KR20000066408A - Apparatus for measuring characteristics of fluorescent material - Google Patents
Apparatus for measuring characteristics of fluorescent material Download PDFInfo
- Publication number
- KR20000066408A KR20000066408A KR1019990013491A KR19990013491A KR20000066408A KR 20000066408 A KR20000066408 A KR 20000066408A KR 1019990013491 A KR1019990013491 A KR 1019990013491A KR 19990013491 A KR19990013491 A KR 19990013491A KR 20000066408 A KR20000066408 A KR 20000066408A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- light
- optical filter
- phosphor
- sample
- discharge lamp
- Prior art date
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 title description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 47
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 32
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims abstract description 3
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 58
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 10
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 6
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 claims description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 5
- 239000012488 sample solution Substances 0.000 abstract 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000005355 lead glass Substances 0.000 description 1
- 229910001635 magnesium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2823—Imaging spectrometer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/443—Emission spectrometry
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J11/00—Gas-filled discharge tubes with alternating current induction of the discharge, e.g. alternating current plasma display panels [AC-PDP]; Gas-filled discharge tubes without any main electrode inside the vessel; Gas-filled discharge tubes with at least one main electrode outside the vessel
- H01J11/10—AC-PDPs with at least one main electrode being out of contact with the plasma
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2823—Imaging spectrometer
- G01J2003/2826—Multispectral imaging, e.g. filter imaging
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 형광체 특성 측정 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 플라즈마 디스플레이 소자에서 사용되는 형광체의 잔광 특성등과 같은 여러 특성을 측정하기 위한 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for measuring phosphor characteristics, and more particularly, to an apparatus for measuring various characteristics such as afterglow characteristics of phosphors used in plasma display devices.
일반적으로 플라즈마 디스플레이 소자는 가스방전현상을 이용하여 화상을 표시하기 위한 장치로서, 이러한 플라즈마 디스플레이 소자에서는 전극에 인가되는 직류 또는 교류 전압에 의하여 전극 사이의 가스에서 방전이 발생하고, 여기에서 수반되는 자외선의 방사에 의하여 형광체를 여기시켜 발광하게 된다. 따라서 플라즈마 디스플레이 소자에 사용되는 형광체의 특성은 소자의 휘도 및 화질의 여타 특성을 결정짖게 하는 중요한 요인이 된다.In general, a plasma display device is a device for displaying an image using a gas discharge phenomenon, in which the discharge occurs in the gas between the electrodes by a direct current or an alternating voltage applied to the electrode, the ultraviolet light accompanying The phosphor emits light by emitting radiation. Therefore, the characteristic of the phosphor used in the plasma display device is an important factor in determining other characteristics of the brightness and image quality of the device.
플라즈마 디스플레이 소자용 형광체의 특성을 측정하기 위해서는 플라즈마 디스플레이 소자에서 작동하는 것과 동일한 환경에 형광체를 적용시키는 것이 바람직스럽다. 즉, 형광체는 플라즈마 디스플레이 소자의 격벽 사이에 형성된 진공 공간에 도포되어 방전광으로부터 발생되는 특정 파장대의 자외선에 의해 여기됨으로써 발생되는데, 이와 유사한 조건을 설정하여 특성 측정 시험을 수행하는 것이 바람직스럽다. 한편, 측정에 있어서 부정적인 조건들을 배제시킬 필요가 있는데, 예를 들면 방전 램프에서 발생되는 가시 영역의 광들은 특성 측정에 방해가 된다. 또한 특성 시험을 편리하게 수행할 수 있도록 여러 형광체 시료를 측정할 수 있도록 하는 것이 바람직스럽다. 그러나 종래 기술에서는 형광체의 특성을 정확하고 용이하게 측정할 수 있는 장치가 없었으며, 따라서 간접적인 방식을 통해서 형광체의 특성을 측정하였다. 그러나 이러한 간접적인 방식은 실제로 플라즈마 디스플레이 장치에 적용되었을때 형광체의 특성을 포괄적으로 예상할 수 있게는 하였으나, 실제의 특성을 나타낼 수는 없다는 문제점이 있다.In order to measure the characteristics of the phosphor for the plasma display element, it is preferable to apply the phosphor in the same environment as that which operates in the plasma display element. That is, the phosphor is generated by being applied to the vacuum space formed between the partition walls of the plasma display element and excited by ultraviolet rays of a specific wavelength band generated from the discharged light. It is preferable to perform a characteristic measurement test by setting similar conditions. On the other hand, it is necessary to exclude negative conditions in the measurement, for example, the light in the visible region generated in the discharge lamp interferes with the characteristic measurement. It is also desirable to be able to measure several phosphor samples to facilitate the performance testing. However, in the prior art, there is no device capable of accurately and easily measuring the properties of phosphors, and therefore, the properties of the phosphors are measured in an indirect manner. However, this indirect method has been able to comprehensively predict the characteristics of the phosphor when actually applied to the plasma display device, but there is a problem that can not represent the actual characteristics.
