KR102595502B1 - 터치 패널 및 그 검사방법과 터치 패널을 포함하는 액정 표시장치 - Google Patents

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Abstract

터치 패널 및 그 검사방법과 터치 패널을 포함하는 액정 표시장치를 개시한다. 본 발명의 터치 패널은 복수의 Rx 전극이 배열되고 복수의 Rx 전극과 수직 방향으로 복수의 Tx 전극이 배열됨과 아울러 복수의 화소 영역이 구성되어 영상을 표시하면서도 터치를 감지하는 영상 표시부, 및 영상 비표시부에 구성되며 외부로부터의 스위칭 제어신호에 따라 복수의 Rx 전극 중 홀수번째의 Rx 전극들과 짝수번째 Rx 전극들에 서로 다른 전압 레벨의 신호를 인가하거나 선택적으로 플로팅시킴과 아울러 복수의 Tx 전극 중 홀수번째의 Tx 전극들과 짝수번째 Tx 전극들에 서로 다른 전압 레벨의 신호를 인가하거나 선택적으로 플로팅시키는 검사 회로부를 포함하는바, 터치 패널의 제조 이후 간단하고 용이하게 터치 전극애 대한 검사를 수행할 수 있는 효과가 있다.

Description

터치 패널 및 그 검사방법과 터치 패널을 포함하는 액정 표시장치{TOUCH PANEL AND INSPECTION METHOD OF THEREOF, AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE HAVING TOUCH PANEL}
본 발명은 터치 전극들의 쇼트 또는 오픈 등의 불량을 검사할 수 있는 검사 회로가 구성된 터치 패널 및 그 검사방법과 터치 패널을 포함하는 액정 표시장치를 포함하는 액정 표시장치에 관한 것이다.
최근 모바일 기기 등에 널리 이용되는 액정표시장치에는 화면상에 표시된 소정의 객체 또는 영역을 선택하기 위해서 손가락 또는 스타일러스 펜(stylus pen) 등으로 직접 화면의 영역을 선택하여 입력하는 터치 방식이 적용되고 있다.
터치 방식의 터치 패널은 액정패널의 상단면에 부착되는 온 셀 타입(On cell type)으로 구성될 수 있고, 터치 패널을 구성하는 두 개의 전극들이 액정패널을 구성하는 TFT 기판에 형성되는 인 셀 타입(In-cell type)으로 구성될 수 있다. 여기서, 터치 패널을 구성하는 두 개의 전극들 중 어느 하나는 액정패널의 TFT 기판에 형성되고, 다른 하나는 컬러필터기판의 상단면에 형성되는 하이브리드 타입(Hybrid type)으로 구성될 수도 있다. 이 중, 인 셀 타입의 터치 패널 또는 하이브리드 타입의 터치 패널을 포함하고 있는 액정패널은 인 셀 터치 패널이라고도 한다.
인 셀 터치 패널은 디스플레이용 공통 전극들이 복수의 터치 구동영역과 복수의 터치 센싱영역으로 분할 구분되고, 터치 구동영역과 터치 센싱영역 사이에 상호 정전용량(mutual capacitance)이 발생되도록 함으로써, 터치 시 발생하는 상호 정전용량의 변화량을 측정하여 터치 여부를 인식하게 된다. 즉, 인 셀 터치 패널은 영상 디스플레이 기능과 터치 기능을 동시에 수행하기 위해, 디스플레이용 공통 전극들은 패널이 터치 구동 모드로 동작시, 터치 전극의 기능을 함께 수행하게 된다.
종래의 공통 전극을 이용하는 상호 정전용량 방식의 인 셀 터치 패널은 공통전극을 터치 구동에 필요한 Tx 전극으로 이용하고, 이와 대응되는 Rx 전극을 더 구비함으로써 터치 구조를 구현한다. 그리고 영상 디스플레이 구동구간과 터치구동 구간을 시분할하여, 영상 디스플레이 구동구간에서 발생하는 노이즈 성분이 터치 구동에 영향을 미치지 않도록 구현하게 된다.
이에, 디스플레이 구동구간에서는 Tx 전극 및 Rx 전극에 공통전압이 인가되어 액정패널에 구비되는 화소전극의 화소 전압간의 전위차를 통해 영상을 표시한다. 반면, 터치 구동구간에서는 Tx 전극에 터치 전압이 인가되고, Rx 전극을 통해 수신되는 센싱 신호를 이용하여 터치 여부를 감지하게 된다.
이러한 인 셀 터치 패널은 민감한 터치감과 제조공정의 단순화 등의 이유로 각광받고 있다.
