KR102597382B1 - Substrate processing apparatus - Google Patents
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Abstract
[과제] 처리 하우징의 기체를 적절하게 배기할 수 있는 기판 처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
[해결 수단] 기판 처리 장치(1)는, 처리 하우징(23A1)과 유지부(31)와 액 공급부(33)를 구비한다. 유지부(31)는, 처리 하우징(23A1)에 수용된다. 유지부(31)는, 기판(W)을 유지한다. 액 공급부(33)는, 처리 하우징(23A1)에 수용된다. 액 공급부(33)는, 유지부(31)에 유지되는 기판(W)에 처리액을 공급한다. 기판 처리 장치(1)는, 배기관(41A, 42A)을 구비한다. 배기관(41A, 42A)은 각각, 처리 하우징(23A1)의 측방에 배치된다. 배기관(41A, 42A)은 각각, 기체를 배출한다. 기판 처리 장치(1)는, 전환 기구(51A1)를 구비한다. 전환 기구(51A1)는, 처리 하우징(23A1)과 같은 높이 위치에 배치된다. 전환 기구(51A1)는, 처리 하우징(23A1)의 배기로를 배기관(41A, 42A) 중 하나로 전환한다.[Problem] The purpose is to provide a substrate processing device that can properly exhaust gas from the processing housing.
[Solution] The substrate processing apparatus 1 includes a processing housing 23A1, a holding portion 31, and a liquid supply portion 33. The holding portion 31 is accommodated in the processing housing 23A1. The holding portion 31 holds the substrate W. The liquid supply unit 33 is accommodated in the processing housing 23A1. The liquid supply unit 33 supplies processing liquid to the substrate W held by the holding unit 31 . The substrate processing apparatus 1 is provided with exhaust pipes 41A and 42A. The exhaust pipes 41A and 42A are respectively disposed on the side of the processing housing 23A1. Exhaust pipes 41A and 42A each exhaust gas. The substrate processing apparatus 1 is provided with a switching mechanism 51A1. The switching mechanism 51A1 is disposed at the same height as the processing housing 23A1. The switching mechanism 51A1 switches the exhaust path of the processing housing 23A1 to one of the exhaust pipes 41A and 42A.
Description
본 발명은, 기판에 처리를 행하는 기판 처리 장치에 관한 것이다. 기판은, 예를 들면, 반도체 웨이퍼, 액정 디스플레이용 기판, 유기 EL(Electroluminescence)용 기판, FPD(Flat Panel Display)용 기판, 광디스플레이용 기판, 자기 디스크용 기판, 광디스크용 기판, 광자기 디스크용 기판, 포토마스크용 기판, 태양 전지용 기판이다.The present invention relates to a substrate processing apparatus that processes a substrate. Substrates include, for example, semiconductor wafers, liquid crystal display substrates, organic EL (electroluminescence) substrates, FPD (Flat Panel Display) substrates, optical display substrates, magnetic disk substrates, optical disk substrates, and magneto-optical disk substrates. These are substrates, photomask substrates, and solar cell substrates.
일본국 특허공개 2019-16818호 공보는, 기판 처리 시스템을 개시한다. 이하에서는, 일본국 특허공개 2019-16818호 공보에 기재되는 부호를, 괄호로 표기한다. 기판 처리 시스템(1)은, 웨이퍼(W)를 처리하는 처리 유닛(16)을 구비한다. 처리 유닛(16)은, 챔버(20)와 기판 유지 기구(30)와 처리 유체 공급부(40)를 구비한다. 챔버(20)는, 처리 하우징이다. 기판 유지 기구(30)와 처리 유체 공급부(40)는, 챔버(20)의 내부에 설치된다. 기판 유지 기구(30)는, 웨이퍼(W)를 유지한다. 처리 유체 공급부(40)는, 기판 유지 기구(30)에 유지된 웨이퍼(W)에 처리 유체를 공급한다. 처리 유체는, 예를 들면, 알칼리성 처리액과 산성 처리액과 유기 처리액이다.Japanese Patent Publication No. 2019-16818 discloses a substrate processing system. Hereinafter, symbols described in Japanese Patent Laid-Open No. 2019-16818 are indicated in parentheses. The
기판 처리 시스템(1)은, 제2 배기관(200)과 배기 전환 유닛(300)과 3개의 개별 배기관(101, 102, 103)을 구비한다. 제2 배기관(200)은, 챔버(20)와 배기 전환 유닛(300)을 접속한다. 제2 배기관(200)은, 수평부(201)와 상승부(202)를 구비한다. 수평부(201)는, 챔버(20)에 접속된다. 수평부(201)는, 챔버(20)로부터 수평으로 연장된다. 상승부(202)는, 수평부(201)로부터 상방으로 연장된다. 상승부(202)는, 상단을 갖는다. 상승부(202)의 상단은, 배기 전환 유닛(300)에 접속된다. 배기 전환 유닛(300)은, 또한, 3개의 개별 배기관(101, 102, 103)과 접속한다. 배기 전환 유닛(300)은, 제2 배기관(200)을, 3개의 개별 배기관(101, 102, 103) 중 하나에 연통시킨다. 챔버(20)의 기체는, 제2 배기관(200)을 통하여, 3개의 개별 배기관(101, 102, 103) 중 하나에 유입된다.The
예를 들면, 처리 유체 공급부(40)가 알칼리성 처리액을 공급할 때, 배기 전환 유닛(300)은, 제2 배기관(200)을 개별 배기관(101)에 연통시킨다. 처리 유체 공급부(40)가 산성 처리액을 공급할 때, 배기 전환 유닛(300)은, 제2 배기관(200)을 개별 배기관(102)에 연통시킨다. 처리 유체 공급부(40)가 유기 처리액을 공급할 때, 배기 전환 유닛(300)은, 제2 배기관(200)을 개별 배기관(103)에 연통시킨다. 이들의 결과, 알칼리성 처리액이 챔버(20) 내에서 사용될 때, 개별 배기관(101)이 챔버(20)의 기체를 배출한다. 산성 처리액이 챔버(20) 내에서 사용될 때, 개별 배기관(102)이 챔버(20)의 기체를 배출한다. 유기 처리액이 챔버(20) 내에서 사용될 때, 개별 배기관(103)이 챔버(20)의 기체를 배출한다.For example, when the processing fluid supply unit 40 supplies alkaline processing liquid, the exhaust switching unit 300 communicates the second exhaust pipe 200 with the
배기 전환 유닛(300)은, 처리 유닛(16)보다 높은 위치에 배치된다. 제2 배기관(200)의 상승부(202)는 처리 유닛(16)보다 높은 위치까지 연장된다. 이 때문에, 기체에 포함되는 미스트는, 상승부(202)를 상승하기 어렵다. 미스트는, 배기 전환 유닛(300)까지 상승하기 어렵다. 따라서, 배기 전환 유닛(300)을 미스트로부터 보호할 수 있다.The exhaust conversion unit 300 is disposed at a higher position than the treatment unit 16. The rise 202 of the second exhaust pipe 200 extends to a position higher than the processing unit 16. For this reason, it is difficult for the mist contained in the gas to ascend the rising portion 202. It is difficult for the mist to rise up to the exhaust switching unit 300. Accordingly, the exhaust switching unit 300 can be protected from mist.
상술한 바와 같이, 배기 전환 유닛(300)이 처리 유닛(16)보다 높은 위치에 배치된다. 이 때문에, 개별 배기관(101, 102, 103)도, 처리 유닛(16)보다 높은 위치에 배치된다.As mentioned above, the exhaust conversion unit 300 is located at a higher position than the treatment unit 16. For this reason, the
그러나, 일본국 특허공개 2019-16818호 공보에 나타나는 도포 현상 장치(1)는, 다음과 같은 문제를 갖는다. 챔버(20)와 배기 전환 유닛(300)은, 제2 배기관(200)에 의하여 접속된다. 배기 전환 유닛(300)이 처리 유닛(16)보다 높은 위치에 배치되므로, 제2 배기관(200)은 상승부(202)를 구비한다. 이 때문에, 제2 배기관(200)은, 비교적 길다.However, the coating and developing
챔버(20)의 기체는, 반드시, 제2 배기관(200)을 흐른다. 예를 들면, 알칼리성 처리액, 산성 처리액 및 유기 처리액 중 어느 것이 챔버(20) 내에서 사용될 때이더라도, 제2 배기관(200)은 챔버(20)의 기체를 배출한다.The gas in the chamber 20 necessarily flows through the second exhaust pipe 200. For example, no matter which of the alkaline treatment liquid, acidic treatment liquid, and organic treatment liquid is used in the chamber 20, the second exhaust pipe 200 exhausts the gas in the chamber 20.
이와 같이, 제2 배기관(200)은 비교적 길고, 또한, 다양한 기체를 배출하므로, 제2 배기관(200)은 오손되기 쉽다. 예를 들면, 결정(염)이 제2 배기관(200)의 내부에서 발생하기 쉽다. 예를 들면, 결정이, 제2 배기관(200)의 내부에 퇴적하기 쉽다.In this way, the second exhaust pipe 200 is relatively long and discharges various gases, so the second exhaust pipe 200 is prone to contamination. For example, crystals (salt) are likely to occur inside the second exhaust pipe 200. For example, crystals are likely to accumulate inside the second exhaust pipe 200.
제2 배기관(200)이 오손되면, 기체는 제2 배기관(200)을 원활하게 흐르지 않는다. 즉, 제2 배기관(200)은 챔버(20)의 기체를 원활하게 배출할 수 없다. 이 때문에, 제2 배기관(200)의 메인터넌스를 정기적으로 행할 필요가 있다. 제2 배기관(200)의 메인터넌스는, 예를 들면, 제2 배기관(200)을 세정하는 것이나, 제2 배기관(200)을 교환하는 것이다.If the second exhaust pipe 200 is dirty, gas does not flow smoothly through the second exhaust pipe 200. That is, the second exhaust pipe 200 cannot smoothly discharge the gas in the chamber 20. For this reason, it is necessary to regularly perform maintenance on the second exhaust pipe 200. Maintenance of the second exhaust pipe 200 includes, for example, cleaning the second exhaust pipe 200 or replacing the second exhaust pipe 200 .
제2 배기관(200)의 메인터넌스를 행할 때, 처리 유닛(16)은 웨이퍼(W)를 처리할 수 없다. 제2 배기관(200)의 메인터넌스를 행할 때, 기판 처리 시스템(1)은 웨이퍼(W)의 처리를 정지한다. 이 때문에, 기판 처리 시스템(1)의 스루풋이 저하된다.When performing maintenance on the second exhaust pipe 200, the processing unit 16 cannot process the wafer W. When performing maintenance on the second exhaust pipe 200, the
본 발명은, 이와 같은 사정을 감안하여 이루어진 것으로서, 처리 하우징의 기체를 적절하게 배기할 수 있는 기판 처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made in consideration of such circumstances, and its purpose is to provide a substrate processing apparatus capable of appropriately exhausting gas from a processing housing.
본 발명은, 이와 같은 목적을 달성하기 위하여, 다음과 같은 구성을 취한다. 즉, 본 발명은, 기판 처리 장치로서, 제1 처리 하우징과, 상기 제1 처리 하우징의 내부에 설치되고, 기판을 유지하는 제1 유지부와, 상기 제1 처리 하우징의 내부에 설치되고, 상기 제1 유지부에 유지되는 기판에 처리액을 공급하는 제1 액 공급부와, 상기 제1 처리 하우징의 측방에 설치되고, 기체를 배출하는 제1 배기관과, 상기 제1 처리 하우징의 측방에 설치되고, 기체를 배출하는 제2 배기관과, 상기 제1 처리 하우징과 같은 높이 위치에 배치되고, 상기 제1 처리 하우징의 배기로를 상기 제1 배기관 및 상기 제2 배기관 중 하나로 전환하는 제1 전환 기구를 구비하는 기판 처리 장치이다.In order to achieve this object, the present invention adopts the following configuration. That is, the present invention is a substrate processing apparatus, comprising a first processing housing, a first holding portion installed inside the first processing housing and holding a substrate, and installed inside the first processing housing, a first liquid supply unit that supplies processing liquid to the substrate held in the first holding unit, a first exhaust pipe installed on a side of the first processing housing and discharging gas, and a first exhaust pipe installed on the side of the first processing housing; , a second exhaust pipe for discharging gas, and a first switching mechanism disposed at the same height as the first processing housing and switching the exhaust path of the first processing housing to one of the first exhaust pipe and the second exhaust pipe. It is a substrate processing device provided.
기판 처리 장치는, 제1 처리 하우징과, 제1 유지부와 제1 액 공급부를 구비한다. 기판 처리 장치는, 제1 처리 하우징의 내부에 있어서, 기판에 처리액을 공급한다. 즉, 기판 처리 장치는, 제1 처리 하우징의 내부에 있어서, 기판에 액 처리를 행한다.A substrate processing apparatus includes a first processing housing, a first holding portion, and a first liquid supply portion. The substrate processing apparatus supplies a processing liquid to the substrate inside the first processing housing. That is, the substrate processing apparatus performs liquid processing on the substrate inside the first processing housing.
기판 처리 장치는, 제1 배기관과 제2 배기관과 제1 전환 기구를 구비한다. 제1 전환 기구는, 제1 처리 하우징의 배기로를 제1 배기관 및 제2 배기관 중 하나로 전환한다. 구체적으로는, 제1 전환 기구는, 제1 처리 하우징을 제1 배기관에 연통시키고, 또한, 제1 처리 하우징을 제2 배기관으로부터 차단한 상태와, 제1 처리 하우징을 제2 배기관에 연통시키고, 또한, 제1 처리 하우징을 제1 배기관으로부터 차단한 상태로 전환한다. 제1 처리 하우징의 배기로가 제1 배기관일 때, 제1 배기관이 제1 처리 하우징으로부터 기체를 배출하고, 제2 배기관은 제1 처리 하우징으로부터 기체를 배출하지 않는다. 제1 처리 하우징의 배기로가 제2 배기관일 때, 제2 배기관이 제1 처리 하우징으로부터 기체를 배출하고, 제2 배기관은 제1 처리 하우징으로부터 기체를 배출하지 않는다.The substrate processing apparatus includes a first exhaust pipe, a second exhaust pipe, and a first switching mechanism. The first switching mechanism switches the exhaust path of the first processing housing to one of the first exhaust pipe and the second exhaust pipe. Specifically, the first switching mechanism causes the first processing housing to communicate with the first exhaust pipe, and the first processing housing is blocked from the second exhaust pipe, and the first processing housing communicates with the second exhaust pipe, Additionally, the first processing housing is switched to a state blocked from the first exhaust pipe. When the exhaust path of the first processing housing is the first exhaust pipe, the first exhaust pipe exhausts gas from the first processing housing, and the second exhaust pipe does not exhaust gas from the first processing housing. When the exhaust path of the first processing housing is the second exhaust pipe, the second exhaust pipe exhausts gas from the first processing housing, and the second exhaust pipe does not exhaust gas from the first processing housing.
제1 전환 기구는, 제1 처리 하우징과 같은 높이 위치에 배치된다. 이 때문에, 제1 처리 하우징과 제1 전환 기구 사이의 유로를 적합하게 짧게 할 수 있다. 따라서, 제1 처리 하우징과 제1 전환 기구 사이의 유로가 오손되는 것을 적합하게 억제할 수 있다. 따라서, 기체는, 제1 처리 하우징으로부터 제1 전환 기구로 원활하게 흐른다. 그 결과, 제1 처리 하우징의 기체를 적절하게 배기할 수 있다.The first switching mechanism is disposed at the same height as the first processing housing. For this reason, the flow path between the first processing housing and the first switching mechanism can be appropriately shortened. Therefore, contamination of the flow path between the first processing housing and the first switching mechanism can be appropriately suppressed. Accordingly, gas flows smoothly from the first processing housing to the first diversion mechanism. As a result, the gas in the first processing housing can be properly exhausted.
제1 배기관은, 제1 처리 하우징의 측방에 배치된다. 이 때문에, 제1 전환 기구는, 제1 배기관과 용이하게 접속할 수 있다. 제2 배기관은, 제1 처리 하우징의 측방에 배치된다. 이 때문에, 제1 전환 기구는, 제2 배기관에 용이하게 접속할 수 있다.The first exhaust pipe is disposed on the side of the first processing housing. For this reason, the first switching mechanism can be easily connected to the first exhaust pipe. The second exhaust pipe is disposed on the side of the first processing housing. For this reason, the first switching mechanism can be easily connected to the second exhaust pipe.
이상과 같이, 본 기판 처리 장치는, 제1 처리 하우징의 기체를 적절하게 배기할 수 있다.As described above, the present substrate processing apparatus can properly exhaust gas from the first processing housing.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 상기 제1 전환 기구는, 상기 제1 유지부의 상단과 동등 또는 그것보다 낮은 위치에 배치되는 것이 바람직하다. 제1 전환 기구의 사이즈는 비교적 작다. 따라서, 기판 처리 장치의 대형화를 적합하게 억제할 수 있다.In the above-mentioned substrate processing apparatus, the first switching mechanism is preferably disposed at a position equal to or lower than the upper end of the first holding portion. The size of the first switching mechanism is relatively small. Therefore, the enlargement of the substrate processing apparatus can be appropriately suppressed.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 상기 제1 전환 기구는, 평면에서 보았을 때, 상기 제1 유지부와 겹치지 않는 위치에 배치되는 것이 바람직하다. 제1 전환 기구와 제1 유지부의 간섭을 용이하게 회피할 수 있다.In the substrate processing apparatus described above, the first switching mechanism is preferably disposed at a position that does not overlap the first holding portion when viewed from the top. Interference between the first switching mechanism and the first holding portion can be easily avoided.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 상기 제1 배기관은, 연직 방향으로 연장되고, 상기 제2 배기관은, 연직 방향으로 연장되는 것이 바람직하다. 평면에서 보았을 때의 제1 배기관 및 제2 배기관의 설치 스페이스를 적합하게 작게 할 수 있다.In the substrate processing apparatus described above, the first exhaust pipe preferably extends in the vertical direction, and the second exhaust pipe preferably extends in the vertical direction. The installation space of the first exhaust pipe and the second exhaust pipe when viewed from the top can be suitably small.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 기판 처리 장치는, 수평인 제1 방향으로 연장되고, 상기 제1 처리 하우징에 인접하는 반송 스페이스와, 상기 반송 스페이스에 설치되고, 상기 제1 유지부에 기판을 반송하는 반송 기구와, 상기 제1 처리 하우징에 인접하고, 상기 제1 배기관 및 상기 제2 배기관을 수용하는 제1 배관 스페이스를 구비하고, 상기 제1 처리 하우징과 상기 제1 배관 스페이스는, 상기 제1 방향으로 늘어서고, 상기 제1 배기관과 상기 제2 배기관은, 상기 제1 방향과 직교하고, 또한, 수평인 제2 방향으로 늘어서는 것이 바람직하다. 기판 처리 장치는, 반송 스페이스와 반송 기구를 구비한다. 반송 스페이스는 제1 처리 하우징에 인접한다. 이 때문에, 반송 기구는 제1 유지부에 기판을 용이하게 반송할 수 있다. 기판 처리 장치는, 제1 배관 스페이스를 구비한다. 따라서, 제1 배기관 및 제2 배기관을 적합하게 설치할 수 있다. 제1 배관 스페이스는, 제1 처리 하우징에 인접한다. 이 때문에, 제1 배기관 및 제2 배기관을 제1 처리 하우징의 근방에 설치할 수 있다. 반송 스페이스는, 제1 방향으로 연장된다. 제1 처리 하우징과, 제1 배관 스페이스는, 제1 방향으로 늘어선다. 이 때문에, 제1 처리 하우징에 인접하는 반송 스페이스 및 제1 처리 하우징에 인접하는 제1 배관 스페이스를 각각, 적합하게 배치할 수 있다. 따라서, 반송 기구가 제1 배기관 및 제2 배기관과 간섭하는 것을 적합하게 방지할 수 있다. 제1 배관 스페이스와 제1 처리 하우징은, 제1 방향으로 늘어선다. 제1 배기관과 제2 배기관은, 제2 방향으로 늘어선다. 이 때문에, 제1 배기관 및 제2 배기관을 각각, 제1 처리 하우징의 근방에 설치할 수 있다.In the substrate processing apparatus described above, the substrate processing apparatus extends in a horizontal first direction, includes a transfer space adjacent to the first processing housing, is installed in the transfer space, and transfers the substrate to the first holding unit. a transfer mechanism, and a first piping space adjacent to the first processing housing and accommodating the first exhaust pipe and the second exhaust pipe, wherein the first processing housing and the first piping space include the first It is preferable that the first exhaust pipe and the second exhaust pipe are aligned in a second direction perpendicular to the first direction and horizontal. The substrate processing apparatus is provided with a transfer space and a transfer mechanism. The transfer space is adjacent to the first processing housing. For this reason, the transport mechanism can easily transport the substrate to the first holding part. The substrate processing apparatus has a first piping space. Therefore, the first exhaust pipe and the second exhaust pipe can be appropriately installed. The first piping space is adjacent to the first processing housing. For this reason, the first exhaust pipe and the second exhaust pipe can be installed near the first processing housing. The conveyance space extends in the first direction. The first processing housing and the first piping space are aligned in the first direction. For this reason, the transfer space adjacent to the first processing housing and the first piping space adjacent to the first processing housing can each be appropriately arranged. Therefore, it is possible to appropriately prevent the conveyance mechanism from interfering with the first exhaust pipe and the second exhaust pipe. The first piping space and the first processing housing are aligned in the first direction. The first exhaust pipe and the second exhaust pipe are aligned in the second direction. For this reason, the first exhaust pipe and the second exhaust pipe can each be installed near the first processing housing.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 상기 제1 전환 기구의 적어도 일부는, 상기 제1 배관 스페이스에 설치되는 것이 바람직하다. 제1 전환 기구를 제1 처리 하우징의 근방에 설치할 수 있다.In the above-mentioned substrate processing apparatus, it is preferable that at least a part of the first switching mechanism is installed in the first piping space. The first switching mechanism can be installed near the first processing housing.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 상기 제1 전환 기구는, 상기 제1 처리 하우징을 상기 제1 배기관에 연통시키는 위치와, 상기 제1 처리 하우징을 상기 제1 배기관으로부터 차단하는 위치로 이동 가능한 제1 개폐부와, 상기 제1 개폐부와는 독립적으로, 상기 제1 처리 하우징을 상기 제2 배기관에 연통시키는 위치와, 상기 제1 처리 하우징을 상기 제2 배기관으로부터 차단하는 위치로 이동 가능한 제2 개폐부를 구비하는 것이 바람직하다. 제1 개폐부와 제2 개폐부는, 서로 독립적으로 이동 가능하다. 이 때문에, 제1 전환 기구는, 제1 배기관과 제2 배기관을 개별적으로, 제1 처리 하우징에 연통시킬 수 있다. 전환 기구는, 제1 배기관과 제2 배기관을 개별적으로, 제1 처리 하우징으로부터 차단할 수 있다.In the above-mentioned substrate processing apparatus, the first switching mechanism is a first switch mechanism that can be moved between a position that communicates the first processing housing with the first exhaust pipe and a position that blocks the first processing housing from the first exhaust pipe. an opening and closing unit, and a second opening and closing unit that is movable, independently of the first opening and closing unit, to a position that communicates the first processing housing to the second exhaust pipe and a position that blocks the first processing housing from the second exhaust pipe. It is desirable to do so. The first opening and closing part and the second opening and closing part are movable independently of each other. For this reason, the first switching mechanism can individually communicate the first exhaust pipe and the second exhaust pipe to the first processing housing. The switching mechanism can separate the first exhaust pipe and the second exhaust pipe from the first processing housing.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 상기 제1 전환 기구는, 상기 제1 처리 하우징에 접속되고, 상기 제1 개폐부 및 상기 제2 개폐부를 수용하는 전환 하우징을 구비하는 것이 바람직하다. 전환 하우징은, 제1 처리 하우징으로부터 제1 개폐부 및 제2 개폐부까지의 유로를 적합하게 형성할 수 있다.In the above-described substrate processing apparatus, the first switching mechanism preferably includes a switching housing that is connected to the first processing housing and accommodates the first opening and closing portion and the second opening and closing portion. The switching housing can appropriately form a flow path from the first processing housing to the first opening and closing portion and the second opening and closing portion.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 상기 전환 하우징은, 상기 제1 처리 하우징에 접속되고, 상기 제1 방향으로 연장되는 도입부와, 상기 도입부에 접속되고, 상기 제2 방향으로 연장되며, 상기 제1 배기관 및 상기 제2 배기관의 양쪽 모두에 접속되고, 또한, 상기 제1 개폐부 및 상기 제2 개폐부의 양쪽 모두를 수용하는 분배부를 구비하는 것이 바람직하다. 도입부는 제1 처리 하우징에 접속된다. 이 때문에, 제1 처리 하우징으로부터 전환 하우징에 기체를 용이하게 도입할 수 있다. 도입부는 제1 방향으로 연장된다. 상술한 바와 같이, 반송 스페이스는 제1 방향으로 연장된다. 이 때문에, 제1 처리 하우징에 인접하는 반송 스페이스 및 제1 처리 하우징에 접속되는 도입부를 각각, 적합하게 배치할 수 있다. 따라서, 반송 기구가 도입부와 간섭하는 것을 적합하게 방지할 수 있다. 분배부는, 도입부에 접속된다. 분배부는, 제1 배기관 및 제2 배기관에 접속된다. 이 때문에, 전환 하우징으로부터 제1 배기관 및 제2 배기관에 기체를 용이하게 내보낼 수 있다. 분배부는, 제1 개폐부 및 제2 개폐부의 양쪽 모두를 수용한다. 따라서, 제1 전환 기구는, 제1 처리 하우징의 배기로를, 제1 배기관과 제2 배기관의 사이에서, 용이하게 전환할 수 있다. 분배부는 제2 방향으로 연장된다. 상술한 바와 같이, 제1 배기관과 제2 배기관은, 제2 방향으로 늘어선다. 따라서, 분배부는 제1 배기관 및 제2 배기관과 용이하게 접속할 수 있다.In the substrate processing apparatus described above, the switching housing includes an introduction portion connected to the first processing housing and extending in the first direction, a lead portion connected to the introduction portion and extending in the second direction, and the first exhaust pipe. and a distribution part connected to both of the second exhaust pipes and accommodating both the first opening and closing part and the second opening and closing part. The introduction portion is connected to the first processing housing. For this reason, gas can be easily introduced from the first processing housing to the conversion housing. The lead-in section extends in a first direction. As described above, the conveyance space extends in the first direction. For this reason, the transfer space adjacent to the first processing housing and the introduction portion connected to the first processing housing can each be appropriately arranged. Therefore, it is possible to appropriately prevent the conveyance mechanism from interfering with the introduction portion. The distribution section is connected to the introduction section. The distribution unit is connected to the first exhaust pipe and the second exhaust pipe. For this reason, gas can be easily discharged from the conversion housing to the first exhaust pipe and the second exhaust pipe. The distribution section accommodates both the first opening and closing section and the second opening and closing section. Therefore, the first switching mechanism can easily switch the exhaust path of the first processing housing between the first exhaust pipe and the second exhaust pipe. The distribution portion extends in the second direction. As described above, the first exhaust pipe and the second exhaust pipe are aligned in the second direction. Accordingly, the distribution unit can be easily connected to the first exhaust pipe and the second exhaust pipe.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 평면에서 보았을 때, 상기 도입부와 상기 반송 스페이스의 이격 거리는, 상기 제1 유지부와 상기 반송 스페이스의 이격 거리보다 작은 것이 바람직하다. 도입부는, 비교적 반송 스페이스에 가까운 위치에 배치된다. 따라서, 제1 처리 하우징으로부터 전환 하우징에 기체를 원활하게 도입할 수 있다.In the substrate processing apparatus described above, it is preferable that the separation distance between the introduction part and the transfer space is smaller than the separation distance between the first holding unit and the transfer space when viewed from a plan view. The introduction part is disposed at a position relatively close to the conveyance space. Therefore, gas can be smoothly introduced from the first processing housing to the conversion housing.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 기판 처리 장치는, 상기 제1 처리 하우징에 기체를 공급하는 급기관과, 상기 제1 처리 하우징에 인접하고, 상기 급기관을 수용하는 제2 배관 스페이스를 구비하고, 상기 제1 배관 스페이스와 상기 제1 처리 하우징과 상기 제2 배관 스페이스는, 상기 제1 방향으로, 이 순서로 늘어서는 것이 바람직하다. 기판 처리 장치는, 급기관과 제2 배관 스페이스를 구비한다. 제2 배관 스페이스는, 제1 처리 하우징에 인접한다. 따라서, 급기관은, 제1 처리 하우징에 기체를 용이하게 공급할 수 있다. 제1 배관 스페이스와 제1 처리 하우징과 제2 배관 스페이스는, 이 순서로, 제1 방향으로 늘어선다. 이 때문에, 제1 배관 스페이스와 제2 배관 스페이스는, 제1 처리 하우징에 의하여, 이격되어 있다. 따라서, 제1 배기관 및 제2 배기관의 배치는, 급기관에 의하여, 제한되지 않는다. 즉, 제1 배기관 및 제2 배기관의 배치의 자유도를 적합하게 높일 수 있다.In the above-mentioned substrate processing apparatus, the substrate processing apparatus is provided with a supply pipe for supplying gas to the first processing housing, and a second piping space adjacent to the first processing housing and accommodating the air supply pipe, It is preferable that the first piping space, the first processing housing, and the second piping space are lined up in this order in the first direction. The substrate processing apparatus is provided with an air supply pipe and a second piping space. The second piping space is adjacent to the first processing housing. Therefore, the air supply pipe can easily supply gas to the first processing housing. The first piping space, the first processing housing, and the second piping space are lined up in the first direction in this order. For this reason, the first piping space and the second piping space are spaced apart from each other by the first processing housing. Therefore, the arrangement of the first exhaust pipe and the second exhaust pipe is not limited by the air supply pipe. In other words, the degree of freedom in arranging the first exhaust pipe and the second exhaust pipe can be appropriately increased.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 기판 처리 장치는, 상기 제1 처리 하우징의 하방에 배치되는 상기 제2 처리 하우징과, 상기 제2 처리 하우징의 내부에 설치되고, 기판을 유지하는 제2 유지부와, 상기 제2 처리 하우징의 내부에 설치되고, 상기 제2 유지부에 유지되는 기판에 처리액을 공급하는 제2 액 공급부와, 상기 제2 처리 하우징과 같은 높이 위치에 배치되고, 상기 제2 처리 하우징의 배기로를 상기 제1 배기관 및 상기 제2 배기관 중 하나로 전환하는 제2 전환 기구를 구비하는 것이 바람직하다.In the above-described substrate processing apparatus, the substrate processing apparatus includes: a second processing housing disposed below the first processing housing; a second holding portion installed inside the second processing housing and holding a substrate; , a second liquid supply unit installed inside the second processing housing and supplying a processing liquid to the substrate held by the second holding unit, disposed at the same height as the second processing housing, and performing the second processing. It is desirable to provide a second switching mechanism for switching the exhaust path of the housing to one of the first exhaust pipe and the second exhaust pipe.
기판 처리 장치는, 제2 처리 하우징과 제2 유지부와 제2 액 공급부를 구비한다. 이 때문에, 제2 처리 하우징의 내부에 있어서 액 처리를 기판에 행할 수 있다. 따라서, 기판 처리 장치의 스루풋을 적합하게 향상시킬 수 있다.The substrate processing apparatus includes a second processing housing, a second holding portion, and a second liquid supply portion. For this reason, liquid treatment can be performed on the substrate inside the second processing housing. Therefore, the throughput of the substrate processing device can be appropriately improved.
제2 처리 하우징은, 제1 처리 하우징의 하방에 배치된다. 따라서, 기판 처리 장치의 풋프린트의 증대를 적합하게 억제할 수 있다.The second processing housing is disposed below the first processing housing. Therefore, an increase in the footprint of the substrate processing apparatus can be appropriately suppressed.