본 발명은 위와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 플라즈마 디스플레이 소자용 형광체 특성 측정 장치를 제공하는 것이다.The present invention has been made to solve the above problems, it is an object of the present invention to provide an apparatus for measuring phosphor characteristics for plasma display elements.
본 발명의 다른 목적은 실제의 플라즈마 디스플레이 소자와 유사한 시험 조건을 구비한 형광체 특성 측정 장치를 제공하는 것이다.It is another object of the present invention to provide an apparatus for measuring phosphor characteristics with test conditions similar to those of actual plasma display devices.
본 발명의 다른 목적은 편리하고 용이하게 특성 시험을 수행할 수 있는 형광체 특성 측정 장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide an apparatus for measuring phosphor characteristics, which can conveniently and easily perform a characteristic test.
도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 형광체 특성 측정 장치에 대한 개략적인 구성도이다.1 is a schematic configuration diagram of an apparatus for measuring phosphor characteristics according to a first embodiment of the present invention.
도 2는 도 1에 도시된 방전 램프에 대한 개략적인 분해 사시도이다.FIG. 2 is a schematic exploded perspective view of the discharge lamp shown in FIG. 1.
도 3은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 형광체 특성 측정 장치에 대한 개략적인 구성도이다.3 is a schematic configuration diagram of a phosphor characteristic measurement apparatus according to a second embodiment of the present invention.
도 4는 본 발명의 제 3 실시예에 따른 형광체 특성 측정 장치에 대한 개략적인 구성도이다.4 is a schematic configuration diagram of an apparatus for measuring phosphor characteristics according to a third embodiment of the present invention.
＜ 도면의 주요 부분에 대한 간단한 설명 ＞<Brief Description of Main Parts of Drawings>
11.31.41. 방전 램프 12. 오목 반사경11.31.41. Discharge lamp 12. Concave reflector
13. 반사형 광학 필터 14. 34.44. 시료 휘일13. Reflective optical filter 14. 34.44. Sample wheel
15.35.45. 광 안내부 16.36.46. 형광체 시료15.35.45. Light guide 16.36.46. Phosphor sample
17.37.47. 진공 챔버 21. 전면 윈도우17.37.47. Vacuum Chamber 21.Front Window
22. 클램프 23. 측면 유리22. Clamp 23. Side glass
24. 유전체 25. 상판 유리24. Dielectric 25. Top glass
26. 전극 27. 배기관26. Electrode 27. Exhaust Pipe
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따르면, 방전 램프, 상기 방전 램프로부터 발생된 광들중 특정 파장대의 광만을 여과시키는 광학 필터 수단, 상기 광학 필터 수단을 통하여 입사된 광으로 여기됨으로써 발광하는 다수의 형광체 시료가 적재되는 시료 휘일, 상기 형광체 시료로부터 발생된 광을 광특성 측정 검출기로 안내하는 광 안내부 및, 상기 시료 휘일 및, 상기 광 안내부를 내측에 수용하는 진공 챔버를 구비하는 형광체 특성 측정 장치가 제공된다.In order to achieve the above object, according to the present invention, a discharge lamp, an optical filter means for filtering only light of a specific wavelength band of the light generated from the discharge lamp, a plurality of light emitting by being excited by the light incident through the optical filter means And a sample wheel on which a phosphor sample is loaded, a light guide portion for guiding light generated from the phosphor sample to an optical characteristic measurement detector, and a sample chamber and a vacuum chamber accommodating the light guide portion inside. Is provided.
본 발명의 일 특징에 따르면, 상기 방전 램프는, 내측에 진공 공간을 설정할 수 있도록 상호 결합된 측면 유리, 전면 윈도우 및, 상판 유리, 상판 유리의 내측 표면에 형성된 방전용 전극, 상기 상판 유리의 표면에서 방전용 전극을 덮는 유전체, 상기 진공 공간에 충전될 수 있는 불활성 개스 및, 상기 진공 공간을 진공화시키거나 또는 상기 불활성 개스를 충전시킬 수 있도록 연결된 배기관을 구비한다.According to one feature of the invention, the discharge lamp, the side glass, the front window and the discharge electrode formed on the inner surface of the upper glass, the upper glass, mutually coupled to set the vacuum space inside, the surface of the upper glass And a dielectric covering the electrode for discharging, an inert gas that can be charged in the vacuum space, and an exhaust pipe connected to evacuate the vacuum space or to charge the inert gas.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 상기 시료 휘일은 투명한 재료로 제작되어 회전 가능하게 설치되며, 그 표면에 다수의 형광체 시료가 인쇄되거나 또는 도포된다.According to another feature of the invention, the sample wheel is made of a transparent material and rotatably installed, and a plurality of phosphor samples are printed or coated on the surface thereof.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 상기 광 안내부는 광섬유이다.According to another feature of the invention, the light guide portion is an optical fiber.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 상기 광학 필터 수단은 상기 방전 램프로부터 발생한 광들중 140 내지 170 nm 파장대의 광만을 상기 형광체 시료로 입사시킨다.According to another feature of the invention, the optical filter means injects only light in the wavelength range of 140 to 170 nm of the light generated from the discharge lamp to the phosphor sample.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 상기 광학 필터 수단은 상기 방전 램프로부터 입사된 광을 반사시키는 오목 반사경 및, 상기 오목 반사경으로부터 입사된 광을 상기 형광체 시료로 반사시키는 반사형 광학 필터를 구비한다.According to another feature of the invention, the optical filter means includes a concave reflector for reflecting light incident from the discharge lamp, and a reflective optical filter for reflecting light incident from the concave reflector to the phosphor sample.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 상기 오목 반사경으로부터 상기 반사형 광학 필터로 반사되는 광의 반사각은 광축에 대하여 45°이내에서 이루어지는 것이 바람직스럽다.According to another feature of the invention, the reflection angle of the light reflected from the concave reflector to the reflective optical filter is preferably within 45 degrees with respect to the optical axis.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 상기 광학 필터 수단은 투과형 광학 필터이다.According to another feature of the invention, the optical filter means is a transmission optical filter.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 상기 광학적 필터 수단은 진공 모노크로메터이다.According to another feature of the invention, the optical filter means is a vacuum monochromator.
