KR20020049334A - Device testing method for handler - Google Patents

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KR20020049334A
KR20020049334A KR1020000078482A KR20000078482A KR20020049334A KR 20020049334 A KR20020049334 A KR 20020049334A KR 1020000078482 A KR1020000078482 A KR 1020000078482A KR 20000078482 A KR20000078482 A KR 20000078482A KR 20020049334 A KR20020049334 A KR 20020049334A
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설대환
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백영근
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Abstract

PURPOSE: A method for testing a device of a horizontal handler is provided, which performs a device loading and unloading at the same time toward a test site while loading and unloading a device toward a loading buffer and an unloading buffer by constituting a pair of test pickers. CONSTITUTION: According to the method, a picker located in a test site descends and performs a test of a device while a loading picker absorbs a device from a customer tray and transports it to a loading buffer(S1), and at the same time another picker descends and unloads the test-completed device in an unloading buffer. The picker having unloaded the test-completed device in the unloading buffer absorbs the device placed in the loading buffer while the unloading picker unloads the device placed in the unloading buffer. While the loading buffer and the unloading buffer are restored to their initial states(S5), and if the test is completed and the picker located in the test site is elevated to a top dead center, a 180 degree rotation operation of the picker is performed continuously(S6).

Description

수평식 핸들러의 디바이스 테스트방법{Device testing method for handler}Device testing method for handler

본 발명은 생산공정에서 생산 완료된 디바이스를 출하하기 전에 양품인지 불량품인지를 선별하는 수평식 핸들러의 디바이스 테스트방법에 관한 것이다.The present invention relates to a device test method of a horizontal handler for sorting whether a good product or a defective product is before shipping a device manufactured in a production process.

도 1은 종래의 방법을 설명하기 위한 수평식 핸들러의 평면도로서, 그 구성에 대하여 간략하게 설명하면 다음과 같다.1 is a plan view of a horizontal handler for explaining a conventional method, the configuration of which is briefly described as follows.

본체(1)의 전면 일측(도면상 좌측)에 테스트할 디바이스가 담겨진 고객트레이(2)가 복수열 위치되는 로딩포지션(3)이 구비되어 있고 다른 일측(도면상 우측)에는 테스트 완료된 디바이스가 등급에 따라 분류되어 담기는 빈 고객트레이(2a)가 복수열 위치되는 언로딩포지션(4)이 구비되어 있다.On the front side of the main body 1 (left side in the drawing) is provided a loading position 3 in which a plurality of rows of customer trays 2 containing the device to be tested are located, and on the other side (right side in the drawing), the tested device is rated. The unloading position 4 is provided in which a plurality of empty customer trays 2a, which are classified according to the present invention, are positioned in multiple rows.

또한, 본체(1)의 양측에 한 쌍의 가이드레일(5)이 설치되어 있고 상기 가이드레일(5)에는 제 1, 2, 3 X축(6)(7)(8)이 Y방향을 따라 이동 가능하게 설치되어 있다.In addition, a pair of guide rails 5 are provided on both sides of the main body 1, and the first, second, and third X-axis 6, 7, 8 are arranged along the Y direction on the guide rail 5. It is installed to be movable.

그리고 상기 제 1 X축(6)에 로딩포지션(3)에 위치된 고객트레이(2)로부터 복수개의 디바이스를 흡착하여 로딩버퍼(9)측으로 이송시키는 로딩픽커(10)가 X방향을 따라 이동가능하게 설치되어 있고 제 2 X축(7)에는 언로딩버퍼(11)내에 담겨져 있던 테스트 완료된 디바이스를 흡착하여 언로딩포지션(4)에 위치된 빈 고객트레이(2a)로 언로딩하는 언로딩픽커(12)가 X방향을 따라 이동 가능하게 설치되어 있으며 상기 제 3 X축(8)에는 로딩버퍼(9)에 담겨져 있던 디바이스를 흡착하여 테스트 싸이트(13)측으로 이송하여 설정된 시간동안 테스트하였다가 언로딩버퍼(11)내에 언로딩하는 테스트픽커(14)가 X방향을 따라 이동 가능하게 설치되어 있다.In addition, the loading picker 10 which absorbs a plurality of devices from the customer tray 2 positioned in the loading position 3 on the first X axis 6 and transfers the plurality of devices to the loading buffer 9 is movable along the X direction. The unloading picker is installed on the second X-axis 7 and sucks the tested device contained in the unloading buffer 11 and unloads it to the empty customer tray 2a located at the unloading position 4. 12) is installed to move along the X direction, the device contained in the loading buffer (9) is adsorbed on the third X-axis (8) and transferred to the test site (13) to test for a set time and then unloading The test picker 14 which is unloaded in the buffer 11 is provided to be movable along the X direction.

