KR19990041653A - How to test the standby side of the electronic switchboard - Google Patents

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Abstract

본 발명은 전전자 교환기의 상기 스탠바이측 프로세서 테스트 방법에 관한 것으로, 맨&머신 통신 포트로부터 스탠바이측 테스트 요구와, 액티브측으로부터 액티브측/스탠바이측 이중화 상태를 확인 요구에 의해 이중화 보드가 정상이면, 액티브측에서 스탠바이측으로 오버-라이트되는 것을 막기 위해 이중화 관련 레지스터를 이용하여 이중화 모드를 절단한후, 테스트 명령어를 스탠바이측으로 전송하고, 액티브측은 프로세서 본래의 기능을 수행하므로, 하드웨어 장애에 의한 보드 교체시 연동 상태를 편리하게 확인하여 안전하게 조치할 수 있고, 시스템 운용중 조치 과정에서 발생될 수 있는 심각한 장애를 미연에 방지할 수 있는 효과가 있다.The present invention relates to the standby processor test method of the electronic switch, and if the redundant board is normal by the standby side test request from the man & machine communication port and the active side / standby side redundancy state request from the active side, In order to prevent over-writing from the active side to the standby side, the redundancy mode is cut using the redundancy related register, and then a test command is sent to the standby side, and the active side performs the original function of the processor. It can check the interlocking status conveniently and take safe measures, and it can effectively prevent serious obstacles that may occur in the course of action during system operation.

Description

전전자 교환기의 스탠바이측 프로세서 테스트 방법How to test the standby side of the electronic switchboard

본 발명은 전전자 교환기(Full Electronic Telephone eXchange)에 관한 것으로, 특히 스탠바이측 프로세서 보드의 이상 유무 기능을 확인할 수 있도록 한 전전자 교환기의 스탠바이측 프로세서 테스트 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a full electronic telephone exchange, and more particularly, to a standby side processor test method of an all electronic exchanger capable of confirming a function of a standby side processor board.

일반적으로, 전전자 교환기는 모든 상/하위 프로세서와 물리 계층이 기본적으로 셋-업(Set-Up)이 완료되고, 운용 시스템이 시작되어 오랜 시간동안 특별한 장애가 발생되지 않고 운용이 되어야 하며 간혹 상/하위 프로세서의 불량에 의한 수리가 이루어 짐에 따라 장시간 동안 운용되어야 할 분산 시스템의 경우 각종 장애 및 장애 내역이 발생할때마다 보드 이상 증세 확인 및 보드 교체시 전전자 교환기 자체에서 프로세서 보드의 여러 가지 기능을 신속/정확히 확인하여 정확한 조치를 하고자 한다.In general, electronic switchboards require that all upper and lower processors and the physical layer have basically been set-up completed, the operating system started up, and operated for a long time without any special faults. In case of a distributed system that needs to be operated for a long time due to the repair of the lower processor, whenever the various faults and failures occur, check the board abnormality and replace the board with various functions of the processor board. We want to confirm quickly and accurately and take corrective action.

종래 전전자 교환기 내부에 탑재되어 있는 상/하위 프로세서중 스탠바이측 프로세서 보드의 간단한 테스트 과정에서 시스템 내부적으로 연동 테스트를 거치지 않으며, 전전자 교환기 내부에 실질적으로 실장하여 시스템 연동을 할 수 없도록 되어 있다.In the simple test process of the standby side processor board among the upper / lower processors mounted in the conventional electronic switchboard, the system does not undergo the interlocking test, and the system interworking is not possible by actually mounting the system inside the electronic switchboard.

따라서, 전전자 교환기 내부에 실질적으로 실장된후, 시스템 연동을 하는중에 장애 발생시 다른 여분의 보드를 적용하거나, 다른 보드로 교체할 때, 교체 시간 초과와, 이상 징후가 발생한 프로세서 내부 보드들을 원거리 공장으로 가지고 가서 이상 유무를 확인해야 하는 비효율적인 문제점이 있었다.Therefore, after the system is mounted inside the electronic switchboard, when the system is interlocked, the processor internal boards with the replacement timeout and the abnormality occurred when the other boards are applied or replaced with other boards may be remotely installed. There was an inefficient problem that should be taken and checked for abnormalities.

본 발명은 이러한 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로서, 그 목적은 교환기 내부 스탠바이측 프로세서 장애 발생시 장애내역을 시스템 자체적으로 테스트하여 정확한 원인을 확인하거나, 장애 발생시 다른 여분의 보드를 적용하고, 실제 시스템에서 각각의 기능들을 연동 시험하여 장애 오류를 방지하며, 신속/정확한 하드웨어 교체가 이루어 질 수 있도록 한 전전자 교환기의 스탠바이측 프로세서 테스트 방법을 제공하는데 있다.The present invention has been made to solve such a problem, the object of the present invention is to check the exact cause by checking the system itself in the event of a standby processor failure inside the switch, or in the event of a failure to apply another spare board, In order to prevent failure errors by interlocking each function, and to provide fast and accurate hardware replacement, a standby processor test method of an electronic switch is provided.

이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명은 전전자 교환기의 상기 스탠바이측 프로세서 테스트 방법에 관한 것으로, 맨&머신 통신 포트로부터 스탠바이측 테스트 요구를 받는 단계와; 액티브측으로부터 액티브측/스탠바이측 이중화 상태를 확인하는 단계와; 액티브측/스탠바이측 이중화 상태를 확인한후, 이중화 상태가 정상인가를 판단하는 단계와; 이중화 상태가 비정상이면, 에러 메시지를 출력하는 단계와; 이중화 상태가 정상이면, 액티브측에서 스탠바이측으로 오버-라이트되는 것을 막기 위해 이중화 관련 레지스터를 이용하여 이중화 모드를 절단하는 단계와; 이중화 보드가 절단된후, 스탠바이측 테스트 명령어를 스탠바이측으로 전송하고, 액티브측은 프로세서 본래의 기능을 수행하는 단계를 포함한다.The present invention for achieving the above object relates to the standby side processor test method of the electronic switch, comprising: receiving a standby side test request from the man & machine communication port; Confirming an active side / standby side redundancy state from the active side; Checking the active side / standby side redundancy state and determining whether the redundancy state is normal; If the duplication state is abnormal, outputting an error message; If the redundancy state is normal, cutting off the redundancy mode using a redundancy related register to prevent over-writing from the active side to the standby side; After the redundant board is cut off, the standby side test command is sent to the standby side, and the active side includes performing the processor original function.

