KR20020069490A - Transfer Film for Forming Dielectric Layer and Plasma Display Panel - Google Patents

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KR20020069490A KR1020020009840A KR20020009840A KR20020069490A KR 20020069490 A KR20020069490 A KR 20020069490A KR 1020020009840 A KR1020020009840 A KR 1020020009840A KR 20020009840 A KR20020009840 A KR 20020009840A KR 20020069490 A KR20020069490 A KR 20020069490A
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고우지 이따노
가쯔미 이또
다까노리 야마시따
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제이에스알 가부시끼가이샤
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Abstract

PURPOSE: To prepare a dielectric layer forming tranfer film which can form a uniform dielectric layer without being affected by dusts and foreign matters on a substrate, and also it can form the dielectric layer having high light transmission properties, and has excellent flexibility of the film forming material layer and transfer properties (heat-adhesion properties to the substrate). CONSTITUTION: The dielectric layer forming transfer film is characterized by containing 10 to 25 pts.wt. of organic ingredients against 100 pts.wt. of inorganic particules.

Description

유전체층 형성용 전사 필름 및 플라즈마 디스플레이 패널 {Transfer Film for Forming Dielectric Layer and Plasma Display Panel}Transfer Film for Forming Dielectric Layer and Plasma Display Panel

본 발명은 유전체층 형성용 전사 필름 및 플라즈마 디스플레이 패널에 관한것이다.The present invention relates to a transfer film and a plasma display panel for forming a dielectric layer.

최근, 평판형 형광 표시체로서 플라즈마 디스플레이가 주목받고 있다. 도 1은 교류형 플라즈마 디스플레이 패널 (이하, "PDP"라고도 함)의 단면 형상을 나타내는 모식도이다. 도 1에 있어서, (1) 및 (2)는 대향 배치된 유리 기판, (3)은 격벽이며, 유리 기판 (1), 유리 기판 (2) 및 격벽 (3)에 의해 셀이 구획 형성되어 있다. (4)는 유리 기판 (1)에 고정된 투명 전극, (5)는 투명 전극 (4)의 저항을 낮출 목적으로 해당 투명 전극 (4) 상에 형성된 버스 전극, (6)은 유리 기판 (2)에 고정된 어드레스 전극, (7)은 셀 내에 유지된 형광 물질, (8)은 투명 전극 (4) 및 버스 전극 (5)를 피복하도록 유리 기판 (1)의 표면에 형성된 유전체층, (9)는 어드레스 전극 (6)을 피복하도록 유리 기판 (2)의 표면에 형성된 유전체층, (P)는 예를 들면 산화마그네슘을 포함하는 보호막이다.In recent years, a plasma display has attracted attention as a flat fluorescent display. 1 is a schematic diagram showing a cross-sectional shape of an AC plasma display panel (hereinafter also referred to as "PDP"). In FIG. 1, (1) and (2) are glass substrates arrange | positioned opposingly, (3) is a partition, and the cell is partitioned and formed by the glass substrate 1, the glass substrate 2, and the partition 3. . 4 is a transparent electrode fixed to the glass substrate 1, 5 is a bus electrode formed on the transparent electrode 4 for the purpose of lowering the resistance of the transparent electrode 4, 6 is a glass substrate 2 (7) is a fluorescent material held in the cell, (8) a dielectric layer formed on the surface of the glass substrate (1) to cover the transparent electrode (4) and the bus electrode (5), (9) Denotes a dielectric layer formed on the surface of the glass substrate 2 so as to cover the address electrode 6, and P is a protective film containing, for example, magnesium oxide.

또한, 컬러 PDP에 있어서는, 콘트라스트가 높은 화상을 얻기 위해 유리 기판과 유전체층 사이에 컬러 필터 (적색ㆍ녹색ㆍ청색) 및 블랙 매트릭스 등을 설치하는 경우가 있다.Moreover, in a color PDP, in order to obtain an image with high contrast, a color filter (red, green, blue), a black matrix, etc. may be provided between a glass substrate and a dielectric layer.

유전체층 (8)의 형성 방법으로서는, 유리 분말, 결착 수지 및 용제를 함유하는 페이스트형 무기 입자 함유 조성물 (유리 페이스트 조성물)을 제조하고, 이 유리 페이스트 조성물을 스크린 인쇄법에 의해 유리 기판 (1)의 표면에 도포하여 건조함으로써 막형성 재료층을 형성하고, 이어서 이 막형성 재료층을 소성함으로써 유기 물질을 제거하여 유리 분말을 소결시키는 방법이 알려져 있다.As a method of forming the dielectric layer 8, a paste-type inorganic particle-containing composition (glass paste composition) containing glass powder, a binder resin and a solvent is produced, and the glass paste composition is subjected to screen printing to The method of forming a film forming material layer by apply | coating to a surface and drying, then baking this film forming material layer, and removing an organic substance and sintering glass powder is known.

그런데, 유리 기판 (1) 상에 형성하는 막형성 재료층의 두께는, 소성 공정에서의 유기 물질 제거에 수반되는 막두께의 감량을 고려하여 형성해야 할 유전체층 (8)의 막두께의 1.3 내지 2.0배 정도로 할 필요가 있으며, 예를 들어 유전체층 (8)의 막두께를 20 내지 50 ㎛로 하기 위해서는 30 내지 100 ㎛ 정도 두께의 막형성 재료층을 형성할 필요가 있다.By the way, the thickness of the film formation material layer formed on the glass substrate 1 is 1.3-2.0 of the film thickness of the dielectric layer 8 which should be formed in consideration of the reduction of the film thickness accompanying removal of the organic substance in a baking process. It is necessary to make it about double, and for example, in order to make the film thickness of the dielectric layer 8 into 20-50 micrometers, it is necessary to form the film forming material layer about 30-100 micrometers thick.

한편, 상기 유리 페이스트 조성물을 스크린 인쇄법에 의해 도포하는 경우, 1회의 도포 처리에 의해 형성되는 도포막의 두께는 15 내지 25 ㎛ 정도가 된다.On the other hand, when apply | coating the said glass paste composition by the screen printing method, the thickness of the coating film formed by one coating process will be about 15-25 micrometers.

따라서, 막형성 재료층을 소정의 두께로 하기 위해서는, 유리 기판 표면에 상기 유리 페이스트 조성물을 여러번 (예를 들면 2 내지 7회)에 걸쳐 반복 도포 (다중 인쇄)할 필요가 있다.Therefore, in order to make a film formation material layer into a predetermined thickness, it is necessary to apply | coat repeatedly (multiprinting) the said glass paste composition several times (for example, 2 to 7 times) to the glass substrate surface.

그러나, 스크린 인쇄법을 이용하는 다중 인쇄에 의해 막형성 재료층을 형성하는 경우에는, 해당 막형성 재료층을 소성하여 형성되는 유전체층이 균일한 막두께 (예를 들면 공차가 ±5 % 이내)를 갖지 못하게 된다. 이것은 스크린 인쇄법에 의한 다중 인쇄에서는, 유리 기판 표면에 유리 페이스트 조성물을 균일하게 도포하기가 곤란하기 때문이며, 도포 면적 (패널 크기)이 클수록, 또한 도포 횟수가 많을 수록 유전체층에서의 막두께의 불균일 정도가 커지게 된다. 그리고, 다중 인쇄에 의한 도포 공정을 거쳐 얻어지는 패널 재료 (상기 유전체층을 포함하는 유리 기판)에는, 그 면 내에 있어서 막두께 불균일에 기인하여 유전 특성에 불균일이 발생하고, 유전 특성의 불균일은 PDP에서의 표시 결함 (휘도 불균일)의 원인이 된다.However, when the film forming material layer is formed by multiple printing using the screen printing method, the dielectric layer formed by firing the film forming material layer does not have a uniform film thickness (for example, the tolerance is within ± 5%). You will not. This is because it is difficult to uniformly apply the glass paste composition to the surface of the glass substrate in the multiple printing by the screen printing method. The larger the coating area (panel size) and the higher the number of coatings, the more uneven the film thickness in the dielectric layer. Becomes large. And in the panel material (glass substrate containing the said dielectric layer) obtained through the application | coating process by multiple printing, a nonuniformity arises in a dielectric characteristic by the film thickness nonuniformity in the surface, and the nonuniformity of a dielectric characteristic is carried out in PDP. It may cause display defects (uneven brightness).

또한, 스크린 인쇄법에서는 스크린판의 메쉬 형상이 막형성 재료층 표면에 전사되는 경우가 있어, 이러한 막형성 재료층을 소성하여 형성되는 유전체층은 표면 평활성이 떨어지게 된다.Further, in the screen printing method, the mesh shape of the screen plate may be transferred to the surface of the film forming material layer, so that the dielectric layer formed by firing the film forming material layer is inferior in surface smoothness.

스크린 인쇄법에 의해 막형성 재료층을 형성하는 경우의 상기와 같은 문제를 해결하는 수단으로서, 본 발명자들은 유리 페이스트 조성물을 지지 필름 상에 도포하고, 도포막을 건조하여 막형성 재료층을 형성하며, 지지 필름 상에 형성된 막형성 재료층을 전극이 고정된 유리 기판 표면에 전사하고, 전사된 막형성 재료층을 소성함으로써 상기 유리 기판 표면에 유전체층을 형성하는 공정 (이하, "건식 필름법"이라고도 함)을 포함하는 PDP의 제조 방법을 제안하고 있다 (일본 특허 공개 (평) 9-102273호 공보 참조).As a means for solving the above problems in forming the film forming material layer by the screen printing method, the present inventors apply the glass paste composition onto the support film, and dry the coating film to form the film forming material layer, A process of forming a dielectric layer on the surface of the glass substrate by transferring the film forming material layer formed on the supporting film to the glass substrate surface on which the electrode is fixed and firing the transferred film forming material layer (hereinafter also referred to as "dry film method"). ) Is proposed a method for producing a PDP (see Japanese Patent Laid-Open No. 9-102273).

이러한 제조 방법에 따르면, 막두께의 균일성 및 표면의 균일성이 우수한 유전체층을 형성할 수 있다.According to this manufacturing method, it is possible to form a dielectric layer having excellent film uniformity and surface uniformity.

또한, 본 발명자들은 PDP의 유전체층을 형성하기 위해 바람직하게 사용할 수 있는 전사 필름으로서 지지 필름과, 유리 페이스트 조성물로부터 얻어지는 막형성 재료층과, 이 막형성 재료층 표면에 박리 용이하게 설치된 커버 필름을 적층하여 구성되는 복합 필름 (이하, "전사 필름"이라고도 함)에 대해서도 제안하고 있다 (일본 특허 공개 (평) 10-291834호 공보 참조).In addition, the present inventors laminate a support film, a film forming material layer obtained from a glass paste composition, and a cover film easily peeled off the surface of the film forming material layer as a transfer film which can be preferably used to form a dielectric layer of a PDP. Is also proposed for a composite film (hereinafter also referred to as "transfer film") (see JP-A-10-291834).

이러한 전사 필름은 이것을 롤형으로 권취하여 보존할 수 있는 점에서도 유리하다.Such a transfer film is also advantageous in that it can be wound and stored in a roll shape.

그러나, 종래의 전사 필름에 있어서는 기판 상의 먼지, 이물질 등의 영향에 의해 전사, 소성의 각 공정을 거쳐 형성한 유전체층에 핀홀이 발생하기 쉽고, 핀홀부가 PDP의 표시 불량으로 연결되어 버린다는 문제가 있었다.However, in the conventional transfer film, there is a problem that pinholes are likely to occur in the dielectric layer formed through the transfer and firing processes under the influence of dust and foreign matter on the substrate, and the pinhole portions are connected to the display defect of the PDP. .

또한, 종래의 전사 필름에 있어서는, 형성하는 유전체층의 막두께가 두꺼워짐에 따라 소성시의 유기 성분의 제거가 곤란해진다는 문제가 있었다.Moreover, in the conventional transfer film, there existed a problem that removal of the organic component at the time of baking becomes difficult, as the film thickness of the dielectric layer to form becomes thick.

본 발명은 이상과 같은 사정에 기초하여 이루어진 것이다.This invention is made | formed based on the above circumstances.

본 발명의 제1 목적은 기판 상의 먼지, 이물질 등의 영향을 받지 않고 균일한 유전체층을 형성할 수 있는 유전체층 형성용 전사 필름을 제공하는 데 있다.It is a first object of the present invention to provide a transfer film for forming a dielectric layer capable of forming a uniform dielectric layer without being affected by dust, foreign matters, etc. on a substrate.

본 발명의 제2 목적은 높은 광투과율을 갖는 유전체층을 형성할 수 있는 유전체층 형성용 전사 필름을 제공하는 데 있다.A second object of the present invention is to provide a transfer film for forming a dielectric layer capable of forming a dielectric layer having a high light transmittance.