기판 처리 장치는, 제2 전환 기구를 구비한다. 제2 전환 기구는, 제2 처리 하우징의 배기로를 제1 배기관 및 제2 배기관 중 하나로 전환한다. 구체적으로는, 제2 전환 기구는, 제2 처리 하우징을 제1 배기관에 연통시키고, 또한, 제2 처리 하우징을 제2 배기관으로부터 차단한 상태와, 제2 처리 하우징을 제2 배기관에 연통시키고, 또한, 제2 처리 하우징을 제1 배기관으로부터 차단한 상태로 전환한다. 제2 처리 하우징의 배기로가 제1 배기관일 때, 제1 배기관이 제2 처리 하우징으로부터 기체를 배출하고, 제2 배기관은 제2 처리 하우징으로부터 기체를 배출하지 않는다. 제2 처리 하우징의 배기로가 제2 배기관일 때, 제2 배기관이 제2 처리 하우징으로부터 기체를 배출하고, 제1 배기관은 제2 처리 하우징으로부터 기체를 배출하지 않는다. 따라서, 제1 배기관은, 제1 처리 하우징의 기체에 더하여, 제2 처리 하우징의 기체를 배출한다. 제2 배기관도, 제1 처리 하우징의 기체에 더하여, 제2 처리 하우징의 기체를 배출한다. 따라서, 기판 처리 장치의 구조를 간소화할 수 있다.The substrate processing apparatus includes a second switching mechanism. The second switching mechanism switches the exhaust path of the second processing housing to one of the first exhaust pipe and the second exhaust pipe. Specifically, the second switching mechanism causes the second processing housing to communicate with the first exhaust pipe, and the second processing housing is blocked from the second exhaust pipe, and the second processing housing communicates with the second exhaust pipe, Additionally, the second processing housing is switched to a state blocked from the first exhaust pipe. When the exhaust path of the second processing housing is the first exhaust pipe, the first exhaust pipe exhausts gas from the second processing housing, and the second exhaust pipe does not exhaust gas from the second processing housing. When the exhaust path of the second processing housing is the second exhaust pipe, the second exhaust pipe exhausts gas from the second processing housing, and the first exhaust pipe does not exhaust gas from the second processing housing. Accordingly, the first exhaust pipe exhausts the gas of the second processing housing in addition to the gas of the first processing housing. The second exhaust pipe also exhausts gas from the second processing housing in addition to gas from the first processing housing. Therefore, the structure of the substrate processing device can be simplified.
제2 전환 기구는, 제2 처리 하우징과 같은 높이 위치에 배치된다. 이 때문에, 제2 처리 하우징과 제2 전환 기구 사이의 유로를 적합하게 짧게 할 수 있다. 따라서, 제2 처리 하우징과 제2 전환 기구 사이의 유로가 오손되는 것을 적합하게 억제할 수 있다. 따라서, 기체는, 제2 처리 하우징으로부터 제2 전환 기구로 원활하게 흐른다. 그 결과, 제2 처리 하우징의 기체를 적절하게 배기할 수 있다.The second switching mechanism is disposed at the same height as the second processing housing. For this reason, the flow path between the second processing housing and the second switching mechanism can be appropriately shortened. Therefore, contamination of the flow path between the second processing housing and the second switching mechanism can be appropriately suppressed. Accordingly, gas flows smoothly from the second processing housing to the second diversion mechanism. As a result, the gas in the second processing housing can be properly exhausted.
이상과 같이, 본 기판 처리 장치는, 제1 처리 하우징의 기체에 더하여, 제2 처리 하우징의 기체를 적절하게 배기할 수 있다.As described above, the present substrate processing apparatus can appropriately exhaust the gas from the second processing housing in addition to the gas from the first processing housing.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 상기 제2 처리 하우징은, 평면에서 보았을 때, 상기 제1 처리 하우징과 같은 위치에 배치되고, 상기 제2 전환 기구는, 평면에서 보았을 때, 상기 제1 전환 기구와 같은 위치에 배치되며, 상기 제1 배기관은, 연직 방향으로 연장되고, 상기 제2 배기관은, 연직 방향으로 연장되는 것이 바람직하다. 제2 처리 하우징은, 평면에서 보았을 때, 제1 처리 하우징과 같은 위치에 배치된다. 제2 전환 기구는, 평면에서 보았을 때, 제1 전환 기구와 같은 위치에 배치된다. 이 때문에, 제2 처리 하우징과 제2 전환 기구의 상대적인 위치는, 제1 처리 하우징과 제1 전환 기구의 상대적인 위치와 대략 같다. 따라서, 제1 처리 하우징과 제2 처리 하우징의 사이에서, 기체를 배출하는 조건을, 용이하게 같게 할 수 있다. 그 결과, 제1 처리 하우징과 제2 처리 하우징의 사이에서, 기판에 행하는 처리의 품질을 적합하게 같게 할 수 있다. 제1 배기관은, 연직 방향으로 연장된다. 따라서, 제1 전환 기구 및 제2 전환 기구는 각각, 제1 배기관과 용이하게 접속할 수 있다. 제2 배기관은, 연직 방향으로 연장된다. 따라서, 제1 전환 기구 및 제2 전환 기구는 각각, 제2 배기관과 용이하게 접속할 수 있다.In the above-described substrate processing apparatus, the second processing housing is disposed at the same position as the first processing housing when viewed in plan, and the second switching mechanism includes the first switching mechanism and the first switching mechanism when viewed in plan. It is preferable that the first exhaust pipe extends in the vertical direction and the second exhaust pipe extends in the vertical direction. The second processing housing is disposed at the same position as the first processing housing when viewed from the top. The second switching mechanism is disposed at the same position as the first switching mechanism when viewed from the top. For this reason, the relative position of the second processing housing and the second switching mechanism is approximately the same as the relative position of the first processing housing and the first switching mechanism. Therefore, the conditions for discharging gas can be easily made the same between the first processing housing and the second processing housing. As a result, the quality of the processing performed on the substrate can be suitably equalized between the first processing housing and the second processing housing. The first exhaust pipe extends in the vertical direction. Therefore, the first switching mechanism and the second switching mechanism can each be easily connected to the first exhaust pipe. The second exhaust pipe extends in the vertical direction. Therefore, the first switching mechanism and the second switching mechanism can each be easily connected to the second exhaust pipe.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 기판 처리 장치는, 상기 제1 처리 하우징과 같은 높이 위치에 배치되는 제3 처리 하우징과, 상기 제3 처리 하우징의 내부에 설치되고, 기판을 유지하는 제3 유지부와, 상기 제3 처리 하우징의 내부에 설치되고, 상기 제3 유지부에 유지되는 기판에 처리액을 공급하는 제3 액 공급부와, 상기 제3 처리 하우징의 측방에 설치되고, 기체를 배출하는 제3 배기관과, 상기 제3 처리 하우징의 측방에 설치되고, 기체를 배출하는 제4 배기관과, 상기 제3 처리 하우징과 같은 높이 위치에 배치되고, 상기 제3 처리 하우징의 배기로를 상기 제3 배기관 및 상기 제4 배기관 중 하나로 전환하는 제3 전환 기구를 구비하는 것이 바람직하다.In the above-mentioned substrate processing apparatus, the substrate processing apparatus includes a third processing housing disposed at the same height as the first processing housing, and a third holding portion installed inside the third processing housing and holding the substrate. and a third liquid supply unit installed inside the third processing housing and supplying processing liquid to the substrate held by the third holding unit, and a third liquid supply unit installed on a side of the third processing housing and discharging gas. 3 exhaust pipes, a fourth exhaust pipe installed on the side of the third processing housing, and discharging gas, and disposed at the same height as the third processing housing, and connecting the exhaust path of the third processing housing to the third exhaust pipe. and a third switching mechanism for switching to one of the fourth exhaust pipes.
기판 처리 장치는, 제3 처리 하우징과 제3 유지부와 제3 액 공급부를 구비한다. 이 때문에, 제3 처리 하우징의 내부에 있어서 액 처리를 기판에 행할 수 있다. 따라서, 기판 처리 장치의 스루풋을 적합하게 향상시킬 수 있다.The substrate processing apparatus includes a third processing housing, a third holding portion, and a third liquid supply portion. For this reason, liquid treatment can be performed on the substrate inside the third processing housing. Therefore, the throughput of the substrate processing device can be appropriately improved.
제3 처리 하우징은, 제1 처리 하우징과 같은 높이 위치에 배치된다. 기판 처리 장치는, 제3 전환 기구와 제3 배기관과 제4 배기관을 구비한다. 제3 전환 기구는, 제3 처리 하우징의 배기로를 제3 배기관 및 제4 배기관 중 하나로 전환한다. 구체적으로는, 제3 전환 기구는, 제3 처리 하우징을 제3 배기관에 연통시키고, 또한, 제3 처리 하우징을 제4 배기관으로부터 차단한 상태와, 제3 처리 하우징을 제4 배기관에 연통시키고, 또한, 제3 처리 하우징을 제3 배기관으로부터 차단한 상태로 전환한다. 제3 처리 하우징의 배기로가 제3 배기관일 때, 제3 배기관이 제3 처리 하우징으로부터 기체를 배출하고, 제4 배기관은 제3 처리 하우징으로부터 기체를 배출하지 않는다. 제3 처리 하우징의 배기로가 제4 배기관일 때, 제4 배기관이 제3 처리 하우징으로부터 기체를 배출하고, 제3 배기관은 제3 처리 하우징으로부터 기체를 배출하지 않는다.The third processing housing is disposed at the same height as the first processing housing. The substrate processing apparatus includes a third switching mechanism, a third exhaust pipe, and a fourth exhaust pipe. The third switching mechanism switches the exhaust path of the third processing housing to one of the third exhaust pipe and the fourth exhaust pipe. Specifically, the third switching mechanism causes the third processing housing to communicate with the third exhaust pipe, and the third processing housing is blocked from the fourth exhaust pipe, and the third processing housing communicates with the fourth exhaust pipe, Additionally, the third processing housing is switched to a state blocked from the third exhaust pipe. When the exhaust path of the third processing housing is the third exhaust pipe, the third exhaust pipe exhausts gas from the third processing housing, and the fourth exhaust pipe does not exhaust gas from the third processing housing. When the exhaust path of the third processing housing is the fourth exhaust pipe, the fourth exhaust pipe exhausts gas from the third processing housing, and the third exhaust pipe does not exhaust gas from the third processing housing.
제3 전환 기구는, 제3 처리 하우징과 같은 높이 위치에 배치된다. 이 때문에, 제3 처리 하우징과 제3 전환 기구 사이의 유로를 적합하게 짧게 할 수 있다. 따라서, 제3 처리 하우징과 제3 전환 기구 사이의 유로가 오손되는 것을 적합하게 억제할 수 있다. 따라서, 기체는, 제3 처리 하우징으로부터 제3 전환 기구로 원활하게 흐른다. 그 결과, 제3 처리 하우징의 기체를 적절하게 배기할 수 있다.The third switching mechanism is disposed at the same height as the third processing housing. For this reason, the flow path between the third processing housing and the third switching mechanism can be appropriately shortened. Therefore, contamination of the flow path between the third processing housing and the third switching mechanism can be appropriately suppressed. Accordingly, gas flows smoothly from the third processing housing to the third diversion mechanism. As a result, the gas in the third processing housing can be properly exhausted.
제3 배기관은, 제3 처리 하우징의 측방에 배치된다. 이 때문에, 제3 전환 기구는, 제3 배기관과 용이하게 접속할 수 있다. 제4 배기관은, 제3 처리 하우징의 측방에 배치된다. 이 때문에, 제3 전환 기구는 제4 배기관에 용이하게 접속할 수 있다.The third exhaust pipe is disposed on the side of the third processing housing. For this reason, the third switching mechanism can be easily connected to the third exhaust pipe. The fourth exhaust pipe is disposed on the side of the third processing housing. For this reason, the third switching mechanism can be easily connected to the fourth exhaust pipe.
이상과 같이, 본 기판 처리 장치는, 제3 처리 하우징의 기체를 적절하게 배기할 수 있다.As described above, the present substrate processing apparatus can properly exhaust gas from the third processing housing.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 기판 처리 장치는, 상기 제1 전환 기구의 일차측의 기체의 압력을 계측하는 제1 압력 센서와, 상기 제1 압력 센서의 검출 결과에 의거하여, 상기 제1 전환 기구의 일차측의 기체의 압력을 조정하는 제1 압력 조정 기구와, 상기 제3 전환 기구의 일차측의 기체의 압력을 계측하는 제3 압력 센서와, 상기 제3 압력 센서의 검출 결과에 의거하여, 상기 제3 전환 기구의 일차측의 기체의 압력을 조정하는 제3 압력 조정 기구를 구비하는 것이 바람직하다. 기판 처리 장치는, 제1 압력 센서와 제1 압력 조정 기구를 구비한다. 이 때문에, 제1 전환 기구의 일차측의 압력을 적합하게 조정할 수 있다. 마찬가지로, 기판 처리 장치는, 제3 압력 센서와 제3 압력 조정 기구를 구비한다. 이 때문에, 제3 전환 기구의 일차측의 압력을 적합하게 조정할 수 있다.In the substrate processing apparatus described above, the substrate processing apparatus includes a first pressure sensor that measures the pressure of the gas on the primary side of the first switching mechanism, and, based on a detection result of the first pressure sensor, the first switching mechanism. A first pressure adjustment mechanism that adjusts the gas pressure on the primary side of the mechanism, a third pressure sensor that measures the gas pressure on the primary side of the third switching mechanism, and based on the detection result of the third pressure sensor , it is preferable to provide a third pressure adjustment mechanism that adjusts the pressure of the gas on the primary side of the third switching mechanism. A substrate processing apparatus includes a first pressure sensor and a first pressure adjustment mechanism. For this reason, the pressure on the primary side of the first switching mechanism can be adjusted appropriately. Likewise, the substrate processing apparatus includes a third pressure sensor and a third pressure adjustment mechanism. For this reason, the pressure on the primary side of the third switching mechanism can be adjusted appropriately.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 상기 제1 압력 조정 기구 및 상기 제3 압력 조정 기구는, 상기 제1 전환 기구의 일차측의 기체의 압력과 상기 제3 전환 기구의 일차측의 기체의 압력을 같게 하는 것이 바람직하다. 제1 처리 하우징과 제3 처리 하우징의 사이에 있어서, 기판에 행하는 처리의 품질을 적합하게 같게 할 수 있다.In the above-mentioned substrate processing apparatus, the first pressure adjustment mechanism and the third pressure adjustment mechanism equalize the pressure of the gas on the primary side of the first switching mechanism and the pressure of the gas on the primary side of the third switching mechanism. It is desirable to do so. Between the first processing housing and the third processing housing, the quality of processing performed on the substrate can be suitably equalized.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 기판 처리 장치는, 상기 제1 배기관 및 상기 제3 배기관에 접속되고, 상기 제1 배기관의 기체 및 상기 제3 배기관의 기체를 배출하는 제5 배기관과, 상기 제2 배기관 및 상기 제4 배기관에 접속되고, 상기 제2 배기관의 기체 및 상기 제4 배기관의 기체를 배출하는 제6 배기관을 구비하는 것이 바람직하다. 기판 처리 장치의 구조를 간소화할 수 있다.In the substrate processing apparatus described above, the substrate processing apparatus includes a fifth exhaust pipe connected to the first exhaust pipe and the third exhaust pipe and discharging the gas of the first exhaust pipe and the gas of the third exhaust pipe, and the second exhaust pipe. It is preferable to provide a sixth exhaust pipe connected to the exhaust pipe and the fourth exhaust pipe, and discharging the gas of the second exhaust pipe and the gas of the fourth exhaust pipe. The structure of the substrate processing device can be simplified.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 기판 처리 장치는, 상기 제5 배기관의 내부의 기체의 압력을 계측하는 제5 압력 센서와, 상기 제5 압력 센서의 검출 결과에 의거하여, 상기 제5 배기관의 내부의 기체의 압력을 조정하는 제5 압력 조정 기구와, 상기 제6 배기관의 내부의 기체의 압력을 계측하는 제6 압력 센서와, 상기 제6 압력 센서의 검출 결과에 의거하여, 상기 제6 배기관의 내부의 기체의 압력을 조정하는 제6 압력 조정 기구를 구비하는 것이 바람직하다. 기판 처리 장치는, 제5 압력 센서와 제5 전환 기구를 구비한다. 이 때문에, 제5 배기관의 내부의 압력을 적합하게 조정할 수 있다. 마찬가지로, 기판 처리 장치는, 제6 압력 센서와 제6 전환 기구를 구비한다. 이 때문에, 제6 배기관의 내부의 압력을 적합하게 조정할 수 있다.In the above-mentioned substrate processing apparatus, the substrate processing apparatus includes a fifth pressure sensor that measures the pressure of the gas inside the fifth exhaust pipe, and a fifth pressure sensor that measures the pressure of the gas inside the fifth exhaust pipe, based on the detection result of the fifth pressure sensor. a fifth pressure adjustment mechanism that adjusts the pressure of the gas, a sixth pressure sensor that measures the pressure of the gas inside the sixth exhaust pipe, and, based on the detection result of the sixth pressure sensor, It is desirable to provide a sixth pressure adjustment mechanism that adjusts the pressure of the internal gas. The substrate processing apparatus includes a fifth pressure sensor and a fifth switching mechanism. For this reason, the pressure inside the fifth exhaust pipe can be appropriately adjusted. Similarly, the substrate processing apparatus includes a sixth pressure sensor and a sixth switching mechanism. For this reason, the pressure inside the sixth exhaust pipe can be appropriately adjusted.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 상기 제5 압력 센서는, 상기 제1 배기관과 상기 제5 배기관의 접속 위치, 및, 상기 제3 배기관 및 상기 제5 배기관의 접속 위치보다 하류에 설치되고, 상기 제6 압력 센서는, 상기 제2 배기관과 상기 제6 배기관의 접속 위치, 및, 상기 제4 배기관 및 상기 제6 배기관의 접속 위치보다 하류에 설치되는 것이 바람직하다. 제5 압력 센서는, 제1 배기관 및 제3 배기관의 전체의 배기압을 적합하게 검출할 수 있다. 제6 압력 센서는, 제2 배기관 및 제4 배기관의 전체의 배기압을 적절하게 검출할 수 있다.In the substrate processing apparatus described above, the fifth pressure sensor is installed downstream of the connection position of the first exhaust pipe and the fifth exhaust pipe, and the connection position of the third exhaust pipe and the fifth exhaust pipe, and 6 The pressure sensor is preferably installed downstream of the connection position of the second exhaust pipe and the sixth exhaust pipe, and the connection position of the fourth exhaust pipe and the sixth exhaust pipe. The fifth pressure sensor can appropriately detect the entire exhaust pressure of the first exhaust pipe and the third exhaust pipe. The sixth pressure sensor can appropriately detect the entire exhaust pressure of the second exhaust pipe and the fourth exhaust pipe.
상술한 기판 처리 장치에 있어서, 상기 제1 액 공급부는, 제1 처리액과 제2 처리액을 공급 가능하고, 상기 제1 액 공급부가 상기 제1 처리액을 공급할 때, 상기 제1 전환 기구는, 상기 제1 처리 하우징의 배기로를 상기 제1 배기관으로 전환하고, 상기 제1 액 공급부가 상기 제2 처리액을 공급할 때, 상기 제1 전환 기구는, 상기 제1 처리 하우징의 배기로를 상기 제2 배기관으로 전환하는 것이 바람직하다. 제1 액 공급부가 제1 처리액을 공급할 때, 제1 배기관은 제1 처리 하우징의 기체를 배출한다. 제1 액 공급부가 제2 처리액을 공급할 때, 제1 배기관은 제1 처리 하우징의 기체를 배출하지 않는다. 따라서, 제1 배기관의 내부가 오손되는 것을 적합하게 억제할 수 있다. 마찬가지로, 제1 액 공급부가 제2 처리액을 공급할 때, 제2 배기관은 제1 처리 하우징의 기체를 배출한다. 제1 액 공급부가 제1 처리액을 공급할 때, 제2 배기관은 제1 처리 하우징의 기체를 배출하지 않는다. 따라서, 제2 배기관의 내부가 오손되는 것을 적합하게 억제할 수 있다. 그 결과, 제1 처리 하우징의 기체를 한층 더 적절하게 배기할 수 있다.In the above-described substrate processing apparatus, the first liquid supply unit is capable of supplying a first processing liquid and a second processing liquid, and when the first liquid supply unit supplies the first processing liquid, the first switching mechanism When the exhaust path of the first processing housing is switched to the first exhaust pipe, and the first liquid supply unit supplies the second processing liquid, the first switching mechanism switches the exhaust path of the first processing housing to the first exhaust pipe. It is desirable to switch to a second exhaust pipe. When the first liquid supply unit supplies the first treatment liquid, the first exhaust pipe discharges the gas in the first treatment housing. When the first liquid supply unit supplies the second treatment liquid, the first exhaust pipe does not exhaust the gas in the first treatment housing. Therefore, contamination of the inside of the first exhaust pipe can be appropriately suppressed. Likewise, when the first liquid supply unit supplies the second treatment liquid, the second exhaust pipe exhausts the gas in the first treatment housing. When the first liquid supply unit supplies the first treatment liquid, the second exhaust pipe does not exhaust the gas in the first treatment housing. Therefore, contamination of the inside of the second exhaust pipe can be appropriately suppressed. As a result, the gas in the first processing housing can be exhausted more appropriately.
발명을 설명하기 위하여 현재의 적합하다고 생각되는 몇 개의 형태가 도시되어 있지만, 발명이 도시된 바와 같은 구성 및 방책에 한정되는 것은 아닌 것을 이해하기 바란다.
도 1은, 실시 형태의 기판 처리 장치의 내부를 나타내는 평면도이다.
도 2는, 폭 방향에 있어서의 기판 처리 장치의 중앙부의 구성을 나타내는 우측면도이다.
도 3은, 처리 블록의 정면도이다.
도 4는, 기판 처리 장치의 우측부의 구성을 나타내는 우측면도이다.
도 5는, 기판 처리 장치의 좌측부의 구성을 나타내는 좌측면도이다.
도 6은, 처리 유닛의 평면도이다.
도 7은, 처리 유닛의 측면도이다.
도 8은, 전환 기구의 정면도이다.
도 9는, 처리 하우징으로부터의 배기로의 계통도이다.
도 10은, 처리 블록의 상부를 나타내는 평면도이다.
도 11은, 기판 처리 장치의 제어 블록도이다.
도 12는, 기판에 처리를 행하는 동작의 순서를 나타내는 플로차트이다.
도 13은, 변형 실시 형태에 있어서의 처리 유닛의 평면도이다.
도 14는, 변형 실시 형태에 있어서의 처리 유닛의 평면도이다.
도 15는, 변형 실시 형태에 있어서의 처리 유닛의 평면도이다.
도 16은, 변형 실시 형태에 있어서의 처리 유닛의 평면도이다.
도 17은, 변형 실시 형태에 있어서의 기판 처리 장치의 내부를 나타내는 평면도이다.
도 18은, 변형 실시 형태의 전환 기구의 정면도이다.
도 19a는, 변형 실시 형태의 전환 기구의 측면도이다.
도 19b는, 변형 실시 형태의 전환 기구의 측면도이다.
도 20a는, 변형 실시 형태의 풍속 센서의 배치예를 나타내는 평면도이다.
도 20b는, 변형 실시 형태의 풍속 센서의 배치예를 나타내는 평면도이다.
도 21a는, 변형 실시 형태의 풍속 센서의 배치예를 나타내는 평면도이다.
도 21b는, 변형 실시 형태의 풍속 센서의 배치예를 나타내는 평면도이다.Although several forms currently considered suitable are shown to illustrate the invention, it is to be understood that the invention is not limited to the configuration and arrangement as shown.
1 is a plan view showing the inside of a substrate processing apparatus of an embodiment.
FIG. 2 is a right side view showing the configuration of the central portion of the substrate processing apparatus in the width direction.
Figure 3 is a front view of the processing block.
Figure 4 is a right side view showing the configuration of the right side of the substrate processing apparatus.
Fig. 5 is a left side view showing the configuration of the left side of the substrate processing apparatus.
Figure 6 is a top view of the processing unit.
Figure 7 is a side view of the processing unit.
Fig. 8 is a front view of the switching mechanism.
9 is a schematic diagram of the exhaust path from the processing housing.
Fig. 10 is a plan view showing the upper part of the processing block.
Figure 11 is a control block diagram of a substrate processing device.
Fig. 12 is a flowchart showing the sequence of operations for processing a substrate.
Figure 13 is a top view of a processing unit in a modified embodiment.
Figure 14 is a top view of a processing unit in a modified embodiment.
Figure 15 is a plan view of a processing unit in a modified embodiment.
Figure 16 is a plan view of a processing unit in a modified embodiment.
Figure 17 is a plan view showing the inside of a substrate processing apparatus in a modified embodiment.
Fig. 18 is a front view of the switching mechanism in the modified embodiment.
Fig. 19A is a side view of a switching mechanism in a modified embodiment.
Fig. 19B is a side view of the switching mechanism in the modified embodiment.
Fig. 20A is a plan view showing an example of arrangement of a wind speed sensor in a modified embodiment.
FIG. 20B is a plan view showing an example of arrangement of a wind speed sensor in a modified embodiment.
Fig. 21A is a plan view showing an example of arrangement of a wind speed sensor in a modified embodiment.
FIG. 21B is a plan view showing an example of arrangement of a wind speed sensor in a modified embodiment.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 기판 처리 장치를 설명한다.Hereinafter, the substrate processing apparatus of the present invention will be described with reference to the drawings.
<기판 처리 장치의 개요><Overview of substrate processing equipment>
도 1은, 실시 형태의 기판 처리 장치의 내부를 나타내는 평면도이다. 기판 처리 장치(1)는, 기판(예를 들면, 반도체 웨이퍼)(W)에 처리를 행한다.1 is a plan view showing the inside of a substrate processing apparatus of an embodiment. The
기판(W)은, 예를 들면, 반도체 웨이퍼, 액정 디스플레이용 기판, 유기 EL(Electroluminescence)용 기판, FPD(Flat Panel Display)용 기판, 광디스플레이용 기판, 자기 디스크용 기판, 광디스크용 기판, 광자기 디스크용 기판, 포토마스크용 기판, 태양 전지용 기판이다. 기판(W)은, 얇은 평판 형상을 갖는다. 기판(W)은, 평면에서 보았을 때 대략 원형상을 갖는다.The substrate W is, for example, a semiconductor wafer, a substrate for a liquid crystal display, a substrate for organic EL (Electroluminescence), a substrate for an FPD (Flat Panel Display), a substrate for an optical display, a substrate for a magnetic disk, a substrate for an optical disk, an optical These are substrates for magnetic disks, photomasks, and solar cells. The substrate W has a thin flat plate shape. The substrate W has a substantially circular shape when viewed from the top.
기판 처리 장치(1)는, 인덱서부(3)와 처리 블록(11)을 구비한다. 처리 블록(11)은 인덱서부(3)에 접속된다. 인덱서부(3)와 처리 블록(11)은 수평 방향으로 늘어선다. 인덱서부(3)는, 처리 블록(11)에 기판(W)을 공급한다. 처리 블록(11)은, 기판(W)에 처리를 행한다. 인덱서부(3)는, 처리 블록(11)으로부터 기판(W)을 회수한다.The
본 명세서에서는, 편의상, 인덱서부(3)와 처리 블록(11)이 늘어서는 수평 방향을, 「전후 방향(X)」이라고 부른다. 전후 방향(X) 중, 처리 블록(11)으로부터 인덱서부(3)를 향하는 방향을 「전방」이라고 부른다. 전방과 반대의 방향을 「후방」이라고 부른다. 전후 방향(X)과 직교하는 수평 방향을, 「폭 방향(Y)」이라고 부른다. 「폭 방향(Y)」의 일방향을 적절하게 「우방」이라고 부른다. 우방과는 반대의 방향을 「좌방」이라고 부른다. 수평 방향에 대하여 수직인 방향을 「연직 방향(Z)」이라고 부른다. 각 도면에서는, 참고로서, 전, 후, 우, 좌, 상, 하를 적절하게 나타낸다.In this specification, for convenience, the horizontal direction in which the
「전방」, 「후방」, 「우방」 및 「좌방」을 특별히 구별하지 않는 경우에는, 「측방」이라고 부른다.When “anterior”, “posterior”, “right” and “left” are not specifically distinguished, they are called “lateral”.
