KR20000008367A - Exchangeable die for manufacturing a tap tape - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: An exchangeable die for fabricating a TAB(tape automated bonding) tape is provided to reduce manufacturing cost and time by using a partial die. CONSTITUTION: The exchangeable die comprises a rectangular shaped punching die(20) and a plurality of partial dies(22). In the punching die(20), a sprocket processing hole(21) formed at both sides of the TAB tape(10), an index processing hole(26) formed between a sprocket hole(11) and a device hole(14), and an exchangeable partial processing hole(28) formed at center portion of the TAB tape(10) are formed. The partial dies(22) include a device processing hole(24) for processing the device hole(14) and exactly inserted in the exchangeable processing hole(28) of the punching die(20).

Description

탭 테이프 제작을 위한 호환 가능한 금형Compatible molds for tap tape production

본 발명은 탭(TAB) 테이프에 관한 것으로서, 특히, 탭 테이프를 제작하기 위한 금형의 일부를 분리하여 호환 가능하게 사용할 수 있는 탭 테이프 제작을 위한 호환 가능한 금형에 관한 것이다.FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to tab tapes and, more particularly, to compatible molds for tab tape fabrication that can be used interchangeably by separating a portion of the mold for making tab tapes.

일반적인 반도체 제조 방법에 있어서 TAB(Tape Automated Bonding)방식은 집적 회로(Integrated Circuit:IC) 칩의 패드와 테이프의 내부 리드 연결 시에 돌출 패드 즉, 범프(bump)를 통해 본딩하는 방식이다. 이와 같은 탭 방식으로 제조된 패키지는 주로 액정 표시기(Liquid Crystal Display:LCD) 구동 IC칩을 실장 하는에 주로 이용된다. 즉, 이러한 LCD는 소비자의 요구가 다양 해짐에 따라서 대형화 및 고화질화되고 있으며, 소비자의 요구에 부응하여 TAB방식 패키지를 제조하는 업체에서는 패키지 조립 시간을 줄여 신속하게 공급함으로써 판매 시장의 요구에 대응하려고 노력하고 있다.In a general semiconductor manufacturing method, a tape automated bonding (TAB) method is a method of bonding a bump through a protrusion pad when bumps are connected to an internal lead of a tape of an integrated circuit (IC) chip and a tape. Such a tab type package is mainly used to mount a liquid crystal display (LCD) driving IC chip. In other words, these LCDs are becoming larger and higher in size as consumers' demands diversify. In order to meet the demands of consumers, manufacturers of TAB-type packages try to respond to the demands of the sales market by supplying them quickly with reduced package assembly time. Doing.

TAB패키지를 조립하기 위해서는 범프(bum)가 되는 칩과, 칩의 패드 및 내부 리드를 본딩(Inner Lead Bonding:ILB)할 수 있도록 제작된 서로 다른 사양의 테이프가 요구된다. 즉, 소비자가 요구하는 패키지 사양은 표준화된 일정한 구조가 아니라, 서로 다른 구조를 갖기 때문에, 각 소비자의 요구에 상응하는 테이프를 개발하기 위해서는 사용되는 원부자재를 해당 사양에 맞도록 제작해야 한다.In order to assemble the TAB package, a bump chip and a tape having different specifications made to bond the pad and the inner lead of the chip (Inner Lead Bonding (ILB)) are required. In other words, the package specification required by the consumer is not a standardized structure but has a different structure, so in order to develop a tape corresponding to the needs of each consumer, the raw and subsidiary materials used must be manufactured to meet the specification.

