KR19990066545A - Asymmetric Input Buffer Circuit for Semiconductor Devices - Google Patents

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KR19990066545A
KR19990066545A KR1019980002574A KR19980002574A KR19990066545A KR 19990066545 A KR19990066545 A KR 19990066545A KR 1019980002574 A KR1019980002574 A KR 1019980002574A KR 19980002574 A KR19980002574 A KR 19980002574A KR 19990066545 A KR19990066545 A KR 19990066545A
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signal
differential amplifier
input
external
input terminal
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KR1019980002574A
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Inventor
송병철
유학수
Original Assignee
윤종용
삼성전자 주식회사
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Abstract

본 발명의 비대칭 입력 버퍼는 제 1 외부 신호를 공급받는 제 1 입력 단자와; 제 2 외부 신호를 공급받는 제 2 입력 단자와; 상기 제 1 및 제 2 입력 단자들을 통해서 상기 제 1 및 제 2 외부 신호들을 제공받고 그리고 상기 제 1 및 제 2 외부 신호들에 제어되는 제 1 및 제 2 트랜지스터들을 가지며, 상기 제 2 외부 신호의 위상을 반전시킨 제 1 신호를 발생하는 제 1 차동 증폭기와; 상기 제 1 및 제 2 입력 단자들을 통해서 상기 제 1 및 제 2 외부 신호들을 제공받고 그리고 상기 제 1 및 제 2 신호들에 제어되는 제 3 및 제 4 입력 트랜지스터들을 가지며, 상기 제 2 외부 신호의 위상을 반전시킨 제 2 신호를 발생하는 제 2 차동 증폭기와; 상기 제 1 및 제 2 차동 증폭기로부터 출력되는 상기 제 1 및 제 2 신호들을 받아들이고, 그리고 상기 제 2 신호의 위상을 반전시킨 제 3 신호를 발생하는 제 3 차동 증폭기 및; 상기 제 3 신호가 로우 레벨로 천이될 때 펄스 신호를 발생하는 펄스 발생기를 포함하되, 상기 제 1 및 제 2 입력 트랜지스터들의 사이즈는 상기 제 3 및 제 4 입력 트랜지스터들의 사이즈와 다른 것을 포함한다.An asymmetric input buffer of the present invention comprises: a first input terminal for receiving a first external signal; A second input terminal receiving a second external signal; A phase of the second external signal having first and second transistors received through the first and second input terminals and controlled to the first and second external signals; A first differential amplifier for generating a first signal inverting the signal; A phase of the second external signal having third and fourth input transistors provided with the first and second external signals and controlled to the first and second signals via the first and second input terminals; A second differential amplifier for generating a second signal inverted; A third differential amplifier receiving the first and second signals output from the first and second differential amplifiers and generating a third signal inverting the phase of the second signal; And a pulse generator for generating a pulse signal when the third signal transitions to a low level, wherein the size of the first and second input transistors includes a different size than the size of the third and fourth input transistors.

Description

반도체 장치의 비대칭 입력 버퍼 회로(ASYMMETRIC INPUT BUFFER CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR DEVICE)ASYMMETRIC INPUT BUFFER CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR DEVICE

본 발명은 반도체 장치에 관한 것으로, 구체적으로는 비대칭 입력 버퍼에 관한 것이다.The present invention relates to a semiconductor device, and more particularly to an asymmetric input buffer.

현재 사용되고 있는 클럭 신호 입력 버퍼는 대칭 증폭기를 이용하여 구성함으로써, 외부 클럭 신호의 입력으로부터 내부 회로를 구동시키는 내부 클럭 신호가 생성되기까지의 입력 경로에 의한 시간 지연이 발생한다. 일반적으로 사용되는 대칭 증폭기는 서로 같은 채널의 크기를 갖는 MOS 트랜지스터들로 구성되므로 상기 채널의 크기에 따라 시간 지연이 발생된다. 이로인해, 내부 클럭 신호를 공급받는 내부 회로의 구동도 상기 채널의 크기에 따라 발생한 지연 시간만큼 지연되는 문제점이 발생하게 된다.The clock signal input buffer currently used is configured using a symmetrical amplifier, so that a time delay due to an input path from an input of an external clock signal to an internal clock signal for driving an internal circuit is generated. In general, symmetrical amplifiers are composed of MOS transistors having the same channel size, so that a time delay occurs according to the size of the channel. As a result, the driving of the internal circuits receiving the internal clock signal may also be delayed by a delay time according to the size of the channel.

따라서 본 발명의 목적은 외부 클럭 신호 입력으로부터 내부 클럭 신호의 발생까지의 속도를 향상시킨 입력 버퍼 회로를 제공하는 것이다.It is therefore an object of the present invention to provide an input buffer circuit which improves the speed from the external clock signal input to the generation of the internal clock signal.

