KR20010023015A - 입력 데이터 신호 평가 방법 및 이 방법을 수행하는 회로 배열 - Google Patents

Abstract

로드 변조에 의해 전송된 데이터 신호에 대한 평가를 신뢰성 있게 하는 입력 데이터 신호를 평가하는 방법 및 이러한 방법을 수행하는 회로 배열이 제시된다.

이 목적을 위해, 상기 방법 및 회로 배열은

- 실제 부분으로서 언급되는 제 1 신호성분과 가상 부분으로서 언급되는 제 2 신호성분을 갖는 복합 데이터 신호를 상기 입력 데이터 신호로부터 유도하고,

- 한편으로는 상기 실제 부분의 평균값을 그리고 다른 한편으로는 상기 가상 부분의 평균값을 형성함으로써 복합 데이터 신호의 평균값 신호를 형성하고,

- 상기 복합 데이터 신호와 상기 복합 데이터 신호의 평균값 신호 사이의 차로 형성함으로써, 평균값이 없는 실제 부분 신호와 평균값이 없는 가상 부분 신호를 갖는 평균값이 없는 복합 신호를 형성하고,

- 평균값이 없는 상기 실제 부분 신호를 자체적으로 신호 배율하여 제 1 구적 에러 신호를 형성하고 그리고 평균값이 없는 상기 실제 부분 신호를 평균값이 없는 상기 가상 부분으로 신호 배율하여 제 2 구적 에러 신호를 형성하며,

- 상기 제 1 구적 에러 신호를 상기 제 2 구적 에러 신호로 신호 분할하여 기울기 신호를 형성하고,

- 상기 기울기 신호를 평균값이 없는 상기 실제 부분 신호로 신호 배율 하여 판정 드레시홀드 신호를 형성하고, 그리고

- 평균값이 없는 상기 가상 부분 신호를 상기 결정 드레시홀드 신호와 비교함으로써, 로드 변조동안 입력데이터 신호의 값이 로드 상태에서 형성되었는지 또는 언로드 상태에서 형성되었는지 여부에 관한 정보 신호를 형성하는 것을 특징으로 한다.

Description

입력 데이터 신호 평가 방법 및 이 방법을 수행하는 회로 배열 {METHOD FOR EVALUATING AN INPUT DATA SIGNAL AND CIRCUIT SYSTEM FOR CARRYING OUT SAID METHOD}

하나 이상의 무 접촉 데이터 캐리어와 판독/기입 장치로 구성되는 자기적으로 결합되는 무 접촉 식별시스템에서, 데이터 캐리어로부터 판독/기입 장치로 및 이와 역으로의 데이터 전송은 이른바 최대 판독/기입 거리를 토대로 테스트된다. 이 최대 판독/기입 거리는 특히 판독/기입 장치 및 데이터 캐리어(들)이 그 테스트 결합에서만 동작할 때 디바이스들의 동작에 중요한 기준을 제공한다.

무 접촉 데이터 캐리어들은 판독/기입 장치에 자기적으로 결합된다. 데이터 캐리어뿐만 아니라 데이터 신호들의 전원공급을 위한 에너지는 자기 결합(magnetic coupling)을 통해 전송된다. 데이터 캐리어로부터 판독/기입 장치로의 데이터 신호의 전송은 로드 변조(load modulation)를 통해 발생한다. 이 목적을 위해, 로드 임피던스로 언급되는 추가의 임피던스가 데이터 캐리어상의 데이터 신호에 의해 스위칭 온 및 오프 된다. 이와 같은 종류의 배열이 도 1에 일반적인 형태로 도시되어 있다. 판독/기입 장치의 인덕턴스(1)와 그 내에 있는 데이터 캐리어의 인덕턴스(2)가 데이터 신호와 전원을 자기 결합하기 위한 배열을 구성한다. 데이터 캐리어의 인덕턴스(2)와 병렬로, 고정된 로드로서 역할을 하는 제 1 임피던스(3)와 스위치(4)를 통해 작동될 수 있는 로드 임피던스(5)가 연결된다. 스위치(4)는 데이터 캐리어로부터 판독/기입 장치에 인가될 데이터 신호에 의해 전기적으로 제어된다(화살표 6 참조).

