KR19990003910A

KR19990003910A - Method for forming charge storage electrode of semiconductor device

Info

Publication number: KR19990003910A
Application number: KR1019970027873A
Authority: KR
Inventors: 김형수
Original assignee: 김영환; 현대전자산업 주식회사
Priority date: 1997-06-26
Filing date: 1997-06-26
Publication date: 1999-01-15
Also published as: KR100273686B1

Abstract

1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야1. TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION

반도체 제조 분야에 관한 것임Regarding the field of semiconductor manufacturing

2. 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제2. Technical problem to be solved by the invention

반도체 장치의 전하 저장 전극 콘택홀 및 전하 저장 전극을 동일한 마스크를 이용하여 형성하는 반도체 장치의 전하 저장 전극 형성 방법을 제공한다.A method of forming a charge storage electrode of a semiconductor device, wherein the charge storage electrode contact hole and the charge storage electrode of the semiconductor device are formed using the same mask.

3. 발명의 해결 방법의 요지3. Summary of the Solution of the Invention

하나의 마스크로 전하 저장 전극 콘택홀 및 전하 저장 전극을 형성하기 위하여 각각의 형성 단계에 다른 유형의 감광막을 노광하여 패턴을 형성한다.In order to form the charge storage electrode contact hole and the charge storage electrode with one mask, a different type of photosensitive film is exposed at each forming step to form a pattern.

4. 발명의 중요한 용도4. Important uses of the invention

반도체 장치 제조 방법에 이용됨Used in manufacturing semiconductor device

Description

Method for forming charge storage electrode of semiconductor device

본 발명은 반도체 장치의 제조 방법에 관한 것으로서, 특히 하나의 마스크로 전하 저장 전극 콘택홀 및 전하 저장 전극을 형성할 수 있는 반도체 장치의 전하 저장 전극 형성 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a semiconductor device, and more particularly, to a method of forming a charge storage electrode of a semiconductor device capable of forming a charge storage electrode contact hole and a charge storage electrode with one mask.

반도체 장치의 고집적화에 따라 반도체 장치 제조 공정에 여러 가지 문제가 따른다. 일 예로 메모리 소자의 필수 조건인 전하 저장 전극의 정전용량 증가를 위해 전극의 표면적이 가능한 넓어야 하는데 소자가 고집적화 되면서 소자가 요구하는 커패시터 용량을 확보하기가 점점 곤란해지고 있는 실정이다.BACKGROUND OF THE INVENTION Due to the high integration of semiconductor devices, various problems arise in the semiconductor device manufacturing process. For example, in order to increase the capacitance of the charge storage electrode, which is an essential condition of the memory device, the surface area of the electrode should be as wide as possible. As the device becomes highly integrated, it is increasingly difficult to secure the capacitor capacity required by the device.

전하 저장 전극의 표면적을 증가시키기 위한 종래의 기술은 전하 저장 전극 패턴의 끝부분에 보조 패턴을 삽입하거나 또는 실린더형, 핀(fin)형으로 전하 저장 전극을 형성하는 것이다. 보조 패턴은 그 효과가 우수하나 노광 공정의 기본 변수, 즉, 투영 렌즈의 구경(numerical aperture), 간섭도(coherency), 패턴 크기의 변화에 따른 보조 패턴의 최적화 등의 문제가 발생된다.The conventional technique for increasing the surface area of the charge storage electrode is to insert an auxiliary pattern at the end of the charge storage electrode pattern or to form the charge storage electrode in a cylindrical or fin shape. Although the auxiliary pattern is excellent in effect, there are problems such as basic parameters of the exposure process, that is, optimization of the auxiliary pattern according to the change in the numerical aperture, coherency, and pattern size of the projection lens.