도 1은 본 발명에 의한 전전자 교환기의 스탠바이측 프로세서 테스트 방법의 전체적인 블록 구성도,1 is an overall block diagram of a standby side processor test method of an electronic switching system according to the present invention;

도 2는 본 발명에 의한 전전자 교환기에서 스탠바이측 테스트 기능을 수행하기 위한 세부적인 상세 흐름도,2 is a detailed detailed flowchart for performing a standby side test function in an all-electronic exchange according to the present invention;

도 3은 액티브측 프로세서에서 스탠바이측 테스트 결과를 수집하는 방법에 대한 세부적인 상세 흐름도,3 is a detailed detailed flowchart of a method of collecting standby test results from an active processor;

도 4는 액티브측 요구에 의한 스탠바이측 테스트 기능을 수행하는 방법에 대한 세부적인 상세 흐름도,4 is a detailed detailed flowchart of a method of performing a standby side test function by an active side request;

도 5는 액티브측에서 상대측인 스탠바이측으로 일반적인 스탠바이측으로의 복구 요구에 대한 세부적인 상세 흐름도.Fig. 5 is a detailed detailed flowchart of the recovery request from the active side to the standby side, which is the opposite side, to the normal standby side.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>

10 : IPC부 20-0∼20-n : MP0부∼MPn부10: IPC section 20-0 to 20-n: MP0 section to MPn section

30 : 유지보수 프로세서 32 : DKU부30: maintenance processor 32: DKU unit

34 : RDKU부 36 : CTU부34: RDKU section 36: CTU section

38 : MTU부 40 : MMC포트부38: MTU part 40: MMC port part

50 : EXIP부 60-0∼60-n : TP0부∼TPn부50: EXIP part 60-0 to 60-n: TP0 part to TPn part

이하, 첨부된 도면을 참조하여 설명되는 본 발명의 실시예로부터 본발명의 목적 및 특징이 보다 명확하게 이해될 수 있도록 보다 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, the objects and features of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings so that the objects and features of the present invention can be more clearly understood.

도 1은 본 발명에 의한 전전자 교환기의 스탠바이측 프로세서 테스트 방법의 블록 구성도로서, 내부 프로세서 통신(Inter Processor Communication : 이하, IPC라 약칭함)부(10)와, 메인 프로세서(Main Processor : 이하, MP라 약칭함)0부∼MPn부(20-0∼20-n)와, 유지보수 프로세서(30)와, 하드 디스크 유니트(DisK Unit : 이하, DKU라 약칭함)부(32)와, 리무버블 디스크(Removable DisK Unit : 이하, RDKU라 약칭함)부(34)와, 카드리지 테이프(Cartridge Tape Unit : 이하, CTU라 약칭함)부(36)와, 마그네틱 테이프(Magnetic Tape Unit : 이하, MTU라 약칭함)부(38)와, 맨 & 머신 통신(Man & Machine Communication : 이하, MMC라 약칭함)포트부(40)와, 이더넷 X.25 인터페이스 프로세서(Ethernet X.25 Interface Processor : EXIP라 약칭함)부(50)와, 텔레포니 프로세서(Telephony Processor : TP라 약칭함)0부∼TPn부(60-0∼60-n)로 구성된다.1 is a block diagram of a standby processor test method of an electronic switching system according to the present invention, which includes an internal processor communication unit (hereinafter referred to as IPC) unit 10 and a main processor (hereinafter referred to as “main processor”). 0 to MPn (20-0 to 20-n), maintenance processor 30, hard disk unit (hereinafter referred to as DKU) section 32, Removable Disc Unit (hereinafter referred to as RDKU) section 34, Cartridge Tape Unit (hereinafter referred to as CTU) section 36, and Magnetic Tape Unit (hereinafter referred to as "CTU"). MTU abbreviation) 38, Man & Machine Communication (hereinafter referred to as MMC) port portion 40, Ethernet X.25 Interface Processor (EXIP) D) 50 and a telephony processor (abbreviated to TP) 0 to TPn (60-0 to 60-n).

IPC부(10)는 전전자 교환기 프로세서에서 필수 불가결한 통신 수단으로, 로컬, 루프-백, 외부 IPC를 송/수신하고, 다수의 MP0∼MPn부(20-0∼20-n)와, 유지보수 프로세서(30)와, EXIP부(50)와, 다수의 TP0∼TPn부(60-0∼60-n)간에 프로세서 통신을 할수 있도록 하는 블록이다.The IPC unit 10 is an indispensable communication means in the electronic switch processor. The IPC unit 10 transmits / receives local, loop-back and external IPCs, and maintains a plurality of MP0 to MPn units (20-0 to 20-n). It is a block that enables processor communication between the maintenance processor 30, the EXIP unit 50, and the plurality of TP0 to TPn units 60-0 to 60-n.