한편으로는 판독/기입 장치의 독립적인 개발을 위해 그리고 다른 한편으로는 데이터 캐리어의 개발을 위해 그리고 동작 파라메터들의 정의를 위해, ISO 표준 14.443에 따른 표준화 면에서 이들 두 개의 성분들에 대한 사양이 필요로 된다. 이러한 상황에서, 표준 ISO/IEC JTC1/SC17/WG8/TF2는 코일 시스템(도 2에 개략적으로 도시함)을 통해 데이터 캐리어의 변조를 결정하기 위한 측정 배열(measuring arrangement)을 제안하고 있다. 이러한 측정 배열의 기계 및 전기적 데이터가 논문 "Working Draft ISO/124443"에 정이되어 있다. 도 2의 구성에서, 필드 코일(7)은 조정 가능한 세기를 갖는 자계를 발생시킨다. 데이터 캐리어가 없을 경우, 이 자계는 필드 코일(7)에 대하여 대칭으로 배열된 두 개의 측정 코일(8,9)에 고전압을 균등하게 유도한다.

상기 두개의 측정 코일(8,9)은 이들 측정 코일에서 유도된 전압들간의 차 전압이 적어도 실질적으로 제로(0)가 되도록 위상이 서로 반대인 채로 직렬 연결된다. 상기 차 전압은 조정 디바이스(도시 않됨)를 통해 최소 값으로 조정될 수 있다.

데이터 캐리어(10)가 측정코일에 인가되면, 데이터 캐리어(10) 형태의 로드는 측정코일(8,9)에 유도된 상기 전압이 더 이상 서로를 보상하지 못하게 하여 상기 차 전압은 데이터 캐리어(10)에 의한 로딩(loading)을 표시한다. 따라서, 데이터 캐리어의 로드 변조는 상기 차 전압에 대한 진폭 변조를 제공한다. 그렇게 진폭 변조된 차 전압 도 2에서 도면부호 UD로 표시했다.

실제로, 상기 진폭 변조의 평가는 상기 측정 코일(8,9)의 균등화에 의존하는 것으로 밝혀졌다. 즉, 이 평가는 균등화 에러 발생 시 잘못되게 이루어 질 수 있다.

본 발명은 로드변조에 의해 발생되는 입력 데이터 평가 방법 및 그러한 방법을 수행하는 회로 배열에 관한 것이다.

본 발명의 목적은 로드 변조를 통해 전송되는 데이터 신호에 대한 평가 보다 신뢰성 있게 이루어 질 수 있게 하는 방법 및 회로 배열을 제공하는 것이다.

본 발명에 따르면, 상기 목적은 청구항 1에 정의된 바와 같은 방법 및 청구항 10에 정의된 바와 같은 회로배열을 통해 달성된다. 본 발명에 따른 방법 및 회로 배열은 로드 변조가 진폭변조를 유도할 뿐만 아니라 위상 변조를 유도한다는 사실에 대한 인식을 이용한다. 본 발명은 진폭 변조 및 위상 변조를 공동으로 평가함으로써, 교란에 대한 개선된 보호를 성취할 수 있다. 또한, 측정 목적을 위해, 매우 간단한 방식으로 복수의 전송 파라메터들이 동시에 판정될 수 있다. 이들 파라메터들의 검출 및 판정은 자동 측정 디바이스들로 수행될 수 있다.

