종래기술에 따른 가공 배치선로는 낙뇌 또는 외부에서 발생된 개페써지의 침입으로 인하여 MOF의 전압 및 전류의 결상이 빈번히 발생하여 전력량계가 전력량을 제대로 계량하지 못하여 배전 손실을 유발하는 원인이 되고 있으나, 고장 결상이 어느 시점에 발생하였을시 고장을 발견하기까지는 전혀 알 수 없었던 문제점이 있었다.
다만 최근에 있어서 전압결상이 발생한 경우에는 MOF 2차 전압분의 각상의 단자(P1, P2, P3)에 발광다이오드를 연결하여 중성점에 결합시키므로서 결상이 발생하게 되면 결상이 발생된 축의 단자에 연결된 발광다이오드가 소등되므로 극히 간단하고 쉽게 전압 결상을 검출하는 방법이 이용되고 있으나, 전류 결상시는 이를 쉽게 검출할 수 없는 문제점이 있었다.
따라서 본 고안은 이와 같은 전류 결상 발생시 정확하고, 신속히 결상 검출을 제공키 위한 것으로서, CT출력 및 센서회로-비교검출회로-보상회로-NAND회로-타이머회로-표시, 경보, 복귀회로로 구성된 MOF 자동결상 검출장치를 제공함에 그 목적이 있다.
도 1은 본 고안에 따른 MOF 자동결상 검출장치의 회로도.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
1s,2s,3s : 입력단자 CTS : 링코어형 전류 트랜스 센서
R1∼R8: 저항 C1∼C3: 콘덴서
D1-D5: 다이오드 LED1-LED2: 발광 다이오드
SW1-SW2: 스위치 IC1-IC4: 집적회로장치
B : 부저 CH : 초크코일
SCR : 시리스터
본 고안의 목적을 달성하기 위한 MOF 자동결상 검출장치는 배전선로의 각 상의 선로에 연결된 제 1 내지 제 3 입력단자(1S, 2S, 3S)에 링코어형 전류 트랜스센서(CTS)를 각각 직렬연결하고, 상기 각 링코어형 전류 트랜스센서(CTS)에 비교검출 집적회로장치(IC1, IC1',IC1")를 각각 직렬연결하고, 상기 각 비교검출 집적회로장치(IC1,IC1',IC1")의 출력단에 각 다이오드(D3,D3',D3")와 저항(R4,R4',R4")을 각각 직렬연결하고, 상기 각 다이오드(D3,D3',D3")와 저항(R4,R4',R4")사이에 컨덴서(C1,C1',C1")를 병렬연결하며, 상기 각 저항(R4,R4',R4")에 비교검출 집적회로장치(IC2)를 직렬연결하고, 상기 비교검출 집적회로장치(IC2)에 발광다이오드(LED1,LED1',LED1")를 병렬연결하고, 상기 각 비교검출 집적회로장치(IC2)의 출력단을 NAND집적회로장치(IC3)에 연결하며, 상기 NAND 집적회로장치(IC3)의 출력단에 타이머 집적회로장치(IC4)에 연결하며, 타이머 집적회로장치(IC4)의 출력측에 타임 선택스위치(SW1)를 연결하여 상기 선택스위치(SW1)의 선택에 따라 시리스터(SCR)의 구동에 의해 동작하도록 발광다이오드(LED2)와 부저(B)를 연결하는 것을 특징으로 하다.
이와 같이 이루어진 본 고안의 일 실시예를 첨부된 도 1을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
CT의 인출선 1S, 2S 및 3S의 각 상에서 링코어형 전류트랜스센서(CTS)를 설치하여 전류치에 비례한 전압(CT전압)을 얻어 이 CT전압을 입력으로 하여 가변저항(R1,R1',R1")을 이용하여 입력전압을 조정하여 동작점을 선정 동작케 전압으로 하며(이 경우 실제에 있어서 0.04V-15 범위 내에서 할 수 있다.) 저항(R2,R2',R2") 다음에 다이오드(D1,D1',D1")(D2,D2',D2")를 사용하여 일정치(실제 응용에서 0.7V)이상의 전압이 입력축에서 발생될 때에는 바이패스하여 회로를 안정시키도록 구성하여 CT전압이 비교검출 집적회로장치(IC1)에 입력되어 각상의 입력 전압을 비교하여 출력단에서 출력되도록 한 뒤 저항(R3,R3',R3") 및다이오드(D3,D3',D3") 및 콘덴서(C1,C1',C1")와 저항(R4,E5,R4',R5',R4",R5")을 사용하여 출력파형을 보정하여 집적회로장치(IC2)로 입력된다.