MP0∼MPn부(20-0∼20-n)는 콘커런트 라이팅(Concurrent Writting) 방식을 이용한 액티브측/스탠바이측 이중화 구조로 구성되어 있는데, 만약 액티브측의 심각한 장애 발생시 스탠바이측은 즉시에 서비스의 유실없이 액티브측이 수행하던 다음부터 즉시에 수행하므로, 온라인 서비스의 유실없이 서비스를 보장하는 상태이고, 다수의 메인 프로세서는 기본적으로 디지털 신호 프로세서 어셈블리 보드(Digital Signal Processor Assembly board : 이하, DSPA라 약칭함)211, DSPA212(유지 보수 프로세서)가 연동해서 운용이 될 수 있으며, IPC, 메모리, 타이머 테스트 기능은 공통이고 SCSI, MMC(DSPA212) 기능은 프로세서의 성격에 따라 별도로 탑재가 가능한 블록이다.The MP0 to MPn sections (20-0 to 20-n) are composed of an active / standby side redundancy structure using concurrent writing (concurrent writing). If a serious failure occurs on the active side, the standby side immediately loses service. Since it is performed immediately after the active side without the active side, the service is guaranteed without loss of online service, and many main processors are basically digital signal processor assembly board (hereinafter, abbreviated as DSPA). 211, DSPA212 (maintenance processor) can be operated in conjunction, IPC, memory, timer test functions are common, SCSI, MMC (DSPA212) function is a block that can be installed separately depending on the characteristics of the processor.

여기서, 콘커런트 라이팅(Concurrent Writting) 방식은 액티브측에서 수행되는 모든 메모리 라이트(Write) 싸이클(Cycle)은 이중화 모드가 셋팅되어 있을 경우 스탠바이측 메모리에 반드시 라이트 해야지만, 한 싸이클이 완료되도록 하드웨어적으로 구현되어 있는 방식이며, 모드가 셋되어 있지 않으면, 전혀 상대편 메모리는 라이트되지 않고, 온리 셀프(Only Self) 메모리만 라이트하는 방식이다.Here, in the concurrent writing method, all memory write cycles performed on the active side must be written to the standby side memory when the redundancy mode is set, but the hardware is used to complete one cycle. If the mode is not set, the other memory is not written at all, and only the self memory is written.

유지보수 프로세서(30)는 하드웨어 테스트 및 운용 시스템 초기화와, 프로세서 동작 모드에 따른 로딩 수행과, 정상 동작을 위한 소프트웨어 초기화를 위해 동작하고, 액티브측/스탠바이측 이중화 구조로 구성되어 있는 프로세서로서, DKU부(32)와, RDKU부(34)와, CTU부(36)와, MTU부(38)간 스몰 컴퓨터 시스템 인터페이스(Small Computer System Interface : 이하, SCSI라 약칭함) 버스를 이용하여 유지보수를 하고, IPC, 타이머, 메모리, SCSI, MMC 기능을 수행하는 프로세서 블록이다.The maintenance processor 30 operates for hardware test and operation system initialization, loading according to the processor operating mode, and software initialization for normal operation, and is a processor configured in an active / standby side redundant structure. Maintenance is carried out using a small computer system interface (hereinafter, abbreviated as SCSI) bus between the unit 32, the RDKU unit 34, the CTU unit 36, and the MTU unit 38. And a processor block that performs IPC, timer, memory, SCSI, and MMC functions.

또한, 유지 보스 프로세서(30)와 인터페이스되어 있는 MMC포트부(40)는 도시되지 않은 입출력 프로세서(Input Output Processor : 이하, IOP라 약칭함)에서 동작하는 입출력 링크 제어를 할 수 있도록 하는 RS232C 인터페이스 포트이다.In addition, the MMC port portion 40 interfaced with the maintenance boss processor 30 is an RS232C interface port for controlling the input / output link operating in an input / output processor (hereinafter, referred to as IOP) not shown. to be.

여기서, IOP는 입출력 링크 제어를 담당하는 입출력 프로세서로서, 입출력 링크를 통해 입력 및 출력되는 메시지에 대한 분석 및 관리 기능을 수행하는 메시지 데이터 핸들링(Message Data Handling)과, 각 입출력 링크에 대한 상태 관리 및 입출력 제어 기능을 수행하는 입출력 프로세스 관리(Input Output Process Management)와, PC내의 하드디스크에 대한 파일 관리 기능을 수행하는 디스크 핸들링(Disk Handling)과, 시스템의 국데이터에 대한 생성 및 시스템 소프트웨어와의 정합 기능을 수행하는 데이터 발생(Data Generation)과, 운용중인 시스템 패키지로부터 국데이터를 축출하는 기능을 수행하는 데이터 익스트랙션(Data Extraction)으로 구성되며, MMC 포트를 이용하여 유지 보수 프로세서(30)와 인터페이스되어 있다.In this case, the IOP is an I / O processor for controlling the I / O link, and includes message data handling for analyzing and managing messages input and output through the I / O link, and state management for each I / O link. Input Output Process Management that performs I / O control functions, Disk Handling that performs file management functions for the hard disks in the PC, creation of station data of the system and matching with system software It consists of Data Generation that performs functions, and Data Extraction that performs the function of extracting station data from a running system package, and interfaces with the maintenance processor 30 using the MMC port. It is.

EXIP부(50)는 상기 IPC부(10)와 인터페이스 되어 액티브측/스탠바이측 이중화 구조로 구성된 프로세서로, 이더넷(Ethernet) X.25 정합 프로세서이다.The EXIP unit 50 is a processor configured to interface with the IPC unit 10 in an active / standby side redundant structure and is an Ethernet X.25 matching processor.

TP0∼TPn부(60-0∼60-n)는 IPC부(10)를 통해 MP0∼MPn부(20-0∼20-n)와 액티브측/스탠바이측 이중화 구조로 구성되어 내부 통신을 하는 프로세서로, 각각 히트(HIT) 버스를 통해 IPC, 메모리, 타이머, HIT 기능을 포함하고 있는 하위 프로세서 블록이다.The TP0 to TPn units 60-0 to 60-n are configured as an MP0 to MPn unit 20-0 to 20-n and an active / standby side redundant structure via the IPC unit 10 to perform internal communication. The lower processor block contains IPC, memory, timer, and HIT functions, respectively, through the HIT bus.

여기서, HIT 버스는 최대 2Mbps의 속도를 갖는 하이 데이터 링크 제어(High Data Link Control) 형태의 통신 경로로서, 하위 프로세서와 디바이스간에 2Mbps의 대역폭(Bandwidth)을 갖고 인터페이스하는 버스이다.Here, the HIT bus is a high data link control type communication path having a speed of up to 2Mbps, and is a bus that interfaces with a bandwidth of 2Mbps between the lower processor and the device.

