KR20020040997A - 셀 테스트 장비의 패널 설치부 구조 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 백라이트(BackLight:B/L)상에 편광판을 포함하는 CLC(cholesteric liquid crystal)와, 상기 CLC 상부의 상기 패널 설치부의 C/F 외각부의 BM에 대응하는 위치에 TFT 유리와 CLC사이의 거리를 최소화하고 빛을 차단하기 위해 부착된 차광테이프를 포함하여 셀 테스트를 수행하고 양품만 다음 양품만 TFT 유리에 편광판을 부착하는 공정을 수행하도록 제공하는 셀 테스트 장비의 패널 설치부 구조에 관한 것으로, 백라이트(BackLight:B/L)가 있고, TFT(Thin Film Transistor) 유리 및 C/F(Color Filter)를 포함한 C/F 유리가 겹쳐있고, 상기 C/F 유리상에 상부 편광판을 포함하는 셀 테스트 장비의 패널 설치부에 있어서, 상기 B/L 상부표면에 부착된 편광판을 포함하는 CLC(cholesteric liquid crystal)와, 상기 CLC 상부의 상기 패널 설치부의 C/F 외각부의 BM에 대응하는 위치에 TFT 유리와 CLC사이의 거리를 최소화하고 빛을 차단하기 위해 부착된 차광테이프를 포함한 것을 특징으로 하여 편광판의 손실을 감소시킬 수 있는 효과가 있는 유용한 발명이다.

Description

셀 테스트 장비의 패널 설치부 구조{PANEL MOUNTING UNIT STRUCTURE OF CELL TEST APPARATUS}
본 발명은 셀 테스트 장비의 패널 설치부 구조에 관한 것으로, 보다 상세하게는 백라이트(BackLight:B/L)상에 편광판을 포함하는 CLC(cholesteric liquid crystal)와, 상기 CLC 상부의 상기 패널 설치부의 C/F 외각부의 BM에 대응하는 위치에 TFT 유리와 CLC사이의 거리를 최소화하고 빛을 차단하기 위해 부착된 차광테이프를 포함하여 셀 테스트를 수행하고 양품으로 판정된 것만 다음 양품만 TFT 유리에 편광판을 부착하는 공정을 수행하도록 제공하는 셀 테스트 장비의 패널 설치부 구조에 관한 것이다.
박막 액정 트랜지스터(Thin Film Transistor: TFT) 액정표시장치(LCD:Liquid Crystal Display) 노트북의 대중화와 더불어 공급업체가 많아짐에 따라 저렴한 액정모듈(LCM:Liquid Crystal Module)가격과 높은 품질이 요구되며, 노트북 업체가 경쟁력을 갖추기 위해서 필수적으로 LCM의 제조원가를 낮추어야 한다.
편광판의 부착공정은 다음과 같은 순서로 실시된다. LC 주입후 엔드 시일(end seal)공정, 이후 엔드시일 클리닝(end seal cleanning)공정, 등방성 처리공정(isotropic treatment), 나이프 클리닝(knife cleaning)공정, 편광판(POL:POLarizer) 부착공정, 에지 그라인딩(edge grinding)공정, 클리닝(cleanning)공정, 오토 클레이브(auto clave)공정, 셀 테스트(cell test)공정으로 이루어진다.
셀 테스트 장비는 패널 측정부와 설치부로 나뉘어져 있으며(도시안됨), 도 1 은 종래 셀 테스트 장비에서의 패널 설치부의 평면도이고, 도 2a 및 도 2b 는 도 1 에서의 A-A, B-B선 단면도로서, 이에 도시한 바와 같이, 셀 테스트 장비의 패널 설치부(100)는 패널크기 조절 지지대(10)과 상부패널 지지대(14) 및 하부패널 지지대(16)를 포함한다. 상기 셀 테스트 장비의 종래의 패널 설치부(100)에 패널을 설치하면, 패널의 하단부의 편광판(21)과 B/L(BackLight)(20)사이의 거리는 약 1.5∼2mm를 유지한다.