이하, 본 발명을 첨부된 도면에 도시된 실시예들을 참고로 설명하기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1에 도시된 것은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 형광체 특성 측정 장치에 대한 개략적인 구성도이다.1 is a schematic configuration diagram of an apparatus for measuring phosphor characteristics according to a first embodiment of the present invention.
도면을 참조하면, 형광체 특성 측정 장치는 방전 램프(11)와, 상기 방전 램프(11)로부터 발생된 광을 반사시키는 오목 반사경(12)과, 상기 오목 반사경(12)으로부터 반사된 광들중 특정 파장대의 광만을 반사시키는 반사형 광학 필터(13)와, 상기 반사형 광학 필터(13)에서 반사된 광으로 여기됨으로써 발광하는 형광체 시료(16)가 적재되는 시료 휘일(14)과, 형광체 시료(16)로부터 발생된 광을 안내하는 광 안내부(15)와, 상기 방전 램프(11), 오목 반사경(12), 반사형 광학 필터(13), 시료 휘일(14) 및, 광 안내부(15)를 내측에 수용하는 진공 챔버(17)를 구비한다. 광 안내부(15)를 통해서 안내된 가시 광선은 광 검출기(미도시)에 의해서 그 특성이 검출 및 분석될 수 있다.Referring to the drawings, the phosphor characteristic measuring apparatus includes a discharge lamp 11, a concave reflector 12 reflecting light generated from the discharge lamp 11, and a specific wavelength band among the light reflected from the concave reflector 12. A sample wheel 14 on which a reflective optical filter 13 reflecting only light of the light, a phosphor sample 16 emitting light by being excited by light reflected by the reflective optical filter 13, and a phosphor sample 16 A light guide 15 for guiding the light generated from the light source, the discharge lamp 11, the concave reflector 12, the reflective optical filter 13, the sample wheel 14, and the light guide 15. It has a vacuum chamber 17 for accommodating the inside. The visible light guided through the light guide 15 may be detected and analyzed by a light detector (not shown).
방전 램프(11)는 진공 상태인 유리 벌브안에 방전 개스를 주입하고 전극쌍에 교류 전류를 인가함으로써 방전광을 발생하게 하는 장치이다. 방전 램프(11)에서 발생하는 광은 플라즈마 디스플레이 소자에서 전극들 사이의 방전에 의해 발생되는 광과 유사하다. 방전 램프(11)에 관해서는 이후에 보다 상세히 설명될 것이지만, 방전 램프(11)에서 발생되는 광은 형광체 시료(14)를 여기시키는 소정 파장 범위대의 자외선과 함께 가시 광선을 포함한다.The discharge lamp 11 is a device which injects a discharge gas into a glass bulb in a vacuum state, and generates discharge light by applying an alternating current to the electrode pairs. The light generated by the discharge lamp 11 is similar to the light generated by the discharge between the electrodes in the plasma display element. Although the discharge lamp 11 will be described in more detail later, the light generated by the discharge lamp 11 includes visible light together with ultraviolet rays in a predetermined wavelength range for exciting the phosphor sample 14.
오목 반사경(12)은 방전 램프(11)로부터 발생된 광을 반사형 필터(13)를 향해 반사시키는 기능을 가진다. 오목 반사경(12)의 표면에는 반사 성능을 향상시킬 수 있도록 불화 마그네슘 및 알루미늄 코팅이 형성되는 것이 바람직스럽다.The concave reflector 12 has a function of reflecting light generated from the discharge lamp 11 toward the reflective filter 13. It is preferable that a magnesium fluoride and an aluminum coating are formed on the surface of the concave reflector 12 so as to improve reflection performance.
