KR200248967Y1 - 잡음 제거회로가 구비된 번인 보드 - Google Patents

Abstract

번인 보드에 입력 및 출력되는 각종 신호의 오버슈트 및 언더슈트는 물론 잡음을 효과적으로 제거하여 디바이스의 특성을 정확하게 검사한다.

번인 테스트할 디바이스가 장착되는 소켓; 상기 소켓에 장착된 디바이스를 번인 테스트하는 소정의 신호가 입력/출력되는 신호 입력/출력 단자; 상기 신호 입력/출력 단자와 상기 소켓의 입력/출력 핀의 사이에 구비되어 상기 번인 테스트하는 소정의 신호의 오버슈트 및 언더슈트를 제거하는 오버슈트/언더슈트 제거부; 및 상기 신호 입력/출력 단자와 상기 소켓의 입력/출력 핀의 사이에 구비되어 상기 번인 테스트하는 소정의 신호의 잡음을 제거하는 잡음 제거용 필터로 이루어지고, 상기 잡음 제거용 필터는 고역 통과 필터인 것을 특징으로 한다.

Description

잡음 제거회로가 구비된 번인 보드{Burn-in board inclusion noise reject circuit}

본 고안은 번인 보드(burn-in board)에 입력 및 출력되는 클럭신호, RAS(Row Address Strobe), CAS(Column Address Strobe) 및 데이터를 비롯하여 각종 신호의 잡음을 제거하여 디바이스의 특성을 정확하게 검사할 수 있도록 하는 잡음 제거회로가 구비된 번인 보드에 관한 것이다.

주지된 바와 같이 제조가 완료된 디바이스 예를 들면, 메모리 소자들은 약 1000시간 이내에 불량이 발생할 확률이 매우 높고, 약 1000시간이 경과할 경우에 불량이 발생할 가능성은 매우 희박하게 된다.

그러므로 디바이스의 제조업체에서는 1000시간 내에 발생할 불량 반도체 칩을 좀더 빠르게 확인할 수 있도록 하기 위하여 챔버내에서 각각의 디바이스의 특성에 맞게 설계된 번인 보드의 소켓에 테스트할 디바이스를 장착하고, 그 디바이스에 클럭신호, RAS, CAS, 및 데이터를 비롯한 여러 가지의 신호를 인가함과 아울러 스트레스 전압 및 높은 온도를 가하는 등의 각종 방법을 적용하여 초기 불량 디바이스들을 칩을 스크린하는 번인 테스트 공정을 수행하고 있다.

한편, 번인 보드를 이용하여 번인 테스트 공정을 수행하는 디바이스 즉, 메모리 소자의 용량이 매우 커지고, 이에 따라 번인 보드로 입력 및 출력되는 신호의 수가 매우 많으므로 번인 보드를 통해 소정의 디바이스에 인가 및 출력되는 신호들에 잡음이 없도록 하여 디바이스를 정확하게 테스트할 수 있도록 해야 된다.

도 1은 종래의 번인 보드의 신호 입력/출력 회로도이다. 여기서, 부호 10은 번인 보드에 장착되어 테스트하는 메모리 소자 등의 디바이스에 인가할 클럭신호, RAS, CAS 및 데이터를 비롯한 각종 신호가 입력 및 출력되는 신호 입력/출력 단자이고, 부호 12는 테스트하는 디바이스가 장착되는 소켓이다.

상기 소켓(12)에는 상기 디바이스의 핀이 삽입되어 전기적으로 접속되는 입력/출력 핀(121)이 구비된다.

상기 신호 입력/출력 단자(10)와 상기 소켓(12)의 입력/출력 핀(121)의 사이에는 신호 입력/출력 단자(10)를 통해 입력 및 출력되는 소정의 신호의 오버슈트 및 언더슈트를 제거하는 오버슈트/언더슈트 제거부(14)가 구비된다.

상기 오버슈트/언더슈트 제거부(14)는, 신호 입력/출력 단자(10)와 상기 소켓(12)의 입력/출력 핀(121)의 사이에 저항(141)이 직렬 접속되고, 저항(141) 및 입력/출력 핀(121)의 접속점에, 접지가 콘덴서(147) 및 다이오드(149)를 직렬로 통해 접속됨과 아울러 그 접속점이 다이오드(143) 및 콘덴서(145)를 직렬로 통해 접지에 접속된다.

이와 같이 구성된 종래의 신호 입력/출력회로는 신호 입력/출력 단자(10)로 테스트할 소정의 신호가 입력될 경우에 그 입력된 소정의 신호는 오버슈트/언더슈트 제거부(14)의 저항(141)을 통해 소켓(12)의 입력/출력 핀(121)에 인가되어 테스트할 디바이스에 인가된다.

