KR20000013418U - Test equipment of base station wireless board in mobile communication system - Google Patents

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송경섭
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서평원
엘지정보통신 주식회사
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Abstract

본 고안은 여러 가지 무선 보드들에 대해서도 통합적으로 사용할 수 있도록하여 테스트 기능의 범위를 확대한 이동통신 시스템에서 기지국용 무선보드의 테스트 장치에 관한 것으로, 시스템 형상의 버스 방식이 병렬 또는 직렬이냐에 따라 병렬 버스 인터페이스 또는 직렬 버스 인터페이스 방식의 커넥터가 적용되는 백보드 인터페이스 접속부 그리고 직렬 버스 인터페이스 방식이 적용되는 시스템 형상일 경우 병렬 버스 신호들을 직렬버스 인터페이스 방식에 맞게 변화시켜주는 직렬버스 인터페이스 블록을 포함하는 확장 테스트 보드와; 무선 보드의 테스트 제어에 필요한 데이터를 저장 출력하는 메모리 블록, 메모리 블록으로 부터 데이터를 읽어오고 필요한 데이터를 저장하는 프로세서, RS 232 인터페이스 방식의 케이블을 이용하여 개인용 컴퓨터와 연결되고 유저가 메인 지그와 통신하는데 사용되는 모니터 포트 그리고 확장 테스트 보드에 커넥터를 통하여 연결되어 병렬 정합 신호들을 상호 전송하는데 이용되는 병렬버스 인터페이스 접속부를 포함하는 메인 지그로 구성된다.The present invention relates to a test apparatus for a wireless board for a base station in a mobile communication system that can be used in a variety of wireless boards to expand the range of test functions, depending on whether the system bus type is parallel or serial Extended test including a parallel bus interface or a backboard interface connection with a serial bus interface connector and a serial bus interface block that changes the parallel bus signals to the serial bus interface scheme in the case of a system configuration with the serial bus interface method. With the board; Memory block that stores and outputs data necessary for test control of wireless board, processor that reads data from memory block and stores necessary data, and is connected to personal computer using RS 232 interface cable and user communicates with main jig. It consists of a main jig that includes a monitor port used to connect to the expansion test board and a parallel bus interface connection used to interconnect parallel matched signals via a connector.

Description

이동통신 시스템에서 기지국용 무선보드의 테스트 장치Test equipment of base station wireless board in mobile communication system

본 고안은 이동통신 무선기지국용 무선보드들의 테스트용 지그에 관한 것으로 특히, 여러 가지 무선 보드들에 대해서도 통합적으로 사용할 수 있도록하여 테스트 기능의 범위를 확대한 이동통신 시스템에서 기지국용 무선보드의 테스트 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a test jig for wireless boards for mobile communication base stations. In particular, a test apparatus for a base station wireless board in a mobile communication system that expands the range of test functions by allowing the integrated use of various wireless boards. It is about.

이하, 첨부된 도면을 참고하여 종래 기술의 이동 통신 시스템에서의 테스트 장치에 관하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a test apparatus in a mobile communication system according to the related art will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 종래 기술의 무선 보드와 지그의 연결 구성도이다.1 is a connection configuration diagram of a wireless board and a jig of the prior art.

그리고 도 2는 종래 기술의 PLL 제어시의 지그 연결 구성도이고, 도 3은 종래 기술의 증폭 이득 제어시의 지그 연결 구성도이다.2 is a jig connection configuration diagram in the conventional PLL control, and FIG. 3 is a jig connection configuration diagram in the amplification gain control in the prior art.

종래 기술의 테스트 장치는 테스트 목적에 따라 별도로 만들어져 필요시 기지국용 무선 보드에 연결시켜 원하는 테스트를 수행한다.The test apparatus of the prior art is made separately according to the test purpose and connected to the base station wireless board if necessary to perform the desired test.

도 1은 무선 보드와 지그의 연결 구성을 나타낸 것으로, 테스트 장치의 일종인 PLL 제어 지그(4)와 이득 제어 지그(3)가 무선 기지국용 주파수 변환 보드(2)와, 주파수 변환 보드(2)를 제어하는 제어 보드(1)에 각각 연결된다.1 shows a connection configuration of a wireless board and a jig, in which a PLL control jig 4 and a gain control jig 3, which is a type of test apparatus, include a frequency conversion board 2 and a frequency conversion board 2 for a wireless base station. It is connected to the control board (1) for controlling each.

여기서, 각 테스트 장치인 테스트 목적에 따라 연결되는 지그는 바뀔 수 있다.Here, the jig to be connected according to the test purpose of each test device may be changed.