인덱서부(3)는, 복수(예를 들면, 4개)의 캐리어 재치부(載置部)(4)를 구비한다. 캐리어 재치부(4)는 폭 방향(Y)으로 늘어선다. 각 캐리어 재치부(4)는 각각, 1개의 캐리어(C)를 재치한다. 캐리어(C)는, 복수 장의 기판(W)을 수용한다. 캐리어(C)는, 예를 들면, FOUP(front opening unified pod)이다.The
인덱서부(3)는, 반송 스페이스(5)를 구비한다. 반송 스페이스(5)는, 캐리어 재치부(4)의 후방에 배치된다. 반송 스페이스(5)는, 폭 방향(Y)으로 연장된다.The
인덱서부(3)는, 반송 기구(6)를 구비한다. 반송 기구(6)는, 반송 스페이스(5)에 설치된다. 반송 기구(6)는, 캐리어 재치부(4)의 후방에 배치된다. 반송 기구(6)는, 기판(W)을 반송한다. 반송 기구(6)는, 캐리어 재치부(4)에 재치되는 캐리어(C)에 액세스 가능하다.The
처리 블록(11)은, 반송 스페이스(12A)를 구비한다. 반송 스페이스(12A)는, 폭 방향(Y)에 있어서의 처리 블록(11)의 중앙부에 배치된다. 반송 스페이스(12A)는, 전후 방향(X)으로 연장된다. 반송 스페이스(12A)의 전방부는, 인덱서부(3)의 반송 스페이스(5)와 연결되어 있다.The
처리 블록(11)은, 기판 재치부(14A)를 구비한다. 기판 재치부(14A)는, 반송 스페이스(12A)에 설치된다. 기판 재치부(14A)는, 반송 스페이스(12A)의 전방부에 배치된다. 인덱서부(3)의 반송 기구(6)는, 기판 재치부(14A)에도 액세스 가능하다. 기판 재치부(14A)는, 기판(W)을 재치한다.The
처리 블록(11)은, 반송 기구(16A)를 구비한다. 반송 기구(16A)는, 반송 스페이스(12A)에 설치된다. 반송 기구(16A)는, 기판(W)을 반송한다. 반송 기구(16A)는, 기판 재치부(14A)에 액세스 가능하다.The
처리 블록(11)은, 처리 유닛(21A1, 21B1, 21C1, 21D1)을 구비한다. 처리 유닛(21A1, 21B1)은, 반송 스페이스(12A)의 우방에 배치된다. 처리 유닛(21A1, 21B1)은, 전후 방향(X)으로 늘어선다. 처리 유닛(21B1)은, 처리 유닛(21A1)의 후방에 배치된다. 처리 유닛(21C1, 21D1)은, 반송 스페이스(12A)의 좌방에 배치된다. 처리 유닛(21C1, 21D1)은, 전후 방향(X)으로 늘어선다. 처리 유닛(21D1)은, 처리 유닛(21C1)의 후방에 배치된다.The
처리 유닛(21A1, 21B1, 21C1, 21D1)을 구별하지 않는 경우에는, 처리 유닛(21)이라고 부른다. 각 처리 유닛(21)은, 기판(W)에 처리를 행한다. 각 처리 유닛(21)이 행하는 처리는 같다.When the processing units 21A1, 21B1, 21C1, and 21D1 are not distinguished, they are called
처리 유닛(21)의 구조를 간단하게 설명한다. 각 처리 유닛(21)은, 처리 하우징(23)을 구비한다.The structure of the
각 처리 유닛(21)은, 유지부(31)를 구비한다. 유지부(31)는, 처리 하우징(23)의 내부에 설치된다. 유지부(31)는, 기판(W)을 유지한다. 도 1은, 유지부(31)에 유지되는 기판(W)을 파선으로 나타낸다.Each
처리 유닛(21)은, 액 공급부(33)를 구비한다. 액 공급부(33)는, 처리 하우징(23)의 내부에 설치된다. 액 공급부(33)는, 유지부(31)에 유지되는 기판(W)에 처리액을 공급한다.The
반송 기구(16A)는, 각 처리 유닛(21)에 액세스 가능하다. 구체적으로는, 반송 기구(16A)는, 각 처리 유닛(21)의 유지부(31)에 액세스 가능하다.The
이하에서는, 처리 유닛(21A1)의 처리 하우징(23)을, 적절하게 처리 하우징(23A1)이라고 부른다. 마찬가지로, 처리 유닛(21B1, 21C1, 21D1)의 처리 하우징(23)을, 적절하게 처리 하우징(23B1, 23C1, 23D1)이라고 부른다. 처리 하우징(23A1, 23B1, 23C1, 23D1)은, 같은 높이 위치에 배치된다.Hereinafter, the processing
처리 블록(11)은, 배기관(41A, 42A, 43A)을 구비한다. 배기관(41A, 42A, 43A)은 모두, 처리 하우징(23)의 외부에 설치된다. 배기관(41A-43A)은 각각, 처리 하우징(23A1)의 측방에 설치된다. 배기관(41A-43A)은 각각, 처리 하우징(23A1)의 측방의 위치를 통과한다. 배기관(41A-43A)은 각각, 기체를 배출한다. 배기관(41A-43A)은 서로 연통되어 있지 않다. 배기관(41A-43A)은 각각, 서로 분리된 배기로를 갖는다.The
마찬가지로, 처리 블록(11)은, 배기관(41B-43B, 41C-43C, 41D-43D)을 구비한다. 배기관(41B-43B, 41C-43C, 41D-43D)은 각각, 처리 하우징(23B1, 23C1, 23D1)의 측방에 설치된다. 배기관(41B-43B, 41C-43C, 41D-43D)은 각각, 기체를 배출한다.Likewise, the
처리 블록(11)은, 전환 기구(51A1, 51B1, 51C1, 51D1)를 구비한다. 전환 기구(51A1)는, 처리 하우징(23A1)과 대략 같은 높이 위치에 배치된다. 마찬가지로, 전환 기구(51B1, 51C1, 51D1)는 각각, 처리 하우징(23B1, 23C1, 23D1)과 대략 같은 높이 위치에 배치된다.The
전환 기구(51A1)는, 처리 하우징(23A1)의 배기로를, 배기관(41A-43A) 중 하나로 전환한다. 전환 기구(51A1)는, 처리 하우징(23A1)으로부터의 기체의 배기로를, 배기관(41A-43A)의 사이에서, 전환한다.The switching mechanism 51A1 switches the exhaust path of the processing housing 23A1 to one of the
구체적으로는, 전환 기구(51A1)는, 제1 상태와 제2 상태와 제3 상태로 전환한다. 제1 상태에서는, 전환 기구(51A1)는, 처리 하우징(23A1)을 배기관(41A)에 연통시키고, 또한, 처리 하우징(23A1)을 배기관(42A, 43A)으로부터 차단한다. 제2 상태에서는, 전환 기구(51A1)는, 처리 하우징(23A1)을 배기관(42A)에 연통시키고, 또한, 처리 하우징(23A1)을 배기관(41A, 43A)으로부터 차단한다. 제3 상태에서는, 전환 기구(51A1)는, 처리 하우징(23A1)을 배기관(43A)에 연통시키고, 또한, 처리 하우징(23A1)을 배기관(41A, 42A)으로부터 차단한다. 이와 같이, 전환 기구(51A1)는, 배기관(41A-43A)을 개별적으로 처리 하우징(23A1)에 연통시키고, 또한, 배기관(41A-43A)을 개별적으로 처리 하우징(23A1)으로부터 차단하도록 구성된다.Specifically, the switching mechanism 51A1 switches between the first state, the second state, and the third state. In the first state, the switching mechanism 51A1 communicates the processing housing 23A1 with the
마찬가지로, 전환 기구(51B1)는, 처리 하우징(23B1)의 배기로를, 배기관(41B-43B) 중 하나로 전환한다. 전환 기구(51C1)는, 처리 하우징(23C1)의 배기로를, 배기관(41C-43C) 중 하나로 전환한다. 전환 기구(51D1)는, 처리 하우징(23D1)의 배기로를, 배기관(41D-43D) 중 하나로 전환한다.Likewise, the switching mechanism 51B1 switches the exhaust path of the processing housing 23B1 to one of the
도 1에서는, 전환 기구(51A1)는, 처리 하우징(23A1)의 배기로를 배기관(41A)으로 전환한다. 전환 기구(51B1)는, 처리 하우징(23B1)의 배기로를 배기관(41B)으로 전환한다. 전환 기구(51C1)는, 처리 하우징(23C1)의 배기로를 배기관(42C)으로 전환한다. 전환 기구(51D1)는, 처리 하우징(23D1)의 배기로를 배기관(43D)으로 전환한다.In FIG. 1, the switching mechanism 51A1 switches the exhaust path of the processing housing 23A1 to the
구체적으로는, 전환 기구(51A1)는, 처리 하우징(23A1)을 배기관(41A)에 연통시키고, 또한, 처리 하우징(23A1)을 배기관(42A, 43A)으로부터 차단한다. 배기관(41A)은, 처리 하우징(23A1)으로부터 기체를 배출한다. 배기관(42A, 43A)은 처리 하우징(23A1)으로부터 기체를 배출하지 않는다.Specifically, the switching mechanism 51A1 connects the processing housing 23A1 to the
전환 기구(51B1)는, 처리 하우징(23B1)을 배기관(41B)에 연통시키고, 또한, 처리 하우징(23B1)을 배기관(42B, 43B)으로부터 차단한다. 배기관(41B)은 처리 하우징(23B1)으로부터 기체를 배출한다. 배기관(42B, 43B)은 처리 하우징(23B1)으로부터 기체를 배출하지 않는다.The switching mechanism 51B1 connects the processing housing 23B1 to the
전환 기구(51C1)는, 처리 하우징(23C1)을 배기관(42C)에 연통시키고, 또한, 처리 하우징(23C1)을 배기관(41C, 43C)으로부터 차단한다. 배기관(42C)은 처리 하우징(23C1)으로부터 기체를 배출한다. 배기관(41C, 43C)은 처리 하우징(23C1)으로부터 기체를 배출하지 않는다.The switching mechanism 51C1 connects the processing housing 23C1 to the
전환 기구(51D1)는, 처리 하우징(23D1)을 배기관(43D)에 연통시키고, 또한, 처리 하우징(23D1)을 배기관(41D, 42D)으로부터 차단한다. 배기관(43D)은 처리 하우징(23D1)으로부터 기체를 배출한다. 배기관(41D, 42D)은 처리 하우징(23D1)으로부터 기체를 배출하지 않는다.The switching mechanism 51D1 connects the processing housing 23D1 to the
여기서, 처리 하우징(23A1)은, 본 발명에 있어서의 제1 처리 하우징의 예이다. 처리 유닛(21A1)의 유지부(31)는, 본 발명에 있어서의 제1 유지부의 예이다. 처리 유닛(21A1)의 액 공급부(33)는, 본 발명에 있어서의 제1 액 공급부의 예이다. 배기관(41A)은, 본 발명에 있어서의 제1 배기관의 예이다. 배기관(42A)은, 본 발명에 있어서의 제2 배기관의 예이다. 전환 기구(51A1)는, 본 발명에 있어서의 제1 전환 기구의 예이다.Here, the processing housing 23A1 is an example of the first processing housing in the present invention. The holding
처리 하우징(23B1)은, 본 발명에 있어서의 제3 처리 하우징의 예이다. 처리 유닛(21B1)의 유지부(31)는, 본 발명에 있어서의 제3 유지부의 예이다. 처리 유닛(21B1)의 액 공급부(33)는, 본 발명에 있어서의 제3 액 공급부의 예이다. 배기관(41B)은, 본 발명에 있어서의 제3 배기관의 예이다. 배기관(42B)은, 본 발명에 있어서의 제4 배기관의 예이다. 전환 기구(51B1)는, 본 발명에 있어서의 제3 전환 기구의 예이다.The processing housing 23B1 is an example of the third processing housing in the present invention. The holding
기판 처리 장치(1)는, 예를 들면, 다음과 같이 동작한다. 반송 기구(6)는, 캐리어 재치부(4) 상의 캐리어(C)로부터 기판 재치부(14A)에 기판(W)을 반송한다. 반송 기구(16A)는 기판 재치부(14A)로부터 처리 유닛(21)에 기판(W)을 반송한다. 구체적으로는, 반송 기구(16A)는, 유지부(31)에 기판(W)을 둔다. 처리 유닛(21)은, 처리 하우징(23)의 내부에 있어서 기판(W)에 액 처리를 행한다. 각 처리 유닛(21)은, 한 번에 1장의 기판(W)을 처리한다. 구체적으로는, 액 공급부(33)는, 유지부(31)에 유지된 기판(W)에 처리액을 공급한다. 기판(W)이 처리된 후, 반송 기구(16A)는, 처리 유닛(21)으로부터 기판 재치부(14A)에 기판(W)을 반송한다. 반송 기구(6)는 기판 재치부(14A)로부터 캐리어 재치부(4) 상의 캐리어(C)에 기판(W)을 반송한다.The
1개의 처리 유닛(21)이 기판(W)에 처리를 행할 때, 다른 처리 유닛(21)이 다른 기판(W)을 처리해도 된다. 각 기판(W)이 반송되는 처리 유닛(21)의 수는, 예를 들면, 1개이다.When one
처리 하우징(23)의 내부에서 기판(W)에 처리를 행하고 있을 때, 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 배기로를 전환한다. 예를 들면, 기판(W)에 처리를 행하고 있을 때, 전환 기구(51A1)는, 1회 이상, 배기로를 전환한다. 예를 들면, 1개의 처리 하우징(23) 내에 있어서 1장의 기판(W)에 처리를 행하는 기간은, 제1 기간, 제2 기간 및 제3 기간 중 2개 이상을 포함해도 된다. 여기서, 제1 기간은, 제1 배기관이 처리 하우징(23)의 기체를 배기하는 기간이다. 제2 기간은, 제2 배기관이 처리 하우징(23)의 기체를 배기하는 기간이다. 제3 기간은, 제3 배기관이 처리 하우징(23)의 기체를 배기하는 기간이다.When processing is performed on the substrate W inside the processing
상술의 기판 처리 장치(1)에 의하면, 다음과 같은 효과를 얻을 수 있다. 즉, 전환 기구(51A1)는, 처리 하우징(23A1)과 대략 같은 높이 위치에 배치된다. 이 때문에, 처리 하우징(23A1)과 전환 기구(51A1) 사이의 유로를 적합하게 짧게 할 수 있다.According to the above-described
추가로 말하자면, 처리 하우징(23A1)과 전환 기구(51A1)는, 배관을 통하지 않고, 접속된다. 이 때문에, 처리 하우징(23A1)과 전환 기구(51A1) 사이의 유로를 적합하게 짧게 할 수 있다.Additionally, the processing housing 23A1 and the switching mechanism 51A1 are connected without passing through a pipe. For this reason, the flow path between the processing housing 23A1 and the switching mechanism 51A1 can be appropriately shortened.
처리 하우징(23A1)과 전환 기구(51A1) 사이의 유로를 적합하게 짧게 할 수 있으므로, 처리 하우징(23A1)과 전환 기구(51A1) 사이의 유로가 오손되는 것을 적합하게 억제할 수 있다. 따라서, 기체는, 처리 하우징(23A1)으로부터 전환 기구(51A1)에 원활하게 흐른다. 그 결과, 처리 하우징(23A1)의 기체를 적절하게 배기할 수 있다.Since the flow path between the processing housing 23A1 and the switching mechanism 51A1 can be appropriately shortened, contamination of the flow path between the processing housing 23A1 and the switching mechanism 51A1 can be appropriately suppressed. Accordingly, gas flows smoothly from the processing housing 23A1 to the diversion mechanism 51A1. As a result, the gas in the processing housing 23A1 can be properly exhausted.
그런데, 전환 타이밍은, 예를 들면, 기체 변화 타이밍과 지연 시간에 따라, 결정된다. 여기서, 전환 타이밍은, 전환 기구(51)가 배기로를 전환하는 타이밍이다. 기체 변화 타이밍은, 처리 하우징(23)의 기체의 성분이 변화하는 타이밍이다. 지연 시간은, 기체가 처리 하우징(23)으로부터 전환 기구(51)에 도달하는 데에 필요로 하는 시간이다. 처리 하우징(23)과 전환 기구(51) 사이의 유로가 짧을수록, 지연 시간은 단축된다. 처리 하우징(23)과 전환 기구(51) 사이의 유로가 짧을수록, 지연 시간의 불균일은 작다. 상술한 바와 같이, 기판 처리 장치(1)에 의하면, 처리 하우징(23A1)과 전환 기구(51A1) 사이의 유로를 적합하게 짧게 할 수 있다. 이 때문에, 지연 시간을 적합하게 단축할 수 있다. 또한, 지연 시간의 불균일을 적합하게 억제할 수 있다. 따라서, 전환 타이밍을 적확하게 결정할 수 있다. 따라서, 전환 기구(51A1)는, 처리 하우징(23A1)의 배기로를 적확한 타이밍에 전환할 수 있다.However, the switching timing is determined, for example, depending on the gas change timing and delay time. Here, the switching timing is the timing at which the
전환 기구(51A1)는, 처리 하우징(23A1)과 대략 같은 높이 위치에 배치되므로, 처리 하우징(23A1)과 전환 기구(51A1) 사이의 유로는, 대략 수평 방향으로 연장된다. 따라서, 기체는, 처리 하우징(23A1)으로부터 전환 기구(51A1)로 한층 더 원활하게 흐른다. 그 결과, 처리 하우징(23A1)의 기체를 한층 더 적절하게 배기할 수 있다.Since the switching mechanism 51A1 is disposed at approximately the same height as the processing housing 23A1, the flow path between the processing housing 23A1 and the switching mechanism 51A1 extends in a substantially horizontal direction. Accordingly, gas flows more smoothly from the processing housing 23A1 to the switching mechanism 51A1. As a result, the gas in the processing housing 23A1 can be exhausted more appropriately.
마찬가지로, 전환 기구(51B1, 51C1, 51D1)는 각각, 처리 하우징(23B1, 23C1, 23D1)과 대략 같은 높이 위치에 배치된다. 이 때문에, 처리 하우징(23A1, 23C1, 23D1)의 기체를 적절하게 배기할 수 있다.Likewise, the switching mechanisms 51B1, 51C1, and 51D1 are disposed at approximately the same height as the processing housings 23B1, 23C1, and 23D1, respectively. For this reason, the gas in the processing housings 23A1, 23C1, and 23D1 can be properly exhausted.
배기관(41A)은, 처리 하우징(23A1)의 측방에 배치된다. 이 때문에, 전환 기구(51A1)는, 배기관(41A)과 용이하게 접속할 수 있다. 배기관(42A, 43A)도, 처리 하우징(23A1)의 측방에 배치된다. 이 때문에, 전환 기구(51A1)는, 배기관(42A, 43A)과 용이하게 접속할 수 있다.The
마찬가지로, 배기관(41B-43B)은, 처리 하우징(23B1)의 측방에 배치된다. 이 때문에, 전환 기구(51B1)는, 배기관(41B-43B)과 용이하게 접속할 수 있다. 배기관(41C-43C)은, 처리 하우징(23C1)의 측방에 배치된다. 이 때문에, 전환 기구(51C1)는, 배기관(41C-43C)과 용이하게 접속할 수 있다. 배기관(41D-43D)은, 처리 하우징(23D1)의 측방에 배치된다. 이 때문에, 전환 기구(51D1)는, 배기관(41D-43D)과 용이하게 접속할 수 있다.Likewise, the
이하에서는, 기판 처리 장치(1)의 구조에 대하여, 더욱 상세하게 설명한다.Below, the structure of the
<인덱서부(3)><Indexer Department (3)>
도 1, 2를 참조한다. 도 2는, 폭 방향(Y)에 있어서의 기판 처리 장치(1)의 중앙부의 구성을 나타내는 우측면도이다. 반송 기구(6)의 구조에 대하여 설명한다. 반송 기구(6)는 핸드(7)와 핸드 구동부(8)를 구비한다. 핸드(7)는, 1장의 기판(W)을 수평 자세로 지지한다. 핸드 구동부(8)는, 핸드(7)에 연결된다. 핸드 구동부(8)는, 핸드(7)를 이동시킨다. 핸드 구동부(8)는, 핸드(7)를 전후 방향(X), 폭 방향(Y) 및 연직 방향(Z)으로 이동시킨다.See Figures 1 and 2. FIG. 2 is a right side view showing the configuration of the central portion of the
핸드 구동부(8)의 구조를 예시한다. 핸드 구동부(8)는, 예를 들면, 레일(8a)과 수평 이동부(8b)와 수직 이동부(8c)와 회전부(8d)와 진퇴 이동부(8e)를 구비한다. 레일(8a)은, 고정적으로 설치된다. 레일(8a)은, 반송 스페이스(5)의 바닥부에 배치된다. 레일(8a)은, 폭 방향(Y)으로 연장된다. 수평 이동부(8b)는, 레일(8a)에 지지된다. 수평 이동부(8b)는, 레일(8a)에 대하여 폭 방향(Y)으로 이동한다. 수직 이동부(8c)는, 수평 이동부(8b)에 지지된다. 수직 이동부(8c)는, 수평 이동부(8b)에 대하여 연직 방향(Z)으로 이동한다. 회전부(8d)는, 수직 이동부(8c)에 지지된다. 회전부(8d)는, 수직 이동부(8c)에 대하여 회전한다. 회전부(8d)는, 연직 방향(Z)과 평행인 회전축선 둘레로 회전한다. 진퇴 이동부(8e)는, 회전부(8d)에 대하여 이동한다. 진퇴 이동부(8e)는, 회전부(8d)의 방향에 의하여 결정되는 수평인 일방향으로 왕복 이동한다. 진퇴 이동부(8e)는, 핸드(7)에 접속된다. 핸드 구동부(8)가 이와 같은 구성을 구비하므로, 핸드(7)는, 연직 방향(Z)으로 평행 이동 가능하다. 핸드(7)는, 수평인 임의의 방향으로 평행 이동 가능하다. 핸드(7)는, 수평면 내에서 회전 가능하다.The structure of the
<처리 블록(11)의 개요><Overview of
도 2, 3을 참조한다. 도 3은, 처리 블록(11)의 정면도이다. 도 3은, 기판 재치부(14A) 등의 도시를 생략한다. 처리 블록(11)은, 반송 스페이스(12A)에 더하여, 반송 스페이스(12B)를 구비한다. 반송 스페이스(12B)는, 반송 스페이스(12A)의 하방에 배치된다. 반송 스페이스(12B)도, 인덱서부(3)의 반송 스페이스(5)와 연결되어 있다. 도시를 생략하지만, 반송 스페이스(12B)는, 평면에서 보았을 때, 반송 스페이스(12A)와 같은 위치에 배치된다.See Figures 2 and 3. Figure 3 is a front view of the
반송 스페이스(12A, 12B)를 구별하지 않는 경우에는, 반송 스페이스(12)라고 부른다.When the
처리 블록(11)은, 1개의 격벽(13)을 구비한다. 격벽(13)은, 반송 스페이스(12A)의 하방, 또한, 반송 스페이스(12B)의 상방에 배치된다. 격벽(13)은, 수평인 판 형상을 갖는다. 격벽(13)은, 반송 스페이스(12A)와 반송 스페이스(12B)를 이격시킨다.The
도 2를 참조한다. 처리 블록(11)은, 기판 재치부(14A)에 더하여, 기판 재치부(14B)를 구비한다. 기판 재치부(14B)는, 기판(W)을 재치한다. 기판 재치부(14B)는, 기판 재치부(14A)의 하방에 배치된다. 기판 재치부(14B)는, 반송 스페이스(12B)에 설치된다. 기판 재치부(14B)는, 반송 스페이스(12B)의 전방부에 배치된다. 인덱서부(3)의 반송 기구(6)는, 기판 재치부(14B)에도 액세스 가능하다. 반송 기구(6)는, 예를 들면, 기판 재치부(14A, 14B)에 번갈아 기판(W)을 반송한다.See Figure 2. The
처리 블록(11)은, 반송 기구(16A)에 더하여, 반송 기구(16B)를 구비한다. 반송 기구(16B)는, 반송 스페이스(12B)에 설치된다. 반송 기구(16B)는, 기판(W)을 반송한다. 반송 기구(16B)는, 기판 재치부(14B)에 액세스 가능하다.The
반송 기구(16A, 16B)를 구별하지 않는 경우에는, 반송 기구(16)라고 부른다.When there is no distinction between the
도 1, 2, 3을 참조한다. 반송 기구(16)의 구조를 설명한다. 반송 기구(16)는, 핸드(17)와 핸드 구동부(18)를 구비한다. 핸드(17)는, 1장의 기판(W)을 수평 자세로 지지한다. 핸드 구동부(18)는, 핸드(17)에 연결된다. 핸드 구동부(18)는, 핸드(17)를 이동시킨다. 핸드 구동부(18)는, 핸드(17)를 전후 방향(X), 폭 방향(Y) 및 연직 방향(Z)으로 이동시킨다.See Figures 1, 2, and 3. The structure of the conveyance mechanism 16 will be explained. The conveyance mechanism 16 includes a
핸드 구동부(18)의 구조를 예시한다. 핸드 구동부(18)는, 예를 들면, 2개의 지주(18a)와, 수직 이동부(18b)와 수평 이동부(18c)와 회전부(18d)와 진퇴 이동부(18e)를 구비한다. 지주(18a)는, 고정적으로 설치된다. 지주(18a)는, 반송 스페이스(12)의 측부에 배치된다. 2개의 지주(18a)는 전후 방향(X)으로 늘어선다. 각 지주(18a)는, 연직 방향(Z)으로 연장된다. 수직 이동부(18b)는, 지주(18a)에 지지된다. 수직 이동부(18b)는, 2개의 지주(18a)의 사이에 걸쳐 전후 방향(X)으로 연장된다. 수직 이동부(18b)는, 지주(18a)에 대하여 연직 방향(Z)으로 이동한다. 수평 이동부(18c)는, 수직 이동부(18b)에 지지된다. 수평 이동부(18c)는, 수직 이동부(18b)에 대하여 전후 방향(X)으로 이동한다. 회전부(18d)는, 수평 이동부(18c)에 지지된다. 회전부(18d)는, 수평 이동부(18c)에 대하여 회전한다. 회전부(18d)는, 연직 방향(Z)과 평행인 회전축선 둘레로 회전한다. 진퇴 이동부(18e)는, 회전부(18d)에 대하여 이동한다. 진퇴 이동부(18e)는, 회전부(18d)의 방향에 의하여 결정되는 수평인 일방향으로 왕복 이동한다. 진퇴 이동부(18e)는, 핸드(17)에 접속된다. 핸드 구동부(18)가 이와 같이 구성되므로, 핸드(17)는, 연직 방향(Z)으로 평행 이동 가능하다. 핸드(7)는, 수평인 임의의 방향으로 평행 이동 가능하다. 핸드(7)는, 수평면 내에서 회전 가능하다.The structure of the
도 4는, 기판 처리 장치(1)의 우측부의 구성을 나타내는 우측면도이다. 처리 블록(11)은, 처리 유닛(21A1)에 더하여, 5개의 처리 유닛(21A2-21A6)을 구비한다. 처리 유닛(21A2-21A6)은 각각, 처리 하우징(23A2-23A6)을 구비한다. 처리 하우징(23A2-23A6)은, 처리 하우징(23A1)의 하방에 배치된다. 처리 하우징(23A1-23A6)은, 위에서 아래를 향하여, 늘어선다. 처리 하우징(23A1-23A6)은, 연직 방향(Z)으로 1열로 늘어선다. 도시를 생략하지만, 처리 하우징(23A2-23A6)은 각각, 평면에서 보았을 때, 처리 하우징(23A1)과 같은 위치에 배치된다. 처리 하우징(23A1-23A6)은, 서로 적층된다.FIG. 4 is a right side view showing the configuration of the right side of the
마찬가지로, 처리 블록(11)은, 처리 유닛(21B1)에 더하여, 처리 유닛(21B2-21B6)을 구비한다. 처리 유닛(21B2-21B6)은 각각, 처리 하우징(23B2-23B6)을 구비한다. 처리 하우징(23B1-23B6)의 상대적인 위치는, 처리 하우징(23A1-23A6)의 상대적인 위치와 같다.Likewise, the
도 5는, 기판 처리 장치(1)의 좌측부의 구성을 나타내는 좌측면도이다. 처리 블록(11)은, 처리 유닛(21C1, 21D1)에 더하여, 처리 유닛(21C2-21C6, 21D2-21D6)을 구비한다. 처리 유닛(21C2-21C6, 21D2-21D6)은 각각, 처리 하우징(23C2-23C6, 23D2-23D6)을 구비한다. 처리 하우징(23C1-23C6, 23D1-23D6)은 각각, 처리 하우징(23A1-23A6)과 동일하게 배치된다.FIG. 5 is a left side view showing the configuration of the left side of the
도 3, 4, 5를 참조한다. 상술한 바와 같이, 처리 하우징(23A1, 23B1, 23C1, 23D1)은, 같은 높이 위치에 배치된다. 처리 하우징(23A2-23A6, 23B2-23B6, 23C2-23C6, 23D2-23D6)도, 동일하게 배치된다. 즉, 처리 하우징(23An, 23Bn, 23Cn, 23Dn)은, 같은 높이 위치에 배치된다. 여기서, 「n」은 1에서 6까지의 정수이다.See Figures 3, 4, and 5. As described above, the processing housings 23A1, 23B1, 23C1, and 23D1 are arranged at the same height. The processing housings 23A2-23A6, 23B2-23B6, 23C2-23C6, and 23D2-23D6 are also arranged in the same manner. That is, the processing housings 23An, 23Bn, 23Cn, and 23Dn are arranged at the same height position. Here, “n” is an integer from 1 to 6.
도 3을 참조한다. 처리 하우징(23A1-23A3, 23B1-23B3, 23C1-23C3, 23D1-23D3)은 각각, 반송 스페이스(12A)와 같은 높이 위치에 배치된다. 이 때문에, 반송 기구(16A)는, 처리 하우징(23A1-23A3, 23B1-23B3, 23C1-23C3, 23D1-23D3)에 액세스 가능하다.See Figure 3. The processing housings 23A1-23A3, 23B1-23B3, 23C1-23C3, and 23D1-23D3 are each disposed at the same height as the
처리 하우징(23A4-23A6, 23B4-23B6, 23C4-23C6, 23D4-23D6)은, 반송 스페이스(12B)와 같은 높이 위치에 배치된다. 이 때문에, 반송 기구(16B)는, 처리 하우징(23A4-23A6, 23B4-23B6, 23C4-23C6, 23D4-23D6)에 액세스 가능하다.The processing housings 23A4-23A6, 23B4-23B6, 23C4-23C6, and 23D4-23D6 are arranged at the same height as the
처리 유닛(21A1-21A6)을 구별하지 않는 경우, 처리 유닛(21A)이라고 부른다. 처리 유닛(21B1-21B6)을 구별하지 않는 경우, 처리 유닛(21B)이라고 부른다. 처리 유닛(21C1-21C6)을 구별하지 않는 경우, 처리 유닛(21C)이라고 부른다. 처리 유닛(21D1-21D6)을 구별하지 않는 경우, 처리 유닛(21D)이라고 부른다. 처리 유닛(21A, 21B, 21C, 21D)을 구별하지 않는 경우, 처리 유닛(21)이라고 부른다.If processing units 21A1-21A6 are not distinguished, they are referred to as processing unit 21A. If processing units 21B1-21B6 are not distinguished, they are referred to as processing unit 21B. If processing units 21C1-21C6 are not distinguished, they are referred to as processing unit 21C. If processing units 21D1-21D6 are not distinguished, they are referred to as processing unit 21D. If the processing units 21A, 21B, 21C, and 21D are not distinguished, they are called
처리 하우징(23A1-23A6)을 구별하지 않는 경우, 처리 하우징(23A)이라고 부른다. 처리 하우징(23B1-23B6)을 구별하지 않는 경우, 처리 하우징(23B)이라고 부른다. 처리 하우징(23C1-23C6)을 구별하지 않는 경우, 처리 하우징(23C)이라고 부른다. 처리 하우징(23D1-23D6)을 구별하지 않는 경우, 처리 하우징(23D)이라고 부른다. 처리 하우징(23A, 23B, 23C, 23D)을 구별하지 않는 경우, 처리 하우징(23)이라고 부른다.If no distinction is made between the processing housings 23A1-23A6, they are referred to as the processing housing 23A. If no distinction is made between the processing housings 23B1-23B6, they are referred to as the processing housing 23B. If no distinction is made between the processing housings 23C1-23C6, they are referred to as processing housing 23C. If no distinction is made between the processing housings 23D1-23D6, they are referred to as the processing housing 23D. If the processing housings 23A, 23B, 23C, and 23D are not distinguished, they are referred to as the processing
도 1을 참조한다. 각 처리 하우징(23)은 각각, 반송 스페이스(12)에 인접한다. 각 처리 하우징(23A, 23B)은 각각, 반송 스페이스(12)의 우방에 배치된다. 각 처리 하우징(23C, 23D)은 각각, 반송 스페이스(12)의 좌방에 배치된다.See Figure 1. Each processing
처리 블록(11)은, 제1 배관 스페이스(44A, 44B)와 제2 배관 스페이스(46A, 46B)를 구비한다. 제1 배관 스페이스(44A, 44B)와 제2 배관 스페이스(46A, 46B)는 각각, 반송 스페이스(12)에 인접한다. 제1 배관 스페이스(44A, 44B)와 제2 배관 스페이스(46A, 46B)는, 반송 스페이스(12)의 우방에 배치된다.The
제1 배관 스페이스(44A)와 처리 하우징(23A)과 제2 배관 스페이스(46A)는, 전후 방향(X)으로 늘어선다. 제1 배관 스페이스(44A)와 처리 하우징(23A)과 제2 배관 스페이스(46A)는, 이 순서로 늘어선다. 제1 배관 스페이스(44A)는, 처리 하우징(23A)의 전방에 배치된다. 제1 배관 스페이스(44A)는, 처리 하우징(23A)에 인접한다. 제2 배관 스페이스(46A)는, 처리 하우징(23A)의 후방에 배치된다. 제2 배관 스페이스(46A)는, 처리 하우징(23A)에 인접한다.The
처리 하우징(23B)과 제1 배관 스페이스(44B)와 제2 배관 스페이스(46B)의 상대적인 위치는, 처리 하우징(23A)과 제1 배관 스페이스(44A)와 제2 배관 스페이스(46A)의 상대적인 위치와 같다. 제1 배관 스페이스(44B)는, 제2 배관 스페이스(46A)의 후방에 배치된다. 제1 배관 스페이스(44B)는, 제2 배관 스페이스(46A)에 인접한다.The relative positions of the processing housing 23B, the
처리 블록(11)은, 제1 배관 스페이스(44C, 44D)와 제2 배관 스페이스(46C, 46D)를 구비한다. 제1 배관 스페이스(44C, 44D)와 제2 배관 스페이스(46C, 46D)는 각각, 반송 스페이스(12)에 인접한다. 제1 배관 스페이스(44C, 44D)와 제2 배관 스페이스(46C, 46D)는, 반송 스페이스(12)의 좌방에 배치된다. 처리 하우징(23C)과 제1 배관 스페이스(44C)와 제2 배관 스페이스(46C)의 상대적인 위치는, 처리 하우징(23A)과 제1 배관 스페이스(44A)와 제2 배관 스페이스(46A)의 상대적인 위치와, 방향이 다를 뿐이다. 처리 하우징(23C)과 제1 배관 스페이스(44C)와 제2 배관 스페이스(46C)의 상대적인 위치는, 처리 하우징(23A)과 제1 배관 스페이스(44A)와 제2 배관 스페이스(46A)의 상대적인 위치를 연직 방향(Z)과 평행인 축선 둘레로 180도, 회전한 것에 상당한다. 이 때문에, 제1 배관 스페이스(44C)는, 처리 하우징(23C)의 후방에 배치된다. 제2 배관 스페이스(46C)는, 처리 하우징(23C)의 전방에 배치된다. 이와 같이, 처리 하우징(23C)과 제1 배관 스페이스(44C)와 제2 배관 스페이스(46C)의 상대적인 위치는, 처리 하우징(23A)과 제1 배관 스페이스(44A)와 제2 배관 스페이스(46A)의 상대적인 위치와 같다. 처리 하우징(23C), 제1 배관 스페이스(44C) 및 제2 배관 스페이스(46C)는, 처리 하우징(23A), 제1 배관 스페이스(44A) 및 제2 배관 스페이스(46A)와, 설치되는 방향이 상이할 뿐이다. 처리 하우징(23D)과 제1 배관 스페이스(44D)와 제2 배관 스페이스(46D)의 상대적인 위치도, 처리 하우징(23A)과 제1 배관 스페이스(44A)와 제2 배관 스페이스(46A)의 상대적인 위치와 같다. 처리 하우징(23D), 제1 배관 스페이스(44D) 및 제2 배관 스페이스(46D)는, 처리 하우징(23A), 제1 배관 스페이스(44A) 및 제2 배관 스페이스(46A)와, 설치되는 방향이 상이할 뿐이다.The
제1 배관 스페이스(44A)는, 배기관(41A-43A)을 수용한다. 바꾸어 말하면, 배기관(41A-43A)은, 제1 배관 스페이스(44A)에 설치된다. 마찬가지로, 제1 배관 스페이스(44B)는, 배기관(41B-43B)을 수용한다. 제1 배관 스페이스(44C)는, 배기관(41C-43C)을 수용한다. 제1 배관 스페이스(44D)는, 배기관(41D-43D)을 수용한다.The
배기관(41A-43A)은, 처리 하우징(23A)의 전방에 배치된다. 배기관(41B-43B)은, 처리 하우징(23B)의 전방에 배치된다. 배기관(41C-43C)은, 처리 하우징(23C)의 후방에 배치된다. 배기관(41D-43D)은, 처리 하우징(23D)의 후방에 배치된다.