하지만, 종래에는 인 셀 터치 패널의 제조 이후에 터치 전극으로 이용되는 Tx 전극 및 Rx 전극들의 쇼트 또는 오픈 등의 불량을 간단하고 빠르게 검사할 수 없어 비용과 시간적인 소모가 큰 문제가 있었다. 즉, 인 셀 터치 패널 검사시에는 영상 디스플레이 모듈과 터치 구동 모듈을 구비한 별도의 검사기기나 검사 라인에서만 별도로 검사가 진행되었기 때문에 검사를 위한 비용과 시간적인 소모가 클 수밖에 없었다.
본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로, 본 발명은 터치 패널의 영상 비표시 영역에 터치 전극들의 쇼트 또는 오픈 등의 불량을 검사할 수 있는 검사 회로가 되도록 단순한 구조로 설계 및 구성되도록 함으로써, 터치 패널의 제조 이후 간단하고 용이하게 검사가 진행될 수 있도록 한 터치 패널 및 그 검사방법과 터치 패널을 포함하는 액정 표시장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
전술한 바와 같이, 터치 패널의 제조 이후 단순하고 용이하게 검사가 진행될 수 있도록 하기 위해서는 터치 패널의 영상 비표시 영역에 터치 전극들의 쇼트 또는 오픈을 검사할 수 있는 검사 회로가 되도록 단순한 구조로 설계 및 구성되도록 함으로써, 그 목적을 달성할 수 있다. 이를 위해 본 발명에 따른 터치 패널은 복수의 Rx 전극이 배열되고 복수의 Rx 전극과 수직 방향으로 복수의 Tx 전극이 배열됨과 아울러 복수의 화소 영역이 구성되어 영상을 표시하면서도 터치를 감지하는 영상 표시부, 및 영상 비표시부에 구성되며 외부로부터의 스위칭 제어신호에 따라 복수의 Rx 전극 중 홀수번째의 Rx 전극들과 짝수번째 Rx 전극들에 서로 다른 전압 레벨의 신호를 인가하거나 선택적으로 플로팅시킴과 아울러 복수의 Tx 전극 중 홀수번째의 Tx 전극들과 짝수번째 Tx 전극들에 서로 다른 전압 레벨의 신호를 인가하거나 선택적으로 플로팅시키는 검사 회로부를 포함한다.
또한, 전술한 바와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위한 터치 패널의 검사 방법은 복수의 Rx 전극이 배열되고 복수의 Rx 전극과 수직 방향으로 복수의 Tx 전극이 배열됨과 아울러 복수의 화소 영역이 구성된 영상 표시부를 통해 영상을 표시하는 단계, 및 외부로부터의 스위칭 제어신호에 따라 복수의 Rx 전극 중 홀수번째의 Rx 전극들과 짝수번째 Rx 전극들에 서로 다른 전압 레벨의 신호를 인가하거나 선택적으로 플로팅시킴과 아울러, 복수의 Tx 전극 중 홀수번째의 Tx 전극들과 짝수번째 Tx 전극들에 서로 다른 전압 레벨의 신호를 인가하거나 선택적으로 플로팅시키는 검사 회로부를 제어하여 터치 검사를 수행하는 단계를 포함한다.
이와 아울러, 전술한 바와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위한 터치 패널을 포함하는 액정 표시장치는 영상 표시부 및 검사 회로부가 영상 비표시부에 구성되어 영상을 표시하면서도 터치를 감지하는 상기의 터치 패널, 영상 표시부의 화소 영역들을 구동하는 게이트 및 데이터 구동부, Tx 전극 및 Rx 전극을 구동하여 영상 표시부 상에 터치된 위치를 감지하는 Tx 및 Rx 구동부 및 게이트 및 데이터 구동부와 Tx 및 Rx 구동부를 제어하는 타이밍 제어부를 포함한다.
전술한 바와 같은 다양한 기술 특징을 갖는 본 발명의 실시 예에 따른 터치 패널 및 그 검사방법과 터치 패널을 포함하는 액정 표시장치는 인 셀 터치 패널의 영상 비표시 영역에 터치 전극들의 쇼트 또는 오픈 등의 불량을 검사할 수 있는 검사 회로가 되도록 단순한 구조로 설계 및 구성되도록 함으로써, 터치 패널의 제조 이후 간단하고 용이하게 검사가 진행되도록 할 수 있다. 이에, 터치 패널을 검사 라인으로 이동시키지 않아도 되며 비용과 시간을 줄여 검사 효율을 높일 수 있는 효과가 있다.
또한, 터치 패널의 검사를 위해 터치 패널에 영상을 표시하고 터치 구동이 이루어지도록 했던 검사용 구동 모듈들 대신 단순한 검사 신호들만 입력하여 검사가 진행될 수 있도록 함으로써, 검사 기기나 검사 라인을 구축하기 위한 비용과 시간을 대폭 축소할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 인 셀 터치 패널을 구체적으로 나타낸 구성도이다.