본 발명의 제3 목적은 막형성 재료층의 가요성 및 전사성 (기판에 대한 가열 접착성)이 우수한 유전체층 형성용 전사 필름을 제공하는 데 있다.A third object of the present invention is to provide a transfer film for forming a dielectric layer having excellent flexibility and transferability (heat adhesion to a substrate) of a film forming material layer.

도 1은 교류형 플라즈마 디스플레이 패널의 단면 형상을 나타낸 모식도.1 is a schematic diagram showing a cross-sectional shape of an AC plasma display panel.

도 2의 (a)는 본 발명의 유전체층 형성용 전사 필름을 개략적으로 나타낸 단면도이고, (b)는 해당 전사 필름의 층 구성을 나타내는 단면도.Fig. 2 (a) is a cross sectional view schematically showing a transfer film for forming a dielectric layer of the present invention, and (b) is a cross sectional view showing a layer structure of the transfer film.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

1: 유리 기판2: 유리 기판1: glass substrate 2: glass substrate

3: 격벽4: 투명 전극3: partition 4: transparent electrode

5: 버스 전극6: 어드레스 전극5: bus electrode 6: address electrode

7: 형광 물질8: 유전체층7: fluorescent substance 8: dielectric layer

9: 유전체층P: 보호층9: dielectric layer P: protective layer

F1: 지지 필름F2: 막형성 재료층F1: support film F2: film-forming material layer

F3: 커버 필름F3: cover film

본 발명의 유전체층 형성용 전사 필름은,The transfer film for dielectric layer formation of this invention,

[A] 유리 프릿을 포함하는 무기 입자, 및[A] an inorganic particle comprising a glass frit, and

[B] 결착 수지를 포함하는 유기 성분을 함유하는 막형성 재료층을 포함하며, 상기 막형성 재료층에서의 유기 성분 [B]의 함유량이 무기 입자 [A] 100 질량부에 대하여 10 내지 25 질량부인 것을 특징으로 한다.[B] a film-forming material layer containing an organic component containing a binder resin, wherein the content of the organic component [B] in the film-forming material layer is 10 to 25% by mass based on 100 parts by mass of the inorganic particles [A]. It is characterized by the denial.

본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널은, 본 발명의 유전체층 형성용 전사 필름으로 형성된 유전체층을 포함하는 것을 특징으로 한다.The plasma display panel of the present invention includes a dielectric layer formed of the transfer film for forming a dielectric layer of the present invention.

이하, 본 발명에 대하여 상세히 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, this invention is demonstrated in detail.

<유전체층 형성용 전사 필름><Transfer Film for Dielectric Layer Formation>

본 발명의 유전체층 형성용 전사 필름은, 지지 필름 상에 형성된 막형성 재료층을 포함하는 유전체층 형성용 전사 필름으로서, 이 막형성 재료층 중에 유리 프릿을 포함하는 무기 입자 [A], 및 결착 수지를 포함하는 유기 성분 [B]를 함유하고, 유기 성분 [B]의 함유량이 무기 입자 [A] 100 질량부에 대하여 10 내지 25 질량부인 것을 필수로 한다.The transfer film for dielectric layer formation of this invention is a transfer film for dielectric layer formation containing the film forming material layer formed on the support film, Comprising: In this film forming material layer, inorganic particle [A] containing a glass frit, and binder resin are included. It contains essential organic component [B], and it is essential that content of organic component [B] is 10-25 mass parts with respect to 100 mass parts of inorganic particle [A].

본 발명의 유전체층 형성용 전사 필름은, PDP의 구성 요소인 유전체층의 형성 공정에서 사용되는 복합 필름으로서, 후술하는 막형성 재료 조성물을 지지 필름 상에 도포하고, 도포막을 건조함으로써 형성되는 막형성 재료층을 구비하여 이루어진다.The transfer film for dielectric layer formation of this invention is a composite film used at the formation process of the dielectric layer which is a component of a PDP, The film forming material layer formed by apply | coating the film forming material composition mentioned later on a support film, and drying a coating film. It is provided with.

(1) 유전체층 형성용 전사 필름의 구성:(1) Structure of Transfer Film for Dielectric Layer Formation:

도 2(a)는 롤형으로 권회된 본 발명의 유전체층 형성용 전사 필름을 개략적으로 나타내는 단면도이고, 도 2(b)는 해당 전사 필름의 층 구성을 나타내는 단면도 [(a)의 부분 상세도]이다.Fig. 2 (a) is a cross sectional view schematically showing a transfer film for forming a dielectric layer of the present invention wound in a roll shape, and Fig. 2 (b) is a cross sectional view showing a layer structure of the transfer film [partial detail of (a)]. .

도 2에 나타낸 전사 필름은 통상 지지 필름 (F1)과, 이 지지 필름 (F1) 표면에 박리 가능하게 형성된 막형성 재료층 (F2)와, 이 막형성 재료층 (F2) 표면에 박리 용이하게 설치된 커버 필름 (F3)에 의해 구성되어 있다. 커버 필름 (F3)은, 막형성 재료층 (F2)의 성질에 따라서는 사용되지 않는 경우도 있다.Usually, the transfer film shown in FIG. 2 is easily provided on the support film F1, the film formation material layer F2 formed in the surface of this support film F1 so that exfoliation is possible, and the film formation material layer F2 surface easily. It is comprised by the cover film F3. The cover film F3 may not be used depending on the property of the film formation material layer F2.

전사 필름을 구성하는 지지 필름 (F1)은, 내열성 및 내용제성을 가짐과 동시에 가요성을 갖는 수지 필름인 것이 바람직하다. 지지 필름 (F1)이 가요성을 가짐으로써 롤 코터, 블레이드 코터 등을 이용하여 페이스트형 조성물 (후술하는 막형성 재료 조성물)을 도포할 수 있고, 이에 따라 막두께가 균일한 막형성 재료층을 형성할 수 있음과 동시에, 형성된 막형성 재료층을 롤형으로 권회한 상태에서 보존하여 공급할 수 있다.It is preferable that the support film (F1) which comprises a transfer film is a resin film which has heat resistance and solvent resistance, and has flexibility. Since the support film F1 is flexible, the paste composition (film forming material composition described later) can be applied using a roll coater, a blade coater, or the like, thereby forming a film forming material layer with a uniform film thickness. At the same time, the formed film forming material layer can be stored and supplied in a rolled state.

지지 필름 (F1)을 형성하는 수지로서는, 예를 들면 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에스테르, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리스티렌, 폴리이미드, 폴리비닐알콜, 폴리염화비닐, 폴리플루오로에틸렌 등의 불소 함유 수지, 나일론, 셀룰로오스 등을 들 수 있다. 지지 필름 (F1)의 두께는, 예를 들면 20 내지 100 ㎛가 된다.As resin which forms support film (F1), fluorine-containing resin, such as polyethylene terephthalate, polyester, polyethylene, polypropylene, polystyrene, polyimide, polyvinyl alcohol, polyvinyl chloride, polyfluoroethylene, nylon And cellulose. The thickness of the support film F1 becomes 20-100 micrometers, for example.

전사 필름을 구성하는 막형성 재료층 (F2)는 소성됨으로써 유리 소결체 (유전체층)가 되는 층이며, 유리 프릿을 포함하는 무기 입자 [A] 및 결착 수지를 포함하는 유기 성분 [B]를 함유하며, 유기 성분 [B]의 함유량이 무기 입자 [A] 100 질량부에 대하여 10 내지 25 질량부인 것이 필수가 된다. 또한, 바람직하게는 유기 성분 [B]의 함유량이 무기 입자 [A] 100 질량부에 대하여 12 내지 20 질량부이다.The film formation material layer (F2) which comprises a transfer film is a layer which becomes a glass sintered compact (dielectric layer) by baking, and contains the inorganic particle [A] containing a glass frit, and the organic component [B] containing a binder resin, It is essential that content of the organic component [B] is 10-25 mass parts with respect to 100 mass parts of inorganic particle [A]. Moreover, Preferably content of organic component [B] is 12-20 mass parts with respect to 100 mass parts of inorganic particle [A].

막형성 재료층 (F2)의 두께는, 형성되는 유전체층의 막두께에 따라 상이하지만, 통상 10 내지 150 ㎛가 되고, 바람직하게는 40 내지 120 ㎛가 된다.Although the thickness of the film forming material layer F2 changes with the film thickness of the dielectric layer formed, it is 10-150 micrometers normally, Preferably it is 40-120 micrometers.

전사 필름을 구성하는 커버 필름 (F3)은, 막형성 재료층 (F2)의 표면 (유리 기판과의 접촉면)을 보호하기 위한 필름이다. 이 커버 필름 (F3)도 가요성을 갖는 수지 필름인 것이 바람직하다. 커버 필름 (F3)을 형성하는 수지로서는, 지지 필름 (F1)을 형성하는 것으로서 예시한 수지를 들 수 있다. 커버 필름 (F3)의 두께는, 예를 들면 20 내지 100 ㎛가 된다.The cover film F3 which comprises a transfer film is a film for protecting the surface (contact surface with a glass substrate) of the film formation material layer F2. It is preferable that this cover film (F3) is also a resin film which has flexibility. As resin which forms cover film F3, resin illustrated as forming support film F1 is mentioned. The thickness of cover film F3 becomes 20-100 micrometers, for example.

(2) 유전체층 형성용 전사 필름의 제조 방법:(2) Manufacturing Method of Transfer Film for Dielectric Layer Formation:

본 발명의 유전체층 형성용 전사 필름은, 지지 필름 (F1) 상에 막형성 재료층 (F2)를 형성하고, 해당 막형성 재료층 (F2) 상에 커버 필름 (F3)을 설치(압착)함으로써 제조할 수 있다.The transfer film for dielectric layer formation of this invention is manufactured by forming a film forming material layer F2 on the support film F1, and providing (pressing) the cover film F3 on the said film forming material layer F2. can do.

막형성 재료층의 형성 방법으로서는, 후술하는 막형성 재료 조성물을 지지 필름 상에 도포하고, 도포막을 건조하여 상기 용제의 일부 또는 전부를 제거하는 방법을 들 수 있다.As a formation method of a film forming material layer, the method of apply | coating the film forming material composition mentioned later on a support film, drying a coating film, and removing part or all of the said solvent is mentioned.

막형성 재료 조성물을 지지 필름 상에 도포하는 방법으로서는, 막두께가 크고 (예를 들면 20 ㎛ 이상), 막두께의 균일성이 우수한 도포막을 효율적으로 형성할 수 있는 관점에서, 롤 코터에 의한 도포 방법, 닥터 블레이드 등의 블레이드 코터에 의한 도포 방법, 커튼 코터에 의한 도포 방법, 와이어 코터에 의한 도포 방법 등을 바람직한 것으로서 들 수 있다.As a method of apply | coating a film forming material composition on a support film, it apply | coats by a roll coater from a viewpoint which can form efficiently the coating film with a large film thickness (for example, 20 micrometers or more), and excellent in the uniformity of film thickness. The method, the coating method with a blade coater, such as a doctor blade, the coating method with a curtain coater, the coating method with a wire coater, etc. are mentioned as a preferable thing.

또한, 막형성 재료 조성물이 도포되는 지지 필름의 표면에는 이형 처리가 되어 있는 것이 바람직하다. 이에 따라 막형성 재료층을 전사한 후에 해당 막형성 재료층으로부터 지지 필름을 쉽게 박리할 수 있다.Moreover, it is preferable that the mold release process is given to the surface of the support film to which the film forming material composition is apply | coated. Thereby, after transferring a film forming material layer, a support film can be peeled easily from the said film forming material layer.

지지 필름 상에 형성된 막형성 재료 조성물에 의한 도포막은 건조됨으로써 용제의 일부 또는 전부가 제거되고, 전사 필름을 구성하는 막형성 재료층이 된다. 막형성 재료 조성물에 의한 도포막의 건조 조건으로서는, 예를 들면 40 내지 150 ℃에서 0.1 내지 30분 정도가 된다. 건조 후의 용제의 잔존 비율 (막형성 재료층 중의 용제의 함유 비율)은 통상 5 중량% 이하가 되며, 0.1 내지 2 중량%인 것이바람직하다.As a coating film by the film forming material composition formed on the support film is dried, one part or all part of a solvent is removed and it becomes the film forming material layer which comprises a transfer film. As drying conditions of the coating film by a film forming material composition, it becomes about 0.1 to 30 minutes at 40-150 degreeC, for example. The residual ratio (solvent content in the film-forming material layer) of the solvent after drying is usually 5% by weight or less, and preferably 0.1 to 2% by weight.

상기와 같이 하여 형성된 막형성 재료층 상에 설치되는 (통상, 열압착되는) 커버 필름의 표면에도 이형 처리가 되어 있는 것이 바람직하다. 이에 따라, 막형성 재료층을 전사하기 전에 해당 막형성 재료층으로부터 커버 필름을 쉽게 박리할 수 있다.It is preferable that the mold release process is also performed on the surface of the cover film (usually thermocompression-bonded) provided on the film formation material layer formed as mentioned above. Thereby, the cover film can be easily peeled from the film forming material layer before transferring the film forming material layer.

