KR102596529B1 - 저준위 방사능 측정 장치 및 그 방법 - Google Patents

Abstract

저준위 방사능 측정 장치는 입사되는 선원을 주검출기 헤드의 측면 방향에서 검출하는 주검출기, 그리고 주 검출기의 전면과 측면의 일부를 감싼 형태로 주검출기 헤드에 의해 후면 방향으로 산란되는 감마선과 측면 방향으로 산란되는 감마선을 검출하는 부검출기를 포함한다.

Description

저준위 방사능 측정 장치 및 그 방법{APPARATUS FOR MEASURING LOW-LEVEL RADIOACTIVITY AND METHOD THEREOF}

저준위 방사능 측정 기술에 관한 것이다.

컴프턴 억제기술(Compton suppression technique)은 검출기 내에서 컴프턴(Compton) 산란하는 감마선에 의한 백그라운드를 저감하기 위하여 활용된다. 계측시스템의 컴프턴 억제 성능은 주검출기에서 산란하는 감마선을 부검출기에서 많이 검출할수록 증가한다. 따라서 산란 감마선을 최대로 검출하도록 부검출기가 설계되어야 한다.

기존에는 부검출기가 주검출기에서 산란하는 감마선을 검출해야 하므로 선원 입사 면을 제외한 주검출기를 감싸는 형태로 제작된다. 예를 들어, 주검출기는 부검출기에 삽입되어 선원 입사면이 외부에 드러나는 형태로 구축된다.

따라서 부검출기는 주검출기 검출부의 측면 방향으로 산란하는 감마선을 주로 검출하게 된다. 하지만 검출부에 입사한 감마선은 대부분 측면 방향보다는 후방으로 많은 양이 산란하므로 기존의 부검출기 형태에서는 산란 감마선의 검출이 비효율적이다. 또한 부검출기가 충분히 두껍지 않은 경우 산란 감마선이 부검출기 내에서 완전히 흡수되지 못하고 산란하게 되므로 감마선의 에너지를 정확히 분석하지 못하는 문제가 발생한다.

관련 선행문헌으로 한국공개특허 2015-0003097는 "저준위 방사능 측정 장치"를 개시한다.

한국공개특허 2015-0003097

본 발명의 한 실시예는 주 검출기의 측면과 후방으로 산란하는 감마선을 검출 가능한 부검출기를 포함하는 저준위 방사능 측정 장치 및 방법을 제공하기 위한 것이다.

상기 과제 이외에도 구체적으로 언급되지 않은 다른 과제를 달성하는 데 본 발명에 따른 실시예가 사용될 수 있다.

본 발명의 한 실시예에 따른 저준위 방사능 측정 장치는 입사되는 선원을 주검출기 헤드의 측면 방향에서 검출하는 주검출기, 그리고 주 검출기의 전면과 측면의 일부를 감싼 형태로 주검출기 헤드에 의해 후면 방향으로 산란되는 감마선과 측면 방향으로 산란되는 감마선을 검출하는 부검출기를 포함한다.

본 발명의 한 실시예에 따른 주검출기와 부검출기를 포함하는 저준위 방사능 측정 장치의 동작 방법에 있어서, 측정하고자 하는 선원에 기초하여 주검출기와 부검출기의 채널 일치를 위한 파라미터를 조절하는 단계, 주검출기가 입사되는 선원을 주검출기 헤드의 측면 방향에서 검출하는 단계, 부검출기가 주검출기 헤드에 의해 후면 방향으로 산란되는 감마선을 검출하는 단계, 부검출기가 주검출 헤드에 의해 측면 방향으로 산란되는 감마선을 검출하는 단계를 포함한다.

본 발명의 한 실시예에 따르면, 주검출기의 측면 또는 후방으로 산란하는 감마선을 검출하여 컴프턴 억제 성능을 극대화할 수 있다.

본 발명의 한 실시예에 따르면, 산란하는 감마선을 검출 효율을 개선하여 낮은 최소검출하한값을 확보함으로써 극미량의 방사성 물질을 정확하게 분석할 수 있다.

