KR19990030004U - 챔버의 증착링 - Google Patents

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KR19990030004U
KR19990030004U KR2019970042674U KR19970042674U KR19990030004U KR 19990030004 U KR19990030004 U KR 19990030004U KR 2019970042674 U KR2019970042674 U KR 2019970042674U KR 19970042674 U KR19970042674 U KR 19970042674U KR 19990030004 U KR19990030004 U KR 19990030004U
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KR2019970042674U
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Inventor
문종원
Original Assignee
구본준
엘지반도체 주식회사
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Abstract

본 고안은 챔버의 증착링에 관한 것으로, 종래의 증착링은 내면과 외면이 평평한 구조였기 때문에 공정중 발생하는 공정부산물이 쉽게 증착링에서 이탈되어 공정중 파티클을 발생시키고 세정주기를 짧게 하는 문제점이 있었던바, 본 고안의 챔버의 증착링은 링의 내면을 올록볼록한 형태로 하여 증착링에서 파티클이 쉽게 이탈되지 않아 세정주기의 연장이 가능하고, 챔버의 세정후 플라스마 안정시간의 단축이 가능하게 한 것이다.

Description

챔버의 증착링
본 고안은 반도체 제조장치에 관한 것으로, 특히 식각공정이나 증착공정을 진행하는 챔버의 증착링에 관한 것이다.
첨부한 도 1은 일반적인 챔버의 구성을 도시한 개략도로서, 종래의 챔버(10)는 웨이퍼가 놓이는 양극부(anode)(11)와, 이 양극부(11)의 상부에 설치되는 음극부(cathode)(12)와, 상기 양극부(11) 주위의 챔버(10) 내벽에 부착되어 있는 증착링(deposition ring)(13)을 포함하여 구성되어 있다.
상기 증착링(13)은 주로 양극부(anode)(11) 주위에 부착되는 양극부 증착링(anode deposition ring)과, 챔버(10)의 내벽에 부착되는 챔버벽 증착링(chamber wall deposition ring)으로 구분된다.
상기 양극부 증착링이나 챔버벽 증착링을 부착하는 목적은 첫째로, 공정진행시 발생되는 공정부산물(byproduct)이 양극부(11)와 챔버(10) 내벽에 직접적으로 증착되는 것을 방지함으로써 챔버(10) 세정시 세정을 편리하게 하기 위함이다.
둘째로, 공정진행시 고주파 전원(RF power)에 의한 챔버(10) 내벽과 양극부(11)의 표면처리된 부분이 식각되는 것을 방지하도록 보호하기 위함이다.
상기 증착링(13)은 도 2a 내지 도 2b에 도시한 바와 같이, 일정높이를 가진 링의 형상으로서 외벽과 내벽이 모두 평평한 면으로 되어 있다.
한편, 식각공정이나 증착공정을 진행시 챔버(10)의 안정화 즉, 플라스마(plasma)의 안정화를 위해서 챔버(10) 세정 후 수십장의 웨이퍼를 공정조건과 동일한 조건에서 준비(seasioning)시키는데 이것은 챔버(10) 내벽과 양극부(11)에 공정부산물의 일부를 증착시키기 위한 것이다.
만약 플라스마가 안정하지 않을 경우는 챔버(10) 세정이후와 세정직전의 공정차이가 발생하여 이상식각과 이상증착이 생긴다.
따라서, 상기 증착링(13)에서 파티클도 발생하더라도 부산물을 증착시켜야 하는 것이다.
그러나, 상기와 같은 종래의 챔버의 증착링(13)은 내벽과 외벽이 모두 평평한 면으로 되어 있는 구조였기 때문에 공정중 발생하는 공정부산물이 쉽게 증착링(13)에서 이탈되어 챔버(10)의 세정주기를 짧게 하는 원인이 되었다.
즉, 공정중 상기 공정부산물이 증착링(13)에서 떨어져 파티클이 발생하는 문제점이 있었다.
또한, 챔버(10) 세정후 플라스마의 안정시간이 많이 소요되기 때문에 초기에 쉽게 증착이 가능하지 않은 문제점이 있었던바, 이에 대한 보완이 요구되어 왔다.
따라서, 본 고안은 상기와 같은 문제점을 감안하여 안출한 것으로서, 증착링의 내면을 올록볼록한 형태로 함으로써 증착링에서 파티클의 이탈을 적게하여 세정주기를 연장하고, 챔버 세정후 플라스마 안정시간의 단축이 가능한 챔버의 증착링을 제공하는데 그 목적이 있다.
도 1은 일반적인 챔버의 구성을 개략적으로 도시한 종단면도.
도 2a는 종래의 증착링을 도시한 정면도.
도 2b는 종래의 증착링을 도시한 평면도.
도 3a는 본 고안의 증착링을 도시한 정면도.
도 3b는 본 고안의 증착링을 도시한 평면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
20 : 증착링
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 고안은 공정진행시 발생되는 공정부산물이 양극부와 챔버 내벽에 직접적으로 증착되는 것을 방지하도록 설치되는 증착링을 포함하여 구성되는 챔버에 있어서, 상기 증착링은 그 내면에 증착된 공정부산물이 쉽게 이탈되는 것을 방지하도록 내면이 올록볼록한 형태를 갖도록 형성되는 것을 특징으로 하는 챔버의 증착링이 제공된다.
이하, 본 고안의 챔버의 증착링을 첨부한 도면을 참조로 하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
본 고안의 챔버의 증착링은 도 3a 내지 도 3b에 도시한 바와 같이, 그 내면에 증착된 공정부산물이 쉽게 이탈되는 것을 방지하도록 내면이 올록볼록한 형태를 갖도록 형성되어 있다.
상기와 같은 구성의 챔버의 증착링의 작용을 설명하면 다음과 같다.
본 고안의 증착링(20)은 그 내면을 올록볼록한 형태로 하였기 때문에 공정진행 시 공정부산물이 상기 증착링(20)에 쉽게 증착이 가능하며 오목한 부분에서부터 증착이 되기 때문에 시간상으로도 오래동안 공정을 진행할 수 있게 된다.
또한, 본 고안의 증착링(20)을 사용한 챔버에서는 세정이 완료하면 플라스마의 안정화를 얻기 위해 실시하는 준비(seasoning) 단계에 짧은 시간이 소요되며, 공정중 증착링(20)에 부착되어 있는 공정부산물이 쉽게 이탈되지 않으므로 파티클의 발생이 억제된다.
본 고안의 챔버의 증착링에 의하면 세정후 초기 플라스마 안정시간의 단축이 가능하기 때문에 공정의 안정화가 가능한 효과가 있다.
또한, 공정진행 중 증착링에서 공정부산물의 이탈을 최소화하여 파티클의 발생을 억제시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims (1)

  1. 공정진행시 발생되는 공정부산물이 양극부와 챔버 내벽에 직접적으로 증착되는 것을 방지하도록 설치되는 증착링을 포함하여 구성되는 챔버에 있어서, 상기 증착링은 그 내면에 증착된 공정부산물이 쉽게 이탈되는 것을 방지하도록 내면이 올록볼록한 형태를 갖도록 형성되는 것을 특징으로 하는 챔버의 증착링.
KR2019970042674U 1997-12-29 1997-12-29 챔버의 증착링 KR19990030004U (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100351984B1 (ko) * 1999-12-29 2002-09-12 주식회사 하이닉스반도체 화학기상증착장비의 이물감소방법

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