KR100427211B1 - Device for lamp examination - Google Patents

Device for lamp examination Download PDF

Info

Publication number
KR100427211B1
KR100427211B1 KR10-2001-0058265A KR20010058265A KR100427211B1 KR 100427211 B1 KR100427211 B1 KR 100427211B1 KR 20010058265 A KR20010058265 A KR 20010058265A KR 100427211 B1 KR100427211 B1 KR 100427211B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
lamp
unit
lamps
switch
test
Prior art date
Application number
KR10-2001-0058265A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20030025399A (en
Inventor
김세동
유태우
조태형
김현석
Original Assignee
동명전기주식회사
학교법인 두원학원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 동명전기주식회사, 학교법인 두원학원 filed Critical 동명전기주식회사
Priority to KR10-2001-0058265A priority Critical patent/KR100427211B1/en
Publication of KR20030025399A publication Critical patent/KR20030025399A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100427211B1 publication Critical patent/KR100427211B1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/08Testing mechanical properties
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Circuit Arrangements For Discharge Lamps (AREA)
  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)

Abstract

본 발명은 다채널 조명검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 상기 조명검사장치에 필요 전원을 공급해주는 전원공급부(180); 형광램프, 할로겐 램프 및 고압방전램프를 수용하기 위해 다수의 소켓(11)이 구비된 다수의 챔버(10); 상기 챔버(10)와 일체로 결합되고, 전원스위치 및 시험하고자 하는 각종 램프들을 선택할 수 있도록 한 제 1패널부(20); 상기 챔버(10)와 일체로 결합되고, 시험하고자 하는 각종 램프의 전압, 전류 및 전력등을 측정함과 아울러 고압방전램프 및 안정기의 수명을 시험할 수 있도록 단속시험, 점등시험, 예열시험 등을 할 수 있는 제 2패널부(35); 및 상기 제 1패널부(20)와 제 2패널부(35)에 구비된 각종 입력버튼의 선택에 따라 동작을 하도록 제어하는 PLC 제어부(100);를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 다채널 조명검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a multi-channel lighting inspection apparatus, and more particularly, a power supply unit 180 for supplying power to the lighting inspection apparatus; A plurality of chambers 10 having a plurality of sockets 11 for accommodating fluorescent lamps, halogen lamps and high-pressure discharge lamps; A first panel unit 20 integrated with the chamber 10 and configured to select a power switch and various lamps to be tested; Combined with the chamber 10, and measures the voltage, current and power of the various lamps to be tested, and also to test the intermittent test, lighting test, preheating test, etc. to test the life of the high-pressure discharge lamp and ballast A second panel part 35 capable of being made; And a PLC control unit 100 which controls to operate according to selection of various input buttons provided in the first panel unit 20 and the second panel unit 35. Relates to a device.

Description

다채널 조명검사장치{DEVICE FOR LAMP EXAMINATION}Multi-Channel Lighting Inspection Device {DEVICE FOR LAMP EXAMINATION}

본 발명은 다채널 조명검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 다양한 조명기기의 여러 가지 특성을 일괄적으로 시험 및 측정하도록 함으로써, 각종 조명기구의 품질성, 안전성 및 생산성이 향상될 수 있도록 한 다채널 조명검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a multi-channel lighting inspection apparatus, and more particularly, by collectively testing and measuring various characteristics of various lighting devices, the quality, safety and productivity of various lighting fixtures can be improved. It relates to a channel light inspection device.

일반적으로 고조명률 조명기구는 작업이나 환경에 적합한 배광을 가지며 조명률이 높은 기구를 말하는 것으로, 고효율 광원과 함께 사용할 경우 절전은 물론 조도를 크게 향상시킬 수 있다. 더욱이 조명기구의 효율을 높이기 위해서는 반사율이 높은 반사갓을 선정해야 한다. 반사갓은 깊은 형보다는 얕은 형이 효율이 좋다. 반사재에 있어서도 가장 많이 사용되는 알루미늄판의 정반사가 보통 60∼73%이고, 전해연마(電解硏磨)한 것이 75∼84%이다. 또한, 일반 조명기구의 도료로 많이 사용되고 있는 락카에나멜, 레놀계 도료는 반사율이 82%이상이 된다. 조명용 반사갓의 기구 효율은 한국산업규격 KS C 8007에서 규정하고 있는 70%이상으로 설정하고 있다.In general, high light fixtures have a light distribution suitable for work or the environment and high lighting rate, when used with a high efficiency light source can greatly improve the power saving and illumination. Furthermore, in order to increase the efficiency of the lighting fixtures, it is necessary to select a reflector having a high reflectance. Shallow shades are more efficient than shallow ones. Also in the reflector, the regular reflection of the aluminum plate which is used most is 60 to 73%, and the electropolished is 75 to 84%. In addition, lacquer enamel and lenol paint, which are frequently used as paint for general lighting equipment, have a reflectance of 82% or more. The efficiency of the reflecting lamp for lighting is set at 70% or higher as specified in Korean Industrial Standard KS C 8007.

한편, 조명기구는 과열 등으로 인한 화재, 감전 등의 위험 및 장해의 발생 우려가 큰 전기용품이므로 이에 대한 안전성 확보가 요구되는 기구이다.On the other hand, the lighting fixture is an appliance that is highly concerned about the risk of fire, electric shock, etc. due to overheating, and the occurrence of obstacles, so it is required to secure safety.

그러나, 최근에 이르러 조명기구 메이커에서는 다양한 조명기구의 개발이 이루어지고 있으나 한국산업규격 등의 관련 규격의 재정비 및 제정 등의 지연과 조명기구 제작업체의 열악으로 인해서 규격화된 시험 및 검사장비의 확보가 어려운 실정이다.However, in recent years, various lighting fixtures have been developed by lighting equipment makers.However, due to delays in reorganization and enactment of relevant standards such as Korean Industrial Standards and poor lighting equipment manufacturers, it is necessary to secure standardized test and inspection equipment. It is difficult.