실린더형은 공정 자체가 복잡하고 공정에 비해 표면적의 증가 효과가 크지 않다는 단점을 가지고 있으며, 핀 형 역시 공정이 복잡하고 후속 공정에서 핀이 절단되거나 붕괴되어 공정 결함을 유발할 가능성이 크다는 단점을 갖는다. 또한, 보조 패턴, 실린더형 및 핀형을 이용한 전하 저장 전극 형성 공정은 공통적으로 전하 저장 전극 콘택홀 및 전하 저장 전극을 별도의 마스크를 이용해서 형성해야 한다.The cylindrical type has the disadvantage that the process itself is complicated and the surface area increase effect is not large compared to the process. The pin type also has the disadvantage that the process is complicated and the process is likely to cause a process defect by cutting or collapsing the pin in a subsequent process. In addition, the charge storage electrode forming process using the auxiliary pattern, the cylindrical shape, and the fin shape must commonly form the charge storage electrode contact hole and the charge storage electrode using separate masks.

이하 첨부된 도면 도 1a및 도 1b를 참조하여 종래 기술에 따른 전하 저장 전극의 형성 공정을 설명한다.Hereinafter, a process of forming a charge storage electrode according to the prior art will be described with reference to FIGS. 1A and 1B.

먼저, 도 1a에 도시된 바와 같이, 소정의 하부층이 형성된 반도체 기판(11) 상에 절연막(12)을 형성하고 선택적으로 식각하여 콘택홀을 형성한다. 이어서, 전체 구조 상부에 다결정 실리콘막을 형성하고 패터닝하여 전하 저장 전극(13)을 형성한다. 상기와 같이 형성되는 전하 저장 전극(13)은 소자의 고집적화에 따라 커패시터 용량 증가에 한계가 있다.First, as shown in FIG. 1A, an insulating layer 12 is formed on a semiconductor substrate 11 having a predetermined lower layer and is selectively etched to form a contact hole. Subsequently, a polycrystalline silicon film is formed over the entire structure and patterned to form a charge storage electrode 13. The charge storage electrode 13 formed as described above has a limit in increasing the capacitor capacity according to the high integration of the device.

종래 기술에 따른 실린더형 전하 저장 전극의 다른 형성 방법을 도 1b를 참조하여 설명한다.Another method for forming the cylindrical charge storage electrode according to the prior art is described with reference to FIG. 1B.

도 1b에 도시된 바와 같이, 반도체 기판(11) 상에 절연막(12)을 형성하고 식각하여 콘택홀을 형성한다. 이어서, 전체 구조 상부에 제1 다결정 실리콘막(13)을 형성하고 전체 구조 상부에 희생 산화막(도시되지 않음)을 형성하고, 제1 전하 저장 전극용 마스크를 이용하여 희생 산화막과 제1 다결정 실리콘막(13)을 선택적으로 식각한다. 다음으로 전체 구조 상부에 제2 다결정 실리콘막(14)을 형성하고 전면 식각하여 제2 다결정 실리콘막(14)으로 이루어진 스페이서를 형성하고, 습식 식각을 통해 희생 산화막을 제거하여 실린더형 커패시터의 전하 저장 전극을 형성한다.As shown in FIG. 1B, an insulating layer 12 is formed and etched on the semiconductor substrate 11 to form a contact hole. Subsequently, a first polycrystalline silicon film 13 is formed over the entire structure, a sacrificial oxide film (not shown) is formed over the entire structure, and the sacrificial oxide film and the first polycrystalline silicon film are formed using a mask for the first charge storage electrode. (13) is selectively etched. Next, the second polycrystalline silicon film 14 is formed on the entire structure, and the entire surface is etched to form a spacer formed of the second polycrystalline silicon film 14, and the sacrificial oxide film is removed through wet etching to store charge in the cylindrical capacitor. Form an electrode.

상기와 같은 공정에 있어서는 전하 저장 전극 콘택홀 및 전하 저장 전극을 각기 다른 마스크를 이용하여 형성하므로써 마스크 형성 과정에서 발생하는 정렬 오차를 비롯한 기본적인 문제의 소지가 있다.In the above process, since the charge storage electrode contact hole and the charge storage electrode are formed by using different masks, there is a problem of basic problems including alignment errors occurring in the mask formation process.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 본 발명은 하나의 마스크를 이용하여 전하 저장 전극 콘택홀 및 전하 저장 전극을 형성하는 반도체 장치의 전하 저장 전극 형성 방법을 제공하고자 한다.The present invention devised to solve the above problems is to provide a method for forming a charge storage electrode of a semiconductor device to form a charge storage electrode contact hole and a charge storage electrode using one mask.

