KR19980039928A - Semiconductor Chemical Vapor Deposition Equipment - Google Patents
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Abstract
공정챔버내에 넣어진 웨이퍼를 공정온도로 가열하는 시간을 단축시켜 생산성을 향상시킬 수 있는 반도체 화학기상증착 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a semiconductor chemical vapor deposition apparatus capable of shortening the time for heating a wafer placed in a process chamber to a process temperature to improve productivity.
본 발명의 구성은 복수개의 공정챔버(21) 및 엘리베이터(23)와, 상기 공정챔버(21)와 엘리베이터(23) 사이에 구비된 로드락챔버(22)와, 상기 로드락챔버(22)에 설치되어 엘리베이터(23)에 놓인 카세트로부터 웨이퍼를 꺼내어 공정챔버(21)로 이송 및 반송시키는 로봇(24)으로 구성된 반도체 화학기상증착 장치에 있어서, 상기 로드락챔버(22)의 일측에 프리히팅챔버(25)를 설치하고, 이 프리히팅챔버(25)내에 상,하로 이송가능한 히팅블록(26)을 설치하며, 상기 히팅블록(26)에는 다수매의 웨이퍼를 올려놓고 가열할 수 있는 히터(27)를 구비하여 이루어진 것이다.The configuration of the present invention is a plurality of process chamber 21 and the elevator 23, the load lock chamber 22 provided between the process chamber 21 and the elevator 23, and the load lock chamber 22 In the semiconductor chemical vapor deposition apparatus provided with a robot 24 installed to remove a wafer from a cassette placed in an elevator 23 and transfer and convey it to a process chamber 21, a preheating chamber on one side of the load lock chamber 22. (25) is installed, and a heating block (26) capable of transferring up and down in the preheating chamber (25), and a heater (27) capable of heating a plurality of wafers on the heating block (26). ).
따라서 공정챔버 내부의 온도를 공정온도로 상승시키는 시간이 단축되어 생산성이 향상되는 것이고, 공정초기에 실시하였던 Ar 플라즈마에 의한 프리히팅이 필요없어 Ar 플라즈마에 의한 디바이스 손상 및 열적손상이 방지되는 효과가 있다.As a result, the time for raising the temperature inside the process chamber to the process temperature is shortened, and the productivity is improved. The pre-heating by the Ar plasma performed at the beginning of the process is not necessary, thereby preventing device damage and thermal damage by the Ar plasma. have.
Description
본 발명은 반도체 화학기상증착 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 공정챔버내에 넣어진 웨이퍼를 공정온도로 가열하는 시간을 단축시켜 생산성을 향상시킬 수 있는 반도체 화학기상증착 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a semiconductor chemical vapor deposition apparatus, and more particularly to a semiconductor chemical vapor deposition apparatus that can improve the productivity by shortening the time to heat the wafer placed in the process chamber to the process temperature.
도1은 종래의 화학기상증착 장치를 나타낸 것으로, 웨이퍼에 공정을 수행하기 위한 복수개의 공정챔버(11)가 구비되어 있고, 이 공정챔버(11)는 고진공을 유지하므로 웨이퍼는 대기상태에서 로드락챔버(12)를 통해 고진공상태의 공정챔버(11)내로 이송되도록 되어 있다.1 shows a conventional chemical vapor deposition apparatus, in which a wafer is provided with a plurality of process chambers 11 for performing a process, and the process chamber 11 maintains high vacuum, so that the wafer is loaded in the standby state. The chamber 12 is transferred into the process chamber 11 in a high vacuum state.