또한, 조명기구의 수출 및 내수시장에 판매하기 위해서는 한국산업규격 KS C 7603(형광등기구) 및 KS C 7609(천정 매입형 백열등기구)에서 규정하고 기준 이상의 성능을 확보하여야 하고, 시험 항목으로는 전기적 특성(점등, 시동, 절연저항, 내전압, 입력전류, 입력전력, 역률, 소음 등)과 기계적 특성(내충격, 방수성능, 방습성능, 내열 충격, 안정기의 표면 최고온도), 열특성(이상 온도, 투광성 카바의 열변형, 내열성, 충전물 누출여부 등) 그리고, 기계적ㆍ전기적 구조 검사 등을 시행하도록 되어 있다. 이러한 시험 항목을 수행하기 위해서는 버니어캘리버스, 마이크로미터, 피치게이지, 절연저항계, 전압계, 전류계, 전력계, 역률계, 열전대온도계, 내전압시험기, 도장 두께 측정기, 전압조정기, 내열변형시험기, 방수성능시험기, 내충격성시험기, 내열충격성시험기, 내장력시험기 등의 시험검사 설비를 보유하고, 시험ㆍ검사설비 관리 규칙을 구체적으로 정하고 이에 따라 실시하여야 한다.In addition, in order to export luminaires and sell them to the domestic market, the Korean Industrial Standard KS C 7603 (Fluorescent Light Fixture) and KS C 7609 (Ceiling-Incandescent Incandescent Light Fixture) must be defined and ensure the performance over the standard. Characteristics (lighting, starting, insulation resistance, withstand voltage, input current, input power, power factor, noise, etc.) and mechanical characteristics (shock resistance, waterproof performance, moisture proof performance, heat shock, ballast surface maximum temperature), thermal characteristics (over temperature, Thermal deformation, heat resistance, filling leakage, etc.) of the light transmitting cover, and mechanical and electrical structural inspections are to be performed. To carry out these test items, Vernier Caliber, Micrometer, Pitch Gauge, Insulation Resistance Meter, Voltmeter, Ammeter, Power Meter, Power Factor Meter, Thermocouple Thermometer, Hipot Tester, Coating Thickness Meter, Voltage Regulator, Heat Strain Tester, Waterproof Performance Tester, Test and test facilities, such as impact tester, thermal shock tester, and built-in force tester, shall be possessed, and the test and inspection facility management rules shall be specified and executed accordingly.

그러나, 제작업체 환경의 열악, 검사장비의 취약 등으로 인해서 규격화된 자체 시험 장비가 구축되지 못하여 조명기구의 품질성, 안전성, 생산성의 미확보로 인한 대외 신인도 저하로 수출을 확대시키지 못하고 있는 문제점이 있었다.However, due to the poor environment of the manufacturer and weakness of the inspection equipment, standardized self-test equipment could not be built, and there was a problem that the export was not expanded due to the deterioration of external credibility due to the lack of quality, safety, and productivity of the lighting fixture. .

또한, 이와 같은 시험을 하기 위한 종래의 시험방법은 간이 검사장치를 이용한 1 : 1 수동 및 육안검사로서 한가지 제품의 검사를 위하여 각기 한 대씩의 검사장치를 필요로 하고, 많은 장비를 보유하여야 하므로 검사시간이 장시간 걸리게 되며, 검사자의 육체적 정신적 피로에 의한 오검이 발생하는 등 검사에 대한 신뢰도가 극히 저하되며 많은 검사인원의 필요에 의해 검사에 드는 비용이 과다하여 결국 제품의 원가상승을 초래하고 경쟁력이 극히 저하되는 문제점을 안고 있다.In addition, the conventional test method for such a test is a 1: 1 manual and visual inspection using a simple inspection device, each of which requires an inspection device for the inspection of one product and requires a lot of equipment. It takes a long time, the reliability of the test is extremely low, such as a false positive due to the physical and mental fatigue of the inspector, and the cost of the test is excessive due to the need of a large number of inspectors. It has a problem that is extremely degraded.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서 본 발명의 목적은 다양한 조명기기의 여러 가지 특성을 일괄적으로 시험 및 측정하도록 함으로써, 각종 조명기구의 품질성, 안전성 및 생산성이 향상될 수 있도록 한 다채널 조명검사장치를 제공하는데 있다.The present invention has been made to solve the above problems, the object of the present invention is to test and measure various characteristics of various lighting equipment in a batch, the quality, safety and productivity of various lighting equipment can be improved To provide a multi-channel lighting inspection device.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 다채널 조명검사장치의 전체적인 외관 구성도1 is an overall appearance configuration of a multi-channel lighting inspection apparatus according to an embodiment of the present invention

도 2는 도 1의 챔버(10)를 확대 도시한 도면FIG. 2 is an enlarged view of the chamber 10 of FIG. 1.

도 3은 도 1의 제 1패널부(20)를 확대 도시한 도면3 is an enlarged view of the first panel unit 20 of FIG. 1.

도 4는 도 1의 제 2패널부(35)를 확대 도시한 도면4 is an enlarged view of the second panel unit 35 of FIG. 1.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 다채널 조명검사장치를 설명하기 위한 블록구성도5 is a block diagram illustrating a multi-channel lighting inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 6은 본 발명의 실시예에 따른 고압방전램프(H.I.D)의 시험을 설명하기 위한 흐름도6 is a flow chart for explaining the test of the high-pressure discharge lamp (H.I.D) according to an embodiment of the present invention.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

10 : 챔버 20 : 제 1패널부10 chamber 20 first panel portion

35 : 제 2패널부 40 : 단속시험부35: second panel part 40: intermittent test part

51 : 타이머 60 : 작업대51: timer 60: workbench

70 : 지지대 80 : 받침수단70: support 80: support means

100 : PLC 제어부100: PLC control unit

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 조명검사장치에 필요 전원을 공급해주는 전원공급부; 형광램프, 할로겐 램프 및 고압방전램프를 수용하기 위해 다수의 소켓이 구비된 다수의 챔버; 상기 챔버와 일체로 결합되고, 전원스위치 및 시험하고자 하는 램프들을 선택할 수 있도록 한 제 1패널부; 상기 챔버와 일체로 결합되고, 시험하고자 하는 램프의 전압, 전류 및 전력등을 측정함과 아울러 고압방전램프 및 안정기의 수명을 시험할 수 있도록 단속시험, 점등시험, 예열시험을 할 수 있는 제 2패널부; 및 상기 제 1패널부와 제 2패널부에 구비된 입력버튼들의 선택에 따라 동작을 하도록 제어하는 PLC 제어부;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a power supply for supplying the necessary power to the lighting inspection device; A plurality of chambers provided with a plurality of sockets for accommodating fluorescent lamps, halogen lamps and high-pressure discharge lamps; A first panel unit integrated with the chamber and configured to select a power switch and lamps to be tested; The second unit is integrated with the chamber to measure the voltage, current and power of the lamp to be tested, and to perform the intermittent test, the lighting test, and the preheating test to test the life of the high-pressure discharge lamp and the ballast. A panel unit; And a PLC control unit controlling to operate according to selection of input buttons provided in the first panel unit and the second panel unit.

이때, 상기 제 1패널부는 상기 다채널 조명검사장치의 전원을 온/오프시켜주는 전원공급 스위치부; 램프 및 안정기를 연결하기 위한 연결단자부; 및 램프들을 선택하기 위한 램프 선택부;를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.In this case, the first panel unit includes a power supply switch unit for turning on / off the power of the multi-channel lighting inspection device; A connection terminal unit for connecting a lamp and a ballast; And a lamp selector for selecting lamps.

그리고, 상기 제 2패널부는 안정기의 램프전류 및 단락전류 측정 시 부하선택에 의하여 램프에 규정된 저항값을 설정하는 더미로드 저항 선택부; 시험할 대상을 선택하여 1차측 전압 및 전류, 2차측 전압 및 전류, 단락전류 등을 측정할 수 있도록 한 측정 선택부; 상기 PLC 제어부 및 환기팬의 온/오프를 제어하도록 구비된 스위치부; 상기 다채널 조명장치의 입력 전압을 조정하는 입력전압조정부; 상기 고압방전램프 및 안정기의 수명시험을 하기 위한 단속시험부; 및 상기 다채널 조명검사장치의 입력 전압 및 전류를 표시해주는 표시부;를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.The second panel unit includes: a dummy load resistance selector configured to set a resistance value defined in the lamp by load selection when measuring lamp current and short circuit current of the ballast; A measurement selector configured to select an object to be tested and measure primary voltage and current, secondary voltage and current, and short circuit current; A switch unit provided to control on / off of the PLC control unit and a ventilation fan; An input voltage adjusting unit adjusting an input voltage of the multi-channel lighting device; Intermittent test unit for the life test of the high-pressure discharge lamp and ballast; And a display unit which displays the input voltage and the current of the multi-channel lighting test apparatus.