이 때, 테이프 개발에 있어서 가장 많은 시간이 소요되는 공정은 테이프를 프레스(PRESS) 가공하여 소비자가 원하는 사양에 맞도록 홀을 형성하는 공정이라 할 수 있다. 홀을 형성하는 공정 중에서도 특히, 많은 시간이 요구되는 부분은 프레스 작업을 하기 위해 필요한 금형을 제작하는 공정이라 할 수 있으며, 금형 제작비 측면에서도 적지않은 부담이 되고 있다.At this time, the most time-consuming process in the development of the tape can be said to be a process of forming a hole to meet the specifications desired by the consumer by pressing the tape (PRESS). Part of the process of forming a hole, in particular, a part that requires a lot of time can be referred to as a process for manufacturing a mold required for press work, and also a burden on the mold production cost.

따라서, 각 사양마다 서로 다른 구조를 갖는 금형을 하나로 제작하고, 호환하여 사용할 수 있다면 시간 및 비용 절감 측면에서 가장 바람직하지만 현실적으로 적용하기는 어렵다. 그러나, 이와 같이 소비자 사양에 의해 만들어지는 금형과는 달리, 제품을 평가(TEST)하기 위해 제작되는 TAB 테이프의 경우에는 그 사양이 거의 변동이 없고, IC칩이 장착되는 디바이스 홀 사이즈와 관련된 부분만 변경된다. 또한, 평가를 위해 제작되는 금형은 생산용이 아니기 때문에, 제품 평가를 위해 1회 또는 2회 정도 사용한 후에는 거의 사용하지 않으며, 이로 인해 불필요한 시간 및 비용을 소모하게 된다는 문제점이 있다.Therefore, if a mold having a different structure for each specification can be manufactured and used interchangeably, it is most preferable in terms of time and cost reduction, but it is difficult to apply in reality. However, unlike the mold made according to the customer specification, the TAB tape produced to test the product has almost no change in specifications, and only the portion related to the device hole size on which the IC chip is mounted. Is changed. In addition, since the mold manufactured for evaluation is not for production, it is rarely used after one or two times for product evaluation, and thus, there is a problem that it consumes unnecessary time and cost.

본 발명이 이루고자하는 기술적 과제는, TAB테이프 제조를 위한 금형 구조를 부분적으로 호환 가능하도록 제작함으로써 개발 시간 및 개발비를 절감할 수 있는 탭 테이프 제작을 위한 호환 가능한 금형을 제공하는데 있다.The technical problem to be achieved by the present invention is to provide a compatible mold for the production of tab tape that can reduce the development time and development cost by making the mold structure for TAB tape manufacturing partially compatible.

도 1은 일반적인 탭(TAB) 테이프의 홀(hole) 구조를 나타내는 도면이다.1 is a view showing a hole structure of a general tab tape.

도 2는 본 발명에 따른 탭 테이프 제작을 위한 호환 가능한 금형을 설명하기 위한 구조도이다.2 is a structural diagram for explaining a compatible mold for producing a tab tape according to the present invention.

상기 과제를 이루기위해, 본 발명에 따른 탭 테이프 제작을 위한 호환 가능한 금형은, 소정의 탭 테이프에 서로 다른 용도 및 위치의 홀들을 가공하기 위해 제작되는 금형 구조에 있어서, 탭 테이프의 양측에 일정한 크기 및 간격을 유지하면서 형성되는 스프로켓 홀을 가공하기 위한 스프로켓 가공 홀, 탭 테이프의 소정 디바이스 홀과 스프로켓 홀 사이에 형성되는 인덱스 홀을 가공하기 위한 인덱스 가공홀을 갖고, 중심부에 소정 사이즈의 호환용 부분 가공홀을 갖는 사각형 구조의 펀칭 다이, 및 내부에 디바이스 홀을 가공하기 위한 디바이스 가공 홀을 갖고, 펀칭 다이의 호환용 부분 가공홀에 정확히 삽입되어지는 다수의 부분 다이들로 구성되는 것이 바람직하다.In order to achieve the above object, a compatible mold for producing a tab tape according to the present invention, in a mold structure that is manufactured for processing holes of different uses and positions in a predetermined tab tape, a constant size on both sides of the tab tape And a sprocket processing hole for processing a sprocket hole formed while maintaining a gap, an index processing hole for processing an index hole formed between a predetermined device hole and a sprocket hole of a tab tape, and having a compatible size of a predetermined size in a central portion thereof. It is preferable that it consists of a plurality of partial dies having a rectangular punching die having a processing hole, and a device processing hole for processing device holes therein, and which are correctly inserted into the compatible partial processing holes of the punching die.