도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 비대칭 입력 버퍼의 구성을 보여주는 블럭도;1 is a block diagram showing a configuration of an asymmetric input buffer according to a first embodiment of the present invention;

도 2a는 본 발명에 따른 비대칭 입력 버퍼의 A형 증폭기의 회로 구성을 보여주는 회로도;2A is a circuit diagram showing a circuit configuration of an A-type amplifier of an asymmetric input buffer according to the present invention;

도 2b는 본 발명에 따른 비대칭 입력 버퍼의 B형 증폭기의 회로 구성을 보여주는 회로도;2B is a circuit diagram showing a circuit configuration of a B-type amplifier of an asymmetric input buffer according to the present invention;

도 3은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 비대칭 입력 버퍼의 구성을 보여주는 블럭도, 그리고3 is a block diagram showing a configuration of an asymmetric input buffer according to a second embodiment of the present invention; and

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 비대칭 입력 버퍼의 동작 타이밍도이다.4 is an operation timing diagram of an asymmetric input buffer according to an embodiment of the present invention.

*도면의 주요 부분에 대한 부호 설명* Explanation of symbols on the main parts of the drawings

11 : 제 1 외부 신호 입력 단자 12 : 제 2 외부 신호 입력 단자11: first external signal input terminal 12: second external signal input terminal

21 : 제 1 차동 증폭기 22 : 제 2 차동 증폭기21: first differential amplifier 22: second differential amplifier

23 : 제 4 차동 증폭기 24 : 제 5 차동 증폭기23: fourth differential amplifier 24: fifth differential amplifier

30 : 제 3 차동 증폭기 40 : 펄스 발생기30: third differential amplifier 40: pulse generator

50 : 내부 회로 입력 단자 60 : A형 증폭기50: internal circuit input terminal 60: A-type amplifier

70 : B형 증폭기 80, 90 : 출력 단자70: B type amplifier 80, 90: output terminal

(구성)(Configuration)

상술한 바와같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일특징에 의하면, 비대칭 입력 버퍼는 제 1 외부 신호를 공급받는 제 1 입력 단자와; 제 2 외부 신호를 공급받는 제 2 입력 단자와; 상기 제 1 및 제 2 입력 단자들을 통해서 상기 제 1 및 제 2 외부 신호들을 제공받고 그리고 상기 제 1 및 제 2 외부 신호들에 제어되는 제 1 및 제 2 트랜지스터들을 가지며, 상기 제 2 외부 신호의 위상을 반전시킨 제 1 신호를 발생하는 제 1 차동 증폭기와; 상기 제 1 및 제 2 입력 단자들을 통해서 상기 제 1 및 제 2 외부 신호들을 제공받고 그리고 상기 제 1 및 제 2 신호들에 제어되는 제 3 및 제 4 입력 트랜지스터들을 가지며, 상기 제 2 외부 신호의 위상을 반전시킨 제 2 신호를 발생하는 제 2 차동 증폭기와; 상기 제 1 및 제 2 차동 증폭기로부터 출력되는 상기 제 1 및 제 2 신호들을 받아들이고, 그리고 상기 제 2 신호의 위상을 반전시킨 제 3 신호를 발생하는 제 3 차동 증폭기 및; 상기 제 3 신호가 로우 레벨로 천이될 때 펄스 신호를 발생하는 펄스 발생기를 포함하되, 상기 제 1 및 제 2 입력 트랜지스터들의 사이즈는 상기 제 3 및 제 4 입력 트랜지스터들의 사이즈와 다른 것을 특징으로 한다.According to one aspect of the present invention for achieving the above object, an asymmetric input buffer includes a first input terminal for receiving a first external signal; A second input terminal receiving a second external signal; A phase of the second external signal having first and second transistors received through the first and second input terminals and controlled to the first and second external signals; A first differential amplifier for generating a first signal inverting the signal; A phase of the second external signal having third and fourth input transistors provided with the first and second external signals and controlled to the first and second signals via the first and second input terminals; A second differential amplifier for generating a second signal inverted; A third differential amplifier receiving the first and second signals output from the first and second differential amplifiers and generating a third signal inverting the phase of the second signal; And a pulse generator for generating a pulse signal when the third signal transitions to a low level, wherein the size of the first and second input transistors is different from the size of the third and fourth input transistors.

이 실시예에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 입력 단자들 중 하나의 입력 단자로 기준 전압 레벨의 신호를 공급하는 것을 특징으로 한다.In this embodiment, the signal of the reference voltage level is supplied to one of the first and second input terminals.

