KR102650190B1 - Gender - Google Patents

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Abstract

본 발명은 젠더 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 반도체 장치의 투입 및 취출이 간편하게 이루어지며 클로징 상태에서 반도체 장치를 정위치에 고정할 수 있는 젠더 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a gender device, and more specifically, to a gender device that allows easy insertion and extraction of a semiconductor device and can secure the semiconductor device in place in a closed state.

Description

젠더 장치{GENDER}gender device {GENDER}

본 발명은 젠더 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 반도체 장치의 투입 및 취출이 간편하게 이루어지며 클로징 상태에서 반도체 장치를 정위치에 고정할 수 있는 젠더 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a gender device, and more specifically, to a gender device that allows easy insertion and extraction of a semiconductor device and can secure the semiconductor device in place in a closed state.

SSD(Solid State Disk)와 같은 반도체 장치를 테스트할 때, 테스트하고자 하는 반도체 장치를 테스트용 젠더에 투입시키게 된다. When testing a semiconductor device such as a solid state disk (SSD), the semiconductor device to be tested is placed into a test gender.

이러한 테스트용 젠더의 경우, 반도체 장치가 투입되어 검사가 이루어진 후, 반도체 장치를 취출하기 위해서 소정의 래치 장치를 갖는다. 그러나 종래의 래치 장치의 경우, 반도체 장치의 취출을 위해 많은 힘이 필요한 문제가 있었다. 또한, 다수의 테스트 과정에서 내부의 래치 장치가 마모되어 파손되는 경우가 발생하였다.In the case of such a test gender, after the semiconductor device is inserted and inspected, it has a predetermined latch device to take out the semiconductor device. However, in the case of the conventional latch device, there was a problem that a lot of force was required to take out the semiconductor device. In addition, there were cases where the internal latch device was worn and damaged during multiple tests.

따라서, 반도체 장치테스트에 사용되는 젠더 장치의 작동을 보다 간편하게 하면서, 래치 장치의 파손을 방지할 수 있는 젠더 장치의 개발이 필요하였다.Therefore, there was a need to develop a gender device that could prevent damage to the latch device while making the operation of the gender device used in semiconductor device testing simpler.

공개특허 제2010-0096612호Public Patent No. 2010-0096612

본 발명은 위 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 반도체 장치의 투입 및 취출이 간편하게 이루어지며 클로징 상태에서 반도체 장치를 정위치에 고정할 수 있는 젠더 장치를 제공하는 데 그 목적이 있다.The present invention is intended to solve the above problems, and its purpose is to provide a gender device that allows easy insertion and extraction of a semiconductor device and can fix the semiconductor device in place in a closed state.

본 발명의 일 실시예에 따른 젠더 장치는, 반도체 장치의 테스트에 사용되는 젠더 장치로서, 반도체 장치가 투입될 수 있는 소정의 탑재 공간을 갖는 젠더 바디; 상기 젠더 바디 상에 배치되어 상하 이동 가능한 젠더 푸셔; 상기 젠더 푸셔를 상방향으로 탄성 바이어스 하는 탄성 부재; 및 상기 젠더 푸셔와 연결되며 상기 탑재 공간을 사이에 두고 상기 탑재 공간의 양 측에 각각 서로 대칭으로 배치되는 래치 모듈;을 포함하며,A gender device according to an embodiment of the present invention is a gender device used for testing semiconductor devices, and includes a gender body having a predetermined mounting space into which a semiconductor device can be inserted; a gender pusher disposed on the gender body and capable of moving up and down; an elastic member that elastically biases the gender pusher in an upward direction; And a latch module connected to the gender pusher and disposed symmetrically on both sides of the mounting space with the mounting space in between,

상기 각각의 래치 모듈은, 상기 젠더 바디의 내측에 위치하는 제1 측, 및 상기 젠더 바디의 외측에 위치하는 제2 측을 포함하고, 상기 제1 측은 상기 탑재 공간을 사이에 두고 서로 마주보며, 상기 제1 측과 상기 제2 측 사이 일 지짐이 상기 젠더 바디에 회동 가능하게 연결되고, 상기 제2 측은 상기 젠더 푸셔에 대해서 회동 가능하게 연결되며, 상기 래치 모듈은, 상기 젠더 푸셔가 상하 방향으로 이동함에 따라서 회동하고, 상기 젠더 푸셔가 하방향으로 이동하면 상기 제1 측이 승강하는 방향으로 회동하고, 상기 젠더 푸셔가 상방향으로 이동하면 상기 제1 측이 하강하는 방향으로 회동한다.Each of the latch modules includes a first side located inside the gender body and a second side located outside the gender body, and the first sides face each other across the mounting space, A support between the first side and the second side is rotatably connected to the gender body, the second side is rotatably connected to the gender pusher, and the latch module moves the gender pusher in the up and down direction. It rotates as the gender pusher moves downward, and when the gender pusher moves downward, the first side rotates in the ascending direction. When the gender pusher moves upward, the first side rotates in the descending direction.

일 실시예에 의하면, 상기 젠더 바디는, 래치 홀더를 포함하며, 상기 래치 모듈은 상기 래치 홀더에 선회 가능하게 연결된다.According to one embodiment, the gender body includes a latch holder, and the latch module is pivotably connected to the latch holder.