본 발명의 한 실시예에 따르면, 원자력시설 해체 부지 및 극저준위 이하 방사성폐기물 등 극미량 방사성물질 분석이 요구되는 분야에서 다양하게 이용 가능하며 계측 시간 및 분석 비용 감소, 폐기물량 저감 및 처분비용 절감할 수 있다.

본 발명의 한 실시예에 따르면, 네트워크 시스템의 통신 노드들을 기능적으로 그룹화하여 특정 노드에 대한 과부하를 방지할 수 있다.

도 1은 기존 저준위 방사능 측정 장치를 나타낸 예시도이다.
도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 저준위 방사능 측정 장치를 나타낸 예시도이다.
도 3은 본 발명의 한 실시예에 따른 주검출기와 부검출기의 결합을 나타낸 예시도이다.
도 4는 본 발명의 한 실시예에 따른 부검출기를 도시한 예시도이다.
도 5는 본 발명의 한 실시예에 따른 부검출기의 두께에 따른 산란 감마선 저감율을 나타낸 그래프이다.
도 6은 본 발명의 한 실시예에 따른 부검출기의 세부 구조를 나타낸 예시도이다.
도 7은 본 발명의 한 실시예에 부검출기의 신호 단자를 나타낸 예시도이다.
도 8은 본 발명의 한 실시예에 따른 부검출기의 신호 처리 과정을 나타낸 예시도이다.
도 9는 본 발명의 한 실시예에 분석 장치의 하드웨어를 나타낸 구성도이다.

첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대해 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 도면부호가 사용되었다. 또한 널리 알려져 있는 공지기술의 경우 그 구체적인 설명은 생략한다.

명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.

본 명세서에서 "전송 또는 제공"은 직접적인 전송 또는 제공하는 것뿐만 아니라 다른 장치를 통해 또는 우회 경로를 이용하여 간접적으로 전송 또는 제공도 포함할 수 있다.

본 명세서에서, 제1, 제2 등과 같이 서수를 포함하는 용어들은 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지는 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를들어, 본 개시의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.

본 명세서에서 단수로 기재된 표현은 "하나" 또는 "단일" 등의 명시적인 표현을 사용하지 않은 이상, 단수 또는 복수로 해석될 수 있다.

본 명세서에서 도면에 관계없이 동일한 도면번호는 동일한 구성요소를 지칭하며, "및/또는" 은 언급된 구성 요소들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다.

본 명세서에서 도면을 참고하여 설명한 흐름도에서, 동작 순서는 변경될 수 있고, 여러 동작들이 병합되거나, 어느 동작이 분할될 수 있고, 특정 동작은 수행되지 않을 수 있다.

도 1은 기존 저준위 방사능 측정 장치를 나타낸 예시도이고, 도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 저준위 방사능 측정 장치를 나타낸 예시도이다.

도 1에 도시한 바와 같이, 기존 저준위 방사능 측정 장치는 주검출기의 선원 입사면을 제외한 주검출기의 검출부를 감싸는 형태로 부검출기가 형성된다.

이에 선원 입사면으로 입사되는 선원이 주검출기에서 측면 및 후면 방향으로 감마선이 산란하게 되고, 주검출기의 선원 입사면의 측면을 감사는 부검출기에 의해 측면에서 산란되는 감마선은 검출되지만, 후면으로 산란하는 감마선을 대부분 검출하는 데 한계가 있다.

반면, 도 2에 도시한 바와 같이, 저준위 방사능 측정 장치(1000)는 주검출기(100)의 주검출 헤드의 전면부와 일부 측면부를 감싸는 형태의 부검출기(200)를 포함한다.

이때, 선원 입사 방향은 주검출 헤드의 측면부로 입사되고, 주검출 헤드에서 측면 및 후면 방향으로 산란되는 감마선은 부검출기(200)에 의해 검출된다.

특히, 입사 방향에 기초하여 주검출 헤드의 후면 방향으로 입사되는 감마선을 대부분 검출이 가능한 구조로 검출 효율을 극대화할 수 있다.