그리고 각 블록들의 기능에 대하여 설명하면 다음과 같다.And the function of each block will be described as follows.

먼저, 주파수 변환 보드(2)는 이동 통신 무선 기지국에서 이동통신용 단말기와 통신하기 위한 주파수 (보통 수백 ㎒ ∼ 수 ㎓)를 IQ변조 하기위해 기저대역 주파수로 변환시키는 무선 주파수 상,하향 변환 보드이고, 제어 보드(1)는 주파수 변환 보드(2)를 제어하는 보드로서 보통 프로세서가 내장되어 있으며 병렬 또는 직렬 방식의 인터페이스 사양을 갖고 있다.First, the frequency conversion board 2 is a radio frequency up and down conversion board for converting a frequency (usually hundreds of MHz to several kHz) for communication with a mobile communication terminal in a mobile communication base station to a baseband frequency for IQ modulation. The control board 1 is a board for controlling the frequency conversion board 2, and usually has a built-in processor and has a parallel or serial interface specification.

그리고 이득 제어 지그(3),PLL 제어 지그(4)의 사용은 제어 보드(1)가 오동작 또는 정상적으로 동작하지 않을때를 그 조건으로 하여 사용한다.The use of the gain control jig 3 and the PLL control jig 4 is used under the condition that the control board 1 malfunctions or does not operate normally.

또한, PLL 제어 지그(4)는 도 2에서와 같이, 보통 직렬 데이터 전송 방식을 사용하는 PLL 칩과의 데이터 전송을 위해 8비트의 콘트롤러(8751등)(7)를 사용하고 부수적으로 키패드(6) 및 LCD 모듈(5)을 사용한다.Also, as shown in FIG. 2, the PLL control jig 4 uses an 8-bit controller (8751, etc.) 7 for data transmission with a PLL chip which usually uses a serial data transmission method, and additionally, a keypad 6 ) And the LCD module 5.

그리고 이득 제어 지그(3)는 주파수 변환 보드(2)내의 CDMA 신호 송수신 이득을 제어를 위한 가변 저항(9)을 포함하고 이득 제어 신호를 출력하여 송신/수신 이득 제어 블록(10)을 제어한다.The gain control jig 3 includes a variable resistor 9 for controlling the CDMA signal transmission and reception gain in the frequency conversion board 2 and outputs a gain control signal to control the transmission / reception gain control block 10.

종래의 이동통신 무선기지국용 무선보드 들의 테스트용 지그는 기능별로 각각 분리 구성되며 그 기능에 따른 동작은 다음과 같다.The test jig of the conventional wireless communication base station wireless board is configured separately for each function and the operation according to the function is as follows.

도 2는 PLL 제어시의 지그 연결 구성을 나타낸 것으로, PLL 제어 지그(4)는 8비트 콘트롤러(7)등을 이용하여 주파수 변환 보드(2)의 PLL 블록(8)과 어드레스,직렬 데이터,직렬 클럭,동기 검출 신호등을 주고 받으며 PLL 블록(8)을 제어하고 LOCK상태를 점검한다.Fig. 2 shows a jig connection configuration during PLL control. The PLL control jig 4 uses an 8-bit controller 7 or the like for the PLL block 8 of the frequency conversion board 2 and the address, serial data, and serial. Send and receive clock and synchronous detection signals to control the PLL block (8) and check the lock status.

그리고 도 3은 이득 제어시의 지그 연결 구성을 나타낸 것으로, 이득 제어 지그(3)에서 가변 저항(9)등을 이용하여 송/수신 이득 제어 블록(10)의 제어 전압(보통 0 ∼ 5V)을 발생시켜 주파수 변환 보드(2)로 전달하면 송/수신 이득 제어 블록(10)은 전달받은 제어 전압에 따라 송신 및 수신 전력의 이득을 제어한다.3 shows a jig connection configuration in gain control, and the gain control jig 3 uses a variable resistor 9 or the like to control the control voltage (usually 0 to 5 V) of the transmit / receive gain control block 10. When generated and transferred to the frequency conversion board 2, the transmit / receive gain control block 10 controls the gain of the transmit and receive power according to the received control voltage.

이와 같은 종래 기술의 기지국용 무선 보드의 테스트 장치는 다음과 같은 문제가 있다.Such a test apparatus for a base station radio board of the prior art has the following problems.

첫째, 테스트 확장 기능이 없어 범용성이 없다.First, there is no test extension, so there is no general purpose.

이는 테스트 모드에 따라 다른 종류의 지그를 각각 따로 준비하여야 그 각각의 테스트가 가능하기 때문이다.This is because different types of jigs must be prepared separately according to the test mode so that each test can be performed.