본 발명에 따른 방법은 로드 변조에 의해 발생된 입력 데이터 신호들을 토대로 하여 변조 성분들의 판정이 이루어지도록 한다. 종속 청구항들에 기재된 본 발명의 장점적인 응용에서, 그러한 판정은 구적 혼합(quadrature mixing)에 의해 서, 및 구적 혼합기의 이른바 동 위상(in-phase) 신호가 복합 엔벨로프(complex envelop)의 실제 부분(real part)으로서 이용되게 그리고 상기 구적 신호를 상기 복합 엔벨로프의 가상 부분(imaginary part)으로서 이용되게 지정함으로써 수행된다. 상기 복합 엔벨로프 형태로 존재하는 복합 데이터 신호에 대하여, 상기 복합 엔벨로프를 직선에 가깝게 하고, 이를 복합 로커스 곡선(complex locus curve)의 표시에서 90°로 회전시키고 그리고 이를 상기 복합 엔벨로프의 평균값으로 확장시킴으로써 복합 평면(complex plane)에서 즉 이 신호를 상기 복합 로커스 곡선으로 판정 라인(decision line)이 결정된다. 따라서, 이 판정 라인은 상기 복합 엔벨로프를 두 개의 로드 상태 즉, "로드(loaded)" 및 "언로드(unloaded)"의 두 부분으로 분할하는바, 이 로드 상태는 로드 변조에 의해 발생되는 입력 데이터의 복조를 통해 구별된다. 마지막으로, 상기 복합 엔벨로프들의 두 개의 평균값이 이들 두 개의 로드 상태에 대해 판정될 수 있으며, 상기 변조 성분들 및 입력 데이터 신호가 상기 판정을 토대로 평가될 수 있다.

상기 복합 엔벨로프들을 평가하는 대신에, 복합 기저대역 신호(complex baseband signal)가 또한 평가될 수 있다. 이 평가는 또한 구적 혼합 대신에 디지털 또는 아날로그 푸리에 변환에 의해 수행될 수 있다. 구적 혼합기를 사용하는 대신에, 두 개의 샘플링 겸 홀딩 회로(sample-and-hold circuit)를 사용하여 시간 도메인(time domain)에서 샘플링을 수행하는 것이 가능한 바, 상기 회로의 샘플링 순간들(sampling instants)은 상기 입력 신호의 캐리어 발진(carrier oscillation)주기 구간(period duration)의 적어도 대략 4분의 1로 옵셋(offset)된다.

따라서, 본 발명에 따른 방법 및 그러한 방법을 수행하는 회로 배열은 아주 범용으로 사용될 수 있다. 종속 청구항들에 기재된 바람직한 응용에서, 상기 두 개의 상태에 대한 두 개의 평균값들의 절대값들 간의 차이로 인해 생기는 진폭 스윙(amplitude swing)은 진폭 변조의 평가를 통해 상기 로드 상태 및 언로드 상태에 대해 개별적으로 판정되는 상기 평균 신호 값들로부터 판정될 수 있다. 상기 두 개의 평균값들의 절대값들이 합으로 나누어지는 이 값은 변조 인덱스(modulation index)를 판정한다.

상기 두 개의 상태에 대해 상기 입력 신호의 평균 위상각을 판정함으로써 위상 변조가 평가된다. 이들 위상각들 간의 차이 즉, 상기 두 개의 상태들 간의 위상각은 로드 변조의 위상 스윙을 발생시킨다.

또한, 상기 로드 상태와 상기 언로드 상태에 대한 두 개의 복합 평균값들 사이의 차의 절대값은 복합 변조 스윙으로서 평가된다.

본 발명은 로드 변조에 따라 데이터 캐리어에 의해 발생되는 입력 데이터 신호를 평가하는 장치에 바람직하게 실시된다. 그러한 장치는 측정 장비로 구성된다. 그러나, 이는 데이터 통신 분야의 다양한 응용에도 역시 사용될 수 있다. 따라서, 다양한 응용들에 대해 실제로 높은 전송 신뢰성이 얻어질 수 있다.

본 발명의 실시예가 도 3 내지 도 10에 도시되며, 이후에 상세히 설명하기로 한다.