도 1a 및 도 1b는 종래 기술에 따른 전하 저장 전극의 형성 공정 단면도1A and 1B are cross-sectional views of a process of forming a charge storage electrode according to the prior art.

도 2a 내지 도 2g는 본 발명의 일실시예에 따른 반도체 장치의 전하 저장 전극 형성 공정 단면도2A to 2G are cross-sectional views of a charge storage electrode forming process of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

11, 21 : 반도체 기판 12, 22 : 절연막11 and 21: semiconductor substrate 12 and 22: insulating film

13, 25' : 전하 저장 전극 14, 25 : 다결정 실리콘막13, 25 ': charge storage electrode 14, 25: polycrystalline silicon film

20 : 마스크 23, 27' : 양성 감광막 패턴20: mask 23, 27 ': positive photosensitive film pattern

24 : 콘택홀 26 : 음성 감광막24 contact hole 26 voice photosensitive film

26' : 음성 감광막 패턴26 ': negative photoresist pattern

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은 반도체 장치의 전하 저장 전극 형성 방법에 있어서, 반도체 기판 상에 절연막을 형성하는 단계, 상기 절연막 상에 제1형 감광막을 도포하는 단계, 콘택홀 형성을 위한 마스크를 이용하여 상기 제1형 감광막을 노광하는 단계, 상기 제1형 감광막을 현상하여 제1 감광막 패턴을 형성하는 단계, 상기 제1 감광막 패턴을 식각 방지막으로 상기 절연막을 식각하여 콘택홀을 형성하는 단계, 상기 제1 감광막 패턴을 제거하는 단계, 상기 전체 구조 상에 전도막을 증착하는 단계, 상기 전도막 상에 제2형 감광막을 도포하는 단계, 상기 콘택홀 형성을 위한 마스크와 동일한 마스크를 이용하여 상기 제2형 감광막을 노광하는 단계, 상기 제2형 감광막을 현상하여 제2 감광막 패턴을 형성하는 단계, 상기 제2 감광막 패턴을 식각 방지막으로 상기 전도막을 식각하여 전하 저장 전극을 형성하는 단계를 포함하여 이루어진다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of forming a charge storage electrode of a semiconductor device, the method including forming an insulating film on a semiconductor substrate, applying a first photosensitive film on the insulating film, and forming a mask for forming a contact hole. Exposing the first photosensitive film using the first photosensitive film; developing the first photosensitive film to form a first photosensitive film pattern; forming a contact hole by etching the insulating film using the first photosensitive film pattern as an etch stop layer; Removing the first photoresist pattern, depositing a conductive film on the entire structure, applying a second photoresist film on the conductive film, and using the same mask as the mask for forming the contact hole. Exposing the second photoresist film, developing the second photoresist film to form a second photoresist pattern, and preventing etching of the second photoresist pattern. Etching the conductive film with a film to form a charge storage electrode.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 살펴본다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

첨부된 도 2a 내지 도 2g는 본 발명의 일실시예에 따른 반도체 장치의 전하 저장 전극 형성 공정 단면도이다.2A to 2G are cross-sectional views of a process of forming a charge storage electrode of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

먼저, 도 2a에 도시한 바와 같이, 반도체 기판(21) 상의 절연막(22)에 양성 감광막을 도포하고, 전하 저장 전극 콘택홀 형성을 위한 마스크(20)를 이용하여 양성 감광막 패턴(23)을 형성한다.First, as shown in FIG. 2A, the positive photoresist film is coated on the insulating film 22 on the semiconductor substrate 21, and the positive photoresist film pattern 23 is formed using the mask 20 for forming the charge storage electrode contact hole. do.