둘째, 무선 보드들의 여러 가지 테스트 기능 중 극히 일부분 밖에 테스트하지 못하여 정확성 및 신뢰성있는 테스트가 불가능하다.Second, only a small portion of the various test functions of wireless boards can be tested, making accuracy and reliability testing impossible.

이는 종래 기술의 테스트 장치가 그 기능이 제한적이기 때문이다.This is because the test apparatus of the prior art has a limited function.

본 고안은 이와 같은 종래 기술의 이동통신 시스템에서의 무선 보드 테스트 장치의 문제를 해결하기 위하여 안출한 것으로, 여러 가지 무선 보드들에 대해서도 통합적으로 사용할 수 있도록하여 테스트 기능의 범위를 확대한 이동통신 시스템에서 기지국용 무선보드의 테스트 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention was devised to solve the problems of the wireless board test apparatus in the conventional mobile communication system, and the mobile communication system that has expanded the scope of the test function by being able to use various wireless boards integrally. In order to provide a test apparatus for a base station wireless board.

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안에 따른 이동통신 시스템에서 기지국용 무선 보드의 테스트 장치는 병렬버스 인터페이스 접속부, 시스템 형상의 버스 방식이 병렬 또는 직렬이냐에 따라 병렬 버스 인터페이스 또는 직렬 버스 인터페이스 방식의 커넥터가 적용되는 백보드 인터페이스 접속부 그리고 직렬 버스 인터페이스 방식이 적용되는 시스템 형상일 경우 병렬 버스 신호들을 직렬버스 인터페이스 방식에 맞게 변화시켜주는 직렬버스 인터페이스 블록을 포함하는 확장 테스트 보드와;무선 보드의 테스트 제어에 필요한 데이터를 저장 출력하는 메모리 블록, 메모리 블록으로 부터 데이터를 읽어오고 필요한 데이터를 저장하는 프로세서, RS 232 인터페이스 방식의 케이블을 이용하여 개인용 컴퓨터와 연결되고 유저가 메인 지그와 통신하는데 사용되는 모니터 포트 그리고 확장 테스트 보드에 커넥터를 통하여 연결되어 병렬 정합 신호들을 상호 전송하는데 이용되는 병렬버스 인터페이스 접속부를 포함하는 메인 지그로 구성되는 것을 특징으로 한다.In the mobile communication system according to the present invention for achieving the above object, the test apparatus of the base station wireless board is a parallel bus interface connector or a connector of a parallel bus interface or a serial bus interface depending on whether the bus type of the system shape is parallel or serial. An extended test board including a back board interface connection to which the serial bus interface is applied and a serial bus interface block for converting the parallel bus signals to the serial bus interface method when the system configuration is applied to the serial bus interface; Memory block that stores and outputs data, Processor that reads data from memory block and stores necessary data, Connects to personal computer using RS 232 interface cable and user communicates with main jig. It is characterized by consisting of a main jig that includes a parallel bus interface connection that is connected via a connector to the monitor port and the extended test board used to mutually transmit parallel matching signals.

도 1은 종래 기술의 무선 보드와 지그의 연결 구성도1 is a connection diagram of a wireless board and a jig of the prior art

도 2는 종래 기술의 PLL 제어시의 지그 연결 구성도2 is a jig connection configuration diagram of a conventional PLL control.

도 3은 종래 기술의 증폭 이득 제어시의 지그 연결 구성도3 is a jig connection configuration diagram of amplification gain control in the prior art;

도 4는 본 고안에 따른 통합 지그의 구성 블록도4 is a block diagram of the integrated jig according to the present invention

도 5는 본 고안에 따른 통합 지그의 연결 구성도5 is a connection diagram of the integrated jig according to the present invention

도면의 주요부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for main parts of the drawings

41. 메인 지그 42. 확장 테스트 보드41. Main Jig 42. Extended Test Board

43. 프로세서 44. 48. 병렬버스 인터페이스 접속부43. Processor 44. 48. Parallel bus interface connection

45. 롬 46. 램45. Romans 46

47. 모니터 포트 49. 백보드 인터페이스 접속부47. Monitor port 49. Backboard interface connection

50. 직렬버스 인터페이스 블록 51. 백 보드50. Serial Bus Interface Block 51. Back Board

52. 송신전력 측정보드 53. 주파수 변환보드52. Transmission power measuring board 53. Frequency conversion board

54. 파워 팩 55. 퍼스널 컴퓨터54. Power Pack 55. Personal Computer

이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 고안에 따른 이동 통신 시스템에서의 기지국용 무선보드의 테스트 장치에 관하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a test apparatus for a base station wireless board in a mobile communication system according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 고안에 따른 통합 지그의 구성 블록도이고, 도 5는 본 고안에 따른 통합 지그의 연결 구성도이다.4 is a configuration block diagram of the integrated jig according to the present invention, Figure 5 is a connection configuration diagram of the integrated jig according to the present invention.

