KR20020065954A - 광픽업 장치에서의 디스크 틸트 검출 방법 - Google Patents

광픽업 장치에서의 디스크 틸트 검출 방법 Download PDF

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KR20020065954A
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이택수
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엘지전자 주식회사
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Abstract

본 발명에 따른 광픽업 장치에서의 디스크 틸트 검출 방법은, 인입된 디스크에 해당되는 파장의 광원을 이용하여 데이터를 기록/재생하고, 다른 파장의 광원을 이용하여 디스크의 틸트 정보를 획득한다.
여기서, 디스크의 틸트 정보를 획득하는데 이용되는 다른 파장의 빔은 디포커스된 빔을 이용한다.
또한, 틸트 검출용 빔이 포토 디텍터에 입사되도록 광학계를 구성함에 있어, 빔 직경 조절수단을 이용하여 포토 디텍터에 입사되는 틸트 정보 검출용 빔의 직경을 조절한다.
이와 같은 본 발명에 의하면, 이종(異種)의 디스크를 지원하는 광픽업 장치에 있어서, 인입된 디스크에 해당되는 파장의 광원을 이용하여 데이터 재생/기록을 수행하고, 다른 파장의 광원을 이용하여 디스크의 틸트 정보를 획득함으로서 안정적인 데이터 재생/기록을 수행할 수 있는 장점이 있다.

Description

광픽업 장치에서의 디스크 틸트 검출 방법{Tilt detecting method for disc in optical pickup}
본 발명은 광픽업 장치에 관한 것으로서, 특히 이종(異種)의 디스크를 지원하는 광픽업 장치에 있어서, 인입된 디스크에 해당되는 파장의 광원을 이용하여 데이터 재생/기록을 수행하고, 다른 파장의 광원을 이용하여 디스크의 틸트 정보를 획득함으로서 안정적인 데이터 재생/기록을 수행할 수 있는 광픽업 장치에서의 디스크 틸트 검출 방법에 관한 것이다.
일반적으로 광픽업 장치는 CD-R, CD-RW, DVD 등을 읽고 쓰는 드라이버에 들어가는 핵심 부품으로 빛을 이용하여 기록체 표면의 광학적인 차이를 판별하여 정보를 읽거나 광학적인 차이를 발생시킴으로써 정보를 기록하는 동작을 한다.
광픽업 장치의 구성은 크게 빛을 만들어 내는 레이저 다이오드(LD: Laser Diode)와 레이저 다이오드에서 만들어진 빛을 조정하는 렌즈와 거울들, 그리고 기록체 표면에서 반사되는 빛을 검출하는 센서(PD: Photo Detector) 등으로 이루어져 있다.
한편, 일반적으로 기록체는 원판 형상의 물체로 평탄한 면을 가진다고 가정되지만, 실제 상황에서 기록체의 기록면은 제조상의 오차 및 변형, 회전에 따른 진동, 광픽업 자체의 오차 등에 의해서 정보가 기록되는 트랙의 위치는 광픽업 장치에 상대적으로 변동하게 되며 이를 보상하기 위해서 기록체에 가장 가까이 있는 대물렌즈를 전기적인 신호로 구동하는 특수한 기구물에 의해서 움직이게 된다.
이러한 기구물을 엑츄에이터라고 부르며, 일반적으로 코일과 자석으로 구성되어 코일에 흐르는 전류와 자석 간의 전자기력에 의해서 대물렌즈를 움직이게 된다.
이때, 엑츄에이터가 보상해야 하는 오차는 일반적으로 도 1에 나타낸 바와 같이 세 가지로 알려져 있다. 즉, 대물렌즈(11)의 위치 및 방향에 따라 초점(A)은 디스크(12)의 반사면(13) 상에서 위치 및 방향이 틀어진 상태로 존재하게 된다. 현재에는 도 1 (a)의 트랙 오차 및 도 1 (b)의 포커스 오차에 대한 보상이 주로 이루어지는 제품이 많으나, 기록의 고밀도화와 더불어 도 1(c)의 디스크 틸트 오차 또한 보상해 주어야 할 필요성이 대두되고 있다.