(작용)(Action)

이와같은 장치에 의해서, 입력 버퍼 회로에서 발생하는 시간 지연을 단축함으로써 내부 회로의 구동 속도를 향상시킬 수 있다.Such a device can improve the drive speed of the internal circuit by reducing the time delay occurring in the input buffer circuit.

(실시예)(Example)

이하 본 발명의 실시예에 따른 참조도면 1 내지 도 4에 의거하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 through 4 according to embodiments of the present invention.

도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 비대칭 입력 버퍼의 구성을 보여주는 블럭도이다.1 is a block diagram illustrating a configuration of an asymmetric input buffer according to a first embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 비대칭 입력 버퍼는 제 1 외부 신호 입력 단자(11), 제 2 외부 신호 입력 단자(12), 제 1 차동 증폭기(21), 제 2 차동 증폭기(22), 제 3 차동 증폭기(30), 펄스 발생기(40) 그리고, 내부 회로 신호 입력 단자(50)를 포함하고 있다.Referring to FIG. 1, the asymmetric input buffer according to the first embodiment of the present invention includes a first external signal input terminal 11, a second external signal input terminal 12, a first differential amplifier 21, and a second differential. An amplifier 22, a third differential amplifier 30, a pulse generator 40, and an internal circuit signal input terminal 50 are included.

상기 제 1 외부 신호 입력 단자(11)는 상기 제 1 차동 증폭기(21)와 상기 제 2 차동 증폭기(22)의 제 1 입력 단자들에 연결되어 있다. 상기 제 2 외부 신호 입력 단자(12)는 상기 제 1 차동 증폭기(21)와 상기 제 2 차동 증폭기(22)의 제 2 입력 단자들에 연결되어 있다. 상기 제 1 차동 증폭기(21)의 제 1 입력 단자는 상기 제 1 외부 신호 입력 단자(11)에 연결되고 제 2 입력 단자는 상기 제 2 외부 신호 입력 단자(12)와 연결되고 출력 단자는 상기 제 3 차동 증폭기(30)의 제 1 입력 단자에 연결되어 있다. 상기 제 2 차동 증폭기(22)의 제 1 입력 단자는 상기 제 1 외부 신호 입력 단자(11)에 연결되고 제 2 입력 단자는 상기 제 2 외부 신호 입력 단자(12)와 연결되고 상기 출력 단자는 상기 제 3 차동 증폭기(30)의 제 2 입력 단자에 연결되어 있다.The first external signal input terminal 11 is connected to first input terminals of the first differential amplifier 21 and the second differential amplifier 22. The second external signal input terminal 12 is connected to the second input terminals of the first differential amplifier 21 and the second differential amplifier 22. The first input terminal of the first differential amplifier 21 is connected to the first external signal input terminal 11, the second input terminal is connected to the second external signal input terminal 12, and the output terminal is the first input terminal. 3 is connected to the first input terminal of the differential amplifier 30. A first input terminal of the second differential amplifier 22 is connected to the first external signal input terminal 11, a second input terminal is connected to the second external signal input terminal 12, and the output terminal is connected to the It is connected to the second input terminal of the third differential amplifier 30.

상기 제 3 차동 증폭기(30)의 제 1 입력 단자는 상기 제 1 차동 증폭기(21)의 상기 출력 단자에 연결되고 제 2 입력 단자는 상기 제 2 차동 증폭기(22)의 상기 출력 단자에 연결되고 상기 출력 단자는 상기 펄스 발생기(40)의 입력 단자에 연결되어 있다. 상기 펄스 발생기(40)의 상기 입력 단자는 상기 제 3 차동 증폭기(30)의 상기 출력 단자와 연결되고 출력 단자는 상기 내부 회로 입력 단자(50)와 연결되어 있다.The first input terminal of the third differential amplifier 30 is connected to the output terminal of the first differential amplifier 21 and the second input terminal is connected to the output terminal of the second differential amplifier 22 and the The output terminal is connected to the input terminal of the pulse generator 40. The input terminal of the pulse generator 40 is connected with the output terminal of the third differential amplifier 30 and the output terminal is connected with the internal circuit input terminal 50.

도 2a는 본 발명에 따른 비대칭 입력 버퍼의 A형 증폭기의 구성을 보여주는 회로도이다.2A is a circuit diagram showing the configuration of an A-type amplifier of an asymmetric input buffer according to the present invention.