이하, 본 발명에 따른 탭 테이프 제작을 위한 호환 가능한 금형에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 다음과 같이 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings with respect to a compatible mold for producing a tab tape according to the present invention will be described as follows.

도 1은 일반적인 TAB테이프의 홀 구조를 설명하기 위한 도면으로서, 참조 부호 10은 TAB테이프를 나타내고, 참조 부호 11은 스프로켓 홀(Sprocket hole)을 나타내고, 참조 부호 14는 디바이스 홀(device hole)을 나타내고, 참조 부호 16은 인덱스 홀(index hole)을 나타낸다. 여기에서, 참조 부호 12는 호환 가능한 금형을 제작하기 위한 부분 다이 삽입 홀의 형성부를 나타내며, 내부의 디바이스 홀(14)을 다양하게 변화시킬 수 있는 구조를 갖는다. 설명의 편의를 위해, 도 1에 도시된 도면에는 탭 테이프의 홀 구조만을 예로서 도시하였으며, 장착되어질 칩, 구리 패턴 및 입출력 리드는 도시되지 않는다.1 is a view for explaining the hole structure of a general TAB tape, reference numeral 10 denotes a TAB tape, reference numeral 11 denotes a sprocket hole, reference numeral 14 denotes a device hole. , 16 denotes an index hole. Here, reference numeral 12 denotes a formation portion of the partial die insertion hole for manufacturing a compatible mold, and has a structure capable of variously changing the device hole 14 therein. For convenience of description, only the hole structure of the tab tape is shown as an example in the drawing shown in FIG. 1, and the chip to be mounted, the copper pattern, and the input / output lead are not shown.

이러한 TAB테이프는 일반적으로 3층 구조를 가지며, 재료 측면에서 보면 1층은 폴리이미드(Polyimide) 테이프이고, 2층은 접착제이며, 3층은 구리를 에칭 (ETCHING)하여 형성한 구리 패턴으로 이루어진다. 즉, 상기 2층의 접착제는 상기 의 폴리이미드 테이프와 상기의 구리 패턴을 접착시키기 위해 형성된다. 여기에서, 구리 패턴은 상기의 디바이스 홀에 장착된 칩을 외부와 전기적으로 연결하기 위해 이용된다.Such TAB tapes generally have a three-layer structure. In terms of materials, one layer is a polyimide tape, two layers are adhesives, and three layers are formed of a copper pattern formed by etching copper. That is, the adhesive of the two layers is formed to bond the polyimide tape and the copper pattern. Here, the copper pattern is used to electrically connect the chip mounted in the device hole to the outside.

도 1을 참조하면, 스프로켓 홀(11)은 탭 테이프의 양측에 일정한 크기 및 간격을 유지하면서 형성되고, 상기의 테이프(10)를 이동시키기 위해 이용된다. 또한, 스프로켓 홀(11)과 스프로켓 홀(11)의 사이에는 IC칩을 장착하기 위한 디바이스 홀(14)이 소정 규격으로 형성된다. 인덱스 홀(16)은 스프로켓 홀(11)과 디바이스 홀(14)사이의 양쪽에 형성되며, 제품 평가에 필요한 피치를 만들어주기 위해 이용된다.Referring to FIG. 1, the sprocket hole 11 is formed on both sides of the tab tape while maintaining a constant size and spacing, and is used to move the tape 10. In addition, between the sprocket hole 11 and the sprocket hole 11, a device hole 14 for mounting the IC chip is formed to a predetermined standard. The index hole 16 is formed between both the sprocket hole 11 and the device hole 14 and is used to make the pitch necessary for product evaluation.