도 2는 도 1에 도시된 I-I' 라인 단면을 나타낸 단면도이다.
도 3은 도 1에 도시된 인 셀 터치 패널의 검사 방법을 설명하기 위한 입력 신호 파형도이다.
도 4는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 인 셀 터치 패널을 구체적으로 나타낸 구성도이다.
도 5는 도 4에 도시된 인 셀 터치 패널의 검사시 검사용 신호 입력 구성을 나타낸 구성도이다.
도 6은 도 5에 도시된 인 셀 터치 패널의 검사 방법을 설명하기 위한 입력 신호 파형도이다.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 인 셀 터치 패널을 포함한 액정 표시장치를 구체적으로 나타낸 구성도이다.
전술한 목적, 특징 및 장점은 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 후술되며, 이에 따라 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 것이다. 본 발명을 설명함에 있어서 본 발명과 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 상세한 설명을 생략한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 터치 패널 및 그 검사방법과 터치 패널을 포함하는 액정 표시장치를 구체적으로 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 인 셀 터치 패널을 구체적으로 나타낸 구성도이다. 그리고 도 2는 도 1에 도시된 I-I' 라인 단면을 나타낸 단면도이다.
먼저, 도 1을 참조하면, 인 셀 터치 패널은 영상 표시부(AP)와 영상 비표시부(NP)로 구분되며, 영상 비표시부(NP)에는 검사 회로부가 구성된다.
구체적으로, 인 셀 터치 패널의 영상 표시부(AP)에는 복수의 Rx 전극이 배열되고 복수의 Rx 전극과는 수직 방향으로 복수의 Tx 전극이 배열됨과 아울러, 복수의 화소 영역이 구성되어 영상을 표시하면서도 터치를 감지한다.
영상 비표시부(NP)에는 검사 회로부가 구성되는바, 검사 회로부는 외부로부터의 스위칭 제어신호에 따라 복수의 Rx 전극 중 홀수번째의 Rx 전극들과 짝수번째 Rx 전극들에 서로 다른 전압 레벨의 신호를 인가하거나 선택적으로 플로팅시킴과 아울러, 복수의 Tx 전극 중 홀수번째의 Tx 전극들과 짝수번째 Tx 전극들에 서로 다른 전압 레벨의 신호를 인가하거나 선택적으로 플로팅시킬 수 있도록 구성된다.
인 셀 터치 패널은 영상 표시 기능과 터치 감지 기능을 동시에 수행하기 위해, 복수의 Tx 전극과 복수의 Rx 전극은 공통 전극으로 사용되면서도 터치 감지모드로 동작시, 터치 전극의 기능을 함께 수행하게 된다. 여기서, 터치 감지기간에는 수직하게 배치된 복수의 Tx 전극과 복수의 Rx 전극 간의 상호 정전용량(mutual capacitance)이 발생되도록 하여, 터치 시 발생하는 상호 정전용량의 변화량을 측정하여 터치 여부를 인식하게 된다.
이와 같이, 인 셀 터치 패널은 영상을 표시하기 위한 공통 전극으로 터치 감지시 필요한 Tx 전극을 이용하고, 이와 대응되는 Rx 전극이 수직 방향으로 대면하여 구성되도록 한 후, 영상 표시기간과 터치 감지기간을 시분할하여 영상 표시기간에 발생되는 노이즈 성분이 터치 감지기간에 영향을 미치지 않도록 한다.
도 2를 참조하면, 인 셀 터치 패널은 하부의 어레이 기판부(100) 및 상부의 컬러필터 기판(300) 사이에 액정층(200)이 형성되는 형태로 구성된다.
하부 기판부(100)의 영상 표시부(AP)에는 복수의 Tx 전극이 평행하게 구성되고, 게이트 및 데이터 라인이 매트릭스 형태로 교차하여 정의된 각 화소 영역에 박막 트랜지스터와 화소 전극(110) 등이 구성된다.
컬러필터 기판(300)에는 블랙 매트릭스(black matrix)와 컬러 필터(color filter)가 형성됨과 아울러, 복수의 Rx 전극이 평행하게 형성된다.
각 화소 영역의 화소들은 박막 트랜지스터가 턴-온됨에 따라 데이터 신호가 화소 전극(110)에 인가되고 공통전극으로 사용되는 복수의 Tx 전극이나 Rx 전극에 인가되는 공통전압(Vcom)과의 전계에 의해 액정층(200)의 광 투과율이 변화하여 영상을 표시하게 된다.
복수의 Tx 전극이나 Rx 전극은 영상 표시기간에는 화소 전극에 대응하는 공통 전극의 역할을 한다. 반면, 터치 감지기간에는 터치 패널의 감지 전극 역할을 하는데, 이때는 복수의 Tx 전극에 미리 설정된 터치 전압(예를 들어, 기준 전압 또는 기준 전압을 중심으로 스윙하는 전압)이 인가되고, 각각의 Rx 전극을 통해 수신되는 터치 감지신호를 이용하여 터치 여부를 감지하기도 한다.