다시 도 2a를 참조하면, 본 발명의 비대칭 입력 버퍼의 A형 증폭기(60)는 서로 다른 채널의 크기를 갖는 PMOS 트랜지스터들(M1, M2, M3)과 NMOS 트랜지스터들(M3, M4)을 포함한다. 상기 PMOS 트랜지스터(M1)는 소오스, 게이트 및 드레인을 갖고, 상기 소오스는 상기 제 2 PMOS 트랜지스터(M2)의 드레인에 연결되고 상기 게이트는 상기 제 2 외부 신호 입력 단자(12)와 상기 MOS 트랜지스터들(M2, M3, M4)의 게이트들이 접속된 점에 연결되고 상기 드레인은 외부 전압 전원에 연결되어 있다. 상기 PMOS 트랜지스터(M2)는 소오스, 게이트 및 드레인을 갖고, 상기 소오스는 상기 NMOS 트랜지스터(M3)의 드레인과 출력 단자(80)의 접속점에 연결되고 상기 게이트는 상기 제 2 외부 신호 입력 단자(12)와 상기 MOS 트랜지스터들(M1, M3, M4)의 게이트들이 접속된 점에 연결되고 상기 드레인은 상기 PMOS 트랜지스터(M1)의 소오스와 연결되어 있다.Referring again to FIG. 2A, the A-type amplifier 60 of the asymmetric input buffer of the present invention includes PMOS transistors M1, M2, M3 and NMOS transistors M3, M4 having different channel sizes. . The PMOS transistor M1 has a source, a gate and a drain, the source is connected to the drain of the second PMOS transistor M2 and the gate is connected to the second external signal input terminal 12 and the MOS transistors ( The gates of M2, M3 and M4 are connected to the connected point and the drain is connected to an external voltage power supply. The PMOS transistor M2 has a source, a gate and a drain, and the source is connected to a connection point of the drain and the output terminal 80 of the NMOS transistor M3 and the gate is connected to the second external signal input terminal 12. And the gates of the MOS transistors M1, M3, and M4 are connected, and the drain is connected to the source of the PMOS transistor M1.

상기 PMOS 트랜지스터(M3)는 소오스, 게이트 및 드레인을 갖고, 상기 소오스는 제 1 접지 전원과 연결되고 상기 게이트는 상기 제 2 외부 신호 입력 단자(12)와 상기 MOS 트랜지스터들(M1, M2, M4)의 게이트들이 접속된 점에 연결되고 상기 드레인은 상기 PMOS 트랜지스터(M2)의 상기 소오스에 연결되어 있다. 상기 NMOS 트랜지스터(M4)는 소오스, 게이트 및 드레인을 갖고, 상기 소오스는 제 2 접지 전원에 연결되고 상기 게이트는 상기 제 2 외부 신호 입력 단자(12)와 상기 MOS 트랜지스터들(M1, M2, M3)의 게이트들이 접속된 점에 연결되고 상기 드레인은 상기 PMOS 트랜지스터(M10)의 소오스에 연결되어 있다. 상기 PMOS 트랜지스터(M10)는 소오스, 게이트 및 드레인을 갖고, 상기 소오스는 상기 NMOS 트랜지스터(M9)의 드레인과 연결되고 상기 게이트는 상기 제 1 외부 신호 입력 단자(11)와 연결되고 상기 드레인은 상기 PMOS 트랜지스터들(M1, M2)의 접속점에 연결되어 있다.The PMOS transistor M3 has a source, a gate and a drain, the source is connected to a first ground power source and the gate is connected to the second external signal input terminal 12 and the MOS transistors M1, M2, and M4. Are connected to the point at which the gates of the gate are connected and the drain is connected to the source of the PMOS transistor M2. The NMOS transistor M4 has a source, a gate and a drain, the source is connected to a second ground power source and the gate is connected to the second external signal input terminal 12 and the MOS transistors M1, M2, M3. Are connected to the point where the gates of the gates are connected and the drain is connected to the source of the PMOS transistor M10. The PMOS transistor M10 has a source, a gate and a drain, the source is connected to the drain of the NMOS transistor M9, the gate is connected to the first external signal input terminal 11, and the drain is the PMOS. It is connected to the connection point of the transistors M1 and M2.

도 2b는 본 발명에 따른 비대칭 입력 버퍼의 B형 증폭기의 구성을 보여주는 회로도이다.Figure 2b is a circuit diagram showing the configuration of the B-type amplifier of the asymmetric input buffer according to the present invention.

