KR102641692B1 - 광 검출 시스템 및 그의 사용 방법 - Google Patents
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Abstract
광 검출 디바이스 및 그러한 디바이스를 사용하는 방법의 다양한 실시예들이 개시된다. 하나 이상의 실시예들에서, 광 검출 디바이스는 상부 표면 및 하부 표면을 포함하는 하우징 - 하우징은 상부 표면과 하부 표면 사이에 하우징 축을 따라 연장됨 -; 및 하우징에 연결되고 폐쇄 위치로부터 개방 위치로 선택적으로 이동되도록 구성되는 지지 부재를 포함한다. 지지 부재는 하부 표면 및 지지 부재가 작업 표면과 접촉하고 지지 부재가 개방 위치에 있는 경우에 광 검출 디바이스를 직립 위치에 유지하도록 더 구성된다.
Description
샘플링 프로그램은 식품 및 음료 산업의 중요한 원료, 공정 중 물질, 완제품 및 처리 환경의 모니터링에 사용된다. 또한 보건 환경에서 유사한 샘플링 프로그램들이 스크리닝 및 치료 절차들에 사용되는 기구 및 디바이스는 물론 환자 환경에서의 환경 표면들의 오염 제거 효과를 모니터링하기 위해 사용된다. 정기적인 샘플링 및 테스트를 통해 품질 보증 담당자는 미생물과 같은 바람직하지 않은 물질을 매우 초기 단계에서 검출하고 장비 및/또는 제품의 후속적인 오염을 방지하기 위한 조치들을 취할 수 있다. 이러한 바람직하지 않은 물질들을 검출하기 위해 다양한 테스트들이 수행될 수 있다. 이러한 테스트들의 예에는 화학 잔류물 테스트(예컨대, 아데노신 3인산염(ATP) 생체 발광 테스트 및 단백질 비색 테스트), 배양 방법, 유전자 테스트(예컨대, PCR), 면역 진단 테스트 및 생체 발광 테스트가 포함된다.
전형적으로 샘플 수집 디바이스들 또는 장치들이 환경 테스트를 위해 표면 샘플들을 수집하는데 사용된다. 상업적으로 이용가능한 샘플 수집 디바이스들은 스폰지, 면봉 등과 같은 흡수 디바이스들을 포함한다. 또한, 소정의 샘플 수집 디바이스들은 미리 결정된 체적의 액체 샘플을 수집할 수 있다.
ATP는 모든 대사 시스템에서 에너지 "화폐(currency)"로 사용되기 때문에 샘플 내의 유기 또는 생물유기 잔류물들의 존재를 나타낼 수 있다. ATP의 존재는 생체 발광 효소 분석법을 사용하여 측정될 수 있다. 예를 들어, 루시페린/루시페라아제 효소 분석 시스템은 ATP를 사용하여 광을 생성한다. 이러한 광 출력은 광 검출 디바이스, 예컨대, 발광측정기(luminometer)에서 검출되고 정량화될 수 있다. 샘플 내의 ATP의 존재는 미생물 존재의 직접적인 지표일 수 있고(즉, ATP는 다른 ATP 원천들을 함유하지 않은 샘플 내의 미생물로부터 유래됨), 또는 ATP는 미생물 존재의 간접적인 지표일수 있다(즉, ATP는 식물성 또는 동물성 물질로부터 유도되며, 미생물의 성장을 지원하는 영양물들이 샘플 내에 존재할 수 있음을 나타냄). 또한 샘플 내의 ATP의 존재 또는 부재는 예컨대, 식품, 음료, 보건(예컨대, 환경 표면, 수술 기구, 내시경 및 기타 의료 디바이스), 물 및 위생 산업에서 세정 공정들의 효능을 평가하기 위해 일상적으로 사용된다.
예를 들어, ATP 측정 시스템들은 위생 공정의 효능을 감사하기 위해 식품 업계의 모니터링 도구로 15년 이상 활용되어 왔다. 이러한 시스템들은 세정 및 소독이 필요한 식품 가공 공정에서 다양한 표면 상에서 일반적으로 발견되는 매우 소량의 ATP(예컨대, 1 펨토몰)를 검출할 수 있다. 위생 처리가 필요한 표면 상에서의 ATP의 존재의 검출은 세정 및 소독 과정의 실패를 나타낼 수 있다.
보다 최근에, ATP 모니터링 도구들이 환자의 환경 청결도를 모니터링하기 위해 임상 애플리케이션에서 유사한 목적으로 채택되었다. 이제, 병원의 오염된 표면들이 예컨대, 씨. 디피실레(C. difficile), VRE, MRSA, 에이. 바우마니(A. baumannii) 및 피. 아에루기노사(P. aeruginosa)와 같은 전염병과 풍토성 전염병 및 비 바이러스의 풍토성 전염병에 중요한 기여를 한다는 강력한 임상 증거가 있다. 효과적인 감염 예방 프로그램들은 환경 청결도의 체계적 모니터링을 포함한다. 예를 들어, ATP 모니터링은 이러한 프로그램을 지원하는데 사용될 수 있는 정량 측정 시스템을 제공할 수 있다.
일반적으로, 본 발명은 광 검출 디바이스 및 그러한 디바이스의 사용 방법의 다양한 실시예들을 제공한다. 하나 이상의 실시예들에서, 광 검출 디바이스는 하우징 및 하우징에 연결된 지지 부재를 포함할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재는 폐쇄 위치와 개방 위치 사이에서 선택적으로 이동되도록 구성될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재는 또한 하우징의 하부 표면 및 지지 부재가 작업 표면과 접촉하고 지지 부재가 개방 위치에 있는 경우에 광 검출 디바이스를 직립 위치에 유지하도록 구성될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 하부 표면 및 지지 부재가 작업 표면과 접촉하고 지지 부재가 개방 위치에 있는 경우에, 하우징 축은 수직축에 대해 적어도 0도 내지 45도 이하의 각도를 형성할 수 있다.
일 양태에서, 본 발명은 상부 표면 및 하부 표면을 포함하는 하우징을 포함하는 광 검출 디바이스를 제공하며, 하우징은 상부 표면과 하부 표면 사이에서 하우징 축을 따라 연장된다. 디바이스는 하우징에 연결되고 폐쇄 위치로부터 개방 위치로 선택적으로 이동되도록 구성되는 지지 부재를 더 포함하고, 지지 부재는 하부 표면 및 지지 부재가 작업 표면과 접촉하고 지지 부재가 개방 위치에 있는 경우에 광 검출 디바이스가 직립 위치에 유지되도록 더 구성된다. 하부 표면 및 지지 부재가 작업 표면과 접촉하고 지지 부재가 개방 위치에 있는 경우에, 하우징 축은 수직축에 대해 적어도 0도 내지 45도 이하의 각도를 형성한다.
다른 양태에서, 본 발명은 광 검출 디바이스의 하우징에 부착된 광 검출 디바이스의 지지 부재를 폐쇄 위치로부터 개방 위치로 이동시키기 위해 광 검출 디바이스의 지지 부재를 체결하는 단계를 포함하는 방법을 제공하며, 하우징은 하우징의 상부 표면과 하부 표면 사이의 하우징 축을 따라 연장된다. 방법은 작업 표면 상에 광 검출 디바이스를 배치하는 단계를 더 포함하며, 지지 부재는 하우징의 하부 표면 및 지지 부재가 작업 표면과 접촉하고 지지 부재가 개방 위치에 있는 경우에 광 검출 디바이스를 직립 위치에 유지하도록 구성된다. 하부 표면 및 지지 부재가 작업 표면과 접촉하고 지지 부재가 개방 위치에 있는 경우에, 하우징 축은 수직축에 대해 적어도 0도 내지 45도 이하의 각도를 형성한다.
다른 양태에서, 본 발명은 상부 표면 및 하부 표면을 갖는 하우징을 포함하는 광 검출 디바이스를 제공하며, 하우징은 상부 표면과 하부 표면 사이에서 하우징 축을 따라 연장된다. 또한 디바이스는, 하우징 내부에 배치되고 하우징 내부에 배치된 샘플에 의해 방출된 광을 검출하도록 구성되는 검출기 및 광 검출 디바이스의 경사각을 결정하도록 구성되는 경사 검출 컴포넌트를 포함한다. 경사각은 하우징 축과 수직축 사이에 형성된 각도이다.
본 명세서에 제공된 모든 표제들은 독자의 편의를 위한 것이고, 그렇게 명시되지 않는 한 표제 다음에 이어지는 임의의 문장의 의미를 제한하는데 사용되어서는 안된다.
용어 "포함한다" 및 그의 변형은 이들 용어가 발명을 실시하기 위한 구체적인 내용 및 청구범위에서 나타날 경우 제한적 의미를 갖지 않는다. 그러한 용어는 언급된 단계 또는 요소 또는 단계들 또는 요소들의 그룹을 포함하지만, 임의의 다른 단계 또는 요소 또는 단계들 또는 요소들의 그룹을 배제하지 않음을 암시하는 것으로 이해될 것이다.
"바람직한" 및 "바람직하게는"이라는 단어는 소정의 상황 하에서 소정의 이익을 줄 수 있는 본 발명의 실시예들을 지칭한다; 그러나, 동일한 상황 또는 다른 상황 하에서, 다른 실시예들이 또한 바람직할 수 있다. 나아가, 하나 이상의 바람직한 실시예들의 언급은 다른 실시예들이 유용하지 않다는 것을 암시하지 않으며, 다른 실시예들을 본 발명의 범주로부터 배제하도록 의도되지 않는다.
본 출원에서, 부정관사("a", "an") 및 정관사("the")와 같은 용어는 오직 단수의 것만을 지칭하고자 하는 것이 아니라, 구체적인 예가 예시를 위해 사용될 수 있는 일반적인 부류를 포함하고자 하는 것이다. 용어 부정관사("a", "an") 및 정관사("the")는 용어 "적어도 하나"와 상호교환적으로 사용된다.