도 4는 본 고안에 따른 통합 지그를 나타낸 것으로, 커넥터에 의해 서로 연결되는 메인 지그(41)와 확장 테스트 보드(42)로 크게 구성된다.4 shows an integrated jig according to the present invention, and is composed of a main jig 41 and an extended test board 42 connected to each other by a connector.

메인 지그(41)는 제어에 필요한 데이터를 저장 출력하는 롬(Read Only Memory;ROM)(45),램(Random Access Memory;RAM)(46)과, 범용의 프로세서로 롬(45)으로 부터 데이터를 읽어오고 필요한 데이터를 램(46)에 저장하는 프로세서(43)와, RS 232 인터페이스 방식의 케이블을 이용하여 개인용 컴퓨터와 연결되고 유저가 메인 지그(41)와 통신하는데 사용되는 모니터 포트(47)와, 확장 테스트 보드(42)에 커넥터를 통하여 연결되어 어드레스,데이터,어드레스 스토로우브,데이터 스토로우브,리드/라이트 스토로우브등으로 구성되는 병렬 정합 신호들을 상호 전송하는데 이용되는 병렬버스 인터페이스 접속부(44)를 포함하여 구성된다.The main jig 41 includes a ROM (Read Only Memory) 45 and a RAM 46 for storing and outputting data required for control, and data from the ROM 45 using a general purpose processor. Processor 43 for reading the data and storing necessary data in RAM 46, and a monitor port 47 that is connected to a personal computer using an RS 232 interface cable and used by the user to communicate with the main jig 41. And a parallel bus interface connected to the extended test board 42 through a connector and used to mutually transmit parallel matching signals including address, data, address stove, data stove, lead / right stove, and the like. The connection part 44 is comprised.

이와 같이 구성된 메인 지그(41)에 연결되는 확장 테스트 보드(42)는 메인 지그(41)의 병렬버스 인터페이스 접속부(44)에 연결되는 다른 병렬버스 인터페이스 접속부(48)와, 시스템 형상의 버스 방식이 병렬 또는 직렬이냐에 따라 병렬 버스 인터페이스 또는 직렬 버스 인터페이스 방식의 커넥터가 적용되는 백보드 인터페이스 접속부(49)와, 직렬 버스 인터페이스 방식이 적용되는 시스템 형상일 경우 병렬 버스 신호들을 직렬버스 인터페이스 방식에 맞게 변화시켜주는 직렬버스 인터페이스 블록(50)을 포함한다.The extended test board 42 connected to the main jig 41 configured as described above is connected to the parallel bus interface connecting part 44 of the main jig 41 and the system bus type system. Depending on whether it is parallel or serial, the backboard interface connector 49 to which the connector of the parallel bus interface or the serial bus interface is applied and the system configuration of the system to which the serial bus interface is applied are changed so that the parallel bus signals are adapted to the serial bus interface method. The main includes a serial bus interface block 50.

여기서, 모니터 포트(47)는 유저가 준비된 지그 프로그램이나 테스트 지그용 ROM 등을 이용하여 메인 지그(41)내의 프로세서(43)와 데이터를 주고 받으며 하위 무선 보드들을 제어하고 컨트롤하는데 이용된다.Here, the monitor port 47 exchanges data with the processor 43 in the main jig 41 using a prepared jig program, a test jig ROM, or the like, and is used to control and control lower wireless boards.

그리고 직렬버스 인터페이스 블록(50)은 병렬 인터페이스 데이터를 직렬 인터페이스 데이터로 변환하여 백보드 인터페이스 접속부(49)로 전달하는데 이용된다. 이를 하드웨어로 구현하는 경우에는 상용 FPGA(Filed Programmable Gate Array) 등을 사용한다.The serial bus interface block 50 is used to convert the parallel interface data into the serial interface data and transmit it to the backboard interface connector 49. When implementing this in hardware, a commercially available FPGA (Filed Programmable Gate Array) is used.

이와 같은 구성을 갖는 본 고안에 따른 이동통신 시스템에서 기지국용 무선보드의 테스트 장치의 테스트 동작을 설명하면 다음과 같다.Referring to the test operation of the test apparatus of the base station wireless board in the mobile communication system having the above configuration as follows.