다시 도 2b를 참조하면, 본 발명의 비대칭 입력 버퍼의 B형 증폭기(60)는 서로 같은 채널의 크기를 갖는 PMOS 트랜지스터들(M6, M7, M10)과 NMOS 트랜지스터들(M8, M9)을 포함한다. 상기 PMOS 트랜지스터(M6)는 소오스, 게이트 및 드레인을 갖고, 상기 소오스는 상기 제 2 PMOS 트랜지스터(M7)의 드레인에 연결되고 상기 게이트는 상기 제 2 외부 신호 입력 단자(12)와 상기 MOS 트랜지스터들(M7, M8, M9)의 게이트들이 접속된 점에 연결되고 상기 드레인은 외부 전압 전원에 연결되어 있다. 상기 PMOS 트랜지스터(M7)는 소오스, 게이트 및 드레인을 갖고, 상기 소오스는 상기 NMOS 트랜지스터(M8)의 드레인과 출력 단자(80)의 접속점에 연결되고 상기 게이트는 상기 제 2 외부 신호 입력 단자(12)와 상기 MOS 트랜지스터들(M6, M8, M9)의 게이트들이 접속된 점에 연결되고 상기 드레인은 상기 PMOS 트랜지스터(M6)의 소오스와 연결되어 있다.Referring again to FIG. 2B, the B-type amplifier 60 of the asymmetric input buffer of the present invention includes PMOS transistors M6, M7 and M10 and NMOS transistors M8 and M9 having the same channel size. . The PMOS transistor M6 has a source, a gate and a drain, the source is connected to the drain of the second PMOS transistor M7 and the gate is connected to the second external signal input terminal 12 and the MOS transistors ( The gates of M7, M8 and M9 are connected to the connected point and the drain is connected to an external voltage power supply. The PMOS transistor M7 has a source, a gate and a drain, the source being connected to a connection point of the drain and the output terminal 80 of the NMOS transistor M8 and the gate is connected to the second external signal input terminal 12. And the gates of the MOS transistors M6, M8, and M9 are connected, and the drain is connected to the source of the PMOS transistor M6.

상기 PMOS 트랜지스터(M8)는 소오스, 게이트 및 드레인을 갖고, 상기 소오스는 제 1 접지 전원과 연결되고 상기 게이트는 상기 제 2 외부 신호 입력 단자(12)와 상기 MOS 트랜지스터들(M6, M7, M9)의 게이트들이 접속된 점에 연결되고 상기 드레인은 상기 PMOS 트랜지스터(M7)의 상기 소오스에 연결되어 있다. 상기 NMOS 트랜지스터(M9)는 소오스, 게이트 및 드레인을 갖고, 상기 소오스는 제 2 접지 전원에 연결되고 상기 게이트는 상기 제 2 외부 신호 입력 단자(12)와 상기 MOS 트랜지스터들(M6, M7, M8)의 게이트들이 접속된 점에 연결되고 상기 드레인은 상기 PMOS 트랜지스터(M10)의 소오스에 연결되어 있다. 상기 PMOS 트랜지스터(M10)는 소오스, 게이트 및 드레인을 갖고, 상기 소오스는 상기 NMOS 트랜지스터(M9)의 드레인과 연결되고 상기 게이트는 상기 제 1 외부 신호 입력 단자(11)와 연결되고 상기 드레인은 상기 PMOS 트랜지스터들(M6, M7)의 접속점에 연결되어 있다.The PMOS transistor M8 has a source, a gate and a drain, the source is connected to a first ground power source and the gate is connected to the second external signal input terminal 12 and the MOS transistors M6, M7, and M9. Are connected to the point at which the gates of the gate are connected and the drain is connected to the source of the PMOS transistor M7. The NMOS transistor M9 has a source, a gate and a drain, the source is connected to a second ground power source and the gate is connected to the second external signal input terminal 12 and the MOS transistors M6, M7, M8. Are connected to the point where the gates of the gates are connected and the drain is connected to the source of the PMOS transistor M10. The PMOS transistor M10 has a source, a gate and a drain, the source is connected to the drain of the NMOS transistor M9, the gate is connected to the first external signal input terminal 11, and the drain is the PMOS. It is connected to the connection point of the transistors M6 and M7.

도 3은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 비대칭 입력 버퍼의 구성을 보여주는 블럭도이다.3 is a block diagram illustrating a configuration of an asymmetric input buffer according to a second embodiment of the present invention.

