KR20000006900A

KR20000006900A - 램 실장테스트 장치

Info

Publication number: KR20000006900A
Application number: KR1019990050000A
Authority: KR
Inventors: 윤순광
Original assignee: 윤순광; 주식회사 오성과학
Priority date: 1999-11-11
Filing date: 1999-11-11
Publication date: 2000-02-07

Abstract

본 발명은 램을 손상시키지 않고 정확히 테스트할 수 있으며, 램의 이상유무에 따라 자동으로 분류하여, 작업효율과 생산성을 향상시킬 수 있도록 된 새로운 구조의 램 실장테스트 장치를에 관한 것이다.

본 발명에 따르면, 본체(24)와, 이 본체(24)에 설치된 보드(28) 및 이 보드(28)에 전기적으로 연결되며 그 전면에는 램(8)이 삽입되는 커넥터(30)와, 이 보드(28)의 전방에 구비되어 상기 램슬롯(30)의 전방에 램(8)을 순차적으로 공급하는 램공급장치(36)와, 상기 본체(24)에 장착되어 소정의 구동기구에 의해 좌우 이동되는 이송대(40)와, 상기 이송대(40)에 장착되며 회동기구에 의해 회동승강되는 실린더(44)와, 이 실린더(44)의 단부에 장착된 핑거기구(48)를 포함하여 구성되며, 상기 램공급장치(36)에 의해 램(8)이 공급되면, 상기 실린더(44)는 상기 램(8)을 밀어서 상기 램슬롯(30)에 꽂거나, 그 단부에 구비된 핑거기구(48)로 램(8)을 잡아당겨 램슬롯(30)에서 빼내어 배출할 수 있으며, 램(8)의 배출시, 상기 이송대(40)가 좌우로 이동하여, 램(8)의 이상유무에 따라 자동으로 분류할 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 램 실장테스트 장치가 제공된다.

Description

램 실장테스트 장치{RAM TESTER}

본 발명은 램 실장테스트 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 램을 손상시키지 않고 정확히 테스트할 수 있으며, 램의 이상유무에 따라 자동으로 분류하여, 작업효율과 생산성을 향상시킬 수 있도록 된 새로운 구조의 램 실장테스트 장치를에 관한 것이다.

일반적으로, 컴퓨터나 기타 전자장비의 메모리로 사용되는 램(RAM, Random Access Memory)은 도 1에 도시한 바와 같이, PCB 기판(2)의 전,후면에 다수개의 메모리칩(4)을 부착한 것으로, PCB기판(2) 하단에 돌출형성된 접점부(6)에는 통상 핀이라 부르는 다수개의 접점(10)이 형성된다. 그리고, 램(8)을 컴퓨터에 설치할 때는, 상기 접점부(6)를 컴퓨터의 마더보드의 램슬롯에 꽂아 설치할 수 있다.

한편, 이러한 램(8)은 생산공정 중에 램(8)의 물리적 이상유무를 1차 테스트 한 후, 생산완료되면 최종적으로, 램(8)을 실제의 마더보드에 설치된 램슬롯에 꽂고 소정의 테스트 프로그램을 구동시켜, 램(8)의 작동상태를 테스트하는 실장테스트를 거치게 된다.

도 2는 이러한 램(8)을 실장테스트하는 램 실장테스트 장치를 도시한 것으로, 본체(14)의 상면에는 리드타입의 램슬롯(12)가 장착된 마더보드(16)가 수직설치된다. 이 리드타입의 램슬롯(12)는 상기 램(8)의 전후면에 형성된 핀(10)에 접촉되는 다수개의 리드(18,19)를 상하 2열로 배치하여, 상하의 리드(18,19) 사이에 램(8)의 접점부(6)를 삽입하여 접속할 수 있도록 된 것으로, 하측에 배치된 리드(19)는 도시안된 솔레노이드에 의해 하향회동되어 상하 리드(18)를 벌릴 수 있도록 구성된다. 그리고, 이 램슬롯(12)의 전방에는 도시안된 자동공급장치에 의해 순차적으로 공급되는 램(8)을 상기 램슬롯(12)에 꽂는 실린더(20)가 장착된다. 도면번호 22는 램테스트의 진행상태 또는, 램(8)의 이상유무를 디스플레이 하는 모니터를 도시한 것이다.