도 3은 본 발명에 따른 블록 선도 또는 회로 배열을 도시한 것이다.

도 4는 입력 데이터 신호의 시간에 따른 전형적인 변화의 예를 보인 것이다.

도 5는 도 4에 보인 입력 데이터 신호로부터 형성되며, 실질 부분과 가상 부분으로 나누어지는 복합 엔벨로프를 도시한 것이다.

도 6은 도 5의 복합 엔벨로프를 복합 로커스 곡선으로 도시한 것이다.

도 7은 입력 데이터 신호 또는 복합 엔벨로프를 평가하는 신호 처리 단계들을 예시한 도면이다.

도 8은 도 3에 보인 회로 배열 부분의 상세도이다.

도 9는 도 3에 보인 블록선도의 추가 부분에 대한 상세도이다.

도 10은 본 발명에 따른 신호 평가를 복합 로커스 곡선의 형태로 예시한 추가의 선도이다.

도 3에 보인 회로 배열은 예컨대 도 2의 차 전압 UD를 수신하는 입력(11)을 포함한다. 상기 차 전압 UD는 예컨대 시간에 따라 변화한다. 도 4에서, 문자 t는 시간을 표시한다. 시간 구간 tb에서는 로드 상태가 우세하다. 즉, 도 1의 스위치(4)가 도통된다. 그러나, 시간 구간 tu 에서는 언로드 상태가 우세하여 도 1의 스위치(4)가 도통되지 않는다. 결과적으로, 로드 상태에서 입력 신호(차 전압 UD)의 진폭은 언로드 상태에서의 진폭보다 작다.

도 3에 보인 회로 배열은 또한 구적 혼합기(12)를 포함하는데, 이 혼합기는 통상적인 구성으로 되며 동 위상(in-phase) 출력 및 구적 출력을 포함한다. 이들 두 개의 출력은 서로 결합되어 복합 출력(13)이 된다. 구적 혼합기(12)의 동 위상 출력에서의 신호는 입력(11)에서의 차 전압 UD의 복합 엔벨로프의 실제 부분이 되며, 구적 혼합기(12)의 구적 출력에서의 신호는 복합 엔벨로프의 가상 부분이 된다. 이렇게 형성된 복합 엔벨로프는 상기 실제 부분과 상기 가상 부분의 시간에 따른 변화로서 표현될 수 있다. 이것이 도 5에 도시되어 있는데, 여기서 도 5a는 시간 t 함수에 따른 복합 엔벨로프의 실제 부분 R을 나타내며, 도 5b는 역시 시간 t 함수에 따른 복합 엔벨로프의 가상 부분 I를 나타낸다.

상기 복합 엔벨로프의 또 다른 표현은 도 6에 보인 복합 로커스 곡선이다. 복합 로커스 곡선으로의 표현에서, 실제 부분 R 과 가상 부분 I는 개별의 신호 값이 상기 실제부분 R과 가상부분 I에 따라서 인가되는 평면을 정의한다. 도 6은 예컨대 도 4와 도 5에 각각 보인 신호 변화로부터 생기는 복합 엔벨로프에 대한 일련의 신호 값들을 보인 것이다. 이 표현은 제 6에서 원으로 표시한 두 개의 신호 값의 축적을 나타내며, 언로드 상태에 대해서는 기호 U로 그리고 로드 상태에 대해서는 기호 B로 표시하였다.

변조 성분들의 판정이 가능하도록 또는 로드 상태와 언로드 상태 사이의 자동적인 분리를 수행하기 위해 그리고 또한 이를 위해 필요한 개별 신호 값들의 명확한 배정을 위해, 도 6에 보인 복합 로커스 곡선 형태의 복합 엔벨로프가 두 개의 부분으로 나누어지는데, 한 부분은 데이터 캐리어의 언로드 상태로 배정되고 다른 한 부분은 데이터 캐리어의 로드 상태로 배정된다. 그러한 배정은 판정 드레시홀드(decision threshold)로서 또한 언급되는 판정 라인의 정의을 필요로 한다. 판정 드레시홀드를 판정하기 위하여, 먼저 복합 엔벨로프의 평균값을 실제 부분 R에 대해서 뿐만 아니라 가상 부분 I에 대해서 개별적으로 평균값을 계산함으로써 판정할 수 있다. 결과적인, 또한 복합 값을 표현하는 복합 엔벨로프의 평균값 M이 도 6에서 화살표로 표시되어 있다.