바람직하게는, 상기 챔버, 제 1패널부 및 제 2패널부와 일체로 결합되고, 시험공구들을 놓고 작업할 수 있는 작업대;가 더 구비된다.Preferably, the workbench is integrally coupled with the chamber, the first panel unit and the second panel unit, and can work on the test tools.

바람직하게는, 상기 작업대와 일체로 결합되고, 상기 작업대를 지지해주기 위해 다수의 지지대가 구비됨과 아울러 그 하단에는 용이하게 이동할 수 있도록 다수의 바퀴를 갖는 받침수단;이 더 구비된다.Preferably, the support unit is integrally coupled with the work table, and provided with a plurality of supports to support the work table, and a support means having a plurality of wheels to be easily moved at the bottom thereof.

이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 본 실시예는 본 발명의 권리범위를 한정하는 것은 아니고, 단지 예시로 제시된것이다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. This embodiment is not intended to limit the scope of the invention, but is presented by way of example only.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 다채널 조명검사장치의 전체적인 외관 구성도이고, 도 2는 도 1의 챔버(10)를 확대 도시한 도면이고, 도 3은 도 1의 제 1패널부(20)를 확대 도시한 도면이고, 도 4는 도 1의 제 2패널부(35)를 확대 도시한 도면으로서, 본 발명에 따른 다채널 조명검사장치의 전체적인 구성은 형광램프, 할로겐 램프 및 고압방전램프(H.I.D)들을 수용하기 위한 다수의 소켓(11)이 구비된 다수의 챔버(10)와; 상기 챔버(10)와 일체로 결합되고, 전원스위치 및 시험하고자 하는 램프들을 선택할 수 있도록 한 제 1패널부(20)와; 상기 챔버(10)와 일체로 결합되고, 시험하고자 하는 각종 램프의 전압, 전류 및 전력등을 측정함과 아울러 고압방전램프 및 안정기의 수명을 시험할 수 있도록 단속시험, 점등시험, 예열시험 등을 할 수 있는 제 2패널부(35);로 구성된다.1 is an overall external configuration diagram of a multi-channel lighting inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is an enlarged view of the chamber 10 of Figure 1, Figure 3 is a first panel portion of FIG. 20 is an enlarged view, and FIG. 4 is an enlarged view of the second panel unit 35 of FIG. 1. The overall configuration of the multi-channel lighting inspection apparatus according to the present invention is a fluorescent lamp, a halogen lamp, and a high voltage discharge. A plurality of chambers 10 having a plurality of sockets 11 for receiving lamps HID; A first panel unit 20 integrated with the chamber 10 and configured to select a power switch and lamps to be tested; Combined with the chamber 10, and measures the voltage, current and power of the various lamps to be tested, and also to test the intermittent test, lighting test, preheating test, etc. to test the life of the high-pressure discharge lamp and ballast The second panel unit 35 which can be made.

또한, 상기 챔버(10), 제 1패널부(20) 및 제 2패널부(35)와 일체로 결합되고, 각종 시험공구들을 놓고 작업할 수 있는 작업대(60)가 구비됨이 바람직하다.In addition, the chamber 10, the first panel unit 20 and the second panel unit 35 is integrally coupled to the work table 60 is preferably provided to work on a variety of test tools.

또한, 상기 작업대(60)와 일체로 결합되고, 상기 작업대(60)를 지지해주기 위해 다수의 지지대(70)가 구비됨과 아울러 그 하단에는 용이하게 이동할 수 있도록 다수의 바퀴(75)를 갖는 받침수단(80)이 구비됨이 바람직하다.In addition, the support means having a plurality of wheels 75 to be integrally coupled with the work table 60, a plurality of support 70 is provided to support the work table 60 and to be easily moved at the bottom thereof. It is preferable that 80 is provided.

상기 제 1패널부(20)는 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 다채널 조명검사장치의 전원 공급을 온/오프(ON/OFF)시켜주는 전원공급 스위치부(21)와; 각종 램프 및 안정기를 연결하기 위한 연결단자부(22)와; 각종 램프를 선택하기 위한 램프 선택부(23);로 구성되어 있다.As shown in FIG. 3, the first panel unit 20 includes: a power supply switch unit 21 for turning on / off a power supply of the multi-channel lighting inspection device; A connection terminal unit 22 for connecting various lamps and ballasts; And a lamp selector 23 for selecting various lamps.

이때, 상기 전원공급 스위치부(21)에는 상기 다채널 조명검사장치의 전원을 온/오프(ON/OFF)시켜주는 전원스위치(24)와; 상기 전원스위치(24)가 온(ON)되었을 때 외부로부터 전원(110/220V)을 공급해주기 위해 전기적으로 연결되어 있는 복수의 콘센트(25)가 구비된다.At this time, the power supply switch unit 21 includes a power switch 24 for turning on / off the power of the multi-channel lighting inspection device; When the power switch 24 is turned on, a plurality of outlets 25 are electrically connected to supply power 110 / 220V from the outside.

또한, 상기 연결단자부(22)에는 고압방전램프(H.I.D) 또는 할로겐 램프를 시험할 경우 안정기를 연결하기 위한 안정기 입ㆍ출력 콘넥터(26)(27)와; 상기 고압방전램프(H.I.D) 또는 할로겐 램프를 외부에서 별도로 점등시킬 시 결합하기 위한 콘넥터(28)와; 형광램프를 시험할 경우 안정기를 연결하기 위한 입력 콘넥터(29)와; 상기 안정기를 연결하기 위해 3개의 터미널 단자(노란색, 검정색, 청색)가 구비된 스타트식 전용 단자박스(30)와; 상기 안정기를 연결하기 위해 두 쌍의 터미널 단자(빨강색, 청색)가 구비된 래피드 및 반도체 스타트식 전용 단자박스(31)가 구비된다.In addition, the connection terminal 22 includes ballast input and output connectors (26) and (27) for connecting a ballast when a high voltage discharge lamp (H.I.D) or a halogen lamp is tested; A connector (28) for coupling when the high-pressure discharge lamp (H.I.D) or the halogen lamp is turned on separately from the outside; An input connector 29 for connecting a ballast when the fluorescent lamp is tested; A start type dedicated terminal box 30 having three terminal terminals (yellow, black, blue) for connecting the ballast; In order to connect the ballast, a rapid and semiconductor start type terminal box 31 having two pairs of terminal terminals (red and blue) is provided.