한편, 광디스크의 고밀도화와 더불어 다양한 광디스크가 소개되면서 두 가지 이상의 광디스크를 지원하는 광픽업 장치들이 개발되고 있다. 도 2는 이와 같은 광픽업 장치를 구현하기 위하여 LD와 PD를 사용한 경우의 예를 나타낸 도면이다.
이러한 두 가지 이상의 광디스크들은 일반적으로 각각 다른 파장의 광원을 사용하기 때문에 이에 사용되는 광픽업 장치들 역시 두 가지 이상의 광원을 발생시키기 위해서 레이저 다이오드(21)(22)를 두 가지 이상 장착하게 된다. 그리고, 실제 사용 중에는 인입된 광디스크에 맞는 광원만을 발생시키게 된다.
이때, 두 가지 광원을 사용할 때는 광들 간의 분리가 문제되기 때문에 일반적으로 빔 스플리터(BS: Beam Splitter)를 사용하여 각각의 광원을 분리하게 된다. 도 2에서는 프리즘(24)(25)이 그러한 역할을 수행한다.
또한, 레이저 다이오드와 포토 디텍터 간의 조합에 편의성을 주기 위하여, 도 3에 나타낸 바와 같이, 레이저 다이오드와 포토 디텍터가 하나의 몸체로 구성되어 있는 홀로그램 모듈(Hologram Module)(31)(32)을 사용하기도 한다. 이와 같이, 두 가지 이상의 광디스크를 지원하는 광픽업 장치의 경우, 두 개의 레이저 다이오드 대신에 두 개의 홀로그램 모듈(31)(32)을 사용함으로써, 부품의 수를 줄이고 레이저 다이오드와 포토 디텍터 간의 조정이 필요없도록 구성할 수 있다.
한편, 도 4는 종래의 광픽업 장치에 있어서, 디스크의 틸트 검출 방법을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 4를 참조하여 설명하면, 디스크 구동장치(41)에 디스크(12)가 치부되어 있고, 상기 디스크(12) 내부에는 데이터 기록을 위한 반사면(13)이 형성되어 있다. 광원으로부터 발생된 빔은 대물렌즈(11)에 의해서 상기 디스크 반사면(13)에 촛점이 맺히고, 상기 디스크(12)와 대물렌즈(11) 사이의 거리 오차(focus 오차)를 보상하기 위해서 대물렌즈가 고정되어 있는 보빈(42)은 상하로 움직일 수 있다.
한편, 상기 보빈(42)에는 디스크 틸트 검출수단(45)이 부착되어 있다. 상기 디스크 틸트 검출수단(45)은 검출을 위한 빔을 발생시키는 발광소자(43)와, 상기 디스크 반사면(13)에 반사되어 돌아오는 빔을 검출하기 위한 수광소자(44)로 이루어져 있다. 상기 수광소자(44)는 다시 두 개 이상(44a, 44b)으로 구성되어 있어 반사된 빔의 이동 방향을 검출한다. 도 4의 (b)는 보빈(42)을 위에서 본 모습을 나타낸 것이다.
그리고, 상기 발광소자(43)에서 나온 틸트 검출용 빔(46)은 디스크 반사면(13)에서 반사되고 수광소자(44)로 돌아오게 된다. 이때, 상기 디스크(12)가 보빈 (42)과 수평이라면 반사된 틸트 검출용 빔(46)은 예상한대로 정확히 수광소자들 (44a, 44b)의 사이에 도달하게 되고, 똑같은 광량이 입사되는 수광소자(44a, 44b)들은 동일한 전기신호를 발생하게 된다.
그러나, 상기 디스크(12) 또는 보빈(11)에 틸트 오차가 발생하여 상대적으로 기울기를 가지게 되면, 반사된 틸트 검출용 빔(46)은 예상했던 위치에서 벗어난 위치에 도달하게 되고, 따라서 수광소자(44a, 44b)들이 받는 광량 차이로 인해 전기적인 신호의 차이를 발생하게 된다. 이러한 차이를 회로적으로 계산하여 틸트 오차를 측정하고 제어에 응용한다.