도 3에 보인 회로 배열은 평균값에 대한 상기 판정을 위한 평균값 검출기(14)를 포함한다. 이 평균값 검출기(14)는 구적 혼합기(12)의 복합 출력(13)으로부터 복합 엔벨로프를 수신한다. 평균값 검출기(14)는 실제 부분 R로부터 평균값 RM을 형성한다. 평균값 IM은 평균값 검출기(14)에서 복합 엔벨로프의 가상부분 I로부터 독립적으로 형성된다. 평균값 RM과 IM은 함께 복합 엔벨로프의 복합 평균값 M을 구성하며, 이 평균값 M은 평균값 검출기(14)의 출력(15)에 나타난다.

도 3에 보인 회로 배열은 또한 감산 회로(16)를 포함하는데, 이 감산 회로(16)의 제 1 입력(17)은 실제 부분 R과 가상 부분 I로 분리된 복합 엔벨로프를 수신하며, 이것의 제 2 입력(18)은 실제 부분 RM과 가상 부분 IM으로 분리된 복합 엔벨로프의 평균값 M을 수신한다. 따라서, 감산 회로(16)의 출력(19)는 평균값이 없는 복합 신호 즉, 평균값이 없는 복합 엔벨로프를 수반한다. 이를 도 7에서 로커스 곡선으로 나타냈는데, 이 경우에서는 평균값이 없는 복합 엔벨로프의 실제 부분 R-RM 에 대한 가상 부분 I-IM의 표현으로 된다. 도 6 및 도 7은 판정 드레시홀드 E를 직선으로 나타냈는데, 이 직선은 로드 상태와 언로드 상태에서 복합 엔벨로프의 신호값들 사이에서 확장되고, 그리고 복합 엔벨로프의 평균값 M을 통해 또는 평균값이 업슨 복합 엔벨로프의 표시에서 영(0)점을 통해 확장된다. 판정 드레시홀드의 기울기는 복합 엔벨로프를 직선에 가깝도록 함으로써 그리고 로커스 곡선 표시에서 이 직선을 90°회전시킴으로써 결정될 수 있다. 근사 직선(approximating straight line)은 도 6 및 7에서 기호 G로 표시했다. 근사 직선 G의 기울기 및 그에 따른 결정 드레시홀드 E는 최소 에러 제곱을 계산함으로써 바람직하게 판정된다. 이를 도 7에 예시하였다. 도 8은 이와 같은 신호 동작을 수행하기 위한 회로 배열의 예를 보인 것이다.

도 8은 위상 검출기로서 언급되며 도 3에서 도면부호 20으로 표시되는 회로 소자를 나타낸 것이다. 위상 검출기(20)는 평균값이 없는 복합 엔벨로프를 수신하도록 감산 회로(16)의 출력(19)에 연결된다. 기울기 신호가 위상 검출기(20)의 출력(21)을 통해 출력된다. 이 기울기 신호를 형성하기 위해, 평균값이 없는 복합 엔벨로프의 가상 부분 I-IM이 감산회로(16)의 출력(19)으로부터 제 1 배율기 회로(23)의 제 1 입력에 연결된다. 평균값이 없는 복합 엔벨로프의 실제 부분 R-RM은 제 1 배율기 회로(23)의 제 2 입력(24)에 인가된다. 이들 실제 부분과 가상부분의 곱에 대응하는 신호가 상기 곱의 평균값 MI를 형성하기 위한 제 1 스테이지에 인가된다. 마찬가지로, 평균값이 없는 복합 엔벨로프의 실제 부분 R-RM의 제곱은 제 2 스테이지(27)에서 평균값을 형성하도록 제 2 배율기 회로(26)에 형성된다. 이 평균값은 MR로 표시된다. 연속 분리 회로(28)에서 평균값 MI와 MR의 몫이 형성된다. 이 몫은 출력(21)에서의 기울기 신호를 표시한다. 이 기울기 신호는 도 6 및 도 7의 판정 드레시홀드의 기울기 값을 제공한다. 이 계산을 가시화하기 위해서, 도 7의 제 1 트라이앵글 D1은 상기 근사 직선의 기울기를 나타내고 제 2 트라이앵글 D2는 판정 드레시홀드 E의 기울기를 나타낸다.