(3) 막형성 재료층의 전사 (유전체층 형성용 전사 필름의 사용 방법):(3) Transfer of Film Forming Material Layer (Use Method of Transfer Film for Dielectric Layer Formation):

지지 필름 상의 막형성 재료층은 기판 표면에 일괄 전사된다. 본 발명의 유전체층 형성용 전사 필름에 따르면, 이러한 간단한 조작에 의해 막형성 재료층을 유리 기판 상에 확실하게 형성할 수 있기 때문에, 유전체층 형성 공정에서의 공정 개선 (고효율화)을 도모할 수 있음과 동시에, 형성되는 유전체층의 품질 향상 (예를 들면, 안정된 유전 특성의 발현)을 도모할 수 있다.The film forming material layer on the support film is collectively transferred to the substrate surface. According to the transfer film for forming a dielectric layer of the present invention, since the film forming material layer can be reliably formed on the glass substrate by such a simple operation, the process improvement (high efficiency) in the dielectric layer forming step can be achieved. In addition, it is possible to improve the quality of the dielectric layer formed (for example, to express stable dielectric properties).

<플라즈마 디스플레이 패널 (유전체층의 형성)><Plasma Display Panel (Formation of Dielectric Layer)>

본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널은, 본 발명의 유전체층 형성용 전사 필름을 구성하는 막형성 재료층을 기판 표면에 전사하고, 전사된 막형성 재료층을 소성함으로써 상기 기판 표면에 형성된 유전체층을 함유한다.The plasma display panel of the present invention contains the dielectric layer formed on the substrate surface by transferring the film forming material layer constituting the dielectric layer forming transfer film of the present invention to the substrate surface and firing the transferred film forming material layer.

(1) 유전체층의 형성 공정:(1) Formation Process of Dielectric Layer:

도 2에 나타낸 바와 같은 구성의 유전체층 형성용 전사 필름에 의한 막형성 재료층의 전사 공정의 일례를 나타내면 이하와 같다.An example of the transfer process of the film formation material layer by the transfer film for dielectric layer formation of the structure as shown in FIG. 2 is shown below.

① 롤형으로 권회된 상태의 전사 필름을 기판 면적에 따른 크기로 재단한다.(1) Cut the transfer film in the rolled state into a size corresponding to the substrate area.

② 재단한 전사 필름에서의 막형성 재료층 (F2)의 표면으로부터 커버 필름(F3)을 박리한 후, 기판 표면에 막형성 재료층 (F2)의 표면이 접촉되도록 전사 필름을 겹친다.(2) After peeling the cover film F3 from the surface of the film forming material layer F2 in the cut transfer film, the transfer film is laminated so that the surface of the film forming material layer F2 is in contact with the substrate surface.

③ 기판에 겹쳐진 전사 필름 상에 가열 롤러를 이동시켜 열압착시킨다.(3) Move the heating roller onto the transfer film superimposed on the substrate to perform thermal compression.

④ 열압착에 의해 기판에 고정된 막형성 재료층 (F2)로부터 지지 필름 (F1)을 박리 제거한다.(4) The support film F1 is peeled off from the film forming material layer F2 fixed to the substrate by thermocompression bonding.

상기와 같은 조작에 의해, 지지 필름 (F1) 상의 막형성 재료층 (F2)가 기판 상에 전사된다. 여기에서, 전사 조건으로서는 예를 들면 가열 롤러의 표면 온도가 60 내지 120 ℃, 가열 롤러에 의한 롤압이 1 내지 5 kg/㎠, 가열 롤러의 이동 속도가 0.2 내지 10.0 m/분이 된다. 이러한 조작 (전사 공정)은 라미네이터 장치에 의해 행할 수 있다. 또한, 기판은 예열되어 있을 수도 있으며, 예열 온도로서는 예를 들면 4O 내지 100 ℃가 된다.By the above operation, the film forming material layer F2 on the support film F1 is transferred onto the substrate. Here, as transfer conditions, the surface temperature of a heating roller is 60-120 degreeC, the roll pressure by a heating roller is 1-5 kg / cm <2>, and the moving speed of a heating roller is 0.2-10.0 m / min, for example. Such an operation (transfer step) can be performed by a laminator device. In addition, the board | substrate may be preheated, and as a preheating temperature, it becomes 40-100 degreeC, for example.

기판 표면에 전사 형성된 막형성 재료층 (F2)는 소성되어 유리 소결체 (유전체층)가 된다. 여기에서, 소성 방법으로서는, 막형성 재료층 (F2)가 전사 형성된 기판을 고온 분위기하에 배치하는 방법을 들 수 있다. 이에 따라, 막형성 재료층 (F2)에 함유되어 있는 유기 성분 [B]가 분해되어 제거되고, 무기 입자 [A]에 포함되는 유리 프릿이 용융되어 소결된다. 여기에서, 소성 온도로서는 기판의 용융 온도 등에 따라 상이하지만, 예를 들면 400 내지 700 ℃가 되고, 더욱 바람직하게는 500 내지 600 ℃가 된다. 또한, 본 발명의 유전체층 형성용 전사 필름은 형성되는 유전체층의 막두께가 25 내지 50 ㎛인 경우에 특히 바람직하게 사용할 수 있다.The film-forming material layer F2 formed on the substrate surface is fired to become a glass sintered body (dielectric layer). Here, as a baking method, the method of arrange | positioning the board | substrate with which film formation material layer F2 was formed in high temperature atmosphere is mentioned. Thereby, the organic component [B] contained in the film formation material layer F2 is decomposed | disassembled and removed, and the glass frit contained in inorganic particle [A] melts and sinters. Here, as baking temperature, although it changes with the melting temperature of a board | substrate, etc., it becomes 400-700 degreeC, for example, More preferably, it becomes 500-600 degreeC. Moreover, the transfer film for dielectric layer formation of this invention can be used especially suitably when the film thickness of the dielectric layer formed is 25-50 micrometers.

<막형성 재료 조성물><Film forming material composition>

본 발명의 유전체층 형성용 전사 필름을 구성하는 막형성 재료층은, 유리 프릿을 포함하는 무기 입자 [A], 결착 수지 및 용제를 포함하는 유기 성분 [B]를 함유하는 막형성 재료 조성물을 지지 필름 상에 도포, 건조하여 얻어지는 것이다.The film formation material layer which comprises the transfer film for dielectric layer formation of this invention supports the film formation material composition containing the organic component [B] containing the inorganic particle [A] containing a glass frit, a binder resin, and a solvent. It is obtained by apply | coating and drying on a phase.

[A] 무기 입자:[A] Inorganic Particles:

무기 입자는 유리 프릿을 필수 성분으로서 함유한다. 유리 프릿의 조성으로서는 예를 들면 ① 산화납, 산화붕소, 산화규소(PbO-B2O3-SiO2계)의 혼합물, ② 산화아연, 산화붕소, 산화규소(ZnO-B2O3-SiO2계)의 혼합물, ③ 산화납, 산화붕소, 산화규소, 산화알루미늄(PbO-B2O3-SiO2-Al2O3계)의 혼합물, ④ 산화납, 산화아연, 산화붕소, 산화규소(PbO-ZnO-B2O3-SiO2계)의 혼합물 등을 들 수 있다. 또한, 상기 외에도 플라즈마 디스플레이의 유전체층 형성에 바람직한 조성을 가진 유리 프릿을 사용할 수 있다.The inorganic particles contain glass frit as an essential component. As the composition of the glass frit, for example, ① a mixture of lead oxide, boron oxide, and silicon oxide (PbO-B 2 O 3 -SiO 2 type ), ② zinc oxide, boron oxide, and silicon oxide (ZnO-B 2 O 3 -SiO 2 )), ③ lead oxide, boron oxide, silicon oxide, a mixture of aluminum oxide (PbO-B 2 O 3 -SiO 2 -Al 2 O 3 based), ④ lead oxide, zinc oxide, boron oxide, silicon oxide (PbO-ZnO-B 2 O 3 -SiO 2 type ), and the like. In addition to the above, glass frits having a preferred composition for forming a dielectric layer of a plasma display can be used.

유리 프릿의 연화점은 통상 400 내지 600 ℃의 범위 내이다. 유리 프릿의 연화점이 400 ℃ 미만인 경우에는, 본 발명의 유전체층 형성용 전사 필름에 의한 막형성 재료층의 소성 공정에 있어서, 결착 수지 등의 유기 물질이 완전히 분해 제거되지 않은 단계에서 유리 프릿이 용융되어 버리기 때문에, 형성되는 유전체층 중에 유기 물질의 일부가 잔류하여, 그 결과 유전체층이 착색되고, 그의 광투과율이 저하되는 경향이 있다. 한편, 유리 프릿의 연화점이 600 ℃를 초과하는 경우에는, 600 ℃보다 고온에서 소성할 필요가 있기 때문에 유리 기판에 왜곡 등이 발생하기 쉽다. 또한, 높은 광투과율을 갖는 유전체층을 형성하기 위해서, 유리 프릿의 연화점은 450 내지 550 ℃인 것이 바람직하다.The softening point of the glass frit is usually in the range of 400 to 600 ° C. When the softening point of the glass frit is less than 400 ° C., the glass frit is melted in a step in which the organic material such as the binder resin is not completely decomposed and removed in the firing step of the film forming material layer by the dielectric film forming film of the present invention. As a result, part of the organic material remains in the dielectric layer to be formed, and as a result, the dielectric layer tends to be colored, and its light transmittance tends to be lowered. On the other hand, when the softening point of glass frit exceeds 600 degreeC, since baking needs to be carried out at high temperature rather than 600 degreeC, distortion etc. are easy to generate | occur | produce in a glass substrate. Moreover, in order to form the dielectric layer which has a high light transmittance, it is preferable that the softening point of a glass frit is 450-550 degreeC.

유리 프릿의 평균 입경 (메디안 직경)은 통상 0.1 내지 10 ㎛인 것이 사용되지만, 바람직하게는 1.0 내지 3.0 ㎛이다. 유리 프릿의 평균 입경이 1.0 ㎛ 미만인 경우에는, 얻어지는 조성물을 사용하여 형성되는 본 발명의 유전체층 형성용 전사 필름에서의 막형성 재료층의 가소성을 충분히 향상시킬 수 없다. 또한, 유리 프릿의 평균 입경이 3.0 ㎛를 초과하는 경우에는, 형성되는 유전체층의 균일성이 손상될 우려가 있다. 또한, 유리 프릿의 평균 입경은 보다 바람직하게는 1.5 내지 3.0 ㎛이다. 여기에서, "유리 프릿의 평균 입경"은 레이저 회절 산란법에 의해 측정된 입경으로부터 구해지는 값을 가리키는 것으로 한다.Although the average particle diameter (median diameter) of a glass frit is 0.1-10 micrometers normally, it is 1.0-3.0 micrometers preferably. When the average particle diameter of a glass frit is less than 1.0 micrometer, the plasticity of the film forming material layer in the transfer film for dielectric layer formation of this invention formed using the composition obtained cannot fully be improved. Moreover, when the average particle diameter of a glass frit exceeds 3.0 micrometers, there exists a possibility that the uniformity of the dielectric layer formed may be impaired. Moreover, the average particle diameter of a glass frit becomes like this. More preferably, it is 1.5-3.0 micrometers. Here, "average particle diameter of a glass frit" shall refer to the value calculated | required from the particle diameter measured by the laser diffraction scattering method.

무기 입자 [A] 중의 유리 프릿의 함유량은, 무기 입자 100 질량부 중 통상 80 내지 100 질량부이며, 무기 입자로서 유리 프릿 외에 금속, 무기 안료, 세라믹 등의 임의의 무기 입자를 함유할 수도 있다.The content of the glass frit in the inorganic particles [A] is usually 80 to 100 parts by mass in 100 parts by mass of the inorganic particles, and may contain any inorganic particles such as metals, inorganic pigments, ceramics, etc. in addition to the glass frit.

[B] 유기 성분:[B] Organic Ingredients:

유기 성분은 결착 수지를 필수 성분으로서 함유하며, 막형성 재료 조성물은 통상 용제를 함유한다.The organic component contains the binder resin as an essential component, and the film forming material composition usually contains a solvent.

결착 수지는 아크릴 수지인 것이 바람직하다. 결착 수지로서 아크릴 수지가 함유되어 있음으로써, 형성되는 막형성 재료층은 기판에 대한 우수한 (가열) 접착성을 갖게 된다. 따라서, 막형성 재료 조성물을 지지 필름 상에 도포하여 유전체층 형성용 전사 필름을 제조하는 경우에 있어서, 얻어지는 전사 필름은 막형성 재료층의 전사성 (기판으로의 가열 접착성)이 우수해진다.It is preferable that binder resin is an acrylic resin. By containing acrylic resin as binder resin, the film formation material layer formed will have the outstanding (heating) adhesiveness to a board | substrate. Therefore, in the case of applying the film forming material composition on the support film to produce the transfer film for forming the dielectric layer, the resulting transfer film is excellent in the transferability of the film forming material layer (heat adhesion to the substrate).