이하에서는 도 3을 이용하여 주검출기와 부검출기의 결합 과정에 대해서 상세하게 설명한다.

도 3은 본 발명의 한 실시예에 따른 주검출기와 부검출기의 결합을 나타낸 예시도이다.

도 3의 (a)는 부검출기로 주검출기 헤드를 결합하는 과정을 나타낸 예시도이고, (b)는 결합된 주검출기와 부검출기의 측면을 나타낸 예시도이다.

도 3에 도시한 바와 같이, 부검출기(200)는 복수개의 서로 다른 크기의 검출기들로 구성되며, 주검출기(100)는 주검출기 헤드(110), 주검출기 연결부(120), 그리고 주검출기 바디(130)로 구성된다.

도 3에서는 부검출기(200)의 외면을 케이스로 씌워둔 상태를 나타낸다.

주검출기(100)는 주검출기 헤드(110)를 통해 선원을 계측하고, 주검출기 연결부(120)와 주검출기 바디(130)를 통해 주검출기 헤드(110) 내의 Ge 크리스탈을 냉각한다.

여기서, 주검출기(100)에서 입사되는 선원에 대한 신호는 계측시간-채널 정보이다.

그리고 서로 다른 크기의 검출기에 의해 형성된 부검출기(200)의 빈 공간으로 주검출기 헤드(110)를 배치하여 부검출기(200)와 주검출기(100)가 결합된다.

주검출기 헤드(110)는 입사되는 선원을 검출하는 부분으로, 부검출기(200)의 빈공간에 위치하면, 주검출기 헤드(110)의 전면과 일부 측면이 부검출기(200)로 둘러 쌓이게 된다.

이때, 주검출기 헤드(110)의 개방된 측면으로 선원이 입사되므로 주검출기 헤드(110)에서 측면과 후면으로 산란하게 되는 감마선은 부검출기(200)에 의해 검출된다.

특히, 선원의 입사 방향에 기초하여 후면방향에 부검출기(200)가 위치함으로써 산란되는 감마선은 부검출기(200)에 의해 대다수 검출할 수 있다.

이하에서는 도 4 내지 도 7을 이용하여 부검출기의 구조에 대해서 상세하게 설명한다.

도 4는 본 발명의 한 실시예에 따른 부검출기를 도시한 예시도이다.

도 4에 도시한 바와 같이, 부검출기(200)는 제1 검출기(210), 제2 검출기(220), 제3 검출기(230) 그리고 제4 검출기(240)로 구성된다.

도 4에서는 부검출기(200)의 검출기 개수를 4개로 설정하였지만, 반드시 이에 한정하는 것은 아니며, 검출기 개수, 검출기 모양 등은 적용되는 환경에 기초하여 변경이 가능하다.

검출기의 두께에 따라 산란 감마선 저감율이 달라지기 때문에 부검출기(200)의 위치에 기초하여 제1 검출기(210), 제2 검출기(220), 제3 검출기(230) 그리고 제4 검출기(240)의 두께, 크기가 상이하게 설정된다.

도 5는 본 발명의 한 실시예에 따른 부검출기의 두께에 따른 산란 감마선 저감율을 나타낸 그래프이고, 도 6은 본 발명의 한 실시예에 따른 부검출기의 세부 구조를 나타낸 예시도이다.

도 5에 도시한 바와 같이, 검출기의 두께에 따라 컴프턴 산란 감마선의 감소율을 확인할 수 있다.

도 5의 그래프에서 세로축은 산란 감마선의 양을 나타내고, 가로축은 검출기 두께를 나타낸다.

예를 들어, 가로축 값(검출기 두께)이 2cm일 때 세로축 값이 90%라면 10%의 산란감마선이 흡수된다는 의미이며, 검출기의 두께가 두꺼워질수록 흡수되는 양이 많아지고, 산란감마선의 양은 감소하므로, 전체적인 그래프가 오른쪽으로 갈수록 감소한다.

특히, 주검출기(100)의 후면 방향으로 산란되는 감마선의 에너지가 가장 크기 때문에, 도 6의 (a)와 같이, 제1 검출기(210)의 두께는 제2 검출기(220), 제3 검출기(230) 그리고 제4 검출기(240)에 비해 가장 크게 형성된다.