이때, 상기 고압방전램프(H.I.D) 및 안정기의 연결시에는 상기 챔버(10)의 해당 소켓(11)에 고압방전램프(H.I.D)를 장착하고, 기타 소켓(11)에 장착된 램프들은 탈착한다. 그런 다음, 안정기의 입력선은 상기 입력 콘넥터(26)에 결선하고, 안정기의 출력선은 출력 콘넥터(27)에 결선한다. 그리고, 상기 콘넥터(28)는 고압방전램프(H.I.D)의 챔버(10) 내부에 설치되어 있는 소켓(11)을 사용하지 않고 외부에서 별도로 고압방전램프(H.I.D)를 점등시킬 경우에 사용한다.At this time, when the high-pressure discharge lamp (H.I.D) and the ballast is connected to the high-pressure discharge lamp (H.I.D) mounted on the socket 11 of the chamber 10, the lamps mounted on the other socket (11) is removed. The input line of the ballast is then connected to the input connector 26 and the output line of the ballast is connected to the output connector 27. In addition, the connector 28 is used to turn on the high-pressure discharge lamp (H.I.D) separately from the outside without using the socket 11 installed inside the chamber 10 of the high-pressure discharge lamp (H.I.D).

또한, 상기 할로겐 램프 및 트랜스포머(Transformer)의 연결시에는 상기 챔버(10)의 해당 소켓(11)에 할로겐 램프를 장착하고, 기타 소켓(11)에 장착된 램프들은 탈착한다. 그런 다음, 상기 트랜스포머의 입ㆍ출력선은 상기 고압방전램프의 경우와 동일하게 결선된다. 그리고, 상기 트랜스포머를 사용하지 않는 할로겐 램프는 상기 입력 콘넥터(26)와 출력 콘넥터(27)를 직결하여 사용한다.In addition, when the halogen lamp and the transformer (Transformer) is connected, the halogen lamp is mounted on the socket 11 of the chamber 10, and the lamps mounted on the other socket 11 are detached. Then, the input and output lines of the transformer are wired in the same manner as in the case of the high voltage discharge lamp. In addition, the halogen lamp that does not use the transformer is used by directly connecting the input connector 26 and the output connector 27.

또한, 형광램프 및 안정기의 연결시에는 첫째, 스타트식(저역률형)일 경우, 상기 챔버(10)의 해당 소켓(11)에 형광램프를 장착하고, 기타 소켓(11)에 장착된 램프들은 탈착한다. 그런 다음, 안정기의 입ㆍ출력선은 상기 스타트식 전용 단자박스(30)의 터미널 단자(검정색, 청색)에 결선한다.In addition, when the fluorescent lamp and the ballast are connected, first, in the case of the start type (low power factor type), the fluorescent lamp is mounted in the socket 11 of the chamber 10, and the lamps mounted in the other socket 11 are Remove. Then, the input and output lines of the ballast are connected to the terminal terminals (black and blue) of the start type terminal box 30.

둘째, 스타트식(고역률형)일 경우, 상기 챔버(10)의 해당 소켓(11)에 형광램프를 장착하고, 기타 소켓(11)에 장착된 램프들은 탈착한다. 그런 다음, 안정기의 입ㆍ출력선은 상기 스타트식 전용 단자박스(30)의 터미널 단자(노란색, 검정색, 청색)에 결선한다. 여기서, 상기 안정기의 입ㆍ출력선(흰색, 검정색, 청색)은 각각 상기 3개의 터미널 단자(노랑색, 검정색, 청색)에 순서대로 연결함이 바람직하다.Second, in the case of the start type (high power factor type), the fluorescent lamp is mounted in the socket 11 of the chamber 10, and the lamps mounted on the other socket 11 are detached. Then, the input and output wires of the ballast are connected to the terminal terminals (yellow, black, blue) of the start type terminal box 30. Here, the input and output lines (white, black, blue) of the ballast are preferably connected to the three terminal terminals (yellow, black, blue) in order.

셋째, 래피드 및 반도체 스타트식일 경우, 상기 챔버(10)의 해당 소켓(11)에 형광램프를 장착하고, 기타 소켓(11)에 장착된 램프들은 탈착한다. 그런 다음, 안정기의 입력선은 상기 입력 콘넥터(29)에 결선하고, 안정기의 출력선은 래피드 및 반도체 스타트식 전용 단자박스(31)의 터미널 단자(빨간색, 검정색)에 결선한다.Third, in the case of the rapid and semiconductor start type, fluorescent lamps are mounted in the corresponding sockets 11 of the chamber 10, and lamps mounted on the other sockets 11 are detached. Then, the input line of the ballast is connected to the input connector 29, and the output line of the ballast is connected to the terminal terminals (red, black) of the dedicated and semiconductor start type terminal box 31.

또한, 상기 램프 선택부(23)에는 각종 형광램프(FL-A, FL-B, FL-C, FL-D)들을 선택하기 위한 형광램프 선택 스위치부(32)와; 각종 할로겐 램프(HL-A, HL-B, HL-C, HL-D)들을 선택하기 위한 할로겐 램프 선택 스위치부(33)와; 각종 고압방전램프(E26, E39, R×7s, R×7s-24, Fc2, G12, PG12, EXT)들을 선택하기 위한 고압방전램프 선택 스위치부(34)가 구비된다.In addition, the lamp selector 23 includes a fluorescent lamp selector switch 32 for selecting various fluorescent lamps FL-A, FL-B, FL-C, and FL-D; A halogen lamp selector switch 33 for selecting various halogen lamps HL-A, HL-B, HL-C, HL-D; A high pressure discharge lamp selector switch 34 for selecting various high pressure discharge lamps E26, E39, R × 7s, R × 7s-24, Fc2, G12, PG12, and EXT is provided.

그리고, 상기 제 2패널부(35)는 도 4에 도시된 바와 같이, 안정기의 램프전류 및 단락전류 측정 시 부하선택에 의하여 램프에 규정된 저항값을 설정하는 더미로드(Dummy Load)저항 선택부(36)와; 시험할 대상을 선택하여 1차측 전압 및 전류, 2차측 전압 및 전류, 단락전류 등을 측정할 수 있도록 한 측정 선택부(37)와; PLC 제어부(도 6참조 ; 100) 및 환기팬(도시 않됨)의 온/오프(ON/OFF)를 제어하도록 구비된 스위치부(38)와; 상기 다채널 조명장치의 입력 전압을 조정하는 입력전압조정부(39)와; 고압방전램프 및 안정기의 수명시험을 하기 위한 단속시험부(40)와; 상기 다채널 조명검사장치의 입력 전압, 전류를 표시해주는 표시부(41)가 구비된다.As shown in FIG. 4, the second panel unit 35 includes a dummy load resistance selection unit for setting a resistance value defined in the lamp by load selection when measuring lamp current and short circuit current of the ballast. 36; A measurement selector 37 for selecting a target to be tested to measure the primary side voltage and current, the secondary side voltage and current, and the short circuit current; A switch unit 38 provided to control on / off of the PLC control unit (see FIG. 6; 100) and the ventilation fan (not shown); An input voltage adjusting unit 39 for adjusting an input voltage of the multi-channel lighting device; Intermittent test unit 40 for the life test of the high-pressure discharge lamp and ballast; A display unit 41 for displaying an input voltage and a current of the multi-channel lighting test device is provided.