본 고안에 따른 통합 지그의 연결은 도 5에서와 같이, 메인 지그(41)를 제어 보드 위치에 확장 테스트 보드(42)를 연결하여 구성한다.Connection of the integrated jig according to the present invention is configured by connecting the expansion test board 42 to the main jig 41 in the control board position, as shown in FIG.

그 후에는 퍼스널 컴퓨터(55)를 통해 미리 준비한 JIG용 소프트웨어 프로그램을 사용하여 주파수 변환보드(53) 및 송신전력 측정보드(52) 등을 제어한다.Thereafter, the personal computer 55 controls the frequency conversion board 53, the transmission power measurement board 52, and the like using a JIG software program prepared in advance.

구체적인 테스트 동작은 퍼스널 컴퓨터(55)에서 입/출력되는 어드레스와 데이터는 통합 지그내의 프로세서(43)와 RS232 인터페이스의 직렬 통신 방식으로 주고 받는다.In a specific test operation, the address and data input / output from the personal computer 55 are exchanged with the processor 43 in the integrated jig through a serial communication method of the RS232 interface.

그리고 통합 지그내의 프로세서(43)는 병렬 통신 방식으로 확장 테스트 보드(42)와 정합 되어 신호를 전달하며 확장 테스트 보드(42)는 다시 PCS 또는 IMT2000 등의 각각 형상에 따른 쉘프(Shelf)내 백보드의 엣지 핀(Edge pin)과 정합 되어 백보드(back board)를 통해 주파수 변환보드(53) 및 송신전력 측정보드(52)와 제어신호 및 상태 체크 신호를 주고 받는다.The processor 43 in the integrated jig is matched with the extended test board 42 in a parallel communication manner to transmit a signal, and the extended test board 42 is again connected to the back board in the shelf according to each shape such as PCS or IMT2000. It is matched with an edge pin (Edge pin) and exchanges a control signal and a status check signal with the frequency conversion board 53 and the transmission power measurement board 52 through a back board.

이와 같이 본 고안에 따른 테스트 장치는 각각의 형상을 바탕으로 하여 통합 지그를 통해 다음의 모든 기능 테스트를 수행할 수 있으며 기능 테스트의 종류는 다음과 같다.As described above, the test apparatus according to the present invention can perform all the following functional tests through the integrated jig based on each shape, and the types of the functional tests are as follows.

쉘프 버스 테스트(SHELF BUS TEST),국부발진 록킹 테스트(PLL FREQUENCY SYNTHESIZER LOCKING TEST),비휘발성 메모리 라이트 및 리드 테스트(EEPROM WRITE AND READ TEST),D/A 변환기 요구값 테스트(D/A CONVERTER SET TO DESIRED VALUE TEST),열감지 센서 리드 테스트(THERMAL SENSOR READ TEST), 상태 및 테스트 결과 디스플레이 테스트(STATUS AND TEST RESULT DISPLAY TEST), A/D 및 D/A 변환기의 디버깅 테스트(A/D & D/A CONVERTER DEBUG TEST), 직렬 데이터 디버깅 테스트(SERIAL DATA DEBUG TEST)로 테스트 종류를 나눌 수 있다.SHELF BUS TEST, PLL FREQUENCY SYNTHESIZER LOCKING TEST, EEPROM WRITE AND READ TEST, D / A CONVERTER SET TO DESIRED VALUE TEST), THERMAL SENSOR READ TEST, STATUS AND TEST RESULT DISPLAY TEST, Debugging Test of A / D and D / A Converters (A / D & D / The test types can be divided into A CONVERTER DEBUG TEST and SERIAL DATA DEBUG TEST.

이와 같은 각각의 테스트 기능에 대하여 설명하면 다음과 같다.Each test function as described above is as follows.

먼저, 쉘프 버스 테스트 기능은 통합 지그에서 생성하는 8비트 병렬버스 또는 직렬버스를 통해 데이터 및 어드레스등 신호가 주파수 변환보드(53) 및 송신전력 측정보드(52)에까지 정확히 전달되는지를 점검하는 테스트 기능이다.First, the shelf bus test function checks whether the data and address signals are correctly transmitted to the frequency conversion board 53 and the transmission power measurement board 52 through an 8-bit parallel bus or serial bus generated by the integrated jig. to be.