반사형 광학 필터(13)는 오목 반사경(12)으로부터 반사된 광에서 140 내지 170 nm 영역의 광들만을 형광체 시료(14)를 향해 반사시키게 된다. 이러한 영역의 자외선들은 실제의 플라즈마 디스플레이 소자에서 형광체를 여기시켜서 발광케 하는 자외선의 영역과 일치한다. 반사형 광학 필터(13)는 공지의 것으로서, 특정 파장대의 광만을 선택적으로 반사시킨다. 이때, 반사형 광학 필터(13)를 통해서 반사되는 140 내지 170 nm 파장대의 광은 반사형 광학 필터(13)에 대한 오목 반사경(12)에서의 반사 각도에 따라서 반사 효율이 달라진다. 따라서, 바람직스럽기로는, 상기 오목 반사경(12)으로부터 상기 반사형 광학 필터(13)에 의해 반사되는 광의 반사각이 광축에 대하여 45°이내인 것이 바람직스럽다. 이것은 오목 반사경(12)으로부터 광학 필터(13)로 광축 방향으로 반사되는 140 내지 170 nm 파장대의 광은 약 70% 정도가 반사되고, 광학 필터(13)로 45 °방향으로 광이 반사될 경우 140 내지 170 nm 파장대의 광은 약 60 % 정도가 반사되기 때문이다. 또한 이때 약 10 % 정도의 가시광이 함께 반사되며, 이는 무시할만한 수준이다. 따라서, 오목 반사경(12)으로부터 반사형 광학 필터(13)로 반사되는 광의 반사각이 광축에 대하여 45°이내에서 이루어진 후에 시료(16)를 향해 반사되도록 설정되는 것이 바람직스럽다.The reflective optical filter 13 reflects only the light in the region of 140 to 170 nm in the light reflected from the concave reflector 12 toward the phosphor sample 14. Ultraviolet rays in this region coincide with a region of ultraviolet rays that excite phosphors in an actual plasma display device to emit light. The reflective optical filter 13 is known and selectively reflects only light of a specific wavelength band. At this time, the light efficiency of the wavelength range of 140 to 170 nm reflected through the reflective optical filter 13 varies depending on the reflection angle of the concave reflector 12 with respect to the reflective optical filter 13. Therefore, preferably, the reflection angle of the light reflected by the reflective optical filter 13 from the concave reflector 12 is preferably within 45 degrees with respect to the optical axis. This is because about 70% of the light in the 140-170 nm wavelength band reflected from the concave reflector 12 to the optical filter 13 is reflected, and when the light is reflected in the 45 ° direction by the optical filter 13, This is because about 60% of the light in the wavelength band of about 170 nm is reflected. In addition, about 10% of visible light is reflected together, which is negligible. Therefore, it is preferable that the reflection angle of the light reflected from the concave reflector 12 to the reflective optical filter 13 is set to be reflected toward the sample 16 after being made within 45 degrees with respect to the optical axis.
시료 휘일(14)은 여러 가지 형광체 시료가 그 위에 적재될 수 있도록 설계된다. 도면에 도시된 바와 같이, 시료 휘일(14)은 원형 플레이트의 형상을 가지며, 그 원주상에 여러 가지 형광체 시료(16)가 배치될 수 있다. 도면에 도시되어 있지 않은 구동 모터 또는 액튜에이터에 의해서 의해서 시료 휘일(14)이 회전하며, 회전 각도에 따라 각 형광체 시료(16)에 대한 자외선 광의 조사가 이루어질 수 있다. 시료 휘일(14)은 투명한 유리 재료로 형성되는 것이 바람직스러우며, 형광체 시료는 유리위에 도포되거나 또는 인쇄된다.The sample wheel 14 is designed so that various phosphor samples can be loaded thereon. As shown in the figure, the sample wheel 14 has a circular plate shape, and various phosphor samples 16 may be disposed on the circumference thereof. The sample wheel 14 is rotated by a drive motor or an actuator not shown in the drawing, and the ultraviolet light may be irradiated to each phosphor sample 16 according to the rotation angle. The sample wheel 14 is preferably formed of a transparent glass material, and the phosphor sample is applied or printed onto the glass.
진공 챔버(17)는 약 10-6Torr 의 압력으로 유지된다. 이러한 진공 챔버의 압력은 플라즈마 디스플레이 소자의 압력과 유사한 조건이다.The vacuum chamber 17 is maintained at a pressure of about 10 −6 Torr. The pressure of this vacuum chamber is a condition similar to that of the plasma display element.
광 안내부(15)는 예를 들면 광섬유이며, 이것은 시료 휘일(14)의 저부에 배치되어, 진공 챔버(17)를 관통하여 연장된다. 자외선 광에 의해 여기된 형광체 시료(16)는 육안으로 관찰이 가능한 가시광선을 발광하며, 이러한 가시 광선은 광 안내부(15)를 통해서 안내되어 도시되지 아니한 진공 챔버(17)의 외측의 광 검출기에 도달할 수 있다. 광 검출기에서는 가시 광선에 대한 특성 분석이 수행될 수 있다.The light guide 15 is, for example, an optical fiber, which is disposed at the bottom of the sample wheel 14 and extends through the vacuum chamber 17. The phosphor sample 16 excited by the ultraviolet light emits visible light that can be observed with the naked eye, and the visible light is guided through the light guide 15 to the light detector outside the vacuum chamber 17 (not shown). Can be reached. In the photo detector, characterization of visible light may be performed.