도 1과 같이, 영상 표시부(AP)의 주변 영역인 영상 비표시부(NP)에는 복수의 Tx 전극과 복수의 Rx 전극의 쇼트 또는 오픈을 검사할 수 있는 검사 회로가 설계 및 구성된다.
제1 실시 예로, 영상 비표시부(NP)에는 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)로 입력되는 스위칭 제어신호에 따라 복수의 Rx 전극(Rx) 중 홀수번째의 Rx 전극들과 짝수번째 Rx 전극들에 서로 다른 전압 레벨의 신호를 인가하고, 복수의 Tx 전극(Tx) 중 홀수번째의 Tx 전극들과 짝수번째 Tx 전극들에 서로 다른 전압 레벨의 신호를 인가하는 검사회로가 구성됨을 도시하였다.
구체적으로, 영상 비표시부(NP)의 검사 회로는 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)로 입력되는 스위칭 제어신호에 따라 복수의 Rx 전극(Rx) 중 홀수번째의 Rx 전극 각각에 제1 Rx 신호패드(RD1)로 입력되는 제1 레벨의 Rx 검사신호를 공급하는 복수의 제1 스위칭 소자(Tr1), 및 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)로 입력되는 스위칭 제어신호에 따라 복수의 Rx 전극(Rx) 중 짝수번째의 Rx 전극 각각에 제2 Rx 신호패드(RD2)로 입력되는 제2 레벨의 Rx 검사신호를 공급하는 복수의 제2 스위칭 소자(Tr2)를 포함하여 구성될 수 있다.
또한, 영상 비표시부(NP)의 검사회로는 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)로 입력되는 스위칭 제어신호에 따라 복수의 Tx 전극(Tx) 중 홀수번째의 Tx 전극 각각에 제1 Tx 신호패드(TD1)로 입력되는 제3 레벨의 Tx 검사신호를 공급하는 복수의 제3 스위칭 소자(Tr3), 및 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)로 입력되는 스위칭 제어신호에 따라 복수의 Tx 전극(Tx) 중 짝수번째의 Tx 전극 각각에 제2 Tx 신호패드(TD2)로 입력되는 제4 레벨의 Tx 검사신호를 공급하는 복수의 제4 스위칭 소자(Tr4)를 더 구비하여 구성될 수 있다.
스위칭 제어신호 입력패드(TtD)로 입력되는 스위칭 제어신호는 복수의 제1 내지 제4 스위칭 소자(Tr1 내지 Tr4)를 동시에 턴-온시키거나 턴-오프시키기 위한 로우 또는 하이 레벨의 이진 DC 레벨의 신호이다.
이에, 복수의 제1 스위칭 소자(Tr1)는 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)로부터 입력되는 스위칭 제어신호에 따라 턴-온 또는 턴-오프되며, 턴-온시에는 자신과 연결된 홀수번째의 Rx 전극 각각에 제1 Rx 신호패드(RD1)로부터 입력되는 제1 레벨의 Rx 검사신호를 공급한다.
복수의 제2 스위칭 소자(Tr2)는 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)로부터 입력되는 스위칭 제어신호에 따라 턴-온 또는 턴-오프되며, 턴-온시에는 자신과 연결된 짝수번째의 Rx 전극 각각에 제2 Rx 신호패드(RD2)로부터 입력되는 제2 레벨의 Rx 검사신호를 공급한다.
또한, 복수의 제3 스위칭 소자(Tr3)는 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)로부터 입력되는 스위칭 제어신호에 따라 턴-온 또는 턴-오프되며, 턴-온시에는 자신과 연결된 홀수번째의 Tx 전극 각각에 제1 Tx 신호패드(TD1)로부터 입력되는 제3 레벨의 Tx 검사신호를 공급한다.
복수의 제4 스위칭 소자(Tr4)는 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)로부터 입력되는 스위칭 제어신호에 따라 턴-오프되며, 턴-온시에는 자신과 연결된 짝수번째의 Tx 전극 각각에 제2 Tx 신호패드(TD2)로부터 입력되는 제4 레벨의 Tx 검사신호를 공급한다.
도 3은 도 1에 도시된 인 셀 터치 패널의 검사 방법을 설명하기 위한 입력 신호 파형도이다.
도 3을 참조하면, 인 셀 터치 패널의 터치 검사기간 동안에는 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)에 복수의 제1 내지 제4 스위칭 소자(Tr1 내지 Tr4)를 동시에 턴-온시킬 수 있는 레벨로 스위칭 제어신호가 입력된다. 이에, 복수의 제1 내지 제4 스위칭 소자(Tr1 내지 Tr4)는 스위칭 제어신호에 의해 터치 검사기간 동안 턴-온 상태를 유지한다.