참조부호 22 및 24는 각각 TFT 유리와 C/F 유리를 나타내고, 참조부호 26은 상부 편광판을 나타낸다.
그러나, 상기의 공정에서 편광판(POL) 부착후 셀 테스트 결과, 패널불량이 발생할 경우 패널은 물론 부착한 편광판이 전부 손실되는 문제점이 있었다.
또한, TFT 유리측의 편광판 없이 셀 테스트를 하기 위해서는 B/L 표면상에 편광판을 부착해야 하지만, 종래 셀 테스트 장비의 패널 설치부의 단면 도면에서 B/L 표면에서 TFT 유리까지의 거리는 약 1.5∼2mm이므로, 이로 인해 B/L와 TFT 유리사이의 거리가 큼에 따라 패널 검사에서 무라(mura) 결함은 발견하기 어려운 문제점이 있었다.
본 발명의 목적은 편광판의 손실을 제거함에 의해 제조원가를 낮출 수 있고, 또한 무라 결함을 포함하여 종래의 검사정도의 수준을 유지할 수 있도록 된 셀 테스트 장비의 패널 설치부 구조를 제공함에 있다.
도 1 은 종래 셀 테스트 장비에서의 패널 설치부의 평면도.
도 2a 및 도 2b 는 도 1 에서의 A-A, B-B선 단면도.
도 3 은 본 발명에 따른 셀 테스트 장비에서의 패널 설치부의 평면도.
도 4a 및 도 4b 는 도 3 에서의 C-C, D-D선 단면도이다.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
20 : 백라이트(BackLight) 22 : TFT 유리
24 : C/F 유리 25 : C/F(컬퍼 필터)
26 : 편광판
30 : CLC(cholesteric liquid crystal) 40 : 차광테이프
상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 일실시예에 따르면, 백라이트(BackLight:B/L)가 있고, TFT(Thin Film Transistor) 유리 및 C/F(Color Filter)를 포함한 C/F 유리가 겹쳐있고, 상기 C/F 유리상에 상부 편광판을 포함하는 셀 테스트 장비의 패널 설치부에 있어서, 상기 B/L 상부표면에 부착된 편광판을 포함하는 CLC(cholesteric liquid crystal)와, 상기 CLC 상부의 상기 패널 설치부의 C/F 외각부의 BM에 대응하는 위치에 TFT 유리와 CLC사이의 거리를 최소화하고 빛을 차단하기 위해 부착된 차광테이프를 포함한 것을 특징으로 하는 셀 테스트 장비의 패널 설치부 구조가 제공된다.
또한, 본 발명에 있어서, 상기 차광 테이프의 두께는 약 0.2∼0.3 mm로 하여 10.4˝, 12˝,14.1˝,15˝,18˝ 그리고 21˝등의 패널크기에 따라 차광테이프의 크기를 조절해서 패널에 장착하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 편광판의 부착전에 패널의 불량상태의 확인이 되면 편광판의 손실을 제거할 수 있다. 종래 셀 테스트 장비에서 편광판의 손실을 제거하기 위해서는 셀 테스트 공정순서를 변경하고, 셀 테스트 장비의 개선에 의해서 달성할 수 있다. 대상이 되는 편광판은 패널이 하단부(TFT부) 유리에 부착된 것이다. 공정순서를 변경하되, 셀 테트스후에 편광판 부착 공정을 실시한다.
셀 테스트 장비의 패널 설치부에 있어서 종래의 도 1 과 유사한 부분은 동일부호를 사용하여 설명한다. 도 3 은 본 발명에 따른 셀테스트 장비에서의 패널설치부의 평면도이고, 도 4a 및 도 4b 는 도 3 에서의 C-C, D-D선 단면도이다.
본 발명은 종래의 셀 테스트 장비의 패널 설치부를 개조한 것으로, 도 3 에 도시한 바와 같이, 패널 설치부(200)는 B/L상부에 편광판을 포함한 CLC(cholesteric liquid crystal)(30)를 부착하고, 그 상부에는 C/F의 BM(BlackMatrix)부와 대응하는 부분에 약 0.2∼0.3mm 차광테이프(40)를 부착하여 CLC(30)와 패널사이를 근접하게 유지하여 종래의 셀 테스트 장비와 동수준의 성능을 갖는다.