상기와 같이 구성된 본 발명에 의한 전전자 교환기의 스탠바이측 프로세서 테스트 방법의 전체적인 블록 구성도에 대하여 설명하였고, 도 2는 본 발명에 의한 전전자 교환기에서 스탠바이측 테스트 기능을 수행하기 위한 세부적인 상세 흐름도를 설명한다.The overall block diagram of the standby side processor test method of the all-electronic exchange according to the present invention configured as described above has been described, and FIG. 2 is a detailed detailed flowchart for performing the standby side test function in the all-electronic exchange according to the present invention. Explain.

전전자 교환기 프로세서인 TP0∼TPn부(60-0∼60-n)와 MP0∼MPn부(20-0∼20-n)의 액티브(Active)측에서 스탠바이측 테스트 기능을 수행하기 위해 MMC로부터 스탠바이측 테스트 요구를 받으면(단계 200), 액티브측은 액티브측/스탠바이측 이중화 상태를 확인한다(단계 201).Standby from the MMC to perform the standby test function on the active side of the TP0 to TPn sections 60-0 to 60-n and the MP0 to MPn sections 20-0 to 20-n, which are all-electronic exchange processors. Upon receiving the side test request (step 200), the active side confirms the active side / standby side redundancy state (step 201).

여기서, 스탠바이측 테스트는 전전자 교환기 내부 모든 프로세서들은 모두 이중화로 구성되어 있으므로, 특정 프로세서에 하드웨어 이상 증세 판단시 액티브 사이드를 변경하고, 장애가 발생된 사이드에 여분의 보드로 교체한 다음 보드의 안정도를 확인하기 위한 기능이라고 말할 수 있다.Here, in the standby test, all the processors inside the electronic switch are configured with redundancy, so when a hardware abnormality is determined on a specific processor, the active side is changed, and the board is replaced with a spare board on the failed side, and then the stability of the board is changed. It can be said to be a function to check.

액티브측/스탠바이측 이중화 상태를 확인한후, 이중화 상태가 정상인가를 판단하여(단계 202) 이중화 상태가 비정상이면, 에러 메시지를 출력한다(단계 203).After confirming the active / standby side redundancy state, it is determined whether the redundancy state is normal (step 202), and if the redundancy state is abnormal, an error message is output (step 203).

여기서, 액티브측은 모든 프로세서가 이중화로 구성이 되어 있고, 실제 교환기 내부에서 자기에세 맡겨진 기능을 수행/처리하는 사이드(Side)이고, 스탠바이측은 자신은 실제 프로세서 본래에 맡겨진 기능을 전혀 수행하지 않고, 대기하고 있는 사이드(Side)이며, 액티브측에서 심각한 장애가 발생하여 더 이상 프로세서로의 기능을 수행할 수 없다고 판단되어 절체 요구가 들어 왔을 경우 즉시 액티브측으로서 기능을 수행할 수 있도록 만반의 준비 태세를 갖추고 있는 사이드(Side)이다.Here, the active side is a side in which all processors are configured in redundancy, and perform / process the functions entrusted to them in the actual exchange, and the standby side does not perform any functions entrusted to the actual processor at all. It is a side waiting, and if it is determined that a serious failure occurs on the active side and it is no longer able to perform the function to the processor, it is ready to perform the function as an active side immediately when a transfer request is received. It is Side having.

상기 판단에서 이중화 상태가 정상이면, 액티브측에서 스탠바이측으로 메모리 내용이 오버-라이트(Over-Write)되는 것을 막기 위해 이중화 관련 레지스터를 이용하여 모드(Mode)를 절단하므로 이중화 상태를 단절한다(단계 204).If the redundancy state is normal in the determination, the redundancy state is disconnected by cutting the mode using the redundancy related register to prevent the memory contents from being over-written from the active side to the standby side (step 204). ).

한편, 이중화 상태의 모드를 단절시킨 상태에서 스탠바이측 테스트 명령어를 스탠바이측으로 전송하고(단계 205), 액티브측은 프로세서 본래의 기능을 수행하고, 온라인 서비스에 전혀 영향을 주지않으며, 스탠바이측 보드의 기능을 시험할 수 있게 된다(단계 206).On the other hand, the standby side test command is sent to the standby side with the redundant mode disconnected (step 205), and the active side performs the original function of the processor, and does not affect the online service at all. Test is possible (step 206).

상기와 같이 구성된 본 발명에 의한 전전자 교환기에서 스탠바이측 테스트 기능을 수행하기 위한 세부적인 상세 흐름도에 대하여 설명하였고, 도 3은 액티브측 프로세서에서 스탠바이측 테스트 결과를 수집하는 방법에 대한 세부적인 상세 흐름도를 설명한다.A detailed detailed flowchart for performing the standby side test function in the all-electronic exchange according to the present invention configured as described above has been described. FIG. 3 is a detailed detailed flowchart of the method for collecting the standby side test result in the active side processor. Explain.

액티브측 프로세서가 자신의 프로세서에게 부여된 본래의 기능을 수행하는 과정에서 스탠바이측으로 부터 테스트 결과가 인터럽트로 들어오면 스탠바이측 테스트 종류를 파악 및 결과 저장 영역을 초기화하고, 종류별로 테스트 결과를 수집하게 된다(단계 300).If a test result comes from the standby side as an interrupt while the active processor performs an original function assigned to its processor, the standby test type is identified, the result storage area is initialized, and the test result is collected for each type. (Step 300).

먼저, IPC에 대한 테스트인가를 판단하여 IPC 테스트가 아니면, 종료하고, IPC 테스트이면, 시험 결과를 저장한다(단계 301).First, it is determined whether it is the test for the IPC, and if it is not the IPC test, the process is terminated. If the test is the IPC test, the test result is stored (step 301).