배기관(41A-43A)은, 폭 방향(Y)으로 늘어선다. 배기관(41A-43A)은 각각, 처리 하우징(23A)에 인접한다. 마찬가지로, 배기관(41B-43B)은, 폭 방향(Y)으로 늘어선다. 배기관(41B-43B)은 각각, 처리 하우징(23B)에 인접한다. 배기관(41C-43C)은, 폭 방향(Y)으로 늘어선다. 배기관(41C-43C)은 각각, 처리 하우징(23C)에 인접한다. 배기관(41D-43D)은, 폭 방향(Y)으로 늘어선다. 배기관(41D-43D)은 각각, 처리 하우징(23C)에 인접한다.
처리 블록(11)은, 급기관(48A, 48B, 48C, 48D)을 구비한다. 급기관(48A)은, 제2 배관 스페이스(46A)에 설치된다. 급기관(48A)은, 처리 하우징(23A)에 기체(예를 들면, 청정 공기)를 공급한다. 마찬가지로, 급기관(48B, 48C, 48D)은 각각, 제2 배관 스페이스(46B, 46C, 46D)에 수용된다. 급기관(48B, 48C, 48D)은 각각, 처리 하우징(23B, 23C, 23D)에 기체를 공급한다.The
도 3, 4, 5를 참조한다. 배기관(41A-43A)은 각각, 연직 방향(Z)으로 연장된다. 배기관(41A-43A)은 각각, 처리 하우징(23A1)의 높이 위치로부터, 처리 하우징(23A6)의 높이 위치에 걸쳐 연장된다. 마찬가지로, 배기관(41B-43B, 41C-43C, 41D-43D)은 각각, 연직 방향(Z)으로 연장된다.See Figures 3, 4, and 5. The
도 4, 5를 참조한다. 급기관(48A-48D)은 각각, 연직 방향으로 연장된다. 급기관(48A-48D)은 각각, 처리 하우징(23A-23D)의 측방에 설치된다.See Figures 4 and 5. The
전후 방향(X)은, 본 발명에 있어서의 제1 방향의 예이다. 폭 방향(Y)은, 본 발명에 있어서의 제2 방향의 예이다.The front-back direction (X) is an example of the first direction in the present invention. The width direction (Y) is an example of the second direction in the present invention.
배기관(41A-41D)을 구별하지 않는 경우에는, 배기관(41)이라고 부른다. 배기관(42A-42D)을 구별하지 않는 경우에는, 배기관(42)이라고 부른다. 배기관(43A-43D)을 구별하지 않는 경우에는, 배기관(43)이라고 부른다. 제1 배관 스페이스(44A, 44B, 44C, 44D)를 구별하지 않는 경우에는, 제1 배관 스페이스(44)라고 부른다. 제2 배관 스페이스(46A, 46B, 46C, 46D)를 구별하지 않는 경우에는, 제2 배관 스페이스(46)라고 부른다. 급기관(48A-48D)을 구별하지 않는 경우에는, 급기관(48)이라고 부른다.When no distinction is made between the
제1 배관 스페이스(44)는, 처리 하우징(23)에 기체를 공급하는 배관을 수용하지 않는다. 제1 배관 스페이스(44)는, 처리 유닛(21)(액 공급부(33))에 처리액을 공급하는 배관을 수용하지 않는다. 제1 배관 스페이스(44)는, 처리 유닛(21)으로부터 처리액을 배출하는 배관을 수용하지 않는다.The
제2 배관 스페이스(46)는, 예를 들면, 처리 유닛(21)(액 공급부(33))에 처리액을 공급하는 배관을 수용해도 된다. 제2 배관 스페이스(46)는, 예를 들면, 처리 유닛(21)으로부터 처리액을 배출하는 배관을 수용해도 된다.The
도 3, 4를 참조한다. 상술한 바와 같이, 전환 기구(51A1)는, 처리 하우징(23A1)과 대략 같은 높이 위치에 배치된다. 전환 기구(51A1)는, 정면에서 보았을 때, 처리 하우징(23A1)과 겹친다. 구체적으로는, 전환 기구(51A1)의 전체는, 정면에서 보았을 때, 처리 하우징(23A1)과 겹친다. 전환 기구(51B1)와 처리 하우징(23B1)의 상대적인 위치는, 전환 기구(51A1)와 처리 하우징(23A1)의 상대적인 위치와 같다. 전환 기구(51C1, 51D1)와 처리 하우징(23C1, 23D1)의 상대적인 위치도, 전환 기구(51A1)와 처리 하우징(23A1)의 상대적인 위치와 같다.See Figures 3 and 4. As described above, the switching mechanism 51A1 is disposed at approximately the same height as the processing housing 23A1. The switching mechanism 51A1 overlaps the processing housing 23A1 when viewed from the front. Specifically, the entire switching mechanism 51A1 overlaps the processing housing 23A1 when viewed from the front. The relative position of the switching mechanism 51B1 and the processing housing 23B1 is the same as the relative position of the switching mechanism 51A1 and the processing housing 23A1. The relative positions of the switching mechanisms 51C1 and 51D1 and the processing housings 23C1 and 23D1 are also the same as the relative positions of the switching mechanisms 51A1 and the processing housing 23A1.
처리 블록(11)은, 전환 기구(51A1)에 더하여, 전환 기구(51A2-51A6)를 구비한다. 전환 기구(51A2)와 처리 하우징(23A2)의 상대적인 위치는, 전환 기구(51A1)와 처리 하우징(23A1)의 상대적인 위치와 같다. 구체적으로는, 전환 기구(51A2)는, 처리 하우징(23A2)과 대략 같은 높이 위치에 배치된다. 전환 기구(51A2)는, 정면에서 보았을 때, 처리 하우징(23A2)과 겹친다. 마찬가지로, 전환 기구(51A3-51A6)와 처리 하우징(23A3-23A6)의 상대적인 위치는, 전환 기구(51A1)와 처리 하우징(23A1)의 상대적인 위치와 같다.The
전환 기구(51A2)는, 처리 하우징(23A2)의 배기로를, 배기관(41A-43A) 중 하나로 전환한다. 마찬가지로, 전환 기구(51A3-51A6)는 각각, 처리 하우징(23A3-23A6)의 배기로를, 배기관(41A-43A) 중 하나로 전환한다. 따라서, 배기관(41A-43A)은 각각, 처리 하우징(23A1-23A6)으로부터 기체를 배출한다.The switching mechanism 51A2 switches the exhaust path of the processing housing 23A2 to one of the
도 4를 참조한다. 처리 블록(11)은, 전환 기구(51B1)에 더하여, 전환 기구(51B2-51B6)를 구비한다. 전환 기구(51B2-51B6)와 처리 하우징(23B2-23B6)의 상대적인 위치는, 전환 기구(51B1)와 처리 하우징(23B1)의 상대적인 위치와 같다. 전환 기구(51B2-51B6)는 각각, 처리 하우징(23B2-23B6)의 배기로를, 배기관(41B-43B) 중 하나로 전환한다. 따라서, 배기관(41B-43B)은 각각, 처리 하우징(23B1-23B6)으로부터 기체를 배출한다.See Figure 4. The
도 5를 참조한다. 처리 블록(11)은, 전환 기구(51C1)에 더하여, 전환 기구(51C2-51C6)를 구비한다. 전환 기구(51C2-51C6)와 처리 하우징(23C2-23C6)의 상대적인 위치는, 전환 기구(51C1)와 처리 하우징(23C1)의 상대적인 위치와 같다. 전환 기구(51C2-51C6)는 각각, 처리 하우징(23C2-23C6)의 배기로를, 배기관(41C-43C) 중 하나로 전환한다. 따라서, 배기관(41C-43C)은 각각, 처리 하우징(23C1-23C6)으로부터 기체를 배출한다.See Figure 5. The
처리 블록(11)은, 전환 기구(51D1)에 더하여, 전환 기구(51D2-51D6)를 구비한다. 전환 기구(51D2-51D6)와 처리 하우징(23D2-23D6)의 상대적인 위치는, 전환 기구(51D1)와 처리 하우징(23D1)의 상대적인 위치와 같다. 전환 기구(51D2-51D6)는 각각, 처리 하우징(23D2-23D6)의 배기로를, 배기관(41D-43D) 중 하나로 전환한다. 따라서, 배기관(41D-43D)은, 처리 하우징(23D1-23D6)으로부터 기체를 배출한다.The
도시를 생략하지만, 전환 기구(51A2-51A6)는 각각, 평면에서 보았을 때, 전환 기구(51A1)와 같은 위치에 배치된다. 마찬가지로, 전환 기구(51B2-51B6)는 각각, 평면에서 보았을 때, 전환 기구(51B1)와 같은 위치에 배치된다. 전환 기구(51C2-51C6)는 각각, 평면에서 보았을 때, 전환 기구(51C1)와 같은 위치에 배치된다. 전환 기구(51D2-51D6)는 각각, 평면에서 보았을 때, 전환 기구(51D1)와 같은 위치에 배치된다.Although not shown, the switching mechanisms 51A2 - 51A6 are each disposed at the same position as the switching mechanism 51A1 when viewed from the top. Likewise, the switching mechanisms 51B2 - 51B6 are each disposed at the same position as the switching mechanism 51B1 when viewed from the top. The switching mechanisms 51C2 - 51C6 are each disposed at the same position as the switching mechanism 51C1 when viewed from the top. The switching mechanisms 51D2-51D6 are each disposed at the same position as the switching mechanism 51D1 when viewed from the top.
전환 기구(51A1-51A6)를 구별하지 않는 경우에는, 전환 기구(51A)라고 부른다. 전환 기구(51B1-51B6)를 구별하지 않는 경우에는, 전환 기구(51B)라고 부른다. 전환 기구(51C1-51C6)를 구별하지 않는 경우에는, 전환 기구(51C)라고 부른다. 전환 기구(51D1-51D6)를 구별하지 않는 경우에는, 전환 기구(51D)라고 부른다. 전환 기구(51A, 51B, 51C, 51D)를 구별하지 않는 경우에는, 전환 기구(51)라고 부른다.When no distinction is made between the switching mechanisms 51A1-51A6, they are referred to as the switching mechanism 51A. When no distinction is made between the switching mechanisms 51B1-51B6, they are referred to as the switching mechanism 51B. When no distinction is made between the switching mechanisms 51C1-51C6, they are referred to as the switching mechanism 51C. When no distinction is made between the switching mechanisms 51D1-51D6, they are called the switching mechanisms 51D. When no distinction is made between the switching mechanisms 51A, 51B, 51C, and 51D, they are referred to as switching
도 1을 참조한다. 전환 기구(51)는, 평면에서 보았을 때, 유지부(31)와 겹치지 않는 위치에 설치된다. 전환 기구(51)의 적어도 일부는, 처리 하우징(23)의 외부에 설치된다. 전환 기구(51)의 적어도 일부는, 처리 하우징(23)의 측방에 설치된다. 전환 기구(51)의 적어도 일부는, 제1 배관 스페이스(44)에 설치된다. 각 전환 기구(51A)의 적어도 일부는, 제1 배관 스페이스(44A)에 설치된다. 각 전환 기구(51B)의 적어도 일부는, 제1 배관 스페이스(44B)에 설치된다. 각 전환 기구(51C)의 적어도 일부는, 제1 배관 스페이스(44C)에 설치된다. 각 전환 기구(51D)의 적어도 일부는, 제1 배관 스페이스(44D)에 설치된다.See Figure 1. The
<처리 유닛(21)의 구조><Structure of
도 6은, 처리 유닛(21)의 평면도이다. 도 7은, 처리 유닛(21)의 측면도이다. 각 처리 유닛(21)은, 상술한 바와 같이, 처리 하우징(23)과 유지부(31)와 액 공급부(33)를 구비한다. 또한, 도 1은 액 공급부(33)를 편의상, 간략하게 나타냈으므로, 도 6에 나타내는 액 공급부(33)는, 도 1에 나타내는 액 공급부(33)와 약간 상이하다.Figure 6 is a top view of the
처리 하우징(23)의 구조를 설명한다. 처리 하우징(23)은, 대략 상자 형상을 갖는다. 처리 하우징(23)은, 평면에서 보았을 때, 정면에서 보았을 때 및 측면에서 보았을 때, 대략 직사각형 형상을 갖는다.The structure of the processing
각 처리 하우징(23)은, 4개의 측벽(25a, 25b, 25c, 25d)과 상판(25e)과 바닥판(25f)을 구비한다. 측벽(25a-25d)은 각각, 대략 수직인 판 형상이다. 상판(25e)과 바닥판(25f)은, 대략 수평인 판 형상을 갖는다.Each processing
각 처리 하우징(23)은, 그 내부에 처리 스페이스(24)를 갖는다. 기판(W)은, 처리 스페이스(24)에 있어서 처리된다. 처리 스페이스(24)는, 측벽(25a-25d)과 상판(25e)과 바닥판(25f)에 의하여, 구획된다.Each processing
측벽(25a, 25c)은, 평면에서 보았을 때, 전후 방향(X)으로 연장된다. 측벽(25c)은, 측벽(25a)의 반대에 설치된다. 측벽(25b, 25d)은, 평면에서 보았을 때, 폭 방향(Y)으로 연장된다. 측벽(25b, 25d)은 각각, 측벽(25a)으로부터 측벽(25c)까지 연장된다. 측벽(25d)은, 측벽(25b)의 반대에 설치된다.The
처리 하우징(23B)은, 처리 하우징(23A)과 같은 구조를 갖는다. 처리 하우징(23C, 23D)도, 처리 하우징(23A)과 같은 구조를 갖는다. 처리 하우징(23C, 23D)은, 처리 하우징(23A)과, 설치되는 방향이 상이할 뿐이다. 처리 하우징(23C, 23D)은, 처리 하우징(23A)을, 연직 방향(Z)과 평행인 축선 둘레로 180도, 회전한 것에 상당한다. 따라서, 처리 하우징(23A-23D) 중 어느 것에 있어서도, 측벽(25a)은 반송 스페이스(12)와 접한다. 처리 하우징(23A-23D) 중 어느 것에 있어서도, 측벽(25b)은 제1 배관 스페이스(44)에 접한다. 처리 하우징(23A-23D) 중 어느 것에 있어서도, 측벽(25d)은 제2 배관 스페이스(46)에 접한다.The processing housing 23B has the same structure as the processing housing 23A. The processing housings 23C and 23D also have the same structure as the processing housing 23A. The processing housings 23C and 23D differ from the processing housing 23A only in the direction in which they are installed. The processing housings 23C and 23D correspond to the processing housing 23A rotated by 180 degrees around an axis parallel to the vertical direction Z. Accordingly, in any of the processing housings 23A-23D, the
처리 하우징(23)은, 기판 반송구(27)를 갖는다. 기판 반송구(27)는, 측벽(25a)에 형성된다. 기판(W)은, 기판 반송구(27)를 통과 가능하다. 기판(W)은, 기판 반송구(27)를 통하여, 처리 하우징(23)의 외부와 처리 하우징(23)의 내부의 사이에서, 이동한다. 구체적으로는, 기판(W)은, 기판 반송구(27)를 통하여, 반송 스페이스(12)와 처리 스페이스(24)의 사이에서, 이동한다.The processing
각 처리 유닛(21)은, 도시하지 않은 셔터를 구비해도 된다. 셔터는, 측벽(25a)에 장착된다. 셔터는, 기판 반송구(27)를 개폐한다.Each
유지부(31)는, 1장의 기판(W)을 수평 자세로 유지한다. 유지부(31)는, 상면(31a)을 갖는다. 상면(31a)은, 대략 수평이다. 기판(W)은, 상면(31a) 위에 재치된다.The holding
도 6, 7은, 중심점(G)을 나타낸다. 중심점(G)은, 기판(W)이 유지부(31)에 유지될 때의 기판(W)의 중심의 위치이다.Figures 6 and 7 show the center point G. The center point G is the position of the center of the substrate W when the substrate W is held by the holding
도 7을 참조한다. 각 처리 유닛(21)은, 또한, 회전 구동부(32)를 구비한다. 회전 구동부(32)는, 처리 하우징(23)의 내부에 설치된다. 회전 구동부(32)는, 유지부(31)에 연결된다. 회전 구동부(32)는, 유지부(31)를 회전시킨다. 유지부(31)에 유지되는 기판(W)은, 유지부(31)와 일체로 회전한다. 유지부(31) 및 기판(W)은, 회전축선(Aw) 둘레로 회전한다. 회전축선(Aw)은, 예를 들면, 연직 방향(Z)과 평행인 가상선이다. 회전축선(Aw)은, 예를 들면, 중심점(G)을 통과한다.See Figure 7. Each
도 6을 참조한다. 액 공급부(33)는, 제1 처리액과 제2 처리액과 제3 처리액을 공급한다. 제1 처리액과 제2 처리액과 제3 처리액은 서로, 종류가 상이하다. 즉, 액 공급부(33)는, 복수(3개)의 종류의 처리액을 공급한다.See Figure 6. The
제1 처리액은, 예를 들면, 산성액으로 분류된다. 제1 처리액은, 예를 들면, 불산(불화수소산), 염산 과산화수소수, 황산, 황산 과산화수소수, 불질산(불산과 질산의 혼합액), 및, 염산 중 적어도 1개를 포함한다.The first treatment liquid is classified as an acidic liquid, for example. The first treatment liquid contains, for example, at least one of hydrofluoric acid (hydrofluoric acid), hydrochloric acid hydrogen peroxide solution, sulfuric acid, sulfuric acid hydrogen peroxide solution, hydrofluoric acid (mixture of hydrofluoric acid and nitric acid), and hydrochloric acid.
제2 처리액은, 예를 들면, 알칼리액으로 분류된다. 제2 처리액은, 예를 들면, 암모니아 과산화수소수(SC1), 암모니아수, 불화 암모늄 용액, 및, 수산화 테트라메틸암모늄(TMAH) 중 적어도 1개를 포함한다.The second treatment liquid is classified as an alkaline liquid, for example. The second treatment liquid contains, for example, at least one of ammonia hydrogen peroxide (SC1), ammonia water, ammonium fluoride solution, and tetramethylammonium hydroxide (TMAH).
제3 처리액은, 예를 들면, 유기액으로 분류된다. 유기액은, 이소프로필알코올(IPA), 메탄올, 에탄올, 하이드로플루오로에테르(HFE), 및, 아세톤 중 적어도 1개를 포함한다.The third treatment liquid is classified as an organic liquid, for example. The organic liquid contains at least one of isopropyl alcohol (IPA), methanol, ethanol, hydrofluoroether (HFE), and acetone.
액 공급부(33)는, 노즐(34A, 34B, 34C)을 구비한다. 노즐(34A, 34B, 34C)은 각각, 처리액을 토출한다. 노즐(34A)은, 예를 들면, 제1 처리액을 토출한다. 노즐(34B)은, 예를 들면, 제2 처리액을 토출한다. 노즐(34C)은, 예를 들면, 제3 처리액을 토출한다.The
각 노즐(34A, 34B, 34C)은, 직선적으로 연장되는 관 형상을 갖는다. 노즐(34A, 34B, 34C)은 각각, 선단부(35A, 35B, 35C)와 기단부(36A, 36B, 36C)를 구비한다. 선단부(35A, 35B, 35C)는 각각, 처리액을 토출하는 도시하지 않은 토출구를 갖는다.Each
액 공급부(33)는, 베이스부(37A, 37B, 37C)를 구비한다. 베이스부(37A, 37B, 37C)는 각각, 노즐(34A, 34B, 34C)을 지지한다. 구체적으로는, 베이스부(37A, 37B, 37C)는, 기단부(36A, 36B, 36C)와 접속한다.The
베이스부(37A)는, 또한, 노즐(34A)을 이동시킨다. 예를 들면, 베이스부(37A)를 통과하여, 연직 방향(Z)과 평행인 회전축선 둘레로, 베이스부(37A)는 노즐(34A)을 회전시킨다. 마찬가지로, 베이스부(37B, 37C)는 각각, 노즐(34B, 34C)을 이동시킨다.The
베이스부(37A)에 의하여, 노즐(34A)은, 처리 위치와 퇴피 위치로 이동 가능하다. 노즐(34A)이 처리 위치에 있을 때, 선단부(35A)(토출구)는, 유지부(31)에 유지되는 기판(W)의 상방에 위치한다. 노즐(34A)이 처리 위치에 있을 때, 선단부(35A)(토출구)는, 평면에서 보았을 때, 유지부(31)에 유지되는 기판(W)과 겹친다. 노즐(34A)이 퇴피 위치에 있을 때, 노즐(34A)의 전체는, 평면에서 보았을 때, 유지부(31)에 유지되는 기판(W)과 겹치지 않는다. 마찬가지로, 노즐(34B, 34C)은 각각, 처리 위치와 퇴피 위치로 이동 가능하다. 도 6은, 퇴피 위치에 있는 노즐(34A, 34B, 34C)을 나타낸다.The
베이스부(37A-37C)는 각각, 측벽(25c)의 근방에 배치된다. 베이스부(37A)는, 측벽(25c)과 측벽(25b)이 접속하는 모서리부에 배치된다. 베이스부(37B, 37C)는, 측벽(25c)과 측벽(25d)이 접속하는 모서리부에 배치된다.The
각 처리 유닛(21)은, 컵(38)을 구비한다. 컵(38)은, 유지부(31)의 주위에 배치된다. 컵(38)은, 유지부(31)에 유지되는 기판(W)의 측방을 둘러싼다. 컵(38)은, 유지부(31)에 유지되는 기판(W)으로부터 비산한 처리액을 받아낸다.Each
도 7을 참조한다. 각 처리 유닛(21)은, 취출(吹出) 유닛(39)을 구비한다. 취출 유닛(39)은, 처리 스페이스(24)에 기체를 공급한다. 취출 유닛(39)은, 상판(25e)에 장착된다. 취출 유닛(39)은, 유지부(31)의 상방에 배치된다. 취출 유닛(39)은, 기체(예를 들면, 청정 공기)를 하방으로 취출한다.See Figure 7. Each
취출 유닛(39)은, 급기관(48)에 접속된다. 급기관(48)은, 취출 유닛(39)에 기체를 공급한다.The
처리 하우징(23)과 유지부(31)와 액 공급부(33)의 상대적인 위치는, 처리 유닛(21A-21D)의 사이에서 같다. 처리 유닛(21C, 21D)에 있어서의 처리 하우징(23)과 유지부(31)와 액 공급부(33)의 상대적인 위치는, 처리 유닛(21A)에 있어서의 처리 하우징(23)과 유지부(31)와 액 공급부(33)의 상대적인 위치와, 방향이 상이할 뿐이다.The relative positions of the processing
<전환 기구(51)의 구조><Structure of switching
도 6, 7을 참조한다. 전환 기구(51)는, 전환 하우징(53)을 구비한다. 전환 하우징(53)의 사이즈는, 처리 하우징(23)보다 작다. 전환 하우징(53)은, 처리 하우징(23)에 접속된다. 전환 하우징(53)은, 또한, 배기관(41-43)에 접속된다. 각 전환 하우징(53)은, 수평 방향으로 연장된다. 각 전환 하우징(53)은, 평면에서 보았을 때, 대략 L자 형상으로 굴곡한다. 전환 하우징(53)은, 그 내부에 전환 스페이스(54)를 갖는다.See Figures 6 and 7. The
각 전환 하우징(53)은, 도입부(55)를 구비한다. 도입부(55)는, 처리 하우징(23)에 접속된다. 도입부(55)는, 처리 하우징(23)의 측벽(25b)에 접속된다.Each
도입부(55)는, 처리 하우징(23)으로부터 전후 방향(X)으로 연장된다. 도입부(55)는, 제1 단(端)(55a)과 제2 단(55b)을 갖는다. 제1 단(55a)은, 전환 스페이스(54)의 상류단에 상당한다. 전환 스페이스(54)는, 제1 단(55a)에 있어서, 처리 스페이스(24)에 개방된다. 이와 같이, 전환 하우징(53)은, 도입부(55)에 있어서, 처리 하우징(23)과 연통한다. 기체는, 처리 하우징(23)으로부터, 제1 단(55a)을 통하여, 전환 스페이스(54)에 유입된다.The
도입부(55)는, 처리 하우징(23)을 관통한다. 제1 단(55a)은, 처리 하우징(23)의 내부에 배치된다. 즉, 제1 단(55a)은, 처리 스페이스(24)에 배치된다. 제2 단(55b)은, 처리 하우징(23)의 외부에 배치된다. 구체적으로는, 제2 단(55b)은, 제1 배관 스페이스(44)에 배치된다.The
도입부(55)는, 측벽(25a)에 가까운 위치에 배치된다. 이에 반해, 베이스부(37A-37C)는, 측벽(25c)에 가까운 위치에 배치된다. 바꾸어 말하면, 도입부(55)는, 반송 스페이스(12)에 가까운 위치에 배치된다. 베이스부(37A-37C)는, 반송 스페이스(12)로부터 먼 위치에 배치된다.The
측벽(25a)을 기준으로 하여, 도입부(55) 등의 위치를 설명한다. 도 6은, 거리(D1, D2, D3, D4)를 나타낸다. 거리(D1)는, 평면에서 보았을 때의 도입부(55)와 측벽(25a)의 이격 거리이다. 거리(D2)는, 평면에서 보았을 때의 유지부(31)와 측벽(25a)의 이격 거리이다. 거리(D3)는, 평면에서 보았을 때의 중심점(G)과 측벽(25a)의 이격 거리이다. 거리(D4)는, 평면에서 보았을 때의 베이스부(37A)와 측벽(25a)의 이격 거리이다. 거리(D1)는, 거리(D2)보다 작다. 거리(D2)는, 거리(D3)보다 작다. 거리(D3)는, 거리(D4)보다 작다.The positions of the
여기서, 측벽(25a)은, 반송 스페이스(12)와 접한다. 이 때문에, 상술한 거리(D1-D4)는, 반송 스페이스(12)를 기준으로 한 거리와 근사하다. 즉, 거리(D1)는, 평면에서 보았을 때의 도입부(55)와 반송 스페이스(12)의 이격 거리와 근사하다. 거리(D2)는, 평면에서 보았을 때의 유지부(31)와 반송 스페이스(12)의 이격 거리와 근사하다. 거리(D3)는, 평면에서 보았을 때의 중심점(G)과 반송 스페이스(12)의 이격 거리와 근사하다. 거리(D4)는, 평면에서 보았을 때의 베이스부(37A)와 반송 스페이스(12)의 이격 거리와 근사하다. 따라서, 평면에서 보았을 때, 도입부(55)와 반송 스페이스(12)의 이격 거리는, 유지부(31)와 반송 스페이스(12)의 이격 거리보다 작다. 평면에서 보았을 때, 유지부(31)와 반송 스페이스(12)의 이격 거리는, 중심점(G)과 반송 스페이스(12)의 이격 거리보다 작다. 평면에서 보았을 때, 중심점(G)과 반송 스페이스(12)의 이격 거리는, 베이스부(37A)와 반송 스페이스(12)의 이격 거리보다 작다.Here, the
각 전환 하우징(53)은, 분배부(56)를 구비한다. 분배부(56)는, 도입부(55)에 접속된다. 분배부(56)는, 도입부(55)의 제2 단(55b)에 접속된다. 분배부(56)는, 폭 방향(Y)으로 연장된다.Each
분배부(56)는, 처리 하우징(23)의 외부에 배치된다. 분배부(56)는, 제1 배관 스페이스(44)에 배치된다. 분배부(56)는, 배기관(41-43)의 근방에 배치된다.The
배기관(41-43)은 각각, 처리 하우징(23)에 접한다. 배기관(41-43)은, 평면에서 보았을 때, 처리 하우징(23)과 분배부(56)의 사이에 배치된다. 구체적으로는, 배기관(41-43)은 각각, 처리 하우징(23)의 측벽(25b)에 접한다. 배기관(41-43)은, 측벽(25b)과 분배부(56)의 사이에 배치된다.The exhaust pipes 41-43 each contact the processing
분배부(56)는, 배기관(41-43)에 접속된다. 분배부(56)는, 배기관(41-43)의 외측면에 접속된다. 전환 하우징(53)은, 분배부(56)에 있어서, 배기관(41-43)에 연통한다.The
구체적으로는, 배기관(41)은, 개구(41k)를 갖는다. 개구(41k)는, 배기관(41)의 외측면에 형성된다. 개구(41k)는, 배기관(41) 내의 유로와 연통한다. 분배부(56)는, 개구(41k)의 주위에 위치하는 배기관(41)의 부분과 접속한다. 이에 의하여, 전환 스페이스(54)는, 개구(41k)를 통하여, 배기관(41) 내의 유로와 연통한다. 마찬가지로, 배기관(42, 43)은 각각, 개구(42k, 43k)를 갖는다. 분배부(56)는, 개구(42k, 43k)의 주위에 있어서, 배기관(42, 43)과 접속한다.Specifically, the
도 6, 8을 참조한다. 도 8은, 전환 기구(51)의 정면도이다. 도 8은, 편의상, 전환 하우징(53)을 파선으로 나타낸다. 각 전환 하우징(53)은, 3개의 개폐부(61, 62, 63)를 구비한다. 개폐부(61-63)는 각각, 전환 하우징(53)의 내부에 설치된다. 즉, 전환 하우징(53)은, 개폐부(61-63)를 수용한다. 구체적으로는, 개폐부(61-63)는 각각, 분배부(56)의 내부에 설치된다. 개폐부(61-63)는, 처리 하우징(23)의 외부에 설치된다. 개폐부(61-63)는, 제1 배관 스페이스(44)에 설치된다. 개폐부(61, 62, 63)는 각각, 개구(41k, 42k, 43k)에 대향하는 위치에 배치된다. 개폐부(61, 62, 63)는 각각, 개구(41k, 42k, 43k)를 개방하는 위치와, 개구(41k, 42k, 43k)를 폐색하는 위치로 이동 가능하다.See Figures 6 and 8. Fig. 8 is a front view of the
도 6, 8에서는, 개폐부(61)는 개구(41k)를 개방하는 위치에 있고, 개폐부(62, 63)는 각각, 개구(42k, 43k)를 폐색하는 위치에 있다.6 and 8, the opening and
개폐부(61)가 개구(41k)를 개방할 때, 배기관(41)은 처리 하우징(23)과 연통한다. 개폐부(61)가 개구(41k)를 폐색할 때, 배기관(41)은 처리 하우징(23)으로부터 차단된다. 이와 같이, 개구(41k)를 개방하는 개폐부(61)의 위치는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 개폐부(61)의 위치에 상당한다. 개구(41k)를 폐색하는 개폐부(61)의 위치는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 개폐부(61)의 위치에 상당한다.When the opening/closing
마찬가지로, 개폐부(62, 63)가 각각 개구(42k, 43k)를 개방할 때, 배기관(42, 43)은 각각, 처리 하우징(23)과 연통한다. 개폐부(62, 63)가 각각 개구(42k, 43k)를 폐색할 때, 배기관(42, 43)은 각각, 처리 하우징(23)으로부터 차단된다. 이와 같이, 개구(42k, 43k)를 개방하는 개폐부(62, 63)의 위치는 각각, 처리 하우징(23)을 배기관(42-43)에 연통시키는 개폐부(62, 63)의 위치에 상당한다. 개구(42k, 43k)를 폐색하는 개폐부(62, 63)의 위치는 각각, 처리 하우징(23)을 배기관(42-43)으로부터 차단하는 개폐부(62, 63)의 위치에 상당한다.Likewise, when the