그런데, 이와 같은 디스크의 틸트 검출방법을 이용하기 위해서는 디스크 틸트 검출수단(45)이 매우 작아야 하므로 현실적으로 구현하기가 매우 힘들다. 또한, 틸트 검출을 위한 빔(46)의 경로가 짧기 때문에 수광소자(44) 상에서 빔의 위치가 매우 근소하게 변하게 된다. 따라서, 높은 감도의 수광소자(44)가 필요하게 되기 때문에 역시 가격 상승으로 이어질 수 있다.
한편, 도 5는 종래의 광픽업 장치에 있어서, 디스크의 틸트 검출 방법의 다른 실시 예를 개략적으로 나타낸 도면이고, 도 6은 도 5에 나타낸 디스크의 틸트 검출 방법에 따라 디포커스된 빔을 사용하여 틸트를 검출하는 원리를 개념적으로 나타낸 도면이다.
도 5에 나타낸 광픽업 장치는 종래의 틸트 검출방법을 개선하기 위하여 창안된 것으로서 일본특허(공개번호 平8-50731)에 게시된 것이다. 이때, 도 5에 나타낸광픽업 장치에서는 초점이 안 맞은, 즉 디포커스(defocus)된 빔을 사용하여 디스크의 틸트를 검출한다. 도 5의 (a)에서 레이저 다이오드(51)에서 발광된 빔(57a)은 콜리메이터 렌즈(53), 프리즘(54)를 경유하여 대물렌즈(11)를 통해 디스크 반사면 (13)에 초점이 맺혀진다. 그리고, 상기 디스크 반사면(13)에서 반사된 빔은 상기 프리즘(54)에서 방향이 바뀌어 신호 검출용 포토 디텍터(52)를 향하고, 상기 포토 디텍터(52) 검출면 상에서 초점을 맺기 위해 센서렌즈(55)를 설치해서 빔이 지나가게 구성한다. 또한, 디포커스 빔 형성수단(56)을 사용하여 빔을 주빔(57a)과 틸트 검출용 부빔(57b)으로 나누고 틸트 검출용 부빔을 측정하기 위한 틸트 검출용 센서 (58a, 58b, 58c, 59d)를 상기 포토 디텍터(52) 주변부에 설치하였다.
그리고, 도 6의 (a)는 정상적으로 초점이 맺혀진 빔을 보여주고 있다. 이 경우 빔은 디스크 반사면(13) 상에 초점 A를 가지며, 디스크(12)와 대물렌즈(11) 사이에 기울기가 존재하더라도 A의 위치는 상기 대물렌즈(11)의 중심선(B)에서 벗어나지 않는다. 또한, 도 6의 (b)는 의도적으로 디포커스된 빔을 나타내고 있다. 이 경우에 상기 디스크(12)와 대물렌즈(11) 사이에 기울기가 존재하게 되면 반사 후, 빔 초점의 위치 A가 디스크 반사면(13) 상이 아닌 허공에 존재하게 되며, 이는 상기 대물렌즈(11)의 중심선(B)과도 어긋나게 된다. 따라서, 반사된 빔은 포토 디텍터 상에서 한쪽으로 치우쳐 나타나게 되고 이를 검출함으로서 디스크(12)의 틸트를 측정할 수 있게 된다.
도 5의 (a)에서 레이저 다이오드(51)로부터 발생된 빔은 디포커스 빔 형성수단(56)에 의해서 신호 검출용 주빔(57a)과 틸트 검출용 부빔(57b)으로 나누어지게된다. 여기서 틸트 검출용 부빔(57b)은 디스크 반사면(13) 상에서 초점이 안 맺히도록, 즉 디포커스되도록 만들어 진다. 상기 디스크 반사면(13)에서 반사되어 돌아오는 빔은 프리즘(54)에서 방향이 바뀌어 포토 디텍터(52)를 향하게 된다. 이때, 디포커스된 부빔(57b)은 주빔(57a)보다 큰 직경을 가지게 되므로 신호 검출용 포토 디텍터(52)의 주변에 틸트 검출용 센서(58a, 58b, 58c, 58d)를 설치함으로서 주빔 (57a)을 배제한 부빔(57b)만을 검출할 수 있다.