따라서 로딩포지션(3)에 테스트할 디바이스가 담겨진 고객트레이(2)를 안착시킨 상태에서 전원을 인가하면 제 1 X축(6)이 가이드레일(5)을 따라 이송되는데, 상기한 바와 같은 동작시 로딩픽커(10)는 제 1 X축(6)을 따라 흡착할 디바이스가 담겨진 고객트레이(2)측으로 이송된다.Therefore, when power is applied while the customer tray 2 containing the device to be tested is loaded in the loading position 3, the first X-axis 6 is moved along the guide rail 5. The loading picker 10 is transported along the first X axis 6 to the customer tray 2 in which the device to be sucked is contained.

이와 같이 로딩픽커(10)가 로딩포지션(3)에 위치된 고객트레이(2)의 직상부로 이송되고 나면 로딩픽커(10)는 실린더(도시는 생략함)의 구동에 따라 하강하여 고객트레이내에 담겨져 있던 복수개의 디바이스를 흡착한 다음 실린더의 재구동으로 상사점까지 상승하게 된다.After the loading picker 10 is transferred to the upper portion of the customer tray 2 located in the loading position 3, the loading picker 10 descends in accordance with the driving of a cylinder (not shown) and moves into the customer tray. After absorbing the plurality of devices contained in the device, the cylinder is driven up again to the top dead center.

상기 동작으로 로딩픽커(10)가 고객트레이(2)로부터 복수개의 디바이스를 흡착하고 나면 구동수단(도시는 생략함)의 구동에 의해 로딩픽커(10)가 가이드레일(5) 및 제 1 X축(6)을 따라 이동하는 과정에서 픽커의 간격을 로딩버퍼에 형성된 공간부의 간격으로 가변시킨 다음 흡착하고 있던 디바이스를 로딩버퍼(9)내에 안착시키게 되는데, 상기한 로딩픽커(10)의 동작은 고객트레이(2)내에 디바이스가 있는 동안 지속적으로 이루어지게 된다.After the loading picker 10 sucks the plurality of devices from the customer tray 2 by the above operation, the loading picker 10 is driven by the driving means (not shown). In the process of moving along (6), the interval of the pickers is changed to the interval of the space portion formed in the loading buffer, and then the device that was adsorbed is seated in the loading buffer 9, wherein the operation of the loading picker 10 is performed by the customer. This is done continuously while the device is in the tray 2.

상기한 바와 같이 로딩픽커(10)의 이송간에 픽커의 간격을 조절하는 이유는 고객트레이(2)에 형성된 공간부의 간격과 로딩버퍼(9)에 형성된 공간부의 간격이 다르기 때문이다.As described above, the reason for adjusting the interval of the picker between the transfer of the loading picker 10 is that the interval between the space portion formed in the customer tray 2 and the space portion formed in the loading buffer 9 are different.

이와 같은 동작에 의해 로딩버퍼(9)내에 테스트할 디바이스가 얹혀지면 제 3 X축(8)이 가이드레일(5)을 따라 이송됨과 동시에 테스트픽커(14)가 제 3 X축(8)을 따라 이송되어 로딩버퍼(9)의 직상부에 위치하게 되므로 실린더의 구동으로 테스트픽커(14)가 하강하여 테스트할 디바이스를 흡착하게 된다.When the device to be tested is placed in the loading buffer 9 by such an operation, the third X axis 8 is moved along the guide rails 5 and the test picker 14 is along the third X axis 8. Since it is transported and positioned directly above the loading buffer 9, the test picker 14 is lowered by the driving of the cylinder to absorb the device to be tested.

상기 동작으로 테스트픽커(14)가 로딩버퍼(9)내에 얹혀져 있던 디바이스를 흡착한 다음 실린더의 재구동으로 상사점까지 상승하고 나면 상기 테스트픽커(14)는 전술한 바와는 반대 동작으로 가이드레일(5)과 제 3 X축(8)을 따라 테스트 싸이트(13)측으로 이송하여 하강하게 되므로 설정된 시간동안 디바이스의 성능을 테스트할 수 있게 된다.After the test picker 14 picks up the device loaded in the loading buffer 9 by the above operation and ascends to the top dead center by restarting the cylinder, the test picker 14 moves in the opposite direction as described above. 5) and the third X-axis (8) is moved down to the test site 13 side, so that it is possible to test the performance of the device for a set time.