목록에 뒤따르는 어구 "~ 중 적어도 하나" 및 "~ 중 적어도 하나를 포함한다"는 목록 내의 항목들 중 임의의 하나, 및 목록 내의 2개 이상의 항목들의 임의의 조합을 지칭한다.
본 명세서에 사용되는 바와 같이, 용어 "또는"은 내용이 명백하게 달리 지시하지 않는 한 대체로 "및/또는"을 포함하는 그의 통상적인 의미로 사용된다. 본 발명의 소정의 부분들에서 "및/또는"이라는 용어의 사용은 다른 일부분에서 "또는"의 사용이 "및/또는"을 의미할 수 없다는 것을 의미하지 않는다.
용어 "및/또는"은 열거된 요소들 중 하나 또는 전부, 또는 열거된 요소들 중 임의의 2개 이상의 조합을 의미한다.
측정량과 관련하여 본 명세서에 사용되는 바와 같이, 용어 "약"은 측정을 실시하고 그 측정의 목적 및 사용되는 측정 장비의 정확도에 상응하여 소정 수준의 주의를 기울이는 당업자에 의해 예측될 바와 같은 측정량에 있어서의 변동을 지칭한다. 본 명세서에서, "최대" 숫자(예컨대, 최대 50)는 그 숫자(예컨대, 50)를 포함한다.
또한 본 명세서에서, 종점(endpoint)에 의한 수치 범위의 언급은 그 종점뿐만 아니라 그 범위 내에 포함되는 모든 수를 포함한다(예컨대, 1 내지 5는 1, 1.5, 2, 2.75, 3, 3.80, 4, 5 등을 포함한다).
본 발명의 이들 및 기타 양태는 하기의 상세한 설명으로부터 자명해질 것이다. 그러나, 어떠한 경우에도, 상기의 개요는 청구된 요지에 대한 제한으로서 해석되어서는 안 되며, 그 요지는 절차의 진행 동안에 보정될 수 있는 첨부된 청구범위에 의해서만 한정된다.
명세서 전체에 걸쳐, 첨부 도면을 참조하며, 첨부 도면에서 동일한 도면 부호는 동일한 요소를 지시한다.
도 1은 폐쇄 위치에 배치된 도어를 포함하는 광 검출 디바이스의 일 실시예의 개략적인 정면 사시도이다.
도 2는 디바이스의 도어가 폐쇄 위치에 배치되어 있는 도 1의 광 검출 디바이스의 개략적인 후면 사시도이다.
도 3은 디바이스의 도어가 폐쇄 위치에 배치되어 있는 도 1의 광 검출 디바이스의 개략적인 우측면도이다.
도 4는 디바이스의 도어가 폐쇄 위치에 배치되어 있는 도 1의 광 검출 디바이스의 평면도이다.
도 5는 디바이스의 도어가 개방 위치에 배치된 경우의 도 1의 광 검출 디바이스의 개략적인 정면 사시도이다.
도 6은 디바이스의 도어가 개방 위치에 배치되어 있는 도 1의 광 검출 디바이스의 개략적인 후면 사시도이다.
도 7은 도 1의 광 검출 디바이스의 일부분의 개략적인 분해도이다.
도 8은 사용자의 손에 의해 파지된 도 1의 광 검출 디바이스 및 폐쇄 위치에 배치된 디바이스의 도어의 개략적인 정면도이다.
도 9는 사용자의 손에 의해 파지된 도 1의 광 검출 디바이스 및 개방 위치에 배치된 디바이스의 도어의 개략적인 좌측면도이다.
도 10은 개방 위치에 배치된 지지 부재를 포함하는 광 검출 디바이스의 다른 실시예의 개략적인 후면 사시도이다.
도 11은 지지 부재가 폐쇄 위치에 배치되어 있는 도 10의 광 검출 디바이스의 개략적인 좌측면도이다.
도 12는 작업 표면 상에 배치된 도 10의 광 검출 디바이스 및 개방 위치에 배치된 지지 부재의 개략적인 좌측면도이다.
도 13은 지지 부재가 폐쇄 위치에 배치되어 있는 도 10의 광 검출 디바이스의 일부분의 개략적인 하부 사시도이다.
도 14는 지지 부재가 개방 위치에 배치되어 있는 도 10의 광 검출 디바이스의 일부분의 개략적인 하부 사시도이다.
도 15는 폐쇄 위치에 배치된 지지 부재를 포함하는 광 검출 디바이스의 다른 실시예의 개략적인 좌측면도이다.
도 16은 지지 부재가 폐쇄 위치에 배치되어 있는 도 15의 광 검출 디바이스의 개략적인 후면 사시도이다.
도 17은 지지 부재가 개방 위치에 배치되어 있는 도 15의 광 검출 디바이스의 개략적인 좌측면도이다.
도 18은 다양한 경사각들로 배치된 몇몇 공급 장치들에 대한 경사각과 관련된 상대적 발광 단위(RLU) 대비 시간의 그래프이다.
도 1은 폐쇄 위치에 배치된 도어를 포함하는 광 검출 디바이스의 일 실시예의 개략적인 정면 사시도이다.
도 2는 디바이스의 도어가 폐쇄 위치에 배치되어 있는 도 1의 광 검출 디바이스의 개략적인 후면 사시도이다.
도 3은 디바이스의 도어가 폐쇄 위치에 배치되어 있는 도 1의 광 검출 디바이스의 개략적인 우측면도이다.
도 4는 디바이스의 도어가 폐쇄 위치에 배치되어 있는 도 1의 광 검출 디바이스의 평면도이다.
도 5는 디바이스의 도어가 개방 위치에 배치된 경우의 도 1의 광 검출 디바이스의 개략적인 정면 사시도이다.
도 6은 디바이스의 도어가 개방 위치에 배치되어 있는 도 1의 광 검출 디바이스의 개략적인 후면 사시도이다.
도 7은 도 1의 광 검출 디바이스의 일부분의 개략적인 분해도이다.
도 8은 사용자의 손에 의해 파지된 도 1의 광 검출 디바이스 및 폐쇄 위치에 배치된 디바이스의 도어의 개략적인 정면도이다.
도 9는 사용자의 손에 의해 파지된 도 1의 광 검출 디바이스 및 개방 위치에 배치된 디바이스의 도어의 개략적인 좌측면도이다.
도 10은 개방 위치에 배치된 지지 부재를 포함하는 광 검출 디바이스의 다른 실시예의 개략적인 후면 사시도이다.
도 11은 지지 부재가 폐쇄 위치에 배치되어 있는 도 10의 광 검출 디바이스의 개략적인 좌측면도이다.
도 12는 작업 표면 상에 배치된 도 10의 광 검출 디바이스 및 개방 위치에 배치된 지지 부재의 개략적인 좌측면도이다.
도 13은 지지 부재가 폐쇄 위치에 배치되어 있는 도 10의 광 검출 디바이스의 일부분의 개략적인 하부 사시도이다.
도 14는 지지 부재가 개방 위치에 배치되어 있는 도 10의 광 검출 디바이스의 일부분의 개략적인 하부 사시도이다.
도 15는 폐쇄 위치에 배치된 지지 부재를 포함하는 광 검출 디바이스의 다른 실시예의 개략적인 좌측면도이다.
도 16은 지지 부재가 폐쇄 위치에 배치되어 있는 도 15의 광 검출 디바이스의 개략적인 후면 사시도이다.
도 17은 지지 부재가 개방 위치에 배치되어 있는 도 15의 광 검출 디바이스의 개략적인 좌측면도이다.
도 18은 다양한 경사각들로 배치된 몇몇 공급 장치들에 대한 경사각과 관련된 상대적 발광 단위(RLU) 대비 시간의 그래프이다.
일반적으로, 본 발명은 광 검출 디바이스 및 그러한 디바이스의 사용 방법의 다양한 실시예들을 제공한다. 하나 이상의 실시예들에서, 광 검출 디바이스는 하우징 및 하우징에 연결된 지지 부재를 포함할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재는 폐쇄 위치와 개방 위치 사이에서 선택적으로 이동되도록 구성될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재는 하우징의 하부 표면 및 지지 부재가 작업 표면과 접촉하고 지지 부재가 개방 위치에 있는 경우에 광 검출 디바이스를 직립 위치에 유지하도록 더 구성될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 하부 표면 및 지지 부재가 작업 표면과 접촉하고 지지 부재가 개방 위치에 있는 경우에, 하우징 축은 수직축에 대해 적어도 0도 내지 45도 이하의 각도를 형성할 수 있다.
본 명세서에 기술된 광 검출 디바이스들은 임의의 적합한 디바이스 예컨대, 발광측정기, 광도계(UV/가시 광선), 탁도계, 색도계, 형광측정기(예컨대, 생물학적(미생물) 테스트 및 화학 물질 테스트 둘 모두를 포함하는, 환경 표면 및 물 샘플링을 위해 광 검출을 사용하는 휴대용 디바이스) 등을 포함할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 광 검출 디바이스는 광원(예컨대, 하나 이상의 발광 다이오드들), 샘플 챔버, 광 검출기(예컨대, 광전자 증배관(photomultiplier tube)(PMT), 광 다이오드 등) 및 일부 실시예들에서, 광을 지향시키는 광학 시스템(예컨대, 하나 이상의 반사기들, 필터들 또는 렌즈들을 포함함)을 포함할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 테스트 샘플은 광 검출 디바이스의 검출기에 의해 검출되는 광을 방출할 수 있다. 샘플로부터의 광을 검출하거나 샘플과 광의 상호 작용을 검출하는 디바이스들은 주변 광이 디바이스들의 검출기와 상호작용하는 것을 차단하는 하나 이상의 요소들, 예컨대, 도어들, 개스킷들, 불투명 하우징들 등을 포함할 수 있다.