여기서, 디스크(12) 또는 디스크 반사면(13)에 틸트 오차가 발생하였을 경우에는 도 6에 나타낸 바와 같이 포토 디텍터(52, 58a, 58b, 58c, 58d) 상에 틸트 검출용 부빔(57b)의 위치가 변함으로 해서 틸트 검출용 센서(58a, 58b, 58c, 58d)의 신호차이를 발생시킨다.
그런데, 이러한 방법을 이용하여 디스크의 틸트 정보를 검출하는 경우에는 레이저 다이오드로부터 발광되는 빔을 나누어 일부를 틸트 검출용 부빔으로 사용하고 있기 때문에 광량에서 손실이 발생된다. 따라서, 같은 성능을 내기 위해서는 보다 큰 출력의 레이저 다이오드를 사용해야 하고, 이는 가격 상승으로 이어지는 단점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 여건을 감안하여 창출된 것으로서, 이종(異種)의 디스크를 지원하는 광픽업 장치에 있어서, 인입된 디스크에 해당되는 파장의 광원을 이용하여 데이터 재생/기록을 수행하고, 다른 파장의 광원을 이용하여 디스크의 틸트 정보를 획득함으로서 안정적인 데이터 재생/기록을 수행할 수 있는 광픽업 장치에서의 디스크 틸트 검출 방법을 제공함에 그 목적이 있다.
도 1은 일반적으로 광 디스크에서 발생되는 오차를 개념적으로 나타낸 도면.
도 2는 일반적인 2LD 방식이 적용된 광픽업 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 도면.
도 3은 일반적인 2 개의 홀로그램 방식이 적용된 광픽업 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 도면.
도 4는 종래의 광픽업 장치에 있어서, 디스크의 틸트 검출 방법을 개략적으로 나타낸 도면.
도 5는 종래의 광픽업 장치에 있어서, 디스크의 틸트 검출 방법의 다른 실시 예를 개략적으로 나타낸 도면.
도 6은 도 5에 나타낸 디스크의 틸트 검출 방법에 따라 디포커스된 빔을 사용하여 틸트를 검출하는 원리를 개념적으로 나타낸 도면.
도 7은 본 발명에 따른 디스크의 틸트 검출 방법에 따른 블록선도를 개념적으로 나타낸 도면.
도 8은 일반적인 두 가지 파장의 광원이 사용되는 광픽업 장치에 있어서, 디스크에 입사되는 각 파장의 빔 형상을 나타낸 도면.
도 9 내지 도 12는 본 발명에 따른 디스크의 틸트 검출 방법에 따른 실시 예를 나타낸 도면.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
11... 대물렌즈12... 디스크
13... 디스크 반사면
21, 22, 51, 101, 121... 레이저 다이오드(LD)
23, 52, 102, 122, 122a, 122b... 포토 디텍터(PD)
24, 25, 33, 54, 103, 104, 112, 123, 124... 프리즘
31, 32, 91, 92, 111... 홀로그램 모듈
41... 디스크 구동장치42... 보빈
43... 발광소자44, 44a, 44b... 수광소자
45... 틸트 검출수단53... 콜리메이터 렌즈
55... 센서렌즈56... 디포커스 빔 형성수단
57a... 주빔57b... 틸트 검출용 부빔
58a, 58b, 58c, 58d... 틸트 검출용 센서
71, 72... 신호 검출수단73... 스위칭 회로부
74... 틸트 서보 조절부75... 포커싱/트랙킹 서보 조절부
76... 엑츄에이터 조절부77... 신호 검출용 빔
78... 틸트 검출용 빔81... 제 1 광원 빔
82... 제 2 광원 빔105... 빔 직경 조절수단
106... 센서렌즈113, 114... 홀로그램
상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 광픽업 장치에서의 디스크 틸트 검출 방법은, 인입된 디스크에 해당되는 파장의 광원을 이용하여 데이터를 기록/재생하고, 다른 파장의 광원을 이용하여 상기 디스크의 틸트 정보를 획득하는 점에 그 특징이 있다.