이때, 입력되는 소정의 신호에 오버슈트 및 언더슈트가 있을 경우에 언더슈트의 신호는 오버슈트/언더슈트 제거부(14)의 다이오드(145) 및 콘덴서(143)를 통해 접지로 흘러 제거되고, 오버슈트는 다이오드(147) 및 콘덴서(149)를 통해 접지로 흘러 제거된다. 즉, 미리 설정된 레벨 이하의 언더슈트 신호가 발생될 경우에 그 언더슈트 신호에 의해 다이오드(145)가 도통 상태로 되어 제거되고, 또한 미리설정된 레벨 이상의 오버슈트 신호가 발생될 경우에는 그 오버슈트 신호에 의해 다이오드(147)가 도통 상태로 되어 제거되어 소켓(12)의 입력/출력 핀(121)에는 언더슈트 및 오버슈트가 없는 신호가 인가 및 디바이스의 동작을 테스트하게 된다.

그러나 상기한 종래의 신호 입력/출력 회로는 발생되는 언더슈트 및 오버슈트의 신호만을 효과적으로 제거할 뿐이고, 발생되는 잡음 등은 제거하지 않으므로 디바이스의 동작을 정확하게 테스트하지 못하는 문제점이 있었다.

즉, 번인 테스트 공정을 수행하는 디바이스의 용량이 커짐에 따라 신호 입력/출력 단자(10)를 통해 소켓(12)의 입력/출력 핀(121)에 인가되는 신호의 수가 많고, 이로 인하여 신호 입력/출력 단자(10)와 소켓(12)의 입력/출력 핀(121)의 사이에서 신호가 통과하는 경로가 밀집되어 있으므로 소정의 디바이스를 번인 테스트할 경우에 인가하는 신호들간의 상호 간섭 등에 의하여 많은 잡음이 발생하고, 또한 외부의 영향 등으로 인하여 많은 잡음이 발생된다.

그러나 상기한 종래의 신호 입력/출력회로는 상기 발생하는 잡음을 제거하지 않고, 그대로 소켓(12)의 입력/출력 핀(121)에 인가되게 하였으므로 디바이스의 동작을 정확하게 테스트하지 못하였다.

따라서 본 고안의 목적은 번인 보드에 입력 및 출력되는 각종 신호의 오버슈트 및 언더슈트는 물론 잡음을 효과적으로 제거하는 잡음 제거회로가 구비된 번인 보드를 제공하는 데 있다.

도 1은 종래의 번인 보드의 신호 입력/출력 회로도이고,

도 2는 본 고안의 잡음 제거회로가 구비된 번인 보드의 신호 입력/출력 회로도이며,

도 3 내지 도 5는 종래 및 본 고안의 신호 입력/출력 회로에서 출력되는 신호의 파형을 측정하여 보인 도면으로서

도 3a 및 도 3b는 클럭신호를 측정하여 보인 파형이고,

도 4a 및 도 4b는 RAS 신호를 측정하여 보인 파형이며,

도 5a 및 도 5b는 CAS 신호를 측정하여 보인 파형이다.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*

10 : 신호 입력/출력 단자 12 : 소켓

14 : 오버슈트/언더슈트 제거부 121 : 입력/출력 핀

20 : 잡음 제거용 필터

이러한 목적을 달성하기 위한 본 고안의 잡음 제거회로가 구비된 번인 보드에 따르면, 번인 테스트할 디바이스가 장착되는 소켓; 번인 테스트하는 소정의 신호가 입력/출력되는 신호 입력/출력 단자; 상기 신호 입력/출력 단자와 상기 소켓의 입력/출력 핀의 사이에 구비되어 상기 번인 테스트하는 소정의 신호의 오버슈트 및 언더슈트를 제거하는 오버슈트/언더슈트 제거부; 및 상기 신호 입력/출력 단자와 상기 소켓의 입력/출력 핀의 사이에 구비되어 상기 번인 테스트하는 소정의 신호의 잡음을 제거하는 잡음 제거용 필터로 이루어짐을 특징으로 한다.

그리고 상기 잡음 제거용 필터는 고역 통과 필터인 것을 특징으로 한다.

이하 첨부된 도 2 내지 도 5의 도면을 참조하여 본 고안의 잡음 제거회로가 구비된 번인 보드를 상세히 설명하겠으며, 여기서 종래와 동일한 부위에는 동일 부호를 부여한다.

도 2는 본 고안의 잡음 제거회로가 구비된 번인 보드의 신호 입력/출력 회로도이다.

*이에 도시된 바와 같이 본 고안은 상기 오버슈트/언더슈트 제거부(14)와 소켓(12)의 입력/출력 핀(121)의 사이에 잡음 제거용 필터(20)를 구비한다.

상기 잡음 제거용 필터(20)는, 고역 통과 필터를 사용하는 것으로서 상기 오버슈트/언더슈트 제거부(14)의 출력 단자가 코일(201)을 통해 접지 콘덴서(203)에 접속되고, 코일(201) 및 접지 콘덴서(203)의 접속점이 코일(205)을 통해 소켓(12)의 입력/출력 핀(121)에 접속된다.

