KR20000050362A

KR20000050362A - 지터 측정회로

Info

Publication number: KR20000050362A
Application number: KR1019990000182A
Authority: KR
Inventors: 김기열; 김영부; 김영창
Original assignee: 윤종용; 삼성전자 주식회사
Priority date: 1999-01-07
Filing date: 1999-01-07
Publication date: 2000-08-05

Abstract

본 발명의 목적은 측정신호의 비 천이구간에서는 측정신호와 기준신호를 비교하고, 측정신호의 천이 구간에서는 클럭과 기준신호를 비교한 후, 그 비교 결과에 의해 측정신호의 지터를 측정하는 지터 측정회로를 제공함에 있다. 이와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위한 수단은 측정신호의 비 천이 구간에서는 측정신호와 기준신호를 비교하고, 그 측정신호의 천이 구간에서는 클럭과 기준신호를 비교하는 비교부와, 상기 클럭을 카운팅하고, 그 카운팅값이 기 설정된 상기 측정신호의 주기에 해당되는 기준값과 동일할 경우, 인에이블신호를 발생하는 제1 프로그래머블 카운터와, 상기 제1 프로그래머블 카운터에서 발생되는 인에이블신호에 의해 상기 비교부에서 출력되는 비교 결과신호를 저장하는 메모리와, 상기 측정신호의 주기를 카운팅하고, 그 카운팅값이 기 설정된 기준값과 동일한 경우에 상기 비교부를 디세이블시키는 제2 프로그래머블 카운터를 포함하여 구성된다.

Description

지터 측정회로{JITTER MEASURING CIRCUIT}

본 발명은 지터 측정회로에 관한 것으로, 특히 측정신호의 비 천이구간에서는 측정신호와 기준신호를 비교하고, 측정신호의 천이 구간에서는 클럭과 기준신호를 비교한 후, 그 비교 결과에 의해 측정신호의 지터를 측정하는 지터 측정회로에 관한 것이다.

모든 디바이스의 출력신호를 분석해 보면 여러 가지 형태로 나타나지만, 공통적으로 흔들림, 즉 지터를 수반하고 있다. 또한, 그러한 지터는 디바이스의 출력신호를 공급받는 시스템에 영향을 주는 경우가 많이 있다. 그러므로, 테스트에서 미리 검사 항목으로 지정하여 선별을 해줄 필요가 있으나, 현재 지터를 측정하기 위해서는 일부 장비에만 구비된 옵션을 선택하여 지터를 측정하였다. 따라서, 지터의 측정에 어려움이 있었다.

그 특정 옵션은 여러 가지 종류의 혼합 테스트 장비가 갖는 TJD(Time Jitter Digitizer)라는 지터를 측정할 수 있는 옵션이다. 그러나, 그 TJD는 혼합 시스템의 일부 고가의 장비에만 구비되어 있어서 범용으로 사용할 수 없고, 굳이 사용하기 위해서는 그 TJD가 구비된 장비에 테스트가 몰리는 현상이 발생되어 생산성에서도 효율이 떨어지는 문제점이 있다.

따라서, 본 발명의 목적은 측정신호의 비 천이구간에서는 측정신호와 기준신호를 비교하고, 측정신호의 천이 구간에서는 클럭과 기준신호를 비교한 후, 그 비교 결과에 의해 측정신호의 지터를 측정하는 지터 측정회로를 제공함에 있다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 지터 측정회로도.