다시 도 3을 참조하면, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 비대칭 입력 버퍼는 상기 제 1 실시예에 따른 상기 비대칭 입력 버퍼에 제 4 차동 증폭기(23)와 제 5 차동 증폭기(24)를 부가적으로 포함한다. 상기 제 4 차동 증폭기(23)의 제 1 입력 단자는 상기 제 1 차동 증폭기(21)의 출력 단자와 연결되고 제 2 입력 단자는 상기 제 2 차동 증폭기(22)의 출력 단자와 연결되고 출력 단자는 상기 제 3 차동 증폭기(30)의 제 1 입력 단자와 연결된다. 상기 제 5 차동 증폭기(24)의 제 1 입력 단자는 상기 제 1 차동 증폭기(21)의 출력 단자와 연결되고 제 2 입력 단자는 상기 제 2 차동 증폭기(22)의 출력 단자와 연결되고 출력 단자는 상기 제 3 차동 증폭기(30)의 제 2 입력 단자와 연결된다.Referring again to FIG. 3, an asymmetric input buffer according to the second embodiment of the present invention additionally adds a fourth differential amplifier 23 and a fifth differential amplifier 24 to the asymmetric input buffer according to the first embodiment. Include as. The first input terminal of the fourth differential amplifier 23 is connected with the output terminal of the first differential amplifier 21, the second input terminal is connected with the output terminal of the second differential amplifier 22, and the output terminal is It is connected to the first input terminal of the third differential amplifier 30. The first input terminal of the fifth differential amplifier 24 is connected to the output terminal of the first differential amplifier 21, the second input terminal is connected to the output terminal of the second differential amplifier 22, and the output terminal is It is connected to the second input terminal of the third differential amplifier 30.

도 4는 본 발명에 따른 비대칭 입력 버퍼의 동작 타이밍도이다.4 is an operation timing diagram of an asymmetric input buffer according to the present invention.

다시 도 1 내지 도 4를 참조하여, 본 발명의 비대칭 버퍼의 동작이 설명된다.Referring back to Figures 1-4, the operation of the asymmetric buffer of the present invention is described.

상기 제 1 차동 증폭기(21)는 상기 A형 증폭기(60)를 포함하고 있다. 상기 제 1 차동 증폭기(21)는 제 1 및 제 2 입력 단자들로 공급되는 상기 제 1 및 제 2 외부 신호들(EXTS1, EXTS2)을 위상과 레벨이 전환된 제 1 출력 신호로 출력한다.The first differential amplifier 21 includes the A-type amplifier 60. The first differential amplifier 21 outputs the first and second external signals EXTS1 and EXTS2 supplied to the first and second input terminals as first output signals of which phase and level are switched.

예컨데, 상기 제 1 외부 신호(EXTS1)의 전압 레벨이 로우 레벨이고 상기 제 2 외부 신호(EXTS2)의 전압 레벨이 하이 레벨이면, 상기 제 1 차동 증폭기(21)의 상기 MOS 트랜지스터들(M3, M4)의 채널들이 도통되고 상기 MOS 트랜지스터들(M1, M2, M5)의 채널들은 차단된다. 이로인해 상기 MOS 트랜지스터들(M3, M4)의 채널들을 통해 전하들이 상기 제 1 및 제 2 접지 전원을 통해 상기 B형 차동 증폭기(70)보다 느리게 방전된다. 그러므로 상기 출력 단자(80)의 상기 제 1 출력 신호의 전압 레벨은 상기 B형 차동 증폭기(70)의 출력 신호보다 느리게 로우 레벨로 전환된다.For example, when the voltage level of the first external signal EXTS1 is low and the voltage level of the second external signal EXTS2 is high, the MOS transistors M3 and M4 of the first differential amplifier 21. Channels are turned on and the channels of the MOS transistors M1, M2, and M5 are blocked. As a result, charges are discharged more slowly through the channels of the MOS transistors M3 and M4 than the type B differential amplifier 70 through the first and second ground power supplies. Therefore, the voltage level of the first output signal of the output terminal 80 is switched to the low level slower than the output signal of the B-type differential amplifier 70.

상기 제 1 외부 신호(EXTS1)의 전압 레벨이 하이 레벨이고 상기 제 2 외부 신호(EXTS2)의 전압 레벨이 로우 레벨이면, 상기 제 1 차동 증폭기(21)의 상기 MOS 트랜지스터들(M3, M4)의 채널들이 차단되고 상기 MOS 트랜지스터들(M1, M2, M5)의 채널들은 도통된다. 이로인해 상기 MOS 트랜지스터들(M1, M2, M5)의 채널들을 통해 전하들이 상기 출력 단자(80)로 공급되고 상기 출력 단자(80)의 출력 신호 전압 레벨은 하이 레벨로 전환된다. 이때, 상기 MOS 트랜지스터(M5)의 채널의 크기가 상기 B형 증폭기(22)의 MOS 트랜지스터(M6)의 채널의 크기보다 크므로 상기 제 1 차동 증폭기(21)의 제 1 출력 신호의 레벨은 상기 제 2 차동 증폭기(22)의 출력 신호의 레벨보다 빨리 상승한다.When the voltage level of the first external signal EXTS1 is high and the voltage level of the second external signal EXTS2 is low, the MOS transistors M3 and M4 of the first differential amplifier 21 are turned on. Channels are blocked and the channels of the MOS transistors M1, M2, M5 are conductive. As a result, charges are supplied to the output terminal 80 through the channels of the MOS transistors M1, M2, and M5 and the output signal voltage level of the output terminal 80 is switched to a high level. In this case, since the size of the channel of the MOS transistor M5 is larger than that of the channel of the MOS transistor M6 of the B-type amplifier 22, the level of the first output signal of the first differential amplifier 21 is increased. It rises faster than the level of the output signal of the second differential amplifier 22.