일 실시예에 의하면, 상기 래치 모듈은, 공간부를 갖는 래치 바디, 상기 공간부에 탑재되고 상기 래치 바디의 제1 측에 배치되며 적어도 일 부분이 상기 탑재 공간의 내측 방향으로 돌출되는 래치 헤드 블록, 및 상기 래치 바디 내에 배치되며 상기 래치 헤드 블록을 상기 제2 측에서 제1 측 방향으로 탄성 바이어스하는 래치 스프링을 포함한다.According to one embodiment, the latch module includes a latch body having a space, a latch head block mounted on the space and disposed on a first side of the latch body, and at least a portion of which protrudes toward the inside of the mounting space; and a latch spring disposed within the latch body and elastically biasing the latch head block from the second side to the first side.

일 실시예에 의하면, 상기 래치 바디는, 상기 제2 측에 구비되며 상기 래치 스프링이 투입될 수 있는 제2 오픈부를 포함한다.According to one embodiment, the latch body is provided on the second side and includes a second open part into which the latch spring can be inserted.

일 실시예에 의하면, 상기 래치 모듈은, 상기 탄성 부재를 지지하는 스톱 핀을 더 포함하고, 상기 래치 바디는, 전후 방향으로 관통되며 상기 스톱 핀이 투입되는 투입 홀을 포함한다.According to one embodiment, the latch module further includes a stop pin that supports the elastic member, and the latch body includes an insertion hole that penetrates in the front-back direction and into which the stop pin is inserted.

일 실시예에 의하면, 상기 래치 헤드 블록은, 제1 측 단부에 형성되는 그립 홈을 포함하며, 상기 그립 홈은 반도체 장치에 맞닿을 수 있는 홈으로 구성된다.According to one embodiment, the latch head block includes a grip groove formed at an end of a first side, and the grip groove is configured as a groove capable of coming into contact with a semiconductor device.

일 실시예에 의하면, 상기 젠더 바디는, 고정 수단이 투입될 수 있는 고정용 홀을 포함하고, 상기 젠더 푸셔는, 스루 오프닝부를 포함하며, 상기 스루 오프닝부를 통해 상기 고정용 홀이 상방향으로 노출될 수 있다.According to one embodiment, the gender body includes a fixing hole into which a fixing means can be inserted, and the gender pusher includes a through opening, and the fixing hole is exposed upward through the through opening. It can be.

본 발명에 따라서, 젠더 푸셔 상부로부터 누름 힘이 가해지면, 젠더 푸셔가 하강하면서 래치 모듈이 선회하며, 반도체 장치가 래치 모듈에 의해서 용이하게 젠더 장치에 탑재되거나 젠더 장치로부터 용이하게 취출될 수 있다.According to the present invention, when a pressing force is applied from the upper part of the gender pusher, the gender pusher descends and the latch module rotates, and the semiconductor device can be easily mounted on or removed from the gender device by the latch module.

또한, 외력이 없는 상태에서 래치 모듈이 반도체 장치를 정위치에 고정시킬 수 있다.Additionally, the latch module can fix the semiconductor device in place in the absence of external force.

또한, 반도체 장치와 실질적으로 맞닿는 래치 헤드 블록은, 래치 스프링에 의해서 탄성 바이어스되기 때문에, 반도체 장치에 대해서 과도하게 많은 힘을 가하지 않고, 적절하게 밀착하므로, 반도체 장치의 손상이 방지되고 반도체 장치의 탑재 및 취출이 효과적으로 이루어질 수 있다.In addition, since the latch head block that is substantially in contact with the semiconductor device is elastically biased by the latch spring, it does not apply excessive force to the semiconductor device and adheres appropriately, preventing damage to the semiconductor device and ensuring mounting of the semiconductor device. and extraction can be carried out effectively.

도 1 은 본 발명의 실시 형태에 따른 젠더 장치를 나타낸 도면이다.
도 2 는 본 발명의 실시 형태에 따른 젠더 장치의 젠더 바디를 나타낸 도면이다.
도 3 은 본 발명의 실시 형태에 따른 젠더 장치의 젠더 푸셔를 나타낸 도면이다.
도 4 내지 6 은 본 발명의 실시 형태에 따른 젠더 장치의 래치 모듈을 나타낸 도면이다.
도 7 은 본 발명의 실시 형태에 따른 젠더 장치의 젠더 바디와 래치 모듈의 결합 구조를 나타낸 도면이다.
도 8 은 본 발명의 실시 형태에 따른 젠더 장치의 젠더 푸셔와 래치 모듈의 결합 구조를 나타낸 도면이다.
도 9 내지 14 는 본 발명의 실시 형태에 따른 젠더 장치의 작동을 나타낸 도면이다.
1 is a diagram showing a gender device according to an embodiment of the present invention.
Figure 2 is a diagram showing the gender body of the gender device according to an embodiment of the present invention.
Figure 3 is a diagram showing a gender pusher of a gender device according to an embodiment of the present invention.
4 to 6 are diagrams showing a latch module of a gender device according to an embodiment of the present invention.
Figure 7 is a diagram showing the coupling structure of the gender body and the latch module of the gender device according to an embodiment of the present invention.
Figure 8 is a diagram showing the coupling structure of a gender pusher and a latch module of a gender device according to an embodiment of the present invention.
9 to 14 are diagrams showing the operation of a gender device according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명에 따른 바람직한 실시예에 대하여 설명한다. Hereinafter, preferred embodiments according to the present invention will be described with reference to the attached drawings.

