KR19980021712A - 하드 디스크 드라이브의 번-인 테스트 방법 - Google Patents

Abstract

가. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야 : 본 발명은 하드 디스크 드라이브에 관한 것으로, 하드 디스크 드라이브의 제조시간 단축을 위한 번-인 테스트(burn-in test : 이하 번-인 테스트라 함)방법에 관한 것이다.

나. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제 : 종래의 번-인 테스트 공정에서 실제 번-인테스트의 주목적인 디스크상에 발생한 디팩을 검출하는 공정시간보다 트랙탐색 하는데 걸리는 시간이 많아 불필요하게 번-인 테스트 시간이 늘어났던 문제점을 해결하고, 또한, 상기 번-인테스트 공정의 시간이 불필요하게 증가함으로서 전체 하드 디스크 드라이브의 생산공정시간이 증가하여 생산비의 비효율적인 낭비를 가져왔던 문제점을 해결한다.

다. 발명의 해결방법의 요지

하드 디스크 드라이브의 생산공정에서 번-인테스트를 수행하여 각 패턴별로 기록된 데이터 패턴을 독출하고 디팩을 검출할 시 매 트랙마다 설정된 일정횟수 만큼 반복 독출하여 디팩을 검출하는 방법을 제공한다.

라. 발명의 중요한 용도

하드 디스크 드라이브의 번-인 테스트 방법.

Description

하드 디스크 드라이브의 번-인 테스트 방법

본 발명은 하드 디스크 드라이브에 관한 것으로, 하드 디스크 드라이브의 제조시간단축을 위한 번-인 테스트(burn-in test : 이하 번-인 테스트라 함)방법에 관한 것이다.

통상적으로 하드 디스크 드라이브(HDD:hard disc driver)는 기구적인 구성요소들로 이루어진 HDA(head disc assembly)와 회로적인 구성요소들로 이루어진 PCB(printed circuit board)를 결합한 하나의 시스템으로서, 회전하는 자기 디스크상에 데이타를 자기적으로 기록/독출하여 대량의 데이타를 고속으로 악세스할 수 있기 때문에 컴퓨터 시스템의 보조기억장치로서 널리 사용된다. 이러한, 하드 디스크 드라이브를 제조할 시 다음의 몇가지 공정을 수행하게 된다. 그 1단계로서, 상술한 기구적인 구성요소들과 회로적 구성요소를 조립하는 단계를 수행한다. 그리고, 2단계로서, 조립된 하드 디스크 드라이브에 장착된 디스크상에 제어를 담당할 서보정보를 기록한다. 그리고, 3단계로서, 하드 디스크 드라이브내의 모든 시스템에 기능적인 동작을 테스트 하는 기능테스트 동작을 수행한다. 그런후, 마지막 4단계로서 번-인 테스트공정을 수행하여 상기 자기디스크상에 발생하는 디팩을 검출한다. 이때, 상기 자기디스크상에 발생하는 디팩은 통상적으로 원자재 결함 등으로 인하여 하드 디스크 드라이브가 리드(read)나 라이트(write)를 할 수 없는 디스크상의 영역을 나타내며, 이러한 디펙은 디스크의 전기적 특성이 떨어지거나, 디스크면의 찍힘 또는 긁힘(scratch) 등에 기인이다. 그러면, 상기 하드 디스크 드라이브의 제조공정 단계중 번-인 테스트 공정을 도 1을 통해 좀 더 자세히 설명하기로 한다. 먼저 100단계에서 마이크로 콘트롤러(224)는 미리 설정된 다수의 데이터패턴 중에 첫 번째 데이터패턴을 선택한다. 그런후, 110단계에서 상기 마이크로 콘트롤러(224)는 상기 선택된 데이터패턴을 디스크상의 전트랙에 순차적으로 기록한다. 그런후, 120∼130단계에서 상기 마이크로 콘트롤러(224)는 상기 디스크상의 트랙에 기록된 특정 데이타패턴을 순차적으로 독출하여 전트랙의 디팩을 검출한 후 검출카운터를 1증가 시킨다. 그런후, 140단계에서 상기 마이크로 콘트롤러(224)는 상기 증가된 검출카운터가 미리 설정된 횟수만큼 되었는가를 검출한다. 그러므로, 상기 미리 설정된 횟수만큼 되지 않았을 시 120∼130단계를 다시 수행하여 설정된 횟수만큼 반복 수행한다. 그런후, 150단계에서 상기 마이크로 콘트롤러(224)는 미리 설정된 다수의 데이터패턴을 모두 수행하였는가를 검출한다. 이때, 상기 미리 설정된 다수의 데이터패턴을 모두 수행하지 못하였을 시 160단계에서 상기 마이크로콘트롤러(224)는 다음 데이터패턴을 선택한 후 110단계로 피이드백하여 상술한 이전과정을 다시 수행하지만, 상기 미리 설정된 다수의 데이터패턴을 모두 수행하였을 시 번-인테스트 공정을 종료한다.

