KR200258985Y1 - Test device with noise level detection - Google Patents
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Abstract
본 고안은 교환기 모듈을 테스트하는 노이즈레벨 검출 기능을 갖는 테스트 장치를 개시한다. 본 발명에 따른 노이즈레벨 검출기능을 갖는 테스트 장치는 제어신호를 유입하여 테스트모듈을 측정하기 위한 제어신호를 생성하는 시험기; 상기 시험기에서 생성된 제어신호를 유입하여 상기 테스트모듈에 테스트신호를 출력하고 상기 테스트모듈의 출력신호를 유입하는 시험치구; 상기 시험치구에 접속되어 상기 테스트모듈에서 출력되는 신호의 노이즈레벨제한치의 범위를 설정하는 노이즈레벨설정부; 상기 노이즈레벨설정부에서 출력되는 테스트모듈 출력신호와 노이즈레벨제한치을 디스플레이하는 디지털오실레이터; 상기 시험기를 제어하고 상기 디지털오실레이터에서 디스플레이되는 신호를 유입하여 상기 테스트모듈에서 출력되는 신호의 이상 유무와 상기 노이즈레벨제한치에따라 상기 테스트모듈에서 출력되는 노이즈레벨값의 이상 유무를 검출하는 컴퓨터를 포함함을 특징으로 한다.The present invention discloses a test apparatus having a noise level detection function for testing an exchange module. According to the present invention, a test apparatus having a noise level detecting function includes: a tester configured to generate a control signal for measuring a test module by introducing a control signal; A test fixture for inputting a control signal generated by the tester to output a test signal to the test module and to output an output signal of the test module; A noise level setting unit connected to the test fixture to set a range of noise level limit values of signals output from the test module; A digital oscillator for displaying a test module output signal and a noise level limit value output from the noise level setting unit; A computer which controls the tester and detects an abnormality of a signal output from the test module according to the noise level limit value and the abnormality of the signal output from the test module by introducing a signal displayed by the digital oscillator; It is characterized by.
상술한 바와 같이 본 고안에 따른 노이즈레벨 검출 기능을 갖는 테스트 장치는 테스트모듈의 기능을 테스트시에 일반적인 기능의 테스트이외에 출력된 신호 중에서 하이와 로우레벨이 불안정한 열화된 CMOS IC를 사전에 검출하여 불량 발생 가능성을 줄인다.As described above, the test apparatus having the noise level detection function according to the present invention detects a deteriorated CMOS IC in which the high and low levels are unstable from the output signals other than the test of the general function at the time of testing the function of the test module. Reduce the likelihood of occurrence
Description
본 고안은 노이즈레벨 검출 기능을 갖는 테스트 장치에 관한 것으로서, 특히 교환기 모듈을 테스트하는 노이즈레벨 검출 기능을 갖는 테스트 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a test apparatus having a noise level detection function, and more particularly, to a test apparatus having a noise level detection function for testing an exchange module.
일반적으로 교환기의 각 부분의 테스트를 위해서는 모듈별 기능테스트를 실시하여 각 모듈의 이상 유무를 테스트한다.In general, to test each part of the exchange, a functional test for each module is performed to test each module for abnormality.
도 1은 종래의 교환기 모듈의 테스트 장치를 보이는 블록도이다.1 is a block diagram showing a test apparatus of a conventional exchanger module.
도 1에서, 종래의 교환기의 테스트 장치는 테스트하기 위한 테스트모듈(15)을 시험치구(13)에 접속하고 컴퓨터(12)에 테스트 명령을 입력하면 시험기(11)는 컴퓨터(12)의 제어에 의해 테스트 항목별 제어신호를 시험치구(13)에 출력하면 시험치구(13)는 테스트모듈(15)에 전원과 테스트신호를 공급하고 테스트모듈(15)에서 출력되는 신호는 시험치구(13)에 유입되어 디지털오실로스코프(14)로 출력되어 테스트모듈(15)의 출력신호가 디스플레이 된다. 또한 디지털오실로스코프(14)에 디스플레이되는 출력신호는 컴퓨터(12)에 유입되어 컴퓨터(12)에서 테스트모듈(15)의 이상유무를 체크한다.In Fig. 1, the test apparatus of the conventional exchanger connects the test module 15 for testing to the test fixture 13 and inputs a test command to the computer 12, so that the tester 11 is in control of the computer 12. When the control signal for each test item is output to the test fixture 13, the test fixture 13 supplies power and a test signal to the test module 15, and the signal output from the test module 15 is transmitted to the test fixture 13. Inflow and output to the digital oscilloscope 14, the output signal of the test module 15 is displayed. In addition, the output signal displayed on the digital oscilloscope 14 flows into the computer 12 and checks whether there is an abnormality of the test module 15 in the computer 12.