따라서 테스트 싸이트에서 설정된 시간동안 디바이스의 테스트가 이루어지고 나면 테스트픽커(14)는 실린더의 구동으로 상사점까지 상승함과 동시에 구동수단(도시는 생략함)에 의해 가이드레일(5)과 제 3 X축(8)을 따라 언로딩버퍼(11)측으로 이동하여 테스트 완료된 디바이스를 언로딩버퍼(11)내에 언로딩하고 테스트할 새로운 디바이스를 흡착하기 위해 로딩버퍼(9)측으로 이동하게 된다.Therefore, after the device is tested for a predetermined time at the test site, the test picker 14 rises to the top dead center by driving the cylinder and at the same time, the guide rail 5 and the third X are driven by the driving means (not shown). It moves along the axis 8 to the unloading buffer 11 side to unload the tested device into the unloading buffer 11 and to the loading buffer 9 side to adsorb a new device to be tested.

상기한 동작에 따라 테스트 완료된 디바이스가 언로딩버퍼(11)에 얹혀지고 나면 구동수단(도시는 생략함)의 구동에 의해 제 2 X축(7)이 가이드레일(5)을 따라 이동함과 동시에 피치가 가변된 언로딩픽커(12)가 제 2 X축(7)을 따라 이동하여 언로딩버퍼(11)의 직상부에 위치하게 되므로 언로딩픽커(12)가 언로딩버퍼에 얹혀진 디바이스를 흡착한 다음 이송하는 동안 픽커의 피치를 빈 고객트레이에 형성된 공간부의 피치와 일치되게 가변시켜 테스트 결과에 따라 언로딩포지션(4)에 위치된 빈 고객트레이(2a)내에 분류하여 언로딩하게 되는 것이다.After the tested device is placed on the unloading buffer 11 according to the above operation, the second X axis 7 moves along the guide rail 5 by the driving means (not shown). Since the unloading picker 12 having a variable pitch moves along the second X axis 7 and is positioned directly above the unloading buffer 11, the unloading picker 12 sucks the device mounted on the unloading buffer. Then, during the transfer, the pitch of the picker is varied to match the pitch of the space formed in the empty customer tray, and sorted and unloaded in the empty customer tray 2a located at the unloading position 4 according to the test result.

그러나 이러한 종래의 장치는 테스트픽커가 로딩버퍼내에 있던 디바이스를 흡착하여 테스트 싸이트에서 설정된 시간동안 테스트를 실시한 다음 이를 언로딩버퍼내에 언로딩한 후 로딩버퍼측으로 이동하여 새로운 디바이스를 흡착하여 테스트 싸이트측으로 이동할 때까지 테스트 싸이트에서 테스트를 실시할 수 없게 되므로 디바이스의 이송에 따른 싸이클 타임이 길어져 고가 장비의 가동률이 저하되었음은 물론 공정간에 작업량을 일치시키기가 곤란하여 공정간의 작업량의 발란스를 맞추기 위해서는 부득이 고가 장비를 추가로 구입하여야 되는 문제점이 발생되었다.However, in the conventional apparatus, the test picker adsorbs a device in the loading buffer, performs a test for a predetermined time at the test site, and then unloads it in the unloading buffer, moves to the loading buffer side, and absorbs a new device to move to the test site. Since it is impossible to carry out the test on the test site until the cycle time due to the transfer of the device, the operation rate of the expensive equipment is lowered, and it is difficult to match the workload between the processes. There was a problem that must be purchased additionally.

또한, 테스트픽커가 로딩버퍼-테스트 싸이트-언로딩버퍼측으로 이동하기 위한 가이드레일을 길게 연장하여야 되었음은 물론 별도의 제 3 X축을 설치하여야 되었으므로 장비가 필요 이상으로 커져 장비의 설치에 따른 점유면적을 넓게 차지하게 되는 문제점도 있었다.In addition, the test picker had to extend the guide rail for moving to the loading buffer, the test site, and the unloading buffer side, and had to install a separate third X-axis. There was also a problem that is widely occupied.