통합 지그로부터 무선 보드들 간의 버스방식은 병렬 방식이든 직렬 방식이든 상관이 없으며 단, 직렬 방식일 경우 통합 지그내의 프로세서(43)로부터의 병렬 버스 신호들을 직렬로 변환시켜주는 병렬/직렬 변환기와 마찬가지로 무선 보드 내에서의 직렬/병렬 변환기가 추가로 필요하게 된다.The bus method between the integrated jig and the wireless boards may be parallel or serial. However, in the case of the serial type, the wireless bus is similar to the parallel / serial converter which converts the parallel bus signals from the processor 43 in the integrated jig to serial. Additional on-board serial / parallel converters are needed.

이러한 병렬/직렬 변환기와 직렬/병렬 변환기는 범용으로 쓰이는 FPGA(Field Programmable Array) 등을 사용함으로써 구현이 가능하다.Such parallel / serial converters and serial / parallel converters can be implemented by using a field programmable array (FPGA), which is widely used.

실제의 회로 동작은 디지탈 데이터의 최저 값(0x00 : hexadecimal)으로부터 최고 값(0xff : hexadecimal)까지 일정한 간격으로 데이터를 쓰면서 오류가 생성되는 부분을 찾아 수정하는 테스트 기능이다.The actual circuit operation is a test function that finds and corrects an error part by writing data at regular intervals from the lowest value (0x00: hexadecimal) of the digital data to the highest value (0xff: hexadecimal).

그리고 국부발진 록킹 테스트(PLL FREQUENCY SYNTHESIZER LOCKING TEST) 기능은 다음과 같이 테스트 동작을 진행한다.The PLL FREQUENCY SYNTHESIZER LOCKING TEST function performs the test operation as follows.

주파수 변환보드(53)와 송신전력 측정보드(52)내에는 이동 통신 무선 기지국에서 이동통신용 단말기와 통신 하기위한 주파수 (보통 수백 ㎒ ∼ 수 ㎓)를 IQ변조를 하기위한 기저대역 주파수로 변환시키는데 필요한 몇 개의 국부 발진기(PLL FREQUENCY SYNTHESIZER)가 필요한데, 바로 이 국부 발진기의 주파수를 세팅하고 그 록킹(locking)상태를 체크하는 테스트 기능이다.In the frequency conversion board 53 and the transmission power measurement board 52, it is necessary to convert a frequency (typically hundreds of MHz to several kHz) for communicating with a mobile communication terminal in a mobile communication base station to a baseband frequency for IQ modulation. Several local oscillators (PLL FREQUENCY SYNTHESIZER) are required, a test function that sets the frequency of this local oscillator and checks its locking status.

주파수 세팅에 사용되는 데이터 포맷(data format)은 직렬 데이터 포맷을 (serial data format)을 사용하는데, 대표적인 것으로는 IIC방식과 3 WIRE방식의 두 가지가 있다.The data format used for frequency setting uses a serial data format. There are two types of data formats, the IIC method and the 3 WIRE method.

사용되는 PLL 칩은 클럭, 데이터, 인에이블의 3 WIRE 방식을 사용하고 있으며 그 동작은 클럭에 동기되어 데이터가 PLL 칩에 입력되면 최종적으로 인에이블 신호가 제어되어 데이터가 PLL IC 내부의 레지스터에 저장된다.The PLL chip used uses the 3 WIRE method of clock, data, and enable. The operation is synchronized with the clock, and when the data is input to the PLL chip, the enable signal is finally controlled and the data is stored in a register inside the PLL IC. do.

PLL이 록킹되면 PLL IC는 록킹 신호를 발생시키는데 무선 보드 내에 있는 검출회로에서 이 신호를 검출하여 디지탈 데이터로 변환시켜 메인 지그(41)로 전송한다.When the PLL is locked, the PLL IC generates a locking signal, which is detected by a detection circuit in the wireless board, converted into digital data, and transmitted to the main jig 41.

그리고 비휘발성 메모리 라이트 및 리드 테스트(EEPROM WRITE AND READ TEST)는 주파수 변환보드(53)내에서 보드의 이력 등을 기록하기 위하여, 송신 전력 측정보드(52)내에서는 보드 측정(calibration)데이터를 저장하기 위해 EEPROM을 사용하며 이 EEPROM에 데이터를 쓰고 읽는 테스트 기능이다.The nonvolatile memory write and read test stores board calibration data in the transmit power measurement board 52 to record the board history and the like in the frequency conversion board 53. EEPROM is used to test and write data to and read data from this EEPROM.

이 기능도 마찬가지로 직렬 데이터 포맷(serial data format)을 사용하는데 여기서는 IIC 방식의 데이터 포맷을 사용한다.This feature uses the serial data format as well, which uses the IIC data format.

