KR102665834B1 - 방사선 내성 시험 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은, 방사선 내성 시험 장치에 관한 것이다. 이러한 방사선 내성 시험 장치는, 복수 개의 시험기구를 각각 독립적으로 이동시키는 이동기구를 구비하고 시료가 설치되는 설치부가 회전되도록 구성되는 시험기구를 구비하므로 방사선 조사 시험을 신속하고 간편하게 하도록 할 수 있다.

Description

방사선 내성 시험 장치{RADIATION IMMUNITY TEST APPARATUS}
본 발명은, 방사선 내성 시험 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 방사선이 조사될 시료가 설치되는 복수 개의 시험기구가 방사선조사기구로부터 자유로운 위치에 위치 가능하고, 시험기구에 방사선이 자유로운 시간 동안 조사될 수 있는 방사선 내성 시험 장치에 관한 것이다.
방사선 내성 시험 장치는 시료에 방사선을 조사하여 시료의 특성, 물성 등을 변화시킴으로써 시료의 특성, 물성 등의 변화를 분석 가능하게 하는 장치다.
방사선 내성 시험 장치를 이용한 방사선 조사 시험은, 방사선 내성 시험 장치의 방사선원으로부터 일정한 거리에 시료를 설치한 다음 소정 시간 동안 시료를 방사선원에 노출하여 시료에 방사선원이 조사되도록 하여 진행할 수 있다.
한편, 방사선 조사 시험에 사용되는 시료는 방사선원으로부터 이격된 거리와 방사선에 노출된 시간에 따라서 특성, 물성의 변화가 달라진다.
종래의 방사선 내성 시험 장치는 시료가 방사선원으로부터 이격되는 거리를 조절하기 위해서, 시료를 방사선원으로부터 소정 거리 이격된 장소에 일일이 설치한 다음 시료에 방사선을 조사하도록 구성되었다.
그리고, 종래의 방사선 내성 시험 장치는 시료가 방사선에 노출되는 시간을 조절하기 위해서, 시료가 방사선에 소정 시간 노출되면 시료를 방사선 내성 시험 장치로부터 회수하도록 구성되었다.
이처럼, 시료가 방사선원으로부터 이격되는 거리를 일일이 조절하거나 시료가 방사선에 노출되는 시간을 시료를 회수함으로써 조절하는 방식은 불편할 뿐만 아니라, 복수 개의 시료에 대한 방사선 조사 시험을 수행하는 경우 방사선 조사 시험에 많은 시간이 소요되는 문제가 있다.
그러므로, 복수 개의 시료에 대한 방사선 조사 시험을 수행함에 있어서 각각의 시료가 방사선원으로부터 이격되는 거리 및 각각의 시료가 방사선에 노출되는 시간이 편리하게 조절되도록 할 필요가 있다.
본 발명의 일 과제는, 복수 개의 시료에 대한 방사선 조사 시험을 수행함에 있어서 각각의 시료가 방사선원으로부터 이격되는 거리가 자유롭고 편리하게 조절되도록 하는데 있다.
본 발명의 또 다른 과제는, 복수 개의 시료에 대한 방사선 조사 시험을 수행함에 있어서 각각의 시료가 방사선에 노출되는 시간이 자유롭고 편리하게 조절되도록 하는데 있다.
본 발명의 과제는 이상에서 언급된 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기한 기술적 과제를 달성하기 위한 기술적 수단으로서, 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 내성 시험 장치는, 방사선을 조사하는 방사선조사기구, 시료가 각각 설치되는 복수 개의 시험기구 및 상기 복수 개의 시험기구를 각각 독립적으로 상기 방사선조사기구로 근접하는 방향으로 이동시키거나 상기 방사선조사기구로부터 멀어지는 방향으로 이동시키는 이동기구를 포함하고, 상기 시험기구는 상기 시료에 상기 방사선이 조사되도록 상기 시료를 지지 가능하거나, 상기 시료로 조사되는 상기 방사선이 차단되도록 상기 시료를 지지 가능할 수 있다.
또한, 상기 시험기구는, 상기 방사선이 조사될 시료 및 상기 방사선의 선량율을 측정하는 방사선센서가 설치되는 설치부, 상기 설치부를 회전시키는 회전부, 상기 회전부를 지지하는 지지부 및 상기 방사선을 차단시키며 상기 방사선조사기구와 상기 회전부 사이에 설치되는 차폐부를 포함하고, 상기 회전부는 상기 방사선이 상기 시료 및 상기 방사선센서에 조사되는 것이 차단되도록 상기 설치부를 회전시키는 것이 가능하고, 상기 방사선이 상기 시료 및 상기 방사선센서에 조사되도록 상기 설치부를 회전시키는 것이 가능할 수 있다.