즉 로드락챔버(12)의 일측 외부에는 복수개의 엘리베이터(13)가 구비되어 있고, 이 엘리베이터(13)에는 다수매의 웨이퍼가 적재된 카세트(도시안됨)가 놓여지게 된다. 따라서 로드락챔버(12)의 내부를 대기상태로 만들어 엘리베이터(13)로 통하는 입구를 통해 카세트에 적재된 웨이퍼를 로봇(14)이 로드락챔버(12)내로 이송시킨다. 그 후 엘리베이터(13)와 통하는 도어를 닫고 로드락챔버(12) 내부를 공정챔버(11)내의 진공상태에 가깝게 만든다음 로드락챔버(12)와 공정챔버(11) 사이의 도어를 열고 웨이퍼를 공정챔버(11)내로 이송시키게 되고, 이어서 공정챔버(11) 내부의 온도를 공정온도로 상승시켜 웨이퍼에 공정을 수행하게 된다.That is, a plurality of elevators 13 are provided outside one side of the load lock chamber 12, and a cassette (not shown) on which a plurality of wafers are stacked is placed in the elevator 13. Accordingly, the robot 14 transfers the wafer loaded in the cassette into the load lock chamber 12 through the entrance through the elevator 13 to make the interior of the load lock chamber 12 stand by. Thereafter, the door communicating with the elevator 13 is closed and the inside of the load lock chamber 12 is brought close to the vacuum in the process chamber 11. Then, the door between the load lock chamber 12 and the process chamber 11 is opened to open the wafer. The process chamber 11 is transferred to the process chamber 11, and then the temperature inside the process chamber 11 is raised to the process temperature to perform the process on the wafer.
이와 같이하여 공정이 끝나면, 다시 로드락챔버(12)와 공정챔버(11) 사이의 도어가 열리게 되고, 로봇(14)이 웨이퍼를 공정챔버(11)내에서 꺼내게 되며, 로드락챔버(12)가 진공상태이므로 대기상태로 만든후 엘리베이터(13) 사이의 도어를 열어 웨이퍼를 카세트에 적재하게 된다.When the process is completed in this way, the door between the load lock chamber 12 and the process chamber 11 is opened again, the robot 14 takes the wafer out of the process chamber 11, and the load lock chamber 12 Since the vacuum is in a standby state, the door between the elevators 13 is opened to load the wafer into the cassette.
이러한 과정을 통해 공정이 수행되는 종래의 화학기상증착 장치는 공정챔버(11)내의 공정분위기 유지를 위해 내부온도를 상승시키게 되고, 통상 공정초기에 Ar 플라즈마에 의한 프리히팅(Pre-Heating)을 실시하게 된다. 이때 적정온도까지 가열하는데 적지않은 시간이 소요되고, 이러한 과정은 매 웨이퍼에 대한 공정이 진행될 때마다 반복하게 되므로 결국 생산성이 저하될 뿐만아니라 디바이스에 대한 플라즈마 손상 및 열적영향을 남기는 등의 문제점이 있었다.In the conventional chemical vapor deposition apparatus in which the process is performed through this process, the internal temperature is increased to maintain the process atmosphere in the process chamber 11, and preheating is performed by the Ar plasma at the beginning of the process. Done. At this time, it takes a considerable time to heat up to a proper temperature, and this process is repeated every time the process for each wafer is progressed, so that the productivity is not only reduced, but also there are problems such as plasma damage and thermal effects on the device. .
본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 그 목적은 공정챔버 내부를 적정온도까지 가열하는데 소요되는 시간을 단축시켜 생산성을 향상시킬 수 있고, 디바이스에 대한 Ar 플라즈마 손상 및 열적영향에 의한 손상을 방지할 수 있는 반도체 화학기상증착 장치를 제공하는 것이다.The present invention is to solve the conventional problems as described above, the object of which is to shorten the time required to heat the inside of the process chamber to a suitable temperature to improve the productivity, and to the Ar plasma damage and thermal effects on the device It is to provide a semiconductor chemical vapor deposition apparatus that can prevent damage caused by.
도1은 종래의 반도체 화학기상증착 장치를 개략적으로 나타낸 평면도이다.1 is a plan view schematically showing a conventional semiconductor chemical vapor deposition apparatus.