도 1 은 본 발명의 실시 형태에 따른 젠더 장치를 나타낸 도면이다. 도 2 는 본 발명의 실시 형태에 따른 젠더 장치의 젠더 바디(100)를 나타낸 도면이다. 도 3 은 본 발명의 실시 형태에 따른 젠더 장치의 젠더 푸셔(200)를 나타낸 도면이다. 도 4 내지 6 은 본 발명의 실시 형태에 따른 젠더 장치의 래치 모듈(400)을 나타낸 도면이다. 도 6 은 도 4 의 X-X 단면을 나타낸다.1 is a diagram showing a gender device according to an embodiment of the present invention. Figure 2 is a diagram showing the gender body 100 of the gender device according to an embodiment of the present invention. Figure 3 is a diagram showing the gender pusher 200 of the gender device according to an embodiment of the present invention. 4 to 6 are diagrams showing the latch module 400 of the gender device according to an embodiment of the present invention. FIG. 6 shows a cross section taken along line X-X of FIG. 4.

이하에서, 방향을 설명하는 좌우 방향, 전후 방향, 및 상하 방향은 각각 도 1 에 도시된 X, Y, Z 축 방향을 의미하는 것으로 한다.Hereinafter, the left-right direction, front-back direction, and up-down direction that describe directions shall mean the X, Y, and Z axis directions shown in FIG. 1, respectively.

본 발명의 제1 실시예에 따른 젠더 장치는, 반도체 장치의 테스트에 사용되는 젠더 장치로서, 젠더 바디(100), 젠더 푸셔(200), 탄성 부재(300) 및 래치 모듈(400)을 포함하여 구성된다. The gender device according to the first embodiment of the present invention is a gender device used for testing semiconductor devices, and includes a gender body 100, a gender pusher 200, an elastic member 300, and a latch module 400. It is composed.

젠더 바디(100)는, 탑재 공간(110), 래치 홀더(120), 래치 지지부(130), 및 고정용 홀(140)을 포함할 수 있다.The gender body 100 may include a mounting space 110, a latch holder 120, a latch support part 130, and a fixing hole 140.

탑재 공간(110)은, 반도체 장치가 투입될 수 있는 공간이다. 탑재 공간(110)은 젠더 바디(100)의 중심 위치에 형성되며, 상방향으로 오픈된다. 탑재 공간(110)은 수평 방향으로 긴 길이를 가져서 SSD 와 같은 반도체 장치가 투입되기에 적절한 형상을 가질 수 있다. 탑재 공간(110) 내에는 컨택트 부재(112)가 구비될 수 있다.The mounting space 110 is a space where a semiconductor device can be inserted. The mounting space 110 is formed at the center of the gender body 100 and opens upward. The mounting space 110 has a long length in the horizontal direction and may have an appropriate shape for inserting a semiconductor device such as an SSD. A contact member 112 may be provided within the mounting space 110.

래치 홀더(120)는, 상기 탑재 공간(110)을 중심으로 하여, 젠더 바디(100)의 좌우 방향 양 측부에 각각 구비된다. 래치 홀더(120)는 전후 방향으로 관통되는 제1 연결 홀(122)을 구비할 수 있다. 상기 래치 홀더(120)에 후술하는 래치 모듈(400)이 연결될 수 있다. 아울러, 래치 홀더(120)의 외측에는 래치 모듈(400)의 외측부가 위치할 수 있는 래치 공간(124)이 마련될 수 있다.The latch holder 120 is provided on both left and right sides of the gender body 100, with the mounting space 110 as the center. The latch holder 120 may have a first connection hole 122 penetrating in the front-back direction. A latch module 400, which will be described later, may be connected to the latch holder 120. In addition, a latch space 124 in which the outer portion of the latch module 400 can be located may be provided outside the latch holder 120.

탄성 부재 내삽부(130)는 젠더 바디(100)의 적어도 일 부분에 형성되는 소정의 홈으로 구성될 수 있다. 탄성 부재 내삽부(130) 내에 후술하는 탄성 부재(300)가 위치할 수 있다.The elastic member intercalation portion 130 may be composed of a predetermined groove formed in at least a portion of the gender body 100. An elastic member 300, which will be described later, may be located within the elastic member intercalation portion 130.

상기 고정용 홀(140)은 볼트 등의 고정 수단(K)이 투입될 수 있는 홀로 구성된다. 상기 고정용 홀(140)은 상하로 오픈된 소정의 홀일 수 있다.The fixing hole 140 consists of a hole into which a fixing means (K) such as a bolt can be inserted. The fixing hole 140 may be a hole that is open up and down.

가이드 홈(150)은 젠더 바디(100)의 적어도 일 위치에 구비될 수 있으며, 상하로 연장되는 소정의 홈일 수 있다. 예컨대 가이드 홈(150)은 젠더 바디(100)의 전측 및 후측에 각각 형성될 수 있다.The guide groove 150 may be provided at at least one position of the gender body 100 and may be a predetermined groove extending up and down. For example, the guide groove 150 may be formed on the front and rear sides of the gender body 100, respectively.

젠더 푸셔(200)는 상기 젠더 바디(100) 상에 배치되어 상하 이동 가능하게 구성된다. 젠더 푸셔(200)는, 프레싱 플레이트(210), 래치 쉬프트부(220), 가이드부(240), 및 스루 오프닝부(230)를 포함할 수 있다.The gender pusher 200 is disposed on the gender body 100 and is configured to move up and down. The gender pusher 200 may include a pressing plate 210, a latch shift unit 220, a guide unit 240, and a through opening unit 230.

프레싱 플레이트(210)는 상방향에서 누름 힘을 받을 수 있는 소정의 플레이트 형태의 부재이다. 프레싱 플레이트(210)는 상하로 관통된 탑재 홀(212)을 갖는다. 상기 탑재 홀(212)을 통해서 상기 젠더 바디(100)의 탑재 공간(110)(110)이 상방향으로 오픈될 수 있다.The pressing plate 210 is a plate-shaped member that can receive a pressing force from the upward direction. The pressing plate 210 has mounting holes 212 penetrating upward and downward. The mounting space 110 of the gender body 100 may be opened upward through the mounting hole 212.