즉, 3층 구조를 갖는 TAB테이프를 제작하기 위해서, 우선 접착제가 도포된 폴리이미드 테이프의 원자재에 홀 가공 금형을 이용하여 스프로켓 홀(11), 디바이스 홀(14) 및 평가를 위한 인덱스 홀(16) 등 여러가지 형태의 홀을 펀칭(punching)하여 형성한다. 또한, 상술한 과정에 의해 홀이 형성된 테이프(10) 의 접착제 상부에는 구리 패턴이 접착된다. 이러한 접착 과정을 통하여 제작된 탭 테이프(10)의 구리 패턴 상단에는 소비자의 요구에 상응하는 패턴을 형성하기 위해 노광, 현상, 에칭(etching) 등의 공정을 진행함으로써 다양한 사양의 테이프가 제작된다.That is, in order to manufacture a TAB tape having a three-layer structure, first, a sprocket hole 11, a device hole 14, and an index hole 16 for evaluation are made by using a hole processing mold on the raw material of the polyimide tape coated with an adhesive. Holes are formed by punching. In addition, a copper pattern is adhered to the upper portion of the adhesive of the tape 10 in which the hole is formed by the above-described process. Tapes of various specifications are manufactured on the upper surface of the copper pattern of the tab tape 10 manufactured by the adhesive process by performing a process such as exposure, development, etching, etc. to form a pattern corresponding to the demand of the consumer.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 호환 가능한 금형은 TAB테이프 제작시 홀을 가공하는데 이용되며, 각각의 사양에 따라서 서로 다른 형태로 제작되더라도 스프로켓 홀과 같은 TAB테이프의 제조 공정상 기본적으로 필요한 홀은 테이프의 사양에 관계없이 거의 유사한 위치에서 형성된다는 특징을 이용한다. 특히, 평가용으로 제작되는 금형인 경우에는 디바이스 홀(14) 부분만 그 위치 및 크기에 있어서 다른 형태를 갖는다. 이러한 특성을 이용하면, 기본적인 홀은 같은 금형, 즉, 같은 펀칭 다이를 이용하여 가공하고, 디바이스 홀만 부분적으로 호환하여 사용할 수 있는 금형을 제작하는 것이 가능하다.As described above, the compatible mold according to the present invention is used to process the hole when manufacturing the TAB tape, even if manufactured in a different form according to the specifications of the hole basically required in the manufacturing process of the TAB tape, such as a sprocket hole It takes advantage of the feature that it is formed in almost similar locations regardless of the specification of the tape. In particular, in the case of the metal mold | die manufactured for evaluation, only the part of the device hole 14 has a different form in the position and size. With this characteristic, it is possible to fabricate a basic hole that is processed using the same mold, that is, the same punching die, and that only the device hole can be used partially compatible.

도 2는 본 발명에 따른 탭 테이프 제작을 위한 호환 가능한 금형을 설명하기 위한 바람직한 실시예의 도면으로서, 펀칭 다이(20) 및 부분 다이(22)를 포함한다. 여기에서, 펀칭 다이(20) 내부에는 스프로켓 가공 홀(21), 인덱스 가공 홀(26) 및 부분 다이를 삽입하기 위한 호환용 부분 가공홀(28)이 형성되고, 부분 다이(22) 내부에는 디바이스 가공 홀(24)이 형성된다. 설명의 편의를 위하여 도 1에 도시된 스프로켓 홀(11), 인덱스 홀(16) 및 디바이스 홀(14)를 가공하기 위해 펀칭 다이에 형성된 각각의 홀을 각각 스프로켓 가공 홀(21), 인덱스 가공 홀(26) 및 디바이스 가공 홀(24)이라 명명한다. 또한, 도 2의 금형 구조에는 하나의 부분 다이(22)만이 도시되었으나, 실제로는 복수 개의 부분 다이들이 포함될 수 있다.FIG. 2 is a diagram of a preferred embodiment for describing a compatible mold for tab tape fabrication in accordance with the present invention, including a punching die 20 and a partial die 22. Here, the sprocket machining hole 21, the indexing hole 26, and the compatible partial machining hole 28 for inserting the partial die are formed in the punching die 20, and the device is provided in the partial die 22. The processing hole 24 is formed. For convenience of explanation, each hole formed in the punching die for processing the sprocket hole 11, the index hole 16 and the device hole 14 shown in FIG. (26) and the device processing hole 24 are called. Also, although only one partial die 22 is shown in the mold structure of FIG. 2, a plurality of partial dies may actually be included.