자세히 설명하면, 편광판의 손실을 제거하기 위해서는 공정순서를 변경하고, 셀 테스트 장비의 개선에 의해서 달성할 수 있다. 대상이 되는 편광판은 패널의 하단부(TFT부) 유리에 부착된 것이다. 편광판 손실 절감 대상은 TFT 유리부의 것이므로 셀 공정은 다음과 같이 변경 실시한다.
처음부터 나이프 클리닝(knife cleanning)까지의 공정은 종래와 동일하고, 편광판(POL:POLarizer) 부착공정(C/F(Color/Filter)유리)과, 에지 클리닝(edge cleanning)공정과, 클리닝(cleanning) 공정과, 오토 클레이브(Auto Clave)공정과 셀 테스트 공정을 진행하고 이후 양품만 다음공정 즉 편광판 부착공정과(TFT 유리), 클리닝공정과, 오토 클레이브 공정을 진행한다. 즉, 먼저 C/F 유리의 POL을 부착하고 셀 테스트를 실시하여 양품여부가 확인된 패널만 편광판을 부착한다. 공정순서만 변경됨으로 셀 테스트 이외의 장비의 개조는 필요없다.
즉, 본 발명에서는, B/L 상부표면에는 편광판을 포함한 CLC(cholesteric liquid crystal)를 부착하여 패널 검사할 때 휘도를 높게 하고, CLC와 TFT 유리와의 거리는 약 0.2∼0.3mm의 갭을 유지하는 검은색의 차광테이프(40)를 사용한다. 차광테이프(40)는 C/F의 BM에 대응하도록 부착한다. CLC의 TFT사이의 갭을 편광판 두께 정도로 유지함으로 셀 테스트를 실시할 때 무라 결함을 포함하여 종래의 검사정도의 수준을 유지할 수 있다. CLC 필름은 편광해서 투과하지 않는 빛을 반사시켜 이용함으로 휘도를 높인다.
따라서, 상기한 본 발명에 따른 에 의하면, 불량 패널에 편광판을 부착해서편광판의 손실을 발생되므로 먼저 셀 테스트를 실시해서 불량 여부를 판정한 후 편광판을 부착함으로써 편광판의 손실을 감소시킬 수 있는 효과가 있다. 편광판 손실 방지는 패널 초기 개발단계 혹은 패널이 클수록 그 효과는 높아진다. 셀 공정장비는 종래와 동일하여 셀 테스트 장비만 개조해서 사용함으로 상기 효과를 달성할 수 있다.
상기 TFT액정 표시장치는 셀 테스트 장비 뿐만 아니라 TN/STN 등 편광판을 사용하는 제품에는 모두 적용가능 하다.
아울러 상기한 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이며, 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가 등이 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허청구의 범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.

Claims (2)

  1. 백라이트(BackLight:B/L)가 있고, TFT(Thin Film Transistor) 유리 및 C/F(Color Filter)를 포함한 C/F 유리가 겹쳐있고, 상기 C/F 유리상에 상부 편광판을 포함하는 셀 테스트 장비의 패널 설치부에 있어서,
    상기 B/L 상부표면에 부착된 편광판을 포함하는 CLC(cholesteric liquid crystal)와,
    상기 CLC 상부의 상기 패널 설치부의 C/F 외각부의 BM에 대응하는 위치에 TFT 유리와 CLC사이의 거리를 최소화하고 빛을 차단하기 위해 부착된 차광테이프를 포함한 것을 특징으로 하는 셀 테스트 장비의 패널 설치부 구조.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 차광 테이프의 두께는 약 0.2∼0.3 mm로 하여 10.4˝, 12˝,14.1˝,15˝,18˝ 그리고 21˝등의 패널크기에 따라 차광테이프의 크기를 조절해서 패널에 장착하는 것을 특징으로 하는 셀 테스트 장비의 패널 설치부 구조.
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