도2는 본 발명에 따른 화학기상증착 장치를 개략적으로 나타낸 평면도이다.Figure 2 is a plan view schematically showing a chemical vapor deposition apparatus according to the present invention.
도3은 본 발명에 따른 화학기상증착 장치의 프리히팅챔버를 나타낸 단면구조도이다.Figure 3 is a cross-sectional structural view showing a preheating chamber of the chemical vapor deposition apparatus according to the present invention.
※도면의 주요부분에 대한 부호의 설명※ Explanation of symbols for main parts of drawing
21 : 공정챔버 22 : 로드락챔버21: process chamber 22: load lock chamber
23 : 엘리베이터 24 : 로봇23: elevator 24: robot
25 : 프리히팅챔버 26 : 히팅블록25: pre-heating chamber 26: heating block
27 : 히터27: heater
상기의 목적은 복수개의 공정챔버 및 엘리베이터와, 상기 공정챔버와 엘리베이터 사이에 구비된 로드락챔버와, 상기 로드락챔버에 설치되어 엘리베이터에 놓인 카세트로부터 웨이퍼를 꺼내어 공정챔버로 이송 및 반송시키는 로봇으로 구성된 반도체 화학기상증착 장치에 있어서, 상기 로드락챔버의 일측에 프리히팅챔버를 설치하고, 이 프리히팅챔버내에 상,하로 이송가능한 히팅블록을 설치하며, 상기 히팅블록에는 다수매의 웨이퍼를 올려놓고 가열할 수 있는 히터를 구비하여 됨을 특징으로 하는 반도체 화학기상증착 장치에 의해 달성될 수 있다.The above object is a plurality of process chambers and elevators, a load lock chamber provided between the process chamber and the elevator, a robot installed in the load lock chamber to take the wafer from the cassette placed in the elevator to transfer and convey to the process chamber In the semiconductor chemical vapor deposition apparatus configured, a preheating chamber is installed on one side of the load lock chamber, a heating block which can be transferred up and down in the preheating chamber, and a plurality of wafers are placed on the heating block. It can be achieved by a semiconductor chemical vapor deposition apparatus characterized by having a heater capable of heating.
이하, 본 발명의 구체적인 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도2는 본 발명에 따른 반도체 화학기상증착 장치를 나타낸 것으로, 웨이퍼에 공정을 수행하기 위한 복수개의 공정챔버(21)가 구비되어 있고, 이 공정챔버(21)는 고진공을 유지하므로 웨이퍼는 대기상태에서 로드락챔버(22)를 통해 고진공상태의 공정챔버(21)내로 이송되도록 되어 있다.Figure 2 shows a semiconductor chemical vapor deposition apparatus according to the present invention, the wafer is provided with a plurality of process chambers 21 for performing a process, the process chamber 21 maintains a high vacuum, so the wafer is in a standby state Is transferred to the process chamber 21 in a high vacuum state through the load lock chamber 22.
상기 로드락챔버(22)에는 웨이퍼를 이송 및 반송시키는 로봇(24)이 설치되어 있고, 로드락챔버(22)의 일측 외부에는 복수개의 엘리베이터(23)가 구비되어 있으며, 이 엘리베이터(23)에는 다수매의 웨이퍼가 적재된 카세트가 놓여지게 된다.The load lock chamber 22 is provided with a robot 24 for transferring and conveying wafers. A plurality of elevators 23 are provided outside one side of the load lock chamber 22, and the elevator 23 is provided with a robot 24. A cassette on which a plurality of wafers are loaded is placed.
또한 로드락챔버(22)의 일측에는 프리히팅챔버(25)가 구비되어 있고, 이 프리히팅챔버(25)의 내부에는 히팅블록(26)이 상,하방향으로 이동가능하게 설치되며, 이 히팅블록(26)에는 웨이퍼를 올려놓고 가열할 수 있도록 된 다수개의 히터(27)가 상,하로 배치된 구성이다.In addition, one side of the load lock chamber 22 is provided with a pre-heating chamber 25, the heating block 26 is installed in the pre-heating chamber 25 to be movable in the up and down direction, the heating The block 26 has a configuration in which a plurality of heaters 27 are arranged up and down to heat the wafer.