이때, 상기 더미로드(Dummy Load)저항 선택부(36)에는 램프에 규정된 저항값을 설정하여 선택하기 위한 선택스위치(42)와; 상기 선택스위치(42)에 의해 순차적으로 점등되는 4개의 표시램프(20/40b, 32b, 65b, 110b ; 43)들이 구비된다.At this time, the dummy load resistance selection unit 36 includes a selection switch 42 for setting and selecting a resistance value defined in the lamp; Four display lamps 20 / 40b, 32b, 65b, 110b; 43 which are sequentially turned on by the selection switch 42 are provided.

여기서, 상기 선택스위치(42)는 1회 터치시마다 순차적으로 상기 표시램프 (43)가 점등되고, 자동으로 내부회로에 의하여 규정의 저항값이 선택되며, 5회 터치시는 모두 오프(OFF)된다.In this case, the display lamp 43 is sequentially turned on every touch, and a predetermined resistance value is automatically selected by an internal circuit, and all of the selection switches 42 are turned off when touched five times. .

또한, 상기 측정 선택부(37)에는 각종 시험할 램프(고압방전램프, 할로겐 램프, 스타트식 형광램프, 래피드 및 반도체 스타트식 형광램프 등)들을 선택하는 램프선택버튼(44)과; 상기 램프선택버튼(44)의 선택에 따라 디스플레이해주는 표시램프(45)와; 상기 각각의 램프들에 따라 1차전류, 2차전류, 2차전압 및 단락전류 등을 측정할 수 있는 측정선택버튼(46)이 구비된다.In addition, the measurement selector 37 includes lamp selection buttons 44 for selecting various lamps to be tested (high voltage discharge lamps, halogen lamps, start fluorescent lamps, rapid and semiconductor start fluorescent lamps, etc.); A display lamp 45 for displaying according to the selection of the lamp selection button 44; According to the respective lamps is provided with a measurement selection button 46 for measuring the primary current, secondary current, secondary voltage and short-circuit current.

여기서, 상기 램프선택버튼(44)은 1회 터치시마다 순차적으로 상기 표시램프 (45)가 점등되고, 자동으로 내부회로에 의하여 설정되며, 4회 터치시는 모두 오프 (OFF)된다. 상기 램프선택이 완료되면, 정격 입력전압을 인가하여 선택된 램프를 상기와 같은 방법으로 인가하여 점등시킨다. 이때, 상기 고압방전램프(H.I.D)의 경우에는 고압방전램프가 완전 발광하여 안정상태에 이르기까지 약 8분 정도 경과한 후 측정한다. 그런 다음, 상기 측정선택버튼(46)을 사용하여 1차전류, 2차전류, 2차전압 및 단락전류 등을 측정할 수 있으며, 각각의 전기적 특성값은 별도 장치된 AC 전력분석기(도시 않됨)에 의하여 디스플레이된다. 한편, 상기 측정을 중단할 경우에는 상기 측정선택버튼(46)들 중 해당 측정버튼을 리터치(Retouch)하면 된다. 그리고, 래프트 스타트식 안정기의 2차전압을 측정할 경우에는 해당 측정선택버튼 (46)을 몇회 눌러 가장 높은 값으로 측정하는 것이 바람직하다.Here, the lamp selection button 44 sequentially turns on the display lamp 45 at each touch, and is automatically set by the internal circuit, and is turned off at the fourth touch. When the lamp selection is completed, the selected lamp is applied by applying a rated input voltage and then lit in the same manner as above. In this case, the high-pressure discharge lamp (H.I.D) is measured after about 8 minutes has passed until the high-pressure discharge lamp completely emits light to a stable state. Then, using the measurement selection button 46 can measure the primary current, secondary current, secondary voltage and short-circuit current, etc., each electrical characteristic value is separately installed AC power analyzer (not shown) Is displayed. In the meantime, when the measurement is stopped, the corresponding measurement button of the measurement selection buttons 46 may be retouched. When the secondary voltage of the raft start ballast is measured, it is preferable to press the corresponding measurement selection button 46 several times to measure the highest value.

또한, 상기 스위치부(38)는 PLC 제어부(100)에 공급되는 전원을 온/오프 (ON/OFF)하기 위한 PLC 전원스위치(47)와; 각종 램프들의 점등시 각 챔버(10)의 내부에 공기를 순환시키는 환기팬을 작동시키기 위한 작동스위치(48)가 구비된다.In addition, the switch unit 38 includes a PLC power switch 47 for turning on / off the power supplied to the PLC control unit 100; An operation switch 48 is provided to operate a ventilation fan that circulates air in each chamber 10 when various lamps are turned on.

또한, 상기 입력전압조정부(39)는 각종 램프들에 입력되는 전압을 조정하기 위한 주조정버튼(49)과; 상기 입력전압을 좀더 세부적으로 조정하기 위한 미세조정버튼(50)이 구비된다.In addition, the input voltage adjusting unit 39 includes a main adjusting button 49 for adjusting a voltage input to various lamps; Fine adjustment button 50 for adjusting the input voltage in more detail is provided.

여기서, 입력전압의 조정을 하는데 있어서 먼저, 상기 주조정버튼(49)의 업/다운(UP/DOWN)버튼을 사용하여 조정을 하게되는데 이때, 전압 가변폭이 크므로 정격 입력전압의 근사값에 빠르게 설정한 후, 전압 가변폭이 적은 상기 미세조정버튼(50)의 업/다운(UP/DOWN)버튼을 사용하여 정확하게 정격 입력전압을 설정할 수 있게 된다.Here, in the adjustment of the input voltage, first, the adjustment using the UP / DOWN (UP / DOWN) button of the main adjustment button 49, at this time, because the voltage variable width is large, the approximate value of the rated input voltage quickly After setting, it is possible to accurately set the rated input voltage by using the UP / DOWN button of the fine adjustment button 50 having a small voltage variable width.

또한, 상기 단속시험부(40)는 각종 램프 및 안정기의 수명시험시 온/오프 (ON/OFF) 시간을 조정하기 위한 타이머(51)와; 상기 타이머(51)의 온/오프(ON/OFF) 시간에 따라 단속된 횟수를 표시하기 위한 카운터(52)와; 상기 타이머(51)의 전원을 온/오프(ON/OFF)하기 위한 타이머 전원스위치(53)와; 상기 카운터(52)를 리셋 (Reset)시키기 위한 카운터 리셋스위치(54)가 구비된다. 그리고, 본 발명에서는 사용하지 않았지만 다른 기구를 접속시키기 위한 예비출력단자(55)가 구비되어 있다.In addition, the intermittent test unit 40 includes a timer 51 for adjusting the ON / OFF time during the life test of various lamps and ballasts; A counter 52 for displaying the number of times of interruption in accordance with the ON / OFF time of the timer 51; A timer power switch (53) for turning on / off the power of the timer (51); A counter reset switch 54 is provided to reset the counter 52. Although not used in the present invention, a preliminary output terminal 55 for connecting another mechanism is provided.