여기서, 상기 디스크의 틸트 정보를 획득하는데 이용되는 다른 파장의 빔은 디포커스된 빔인 점에 그 특징이 있다.
또한, 상기 틸트 검출용 빔이 포토 디텍터에 입사되도록 광학계를 구성함에 있어, 빔 직경 조절수단을 이용하여 상기 포토 디텍터에 입사되는 틸트 정보 검출용 빔의 직경을 조절하는 점에 그 특징이 있다.
이와 같은 본 발명에 의하면, 이종(異種)의 디스크를 지원하는 광픽업 장치에 있어서, 인입된 디스크에 해당되는 파장의 광원을 이용하여 데이터 재생/기록을 수행하고, 다른 파장의 광원을 이용하여 디스크의 틸트 정보를 획득함으로서 안정적인 데이터 재생/기록을 수행할 수 있는 장점이 있다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시 예를 상세히 설명한다.
도 7은 본 발명에 따른 디스크의 틸트 검출 방법에 따른 블록선도를 개념적으로 나타낸 도면이다.
도 7에 나타낸 바와 같이, 본 발명은 2 개 이상의 레이저 다이오드 또는 2 개 이상의 홀로그램 모듈을 사용하는 광픽업 장치에 있어서 한 그룹의 신호 검출수단들(71)이 디스크 기록신호를 판독하는 동안 대물렌즈(11)의 특성에 의해 다른 그룹의 신호 검출수단들(72)에 의한 빔이 디포커스 된다는 것을 이용, 스위칭 회로부 (73)를 이용하여 양자 간을 교대로 사용함으로서 기록 및 재생 중에도 디스크(12)의 틸트를 검출할 수 있고, 이를 이용해서 틸트 오차를 보상하기 위한 틸트 서보 조절부(74)에 측정신호를 공급하는 방법에 관한 것이다.
근래 많이 개발되고 있는 2 종류 이상의 디스크를 재생 및 기록할 수 있는 광픽업 장치들은 기본적으로 각각의 디스크에 해당되는 두 가지 이상 파장의 빔을 발생시키고 측정할 수 있는 수단들을 구비하고 있다.
이때, 두 가지 이상의 빔들은 구조상 한 개의 대물렌즈를 통해서 디스크 면에 조사되게 되는데, 각각의 빔에 따라 파장이 다르기 때문에 같은 대물렌즈를 통과하더라도 초점거리 등이 달라지게 된다. 도 8은 이러한 빔의 모습을 보여주고 있다. 이러한 특성 때문에 실제 구동 중에 대물렌즈의 위치는 어떤 종류의 디스크를 사용하느냐에 따라 위치가 달라지게 된다.
한편, 도 8의 (a)에서 하나의 빔(81)이 디스크의 정보를 기록 및 재생하는데 사용되고 있는 동안, 동시에 출력되고 있는 다른 파장의 빔(82)은 대물렌즈(11) 위치에 의해서 초점이 맞지 않는, 즉 디포커스된 상태가 된다. 그리고, 다른 종류의 디스크를 사용할 때는 도 8의 (b)에서와 같이 그에 해당하는 다른 파장의 빔(82)이 초점이 맞고 또 하나의 빔(81)은 디포커스된 상태가 된다. 종래에는 이렇게 디포커스된 빔들이 필요가 없기 때문에 일반적으로 한 종류의 빔이 사용되고 있을 때는, 다른 빔을 발생시키는 광원에 대해서는 전원을 공급하지 않게 된다. 그러나, 본 발명에서는 이와 같은 디포커스된 빔을 사용하여 디스크의 틸트 정보를 획득하게 되며, 이를 도 9 내지 도 12에 나타낸 실시 예를 참조하여 설명해 보기로 한다.
도 9에서는 2 개의 홀로그램 모듈을 사용한 실시 예에 대하여 나타내고 있다. 기구적인 구조는 기존의 시스템과 동일하며, 신호 처리용 스위칭 회로부(73)와 틸트 서보 조절부(74)가 추가된 형태이다.