결과적으로, 상술한 종래의 번-인 테스트 공정에서 소요되는 총 시간은 특정 데이터패턴를 기록하거나 독출하는데 걸리는 시간이 상기 번-인 테스트 전공정으로 볼 때 80% 이상을 차지하며, 그 중에서도 절반은 상기 데이터패턴을 기록하거나 독출하기 위해 트랙을 탐색하는 트랙탐색 동작을 수행하는데 소요 되었다. 그러므로, 실제 번-인테스트의 주목적인 디스크상에 발생한 디팩을 검출하는 공정시간보다 트랙탐색하는데 걸리는 시간이 많아 불필요하게 공정시간이 늘어나는 문제점이 있었다. 또한, 상기 번-인테스트 공정의 시간이 불필요하게 증가함으로서 전체 하드 디스크 드라이브의 생산공정시간이 증가하여 생산단가를 높이는 비효율적인 낭비를 가져왔던 문제점이 있었다.

따라서, 본 발명의 목적은 하드 디스크 드라이브의 생산공정에서 번-인 테스트를 수행할 시 불필요한 트랙탐색 시간을 줄이는 방법을 제공함에 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 목적은 하드 디스크 드라이브의 번-인 테스트 방법에 있어서, 미리 설정된 다수의 특정 데이터 패턴 중 그 첫 번째 특정데이타 패턴을 선택하는 선택과정과, 상기 선택된 특정 데이터 패턴을 상기 하드 디스크 드라이브내 디스크상의 전트랙에 기록하는 기록과정과, 상기 기록된 특정 데이타 패턴을 첫 번째 트랙부터 순차적으로 마지막 트랙까지 매 트랙마다 설정된 횟수만큼 반복 독출함과 동시에 디팩을 검출하는 검출과정과, 상기 첫 번째 특정데이타 패턴이 기록된 디스크의 디팩을 검출한 후 다음번 특정 데이터 패턴들을 순차적으로 개별선택하여 디스크상의 전트랙에 기록한 후 상기 검출과정을 다시 반복 수행하는 과정으로 이루어짐을 특징으로 한다.

도 1은 종래의 하드 디스크 드라이브의 번-인 테스트 제어 흐름도이다.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 번-인 테스트에 적용되는 하드 디스크 드라이브의 블럭 구성을 보여주는 도면이다.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 하드 디스크 드라이브의 번-인 테스트 제어 흐름도이다.

이하 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 우선 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 한해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한 하기 설명에서는 구체적인 회로의 구성 소자 등과 같은 많은 특정 사항들이 나타나고 있는데, 이는 본 발명의 보다 전반적인 이해를 돕기 위해서 제공된 것일 뿐 이러한 특정 사항들 없이도 본 발명이 실시될 수 있음은 이 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에게는 자명하다 할 것이다. 그리고 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.

도 2은 본 발명의 실시예에 따른 번-인 테스트공정에 적용되는 하드 디스크 드라이브의 블럭 구성을 보여주는 도면이다. 도 2를 참조하면, 디스크들(210)은 스핀들(spindle) 모터(234)에 의해 회전한다. 자기헤드들(212)은 디스크들(210)중 대응하는 하나의 디스크면상에 위치하며, 환형 보이스 코일(rotary voice coil) 액츄에이터(230)와 결합된 E-블럭 어셈블리(214)로 부터 디스크들(210)쪽으로 신장된 서포트 암들에 각각 대응되게 설치된다. 전치증폭기(216)는 리드시에는 헤드들(212) 중 하나에 의해 픽업된 신호를 전치증폭하여 아나로그 리드신호를 리드/라이트 채널(read/write channel)회로(218)에 인가하며, 라이트시에는 리드/라이트 채널회로(218)로부터 인가되는 부호화된 라이트데이타를 헤드들(212)중 대응하는 하나의 헤드를 통해 디스크 상에 라이트되도록 한다. 리드/라이트 채널회로(218)는 전치증폭기(216)로부터 인가되는 리드신호로부터 데이타 펄스를 검출하고 디코딩하여 DDC(Disk Data Controller)(220)에 인가하며, DDC(220)로부터 인가되는 라이트데이타를 디코딩하여 전치증폭기(216)에 인가한다. DDC(220)은 서보라이터부터 수신되는 데이타를 리드/라이트 채널회로(218)과 전치증폭기(216)를 통해 디스크상에 라이트 한다. 또한 DDC(220)는 호스트컴퓨터와 마이크로 콘트롤러(224)간의 통신을 인터페이스한다. 버퍼 램(222)은 호스트컴퓨터와, 마이크로 콘트롤러(224)와, 리드/라이트 채널회로(218) 사이에 전송되는 데이타를 일시 저장한다. 마이크로 콘트롤러(226)는 호스트컴퓨터로 부터 수신되는 리드 또는 라이트 명령에 응답하여 DDC(220)를 제어하며 트랙 탐색 및 트랙 추종을 제어한다. PROM(26)은 마이크로 콘트롤러(224)의 수행 프로그램 및 각종 설정값들을 저장한다. 서보구동부(228)는 마이크로 콘트롤러(224)로부터 발생되는 헤드들(212)의 위치 제어를 위한 신호에 의해 액츄에이터(230)를 구동하기 위한 구동전류를 발생하여 액츄에이터(230)의 보이스 코일에 인가한다. 액츄에이터(230)는 서보구동부(228)로부터 인가되는 구동전류의 방향 및 레벨에 대응하여 헤드들(212)을 디스크들(210)상에서 이동시킨다. 스핀들 모터 구동부(232)는 마이크로 콘트롤러(224)로부터 발생되는 디스크들(210)의 회전 제어를 위한 제어값에 따라 스핀들 모터(234)를 구동하여 디스크들(210)을 회전시킨다. 디스크신호 제어부(236)는 마이크로 콘트롤러(224)의 제어에 의거하여 리드/라이트에 필요한 각종 타이밍신호들을 발생하며 서보정보를 디코딩하여 마이크로 콘트롤러(224)에 인가한다.