본 발명은 이와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 테스트픽커를 한 쌍으로 구성하여 로딩버퍼 및 언로딩버퍼측으로 디바이스를 로딩 및 언로딩하는 동안 테스트 싸이트측으로의 디바이스 로딩 및 언로딩이 동시에 이루어질 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a conventional problem, and the device is loaded and unloaded to the test site side simultaneously while loading and unloading the device to the loading buffer and the unloading buffer side by configuring a pair of test pickers. The purpose is to make it happen.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 형태에 따르면, 로딩포지션에 위치된 고객트레이로부터 로딩픽커가 적어도 1개 이상의 디바이스를 흡착하여 로딩버퍼내에 얹어 놓은 상태에서 상기 로딩버퍼내의 디바이스를 테스트 싸이트측으로 이송시켜 설정된 시간동안 테스트를 실시한 후 언로딩버퍼내에 얹어 놓음에 따라 이를 언로딩픽커가 테스트결과에 따라 언로딩포지션에 위치된 빈 고객트레이내에 분류하는 수평식 핸들러의 테스트방법에 있어서, 테스트 싸이트에 180°선회하는 한 쌍의 픽커를 대칭되게 구비하여 로딩픽커가 고객트레이로부터 디바이스를 흡착하여 로딩버퍼측으로 이송시키는 동안 테스트 싸이트측에 위치된 일측의 픽커가 하강하여 디바이스의 테스트를 실시함과 동시에 다른 일측의 픽커는 하강하여 언로딩버퍼내에 테스트 완료된 디바이스를 언로딩하고, 언로딩버퍼가 로딩버퍼와 함께 동시에 이동하여 언로딩버퍼내에 얹혀진 디바이스를 언로딩픽커가 언로딩하는 동안 테스트 완료된 디바이스를 언로딩버퍼내에 언로딩하고 난 픽커가 로딩버퍼에 얹혀져 있던 디바이스를 흡착하여 대기하였다가 로딩버퍼 및 언로딩버퍼가 초기상태로 환원하는 동안 디바이스의 테스트가 완료되어 테스트 싸이트에 위치되었던 픽커가 상사점까지 상승하고 나면 한 쌍의 픽커가 180°선회하는 동작이 연속적으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 수평식 핸들러의 디바이스 테스트방법이 제공된다.According to an aspect of the present invention for achieving the above object, by transporting the device in the loading buffer to the test site in the state in which the loading picker sucks at least one or more devices from the customer tray located in the loading position placed on the loading buffer The test method of the horizontal handler in which the unloading picker sorts it into an empty customer tray located in the unloading position according to the test result as it is placed in the unloading buffer after the test is performed for a set time. A pair of pivoting pickers are provided symmetrically so that the picker located on the test site is lowered to test the device while the loading picker picks up the device from the customer tray and transports the device to the loading buffer. The picker is lowered and tested in the unloading buffer. After unloading the loaded device, the unloading buffer moves simultaneously with the loading buffer, and the unloaded device unloads the tested device into the unloading buffer while the unloading picker unloads the device loaded in the unloading buffer. After the device has been tested and the loading buffer and unloading buffer are returned to their initial state, the pair of pickers are rotated 180 ° when the picker located at the test site rises to the top dead center. A device test method for a horizontal handler is provided, characterized in that the operation is performed continuously.

도 1은 종래의 방법을 설명하기 위한 수평식 핸들러의 평면도1 is a plan view of a horizontal handler for explaining a conventional method

도 2는 본 발명을 설명하기 위한 수평식 핸들러의 평면도Figure 2 is a plan view of a horizontal handler for explaining the present invention

도 3은 테스트 싸이트에 한 쌍의 픽커가 180°선회 가능하게 설치된 상태도3 is a diagram in which a pair of pickers are rotatably installed at 180 ° on a test site;

도 4는 본 발명을 설명하기 위한 플로우챠트4 is a flowchart for explaining the present invention.

도면중 주요 부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for main parts in the drawings

2 : 고객트레이3 : 로딩포지션2: Customer Tray 3: Loading Position

4 : 언로딩포지션10 : 로딩픽커4: Unloading Position 10: Loading Picker

12 : 언로딩픽커13 : 테스트 사이트12: unloading picker 13: test site

15 : 로딩버퍼16 : 언로딩버퍼15: loading buffer 16: unloading buffer

17 : 디바이스 로딩/언로딩포지션18a, 18b : 픽커17: Device loading / unloading position 18a, 18b: Picker

이하, 본 발명을 일 실시예로 도시한 도 2 내지 도 4를 참고하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to FIGS. 2 to 4 as an embodiment.