도 3의 회로 배열은 판정기로서 또한 언급되는 판정회로(29)를 포함하는데, 이에 대해 도 9에서 보다 상세히 나타냈다. 판정기(29)에서, 도 6 또는 도 7의 복합 로커스 곡선에서의 판정 드레시홀드는 위상 검출기(20)의 출력(21)과 복합 엔벨로프의 평균값 M에서의 기울기와 일치하는 판정 드레시 홀드의 기울기로 정의된다. 이 목적을 위해, 판정기(29)는 제 2의 감산회로를 포함하는데, 이 제 2 감산회로는 상기(제 1) 감산회로와 유사하며 복합 엔벨로프로부터 평균값 M을 감산함으로써 실제 부분과 가상부분에 따른 평균값이 없는 복합 엔벨로프를 이것의 가상 부분 I-IM이 제 3 감산회로(32)의 제 1 입력(31)에 직접 인가된다. 제 3 배율기 회로(33)에서, 평균값이 없는 복합 엔벨로프의 실제 부분 R-RM은 위상 검출기(20)의 출력(21)으로부터의 기울기 신호에 의해 배율된다. 이 승산은 판정 드레시홀드 신호를 나타내며, 복합 로커스 곡선에서의 이 신호의 표시는 직선 E가 된다. 상기 판정 드레시홀드 신호는 제 3 감산회로(32)의 제 2 입력(34)에 인가되며, 제 3 감산 회로(32)에서 평균 값이 없는 복합 엔벨로프의 가상 부분 I-IM으로부터 감산된다. 그 결과가 비교회로(35)에 인가되며, 이 회로에서 그 값이 영(0)보다 큰지 또는 작은지 여부가 체크된다. 이에 따라, 판정기는 평균값이 없는 가상 부분 신호로서 또한 언급되는 평균값이 없는 복합 엔벨로프의 가상 부분이 실제 부분 신호로서 또한 언급되는 평균값이 없는 복합 엔벨로프의 실제 부분 R-RM의 관련 값에 의해 결정되는 판정 드레시홀드에서의 값보다 위에 놓이는지 또는 아래에 놓이는지 여부를 체크한다.

비교회로(35)는 스위치(36)를 제어한다. 이 스위치(36)는 로드 상태인 경우에는 구적 혼합기(36)의 복합 출력(13)을 제 1 판정기 출력(37)에 연결하고, 언로드 상태인 경우에는 복합 출력(13)을 제 2 판정기 출력(38)에 연결한다.

로드 상태 및 언로드 상태에 따른 복합 엔벨로프의 신호값들에 대한 분류 후, 상기 두 상태에 대한 평균값 계산이 개별적으로 수행될 수 있다. 이 목적을 위해, 도 3에 보인 회로 배열은 또한 로드 상태인 경우의 평균값 검출기(39)와 그리고 언로드 상태인 경우의 평균값 검출기(40)을 각각 포함한다. 대응 평균값이 출력(41)과 출력(42)을 통해 각각 공급된다. 평균값 검출기(39, 40)에서의 평균값의 계산은 서로 다른 방식으로 수행될 수 있다. 선형(linear), 구적(quadratic) 또는 기하학적(geometrical) 평균값을 판정하는 것이 특히 가능하다.