광 검출 디바이스는 임의의 적합한 애플리케이션에 활용될 수 있다. 예를 들어, 하나 이상의 실시예들에서, 광 검출 디바이스는 디바이스 내부에 배치된 샘플에 의해 방출된 광을 검출하고 측정하는데 활용될 수 있다. 샘플은 임의의 적합한 샘플, 예컨대 생체 발광 샘플을 포함할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 광 검출 디바이스는 루시페린-루시페라아제 효소 반응에 의해 생성된, 샘플에 의해 방출된 광을 분석함으로써 생체 발광 샘플 내의 ATP의 존재를 검출할 수 있다.
현재 이용가능한 ATP 검출 시스템들의 정확도 및 재현성은 크게 변동될 수 있다. 이러한 변동성은 샘플들을 재현가능한 방식으로 획득하는 것의 어려움으로 인해 야기될 수 있다. 또한, 루시페린-루시페라아제 검출 화학을 채용하는 시스템들은 시약 조성물이 제제화되는 방식의 재현성의 부족 및 분석에서의 시약들을 제공하기 위해 사용되는 폼 팩터로 인해 변동될 수 있다. 또한 검출 시스템의 광학 특성들이 정확도와 재현성에 영향을 줄 수 있다. 예를 들어, 일부 검출 시스템들은 광전자 증배관을 검출기로 활용하는 반면 다른 시스템들은 광 다이오드들을 채용한다. 이러한 검출 시스템들은 시스템의 하우징 내부에 배치된 검출기에 연결되어 있는 포트를 포함할 수 있다. 샘플은 포트를 통해 하우징 내부에 배치될 수 있다. 그러나, 이러한 포트들은 주변 광이 검출기 내로 전송되도록 하여, 정확한 판독값을 방해하고 잠재적으로 검출기를 손상시킬 수 있다. 일부 시스템들에는 주변 광이 검출기 내로 전송되는 것을 방지하기 위해 포트를 덮는 도어나 캡이 포함될 수 있다. 그러나, 이러한 시스템들은 시스템을 한 손으로 파지하고 포트를 덮고 있는 도어를 다른 손으로 개방하고 폐쇄하도록 요구할 수 있기 때문에 작동하기에 부자연스러울 수 있다.
또한, 사용자는 디바이스가 샘플을 분석하는 동안 작업 표면 상에 광 검출 디바이스를 배치하기를 원할 수 있다. 그러나, 일부 광 검출 디바이스들은 디바이스가 원하는 경사각으로 배치된 경우에 보다 정확한 판독값을 제공할 수 있다. 본 명세서에 사용된 바와 같이, "경사각"이란 용어는 광 검출 디바이스의 하우징 축과 수직축 사이에 형성된 각도를 의미한다. 본 명세서에 사용된 바와 같이, "수직축"이란 용어는 지구의 중력장과 정렬되어 있는 축을 지칭한다. 하나 이상의 실시예들에서, 원하는 경사각은 0°보다 클 수 있다. 이러한 실시예들에서, 광 검출 디바이스는 디바이스가 작업 표면 상에 배치된 경우에 디바이스를 원하는 경사각으로 지지할 수 있는, 디바이스의 하우징에 연결된 하나 이상의 지지 부재들을 포함할 수 있다.
또한, 도 1 내지 도 9는 광 검출 디바이스(10)의 일 실시예의 다양한 도면들이다. 광 검출 디바이스(10)는 임의의 적합한 광 검출 디바이스, 예컨대 발광측정기를 포함할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 디바이스(10)는 디바이스(10) 내부에 배치되고 샘플을 포함할 수 있는 샘플링 장치(도시되지 않음)를 또한 포함할 수 있는 광 검출 시스템의 부분일 수 있다. 임의의 적합한 샘플링 장치, 예컨대 PCT 특허 공보 WO 2014/007846호 및 미국 특허 공개 제2012/0329081호에 기술된 샘플링 장치들이 활용될 수 있다.
디바이스(10)는 임의의 적합한 형상 또는 형상들의 조합을 취할 수 있는 하우징(12)을 포함할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 하우징(12)은 사용자가 단일 손으로 하우징을 파지하고 디바이스(10)를 동작하게 허용하는 인체공학적 형상 또는 형상들의 조합을 취할 수 있다. 또한, 하우징(12)은 단일의 일체형 하우징일 수 있거나 임의의 적합한 기술 또는 기술들의 조합을 사용하여 함께 부착되는 2개 이상의 조각들, 섹션들 또는 부분들을 포함할 수 있다. 하우징(12)은 상부 표면(14)과 하부 표면(16) 사이에서 하우징 축(4)을 따라 연장될 수 있다. 하우징(12)은 또한 상부 표면(14)과 하부 표면(16) 사이에 배치된 선택적인 핸들 부분(18)을 포함할 수 있다. 핸들 부분(18)은 임의의 적합한 형상 또는 형상들의 조합을 포함할 수 있다. 하우징(12)은 또한 상부 표면(14)과 하부 표면(16) 사이에서 연장되는 전방 표면(13) 및 그 또한 상부 표면과 하부 표면 사이에서 연장되는 후방 표면(15)을 포함할 수 있다.
하우징(12)은 또한 하우징의 상부 표면(14)에 배치된 포트(20)를 포함할 수 있다(도 5 내지 도 7 및 도 9). 포트(20)는 상부 표면(14)에 배치된 것으로 도시되어 있으나, 하우징(12)의 임의의 적합한 표면, 예컨대 하우징의 하부 표면(16), 전방 표면(13) 또는 후방 표면(15)에 배치될 수 있다. 포트(20)는 사용자가 하우징(12) 내에 샘플을 배치함으로써 샘플에 의해 방출되거나 샘플과 상호작용하는 광이 하우징 내부에 배치된 검출기(도시되지 않음)에 의해 검출될 수 있도록 구성될 수 있다. 검출기는 임의의 적합한 검출기, 예컨대 2015년 3월 13일자로 동시 출원된 미국 가출원 특허 제62/132,774호(대리인 관리 번호 76073US002)에 기술된 검출기들일 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 포트(20)는 샘플이 포트를 통해 하우징 내부에 배치될 수 있도록 검출기에 연결되고, 검출기가 샘플의 하나 이상의 특성들을 측정할 수 있도록 하우징 내에 위치될 수 있다. 예를 들어, 샘플이 축광(photoluminescent) 샘플을 포함하는 경우, 검출기는 예컨대 축광 샘플에 의해 방출된 광의 세기를 측정하는데 활용될 수 있다.
포트(20)는 샘플을 수용하도록 구성될 수 있다. 샘플은 임의의 적합한 방식으로 하우징(20) 내부에 배치될 수 있다. 예를 들어, 하나 이상의 실시예들에서, 샘플은 포트(20)를 통해 하우징 내에 직접 배치될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 샘플은 포트(20) 내로 삽입됨으로써 하우징 내부에 배치되도록 구성되는 샘플링 장치 내부에 포함될 수 있다. 포트(20)는 임의의 적합한 형상 또는 형상들의 조합을 취할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 포트(20)는 샘플링 장치를 수용하도록 구성될 수 있다.
하나 이상의 실시예들에서, 포트(20)는 하우징(12) 내부에 배치된 리셉터클(도시되지 않음)에 연결될 수 있다. 리셉터클은 샘플링 장치를 수용하고 하우징 내에 장치를 위치시킴으로써 검출기가 샘플링 장치 내부에 배치된 샘플의 하나 이상의 특성들을 측정할 수 있도록 구성될 수 있다. 임의의 적합한 리셉터클 예컨대, 2015년 3월 13일자로 동시 출원된 미국 가특허 출원 제 62/132,774호(대리인 관리 번호 76073US002)에 기술된 리셉터클들 중 하나 이상이 활용될 수 있다.
또한, 광 검출 디바이스(10)는 사용자가 디바이스(12)를 이용하여 다양한 기능들을 수행하기 위한 인터페이스를 제공하도록 구성되는 하나 이상의 제어부들(22)을 포함할 수 있다. 임의의 적합한 제어부(22) 또는 제어부들(22)이 디바이스(10)와 함께 제공될 수 있다. 또한, 하나 이상의 실시예들에서, 제어부들(22)은 하우징(12) 상의 또는 내의 임의의 적합한 위치에 배치될 수 있다. 예를 들어, 도 1에 도시된 실시예에서, 제어부들(22)은 하우징(12)의 전방 표면(13) 상에(또는 내에) 배치됨으로써 사용자가 하우징(12)의 핸들 부분(18)을 파지하고, 파지하고 있는 손의 엄지 또는 손가락으로 제어부를 동작할 수 있다. 제어부들(22)을 이와 같이 위치시키는 것은 단일 손으로 디바이스(10)를 동작하게 허용할 수 있다. 제어부들(22)은 사용자를 위한 인터페이스를 제공할 수 있고, 디바이스(10)의 하우징(12) 내부에 배치된 임의의 적합한 회로에 전기적으로 결합될 수 있다. 그러한 회로는 임의의 적합한 전자 디바이스 또는 디바이스들, 예컨대, 하나 이상의 제어기들, 프로세서들, 저장 디바이스들, 전력 변환기들, 아날로그/디지털 변환기들, GPS 컴포넌트들, 무선 안테나들 및 수신기들 등을 포함할 수 있다. 회로는 임의의 적합한 전원 또는 전원들 예컨대, 배터리들, 외부 전원들 등에 전기적으로 결합될 수 있다. 회로는 예컨대, 임의의 적합한 위치에서 하우징 상에 또는 내에 배치된 하나 이상의 추가 포트들(26)을 통해 임의의 적합한 외부 디바이스 또는 전원에 연결될 수 있다.
디바이스(10)는 또한 디바이스의 하우징(12) 내부에 배치된 회로와의 인터페이스를 사용자에게 제공하도록 구성되는 디스플레이(24)를 포함할 수 있다. 디스플레이(24)는 하우징(12) 상의 또는 내의 임의의 적합한 위치에 있을 수 있다. 도 1에 도시된 실시예에서, 디스플레이(24)는 하우징의 전방 표면(13)에 배치된다. 디스플레이(24)는 임의의 적합한 디스플레이를 포함할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 디스플레이(24)는 사용자에게 디바이스의 제어부를 제공할 수 있고 또한 사용자에게 정보를 디스플레이할 수 있는 터치 감응형 디스플레이일 수 있다. 임의의 적합한 터치 감응형 디스플레이(24)가 디바이스(10)와 함께 활용될 수 있다.