다음으로, 메모리에 대한 테스트인가를 판단하여 메모리 테스트가 아니면, 종료하고, 메모리 테스트이면, 시험 결과를 저장한다(단계 302).Next, it is determined whether it is a test for the memory, and if it is not a memory test, the process is terminated, and if it is a memory test, the test result is stored (step 302).

다음으로, 타이머에 대한 테스트인가를 판단하여 타이머 테스트가 아니면, 종료하고, 타이머 테스트이면, 시험 결과를 저장한다(단계 303).Next, it is determined whether or not the timer is a test, and if it is not the timer test, the process is terminated. If the timer test is performed, the test result is stored (step 303).

다음으로, SCSI에 대한 테스트인가를 판단하여 SCSI 테스트가 아니면, 종료하고, SCSI 테스트이면, 시험 결과를 저장한다(단계 304).Next, it is determined whether it is a test for SCSI and terminates if it is not a SCSI test, and if it is a SCSI test, the test result is stored (step 304).

다음으로, MMC기능에 대한 테스트인가를 판단하여 MMC기능에 대한 테스트가 아니면, 종료하고, MMC기능에 대한 테스트이면, 시험 결과를 저장한다(단계 305).Next, it is determined whether the test is for the MMC function, and if it is not the test for the MMC function, the process is terminated. If the test is for the MMC function, the test result is stored (step 305).

다음으로, HIT 버스에 대한 테스트인가를 판단하여 HIT 버스에 대한 테스트가 아니면, 종료하고, HIT 버스에 대한 테스트이면, 완료 메시지를 전송한다(단계 306).Next, it is determined whether it is a test on the HIT bus and terminates if it is not a test on the HIT bus, and if it is a test on the HIT bus, a completion message is transmitted (step 306).

완료 메시지가 도착되면, 지금까지 도착된 시험결과를 유저 블록에게 IPC로 보내주고, 유저 블록에서는 시험 결과를 조사하여 관련 시험의 정상/비정상 여부를 메시지로 제작하여 MMC 포트로 출력하게 된다(단계 307).When the completion message arrives, the test results thus far received are sent to the user block to the IPC, and the user block examines the test results to produce a message indicating whether the relevant test is normal or abnormal and outputs it to the MMC port (step 307). ).

상기와 같이 구성된 본 발명에 의한 액티브측 프로세서에서 스탠바이측 테스트 결과를 수집하는 방법에 대한 세부적인 상세 흐름도에 대하여 설명하였고, 도 4는 액티브측 요구에 의한 스탠바이측 테스트 기능을 수행하는 방법에 대한 세부적인 상세 흐름도를 설명한다.A detailed detailed flowchart of a method of collecting a standby side test result in an active processor according to the present invention configured as described above has been described. FIG. 4 is a detailed diagram of a method of performing a standby side test function by an active side request. A detailed flow chart will be described.

스탠바이측 프로세서 입장에서 액티브측 프로세서에 의해 테스트 요구를 전송받으면(단계 400), 테스트를 위하여 스탠바이측의 기본 기능인 각종 칩(Chip)들을 초기화한다(단계 401).When the test request is received by the active processor from the stand-by processor side (step 400), various chips, which are basic functions of the standby side, are initialized for the test (step 401).

스탠바이 초기화가 완료된 다음 보드 내부의 형상을 확인하여(단계 402) 자신의 프로세서에 SCSI 관련 칩이 연결되어 있는지, MMC 관련 보드가 실장되었는지, HIT 버스 관련 칩이 실장되어 있는지 확인하고 다음의 6단계 과정을 수행하게 된다.After the standby initialization is complete, check the geometry inside the board (step 402) to verify that SCSI-related chips are attached to your processor, MMC-related boards, and HIT bus-related chips. Will be performed.

보드 형상 확인이 완료되면, 첫째로 IPC 기능이 탑재되어 있는지를 판단하여(단계 403) 탑재되어 있으면, IPC 기능을 테스트하는데(단계 404), IPC 테스트는 전전자 교환기 프로세서에서 필수 불가결한 통신 수단으로, 로컬(Local), 루프 백(Loop Back), 외부(External) IPC를 시험하여 모두가 정상/비정상 여부를 판단한 다음 시험 결과를 액티브측으로 전송하고(단계 405), IPC 기능이 탑재되어 있지 않으면, 다음 단계를 실행한다.Once the board geometry check is complete, first determine whether the IPC function is installed (step 403) and if so, then test the IPC function (step 404), which is an indispensable means of communication in the electronic switchboard processor. , Local, Loop Back, and External IPC are all tested to determine whether they are normal / abnormal, and then the test results are sent to the active side (step 405), if the IPC function is not equipped, Run the following steps.

둘째로 메모리 기능이 탑재되어 있는지를 판단하여(단계 406) 탑재되어 있으면, 메모리 기능을 테스트하는데(단계 407), 메모리 테스트는 여러 종류의 메모리를 사용하고 있으며, 각 종류별(D램, S램, 각종 DP램)로 메모리의 리드/라이트(Read/Write)기능을 시험한 다음 정상/비정상 여부를 확인하고 그 결과를 액티브측으로 메시지를 전송하고(단계 408), 메모리 기능이 탑재되어 있지 않으면, 다음 단계를 실행한다.Secondly, it is determined whether the memory function is mounted (step 406), and if it is mounted, the memory function is tested (step 407), and the memory test uses various types of memory, and each type (DRAM, S RAM, Test the memory read / write function with various DP RAMs, check whether it is normal / abnormal, and send a message to the active side (step 408). Run the step.

셋째로 타이머 기능이 탑재되어 있는지를 판단하여(단계 409) 탑재되어 있으면, 타이머 기능을 테스트하는데(단계 410), 타이머 기능 테스트는 프로세서에 운용 과정에서 사용될 각종 타이머를 시험하는 기능으로, RTC/WDT 기능이 정상적으로 동작하는 기능을 확인한 다음 정상/비정상 여부를 확인하고 그 결과를 액티브측으로 메시지를 전송하고(단계 411), 타이머 기능이 탑재되어 있지 않으면, 다음 단계를 실행한다.Third, it is determined whether the timer function is installed (step 409), and if it is installed, the timer function is tested (step 410). The timer function test is a function for testing various timers to be used in the operation process of the processor. After confirming the function functioning normally, the function checks whether the function is normal or abnormal and sends the result to the active side (step 411). If the timer function is not installed, the next step is executed.

