KR20180112420A - 발광다이오드 고장 검출회로 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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Abstract
본 발명의 발광다이오드 고장 검출회로는 발광다이오드의 캐소드 단자와 발광다이오드 구동회로의 출력단이 각각 입력단자에 연결되고, 출력단자는 상위 제어기에 연결되는 비교검출기로 이루어진다.
비교검출기는 발광다이오드의 캐소드 단자로부터 입력되는 전압이 단락 기준전압보다 크면 단락으로 검출하여 단락신호를 출력하는 단락검출기와, 발광다이오드 구동회로의 출력단으로부터 입력되는 전류를 저항을 직렬로 연결하여 전압으로 변환하고 변환된 전압이 개방 기준전압보다 작으면 개방으로 검출하여 개방신호를 출력하는 개방검출기로 구성된다.
Description
32 - 단락검출기, 34 - 개방검출기, 40 - 상위 제어기, 50 - 저항
Claims (3)
- 발광다이오드의 캐소드 단자와 발광다이오드 구동회로의 출력단이 각각 입력단자에 연결되고 출력단자는 상위 제어기에 연결되는 비교검출기로 이루어지고,
상기 비교검출기는 상기 발광다이오드의 캐소드 단자로부터 입력되는 전압이 단락 기준전압보다 크면 단락으로 검출하여 단락신호를 출력하는 단락검출기와, 상기 발광다이오드 구동회로의 출력단으로부터 입력되는 전류를 저항을 직렬로 연결하여 전압으로 변환하고 변환된 전압이 개방 기준전압보다 작으면 개방으로 검출하여 개방신호를 출력하는 개방검출기로 구성되고,
상기 단락 기준전압은 상기 발광다이오드의 정상 작동시 순방향 캐소드전압과 애노드 전압의 중간값으로 설정하고,
상기 개방 기준전압은 0보다 크고 구동시 발생하는 전압보다 작게 설정하는 발광다이오드 고장 검출회로. - 청구항 1에 있어서,
상기 단락검출기의 입력단자 중의 하나에는 상기 발광다이오드의 캐소드 단자의 분기선이 연결되고, 입력단자 중의 다른 하나에는 단락 기준전압이 입력되도록 구성되고,
상기 개방검출기의 입력단자 중의 하나에는 상기 발광다이오드 구동회로의 출력단의 분기선이 연결되고, 입력단자 중의 다른 하나에는 개방 기준전압이 입력되도록 구성되는 발광다이오드 고장 검출회로. - 청구항 2에 있어서,
상기 비교검출기를 통하여 단락신호와 개방신호 중에서 하나만 검출되는 경우 또는 2개 모두 검출되는 경우에 고장으로 판정하도록 구성하는 발광다이오드 고장 검출회로.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020170043483A KR20180112420A (ko) | 2017-04-04 | 2017-04-04 | 발광다이오드 고장 검출회로 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020170043483A KR20180112420A (ko) | 2017-04-04 | 2017-04-04 | 발광다이오드 고장 검출회로 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20180112420A true KR20180112420A (ko) | 2018-10-12 |
Family
ID=63876525
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020170043483A KR20180112420A (ko) | 2017-04-04 | 2017-04-04 | 발광다이오드 고장 검출회로 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20180112420A (ko) |
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2017
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Date | Code | Title | Description |
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A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20170404 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
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E601 | Decision to refuse application | ||
PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20181004 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20180702 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |
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