바람직하게는, 상기 표시부(41)는 입력전압, 전류를 디지털 값으로 표시해준다.Preferably, the display unit 41 displays the input voltage and current as digital values.

여기서, 상기 단속시험부(40)는 고압방전램프(H.I.D) 및 안정기의 수명시험 시 사용되며, 상기 타이머(51)에 설정된 온/오프(ON/OFF) 시간에 따라 상기 카운터(52)에 단속된 횟수가 표시된다. 이때, 상기 고압방전램프(H.I.D)의 경우 단속주기는 통상 10시간 온(ON), 10시간 오프(OFF)를 기준으로 설정한다. 또한, 상기 타이머(51)의 온/오프(ON/OFF) 시간 및 메모리 조정은 상기 타이머 전원 스위치 (52)를 오프(OFF) 시킨 상태에서 조정해야한다. 그리고, 상기 타이머(51) 시간 설정 및 안정기 및 고압방전램프의 결선이 완료되면, 상기 리셋스위치(54)로 카운터 (52)를 리셋(Reset) 시킨다. 그런 다음, 정격 입력전압을 가한 후, 상기 타이머 전원 스위치(53)를 온(ON)시켜 시험을 시행한다. 이 시험이 종료되면, 상기 타이머 전원 스위치(53)를 반드시 오프(OFF)시킨다.Here, the intermittent test unit 40 is used during the life test of the high-pressure discharge lamp (HID) and ballast, and intermittent to the counter 52 according to the ON / OFF time set in the timer 51. The number of times it is displayed is displayed. In this case, in the case of the high-pressure discharge lamp (H.I.D), the intermittent cycle is usually set on the basis of 10 hours ON and 10 hours OFF. In addition, ON / OFF time and memory adjustment of the timer 51 should be adjusted while the timer power switch 52 is turned OFF. When the timer 51 is set for time and the connection of the ballast and the high voltage discharge lamp is completed, the counter 52 is reset by the reset switch 54. Then, after applying the rated input voltage, the timer power switch 53 is turned ON to perform the test. When this test is completed, the timer power switch 53 must be turned OFF.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 다채널 조명검사장치를 설명하기 위한 블록구성도로서, 본 발명의 조명검사장치는 각종 램프 및 안정기를 연결하기 위한 연결단자부(110)와; 각종 램프를 선택하기 위한 램프 선택부(120)와; 안정기의 램프전류 및 단락전류 측정 시 부하선택에 의하여 램프에 규정된 저항값을 설정하는 더미로드 저항 선택부(130)와; 시험할 대상을 선택하여 1차전류, 2차전류, 2차전압 및 단락전류 등을 측정할 수 있도록 한 측정 선택부(140)와; 정격 입력전압을 조정하는 입력전압조정부(150)와; 고압방전램프 및 안정기의 수명시험을 하기 위한 단속시험부(160)와; 형광램프, 할로겐 램프 및 고압방전램프 등을 수용하기 위한 다수의 소켓부(170)와; 각종 해당 입력버튼의 선택에 따라 동작을 하도록 제어하는 PLC 제어부(100)와; 상기 PLC 제어부(100)에 전원을 공급해주는 전원공급부(180)와; 상기 PLC 제어부(100)의 작동에 따라 입력전압 및 전류를 표시하는 표시부(190);로 구성된다.5 is a block diagram for explaining a multi-channel lighting inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, the lighting inspection apparatus of the present invention includes a connection terminal 110 for connecting various lamps and ballasts; A lamp selector 120 for selecting various lamps; A dummy load resistance selector 130 for setting a resistance value defined by the lamp by load selection when measuring lamp current and short circuit current of the ballast; A measurement selecting unit 140 for selecting a target to be tested and measuring primary current, secondary current, secondary voltage, short circuit current, and the like; An input voltage adjusting unit 150 for adjusting a rated input voltage; Intermittent test unit 160 for the life test of the high-pressure discharge lamp and ballast; A plurality of socket portions 170 for accommodating fluorescent lamps, halogen lamps, high-pressure discharge lamps, and the like; A PLC controller 100 which controls to operate according to selection of various corresponding input buttons; A power supply unit 180 for supplying power to the PLC control unit 100; And a display unit 190 for displaying an input voltage and a current according to the operation of the PLC controller 100.

상기와 같이 구성된 본 발명에 따른 다채널 조명검사장치에서 고압방전램프의 검사를 설명하기 위한 흐름도로서, 먼저 상기 챔버(10)내의 소켓(11)에 시험할 고압방전램프를 부착하는 단계(S100)와, 상기 연결단자부(22)의 해당 입ㆍ출력 콘넥트 또는 터미널 단자에 안정기를 연결하는 단계(S110)와; 상기 전원공급부(21)의 전원스위치(24)를 온(ON)시키는 단계(S120)와; 상기 입력전압조정부(39)의 주조정버튼(49)과 미세조정버튼(50)을 사용하여 입력된 전원을 조정하는 단계(S130)와; 상기 측정선택부(37)의 램프선택버튼(44)을 사용하여 고압방전램프를 선택하는 단계(S140)와; 상기 챔버(10)내에 있는 고압방전램프를 약 30분동안 점등시키는 단계(S150)와; 상기 측정선택부(37)의 측정선택버튼(46)을 사용하여 1차측 전류 및 전압, 2차측 전류 및 전압, 단락전류 및 역률 등을 측정하는 단계(S160)와; 상기 단속시험부(40)에 의해 램프 및 안정기의 단속시험을 하는 단계(S170);로 이루어진다.As a flow chart for explaining the inspection of the high-pressure discharge lamp in the multi-channel lighting inspection apparatus according to the present invention configured as described above, first attaching the high-pressure discharge lamp to be tested to the socket (11) in the chamber (10) (S100) And connecting a ballast to a corresponding input / output connector or terminal terminal of the connection terminal unit (S110); Turning on the power switch 24 of the power supply unit 21 (S120); Adjusting the input power using the main adjustment button 49 and the fine adjustment button 50 of the input voltage adjustment unit 39 (S130); Selecting a high voltage discharge lamp by using the lamp selection button 44 of the measurement selecting unit 37 (S140); Lighting the high-pressure discharge lamp in the chamber 10 for about 30 minutes (S150); Measuring a primary side current and voltage, a secondary side current and voltage, a short circuit current, and a power factor using the measurement selection button 46 of the measurement selecting unit 37 (S160); The intermittent test unit 40 by the intermittent test step of the lamp and ballast (S170); consists of.

상기와 같이 본 발명의 다채널 조명검사장치에 의해서 고압방전램프의 검사를 일실시예로 나타냈지만, 다른 종류의 램프들도 표준화되고, 규격화된 검사들을 할 수가 있다.As described above, the inspection of the high-pressure discharge lamp is shown as an embodiment by the multi-channel illumination inspection device of the present invention, but other types of lamps can also be standardized and standardized inspections.