IIC 방식의 데이터 포맷은 직렬 클럭과 직렬 데이터의 두 신호만 사용되며 그 전송 방식은 직렬 클럭이 high 상태일 때 직렬 데이터 신호가 high에서 low로 변환되면 데이터 전송을 시작하고 직렬 클럭이 high 상태일 때 직렬 데이터 신호가 low에서 high로 변환되면 데이터 전송을 정지하는 방식을 사용한다.The data format of the IIC method uses only two signals, serial clock and serial data.The transmission method starts data transmission when the serial data signal is converted from high to low when the serial clock is high and when the serial clock is high. When the serial data signal is converted from low to high, the data transmission is stopped.

그리고 D/A 변환기 요구값 테스트(D/A CONVERTER SET TO DESIRED VALUE TEST)는 주파수 변환 보드에서 CDMA 신호의 송신 출력의 이득 및 수신 신호의 이득을 조정하기위해 사용되는 디지털 신호 감쇄기의 콘트롤 전압을 디지털/아날로그 변환기를 통해 DATA를 변환시키고 그 DATA를 메인 지그(41)를 통해 모니터 화면으로 전송 디스플레이시켜 테스트하는 기능이다.The D / A CONVERTER SET TO DESIRED VALUE TEST is used to digitally control the control voltage of the digital signal attenuator used to adjust the gain of the CDMA signal's transmit output and the received signal on the frequency converter board. It converts the data through the / analog converter and transfers the data to the monitor screen through the main jig 41 for testing.

그리고 열감지 센서 리드 테스트(THERMAL SENSOR READ TEST)는 주파수 변환 보드(53) 및 송신전력 측정 보드(52)에서 온도 변화에 따른 보드 특성을 점검하기 위해 사용되는 온도 센서의 온도 데이터를 읽는 테스트 기능이다.The thermal sensor read test is a test function that reads temperature data of a temperature sensor used to check board characteristics according to temperature change in the frequency conversion board 53 and the transmission power measurement board 52. .

이 기능도 마찬가지로 직렬 데이터 포맷(serial data format)을 사용하는데 여기서는 IIC방식의 데이터 포맷을 사용한다.Similarly, this function uses the serial data format, which uses an IIC data format.

상태 및 테스트 결과 디스플레이 테스트(STATUS AND TEST RESULT DISPLAY TEST)는 주파수 변환 보드(51) 및 송신전력 측정 보드(52)내의 국부 신호 발생기의 기준 신호로 쓰이는 10㎒의 신호 존재 여부를 알려주고 국부 신호 발생기의 록킹상태, 무선보드 자체의 FAIL상태 점검 및 병렬 버스의 상태를 알려주고 그 상태의 디스플레이를 점검하는 테스트 기능이다.The status and test result display test (STATUS AND TEST RESULT DISPLAY TEST) indicates the presence or absence of a signal of 10 MHz which is used as a reference signal of the local signal generator in the frequency conversion board 51 and the transmission power measurement board 52. It is a test function that informs the locking status, checks the fail status of the wireless board itself and the status of the parallel bus and checks the display of the status.

10㎒의 신호존재여부나 국부 신호 발생기의 록킹 상태는 각각의 검출 회로에서 검출된 데이터를, 무선보드 자체의 FAIL상태는 해당하는 DATA를 모니터 화면에 디스플레이하여 데이터의 송신/수신 포트가 정상적으로 동작하는지를 점검한다.The presence of a 10 MHz signal or the locking state of the local signal generator displays the data detected by each detection circuit, and the FAIL state of the wireless board itself displays the corresponding DATA on the monitor screen to determine whether the data transmission / reception port is operating normally. Check it.

그리고 A/D 및 D/A 변환기의 디버깅 테스트(A/D & D/A CONVERTER DEBUG TEST)는 디지털 신호 감쇄기의 콘트롤 전압을 디지털/아날로그 변환기를 통해 제어하는 테스트 기능이 수행이 되지 않을 때 콘트롤 전압의 최저 값으로부터 최고 값까지 일정한 간격으로 데이터를 쓰면서 오류가 생성되는 부분을 찾아 수정하는 테스트 기능이다.The A / D & D / A converter debugging test (A / D & D / A CONVERTER DEBUG TEST) is a control voltage when the control function of the digital signal attenuator is controlled through the digital / analog converter. It is a test function that finds and corrects an error part while writing data from the lowest value to the highest value at regular intervals.

직렬 데이터 디버깅 테스트(SERIAL DATA DEBUG TEST) 국부 신호 발생기에 사용되는 PLL칩, EEPROM, 온도 센서 등의 부품들은 직렬 데이터를 주고 받으며 그러한 직렬 데이터의 송신/수신 포트가 정상적으로 동작하는지를 점검하는 테스트 기능이다.SERIAL DATA DEBUG TEST Parts such as PLL chips, EEPROMs, and temperature sensors used in local signal generators send and receive serial data and test the serial data send / receive ports for proper operation.