그러므로, 하드 디스크 드라이브의 번-인 테스트는 도 1의 도시된 마이크로 콘트롤러(24)를 사용하여 테스트할 수도 있고, 외부의 번-인 테스트장비를 사용하여 테스트할 수도 있다. 본 발명의 실시예예서는 도 1에 도시된 마이크로 콘트롤러(224)에서 번-인 테스트를 수행하는 것을 일예로 설명할 것이다. 이때 마이크로 콘트롤러(224)는 번-인 테스트를 위한 프로그램 및 그에 따른 각종 정보를 메모리(226)에 저장한다.

이하 본 발명에 첨부되는 도 2의 블록구성도를 참조하여 도 3의 제어흐름도를 상세히 설명한다.

먼저 310단계에서 마이크로콘트롤러(224)는 미리 설정된 다수의 특정 데이터 패턴 중에 첫 번째 특정 데이터패턴을 선택한다. 그런후, 320단계에서 상기 마이크로 콘트롤러(224)는 상기 선택된 특정 데이터패턴을 디스크상의 전트랙에 순차적으로 기록한다. 그런후, 330∼340단계에서 상기 마이크로콘트롤러(224)는 상기 특정 데이터패턴이 기록된 디스크상의 첫 번째 트랙부터 마지막트랙까지 매 트랙마다 각각 미리 설정된 일정 횟수만큼 반복 독출함과 동시에 디팩을 검출한다. 그런후, 350단계에서 상기 마이크로 콘트롤러(224)는 미리 설정된 다수의 특정 데이터 패턴을 모두 개별적으로 선택하여 상술한 디팩 검출과정을 수행하였는가를 검출한다. 이때, 상기 미리 설정된 다수의 데이터패턴을 모두 수행하지 못하였을 시 360단계에서 상기 마이크로콘트롤러(224)는 다음번째 데이터패턴을 선택한 후 320단계로 피이드백하여 상술한 이전과정을 다시 수행하지만, 상기 미리 설정된 다수의 데이터패턴을 모두 수행하였을 시 번-인테스트 공정을 종료한다.

결론적으로, 종래의 번-인테스트 공정과는 달리 각 패턴별로 기록된 데이터 패턴을 독출하여 디팩을 검출할 시 매 트랙마다 설정된 일정횟수 만큼 반복 독출하여 디팩을 검출하기 때문에 그 검출횟수는 줄어들지 않으나 트랙을 탐색하는 시간이 단축된다.

상술한 바와 같은 본 발명은 하드 디스크 드라이브의 생산공정에서 번-인테스트를 수행할 시 불필요한 트랙탐색 시간을 줄이는 방법을 제공함으로서, 전체적인 하드 디스크 드라이브의 생산공정 시간을 단축 시킬 수 있으며, 또한, 제품의 생산 하는데 드는 비용을 줄일 수 있는 잇점이 있다.

Claims (1)

1. 하드 디스크 드라이브의 번-인 테스트 방법에 있어서,

   미리 설정된 다수의 특정 데이터 패턴 중 그 첫 번째 특정데이타 패턴을 선택하는 선택과정과,

   상기 선택된 특정 데이터 패턴을 상기 하드 디스크 드라이브내 디스크상의 전트랙에 기록하는 기록과정과,

   상기 기록된 특정 데이타 패턴을 첫 번째 트랙부터 순차적으로 마지막 트랙까지 매 트랙마다 설정된 횟수만큼 반복 독출함과 동시에 디팩을 검출하는 검출과정과,

   상기 첫 번째 특정데이타 패턴이 기록된 디스크의 디팩을 검출한 후 다음번 특정 데이터 패턴들을 순차적으로 개별선택하여 디스크상의 전트랙에 기록한 후 상기 검출과정을 다시 반복 수행하는 과정으로 이루어짐을 특징으로 하는 하드 디스크 드라이브의 번-인 테스트 방법.