도 2를 참조하면, 스프로켓 가공 홀(21) 및 인덱스 가공 홀(26)은 상술한 바와 같은 위치에서 같은 용도로 이용되므로 설명을 생략한다. 즉, 종래에는 하나의 연결된 구조로 이루어졌던 펀칭 다이를 부분적으로 호환가능하도록 제작함으로써 효율적인 금형 제작이 가능해진다.Referring to Fig. 2, the sprocket processing hole 21 and the index processing hole 26 are used for the same purpose at the positions described above, and thus description thereof will be omitted. That is, by making the punching die, which is conventionally made of one connected structure, to be partially compatible, efficient mold making becomes possible.

또한, 도 2의 호환용 부분 가공홀(28)에는 부분 다이(22)가 삽입되며, 그 크기는 디바이스 홀(24)에 삽입되어질 수 있는 디바이스가 향후 제작되어질 수 있는 최대 사이즈를 고려하여 상기 최대 사이즈보다 소정 간격 크게 한다. 다시 말해서, 다수의 부분 다이(22)를 구현하여 사용할 때, TAB테이프에 대한 소비자의 사양에 부응하기 위해서 디바이스 홀(24)의 사이즈는 최소 사이즈에서 최대 사이즈까지 서로 다르게 형성되어질 수 있다. 그러나, 부분 다이(22)의 외곽 사이즈는 상기 디바이스의 최대 사이즈를 고려하여 펀칭 다이(20)의 호환용 부분 가공홀(28)에 정확히 삽입되도록 일정한 사이즈로 제작되어야만 호환하는것이 가능하다.In addition, a partial die 22 is inserted into the compatible partial machining hole 28 of FIG. 2, the size of which is determined in consideration of the maximum size of a device that can be inserted into the device hole 24 in the future. The predetermined interval is larger than the size. In other words, when implementing and using a plurality of partial dies 22, the size of the device holes 24 may be formed differently from the minimum size to the maximum size in order to meet the consumer specification for the TAB tape. However, in consideration of the maximum size of the device, the outer size of the partial die 22 may be compatible only if it is manufactured to a certain size so as to be inserted into the compatible partial machining hole 28 of the punching die 20 correctly.

즉, 하나의 펀칭 다이(20)와 다수의 부분 다이(22)를 이용할 때, 상기 부분 다이(22)의 외곽 사이즈가 모두 동일해야 호환 가능하다.That is, when using one punching die 20 and a plurality of partial dies 22, the outer dimensions of the partial dies 22 are all the same to be compatible.

따라서, 홀 구조의 변경이 거의 없는 스프로켓 가공 홀(21) 및 인덱스 가공 홀(26)은 같은 펀칭 다이(20)에 형성되고, 도 2에 도시된 부분 다이(22)를 다수 개 이용하여 내부의 디바이스 홀(24)만을 변경함으로써 도 2에 도시된 금형 구조를 효율적으로 이용할 수 있다. 도 1 및 도 2에 도시된 실시예에서 부분 다이는 디바이스 홀 가공을 위해서만 이용되었으나, 그 밖의 다른 홀의 가공에도 적용하는 것이 가능하다.Therefore, the sprocket processing hole 21 and the index processing hole 26 which hardly change the hole structure are formed in the same punching die 20, and internally using a plurality of partial dies 22 shown in FIG. By changing only the device hole 24, the mold structure shown in FIG. 2 can be used efficiently. In the embodiment shown in Figs. 1 and 2, the partial die is only used for device hole processing, but it is also possible to apply other hole processing.