따라서, 자동공급장치에 의해 램(8)이 공급되면, 상기 실린더(20)가 신축되어 램(8)을 밀어서 램슬롯(12)에 꽂고. 테스트가 끝나면, 솔레노이드에 의해 램슬롯(12)의 하부 리드(19)가 하향회동되면서 램(8)을 본체(14)의 상면으로 떨어뜨린다. 그리고, 이와같이, 본체(14)의 상면으로 떨어진 램(8)은 이상유무에 따라, 작업자가 수작업으로 분류하여 출고한다.

그런데, 이러한 램 실장테스트 장치에서 사용되는 리드타입의 램슬롯(12)는 사용중, 리드(18,19)가 휘는 등의 이유로 접촉불량이 발생되어, 램(8)을 정확히 테스트하기 어려울 뿐 아니라, 램 테스트가 끝난 후, 살기 리드타입의 램슬롯(12)를 벌려 램(8)을 떨어뜨리므로, 충격에 의해 램(8)이 손상될 수 있었다. 또한, 작업자가 수작업으로 램(8)을 분류하여야 하므로, 작업자가 실수로 램(8)을 잘못 분류하여, 불량판정이 난 램(8)이 출고되거나, 이상이 없는 램(8)이 폐기처분될 수 있을 뿐 아니라, 작업효율과 생산성이 떨어지는 문제점이 있었다.

본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 램을 손상시키지 않고 정확히 테스트할 수 있으며, 램의 이상유무에 따라 자동으로 분류하여, 작업효율과 생산성을 향상시킬 수 있도록 된 새로운 구조의 램 실장테스트 장치를 제공하는 것이다.

도 1은 램을 도시한 사시도

도 2는 종래의 램 실장테스트 장치의 측단면도

도 3은 본 발명에 따른 램 실장테스트 장치를 도시한 측면도

도 4는 상기 램 실장테스트 장치의 정면도

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>

8. 램 24. 본체

28. 보드 30. 커넥터

36. 램공급장치 40. 이송대

44. 실린더 48. 핑거기구

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면에 의거하여 설명하면 다음과 같다.

도 3 및 도 4는 본 발명에 따른 램 실장테스트 장치를 도시한 것으로, 본체(24)의 상면에 구비된 지지대(26)에는 마더보드(28)가 수직설치된다. 이 마더보드(28)는 메인프로세서와 소정의 테스트용 프로그램이 메모리된 저장장치가 구비되며, 전면에는 램(8)이 삽입되는 커넥터(30)가 구비되어, 이 커넥터(30)에 설치되는 램(8)을 실장테스트할 수 있도록 구성된다. 상기 커넥터(30)는 그 전면에 램(8)의 접점부(6)를 꽂을 수 있도록 된 삽입홈(32)이 형성된 것으로, 이 삽입홈(32)의 내부에는 상기 램(8)의 전후면에 형성된 핀(10)에 접촉되는 다수개의 접점(34)이 구비된다. 이때, 이 커넥터(30)는 일반적인 램슬롯과 같이 보드에 직접 연결하거나, 램슬롯과 별도로 구성하여, 이 커넥터(30)를 마더보드(28)에 결합된 램슬롯에 꽂아 사용할 수 있도록 구성된다.

그리고, 상기 보드(28)의 전방에는 램(8)을 순차적을 공급하는 램공급장치(36)가 장착된다. 이 램공급장치(36)는 상하단에 각각 투입구와 배출구가 형성된 매거진(38)을 수직설치하여 구성되는 소위 엘리베이터식 공급장치(36)를 이용한 것으로, 상기 투입구로 투입된 램(8)은 자중에 의해 하강되어 배출구로 순차적으로 배출된다. 이때, 이 램공급장치(36)의 배출구는 상기 램슬롯(30)의 전방에 위치되어, 이 배출구로 배출되는 램(8)을 뒤로 밀면, 자동적으로 램(8)의 접점부(6)가 램슬롯(30)의 삽입홈(32)에 끼워지도록 구성된다.

그리고, 상기 본체(24)의 상면에는 이송대(40)가 좌우 슬라이드가능하게 장착된다. 이 이송대(40)는 그 하단에 결합된 실린더(42)에 의해 좌우로 이동되는 것으로, 이 이동대의 상단에는 상기 램공급장치(36)로 공급된 램(8)을 램슬롯(30)에 설치하고 테스트가 끝난 램(8)을 빼내어 배출하는 실린더(44)가 장착된다. 이 실린더(44)는 도시안된 회동기구에 의해 회동승강되는 것으로, 그 단부에는 램(8)을 집을 수 있도록 된 핑거기구(48)가 구비된다. 또한, 이 이송대(40)의 하측에는 램(8)의 이상유무에 따라 램(8)을 분류하여 정렬할 수 있도록 된 한쌍의 팔레트(50,51)가 배치된다. 상기 팔레트(50,51)는 그 상면에 램(8)을 끼워넣을 수 있도록 된 다수개의 거치홈(52)이 형성된 것으로서, 상기 본체(24)에 장착된 한쌍의 피치이송기구(53)에 각각 설치된다. 이 피치이송기구(53)는 스테핑모터(54)와 이 스테핑모터(54)에 결합된 스핀들(55)을 이용하여, 상기 팔레트(50,51)를 한피치씩 전진시킬 수 있도록 구성된다.