광 검출 디바이스(10)는 또한 도어(30)를 포함할 수 있다. 도어(30)는 임의의 적합한 기술 또는 기술들의 조합을 사용하여 디바이스(10)의 하우징(12)에 연결될 수 있다. 도어(30)는 임의의 적합한 재료 또는 재료들의 조합을 포함할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 도어(30)는 디바이스(10)의 하우징(12)과 동일한 재료 또는 재료들의 조합을 포함한다. 또한, 도어(30)는 임의의 적합한 형상 또는 형상들의 조합을 취할 수 있고 임의의 적합한 치수들을 가질 수 있다.
하나 이상의 실시예들에서, 도어(30)는 액추에이터 부분(32) 및 액추에이터 부분에 연결된 커버 부분(34)을 포함할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 액추에이터 부분(32)은 커버 부분(34)과 일체형일 수 있거나, 액추에이터 부분 및 커버 부분은 임의의 적합한 기술 또는 기술들의 조합을 사용하여 연결된 별개의 요소들일 수 있다. 예를 들어, 하나 이상의 실시예들에서, 액추에이터 부분(32) 및 커버 부분(34)은 힌지(예컨대, 도 7의 힌지(36))에 의해 연결될 수 있다.
도어(30)는 폐쇄 위치 또는 개방 위치에 배치될 수 있도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 도 1 내지 도 4 및 도 8은 도어(30)가 폐쇄 위치(6)에 배치된 경우의 디바이스(10)의 다양한 도면들이다. 또한, 예를 들면, 도 5와 도 6 및 도 9는 도어가 개방 위치(8)에 배치된 경우의 디바이스(10)의 다양한 도면들이다. 도어(30)는 임의의 적합한 기술 또는 기술들의 조합을 사용하여 폐쇄 위치(6) 또는 개방 위치(8)에 배치될 수 있다. 예를 들어, 하나 이상의 실시예들에서, 액추에이터 부분(32)은 폐쇄 위치(6)와 개방 위치(8) 사이에서 도어(30)를 선택적으로 이동시키도록 구성된다. 또한, 하나 이상의 실시예들에서, 도어(30)의 커버 부분(34)은 도어가 폐쇄 위치(6)에 있는 경우에 포트(20)를 폐쇄하고, 도어가 개방 위치(8)에 있는 경우에 포트를 개방하도록 구성된다. 개방 위치(8)에 있는 경우에, 커버 부분(34)은 포트(20)로의 외부 접근을 허용할 수 있다.
도어(30)는 임의의 적합한 기술 또는 기술들의 조합을 사용하여 디바이스(10)의 하우징(12)에 연결될 수 있다. 예를 들어, 하나 이상의 실시예들에서, 도어(30)는 도 7에 도시된 바와 같이, 힌지(36)에 의해 하우징(12)에 부착될 수 있다. 힌지(36)는 임의의 적합한 힌지일 수 있다. 도 7에 도시된 실시예에서, 힌지(36)는 하우징(12)에 형성된 개구(11) 내부에 배치되도록 구성되는 돌기(37)를 포함한다. 도어(30)는 임의의 적합한 수의 돌기들(37)을 포함함으로써 힌지(36)가 도어를 하우징(12)에 부착할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 힌지(36)는 하우징(12)의 2개의 섹션(60, 62) 중 하나 또는 둘 모두에 배치된 개구(11) 내로 돌기(37)를 삽입함으로써 하우징(12)에 부착될 수 있다. 하우징(12)의 섹션들(60, 62)은 개구(45)를 통해 삽입되는 나사들(44)에 의해 함께 고정될 수 있다. 힌지(36)는 하우징(12) 상의 또는 내의 임의의 적합한 위치에 하우징 축(4)에 대해 임의의 적합한 방향으로 배치될 수 있다.
또한, 하나 이상의 실시예들에서, 스프링(38)은 도어(30)와 하우징(12) 사이에 배치될 수 있다. 임의의 적합한 스프링이 활용될 수 있다. 스프링(38)은 폐쇄 위치(6)와 개방 위치(8) 사이에서 도어(30)가 선회(pivot)하게 허용하도록 구성된다. 하나 이상의 실시예들에서, 도어(30)는 폐쇄 위치(6) 또는 개방 위치(8) 중 어느 하나로 바이어싱될 수 있다. 도 7에 도시된 실시예에서, 스프링(38)이 폐쇄 위치(6)로 도어(30)를 바이어싱함으로써 포트(20)는 외부 환경에 대해 폐쇄된다. 폐쇄 위치(6)로 도어(30)를 바이어싱함으로써, 커버 부분(34)은 포트(20)를 보호할 수 있고, 주변 광 또는 다른 환경 요소들(예컨대, 습기)이 포트를 통해 하우징(12)의 내부로 진입하는 것을 방지할 수 있다. 폐쇄 위치(6)에 있는 경우에, 커버 부분(34)은 또한 주변 광이 하우징 내부에 배치된 검출기에 진입하는 것을 방지할 수 있다.
하나 이상의 실시예들에서, 도어(30)의 액추에이터 부분(32)은 도 6에 도시된 바와 같이, 회전축(5)을 중심으로 도어를 회전시키도록 구성된다. 회전축(5)은 하우징 축(4)에 대해 임의의 적합한 관계로 배향될 수 있다. 예를 들어, 하나 이상의 실시예들에서, 회전축(5)은 도 6에 도시된 바와 같이, 하우징 축(4)에 실질적으로 직교할 수 있다. 본 명세서에 사용된 바와 같이, "실질적으로 직교"라는 어구는 하우징 축(4)에 대해 85° 내지 95° 사이의 각도가 형성되도록 회전축(5)이 배치되는 것을 의미한다. 하나 이상의 실시예들에서, 회전축(5)은 힌지(36)와 정렬될 수 있다(도 7).
도어(30)의 액추에이터 부분(32)은 폐쇄 위치(6)로부터 개방 위치(8)로 도어를 선택적으로 이동시키도록 구성된다. 또한, 액추에이터 부분(32)은 임의의 적합한 형상 또는 형상들의 조합을 취할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 액추에이터 부분(32)이 만곡된 형상을 취함으로써 사용자의 손의 손가락을 수용하도록 구성될 수 있다. 또한, 하나 이상의 실시예들에서, 액추에이터 부분(32)은 사용자가 액추에이터 부분을 보다 쉽게 체결하여 폐쇄 위치(6) 또는 개방 위치(8) 중 어느 하나에 도어를 배치할 수 있도록 텍스처화된 표면(33)을 포함할 수 있다.
액추에이터 부분(32)은 하우징(12)에 대해 임의의 적합한 관계로 배치될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 액추에이터 부분(32)은 하우징(12)의 핸들 부분(18)에 인접하게 배치될 수 있다. 본 명세서에 사용된 바와 같이, "핸들 부분에 인접한"이라는 어구는 액추에이터 부분(32)이 하우징(12)의 상부 표면(14) 또는 하부 표면(16) 중의 어느 하나 보다 핸들 부분(18)에 더 가깝게 배치된다는 것을 의미한다. 액추에이터 부분(32)은 핸들 부분(18)에 인접하여 배치됨으로써 사용자가 단일 손을 이용하여 핸들 부분을 파지하고 액추에이터 부분을 체결할 수 있다. 다시 말하면, 광 검출 디바이스(10)는 사용자가 한 손으로 핸들 부분(18)을 파지하고 동일한 손으로 액추에이터 부분(32)을 체결하여, 폐쇄 위치(6)와 개방 위치(8) 사이에서 도어(30)를 선택적으로 이동시키게 허용하도록 구성될 수 있다.
액추에이터 부분(32)에는 커버 부분(34)이 연결된다. 하나 이상의 실시예들에서, 커버 부분(34)은 도어(30)가 폐쇄 위치(6)에 있는 경우에 포트(20)를 폐쇄하고 도어가 개방 위치(8)에 있는 경우에 포트를 개방하여 포트에 대한 외부 접근을 허용하도록 구성된다. 하나 이상의 실시예들에서, 도어(30)의 커버 부분(34)은 도어가 폐쇄 위치(6)에 있는 경우에 포트(20)로 진입하는 주변 광의 양을 최소화하도록 구성된다. 하나 이상의 실시예들에서, 도어(30)는 도어가 폐쇄 위치(6)에 있는 경우에 실질적으로 모든 주변 광이 포트(20)로 진입하는 것을 방지하도록 구성된다. 하나 이상의 실시예들에서, 도어(30)는 충분한 양의 주변 광이 하우징(12)에 진입하는 것을 차단하도록 구성됨으로써 샘플과 연관된 광 신호를 검출하고 측정하는 능력이 손상되지 않도록 한다.
커버 부분(34)은 하우징(12)에 대해 임의의 적합한 관계로 배치될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 커버 부분(34)은 하우징(12)의 상부 표면(14)의 일부분을 형성하도록 배치된다. 하나 이상의 실시예들에서, 커버 부분(34)은 도어(30)가 폐쇄 위치(6)에 있는 경우에 하우징(12)의 상부 표면(14)과 수평 또는 동일 평면에 있을 수 있다.
하나 이상의 실시예들에서, 포트(20)는 도어(30)가 폐쇄 위치(6)에 있는 경우에 커버 부분(34)과 체결되도록 구성되는 렛지(ledge)(40)를 포함할 수 있다. 렛지(40)는 임의의 적합한 형상 또는 형상들의 조합을 취할 수 있다. 또한, 렛지(40)는 포트(20)의 전체 둘레를 따라 또는 포트 둘레의 임의의 적합한 부분을 따라 배치될 수 있다. 커버 부분(34)과 렛지(40)의 조합은 도어(30)가 폐쇄 위치(6)에 있는 경우에 주변 광이 포트(20)로 진입하는 것을 방지할 수 있다.