다음으로, 도 2b에 도시한 바와 같이, 상기 양성 감광막 패턴을 식각 방지막으로 상기 절연막(22)을 식각하여 전하 저장 전극 콘택홀(24)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 2B, the insulating layer 22 is etched using the positive photoresist pattern as an etch stop layer to form a charge storage electrode contact hole 24.

다음으로, 도 2c에 도시한 바와 같이, 상기 양성 감광막 패턴(23)을 제거한 후 전하 저장 전극으로 사용되는 다결정 실리콘막(25)을 증착한다. 이어서, 상기 다결정실리콘막(25) 위에 음성 감광막(26)을 도포한 후, 상기 전하 저장 전극 콘택홀 형성을 위한 마스크(20)를 다시 사용하여 상기 음성 감광막(26)을 노광한다. 상기 노광 공정시 최종적으로 형성될 감광막 패턴이 상기 마스크의 투광 영역보다 크게 형성되도록 노광 에너지 값을 결정한다. 여기서, 화학증폭형 음성 감광막을 사용하는 경우에는 최적 노광 에너지보다 큰 에너지로 노광하는 방법 외에 노광후에 실시하게 되는 후속 베이크(Post Exposure Bake) 공정의 베이크 온도를 증가시키거나 베이크 시간을 증가시키는 방법을 사용할 수도 있다.Next, as shown in FIG. 2C, the positive photosensitive film pattern 23 is removed, and then a polycrystalline silicon film 25 used as a charge storage electrode is deposited. Subsequently, after the negative photosensitive film 26 is coated on the polysilicon film 25, the negative photosensitive film 26 is exposed by using the mask 20 for forming the charge storage electrode contact hole again. The exposure energy value is determined so that the photoresist pattern to be finally formed during the exposure process is formed to be larger than the transmissive area of the mask. Here, in the case of using a chemically amplified negative photosensitive film, a method of increasing the bake temperature or increasing the bake time of a post exposure bake process, which is performed after exposure, in addition to the method of exposing with an energy greater than the optimum exposure energy. Can also be used.

다음으로, 도 2d에 도시한 바와 같이 상기 노광된 음성 감광막을 현상하여 음성 감광막 패턴(26')을 형성한다. 이어서, 상기 음성 감광막 패턴(26')을 식각 방지막으로 다결정 실리콘막(25)을 식각하여 전하 저장 전극(25')을 형성한다.Next, as shown in FIG. 2D, the exposed negative photosensitive film is developed to form a negative photosensitive film pattern 26 '. Subsequently, the polycrystalline silicon layer 25 is etched using the negative photoresist layer pattern 26 'to form the charge storage electrode 25'.

다음으로, 도 2e에 도시한 바와 같이 상기 음성 감광막 패턴(26')을 제거한 후, 전체 구조 상부에 양성 감광막(27)을 도포하고, 상기 전하 저장 전극 콘택홀 형성 마스크(20)를 이용하여 상기 양성 감광막(27)을 노광 한다.Next, as shown in FIG. 2E, after the negative photosensitive film pattern 26 ′ is removed, the positive photosensitive film 27 is coated on the entire structure, and the charge storage electrode contact hole forming mask 20 is used. The positive photosensitive film 27 is exposed.

다음으로, 도 2f에 도시한 바와 같이 상기 양성 감광막(27)을 현상하여 양성 감광막 패턴(27')을 형성한다.Next, as illustrated in FIG. 2F, the positive photosensitive film 27 is developed to form a positive photosensitive film pattern 27 ′.

다음으로, 도 2g에 도시한 바와 같이 상기 양성 감광막 패턴(27')을 식각 방지막으로 상기 전하 저장 전극(25')의 상부를 식각하여 표면적이 증가된 전하 저장 전극(25')을 완성한다. 여기서, 상기 식각은 습식 식각 또는 등방성 건식 식각(isotropic dry etch) 방법을 이용하여 이루어진다.Next, as shown in FIG. 2G, the upper portion of the charge storage electrode 25 ′ is etched using the positive photoresist pattern 27 ′ as an etch stop layer to complete the charge storage electrode 25 ′ with an increased surface area. Here, the etching is performed using a wet etching or an isotropic dry etch method.