그리고 주검출기 헤드(110)의 일측면을 제외한 면을 감싸는 형태로 구현되기 때문에, 도 6의 (c)와 같이, 상대적으로 제3 검출기(230)의 두께, 크기는 작게 형성된다.

예를 들어, 제1 검출기(210)는140x300x235mm, 제2 검출기(220)는 78x100x235mm , 제3 검출기(230)는 78x80x100mm, 그리고 제4 검출기(240)는 78x100x235mm 의 크기로 형성될 수 있다.

이러한 검출기의 두께, 크기는 검출기 두께에 따른 산란 감마선 저감율을 MCNP 전산모사를 이용하여 시뮬레이션을 통해 최적화된 두께로 설정이 가능하다.

도 7은 본 발명의 한 실시예에 부검출기의 신호 단자를 나타낸 예시도이고, 도 8은 본 발명의 한 실시예에 따른 부검출기의 신호 처리 및 시스템 구성을 나타낸 예시도이다.

도 7에 도시한 바와 같이, 제1 검출기(210), 제2 검출기(220), 제3 검출기(230) 그리고 제4 검출기(240)마다 단자를 나타낸다.

각 단자에는 PMT 신호 출력단자, PMT 신호 입력단자, HV 입력 단자, HV 출력 단자 그리고 PMT 신호 Gain 조절 장치를 포함한다.

여기서 PMT 신호 Gain 조절 장치는 검출기는 PMT에서 개별적으로 Gain 조정이 가능하다.

이러한 단자들은 검출기간에 연결되어 부검출기(200)에 대해 단일 전압 공급과 신호를 일괄적으로 획득할 수 있다.

상세하게는 도 8에 도시한 바와 같이,PMT 전압 공급 장치는 제1 검출기(210)의 HV 입력단자에 연결되어 전압을 공급하면, 이후에 제1 검출기(210)의 HV 출력단자와 연결된 제2 검출기(220)의 HV 입력 단자로 전압을 전달한다.

이와 같이, 제1 검출기(210), 제2 검출기(220), 제3 검출기(230) 그리고 제4 검출기(240)에서 HV 출력단자와 연결된 HV 입력 단자를 통해 한번에 전압을 공급할 수 있다.

이외에도 측정된 신호에 대해 PMT 신호 입력단자와 PMT 신호 출력단자를 연결하여 최종 4개의 검출기에서 검출된 신호를 한번에 분석 장치(300)로 전달할 수 있다.

다시 말해 일체형 신호 처리가 가능하도록 4개의 검출기간의 단자 연결을 수행하고, 계측된 제1 검출기(210), 제2 검출기(220), 제3 검출기(230) 그리고 제4 검출기(240)의 신호를 한번에 분석 장치(300)로 전달함으로써 분석 장치(300)에서 하나의 신호를 이용하여 주검출기(100)의 신호와 비교할 수 있다.

한편, 분석 장치(300)는 주검출기와 부검출기로부터 계측 데이터 수집하면 다음 수학식 1을 통해 동시성 조건을 확인한다.

여기서, T_주는 주검출기 데이터의 계측 시간이고, T_부는 부검출기 데이터의 계측 시간이며, TimeWindow는 동시성을 의미하는 임계 시간 값을 의미한다. 예를 들어, 약 200nsec의 값을 TimeWindow로 설정할 수 있으며, 이는 추후에 변경가능하다.

분석 장치(300)는 주검출기 데이터들과 부검출기 데이터들을 수집하는 동시에 연동되는 데이터베이스에 저장할 수 있다. 이때, 동시성 조건에 해당되는 여부를 함께 저장할 수 있다

분석 장치(300)는 수집된 데이터들을 검출기의 에너지 교정 (Energy calibration) 정보에 기초하여 계측시간- 에너지 정보로 변환한다.

여기서, 에너지 교정 정보는 측정하고자 하는 선원에 대해 채널과 에너지의 상관관계를 분석한 정보를 의미한다.