막형성 재료 조성물을 구성하는 아크릴 수지는, 적절한 점착성을 가지며 무기 입자를 결착시킬 수 있고, 막형성 재료의 소성 처리 (400 ℃ 내지 600 ℃)에 의해 완전히 산화 제거되는 (공)중합체 중에서 선택된다.The acrylic resin constituting the film forming material composition is selected from (co) polymers which have appropriate adhesiveness and can bind inorganic particles, and which are completely oxidized and removed by firing treatment (400 ° C. to 600 ° C.) of the film forming material.

이러한 아크릴 수지에는, 하기 화학식 1로 표시되는 (메트)아크릴레이트 화합물의 단독 중합체, 하기 화학식 1로 표시되는 (메트)아크릴레이트 화합물의 2종 이상의 공중합체, 및 하기 화학식 1로 표시되는 (메트)아크릴레이트 화합물과 공중합성 단량체와의 공중합체가 포함된다.In such an acrylic resin, the homopolymer of the (meth) acrylate compound represented by following formula (1), the 2 or more types of copolymers of the (meth) acrylate compound represented by following formula (1), and the (meth) represented by following formula (1) Copolymers of acrylate compounds with copolymerizable monomers are included.

식 중, R1은 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, R2는 1가의 유기기를 나타낸다.In the formula, R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group, and R 2 represents a monovalent organic group.

상기 화학식 1로 표시되는 (메트)아크릴레이트 화합물의 구체예로서는, 메틸 (메트)아크릴레이트, 에틸 (메트)아크릴레이트, 프로필 (메트)아크릴레이트, 이소프로필 (메트)아크릴레이트, 부틸 (메트)아크릴레이트, 이소부틸 (메트)아크릴레이트, t-부틸 (메트)아크릴레이트, 펜틸 (메트)아크릴레이트, 아밀 (메트)아크릴레이트, 이소아밀 (메트)아크릴레이트, 헥실 (메트)아크릴레이트, 헵틸 (메트)아크릴레이트, 옥틸 (메트)아크릴레이트, 이소옥틸 (메트)아크릴레이트, 에틸헥실 (메트)아크릴레이트, 노닐 (메트)아크릴레이트, 데실 (메트)아크릴레이트, 이소데실 (메트)아크릴레이트, 운데실 (메트)아크릴레이트, 도데실 (메트)아크릴레이트, 라우릴 (메트)아크릴레이트, 스테아릴 (메트)아크릴레이트, 이소스테아릴 (메트)아크릴레이트 등의 알킬 (메트)아크릴레이트;As a specific example of the (meth) acrylate compound represented by the said Formula (1), methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, isopropyl (meth) acrylate, butyl (meth) acryl Latex, isobutyl (meth) acrylate, t-butyl (meth) acrylate, pentyl (meth) acrylate, amyl (meth) acrylate, isoamyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, heptyl ( Meth) acrylate, octyl (meth) acrylate, isooctyl (meth) acrylate, ethylhexyl (meth) acrylate, nonyl (meth) acrylate, decyl (meth) acrylate, isodecyl (meth) acrylate, Alkyl (meth) arcs, such as undecyl (meth) acrylate, dodecyl (meth) acrylate, lauryl (meth) acrylate, stearyl (meth) acrylate, and isostearyl (meth) acrylate Rate;

히드록시에틸 (메트)아크릴레이트, 2-히드록시프로필 (메트)아크릴레이트, 3-히드록시프로필 (메트)아크릴레이트, 2-히드록시부틸 (메트)아크릴레이트, 3-히드록시부틸 (메트)아크릴레이트, 4-히드록시부틸 (메트)아크릴레이트 등의 히드록시알킬 (메트)아크릴레이트;Hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 3-hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-hydroxybutyl (meth) acrylate, 3-hydroxybutyl (meth) Hydroxyalkyl (meth) acrylates such as acrylate and 4-hydroxybutyl (meth) acrylate;

페녹시에틸 (메트)아크릴레이트, 2-히드록시-3-페녹시프로필 (메트)아크릴레이트 등의 페녹시알킬 (메트)아크릴레이트;Phenoxyalkyl (meth) acrylates such as phenoxyethyl (meth) acrylate and 2-hydroxy-3-phenoxypropyl (meth) acrylate;

2-메톡시에틸 (메트)아크릴레이트, 2-에톡시에틸 (메트)아크릴레이트, 2-프로폭시에틸 (메트)아크릴레이트, 2-부톡시에틸 (메트)아크릴레이트, 2-메톡시부틸 (메트)아크릴레이트 등의 알콕시알킬 (메트)아크릴레이트;2-methoxyethyl (meth) acrylate, 2-ethoxyethyl (meth) acrylate, 2-propoxyethyl (meth) acrylate, 2-butoxyethyl (meth) acrylate, 2-methoxybutyl ( Alkoxyalkyl (meth) acrylates such as meth) acrylate;

폴리에틸렌글리콜 모노(메트)아크릴레이트, 에톡시디에틸렌글리콜 (메트)아크릴레이트, 메톡시폴리에틸렌글리콜 (메트)아크릴레이트, 페녹시폴리에틸렌글리콜 (메트)아크릴레이트, 노닐페녹시폴리에틸렌글리콜 (메트)아크릴레이트, 폴리프로필렌글리콜 모노(메트)아크릴레이트, 메톡시폴리프로필렌글리콜 (메트)아크릴레이트, 에톡시폴리프로필렌글리콜 (메트)아크릴레이트, 노닐페녹시폴리프로필렌글리콜 (메트)아크릴레이트 등의 폴리알킬렌글리콜 (메트)아크릴레이트;Polyethylene glycol mono (meth) acrylate, ethoxydiethylene glycol (meth) acrylate, methoxypolyethylene glycol (meth) acrylate, phenoxypolyethylene glycol (meth) acrylate, nonylphenoxypolyethylene glycol (meth) acrylate, Polyalkylene glycols such as polypropylene glycol mono (meth) acrylate, methoxypolypropylene glycol (meth) acrylate, ethoxy polypropylene glycol (meth) acrylate, and nonylphenoxypolypropylene glycol (meth) acrylate ( Meth) acrylates;

시클로헥실 (메트)아크릴레이트, 4-부틸시클로헥실 (메트)아크릴레이트, 디시클로펜타닐 (메트)아크릴레이트, 디시클로펜테닐 (메트)아크릴레이트, 디시클로펜타디에닐 (메트)아크릴레이트, 보르닐 (메트)아크릴레이트, 이소보르닐 (메트)아크릴레이트, 트리시클로데카닐 (메트)아크릴레이트 등의 시클로알킬 (메트)아크릴레이트;Cyclohexyl (meth) acrylate, 4-butylcyclohexyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate, dicyclopentenyl (meth) acrylate, dicyclopentadienyl (meth) acrylate, bor Cycloalkyl (meth) acrylates such as niel (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate and tricyclodecanyl (meth) acrylate;

벤질 (메트)아크릴레이트, 테트라히드로푸르푸릴 (메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다.Benzyl (meth) acrylate, tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate, and the like.

이들 중에서 상기 화학식 1의 R2로 표시되는 기가 알킬기 또는 옥시알킬렌기를 함유하는 기인 것이 바람직하며, 특히 바람직한 (메트)아크릴레이트 화합물로서 부틸 (메트)아크릴레이트, 에틸헥실 (메트)아크릴레이트, 라우릴 (메트)아크릴레이트, 이소데실 (메트)아크릴레이트 및 2-에톡시에틸 (메트)아크릴레이트를 들 수 있다. 다른 공중합성 단량체로서는, 상기 (메트)아크릴레이트 화합물과 공중합 가능한 화합물이면 특별히 제한되지 않지만, 예를 들면 (메트)아크릴산, 비닐벤조산, 말레산, 비닐프탈산 등의 불포화 카르복실산류; 비닐벤질메틸에테르, 비닐글리시딜에테르, 스티렌, α-메틸스티렌, 부타디엔, 이소프렌 등의 비닐기 함유 라디칼 중합성 화합물을 들 수 있다.Of these, the group represented by R 2 in the general formula (1) is preferably a group containing an alkyl group or an oxyalkylene group, and as a particularly preferred (meth) acrylate compound, butyl (meth) acrylate, ethylhexyl (meth) acrylate, Uryl (meth) acrylate, isodecyl (meth) acrylate and 2-ethoxyethyl (meth) acrylate. The other copolymerizable monomer is not particularly limited as long as it is a compound copolymerizable with the (meth) acrylate compound. Examples thereof include unsaturated carboxylic acids such as (meth) acrylic acid, vinylbenzoic acid, maleic acid, and vinylphthalic acid; And vinyl group-containing radically polymerizable compounds such as vinyl benzyl methyl ether, vinyl glycidyl ether, styrene, α-methyl styrene, butadiene and isoprene.

막형성 재료 조성물을 구성하는 아크릴 수지에서의 상기 화학식 1로 표시되는 (메트)아크릴레이트 화합물 유래의 공중합 성분은 통상 70 질량% 이상, 바람직하게는 90 질량% 이상이다.The copolymerization component derived from the (meth) acrylate compound represented by the said Formula (1) in the acrylic resin which comprises a film forming material composition is 70 mass% or more normally, Preferably it is 90 mass% or more.

여기에서, 바람직한 아크릴 수지의 구체예로서는, 폴리메틸메타크릴레이트, 폴리부틸메타크릴레이트, 메틸메타크릴레이트-부틸메타크릴레이트 공중합체 등을 예시할 수 있다.Here, as a specific example of a preferable acrylic resin, polymethyl methacrylate, polybutyl methacrylate, a methyl methacrylate- butyl methacrylate copolymer, etc. can be illustrated.

막형성 재료 조성물을 구성하는 아크릴 수지의 분자량으로서는, GPC에 의한 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량 (이하, 간단히 "중량 평균 분자량"이라고도 함)이 4,000 내지 300,000인 것이 바람직하며, 10,000 내지 200,000인 것이 더욱 바람직하다.As the molecular weight of the acrylic resin constituting the film-forming material composition, the weight average molecular weight (hereinafter referred to simply as "weight average molecular weight") in terms of polystyrene by GPC is preferably 4,000 to 300,000, more preferably 10,000 to 200,000. Do.

막형성 재료 조성물에서의 결착 수지의 함유 비율은 무기 입자 100 중량부에 대하여 5 내지 25 질량부인 것이 바람직하며, 5 내지 20 중량부인 것이 더욱 바람직하다. 결착 수지의 비율이 과소한 경우에는 무기 입자를 확실하게 결착 유지할 수 없으며, 한편 이 비율이 과대한 경우에는 소성시의 유기 성분의 제거가 곤란해진다.It is preferable that it is 5-25 mass parts with respect to 100 weight part of inorganic particles, and, as for the content rate of the binder resin in a film forming material composition, it is more preferable that it is 5-20 weight part. When the ratio of the binder resin is too small, the inorganic particles cannot be reliably bound and maintained. On the other hand, when this ratio is excessive, the removal of the organic component during firing becomes difficult.

막형성 재료 조성물을 구성하는 용제로서는 유리 프릿과의 친화성, 결착 수지의 용해성이 양호하고, 막형성 재료 조성물에 적절한 점성을 부여할 수 있음과 동시에 건조됨으로써 쉽게 증발 제거될 수 있는 것이 바람직하다.As a solvent which comprises a film forming material composition, it is preferable that affinity with a glass frit and the solubility of a binder resin are favorable, it can provide an appropriate viscosity to a film forming material composition, and can be easily evaporated away by drying.

또한, 특히 바람직한 용제로서 표준 비점 (1 기압에서의 비점)이 100 내지 200 ℃인 케톤류, 알콜류 및 에스테르류 (이하, 이들을 "특정 용제"라고 함)를 들 수 있다.Moreover, ketones, alcohols, and esters (hereinafter, these are referred to as "a specific solvent") whose standard boiling point (boiling point at 1 atmosphere) are 100-200 degreeC as an especially preferable solvent are mentioned.