따라서 로봇(24)이 엘리베이터(23)상에 놓여진 카세트로부터 웨이퍼를 꺼내어 프리히팅챔버(25)내의 히터(27)상에 올려놓게 되면, 웨이퍼가 히터(27)에 의해 예열되는 것이고, 예열된 웨이퍼를 다시 로봇(24)이 꺼내어 공정챔버(21)내로 이송시킴으로써 공정이 수행되는 것이다. 이때 프리히팅챔버(25)내에서 예열된 웨이퍼를 로드락챔버(22)를 통해 공정챔버(21)로 이송시킬 때 로드락챔버(22)는 진공상태이므로 전도(Conduction)에 의한 열전달을 무시할 수 있어 웨이퍼가 예열된 상태를 그대로 유지하여 공정챔버(21)로 이송될 수 있는 것이다.Therefore, when the robot 24 removes the wafer from the cassette placed on the elevator 23 and places it on the heater 27 in the preheating chamber 25, the wafer is preheated by the heater 27, and the preheated wafer The process is performed by removing the robot 24 again and transferring the robot 24 into the process chamber 21. At this time, when the wafer preheated in the preheating chamber 25 is transferred to the process chamber 21 through the load lock chamber 22, the load lock chamber 22 is in a vacuum state, so heat transfer due to conduction can be ignored. The wafer can be transferred to the process chamber 21 while maintaining the preheated state.
이러한 과정을 통해 공정이 수행되는 본 발명의 화학기상증착 장치는 웨이퍼가 예열된 상태로 공급되므로 공정챔버(21)내의 공정분위기 유지를 위해 공정초기에 실시하였던 Ar 플라즈마에 의한 프리히팅이 필요없게 되고, 이로써 공정챔버(21) 내부의 온도를 공정온도로 상승시키기 위한 시간이 단축되어지는 것이다.The chemical vapor deposition apparatus of the present invention in which the process is performed through this process is supplied with the wafer preheated, so that preheating by the Ar plasma performed at the beginning of the process is not required to maintain the process atmosphere in the process chamber 21. Therefore, the time for raising the temperature inside the process chamber 21 to the process temperature is shortened.
이상에서와 같이 본 발명에 따른 반도체 화학기상증착 장치에 의하면, 공정챔버 내부의 온도를 공정온도로 상승시키는 시간이 단축되어 생산성이 향상되는 것이고, 공정초기에 실시하였던 Ar 플라즈마에 의한 프리히팅이 필요없어 Ar 플라즈마에 의한 디바이스 손상 및 열적손상이 방지되는 효과가 있다.As described above, according to the semiconductor chemical vapor deposition apparatus according to the present invention, the time for raising the temperature inside the process chamber to the process temperature is shortened to improve productivity, and preheating by the Ar plasma performed at the beginning of the process is required. There is an effect that the device damage and thermal damage by the Ar plasma is prevented.
이상에서 본 발명은 기재된 구체예에 대해서만 상세히 설명되었지만 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.Although the present invention has been described in detail only with respect to the described embodiments, it will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations are possible within the technical scope of the present invention, and such modifications and modifications are within the scope of the appended claims.
Claims (1)
Priority Applications (1)
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KR1019960059046A KR19980039928A (en) | 1996-11-28 | 1996-11-28 | Semiconductor Chemical Vapor Deposition Equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
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Family
ID=66482764
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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KR1019960059046A KR19980039928A (en) | 1996-11-28 | 1996-11-28 | Semiconductor Chemical Vapor Deposition Equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
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KR (1) | KR19980039928A (en) |
-
1996
- 1996-11-28 KR KR1019960059046A patent/KR19980039928A/en not_active Application Discontinuation
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