집적회로장치(IC2)의 일부에서 얻어진 신호세력의 일부는 발광다이오드(LED1,LED1',LED1")와 저항(R6,R6',R6")에 공급되어 발광다이오드(LED1,LED1',LED1")가 발광할 수 있도록 구성하고, 또 일부 신호세력은 집적회로장치(IC2)에 입력되며 이와 같이 후단의 집적회로장치(IC2)의 일부 회로에서 얻어진 신호세력은 NAND회로인 집적회로장치(IC2)에 각상이 각각 입력되어 출력을 얻게되며 출력측에 타이머 집적회로장치(IC4)를 연결하여 결상에 의한 출력 언배런스를 일정시간 이후에 동작되게 구성한 것으로, 이는 단상부하 변동에 의한 결상을 감지할 수 있도록 구성한 것으로 타이머 집적회로장치(IC4)의 출력단을 다단으로 하여 시리스터(SCR)의 게이트에 입력시키므로서, 시리스터(SCR) 애노드에 연결된 발광다이오드(LDE2)가 발광되는것이며, 발광시간은 선택스위치(SW1)의 선택적으로 타이머 집적회로(IC4)의 출력 지연시간에 상응하게 되는 것이다.
이와 같이 된 본 발명의 구성 연결된 전선로에 전류 결상이 발생되면 결상된 송전 선로와 연결된 인출선(1S, 2S, 또는 3S)의 링코어형 전류트랜스(CT)의 CT전압은 결상되지 아니한 입력축 CT전압 보다 현격하게 감소되어 보상회로의 집적회로장치(IC2)의 출력단은 하이(H)가 되어 발광다이오드(LED1,LED1',LED1")는 발광하게 되어 결상을 알게되며, 타이머 회로 집적회로장치(IC4)의 출력에 연결된 선택스위치(SW1)의 선택에 의해 지연시간 후에만 발광다이오드(LED2)가 발광하게 되고 동시에 부저가 경음을 발생하여 복귀스위치(SW2)의 조작으로 발광다이오드(LED2)는 소등되고 부저는 침묵케 된다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 고안에 따른 MOF 자동결상 검출장치는 선로에서 전류 결상이 발생하면 발광다이오드의 발광으로 즉시 결상된 선로를 확인할 수 있게 되고 이와 같은 상황을 일정시간 지연된 뒤에만 발광다이오드의 발광과 부저를 동작시켜 알 수 있게 되어, 순시적으로 결상을 알 수 있음은 물론 결상시 시간이 일정시간 이상 계속될 경우에 결상을 검출할 수 있게 되어 급작스러운 부하변동에 의한 결상발생 등 부득이한 경상의 경우에는 이를 감지되지 아니하게 하여 결상 검사의 불요성을 방지할 수 있게 되어 사용상 매우 유용한 효과가 있다.

Claims (1)

  1. 배전선로의 각 상의 선로에 연결된 제 1 내지 제 3 입력단자(1S, 2S, 3S)에 링코어형 전류 트랜스센서(CTS)를 각각 직렬연결하고, 상기 각 링코어형 전류 트랜스센서(CTS)에 비교검출 집적회로장치(IC1, IC1',IC1")를 각각 직렬연결하고, 상기 각 비교검출 집적회로장치(IC1,IC1',IC1")의 출력단에 각 다이오드(D3,D3',D3")와 저항(R4,R4',R4")을 각각 직렬연결하고, 상기 각 다이오드(D3,D3',D3")와 저항(R4,R4',R4")사이에 컨덴서(C1,C1',C1")를 병렬연결하며, 상기 각 저항(R4,R4',R4")에 비교검출 집적회로장치(IC2)를 직렬연결하고, 상기 비교검출 집적회로장치(IC2)에 발광다이오드(LED1,LED1',LED1")를 병렬연결하고, 상기 각 비교검출 집적회로장치(IC2)의 출력단을 NAND집적회로장치(IC3)에 연결하며, 상기 NAND 집적회로장치(IC3)의 출력단에 타이머 집적회로장치(IC4)에 연결하며, 타이머 집적회로장치(IC4)의 출력측에 타임 선택스위치(SW1)를 연결하여 상기 선택스위치(SW1)의 선택에 따라 시리스터(SCR)의 구동에 의해 동작하도록 발광다이오드(LED2)와 부저(B)를 연결하는 것을 특징으로 하는 MOF 자동결상 검출장치.
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