따라서, 상기한 바와 같이 본 발명은 다양한 조명기기의 여러 가지 특성을 일괄적으로 시험 및 측정하도록 모듈화 시켜줌으로써, 각종 조명기구의 품질성, 안전성이 확보도리 뿐만 아니라 더 나아가 생산성이 향상되어 조명기구의 수명 연장 및 안전성을 확보할 수 있는 이점이 있다.Therefore, as described above, the present invention is modularized to test and measure various characteristics of various lighting apparatuses collectively, thereby ensuring not only the quality and safety of various lighting apparatuses, but also the productivity of the lighting apparatuses. There is an advantage that can extend the life and ensure safety.

Claims (13)

조명검사장치에 필요한 전원을 공급해주는 전원공급부(180);A power supply unit 180 for supplying power to the lighting inspection device; 형광램프, 할로겐 램프 및 고압방전램프를 수용하기 위해 다수의 소켓(11)이 구비된 다수의 챔버(10);A plurality of chambers 10 having a plurality of sockets 11 for accommodating fluorescent lamps, halogen lamps and high-pressure discharge lamps; 전원 공급을 온/오프시켜주는 전원공급 스위치부(21), 각종 램프 및 안정기를 연결하기 위한 연결단자부(22), 및 각종 램프를 선택하기 위한 램프 선택부(23)를 구비하고, 상기 챔버(10)와 일체로 결합되는 제 1패널부(20);A power supply switch unit 21 for turning on / off a power supply, a connection terminal unit 22 for connecting various lamps and ballasts, and a lamp selector 23 for selecting various lamps; 10) the first panel unit 20 is integrally coupled with; 안정기의 램프전류 및 단락전류 측정 시 부하선택에 의하여 램프에 규정된 저항값을 설정하는 더미로드 저항 선택부(36), 시험할 대상을 선택하여 1차측 전압 및 전류, 2차측 전압 및 전류, 단락전류를 측정할 수 있도록 한 측정 선택부(37), 상기 PLC 제어부(100) 및 환기팬의 온/오프를 제어하도록 구비된 스위치부 (38), 상기 다채널 조명장치의 입력 전압을 조정하는 입력전압조정부(39), 상기 고압방전램프 및 안정기의 수명시험을 하기 위한 단속시험부(40) 및 상기 다채널 조명검사장치의 입력 전압 및 전류를 표시해주는 표시부(41)를 구비하며, 상기 챔버(10)와 일체로 결합되는 제 2패널부(35); 및When measuring lamp current and short circuit current of the ballast, the dummy load resistance selector 36 which sets the resistance value specified in the lamp by load selection, and the target to be tested are selected as the primary side voltage and current, secondary side voltage and current, and short circuit. Measurement selection unit 37 to measure the current, the PLC control unit 100 and the switch unit 38 provided to control the on / off of the ventilation fan, input for adjusting the input voltage of the multi-channel lighting device The voltage adjusting unit 39, the intermittent test unit 40 for the life test of the high-pressure discharge lamp and ballast and the display unit 41 for displaying the input voltage and current of the multi-channel lighting test device, the chamber ( A second panel portion 35 integrally coupled with the second portion 10; And 상기 제 1패널부(20) 및 제 2패널부(35)에 구비된 입력버튼들의 선택에 따라 동작을 하도록 제어하는 PLC 제어부(100);를 포함하는 것을 특징으로 하는 다채널 조명검사장치.And a PLC control unit (100) for controlling the operation according to the selection of the input buttons provided in the first panel unit (20) and the second panel unit (35). 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 챔버(10), 제 1패널부(20) 및 제 2패널부(35)와 일체로 결합되고, 시험공구들을 놓고 작업할 수 있는 작업대(60);가 더 구비됨을 특징으로 하는 다채널 조명검사장치.Multi-channel lighting, characterized in that it further comprises; a workbench 60, which is integrally coupled with the chamber 10, the first panel unit 20 and the second panel unit 35, and can work on the test tools Inspection device. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 작업대(60)와 일체로 결합되고, 상기 작업대(60)를 지지해주기 위해 다수의 지지대(70)가 구비됨과 아울러 그 하단에는 용이하게 이동할 수 있도록 다수의 바퀴(75)를 갖는 받침수단(80);이 더 구비됨을 특징으로 하는 다채널 조명검사장치.Supporting means 80 having a plurality of wheels 75 to be integrally coupled with the work table 60, a plurality of support 70 is provided to support the work table 60 and to be easily moved at the bottom thereof. Multi-channel lighting inspection device characterized in that it is further provided. 삭제delete 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 전원공급 스위치부(21)는 상기 다채널 조명검사장치의 전원을 온/오프시켜주는 전원스위치(24); 및The power supply switch unit 21 is a power switch 24 for turning on / off the power of the multi-channel lighting test device; And 상기 전원스위치(24)가 온 되었을 때 외부로부터 전원을 공급해주기 위해 전기적으로 연결되어 있는 복수의 콘센트(25);로 구비됨을 특징으로 하는 다채널 조명검사장치.And a plurality of outlets (25) electrically connected to supply power from the outside when the power switch (24) is turned on. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 연결단자부(22)는 고압방전램프 또는 할로겐 램프를 시험할 경우 안정기를 연결하기 위한 안정기 입ㆍ출력 콘넥터(26)(27);The connecting terminal portion 22 includes ballast input and output connectors 26 and 27 for connecting the ballast when the high voltage discharge lamp or the halogen lamp is tested; 상기 고압방전램프 또는 할로겐 램프를 외부에서 별도로 점등시킬 시 결합하기 위한 콘넥터(28);A connector 28 for coupling when the high-pressure discharge lamp or the halogen lamp is turned on separately from the outside; 형광램프를 시험할 경우 안정기를 연결하기 위한 입력 콘넥터(29);An input connector 29 for connecting a ballast when the fluorescent lamp is tested; 상기 안정기를 연결하기 위해 3개의 터미널 단자가 구비된 스타트식 전용 단자박스(30); 및A start-type dedicated terminal box 30 having three terminal terminals for connecting the ballast; And 상기 안정기를 연결하기 위해 두 쌍의 터미널 단자가 구비된 래피드 및 반도체 스타트식 전용 단자박스(31);로 구비됨을 특징으로 하는 다채널 조명검사장치.Multi-channel lighting inspection device, characterized in that it comprises ;; and a rapid start and a semiconductor start type terminal box 31 having two pairs of terminal terminals for connecting the ballast. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 램프 선택부(23)는 형광램프들을 선택하기 위한 형광램프 선택 스위치부(32);The lamp selector 23 includes a fluorescent lamp selector switch 32 for selecting fluorescent lamps; 할로겐 램프들을 선택하기 위한 할로겐 램프 선택 스위치부(33); 및A halogen lamp selector switch 33 for selecting halogen lamps; And 고압방전램프들을 선택하기 위한 고압방전램프 선택 스위치부(34);가 구비됨을 특징으로 하는 다채널 조명검사장치.And a high pressure discharge lamp selection switch unit (34) for selecting the high pressure discharge lamps. 삭제delete 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 더미로드 저항 선택부(36)는 램프에 규정된 저항값을 설정하여 선택하기 위한 선택스위치(42); 및The dummy load resistance selector 36 includes a selection switch 42 for setting and selecting a resistance value defined in a lamp; And 상기 선택스위치(42)에 의해 순차적으로 점등되는 다수개의 표시램프(43);가 구비됨을 특징으로 하는 다채널 조명검사장치.And a plurality of display lamps (43) which are sequentially turned on by the selection switch (42). 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 측정 선택부(37)는 시험할 램프들을 선택하는 램프선택버튼(43);The measurement selector 37 includes a lamp selection button 43 for selecting lamps to be tested; 상기 램프선택버튼(43)의 선택에 따라 디스플레이해주는 표시램프(44); 및A display lamp 44 for displaying according to the selection of the lamp selection button 43; And 상기 각각의 램프들에 따라 1차전압 및 전류, 2차 전압 및 전류, 단락전류를 측정할 수 있는 측정선택버튼(45);이 구비됨을 특징으로 하는 다채널 조명검사장치.And a measurement selection button (45) for measuring primary voltage and current, secondary voltage and current, and short circuit current according to each of the lamps. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 스위치부(38)는 PLC 제어부(100)에 공급되는 전원을 온/오프하기 위한 PLC 전원스위치(46); 및The switch unit 38 includes a PLC power switch 46 for turning on / off the power supplied to the PLC control unit 100; And 램프들의 점등시 각 챔버(10)의 내부에 공기를 순환시키는 환기팬을 작동시키기 위한 작동스위치(48);가 구비됨을 특징으로 하는 다채널 조명검사장치.And an operation switch (48) for operating a ventilation fan that circulates air in each chamber (10) when the lamps are turned on. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 입력전압조정부(39)는 램프들에 입력되는 전압을 조정하기 위한 주조정버튼(49); 및The input voltage adjusting unit 39 includes a main adjusting button 49 for adjusting a voltage input to the lamps; And 상기 입력전압을 좀더 세부적으로 조정하기 위한 미세조정버튼(50);이 구비됨을 특징으로 하는 다채널 조명검사장치.And a fine adjustment button (50) for adjusting the input voltage in more detail. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 단속시험부(40)는 램프 및 안정기의 수명시험시 온/오프시간을 조정하기 위한 타이머(51);The intermittent test unit 40 includes a timer 51 for adjusting the on / off time during the life test of the lamp and ballast; 상기 타이머(51)의 온/오프시간에 따라 단속된 횟수를 표시하기 위한 카운터 (52);A counter 52 for displaying the number of times of interruption according to the on / off time of the timer 51; 상기 타이머(51)의 전원을 온/오프하기 위한 타이머 전원스위치(53);A timer power switch 53 for turning on / off the power of the timer 51; 상기 카운터(52)를 리셋시키기 위한 카운터 리셋스위치(54); 및A counter reset switch 54 for resetting the counter 52; And 다른 기구를 접속시키기 위한 예비출력단자(55);가 구비됨을 특징으로 하는 다채널 조명검사장치.And a preliminary output terminal (55) for connecting another apparatus.
KR10-2001-0058265A 2001-09-20 2001-09-20 Device for lamp examination KR100427211B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0058265A KR100427211B1 (en) 2001-09-20 2001-09-20 Device for lamp examination