예컨대, 도 7에 관해 선택된 표시에서, 이렇게 판정된 평균값 MB는 로드 상태에서 인가되며, 언로드 상태에서는 평균값 MU가 인가된다.

이와 비교하여, 도 10은 도 6과 유사한 방식으로 즉, 복합 엔벨로프의 평균값 M의 감산이 없는 평균값 MU 및 MB의 표시를 나타낸다. 이 경우에서 구해진 평균값은 언로드 상태인 경우에 대해서는 MUP로 그리고 로드 상태인 경우에는 MBP 로 표시되며, 도 10에서 점들로 나타냈다. 이러한 표시, 즉 대응 신호 처리는 펄스 변조에 대한 평가에서 특히 효과적이다.

도 3, 도 8 및 도 9에 보인 회로 배열은 아날로그 처리 기술뿐만 아니라 디지털 처리 기술을 위한 회로 소자들로 실시될 수 있다.

Claims (16)

1. 로드 변조에 의해 발생되는 입력 데이터 신호의 평가 방법으로써,

   - 실제 부분으로서 언급되는 제 1 신호성분과 가상 부분으로서 언급되는 제 2 신호성분을 갖는 복합 데이터 신호를 상기 입력 데이터 신호로부터 유도하고,

   - 한편으로는 상기 실제 부분의 평균값을 그리고 다른 한편으로는 상기 가상 부분의 평균값을 형성함으로써 복합 데이터 신호의 평균값 신호를 형성하고,

   - 상기 복합 데이터 신호와 상기 복합 데이터 신호의 평균값 신호 사이의 차로 형성함으로써, 평균값이 없는 실제 부분 신호와 평균값이 없는 가상 부분 신호를 갖는 평균값이 없는 복합 신호를 형성하고,

   - 평균값이 없는 상기 실제 부분 신호를 자체적으로 신호 배율하여 제 1 구적 에러 신호를 형성하고 그리고 평균값이 없는 상기 실제 부분 신호를 평균값이 없는 상기 가상 부분으로 신호 배율하여 제 2 구적 에러 신호를 형성하며,

   - 상기 제 1 구적 에러 신호를 상기 제 2 구적 에러 신호로 신호 분할하여 기울기 신호를 형성하고,

   - 상기 기울기 신호를 평균값이 없는 상기 실제 부분 신호로 신호 배율 하여 판정 드레시홀드 신호를 형성하고, 그리고

   - 평균값이 없는 상기 가상 부분 신호를 상기 결정 드레시홀드 신호와 비교함으로써, 로드 변조동안 입력데이터 신호의 값이 로드 상태에서 형성되었는지 또는 언로드 상태에서 형성되었는지 여부에 관한 정보 신호를 형성하는 것을 특징으로 하는 로드 변조에 의해 발생되는 입력 데이터 신호의 평가 방법.
2. 제 1 항에 있어서,

   복합 데이터 신호를 형성하기 위해, 복합 엔벨로프로서 언급되는 데이터 신호의 가상 부분을 구성하는 구적 신호와 실제 부분을 구성하는 동 위상 신호를 구적 혼합함으로써, 동 위상 신호 및 구적 신호를 형성하는 것을 특징으로 하는 로드 변조에 의해 발생되는 입력 데이터 신호의 평가 방법.
3. 제 1 항에 있어서,

   복합 데이터 신호로서 복합 기저대역 신호가 상기 입력 데이터 신호로부터 유도되는 것을 특징으로 하는 로드 변조에 의해 발생되는 입력 데이터 신호의 평가 방법.
4. 제 1 항에 있어서,