도 2는 본 발명을 설명하기 위한 수평식 핸들러의 평면도이고 도 3은 테스트 싸이트에 한 쌍의 픽커가 180°선회 가능하게 설치된 상태도이며 도 4는 본 발명을 설명하기 위한 플로우 챠트로서, 본 발명은 로딩포지션(3)에 위치된 고객트레이(2)로부터 로딩픽커(10)가 디바이스를 흡착하여 피치를 가변시킨 다음 로딩버퍼(15)내에 위치시키는 단계(S1) 및 테스트 완료되어 언로딩버퍼(16)내에 얹혀져 있던 디바이스를 언로딩픽커(12)가 흡착하여 피치를 가변시킨 다음 테스트 결과에 따라 언로딩포지션(4)에 위치된 빈 고객트레이(2a)내에 분류하는 단계(S4)는 종래의 방법과 동일하다.FIG. 2 is a plan view of a horizontal handler for explaining the present invention, and FIG. 3 is a state diagram in which a pair of pickers are pivotably installed at 180 ° on a test site, and FIG. 4 is a flowchart for explaining the present invention. The loading picker 10 sucks the device from the customer tray 2 located in the loading position 3 to change the pitch, and then places it in the loading buffer 15 (S1) and the test is completed. In step S4, the unloading picker 12 adsorbs the device mounted on the board, and the pitch is varied, and then sorted in the empty customer tray 2a located in the unloading position 4 according to the test result. Is the same as

따라서 로딩픽커(10)에 의해 테스트할 디바이스가 로딩버퍼(15)내에 얹혀지고 나면 로딩버퍼(15)는 테스트 싸이트(13)의 디바이스 로딩/언로딩포지션(17)으로 이송되는데, 상기한 바와 같이 로딩버퍼의 이송간에 언로딩버퍼(16)는 로딩버퍼의 이송량만큼 언로딩측으로 함께 이송된다.(S2)Therefore, after the device to be tested by the loading picker 10 is placed in the loading buffer 15, the loading buffer 15 is transferred to the device loading / unloading position 17 of the test site 13, as described above. During the transfer of the loading buffer, the unloading buffer 16 is conveyed together to the unloading side by the amount of the loading buffer (S2).

상기한 바와 같이 로딩버퍼(15)의 이송방향을 따라 함께 이송되는 언로딩버퍼(16)에는 편의상 테스트 완료된 디바이스가 담겨져 있고, 테스트 싸이트(13)의 직상부에 위치하는 픽커(18a)에는 테스트할 디바이스가 흡착된 상태에서 설명한다.As described above, the unloading buffer 16, which is conveyed together along the conveying direction of the loading buffer 15, contains the tested device for convenience, and the picker 18a positioned directly above the test site 13 is to be tested. It demonstrates in the state in which a device was adsorbed.

이는, 로딩버퍼(15) 및 언로딩버퍼(16)의 이송간에는 항상 로딩버퍼(15)에 테스트할 디바이스가 얹혀져 있고 언로딩버퍼(16)에는 테스트 완료된 디바이스가 얹혀져 있으며 소켓의 직상부에 위치하는 픽커(18a)에는 테스트할 디바이스가 흡착되어 있기 때문이다.This means that the device to be tested is placed on the loading buffer 15 and the device under test is placed on the unloading buffer 16 between the loading buffer 15 and the unloading buffer 16. This is because the device to be tested is adsorbed to the picker 18a.

이와 같이 로딩버퍼(15)에 테스트할 디바이스가 얹혀져 디바이스 로딩/언로딩포지션(17)으로 이송됨에 따라 테스트 싸이트(13)에 위치된 어느 하나의 픽커(18b)가 로딩버퍼(15)에 얹혀져 있던 디바이스를 흡착하여 상사점까지 상승하는 동안 소켓의 상측에 위치된 다른 일측의 픽커(18a)는 하사점까지 하강하게 되므로 디바이스의 리드가 소켓의 단자와 전기적으로 접속되고, 이에 따라 테스트 싸이트에서 설정된 시간동안 디바이스의 성능을 테스트하게 된다.(S3)As the device to be tested is placed on the loading buffer 15 and transferred to the device loading / unloading position 17, any one picker 18b positioned at the test site 13 is placed on the loading buffer 15. While picking up the device and ascending to the top dead center, the other picker 18a located on the upper side of the socket descends to the bottom dead center, so that the lead of the device is electrically connected to the terminal of the socket, and thus the time set in the test site. The performance of the device is tested during operation (S3).