개폐부(61, 62, 63)는, 서로 독립적으로 이동 가능하다. 이 때문에, 배기관(41, 42, 43)은, 개별적으로, 처리 하우징(23)에 연통 가능하다. 배기관(41, 42, 43)은, 개별적으로, 처리 하우징(23)으로부터 차단 가능하다.The opening and
개폐부(61, 62, 63)는, 예를 들면, 이하의 구조를 갖는다. 개폐부(61)는, 대략 수직인 평판 형상을 갖는다. 개폐부(61)는, 회전축선(A1) 둘레로 요동 가능하게 설치된다. 회전축선(A1)은, 연직 방향(Z)과 평행인 가상선이다. 회전축선(A1)은, 개폐부(61)의 제1 단을 통과한다. 개폐부(61)는, 회전축선(A1) 둘레로 요동한다. 개폐부(62, 63)도, 개폐부(61)와 같은 구조를 갖는다. 개폐부(62, 63)는 각각, 회전축선(A2, A3) 둘레로 요동한다.The opening and
개폐부(61, 62, 63)는, 도시하지 않은 동력원(예를 들면, 전동 모터)에 의하여, 이동한다. 여기서, 동력원은, 전환 기구(51)의 요소가 아니다. 동력원은, 전환 기구(51)의 외부 요소이다. 동력원은, 예를 들면, 전환 하우징(53)의 외부에 배치되어도 된다.The opening and
개폐부(61)는, 본 발명에 있어서의 제1 개폐부의 예이다. 개폐부(62)는, 본 발명에 있어서의 제2 개폐부의 예이다.The opening and
상술한 바와 같이, 전환 기구(51)는, 평면에서 보았을 때, 유지부(31)와 겹치지 않는 위치에 배치된다. 전환 기구(51)의 평면에서 보았을 때의 위치를 상세하게 설명한다.As described above, the
도 6은, 가상원(E3r)을 일점쇄선으로 나타낸다. 가상원(E3r)은, 중심점(G)을 중심으로 한다. 가상원(E3r)의 반경은, 기판(W)의 반경의 3배이다. 전환 기구(51)는, 평면에서 보았을 때, 가상원(E3r)의 밖에 배치된다. 즉, 중심점(G)으로부터 전환 기구(51)까지의 거리는, 평면에서 보았을 때, 기판(W)의 반경의 3배보다 크다.Fig. 6 shows the virtual circle E3r with a dashed-dotted line. The virtual circle E3r is centered on the central point G. The radius of the virtual circle E3r is three times the radius of the substrate W. The
도 6은, 가상원(E5r)을 일점쇄선으로 나타낸다. 가상원(E5r)은, 중심점(G)을 중심으로 한다. 가상원(E5r)의 반경은, 기판(W)의 반경의 5배이다. 전환 기구(51)는, 평면에서 보았을 때, 가상원(E5r)의 안에 배치된다. 즉, 중심점(G)으로부터 전환 기구(51)까지의 거리는, 평면에서 보았을 때, 기판(W)의 반경의 5배보다 작다.Fig. 6 shows the virtual circle E5r with a dashed-dotted line. The virtual circle E5r is centered on the central point G. The radius of the virtual circle E5r is 5 times the radius of the substrate W. The
상술한 바와 같이, 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)과 대략 같은 높이 위치에 배치된다. 전환 기구(51)의 높이 위치를 더욱 상세하게 설명한다.As described above, the
도 7을 참조한다. 전환 기구(51)는, 상단(P1)과 하단(Q1)을 갖는다. 상단(P1) 및 하단(Q1)은 각각, 전환 하우징(53)의 상단, 하단에 상당한다. 처리 하우징(23)은, 상단(P2)과 하단(Q2)을 갖는다. 상단(P2)은, 상판(25e)의 상면에 상당한다. 하단(Q2)은, 바닥판(25f)의 하면에 상당한다. 상단(P1)은, 상단(P2)과 동등 또는 그것보다 낮은 위치에 배치된다. 구체적으로는, 상단(P1)은, 상단(P2)보다 낮은 위치에 배치된다. 하단(Q1)은, 하단(Q2)과 동등 또는 그것보다 높은 위치에 배치된다. 구체적으로는, 하단(Q1)은, 하단(Q2)보다 높은 위치에 배치된다.See Figure 7. The
전환 기구(51)는, 유지부(31)의 상면(31a)과 동등 또는 그것보다 낮은 위치에 배치된다. 즉, 상단(P1)은, 상면(31a)과 동등 또는 그것보다 낮은 위치에 배치된다. 구체적으로는, 상단(P1)은, 상면(31a)보다 낮은 위치에 배치된다. 여기서, 유지부(31)의 상면(31a)은, 본 발명에 있어서의 유지부(31)의 상단의 예이다.The
<배기로의 구성><Configuration of exhaust path>
도 9는, 처리 하우징(23)으로부터의 배기로의 계통도이다. 기판 처리 장치(1)는, 압력 센서(71A1)를 구비한다. 압력 센서(71A1)는, 배기압을 검출한다. 구체적으로는, 압력 센서(71A1)는, 전환 기구(51A1)의 일차측(상류측)의 기체의 압력을 계측한다. 압력 센서(71A1)는, 처리 하우징(23A1)으로부터 전환 기구(51A1)에 유입하는 기체의 압력을 계측한다.Figure 9 is a schematic diagram of the exhaust path from the processing
기판 처리 장치(1)는, 압력 조정 기구(73A1)를 구비한다. 압력 조정 기구(73)는, 배기압을 조정한다. 구체적으로는, 압력 조정 기구(73A1)는, 전환 기구(51A1)의 일차측의 기체의 압력을 조정한다. 보다 구체적으로는, 압력 조정 기구(73A1)는, 압력 센서(71A1)의 검출 결과에 의거하여, 전환 기구(51)의 일차측의 기체의 압력을 조정한다.The
마찬가지로, 기판 처리 장치(1)는, 압력 센서(71A2-71A6, 71B1-71B6, 71C1-71C6, 71D1-71D6)를 구비한다. 압력 센서(71A1-71A6, 71B1-71B6, 71C1-71C6, 71D1-71D6)를 구별하지 않는 경우에는, 압력 센서(71)라고 부른다. 각 압력 센서(71)는 각각, 배기압을 검출한다. 각 압력 센서(71)는 각각, 전환 기구(51)의 일차측의 기체의 압력을 계측한다.Similarly, the
기판 처리 장치(1)는, 압력 조정 기구(73A2-73A6, 73B1-73B6, 73C1-73C6, 73D1-73D6)를 구비한다. 압력 조정 기구(73A1-73A6, 73B1-73B6, 73C1-73C6, 73D1-73D6)를 구별하지 않는 경우에는, 압력 조정 기구(73)라고 부른다. 각 압력 조정 기구(73)는, 압력 센서(71)의 검출 결과에 의거하여, 전환 기구(51)의 일차측의 압력을 조정한다.The
기판 처리 장치(1)는, 배기관(81A, 82A, 83A)을 구비한다. 배기관(81A)은, 배기관(41A, 41B)에 접속된다. 배기관(81A)은, 배기관(41A)의 기체 및 배기관(41B)의 기체를 배출한다. 배기관(82A)은, 배기관(42A, 42B)에 접속된다. 배기관(82A)은, 배기관(42A)의 기체 및 배기관(42B)의 기체를 배출한다. 배기관(83A)은, 배기관(43A, 43B)에 접속된다. 배기관(83A)은, 배기관(43A)의 기체 및 배기관(43B)의 기체를 배출한다.The
마찬가지로, 기판 처리 장치(1)는, 배기관(81B, 82B, 83B)을 구비한다. 배기관(81B-83B)과 배기관(41C-43C, 41D-43D)의 접속 관계는, 배기관(81A-83A)과 배기관(41A-43A, 41B-43B)의 접속 관계와 같다.Similarly, the
기판 처리 장치(1)는, 압력 센서(84A)를 구비한다. 압력 센서(84A)는, 배기압을 검출한다. 구체적으로는, 압력 센서(84A)는, 배기관(81A)의 내부의 기체의 압력을 계측한다.The
기판 처리 장치(1)는, 압력 조정 기구(87A)를 구비한다. 압력 조정 기구(87A)는, 배기압을 조정한다. 구체적으로는, 압력 조정 기구(87A)는, 배기관(81A)의 내부의 기체의 압력을 조정한다. 보다 구체적으로는, 압력 조정 기구(87A)는, 압력 센서(84A)의 검출 결과에 의거하여, 배기관(81A)의 내부의 기체의 압력을 조정한다.The
마찬가지로, 기판 처리 장치(1)는, 압력 센서(85A, 86A, 84B, 85B, 86B)를 구비한다. 압력 센서(85A-86A, 84B-86B)는 각각, 배기압을 검출한다. 압력 센서(85A-86A, 84B-86B)는 각각, 배기관(82A-83A, 81B-83B)의 내부의 기체의 압력을 계측한다.Similarly, the
기판 처리 장치(1)는, 압력 조정 기구(88A, 89A, 87B, 88B, 89B)를 구비한다. 압력 조정 기구(88A-89A, 87B-89B)는 각각, 압력 센서(85A-86A, 84B-86B)의 검출 결과에 의거하여, 배기관(82A-83A, 81B-83B)의 내부의 기체의 압력을 조정한다.The
배기관(81A, 81B)을 구별하지 않는 경우에는, 배기관(81)이라고 부른다. 배기관(82A, 82B)을 구별하지 않는 경우에는, 배기관(82)이라고 부른다. 배기관(83A, 83B)을 구별하지 않는 경우에는, 배기관(83)이라고 부른다. 압력 센서(84A, 84B)를 구별하지 않는 경우에는, 압력 센서(84)라고 부른다. 압력 센서(85A, 85B)를 구별하지 않는 경우에는, 압력 센서(85)라고 부른다. 압력 센서(86A, 86B)를 구별하지 않는 경우에는, 압력 센서(86)라고 부른다. 압력 조정 기구(87A, 87B)를 구별하지 않는 경우에는, 압력 조정 기구(87)라고 부른다. 압력 조정 기구(88A, 88B)를 구별하지 않는 경우에는, 압력 조정 기구(88)라고 부른다. 압력 조정 기구(89A, 89B)를 구별하지 않는 경우에는, 압력 조정 기구(89)라고 부른다.When no distinction is made between the
도 6을 참조한다. 압력 센서(71)는, 예를 들면, 처리 하우징(23)과 전환 기구(51) 사이의 유로에 설치된다. 압력 센서(71)는, 예를 들면, 전환 하우징(53)의 내부(즉, 전환 스페이스(54))에 설치된다. 압력 센서(71)는, 예를 들면, 도입부(55)에 설치된다. 압력 센서(71)는, 예를 들면, 분배부(56)의 일차측에 설치된다. 압력 센서(71)는, 예를 들면, 개폐부(61-63)의 일차측에 설치된다.See Figure 6. The
압력 조정 기구(73)는, 예를 들면, 처리 하우징(23)과 전환 기구(51) 사이의 유로에 설치된다. 압력 조정 기구(73)는, 예를 들면, 전환 하우징(53)의 내부(즉, 전환 스페이스(54))에 설치된다. 압력 조정 기구(73)는, 예를 들면, 도입부(55)에 설치된다. 압력 조정 기구(73)는, 예를 들면, 분배부(56)의 일차측에 설치된다. 압력 조정 기구(73)는, 예를 들면, 개폐부(61-63)의 일차측에 설치된다. 압력 조정 기구(73)는, 예를 들면, 압력 센서(71)의 근방에 설치된다. 압력 조정 기구(73)는, 예를 들면, 압력 센서(71)의 이차측(하류측)에 배치된다. 압력 조정 기구(73)는, 예를 들면, 압력 센서(71)의 일차측에 배치된다.The
압력 조정 기구(73)는, 예를 들면, 기체의 유량을 조정함으로써, 기체의 압력을 조정해도 된다. 압력 조정 기구(73)는, 예를 들면, 댐퍼, 또는, 팬이다.The
또한, 도 7은, 압력 센서(71) 및 압력 조정 기구(73)의 도시를 생략한다.7 omits illustration of the
도 3, 4, 5를 참조한다. 배기관(81-83)은 각각, 처리 하우징(23)보다 높은 위치에 배치된다. 각 배기관(81)은, 처리 하우징(23)보다 높은 위치에서, 2개의 배기관(41)과 접속된다. 각 배기관(82)은, 처리 하우징(23)보다 높은 위치에서, 2개의 배기관(42)과 접속된다. 각 배기관(83)은, 처리 하우징(23)보다 높은 위치에서, 2개의 배기관(43)과 접속된다.See Figures 3, 4, and 5. The exhaust pipes 81-83 are each disposed at a higher position than the processing
배기관(41-43)은 각각, 처리 하우징(23)보다 높은 위치까지 연장된다. 기체는, 배기관(41-43) 안을 상방으로 흐른다. 배기관(41-43)은, 각각 하단을 갖는다. 배기관(41-43)의 하단은 각각, 폐색되어 있다.The exhaust pipes 41-43 each extend to a position higher than the processing
도 3을 참조한다. 배기관(81A-83A)은, 처리 하우징(23A, 23B)의 상방에 배치된다. 배기관(81A-83A)은, 폭 방향(Y)으로 늘어선다. 배기관(81A-83A)은, 같은 높이 위치에 배치된다. 배기관(81B-83B)은, 처리 하우징(23C, 23D)의 상방에 배치된다. 배기관(81B-83B)은, 폭 방향(Y)으로 늘어선다. 배기관(81B-83B)은, 같은 높이 위치에 배치된다. 배기관(81B-83B)은, 배기관(81A-83A)과 같은 높이 위치에 배치된다.See Figure 3.
도 10은, 처리 블록(11)의 상부를 나타내는 평면도이다. 배기관(81A-83A, 81B-83B)은 각각, 전후 방향(X)으로 연장된다. 배기관(81A-83A)은, 같은 길이를 갖는다. 배기관(81B-83B)은, 같은 길이를 갖는다. 배기관(81B-83B)은, 배기관(81A-83A)보다 짧다.FIG. 10 is a plan view showing the upper part of the
배기관(81A, 82A, 83A)은 각각, 전단(前端)(81Af, 82Af, 83Af)을 갖는다. 배기관(81B, 82B, 83B)은 각각, 전단(81Bf, 82Bf, 83Bf)을 갖는다. 전단(81Af-83Af)은, 전단(81Bf-83Bf)보다 전방에 배치된다. 전단(81Af-83Af)은, 인덱서부(3)보다 후방에 배치된다.The
배기관(81)은, 처리 블록(11)보다 후방의 위치까지 연장되고, 도시하지 않은 제1 배기 처리 설비에 연통 접속된다. 제1 배기 처리 설비는, 배기관(81)으로부터 기체를 회수한다. 마찬가지로, 배기관(82, 83)은 각각, 처리 블록(11)보다 후방의 위치까지 연장되고, 도시하지 않은 제2, 제3 배기 처리 설비에 연통 접속된다. 제2, 제3 배기 처리 설비는 각각, 배기관(82, 83)으로부터 기체를 회수한다. 제1-제3 배기 처리 설비는 모두, 기판 처리 장치(1)의 외부 요소이다. 제1-제3 배기 처리 설비는 각각, 예를 들면, 기판 처리 장치(1)가 설치되는 공장에 설치된다.The
기체는, 배기관(81-83) 안을 후방으로 흐른다. 전단(81Af-83Af, 81Bf-83Bf)은 각각, 배기관(81A-83A, 81B-83B)의 상류단에 상당한다.The gas flows rearward in the exhaust pipes 81-83. The front ends (81Af-83Af, 81Bf-83Bf) correspond to the upstream ends of the exhaust pipes (81A-83A, 81B-83B), respectively.
전단(81Af-83Af, 81Bf-83Bf)은, 기판 처리 장치(1)의 외부에 개방된다. 예를 들면, 전단(81Af-83Af, 81Bf-83Bf)은, 기판 처리 장치(1)가 설치되는 클린 룸에 개방된다.The front ends 81Af-83Af and 81Bf-83Bf are open to the outside of the
압력 센서(84)는, 배기관(81)에 설치된다. 압력 센서(84)는, 배기관(81)과 배기관(41)의 접속 위치보다 하류에 설치된다. 예를 들면, 압력 센서(84A)는, 배기관(81A)과 배기관(41A)의 접속 위치, 및, 배기관(81A)과 배기관(41B)의 접속 위치보다 하류에 설치된다. 압력 센서(84A)는, 배기관(81A)과 배기관(41A)의 접속 위치, 및, 배기관(81A)과 배기관(41B)의 접속 위치보다 후방에 설치된다.The pressure sensor 84 is installed in the
마찬가지로, 압력 센서(85, 86)는 각각, 배기관(82, 83)에 설치된다.Likewise, pressure sensors 85 and 86 are installed in exhaust pipes 82 and 83, respectively.
압력 조정 기구(87)는, 배기관(81)에 설치된다. 압력 조정 기구(87)는, 압력 센서(84)보다 상류에 설치된다. 압력 조정 기구(87)는, 배기관(81)과 배기관(41)의 접속 위치보다 상류에 설치된다. 예를 들면, 압력 조정 기구(87A)는, 배기관(81A)과 배기관(41A)의 접속 위치, 및, 배기관(81A)과 배기관(41B)의 접속 위치보다 상류에 설치된다. 압력 조정 기구(87A)는, 배기관(81A)과 배기관(41A)의 접속 위치, 및, 배기관(81A)과 배기관(41B)의 접속 위치보다 전방에 설치된다. 압력 조정 기구(87A)는, 배기관(81A)의 전단(81Af)에 설치된다. 압력 조정 기구(87A)는, 배기관(81A)의 전단(81Af)을 통하여 기판 처리 장치(1)의 외부로부터 배기관(81A)에 유입하는 기체의 유량을 조정한다.The pressure adjustment mechanism 87 is installed in the
마찬가지로, 압력 조정 기구(88, 89)는 각각, 배기관(82, 83)에 설치된다.Likewise, the pressure adjustment mechanisms 88 and 89 are installed in the exhaust pipes 82 and 83, respectively.
압력 조정 기구(87-89)는, 예를 들면, 기체의 유량을 조정함으로써, 기체의 압력을 조정해도 된다. 압력 조정 기구(87-89)는, 예를 들면, 댐퍼, 또는, 팬이다.The pressure adjustment mechanism 87-89 may adjust the pressure of the gas, for example, by adjusting the flow rate of the gas. The pressure adjustment mechanisms 87-89 are, for example, dampers or fans.
<기판 처리 장치(1)의 제어><Control of substrate processing device (1)>
도 1을 참조한다. 기판 처리 장치(1)는, 제어부(91)를 구비한다. 제어부(91)는, 예를 들면, 인덱서부(3)에 설치된다. 제어부(91)는, 기판 처리 장치(1)를 제어한다.See Figure 1. The
도 11은, 기판 처리 장치(1)의 제어 블록도이다. 제어부(91)는, 반송 기구(6, 16)를 제어한다. 구체적으로는, 제어부(91)는, 핸드 구동부(8, 18)를 제어한다. 제어부(91)는, 처리 유닛(21)을 제어한다. 구체적으로는, 제어부(91)는, 유지부(31), 회전 구동부(32), 액 공급부(33), 컵(38) 및 취출 유닛(39)을 제어한다. 제어부(91)는, 전환 기구(51)를 제어한다. 구체적으로는, 제어부(91)는, 개폐부(61-63)를 제어한다. 제어부(91)는, 압력 센서(71, 84, 85, 86)의 검출 결과를 취득한다. 제어부(91)는, 압력 조정 기구(73, 87, 88, 89)를 제어한다. 제어부(91)는, 이들 요소와 통신 가능하게 접속된다.FIG. 11 is a control block diagram of the
제어부(91)는, 각종 처리를 실행하는 중앙 연산 처리 장치(CPU), 연산 처리의 작업 영역이 되는 RAM(Random-Access Memory), 고정 디스크 등의 기억 매체 등에 의하여 실현되어 있다. 기억 매체는, 각종 정보를 미리 저장하고 있다. 기억 매체는, 예를 들면, 각 처리 유닛(21)이 행하는 처리에 관한 동작 조건을 규정한 정보(처리 레시피)를 기억한다. 기억 매체는, 예를 들면, 전환 기구(51)가 행하는 배기로의 전환에 관한 동작 조건을 규정한 정보를 기억한다. 기억 매체는, 압력 조정 기구(73, 87-89)가 행하는 배기압의 조정에 관한 동작 조건을 규정한 정보를 기억한다.The
여기서, 처리 하우징(23A2)은, 본 발명에 있어서의 제2 처리 하우징의 예이다. 처리 유닛(21A2)의 유지부(32)는, 본 발명에 있어서의 제2 유지부의 예이다. 처리 유닛(21A2)의 액 공급부(33)는, 본 발명에 있어서의 제2 액 공급부의 예이다. 전환 기구(51A2)는, 본 발명에 있어서의 제2 전환 기구의 예이다.Here, the processing housing 23A2 is an example of the second processing housing in the present invention. The holding
압력 센서(71A1)는, 본 발명에 있어서의 제1 압력 센서의 예이다. 압력 센서(71B1)는, 본 발명에 있어서의 제3 압력 센서의 예이다. 압력 조정 기구(73A1)는, 본 발명에 있어서의 제1 압력 조정 기구의 예이다. 압력 조정 기구(73B1)는, 본 발명에 있어서의 제3 압력 조정 기구의 예이다.Pressure sensor 71A1 is an example of the first pressure sensor in the present invention. Pressure sensor 71B1 is an example of the third pressure sensor in the present invention. The pressure adjustment mechanism 73A1 is an example of the first pressure adjustment mechanism in the present invention. The pressure adjustment mechanism 73B1 is an example of the third pressure adjustment mechanism in the present invention.
배기관(81A)은, 본 발명에 있어서의 제5 배기관의 예이다. 배기관(82A)은, 본 발명에 있어서의 제6 배기관의 예이다. 압력 센서(84A)는, 본 발명에 있어서의 제5 압력 센서의 예이다. 압력 센서(85A)는, 본 발명에 있어서의 제6 압력 센서의 예이다. 압력 조정 기구(87A)는, 본 발명에 있어서의 제5 압력 조정 기구의 예이다. 압력 조정 기구(88A)는, 본 발명에 있어서의 제6 압력 조정 기구의 예이다.The
<기판 처리 장치(1)의 동작예><Example of operation of
도 12는, 기판(W)에 처리를 행하는 동작의 순서를 나타내는 플로차트이다. 1개의 처리 유닛(21)에 관련된 동작예를 설명한다. 기판(W)은, 이미 유지부(31)에 유지되어 있는 것으로 한다. 각 요소는, 제어부(91)에 의한 제어에 따라, 동작하는 것으로 한다.FIG. 12 is a flowchart showing the sequence of operations for performing processing on the substrate W. An example of operation related to one
<<단계 S1>><<Step S1>>
액 공급부(33)가 제1 처리액을 공급한다. 구체적으로는, 노즐(34A)이 퇴피 위치로부터 처리 위치로 이동한다. 노즐(34A)이 유지부(31)에 유지되는 기판(W)에 제1 처리액을 공급한다. 처리 하우징(23) 내의 기체는, 제1 처리액에 유래하는 성분을 포함한다.The
전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 배기로를, 배기관(41)으로 전환한다. 구체적으로는, 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)을, 배기관(41)에 연통시킨다. 기체는, 처리 하우징(23)으로부터 전환 기구(51)를 통하여 배기관(41)으로 흐른다. 배기관(41)은, 처리 하우징(23)의 기체를 배출한다. 기체는, 또한, 배기관(41)으로부터 배기관(81)으로 흐른다. 배기관(81)은, 배기관(41)으로부터 기체를 배출한다.The
또한, 단계 S1을 실행하고 있을 때, 배기관(42, 43) 중 적어도 어느 하나는, 다른 처리 하우징(23)의 기체를 배출해도 된다. 후술하는 단계 S2, S3에 있어서도, 동일하다.Additionally, when step S1 is being performed, at least one of the
압력 센서(71)는, 전환 기구(51)의 일차측의 기체의 압력을 계측한다. 압력 조정 기구(73)는, 압력 센서(71)의 검출 결과에 의거하여, 전환 기구(51)의 일차측의 압력을 조정한다.The
압력 조정 기구(73)의 보다 상세한 동작을 이하에 예시한다. 후술하는 단계 S2, S3에 있어서도, 압력 조정 기구(73)는, 이하의 동작예를 실행해도 된다. 각 압력 조정 기구(73)는 각각, 예를 들면, 배기압이 일정해지도록, 조정한다. 각 압력 조정 기구(73)는 각각, 예를 들면, 압력 센서(71)의 검출 결과가 일정해지도록, 조정한다. 압력 조정 기구(73A1, 73A2)는, 예를 들면, 전환 기구(51A1)의 일차측의 기체의 압력과 전환 기구(51A2)의 일차측의 기체의 압력을 서로 같게 한다. 압력 조정 기구(73A1-73A6)는, 예를 들면, 전환 기구(51A1-51A6)의 일차측의 기체의 압력을 같게 한다. 압력 조정 기구(73A1, 73B1)는, 예를 들면, 전환 기구(51A1)의 일차측의 기체의 압력과 전환 기구(51B1)의 일차측의 기체의 압력을 같게 한다. 압력 조정 기구(73A1, 73B1, 73C1, 73D1)는, 예를 들면, 전환 기구(51A1, 51B1, 51C1, 51D1)의 일차측의 기체의 압력을 같게 한다. 압력 조정 기구(73)는, 예를 들면, 각 전환 기구(51)의 일차측의 기체의 압력을 같게 한다.A more detailed operation of the
압력 센서(84-86)는 각각, 배기관(81-83)의 내부의 기체의 압력을 계측한다. 압력 조정 기구(87-89)는 각각, 압력 센서(84-86)의 검출 결과에 의거하여, 배기관(81-83)의 내부의 기체의 압력을 조정한다.Pressure sensors 84-86 measure the gas pressure inside the exhaust pipes 81-83, respectively. The pressure adjustment mechanisms 87-89 adjust the gas pressure inside the exhaust pipes 81-83 based on the detection results of the pressure sensors 84-86, respectively.
압력 조정 기구(87-89)의 보다 상세한 동작을 이하에 예시한다. 또한, 후술하는 단계 S2, S3에 있어서도, 압력 조정 기구(87-89)는, 이하의 동작예를 실행해도 된다. 각 압력 조정 기구(87-89)는 각각, 예를 들면, 배기압이 일정해지도록, 조정한다. 예를 들면, 압력 조정 기구(87A)는, 압력 센서(84A)의 검출 결과가 일정해지도록, 조정한다. 압력 조정 기구(87A-89A)는, 예를 들면, 배기관(81A)의 내부의 기체의 압력과 배기관(82B)의 내부의 기체의 압력과 배기관(83A)의 내부의 기체의 압력을 서로 같게 한다. 압력 조정 기구(87A, 87B)는, 예를 들면, 배기관(81A)의 내부의 기체의 압력과 배기관(81B)의 내부의 기체의 압력을 같게 한다. 압력 조정 기구(87A-89A, 87B-89B)는, 예를 들면, 배기관(81A-83A, 81B-83B)의 내부의 기체의 압력을 같게 한다.A more detailed operation of the pressure adjustment mechanism 87-89 is illustrated below. Also, in steps S2 and S3 described later, the pressure adjustment mechanism 87-89 may perform the following operation examples. Each pressure adjustment mechanism 87-89 adjusts, for example, so that the exhaust pressure becomes constant. For example, the
<<단계 S2>><<Step S2>>
액 공급부(33)가 제2 처리액을 공급한다. 구체적으로는, 노즐(34A)이 처리 위치로부터 퇴피 위치로 이동하고, 노즐(34B)이 퇴피 위치로부터 처리 위치로 이동한다. 노즐(34B)이 유지부(31)에 유지되는 기판(W)에 제2 처리액을 공급한다. 처리 하우징(23) 내의 기체는, 제2 처리액에 유래하는 성분을 포함한다.The
전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 배기로를, 배기관(42)으로 전환한다. 구체적으로는, 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)을, 배기관(42)에 연통시킨다. 기체는, 처리 하우징(23)으로부터 전환 기구(51)를 통하여 배기관(42)으로 흐른다. 배기관(42)은, 처리 하우징(23)의 기체를 배출한다. 기체는, 또한, 배기관(42)으로부터 배기관(82)으로 흐른다. 배기관(82)은, 배기관(42)으로부터 기체를 배출한다.The
압력 센서(71)는, 전환 기구(51)의 일차측의 기체의 압력을 계측한다. 압력 조정 기구(73)는, 압력 센서(71)의 검출 결과에 의거하여, 전환 기구(51)의 일차측의 압력을 조정한다.The
압력 센서(84-86)는 각각, 배기관(81-83)의 내부의 기체의 압력을 계측한다. 압력 조정 기구(87-89)는 각각, 압력 센서(84-86)의 검출 결과에 의거하여, 배기관(81-83)의 내부의 기체의 압력을 조정한다.Pressure sensors 84-86 measure the gas pressure inside the exhaust pipes 81-83, respectively. The pressure adjustment mechanisms 87-89 adjust the gas pressure inside the exhaust pipes 81-83 based on the detection results of the pressure sensors 84-86, respectively.
<<단계 S3>><<Step S3>>
액 공급부(33)가 제3 처리액을 공급한다. 구체적으로는, 노즐(34B)이 처리 위치로부터 퇴피 위치로 이동하고, 노즐(34C)이 퇴피 위치로부터 처리 위치로 이동한다. 노즐(34C)이 유지부(31)에 유지되는 기판(W)에 제3 처리액을 공급한다. 처리 하우징(23) 내의 기체는, 제3 처리액에 유래하는 성분을 포함한다.The
전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 배기로를, 배기관(43)으로 전환한다. 구체적으로는, 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)을, 배기관(43)에 연통시킨다. 기체는, 처리 하우징(23)으로부터 전환 기구(51)를 통하여 배기관(43)으로 흐른다. 배기관(43)은, 처리 하우징(23)의 기체를 배출한다. 기체는, 또한, 배기관(43)으로부터 배기관(83)으로 흐른다. 배기관(83)은, 배기관(43)으로부터 기체를 배출한다.The
압력 센서(71)는, 전환 기구(51)의 일차측의 기체의 압력을 계측한다. 압력 조정 기구(73)는, 압력 센서(71)의 검출 결과에 의거하여, 전환 기구(51)의 일차측의 압력을 조정한다.The
압력 센서(84-86)는 각각, 배기관(81-83)의 내부의 기체의 압력을 계측한다. 압력 조정 기구(87-89)는 각각, 압력 센서(84-86)의 검출 결과에 의거하여, 배기관(81-83)의 내부의 기체의 압력을 조정한다.Pressure sensors 84-86 measure the gas pressure inside the exhaust pipes 81-83, respectively. The pressure adjustment mechanisms 87-89 adjust the gas pressure inside the exhaust pipes 81-83 based on the detection results of the pressure sensors 84-86, respectively.