도 2a 내지 도 2c는 도 1에서의 각 부분의 입출력 파형도.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

1 : 비교기2,4 : 프로그래머블 카운터

3 : DSIO

이와같은 본 발명의 목적을 달성하기 위한 수단은 측정신호의 비 천이 구간에서는 측정신호와 기준신호를 비교하고, 그 측정신호의 천이 구간에서는 클럭과 기준신호를 비교하는 비교부와, 상기 클럭을 카운팅하고, 그 카운팅값이 기 설정된 상기 측정신호의 주기에 해당되는 기준값과 동일할 경우, 인에이블신호를 발생하는 제1 프로그래머블 카운터와, 상기 제1 프로그래머블 카운터에서 발생되는 인에이블신호에 의해 상기 비교부에서 출력되는 비교 결과신호를 저장하는 메모리와, 상기 측정신호의 주기를 카운팅하고, 그 카운팅값이 기 설정된 기준값과 동일한 경우에 상기 비교부를 디세이블시키는 제2 프로그래머블 카운터를 포함하여 구성된다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 기술을 상세하게 설명하면 다음과 같다.

도 1 은 본 발명의 실시예에 따른 지터 측정회로를 도시한 것이다.

도 1에 도시된 바와같이, 본 발명의 실시예에 따른 지터 측정회로는 측정신호(Vin)의 로우(low)구간 또는 하이(high)구간에서는 측정신호(Vin)와 기준신호(Vref)를 비교하고, 그 측정신호(Vin)의 천이 구간에서는 클럭(Vclock)과 기준신호(Vref)를 비교하는 비교부(1)와, 상기 클럭(Vclock)을 카운팅하고, 그 카운팅값이 기 설정된 상기 측정신호(Vin)의 주기에 해당되는 기준값과 동일할 경우, 인에이블신호를 발생하는 프로그래머블 카운터(2)와, 상기 프로그래머블 카운터(2)에서 발생되는 인에이블신호에 의해 상기 비교부(1)에서 출력되는 비교 결과신호를 저장하는 메모리인 DSIO(Digital Signal Input Output)(3)와, 상기 측정신호(Vin)의 주기를 카운팅하고, 그 카운팅값이 기 설정된 기준값과 동일한 경우에 상기 비교부(1)를 디세이블시키는 프로그래머블 카운터(4)로 구성된다.

이와같이 구성된 본 발명의 실시예에 따른 지터 측정회로의 동작을 도 2a 내지 도 2c를 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.

먼저, 도 2a에 도시된 바와같이, 측정신호(Vin)는 설명을 용이하게 하기 위해서 측정신호(Vin)가 로우레벨에서 하이레벨로 천이되는 경우에만 지터(J1),(J2)가 발생되는 것으로 한다. 기준 신호(Vref)는 측정신호(Vin)의 중간 레벨로 설정된다.

도 2a에 도시된 지터(J1)를 갖는 한 주기(T1)의 측정신호(Vin)가 비교부(1)에 입력되고, 도 2b에 도시된 한 주기(T1)의 클럭(Vclock)이 인에이블단자에 입력되면, 그 비교부(1)는 상기 측정신호(Vin)가 로우레벨에서 하이레벨로 천이되는 구간(t1) 즉, 지터(J1)가 발생되는 구간(t1)에서는 그 클럭(Vclock)과 기준신호(Vref)를 비교한 후, 도 2c에 도시된 구간(t1)의 하이레벨 및 로우레벨의 비교 결과신호를 출력하게 된다.

그리고, 상기 비교부(1)는 나머지 구간(T1-t1)에서는 측정신호(Vin)와 기준신호(Vref)를 비교한 후, 도 2c에 도시된 구간(T1-t1)에서 하이레벨 및 로우레벨의 비교결과신호를 출력하게 된다.

프로그래머블 카운터(2)는 도 2b에 도시된 한 주기(T1)의 상기 클럭(Vclock)을 카운팅하고, 그 카운팅값이 기 설정된 상기 측정신호(Vin)의 한 주기(T1)에 해당되는 기준값과 동일한 경우에 인에이블신호를 발생하여 출력하게 된다.

예를 들면, 상기 측정신호(Vin)의 주파수가 1KHz이고, 상기 클럭(Vclock)의 주파수가 100KHz인 경우에, 상기 프로그래머블 카운터(2)는 상기 한 주기(T1)의 측정신호(Vin)가 로우(low)인 구간에서 51개의 로우레벨의 클럭을 카운팅하고, 하이(high)인 구간에서 49개의 하이레벨의 클럭을 카운팅한다. 그 카운팅값과 기 설정된 기준값과 동일한 경우에 인에이블신호를 발생하여 출력하게 된다.