도 2에 도시된 것은 도 1에 도시된 방전 램프에 대한 개략적인 분해 사시도이다.Shown in FIG. 2 is a schematic exploded perspective view of the discharge lamp shown in FIG. 1.
도면을 참조하면, 방전 램프(11)는 내측에 진공을 유지할 수 있는 원통형의 측면 유리(23)와, 상기 측면 유리(23)의 저면에 결합되는 전면 윈도우(21)와, 상기 측면 유리(23)의 상부에 결합되는 상판 유리(25)등을 구비한다. 전면 윈도우(21)는 측면 유리(23)에 대하여 클램프(22)를 통해 결합된다. 측면 유리(23)에 의해 형성되는 상판 유리(25)의 표면에는 방전용 전극(26)이 형성되며, 방전용 전극(26)은 유전체(24)로 덮어씌어지거나 또는 얇은 슬라이드 유리로 덮혀진다. 얇은 슬라이드 유리를 사용할 경우에는 접착제로 슬라이드 유리와 상판 유리(25)를 접착시킨다. 방전용 전극(26)은 예를 들면 알루미늄 소재를 상판 유리(25)의 표면에 인쇄한 것으로서, 한쌍의 간격은 약 0.1 mm 이하로 유지함으로써 소정의 전압을 인가할때 방전이 일어날 수 있도록 한다.Referring to the drawings, the discharge lamp 11 has a cylindrical side glass 23 capable of maintaining a vacuum therein, a front window 21 coupled to the bottom of the side glass 23, and the side glass 23. It is provided with a top glass 25 and the like coupled to the top of the). The front window 21 is coupled via the clamp 22 to the side glass 23. A discharge electrode 26 is formed on the surface of the top glass 25 formed by the side glass 23, and the discharge electrode 26 is covered with the dielectric 24 or covered with thin slide glass. In the case of using a thin slide glass, the slide glass and the top glass 25 are bonded with an adhesive. The discharge electrode 26 is, for example, printed on the surface of the top glass 25 of aluminum, and the pair of intervals is maintained at about 0.1 mm or less to allow discharge to occur when a predetermined voltage is applied.
측면 유리(23) 또는 상판 유리(25)는 통상적인 납 유리로 제작될 수 있으며, 전면 윈도우(21)는 불화 마그네슘(MgF2)을 포함하는 유리로 제작되는 것이 바람직스럽다. 측면 유리(23)의 일측에는 배기관(27)이 연결되는데, 배기관(27)은 커넥터(28)와 밸브(29)를 통해서 진공원 및 방전 개스원에 연결된다. 측면 유리(23), 상판 유리(25) 및 전면 윈도우(21)에 의해 형성되는 원통형 공간은 배기관(27)을 통해서 10-6torr 의 압력으로 진공화된 이후에, 플라즈마 디스플레이 소자의 방전 개스인 크세논 또는 네온 가스, 또는 기타 여러가지 불활성 개스로 충전된다. 차후의 방전 작동에 있어서는 불활성 개스의 충전 압력을 변화시켜가면서 다양한 조건에서 실험을 수행할 수 있다. 또한 방전용 전극(26)에 인가되는 전압도 실제의 플라즈마 디스플레이 소자의 전압과 동일한 조건으로 1-60 MHz의 주파수와 1-3μs 의 펄스를 부여하므로, 형광체의 잔광 특성등을 측정할 수 있다. 이러한 전압 인가시에 방전용 전극(26) 사이에 표면 방전이 발생하며, 그러한 방전광은 전면 윈도우(21)를 통해 도 1의 진공 챔버(17)로 입사될 수 있다.The side glass 23 or the top glass 25 may be made of conventional lead glass, and the front window 21 is preferably made of glass containing magnesium fluoride (MgF 2 ). An exhaust pipe 27 is connected to one side of the side glass 23, and the exhaust pipe 27 is connected to the vacuum source and the discharge gas source through the connector 28 and the valve 29. The cylindrical space formed by the side glass 23, the top glass 25, and the front window 21 is vacuum discharged to a pressure of 10 -6 torr through the exhaust pipe 27, and then discharged into a discharge gas of the plasma display element. It is filled with xenon or neon gas, or various other inert gases. In subsequent discharge operations, experiments can be performed under various conditions while varying the charging pressure of the inert gas. In addition, since the voltage applied to the discharge electrode 26 gives a frequency of 1-60 MHz and a pulse of 1-3 mu s under the same conditions as the actual voltage of the plasma display element, the afterglow characteristic of the phosphor can be measured. When such a voltage is applied, surface discharge occurs between the discharging electrodes 26, and such discharge light may be incident into the vacuum chamber 17 of FIG. 1 through the front window 21.
도 3에 도시된 것은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 형광체 특성 측정 장치의 개략적인 구성도이다.3 is a schematic configuration diagram of a phosphor characteristic measurement apparatus according to a second embodiment of the present invention.