또한, 상기 설치부는 길이 방향으로 연장되도록 구성되고, 상기 회전부는 상기 설치부의 상기 길이 방향이 수직 방향과 평행하도록 상기 설치부를 회전 가능하고, 상기 설치부와 상기 방사선조사기구 사이에 상기 차폐부가 위치하게 상기 설치부의 상기 길이 방향이 수평 방향과 평행하도록 상기 설치부를 회전 가능하며, 상기 설치부의 상기 길이 방향이 상기 수직 방향과 평행하면 상기 시료 및 상기 방사선센서에 상기 방사선이 조사되고, 상기 설치부의 상기 길이 방향이 상기 수평 방향과 평행하면 상기 시료 및 상기 방사선센서에 조사되는 상기 방사선이 차단될 수 있다.
또한, 상기 방사선조사기구, 상기 시험기구 및 상기 이동기구를 제어하는 제어부를 포함하고, 상기 지지부는 외부 장치와 데이터를 송수신 가능한 통신모듈을 포함하고, 상기 제어부는 상기 통신모듈로 상기 시험기구를 제어하기 위한 데이터를 송신하여 상기 시험기구를 제어할 수 있다.
또한, 상기 제어부는, 상기 방사선센서로부터 상기 방사선의 선량율에 관한 데이터를 수신하고, 수신한 상기 방사선의 선량율에 관한 데이터와 상기 방사선이 상기 시료에 조사된 시간에 관한 데이터를 이용하여 상기 시료에 누적된 시료방사선량율을 계산할 수 있다.
과제를 해결하기 위한 기타 실시예들의 구체적인 사항들은 발명의 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
전술한 본 발명의 과제의 해결 수단에 의하면, 본 발명에 따른 방사선 내성 시험 장치는, 이동기구가 복수 개의 시험기구를 각각 독립적으로 이동시키도록 구성되므로, 각각의 시료가 방사선원으로부터 이격되는 거리가 자유롭게 조절되어 편리하게 방사선 조사 시험을 할 수 있는 효과를 제공한다.
또한, 시험기구가 시료가 설치되는 설치부를 회전시키는 회전부를 포함함으로써 시료가 방사선에 노출되는 시간을 자유롭고 편리하게 조절 가능하므로, 방사선 조사 시험에 소요되는 시간을 단축할 수 있는 효과를 제공한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 내성 시험 장치를 도시한 도면이다.
도 2는 시험기구를 도시한 도면이다.
도 3은 설치부의 회전에 따른 시료로 조사되는 방사선의 양상을 나타내는 도면이다.
아래에서는 첨부한 도면을 참조하여 본원이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본원의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본원은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본원을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
본원 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다.
본원 명세서 전체에서, 어떤 부재가 다른 부재 “상에” 위치하고 있다고 할 때, 이는 어떤 부재가 다른 부재에 접해 있는 경우뿐 아니라 두 부재 사이에 또 다른 부재가 존재하는 경우도 포함한다.
본원 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 본원 명세서 전체에서 사용되는 정도의 용어 "약", "실질적으로" 등은 언급된 의미에 고유한 제조 및 물질 허용오차가 제시될 때 그 수치에서 또는 그 수치에 근접한 의미로 사용되고, 본원의 이해를 돕기 위해 정확하거나 절대적인 수치가 언급된 개시 내용을 비양심적인 침해자가 부당하게 이용하는 것을 방지하기 위해 사용된다. 본원 명세서 전체에서 사용되는 정도의 용어 "~(하는) 단계" 또는 "~의 단계"는 "~ 를 위한 단계"를 의미하지 않는다.
이하, 첨부한 도면들 및 후술되어 있는 내용을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 그러나, 본 발명은 여기서 설명되어지는 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.
이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 내성 시험 장치의 구성에 관하여 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 내성 시험 장치를 도시한 도면이다.
도 1을 참조하여 설명하면, 방사선 내성 시험 장치(1)는 방사선조사기구(100), 이동기구(200), 시험기구(300) 및 제어부(400)를 포함한다.
먼저, 방사선조사기구(100)에 관하여 설명한다.
방사선조사기구(100)는 방사선이 조사되는 기구로서, 종래의 방사선 조사 장치 등으로 구성될 수 있다.
이어서, 이동기구(200)에 관하여 설명한다.
이동기구(200)는 후술할 시험기구(300)를 방사선조사기구(100)로 근접하는 방향으로 이동시키거나, 방사선조사기구(100)로부터 멀어지는 방향으로 이동시키도록 구성될 수 있다.
그리고, 이동기구(200)는 시험기구(300)가 복수 개 구비되는 경우에는 복수 개의 시험기구(300)를 각각 독립적으로 이동시키도록 구성될 수 있다.
예를 들어 설명하면, 이동기구(200)는 물체를 지지하면서 소정 방향으로 이동시킬 수 있는 종래의 레일을 포함하는 이동 장치 등으로 구성될 수 있다.