하나 이상의 실시예들에서, 포트(20)는 또한 커버 부분(34)과 렛지(40) 사이에 배치된 개스킷(도시되지 않음)을 포함할 수 있다. 개스킷은 포트(20)의 렛지(40)의 임의의 적합한 부분을 따라 연장될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 개스킷은 렛지(40) 전체를 따라 연장된다. 개스킷, 렛지(40) 및 커버 부분(34)은 주변 광이 포트(20)로 진입하는 것을 방지하도록 조합될 수 있다. 또한, 하나 이상의 실시예들에서, 개스킷은 또한 커버 부분(34)과 렛지(40) 사이에 밀봉을 제공하여 외부 환경 요소들 예컨대, 습기가 포트(20)에 진입하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 개스킷, 렛지(40) 및 커버 부분(34) 중 하나 이상은 하우징(12) 내부에 배치된 샘플이 바람직하지 않게 하우징 외부로 누설되는 것을 방지할 수 있다.
하나 이상의 실시예들에서, 포트(20)는 또한 도어(30)가 폐쇄 위치(6)에 있는 경우에 상부 표면(14)과 커버 부분(32) 사이의 임의의 공간을 덮는 오버행(overhang)(도시되지 않음)을 포함할 수 있다. 오버행은 임의의 적합한 형상을 취할 수 있고 임의의 적합한 위치에 위치될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 오버행은 상부 표면(14) 및/또는 커버 부분(34)에 연결될 수 있다.
도어(30)는 또한 제1 단부(35) 및 제2 단부(39)를 포함할 수 있다(도 7). 하나 이상의 실시예들에서, 액추에이터 부분(32)은 제1 단부(35)에 인접하고, 커버 부분(34)은 제2 단부(39)에 인접한다. 본 명세서에 사용된 바와 같이, "제1 단부에 인접한"이라는 어구는 액추에이터 부분(32)이 도어의 제2 단부(39)보다 도어(30)의 제1 단부(35)에 더 가깝게 배치된다는 것을 의미한다. 유사하게, "제2 단부에 인접한"이라는 어구는 커버 부분(34)이 도어의 제1 단부(35)보다 제2 단부(39)에 더 가깝게 배치된다는 것을 의미한다.
본 명세서에서 언급된 바와 같이, 회전축(5)은 도어(30)에 대해 임의의 적합한 위치에 배치될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 회전축(5)은 도어(30)의 제1 단부(35)와 제2 단부(39) 사이에 배치될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 회전축(5)은 도어(30)의 제1 단부(35)와 제2 단부(39) 사이의 대략 중간 지점에 배치된다. 본 명세서에 사용된 바와 같이, "대략"이라는 용어는 회전축(5)이 도어(30)의 제1 단부(35)와 제2 단부(39) 사이의 중간 지점의 1cm 이내에 배치된다는 것을 의미한다. 하나 이상의 실시예들에서, 회전축(5)은 도어(30)의 제2 단부(39)보다 제1 단부(35)에 더 가깝게 배치된다. 또한, 하나 이상의 실시예들에서, 회전축(5)은 도어(30)의 제1 단부(35)보다 제2 단부(39)에 더 가깝게 배치된다.
하나 이상의 실시예들에서, 회전축(5)은 도어의 제1 단부 또는 제2 단부 중 어느 하나보다 도어(30)의 제1 및 제2 단부들(35, 39) 사이의 중간 지점에 더 가깝게 배치된다. 하나 이상의 실시예들에서, 회전축(5)은 도어(30)의 제1 및 제2 단부(35, 39) 사이에 위치된 중간 지점과 제1 단부 사이의 대략 절반쯤에 배치된다. 하나 이상의 실시예들에서, 회전축(5)은 도어(30)의 제1 및 제2 단부(35,39) 사이에 위치한 중간 지점과 제2 단부 사이의 대략 절반쯤에 배치된다.
하나 이상의 실시예들에서, 액추에이터 부분(32)은 회전축(5)과 제1 단부(35) 사이에 배치된 도어(30)의 일부분으로서 한정될 수 있다. 또한, 하나 이상의 실시예들에서, 도어(30)의 커버 부분(34)은 회전축(5)과 도어의 제2 단부(39) 사이에 배치된 도어의 일부분으로서 한정될 수 있다. 액추에이터 부분(32)은 도어(30)의 임의의 적합한 부분 예컨대, 약 90% 이하, 약 80% 이하, 약 70% 이하, 약 60% 이하, 약 50% 이하 등을 포함할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 액추에이터 부분(32)은 도어(30)의 적어도 약 5%, 적어도 약 10%, 적어도 약 20%, 적어도 약 30%, 적어도 약 40%, 적어도 약 50%일 수 있다. 또한, 도어(30)의 커버 부분(34)은 도어의 임의의 적합한 부분 예컨대, 약 90% 이하, 약 80% 이하, 약 70% 이하, 약 60% 이하, 약 50% 이하 등을 포함할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 도어 부분(34)은 도어(30)의 적어도 약 5%, 적어도 약 10%, 적어도 약 20%, 적어도 약 30%, 적어도 약 40%, 적어도 약 50%일 수 있다.
광 검출 디바이스(10)는, 도어(30)에 결합되고 도어가 폐쇄 위치(6)에 배치된 경우에 하우징(도시되지 않음) 내부에 배치된 회로 및/또는 검출기를 활성화하도록 구성되는 스위치(도시되지 않음)를 또한 포함할 수 있다. 임의의 적합한 스위치 또는 스위치들의 조합이 활용될 수 있다. 또한, 하나 이상의 실시예들에서, 스위치는 주변 광이 검출기를 손상시키는 것을 방지하기 위해, 도어(30)가 개방 위치(8)에 배치된 경우에 하우징(12) 내부에 배치된 회로 및/또는 검출기를 비활성화시킬 수 있다. 스위치는 도어(30)에 대해 임의의 적합한 위치에 배치될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 스위치는 액추에이터 부분(32)과 하우징(12) 사이에 위치될 수 있다.
본 명세서에서 언급된 바와 같이, 도어(30)는 하우징(12)에 대해 임의의 적합한 위치에 배치될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 도어(30)는 액추에이터 부분(32)이 하우징의 후방 표면(15)에 인접하도록 배치된다. 본 명세서에 사용된 바와 같이, "후방 표면에 인접한"이라는 어구는 액추에이터 부분(32)이 하우징(12)의 전방 표면(13)보다 후방 표면(15)에 더 가깝게 배치된다는 것을 의미한다. 하나 이상의 실시예들에서, 하우징(12)의 후방 표면(15)은 도 7에 도시된 바와 같이, 도어(30)를 수용하도록 구성되는 리세스된 부분(17)을 포함할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 도어(30)는 후방 표면(15)의 리세스된 부분(17) 내에 안착됨으로써 도어의 외부 표면이 인접한 후방 표면과 수평 또는 동일 평면에 있을 수 있다.
하나 이상의 실시예들에서, 도어는 전방 표면(13)과 후방 표면(15) 사이에서 하우징(12)의 측방 표면에 배치될 수 있다. 또한, 하나 이상의 실시예들에서, 도어(30)는 디스플레이(24)에 인접한 하우징(12)의 전방 표면(13) 상에 배치될 수 있어서 사용자가 파지하고 있는 손의 엄지로 도어의 액추에이터 부분(32)을 체결할 수 있다. 이러한 실시예들에서, 도어(30)는 개구 또는 개구들을 포함하여서 사용자가 도어를 통해 제어부들(22)에 접근하고 디스플레이(24)를 볼 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 도어(30)는 디스플레이(24)의 어느 한 측부 상의 하우징(12)의 전방 표면(13) 상에 배치됨으로써 사용자가 제어부(22)에 접근하고 디스플레이(24)를 볼 수 있다.
후방 표면(15)은 또한 도어(30)의 액추에이터 부분(32)에 인접한 손가락 수용 영역(28)을 포함할 수 있다(도 6). 본 명세서에 사용된 바와 같이, "액추에이터 부분에 인접한"이라는 어구는 하우징(12)의 손가락 수용 영역(28)이 도어(30)의 커버 부분(34)보다 액추에이터 부분(32)에 더 가깝게 배치된다는 것을 의미한다. 손가락 수용 영역(28)은 사용자가 광 검출 디바이스(10)의 핸들 부분(18)을 파지하는 경우에 사용자의 손의 하나 이상의 손가락들을 수용하도록 구성된다. 손가락 수용 영역(28)은 사용자의 손가락이 도어(30)의 액추에이터 부분(32)을 체결하고 액추에이터 부분을 체결하여 폐쇄 위치(6)와 개방 위치(8) 사이에서 커버 부분(34)을 이동시킬 수 있도록 형상화된다. 하나 이상의 실시예들에서, 액추에이터 부분(32)이 체결되어 도어(30)가 개방 위치(8)로 이동되는 경우에, 손가락 수용 영역(28)은 사용자의 손가락을 수용하여 손가락이 하우징(12)의 후방 표면(15)의 리세스된 부분(17)에 대항하여 액추에이터 부분을 유지하게 한다. 하나 이상의 실시예들에서, 손가락 수용 영역(28)은, 액추에이터 부분이 체결되고, 도 6에 도시된 바와 같이 도어(30)가 개방 위치(8)에 있는 경우에, 액추에이터 부분(32)의 형상과 상보적인 형상을 취한다.