래치 쉬프트부(220)는 상기 프레싱 플레이트(210)의 하부 좌우측에 각각 구비된다. 래치 쉬프트부(220)는 래치 모듈(400)의 일 부분에 외력을 가할 수 있는 부분이다. 실시예에 의하면, 래치 쉬프트부(220)에는 전후 방향으로 관통되며 좌우 방향으로 연장되는 제2 연결 홀(222)이 구비될 수 있다. The latch shift unit 220 is provided on the lower left and right sides of the pressing plate 210, respectively. The latch shift unit 220 is a part that can apply external force to a portion of the latch module 400. According to an embodiment, the latch shift unit 220 may be provided with a second connection hole 222 that penetrates in the front-back direction and extends in the left-right direction.

스루 오프닝부(230)는 상기 프레싱 플레이트(210)의 적어도 일 부분에 형성될 수 있는 부분으로서, 측 방향으로 함몰된 소정의 홈이나 상하로 관통된 홀로 구성될 수 있다. 스루 오프닝부(230)는 상기 젠더 바디(100)의 상기 고정용 홀(140)의 상측에 위치할 수 있다. 따라서, 스루 오프닝부(230)를 통해서 상기 고정용 홀(140)이 상방향으로 노출될 수 있다.The through opening part 230 is a part that can be formed in at least one part of the pressing plate 210, and can be composed of a groove recessed in the lateral direction or a hole penetrating upward and downward. The through opening portion 230 may be located above the fixing hole 140 of the gender body 100. Accordingly, the fixing hole 140 may be exposed upward through the through opening 230.

가이드부(240)는 상기 프레싱 플레이트(210)의 전측 및 후측에 구비될 수 있다. 가이드부(240)는 젠더 바디(100)의 가이드 라인(150)과 맞물려서 젠더 푸셔(200)의 상하 방향 변위를 가이드할 수 있다.The guide unit 240 may be provided on the front and rear sides of the pressing plate 210. The guide unit 240 may engage the guide line 150 of the gender body 100 to guide the vertical displacement of the gender pusher 200.

상기 탄성 부재(300)는 상기 젠더 바디(100)와 젠더 푸셔(200) 사이에 배치되는 부재이다. 상기 탄성 부재(300)는 상기 젠더 푸셔(200)를 상방향으로 탄성 바이어스할 수 있다. 탄성 부재(300)는 소정의 탄성 스프링일 수 있다.The elastic member 300 is a member disposed between the gender body 100 and the gender pusher 200. The elastic member 300 may elastically bias the gender pusher 200 upward. The elastic member 300 may be a certain elastic spring.

래치 모듈(400)은 젠더 바디(100) 상에 배치된다. 래치 모듈(400)은 탑재 공간(110)을 중심으로 하여 탑재 공간(110)의 양 측에 하나씩 구비된다.The latch module 400 is disposed on the gender body 100. The latch module 400 is provided one on each side of the mounting space 110 with the mounting space 110 as the center.

래치 모듈(400)은 젠더 바디(100) 상에 회동 가능하게 연결된다. 래치 모듈(400)은 젠더 바디(100)와 연결된 부분을 중심으로 시소 운동 가능하다. 래치 모듈(400)은 일 측이 젠더 푸셔(200)에 대해서 회동 가능하게 연결된다.The latch module 400 is rotatably connected to the gender body 100. The latch module 400 can see-saw around a portion connected to the gender body 100. One side of the latch module 400 is rotatably connected to the gender pusher 200.

이하의 설명에서, 래치 모듈(400)의 제1 측은 상기 젠더 바디(100) 및 젠더 푸셔(200)의 내측에 위치하는 부분이며, 래치 모듈(400)의 제2 측은 상기 젠더 바디(100) 및 젠더 푸셔(200)의 외측에 위치하는 부분을 지칭한다. 즉, 제1 측은 도 4 에서 X1 방향이며, 제2 측은 도 4 에서 X2 방향을 의미한다.In the following description, the first side of the latch module 400 is a part located inside the gender body 100 and the gender pusher 200, and the second side of the latch module 400 is a part located inside the gender body 100 and the gender pusher 200. Refers to the part located on the outside of the gender pusher (200). That is, the first side refers to the X1 direction in FIG. 4, and the second side refers to the X2 direction in FIG. 4.

실시예에 의하면, 상기 래치 모듈(400)은, 래치 바디(410), 래치 헤드 블록(420), 래치 스프링(430), 및 스톱 핀(440)을 포함한다. According to the embodiment, the latch module 400 includes a latch body 410, a latch head block 420, a latch spring 430, and a stop pin 440.

래치 바디(410)는 래치 모듈(400)의 외관을 구성하는 블록 형태의 부재이다. The latch body 410 is a block-shaped member that constitutes the exterior of the latch module 400.

래치 바디(410)는 내측에 공간부(411)를 갖는다. 공간부(411)는 제1 측 및 제2 측 방향으로 오픈된다. 따라서, 공간부(411)의 제1 측에는 제1 오픈부(412)가 구비되며, 공간부(411)의 제2 측에는 제2 오픈부(413)가 구비된다.The latch body 410 has a space 411 on the inside. The space 411 is open in the first and second side directions. Accordingly, the first open part 412 is provided on the first side of the space 411, and the second open part 413 is provided on the second side of the space 411.