그리고 분석 장치(300)는 시간-채널 정보를 다시 에너지-계수(E~Count) 스펙트럼으로 변환할 수 있다.

분석 장치(300)는 데이터베이스에 저장된 주검출기 데이터들에 대해 계측시간-채널 정보를 계측시간-에너지 정보로 변환하여 제1 스펙트럼을 생성할 수 있다. 다음으로 분석 장치(300)는 동시성이 확인된 주검출기 데이터들을 이용하여 제2 스펙트럼으로 변환한다.

분석 장치(300)는 제1 스펙트럼에서 제2 스펙트럼을 차감하여 반동시계수 스펙트럼을 생성한다. 분석 장치(300)는 생성된 제1 스펙트럼에서 제2 스펙트럼을 차감하는 방법으로 반동시계수법을 적용함으로써, 컴프턴 영역에 해당하는 주검출기 데이터를 삭제할 수 있다.

다음으로 분석 장치(300)는 주검출기 데이터들과 부검출기 데이터들의 에너지 값을 합한 합 데이터를 제3 스펙트럼으로 변환하고, 제3 스펙트럼에서의 피크 순계수(Net Peak Count)를 산출한다. 분석 장치(300)는 반동시계수 스펙트럼에 산출된 피크 순계수를 적용하여 최종 스펙트럼 생성한다.

다시 말해, 분석 장치(300)는 피크 순계수를 더해줌으로써, 측정 효율을 향상시킬 수 있다

그리고 분석 장치(300)는 최종 스펙트럼을 분석함에 따라 핵종의 종류, 정량, 백그라운드, 피크순계수(Net peak count), 최소검출하한값(MDA), 선원의 방사능, 계측효율 등을 산출하여 제공할 수 있다.

이러한 분석 방법은 다수의 에너지를 가지는 선원이 입사할 경우 관심핵종으로 설정한 모든 에너지에 대하여 해당 알고리즘을 적용할 수 있다.

도 9은 본 발명의 한 실시예에 따른 분석 장치의 하드웨어 구성도이다.

도 9를 참고하면, 분석 장치(300)는 적어도 하나의 컴퓨팅 장치로 구현될 수 있고, 본 개시의 동작을 실행하도록 기술된 명령들(instructions)이 포함된 컴퓨터 프로그램을 실행할 수 있다.

분석 장치(300)의 하드웨어는 적어도 하나의 프로세서(310), 메모리(320), 스토리지(330), 통신 인터페이스(340)를 포함할 수 있고, 버스를 통해 연결될 수 있다. 이외에도 입력 장치 및 출력 장치 등의 하드웨어가 포함될 수 있다. 분석 장치(300)는 컴퓨터 프로그램을 구동할 수 있는 운영 체제를 비롯한 각종 소프트웨어가 탑재될 수 있다.

프로세서(310)는 컴퓨팅 장치의 동작을 제어하는 장치로서, 컴퓨터 프로그램에 포함된 명령들을 처리하는 다양한 형태의 프로세서일 수 있고, 예를 들면, CPU(Central Processing Unit), MPU(Micro Processor Unit), MCU(Micro Controller Unit), GPU(Graphic Processing Unit)등 일 수 있다. 또한, 프로세서(310)는 위에서 설명한 방법을 실행하기 위한 프로그램에 대한 연산을 수행할 수 있다.

메모리(320)는 각종 데이터, 명령 및/또는 정보를 저장한다. 메모리(320)는 본 개시의 동작을 실행하도록 기술된 명령들이 프로세서(310)에 의해 처리되도록 해당 컴퓨터 프로그램을 스토리지(330)로부터 로드할 수 있다. 메모리(320)는 예를 들면, ROM(read only memory), RAM(random access memory) 등 일 수 있다. 스토리지(330)는 본 개시의 동작을 실행하는데 요구되는 각종 데이터, 컴퓨터 프로그램 등을 저장할 수 있다. 스토리지(330)는 컴퓨터 프로그램을 비임시적으로 저장할 수 있다. 스토리지(330)는 비휘발성 메모리로 구현될 수 있다.