인 셀 터치 패널의 터치 검사기간 동안 제1 레벨의 Rx 검사신호와 제2 레벨의 Rx 검사신호는 서로 다른 전압 레벨 차이로 상이하게 입력됨이 바람직하다. 서로 교번적으로 배치된 홀수번째의 Rx 전극들과 짝수번째의 Rx 전극 각각에 서로 다른 하이 또는 로우 레벨의 검사 신호가 입력되면, 서로 인접한 홀수번째 Rx 전극과 짝수번째 Rx 전극 간의 공통전압 차이로 인해 표시 영상의 휘도 차이가 발생하게 된다. 이렇게 홀수 및 짝수 라인간 휘도 차이가 발생한 상태에서 쇼트 또는 오픈 불량인 Rx 전극들은 동일 전압이 인가되거나 플로팅 상태가 되어 검사시 육안으로 확인이 가능하기 때문이다.
마찬가지로, 제3 레벨의 Tx 검사신호와 제4 레벨의 Tx 검사신호 전압 레벨 차이 또한 서로 상이하게 공급됨이 바람직하다. 서로 교번적으로 배치된 홀수번째의 Tx 전극들과 짝수번째의 Tx 전극 각각에 서로 다른 하이 또는 로우 레벨의 검사 신호가 입력되면, 서로 인접한 홀수번째 Tx 전극과 짝수번째 Tx 전극 간의 공통전압 차이로 인해 표시 영상의 휘도 차이가 발생하게 된다. 이렇게 홀수 및 짝수 라인간 휘도 차이가 발생한 상태에서 쇼트 또는 오픈 불량인 Tx 전극들은 동일 전압이 인가되거나 플로팅 상태가 되어 검사시 영상의 휘도가 동일해지므로 주변과의 차이로인해 육안으로 확인이 가능하기 때문이다.
전술한 바와 같이, 제1 실시 예에 따른 인 셀 터치 패널 및 그 검사방법을 통해서는 인 셀 터치 패널의 제조 이후 단순하고 용이하게 터치 전극 검사가 진행되도록 할 수 있다.
다만, 제1 실시 예에 따른 검사 회로에는 스위칭 제어신호 입력패드(TtD), 제1 Tx 신호패드(TD1), 제2 Tx 신호패드(TD2), 제1 Rx 신호패드(RD1), 및 제2 Rx 신호패드(RD2)가 모두 구성되어야 하고, 그에 따른 신호 전송라인들이 각각 배치되어야 하기 때문에 검사 회로 구성 면적이 커지게 되었다. 이에, 검사 회로의 구성 면적은 하기의 제2 실시 예에 따른 구성으로 최소화되도록 설계됨이 바람직하다.
도 4는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 인 셀 터치 패널을 구체적으로 나타낸 구성도이다. 그리고 도 5는 도 4에 도시된 인 셀 터치 패널의 검사시 검사용 신호 입력 구성을 나타낸 구성도이다.
도 4 및 도 5에 도시된 인 셀 터치 패널의 영상 표시부(AP) 구성은 도 1 및 도 2를 통해 설명된 구성과 동일하다. 이에, 영상 표시부(AP)에 대한 설명은 도 1 및 도 2의 구체적인 설명으로 대신하기로 한다.
영상 비표시부(NP)에는 복수의 Tx 전극과 복수의 Rx 전극의 쇼트 또는 오픈불량 여부를 검사할 수 있는 검사 회로부가 구성된다.
제2 실시 예로, 영상 비표시부(NP)에는 외부로부터의 스위칭 제어신호에 따라 복수의 Rx 전극 중 홀수번째의 Rx 전극들과 짝수번째 Rx 전극들에 미리 설정된 전압 레벨의 신호를 동시에 인가하거나 선택적으로 플로팅시킴과 아울러, 복수의 Tx 전극 중 홀수번째의 Tx 전극들과 짝수번째 Tx 전극들에 미리 설정된 전압 레벨의 신호를 동시에 인가하거나 선택적으로 플로팅시킬 수 있는 검사 회로가 구성됨을 도시하였다.
구체적으로, 영상 비표시부(NP)의 검사 회로는 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)로 입력되는 제1 레벨의 스위칭 제어신호에 따라 복수의 Rx 전극(Rx) 각각에 Rx 신호패드(RD)로부터의 제1 레벨의 Rx 신호를 구동신호로 공급하는 제1 PMOS 스위칭 소자(PTr1), 및 복수의 제1 PMOS 스위칭 소자(PTr1) 중 홀수 또는 짝수번째의 제1 PMOS 스위칭 소자(PTr1)와 각각 병렬로 구성되어 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)로 입력되는 제2 레벨의 스위칭 제어신호에 따라 홀수 또는 짝수번째의 Rx 전극(Rx) 각각에 Rx 신호패드(RD)로부터의 제2 레벨 Rx 신호를 검사 신호로 공급하는 복수의 제1 NMOS 스위칭 소자(NTr1)를 포함하여 구성된다.