래치 바디(410)는 전후 방향으로 관통되는 센터 홀(414), 핀 홀(415), 및 쉬프트 홀(416)을 포함한다. 센터 홀(414)은 래치 바디(410)의 중간 부분에 위치하며, 핀 홀(415)과 쉬프트 홀(416)은 래치 바디(410)의 제2 측에 위치한다.The latch body 410 includes a center hole 414, a pin hole 415, and a shift hole 416 penetrating in the front-back direction. The center hole 414 is located in the middle of the latch body 410, and the pin hole 415 and shift hole 416 are located on the second side of the latch body 410.

센터 홀(414)은 래치 모듈(400)과 젠더 바디(100) 사이를 연결하는 제1 연결 핀(500)이 투입될 수 있는 부분이다.The center hole 414 is a portion into which the first connection pin 500 connecting the latch module 400 and the gender body 100 can be inserted.

핀 홀(415)은 후술하는 스톱 핀(440)이 투입될 수 있는 부분이다.The pin hole 415 is a part into which a stop pin 440, which will be described later, can be inserted.

쉬프트 홀(416)은 래치 모듈(400)과 젠더 푸셔(200)를 연결하는 제2 연결 핀(600)이 투입될 수 있는 부분이다.The shift hole 416 is a portion into which the second connection pin 600 connecting the latch module 400 and the gender pusher 200 can be inserted.

래치 헤드 블록(420)은 공간부(411) 내에 탑재된다. 래치 헤드 블록(420)은 래치 바디(410)의 제1 측 단부에 배치될 수 있다. 예컨대, 래치 헤드 블록(420)은 화살표 A 와 같은 형태로 공간부(411) 내에 탑재될 수 있다. 이를 위해서, 상기 공간부(411)는 상부 부분이 오픈되어 있을 수 있다. 단, 이에 한정하지 않는다.The latch head block 420 is mounted within the space 411. The latch head block 420 may be disposed at the first side end of the latch body 410. For example, the latch head block 420 may be mounted in the space 411 in a shape like arrow A. For this purpose, the upper portion of the space 411 may be open. However, it is not limited to this.

래치 헤드 블록(420)은, 공간부(411) 내에 위치하는 지지부(422), 제1 오픈부(412)를 통해서 제1 측으로 돌출되는 헤드부(424)를 포함한다. 헤드부(424)의 단부에는 반도체 장치의 측면과 맞닿을 수 있는 그립 홀(426)이 형성될 수 있다. 지지부(422)에는 래치 스프링(430)이 내삽될 수 있는 지지 홈(428)이 구비될 수 있다.The latch head block 420 includes a support portion 422 located within the space 411 and a head portion 424 protruding toward the first side through the first open portion 412. A grip hole 426 that can contact the side of the semiconductor device may be formed at an end of the head portion 424. The support portion 422 may be provided with a support groove 428 into which the latch spring 430 can be inserted.

래치 스프링(430)은 상기 공간부(411) 내에 배치된다. 래치 스프링(430)은 래치 헤드 블록(420)을 제1 측 방향으로 탄성 바이어스한다. 래치 스프링(430)은 도 5 의 화살표 B 와 같이 제2 오픈부(413)를 통해서 공간부(411) 내에 투입될 수 있다.The latch spring 430 is disposed within the space 411. The latch spring 430 elastically biases the latch head block 420 in the first lateral direction. The latch spring 430 may be inserted into the space 411 through the second open part 413 as indicated by arrow B in FIG. 5 .

스톱 핀(440)은 상기 핀 홀(415) 내에 투입될 수 있다. 도 6 에 도시된 바와 같이, 핀 홀(415) 내에 투입된 스톱 핀(440)은 상기 래치 스프링(430)의 제2 측 단부 부분을 지지한다. 래치 스프링(430)은 래치 헤드 블록(420)과 스톱 핀(440) 사이에 배치된다. The stop pin 440 may be inserted into the pin hole 415. As shown in FIG. 6, the stop pin 440 inserted into the pin hole 415 supports the second side end portion of the latch spring 430. The latch spring 430 is disposed between the latch head block 420 and the stop pin 440.

도 7 은 본 발명의 실시 형태에 따른 젠더 장치의 젠더 바디(100)와 래치 모듈(400)의 결합 구조를 나타낸 도면이다. 도 8 은 본 발명의 실시 형태에 따른 젠더 장치의 젠더 푸셔(200)와 래치 모듈(400)의 결합 구조를 나타낸 도면이다.FIG. 7 is a diagram showing the coupling structure of the gender body 100 and the latch module 400 of the gender device according to an embodiment of the present invention. Figure 8 is a diagram showing the coupling structure of the gender pusher 200 and the latch module 400 of the gender device according to an embodiment of the present invention.

이하에서는 도 7, 8 을 참조하여 젠더 바디(100), 젠더 푸셔(200)와 래치 모듈(400) 사이의 연결 구조에 대해서 설명한다.Hereinafter, the connection structure between the gender body 100, the gender pusher 200, and the latch module 400 will be described with reference to FIGS. 7 and 8.

제1 연결 핀(500)은 젠더 바디(100)의 래치 홀더(120)에 구비되는 제1 연결 홀(122)과 래치 모듈(400)의 센터 홀(414)을 연결한다. 래치 모듈(400)은 제1 연결 핀(500)을 중심으로 하여 시소 운동할 수 있다.The first connection pin 500 connects the first connection hole 122 provided in the latch holder 120 of the gender body 100 and the center hole 414 of the latch module 400. The latch module 400 may see-saw around the first connection pin 500.