따라서, 이 실린더(44)는 신장시, 상기 램공급장치(36)의 배출구로 배출된 램(8)을 밀어 램슬롯(30)에 꽂을 수 있으며, 테스트가 끝나면 수축되면서 상기 핑거기구(48)로 램(8)을 잡아당겨 램슬롯(30)에서 빼낼 수 있다. 그리고, 램(8)을 빼낸 후, 상기 실린더(44)가 회동하강되어 상기 팔레트(50,51)의 거치홈(52)에 램(8)을 끼워넣을 수 있다. 이때, 상기 실린더(44)가 설치된 이송대(40)는 램(8)의 이상유무에 따라 좌우로 이동되어, 램(8)을 분류하여 각 팔레트(50,51)에 정렬할 수 있으며, 상기 실린더(44)에 의해 팔레트(50,51)의 거치홈(52)에 램(8)이 끼워지면, 이 팔레트(50,51)는 상기 피치이송기구에 의해 한피치씩 전진되어 다음번 거치홈(52)에 램(8)이 끼워질 수 있도록 대기한다.

도면번호 56은 상기 지지대(26)의 상단에 장착되어, 테스트의 진행상태나, 램(8)의 이상유무를 디스플레이하는 모니터를 도시한 것이다.

이와같이 구성된 램 실장테스트 장치는 램(8)을 배출할 때, 램(8)의 이상유무에 따라, 도시안된 제어부에 의해 상기 이송대(40)가 좌우로 이동되면서 자동으로 상기 팔레트(50,51)에 램(8)을 분류하므로, 작업속도와 생산성이 향상될 뿐 아니라, 램(8)을 잘못 분류하는 문제점이 없다. 또한, 삽입홈(32)이 형성된 램슬롯(30)를 이용하므로, 리드타입의 램슬롯(30)를 이용하는 종래의 테스트장치에 비해 정확한 테스트를 할 수 있을 뿐 아니라, 상기 실린더(44)를 이용하여 팔레트(50,51)에 램(8)을 정렬하므로, 램(8)을 떨어뜨릴 때 발생되는 충격에 의해 램(8)이 손상되는 것을 방지할 수 있는 장점이 있다.

이상에서와 같이 본 발명에 의하면, 본체의 상면에 램의 배출시, 램의 이상유무에 따라 위치이동되는 이송대를 설치하고, 램을 램슬롯에 설치하거나 램을 빼내는 실린더를 상기 이송대에 설치하므로써, 램을 손상시키지 않고 정확히 테스트할 수 있으며, 램의 이상유무에 따라 자동으로 분류하여, 작업효율과 생산성을 향상시킬 수 있도록 된 새로운 구조의 램 실장테스트 장치를 제공할 수 있다.

Claims

본체(24)와, 이 본체(24)에 설치된 보드(28) 및 이 보드(28)에 전기적으로 연결되며 그 전면에는 램(8)이 삽입되는 커넥터(30)와, 이 보드(28)의 전방에 구비되어 상기 램슬롯(30)의 전방에 램(8)을 순차적으로 공급하는 램공급장치(36)와, 상기 본체(24)에 장착되어 소정의 구동기구에 의해 좌우 이동되는 이송대(40)와, 상기 이송대(40)에 장착되며 회동기구에 의해 회동승강되는 실린더(44)와, 이 실린더(44)의 단부에 장착된 핑거기구(48)를 포함하여 구성되며, 상기 램공급장치(36)에 의해 램(8)이 공급되면, 상기 실린더(44)는 상기 램(8)을 밀어서 상기 램슬롯(30)에 꽂거나, 그 단부에 구비된 핑거기구(48)로 램(8)을 잡아당겨 램슬롯(30)에서 빼내어 배출할 수 있으며, 램(8)의 배출시, 상기 이송대(40)가 좌우로 이동하여, 램(8)의 이상유무에 따라 자동으로 분류할 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 램 실장테스트 장치.