본 발명에 따르면, TAB 제조 공정의 TAB테이프 홀 가공 시에 부분적으로 분리할 수 있는 부분 금형을 제작하여 본체가 되는 금형을 공통으로 사용하고, 부분 금형만을 임의로 삽입함으로써 호환 가능한 금형을 제작할 수 있으며, 그에 따라서 금형 제작에 요구되는 개발 시간 및 개발비를 절감할 수 있다는 효과가 있다.According to the present invention, it is possible to produce a compatible mold by making a partial mold which can be partially separated during TAB tape hole processing in a TAB manufacturing process, using a mold serving as a main body, and inserting only a partial mold arbitrarily. Accordingly, there is an effect that can reduce the development time and development costs required for mold making.

Claims (3)

소정의 탭 테이프에 서로 다른 용도 및 위치의 홀들을 가공하기 위해 제작되는 금형 구조에 있어서,In a mold structure fabricated for processing holes of different uses and positions in a predetermined tab tape, 상기 탭 테이프의 양측에 일정한 크기 및 간격을 유지하면서 형성되는 스프로켓 홀을 가공하기 위한 스프로켓 가공 홀, 상기 탭 테이프의 소정 디바이스 홀과 상기 스프로켓 홀 사이에 형성되는 인덱스 홀을 가공하기 위한 인덱스 가공홀을 갖고, 중심부에 소정 사이즈의 호환용 부분 가공홀을 갖는 사각형 구조의 펀칭 다이; 및A sprocket processing hole for processing a sprocket hole formed while maintaining a constant size and spacing on both sides of the tab tape; an index processing hole for processing an index hole formed between a predetermined device hole and the sprocket hole of the tab tape; A punching die having a rectangular structure having a compatible partial processing hole of a predetermined size in a central portion thereof; And 내부에 상기 디바이스 홀을 가공하기 위한 디바이스 가공 홀을 갖고, 상기 펀칭 다이의 상기 호환용 부분 가공홀에 정확히 삽입되어지는 다수의 부분 다이들을 포함하는 것을 특징으로하는 탭 테이프 제작을 위한 호환 가능한 금형.And a plurality of partial dies having a device processing hole therein for machining the device holes, the plurality of partial dies being precisely inserted into the compatible partial processing holes of the punching die. 제1항에 있어서, 상기 다수의 부분 다이들은,The method of claim 1 wherein the plurality of partial dies, 상기 디바이스 가공홀 사이즈가 상기 탭 테이프에 장착되는 소정 디바이스들의 최소 사이즈에서 최대 사이즈까지 삽입 가능하도록 각각 다양하게 형성되는 것을 특징으로하는 탭 테이프 제작을 위한 호환 가능한 금형.And the device processing hole size is variously formed so as to be insertable from the minimum size to the maximum size of predetermined devices mounted on the tab tape. 제1항에 있어서, 상기 다수의 부분 다이들은,The method of claim 1 wherein the plurality of partial dies, 상기 탭 테이프에 장착되는 서로 다른 사이즈를 갖는 상기 디바이스들의 최대 사이즈보다 소정 간격 크게 외곽 사이즈가 설정되며, 상기 외곽 사이즈는 모두 동일한 것을 특징으로하는 탭 테이프 제작을 위한 호환 가능한 금형.An outline size is set at a predetermined interval greater than a maximum size of the devices having different sizes mounted on the tab tape, and the outline sizes are all the same.
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