제2 연결 핀(600)은 젠더 푸셔(200)의 래치 쉬프트부(220)에 구비되는 제2 연결 홀(222)과 래치 모듈(400)의 쉬프트 홀(416)을 연결한다. 따라서, 젠더 푸셔(200)가 하강하면, 래치 모듈(400)의 제2 측이 하강하는 형태로 시소 운동한다. 반대로, 젠더 푸셔(200)가 상승하면 래치 모듈(400)의 제2 측이 상승하는 형태로 시소 운동한다. The second connection pin 600 connects the second connection hole 222 provided in the latch shift unit 220 of the gender pusher 200 and the shift hole 416 of the latch module 400. Accordingly, when the gender pusher 200 descends, the second side of the latch module 400 seesaws in a descending manner. Conversely, when the gender pusher 200 rises, the second side of the latch module 400 seesaws in an upward manner.

도 9 내지 14 는 본 발명의 실시 형태에 따른 젠더 장치의 작동을 나타낸 도면이다.9 to 14 are diagrams showing the operation of a gender device according to an embodiment of the present invention.

이하에서는 본 발명의 실시예에 의한 젠더 장치의 작동에 대해서 설명한다.Hereinafter, the operation of the gender device according to an embodiment of the present invention will be described.

도 9 의 (a) 와 같이, 외력이 가해지지 않은 초기 상태에서는 탄성 부재(300)가 젠더 푸셔(200)를 상방향으로 탄성 바이어스 한다. 따라서, 초기 상태에서는 젠더 푸셔(200)는 상승한 상태이다. 이때, 래치 모듈(400)은 클로징 상태가 된다. As shown in (a) of FIG. 9, in the initial state in which no external force is applied, the elastic member 300 elastically biases the gender pusher 200 in an upward direction. Therefore, in the initial state, the gender pusher 200 is in an elevated state. At this time, the latch module 400 is in a closed state.

도 9 의 (b) 와 같이, 젠더 푸셔(200)에 P 와 같이 외력이 가해지면 젠더 푸셔(200)가 하방향으로 이동할 수 있다. As shown in (b) of FIG. 9 , when an external force such as P is applied to the gender pusher 200, the gender pusher 200 may move downward.

이때, 래치 모듈(400)의 제2 측은 제2 연결 핀(600)을 매개로 젠더 푸셔(200)와 연결되어 있으므로, 젠더 푸셔(200)와 함께 하강하게 된다. 래치 모듈(400)의 제2 측이 하강하면, 래치 모듈(400)은 제1 연결 핀(500)을 중심으로 시소 운동한다. 따라서, 래치 모듈(400)의 제1 측은 제2 측과 반대로 승강하게 된다. 따라서, 탑재 공간(110)을 사이에 두고 탑재 공간(110)의 양 측에 위치하는 래치 모듈(400) 사이의 간격이 멀어진다. 따라서, 래치 모듈(400)은 오픈 상태가 된다.At this time, since the second side of the latch module 400 is connected to the gender pusher 200 through the second connection pin 600, it descends together with the gender pusher 200. When the second side of the latch module 400 descends, the latch module 400 seesaws around the first connection pin 500. Accordingly, the first side of the latch module 400 is raised and lowered opposite to the second side. Accordingly, the distance between the latch modules 400 located on both sides of the mounting space 110 with the mounting space 110 in between increases. Accordingly, the latch module 400 is in an open state.

상기와 같이 래치 모듈(400)이 오픈 상태가 된 상태에서, 도 10 의 (a) 와 같이 반도체 장치(S)를 탑재 공간(110) 내에 수납할 수 있다. 상기 반도체 장치는 예컨대 SSD 일 수 있다. With the latch module 400 in the open state as described above, the semiconductor device S can be stored in the mounting space 110 as shown in (a) of FIG. 10 . The semiconductor device may be, for example, an SSD.

이어서, 젠더 푸셔(200)에 가하는 외력을 제거하면, 젠더 푸셔(200)는 도 10 의 (b) 에 도시된 화살표 Q 와 같이 탄성 부재(300)에 의해서 초기 상태로 원복하게 된다. 이와 동시에, 래치 모듈(400) 또한, 클로징 상태로 원복한다. Subsequently, when the external force applied to the gender pusher 200 is removed, the gender pusher 200 returns to its initial state by the elastic member 300 as indicated by arrow Q shown in (b) of FIG. 10. At the same time, the latch module 400 also returns to the closed state.

래치 모듈(400)이 원복하는 과정에서, 래치 모듈(400)은, 제1 측에 위치하는 래치 헤드 블록(420) 사이의 간격이 좁아지면서, 래치 헤드 블록(420)이 하강하는 방향으로 시소 운동하게 된다. In the process of the latch module 400 recovering, the latch module 400 seesaws in the direction in which the latch head block 420 descends as the gap between the latch head blocks 420 located on the first side narrows. I do it.

이것을 상세하게 나타내면 도 11 및 도 12 와 같다. This is shown in detail as Figures 11 and 12.

래치 모듈(400)은 화살표 R1 과 같이 선회한다. 반도체 장치는, 반도체 장치의 양 측에 위치하는 래치 모듈(400)의 래치 헤드 블록(420) 사이에 끼워져 그립된다. 이때, 래치 헤드 블록(420)의 제1 측 단부 부분에는 그립 홀(426)이 형성되어 있으므로, 반도체 장치를 효과적으로 그립한 상태로 도 12 의 화살표 T1 과 같이 하강시킬 수 있다. The latch module 400 rotates as indicated by arrow R1. The semiconductor device is gripped by being sandwiched between the latch head blocks 420 of the latch module 400 located on both sides of the semiconductor device. At this time, since the grip hole 426 is formed in the first side end portion of the latch head block 420, the semiconductor device can be effectively gripped and lowered as indicated by arrow T1 in FIG. 12.