이어서, 시험기구(300)에 관하여 설명한다.
시험기구(300)에는 시료가 설치되며, 시험기구(300)는 시료에 방사선이 조사되도록 시료를 지지 가능하거나, 시료로 조사되는 방사선이 차단되도록 시료를 지지 가능하게 구성될 수 있다.
도 2는 시험기구를 도시한 도면이다.
구체적으로, 도 2를 참조하여 설명하면, 시험기구(300)는 지지부(310), 차폐부(320), 설치부(330), 회전부(340)를 포함할 수 있다.
지지부(310)는 시험기구(300)를 구성하는 구성 요소를 지지하도록 판 형상으로 형성될 수 있으며, 내부에 외부 장치와 데이터를 송수신 가능한 통신모듈을 구비할 수 있다.
차폐부(320)는 방사선을 차폐 가능한 재질로 형성될 수 있으며, 지지부(310) 상부에 소정 높이를 가지도록 설치될 수 있다.
그리고, 차폐부(320)는 방사선조사기구(100)와 후술할 회전부(340) 사이에 설치될 수 있다.
설치부(330)는 방사선이 조사될 시료(333) 및 방사선의 선량율을 측정하는 방사선센서(332)가 설치될 수 있으며, 길이 방향으로 연장된 케이스(331)로 구성될 수 있다.
회전부(340)는 지지부(310)의 상부에 설치되며 방사선이 차폐부(320)에 차단되어 시료(333) 및 방사선센서(332)에 조사되지 않도록 설치부(330)를 회전시키는 것이 가능하다.
그리고, 회전부(340)는 방사선이 시료(333) 및 방사선센서(332)에 조사되도록 설치부(330)를 회전시키는 것도 가능하다.
구체적으로, 도 2에 도시된 바와 같이, 회전부(340)는 설치부(330)의 길이 방향이 수직 방향과 평행하도록 설치부(330)를 회전시킬 수 있으며, 설치부(330)와 방사선조사기구(100) 사이에 차폐부(320)가 위치하게 설치부(330)의 길이 방향이 수평 방향과 평행하도록 설치부(330)를 회전시킬 수도 있다.
도 3은 설치부의 회전에 따른 시료로 조사되는 방사선의 양상을 나타내는 도면이다.
도 3을 참조하여 설명하면, 회전부(340)에 의해서 회전된 설치부(330)의 길이 방향이 수직 방향과 평행하면 시료(333) 및 방사선센서(332)에 방사선이 조사될 수 있다(도 3의 (a) 참조).
그리고, 회전부(340)에 의해서 회전된 설치부(330)의 길이 방향이 수평 방향과 평행하면 시료(333) 및 방사선센서(332)에 조사되는 방사선이 차단될 수 있다(도 3의 (b) 참조).
이어서, 제어부(400)에 관하여 설명한다.
제어부(400)는 방사선조사기구(100), 이동기구(200), 시험기구(300)를 제어하는 기능을 수행할 수 있으며, 종래의 컴퓨터(computer) 등으로 구성될 수 있다.
제어부(400)는 시험기구(300)와 데이터를 송수신 할 수 있다.
예를 들어 설명하면, 제어부(400)는 시험기구(300)의 지지부(310)에 설치된 통신모듈로 시험기구(300)를 제어하기 위한 데이터를 송신함으로써 시험기구(300)를 제어할 수 있다.
한편, 제어부(400)는 시료에 누적된 방사선량인 시료방사선량율을 계산할 수도 있다.
예를 들어 설명하면, 제어부(400)는 방사선센서(332)로부터 방사선의 선량율에 관한 데이터를 수신하고, 수신한 방사선의 선량율에 관한 데이터와 방사선이 시료(333)에 조사된 시간에 관한 데이터를 이용하여 시료(333)에 누적된 시료방사선량율을 계산할 수 있다.
이하, 본 발명의 방사선 내성 시험 장치의 작용 및 효과에 관하여 설명한다.
먼저, 방사선 내성 시험 장치(1)의 복수 개의 시험기구(300)에 시료(333)를 설치하고, 방사선조사기구(100)로 시료에 방사선을 조사한다.
이 때, 시료가 설치된 복수 개의 시험기구(300)는 각각 이동기구(200)에 의해서 방사선조사기구(100)로부터 근접하는 방향 또는 방사선조사기구(100)로부터 멀어지는 방향으로 이동될 수 있다.
그러므로, 사용자는 이동기구(200)를 제어함으로써 간편하게 시료(333)와 방사선조사기구(100) 간의 거리를 조절할 수 있다.
한편, 각각의 시험기구(300)의 시료(333)가 설치된 설치부(330)는 회전부(340)에 의해서 회전될 수 있다. 설치부(330)가 회전됨에 따라 시료(333)는 방사선조사기구(100)로부터 방사선을 조사받을 수도 있고 조사받지 않을 수도 있다.