상기한 바와 같이 디바이스 로딩/언로딩포지션(17)에서 로딩버퍼(15)내의 디바이스를 흡착하는 픽커(18b)는 언로딩버퍼(16)내에 테스트 완료된 디바이스를 언로딩한 다음 상사점까지 상승하지 않고 상사점과 하사점의 중간위치까지만 상승하여 대기하고 있다가 로딩버퍼(15)가 이송되어 옴에 따라 하강하여 디바이스를 흡착하게 된다.As described above, the picker 18b adsorbing the device in the loading buffer 15 at the device loading / unloading position 17 does not rise to the top dead center after unloading the tested device in the unloading buffer 16. While waiting to rise to the middle position between the top dead center and the bottom dead center, the loading buffer 15 is transported and descends as the device is absorbed.

이는, 디바이스의 흡착에 따른 시간을 최소화하여 소켓의 상부에 위치된 픽커(18a)가 디바이스를 테스트하는 시간동안 테스트 완료된 디바이스를 언로딩버퍼(16)내에 언로딩함과 동시에 로딩버퍼(15)에 테스트할 디바이스가 얹혀져 이송됨에 따라 이를 신속하게 흡착할 수 있도록 하기 위함이다.This minimizes the time due to the adsorption of the device so that the picked device 18a located at the top of the socket unloads the tested device into the unloading buffer 16 during the time of testing the device. This is to allow for quick adsorption as the device under test is loaded and transported.

상기한 바와 같이 소켓의 상부에 위치된 픽커(18a)가 디바이스의 성능을 테스트함과 동시에 다른 일측에 위치된 픽커(18b)가 로딩버퍼(15)내의 디바이스를 흡착하여 상사점까지 상승하는 동안 언로딩버퍼(16)내에 담겨진 디바이스는 언로딩픽커(12)가 흡착하여 테스트 결과에 따라 언로딩포지션(4)에 위치된 빈 고객트레이(2a)내에 분류하게 된다.(S4)As described above, while the picker 18a located at the top of the socket tests the performance of the device, the picker 18b located at the other side of the socket picks up the device in the loading buffer 15 and ascends to the top dead center. The device contained in the loading buffer 16 is classified by the unloading picker 12 in the empty customer tray 2a located in the unloading position 4 according to the test result.

상기 언로딩버퍼(16)내의 디바이스를 언로딩픽커(12)가 흡착하여 언로딩시키고 나면 언로딩버퍼(16)는 로딩버퍼(15)와 함께 초기상태로 이송되어 로딩픽커(10)에 의해 로딩버퍼(15)내에 테스트할 디바이스가 공급되기를 대기하고, 언로딩버퍼(16)내에는 테스트 완료된 디바이스가 공급되기를 대기하게 된다.(S5)After the device in the unloading buffer 16 is unloaded by the unloading picker 12, the unloading buffer 16 is transferred to the initial state together with the loading buffer 15 and loaded by the loading picker 10. It waits for the device to be tested to be supplied in the buffer 15, and waits for the test device to be supplied to the unloading buffer 16 (S5).

테스트 싸이트(13)에서 설정된 시간동안 디바이스의 테스트가 이루어지고 나면 픽커(18a)가 상사점까지 상승함과 동시에 축(19)의 회전에 따라 한 쌍의 픽커(18a)(18b)가 동시에 180°선회하여 테스트 완료된 디바이스가 흡착된 픽커(18a)는 언로딩버퍼(16)의 상부에 위치되고 테스트할 디바이스가 흡착된 픽커(18b)는 소켓의 직상부에 위치하게 된다.(S6)After the device has been tested for the time set in the test site 13, the picker 18a rises to top dead center and the pair of pickers 18a and 18b simultaneously rotate 180 ° as the shaft 19 rotates. The picker 18a to which the device that has been tested by turning is adsorbed is positioned on the upper portion of the unloading buffer 16, and the picker 18b to which the device to be tested is adsorbed is positioned directly on the socket (S6).