상기와 같이 반도체 장치를 그립한 상태에서 래치 헤드 블록(420)이 하강함에 따라서, 반도체 장치가 래치 헤드 블록(420)에 그립된 상태로 하강할 수 있다. 따라서, 래치 모듈(400)에 의하여 반도체 장치가 하강하며 젠더 바디(100)의 탑재 홈 내에 반도체 장치가 단단하게 끼워진다. 즉, 래치 모듈(400)이 선회하면서 반도체 장치를 젠더 바디(100)의 탑재 공간(110) 내에 단단하게 끼워 고정시킨다.As the latch head block 420 descends while gripping the semiconductor device as described above, the semiconductor device may descend while being gripped by the latch head block 420. Accordingly, the semiconductor device is lowered by the latch module 400 and is firmly inserted into the mounting groove of the gender body 100. That is, the latch module 400 rotates to firmly fit and secure the semiconductor device within the mounting space 110 of the gender body 100.

또한, 도 13 과 같이, 클로징 상태에서는, 반도체 장치가 래치 모듈(400) 사이에 끼워져서 고정되어 있으므로, 각종 테스트 과정에서 반도체 장치에 외력이 가해져도 반도체 장치가 정 위치를 이탈하지 않을 수 있다.In addition, as shown in FIG. 13, in the closed state, the semiconductor device is sandwiched between the latch modules 400 and fixed, so the semiconductor device may not deviate from its original position even if an external force is applied to the semiconductor device during various test processes.

뿐만 아니라, 반도체 장치와 실질적으로 맞닿는 래치 헤드 블록(420)은, 래치 스프링(430)에 의해서 탄성 바이어스되기 때문에, 반도체 장치에 대해서 과도하게 많은 힘을 가하지 않고, 반도체 장치에 적절하게 밀착할 수 있다. 따라서, 반도체 장치의 손상이 방지되고 반도체 장치의 탑재 및 취출이 효과적으로 이루어질 수 있다.In addition, the latch head block 420, which is substantially in contact with the semiconductor device, is elastically biased by the latch spring 430, so it can be properly brought into close contact with the semiconductor device without applying excessive force to the semiconductor device. . Accordingly, damage to the semiconductor device can be prevented and mounting and removal of the semiconductor device can be performed effectively.

이어서, 도 14 를 참조하여 반도체 장치를 젠더 장치로부터 취출시킬 경우를 설명하면 이하와 같다.Next, with reference to FIG. 14, the case where the semiconductor device is taken out from the gender device will be described as follows.

반도체 장치를 취출시킬 때에는, 다시 젠더 푸셔(200)에 외력을 가해서 젠더 푸셔(200)를 하방향으로 이동시킨다. 이 과정에서, 래치 모듈(400)은 앞서 설명한 바와 같이 제2 측이 하강하며 제1 측이 승강한다. 이때, 상기 래치 헤드 블록(420) 사이에 끼워져 그립된 상태의 상기 반도체 장치는, 래치 헤드 블록(420)이 승강함에 따라서 상방향으로 1 차 취출되게 된다. 이때, 앞서 설명한 바와 같이, 래치 헤드 블록(420)의 제1 측 단부 부분에는 그립 홀(426)이 형성되어 있으므로, 반도체 장치를 효과적으로 그립하고 승강시킬 수 있다. 이와 같은 1 차 취출이 이루어진 후, 상기 반도체 장치를 젠더 장치로부터 손쉽게 취출시킬 수 있다.When taking out the semiconductor device, external force is again applied to the gender pusher 200 to move the gender pusher 200 downward. In this process, the second side of the latch module 400 goes down and the first side goes up and down, as described above. At this time, the semiconductor device sandwiched and gripped between the latch head blocks 420 is primarily taken out upward as the latch head block 420 moves up and down. At this time, as described above, since the grip hole 426 is formed in the first side end portion of the latch head block 420, the semiconductor device can be effectively gripped and lifted. After this primary extraction is performed, the semiconductor device can be easily taken out from the gender device.

이상에서는 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안될 것이다.Although preferred embodiments have been shown and described above, the present invention is not limited to the specific embodiments described above, and common knowledge in the technical field to which the invention pertains without departing from the gist of the present invention as claimed in the claims. Of course, various modifications can be made by those who have the knowledge, and these modifications should not be understood individually from the technical idea or perspective of the present invention.

100: 젠더 바디
110: 탑재 공간
120: 래치 홀더
122: 제1 연결 홀
124: 래치 공간
130: 탄성 부재 내삽부
140: 고정용 홀
150: 가이드 라인
200: 젠더 푸셔
210: 프레싱 플레이트
212: 탑재 홀
220: 래치 쉬프트부
222: 래치 연결 홀
230: 스루 오프닝부
240: 가이드부
300: 탄성 부재
400: 래치 모듈
410: 래치 바디
411: 공간부
412: 제1 오픈부
413: 제2 오픈부
414: 센터 홀
415: 핀 홀
416: 쉬프트 홀
420: 래치 헤드 블록
422: 지지부
424: 헤드부
426: 그립 홈
430: 래치 스프링
440: 스톱 핀
500: 제1 연결 핀
600: 제2 연결 핀
100: gender body
110: Mounting space
120: Latch holder
122: first connection hole
124: latch space
130: Elastic member interpolation part
140: Fixing hole
150: Guidelines
200: Gender Pusher
210: pressing plate
212: Mounting hole
220: Latch shift unit
222: Latch connection hole
230: Through opening part
240: Guide unit
300: elastic member
400: Latch module
410: Latch body
411: space part
412: first open part
413: Second open part
414: Center Hall
415: pin hole
416: Shift Hall
420: Latch head block
422: support
424: Head part
426: Grip groove
430: Latch spring
440: stop pin
500: first connection pin
600: second connection pin