도면을 참조하면, 제 2 실시예에 따른 형광체 특성 측정 장치는 방전 램프(31)와, 상기 방전 램프(31)로부터 발생된 광들중 특정 파장대의 광만을 반사시키는 투과형 광학 필터(33)와, 상기 투과형 광학 필터(33)를 통해 투과된 광으로 여기됨으로써 발광하는 형광체 시료(36)가 적재되는 시료 휘일(34)과, 형광체 시료(36)로부터 발생된 광을 안내하는 광 안내부(35)와, 상기 방전 램프(31), 투과형 광학 필터(33), 시료 휘일(34) 및, 광 안내부(35)를 내측에 수용하는 진공 챔버(37)를 구비한다.Referring to the drawings, the phosphor characteristic measuring apparatus according to the second embodiment includes a discharge lamp 31, a transmission type optical filter 33 reflecting only light of a specific wavelength band among the lights generated from the discharge lamp 31, A sample wheel 34 on which the phosphor sample 36 which emits light by being excited by the light transmitted through the transmission optical filter 33, a light guide portion 35 which guides the light generated from the phosphor sample 36, and And a discharge chamber 31, a transmission optical filter 33, a sample wheel 34, and a vacuum chamber 37 accommodating the light guide portion 35 therein.
방전 램프(31)는 도 2를 참조하여 설명되었던 것과 동일한 것이 사용될 수 있다. 즉, 방전 개스를 충전시킨 공간내에서 전극을 방전시킴으로써 가시광과 함께 시료(36)를 여기시킬 수 있는 자외선 영역의 광을 발생시킬 수 있다. 방전 램프(31)에서 발생된 광들중 140 내지 170 nm 파장대의 자외선광만이 투과형 광학 필터(33)를 통해서 시료(36)에 도달할 수 있으며, 시료 특성 측정에 불필요한 가시 광선은 투과형 광학 필터(33)를 통과할 수 없다. 투과형 광학 필터(33)는 공지되어 있다. 실제에 있어서, 투과형 광학 필터(33)는 140 내지 170 nm 파장대의 자외광에 대한 투과율이 10 내지 20 % 에 불과하므로, 방전 램프(31), 투과형 광학 필터(33) 및 형광체 시료(36)들은 서로 근접하도록 배치하는 것이 바람직스럽다.The discharge lamp 31 may be the same as that described with reference to FIG. 2. That is, by discharging an electrode in the space which filled the discharge gas, the light of the ultraviolet region which can excite the sample 36 with visible light can be produced. Of the light generated by the discharge lamp 31, only ultraviolet light in the wavelength range of 140 to 170 nm may reach the sample 36 through the transmission optical filter 33, and visible light unnecessary for measuring the sample characteristics may be transmitted through the transmission optical filter 33. Cannot pass). The transmission optical filter 33 is known. In practice, since the transmission optical filter 33 has only a transmittance of 10 to 20% of ultraviolet light in the wavelength range of 140 to 170 nm, the discharge lamp 31, the transmission optical filter 33 and the phosphor sample 36 are It is desirable to place them close to each other.
시료 휘일(34)은 도 1을 참조하여 설명된 것과 유사하게 구성될 수 있으며, 회전 가능하게 설치된다. 시료 휘일(34)의 표면에 측정 대상인 형광체 시료가 도포되거나 또는 인쇄된다. 진공 챔버(37)는 10-6Torr 정도로 진공화된다. 광 안내부(35)는 통상적으로 광섬유를 이용하며, 방전 램프(31)로부터 발생되는 광에 의해 여기됨으로써 발광하는 형광체 시료의 광을 진공 챔버(37)의 외측에 설치된 검출기(미도시)로 안내하는 작용을 한다.The sample wheel 34 may be configured similarly to that described with reference to FIG. 1 and is rotatably installed. The phosphor sample to be measured is coated or printed on the surface of the sample wheel 34. The vacuum chamber 37 is evacuated to about 10 -6 Torr. The light guide unit 35 typically uses an optical fiber, and guides light of a phosphor sample that emits light by being excited by light generated from the discharge lamp 31 to a detector (not shown) provided outside the vacuum chamber 37. It works.
도 4에 도시된 것은 본 발명의 제 4 실시예에 따른 형광체 특성 측정 장치에 대한 개략적인 구성도이다.4 is a schematic configuration diagram of a phosphor characteristic measurement apparatus according to a fourth embodiment of the present invention.