넷째로 SCSI 기능이 탑재되어 있는지를 판단하여(단계 412) 탑재되어 있으면, SCSI 기능을 테스트하는데(단계 413), SCSI 테스트는 SCSI 케이블에 연결된 각종 디바이스(DKU, RDKU, CTU, MTU)들의 종류, 규격, 용량 등을 파악하고 실제 리드/라이트 기능의 정상 수행 여부를 확인하여 그 결과를 액티브측으로 메시지를 전송하고(단계 414), SCSI 기능이 탑재되어 있지 않으면, 다음 단계를 실행한다.Fourth, it is determined whether the SCSI function is mounted (step 412), and if it is mounted, the SCSI function is tested (step 413). The SCSI test is performed by selecting the types of devices (DKU, RDKU, CTU, MTU) connected to the SCSI cable, Check the specification, capacity, etc., check whether the actual read / write function is normally performed, and transmit the result to the active side (step 414). If the SCSI function is not installed, the next step is executed.

다섯째로 MMC용 보드가 탑재되어 있는지를 판단하여(단계 415) 탑재되어 있으면, 입출력 관련 기능을 테스트하는데(단계 416), DSPA211 메인 보드와 DSPA212 입출력 기능 보드간 인터럽트 시험 및 DSPA212 입출력 관련 기능 시험을 수행하여 정상/비정상 여부를 확인하여 그 결과를 액티브측으로 메시지를 전송하고(단계 417), MMC용 보드가 탑재되어 있지 않으면, 다음 단계를 실행한다.Fifth, it is determined whether the board for MMC is mounted (step 415), and if so, the I / O related functions are tested (step 416), and the interrupt test between the DSPA211 main board and the DSPA212 I / O function board and the DSPA212 I / O related functions test are performed. Check whether it is normal or abnormal, and transmit the result to the active side (step 417). If the board for MMC is not mounted, the next step is executed.

여섯째로 HIT 버스 기능이 탑재되어 있는지를 판단하여(단계 418) 탑재되어 있으면, HIT 버스 기능을 테스트하는데(단계 419), HIT 테스트는 TP일 경우에 해당되는 사항으로, HIT 버스 통신 메시지의 송수신 기능, 로컬, 루프-백으로 송수신 기능을 수행하여 정상적인 메시지 송수신 기능이 수행되는지를 확인하여 전체적인 HIT 버스 통신 기능의 정상 여부를 판단하여 정상/비정상을 결정하여 그 결과를 액티브측으로 메시지를 전송하고(단계 420), HIT 버스 기능이 탑재되어 있지 않으면, 다음 단계를 수행한다.Sixth, it is determined whether the HIT bus function is mounted (step 418), and if it is mounted, the HIT bus function is tested (step 419), and the HIT test corresponds to the case of TP, and the transmission and reception function of the HIT bus communication message is performed. In order to check whether the normal message transmission / reception function is performed by performing the transmission / reception function by local or loop-back, it is determined whether the overall HIT bus communication function is normal or not, determine the normal / abnormal, and transmit the result to the active side (step) 420) If the HIT bus function is not installed, the next step is performed.

6 단계의 테스트 기능을 수행하면, 각각의 기능 프로세서 내부 보드 형상에 따라 테스트가 완료되고, 테스트가 종료하는 과정을 거친다(단계 421).When the test function of step 6 is performed, the test is completed according to each functional processor internal board shape, and the test is terminated (step 421).

따라서, 테스트 완료 메시지를 액티브측에서 보내고 자신은 이제 모든 역할을 수행하였으므로, 대기 상태에 들어간다(단계 422).Accordingly, the test completion message is sent from the active side and the user has now played all the roles, thus entering the standby state (step 422).

여기서, 대기 상태는 운용자의 조치를 기다린다는 의미인데, 필요에 따라 운용자가 다시 테스트를 요구 및 종료할 수 있고, 일반적인 스탠바이측으로 들어가라는 두가지의 조치가 있을 수 있으므로, 운용자의 결정을 기다리는 상태를 말한다.In this case, the waiting state means waiting for the operator's action. The wait state means waiting for the operator's decision because the operator can request and terminate the test again as needed, and there may be two actions to enter the normal standby side. .

상기와 같이 구성된 본 발명에 의한 액티브측 요구에 의한 스탠바이측 테스트 기능을 수행하는 방법에 대한 세부적인 상세 흐름도에 대하여 설명하였고, 도 5는 액티브측에서 상대측인 스탠바이측으로 일반적인 스탠바이측으로의 복구 요구에 대한 세부적인 상세 흐름도를 설명한다.A detailed detailed flowchart of a method of performing a standby side test function by an active side request according to the present invention configured as described above has been described. FIG. 5 is a diagram illustrating a recovery request from the active side to a standby side, which is a general standby side. Detailed detailed flow chart will be described.

스탠바이측 테스트가 완료된 상태에서 운용자가 연속해서 테스트를 수행시키는 것이 아니라, 일반적인 스탠바이측으로 살아나도록 요구했을 때, 액티브측으로부터 스탠바이측 복구 기능을 수행하도록 요구한다(단계 500).When the operator does not continuously perform the test in the state where the standby side test is completed, but requests to survive the normal standby side, the operator is required to perform the standby side recovery function from the active side (step 500).

복구 기능 요구가 들어오면, 자신(액티브측)의 상태가 정상 상태이고, 상대편(스탠바이측)은 스탠바이측 테스트 OK 상태인지를 체크하여(단계 501) 상태가 일치하지 않으면, 에러 메시지를 출력하고 기능을 종료한다(단계 502).If a recovery function request is received, the status of itself (active side) is normal and the other side (standby side) checks whether the standby side test is OK (step 501), and if the states do not match, an error message is output and the function End (step 502).