또한, 영상 비표시부(NP)의 검사 회로는 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)로 입력되는 제1 레벨의 스위칭 제어신호에 따라 복수의 Tx 전극(Tx) 각각에 Tx 신호패드(TD)로부터의 제1 레벨의 Tx 신호를 구동신호로 공급하는 제2 PMOS 스위칭 소자(PTr2), 및 복수의 제2 PMOS 스위칭 소자(PTr2) 중 홀수 또는 짝수번째의 제2 PMOS 스위칭 소자(PTr2)와 각각 병렬로 구성되어 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)로 입력되는 제2 레벨의 스위칭 제어신호에 따라 홀수 또는 짝수번째의 Tx 전극(Tx) 각각에 Tx 신호패드(TD)로부터의 제2 레벨 Tx 신호를 검사 신호로 공급하는 복수의 제2 NMOS 스위칭 소자(NTr2)를 더 포함하여 구성된다.
도 4로는 복수의 제1 NMOS 스위칭 소자(NTr1)가 짝수번째의 제1 PMOS 스위칭 소자(PTr1)들과 각각 병렬로 구성되어 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)로 입력되는 제2 레벨의 스위칭 제어신호에 따라 짝수번째의 Rx 전극(Rx) 각각에 Rx 신호패드(RD)로부터의 제2 레벨 Rx 신호를 검사 신호로 공급할 수 있도록 한 구성을 예로 도시하였다. 마찬가지로, 복수의 제2 NMOS 스위칭 소자(NTr2) 또한 짝수번째의 제2 PMOS 스위칭 소자(PTr2)와 각각 병렬로 구성되어 제2 레벨의 스위칭 제어신호에 따라 짝수번째의 Tx 전극(Tx) 각각에 제2 레벨 Tx 신호를 검사 신호로 공급할 수 있도록 한 구성을 예로 도시하였다.
도 5와 같이, 복수의 Tx 전극과 복수의 Rx 전극의 쇼트 또는 오픈을 검사를 위해서는 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)에 제1 또는 제2 레벨의 스위칭 제어신호를 공급하고, Rx 신호패드(RD)에는 제1 또는 제2 레벨 Rx 신호를 공급하며, Tx 신호패드(TD)에는 제1 또는 제2 레벨 Tx 신호를 공급함과 아울러, 영상 표시부(AP)의 영상 표시화소들을 구동하기 위한 검사 신호 입력모듈(500)이 추가로 이용되기도 한다. 여기서, 검사 신호 입력모듈(500)은 Tx 신호 공급부(520), Rx 신호 공급부(530), 스위치 신호 공급부(510), 게이트 및 데이터 신호 공급부(540)를 구비하여 구성될 수 있다.
도 6은 도 5에 도시된 인 셀 터치 패널의 검사 방법을 설명하기 위한 입력 신호 파형도이다.
도 6과 함께 하기의 표 1을 참조하면, 터치 감지를 하지 않고 영상만 표시하는 기간동안 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)의 스위칭 제어신호는 복수의 제1 및 제2 PMOS 스위칭 소자(PTr1,PTr2)는 모두 턴-온시키고, 복수의 제1 및 제2 NMOS 스위칭 소자(NTr2,NTr2)는 모두 턴-오프시키는 로우 레벨의 제1 레벨(예를 들어, - 10V)로 공급될 수 있다.
[표 1]
Figure 112016095237816-pat00001
즉, 영상만 표시하는 기간동안 복수의 제1 및 제2 PMOS 스위칭 소자(PTr1,PTr2)는 입력패드(TtD)로부터 입력되는 제1 레벨의 스위칭 제어신호에 의해 턴-온된다. 이에, 복수의 제1 PMOS 스위칭 소자(PTr1)는 복수의 Rx 전극(Rx) 각각에 Rx 신호패드(RD)로부터의 제1 레벨의 Rx 신호를 구동신호로 공급한다. 그리고 복수의 제2 PMOS 스위칭 소자(PTr2)는 복수의 Tx 전극(Tx) 각각에 Tx 신호패드(TD)로부터의 제1 레벨의 Tx 신호를 구동신호로 공급한다. 여기서, 제1 레벨의 Rx 신호와 Tx 신호는 공통 전압(Vcom) 레벨로 공급될 수 있다. 이때, 복수의 제1 및 제2 NMOS 스위칭 소자(NTr2,NTr2)는 제1 레벨의 스위칭 제어신호에 의해 턴-오프 상태를 유지한다.