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0058265A KR100427211B1 (en) 2001-09-20 2001-09-20 Device for lamp examination

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20030025399A KR20030025399A (en) 2003-03-29
KR100427211B1 true KR100427211B1 (en) 2004-04-30

Family

ID=27724898

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2001-0058265A KR100427211B1 (en) 2001-09-20 2001-09-20 Device for lamp examination

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100427211B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102505635B1 (en) 2022-08-22 2023-03-02 최형준 Frame structure for emergency lighting inspection

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8705023B2 (en) 2010-03-22 2014-04-22 Lg Innotek Co., Ltd. Testing apparatus and method for testing light emitting diode lamp
KR101039652B1 (en) 2010-03-22 2011-06-09 엘지이노텍 주식회사 Method for moving test apparatus of light emitting diode lamp
KR101991748B1 (en) * 2015-07-14 2019-06-21 이창우 Control apparatus for light emitting diod light
KR102011142B1 (en) 2019-04-06 2019-08-14 김정찬 Multifunctional led lighting inspectin device
CN113776776A (en) * 2021-09-06 2021-12-10 朗戈智能系统(上海)有限公司 General type lamps and lanterns detect controller
CN115219741A (en) * 2022-04-18 2022-10-21 浙江双宇电子科技有限公司 A test jig for lamps and lanterns multi-scheme detects

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04348258A (en) * 1991-05-27 1992-12-03 Kowa Co Multi-channel optical measuring device
KR19990061773A (en) * 1997-12-31 1999-07-26 손욱 Phosphor Optical Characteristic Measuring Device
KR20000066408A (en) * 1999-04-16 2000-11-15 김순택 Apparatus for measuring characteristics of fluorescent material
KR20010060261A (en) * 1999-11-05 2001-07-06 추후 Method and apparatus for monitoring the light emitted from an illumination apparatus for an optical measuring instrument

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04348258A (en) * 1991-05-27 1992-12-03 Kowa Co Multi-channel optical measuring device
KR19990061773A (en) * 1997-12-31 1999-07-26 손욱 Phosphor Optical Characteristic Measuring Device
KR20000066408A (en) * 1999-04-16 2000-11-15 김순택 Apparatus for measuring characteristics of fluorescent material
KR20010060261A (en) * 1999-11-05 2001-07-06 추후 Method and apparatus for monitoring the light emitted from an illumination apparatus for an optical measuring instrument

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102505635B1 (en) 2022-08-22 2023-03-02 최형준 Frame structure for emergency lighting inspection

Also Published As

Publication number Publication date
KR20030025399A (en) 2003-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100427211B1 (en) Device for lamp examination
CN202255835U (en) Aging life testing system for light source
JP2020098793A (en) System and method for inspecting and characterizing led lighting device
CN204649942U (en) A kind of LED lamp proving installation
CN114062787A (en) Circuit quality detection device for electric circuit
US6972570B2 (en) Quick-connect ballast testing and monitoring method and apparatus
CN218585226U (en) Shelter power station switch board detection device
US6664790B2 (en) Automated diagnostic tester for HID lamp luminaires
CN201600237U (en) Light source test device
CN110133542A (en) Lamp source screening plant, system and screening technique
Sperling et al. Multiple transfer standard for calibration and characterization of test setups for LED lamps and luminaires in industry
CN103837757A (en) Ballast testing method and device
US6097191A (en) Testing high intensity discharge lamp fixtures
CN109507562B (en) Circuit board and method for lamp bead aging experiment
Miller et al. NIST spectrally tunable lighting facility for color rendering and lighting experiments
KR101965984B1 (en) Multi-tester
US3774234A (en) Servicing apparatus for heating/cooling systems
CN213545683U (en) Electric power teaching experiment demonstration device
CN213240433U (en) Auxiliary device for checking high-efficiency relay
Tabaka et al. Analysis of electrical parameters of light sources used by household and municipal customers
CN219915897U (en) LED aging testing device
CN214040586U (en) Fool-proof steering lamp test equipment
CN213023407U (en) Full-automatic inspection machine for filter
CN218886463U (en) Temperature controller checking instrument for dry type transformer
CN112207058A (en) Chip screening device and method

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120403

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee