KR20000021262A

KR20000021262A - Open/short tester

Info

Publication number: KR20000021262A
Application number: KR1019980040278A
Authority: KR
Inventors: 최경우
Original assignee: 손욱; 삼성에스디아이 주식회사
Priority date: 1998-09-28
Filing date: 1998-09-28
Publication date: 2000-04-25

Abstract

PURPOSE: An open/short tester is provided to increase a test reliability, protect an electrode in a test process, and quickly perform a test process by quickly measuring a current value and comparing the measured current value with a reference value and testing an open or short portion of an electrode. CONSTITUTION: An optical source(24) covers a width of a substrate, and is separated and installed with the substrate(12) at a certain interval. The optical source(24) is operated according to the length direction of the substrate(12) at a uniform speed. A sensing unit(23) for sensing a plurality of lights such as a photo diode is separated and installed at the optical source(24). A current meter(26) senses a current signal generated in the sensing unit(23) and displays the sensed current signal.

Description

Open / short tester

본 발명은 플라즈마 표시장치의 전극을 검사하는 오픈/쇼트 테스터에 관한 것으로, 더 상세하게는 비접촉식으로 플라즈마 표시장치의 전극의 검사가 가능한 오픈/쇼트 테스터에 관한 것이다.The present invention relates to an open / short tester for inspecting an electrode of a plasma display device, and more particularly, to an open / short tester for inspecting an electrode of a plasma display device in a non-contact manner.

플라즈마 표시 장치(PDP/Plasma Display Panel)는, 표시 용량, 휘도, 콘트라스트 및 시야각 등의 표시 성능이 우수하여, 음극선관(Cathode Ray Tube)의 성능에 근접되는 평판형 표시 패널로서 주목받고 있다. 이러한 일반적인 플라즈마 표시 장치는 적어도 한 쌍 이상의 전극을 구비하며, 이 전극에 전압이 인가될 때 방전을 일으킨다.Plasma display panels (PDPs / Plasma Display Panels) are attracting attention as flat panel display panels that exhibit excellent display performance such as display capacity, brightness, contrast, and viewing angle, and are close to the performance of cathode ray tubes. Such a general plasma display device includes at least one pair of electrodes, and generates a discharge when a voltage is applied to the electrodes.

또한 상기 플라즈마 표시장치는 상기 전극들의 구성 형태에 따라 대향 방전형 및 면 방전형으로 대별될 수 있다.In addition, the plasma display device may be roughly classified into a counter discharge type and a surface discharge type according to the configuration of the electrodes.

먼저, 대향 방전형 플라즈마 표시소자는, 단위 화소마다 어드레싱 전극 및 주사용 전극이 대향되게 마련되어 있다. 그리고 면 방전형 플라즈마 표시소자는 단위 화소마다 상기 어드레싱 전극에 대향되는 주사 전극 및 공통(Common) 전극이 마련되어 있다.First, in the counter discharge type plasma display device, the addressing electrode and the scanning electrode are provided to face each unit pixel. In the surface discharge plasma display device, a scan electrode and a common electrode which face the addressing electrode are provided for each unit pixel.

상술한 플라즈마 표시장치를 제작하는 공정에서 상기 전극의 오픈/쇼트를 검사하는 종래의 오픈/쇼트 테스터의 일예가 도 1에 도시되어 있다.An example of a conventional open / short tester for inspecting the open / short of the electrode in the process of manufacturing the plasma display device described above is shown in FIG. 1.

상기 도면을 참조하면, 플라즈마 표시 장치는 기판(12)과, 상기 기판(12) 위에 형성된 주사 전극(11)을 포함하여 구성된다.Referring to the drawing, the plasma display device includes a substrate 12 and a scan electrode 11 formed on the substrate 12.

상술한 플라즈마 표시소자를 검사하는 종래의 오픈/쇼트 테스터는 인 써키트 테스터(In Circuit Tester)와 유사한 것으로서, 일 측면에 다수의 구부러진 측정 단자(14)가 설치된 단자홀딩치구(13)가 기판(12)에 형성된 전극(11)의 양단부에 설치되어 이루어진다.The conventional open / short tester for inspecting the above-described plasma display device is similar to an in-circuit tester, and the terminal holding fixture 13 provided with a plurality of bent measurement terminals 14 on one side thereof has a substrate 12. It is provided at both ends of the electrode 11 formed in the).

이러한 종래의 오픈/쇼트 테스터는 다수의 전극(11) 중에서 전극(11)의 중간에서 끊어진 오픈부위(O)와, 측면의 인접한 전극(11)에 통전되도록 전극(11)의 중간 부위가 상호 연결된 쇼트부위(S)를 찾아내기 위하여 일일이 각각의 전극(11)의 단부에서 다수의 측정 단자(14)를 그 표면에 접촉시켜서 전류계(미도시)에서 나타나는 전류값을 읽어서 확인한다.Such a conventional open / short tester has an open portion O broken in the middle of the electrode 11 among the plurality of electrodes 11 and an intermediate portion of the electrode 11 connected to each other so as to be energized by the adjacent electrode 11 on the side. In order to find the short region S, a plurality of measurement terminals 14 are contacted with their surfaces at the end of each electrode 11 and checked by reading the current value indicated by an ammeter (not shown).

그러나 종래의 오픈/쇼트 테스터는, 측정 단자(14)와 전극(11)의 물리적인 접촉으로 인한 전극(11)의 손상을 가져오는 문제점과, 상기 측정 단자(14)가 상기 전극(11)에 접촉되는 접촉력의 차이에 의해 전류값이 부정확하게 측정되는 문제점 및 상기 전극(11)에 접촉되는 다수개의 측정 단자(14)를 정밀하게 정렬하기 힘든 문제점을 가지고 있다.However, the conventional open / short tester has a problem in that the electrode 11 is damaged due to the physical contact between the measuring terminal 14 and the electrode 11, and the measuring terminal 14 The current value is measured incorrectly due to the difference of the contact force which is in contact, and it is difficult to precisely align the plurality of measurement terminals 14 in contact with the electrode 11.

또한 종래의 오픈/쇼트 테스터는 기판(12)의 설계 변경에 따라 측정 단자(14)의 길이, 간격 등이 달라져야 하므로 측정 단자(14)를 별도로 준비해야하므로 원가의 상승, 교체시 추가공정의 소요 등의 문제점이 있다.In addition, in the conventional open / short tester, the measurement terminal 14 needs to be prepared separately because the length and the interval of the measurement terminal 14 need to be changed according to the design change of the substrate 12. There is such a problem.

본 발명이 이루고자하는 기술적 과제는 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로, 비접촉으로 정확하게 전류값을 측정하고 이를 기준치와 비교하여 전극의 오픈 또는 쇼트부위를 검사하며, 또한 전극을 보호하는 오픈/쇼트 테스터를 제공함에 그 목적이 있다.The technical problem to be solved by the present invention was created to solve the problems described above, and accurately measures the current value in a non-contact manner and compares it with a reference value to check the open or short region of the electrode, and also to protect the open electrode Its purpose is to provide a short tester.

도 1은 종래의 오픈/쇼트 테스터를 개략적으로 도시한 사시도,1 is a perspective view schematically showing a conventional open / short tester,

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 오픈/쇼트 테스터를 개략적으로 도시한 사시도,2 is a perspective view schematically showing an open / short tester according to an embodiment of the present invention;

도 3은 도 2의 Ⅱ-Ⅱ선을 따라 절단하여 본 단면도.3 is a cross-sectional view taken along the line II-II of FIG. 2;

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for main parts of the drawings>

11...전극 12...기판11 electrode 12 substrate

13...단자홀딩치구 14... 단자13 ... Terminal holding fixture 14 ... Terminal

23...감지수단 24...광원23 Means of detection 24 Light source

26...전류계 O...오픈부위26 Ammeter O ... open area

S...쇼트부위S ... short part

상기의 기술적 과제를 달성하기 위하여 본 발명의 오픈/쇼트 테스터는, 기판과, 이 기판의 상면에 소정의 패턴으로 형성된 전극의 오픈 또는 쇼트부위를 검사하는 오픈/쇼트 테스터에 있어서, 광원과; 상기 전극이 형성된 기판을 사이에 두고 상기 광원과 대향하여 설치되는 것으로 상기 광원의 빛을 감지하는 감지수단 및 상기 감지수단에서 발생되는 전류신호를 감지하여 표시하는 표시수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above technical problem, the open / short tester of the present invention includes a substrate and an open / short tester for inspecting open or short portions of electrodes formed in a predetermined pattern on an upper surface of the substrate, including: a light source; It is installed to face the light source with the substrate on which the electrode is formed, characterized in that it comprises a sensing means for sensing the light of the light source and a display means for sensing and displaying the current signal generated by the sensing means.

본 발명에 있어서, 상기 광원은 할로겐 램프인 것을 더 포함하는 것이 바람직하다. 또한 상기 감지수단은 다수의 포토 다이오드가 일렬로 나란하게 배열되어 이루어진 것이 바람직하다.In the present invention, the light source preferably further includes a halogen lamp. In addition, the sensing means is preferably made of a plurality of photodiodes arranged side by side in a row.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 한 바람직한 실시예를 상세하게 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2 및 도3에는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 오픈/쇼트 테스터를 나타내 보였다. 여기에서 앞서 도시된 도면에서와 동일한 참조부호는 동일한 구성요소를 가리킨다.2 and 3 show an open / short tester according to a preferred embodiment of the present invention. Here, the same reference numerals as in the above-described drawings indicate the same components.

상기 도면을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 오픈/쇼트 테스터는, 와이드 플라즈마 표시 장치용의 기판(12)과 이 기판(12)의 상면에 소정의 패턴으로 형성된 전극(11)의 오픈 또는 쇼트부위를 검사하기 위하여 먼저, 플레이턴(Platen)과 같은 긴 원통 형태로 형성되어 상기 기판(12)의 폭을 커버하며 상기 기판(12)과 소정간격 이격되게 설치되고 강한 빛을 내는 광원(24)을 포함한다.Referring to the drawings, the open / short tester according to an embodiment of the present invention, the substrate 12 for the wide plasma display device and the opening of the electrode 11 formed in a predetermined pattern on the upper surface of the substrate 12 Alternatively, in order to inspect the short portion, first, a light source formed in a long cylindrical shape such as a platen to cover the width of the substrate 12 and spaced apart from the substrate 12 by a predetermined distance and emits strong light ( 24).

여기서 상기 광원(24)은 할로겐 램프인 것이 바람직하며 상기 할로겐 램프는, 도시되지는 않았지만 냉각 팬과 같은 강제 냉각수단으로써 냉각되는 것이 바람직하다.Preferably, the light source 24 is a halogen lamp and the halogen lamp is preferably cooled by forced cooling means such as a cooling fan although not shown.

또한 상기 플레이턴형 광원(24)은 상기 기판(12)의 직하방에 소정간격 이격되도록 설치되고 또한 직선장치(미도시)에 의해 일정한 속도로 상기 기판(12)의 길이방향을 따라 작동된다.In addition, the platen light source 24 is installed below the substrate 12 so as to be spaced apart by a predetermined interval and is operated along the longitudinal direction of the substrate 12 at a constant speed by a linear device (not shown).

본 발명의 일 실시예에 따른 오픈/쇼트 테스터는 그 특징부 중의 하나로서, 상기 다수개의 전극(11)이 형성된 기판(12)을 사이에 두고 상기 광원(24)에 대향하여 소정간격 이격되도록 설치되는 것으로 상기 광원(24)의 빛을 감지하는 감지수단(23)을 포함한다. 상기 감지수단(23)은 포토 다이오드(Photo Diode, 23a) 등의 다수개의 고체 촬상소자로 이루어지는 것이 바람직하다. 또한 상기 포토 다이오드(23a)는 50㎛ 이내의 크기인 것이 바람직하다. 또한 상기 감지수단(23)은 다수개의 포토 다이오드(23a)가 일렬로 나란하게 배열되어 이루어진 것이 바람직하다. 여기서 상기 감지수단(23)은 상기 광원(24)의 이동에 대응하여 연동 되어 상기 기판(12)에 대하여 상대운동을 한다. 이러한 연동 작동은 직선장치(미도시) 등에 의하여 수행되는데 상기 직선장치는 산업계 전반적으로 사용되고 있으므로 상세한 설명은 생략한다.The open / short tester according to the exemplary embodiment of the present invention is one of the features, and is installed to be spaced apart from the light source 24 with a substrate 12 having the plurality of electrodes 11 therebetween. It comprises a detection means 23 for detecting the light of the light source 24 to be. The sensing means 23 preferably consists of a plurality of solid-state image pickup devices such as a photo diode (23a). In addition, the photodiode 23a preferably has a size within 50 μm. In addition, the sensing means 23 is preferably made of a plurality of photodiodes 23a are arranged side by side in a row. Here, the sensing means 23 is interlocked relative to the movement of the light source 24 to perform relative movement with respect to the substrate 12. This interlocking operation is performed by a linear device (not shown) and the like, and since the linear device is used throughout the industry, a detailed description thereof will be omitted.

또한 본 발명의 일 실시예에 따른 오픈/쇼트 테스터는 상기 감지수단(23)에서 발생되는 전류신호를 감지하여 나타내는 표시수단으로 사용되는 전류계(26)를 포함한다. 상기 표시수단은 전류신호의 변화를 감지하여 디스플레이 할 수 있는 것이면 어떤 것이든 사용이 가능하다. 또한 상기 전류계의 전류신호를 효과적으로 나타내도록 상기 전류계는 모니터(미도시)에 연결되는 것이 바람직하다.In addition, the open / short tester according to an embodiment of the present invention includes an ammeter 26 used as a display means for detecting and indicating the current signal generated by the sensing means 23. The display means can be used as long as it can detect and display a change in the current signal. In addition, the ammeter is preferably connected to a monitor (not shown) to effectively represent the current signal of the ammeter.

또한 도면에 도시되지는 않았지만 본 발명의 다른 실시예로서 상기 광원(24)을 상호 길이방향을 따라 근접하여 상호 나란하게 다수개 설치하고, 상기 감지수단(23) 또한 상기 광원(24)에 대응하여 나란하게 설치한다. 이 경우는 상기 광원(24)을 이동시키지 않으므로써 검사시간을 더욱 단축할 수 있다.In addition, although not shown in the drawings, as another embodiment of the present invention, a plurality of light sources 24 are installed in parallel with each other in parallel to each other along the longitudinal direction, and the sensing means 23 also corresponds to the light sources 24. Install side by side. In this case, the inspection time can be further shortened by not moving the light source 24.

본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 오픈/쇼트 테스터의 작동을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the open / short tester according to an embodiment of the present invention.

먼저, 상기 광원(24)에 소정의 전압을 인가한다. 상기 전압이 인가된 광원(24)은 강한 빛을 발하게 된다. 다음으로 미도시된 구동모터에 의해 구동되는 직선장치에 의해 상기 광원(24)과 상기 감지수단(23)이 연동 되어 버스 및 어드레스 전극이 형성되어 있는 기판(12) 전체를 화살표를 따라 스캐닝하게 되면 상기 광원(24)의 강한 빛은 상기 기판(12)을 관통하거나 전극(11)에 의해 차단되어 상기 감지수단(23)에 의해 감지된다. 즉, 상기 전극(11)부위의 오픈부위(O)와 쇼트부위(S)를 도달되는 빛에 의해 유기 되는 전류신호로서 전류계(26)에 의해 오픈부위(O)와 쇼트부위(S)가 감지되어 양, 불량이 판정된다.First, a predetermined voltage is applied to the light source 24. The light source 24 to which the voltage is applied emits strong light. Next, when the light source 24 and the sensing means 23 are interlocked by a linear device driven by a driving motor (not shown) to scan the entire substrate 12 on which the bus and the address electrode are formed along an arrow. The strong light of the light source 24 penetrates the substrate 12 or is blocked by the electrode 11 and sensed by the sensing means 23. That is, the open portion O and the short portion S are sensed by the ammeter 26 as a current signal induced by the light reaching the open portion O and the short portion S of the electrode 11 portion. And the defect is determined.

이러한 스캐닝을 통하여 패널 기판(12)의 전면적(全面積)은 다수의 포토 다이오드(23a)로 이루어진 감지수단(23)에 검출된 전류값이 전류계(26) 또는 모니터에 나타내어진다.Through such scanning, the entire area of the panel substrate 12 is displayed on the ammeter 26 or the monitor with the current value detected by the sensing means 23 composed of a plurality of photodiodes 23a.

또한 상기 감지수단(23)에 검출된 전류값이 상기 전류계(26) 또는 모니터에 디스플레이 될 때, 상기 광원(24)의 빛이 기판(12)의 투명한 유리부분에 통과되어 전류값이 크면 예컨대 적색으로, 불투명한 전극부분에서 투과가 차단되어 검출된 전류값이 없으면 예컨대 청색으로 모니터에 나타나게 하여 검사자가 쉽게 구분하여 인식할 수 있게 하는 것이 바람직하다. 이때 상기 색상들은 구분이 잘되는 색이면 어느 것이나 사용이 무방하다.In addition, when the current value detected by the sensing means 23 is displayed on the ammeter 26 or the monitor, when the light of the light source 24 passes through the transparent glass portion of the substrate 12 and the current value is large, for example, red As a result, when there is no current value detected because the transmission is blocked at the opaque electrode part, it is preferable to make it appear in a monitor, for example, in blue so that the inspector can easily recognize it. In this case, any of the colors may be used as long as the color is well distinguished.