여기서는 전송되는 직렬 데이터를 모니터 화면에 디스플레이하므로써 직렬 데이타의 송신/수신 포트가 정상적으로 동작하는지를 점검한다.In this case, the serial data to be transmitted is displayed on the monitor screen to check whether the serial data transmit / receive port is working properly.

이와 같은 본 고안에 따른 이동통신 시스템에서 기지국용 무선보드의 테스트 장치는 다음과 같은 효과가 있다.In the mobile communication system according to the present invention, the test apparatus of the base station wireless board has the following effects.

본 고안의 테스트 장치는 무선 보드 제어 파트로 구성되는 지그를 프로세서, ROM, RAM, 병렬 버스 인터페이스 커넥터, 모니터포트 그리고 확장 테스트 보드등이 포함되는 통합형으로 구현하여 첫째, 본 발명에 따른 무선 보드의 테스트 장치는 범용성이 있다.The test apparatus of the present invention implements a jig composed of a wireless board control part in an integrated manner including a processor, a ROM, a RAM, a parallel bus interface connector, a monitor port, and an extended test board. The device is versatile.

즉, 여러 종류의 무선 보드들을 테스트할 경우, 각각 필요한 테스트 목적에 따라 확장 테스트 보드만 준비하면 요구되는 모든 테스트 가능할 뿐 아니라 개인용 컴퓨터를 통해 정확하고도 신뢰성 있는 테스트가 가능하여 테스트 기능의 범위를 향상시킬 수 있다.In other words, when testing different types of wireless boards, it is not only necessary to prepare an extended test board for each test purpose, but also to perform all the required tests, and to accurately and reliably test using a personal computer, thereby increasing the range of test functions. You can.

Claims (1)

병렬버스 인터페이스 접속부, 시스템 형상의 버스 방식이 병렬 또는 직렬이냐에 따라 병렬 버스 인터페이스 또는 직렬 버스 인터페이스 방식의 커넥터가 적용되는 백보드 인터페이스 접속부 그리고 직렬 버스 인터페이스 방식이 적용되는 시스템 형상일 경우 병렬 버스 신호들을 직렬버스 인터페이스 방식에 맞게 변화시켜주는 직렬버스 인터페이스 블록을 포함하는 확장 테스트 보드와;Parallel bus signals are serialized when the parallel bus interface connection is connected, the back board interface connection to which the parallel bus interface or serial bus interface connector is applied, depending on whether the system bus is parallel or serial. An extended test board including a serial bus interface block adapted to a bus interface scheme; 무선 보드의 테스트 제어에 필요한 데이터를 저장 출력하는 메모리 블록, 메모리 블록으로 부터 데이터를 읽어오고 필요한 데이터를 저장하는 프로세서, RS 232 인터페이스 방식의 케이블을 이용하여 개인용 컴퓨터와 연결되고 유저가 메인 지그와 통신하는데 사용되는 모니터 포트 그리고 확장 테스트 보드에 커넥터를 통하여 연결되어 병렬 정합 신호들을 상호 전송하는데 이용되는 병렬버스 인터페이스 접속부를 포함하는 메인 지그로 구성되는 것을 특징으로 하는 이동통신 시스템에서 기지국용 무선보드의 테스트 장치.Memory block that stores and outputs data necessary for test control of wireless board, processor that reads data from memory block and stores necessary data, and is connected to personal computer using RS 232 interface cable and user communicates with main jig. Test of the base station wireless board in a mobile communication system comprising a main port including a monitor port used to connect to the expansion test board and a parallel bus interface connection connected to the extended test board for mutual transmission of parallel matching signals. Device.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100341064B1 (en) * 2000-10-06 2002-06-20 송문섭 Method for checking bed of WLL terminal
CN115357067A (en) * 2022-08-26 2022-11-18 上海磐启微电子有限公司 Full-automatic batch test system for high and low temperature performance of wireless image transmission product

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100341064B1 (en) * 2000-10-06 2002-06-20 송문섭 Method for checking bed of WLL terminal
CN115357067A (en) * 2022-08-26 2022-11-18 上海磐启微电子有限公司 Full-automatic batch test system for high and low temperature performance of wireless image transmission product
CN115357067B (en) * 2022-08-26 2024-05-03 上海磐启微电子有限公司 Full-automatic batch test system for high-low temperature performance of wireless image transmission product

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