전하 저장 전극 형성에 있어서 종래에는 개별적인 전하 저장 전극 콘택홀 형성용 마스크와 전하 저장 전극 형성용 마스크가 필요하였으나, 본 발명에서는 하나의 마스크로 전하 저장 전극 콘택홀 및 전하 저장 전극을 형성하는 것이 가능하여 마스크 제작 단가 측면에서 경제적이다. 또한 아울러 마스크 제조시 발생되는 마스크 간의 정렬오차가 실제 리소그래피 공정에서 정렬 정밀도 향상에 큰 부담이 되었으나 본 발명은 한장의 마스크만 사용하므로 상기 마스크 간의 정렬오차를 고려할 필요가 없어 공정 안정화에 효과적이다.In the formation of the charge storage electrode, a mask for forming a charge storage electrode contact hole and a mask for forming a charge storage electrode has been conventionally required, but in the present invention, it is possible to form the charge storage electrode contact hole and the charge storage electrode with one mask. It is economical in terms of cost of manufacturing masks. In addition, the alignment error between the masks generated during the manufacturing of the mask was a big burden to improve the alignment accuracy in the actual lithography process, but the present invention is effective in stabilizing the process because it does not need to consider the alignment error between the masks because only one mask is used.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and various substitutions, modifications, and changes are possible in the technical field of the present invention without departing from the technical spirit of the present invention. It will be clear to those of ordinary knowledge.

상기와 같이 이루어지는 본 발명은 전하 저장 전극 콘택홀 및 전하 저장 전극을 동일한 마스크를 이용하여 제조함으로써 마스크 형성에 발생하는 정렬 오차로 인한 문제를 줄일 수 있어 소자의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.According to the present invention, the charge storage electrode contact hole and the charge storage electrode are manufactured by using the same mask, so that problems due to alignment errors occurring in mask formation can be reduced, thereby improving device reliability.

Claims

Forming an insulating film on a semiconductor substrate, applying a first type photosensitive film on the insulating film, exposing the first type photosensitive film by using a mask for forming a contact hole, and developing the first type photosensitive film. Forming a first photoresist pattern, forming a contact hole by etching the insulating layer using the first photoresist pattern as an etch stop layer, removing the first photoresist pattern, and depositing a conductive film on the entire structure And applying a second photosensitive film on the conductive film, exposing the second photosensitive film by using the same mask as the mask for forming the contact hole, and developing the second photosensitive film to develop a second photosensitive film pattern. Forming a charge storage electrode by etching the conductive layer using the second photoresist pattern as an etch stop layer; A charge storage electrode formed of the conductive device.

The method of claim 1, wherein the first photosensitive film is a positive photosensitive film, and the second photosensitive film is a negative photosensitive film.

The method of claim 1, wherein the conductive film is formed of a polycrystalline silicon film.

The method of claim 2, wherein in the exposing of the second type photosensitive film, the amount of exposure energy is determined so that the second photosensitive film pattern is formed to be larger than the size of the light transmissive region of the mask. .

3. The method of claim 2, wherein the second type photosensitive film is a chemically amplified negative photosensitive film.

6. The method of claim 5, wherein the baking process temperature and time after exposure are determined so that the second photoresist pattern is formed larger than the size of the transmissive region of the mask.

The method of claim 1, after the forming of the charge storage electrode, applying the first type photosensitive film on the entire structure, and exposing the first type photosensitive film by using the same mask as the mask for forming the contact hole. Developing a first photoresist film to form a third photoresist pattern exposing a part of the surface of the charge storage electrode, and etching the exposed charge storage electrode using the third photoresist pattern as an etch stop layer to increase a surface area; And forming a charge storage electrode.

The method of claim 7, wherein the etching is performed by any one of wet etching and isotropic dry etching.