지금까지 설명한 것은 로딩포지션(3)에 위치된 고객트레이(2)로부터 로딩픽커(10)가 디바이스를 흡착하여 로딩버퍼(15)내에 얹어 놓을 때 테스트 싸이트(13)의 디바이스 로딩/언로딩포지션(17)에 위치된 픽커(18b)가 테스트 완료된 디바이스를 언로딩버퍼(16)내에 언로딩하고, 상기 로딩버퍼(15)가 언로딩버퍼(16)와 함께 이동하여 언로딩버퍼(16)내에 얹혀져 있던 디바이스를 언로딩포지션(4)에 위치된 빈 고객트레이(2a)내에 분류할 때 소켓의 직상부에 위치되어 있던 픽커(18a)는 설정된 시간동안 디바이스를 소켓의 단자와 전기적으로 접속시키고, 다른 일측의 픽커(18b)는 로딩버퍼(15)내의 디바이스를 흡착하여 상사점까지 상승하며 디바이스의 테스트가 완료되고 한 쌍의 픽커(18a)(18b)가 180°선회하는 동안 로딩버퍼(15) 및 언로딩버퍼(16)가 초기상태로 환원되는 과정을 설명한 것으로, 상기 동작은 로딩버퍼(15)내에 테스트할 디바이스가 얹혀지는 동안 연속적으로 이루어지게 됨은 이해 가능한 것이다.As described above, the device loading / unloading position of the test site 13 when the loading picker 10 sucks the device from the customer tray 2 located in the loading position 3 and places it in the loading buffer 15 ( The picker 18b located at 17) unloads the tested device into the unloading buffer 16, and the loading buffer 15 moves with the unloading buffer 16 to be placed in the unloading buffer 16. When sorting the existing device into the empty customer tray 2a located in the unloading position 4, the picker 18a located directly above the socket electrically connects the device to the terminal of the socket for a set time. The picker 18b on one side picks up the device in the loading buffer 15 and ascends to top dead center, while the testing of the device is completed and the pair of pickers 18a and 18b rotates 180 ° while the loading buffer 15 and Unloading buffer 16 is reduced to the initial state That describes the information, the operation will be continuously available understanding doemeun done during which the device to be tested in a loading buffer (15) rests.

이상에서와 같이 본 발명은 종래의 테스트방법에 비하여 다음과 같은 장점을 갖는다.As described above, the present invention has the following advantages over the conventional test method.

첫째, 어느 하나의 픽커가 테스트할 디바이스를 테스트포지션으로 이송시 다른 하나의 픽커가 테스트 완료된 디바이스를 디바이스 로딩/언로딩포지션으로 이송시키게 되므로 디바이스의 로딩 및 언로딩에 따른 싸이클 타임을 1/2로 줄일 수 있게 되고, 이에 따라 고가장비의 가동률을 극대화하게 되므로 생산성을 배가시키게 된다.First, when one picker transfers the device to be tested to the test position, the other picker moves the tested device to the device loading / unloading position, so the cycle time for loading and unloading the device is 1/2. It can be reduced, thereby maximizing the utilization rate of expensive equipment, thereby doubling the productivity.

둘째, 디바이스를 테스트하는 동안 로딩버퍼 및 언로딩버퍼를 동시에 이송시키게 되므로 디바이스의 로딩 및 언로딩에 소요되는 시간을 대폭 줄일 수 있게 된다.Second, since the loading buffer and the unloading buffer are simultaneously transferred during the device test, the time required for loading and unloading the device can be greatly reduced.

셋째, 테스트 완료된 디바이스를 언로딩버퍼에 언로딩하고 난 픽커가 상사점까지 상승하지 않고 상사점과 하사점의 중간위치까지 상승하여 대기하고 있다가 로딩버퍼내에 테스트할 디바이스가 얹혀져 이송되어 옴에 따라 이를 흡착하여 상사점까지 상승하게 되므로 로딩버퍼에서 디바이스를 흡착하는 시간을 최소화하게 된다.Third, after unloading the tested device to the unloading buffer, the picker does not rise to the top dead center but rises to the middle position between the top dead center and the bottom dead center, and then the device to be tested is loaded and loaded into the loading buffer. As it rises to the top dead center by adsorption, it minimizes the time to adsorb the device in the loading buffer.