광 검출 디바이스(10)는 디바이스의 하우징(12) 내부에 배치된 샘플의 하나 이상의 특성들을 측정하기 위해 임의의 적합한 방식으로 활용될 수 있다. 예를 들어, 도 8 및 도 9는 디바이스(10)를 활용하기 위한 하나의 기술을 도시한다. 도시된 바와 같이, 디바이스(10)의 핸들 부분(18)을 파지하고 있는 사용자의 손(50)이 도 8에 도시된다. 손(50)은 도어(30)의 액추에이터 부분(32)을 체결하여 폐쇄 위치(6)(도 8)와 개방 위치(8)(도 9) 사이에서 도어를 이동시킬 수 있다. 개방 위치(8)에 있는 경우에, 커버 부분(34)은 포트(20)를 개방하여 포트에 대한 외부 접근을 허용한다. 하나 이상의 실시예들에서, 사용자는 하우징(12)의 핸들 부분(18)을 파지하고 있는 손(50)의 손가락 또는 엄지(54)를 이용하여 액추에이터 부분을 가압함으로써 도어(30)의 액추에이터 부분(32)을 체결할 수 있다. 액추에이터 부분(32)을 체결하는 것은 회전축(5)을 중심으로 하여 개방 위치(8)로 도어(30)를 회전하게 할 수 있다. 폐쇄 위치(6)로 도어(30)가 바이어싱되는 하나 이상의 실시예들에서, 도어(30)의 액추에이터 부분(32)을 가압하면 도어가 개방되는데, 즉 도어가 개방 위치(8)에 배치된다.
도 9에 도시된 바와 같이, 도어(30)가 개방 위치(8)에 있는 경우에 샘플 또는 샘플링 장치는 포트(20)를 통해 하우징(12) 내부에 배치될 수 있는데, 예컨대, 하우징 내부에 배치된 리셉터클 내로 배치될 수 있다. 샘플이 하우징(12) 내부에 배치되는 동안, 사용자의 손(50)의 손가락 또는 엄지(54)는 도어(30)의 액추에이터 부분(32) 상에 힘을 유지하여 도어를 개방 위치(8)에 지속시킬 수 있다.
하나 이상의 실시예들에서, 래치(도시되지 않음)가 하우징(12)에 부착될 수 있다. 래치는 도어(30)를 개방 위치(8)에 유지하여서 폐쇄 위치(6)로 도어가 복귀하는 것 없이 사용자의 손가락이 액추에이터 부분으로부터 체결해제될 수 있게 구성될 수 있다. 임의의 적합한 래치가 활용될 수 있다. 래치가 포함되는 실시예들에서, 하우징(12)의 내부를 향하는 방향으로 액추에이터 부분에 힘을 인가하여 도어의 액추에이터 부분(32)을 체결하고, 이에 의해 도어를 래치로부터 해제함으로써 도어(30)가 개방 위치(8)로부터 폐쇄 위치(6)로 이동될 수 있다. 일단 래치가 해제되면, 사용자가 액추에이터 부분(32)에 인가되는 힘을 줄이는 경우에 도어(30)의 바이어싱은 폐쇄 위치(6)로 도어를 복귀시킬 것이다. 하나 이상의 실시예들에서, 사용자는 액추에이터 부분(32)을 해제함으로써 개방 위치(8)로부터 폐쇄 위치(6)로 도어(30)를 이동시켜 도어의 바이어싱이 폐쇄 위치(6)로 도어를 복귀시키고 도어의 커버 부분(34)이 하우징(12)의 포트(20)를 폐쇄하게 할 수 있다.
하나 이상의 실시예들에서, 디바이스(10)는 샘플이 하우징 내부에 배치되고 도어가 폐쇄 위치(6)에 있는 경우에 하우징 내부에 배치된 회로를 활성화하는 스위치를 포함할 수 있다. 회로는 임의의 적합한 기술 또는 기술들의 조합을 사용하여 스위치에 의해 활성화될 수 있다. 개방 위치(8)로부터 폐쇄 위치(6)로 도어(30)가 이동된 후에 샘플의 하나 이상의 특성들이 측정될 수 있다. 샘플의 임의의 적합한 특성 또는 특성들, 예컨대 샘플에 의해 방출되는 광의 세기가 측정될 수 있다.
하나 이상의 실시예들에서, 검출 디바이스(10)는 또한 하나 이상의 실시예들에서 검출 디바이스(10)의 경사각을 측정할 수 있는 경사 검출 컴포넌트(도시되지 않음)를 포함할 수 있다. 경사 검출 컴포넌트는 디바이스(10)가 적합한 경사각 내에 위치되는 경우 및/또는 디바이스가 부적합한 경사각으로 위치되는 경우에 사용자에게 피드백을 제공할 수 있다. 그러한 피드백은 임의의 적합한 기술 또는 기술들의 조합을 사용하여 사용자에게 제공될 수 있으며, 예컨대, 피드백은 디스플레이(24) 상의 판독물(readout)로서 제공될 수 있거나 또는 디바이스(10)가 사용자에게 햅틱 피드백을 제공하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 샘플에 의해 방출된 광의 검출 동안, 기구가 올바른 경사각으로 유지되지 않는 경우 및/또는 기구가 올바른 경사각으로 유지되어 있는 경우에 디스플레이(24) 상의 온스크린 메시지에 의해 사용자에게 경고할 수 있거나, 디바이스(10)가 햅틱 피드백을 제공할 수 있다. 온스크린 안내(instructions)가 사용자에게 제공되어 디바이스(10)가 올바른 경사각 내에 위치되도록 디바이스를 재배향하게 할 수 있다. 경사 검출 컴포넌트는 임의의 적합한 경사각 또는 경사각들의 범위를 사용자에게 나타내는데 활용될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 바람직한 경사각은 예컨대 하우징 내부에 배치된 샘플의 양 및 하우징 내의 검출기의 광학 속성들 및 구성들에 의해 결정될 수 있다. 일반적으로, 경사각은 하우징 내부에 배치된 샘플의 하나 이상의 특성들의 가장 정확한 검출을 제공하도록 선택될 수 있다.
경사 검출 컴포넌트는 수직축에 대한 디바이스(10)의 배향을 결정할 수 있는 임의의 적합한 회로 또는 요소들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 하나 이상의 실시예들에서, 경사각은 디바이스(10)의 하우징(12) 내부 또는 하우징(10)의 외부 중 어느 하나에 배치되고, 무선으로, 또는 유선 결합을 통해 경사 센서에 결합되는 마이크로프로세서에 의해 샘플링되는 경사 센서에 의해 측정될 수 있다. 경사 센서에 의해 제공되는 데이터는 샘플의 분석 이전 또는 도중에 디바이스(10)의 경사각의 안정적 근사치를 산출하기 위해 평균화 또는 정규화될 수 있다. 경사 검출 컴포넌트는 임의의 적합한 정확도를 가지도록 교정될 수 있다. 예를 들어, 하나 이상의 실시예들에서, 경사 검출 컴포넌트는 예컨대, 20% 경사각 측정 정확도를 제공하도록 교정될 수 있다.
교정된 3M 클린-트레이스™ 엔지 루미노미터(Clean-Trace™ NG Luminometer)(미네소타주 세인트 폴 소재의 3M 컴퍼니로부터 상업적으로 구매가능함)를 사용하여 몇몇 상이한 샘플링 장치들 내에 배치된 몇몇 생체 발광 샘플들에 의해 방출된 광을 상대적 발광 단위(RLU)로 측정하였다. 루미노미터는 테스트 동안 경사각들의 안정도 및 재현성을 위해 홀더에 고정하였다. 다음의 경사각들을 측정하였다: 0도(수직), 45도(디스플레이 콘트라스트를 최대화하기 위해 일반적으로 사용자들에 의해 관찰되는 시야각), 및 90도(작업 표면 상에 수평으로 놓인 루미노미터를 시뮬레이션함). 이들 3개 상태들을 2회 반복하고 수직으로 복귀하였다. 시간적 변동 및 분석 감쇠를 평균화하기 위해 복수의 RLU 판독값들을 각각의 각도 상태에서 자동으로 획득하였다. 루미노미터는 샘플 간격을 20초로 하여 RLU 데이터 로깅 프로그램을 실행하는 컴퓨터에 의해 제어하였다.
도 18은 측정된 다양한 경사각들에 대한 RLU들을 도시하는 시간 대비 RLU들의 그래프이다. 45도 경사각은 일반적으로 RLU 판독값을 10% 감소시켰다. 90도 경사각은 일반적으로 RLU 판독값을 25% 감소시켰다.
임의의 특정 이론에 구속되기를 바라지는 않지만, 적합한 각도로 유지되지 않는 기구를 이용하여 샘플을 측정하는 것은, 측정되는 샘플이 일반적으로 샘플링 장치의 큐벳 부분 - 여기서 샘플은 상당한 메니스커스(meniscus)를 가질 수 있음 - 내에 배치된 작은 체적(1 mL 미만)의 액체 샘플일 수 있기 때문에 실제 값과 비교하여 20%보다 큰 측정 값 차이를 발생시킬 수 있다. 디바이스가 부적합한 각도로 유지되는 경우에, 샘플의 적어도 일부분은 광을 검출기로 지향시키는 시스템의 검출 디바이스의 광 캐비티의 외부에 배치될 수 있고, 그에 의해 광을 광 캐비티 내로 방출할 수 있는 샘플의 체적을 감소시키고 따라서, 잠재적으로 잘못된 신호를 발생시킬 수 있다. 따라서 이러한 경사는 분석되는 샘플의 광도(radiance)에 영향을 줄 수 있다.
하나 이상의 실시예들에서, 경사 검출 컴포넌트는 또한 고객 사용 행위 및 오용(abuse) 이벤트들을 측정하는데 활용될 수 있는데, 이는 원하는 서비스 주기를 예측하거나 교육 및 가이드를 제공하는데 유용할 수 있다. 또한, 경사 검출 컴포넌트의 하나 이상의 실시예들은 측정된 경사각에 기초하여 RLU 데이터의 실시간 수학적 정규화를 제공할 수 있다. 이 알고리즘은 실제 경사각 한계들로 제한될 수 있다. 예를 들어, 90도 보다 더 큰 측정된 각도들은 즉각적인 경고를 프롬프트하고 정규화 알고리즘을 억제한다. 하나 이상의 실시예들에서, 사용자에게 경사각에 대한 피드백을 제공하는 것은 사용자가 다수의 샘플들에 걸쳐 동일한 경사각을 유지하게 하여, 샘플마다 그리고 샘플링 기간마다 보다 일관된 판독을 가능하게 할 수 있다.