이러한 특정 용제의 구체예로서는, 디에틸케톤, 메틸부틸케톤, 디프로필케톤, 시클로헥사논 등의 케톤류; n-펜탄올, 4-메틸-2-펜탄올, 시클로헥산올, 디아세톤알콜 등의 알콜류; 에틸렌글리콜 모노메틸에테르, 에틸렌글리콜 모노에틸에테르, 에틸렌글리콜 모노부틸에테르, 프로필렌글리콜 모노메틸에테르, 프로필렌글리콜 모노에틸에테르 등의 에테르계 알콜류; 아세트산-n-부틸, 아세트산 아밀 등의 포화지방족 모노카르복실산 알킬에스테르류; 락트산 에틸, 락트산-n-부틸 등의 락트산 에스테르류; 메틸셀로솔브아세테이트, 에틸셀로솔브아세테이트, 프로필렌글리콜 모노메틸에테르아세테이트, 에틸-3-에톡시프로피오네이트 등의 에테르계 에스테르류 등을 예시할 수 있으며, 이들 중에서 메틸부틸케톤, 시클로헥사논, 디아세톤알콜, 에틸렌글리콜 모노부틸에테르, 프로필렌글리콜 모노메틸에테르, 락트산 에틸, 프로필렌글리콜 모노메틸에테르아세테이트, 에틸-3-에톡시프로피오네이트 등이 바람직하다. 이들 특정 용제는 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.As a specific example of such a specific solvent, Ketones, such as diethyl ketone, methylbutyl ketone, dipropyl ketone, cyclohexanone; alcohols such as n-pentanol, 4-methyl-2-pentanol, cyclohexanol and diacetone alcohol; Ether alcohols such as ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol monobutyl ether, propylene glycol monomethyl ether and propylene glycol monoethyl ether; Saturated aliphatic monocarboxylic acid alkyl esters such as acetic acid-n-butyl and amyl acetate; Lactic acid esters such as ethyl lactate and lactic acid-n-butyl; Ether esters such as methyl cellosolve acetate, ethyl cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, and ethyl-3-ethoxypropionate; and the like, and methylbutyl ketone and cyclohexanone can be exemplified. And diacetone alcohol, ethylene glycol monobutyl ether, propylene glycol monomethyl ether, ethyl lactate, propylene glycol monomethyl ether acetate, ethyl-3-ethoxypropionate, and the like. These specific solvents can be used individually or in combination of 2 or more types.

특정 용제 이외의 용제의 구체예로서는 테레빈유, 에틸셀로솔브, 메틸셀로솔브, 테르피네올(terpineol), 부틸카르비톨아세테이트, 부틸카르비톨, 이소프로필알콜, 벤질알콜 등을 들 수 있다.Specific examples of solvents other than specific solvents include terebin oil, ethyl cellosolve, methyl cellosolve, terpineol, butyl carbitol acetate, butyl carbitol, isopropyl alcohol, benzyl alcohol, and the like.

막형성 재료 조성물에서의 용제의 함유 비율은, 막형성 재료 조성물의 점도를 바람직한 범위로 유지하는 관점에서 유리 프릿 100 질량부에 대하여 1 내지 50 질량부인 것이 바람직하고, 5 내지 40 질량부인 것이 더욱 바람직하다.It is preferable that it is 1-50 mass parts with respect to 100 mass parts of glass frits from a viewpoint of keeping the viscosity of a film forming material composition in a preferable range, and it is more preferable that it is 5-40 mass parts in the film forming material composition. Do.

또한, 전체 용제에 대한 특정 용제의 함유 비율은 50 질량% 이상인 것이 바람직하며, 70 질량% 이상인 것이 더욱 바람직하다.Moreover, it is preferable that it is 50 mass% or more, and, as for the content rate of the specific solvent with respect to all the solvents, it is more preferable that it is 70 mass% or more.

막형성 재료 조성물에는 무기 입자의 분산 안정성 향상을 목적으로 실릴기 함유 화합물이 포함되어 있을 수도 있다. 해당 실릴기 함유 화합물로서는, 하기 화학식 2로 표시되는 실릴기 함유 화합물 [포화 알킬기 함유 (알킬)알콕시실란]이 바람직하다.The film forming material composition may contain a silyl group-containing compound for the purpose of improving the dispersion stability of the inorganic particles. As this silyl group containing compound, the silyl group containing compound [saturated alkyl group containing (alkyl) alkoxysilane] represented by following formula (2) is preferable.

식 중, p는 3 내지 20의 정수이고, m, n 및 a는 1 내지 3의 정수이다.In formula, p is an integer of 3-20, m, n, and a are integers of 1-3.

상기 화학식 2에 있어서, 포화 알킬기의 탄소수를 나타내는 p는 3 내지 20의 정수가 되며, 바람직하게는 4 내지 16의 정수가 된다.In the said Formula (2), p which shows the carbon number of a saturated alkyl group becomes an integer of 3-20, Preferably it becomes an integer of 4-16.

p가 3 미만인 포화 알킬기 함유 (알킬)알콕시실란을 함유시켜도 얻어지는 막형성 재료층에 있어서 충분한 가요성이 발현되지 않는 경우가 있다. 한편, p의 값이 20을 초과하는 포화 알킬기 함유 (알킬)알콕시실란은 분해 온도가 높고, 얻어지는 막형성 재료층의 소성 공정에 있어서 유기 물질 (상기 실란 유도체)이 완전히 분해 제거되지 않은 단계에서 유리 프릿이 용융되어 버리기 때문에, 형성되는 유전체층 중에 유기 물질의 일부가 잔류하고, 그 결과 유전체층의 광투과율이 저하되는 경우가 있다.Even if p contains a saturated alkyl group-containing (alkyl) alkoxysilane having less than 3, sufficient flexibility may not be expressed in the resulting film forming material layer. On the other hand, a saturated alkyl group-containing (alkyl) alkoxysilane having a p value of more than 20 has a high decomposition temperature and is free at the stage where the organic material (the silane derivative) is not completely decomposed and removed in the firing process of the film forming material layer obtained. Since the frit melts, part of the organic material remains in the dielectric layer to be formed, and as a result, the light transmittance of the dielectric layer may decrease.

상기 화학식 2로 표시되는 실릴기 함유 화합물의 구체예로서는, n-프로필디메틸메톡시실란, n-부틸디메틸메톡시실란, n-데실디메틸메톡시실란, n-헥사데실디메틸메톡시실란, n-에이코실디메틸메톡시실란 등의 포화 알킬디메틸메톡시실란류 (a=1, m=1, n=1);Specific examples of the silyl group-containing compound represented by the formula (2) include n-propyldimethylmethoxysilane, n-butyldimethylmethoxysilane, n-decyldimethylmethoxysilane, n-hexadecyldimethylmethoxysilane, and n-eco Saturated alkyldimethylmethoxysilanes such as sildimethylmethoxysilane (a = 1, m = 1, n = 1);

n-프로필디에틸메톡시실란, n-부틸디에틸메톡시실란, n-데실디에틸메톡시실란, n-헥사데실디에틸메톡시실란, n-에이코실디에틸메톡시실란 등의 포화 알킬디에틸메톡시실란류 (a=1, m=1, n=2);saturated alkyl di such as n-propyldiethylmethoxysilane, n-butyldiethylmethoxysilane, n-decyldiethylmethoxysilane, n-hexadecyldiethylmethoxysilane, n-ecosyldiethylmethoxysilane Ethyl methoxysilanes (a = 1, m = 1, n = 2);

n-부틸디프로필메톡시실란, n-데실디프로필메톡시실란, n-헥사데실디프로필메톡시실란, n-에이코실디프로필메톡시실란 등의 포화 알킬디프로필메톡시실란류 (a=1, m=1, n=3);saturated alkyldipropyl methoxysilanes such as n-butyldipropylmethoxysilane, n-decyldipropylmethoxysilane, n-hexadecyldipropylmethoxysilane and n-ecosyldipropylmethoxysilane (a = 1 , m = 1, n = 3);

n-프로필디메틸에톡시실란, n-부틸디메틸에톡시실란, n-데실디메틸에톡시실란, n-헥사데실디메틸에톡시실란, n-에이코실디메틸에톡시실란 등의 포화 알킬디메틸에톡시실란류 (a=1, m=2, n=1);Saturated alkyl dimethyl ethoxy silanes, such as n-propyl dimethyl ethoxysilane, n-butyl dimethyl ethoxy silane, n-decyl dimethyl ethoxy silane, n-hexadecyl dimethyl ethoxy silane, n-eicosyl dimethyl ethoxy silane, etc. (a = 1, m = 2, n = 1);

n-프로필디에틸에톡시실란, n-부틸디에틸에톡시실란, n-데실디에틸에톡시실란, n-헥사데실디에틸에톡시실란, n-에이코실디에틸에톡시실란 등의 포화 알킬디에틸에톡시실란류 (a=1, m=2, n=2);Saturated alkyl di, such as n-propyldiethylethoxysilane, n-butyldiethylethoxysilane, n-decyldiethylethoxysilane, n-hexadecyldiethylethoxysilane, and n-eicosyldiethylethoxysilane Ethyl ethoxysilanes (a = 1, m = 2, n = 2);

n-부틸디프로필에톡시실란, n-데실디프로필에톡시실란, n-헥사데실디프로필에톡시실란, n-에이코실디프로필에톡시실란 등의 포화 알킬디프로필에톡시실란류 (a=1, m=2, n=3);saturated alkyldipropylethoxysilanes such as n-butyldipropylethoxysilane, n-decyldipropylethoxysilane, n-hexadecyldipropylethoxysilane and n-ecosyldipropylethoxysilane (a = 1 , m = 2, n = 3);

n-프로필디메틸프로폭시실란, n-부틸디메틸프로폭시실란, n-데실디메틸프로폭시실란, n-헥사데실디메틸프로폭시실란, n-에이코실디메틸프로폭시실란 등의 포화 알킬디메틸프로폭시실란류 (a=1, m=3, n=1);Saturated alkyl dimethyl propoxy silanes, such as n-propyl dimethyl propoxy silane, n-butyl dimethyl propoxy silane, n-decyl dimethyl propoxy silane, n-hexadecyl dimethyl propoxy silane, n-eicosyl dimethyl propoxy silane, etc. (a = 1, m = 3, n = 1);

n-프로필디에틸프로폭시실란, n-부틸디에틸프로폭시실란, n-데실디에틸프로폭시실란, n-헥사데실디에틸프로폭시실란, n-에이코실디에틸프로폭시실란 등의 포화 알킬디에틸프로폭시실란류 (a=1, m=3, n=2);Saturated alkyl di, such as n-propyl diethyl propoxy silane, n-butyl diethyl propoxy silane, n-decyl diethyl propoxy silane, n-hexadecyl diethyl propoxy silane, and n-ecosyl diethyl propoxy silane Ethyl propoxysilanes (a = 1, m = 3, n = 2);

n-부틸디프로필프로폭시실란, n-데실디프로필프로폭시실란, n-헥사데실디프로필프로폭시실란, n-에이코실디프로필프로폭시실란 등의 포화 알킬디프로필프로폭시실란류 (a=1, m=3, n=3);Saturated alkyl dipropyl propoxy silanes, such as n-butyl dipropyl propoxy silane, n-decyl dipropyl propoxy silane, n-hexadecyl dipropyl propoxy silane, and n-eicosyl dipropyl propoxy silane (a = 1 , m = 3, n = 3);

n-프로필메틸디메톡시실란, n-부틸메틸디메톡시실란, n-데실메틸디메톡시실란, n-헥사데실메틸디메톡시실란, n-에이코실메틸디메톡시실란 등의 포화 알킬메틸디메톡시실란류 (a=2, m=1, n=1);Saturated alkyl methyl dimethoxy silanes, such as n-propylmethyldimethoxysilane, n-butylmethyldimethoxysilane, n-decylmethyldimethoxysilane, n-hexadecylmethyldimethoxysilane, and n-eicosylmethyldimethoxysilane (a = 2, m = 1, n = 1);

n-프로필에틸디메톡시실란, n-부틸에틸디메톡시실란, n-데실에틸디메톡시실란, n-헥사데실에틸디메톡시실란, n-에이코실에틸디메톡시실란 등의 포화 알킬에틸디메톡시실란류 (a=2, m=1, n=2);Saturated alkyl ethyl dimethoxy silanes, such as n-propyl ethyl dimethoxy silane, n-butyl ethyl dimethoxy silane, n-decyl ethyl dimethoxy silane, n-hexadecyl ethyl dimethoxy silane, and n-eicosyl ethyl dimethoxy silane (a = 2, m = 1, n = 2);

n-부틸프로필디메톡시실란, n-데실프로필디메톡시실란, n-헥사데실프로필디메톡시실란, n-에이코실프로필디메톡시실란 등의 포화 알킬프로필디메톡시실란류 (a=2, m=1, n=3);Saturated alkyl propyl dimethoxy silanes, such as n-butyl propyl dimethoxy silane, n-decyl propyl dimethoxy silane, n-hexadecyl propyl dimethoxy silane, and n-eicosyl propyl dimethoxy silane (a = 2, m = 1). , n = 3);

n-프로필메틸디에톡시실란, n-부틸메틸디에톡시실란, n-데실메틸디에톡시실란, n-헥사데실메틸디에톡시실란, n-에이코실메틸디에톡시실란 등의 포화 알킬메틸디에톡시실란류 (a=2, m=2, n=1);Saturated alkylmethyl diethoxysilanes, such as n-propylmethyl diethoxysilane, n-butylmethyl diethoxysilane, n-decylmethyl diethoxysilane, n-hexadecylmethyl diethoxysilane, and n-eicosylmethyl diethoxysilane (a = 2, m = 2, n = 1);