그렇지 않고, 상태가 일치하면, 스탠바이측에게 리스타트 기능을 요구하고, 자신(액티브측)은 액티브측으로서의 본래 기능을 수행할 때, 스탠바이측은 상기 도 4의 대기 상태에서 리스타트(Restart)라는 메시지가 도착되면 곧바로 리셋(Reset) 기능을 구동하여 부팅(Booting) 상태로 들어가고, 자신이 스탠바이측이므로, 액티브측의 메모리 내용을 받아서 일반적인 스탠바이측으로 살아나게 되는 것이다(단계 503).Otherwise, if the states match, the standby side requests the restart function, and when the self (active side) performs the original function as the active side, the standby side receives the message of restart in the standby state of FIG. When is received, the reset function is immediately activated to enter the booting state, and since the self is a standby side, the memory contents of the active side are received and the normal standby side is saved (step 503).

이상, 상기와 같이 설명한 본 발명은 전전자 교환기 시스템 운용중에 하드웨어 장애에 의해 보드 교체시 연동 상태를 편리하게 확인하여 안전하게 조치할 수 있고, 시스템 운용중 조치 과정에서 발생될 수 있는 심각한 장애를 미연에 방지할 수 있는 효과가 있다.As described above, the present invention described above can safely check the interlocking state when the board is replaced by a hardware failure during the operation of the electronic switchgear system, and secure a serious failure that may occur in the course of operation during the system operation. There is an effect that can be prevented.

Claims (9)