임의의 적합한 기술 또는 기술들의 조합이 광 검출 디바이스(10)를 원하는 경사각을 갖는 위치에 유지하기 위해 활용될 수 있다. 예를 들어, 하나 이상의 실시예들에서, 디바이스가 원하는 경사각에서 작업 표면 상에 배치될 수 있도록 지지 부재 또는 부재들이 디바이스의 하우징에 연결될 수 있다.
예를 들어, 도 10 내지 도 14는 광 검출 디바이스(110)의 일 실시예의 다양한 도면들이다. 도 1 내지 도 9의 광 검출 디바이스(10)에 관한 모든 설계 고려 사항들 및 가능성들이 도 10 내지 도 14의 광 검출 디바이스(110)에 동일하게 적용한다. 광 검출 디바이스(110)는 상부 표면(114)과 하부 표면(116) 사이에서 하우징 축(104)을 따라 연장되는 하우징(112)을 포함한다. 하우징(112)은 또한 상부 표면(114)과 하부 표면(116) 사이에서 연장되는 전방 표면(113) 및 상부 표면과 하부 표면 사이에서 또한 연장되는 후방 표면(115)을 포함한다.
도 1 내지 도 9의 광 검출 디바이스(110)와 디바이스(10) 사이의 하나의 차이는 디바이스(110)가 지지 부재(160)를 포함한다는 것이다. 지지 부재(160)는 임의의 적합한 위치에서 그리고 임의의 적합한 기술 또는 기술들의 조합을 사용하여 하우징(112)에 연결될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재(160)는 하우징(112)과 일체이다. 하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재(160)는 하우징(112)에 부착되고, 하우징 또는 지지 부재 중 어느 것도 손상시키지 않고 하우징으로부터 제거될 수 있다.
도 10 내지 도 14에 도시된 실시예에서, 지지 부재(160)는 하부 표면(116)에 인접한 하우징(112)에 연결된다. 본 명세서에 사용된 바와 같이, "하부 표면에 인접한"이라는 어구는 지지 부재(160)가 상부 표면(114)보다 하부 표면(116)에 더 가깝게 하우징(112)에 연결되는 것을 의미한다. 지지 부재(160)는 임의의 적합한 기술 또는 기술들의 조합을 사용하여 하우징(112)에 연결될 수 있다. 예를 들어, 도 13은 하우징(112)의 하부 표면(116)의 개략적인 사시도이다. 도시된 실시예에서 지지 부재(160)는 힌지(170)를 통해 하부 표면(116)에 부착된다. 힌지(170)는 임의의 적합한 힌지를 포함할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 힌지(170)는 리빙(living) 힌지일 수 있다. 또한, 하나 이상의 실시예들에서, 힌지(170)는 힌지에 형성된 하나 이상의 노치들(173)과 체결되는, 하우징(112)의 하부 표면(116)에 형성된 치형부(171)를 포함하는 래칫형 힌지일 수 있다. 래칫형 힌지(170)는 지지 부재(160)를 위치시키는 것의 조정을 허용하도록 구성될 수 있다.
하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재(160)는 폐쇄 위치(106)로부터 개방 위치(108)로 선택적으로 이동하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 도 13에서, 지지 부재(160)는 폐쇄 위치(106)에 있는데, 즉 제2 주 표면(164)(도 14에 도시됨)이 하우징(112)의 하부 표면(116)을 향한다. 도 14에서, 지지 부재(160)는 개방 위치(108)에 배치되는데, 즉 지지 부재의 제2 주 표면(164)이 하우징(112)의 하부 표면(116)을 향하지 않는다. 하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재(160)는 개방 위치(108)에 고정될 수 있고, 폐쇄 위치(106)로 이동가능하지 않다.
지지 부재(160)는, 도 12에 도시된 바와 같이, 하부 표면(116) 및 지지 부재가 작업 표면(102)과 접촉하고 지지 부재가 개방 위치(108)에 있는 경우에 광 검출 디바이스(110)를 직립 위치에 유지하도록 구성될 수 있다. 본 명세서에 사용된 바와 같이, "직립 위치"라는 어구는, 사용자의 관점에서 볼 때 상부 표면(114)이 하부 표면(116) 위에 있도록 광 검출 디바이스(10)가 배치되고, 하우징 축(104)이 수직축에 대해 90°보다 작은 각도를 형성한다는 것을 의미한다. 하나 이상의 실시예들에서, 하우징 축(104)은 광 검출 디바이스(110)가 직립 위치에 있고 작업 표면(102)과 접촉하는 경우에 작업 표면(102)과 임의의 적합한 각도를 형성한다. 개방 위치(108)에 있는 경우에, 지지 부재(160)의 제2 주 표면(164)의 적어도 일부분은 도 12에 도시된 바와 같이 작업 표면(102)과 접촉하도록 구성된다. 또한, 임의의 적합한 각도(101)가 하우징 축(104)과 수직축(103) 사이에 형성될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 각도(101)는 0°, 적어도 0°, 90° 이하, 45° 이하, 30° 이하, 15° 이하일 수 있다.
하나 이상의 실시예들에서, 하부 표면(116)은 하우징 축(104)에 대체로 수직하도록 구성될 수 있다. 이러한 실시예들에서, 하부 표면(116)이 작업 표면과 평평하고 디바이스가 수직 위치에 있도록, 즉 하우징 축(104)이 수직축(103)에 평행하도록 디바이스(110)가 작업 표면(102) 상에 놓일 수 있다.
도 13에 도시된 바와 같이, 하부 표면(116)은 지지 부재(160)가 폐쇄 위치(106)에 있는 경우에 지지 부재를 수용하도록 구성되는 리세스된 부분(117)을 포함할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재(160)가 리세스된 부분(117) 내부에 배치되고 따라서 폐쇄 위치(106)에 배치된 경우에 지지 부재는 하부 표면(116)과 동일 평면에 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 하우징(112)의 하부 표면(116)의 리세스된 부분(117)은 지지 부재가 폐쇄 위치(106)에 있는 경우에 스냅 끼워맞춤 관계로 지지 부재(160)와 체결되도록 구성된다. 지지 부재(160)는 지지 부재가 전방 및 후방 표면(113, 115) 모두에 형성된 리세스된 부분에 의해 수용될 수 있도록 임의의 적합한 힌지를 사용하여 하부 표면(160)에 부착될 수 있다.
하부 표면(116)은 또한, 지지 부재(160)가 폐쇄 위치(106)(도 13)에 있는 경우에 하부 표면(116)과 동일 평면이 될 수 있게 힌지(170)를 수용하도록 구성되는 제2 리세스된 부분(172)을 포함할 수 있다. 힌지(170)는 제2 리세스된 부분(172) 내에 배치될 수 있다. 제2 리세스된 부분(172)은 또한 지지 부재가 개방 위치(108)(도 14)에 있는 경우에 지지 부재(160)와 체결되도록 구성되는 렛지(174)를 포함할 수 있다. 렛지(174)는 지지 부재(160)가 과도하게 회전하여 제1 주 표면(162)이 하우징(112)의 후방 표면(115)과 접촉하는 것을 방지할 수 있다.
사용자는 지지 부재(160)가 폐쇄 위치(106)에 있는 경우에 지지 부재의 일부분을 체결하고, 지지 부재가 리세스된 부분(172)의 렛지(174)와 체결될 때까지 힌지(170)를 중심으로 지지 부재를 회전시킴으로써 폐쇄 위치로부터 개방 위치(108)로 지지 부재를 이동시킴으로써 지지 부재를 체결할 수 있다. 힌지(170)가 래칫형 힌지인 실시예들에서, 사용자는 폐쇄 위치(106)로부터 개방 위치(108)로 지지 부재(160)를 회전시켜 지지 부재의 제1 주 표면(162)과 하우징 축(104) 사이에 선택된 각도를 달성할 수 있다. 일단 원하는 각도가 선택되면, 사용자는 디바이스(110)를 작동시키면서 디바이스가 하우징 축(104)과 수직축(103) 사이의 선택된 각도(101)에서 직립 위치에 놓이도록 디바이스를 손 안에 유지하거나 또는 작업 표면(102) 상에 디바이스를 놓거나 할 수 있다. 원한다면, 하나 이상의 실시예들에서, 사용자는 디바이스(110)를 파지하고 작업 표면(102)으로부터 들어 올려서 지지 부재(160)의 제1 주 표면(162)과 하우징 축(104) 사이의 각도를 조절할 수 있고, 이어서 하우징 축(104)과 수직축(103) 사이의 선택된 제2 각도로 작업 표면 상에 디바이스를 배치할 수 있다.
하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재(160)는 탭 또는 다른 간섭 특징을 사용하여 폐쇄 위치(106)에 유지될 수 있다. 이어서, 지지 부재(160)는 폐쇄 위치(106)로부터 해제되어 개방 위치(108)로 수동으로 이동되거나, 이동 탭 또는 간섭 특징부를 진로상으로부터 이동시키는 버튼 또는 스위치를 사용하여 이동될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재(160)는 스프링 메커니즘의 도움으로 폐쇄 위치(106)로부터 개방 위치(108)로 이동할 수 있다.