도면을 참조하면, 제 3 실시예에 따른 형광체 특성 측정 장치는 방전 램프(41)와, 상기 방전 램프(41)로부터 발생된 광들중 특정 파장대의 광만을 반사시키는 진공 모노크로메터(monochrometer)(43)와, 상기 진공 모노크로메터(43)를 통해 투과된 광으로 여기됨으로써 발광하는 형광체 시료(46)가 적재되는 시료 휘일(44)과, 형광체 시료(46)로부터 발생된 광을 안내하는 광 안내부(45)와, 상기 시료 휘일(44) 및, 광 안내부(45)를 내측에 수용하는 진공 챔버(47)를 구비한다. 방전 램프(41)는 진공 모노크로메터(43)와 밀착하여 설치되고, 진공 모노크로메터(43)도 진공 챔버(47)와 밀착하여 설치된다. 진공 모노크로메터(43)는 10-6Torr 정도로 진공화되며, 이렇게 함으로써 자외선 영역의 광이 산소에 의해 흡수되지 않게 할 수 있다. 진공 챔버(47)도 10-6Torr 로 진공화된다. 결과적으로, 방전 램프(41)로부터 발생되어 형광체 시료(46)에 도달하는 광은 진공의 공간을 통해서 전달된다.Referring to the drawings, the phosphor characteristic measuring apparatus according to the third embodiment of the present invention is a discharge lamp 41 and a vacuum monochromator 43 which reflects only light of a specific wavelength band among lights generated from the discharge lamp 41. ), A sample wheel 44 on which a phosphor sample 46 emitting light by being excited by light transmitted through the vacuum monochromator 43, and a light guide for guiding light generated from the phosphor sample 46 The part 45, the said sample wheel 44, and the vacuum chamber 47 which accommodates the light guide part 45 inside are provided. The discharge lamp 41 is installed in close contact with the vacuum monochromator 43, and the vacuum monochromator 43 is also installed in close contact with the vacuum chamber 47. The vacuum monochromator 43 is evacuated to about 10 -6 Torr, thereby preventing the light in the ultraviolet region from being absorbed by oxygen. The vacuum chamber 47 is also evacuated to 10 −6 Torr. As a result, the light generated from the discharge lamp 41 and reaching the phosphor sample 46 is transmitted through the vacuum space.
진공 모노크로메터(43)는 방전 램프(41)에서 발생하는 광들중 140 내지 170 nm 파장대의 자외광을 반사시켜 형광체 시료(46)에 도달할 수 있게 한다. 모노크로메터(43) 자체는 공지되어 있다. 모노크로메터는 특정 파장대의 집속된 광을 공급하도록 사용되는 장치이다. 모노크로메터는 통상적으로 넓은 범위의 파장대를 가지는 광원으로부터 발생되는 광이 입사되는 슬릿(slit), 입사된 빛을 연속적인 파장대의 스펙트럼으로 분산시키는 프리즘 또는 회절 격자 및, 특정 파장대의 광을 선택적으로 고립시키는 출구 슬릿을 가진다. 도 4 에 도시된 진공 모노크로메터(43)에서는 그 내부가 10-6Torr 의 진공도를 가지며, 방전 램프(41)로부터 발생된 광을 소정의 회절 격자를 가지는 반사경(43a,43b)을 통해서 반사시킴으로써 140 내지 170 nm 파장대의 자외광만이 진공 챔버(47)내의 형광체 시료(46)로 조사될 수 있도록 한다.The vacuum monochromator 43 reflects ultraviolet light in the wavelength range of 140 to 170 nm among the light generated from the discharge lamp 41 to reach the phosphor sample 46. The monochromator 43 itself is known. Monochromators are devices used to supply focused light in a particular wavelength range. Monochromators typically include a slit into which light from a light source having a broad range of wavelengths is incident, a prism or diffraction grating that disperses the incident light into a spectrum of continuous wavelengths, and selectively Has an outlet slit to isolate. In the vacuum monochromator 43 shown in FIG. 4, the inside thereof has a vacuum degree of 10 -6 Torr, and the light generated from the discharge lamp 41 is reflected through reflecting mirrors 43a and 43b having a predetermined diffraction grating. This allows only ultraviolet light in the wavelength range of 140 to 170 nm to be irradiated onto the phosphor sample 46 in the vacuum chamber 47.
시료 휘일(44)은 도 1 및 도 3을 참조하여 설명된 것과 유사하게 구성될 수 있으며, 회전 가능하게 설치된다. 시료 휘일(44)의 표면에 측정 대상인 형광체 시료가 도포되거나 또는 인쇄된다. 진공 챔버(47)는 10-6Torr 정도로 진공화된다. 광 안내부(45)는 통상적으로 광섬유를 이용하며, 방전 램프(41)로부터 발생되는 광에 의해 여기됨으로써 발광하는 형광체 시료의 광을 진공 챔버(47)의 외측에 설치된 검출기(미도시)로 안내하는 작용을 한다.The sample wheel 44 may be configured similarly to that described with reference to FIGS. 1 and 3, and is rotatably installed. The phosphor sample to be measured is coated or printed on the surface of the sample wheel 44. The vacuum chamber 47 is evacuated to about 10 -6 Torr. The light guide portion 45 typically uses an optical fiber, and guides light of a phosphor sample that emits light by being excited by light generated from the discharge lamp 41 to a detector (not shown) provided outside the vacuum chamber 47. It works.
본 발명에 따른 형광체 특성 측정 장치는 플라즈마 디스플레이 장치에 사용되는 형광체의 특성을 편리하고 정확하게 측정할 수 있게하는 장점을 가진다. 특히, 실제의 플라즈마 디스플레이 장치에 형광체가 적용되었을때와 동일한 조건에서 측정을 수행할 수 있게 하는 동시에, 측정에 불필요한 방전광의 가시광선을 효과적으로 배제할 수 있게 하므로 정확한 측정이 가능하다. 또한 시료 휘일에 여러 가지의 형광체 시료를 도포 또는 인쇄할 수 있으므로 효과적인 시료 특성 측정이 가능하다는 장점을 가진다.The phosphor characteristic measuring apparatus according to the present invention has the advantage of being able to conveniently and accurately measure the characteristics of the phosphor used in the plasma display apparatus. In particular, since the measurement can be performed under the same conditions as when the phosphor is applied to the actual plasma display device, and the visible light of the discharged light unnecessary for the measurement can be effectively excluded, accurate measurement is possible. In addition, it is possible to apply or print a variety of phosphor samples on the sample wheel has the advantage that the effective sample characteristics can be measured.