액티브측/스탠바이측과, 시스템 내부 프로세서 통신과, 메모리와, 타이머와, 스몰 컴퓨터 시스템 인터페이스와, 맨&머신 통신 포트와, 히트 버스 기능을 구비한 전전자 교환기의 상기 스탠바이측 프로세서 테스트 방법에 있어서,In the standby side processor test method of an electronic switchboard having an active side / standby side, system internal processor communication, memory, a timer, a small computer system interface, a man & machine communication port, and a heat bus function. , 상기 맨&머신 통신 포트로부터 스탠바이측 테스트 요구를 받는 단계;Receiving a standby test request from the man & machine communication port; 상기 액티브측으로부터 액티브측/스탠바이측 이중화 상태를 확인하는 단계;Confirming an active side / standby side redundancy state from the active side; 상기 액티브측/스탠바이측 이중화 상태를 확인한후, 이중화 상태가 정상인가를 판단하는 단계;Determining whether the redundancy state is normal after confirming the active / standby side redundancy state; 상기 이중화 상태가 비정상이면, 에러 메시지를 출력하는 단계;Outputting an error message if the duplication state is abnormal; 상기 이중화 상태가 정상이면, 상기 액티브측에서 상기 스탠바이측으로 오버-라이트되는 것을 막기 위해 이중화 관련 레지스터를 이용하여 이중화 모드를 절단하는 단계;If the duplication state is normal, truncating duplication mode using a duplication related register to prevent over-writing from the active side to the standby side; 상기 이중화 모드가 단절된후, 상기 스탠바이측 테스트 명령어를 상기 스탠바이측으로 전송하고, 상기 액티브측은 프로세서 본래의 기능을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 스탠바이측 프로세서 테스트 방법.And after the redundancy mode is disconnected, sending the standby side test command to the standby side, and wherein the active side performs a processor original function. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 액티브측 프로세서에서 상기 스탠바이측 테스트 결과를 수집하는 방법은 :The method for collecting the standby side test result in the active side processor may include: 상기 액티브으로부터 상기 스탠바이측 테스트 종류를 파악하고, 종류별로 테스트 결과를 수집을 요구하는 단계;Identifying the standby test type from the active and requesting to collect test results for each type; 상기 스탠바이측 테스트인 상기 내부 프로세서 통신, 상기 메모리, 상기 타이머, 상기 스몰 컴퓨터 시스템 인터페이스, 상기 맨&머신 통신 포트 기능, 상기 히트 버스 기능에 대한 시험 결과를 정리하여 유저 블록에게 전송하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 스탠바이측 프로세서 테스트 방법.And arranging test results for the internal processor communication, the memory, the timer, the small computer system interface, the man & machine communication port function, and the heat bus function, which are the standby side tests, to the user block. Standby-side processor test method of the electronic switch. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 액티브측 요구에 의한 스탠바이측 테스트 기능을 수행하는 방법은 :The method for performing the standby side test function by the active side request is: 상기 스탠바이측 테스트를 위하여 상기 스탠바이측의 기본 기능을 초기화한후, 상기 내부 프로세서 통신 기능이 탑재되어 있으면, 상기 내부 프로세서 통신 기능을 테스트하는데, 상기 내부 프로세서 통신 테스트는 상기 스탠바이측 프로세서에서 필수 불가결한 통신 수단으로, 로컬, 루프 백, 외부 프로세서 통신을 시험하여 정상/비정상 여부를 확인한 다음 시험 결과를 상기 액티브측으로 전송하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 스탠바이측 프로세서 테스트 방법.After initializing the basic function of the standby side for the standby side test, if the internal processor communication function is installed, the internal processor communication function is tested, and the internal processor communication test is indispensable in the standby side processor. And a communication means for testing local, loop back, and external processor communication to determine whether it is normal or abnormal, and then transmitting a test result to the active side. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 액티브측 요구에 의한 스탠바이측 테스트 기능을 수행하는 방법은 :The method for performing the standby side test function by the active side request is: 상기 스탠바이측 테스트를 위하여 상기 스탠바이측의 기본 기능을 초기화한후, 상기 메모리 기능이 탑재되어 있으면, 상기 메모리 기능을 테스트 하는데, 상기 메모리 테스트는 여러 종류의 메모리를 사용하고 있으며, 상기 메모리의 리드/라이트기능을 시험하여 정상/비정상 여부를 확인한 다음 시험 결과를 상기 액티브측으로 전송하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 스탠바이측 프로세서 테스트 방법.After the basic function of the standby side is initialized for the standby side test, if the memory function is mounted, the memory function is tested. The memory test uses various types of memory and read / write the memory. The standby side processor test method of the electronic switchboard, characterized in that for testing the write function to determine whether the normal or abnormal and then transmits the test results to the active side. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 액티브측 요구에 의한 스탠바이측 테스트 기능을 수행하는 방법은 :The method for performing the standby side test function by the active side request is: 상기 스탠바이측 테스트를 위하여 상기 스탠바이측의 기본 기능을 초기화한후, 상기 타이머 기능이 탑재되어 있으면, 상기 타이머 기능을 테스트 하는데, 상기 타이머 기능 테스트는 프로세서에 운용 과정에서 사용될 각종 타이머를 시험하여 정상/비정상 여부를 확인한 다음 그 결과를 상기 액티브측으로 전송하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 스탠바이측 프로세서 테스트 방법.After the basic function of the standby side is initialized for the standby side test, if the timer function is installed, the timer function is tested. The timer function test is performed by testing various timers to be used in the operation process in the processor. And checking the abnormality and transmitting the result to the active side. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 액티브측 요구에 의한 스탠바이측 테스트 기능을 수행하는 방법은 :The method for performing the standby side test function by the active side request is: 상기 스탠바이측 테스트를 위하여 상기 스탠바이측의 기본 기능을 초기화한후, 상기 스몰 컴퓨터 시스템 인터페이스 기능이 탑재되어 있으면, 상기 스몰 컴퓨터 시스템 인터페이스 기능을 테스트 하는데, 상기 스몰 컴퓨터 시스템 인터페이스 테스트는 실제 디바이스에 임의의 데이터 리드/라이트 여부를 확인하여 정상/비정상 여부를 확인한 다음 그 결과를 상기 액티브측으로 전송하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 스탠바이측 프로세서 테스트 방법.After initializing the basic functions of the standby side for the standby side test, if the small computer system interface function is installed, the small computer system interface function is tested, and the small computer system interface test is performed on an actual device. The standby side processor test method of the electronic switchboard, characterized in that whether the data read / write to check whether the normal / abnormal and transmits the result to the active side. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 액티브측 요구에 의한 스탠바이측 테스트 기능을 수행하는 방법은 :The method for performing the standby side test function by the active side request is: 상기 스탠바이측 테스트를 위하여 상기 스탠바이측의 기본 기능을 초기화한후, 상기 맨&머신 통신용 보드가 탑재되어 있으면, 입출력 관련 기능을 테스트하는데, 디에스피에이 211 보드와 디에스피에이 212 보드간 인터럽트 시험 및 디에스피에이 212 입출력 관련 기능 시험을 수행하여 정상/비정상 여부를 확인한 다음 그 결과를 상기 액티브측으로 전송하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 스탠바이측 프로세서 테스트 방법.After the basic functions of the standby side are initialized for the standby side test, if the man & machine communication board is mounted, I / O related functions are tested. The interrupt test and DS2 between the DPS 211 board and the DPS 212 board are tested. 212 A standby side processor test method of an electronic switchboard, characterized in that for performing an input / output related function test to confirm whether it is normal or abnormal and then transmitting the result to the active side. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 액티브측 요구에 의한 스탠바이측 테스트 기능을 수행하는 방법은 :The method for performing the standby side test function by the active side request is: 상기 스탠바이측 테스트를 위하여 상기 스탠바이측의 기본 기능을 초기화한후, 상기 히트 버스 기능이 탑재되어 있으면, 상기 히트 버스 기능을 테스트하는데, 상기 히트 버스 테스트는 하위 프로세서일 경우에 해당되는 사항으로, 상기 히트 버스 통신 메시지의 송수신 기능, 로컬, 루프-백으로 송수신 기능을 수행하여 정상적인 메시지 송수신 기능이 수행되는지를 확인하여 전체적인 히트 버스 통신 기능의 정상 여부를 판단하여 정상/비정상 여부를 확인한 다음 그 결과를 상기 액티브측으로 전송하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 스탠바이측 프로세서 테스트 방법.After the basic function of the standby side is initialized for the standby side test, if the heat bus function is installed, the heat bus function is tested, and the heat bus test corresponds to a case of a lower processor. Send / receive the function of sending / receiving heat bus communication message, local / loop-back to check whether the normal message sending / receiving function is performed, and then determine whether the overall heat bus communication function is normal or not, and then check the result. And a standby side processor test method for transmitting to the active side. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 액티브측에서 일반적인 스탠바이측으로의 복구 요구에 대한 방법은 :The method for the recovery request from the active side to the normal standby side is: 상기 액티브측으로부터 스탠바이측 복구 기능을 수행하도록 요구가 들어오면, 상기 액티브측의 상태가 정상 상태이고, 상기 스탠바이측은 스탠바이측 테스트 OK 상태인지를 체크하여 상태가 일치하면, 상기 스탠바이측에게 리스타트 기능을 요구하고, 상기 액티브측은 액티브측으로서의 본래 기능을 수행할 때, 상기 스탠바이측은 리셋 기능을 구동하여 부팅 상태로 들어가고, 자신이 스탠바이측이므로, 액티브측의 메모리 내용을 받아서 일반적인 스탠바이측으로 살아나는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 스탠바이측 프로세서 테스트 방법.When a request is made from the active side to perform a standby side recovery function, if the state of the active side is normal and the standby side checks whether the standby side test is OK, and if the states match, the standby function restarts. When the active side performs the original function as the active side, the standby side enters the boot state by driving the reset function, and since the standby side is itself the standby side, it receives the memory contents of the active side and survives the normal standby side. Standby-side processor test method of the electronic switch.
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KR100390403B1 (en) * 1999-10-21 2003-07-07 엘지전자 주식회사 Method for activating software processor in dual processor

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100390403B1 (en) * 1999-10-21 2003-07-07 엘지전자 주식회사 Method for activating software processor in dual processor
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