<실시 형태의 효과><Effect of Embodiment>
상술한 바와 같이, 기판 처리 장치(1)에 의하면, 전환 기구(51)는 처리 하우징(23)과 대략 같은 높이 위치에 배치된다. 따라서, 전환 기구(51)와 처리 하우징(23) 사이의 유로를 적합하게 짧게 할 수 있다. 그 결과, 처리 하우징(23)으로부터 기체를 적절하게 배출할 수 있다.As described above, according to the
또한, 기판 처리 장치(1)는, 다음과 같은 효과를 얻을 수 있다.Additionally, the
전환 기구(51)의 적어도 일부는, 처리 하우징(23)의 측방에 배치된다. 이 때문에, 처리 하우징(23)과 전환 기구(51)의 전체의 높이를 억제할 수 있다. 이 때문에, 기판 처리 장치(1)의 높이를 낮게 억제할 수 있다. 또한, 연직 방향(Z)으로 늘어서는 처리 하우징(23)의 수를 용이하게 증가시킬 수 있다. 이와 같이, 기판 처리 장치(1)의 대형화를 억제하면서, 기판 처리 장치(1)의 스루풋을 적합하게 향상시킬 수 있다. 여기서, 「높이」는, 연직 방향(Z)의 길이이다.At least a portion of the
전환 기구(51)의 상단(P1)은, 처리 하우징(23)의 상단(P2)과 동등 또는 그것보다 낮다. 전환 기구(51)의 하단(Q1)은, 처리 하우징(23)의 하단(Q2)과 동등 또는 그것보다 높다. 이와 같이, 전환 기구(51)의 전체는, 상단(P2)과 동등 또는 그것보다 낮고, 하단(Q2)과 동등 또는 그것보다 높은 위치에 배치된다. 이 때문에, 전환 기구(51)와 처리 하우징(23) 사이의 유로를 적합하게 짧게 할 수 있다.The upper end P1 of the
전환 하우징(53)은, 유지부(31)의 상면(31a)과 동등 또는 그것보다 낮은 위치에 배치된다. 이 때문에, 전환 기구(51)의 사이즈는 비교적 작다. 구체적으로는, 전환 기구(51)의 높이는, 처리 하우징(23)의 높이에 비하여 작다. 따라서, 기판 처리 장치(1)의 대형화를 적합하게 억제할 수 있다.The switching
전환 기구(51)는, 평면에서 보았을 때, 유지부(31)와 겹치지 않는 위치에 배치된다. 이 때문에, 유지부(31)와 전환 기구(51)의 간섭을 용이하게 회피할 수 있다.The
중심점(G)으로부터 전환 기구(51)까지의 거리는, 평면에서 보았을 때, 기판(W)의 반경의 3배보다 크다. 즉, 전환 기구(51)는, 평면에서 보았을 때, 중심점(G)으로부터의 거리가 기판(W)의 반경의 3배보다 큰 에어리어에 배치된다. 따라서, 유지부(31)와 전환 기구(51)의 간섭을 확실하게 회피할 수 있다.The distance from the center point G to the
중심점(G)으로부터 전환 기구(51)까지의 거리는, 평면에서 보았을 때, 기판(W)의 반경의 5배보다 작다. 즉, 전환 기구(51)는, 평면에서 보았을 때, 중심점(G)으로부터의 거리가 기판(W)의 반경의 5배보다 작은 에어리어에 배치된다. 이 때문에, 전환 기구(51)와 처리 하우징(23) 사이의 유로를 효과적으로 짧게 할 수 있다. 또한, 전환 기구(51)는, 평면에서 보았을 때, 비교적 작다. 따라서, 기판 처리 장치(1)의 풋프린트의 증대를 적합하게 억제할 수 있다.The distance from the center point G to the
배기관(41-43)은 각각, 연직 방향(Z)으로 연장된다. 이 때문에, 평면에서 보았을 때의 배기관(41-43)의 설치 면적을 적합하게 작게 할 수 있다. 따라서, 기판 처리 장치(1)의 풋프린트의 증대를 적합하게 억제할 수 있다.The exhaust pipes 41-43 each extend in the vertical direction (Z). For this reason, the installation area of the exhaust pipes 41-43 when viewed from the top can be appropriately reduced. Therefore, an increase in the footprint of the
기판 처리 장치(1)는, 제1 배관 스페이스(44)를 구비한다. 이 때문에, 배기관(41-43)을 적합하게 설치할 수 있다.The
반송 기구(16)는, 유지부(31)에 기판(W)을 반송한다. 반송 기구(16)는, 반송 스페이스(12)에 설치된다. 반송 스페이스(12)는, 처리 하우징(23)에 인접한다. 따라서, 반송 기구(16)는, 유지부(31)에 기판(W)을 용이하게 반송할 수 있다.The transport mechanism 16 transports the substrate W to the holding
기판 처리 장치(1)는, 제1 배관 스페이스(44)를 구비한다. 이 때문에, 배기관(41-43)을 적합하게 설치할 수 있다.The
제1 배관 스페이스(44)는, 처리 하우징(23)에 인접한다. 이 때문에, 배기관(41-43)을 처리 하우징(23)의 근방에 설치할 수 있다.The
반송 스페이스(12)는, 전후 방향(X)으로 연장된다. 처리 하우징(23)과 제1 배관 스페이스(44)는, 전후 방향(X)으로 늘어선다. 이 때문에, 처리 하우징(23)에 인접하는 반송 스페이스(12) 및 처리 하우징(23)에 인접하는 제1 배관 스페이스(44)를 각각, 적합하게 배치할 수 있다. 따라서, 반송 기구(16)가 배기관(41-43)과 간섭하는 것을 적합하게 방지할 수 있다.The
제1 배관 스페이스(44)와 처리 하우징(23)은, 전후 방향(X)으로 늘어선다. 배기관(41-43)은, 폭 방향(Y)으로 늘어선다. 이 때문에, 배기관(41-43)을 각각, 처리 하우징(23)의 근방에 설치할 수 있다.The
전환 기구(51)의 적어도 일부는, 제1 배관 스페이스(44)에 설치된다. 이 때문에, 전환 기구(51)를 처리 하우징(23)의 근방에 설치할 수 있다. 또한, 전환 기구(51)는, 배기관(41-43)과 용이하게 접속할 수 있다.At least a part of the
전환 기구(51)는, 개폐부(61, 62, 63)를 구비한다. 개폐부(61)는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치와, 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 위치로 이동 가능하다. 개폐부(62)는, 처리 하우징(23)을 배기관(42)에 연통시키는 위치와, 처리 하우징(23)을 배기관(42)으로부터 차단하는 위치로 이동 가능하다. 개폐부(63)는, 처리 하우징(23)을 배기관(43)에 연통시키는 위치와, 처리 하우징(23)을 배기관(43)으로부터 차단하는 위치로 이동 가능하다. 개폐부(61, 62, 63)는, 서로 독립적으로 이동 가능하다. 이 때문에, 전환 기구(51)는, 배기관(41-43)을 개별적으로, 처리 하우징(23)에 연통시킬 수 있다. 전환 기구(51)는, 배기관(41-43)을 개별적으로, 처리 하우징(23)으로부터 차단할 수 있다.The
전환 기구(51)는, 전환 하우징(53)을 구비한다. 전환 하우징(53)은, 처리 하우징(23)에 접속된다. 전환 하우징(53)은, 개폐부(61-63)를 수용한다. 이 때문에, 전환 하우징(53)은, 처리 하우징(23)으로부터 개폐부(61-63)까지의 유로를 적합하게 형성할 수 있다.The
전환 하우징(53)은, 처리 하우징(23) 및 배기관(41)에 접속된다. 이 때문에, 전환 하우징(53)은, 처리 하우징(23)으로부터 배기관(41)까지의 유로를 적합하게 형성할 수 있다. 또한, 전환 하우징(53)은, 배기관(42, 43)에 접속된다. 이 때문에, 전환 하우징(53)은, 처리 하우징(23)으로부터 배기관(42, 43)까지의 유로를 적합하게 형성할 수 있다.The switching
개폐부(61-63)는, 1개의 전환 하우징(53) 내에 설치된다. 이 때문에, 처리 하우징(23)으로부터 개폐부(61-63)까지의 유로를 한층 더 짧게 할 수 있다.The opening and closing portions 61-63 are installed within one switching
개폐부(61-63)는, 1개의 전환 스페이스(54)에 설치된다. 이 때문에, 개폐부(61-63)는, 같은 조건하에서, 배기관(41-43)의 개구(41k-43k)를 개폐할 수 있다. 따라서 배기관(41-43)의 사이에서, 처리 하우징(23)으로부터 기체를 배출하는 조건을, 용이하게 같게 할 수 있다. 예를 들면, 배기관(41-43)의 사이에서, 배기 압력이 불균일해지는 것을 억제할 수 있다. 예를 들면, 배기관(41-43)의 사이에서, 배기 유량이 불균일해지는 것을 억제할 수 있다. 따라서, 처리 하우징(23) 내에 있어서 기판(W)에 행하는 처리의 품질을 적합하게 향상시킬 수 있다.The opening and closing sections 61-63 are installed in one switching
전환 하우징(53)은, 도입부(55)를 구비한다. 도입부(55)는, 처리 하우징(23)에 접속된다. 이 때문에, 처리 하우징(23)으로부터 전환 하우징(53)에 기체를 용이하게 도입할 수 있다.The
도입부(55)는, 전후 방향(X)으로 연장된다. 상술한 바와 같이, 반송 스페이스(12)는 전후 방향(X)으로 연장된다. 이 때문에, 처리 하우징(23)에 인접하는 반송 스페이스(12) 및 처리 하우징(23)에 접속되는 도입부(55)를 각각, 적합하게 배치할 수 있다. 따라서, 반송 기구(16)가 도입부(55)와 간섭하는 것을 적합하게 방지할 수 있다.The
전환 하우징(53)은, 분배부(56)를 구비한다. 분배부(56)는, 도입부(55)에 접속된다. 분배부(56)는, 배기관(41-43)에 접속된다. 이 때문에, 전환 하우징(53)으로부터 배기관(41-43)에 기체를 용이하게 내보낼 수 있다.The
분배부(56)는, 배기관(41-43)에 접속된다. 분배부(56)는, 개폐부(61-63)를 수용한다. 따라서, 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 배기로를, 배기관(41-43)의 사이에서, 용이하게 전환할 수 있다.The
분배부(56)는, 폭 방향(Y)으로 연장된다. 상술한 바와 같이, 배기관(41-43)은, 폭 방향(Y)으로 늘어선다. 이와 같이, 분배부(56)가 연장되는 방향은, 배기관(41-43)이 늘어서는 방향과 평행이다. 따라서, 분배부(56)는, 배기관(41-43)과 용이하게 접속할 수 있다.The
도입부(55)는, 반송 스페이스(12)에 비교적 가까운 위치에 배치된다. 구체적으로는, 평면에서 보았을 때, 도입부(55)와 반송 스페이스(12)의 이격 거리는, 유지부(31)와 반송 스페이스(12)의 이격 거리보다 작다. 이 때문에, 도입부(55)는, 처리 하우징(23) 내에 설치되는 부재(예를 들면, 베이스부(37A-37C))와 간섭하는 것을 용이하게 방지할 수 있다. 따라서, 처리 하우징(23)으로부터 도입부(55)에 기체를 원활하게 도입할 수 있다. 예를 들면, 처리 하우징(23)으로부터 도입부(55)로 들어가는 기체의 흐름이, 처리 하우징(23) 내에 설치되는 부재에 의하여, 흐트러지는 것을 적합하게 회피할 수 있다.The
급기관(48)은, 처리 하우징(23)에 기체를 공급한다. 제2 배관 스페이스(46)는, 급기관(48)을 수용한다. 제2 배관 스페이스(46)는, 처리 하우징(23)에 인접한다. 따라서, 급기관(48)은, 처리 하우징(23)에 기체를 용이하게 공급할 수 있다.The
제1 배관 스페이스(44A)와 처리 하우징(23A)과 제2 배관 스페이스(46)는, 이 순서로, 전후 방향(X)으로 늘어선다. 이 때문에, 제1 배관 스페이스(44)와 제2 배관 스페이스(46)는, 처리 하우징(23)에 의하여, 이격되어 있다. 따라서, 배기관(41-43)의 배치는, 급기관(48)에 의하여, 제한되지 않는다. 즉, 배기관(41-43)의 배치의 자유도를 적합하게 높일 수 있다. 예를 들면, 배기관(41-43)을 처리 하우징(23)의 근방에 용이하게 설치할 수 있다.The
처리 하우징(23A)을 예로 들어 설명한다. 기판 처리 장치(1)는, 처리 하우징(23A2)을 구비한다. 처리 하우징(23A2)은, 처리 하우징(23A1)의 하방에 배치된다. 이 때문에, 평면에서 보았을 때의 처리 하우징(23A1, 23A2)의 설치 면적을 적합하게 작게 할 수 있다. 따라서, 기판 처리 장치(1)의 풋프린트의 증대를 적합하게 억제할 수 있다.The description will be made by taking the processing housing 23A as an example. The
기판 처리 장치(1)는, 전환 기구(51A2)를 구비한다. 전환 기구(51A2)는, 처리 하우징(23A2)의 배기로를, 배기관(41A-43A) 중 하나로 전환한다. 따라서, 배기관(41A-43A)은 각각, 처리 하우징(23A1)의 기체에 더하여, 처리 하우징(23A2)의 기체를 배출한다. 따라서, 기판 처리 장치(1)의 구조를 간소화할 수 있다.The
전환 기구(51A2)는, 처리 하우징(23A2)과 대략 같은 높이 위치에 배치된다. 이 때문에, 처리 하우징(23A2)과 전환 기구(51A2) 사이의 유로를 적합하게 짧게 할 수 있다. 그 결과, 처리 하우징(23A2)으로부터 기체를 적절하게 배출할 수 있다.The switching mechanism 51A2 is disposed at approximately the same height as the processing housing 23A2. For this reason, the flow path between the processing housing 23A2 and the switching mechanism 51A2 can be appropriately shortened. As a result, gas can be properly discharged from the processing housing 23A2.
처리 하우징(23A2)은, 평면에서 보았을 때, 처리 하우징(23A1)과 같은 위치에 배치된다. 전환 기구(51A2)는, 평면에서 보았을 때, 전환 기구(51A1)와 같은 위치에 배치된다. 이 때문에, 처리 하우징(23A2)과 전환 기구(51A2)의 상대적인 위치는, 처리 하우징(23A1)과 전환 기구(51A1)의 상대적인 위치와 대략 같다. 따라서, 처리 하우징(23A2)과 전환 기구(51A2) 사이의 유로는, 처리 하우징(23A1)과 전환 기구(51A1) 사이의 유로와, 같은 길이 및 같은 형상을 갖는다. 따라서, 처리 하우징(23A1, 23A2)의 사이에서, 기체를 배출하는 조건을, 용이하게 같게 할 수 있다. 예를 들면, 처리 하우징(23A1, 23A2)의 사이에서, 배기 압력이 불균일해지는 것을 억제할 수 있다. 예를 들면, 처리 하우징(23A1, 23A2)의 사이에서, 배기 유량이 불균일해지는 것을 억제할 수 있다. 그 결과, 처리 하우징(23A1, 23A2)의 사이에서, 기판(W)에 행하는 처리의 품질을 적합하게 같게 할 수 있다.The processing housing 23A2 is disposed at the same position as the processing housing 23A1 when viewed from the top. The switching mechanism 51A2 is disposed at the same position as the switching mechanism 51A1 when viewed from the top. For this reason, the relative position of the processing housing 23A2 and the switching mechanism 51A2 is approximately the same as the relative position of the processing housing 23A1 and the switching mechanism 51A1. Accordingly, the flow path between the processing housing 23A2 and the switching mechanism 51A2 has the same length and the same shape as the flow path between the processing housing 23A1 and the switching mechanism 51A1. Therefore, the conditions for discharging gas can be easily made the same between the processing housings 23A1 and 23A2. For example, uneven exhaust pressure between the processing housings 23A1 and 23A2 can be suppressed. For example, uneven exhaust flow rate between the processing housings 23A1 and 23A2 can be suppressed. As a result, the quality of the processing performed on the substrate W can be suitably equalized between the processing housings 23A1 and 23A2.
전환 기구(51A2)는, 평면에서 보았을 때, 전환 기구(51A1)와 같은 위치에 배치된다. 배기관(41A)은, 연직 방향(Z)으로 연장된다. 따라서, 전환 기구(51A1, 51A2)는 각각, 배기관(41A)과 용이하게 접속할 수 있다. 마찬가지로, 배기관(42A, 43A)은 각각, 연직 방향(Z)으로 연장된다. 따라서, 전환 기구(51A1, 51A2)는 각각, 배기관(42A, 43A)과 용이하게 접속할 수 있다.The switching mechanism 51A2 is disposed at the same position as the switching mechanism 51A1 when viewed from the top. The
마찬가지로, 기판 처리 장치(1)는, 처리 하우징(23A3-23A6)을 구비한다. 처리 하우징(23A3-23A6)은 각각, 처리 하우징(23A1)의 하방에 배치된다. 따라서, 기판 처리 장치(1)의 풋프린트의 증대를 한층 더, 적합하게 억제할 수 있다.Similarly, the
기판 처리 장치(1)는, 전환 기구(51A3-51A6)를 구비한다. 전환 기구(51A3-51A6)는 각각, 처리 하우징(23A3-23A6)의 배기로를, 배기관(41A-43A) 중 하나로 전환한다. 따라서, 배기관(41A-43A)은 각각, 처리 하우징(23A1-23A6)의 기체를 배출한다. 따라서, 기판 처리 장치(1)의 구조를 한층 더, 간소화할 수 있다.The
처리 하우징(23A3-23A6)은, 평면에서 보았을 때, 처리 하우징(23A1)과 같은 위치에 배치된다. 전환 기구(51A3-51A6)는 각각, 평면에서 보았을 때, 전환 기구(51A1)와 같은 위치에 배치된다. 이 때문에, 처리 하우징(23A3-23A6)과 전환 기구(51A3-51A6)의 상대적인 위치는, 처리 하우징(23A1)과 전환 기구(51A1)의 상대적인 위치와 대략 같다. 그 결과, 처리 하우징(23A1-23A6)의 사이에서, 기판(W)에 행하는 처리의 품질을 적합하게 같게 할 수 있다.The processing housings 23A3-23A6 are disposed at the same position as the processing housing 23A1 when viewed from the top. The switching mechanisms 51A3 - 51A6 are each disposed at the same position as the switching mechanism 51A1 when viewed from the top. For this reason, the relative positions of the processing housings 23A3-23A6 and the switching mechanisms 51A3-51A6 are approximately the same as the relative positions of the processing housing 23A1 and the switching mechanisms 51A1. As a result, the quality of the processing performed on the substrate W can be suitably equalized between the processing housings 23A1 - 23A6.
전환 기구(51A3-51A6)는 각각, 평면에서 보았을 때, 전환 기구(51A1)와 같은 위치에 배치된다. 배기관(41A-43A)은 각각, 연직 방향(Z)으로 연장된다. 따라서, 전환 기구(51A3-51A6)는 각각, 배기관(41A-43A)과 용이하게 접속할 수 있다.The switching mechanisms 51A3 - 51A6 are each disposed at the same position as the switching mechanism 51A1 when viewed from the top. The
압력 센서(71)는, 전환 기구(51)의 일차측의 기체의 압력을 계측한다. 압력 조정 기구(73)는, 압력 센서(71)의 검출 결과에 의거하여, 전환 기구(51)의 일차측의 기체의 압력을 조정한다. 이 때문에, 전환 기구(51)의 일차측의 압력을 적합하게 조정할 수 있다. 따라서, 처리 하우징(23) 내에 있어서 기판(W)에 행하는 처리의 품질을 적합하게 향상시킬 수 있다.The
압력 조정 기구(73)는, 예를 들면, 배기압이 일정해지도록 조정한다. 이에 의하여, 처리 하우징(23) 내에 있어서 기판(W)에 처리를 행할 때에, 배기압이 변동하는 것을 억제할 수 있다. 따라서, 처리 하우징(23) 내에 있어서 기판(W)에 행하는 처리의 품질을 적합하게 향상시킬 수 있다.The
압력 조정 기구(73A1, 73A2)는, 예를 들면, 전환 기구(51A1)의 일차측의 기체의 압력과 전환 기구(51A2)의 일차측의 기체의 압력을 같게 한다. 이에 의하여, 처리 하우징(23A1)에 있어서 기판(W)에 처리를 행할 때의 배기압과, 처리 하우징(23A2)에 있어서 기판(W)에 처리를 행할 때의 배기압을, 적합하게 같게 할 수 있다. 따라서, 연직 방향(Z)으로 늘어서는 처리 하우징(23A1, 23A2)의 사이에 있어서, 기판(W)에 행하는 처리의 품질을 적합하게 같게 할 수 있다.The pressure adjustment mechanisms 73A1 and 73A2, for example, equalize the pressure of the gas on the primary side of the switching mechanism 51A1 and the pressure of the gas on the primary side of the switching mechanism 51A2. As a result, the exhaust pressure when processing the substrate W in the processing housing 23A1 and the exhaust pressure when processing the substrate W in the processing housing 23A2 can be suitably equalized. there is. Therefore, the quality of the processing performed on the substrate W can be suitably equalized between the processing housings 23A1 and 23A2 arranged in the vertical direction Z.
압력 조정 기구(73A1-73A6)는, 예를 들면, 전환 기구(51A1-51A6)의 일차측의 기체의 압력을 서로 같게 한다. 이에 의하여, 연직 방향(Z)으로 늘어서는 모든 처리 하우징(23A1-23A6)의 사이에 있어서, 기판(W)에 행하는 처리의 품질을 적합하게 같게 할 수 있다.For example, the pressure adjustment mechanisms 73A1 to 73A6 equalize the gas pressures on the primary side of the switching mechanisms 51A1 to 51A6. As a result, the quality of the processing performed on the substrate W can be suitably equalized between all the processing housings 23A1 to 23A6 arranged in the vertical direction Z.
압력 조정 기구(73A1, 73B1)는, 예를 들면, 전환 기구(51A1)의 일차측의 기체의 압력과 전환 기구(51B1)의 일차측의 기체의 압력을 같게 한다. 이에 의하여, 같은 높이 위치에 배치되는 처리 하우징(23A1, 23B1)의 사이에 있어서, 기판(W)에 행하는 처리의 품질을 적합하게 같게 할 수 있다.The pressure adjustment mechanisms 73A1 and 73B1, for example, equalize the pressure of the gas on the primary side of the switching mechanism 51A1 and the pressure of the gas on the primary side of the switching mechanism 51B1. As a result, the quality of the processing performed on the substrate W can be suitably equalized between the processing housings 23A1 and 23B1 disposed at the same height.
압력 조정 기구(73A1, 73B1, 73C1, 73D1)는, 예를 들면, 전환 기구(51A1, 51B1, 51C1, 51D1)의 일차측의 기체의 압력을 같게 한다. 이에 의하여, 같은 높이 위치에 배치되는 모든 처리 하우징(23A1, 23B1, 23C1, 23D1)의 사이에 있어서, 기판(W)에 행하는 처리의 품질을 적합하게 같게 할 수 있다.The pressure adjustment mechanisms 73A1, 73B1, 73C1, and 73D1, for example, equalize the pressure of the gas on the primary side of the switching mechanisms 51A1, 51B1, 51C1, and 51D1. As a result, the quality of the processing performed on the substrate W can be suitably equalized among all the processing housings 23A1, 23B1, 23C1, and 23D1 arranged at the same height.
압력 조정 기구(73)는, 예를 들면, 각 전환 기구(51)의 일차측의 기체의 압력을 같게 한다. 이에 의하여, 모든 처리 하우징(23)의 사이에 있어서, 기판(W)에 행하는 처리의 품질을 적합하게 같게 할 수 있다.For example, the
배기관(81A)은, 배기관(41A, 41B)에 접속된다. 배기관(81A)은, 배기관(41A, 41B)으로부터 기체를 배출한다. 이와 같이, 2개의 배기관(41A, 41B)을 1개의 배기관(81A)에 집약한다. 이 때문에, 기판 처리 장치(1)의 구조를 간소화할 수 있다.The
마찬가지로, 배기관(82A)은, 배기관(42A, 42B)에 접속된다. 배기관(82A)은, 배기관(42A, 42B)의 기체를 배출한다. 배기관(83A)은, 배기관(43A, 43B)에 접속된다. 배기관(83A)은, 배기관(43A, 43B)의 기체를 배출한다. 이 때문에, 기판 처리 장치(1)의 구조를 한층 더 간소화할 수 있다.Similarly, the
압력 센서(84)는, 배기관(81)의 내부의 기체의 압력을 계측한다. 압력 조정 기구(87)는, 압력 센서(84)의 검출 결과에 의거하여, 배기관(81)의 내부의 기체의 압력을 조정한다. 이 때문에, 배기관(81)의 내부의 압력을 적합하게 조정할 수 있다. 따라서, 처리 하우징(23) 내에 있어서 기판(W)에 행하는 처리의 품질을 한층 더 적합하게 향상시킬 수 있다.The pressure sensor 84 measures the pressure of the gas inside the
마찬가지로, 압력 센서(85, 86)는, 배기관(82, 83)의 내부의 기체의 압력을 계측한다. 압력 조정 기구(88, 89)는, 압력 센서(85, 86)의 검출 결과에 의거하여, 배기관(82, 83)의 내부의 기체의 압력을 조정한다. 이 때문에, 배기관(82, 83)의 내부의 압력을 적합하게 조정할 수 있다. 따라서, 처리 하우징(23) 내에 있어서 기판(W)에 행하는 처리의 품질을 적합하게 향상시킬 수 있다.Similarly, the pressure sensors 85 and 86 measure the pressure of the gas inside the exhaust pipes 82 and 83. The pressure adjustment mechanisms 88 and 89 adjust the pressure of the gas inside the exhaust pipes 82 and 83 based on the detection results of the pressure sensors 85 and 86. For this reason, the pressure inside the exhaust pipes 82 and 83 can be adjusted appropriately. Accordingly, the quality of processing performed on the substrate W within the processing
배기관(81A)을 예로 들어 설명한다. 압력 센서(84A)는, 배기관(81A)과 배기관(41A)의 접속 위치, 및, 배기관(81A)과 배기관(41B)의 접속 위치보다 하류에 설치된다. 배기관(81A)과 배기관(41A)의 접속 위치, 및, 배기관(81A)과 배기관(41B)의 접속 위치보다 하류의 위치에서는, 배기관(41A)으로부터의 기체 및 배기관(41B)으로부터의 기체의 양쪽 모두가 흐른다. 따라서, 압력 센서(84A)는, 배기관(41A, 41B)의 전체의 배기압을 적합하게 검출할 수 있다.This will be explained using the
마찬가지로, 압력 센서(85A)는, 배기관(82A)과 배기관(42A)의 접속 위치, 및, 배기관(82A)과 배기관(42B)의 접속 위치보다 하류에 설치된다. 따라서, 압력 센서(85A)는, 배기관(42A, 42B)의 전체의 배기압을 적합하게 검출할 수 있다. 압력 센서(86A)는, 배기관(83A)과 배기관(43A)의 접속 위치, 및, 배기관(83A)과 배기관(43B)의 접속 위치보다 하류의 위치에 설치된다. 따라서, 압력 센서(86A)는, 배기관(43A, 43B)의 전체의 배기압을 적합하게 검출할 수 있다.Similarly, the
예를 들면, 압력 조정 기구(87)는, 배기압이 일정해지도록 조정한다. 마찬가지로, 압력 조정 기구(88, 89)는, 배기압이 일정해지도록 조정한다. 이에 의하여, 처리 하우징(23) 내에 있어서 기판(W)에 처리를 행할 때에, 배기압이 변동하는 것을 억제할 수 있다. 따라서, 처리 하우징(23) 내에 있어서 기판(W)에 행하는 처리의 품질을 적합하게 향상시킬 수 있다.For example, the pressure adjustment mechanism 87 adjusts the exhaust pressure so that it becomes constant. Similarly, the pressure adjustment mechanisms 88 and 89 adjust the exhaust pressure so that it becomes constant. As a result, it is possible to suppress fluctuations in the exhaust pressure when processing the substrate W within the processing
압력 조정 기구(87A-89A)는, 예를 들면, 배기관(81A)의 내부의 기체의 압력과 배기관(82A)의 내부의 기체의 압력과 배기관(83A)의 내부의 기체의 압력을 같게 한다. 이에 의하여, 배기관(41A-43A, 41B-43B)의 사이에서, 배기압을 적합하게 같게 할 수 있다. 따라서, 처리 하우징(23A, 23B)의 배기로를 전환했을 때에, 배기압이 변동하는 것을 억제할 수 있다. 따라서, 처리 하우징(23A, 23B) 내에 있어서 기판(W)에 행하는 처리의 품질을 적합하게 향상시킬 수 있다.The
압력 조정 기구(87A, 87B)는, 예를 들면, 배기관(81A)의 내부의 기체의 압력과 배기관(81B)의 내부의 기체의 압력을 같게 한다. 이에 의하여, 배기관(81A, 81B)이 서로 상이한 길이를 갖고 있어도, 배기관(81A, 81B)의 사이에서 배기압이 불균일해지는 것을 억제할 수 있다. 따라서, 배기관(41A, 41B)과 배기관(41C, 41D)의 사이에서, 배기압을 같게 할 수 있다. 따라서, 처리 하우징(23A, 23B)과 처리 하우징(23C, 23D)의 사이에 있어서, 기판(W)에 행하는 처리의 품질을 적합하게 같게 할 수 있다.The
압력 조정 기구(87A-89A, 87B-89B)는, 예를 들면, 배기관(81A-83A, 81B-83B)의 내부의 기체의 압력을 같게 한다. 이에 의하여, 배기관(81A-83A, 81B-83B)이 서로 상이한 길이를 갖고 있어도, 배기관(81A-83A, 81B-83B)의 사이에서, 배기압이 불균일해지는 것을 억제할 수 있다. 따라서, 배기관(41A-43A, 41B-43B, 41C-43C, 41D-43D)의 사이에서, 배기압을 같게 할 수 있다. 따라서, 처리 하우징(23A, 23B, 23C, 23D)의 사이에 있어서, 기판(W)에 행하는 처리의 품질을 한층 더 적합하게 같게 할 수 있다.The
액 공급부(33)는, 제1 처리액과 제2 처리액과 제3 처리액을 공급 가능하다. 액 공급부(33)는, 제1 처리액과 제2 처리액과 제3 처리액의 사이에서, 공급하는 처리액을 전환한다. 처리 하우징(23) 내에 있어서 사용되는 처리액의 전환에 따라, 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 배기로를 배기관(41-43)의 사이에서 전환한다. 액 공급부(33)가 제1 처리액을 공급할 때, 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 배기로를, 배기관(41)으로 전환한다. 액 공급부(33)가 제2 처리액을 공급할 때, 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 배기로를, 배기관(42)으로 전환한다. 액 공급부(33)가 제3 처리액을 공급할 때, 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 배기로를, 배기관(43)으로 전환한다. 그 결과, 액 공급부(33)가 제1 처리액을 공급할 때, 배기관(41)이 처리 하우징(23)의 기체를 배출한다. 액 공급부(33)가 제2 처리액 또는 제3 처리액을 공급할 때, 배기관(41)은 처리 하우징(23)의 기체를 배출하지 않는다. 따라서, 배기관(41)의 내부가 오손되는 것을 적합하게 억제할 수 있다. 같은 이유에 의해, 배기관(42, 43)의 내부가 오손되는 것도 적합하게 억제할 수 있다. 따라서, 기체는, 배기관(41-43)을 원활하게 흐른다. 그 결과, 처리 하우징(23)의 기체를 한층 더 적절하게 배출할 수 있다.The
또한, 배기관(81-83)의 내부가 오손되는 것을 적합하게 억제할 수 있다. 따라서, 기체는, 배기관(81-83)을 원활하게 흐른다. 그 결과, 처리 하우징(23)의 기체를 한층 더 적절하게 배출할 수 있다.Additionally, contamination of the interior of the exhaust pipes 81-83 can be appropriately suppressed. Therefore, the gas flows smoothly through the exhaust pipes 81-83. As a result, the gas in the
본 발명은, 실시 형태에 한정되는 것은 아니고, 하기와 같이 변형 실시할 수 있다.The present invention is not limited to the embodiments and can be modified and implemented as follows.
