KR200151796Y1 - 단면 물리량 측정 장치 - Google Patents
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Abstract
본 고안에 따르면, 구동 수단, 상기 구동 수단에 의해 회전 가능한 캠 부재, 상기 캠 부재에 맞물려서 회전 가능한 회전 부재, 상기 회전 부재의 일측에 지지된 측정 수단 및, 상기 회전 부재의 회전 및 병진 운동을 수용하는 지지 수단을 포함하는 단면 물리량 측정 장치가 제공된다. 본 고안에 따른 물리량 측정 장치에서는 회전 지지체가 회전 운동과 병진 운동을 병행할 수 있으므로 측정 프로브들이 보다 넓은 범위에서 물리량을 측정할 수 있다.
Description
제1도는 종래의 단면 물리량 측정 장치에 대한 개략적인 사시도.
제2도는 제1도 장치에서 측정 프로브의 궤적을 도시한 설명도.
제3도는 본 고안에 따른 단면 물리량 측정 장치에 대한 개략적인 사시도.
제4도는 제3도 장치에서 측정 프로브의 궤적을 도시한 설명도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
31 : 구동 수단 32 : 캠 치차
33 : 프로브 지지체 34 : 회전 샤프트
35a,35b,35c : 측정 프로브 36 : 지지부
본 고안은 단면 물리량 측정 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 확장된 범위에 걸쳐서 물리량을 측정할 수 있는 측정 장치에 관한 것이다.
일반적으로 유동장내에서 발생되는 압력 및 온도등의 물리량을 측정하기 위해서는 측정 프로브(probe)를 사용한다. 측정 프로브는 특정 형태의 지지 기구에 지지된 상태로 시간 및 위치에 따라 변화하는 유동장내의 물리량을 측정하게 된다. 측정 프로브는 지지 기구상에 하나 이상 지지되며, 측정 목적 및 필요에 따라 소정 궤적을 이동하면서 물리량을 측정하게 된다.
제1도에는 종래 기술에 따른 단면 물리량 측정 장치(10)가 개략적으로 도시되어 있다.
도면을 참조하면, 프로브(15a,15b,15c)는 프로브 지지체(13)에 지지되며, 프로브 지지체(13)의 외주면에서 치형이 형성된다. 프로브 지지체(13)는 지지부(16)에 일 단부가 고정된 회전 샤프트(14)를 중심으로 회전할 수 있으며, 구동 수단(11)은 프로브 지지체(13)와 맞물린 치차(14)를 통해서 프로브 지지체(13)를 회전 구동시킨다.
종래 기술에 따르면, 구동 수단(11)에 의해 회전되는 치차(12)는 원형의 형태를 가지며, 이에 맞물리는 프로브 지지체(13)도 또한 원형의 형태를 가진다. 따라서 프로브 지지체(13)에 지지된 프로브(15a,15b,15c)가 이동하는 궤적도 원형을 가지게 된다. 제2도에는 제1도에 도시된 단면 물리량 측정 장치(10)에서 각각의 측정 프로브(15a,15b,15c)들이 그리는 궤적들이 도시되어 있다. 여기에서 도면번호 21a, 21b 및 21c가 지시하는 궤적은 프로브 지지체(13)가 회전할때 각각의 프로브(15a,15b,15c)가 그리는 궤적이다.
위와 같은 종래의 단면 물리량 측정 장치는, 예를 들면, 파이프내의 유체 유동을 측정하기 위하여 유동의 방향과 측정 프로브(15a,15b,15c)가 일치하도록 프로브 지지체(13)를 파이프의 단부에 배치하고 측정을 수행할 수 있다. 측정 프로브(15a,15b,15c)들은 원형의 궤적을 그리면서 원형 파이프의 동일 반경 거리에 있는 지점에서 온도 및 압력등의 물리량을 측정하게 된다. 이때 측정 프로브(15a,15b,15c)들의 반경거리는 회전 샤프트(14)의 중심으로부터 항상 일정하므로, 프로브 지지체(13)가 1 회전을 수행할때마다 동일한 위치에서 측정이 수행된다. 따라서 측정 범위가 제한되며, 제한된 측정 범위로부터 도출된 측정량의 신뢰성이 떨어진다는 문제점이 있었다.
본 고안은 위와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 고안의 목적은 확장된 범위에 걸쳐서 물리량의 측정을 수행할 수 있는 단면 물리량 측정 장치를 제공하는 것이다.
본 고안의 다른 목적은 프로브 지지체를 캠 기구를 이용하여 회전시키는 단면 물리량 측정 장치를 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 고안에 따르면, 구동 수단, 상기 구동 수단에 의해 회전 가능한 캠 부재, 상기 캠 부재에 맞물려서 회전 가능한 회전 부재, 상기 회전 부재의 일측에 지지된 측정 수단 및, 상기 회전 부재의 회전 및 병진 운동을 수용하는 지지 수단을 포함하는 단면 물리량 측정 장치.
본 고안의 일 특징에 따르면, 상기 지지 수단은 상기 회전 부재를 그 일단부에 회전 가능하게 지지하는 회전 샤프트 부재 및, 상기 회전 샤프트 부재의 타 단부를 지지하는 탄성 부재를 구비한다.