Claims (7)

반도체 장치의 테스트에 사용되는 젠더 장치에 있어서,
반도체 장치가 투입될 수 있는 소정의 탑재 공간을 갖는 젠더 바디;
상기 젠더 바디 상에 배치되어 상하 이동 가능한 젠더 푸셔;
상기 젠더 푸셔를 상방향으로 탄성 바이어스 하는 탄성 부재; 및
상기 젠더 푸셔와 연결되며 상기 탑재 공간을 사이에 두고 상기 탑재 공간의 양 측에 각각 서로 대칭으로 배치되는 래치 모듈;을 포함하며,
상기 각각의 래치 모듈은,
상기 젠더 바디의 내측에 위치하는 제1 측, 및 상기 젠더 바디의 외측에 위치하는 제2 측을 포함하고,
상기 제1 측은 상기 탑재 공간을 사이에 두고 서로 마주보며,
상기 제1 측과 상기 제2 측 사이 일 지짐이 상기 젠더 바디에 회동 가능하게 연결되고,
상기 제2 측은 상기 젠더 푸셔에 대해서 회동 가능하게 연결되며,
상기 래치 모듈은,
상기 젠더 푸셔가 상하 방향으로 이동함에 따라서 회동하고,
상기 젠더 푸셔가 하방향으로 이동하면 상기 제1 측이 승강하는 방향으로 회동하고,
상기 젠더 푸셔가 상방향으로 이동하면 상기 제1 측이 하강하는 방향으로 회동하며,
상기 젠더 바디는, 래치 홀더를 포함하고,
상기 래치 모듈은 상기 래치 홀더에 선회 가능하게 연결되며,
상기 래치 모듈은,
공간부를 갖는 래치 바디,
상기 공간부에 탑재되고 상기 래치 바디의 제1 측에 배치되며 적어도 일 부분이 상기 탑재 공간의 내측 방향으로 돌출되는 래치 헤드 블록,
상기 래치 바디 내에 배치되며 상기 래치 헤드 블록을 상기 제2 측에서 제1 측 방향으로 탄성 바이어스하는 래치 스프링, 및
스톱 핀을 포함하고,
상기 래치 바디는,
상기 제2 측에 구비되며 상기 래치 스프링이 투입될 수 있는 제2 오픈부, 및 전후 방향으로 관통되며 상기 스톱 핀이 투입되는 투입 홀을 포함하며,
상기 스톱 핀은,
상기 탄성 부재를 지지하는 젠더 장치.
In the gender device used for testing semiconductor devices,
A gender body having a predetermined mounting space into which a semiconductor device can be inserted;
A gender pusher disposed on the gender body and capable of moving up and down;
an elastic member that elastically biases the gender pusher in an upward direction; and
It includes a latch module connected to the gender pusher and disposed symmetrically on both sides of the mounting space with the mounting space in between,
Each of the latch modules is:
It includes a first side located inside the gender body, and a second side located outside the gender body,
The first sides face each other across the mounting space,
A support between the first side and the second side is rotatably connected to the gender body,
The second side is rotatably connected to the gender pusher,
The latch module is,
The gender pusher rotates as it moves up and down,
When the gender pusher moves downward, the first side rotates in the ascending/lowering direction,
When the gender pusher moves upward, the first side rotates in a downward direction,
The gender body includes a latch holder,
The latch module is pivotably connected to the latch holder,
The latch module is,
a latch body having a space,
A latch head block mounted in the space, disposed on a first side of the latch body, and at least a portion of the latch head block protrudes toward the inside of the mounting space,
a latch spring disposed within the latch body and elastically biasing the latch head block from the second side to the first side, and
Includes a stop pin,
The latch body is,
It is provided on the second side and includes a second open part into which the latch spring can be inserted, and an input hole that penetrates in the front-back direction and into which the stop pin is input,
The stop pin is,
A gender device supporting the elastic member.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 래치 헤드 블록은,
제1 측 단부에 형성되는 그립 홈을 포함하며,
상기 그립 홈은 반도체 장치에 맞닿을 수 있는 홈인 젠더 장치.
According to paragraph 1,
The latch head block is,
It includes a grip groove formed at the first side end,
The grip groove is a gender device that is a groove that can come into contact with a semiconductor device.
제1항에 있어서,
상기 젠더 바디는,
고정 수단이 투입될 수 있는 고정용 홀을 포함하고,
상기 젠더 푸셔는,
스루 오프닝부를 포함하며,
상기 스루 오프닝부를 통해 상기 고정용 홀이 상방향으로 노출될 수 있는 젠더 장치.
According to paragraph 1,
The gender body is,
Includes a fixing hole into which a fixing means can be inserted,
The gender pusher is,
Includes a through opening,
A gender device in which the fixing hole can be exposed upward through the through opening.
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015050033A (en) * 2013-09-02 2015-03-16 株式会社島野製作所 Socket plug mechanism

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100999565B1 (en) 2009-02-25 2010-12-08 신종희 Variableness style test Gender to test solid state disk
KR20110011762A (en) * 2009-07-24 2011-02-09 (주) 컴파스 시스템 Gripper of socket adaptor for programer
KR101673520B1 (en) * 2010-03-04 2016-11-08 삼성전자 주식회사 Semiconductor module, socket for semiconductor module and connection structure thereof

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2015050033A (en) * 2013-09-02 2015-03-16 株式会社島野製作所 Socket plug mechanism

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