메모리인 DSIO(3)는 상기 프로그래머블 카운터(2)로부터 출력되는 인에이블신호에 의해서 인에이블되어 상기 비교부(1)로부터 출력되는 한 주기(T1)의 비교 결과신호를 저장한다.

이어서, 다음 주기(T2)의 측정신호(Vin)와 클럭(Vclock)이 비교부(1)에 입력되면, 상기 비교부(1)는 기 설명한 바와같이 동작하여 도 2c에 도시된 주기(T2)를 갖는 비교 결과신호를 출력하게 된다.

프로그래머블 카운터(2)는 도 2b에 도시된 다음 주기(T2)를 갖는 클럭(Vclock)을 카운팅하고, 그 카운팅값이 기 설정된 상기 측정신호(Vin)의 다음 주기(T2)에 해당되는 기준값과 동일한 경우에 인에이블신호를 출력하게 된다.

예를 들면, 상기 측정신호(Vin)의 주파수가 1KHz이고, 상기 클럭(Vclock)의 주파수가 100KHz인 경우에, 상기 프로그래머블 카운터(2)는 다음 주기(T2)의 측정신호(Vin)가 로우(low)인 구간에서 48개의 로우레벨의 클럭을 카운팅하고, 하이(high)인 구간에서 52개의 하이레벨의 클럭을 카운팅한다. 그 카운팅값과 기 설정된 기준값을 비교한 후, 동일한 경우 인에이블신호를 출력하게 된다.

상기 DSIO(4)는 기 설명한 동작을 반복 실행하게 된다.

한편, 프로그래머블 카운터(4)는 상기 측정신호(Vin)를 입력받아 그 측정신호(Vin)의 주기를 카운팅하고, 그 카운팅값이 기 설정된 기준값과 동일한 경우에 디세이블신호를 발생하여 상기 비교부(1)를 디세이블시키게 된다.

따라서, 상기 비교부(1)는 상기 프로그래머블 카운터(4)에 의해 디세이블되기 전까지 기 설명한 동작을 반복 실행하게 되는 것이다.

이와같이, 상기 DSIO(3)에 저장된 신호의 표준편차를 구하고, 그 구한 표준편차를 상기 클럭(Vclock)의 주파수로 나눈 후, 그 평균값을 구하면, 매 주기마다 지터를 구할 수 있다.

이와같은 본 발명은 일부 장비에 국한 되어있는 특정 테스트 장비에 구비된 TJD 옵션의 사용을 배제할 수 있고, 혼합 장비 자체도 범용으로 사용할 수 있도록 하여 측정이 곤란했던 지터를 측정할 수 있음으로써, 보다 정확한 테스트 데이터 산출할 수 있고, 일부 장비에 테스트가 몰리지 않아 범용으로 테스트 장비를 사용할 수 있어 생산성 향상도 기대할 수 있는 효과가 있다.

Claims

측정신호의 비 천이 구간에서는 측정신호와 기준신호를 비교하고, 그 측정신호의 천이 구간에서는 클럭과 기준신호를 비교하는 비교부와;

상기 클럭을 카운팅하고, 그 카운팅값이 기 설정된 상기 측정신호의 주기에 해당되는 기준값과 동일할 경우, 인에이블신호를 발생하는 제1 프로그래머블 카운터와;

상기 제1 프로그래머블 카운터에서 발생되는 인에이블신호에 의해 상기 비교부에서 출력되는 비교 결과신호를 저장하는 메모리와;

상기 측정신호의 주기를 카운팅하고, 그 카운팅값이 기 설정된 기준값과 동일한 경우에 상기 비교부를 디세이블시키는 제2 프로그래머블 카운터를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 지터 측정회로.