인입된 디스크(12)에 대응되는 홀로그램 모듈(91)이 동작 중이고, 대물렌즈 (11) 역시 여기에 맞춰서 상기 홀로그램 모듈(91)로부터 나온 빔(77)을 디스크 반사면(13)에 초점을 맞추고 있다. 이 신호 검출용 빔(77)은 상기 디스크 반사면(13)에서 반사된 후, 원래 홀로그램 모듈(91)로 들어간다. 이렇게 들어간 빔(77)은 상기 홀로그램 모듈(91) 안에 내장된 포토 디텍터에 의해서 전기 신호로 바뀌게 되고 트랙킹, 포커싱 제어에 이용되며 실제 재생되는 데이터가 된다.
한편, 또 다른 홀로그램 모듈(92)에서 발생된 틸트 검출용 빔(78)은 상기 대물렌즈(11)에 의해서 디포커스된 상태로 디스크 반사면(13)에서 반사되게 된다. 이렇게 반사된 빔(78)은 디스크(12)의 틸트 오차를 크게 포함하고 있으며 또한 신호 검출용 빔(77)보다 큰 초점을 가지게 되어 상기 디스크 반사면(12) 상의 신호 기록용 피트 등의 영향을 거의 받지 않아 순수하게 디스크(12)의 틸트 오차 성분만을 가지게 된다.
이렇게 반사된 틸트 검출용 빔(78)은 다시 프리즘에 의해서 신호 검출용 빔 (77)과 분리되서 원래의 홀로그램 모듈(92)로 들어가게 된다. 그리고, 상기 틸트 검출용 빔(78)은 포토 디텍터에 입력되어 틸트 신호를 포함한 전기신호로 바뀌게된다. 이러한 전기신호는 다시 스위칭 회로부(73)를 통하여 틸트 서보 조절부(74)에 입력되게 된다.
한편, 도 9에 나타낸 바와 같은 광픽업 장치에서, 상기 디스크 반사면(13)에서 반사된 디포커스된 신호는 포토 디텍터 상에서도 역시 디포커스된 상태로 있게 된다. 따라서, 경우에 따라 신호 검출 시보다 큰 초점이 포토 디텍터 상에 맺히게 되는데, 이 경우에는 틸트 검출용 빔의 일부분만을 포토 디텍터에서 검출하게 된다. 이에 따라 포토 디텍터의 감도 문제가 발생할 수도 있다.
이러한 문제를 해결하기 위한 방법으로 광량을 키우거나 포토 디텍터의 위치를 바꾸는 방법도 있지만, 또 다른 방법으로는 도 10 및 도 11에 나타낸 바와 같은 방법을 이용할 수도 있다.
먼저, 2 개의 레이저 다이오드와 2 개의 포토 다이오드를 사용하는 경우에는, 도 10에서와 같이 일반적으로 레이저 다이오드(101)와 포토 디텍터(102)는 다시 프리즘(104)에 위해서 분리된 빔을 사용하게 된다. 그리고, 포토 디텍터(102) 상에 적당한 크기의 빔이 맺히도록 센서렌즈(106)를 사용하게 된다. 여기서, 디포커스된 빔(78)은 프리즘(103)에 의해서 틸트 검출용으로 사용되고 있는 레이저 다이오드(101)와 포토 디텍터(102) 쪽으로 방향을 바꾸고, 다시 다른 프리즘(104)에 의해서 상기 레이저 다이오드(101) 측과 분리가 된다. 물론 포토 디텍터(102) 쪽으로 들어가는 빔의 방향을 바꾸도록 할 수도 있다. 이때, 빔(78)은 디포커스 되었기 때문에 정상적인 경우의 빔(107) 경로보다 큰 직경을 가지게 된다. 따라서 포토 디텍터(102) 상에도 큰 초점을 가지게 된다.