본 고안의 다른 특징에 따르면, 상기 지지 수단은 그 일 단부에 상기 회전 부재를 회전 가능하게 지지하며 탄성 변형이 가능한 회전 샤프트 부재이다.
본 고안의 다른 특징에 따르면, 상기 캠 부재는 타원형의 단면 형상을 가진다.
이하 본 고안을 첨부된 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 보다 상세하게 설명하기로 한다.
제3도에는 본 고안에 따른 단면 물리량 측정 장치의 일 실시예에 대한 개략적인 사시도가 도시되어 있다.
도면을 참조하면, 물리량 측정 장치(30)의 전체적인 구성은 제1도에 도시된 종래 기술의 장치(10)와 유사하다. 측정 프로브(35a,35b,35c)들은 프로브 지지체(33)의 일측에 지지되며, 프로브 지지체(33)는 구동 수단(31)에 의해 회전한다. 프로브 지지체(33)는 원형의 형상을 가진다.
본 고안의 특징에 따르면, 프로브 지지체(33)는 캠 치차(32)를 통해서 회전 구동된다. 캠 치차(32)는 도면에 도시된 실시예에서 타원형으로 도시되어 있으나, 목적과 필요에 따라 다양한 형태의 캠이 선택될 수 있을 것이다.
캠 치차(32)가 회전함에 따라서, 프로브 지지체(33)는 회전 운동뿐만 아니라 상하로 병진 운동을 하게 된다. 따라서 프로브 지지체(33)를 지지하는 회전 샤프트(34)는 프로브 지지체(33)의 병진 운동에 대응할 수 있어야 한다. 도면에 도시된 실시예에서는 회전 샤프트(34)가 지지부(36)상에 고정되고, 프로브 지지체(33)는 회전 샤프트(34)를 중심으로 회전한다. 지지부(36)는 참조 부호 A로 지시된 부분을 단면으로 도시한 바와 같이 구성될 수 있다. 즉, 회전 샤프트(34)는 일 단부가 판 스프링(37)에 의해 지지됨으로써, 도면 부호 38로 지시된 상하 방향으로 회전 샤프트(34)가 병진 운동하더라도 스프링의 탄성력으로 이를 완충시킬 수 있다. 다른 실시예에서는 회전 샤프트(34) 자체를 탄성이 있는 부재로 형성함으로써 프로브 지지체(33)의 병진 운동을 자체적으로 흡수할 수도 있을 것이다.
제4도에서 제3도에 도시된 단면 물리량 측정 장치(30)에서 측정 프로브(35a,35b,35c)들의 이동 궤적을 개략적으로 도시한 것이다. 타원형의 캠 치차(32)를 통해 프로브 지지체(33)가 회전할 경우, 각각의 프로브(35a,35b,35c)들은 도면 부호 41a,41b,41c로 지시된 궤적을 따라 이동한다.
본 고안에 따른 단면 물리량 측정 장치에서는 회전 지지체가 회전 운동과 병진 운동을 병행할 수 있으므로 측정 프로브들이 보다 넓은 범위에서 물리량을 측정할 수 있다. 따라서 측정값에 대한 신뢰성이 향상되는 장점이 있다.
본 고안은 첨부된 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서 본 고안의 진정한 보호 범위는 첨부된 청구 범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.
Claims (4)
- 구동 수단, 상기 구동 수단에 의해 회전 가능한 캠 부재, 상기 캠 부재에 맞물려서 회전 가능한 회전 부재, 상기 회전 부재의 일측에 지지된 측정 수단 및, 상기 회전 부재의 회전 및 병진 운동을 수용하는 지지 수단을 포함하는 단면 물리량 측정 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 지지 수단은 상기 회전 부재를 그 일단부에 회전 가능하게 지지하는 회전 샤프트 부재 및, 상기 회전 샤프트 부재의 타 단부를 지지하는 탄성 부재를 구비하는 것을 특징으로 하는 단면 물리량 측정 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 지지 수단은 그 일 단부에 상기 회전 부재를 회전 가능하게 지지하며 탄성 변형이 가능한 회전 샤프트 부재인 것을 특징으로 하는 단면 물리량 측정 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 캠 부재는 타원형의 단면 형상을 가지는 것을 특징으로 하는 단면 물리량 측정 장치.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| KR2019960015545U KR200151796Y1 (ko) | 1996-06-12 | 1996-06-12 | 단면 물리량 측정 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2019960015545U KR200151796Y1 (ko) | 1996-06-12 | 1996-06-12 | 단면 물리량 측정 장치 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR980004532U KR980004532U (ko) | 1998-03-30 |
| KR200151796Y1 true KR200151796Y1 (ko) | 1999-07-15 |
Family
ID=19458378
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| KR2019960015545U KR200151796Y1 (ko) | 1996-06-12 | 1996-06-12 | 단면 물리량 측정 장치 |
Country Status (1)
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| KR (1) | KR200151796Y1 (ko) |
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|---|---|---|---|---|
| JP5916774B2 (ja) * | 2014-01-23 | 2016-05-11 | マイクロトラック・ベル株式会社 | 真密度測定装置 |
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1996
- 1996-06-12 KR KR2019960015545U patent/KR200151796Y1/ko not_active IP Right Cessation
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| KR980004532U (ko) | 1998-03-30 |
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