상기 제 2 차동 증폭기(22)는 상기 B형 증폭기(70)를 포함하고 있다. 상기 제 2 차동 증폭기(21)는 제 1 및 제 2 입력 단자들로 공급되는 상기 제 1 및 제 2 외부 신호들(EXTS1, EXTS2)을 위상과 레벨이 전환된 제 2 출력 신호를 출력한다.The second differential amplifier 22 includes the B type amplifier 70. The second differential amplifier 21 outputs a second output signal in which phases and levels are switched from the first and second external signals EXTS1 and EXTS2 supplied to the first and second input terminals.

예컨데, 상기 제 1 외부 신호(EXTS1)의 전압 레벨이 로우 레벨이고 상기 제 2 외부 신호(EXTS2)의 전압 레벨이 하이 레벨이면, 상기 제 2 차동 증폭기(21)의 상기 MOS 트랜지스터들(M3, M4)의 채널들이 도통되고 상기 MOS 트랜지스터들(M6, M7, M10)의 채널들은 차단된다. 이로인해 상기 외부 전압 전원으로부터 공급되는 전하들이 상기 MOS 트랜지스터들(M8, M9)의 채널들을 통해 A형 차동 증폭기(60)보다 빠르게 방전된다. 그러므로 상기 출력 단자(90)의 제 2 출력 신호의 전압 레벨은 상기 A형 차동 증폭기(60)보다 빠르게 로우 레벨로 전환된다.For example, when the voltage level of the first external signal EXTS1 is low and the voltage level of the second external signal EXTS2 is high, the MOS transistors M3 and M4 of the second differential amplifier 21. Channels are turned on and the channels of the MOS transistors M6, M7, and M10 are blocked. As a result, charges supplied from the external voltage power supply are discharged faster than the A-type differential amplifier 60 through the channels of the MOS transistors M8 and M9. Therefore, the voltage level of the second output signal of the output terminal 90 is switched to the low level faster than the type A differential amplifier 60.

상기 제 1 외부 신호(EXTS1)의 전압 레벨이 하이 레벨이고 상기 제 2 외부 신호(EXTS2)의 전압 레벨이 로우 레벨이면, 상기 제 2 차동 증폭기(22)의 상기 MOS 트랜지스터들(M8, M9)의 채널들이 차단되고 상기 MOS 트랜지스터들(M6, M7, M10)의 채널들은 도통된다. 이로인해 상기 MOS 트랜지스터들(M6, M7, M10)의 채널들을 통해 전하들이 상기 출력 단자(90)로 공급된다. 상기 출력 단자(90)의 제 2 출력 신호 전압 레벨은 상기 제 1 차동 증폭기(21)보다 느리게 하이 레벨로 전환된다. 이때, 상기 MOS 트랜지스터들(M6, M7, M10)의 채널의 크기들이 서로 같으므로 상기 MOS 트랜지스터들(M6, M7, M10)의 접속점과 상기 MOS 트랜지스터들(M9, M10)의 접속점 사이로 전달되는 전하들로 인한 시간 지연이 발생하게 된다.When the voltage level of the first external signal EXTS1 is high and the voltage level of the second external signal EXTS2 is low, the MOS transistors M8 and M9 of the second differential amplifier 22 are disposed. Channels are blocked and the channels of the MOS transistors M6, M7, M10 are conductive. This causes charges to be supplied to the output terminal 90 through the channels of the MOS transistors M6, M7, M10. The second output signal voltage level of the output terminal 90 is switched to the high level slower than the first differential amplifier 21. In this case, since the channel sizes of the MOS transistors M6, M7, and M10 are the same, the charges transferred between the connection point of the MOS transistors M6, M7, and M10 and the connection points of the MOS transistors M9 and M10 are the same. Will cause a time delay.

상기 제 2 차동 증폭기(30)의 상기 제 1 입력 단자에는 상기 제 1 차동 증폭기(21)에서 출력되는 상기 제 1 출력 신호가 입력되고 상기 제 2 입력 단자에는 상기 제 2 차동 증폭기(22)에서 출력된 상기 제 2 출력 신호가 입력된다. 상기 제 3 차동 증폭기(30)의 상기 출력 단자로 상기 제 1 및 제 2 출력 신호의 위상과 레벨이 전환되어 제 3 출력 신호가 출력된다.The first output signal output from the first differential amplifier 21 is input to the first input terminal of the second differential amplifier 30, and the second differential amplifier 22 is output to the second input terminal. The second output signal is input. Phases and levels of the first and second output signals are switched to the output terminals of the third differential amplifier 30 to output a third output signal.