n-프로필에틸디에톡시실란, n-부틸에틸디에톡시실란, n-데실에틸디에톡시실란, n-헥사데실에틸디에톡시실란, n-에이코실에틸디에톡시실란 등의 포화 알킬에틸디에톡시실란류 (a=2, m=2, n=2);Saturated alkyl ethyl diethoxysilanes, such as n-propyl ethyl diethoxy silane, n-butyl ethyl diethoxy silane, n-decyl ethyl diethoxy silane, n-hexadecyl ethyl diethoxy silane, and n-eicosyl ethyl diethoxy silane. (a = 2, m = 2, n = 2);

n-부틸프로필디에톡시실란, n-데실프로필디에톡시실란, n-헥사데실프로필디에톡시실란, n-에이코실프로필디에톡시실란 등의 포화 알킬프로필디에톡시실란류 (a=2, m=2, n=3);Saturated alkyl propyl diethoxysilanes, such as n-butyl propyl diethoxysilane, n-decyl propyl diethoxy silane, n-hexadecyl propyl diethoxy silane, and n- ethoxy propyl diethoxy silane (a = 2, m = 2) , n = 3);

n-프로필메틸디프로폭시실란, n-부틸메틸디프로폭시실란, n-데실메틸디프로폭시실란, n-헥사데실메틸디프로폭시실란, n-에이코실메틸디프로폭시실란 등의 포화 알킬메틸디프로폭시실란류 (a=2, m=3, n=1);saturated alkyls such as n-propylmethyldipropoxysilane, n-butylmethyldipropoxysilane, n-decylmethyldipropoxysilane, n-hexadecylmethyldipropoxysilane, n-ecosylmethyldipropoxysilane Methyldipropoxysilanes (a = 2, m = 3, n = 1);

n-프로필에틸디프로폭시실란, n-부틸에틸디프로폭시실란, n-데실에틸디프로폭시실란, n-헥사데실에틸디프로폭시실란, n-에이코실에틸디프로폭시실란 등의 포화 알킬에틸디프로폭시실란류 (a=2, m=3, n=2);saturated alkyls such as n-propylethyldipropoxysilane, n-butylethyldipropoxysilane, n-decylethyldipropoxysilane, n-hexadecylethyldipropoxysilane, n-ecosylethyldipropoxysilane Ethyldipropoxysilanes (a = 2, m = 3, n = 2);

n-부틸프로필디프로폭시실란, n-데실프로필디프로폭시실란, n-헥사데실프로필디프로폭시실란, n-에이코실프로필디프로폭시실란 등의 포화 알킬프로필디프로폭시실란류 (a=2, m=3, n=3);Saturated alkyl propyl dipropoxy silanes, such as n-butyl propyl dipropoxy silane, n-decyl propyl dipropoxy silane, n-hexadecyl propyl dipropoxy silane, and n- ecoxy propyl dipropoxy silane (a = 2, m = 3, n = 3);

n-프로필트리메톡시실란, n-부틸트리메톡시실란, n-데실트리메톡시실란, n-헥사데실트리메톡시실란, n-에이코실트리메톡시실란 등의 포화 알킬트리메톡시실란류 (a=3, m=1);Saturated alkyl trimethoxysilanes, such as n-propyl trimethoxysilane, n-butyl trimethoxysilane, n-decyl trimethoxysilane, n-hexadecyl trimethoxysilane, and n-eicosyl trimethoxysilane (a = 3, m = 1);

n-프로필트리에톡시실란, n-부틸트리에톡시실란, n-데실트리에톡시실란, n-헥사데실트리에톡시실란, n-에이코실트리에톡시실란 등의 포화 알킬트리에톡시실란류 (a=3, m=2);Saturated alkyl triethoxysilanes, such as n-propyl triethoxysilane, n-butyl triethoxysilane, n-decyl triethoxysilane, n-hexadecyl triethoxysilane, and n-eicosyl triethoxysilane (a = 3, m = 2);

n-프로필트리프로폭시실란, n-부틸트리프로폭시실란, n-데실트리프로폭시실란, n-헥사데실트리프로폭시실란, n-에이코실트리프로폭시실란 등의 포화 알킬트리프로폭시실란류 (a=3, m=3) 등을 들 수 있으며, 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.Saturated alkyl tripropoxy silanes, such as n-propyl tripropoxy silane, n-butyl tripropoxy silane, n-decyl tripropoxy silane, n-hexadecyl tripropoxy silane, and n-eicosyl tripropoxy silane (a = 3, m = 3), etc. These can be used individually or in combination of 2 or more types.

이들 중에서 n-부틸트리메톡시실란, n-데실트리메톡시실란, n-헥사데실트리메톡시실란, n-데실디메틸메톡시실란, n-헥사데실디메틸메톡시실란, n-부틸트리에톡시실란, n-데실트리에톡시실란, n-헥사데실트리에톡시실란, n-데실에틸디에톡시실란, n-헥사데실에틸디에톡시실란, n-부틸트리프로폭시실란, n-데실트리프로폭시실란, n-헥사데실트리프로폭시실란 등이 특히 바람직하다.Of these, n-butyltrimethoxysilane, n-decyltrimethoxysilane, n-hexadecyltrimethoxysilane, n-decyldimethylmethoxysilane, n-hexadecyldimethylmethoxysilane, n-butyltriethoxy Silane, n-decyltriethoxysilane, n-hexadecyltriethoxysilane, n-decylethyldiethoxysilane, n-hexadecylethyldiethoxysilane, n-butyltripropoxysilane, n-decyltripropoxy Silane, n-hexadecyl tripropoxysilane, and the like are particularly preferable.

막형성 재료 조성물에서의 실릴기 함유 화합물의 함유 비율은, 유리 프릿 100 질량부에 대하여 5 질량부 이하인 것이 바람직하며, 3 질량부 이하인 것이 더욱 바람직하다. 실릴기 함유 화합물의 비율이 과대한 경우에는, 얻어지는 막형성 재료 조성물을 보존할 때 점도가 경시적으로 상승하거나, 실릴기 함유 화합물들이 반응을 일으켜 소성 후의 광투과율을 낮추는 원인이 되는 경우가 있다.It is preferable that it is 5 mass parts or less with respect to 100 mass parts of glass frits, and, as for the content rate of the silyl group containing compound in a film forming material composition, it is more preferable that it is 3 mass parts or less. When the proportion of the silyl group-containing compound is excessive, the viscosity may increase over time when preserving the resulting film-forming material composition, or the silyl group-containing compounds may cause a reaction to lower the light transmittance after firing.

또한, 막형성 재료 조성물에 있어서는, 형성되는 막형성 재료층에 양호한 가요성과 연소성을 발현시키기 위해 가소제가 함유되어 있을 수도 있다. 가소제로서는, 하기 화학식 3 또는 4로 표시되는 화합물을 포함하는 가소제, 또는 폴리프로필렌글리콜이 바람직하다.In addition, in a film forming material composition, a plasticizer may be contained in order to express favorable flexibility and combustibility in the film forming material layer formed. As a plasticizer, the plasticizer containing the compound represented by following formula (3) or 4, or polypropylene glycol is preferable.

식 중, R3및 R6은 각각 동일하거나 또는 상이한 탄소수 1 내지 30의 알킬기를 나타내고, R4및 R5는 각각 동일하거나 또는 상이한 메틸렌기 또는 탄소수 2 내지 30의알킬렌기를 나타내며, s는 0 내지 5의 수이고, t는 1 내지 10의 수이다.Wherein R 3 and R 6 each represent the same or different alkyl group having 1 to 30 carbon atoms, R 4 and R 5 each represent the same or different methylene group or an alkylene group having 2 to 30 carbon atoms, and s is 0 To 5 and t is a number from 1 to 10.

식 중, R7은 탄소수 1 내지 30의 알킬기 또는 알케닐기를 나타낸다.In formula, R <7> represents a C1-C30 alkyl group or alkenyl group.

가소제를 함유하는 막형성 재료층을 구비한 전사 필름에 의하면, 이것을 구부려도 해당 막형성 재료층 표면에 미소한 균열 (금이 감)이 발생하는 경우가 없고, 또한 해당 전사 필름은 유연성이 우수해져 이것을 롤형으로 권취하는 것도 쉽게 행할 수 있다.According to the transfer film provided with the film forming material layer containing a plasticizer, even if this is bent, a small crack (cracking) does not generate | occur | produce on the surface of this film forming material layer, and this transfer film becomes excellent in flexibility It can also be easily wound up in roll shape.

특히, 상기 화학식 3 또는 4로 표시되는 화합물을 포함하는 가소제는, 열에 의해 쉽게 분해 제거되기 때문에 상기 막형성 재료층을 소성하여 얻어지는 유전체층의 광투과율을 저하시키는 경우는 없다.In particular, since the plasticizer containing the compound represented by the above formula (3) or (4) is easily decomposed and removed by heat, the light transmittance of the dielectric layer obtained by firing the film forming material layer is not reduced.

상기 화학식 3에 있어서, R3또는 R6으로 표시되는 알킬기 및 R4또는 R5로 표시되는 알킬렌기는 직쇄상일 수도, 분지상일 수도 있으며, 또한 포화기일 수도, 불포화기일 수도 있다.In the general formula (3), the alkyl group represented by R 3 or R 6 and the alkylene group represented by R 4 or R 5 may be linear, branched, or may be saturated or unsaturated.

R3또는 R6으로 표시되는 알킬기의 탄소수는 1 내지 30이 되며, 바람직하게는 2 내지 20, 더욱 바람직하게는 4 내지 10이 된다.Carbon number of the alkyl group represented by R <3> or R <6> becomes 1-30, Preferably it is 2-20, More preferably, it is 4-10.

상기 알킬기의 탄소수가 30를 초과하는 경우에는, 본 발명을 구성하는 용제에 대한 가소제의 용해성이 저하되어 양호한 가요성을 얻지 못하는 경우가 있다.When carbon number of the said alkyl group exceeds 30, solubility of the plasticizer with respect to the solvent which comprises this invention may fall, and favorable flexibility may not be obtained.

상기 화학식 3으로 표시되는 화합물의 구체예로서는 디부틸아디페이트, 디이소부틸아디페이트, 디-2-에틸헥실아디페이트, 디-2-에틸헥실아젤레이트, 디부틸세바케이트, 디부틸디글리콜아디페이트 등을 들 수 있다. 바람직하게는 n이 2 내지 6으로 표시되는 화합물이다.Specific examples of the compound represented by Formula 3 include dibutyl adipate, diisobutyl adipate, di-2-ethylhexyl adipate, di-2-ethylhexyl azelate, dibutyl sebacate, dibutyl diglycol adipate Etc. can be mentioned. Preferably, n is a compound represented by 2-6.

상기 화학식 4에 있어서, R7은 탄소수 1 내지 30의 알킬기 또는 알케닐기를 나타내며, R7로 표시되는 알킬기 및 알케닐기는 직쇄상일 수도, 분지상일 수도 있으며, 또한 포화기일 수도, 불포화기일 수도 있다.In Formula 4, R 7 represents an alkyl group or alkenyl group having 1 to 30 carbon atoms, and the alkyl group and alkenyl group represented by R 7 may be linear, branched, or may be saturated or unsaturated. .

R7로 표시되는 알킬기 또는 알케닐기의 탄소수는 1 내지 30이 되며, 바람직하게는 2 내지 20, 더욱 바람직하게는 10 내지 18이 된다.Carbon number of the alkyl group or alkenyl group represented by R <7> becomes 1-30, Preferably it is 2-20, More preferably, it is 10-18.

상기 화학식 4로 표시되는 화합물의 구체예로서는, 프로필렌글리콜 모노라우레이트, 프로필렌글리콜 모노올레이트 등을 들 수 있다.Specific examples of the compound represented by the formula (4) include propylene glycol monolaurate, propylene glycol monooleate, and the like.

또한, 가소제로서 폴리프로필렌글리콜을 사용하는 경우, 이러한 폴리프로필렌글리콜의 중량 평균 분자량(Mw)은 200 내지 3,000의 범위 내에 있는 것이 바람직하며, 300 내지 2,000의 범위 내에 있는 것이 특히 바람직하다. 폴리프로필렌글리콜의 Mw가 200 미만인 경우에는, 막강도가 큰 막형성 재료층을 지지 필름 상에 형성하기가 곤란해지는 경우가 있으며, 상기 막형성 재료층을 구비하여 구성되는 전사 필름을 사용하여 행하는 전사 공정에 있어서, 유리 기판에 가열 접착된 막형성 재료층으로부터 지지 필름을 박리하고자 하면, 상기 막형성 재료층이 응집 파괴를일으키는 경우가 있다. 한편, Mw가 3,000을 초과하는 경우에는, 유리 기판과의 가열 접착성이 양호한 막형성 재료층을 얻지 못하는 경우가 있다.Moreover, when using polypropylene glycol as a plasticizer, it is preferable that the weight average molecular weight (Mw) of such polypropylene glycol exists in the range of 200-3,000, and it is especially preferable to exist in the range of 300-2,000. When Mw of polypropylene glycol is less than 200, it may become difficult to form a film forming material layer with a large film strength on a support film, and the transfer performed using the transfer film comprised with the said film forming material layer. In a process, when it is going to peel a support film from the film forming material layer heat-bonded to the glass substrate, the said film forming material layer may cause cohesive failure. On the other hand, when Mw exceeds 3,000, the film formation material layer with favorable heat adhesiveness with a glass substrate may not be obtained.