통신 인터페이스(340)는 유/무선 통신 모듈일 수 있고, USB 인터페이스, WiFi 인터페이스, LAN 인터페이스, 5G 네트워크 인터페이스 등을 포함할 수 있다.

컴퓨터 프로그램은 어플리케이션 계층에서 동작하는 에이전트 프로그램을 포함할 수 있다. 컴퓨터 프로그램은 각종 네트워크 인터페이스 드라이버 소프트웨어를 포함할 수 있다.

본 발명에 따르면, 주검출기의 측면 또는 후방으로 산란하는 감마선을 검출하여 컴프턴 억제 성능을 극대화할 수 있다.

또한, 산란하는 감마선을 검출 효율을 개선하여 낮은 최소검출하한값을 확보함으로써 극미량의 방사성 물질을 정확하게 분석할 수 있다.

그리고 원자력시설 해체 부지 및 극저준위 이하 방사성폐기물 등 극미량 방사성물질 분석이 요구되는 분야에서 다양하게 이용 가능하며 계측 시간 및 분석 비용 감소, 폐기물량 저감 및 처분비용 절감할 수 있다.

본 발명의 한 실시예에 따르면, 네트워크 시스템의 통신 노드들을 기능적으로 그룹화하여 특정 노드에 대한 과부하를 방지할 수 있다.

이상에서 설명한 본 발명의 실시예는 장치 및 방법을 통해서만 구현이 되는 것은 아니며, 본 발명의 실시예의 구성에 대응하는 기능을 실현하는 프로그램 또는 그 프로그램이 기록된 기록 매체를 통해 구현될 수도 있다.

이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.

Claims (10)