본 발명은 첨부된 도면에 도시된 실시예들을 참고로 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상의 지식을 가진자라면 본 발명으로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 보호 범위는 첨부된 청구 범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.Although the present invention has been described with reference to the embodiments shown in the accompanying drawings, it is merely exemplary, and it will be understood by those skilled in the art that various modifications and equivalent other embodiments are possible from the present invention. Could be. Therefore, the true scope of protection of the present invention should be defined only by the appended claims.
Claims (9)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019990013491A KR20000066408A (en) | 1999-04-16 | 1999-04-16 | Apparatus for measuring characteristics of fluorescent material |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019990013491A KR20000066408A (en) | 1999-04-16 | 1999-04-16 | Apparatus for measuring characteristics of fluorescent material |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20000066408A true KR20000066408A (en) | 2000-11-15 |
Family
ID=19580385
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019990013491A KR20000066408A (en) | 1999-04-16 | 1999-04-16 | Apparatus for measuring characteristics of fluorescent material |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20000066408A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100427211B1 (en) * | 2001-09-20 | 2004-04-30 | 동명전기주식회사 | Device for lamp examination |
| CN106248206A (en) * | 2016-08-26 | 2016-12-21 | 江苏天瑞仪器股份有限公司 | A kind of crystal switching device for spectral detection with indexing mechanism |
| CN106248205A (en) * | 2016-08-26 | 2016-12-21 | 江苏天瑞仪器股份有限公司 | A kind of for spectrogrph indexing crystal switching device |
| KR102253660B1 (en) * | 2020-10-08 | 2021-05-18 | (재)한국건설생활환경시험연구원 | Testing apparatus of UV lamp |
-
1999
- 1999-04-16 KR KR1019990013491A patent/KR20000066408A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100427211B1 (en) * | 2001-09-20 | 2004-04-30 | 동명전기주식회사 | Device for lamp examination |
| CN106248206A (en) * | 2016-08-26 | 2016-12-21 | 江苏天瑞仪器股份有限公司 | A kind of crystal switching device for spectral detection with indexing mechanism |
| CN106248205A (en) * | 2016-08-26 | 2016-12-21 | 江苏天瑞仪器股份有限公司 | A kind of for spectrogrph indexing crystal switching device |
| KR102253660B1 (en) * | 2020-10-08 | 2021-05-18 | (재)한국건설생활환경시험연구원 | Testing apparatus of UV lamp |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Jüstel et al. | VUV spectroscopy of luminescent materials for plasma display panels and Xe discharge lamps | |
| US7187138B2 (en) | Excimer lamp apparatus | |
| US4241998A (en) | Spectrophotometer | |
| US4516856A (en) | Optical apparatus for fluorescence polarization instrument | |
| JP3287775B2 (en) | Method and apparatus for measuring quantum efficiency of phosphor | |
| WO2014119038A1 (en) | Spectrum measuring device, spectrum measuring method, and specimen container | |
| US2943223A (en) | Silent electric discharge light source | |
| KR20000066408A (en) | Apparatus for measuring characteristics of fluorescent material | |
| US11035727B2 (en) | Spectrometer for vacuum ultraviolet measurements in high-pressure environment | |
| US9772226B2 (en) | Referenced and stabilized optical measurement system | |
| GB2090971A (en) | Fluorescence polarisation analyser | |
| Bricola et al. | Noble-gas liquid detectors: measurement of light diffusion and reflectivity on commonly adopted inner surface materials | |
| US7671543B2 (en) | Light exposure control device and apparatus | |
| JP3611015B2 (en) | Method and apparatus for measuring optical properties of phosphor sample | |
| US11346715B2 (en) | Standard reference material interface for Raman probe | |
| JP4146761B2 (en) | Fluorescence measuring device | |
| JP2006242733A (en) | Emission characteristic evaluating method of fluorescent substance | |
| KR100252072B1 (en) | Measuring apparatus for the optical specific properties of fluorescent materials | |
| KR100420144B1 (en) | Fluorescent material optical property measuring device | |
| US3247759A (en) | Spectrometer with multiple entrance slits | |
| JP5559643B2 (en) | Luminescence measurement method for powder samples | |
| US3504216A (en) | Resonance lamp for atomic absorption spectroscopy | |
| US20090116021A1 (en) | Method and apparatus for determining composition and concentration of contaminants on a film encapsulated in a plasma display panel | |
| GB2598636A (en) | Fluorimeter cell and its calibration | |
| Tanimizu | Measurement of luminescence of phosphors properties |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| WITN | Withdrawal due to no request for examination |