   복합 데이터 신호를 형성하기 위해, 복합 엔벨로프로서 언급되는 데이터 신호의 가상 부분을 구성하는 구적 신호와 실제 부분을 구성하는 동 위상 신호를 퓨리에 변환함으로써, 동 위상 신호 및 구적 신호를 형성하는 것을 특징으로 하는 로드 변조에 의해 발생되는 입력 데이터 신호의 평가 방법.
5. 제 1 항에 있어서,

   상기 입력 데이터의 캐리어 발진의 적어도 대략 4분의 1주기로 서로에 대해 옵셋되는 두 개의 순간들에서 상기 입력 데이터 신호를 샘플링 함으로써, 상기 실제 부분과 상기 가상 부분을 유도하는 것을 특징으로 하는 로드 변조에 의해 발생되는 입력 데이터 신호의 평가 방법.
6. 제 1 항에 있어서,

   상기 복합 데이터 신호의 신호 값이 상기 로드 상태와 상기 언로드 상태에 대해 개별적으로 판정되는 것을 특징으로 하는 로드 변조에 의해 발생되는 입력 데이터 신호의 평가 방법.
7. 제 6 항에 있어서,

   진폭 스윙 신호 및/또는 변조 인덱스 신호가 상기 로드 상태와 상기 언로드 상태에 대해 개별적으로 판정된 상기 신호 값으로부터 유도되는 것을 특징으로 하는 로드 변조에 의해 발생되는 입력 데이터 신호의 평가 방법.
8. 제 6 항에 있어서,

   위상각 신호 및/또는 위상 스윙 신호가 상기 로드 상태와 상기 언로드 상태에 대해 개별적으로 판정된 상기 신호 값으로부터 유도되는 것을 특징으로 하는 로드 변조에 의해 발생되는 입력 데이터 신호의 평가 방법.
9. 제 6 항에 있어서,

   복합 변조 스윙 신호가 상기 로드 상태와 상기 언로드 상태에 대해 개별적으로 판정된 상기 신호 값으로부터 유도되는 것을 특징으로 하는 로드 변조에 의해 발생되는 입력 데이터 신호의 평가 방법.
10. 상기 청구항 제 1 항의 방법을 수행하는 회로 배열로서,

    - 상기 입력 신호로부터 상기 복합 데이터 신호를 형성하는 데이터 신호 발생회로와,

    - 상기 평균값 신호를 형성하는 평균값 검출기와,

    - 평균값이 없는 상기 복합 신호를 형성하는 감산 회로와,

    - 상기 제 1 및 제 2 구적 에러 신호와 상기 판정 드레시홀드 신호를 형성하는 각각의 배율기 회로와,

    - 상기 기울기 신호를 형성하는 분할 회로와, 그리고

    - 상기 정보 신호를 형성하는 비교 회로로 구성되는 것을 특징으로 하는 회로 배열.
11. 제 10 항에 있어서,

    상기 데이터 신호 발생 회로가 구적 혼합기를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 배열.
12. 제 10 항에 있어서,

    상기 데이터 신호 발생 회로가 퓨리에 변환 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 배열.
13. 제 10 항에 있어서,

    상기 데이터 신호 발생 회로가 상기 입력 데이터 신호의 캐리어 발진 주파수 로부터 유도되는 클럭 신호에 의해 제어되는 두 개의 샘플링 겸 홀딩 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 배열.
14. 제 10, 11, 12 또는 13항 중 어느 한 항에 있어서,

    상기 로드 상태 및 언로드 상태에 대한 상기 복합 데이터 신호의 상기 신호 값들의 평균값에 대한 개별적 판정을 위한 추가의 평균값 검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 배열.
15. 제 14 항에 있어서,

    상기 진폭 변조 및/또는 상기 위상 변조 및/또는 상기 변조 스윙을 판정하는 신호 평가 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 배열.
16. 청구항 10항 내지 15항 중 어느 한 항에 따른 회로 배열을 포함하는 부하 변조를 통하여 데이터 캐리어에 의해 발생된 입력 데이터 신호 평가 장치.