예컨테, 상기 제 1 및 제 2 출력 신호들의 위상들이 동시에 하이 레벨일 때에는 상기 제 3 차동 증폭기(30)의 제 3 출력 신호의 전압 레벨은 빠르게 하강한다. 상기 제 1 출력 신호의 위상이 로우 레벨이고 상기 제 2 출력 신호의 위상이 하이 레벨일 때에는 상기 제 3 출력 신호의 출력 레벨은 느리게 상승한다. 상기 펄스 발생기(40)는 상기 제 3 출력 신호의 빠르게 하강하는 전압 레벨에 의해 종래의 실시예에 따른 대칭 입력 버퍼의 출력 신호보다 시간이 단축된 로우 레벨의 활성화 펄스를 발생한다.For example, when the phases of the first and second output signals are at a high level at the same time, the voltage level of the third output signal of the third differential amplifier 30 drops rapidly. When the phase of the first output signal is low level and the phase of the second output signal is high level, the output level of the third output signal rises slowly. The pulse generator 40 generates a low level activation pulse whose time is shorter than the output signal of the symmetrical input buffer according to the conventional embodiment by the rapidly falling voltage level of the third output signal.

상기한 바와같이, 비대칭적인 증폭기들을 사용함으로써 외부 신호의 입력으로부터 내부 활성화 신호의 발생까지의 시간 지연을 줄일 수 있다. 그 결과, 내부 회로의 동작 속도를 향상시킬 수 있다.As mentioned above, the use of asymmetrical amplifiers can reduce the time delay from the input of the external signal to the generation of the internal activation signal. As a result, the operation speed of the internal circuit can be improved.

Claims (2)

제 1 외부 신호를 공급받는 제 1 입력 단자와;A first input terminal receiving a first external signal; 제 2 외부 신호를 공급받는 제 2 입력 단자와;A second input terminal receiving a second external signal; 상기 제 1 및 제 2 입력 단자들을 통해서 상기 제 1 및 제 2 외부 신호들을 제공받고 그리고 상기 제 1 및 제 2 외부 신호들에 제어되는 제 1 및 제 2 트랜지스터들을 가지며, 상기 제 2 외부 신호의 위상을 반전시킨 제 1 신호를 발생하는 제 1 차동 증폭기와;A phase of the second external signal having first and second transistors received through the first and second input terminals and controlled to the first and second external signals; A first differential amplifier for generating a first signal inverting the signal; 상기 제 1 및 제 2 입력 단자들을 통해서 상기 제 1 및 제 2 외부 신호들을 제공받고 그리고 상기 제 1 및 제 2 신호들에 제어되는 제 3 및 제 4 입력 트랜지스터들을 가지며, 상기 제 2 외부 신호의 위상을 반전시킨 제 2 신호를 발생하는 제 2 차동 증폭기와;A phase of the second external signal having third and fourth input transistors provided with the first and second external signals and controlled to the first and second signals via the first and second input terminals; A second differential amplifier for generating a second signal inverted; 상기 제 1 및 제 2 차동 증폭기로부터 출력되는 상기 제 1 및 제 2 신호들을 받아들이고, 그리고 상기 제 2 신호의 위상을 반전시킨 제 3 신호를 발생하는 제 3 차동 증폭기 및;A third differential amplifier receiving the first and second signals output from the first and second differential amplifiers and generating a third signal inverting the phase of the second signal; 상기 제 3 신호가 로우 레벨로 천이될 때 펄스 신호를 발생하는 펄스 발생기를 포함하되, 상기 제 1 및 제 2 입력 트랜지스터들의 사이즈는 상기 제 3 및 제 4 입력 트랜지스터들의 사이즈와 다른 반도체 장치의 입력 버퍼 회로.And a pulse generator for generating a pulse signal when the third signal transitions to a low level, wherein the size of the first and second input transistors is different from the size of the third and fourth input transistors. Circuit. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 및 제 2 입력 단자들 중 하나의 입력 단자로 기준 전압 레벨의 신호가 공급되는 반도체 장치의 입력 버퍼 회로.And an input buffer circuit of a semiconductor device, wherein a signal having a reference voltage level is supplied to one of the first and second input terminals.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190075206A (en) * 2017-12-21 2019-07-01 에스케이하이닉스 주식회사 Receiving circuit and integrated circuit system

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