여기서, 기능테스트는 테스트모듈(15)에 있는 CMOS IC의 특성을 대부분 테스트하며 테스트모듈에서 출력되는 CMOS IC 출력조건은 일반적으로 4.5볼트의 전원전압일 경우에 하이레벨은 4.4볼트이고 로우레벨은 0.1볼트 이하로 규정된다. 또한 입력조건은 로우레벨이 1.3볼트 이하이고 하이레벨은 3.5볼트 이상일 때이며 상기와 같은 조건에서 하이와 로우 상태가 유지되며 CMOS IC의 하이와 로우 상태가 결정된다. CMOS IC의 하이레벨 신호 판단시에 3.3볼트 내지 4.4볼트 영역의 입력신호는 하이레벨로 판정하는 것이 바람직하나 부품 특성의 열화에 의해 3.5볼트로 출력되는 경우가 있다. 또한, CMOS IC의 로우레벨 신호 판단시에 0.1볼트 내지 1.3볼트 영역의 입력신호는 로우레벨로 판정할 수 있으나 로우레벨 출력전압은 0.1볼트 이하이어야 하고, 만일 1.3볼트 이상 3.5볼트 미만으로 출력되는 경우에는 부품 특성상 열화되었다고 볼 수 있다.Here, the functional test mostly tests the characteristics of the CMOS IC in the test module 15. In general, when the output condition of the CMOS IC output from the test module is 4.5 volts, the high level is 4.4 volts and the low level is 0.1. It is specified below the bolt. In addition, the input condition is when the low level is 1.3 volts or less and the high level is 3.5 volts or more. In the above conditions, the high and low states are maintained, and the high and low states of the CMOS IC are determined. When determining the high level signal of the CMOS IC, it is preferable to determine the input signal in the 3.3 volt to 4.4 volt region at a high level, but the output signal may be output at 3.5 volts due to deterioration of component characteristics. In addition, when the low level signal of the CMOS IC is judged, the input signal in the range of 0.1 to 1.3 volts may be determined to be low level, but the low level output voltage should be 0.1 volt or less, and if 1.3 volts or more are output below 3.5 volts It can be said that it is deteriorated due to component characteristics.
따라서, 부품이 열화되었거나 불량이 발생될 확률이 높은 CMOS IC를 사전에 검출하는 노이즈레벨 검출 기능을 갖는 테스트 장치가 요구되었다.Therefore, a test apparatus having a noise level detection function for detecting in advance a CMOS IC with a high probability of component deterioration or failure is required.
본 고안의 기술적과제는 시험치구에서 CMOS IC의 출력 특성을 측정하여 불량확률이 높고 특성이 열화된 CMOS IC를 검출하는 노이즈레벨 검출기능을 갖는 장치를 제공하는 것이다.The technical problem of the present invention is to provide a device having a noise level detection function that detects a CMOS IC having a high probability of failure and deteriorated characteristics by measuring the output characteristics of the CMOS IC at a test fixture.
도 1은 종래의 노이즈레벨 검출 기능을 갖는 테스트 장치를 보이는 블록도이다.1 is a block diagram showing a test apparatus having a conventional noise level detection function.
도 2는 본 고안에 따른 노이즈레벨 검출 기능을 갖는 테스트 장치를 보이는 블록도이다.2 is a block diagram showing a test apparatus having a noise level detection function according to the present invention.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 고안에 따른 노이즈레벨 검출기능을 갖는 테스트 장치는 제어신호를 유입하여 테스트모듈을 측정하기 위한 제어신호를 생성하는 시험기; 상기 시험기에서 생성된 제어신호를 유입하여 상기 테스트모듈에 테스트신호를 출력하고 상기 테스트모듈의 출력신호를 유입하는 시험치구; 상기 시험치구에 접속되어 상기 테스트모듈에서 출력되는 신호의 노이즈레벨제한치의 범위를 설정하는 노이즈레벨설정부; 상기 노이즈레벨설정부에서 출력되는 테스트모듈 출력신호와 노이즈레벨제한치를 디스플레이하는 디지털오실레이터; 상기 시험기를 제어하고 상기 디지털오실레이터에서 디스플레이되는 신호를 유입하여 상기 테스트모듈에서 출력되는 신호의 이상 유무와 상기 노이즈레벨제한치에따라 상기 테스트모듈 IC에서 출력되는 노이즈레벨값의 이상 유무를 검출하는 컴퓨터를 포함함을 특징으로 한다.Test device having a noise level detection function according to the present invention for achieving the technical problem is a tester for generating a control signal for measuring the test module by introducing a control signal; A test fixture for inputting a control signal generated by the tester to output a test signal to the test module and to output an output signal of the test module; A noise level setting unit connected to the test fixture to set a range of noise level limit values of signals output from the test module; A digital oscillator for displaying a test module output signal and a noise level limit value output from the noise level setting unit; A computer which controls the tester and detects an abnormality of a noise level value output from the test module IC according to the abnormality of the signal output from the test module and the output of the signal displayed by the digital oscillator and the noise level limit value. It is characterized by including.