또한 디스플레이된 소정의 전류값의 분포를 확인하여, 소정 좌표를 갖는 지점에서 불연속적인 값이 나타나면 예컨대, 오픈부위(O)이면 청색에서 적색으로, 쇼트부위(S)이면 적색에서 청색으로 바뀌도록 하여 이 지점의 좌표를 감지하므로서 상기 좌표의 값을 모니터 상에 나타내도록 한다.In addition, the distribution of the displayed predetermined current value is checked. If a discontinuous value appears at a point having a predetermined coordinate, for example, the open area O changes from blue to red, and if the short area S changes from red to blue. By detecting the coordinates of this point, the value of the coordinates is displayed on the monitor.

이후 검사자는 자세한 전극(11)의 형상이나 의심나는 부분이 있으면 모니터 상에 블록을 지정하여 준 다음, 다시 오픈/쇼트 테스터를 재 스캐닝시켜 그 블록만을 확대하여 모니터에 디스플레이 되게 하여 검사자에게 자세한 정보를 준다.After that, the inspector designates a block on the monitor if there is a shape or a doubtful part of the electrode 11, and then rescans the open / short tester again to enlarge only the block to be displayed on the monitor. give.

이러한 방법으로 오픈/쇼트 테스터가 좌표값을 디스플레이 해주면 검사자는 이 지점을 찾아서 수리를 하게된다.In this way, the open / short tester displays the coordinates and the inspector finds the point and repairs it.

한편, 스캐닝이 끝난 상기 광원(24)과 상기 감지수단(23)은 홈 위치로 복귀되고 다음 롯드의 패널 기판(12)을 검사하도록 대기하게 된다.Meanwhile, the light source 24 and the sensing means 23 which have been scanned are returned to the home position and wait to inspect the panel substrate 12 of the next rod.

이상 설명된 바와 같이 본 발명에 따른 오픈/쇼트 테스터는 다음과 같은 효과를 가진다.As described above, the open / short tester according to the present invention has the following effects.

첫째; 패널 전극의 오픈/쇼트부위를 정확한 전류값으로 정확하게 판단하여 검사신뢰도를 높인다.first; The inspection reliability is increased by accurately determining the open / short parts of panel electrodes with the correct current value.

둘째; 검사공정에서 전극을 보호한다.second; Protect the electrode in the inspection process.

셋째; 검사공정을 신속하게 수행한다.third; Perform the inspection process quickly.

넷째; 패널의 사이즈 및 단자의 크기 간격 등의 설계적인 변경에도 무관하게 사용할 수 있어 새로운 투자를 할 필요가 없다.fourth; Design changes such as panel size and terminal size spacing can be used regardless of the need for new investment.

본 발명은 첨부된 도면에 도시된 일 실시 예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것이며, 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 실시 예가 가능하다는 점을 이해 할 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 보호범위는 첨부된 청구범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.Although the present invention has been described with reference to one embodiment shown in the accompanying drawings, this is exemplary and will be understood by those skilled in the art that various modifications and equivalent embodiments are possible. . Therefore, the true scope of protection of the present invention should be defined only by the appended claims.

Claims

In an open / short tester for inspecting the opening and the short part of the board | substrate and the electrode formed in the predetermined pattern on the upper surface of this board | substrate,

A light source;

Sensing means for sensing light of the light source by being installed to face the light source with the substrate on which the electrode is formed; And

And display means for detecting and displaying a current signal generated by the sensing means.

The method of claim 1,

The light source is an open / short tester, characterized in that the halogen lamp.

The method of claim 1,

The sensing means is an open / short tester, characterized in that a plurality of photo diodes are arranged in a line.

The method of claim 3,

The photodiode is an open / short tester, characterized in that the size within 50㎛.

The method of claim 1,

The display means is an open / short tester, characterized in that the ammeter.

The method of claim 1,

The sensing means and the light source is linked to the open / short tester, characterized in that the relative movement with respect to the substrate.