실시 형태에서는, 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 기체의 배기로를, 배기관(41-43) 중 하나로 전환한다. 즉, 전환 기구(51)는, 3개의 배기관(구체적으로는, 배기관(41-43))의 사이에서 전환한다. 단, 이에 한정되지 않는다. 전환 기구(51)는, 2개의 배기관의 사이에서 전환해도 된다. 예를 들면, 배기관(43)을 생략해도 된다. 이 경우, 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 배기로를, 배기관(41, 42) 중 하나로 전환한다. 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 배기로를, 배기관(41, 42)의 사이에서 전환한다. 전환 기구(51)는, 4개 이상의 배기관의 사이에서 전환해도 된다. 예를 들면, 기판 처리 장치(1)는, 배기관(41-43)에 더하여, 추가 배기관을 구비해도 된다. 이 경우, 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 배기로를, 배기관(41-43) 및 추가 배기관 중 하나로 전환한다. 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 배기로를, 배기관(41-43)과 추가 배기관의 사이에서 전환한다.In the embodiment, the
실시 형태에서는, 배기관(41-43)은, 평면에서 보았을 때, 처리 하우징(23)과 분배부(56)의 사이에 배치된다. 단, 이에 한정되지 않는다. 분배부(56)는, 평면에서 보았을 때, 배기관(41-43)과 처리 하우징(23)의 사이에 배치되어도 된다.In the embodiment, the exhaust pipes 41-43 are disposed between the processing
도 13은, 변형 실시 형태에 있어서의 처리 유닛(21)의 평면도이다. 또한, 실시 형태와 같은 구성에 대해서는 동일 부호를 붙임으로써 상세한 설명을 생략한다.Fig. 13 is a top view of the
기판 처리 장치(1)는, 전환 기구(101)를 구비한다. 전환 기구(101)는, 전환 하우징(103)을 구비한다. 전환 하우징(103)은, 분배부(106)를 구비한다. 분배부(106)는, 처리 하우징(23)의 외부에 설치된다. 분배부(106)는, 제1 배관 스페이스(44)에 설치된다. 분배부(106)는, 처리 하우징(23)에 접한다. 분배부(106)는, 평면에서 보았을 때, 처리 하우징(23)과 배기관(41-43)의 사이에 배치된다. 구체적으로는, 분배부(106)는, 처리 하우징(23)의 측벽(25b)에 접한다. 분배부(106)는, 측벽(25b)과 배기관(41-43)의 사이에 배치된다.The
실시 형태에서는, 전환 기구(51)의 일부(예를 들면, 제1 단(55a))는, 처리 하우징(23)의 내부에 배치된다. 단, 이에 한정되지 않는다. 전환 기구(51)의 전부가, 처리 하우징(23)의 외부에 배치되어도 된다. 마찬가지로, 실시 형태에서는, 전환 하우징(53)의 일부(예를 들면, 제1 단(55a))는, 처리 하우징(23)의 내부에 배치된다. 단, 이에 한정되지 않는다. 전환 하우징(53)의 전부가, 처리 하우징(23)의 외부에 배치되어도 된다.In the embodiment, a part of the switching mechanism 51 (for example, the
도 13을 참조한다. 전환 기구(101)는, 도입부(105)를 구비한다. 도입부(105)는, 전후 방향(X)으로 연장된다. 도입부(105)는, 제1 단(105a)과 제2 단(105b)을 갖는다. 제1 단(105a)은, 전환 스페이스(54)의 상류단에 상당한다. 제1 단(105a)은, 처리 하우징(23)의 측벽(25b)에 배치된다. 제1 단(105a)은, 처리 하우징(23)의 측벽(25b)에 접속된다. 제1 단(105a)은, 처리 하우징(23)의 내부에 배치되어 있지 않다. 제2 단(105b)은, 처리 하우징(23)의 외부에 설치된다. 이 때문에, 도입부(105)의 전체는, 처리 하우징(23)의 외부에 설치된다. 그 결과, 전환 하우징(103)의 전체는, 처리 하우징(23)의 외부에 설치된다. 전환 기구(101)의 전체는, 처리 하우징(23)의 외부에 설치된다. 여기서, 처리 하우징(23)의 외부는, 구체적으로는, 제1 배관 스페이스(44)이다.See Figure 13. The
실시 형태에서는, 전환 기구(51)의 일부(예를 들면, 제1 단(55a))는, 처리 하우징(23)의 내부에 설치된다. 단, 이에 한정되지 않는다. 전환 기구(51)의 전부가, 처리 하우징(23)의 내부에 설치되어도 된다. 마찬가지로, 실시 형태에서는, 전환 하우징(53)의 일부는, 처리 하우징(23)의 내부에 배치된다. 단, 이에 한정되지 않는다. 전환 하우징(53)의 전부가, 처리 하우징(23)의 내부에 배치되어도 된다. 실시 형태에서는, 개폐부(61-63)는, 처리 하우징(23)의 외부에 배치된다. 단, 이에 한정되지 않는다. 개폐부(61-63)가, 처리 하우징(23)의 내부에 배치되어도 된다.In the embodiment, a part of the switching mechanism 51 (for example, the
도 14는, 변형 실시 형태에 있어서의 처리 유닛(21)의 평면도이다. 또한, 실시 형태와 같은 구성에 대해서는 동일 부호를 붙임으로써 상세한 설명을 생략한다. 도 14는, 액 공급부(33)를, 편의상, 간략하게 나타낸다.Fig. 14 is a top view of the
배기관(41-43)은, 제1 배관 스페이스(44)에 설치된다. 배기관(41-43)의 개구(k1-k3)는 각각, 처리 하우징(23)(구체적으로는 측벽(25b))과 접한다.The exhaust pipes 41-43 are installed in the
기판 처리 장치(1)는, 전환 기구(111)를 구비한다. 전환 기구(111)는, 개폐부(113, 114, 115)를 구비한다. 개폐부(113-115)는 각각, 처리 하우징(23)의 내부에 설치된다. 개폐부(113-115)는 각각, 측벽(25b)의 근방에 설치된다. 개폐부(113-115)는 각각, 개구(41k-43k)에 대향하는 위치에 배치된다.The
각 개폐부(113-115)는 각각, 개폐부(61-63)와 같은 구조를 갖는다. 개폐부(113)는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치와, 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 위치로 이동 가능하다. 개폐부(114)는, 처리 하우징(23)을 배기관(42)에 연통시키는 위치와, 처리 하우징(23)을 배기관(42)으로부터 차단하는 위치로 이동 가능하다. 개폐부(115)는, 처리 하우징(23)을 배기관(43)에 연통시키는 위치와, 처리 하우징(23)을 배기관(43)으로부터 차단하는 위치로 이동 가능하다.Each of the opening and closing portions 113-115 has the same structure as the opening and closing portions 61-63. The opening and
이와 같이, 전환 기구(111)의 전부는, 처리 하우징(23)의 내부에 설치된다.In this way, the
도 14에 나타내는 변형 실시 형태에서는, 전환 기구(111)는, 전환 하우징을 구비해도 되고, 전환 하우징을 구비하지 않아도 된다. 전환 기구(111)가 전환 하우징을 구비하는 경우, 전환 기구(111)의 전환 하우징의 전체가, 처리 하우징(23)의 내부에 설치되어도 된다.In the modified embodiment shown in FIG. 14, the
실시 형태에서는, 전환 기구(51)는 전환 하우징(53)을 구비한다. 단, 이에 한정되지 않는다. 도 14의 변형 실시 형태에서 예시한 바와 같이, 전환 하우징(53)을 적절하게 생략해도 된다.In an embodiment, the
실시 형태에서는, 전환 하우징(53)은, 컵(38)에 접속되지 않는다. 단, 이에 한정되지 않는다. 전환 하우징(53)은, 컵(38)에 접속되어도 된다. 전환 하우징(53)은, 컵(38)의 내부로부터 배기관(41-43)까지의 유로를 형성해도 된다.In the embodiment, the
실시 형태에서는, 개폐부(61)가 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치에 있을 때, 개폐부(61)는, 처리 하우징(23)을 배기관(42, 43)으로부터 차단하지 않는다. 단, 이에 한정되지 않는다. 개폐부(61)가 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치에 있을 때, 개폐부(61)는, 처리 하우징(23)을 배기관(42, 43)으로부터 차단해도 된다. 마찬가지로, 실시 형태에서는, 개폐부(62)가 처리 하우징(23)을 배기관(42)에 연통시키는 위치에 있을 때, 개폐부(62)는, 처리 하우징(23)을 배기관(43)으로부터 차단하지 않는다. 단, 이에 한정되지 않는다. 개폐부(62)가 처리 하우징(23)을 배기관(42)에 연통시키는 위치에 있을 때, 개폐부(62)는, 처리 하우징(23)을 배기관(43)으로부터 차단해도 된다.In the embodiment, when the opening and closing
도 15는, 변형 실시 형태에 있어서의 처리 유닛(21)의 평면도이다. 또한, 실시 형태와 같은 구성에 대해서는 동일 부호를 붙임으로써 상세한 설명을 생략한다.Fig. 15 is a top view of the
기판 처리 장치(1)는, 전환 기구(121)를 구비한다. 전환 기구(121)는, 개폐부(123, 124)를 구비한다. 개폐부(123, 124)는, 전환 하우징(53)의 내부에 설치된다. 즉, 개폐부(123, 124)는, 전환 스페이스(54)에 설치된다. 개폐부(123, 124)는 각각, 개구(41k, 42k)에 대향하는 위치에 배치된다. 개폐부(123)는, 개구(41k)를 개폐한다. 개폐부(124)는, 개구(42k)를 개폐한다. 또한, 전환 기구(121)는, 개폐부(63)에 상당하는 부재를 구비하고 있지 않다.The
기체는, 전환 스페이스(54)를 일방향으로 흐른다. 기체는, 도입부(55)로부터 분배부(56)로 흐른다. 개구(41k, 42k, 43k)는 각각, 전환 스페이스(54)에 연통한다. 개구(42k)와 전환 스페이스(54)가 연통하는 위치는, 개구(41k)와 전환 스페이스(54)가 연통하는 위치보다 하류이다. 개구(43k)와 전환 스페이스(54)가 연통하는 위치는, 개구(42k)와 전환 스페이스(54)가 연통하는 위치보다 하류이다.Gas flows in one direction through the switching
여기서, 전환 스페이스(54)를, 가상적인 경계(B1, B2)에 의하여, 제1 구역(126)과 제2 구역(127)과 제3 구역(128)으로 나눈다. 도 15는, 경계(B1, B2)의 위치를, 일점쇄선으로 예시한다. 경계(B1)는, 개구(41k)와 전환 스페이스(54)가 연통하는 위치보다 하류, 또한, 개구(42k)와 전환 스페이스(54)가 연통하는 위치보다 상류에 위치한다. 경계(B2)는, 개구(42k)와 전환 스페이스(54)가 연통하는 위치보다 하류, 또한, 개구(43k)와 전환 스페이스(54)가 연통하는 위치보다 상류에 위치한다. 제1 구역(126)은, 경계(B1)보다 상류에 위치하는 전환 스페이스(54)의 부분이다. 제2 구역(127)은, 경계(B1)보다 하류, 또한, 경계(B2)보다 상류에 위치하는 전환 스페이스(54)의 부분이다. 제3 구역(128)은, 경계(B2)보다 하류에 위치하는 전환 스페이스(54)의 부분이다.Here, the
개폐부(123)는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치와, 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 위치로 이동 가능하다. 도 15는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치에 있는 개폐부(123)를 실선으로 나타낸다. 도 15는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 위치에 있는 개폐부(123)를 파선으로 나타낸다.The opening and
개폐부(123)가 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치에 있을 때, 개폐부(123)는, 개구(41k)를 개방하는 것에 더하여, 제1 구역(126)을 제2 구역(127)으로부터 차단한다. 즉, 개폐부(123)가 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시킬 때, 개폐부(123)는, 처리 하우징(23)을 배기관(42, 43)으로부터 차단한다. 개폐부(123)가 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 위치에 있을 때, 개폐부(123)는, 개구(41k)를 폐색하는 것에 더하여, 제1 구역(126)을 제2 구역(127)에 연통시킨다. 즉, 개폐부(123)가 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단할 때, 개폐부(123)는, 처리 하우징(23)을 배기관(42, 43)으로부터 차단하지 않는다.When the opening/
개폐부(124)는, 처리 하우징(23)을 배기관(42)에 연통시키는 위치와, 처리 하우징(23)을 배기관(42)으로부터 차단하는 위치로 이동 가능하다. 도 15는, 처리 하우징(23)을 배기관(42)에 연통시키는 위치에 있는 개폐부(124)를 실선으로 나타낸다. 도 15는, 처리 하우징(23)을 배기관(42)으로부터 차단하는 위치에 있는 개폐부(124)를 파선으로 나타낸다.The opening and
개폐부(124)가 처리 하우징(23)을 배기관(42)에 연통시키는 위치에 있을 때, 개폐부(124)는, 개구(42k)를 개방하는 것에 더하여, 제2 구역(127)을 제3 구역(128)으로부터 차단한다. 즉, 개폐부(124)가 처리 하우징(23)을 배기관(42)에 연통시킬 때, 개폐부(124)는, 처리 하우징(23)을 배기관(43)으로부터 차단한다. 개폐부(124)가 처리 하우징(23)을 배기관(42)으로부터 차단하는 위치에 있을 때, 개폐부(124)는, 개구(42k)를 폐색하는 것에 더하여, 제2 구역(127)을 제3 구역(128)에 연통시킨다. 즉, 개폐부(124)가 처리 하우징(23)을 배기관(42)으로부터 차단할 때, 개폐부(124)는, 처리 하우징(23)을 배기관(43)으로부터 차단하지 않는다.When the opening/
전환 기구(121)가 처리 하우징(23)의 배기로를 배기관(41)으로 전환하는 경우, 개폐부(123)는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치로 이동한다. 개폐부(124)는, 처리 하우징(23)을 배기관(42)에 연통시키는 위치, 및, 처리 하우징(23)을 배기관(42)으로부터 차단하는 위치 중 어느 곳으로 이동해도 된다. 바꾸어 말하면, 개폐부(124)는, 개구(42k)를 개방해도 되고, 개구(42k)를 폐색해도 된다.When the
전환 기구(121)가 처리 하우징(23)의 배기로를 배기관(42)으로 전환하는 경우, 개폐부(123)는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 위치로 이동한다. 개폐부(124)는, 처리 하우징(23)을 배기관(42)에 연통시키는 위치로 이동한다.When the
전환 기구(121)가 처리 하우징(23)의 배기로를 배기관(43)으로 전환하는 경우, 개폐부(123)는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 위치로 이동한다. 개폐부(124)는, 처리 하우징(23)을 배기관(42)으로부터 차단하는 위치로 이동한다.When the
본 변형 실시 형태에 의하면, 개폐부(63)에 상당하는 부재를 생략할 수 있다. 즉, 개폐부(123, 124)의 수는, 배기관(41-43)의 수보다, 하나 적어도 충분하다. 따라서, 전환 기구(121)의 구조를 간소화할 수 있다.According to this modified embodiment, the member corresponding to the opening and closing
전환 기구(121)가 처리 하우징(23)의 배기로를 배기관(41)으로 전환할 때, 기체가 제2 구역(127) 및 제3 구역(128)으로 흐르는 것을 방지할 수 있고, 기체가 제2 구역(127) 및 제3 구역(128)에 체류하는 것을 적합하게 방지할 수 있다. 따라서, 처리 하우징(23)의 기체를 한층 더 적절하게 배출할 수 있다.When the
전환 기구(121)가 처리 하우징(23)의 배기로를 배기관(42)으로 전환할 때, 기체가 제3 구역(128)으로 흐르는 것을 방지할 수 있고, 기체가 제3 구역(128)에 체류하는 것을 적합하게 방지할 수 있다. 따라서, 처리 하우징(23)의 기체를 한층 더 적절하게 배출할 수 있다.When the
실시 형태에서는, 개폐부(61)의 회전축선(A1)은, 개폐부(61)의 제1 단을 통과한다. 단, 이에 한정되지 않는다. 개폐부(61)의 회전축선(A1)의 위치를, 적절하게 변경할 수 있다.In the embodiment, the rotation axis A1 of the opening and
도 16은, 변형 실시 형태에 있어서의 처리 유닛(21)의 평면도이다. 또한, 실시 형태와 같은 구성에 대해서는 동일 부호를 붙임으로써 상세한 설명을 생략한다.Figure 16 is a top view of the
기판 처리 장치(1)는, 전환 기구(131)를 구비한다. 전환 기구(131)는, 개폐부(133, 134)를 구비한다. 개폐부(133, 134)는, 전환 하우징(53)의 내부에 설치된다. 개폐부(133, 134)는 각각, 개구(41k, 42k)에 대향하는 위치에 배치된다. 개폐부(133)는, 개구(41k)를 개폐한다. 개폐부(134)는, 개구(42k)를 개폐한다. 또한, 전환 기구(131)는, 개폐부(63)에 상당하는 부재를 구비하고 있지 않다.The
개폐부(133)는, 평면에서 보았을 때, 대략 T자 형상을 갖는다. 개폐부(133)는, 플레이트부(133a)와 기부(基部)(133b)를 구비한다. 플레이트(133a)는, 대략 수직인 평판 형상을 갖는다. 기부(133b)는, 평면에서 보았을 때, 플레이트부(133a)의 중앙부에 접속된다. 기부(133b)는, 플레이트부(133a)로부터 수평 방향으로 돌출한다. 개폐부(133)는, 회전축선(A4) 둘레로 요동한다. 회전축선(A4)은, 연직 방향(Z)과 평행인 가상선이다. 회전축선(A4)은, 기부(133b)를 통과한다. 회전축선(A4)은, 플레이트부(133a)를 통과하지 않는다. 개폐부(133)는, 회전축선(A4) 둘레로 요동한다.The opening/
개폐부(134)는, 개폐부(133)와 같은 구조를 갖는다. 즉, 개폐부(134)는, 플레이트부(134a)와 기부(134b)를 구비한다. 개폐부(134)는, 회전축선(A5) 둘레로 요동한다.The opening/
개폐부(133)는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치와, 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 위치로 이동 가능하다. 도 16은, 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치에 있는 개폐부(133)를 실선으로 나타낸다. 도 16은, 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 위치에 있는 개폐부(133)를 파선으로 나타낸다.The opening and
개폐부(134)는, 처리 하우징(23)을 배기관(42)에 연통시키는 위치와, 처리 하우징(23)을 배기관(42)으로부터 차단하는 위치로 이동 가능하다. 도 16은, 처리 하우징(23)을 배기관(42)에 연통시키는 위치에 있는 개폐부(134)를 파선으로 나타낸다. 도 16은, 처리 하우징(23)을 배기관(42)으로부터 차단하는 위치에 있는 개폐부(134)를 실선으로 나타낸다.The opening and
개폐부(133, 134)는, 도 15에 나타내는 개폐부(123, 124)와 같은 기능을 갖는다. 예를 들면, 개폐부(133)가 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치에 있을 때, 개폐부(133)는, 처리 하우징(23)을 배기관(42, 43)으로부터 차단한다. 개폐부(134)가 처리 하우징(23)을 배기관(42)에 연통시키는 위치에 있을 때, 개폐부(134)는, 처리 하우징(23)을 배기관(43)으로부터 차단한다.The opening and closing
실시 형태에서는, 액 공급부(33)는, 제1 처리액과 제2 처리액과 제3 처리액을 공급한다. 즉, 액 공급부(33)가 공급 가능한 처리액의 종류의 수는, 3가지이다. 단, 이에 한정되지 않는다. 액 공급부(33)가 공급 가능한 처리액의 종류의 수는, 3가지 미만이어도 된다. 액 공급부(33)가 공급 가능한 처리액의 종류의 수는, 3가지보다 많아도 된다.In the embodiment, the
예를 들면, 액 공급부(33)는, 제4 처리액을 공급 가능해도 된다. 제4 처리액은, 예를 들면, 린스액으로 분류된다. 제4 처리액은, 예를 들면, 순수, 탄산수, 전해 이온수, 수소수, 오존수, 및, 희석된 염산수 중 적어도 1개를 포함한다.For example, the
실시 형태에 있어서, 처리 유닛(21)은, 또한, 처리 가스 공급부를 구비해도 된다. 처리 가스 공급부는, 처리 하우징(23)의 내부에 설치된다. 처리 가스 공급부는, 유지부(31)에 유지되는 기판(W)에 처리 가스를 공급한다. 처리 가스 공급부는, 적어도 1종류 이상의 처리 가스를 공급한다. 처리 가스는, 예를 들면, 청정 공기 이외의 가스이다.In an embodiment, the
처리 유닛(21)이 처리 가스 공급부를 구비하는 경우, 전환 기구(51)는, 이하와 같이, 동작해도 된다. 처리 하우징(23) 내에 있어서의 처리 가스의 사용 및 미사용의 사이에 있어서의 전환에 따라, 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 배기로를 전환해도 된다. 처리 하우징(23) 내에 있어서 사용하는 처리 가스를 복수 종류의 처리 가스의 사이에서 전환하는 경우, 처리 가스의 종류의 전환에 따라, 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 배기로를 전환해도 된다. 처리액의 공급과 처리 가스의 공급의 사이에 있어서의 전환에 따라, 전환 기구(51)는, 처리 하우징(23)의 배기로를 전환해도 된다.When the
실시 형태에서는, 액 공급부(33)는, 유지부(31)에 유지되는 기판(W)에, 제1 처리액과 제2 처리액과 제3 처리액을 이 순서로 공급한다. 단, 이에 한정되지 않는다. 제1 처리액과 제2 처리액과 제3 처리액을 공급하는 순서를, 적절하게 변경해도 된다.In the embodiment, the
실시 형태에서는, 대략 같은 높이 위치에 설치되는 처리 하우징(23)의 수는, 4개이다. 단, 이에 한정되지 않는다. 대략 같은 높이 위치에 설치되는 처리 하우징(23)의 수는, 4개 미만, 또는, 4개보다 많아도 된다. 상술한 실시 형태에서는, 연직 방향(Z)으로 늘어서는 처리 하우징(23)의 수는, 6개이다. 단, 이에 한정되지 않는다. 연직 방향(Z)으로 늘어서는 처리 하우징(23)의 수는, 6개 미만, 또는, 6개보다 많아도 된다.In the embodiment, the number of
실시 형태에서는, 기판 처리 장치(1)는, 2개의 반송 스페이스(12A, 12B)를 구비한다. 즉, 반송 스페이스(12)의 수는, 2개이다. 단, 이에 한정되지 않는다. 예를 들면, 반송 스페이스(12)의 수는, 1개여도 된다. 예를 들면, 반송 스페이스(12B)를 생략해도 된다. 예를 들면, 반송 스페이스(12)의 수는, 3개 이상이어도 된다.In the embodiment, the
실시 형태에서는, 1개의 반송 스페이스(12)에 설치되는 반송 기구(16)의 수는 1개이다. 단, 이에 한정되지 않는다. 예를 들면, 1개의 반송 스페이스(12)에 설치되는 반송 기구(16)의 수는 2개 이상이어도 된다.In the embodiment, the number of conveyance mechanisms 16 installed in one
실시 형태에서는, 제1 배관 스페이스(44A)는, 처리 하우징(23A)의 전방에 배치된다. 제2 배관 스페이스(46A)는, 처리 하우징(23A)의 후방에 배치된다. 단, 이에 한정되지 않는다. 처리 하우징(23A)과 제1 배관 스페이스(44A)와 제2 배관 스페이스(46A)의 상대적인 위치를, 적절하게 변경해도 된다.In the embodiment, the
도 17은, 변형 실시 형태에 있어서의 기판 처리 장치(141)의 내부를 나타내는 평면도이다. 또한, 실시 형태와 같은 구성에 대해서는 동일 부호를 붙임으로써 상세한 설명을 생략한다.FIG. 17 is a plan view showing the inside of the
기판 처리 장치(141)에서는, 제1 배관 스페이스(44A)는, 처리 하우징(23A)의 후방에 배치된다. 제2 배관 스페이스(46A)는, 처리 하우징(23A)의 전방에 배치된다.In the
또한, 기판 처리 장치(141)에서는, 제1 배관 스페이스(44B)는, 처리 하우징(23B)의 후방에 배치된다. 제2 배관 스페이스(46B)는, 처리 하우징(23B)의 전방에 배치된다. 제1 배관 스페이스(44C)는, 처리 하우징(23C)의 전방에 배치된다. 제2 배관 스페이스(46C)는, 처리 하우징(23C)의 후방에 배치된다. 제1 배관 스페이스(44D)는, 처리 하우징(23D)의 전방에 배치된다. 제2 배관 스페이스(46D)는, 처리 하우징(23D)의 후방에 배치된다.Additionally, in the
기판 처리 장치(141)에 있어서도, 처리 하우징(23B)과 제1 배관 스페이스(44B)와 제2 배관 스페이스(46B)의 상대적인 위치는, 처리 하우징(23A)과 제1 배관 스페이스(44A)와 제2 배관 스페이스(46A)의 상대적인 위치와 같다. 처리 하우징(23C)과 제1 배관 스페이스(44C)와 제2 배관 스페이스(46C)의 상대적인 위치는, 처리 하우징(23A)과 제1 배관 스페이스(44A)와 제2 배관 스페이스(46A)의 상대적인 위치와 같다. 처리 하우징(23D)과 제1 배관 스페이스(44D)와 제2 배관 스페이스(46D)의 상대적인 위치는, 처리 하우징(23A)과 제1 배관 스페이스(44A)와 제2 배관 스페이스(46A)의 상대적인 위치와 같다.Also in the
실시 형태에서는, 배기관(41A-43A)은 처리 하우징(23A)의 전방에 배치된다. 단, 이에 한정되지 않는다.In the embodiment, the
도 17을 참조한다. 기판 처리 장치(141)에서는, 배기관(41A-43A)은, 처리 하우징(23A)의 후방에 배치된다.See Figure 17. In the
또한, 기판 처리 장치(141)에서는, 배기관(41B-43B)은, 처리 하우징(23B)의 후방에 배치된다. 배기관(41C-43C)은, 처리 하우징(23C)의 전방에 배치된다. 배기관(41D-43D)은, 처리 하우징(23D)의 전방에 배치된다.Additionally, in the
실시 형태에서는, 인덱서부(3)의 반송 기구(6)의 구조를 예시한다. 단, 이에 한정되지 않는다. 반송 기구(6)의 구조를 적절하게 변경해도 된다.In the embodiment, the structure of the
도 17을 참조한다. 인덱서부(3)는, 반송 기구(146)를 구비한다. 반송 기구(146)는, 핸드(147)와 핸드 구동부(148)를 구비한다. 핸드(147)는, 1장의 기판(W)을 수평 자세로 유지한다. 핸드 구동부(148)는, 핸드(147)에 연결된다. 핸드 구동부(148)는, 핸드(147)를 이동시킨다. 핸드 구동부(148)는, 핸드(147)를 전후 방향(X), 폭 방향(Y) 및 연직 방향(Z)으로 이동시킨다.See Figure 17. The
핸드 구동부(148)는, 제1 구동부(148a)와 제2 구동부(148b)를 구비한다. 제2 구동부(148b)는, 제1 구동부(148a)에 지지된다. 제1 구동부(148a)는, 연직 방향(Z)으로 제2 구동부(148b)를 이동시킨다. 제1 구동부(148a)는, 또한, 연직 방향(Z)과 평행인 회전축선 둘레로 제2 구동부(148b)를 회전시킨다. 단, 제1 구동부(148a)는, 제2 구동부(148b)를 수평 방향으로 이동시키지 않는다. 제1 구동부(148a) 자체가, 수평 방향으로 이동 불능이다. 제2 구동부(148b)는, 제1 구동부(148a)에 대하여, 수평 방향으로 이동한다. 제2 구동부(148b)는, 예를 들면, 다관절 아암으로 구성된다. 제2 구동부(148b)는, 핸드(147)에 접속된다. 핸드 구동부(148)가 이와 같은 구성을 구비하므로, 핸드(147)는, 연직 방향(Z)으로 평행 이동 가능하다. 핸드(147)는, 수평인 임의의 방향으로 평행 이동 가능하다. 핸드(147)는, 수평면 내에서 회전 가능하다.The
실시 형태에서는, 처리 블록(11)의 반송 기구(16)의 구조를 예시한다. 단, 이에 한정되지 않는다. 반송 기구(16)의 구조를 적절하게 변경해도 된다. 예를 들면, 반송 기구(16)는, 상술한 반송 기구(146)와 같은 구조를 가져도 된다.In the embodiment, the structure of the conveyance mechanism 16 of the
실시 형태에서는, 도 8에 나타내는 바와 같이, 개폐부(61)는, 정면에서 보았을 때, 대략 직사각형 형상을 갖는다. 단, 이에 한정되지 않는다. 개폐부(61)의 형상을 적절하게 변경해도 된다. 마찬가지로, 개폐부(62, 63)의 형상을 적절하게 변경해도 된다.In the embodiment, as shown in FIG. 8, the opening and closing
도 18은, 변형 실시 형태의 전환 기구의 정면도이다. 도 19a, 19b는, 변형 실시 형태의 전환 기구의 측면도이다. 또한, 실시 형태와 같은 구성에 대해서는 동일 부호를 붙임으로써 상세한 설명을 생략한다.Fig. 18 is a front view of the switching mechanism in the modified embodiment. 19A and 19B are side views of the switching mechanism in the modified embodiment. In addition, the same components as in the embodiment are given the same reference numerals and detailed descriptions are omitted.
도 18을 참조한다. 기판 처리 장치(1)는, 전환 기구(151)를 구비한다. 전환 기구(151)는, 개폐부(152, 153, 154)를 구비한다. 개폐부(152-154)는 각각, 전환 하우징(53)의 내부에 설치된다. 개폐부(152-154)는 각각, 대략 원형 형상을 갖는다.See Figure 18. The
개폐부(152)는, 회전축선(A6) 둘레로 요동 가능하다. 회전축선(A6)은 수평인 가상선이다. 회전축선(A6)은, 폭 방향(Y)과 평행이다. 회전축선(A6)은, 개폐부(152)의 상방에 배치된다. 회전축선(A6)은, 개폐부(152)의 중심을 통과하지 않는다. 개폐부(152)가 회전축선(A6) 둘레로 요동함으로써, 개폐부(152)는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치와, 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 위치로 이동한다. 마찬가지로, 개폐부(153, 154)는 각각, 회전축선(A7, A8) 둘레로 요동 가능하다.The opening/
도 18에서는, 개폐부(152)는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 위치에 배치된다. 마찬가지로, 개폐부(153, 154)는 각각, 처리 하우징(23)을 배기관(42, 43)으로부터 차단하는 위치에 배치된다.In FIG. 18 , the opening and
도 19a에서는, 개폐부(152)는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 위치에 배치된다. 개폐부(152)는, 배기관(41)의 개구(41k)를 폐쇄한다. 도 19b에서는, 개폐부(152)는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치에 배치된다. 개폐부(152)는 개구(41k)를 개방한다.In FIG. 19A , the opening and
도 19a, 19b를 참조한다. 개폐부(152)는, 전환 하우징(53)에 지지된다. 개폐부(152)는, 분배부(56)에 지지된다. 구체적으로는, 전환 기구(151)는, 스테이(156)와 장착 부재(157)를 구비한다. 스테이(156)는, 전환 하우징(53)에 고정된다. 스테이(156)는, 분배부(56)에 고정된다. 장착 부재(157)는, 스테이(156)에 지지된다. 장착 부재(157)는, 스테이(156)에 대하여 회전축선(A6) 둘레로 회전 가능하다. 장착 부재(157)는, 개폐부(152)에 고정된다.See Figures 19a and 19b. The opening/
도 18을 참조한다. 개폐부(152)와 동일하게, 개폐부(153, 154)는 각각, 장착 부재(158, 159)에 고정된다.See Figure 18. Similarly to the opening and
실시 형태에서는, 개폐부(61-63)를 이동시키는 기구를 구체적으로 예시하지 않는다. 그래서, 도 19a, 19b를 참조하여, 개폐부(152)를 이동시키는 기구를 예시한다.In the embodiment, the mechanism for moving the opening and closing portions 61-63 is not specifically illustrated. So, with reference to FIGS. 19A and 19B, the mechanism for moving the opening and
처리 블록(11)은, 개폐부(152)를 이동시키는 구동부(161)를 구비한다. 또한, 구동부(161)는, 전환 기구(151)의 요소는 아니다.The
구동부(161)는, 액추에이터(161a)를 구비한다. 액추에이터(161a)는, 개폐부(152)를 이동시키는 동력을 발생한다. 액추에이터(161a)는, 예를 들면, 에어 실린더, 유압 실린더 또는 전동 모터이다. 액추에이터(161a)는, 전환 하우징(53)의 외부에 배치된다. 액추에이터(161a)는, 제1 배관 스페이스(44)에 배치된다. 액추에이터(161a)는, 전환 하우징(53)의 상방에 배치된다. 액추에이터(161a)는, 분배부(56)의 상방에 배치된다.The driving
구동부(161)는, 로드(161b)를 구비한다. 로드(161b)는, 액추에이터(161a)에 연결된다. 로드(161b)는, 액추에이터(161a)로부터 하방으로 연장된다. 로드(161b)는, 전환 하우징(53)을 관통한다. 로드(161b)의 적어도 일부는, 전환 하우징(53)의 내부에 배치된다. 액추에이터(161a)는, 로드(161b)를 연직 방향(Z)으로 이동시킨다.The driving
구동부(161)는, 링크(161c)를 구비한다. 링크(161c)는, 전환 하우징(53)의 내부에 배치된다. 링크(161c)는, 로드(161b)와 장착 부재(157)를 연결한다. 링크(161c)는, 로드(161b)에 대하여, 축선(A11) 둘레로 회전 가능하다. 링크(161c)는, 장착 부재(157)에 대하여, 축선(A12) 둘레로 회전 가능하다. 축선(A11, A12)은 각각, 수평인 가상선이다. 축선(A11, A12)은 각각, 폭 방향(Y)과 평행이다.The driving
액추에이터(161a)가 로드(161b)를 연직 방향(Z)으로 이동시킬 때, 개폐부(152)는 회전축선(A6) 둘레로 회전한다. 액추에이터(161a)가 로드(161b)를 상방으로 이동시킬 때, 개폐부(152)는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치로 이동한다. 액추에이터(161a)가 로드(161b)를 하방으로 이동시킬 때, 개폐부(152)는, 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 위치로 이동한다.When the
실시 형태에 있어서, 또한, 처리 하우징(23)의 배기로에 있어서의 기체의 리크를 검지해도 된다. 예를 들면, 개폐부(61-63)로부터의 기체의 리크를 검출해도 된다.In the embodiment, gas leakage in the exhaust passage of the processing
도 18, 19a, 19b를 참조한다. 처리 블록(11)은, 풍속 센서(162, 163, 164)를 구비한다. 풍속 센서(162)는, 개폐부(152)의 근방에 배치된다. 풍속 센서(162)는, 예를 들면, 전환 하우징(53)의 내부에 배치된다. 풍속 센서(162)는, 예를 들면, 분배부(56)의 내부에 배치된다. 회전축선(A6)이 개폐부(152)의 상방에 배치될 때, 풍속 센서(162)는 개폐부(152)의 하방에 배치되는 것이 바람직하다. 마찬가지로, 풍속 센서(163, 164)는, 개폐부(153, 154)의 근방에 배치된다.See Figures 18, 19a, 19b. The
풍속 센서(162)는, 개폐부(152)의 근방에 있어서의 기체의 풍속(구체적으로는, 기체의 이동 속도)을 검출한다. 마찬가지로, 풍속 센서(163, 164)는, 개폐부(153, 154)의 근방에 있어서의 기체의 풍속을 검출한다. 풍속 센서(162-164)는, 예를 들면, 열선식 풍속계이다.The
풍속 센서(162)는, 또한, 개폐부(152)의 근방에 있어서의 기체의 풍향(구체적으로는, 기체의 이동 방향)을 검출해도 된다. 마찬가지로, 풍속 센서(163, 164)는, 또한, 개폐부(153, 154)의 근방에 있어서의 기체의 풍향을 검출해도 된다.The
도시를 생략하지만, 제어부(91)는, 풍속 센서(162-164)와 통신 가능하게 접속된다. 제어부(91)는, 풍속 센서(162-164)의 검출 결과를 취득한다.Although not shown, the
제어부(91)는, 풍속 센서(162)의 검출 결과에 의거하여, 개폐부(152)로부터의 기체의 리크의 유무를 판정한다. 개폐부(152)로부터의 기체의 리크란, 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 위치에 개폐부(152)가 배치될 때에 개폐부(152)가 처리 하우징(23)으로부터 배기관(41)에 기체를 리크하는 것이다.The
구체적으로는, 제어부(91)는, 풍속 센서(162)의 검출 결과에 의거하여, 개폐부(152)의 근방에 있어서의 기체의 풍속을 산출한다. 산출된 개폐부(152)의 근방에 있어서의 기체의 풍속을, 「실측값」이라고 부른다.Specifically, the
처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 위치에 개폐부(152)가 배치될 때, 실측값이 소정의 조건을 만족시키는지 여부를, 제어부(91)는 감시한다. 소정의 조건은, 예를 들면, 실측값이 미리 설정되는 제1 기준값 미만인 것이다. 소정의 조건은, 예를 들면, 단위 시간당 실측값의 변화가 제2 기준값 미만인 것이다. 그리고, 처리 하우징(23)을 배기관(41)으로부터 차단하는 위치에 개폐부(152)가 배치될 때에 실측값이 소정의 조건을 만족시키지 못하는 경우, 개폐부(152)로부터의 기체의 리크가 발생하고 있다고 제어부(91)는 판정한다.When the opening/
여기서, 제1 기준값 및 제2 기준값 중 적어도 어느 하나는, 예를 들면, 변수인 것이 바람직하다. 제1 기준값 및 제2 기준값 중 적어도 어느 하나는, 예를 들면, 다른 개폐부(153, 154)의 위치에 따라, 변화해도 된다. 제1 기준값 및 제2 기준값 중 적어도 어느 하나는, 예를 들면, 다른 전환 기구(151)에 속하는 개폐부(152)의 위치에 따라, 변화해도 된다. 제1 기준값 및 제2 기준값 중 적어도 어느 하나는, 예를 들면, 다른 전환 기구(151)에 속하는 개폐부(152, 153, 154)의 위치에 따라, 변화해도 된다. 이에 의하면, 개폐부(152)의 근방에 있어서의 기체의 풍속이 외란을 받기 쉬운 경우이더라도, 제어부(91)는, 개폐부(152)로부터의 기체의 리크의 유무를 높은 정밀도로 판정할 수 있다.Here, it is preferable that at least one of the first reference value and the second reference value is, for example, a variable. At least one of the first reference value and the second reference value may change, for example, depending on the positions of the different opening and closing
혹은, 제1 기준값 및 제2 기준값 중 적어도 어느 하나는, 상수여도 된다.Alternatively, at least one of the first reference value and the second reference value may be a constant.