Claims (3)

로딩포지션에 위치된 고객트레이로부터 로딩픽커가 적어도 1개 이상의 디바이스를 흡착하여 로딩버퍼내에 얹어 놓은 상태에서 상기 로딩버퍼내의 디바이스를 테스트 싸이트측으로 이송시켜 설정된 시간동안 테스트를 실시한 후 언로딩버퍼내에 얹어 놓음에 따라 이를 언로딩픽커가 테스트결과에 따라 언로딩포지션에 위치된 빈 고객트레이내에 분류하는 수평식 핸들러의 테스트방법에 있어서, 테스트 싸이트에 180°선회하는 한 쌍의 픽커를 대칭되게 구비하여 로딩픽커가 고객트레이로부터 디바이스를 흡착하여 로딩버퍼측으로 이송시키는 동안 테스트 싸이트측에 위치된 일측의 픽커가 하강하여 디바이스의 테스트를 실시함과 동시에 다른 일측의 픽커가 하강하여 언로딩버퍼내에 테스트 완료된 디바이스를 언로딩하고, 언로딩버퍼가 이동하여 언로딩버퍼내에 얹혀진 디바이스를 언로딩픽커가 언로딩하는 동안 테스트 완료된 디바이스를 언로딩버퍼내에 언로딩하고 난 픽커는 로딩버퍼에 얹혀져 있던 디바이스를 흡착하여 대기하였다가 로딩버퍼 및 언로딩버퍼가 초기상태로 환원하는 동안 디바이스의 테스트가 완료되어 테스트 싸이트에 위치되었던 픽커가 상사점까지 상승하고 나면 한 쌍의 픽커가 180°선회하는 동작이 연속적으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 수평식 핸들러의 디바이스 테스트방법.After loading picker absorbs at least one device from the customer tray located in the loading position and puts it in the loading buffer, the device in the loading buffer is transferred to the test site for testing for a set time and then placed in the unloading buffer. According to the test method of the horizontal handler classifying the unloading picker in the empty customer tray located in the unloading position according to the test result, the picking device having a pair of pickers pivoting 180 ° on the test site symmetrically While the picker picks up the device from the customer tray and transfers it to the loading buffer, the picker located on the test site is lowered to test the device and the other picker is lowered to unload the tested device in the unloading buffer. Loading, unloading buffer moves While the unloading device unloads the device loaded in the loading buffer, the picker unloads the tested device into the unloading buffer, and the picker adsorbs and waits for the device loaded on the loading buffer, and then the loading buffer and the unloading buffer return to the initial state. A device test method of a horizontal handler characterized in that a pair of pickers are rotated 180 ° continuously after the test of the device is completed and the picker placed on the test site rises to the top dead center. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 로딩버퍼 및 언로딩버퍼가 동일피치로 동시에 이동되도록 하여 로딩버퍼가 로딩픽커에 의한 디바이스의 언로딩위치에 있을 경우, 언로딩버퍼는 테스트 싸이트에 위치된 어느 하나의 픽커에 의한 디바이스의 로딩/언로딩지점에 위치되도록 하고, 로딩버퍼가 테스트 싸이트에 위치된 어느 하나의 픽커에 의한 디바이스의 로딩/언로딩지점에 위치되어 있을 경우에는 언로딩버퍼는 언로딩픽커에 의한 디바이스의 언로딩지점에 위치하는 것을 특징으로 하는 수직식 핸들러의 디바이스 테스트방법.When the loading buffer and the unloading buffer are simultaneously moved to the same pitch so that the loading buffer is in the unloading position of the device by the loading picker, the unloading buffer is loaded / unloaded by the picker located at the test site. If the loading buffer is located at the loading / unloading point of the device by any of the pickers located at the test site, the unloading buffer is located at the unloading point of the device by the unloading picker. Device testing method of a vertical handler, characterized in that located. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 테스트 싸이트에서 테스트 완료된 디바이스 언로딩버퍼내에 언로딩하고 난 픽커는 상사점까지 상승하지 않고 상사점과 하사점사이에 위치하고 있다가 로딩버퍼가 이송되어 옴에 따라 하사점까지 하강하여 디바이스를 흡착한 다음 상사점까지 상승하는 것을 특징으로 하는 수직식 핸들러의 디바이스 테스트방법.The picker unloaded in the device unloading buffer tested at the test site is located between the top dead center and the bottom dead center without rising to the top dead center, and then descends to the bottom dead center to absorb the device as the loading buffer is transferred. Device test method of a vertical handler, characterized in that rising to top dead center.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100668238B1 (en) * 2004-10-11 2007-01-15 주식회사 유니테스트 Picking device using a stepping motor in a semiconductor component tester
KR100835178B1 (en) * 2002-02-09 2008-06-04 (주)한성정공 Transferring apparatus in vertical handler

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