이하 첨부 도면을 참조하여 본 고안을 설명하기로 한다.Hereinafter, the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 고안에 따른 노이즈레벨 검출기능을 갖는 테스트 장치를 보이는 블록도이다.2 is a block diagram showing a test apparatus having a noise level detection function according to the present invention.
도 2의 장치는 시험기(21), 컴퓨터(22), 시험치구(23), 디지털오실로스코프(24), 테스트모듈(25), 노이즈레벨설정부(26)를 구비한다.The apparatus of FIG. 2 includes a tester 21, a computer 22, a test fixture 23, a digital oscilloscope 24, a test module 25, and a noise level setting unit 26.
도 2의 구성에 따른 동작을 살펴보면, 시험치구(23)와 테스트모듈(26) 사이에 접속된 노이즈레벨설정부(26)에서 테스트모듈(25)의 CMOS IC 특성에 맞는 로우와 하이레벨신호의 노이즈레벨제한치를 설정한 다음 컴퓨터(22)에 테스트 명령을 입력하면 컴퓨터(22)는 시험기(21)를 각 테스트 항목별로 제어한다. 시험기(11)는 상술된 종래의 테스트 방식과 동일하게 컴퓨터(22)의 제어에 따라 테스트 항목별 제어신호를 시험치구(23)에 출력하면 시험치구(23)는 테스트모듈(25)에 전원과 테스트신호를 공급한다. 테스트모듈(25)에서 출력되는 신호는 노이즈레벨설정부(26)에서 설정된 레벨신호와 함께 시험치구(23)를 통하여 디지털오실로스코프(24)로 출력되어 테스트모듈(25)의 출력신호와 노이즈레벨제한치가 디스플레이 된다. 또한 디지털오실로스코프(24)에 디스플레이되는 출력신호는 컴퓨터(22)에 유입되어 컴퓨터(22)에서 테스트모듈(25)의 이상유무를 체크하며 유입된 신호가 노이즈레벨제한치를 벗어나는지를 검출한다.Referring to the operation according to the configuration of Figure 2, the noise level setting unit 26 connected between the test fixture 23 and the test module 26 of the low and high level signal suitable for the CMOS IC characteristics of the test module 25 After setting the noise level limit value and inputting a test command to the computer 22, the computer 22 controls the tester 21 for each test item. When the tester 11 outputs a control signal for each test item to the test fixture 23 under the control of the computer 22 in the same way as the conventional test method described above, the test fixture 23 supplies power to the test module 25. Supply a test signal. The signal output from the test module 25 is output to the digital oscilloscope 24 through the test fixture 23 together with the level signal set by the noise level setting unit 26 to output signal and noise level limit value of the test module 25. Is displayed. In addition, the output signal displayed on the digital oscilloscope 24 flows into the computer 22 to check whether the test module 25 is abnormal in the computer 22 and detects whether the incoming signal deviates from the noise level limit.
상술한 바와 같이 본 고안에 따른 노이즈레벨 검출 기능을 갖는 테스트 장치는 테스트모듈의 기능을 테스트시에 일반적인 기능의 테스트이외에 출력된 신호 중에서 하이와 로우레벨이 불안정한 열화된 CMOS IC를 사전에 검출하여 불량 발생 가능성을 줄인다.As described above, the test apparatus having the noise level detection function according to the present invention detects a deteriorated CMOS IC in which the high and low levels are unstable from the output signals other than the test of the general function at the time of testing the function of the test module. Reduce the likelihood of occurrence
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