막형성 재료 조성물에서의 가소제의 함유량으로서는, 무기 분체 100 질량부에 대하여 0.5 내지 10 질량부가 바람직하며, 2 내지 7 질량부가 더욱 바람직하다. 가소제의 첨가량이 증가하면, 얻어지는 본 발명의 유전체층 형성용 전사 필름의 강도를 유지할 수 없게 될 우려가 있다.As content of the plasticizer in a film forming material composition, 0.5-10 mass parts is preferable with respect to 100 mass parts of inorganic powder, and 2-7 mass parts is more preferable. When the addition amount of a plasticizer increases, there exists a possibility that it may become impossible to maintain the intensity | strength of the transfer film for dielectric layer formation of this invention obtained.

막형성 재료 조성물에는 상기 성분 외에 점착성 부여제, 표면 장력 조정제, 안정제, 소포제, 분산제 등의 각종 첨가제가 임의 성분으로서 함유되어 있을 수도 있다. 분산제로서는 지방산이 바람직하게 사용된다. 특히, 탄소수 8 내지 30의 지방산이 바람직하다. 상기 지방산의 바람직한 구체예로서는 옥탄산, 운데실산, 라우르산, 미리스트산, 팔미트산, 펜타데칸산, 스테아르산, 아라킨산 등의 포화 지방산; 엘라이드산, 올레산, 리놀산, 리놀렌산, 아라키돈산, 카르복시폴리카프로락톤(n=2) 모노아크릴레이트 등의 불포화 지방산을 들 수 있으며, 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.The film forming material composition may contain, in addition to the above components, various additives such as a tackifier, a surface tension regulator, a stabilizer, an antifoaming agent, and a dispersant as optional components. As the dispersant, fatty acids are preferably used. In particular, fatty acids having 8 to 30 carbon atoms are preferred. Preferable specific examples of the fatty acid include saturated fatty acids such as octanoic acid, undecyl acid, lauric acid, myristic acid, palmitic acid, pentadecanoic acid, stearic acid and arachnic acid; Unsaturated fatty acids, such as elic acid, oleic acid, linoleic acid, linolenic acid, arachidonic acid, and carboxypolycaprolactone (n = 2) monoacrylate, are mentioned, These can be used individually or in combination of 2 or more types.

막형성 재료 조성물에서의 분산제의 함유 비율은, 무기 입자 100 질량부에 대하여 5 질량부 이하가 바람직하며, 3 질량부 이하가 더욱 바람직하다.5 mass parts or less are preferable with respect to 100 mass parts of inorganic particles, and, as for the content rate of the dispersing agent in a film formation material composition, 3 mass parts or less are more preferable.

막형성 재료 조성물은 통상 상기 유리 프릿을 포함하는 무기 입자 [A] 및 결착 수지 및 용제를 포함하는 유기 성분 [B]를 롤 혼련기, 믹서, 호모 믹서, 샌드 밀 등의 혼련ㆍ분산기를 이용하여 혼련함으로써 제조할 수 있다. 상기 막형성 재료 조성물의 점도로서는 100 내지 10000 mPaㆍs-1인 것이 바람직하다.The film-forming material composition usually uses inorganic kneaders [A] containing the glass frit and organic ingredients [B] containing the binder resin and the solvent, using kneading and dispersing machines such as a roll kneader, a mixer, a homo mixer, and a sand mill. It can manufacture by kneading. As a viscosity of the said film forming material composition, it is preferable that it is 100-10000 mPa * s- 1 .

<실시예><Example>

이하, 본 발명의 실시예에 대하여 설명하지만, 본 발명은 이것들에 의해 한정되는 것은 아니다. 또한, 이하에 있어서 "부"는 "질량부"를 나타낸다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, although the Example of this invention is described, this invention is not limited by these. In addition, "part" shows a "mass part" below.

<실시예 1><Example 1>

(1) 막형성 재료 조성물의 제조:(1) Preparation of Film Forming Material Composition:

무기 입자 (성분 [A])로서 PbO-B2O3-SiO2계 유리 프릿 (연화점 480 ℃, 평균 입경 2.0 ㎛) 100부, 결착 수지 (성분 [B])로서 2-에틸헥실메타크릴레이트/히드록시에틸메타크릴레이트=90 질량%/10 질량% 공중합체 (중량 평균 분자량: 50,000) 8부, 가소제 (성분 [B])로서 하기 화학식 a로 표시되는 화합물 (프로필렌글리콜 모노올레이트) 4부, 용제 (성분 [B])로서 프로필렌글리콜 모노메틸에테르 20부를 분산기를 사용하여 혼련함으로써 점도가 4,000 mPaㆍs-1인 막형성 재료 조성물을 제조하였다.PbO-B 2 O 3 -SiO 2 -based glass frit (softening point 480 ° C., average particle diameter 2.0 μm) as the inorganic particles (component [A]), 2-ethylhexyl methacrylate as binder resin (component [B]) / Hydroxyethyl methacrylate = 90% by mass / 10% by mass copolymer (weight average molecular weight: 50,000) 8 parts, a plasticizer (component [B]) represented by the following formula (a) (propylene glycol monooleate) 4 In addition, 20 parts of propylene glycol monomethyl ethers were knead | mixed using a dispersing machine as a solvent (component [B]), and the film forming material composition which has a viscosity of 4,000 mPa * s- 1 was manufactured.

(2) 유전체층 형성용 전사 필름의 제작 및 평가 (가요성):(2) Preparation and Evaluation of Transfer Film for Dielectric Layer Formation (Flexibility):

상기 (1)에서 제조한 막형성 재료 조성물을 미리 이형 처리한 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET)를 포함하는 지지 필름 (폭 400 mm, 길이 30 m, 두께 38 ㎛) 상에 블레이드 코터를 이용하여 도포하고, 형성된 도포막을 100 ℃에서 5분간 건조함으로써 용제를 제거하고, 이에 따라 두께 50 ㎛의 막형성 재료층을 지지 필름 상에 형성하였다 (막두께 1). 이어서, 상기 막형성 재료층 상에 미리 이형 처리한 PET를 포함하는 커버 필름 (폭 400 mm, 길이 30 m, 두께 25 ㎛)을 접착함으로써, 도 2에 나타낸 바와 같은 구성을 포함하는 본 발명의 유전체층 형성용 전사 필름을 제작하였다.Applying the film-forming material composition prepared in the above (1) using a blade coater on a support film (400 mm wide, 30 m long, 38 μm thick) containing polyethylene terephthalate (PET) pre-release treated, The solvent was removed by drying the formed coating film at 100 degreeC for 5 minutes, and the 50-micrometer-thick film forming material layer was formed on the support film by this (film thickness 1). Subsequently, by adhering a cover film (400 mm wide, 30 m long, 25 μm thick) containing PET previously released on the film forming material layer, the dielectric layer of the present invention comprising the structure as shown in FIG. 2. A transfer film for formation was produced.

얻어진 전사 필름을 135°로 구부려 10초간 유지하고 나서 원래 상태대로 되돌리고, 커버 필름을 박리하여 막형성 재료층 표면에 금이 갔는지의 (굴곡 균열) 유무를 육안으로 평가하였다 (가요성 평가; 평가 1). 결과를 표 1에 나타내었다.After the obtained transfer film was bent at 135 ° and held for 10 seconds, the original film was returned to its original state, and the cover film was peeled off to evaluate the presence or absence of (bending cracking) of cracking on the surface of the film forming material layer (flexibility evaluation; evaluation 1 ). The results are shown in Table 1.

(3) 막형성 재료층의 전사 및 평가 (전사성):(3) Transfer and Evaluation of Film Forming Material Layer (Transferability):

20인치 패널용 유리 기판 표면 (버스 전극의 고정면)에 이물질로서 200 ㎛ 상당의 수지 분말 0.5 mg (약 50개)을 산포하고, 상기 (2)에 의해 얻어진 전사 필름으로부터 커버 필름을 박리한 후, 상기 유리 기판 표면에 막형성 재료층 표면이 접촉되도록 전사 필름 (지지 필름과 막형성 재료층과의 적층체)을 중첩시키고, 이 전사 필름을 가열 롤에 의해 열압착하였다. 여기에서, 압착 조건으로서는 가열 롤의 표면 온도를 100 ℃, 롤압을 3 kg/cm, 가열 롤의 이동 속도를 1 m/분으로 하였다.After spraying 0.5 mg (about 50) of the resin powder of 200 micrometers (about 50) as a foreign material on the glass substrate surface (fixed surface of a bus electrode) for 20-inch panels, peeling a cover film from the transfer film obtained by said (2) The transfer film (lamination body of a support film and a film formation material layer) was superposed so that the surface of a film formation material layer might contact the said glass substrate surface, and this transfer film was thermocompression-bonded with the heating roll. Here, as crimping | compression-bonding conditions, the surface temperature of the heating roll was 100 degreeC, the roll pressure was 3 kg / cm, and the moving speed of the heating roll was 1 m / min.

열압착 처리가 종료된 후, 유리 기판 표면에 고정 (가열 접착)된 막형성 재료층으로부터 지지 필름을 박리 제거하고, 해당 막형성 재료층의 전사 여부를 평가하였다 (전사성 평가; 평가 2). 결과를 표 1에 나타내었다.After the thermocompression bonding was completed, the support film was peeled off from the film forming material layer fixed (heat-bonded) to the glass substrate surface, and evaluation of transfer of the film forming material layer was carried out (transferability evaluation; evaluation 2). The results are shown in Table 1.

(4) 막형성 재료층의 소성 및 평가 (성분 [B]의 함유량, 유전체층의 핀홀 및 광투과율):(4) Firing and evaluation of the film forming material layer (content of component [B], pinhole and light transmittance of the dielectric layer):

상기 (3)에 의해 막형성 재료층을 전사 형성한 유리 기판을 소성로 내에 배치하고, 로 내의 온도를 상온으로부터 10 ℃/분의 승온 속도로 580 ℃까지 승온시키고, 580 ℃의 온도 분위기하에서 대기 중에 30분에 걸쳐 소성 처리함으로써, 유리 기판 표면에 유리 소결체를 포함하는 막두께 30 ㎛의 유전체층을 형성하였다 (막두께 2).The glass substrate which transfer-formed the film formation material layer by said (3) is arrange | positioned in a baking furnace, and the temperature in a furnace is heated up to 580 degreeC with the temperature increase rate of 10 degree-C / min from normal temperature, and it is air | atmosphere in the atmosphere of 580 degreeC temperature atmosphere. By baking over 30 minutes, the dielectric layer with a film thickness of 30 micrometers containing a glass sintered compact was formed on the glass substrate surface (film thickness 2).

이 유전체층에서의 소성 전후의 질량을 측정함으로써, 성분 [A] 100 질량부에 대한 성분 [B]의 함유량을 측정하였다 (평가 3). 여기에서, (성분 [A] 100 질량부에 대한 성분 [B]의 함유량)=100×(막형성 재료층의 질량-유전체층의 질량)/(유전체층의 질량)으로서 계산하였다.By measuring the mass before and after baking in this dielectric layer, content of component [B] with respect to 100 mass parts of component [A] was measured (evaluation 3). Here, it calculated as (content of component [B] with respect to 100 mass parts of component [A]) = 100x (mass of the mass-dielectric layer of a film forming material layer) / (mass of a dielectric layer).

또한, (3)의 공정에서 산포한 수지 분말의 위치 10군데에 대응하는 유전체층에서의 핀홀의 발생수를 평가하였다 (평가 4). 결과를 표 1에 나타내었다.In addition, the number of occurrence of pinholes in the dielectric layer corresponding to ten positions of the resin powder dispersed in the step (3) was evaluated (evaluation 4). The results are shown in Table 1.

또한, 이 유전체층에 대하여 광투과율 (측정 파장 600 nm)을 측정하였다. 결과를 표 1에 나타내었다 (평가 5).Moreover, the light transmittance (measurement wavelength 600 nm) was measured about this dielectric layer. The results are shown in Table 1 (evaluation 5).