마찬가지로, 제어부(91)는, 풍속 센서(163, 164)의 검출 결과에 의거하여, 개폐부(153, 154)로부터의 기체의 리크의 유무를 판정한다.Similarly, the
본 변형 실시 형태에 의하면, 처리 하우징(23)의 배기로가, 배기관(41-43)의 사이에서, 정상적으로 전환되어 있는지 여부를 적합하게 감시할 수 있다.According to this modified embodiment, it is possible to appropriately monitor whether the exhaust path of the processing
또한, 풍속 센서(162-164)는, 미소한 기체의 흐름을 적합하게 검지할 수 있다. 따라서, 처리 하우징(23)의 배기로가, 배기관(41-43)의 사이에서, 정상적으로 전환되어 있는지 여부를 높은 정밀도로 감시할 수 있다.Additionally, the wind speed sensors 162-164 can appropriately detect the flow of minute gas. Therefore, it is possible to monitor with high precision whether the exhaust path of the processing
본 변형 실시 형태에서는, 또한, 제어부(91)가 배기로에 있어서의 기체의 리크를 검지한 경우, 제어부(91)는, 경보의 발보(發報), 및, 액 공급부(33)의 동작의 정지 중 적어도 어느 하나를 실행해도 된다. 제어부(91)가 경보를 발보하는 경우, 배기로에 있어서의 기체의 리크를, 기판 처리 장치(1)의 유저에게 신속하게 알릴 수 있다. 제어부(91)가 액 공급부(33)의 동작을 정지하는 경우, 처리 하우징(23) 내의 기체에 포함되는, 처리액에 유래하는 성분의 양을, 신속하게 억제할 수 있다. 어느 경우이더라도, 배기관(41-43)의 내부가 오손되는 것을 적합하게 억제할 수 있다. 예를 들면, 배기관(41-43)의 내부에 있어서 결정(염)이 발생하는 것을, 적합하게 억제할 수 있다. 예를 들면, 배기관(41-43)의 내부에 결정이 퇴적하는 것을, 적합하게 억제할 수 있다.In this modified embodiment, when the
도 18, 19a, 19b에 나타내는 변형 실시 형태에서는, 풍속 센서(162-164)는, 전환 하우징(53)의 내부에 배치된다. 단, 이에 한정되지 않는다.In the modified embodiment shown in FIGS. 18, 19a, and 19b, the wind speed sensors 162-164 are disposed inside the switching
예를 들면, 풍속 센서(162)는, 배기관(41)의 내부에 배치되어도 된다. 풍속 센서(162)가 배기관(41)의 내부에 배치되는 경우이더라도, 소정의 조건에 포함되는 적절한 기준값을 미리 설정할 수 있다. 따라서, 제어부(91)는, 개폐부(152)로부터의 기체의 리크의 유무를 적절하게 판정할 수 있다. 풍속 센서(163, 164)의 배치에 대해서도, 동일하게 변경해도 된다.For example, the
예를 들면, 풍속 센서(162)는, 처리 하우징(23)의 내부에 배치되어도 된다. 풍속 센서(162)가 처리 하우징(23)의 내부에 배치되는 경우이더라도, 소정의 조건에 포함되는 적절한 기준값을 미리 설정할 수 있다. 따라서, 제어부(91)는, 개폐부(152)로부터의 기체의 리크의 유무를 적절하게 판정할 수 있다. 풍속 센서(163, 164)의 배치에 대해서도, 동일하게 변경해도 된다.For example, the
도면을 참조하여, 풍속 센서(162-164)의 배치를 예시한다. 도 20a는, 풍속 센서의 배치예를 도 6에 추가하여 그린 평면도이다. 도 20b는, 풍속 센서의 배치예를 도 13에 추가하여 그린 평면도이다. 도 21a는, 풍속 센서의 배치예를 도 15에 추가하여 그린 평면도이다. 도 21b는, 풍속 센서의 배치예를 도 16에 추가하여 그린 평면도이다. 또한, 실시 형태와 같은 구성에 대해서는 동일 부호를 붙임으로써 상세한 설명을 생략한다.Referring to the drawings, the arrangement of wind speed sensors 162-164 is illustrated. FIG. 20A is a plan view drawing an example of the arrangement of the wind speed sensor in addition to FIG. 6. Figure 20b is a plan view drawn by adding an example of the arrangement of the wind speed sensor to Figure 13. FIG. 21A is a plan view drawn by adding an example of the arrangement of the wind speed sensor to FIG. 15. Figure 21b is a plan view drawn by adding an example of the arrangement of the wind speed sensor to Figure 16. In addition, the same components as in the embodiment are given the same reference numerals and detailed descriptions are omitted.
도 20a를 참조한다. 풍속 센서(162)는, 풍속 센서(162a, 162b) 중 적어도 어느 하나를 포함한다. 풍속 센서(162a, 162b)는 각각, 개폐부(61)의 근방에 배치된다. 풍속 센서(162a)는, 배기관(41)의 내부에 배치된다. 풍속 센서(162a)는, 개구(41k)의 근방에 배치된다. 풍속 센서(162b)는, 전환 하우징(53)의 내부에 배치된다. 마찬가지로, 풍속 센서(163)는, 풍속 센서(163a, 163b) 중 적어도 어느 하나를 포함한다. 풍속 센서(164)는, 풍속 센서(164a, 164b) 중 적어도 어느 하나를 포함한다.See Figure 20A. The
도 20b를 참조한다. 풍속 센서(162)는, 풍속 센서(162c, 162d) 중 적어도 어느 하나를 포함한다. 풍속 센서(162c, 162d)는 각각, 개폐부(113)의 근방에 배치된다. 풍속 센서(162c)는, 처리 하우징(23)의 내부에 배치된다. 풍속 센서(162d)는, 배기관(41)의 내부에 배치된다. 풍속 센서(162d)는, 개구(41k)의 근방에 배치된다. 마찬가지로, 풍속 센서(163)는, 풍속 센서(163c, 163d) 중 적어도 어느 하나를 포함한다. 풍속 센서(164)는, 풍속 센서(164c, 164d) 중 적어도 어느 하나를 포함한다.See Figure 20b. The
도 21a를 참조한다. 풍속 센서(162)는, 풍속 센서(162e, 162f, 162g) 중 적어도 어느 하나를 포함한다. 풍속 센서(162e-162g)는 각각, 개폐부(123)의 근방에 배치된다. 풍속 센서(162e)는, 배기관(41)의 내부에 배치된다. 풍속 센서(162e)는, 개구(41k)의 근방에 배치된다. 풍속 센서(162f, 162g)는 각각, 전환 하우징(53)의 내부에 배치된다. 상술한 바와 같이, 개폐부(123)가 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치에 배치될 때, 개폐부(123)는 제1 구역(126)을 제2 구역(127)으로부터 차단한다. 이때, 개폐부(123)로부터의 기체의 리크를 검지하기 위하여, 풍속 센서(162g)가 설치되어 있다. 개폐부(123)가 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치에 배치될 때, 개폐부(123)가 제1 구역(126)으로부터 제2 구역(127)으로 리크하는 기체의 양을, 풍속 센서(162g)는 적합하게 검출할 수 있다. 마찬가지로, 풍속 센서(163)는, 풍속 센서(163e, 163f, 163g) 중 적어도 어느 하나를 포함한다. 풍속 센서(163g)는, 풍속 센서(162g)와 유사한 목적으로, 설치된다. 풍속 센서(164)는, 풍속 센서(164e, 164f) 중 적어도 어느 하나를 포함한다.See Figure 21a. The
도 21b를 참조한다. 풍속 센서(162)는, 풍속 센서(162h, 162i, 162j, 162k, 162l) 중 적어도 어느 하나를 포함한다. 풍속 센서(162h-162l)는 각각, 개폐부(133)의 근방에 배치된다. 풍속 센서(162h, 162i)는, 배기관(41)의 내부에 배치된다. 풍속 센서(162h, 162i)는, 개구(41k)의 근방에 배치된다. 풍속 센서(162j-162l)는 각각, 전환 하우징(53)의 내부에 배치된다. 상술한 바와 같이, 개폐부(133)가 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치에 배치될 때, 개폐부(133)는 처리 하우징(23)을 배기관(42, 43)으로부터 차단한다. 이때, 개폐부(133)로부터의 기체의 리크를 검지하기 위하여, 풍속 센서(162k, 162l)가 설치되어 있다. 개폐부(133)가 처리 하우징(23)을 배기관(41)에 연통시키는 위치에 배치될 때, 개폐부(133)가 처리 하우징(23)으로부터 배기관(42, 43)에 리크하는 기체의 양을, 풍속 센서(162k, 162l)는 적합하게 검출할 수 있다. 마찬가지로, 풍속 센서(163)는, 풍속 센서(163h, 163i, 163j, 163k, 163l) 중 적어도 어느 하나를 포함한다. 풍속 센서(163k, 163l)는, 풍속 센서(162k, 162l)와 유사한 목적으로, 설치된다. 풍속 센서(164)는, 풍속 센서(164h, 164i, 164j) 중 적어도 어느 하나를 포함한다.See Figure 21b. The
실시 형태 및 각 변형 실시 형태에 대해서는, 또한 각 구성을 다른 변형 실시 형태의 구성으로 치환 또는 조합하는 등 하여 적절하게 변경해도 된다.The embodiment and each modified embodiment may be appropriately changed, such as by substituting or combining each configuration with a configuration of another modified embodiment.
본 발명은, 그 사상 또는 본질로부터 벗어나지 않고 다른 구체적인 형태로 실시할 수 있으며, 따라서, 발명의 범위를 나타내는 것으로서, 이상의 설명이 아니라, 부가된 클레임을 참조해야 한다.The present invention can be implemented in other specific forms without departing from its spirit or essence, and therefore, reference should be made to the appended claims rather than the above description as indicating the scope of the invention.
1, 141 기판 처리 장치
11 처리 블록
12A, 12B, 12 반송 스페이스
16A, 16B, 16 반송 기구
21 처리 유닛
23 처리 하우징
23A1 처리 하우징(제1 처리 하우징)
23A2 처리 하우징(제2 처리 하우징)
23B1 처리 하우징(제3 처리 하우징)
24 처리 스페이스
31 유지부(제1 유지부, 제2 유지부, 제3 유지부)
33 액 공급부(제1 액 공급부, 제2 액 공급부, 제3 액 공급부)
41, 42, 43 배기관
41A 배기관(제1 배기관)
42A 배기관(제2 배기관)
41B 배기관(제3 배기관)
42B 배기관(제4 배기관)
44 제1 배관 스페이스
46 제2 배관 스페이스
48 급기관
51, 101, 111, 121, 131, 151 전환 기구
51A1 전환 기구(제1 전환 기구)
51A2 전환 기구(제2 전환 기구)
51B1 전환 기구(제3 전환 기구)
53, 103 전환 하우징
54 전환 스페이스
55, 105 도입부
56, 106 분배부
61-63, 113-115, 123-124, 133-134, 152-154 개폐부
61, 113, 123, 133, 152 개폐부(제1 개폐부)
62, 114, 124, 134, 153 개폐부(제2 개폐부)
71 압력 센서
71A1 압력 센서(제1 압력 센서)
71B1 압력 센서(제3 압력 센서)
73 압력 조정 기구
73A1 압력 조정 기구(제1 압력 조정 기구)
73B1 압력 조정 기구(제3 압력 조정 기구)
81, 82, 83 배기관
81A 배기관(제5 배기관)
82A 배기관(제6 배기관)
84-86 압력 센서
84A 압력 센서(제5 압력 센서)
85A 압력 센서(제6 압력 센서)
87-89 압력 조정 기구
87A 압력 조정 기구(제5 압력 조정 기구)
88A 압력 조정 기구(제6 압력 조정 기구)
91 제어부
W 기판
X 전후 방향(제1 방향)
Y 폭 방향(제2 방향)
Z 연직 방향1, 141 Substrate processing device
11 processing blocks
12A, 12B, 12 return space
16A, 16B, 16 conveyance mechanism
21 processing units
23 Processing Housing
23A1 Processing Housing (Primary Processing Housing)
23A2 processing housing (second processing housing)
23B1 Processing Housing (Third Processing Housing)
24 processing space
31 Holding part (1st holding part, 2nd holding part, 3rd holding part)
33 Liquid supply unit (1st liquid supply unit, 2nd liquid supply unit, 3rd liquid supply unit)
41, 42, 43 exhaust pipe
41A exhaust pipe (1st exhaust pipe)
42A exhaust pipe (second exhaust pipe)
41B exhaust pipe (3rd exhaust pipe)
42B exhaust pipe (4th exhaust pipe)
44 1st piping space
46 2nd piping space
48 air supply pipe
51, 101, 111, 121, 131, 151 Transition Mechanism
51A1 Transition Mechanism (First Transition Mechanism)
51A2 Transition Mechanism (Second Transition Mechanism)
51B1 Transition Mechanism (Third Transition Mechanism)
53, 103 transition housing
54 transition space
55, 105 introduction
56, 106 distribution department
61-63, 113-115, 123-124, 133-134, 152-154 openings
61, 113, 123, 133, 152 opening and closing section (first opening and closing section)
62, 114, 124, 134, 153 opening and closing section (second opening and closing section)
71 pressure sensor
71A1 pressure sensor (first pressure sensor)
71B1 pressure sensor (third pressure sensor)
73 Pressure adjustment mechanism
73A1 pressure adjustment mechanism (first pressure adjustment mechanism)
73B1 pressure adjustment mechanism (third pressure adjustment mechanism)
81, 82, 83 exhaust pipe
81A exhaust pipe (5th exhaust pipe)
82A exhaust pipe (6th exhaust pipe)
84-86 pressure sensor
84A pressure sensor (fifth pressure sensor)
85A pressure sensor (6th pressure sensor)
87-89 Pressure adjustment mechanism
87A pressure adjustment mechanism (fifth pressure adjustment mechanism)
88A pressure adjustment mechanism (6th pressure adjustment mechanism)
91 control unit
W substrate
X forward-forward direction (first direction)
Y width direction (second direction)
Z vertical direction
Claims (23)
제1 처리 하우징과,
상기 제1 처리 하우징의 내부에 설치되고, 기판을 유지하는 제1 유지부와,
상기 제1 처리 하우징의 내부에 설치되고, 상기 제1 유지부에 유지되는 기판에 처리액을 공급하는 제1 액 공급부와,
상기 제1 처리 하우징의 측방에 설치되고, 기체를 배출하는 제1 배기관과,
상기 제1 처리 하우징의 측방에 설치되고, 기체를 배출하는 제2 배기관과,
상기 제1 처리 하우징과 같은 높이 위치에 배치되고, 상기 제1 처리 하우징의 배기로를 상기 제1 배기관 및 상기 제2 배기관 중 하나로 전환하는 제1 전환 기구를 구비하고,
상기 제1 전환 기구는,
상기 제1 처리 하우징을 상기 제1 배기관에 연통시키는 위치와, 상기 제1 처리 하우징을 상기 제1 배기관으로부터 차단하는 위치로 이동 가능한 제1 개폐부와,
상기 제1 개폐부와는 독립적으로, 상기 제1 처리 하우징을 상기 제2 배기관에 연통시키는 위치와, 상기 제1 처리 하우징을 상기 제2 배기관으로부터 차단하는 위치로 이동 가능한 제2 개폐부와,
상기 제1 처리 하우징에 접속되고, 상기 제1 개폐부 및 상기 제2 개폐부를 수용하는 전환 하우징을 구비하며,
상기 제1 처리 하우징과 상기 전환 하우징은, 직접 접속되어 있는, 기판 처리 장치.A substrate processing device, comprising:
a first processing housing;
a first holding portion installed inside the first processing housing and holding a substrate;
a first liquid supply unit installed inside the first processing housing and supplying a processing liquid to the substrate held by the first holding unit;
a first exhaust pipe installed on a side of the first processing housing and discharging gas;
a second exhaust pipe installed on a side of the first processing housing and discharging gas;
A first switching mechanism is disposed at the same height as the first processing housing and switches an exhaust path of the first processing housing to one of the first exhaust pipe and the second exhaust pipe,
The first conversion mechanism is,
a first opening and closing portion movable to a position that communicates the first processing housing to the first exhaust pipe and a position that blocks the first processing housing from the first exhaust pipe;
A second opening and closing unit that is movable, independently of the first opening and closing unit, to a position that communicates the first processing housing to the second exhaust pipe and a position that blocks the first processing housing from the second exhaust pipe;
It has a transition housing connected to the first processing housing and accommodating the first opening and closing portion and the second opening and closing portion,
A substrate processing apparatus, wherein the first processing housing and the switching housing are directly connected.
상기 전환 하우징은, 상기 제1 유지부의 상단과 동등 또는 그것보다 낮은 위치에 배치되는, 기판 처리 장치.In claim 1,
The switching housing is disposed at a position equal to or lower than the top of the first holding part.
상기 전환 하우징은, 평면에서 보았을 때, 상기 제1 유지부와 겹치지 않는 위치에 배치되는, 기판 처리 장치.In claim 1,
The substrate processing apparatus, wherein the switching housing is disposed at a position that does not overlap the first holding portion when viewed from a plan view.
상기 제1 배기관은, 연직 방향으로 연장되고,
상기 제2 배기관은, 연직 방향으로 연장되는, 기판 처리 장치.In claim 1,
The first exhaust pipe extends in a vertical direction,
The second exhaust pipe extends in a vertical direction.
기판 처리 장치는,
수평인 제1 방향으로 연장되고, 상기 제1 처리 하우징에 인접하는 반송 스페이스와,
상기 반송 스페이스에 설치되고, 상기 제1 유지부에 기판을 반송하는 반송 기구와,
상기 제1 처리 하우징에 인접하고, 상기 제1 배기관 및 상기 제2 배기관을 수용하는 제1 배관 스페이스를 구비하고,
상기 제1 처리 하우징과 상기 제1 배관 스페이스는, 상기 제1 방향으로 늘어서고,
상기 제1 배기관과 상기 제2 배기관은, 상기 제1 방향과 직교하고, 또한, 수평인 제2 방향으로 늘어서는, 기판 처리 장치.In claim 1,
The substrate processing device is,
a conveyance space extending in a horizontal first direction and adjacent to the first processing housing;
a transport mechanism installed in the transport space and transporting the substrate to the first holding unit;
Adjacent to the first processing housing, a first piping space is provided for accommodating the first exhaust pipe and the second exhaust pipe,
The first processing housing and the first piping space are aligned in the first direction,
The substrate processing apparatus wherein the first exhaust pipe and the second exhaust pipe are aligned in a second direction that is perpendicular to the first direction and is horizontal.
상기 전환 하우징의 적어도 일부는, 상기 제1 배관 스페이스에 설치되는, 기판 처리 장치.In claim 5,
At least a portion of the switching housing is installed in the first piping space.
상기 전환 하우징은,
상기 제1 처리 하우징에 접속되고, 상기 제1 방향으로 연장되는 도입부와,
상기 도입부에 접속되고, 상기 제2 방향으로 연장되며, 상기 제1 배기관 및 상기 제2 배기관의 양쪽 모두에 접속되고, 또한, 상기 제1 개폐부 및 상기 제2 개폐부의 양쪽 모두를 수용하는 분배부를 구비하는, 기판 처리 장치.In claim 5,
The conversion housing is,
an introduction portion connected to the first processing housing and extending in the first direction;
a distribution portion connected to the introduction portion, extending in the second direction, connected to both the first exhaust pipe and the second exhaust pipe, and receiving both the first opening and closing portion and the second opening and closing portion; A substrate processing device.
평면에서 보았을 때, 상기 도입부와 상기 반송 스페이스의 이격 거리는, 상기 제1 유지부와 상기 반송 스페이스의 이격 거리보다 작은, 기판 처리 장치.In claim 7,
A substrate processing apparatus wherein, when viewed from the top, a separation distance between the introduction part and the transfer space is smaller than a separation distance between the first holding unit and the transfer space.
기판 처리 장치는,
상기 제1 처리 하우징에 기체를 공급하는 급기관과,
상기 제1 처리 하우징에 인접하고, 상기 급기관을 수용하는 제2 배관 스페이스를 구비하고,
상기 제1 배관 스페이스와 상기 제1 처리 하우징과 상기 제2 배관 스페이스는, 상기 제1 방향으로, 이 순서로 늘어서는, 기판 처리 장치.In claim 5,
The substrate processing device is,
an air supply pipe supplying gas to the first processing housing;
Adjacent to the first processing housing, a second piping space is provided for accommodating the air supply pipe,
The substrate processing apparatus wherein the first piping space, the first processing housing, and the second piping space are lined up in this order in the first direction.
기판 처리 장치는,
상기 제1 처리 하우징의 하방에 배치되는 제2 처리 하우징과,
상기 제2 처리 하우징의 내부에 설치되고, 기판을 유지하는 제2 유지부와,
상기 제2 처리 하우징의 내부에 설치되고, 상기 제2 유지부에 유지되는 기판에 처리액을 공급하는 제2 액 공급부와,
상기 제2 처리 하우징과 같은 높이 위치에 배치되고, 상기 제2 처리 하우징의 배기로를 상기 제1 배기관 및 상기 제2 배기관 중 하나로 전환하는 제2 전환 기구를 구비하는, 기판 처리 장치.In claim 1,
The substrate processing device is,
a second processing housing disposed below the first processing housing;
a second holding portion installed inside the second processing housing and holding the substrate;
a second liquid supply unit installed inside the second processing housing and supplying a processing liquid to the substrate held by the second holding unit;
A substrate processing apparatus disposed at the same height as the second processing housing and including a second switching mechanism that switches an exhaust path of the second processing housing to one of the first exhaust pipe and the second exhaust pipe.
상기 제2 처리 하우징은, 평면에서 보았을 때, 상기 제1 처리 하우징과 같은 위치에 배치되고,
상기 제2 전환 기구는, 평면에서 보았을 때, 상기 제1 전환 기구와 같은 위치에 배치되며,
상기 제1 배기관은, 연직 방향으로 연장되고,
상기 제2 배기관은, 연직 방향으로 연장되는, 기판 처리 장치.In claim 10,
The second processing housing is disposed at the same position as the first processing housing when viewed from the top,
The second switching mechanism is disposed at the same position as the first switching mechanism when viewed in plan,
The first exhaust pipe extends in a vertical direction,
The second exhaust pipe extends in a vertical direction.
기판 처리 장치는,
상기 제1 처리 하우징과 같은 높이 위치에 배치되는 제3 처리 하우징과,
상기 제3 처리 하우징의 내부에 설치되고, 기판을 유지하는 제3 유지부와,
상기 제3 처리 하우징의 내부에 설치되고, 상기 제3 유지부에 유지되는 기판에 처리액을 공급하는 제3 액 공급부와,
상기 제3 처리 하우징의 측방에 설치되고, 기체를 배출하는 제3 배기관과,
상기 제3 처리 하우징의 측방에 설치되고, 기체를 배출하는 제4 배기관과,
상기 제3 처리 하우징과 같은 높이 위치에 배치되고, 상기 제3 처리 하우징의 배기로를 상기 제3 배기관 및 상기 제4 배기관 중 하나로 전환하는 제3 전환 기구를 구비하는, 기판 처리 장치.In claim 1,
The substrate processing device is,
a third processing housing disposed at the same height as the first processing housing;
a third holding portion installed inside the third processing housing and holding the substrate;
a third liquid supply unit installed inside the third processing housing and supplying a processing liquid to the substrate held by the third holding unit;
a third exhaust pipe installed on a side of the third processing housing and discharging gas;
a fourth exhaust pipe installed on a side of the third processing housing and discharging gas;
A substrate processing apparatus disposed at the same height as the third processing housing and including a third switching mechanism for switching an exhaust path of the third processing housing to one of the third exhaust pipe and the fourth exhaust pipe.
기판 처리 장치는,
상기 제1 전환 기구의 일차측의 기체의 압력을 계측하는 제1 압력 센서와,
상기 제1 압력 센서의 검출 결과에 의거하여, 상기 제1 전환 기구의 일차측의 기체의 압력을 조정하는 제1 압력 조정 기구와,
상기 제3 전환 기구의 일차측의 기체의 압력을 계측하는 제3 압력 센서와,
상기 제3 압력 센서의 검출 결과에 의거하여, 상기 제3 전환 기구의 일차측의 기체의 압력을 조정하는 제3 압력 조정 기구를 구비하는, 기판 처리 장치.In claim 12,
The substrate processing device is,
a first pressure sensor that measures the pressure of gas on the primary side of the first switching mechanism;
a first pressure adjustment mechanism that adjusts the pressure of gas on the primary side of the first switching mechanism based on the detection result of the first pressure sensor;
a third pressure sensor that measures the pressure of gas on the primary side of the third switching mechanism;
A substrate processing apparatus comprising a third pressure adjustment mechanism that adjusts the pressure of gas on the primary side of the third switching mechanism based on the detection result of the third pressure sensor.
상기 제1 압력 조정 기구 및 상기 제3 압력 조정 기구는, 상기 제1 전환 기구의 일차측의 기체의 압력과 상기 제3 전환 기구의 일차측의 기체의 압력을 같게 하는, 기판 처리 장치.In claim 13,
The substrate processing apparatus, wherein the first pressure adjustment mechanism and the third pressure adjustment mechanism equalize the pressure of the gas on the primary side of the first switching mechanism and the pressure of the gas on the primary side of the third switching mechanism.
기판 처리 장치는,
상기 제1 배기관 및 상기 제3 배기관에 접속되고, 상기 제1 배기관의 기체 및 상기 제3 배기관의 기체를 배출하는 제5 배기관과,
상기 제2 배기관 및 상기 제4 배기관에 접속되고, 상기 제2 배기관의 기체 및 상기 제4 배기관의 기체를 배출하는 제6 배기관을 구비하는, 기판 처리 장치.In claim 12,
The substrate processing device is,
a fifth exhaust pipe connected to the first exhaust pipe and the third exhaust pipe, and discharging gas of the first exhaust pipe and gas of the third exhaust pipe;
A substrate processing apparatus, comprising a sixth exhaust pipe connected to the second exhaust pipe and the fourth exhaust pipe, and discharging gas of the second exhaust pipe and gas of the fourth exhaust pipe.
기판 처리 장치는,
상기 제5 배기관의 내부의 기체의 압력을 계측하는 제5 압력 센서와,
상기 제5 압력 센서의 검출 결과에 의거하여, 상기 제5 배기관의 내부의 기체의 압력을 조정하는 제5 압력 조정 기구와,
상기 제6 배기관의 내부의 기체의 압력을 계측하는 제6 압력 센서와,
상기 제6 압력 센서의 검출 결과에 의거하여, 상기 제6 배기관의 내부의 기체의 압력을 조정하는 제6 압력 조정 기구를 구비하는, 기판 처리 장치.In claim 15,
The substrate processing device is,
a fifth pressure sensor that measures the pressure of gas inside the fifth exhaust pipe;
a fifth pressure adjustment mechanism that adjusts the pressure of gas inside the fifth exhaust pipe based on the detection result of the fifth pressure sensor;
a sixth pressure sensor that measures the pressure of gas inside the sixth exhaust pipe;
A substrate processing apparatus comprising a sixth pressure adjustment mechanism that adjusts the pressure of gas inside the sixth exhaust pipe based on the detection result of the sixth pressure sensor.
상기 제5 압력 센서는, 상기 제1 배기관과 상기 제5 배기관의 접속 위치, 및, 상기 제3 배기관 및 상기 제5 배기관의 접속 위치보다 하류에 설치되고,
상기 제6 압력 센서는, 상기 제2 배기관과 상기 제6 배기관의 접속 위치, 및, 상기 제4 배기관 및 상기 제6 배기관의 접속 위치보다 하류에 설치되는, 기판 처리 장치.In claim 16,
The fifth pressure sensor is installed downstream of the connection position of the first exhaust pipe and the fifth exhaust pipe, and the connection position of the third exhaust pipe and the fifth exhaust pipe,
The substrate processing apparatus wherein the sixth pressure sensor is installed downstream from the connection position of the second exhaust pipe and the sixth exhaust pipe, and the connection position of the fourth exhaust pipe and the sixth exhaust pipe.
상기 제1 액 공급부는, 제1 처리액과 제2 처리액을 공급 가능하고,
상기 제1 액 공급부가 상기 제1 처리액을 공급할 때, 상기 제1 개폐부는, 상기 제1 처리 하우징의 배기로를 상기 제1 배기관으로 전환하고,
상기 제1 액 공급부가 상기 제2 처리액을 공급할 때, 상기 제2 개폐부는, 상기 제1 처리 하우징의 배기로를 상기 제2 배기관으로 전환하는, 기판 처리 장치.In claim 1,
The first liquid supply unit is capable of supplying a first treatment liquid and a second treatment liquid,
When the first liquid supply unit supplies the first processing liquid, the first opening/closing unit switches the exhaust path of the first processing housing to the first exhaust pipe,
When the first liquid supply unit supplies the second processing liquid, the second opening/closing unit switches the exhaust path of the first processing housing to the second exhaust pipe.
기판이 상기 제1 유지부에 유지될 때의 기판의 중심의 위치를 중심점으로 하고,
상기 중심점과 상기 전환 하우징 사이의 수평 방향에 있어서의 거리는, 기판의 반경의 5배보다 작은, 기판 처리 장치.In claim 1,
The position of the center of the substrate when the substrate is held in the first holding portion is taken as the center point,
The substrate processing apparatus, wherein the distance in the horizontal direction between the center point and the conversion housing is less than 5 times the radius of the substrate.
상기 제1 배기관과 상기 제2 배기관 양쪽 모두는, 상기 제1 처리 하우징에 접하는, 기판 처리 장치.In claim 1,
Both the first exhaust pipe and the second exhaust pipe are in contact with the first processing housing.
상기 전환 하우징은,
상기 제1 처리 하우징에 접속되는 도입부와,
상기 도입부에 접속되며, 상기 제1 배기관 및 상기 제2 배기관 양쪽 모두에 접속되고, 또한, 상기 제1 개폐부 및 상기 제2 개폐부 양쪽 모두를 수용하는 분배부를 구비하고,
상기 제1 배기관과 상기 제2 배기관 양쪽 모두, 또는 상기 분배부는, 상기 제1 처리 하우징에 접하는, 기판 처리 장치.In claim 1,
The conversion housing is,
an introduction portion connected to the first processing housing;
It is connected to the introduction part, is connected to both the first exhaust pipe and the second exhaust pipe, and has a distribution part that accommodates both the first opening and closing part and the second opening and closing part,
A substrate processing apparatus, wherein both the first exhaust pipe and the second exhaust pipe, or the distribution portion, are in contact with the first processing housing.
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