본 명세서에 언급된 바와 같이, 지지 부재(160)는 임의의 적합한 위치에서 광 검출 디바이스(110)의 하우징(112)에 연결될 수 있다. 예를 들어, 도 15 내지 도 17은 광 검출 디바이스(210)의 다른 실시예의 다양한 도면들이다. 도 1 내지 도 9의 광 검출 디바이스(10) 및 도 10 내지 도 14의 광 검출 디바이스(110) 에 관한 모든 설계 고려 사항들 및 가능성들이 도 15 내지 도 17의 광 검출 디바이스(210)에 동일하게 적용된다. 디바이스(210)는 상부 표면(214)과 하부 표면(216) 사이에서 하우징 축(204)을 따라 연장되는 하우징(212)을 포함한다. 디바이스(210)는 또한 하우징(212)에 연결되고 폐쇄 위치(206)(도 15 및 도 16에 도시된 바와 같음)와 개방 위치(208)(도 17에 도시된 바와 같음) 사이에서 선택적으로 이동되도록 구성되는 지지 부재(260)를 포함한다. 지지 부재(260)는 또한 하부 표면(216) 및 지지 부재(260)가 작업 표면(202)과 접촉하고 지지 부재가 개방 위치(208)에 있는 경우에(도 17), 광 검출 디바이스(210)를 직립 위치에 유지하도록 구성된다. 하우징 축(204)은 하부 표면(216) 및 지지 부재(260)가 작업 표면(202)과 접촉하고 지지 부재가 개방 위치(208)에 있는 경우에, 수직축(203)과 임의의 적합한 각도(201)를 형성할 수 있다.
도 10 내지 도 14의 디바이스(110)와 도 15 내지 도 17의 디바이스(210) 사이의 하나의 차이는 지지 부재(260)가 하부 표면(216)이 아닌 하우징(212)의 후방 표면(215)에 부착된다는 것이다. 하나 이상의 실시예들에서, 도 15 및 도 16에 도시된 바와 같이, 지지 부재(260)는 지지 부재가 폐쇄 위치(206)에 있는 경우에 하우징의 후방 표면(215)과 접촉될 수 있다. 폐쇄 위치(206)에서, 지지 부재(260)의 제1 주 표면(262)은 하우징(212)으로부터 멀어지는 방향을 향할 수 있고, 제2 주 표면(264)은 하우징을 향할 수 있다. 후방 표면(215)은 지지 부재(260)가 폐쇄 위치(206)에 있는 경우에(도 16 참조) 지지 부재를 수용하도록 구성되는 리세스된 부분(도시되지 않음)을 포함할 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재(260)는 사용자가 다양한 배향들로 디바이스를 유지할 때 지지 부재가 폐쇄 위치(206)에 머무를 수 있도록 리세스된 부분 내로 스냅 끼워맞춤될 수 있다. 예를 들어, 지지 부재(260)는 디바이스가 수평 배향에 있는 경우에, 즉 하우징 축(204)이 수평 축에 실질적으로 평행한 경우에 지지 부재가 폐쇄 위치(206)에 머무를 수 있도록 리세스된 부분 내에 스냅 끼워맞춤될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재(260)는 지지 부재가 폐쇄 위치(206)에 있는 경우에 후방 표면(215)과 동일 평면에 있을 수 있다.
지지 부재(260)는 임의의 적합한 기술 또는 기술들의 조합을 사용하여 하우징(212)에 연결될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재(260)는 임의의 적합한 힌지를 이용하여 하우징에 부착될 수 있다. 힌지는 또한 래칫형 힌지, 예컨대, 도 13 및 도 14의 래칫형 힌지(170)를 포함할 수 있다.
사용자는 지지 부재(260)의 일부분을 파지하고 지지 부재의 제1 주 표면(262)과 하우징 축(204) 사이에 원하는 각도가 형성될 때까지 힌지를 중심으로 지지 부재를 회전시킴으로써 폐쇄 위치(206)로부터 개방 위치(208)로 지지 부재를 이동시킬 수 있다. 사용자는 디바이스의 하부 표면(216) 및 지지 부재가 작업 표면과 접촉할 때 지지 부재(260)가 디바이스를 직립 위치에 유지하도록 작업 표면(202) 상에 광 검출 유닛(210)을 배치할 수 있다. 임의의 적합한 각도(201)가 하우징 축(204)과 수직축(203) 사이에 형성될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재(260)는 디바이스가 작업 표면(202) 상에 놓여 있는 경우에 광 검출 디바이스(210)를 안정화할 수 있다.
하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재(260)는 탭 또는 다른 간섭 특징을 사용하여 폐쇄 위치(206)에 유지될 수 있다. 이어서, 지지 부재(260)는 폐쇄 위치(206)로부터 개방 위치(208)로 수동으로 해제되거나 또는 탭 또는 간섭 특징을 진로상으로부터 이동시키는 버튼 또는 스위치를 사용하여 해제될 수 있다. 하나 이상의 실시예들에서, 지지 부재(260)는 스프링 메커니즘의 도움으로 폐쇄 위치(206)로부터 개방 위치(208)로 이동할 수 있다.
본 명세서에 인용된 모든 참고 문헌 및 간행물은, 그것들이 본 발명과 직접적으로 모순될 수 있는 경우를 제외하고는, 명백히 본 발명에 전체적으로 본 명세서에 참고로 포함된다. 본 발명의 예시적인 실시예들이 논의되며, 본 발명의 범주 내의 가능한 변형들에 대해 언급이 되었다. 본 발명에 있어서의 이들 및 다른 변형들 및 변경들이 본 발명의 범주로부터 벗어남이 없이 당업자에게 명백할 것이고, 본 발명은 본 명세서에 기재된 예시적인 실시예들로 제한되지 않는다는 것을 이해하여야 한다. 그런 이유로, 본 발명은 이하에 제공되는 청구범위에 의해서만 제한되어야 한다.
Claims (24)
- 광 검출 디바이스로서,
상부 표면과 하부 표면을 포함하는 하우징 - 상기 하우징은 상기 상부 표면과 상기 하부 표면 사이의 하우징 축을 따라 연장됨 -;
상기 하우징에 연결되고 폐쇄 위치와 개방 위치 사이에서 선택적으로 이동되도록 구성되는 지지 부재 - 상기 지지 부재는 상기 하부 표면과 상기 지지 부재가 작업 표면과 접촉하고 상기 지지 부재가 상기 개방 위치에 있는 경우에 상기 광 검출 디바이스를 직립 위치에 유지하도록 더 구성되고, 상기 하우징 축은 상기 하부 표면과 상기 지지 부재가 상기 작업 표면과 접촉하고 상기 지지 부재가 상기 개방 위치에 있는 경우에 수직축에 대해 적어도 0도 내지 45도 이하의 각도를 형성하고, 지지 부재는 상기 하우징 축과 상기 수직축 사이에 형성된 각도가 조절가능하도록 구성됨 -; 및
상기 하우징 내부에 배치된 광 검출기
를 포함하는, 광 검출 디바이스. - 제1항에 있어서, 상기 하부 표면은 상기 지지 부재가 상기 폐쇄 위치에 있는 경우에 상기 지지 부재를 수용하도록 구성되는 리세스된 부분을 포함하고, 상기 지지 부재는 상기 폐쇄 위치에 있는 경우에 상기 광 검출 디바이스의 상기 하부 표면과 동일 평면에 있고, 상기 하우징의 상기 하부 표면의 상기 리세스된 부분은 상기 지지 부재가 상기 폐쇄 위치에 있는 경우에 스냅 끼워맞춤 관계로 상기 지지 부재와 체결되도록 구성되는, 광 검출 디바이스.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 지지 부재는 힌지에 의해 상기 하우징에 연결되고, 상기 힌지는 상기 하우징의 상기 하부 표면에 형성된 제2 리세스된 부분 내에 배치되며, 상기 제2 리세스된 부분은 상기 지지 부재가 상기 개방 위치에 있는 경우에 상기 지지 부재와 체결되도록 구성되는 렛지(ledge)를 포함하는, 광 검출 디바이스.
- 제1항에 따른 광 검출 디바이스의 하우징에 부착되는 상기 광 검출 디바이스의 지지 부재를 폐쇄 위치로부터 개방 위치로 이동시키기 위해 상기 광 검출 디바이스의 상기 지지 부재를 체결하는 단계 - 상기 하우징은 상기 하우징의 상부 표면과 하부 표면 사이의 하우징 축을 따라 연장됨 -; 및
작업 표면 상에 상기 광 검출 디바이스를 배치하는 단계를 포함하며, 상기 지지 부재는 상기 하우징의 상기 하부 표면 및 상기 지지 부재가 상기 작업 표면과 접촉하고 상기 지지 부재가 상기 개방 위치에 있는 경우에 상기 광 검출 디바이스를 직립 위치에 유지하도록 구성되며, 상기 하부 표면 및 상기 지지 부재가 상기 작업 표면과 접촉하고 상기 지지 부재가 상기 개방 위치에 있는 경우에, 상기 하우징 축은 수직축에 대해 적어도 0도 내지 45도 이하의 각도를 형성하는, 방법. - 광 검출 디바이스로서,
상부 표면과 하부 표면을 포함하는 하우징 - 상기 하우징은 상기 상부 표면과 상기 하부 표면 사이의 하우징 축을 따라 연장됨 -;
상기 하우징 내부에 배치되고, 상기 하우징 내부에 배치된 샘플에 의해 방출된 광을 검출하도록 구성되는 검출기;
상기 하우징에 연결되고 폐쇄 위치와 개방 위치 사이에서 선택적으로 이동되도록 구성되는 지지 부재 - 상기 지지 부재는 상기 하부 표면과 상기 지지 부재가 작업 표면과 접촉하고 상기 지지 부재가 상기 개방 위치에 있는 경우에 상기 광 검출 디바이스를 직립 위치에 유지하도록 더 구성되고, 상기 하우징 축은 상기 하부 표면과 상기 지지 부재가 상기 작업 표면과 접촉하고 상기 지지 부재가 상기 개방 위치에 있는 경우에 수직축에 대해 적어도 0도 내지 45도 이하의 각도를 형성하고, 지지 부재는 상기 하우징 축과 상기 수직축 사이에 형성된 각도가 조절가능하도록 구성됨 -; 및
상기 광 검출 디바이스의 경사각을 결정하도록 구성되는 경사 검출 컴포넌트를 포함하며, 상기 경사각은 상기 하우징 축과 수직축 사이에 형성된 각도를 포함하는, 광 검출 디바이스. - 삭제
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