<실시예 2><Example 2>

실시예 1에서의 결착 수지의 양을 11부로 변경한 것 이외는, 실시예 1과 동일하게 하여 막형성 재료 조성물의 제조, 유전체층 형성용 전사 필름의 제작 및 유전체층의 형성을 행하고, 실시예 1과 동일한 평가를 행하였다. 결과를 표 1에 나타내었다.Except having changed the quantity of the binder resin in Example 1 into 11 parts, it carried out similarly to Example 1, manufacturing a film forming material composition, preparing the transfer film for dielectric layer formation, and forming a dielectric layer, The same evaluation was performed. The results are shown in Table 1.

<실시예 3><Example 3>

실시예 1에서의 결착 수지의 양을 14부로 변경한 것 이외는, 실시예 1과 동일하게 하여 막형성 재료 조성물의 제조, 유전체층 형성용 전사 필름의 제작 및 유전체층의 형성을 행하고, 실시예 1과 동일한 평가를 행하였다. 결과를 표 1에 나타내었다.Except having changed the quantity of the binder resin in Example 1 into 14 parts, it carried out similarly to Example 1, manufacturing a film forming material composition, preparing the transfer film for dielectric layer formation, and forming a dielectric layer, The same evaluation was performed. The results are shown in Table 1.

<실시예 4><Example 4>

실시예 1에서의 결착 수지의 양을 17부로 변경한 것 이외는, 실시예 1과 동일하게 하여 막형성 재료 조성물의 제조, 유전체층 형성용 전사 필름의 제작 및 유전체층의 형성을 행하고, 실시예 1과 동일한 평가를 행하였다. 결과를 표 1에 나타내었다.Except having changed the quantity of the binder resin in Example 1 into 17 parts, it carried out similarly to Example 1, manufacturing a film forming material composition, preparing the transfer film for dielectric layer formation, and forming a dielectric layer, The same evaluation was performed. The results are shown in Table 1.

<실시예 5>Example 5

실시예 2에서의 유리 프릿의 평균 입경을 0.5 ㎛로 변경한 것 이외는, 실시예 1과 동일하게 하여 막형성 재료 조성물의 제조, 유전체층 형성용 전사 필름의 제작 및 유전체층의 형성을 행하고, 실시예 1과 동일한 평가를 행하였다. 결과를 표 1에 나타내었다.Except having changed the average particle diameter of the glass frit in Example 2 into 0.5 micrometer, it carried out similarly to Example 1, manufacturing a film formation material composition, preparing the transfer film for dielectric layer formation, and forming a dielectric layer, Evaluation similar to 1 was performed. The results are shown in Table 1.

<실시예 6><Example 6>

실시예 2에서의 유리 프릿의 평균 입경을 1.5 ㎛로 변경한 것 이외는, 실시예 1과 동일하게 하여 막형성 재료 조성물의 제조, 유전체층 형성용 전사 필름의 제작 및 유전체층의 형성을 행하고, 실시예 1과 동일한 평가를 행하였다. 결과를표 1에 나타내었다.Except having changed the average particle diameter of the glass frit in Example 2 to 1.5 micrometers, it carried out similarly to Example 1, manufacture of a film formation material composition, preparation of the transfer film for dielectric layer formation, and formation of a dielectric layer, Evaluation similar to 1 was performed. The results are shown in Table 1.

<실시예 7><Example 7>

실시예 2에서의 유리 프릿의 평균 입경을 3.5 ㎛로 변경한 것 이외는, 실시예 1과 동일하게 하여 막형성 재료 조성물의 제조, 유전체층 형성용 전사 필름의 제작 및 유전체층의 형성을 행하고, 실시예 1과 동일한 평가를 행하였다. 결과를 표 1에 나타내었다.Except having changed the average particle diameter of the glass frit in Example 2 into 3.5 micrometers, it carried out similarly to Example 1, manufacturing a film formation material composition, preparing the transfer film for dielectric layer formation, and forming a dielectric layer, Evaluation similar to 1 was performed. The results are shown in Table 1.

<비교예 1>Comparative Example 1

실시예 1에서의 결착 수지의 양을 23부로 변경한 것 이외는, 실시예 1과 동일하게 하여 막형성 재료 조성물의 제조, 유전체층 형성용 전사 필름의 제작 및 유전체층의 형성을 행하고, 실시예 1과 동일한 평가를 행하였다. 결과를 표 1에 나타내었다.Except having changed the quantity of the binder resin in Example 1 into 23 parts, it carried out similarly to Example 1, manufacturing a film forming material composition, preparing the transfer film for dielectric layer formation, and forming a dielectric layer. The same evaluation was performed. The results are shown in Table 1.

<비교예 2>Comparative Example 2

실시예 1에서의 결착 수지의 양을 5부로 변경한 것 이외는, 실시예 1과 동일하게 하여 막형성 재료 조성물의 제조, 유전체층 형성용 전사 필름의 제작 및 유전체층의 형성을 행하고, 실시예 1과 동일한 평가를 행하였다. 결과를 표 1에 나타내었다.Except having changed the quantity of the binder resin in Example 1 into 5 parts, it carried out similarly to Example 1, manufacturing a film forming material composition, preparing the transfer film for dielectric layer formation, and forming a dielectric layer. The same evaluation was performed. The results are shown in Table 1.

막두께 1(㎛)Film thickness 1 (㎛) 평가 1Rating 1 평가 2Evaluation 2 막두께 2(㎛)Film thickness 2 (㎛) 평가 3(부)Evaluation 3 (part) 평가 4Evaluation 4 평가 5(%)Evaluation 5 (%) 실시예 1Example 1 5050 양호Good 양호Good 3030 12.512.5 00 8585 실시예 2Example 2 5454 양호Good 양호Good 3030 15.515.5 00 8585 실시예 3Example 3 5858 양호Good 양호Good 3030 18.518.5 00 8585 실시예 4Example 4 6464 양호Good 양호Good 3030 21.521.5 22 8585 실시예 5Example 5 5454 양호Good 양호Good 3030 15.515.5 00 8585 실시예 6Example 6 5454 양호Good 양호Good 3030 15.515.5 00 8585 실시예 7Example 7 5454 양호Good 양호Good 3030 15.515.5 00 8080 비교예 1Comparative Example 1 7373 양호Good 양호Good 3030 27.527.5 88 7070 비교예 2Comparative Example 2 4646 불량Bad 불량Bad -- -- -- -- 막두께 1; 막형성 재료층의 막두께평가 1; 가요성 평가 (금이 간 것이 없음→양호, 금이 간 것이 있음→불량)평가 2; 전사성 평가 (전사 가능→양호, 전사 불가능→불량)막두께 2; 유전체층의 막두께평가 3; 막형성 재료층 중의 성분 [A] 100 질량부에 대한 성분 [B]의 비율평가 4; 유전체층의 핀홀 수 (이물질 상당의 위치 10군데 중)평가 5; 유전체층의 광투과율 (600 nm)Film thickness 1; Film thickness evaluation 1 of the film-forming material layer; Flexibility assessment (no cracks → good, cracked → bad) evaluation 2; Transferability evaluation (transfer possible → good, transfer impossible → bad) film thickness 2; Film thickness evaluation of the dielectric layer 3; Evaluation of the ratio of component [B] to 100 parts by mass of component [A] in the film-forming material layer 4; Evaluation of the number of pinholes in the dielectric layer (out of 10 locations corresponding to foreign matters) 5; Light transmittance of dielectric layer (600 nm)

본 발명의 유전체층 형성용 전사 필름에 따르면, 하기와 같은 효과를 나타낸다.According to the transfer film for dielectric layer formation of this invention, it has the following effects.

(1) 기판 상의 먼지, 이물질의 영향을 받지 않고 균일한 유전체층을 형성할 수 있다.(1) A uniform dielectric layer can be formed without being affected by dust and foreign matter on the substrate.

(2) 높은 광투과율을 갖는 유전체층을 형성할 수 있다.(2) A dielectric layer having a high light transmittance can be formed.

(3) 막형성 재료층의 가요성 및 전사성 (기판에 대한 가열 접착성)이 우수한 유전체층 형성용 전사 필름을 제작할 수 있다.(3) A transfer film for forming a dielectric layer having excellent flexibility and transferability (heat adhesion to a substrate) of a film forming material layer can be produced.

(4) 유전체층을 효율적으로 형성할 수 있다.(4) The dielectric layer can be formed efficiently.

(5) 막두께가 큰 유전체층을 효율적으로 형성할 수 있다.(5) A dielectric layer having a large film thickness can be efficiently formed.

본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널에 따르면, 하기와 같은 효과를 나타낸다.According to the plasma display panel of the present invention, the following effects are obtained.

(6) 균일성이 우수한 유전체층을 구비함으로써, 표시 품위가 높은 플라즈마 디스플레이 패널을 제공할 수 있다.(6) By providing a dielectric layer excellent in uniformity, a plasma display panel with high display quality can be provided.

Claims (11)

[A] 유리 프릿을 포함하는 무기 입자, 및[A] an inorganic particle comprising a glass frit, and [B] 결착 수지를 포함하는 유기 성분[B] Organic Component Containing Binder Resin 을 함유하는 막형성 재료층을 포함하고, 상기 막형성 재료층에서의 유기 성분 [B]의 함유량이 무기 입자 [A] 100 질량부에 대하여 10 내지 25 질량부인 것을 특징으로 하는 유전체층 형성용 전사 필름.A film-forming material layer containing a film, wherein the content of the organic component [B] in the film-forming material layer is 10 to 25 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the inorganic particles [A]. . 제1항에 있어서, 막형성 재료층에서의 유기 성분 [B]의 함유량이 무기 입자 [A] 100 질량부에 대하여 12 내지 20 질량부인 것을 특징으로 하는 유전체층 형성용 전사 필름.The transfer film for forming a dielectric layer according to claim 1, wherein the content of the organic component [B] in the film forming material layer is 12 to 20 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the inorganic particles [A]. 제1항에 있어서, 막형성 재료층에서의 무기 입자 [A] 중의 유리 프릿의 평균 입경이 1.0 내지 3.0 ㎛인 것을 특징으로 하는 유전체층 형성용 전사 필름.The transfer film for forming a dielectric layer according to claim 1, wherein the average particle diameter of the glass frit in the inorganic particles [A] in the film forming material layer is 1.0 to 3.0 µm. 제1항에 있어서, 얻어지는 유전체층의 막두께가 25 내지 50 ㎛인 것을 특징으로 하는 유전체층 형성용 전사 필름.The transfer film for forming a dielectric layer according to claim 1, wherein the thickness of the dielectric layer obtained is 25 to 50 µm. 제1항에 있어서, 막형성 재료층에서의 유기 성분 [B] 중의 결착 수지의 함유량이 무기 입자 [A] 100 질량부에 대하여 5 내지 25 질량부인 것을 특징으로 하는유전체층 형성용 전사 필름.The transfer film for forming a dielectric layer according to claim 1, wherein the content of the binder resin in the organic component [B] in the film forming material layer is 5 to 25 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the inorganic particles [A]. 제1항에 있어서, 막형성 재료층에서의 유기 성분 [B]로서 가소제를 함유하여 구성되는 것을 특징으로 하는 유전체층 형성용 전사 필름.The transfer film for forming a dielectric layer according to claim 1, comprising a plasticizer as an organic component [B] in the film forming material layer. 제1항에 있어서, 막형성 재료층에서의 유기 성분 [B]로서 실릴기 함유 화합물을 함유하여 구성되는 것을 특징으로 하는 유전체층 형성용 전사 필름.The transfer film for forming a dielectric layer according to claim 1, wherein the silyl group-containing compound is contained as the organic component [B] in the film forming material layer. 제1항에 있어서, 막형성 재료층에서의 유기 성분 [B] 중의 결착 수지 이외의 성분 함유량이 무기 입자 [A] 100 질량부에 대하여 2 내지 7 질량부인 것을 특징으로 하는 유전체층 형성용 전사 필름.The transfer film for forming a dielectric layer according to claim 1, wherein the content of components other than the binder resin in the organic component [B] in the film forming material layer is 2 to 7 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the inorganic particles [A]. 제8항에 있어서, 막형성 재료층에서의 유기 성분 [B] 중의 결착 수지 이외의 성분이 가소제인 것을 특징으로 하는 유전체층 형성용 전사 필름.The transfer film for forming a dielectric layer according to claim 8, wherein components other than the binder resin in the organic component [B] in the film forming material layer are plasticizers. 제1항에 있어서, 막형성 재료층에서의 무기 입자 [A] 중의 유리 프릿의 연화점이 450 내지 550 ℃인 것을 특징으로 하는 유전체층 형성용 전사 필름.The transfer film for forming a dielectric layer according to claim 1, wherein the softening point of the glass frit in the inorganic particles [A] in the film forming material layer is 450 to 550 ° C. 제1항에 기재된 유전체층 형성용 전사 필름으로 형성된 유전체층을 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널.A plasma display panel comprising a dielectric layer formed of the transfer film for forming a dielectric layer according to claim 1.
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