반면, 터치를 감지하는 터치 감지기간에 스위칭 제어신호 입력패드(TtD)의 스위칭 제어신호는 복수의 제1 및 제2 PMOS 스위칭 소자(PTr1,PTr2)는 모두 턴-오프시키면서 복수의 제1 및 제2 NMOS 스위칭 소자(NTr1,NTr2)는 모두 턴-온 시키는 하이 레벨의 제2 레벨(예를 들어, 10V)로 공급될 수 있다.
이에, 복수의 제1 및 제2 NMOS 스위칭 소자(NTr1,NTr2)는 제2 레벨의 스위칭 제어신호에 의해 턴-온되고, 복수의 제1 및 제2 PMOS 스위칭 소자(PTr1,PTr2)는 모두 턴-오프된다. 따라서 복수의 제1 및 제2 NMOS 스위칭 소자(NTr1,NTr2)와 전기적으로 연결되지 않은 홀수번째의 Rx 전극들과 Tx 전극들은 턴-오프된 홀수번째 제1 및 제2 PMOS 스위칭 소자(PTr1,PTr2)에 의해 플로팅 상태가 된다.
터치 감지기간에 턴-온된 복수의 제1 NMOS 스위칭 소자(NTr1)는 자신과 연결된 짝수번째의 Rx 전극(Rx) 각각에 Rx 신호패드(RD)로부터의 제2 레벨 Rx 신호를 검사 신호로 공급한다. 여기서 제2 레벨 Rx 신호는 제1 레벨 Rx 신호보다 더 낮은 레벨로 공급될 수 있다.
아울러, 터치 감지기간에 턴-온된 복수의 제2 NMOS 스위칭 소자(NTr2)는 자신과 연결된 짝수번째의 Tx 전극(Tx) 각각에 Tx 신호패드(TD)로부터의 제2 레벨 Tx 신호를 검사 신호로 공급한다. 마찬가지로, 제2 레벨 Tx 신호는 제1 레벨 Tx 신호보다 더 낮은 레벨로 공급될 수 있다.
터치 검사기간 동안 짝수번째의 Rx 전극에만 제2 레벨의 Rx 검사신호가 공급되고 홀수번째 Rx 전극은 모두 플로팅 상태이기 때문에 서로 인접한 홀수번째 Rx 전극과 짝수번째 Rx 전극 간의 공통전압 차이로 인해 표시 영상의 휘도 차이가 발생하게 된다. 이렇게 홀수 및 짝수 라인간 휘도 차이가 발생한 상태에서 쇼트 또는 오픈 불량인 Rx 전극들은 동일 전압이 인가되거나 플로팅 상태가 되어 검사시 육안으로 확인이 가능하다.
마찬가지로, 터치 검사기간 동안 짝수번째의 Tx 전극에만 제2 레벨의 Tx 검사신호가 공급되고 홀수번째 Tx 전극은 모두 플로팅 상태이기 때문에 서로 인접한 홀수번째 Rx 전극과 짝수번째 Rx 전극 간의 공통전압 차이로 인해 표시 영상의 휘도 차이가 발생하게 된다. 이렇게 홀수 및 짝수 라인간 휘도 차이가 발생한 상태에서 쇼트 또는 오픈 불량인 Rx 전극들은 동일 전압이 인가되거나 플로팅 상태가 되어 검사시 육안으로 확인이 가능하다.
한편, 터치 검사기간 이후 영상 표시기간이 되기 전에는 인셀 터치패널이나 검사 모듈의 구동기간(MD)이 더 포함될 수 있다. 이때는 모든 Tx 및 Rx 전극이 틀로팅 상태를 유지하도록 할 수 있다.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 인 셀 터치 패널을 포함한 액정 표시장치를 구체적으로 나타낸 구성도이다.
도 7을 참조하면, 인 셀 터치 패널을 포함한 액정 표시장치는 복수의 Rx 전극이 배열되고 복수의 Rx 전극과는 수직 방향으로 복수의 Tx 전극이 배열됨과 아울러 복수의 화소 영역이 구성되어 영상을 표시하면서도 터치를 감지하는 영상 표시부(AP) 및 각각의 Rx 및 Tx 전극들을 검사하는 검사 회로부가 영상 비표시부(NP)에 구성된 인 셀 터치 패널(600), 영상 표시부(AP)의 화소 영역들을 구동하는 게이트 및 데이터 구동부(720,710), Tx 전극 및 Rx 전극을 구동하여 영상 표시부(AP) 상에 터치된 위치를 감지하는 Tx 및 Rx 구동부(910,920), 및 게이트 및 데이터 구동부(720,710)와 Tx 및 Rx 구동부(910,920)를 제어하는 타이밍 제어부(810)를 포함한다.