이와 같이 구성된 본 고안은 신호 입력/출력 단자(10)로 테스트할 소정의 신호가 입력될 경우에 그 입력된 소정의 신호는 오버슈트/언더슈트 제거부(14)로 입력된다.

그러면, 오버슈트/언더슈트 제거부(14)는 종래와 마찬가지로 언더슈트의 신호는 오버슈트/언더슈트 제거부(14)의 다이오드(145) 및 콘덴서(143)를 통해 접지로 흘러 제거되고, 오버슈트의 신호는 다이오드(147) 및 콘덴서(149)를 통해 접지로 흘러 제거되어 언더슈트 및 오버슈트가 없는 신호를 출력하게 된다.

상기 오버슈트/언더슈트 제거부(14)를 통해 오버슈트 및 언더슈트가 제거된 신호는 잡음 제거용 필터(20)를 통해 필터링되어 잡음이 제거되는 것으로서 소켓(12)의 입력/출력 핀(121)에는 오버슈트 및 언더슈트는 물론 잡음이 제거된 신호가 입력되어 소켓(12)에 장착된 소정의 디바이스에 인가된다.

이러한 본 고안과 종래의 신호 입력/출력 회로에서 출력되는 신호의 파형을 측정하였다. 도 3 내지 도 5는 신호 입력/출력 단자(10)에 각기 클럭신호, RAS 및 CAS 신호를 인가한 후 소켓(12)의 입력/출력 핀(121)으로 출력되는 신호를 측정한 것이다.

여기서, 도 3a, 도 4a 및 도 5a는 종래의 신호 입력/출력 회로를 측정한 것이고, 도 3b, 도 4b 및 도 5b는 본 고안의 신호 입력/출력 회로를 측정한 것이다.

상기 측정 결과 종래의 신호 입력/출력 회로는 도 3a, 도 4a 및 도 5a에서와 같이 소켓(12)의 입력/출력 핀(121)으로 오버슈트 및 언더슈트는 제거되었으나 잡음이 혼합되어 있는 클럭신호, RAS 및 CAS가 출력되었다. 그러나 본 고안의 신호입력/출력 회로는 도 3b, 도 4b 및 도 5b에서와 같이 소켓(12)의 입력/출력 핀(121)으로 오버슈트 및 언더슈트는 물론 잡음이 혼합되지 않은 클럭신호, RAS 및 CAS가 출력되었다.

이상에서는 본 고안을 특정의 바람직한 실시 예에 관련하여 도시하고 설명하였지만, 본 고안이 그에 한정되는 것은 아니고 이하의 실용신안등록청구범위에 의해 마련되는 본 고안의 정신이나 분야를 이탈하지 않는 한도 내에서 본 고안이 다양하게 개조 및 변화될 수 있다는 것을 당 업계에서 통상의 지식을 가진 자는 용이하게 알 수 있다. 즉, 상기에서는 하나의 신호 입력/출력 단자(10) 및 하나의 소켓(12)의 입력/출력 핀(121)을 예로 들어 설명하였다. 그러나 번인 보드에는 복수의 소켓(12)이 장착되고, 그 복수의 소켓(12)들은 각기 복수의 입력/출력 핀(121)을 구비하고, 복수의 신호 입력/출력 단자(10)를 구비하여 복수의 소켓(12)들의 복수의 입력/출력 핀(121)에 각기 소정의 신호를 입력/출력하는 것으로서 본 고안을 실시함에 있어서는 상기 복수의 신호 입력/출력 단자(10)와 복수의 소켓(12)들의 복수의 입력/출력 핀(121)의 사이에 상기 오버슈트/언더슈트 제거부(14) 및 잡음 제거용 필터(20)를 각기 구비하여 오버슈트 및 언더슈트는 물론 잡음을 제거하게 구성할 수 있다.

이상에서와 같이 본 고안에 따르면, 번인 보드에서 입력 및 출력되는 신호의 잡음을 제거하고, 번인 테스트를 수행함으로써 번인 테스트 공정을 정확하게 수행할 수 있다.

Claims (2)

1. 번인 테스트할 디바이스가 각기 장착되는 복수의 소켓;

   번인 테스트하는 소정의 신호가 입력/출력되는 복수의 신호 입력/출력 단자;

   상기 복수의 신호 입력/출력 단자와 상기 소켓에 구비된 복수의 입력/출력 핀의 사이에 각기 구비되어 상기 번인 테스트하는 소정의 신호의 오버슈트 및 언더슈트를 제거하는 복수의 오버슈트/언더슈트 제거부; 및

   상기 복수의 오버슈트/언더슈트 제거부에 직렬로 구비되어 상기 번인 테스트하는 소정의 신호의 잡음을 제거하는 잡음 제거용 필터로 구성됨을 특징으로 하는 잡음 제거회로가 구비된 번인 보드.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 잡음 제거용 필터는;

   고역 통과 필터인 것을 특징으로 하는 잡음 제거회로가 구비된 번인 보드.