1. 입사되는 선원을 주검출기 헤드의 측면 방향에서 검출하는 주검출기, 그리고
   상기 주 검출기의 전면과 측면의 일부를 감싼 형태로 상기 주검출기 헤드에 의해 후면 방향으로 산란되는 감마선과 측면 방향으로 산란되는 감마선을 검출하는 부검출기
   를 포함하고,
   상기 부검출기는,
   상기 주검출기 헤드에 의해 후면 방향으로 산란되는 감마선을 검출하는 제1 검출기,
   상기 주검출기 헤드에 의해 상측면 방향으로 산란되는 감마선을 검출하는 제2 검출기,
   상기 주검출기 헤드에 의해 좌측면 방향으로 산란되는 감마선을 검출하는 제3 검출기, 그리고
   상기 주검출기 헤드에 의해 하측면 방향으로 산란되는 감마선을 검출하는 제4 검출기를 포함하고,
   상기 제1 검출기는 상기 주검출기 헤드의 후면에 대면하는 위치에 설치되며, 상기 제2 검출기는 상기 주검출기 헤드의 상측면에 대면하는 위치에 설치되며, 상기 제3 검출기는 상기 주검출기 헤드의 좌측면에 대면하는 위치에 설치되며, 그리고 상기 제4 검출기는 상기 주검출기 헤드의 하측면에 대면하는 위치에 설치되며, 그리고
   상기 주검출기 헤드의 우측면에 대면하는 위치에는 검출기가 없으며,
   산란되는 방사선 방향을 기준으로 측정되는, 상기 제1 검출기의 두께는 상기 제2 검출기의 두께, 상기 제3 검출기의 두께, 그리고 상기 제4 검출기의 두께보다 두꺼운, 저준위 방사능 측정 장치.
2. 삭제
3. 제1항에서,
   상기 부검출기는,
   상기 주검출기 헤드에 의해 산란되는 감마선의 양에 기초하여 상기 제1 검출기, 상기 제2 검출기, 상기 제3 검출기 그리고 상기 제4 검출기들의 두께와 크기가 서로 상이하게 형성되는 저준위 방사능 측정 장치.
4. 제1항에서,
   상기 부검출기는,
   상기 제1 검출기의 전압 단자로부터 전압이 인가되면, 상기 제1 검출기와 연결된 상기 제2 검출기의 전압 단자로 상기 전압이 인가되고, 상기 제2 검출기와 연결된 상기 제3 검출기의 전압 단자로 상기 전압이 인가되며 상기 제3 검출기와 연결된 상기 제4 검출기의 전압 단자로 상기 전압이 인가되는 저준위 방사능 측정 장치.
5. 제1항에서,
   상기 주검출기와 상기 부검출기와 연결되어 각 측정된 데이터를 수신하면 주검출기 데이터의 계측 시간과 부검출기 데이터의 계측 시간의 동시성과 주검출기 에너지 조건과 부검출기 에너지 조건에 기초하여 동시합계수법과 반동시합계수법을 선택적으로 적용하여 최소검출하한값을 산출하는 저준위 방사능 분석 장치를 더 포함하는 저준위 방사능 측정 장치.
6. 제1항에서,
   상기 제4 검출기는,
   측정된 데이터를 상기 제1 검출기, 상기 제2 검출기, 그리고 상기 제3 검출기에서 각각 측정된 데이터에 연결하여 저준위 방사능 분석 장치로 전달하는 저준위 방사능 측정 장치.
7. 제1항에서,
   상기 제3 검출기의 크기에 기초하여 상기 제2 검출기와 상기 제4 검출기 사이에 형성된 빈공간으로 상기 주검출기 헤드가 삽입되어 상기 주검출기와 상기 부검출기가 결합하는 저준위 방사능 측정 장치.
8. 주검출기와 부검출기를 포함하는 저준위 방사능 측정 장치의 동작 방법에 있어서,
   측정하고자 하는 선원에 기초하여 상기 주검출기와 상기 부검출기의 채널 일치를 위한 파라미터를 조절하는 단계,
   상기 주검출기가 주검출기 헤드의 측면 방향에서 입사되는 선원을 검출하는 단계, 그리고
   상기 부검출기가 상기 주검출기 헤드에 의해 후면 방향과 측면 방향으로 산란되는 감마선을 검출하는 단계,
   를 포함하고,
   상기 부검출기는,
   상기 주검출기 헤드에 의해 후면 방향으로 산란되는 감마선을 검출하는 제1 검출기,
   상기 주검출기 헤드에 의해 상측면 방향으로 산란되는 감마선을 검출하는 제2 검출기,
   상기 주검출기 헤드에 의해 좌측면 방향으로 산란되는 감마선을 검출하는 제3 검출기, 그리고
   상기 주검출기 헤드에 의해 하측면 방향으로 산란되는 감마선을 검출하는 제4 검출기를 포함하고,
   상기 제1 검출기는 상기 주검출기 헤드의 후면에 대면하는 위치에 설치되며, 상기 제2 검출기는 상기 주검출기 헤드의 상측면에 대면하는 위치에 설치되며, 상기 제3 검출기는 상기 주검출기 헤드의 좌측면에 대면하는 위치에 설치되며, 그리고 상기 제4 검출기는 상기 주검출기 헤드의 하측면에 대면하는 위치에 설치되며, 그리고
   상기 주검출기 헤드의 우측면에 대면하는 위치에는 검출기가 없으며,
   산란되는 방사선 방향을 기준으로 측정되는, 상기 제1 검출기의 두께는 상기 제2 검출기의 두께, 상기 제3 검출기의 두께, 그리고 상기 제4 검출기의 두께보다 두꺼운, 동작 방법.
9. 제8항에서,
   상기 부검출기는
   복수개의 검출기로 구성되고, 검출기마다 상기 주검출기 헤드에 의해 산란되는 방향에 기초하여 두께가 상이하게 설정되며
   상기 복수개의 검출기로 각각 검출된 데이터를 하나로 연결하여 반동시계수법과 동시합계수법을 동시에 적용하는 저준위 방사능 분석 장치로 전달하는 동작 방법.
10. 제9항에서,
    상기 부검출기는,
    두께가 상이하게 설정된 검출기들에 의해 형성된 빈공간으로 상기 주검출기 헤드를 감싼 형태로 구성되며,
    검출기들간에 전압단자가 직렬로 연결되어 전압을 서로 인가하는 동작 방법.