이와 같은 큰 직경의 빔(78)을 전부 좁은 영역의 포토 디텍터(102) 위에 초점이 맺히도록 하기 위해서 광학부품들에 적절한 빔 직경 조절수단(105)을 설치함으로서 정상적인 빔(107)의 경로보다 큰 영역의 빔을 상기 포토 디텍터(102) 상에 집중되도록 만들 수 있다. 이러한 빔 직경 조절수단으로는 표면의 굴곡 및 링형 홀로그램 판 등을 사용할 수 있고, 만들어지는 장소 또한 대물렌즈(11), 프리즘(103, 104), 센서렌즈(106) 등에 만들어 질 수 있다. 도 10은 이러한 빔 직경 조절수단 (105)으로 보정된 틸트 검출용 빔(78)의 경로를 보여주고 있다.
한편 도 11에 나타낸 바와 같이, 홀로그램 모듈(111)을 사용하는 경우에는, 레이저 다이오드에서 발생된 빔과 포토 디텍터에 입사되는 빔은 상기 홀로그램 모듈(111)의 전면에 부착되어 있는 홀로그램(113)에 의해서 분리되게 된다. 이 경우에도 디포커스된 빔(78)은 정상적인 빔(107)에 비해서 큰 직경을 가지게 된다. 그리고, 이러한 빔(78)을 광량 손실없이 이용하기 위해서 홀로그램(114)을 첨부해서 더 넓은 영역의 빔을 포토 디텍터 상으로 수렴시킬 수 있다.
또한, 도 10 및 도 11에 나타낸 광픽업 장치에 의하면, 틸트 검출용 빔을 전부 사용하여 광량 손실을 줄이고 검출 감도를 높일 수 있으나, 대물렌즈의 디포커스 방향에 따라 디포커스된 빔의 직경이 정상적인 빔의 직경보다 작은 경우, 포토 디텍터 상에서 더 작게 초점이 생긴다면 문제가 없지만, 더 넓어지는 경우에는 사용하기가 힘들다는 한계가 있다. 이때, 포토 디텍터의 기술의 발전으로 인하여 광학부품 측 보다는 포토 다이오드 측을 개선하는 것이 더 수월할 수도 있다.
도 12는 이와 같은 경우에 대한 실시 예를 나타낸 도면이다. 이 경우 홀로그램을 광학부품에 설치하기가 힘들기 때문에 포토 디텍터(122a) 주변부에 추가적인 센서(122b)를 설치하여 해결할 수 있다. 도 12의 (b)는 이와 같이 추가적인 센서 (122b)가 설치된 포토 디텍터(122)의 모습을 나타낸 것이다. 그리고, 디스크(12)의 신호와 틸트 검출을 동시에 수행할 필요가 없으므로, 포토 디텍터(122a)와 추가적인 센서(122b)는 PDIC 내부에서 같은 회로로 연결되어 있어서 초점이 작을 때나 클 때나 상관없이 동일한 단자로 신호를 출력할 수 있다.
이상의 설명에서와 같이 본 발명에 따른 광픽업 장치에서의 디스크 틸트 검출 방법에 의하면, 이종(異種)의 디스크를 지원하는 광픽업 장치에 있어서, 인입된 디스크에 해당되는 파장의 광원을 이용하여 데이터 재생/기록을 수행하고, 다른 파장의 광원을 이용하여 디스크의 틸트 정보를 획득함으로서 안정적인 데이터 재생/기록을 수행할 수 있는 장점이 있다.

Claims (3)

  1. 인입된 디스크에 해당되는 파장의 광원을 이용하여 데이터를 기록/재생하고, 다른 파장의 광원을 이용하여 상기 디스크의 틸트 정보를 획득하는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치에서의 디스크 틸트 검출 방법.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 디스크의 틸트 정보를 획득하는데 이용되는 다른 파장의 빔은 디포커스된 빔인 것을 특징으로 하는 광픽업 장치에서의 디스크 틸트 검출 방법.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 틸트 검출용 빔이 포토 디텍터에 입사되도록 광학계를 구성함에 있어, 빔 직경 조절수단을 이용하여 상기 포토 디텍터에 입사되는 틸트 정보 검출용 빔의 직경을 조절하는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치에서의 디스크 틸트 검출 방법.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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