즉, 사용자는 복수 개의 시험기구(300)에 각각 설치된 시료(333) 중 소정 시간이 경과되어 더 이상 방사선을 조사하지 않아야 할 시료(333)가 있는 경우, 이러한 시료(333)가 설치된 시험기구(300)의 설치부(330)를 회전시켜서 시료(333)에 방사선이 조사되지 않도록 할 수 있다.
시료(333)로의 방사선 조사가 마쳐지면, 제어부(400)는 방사선센서(332)로부터 방사선의 선량율에 관한 데이터를 수신하고, 수신한 방사선의 선량율에 관한 데이터와 방사선이 시료(333)에 조사된 시간에 관한 데이터를 이용하여 시료(333)에 누적된 시료방사선량율을 계산할 수 있다.
이처럼, 본 발명에 따른 방사선 내성 시험 장치는, 이동기구가 복수 개의 시험기구를 각각 독립적으로 이동시키도록 구성되므로, 각각의 시료가 방사선원으로부터 이격되는 거리가 자유롭게 조절되어 편리하게 방사선 조사 시험을 할 수 있는 효과를 제공한다.
또한, 시험기구가 시료가 설치되는 설치부를 회전시키는 회전부를 포함함으로써 시료가 방사선에 노출되는 시간을 자유롭고 편리하게 조절 가능하므로, 방사선 조사 시험에 소요되는 시간을 단축할 수 있는 효과를 제공한다.
전술한 본 발명의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.
본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 청구범위에 의하여 나타내어지며, 청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
1 : 방사선 내성 시험 장치 100 : 방사선조사기구
200 : 이동기구 300 : 시험기구
310 : 지지부 320 : 차폐부
330 : 설치부 340 : 회전부
400 : 제어부

Claims (5)

  1. 방사선을 조사하는 방사선조사기구;
    시료가 각각 설치되는 복수 개의 시험기구; 및
    상기 복수 개의 시험기구를 각각 독립적으로 상기 방사선조사기구로 근접하는 방향으로 이동시키거나 상기 방사선조사기구로부터 멀어지는 방향으로 이동시키는 이동기구를 포함하고,
    상기 시험기구는 상기 시료에 상기 방사선이 조사되도록 상기 시료를 지지 가능하거나, 상기 시료로 조사되는 상기 방사선이 차단되도록 상기 시료를 지지 가능하고,
    상기 시험기구는 상기 방사선이 조사될 시료 및 상기 방사선의 선량율을 측정하는 방사선센서가 설치되는 설치부, 상기 설치부를 회전시키는 회전부, 상기 회전부를 지지하는 지지부 및 상기 방사선을 차단시키며 상기 방사선조사기구와 상기 회전부 사이에 설치되는 차폐부를 포함하고,
    상기 회전부는 상기 방사선이 상기 시료 및 상기 방사선센서에 조사되는 것이 차단되도록 상기 설치부를 회전시키는 것이 가능하고, 상기 방사선이 상기 시료 및 상기 방사선센서에 조사되도록 상기 설치부를 회전시키는 것이 가능하되,
    상기 설치부는 길이 방향으로 연장되도록 구성되고,
    상기 회전부는 상기 설치부의 상기 길이 방향이 수직 방향과 평행하도록 상기 설치부를 회전 가능하고, 상기 설치부와 상기 방사선조사기구 사이에 상기 차폐부가 위치하게 상기 설치부의 상기 길이 방향이 수평 방향과 평행하도록 상기 설치부를 회전 가능하며,
    상기 설치부의 상기 길이 방향이 상기 수직 방향과 평행하면 상기 시료 및 상기 방사선센서에 상기 방사선이 조사되고, 상기 설치부의 상기 길이 방향이 상기 수평 방향과 평행하면 상기 시료 및 상기 방사선센서에 조사되는 상기 방사선이 차단되는,
    방사선 내성 시험 장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제1항에 있어서,
    상기 방사선조사기구, 상기 시험기구 및 상기 이동기구를 제어하는 제어부를 포함하고,
    상기 지지부는 외부 장치와 데이터를 송수신 가능한 통신모듈을 포함하고,
    상기 제어부는 상기 통신모듈로 상기 시험기구를 제어하기 위한 데이터를 송신하여 상기 시험기구를 제어하는, 방사선 내성 시험 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 방사선센서로부터 상기 방사선의 선량율에 관한 데이터를 수신하고, 수신한 상기 방사선의 선량율에 관한 데이터와 상기 방사선이 상기 시료에 조사된 시간에 관한 데이터를 이용하여 상기 시료에 누적된 시료방사선량율을 계산하는, 방사선 내성 시험 장치.
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