인 셀 터치 패널(600)은 도 1 내지 도 6을 참조하여 설명한 본 발명의 인 셀 터치 패널이 적용될 수 있다. 이에, 인 셀 터치 패널(600)에 대한 설명은 도 1 내지 도 6을 참조한 구체적인 설명으로 대신하기로 한다.
게이트 구동부(720)는 영상 표시부(AP)의 게이트 라인을 구동하는 복수의 스테이지로 이루어지는 쉬프트 레지스터로서, 타이밍 제어부(810)로부터 게이트 제어신호(GCS)에 대응하여 하나의 게이트 라인 단위로 순차적으로 고전위의 게이트 구동신호를 출력하게 된다. 고전위의 게이트 구동신호는 화소 영역에 구비된 박막 트랜지스터를 턴-온(turn-on)하며, 이에 동기하여 데이터 구동부(710)로부터 공급되는 아날로그 파형의 데이터 신호가 각 박막 트랜지스터에 접속된 액정 캐패시터로 인가되게 된다. 이러한 게이트 구동부(720)를 구동하기 위한 게이트 제어신호(GCS)로는 게이트 스타트 펄스(Gate Start Pulse), 게이트 쉬프트 클록(Gate Shift Clock) 및 게이트 출력 인에이블 신호(Source Output Enable)등이 있다.
데이터 구동부(710)는 타이밍 제어부(810)로부터 데이터 제어신호(DCS)와 디지털 영상 데이터(RGB)를 순차적으로 수신하고, 기준전압을 참조하여 영상 데이터(RGB)를 아날로그 형태의 데이터 신호로 변환한다. 데이터 신호는 하나의 수평선상의 화소들에 대응되도록 래치되어 게이트 구동신호에 동기하여 모든 데이터 라인을 통해 동시에 영상 표시부(AP)에 입력된다. 이러한 데이터 구동부(710)를 구동하기 위한 데이터 제어신호(DCS)로는 소스 스타트 펄스(Source Start Pulse), 소스 쉬프트 클럭(Source Shift Clock) 및 소스 출력 인에이블 신호(Source Output Enable), 극성반전신호(POL, polarity)등이 있다.
Tx 구동부(910)는 터치 감지 구간에서 Tx 전극을 통해 터치 센싱을 위한 터치 전압을 공급하여 Tx 전극을 활성화시키고, 영상 표시모드에서는 공통전압을 공급하여 공통 전극을 활성화시키게 된다.
Rx 구동부(920)는 터치 구동모드 구간에서는 Rx 전극을 통해 센싱 신호를 수신하여 그 센싱 신호의 파형변화에 따라 영상 표시부(AP) 상에서 터치가 발생한 위치를 판단하게 된다. 또한, 영상 표시기간에는 비활성화 상태로 전환되어 터치 센싱 구동을 수행하지 않게 된다.
타이밍 제어부(190)는 외부 시스템(미도시)로부터 인가되는 영상데이터(RGB)와, 클록신호(CLK), 수평 및 수직 동기신호(Hsync, Vsync)등의 타이밍 신호를 인가받아, 각각의 구동부를 제어하기 위한 게이트 제어신호(GCS), 데이터 제어신호(DCS) 및 센싱 제어신호(SCS) 등을 생성한다.
이상 전술한 바에 따르면, 본 발명의 인 셀 터치 패널 및 그 검사방법과 인 셀 터치 패널을 포함하는 액정 표시장치는 인 셀 터치 패널의 영상 비표시 영역에 터치 전극들의 쇼트 또는 오픈을 검사할 수 있는 검사 회로가 보다 단순한 구조로 설계 및 구성되도록 함으로써, 인 셀 터치 패널의 제조 이후 단순하고 용이하게 검사가 진행되도록 할 수 있다. 이에, 인 셀 터치 패널을 검사 라인으로 이동시키지 않아도 되며 비용과 시간을 줄여 검사 효율을 높일 수 있게 된다.
또한, 인 셀 터치 패널의 검사를 위해 인 셀 터치 패널에 영상을 표시하고 터치 구동이 이루어지도록 했던 검사용 구동 모듈들 대신 단순한 검사 신호들만 입력하여 검사가 진행될 수 있도록 함으로써, 검사 기기나 검사 라인을 구축하기 위한 비용과 시간을 대폭 축소할 수 있게 된다.
상기에서는 도면 및 실시 예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 실시 예의 기술적 사상으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 실시 예는 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음은 이해할 수 있을 것이다.
AP: 영상 표시부
NP: 영상 비표시부
110: 화소 전극
100: 어레이 기판
200: 액정층
300: 컬러필터 기판
510: 스위치 신호 공급부
520: Tx 신호 공급부
530: Rx 신호 공급부
540: 게이트 및 데이터 신호 공급부

Claims (15)

  1. 복수의 Rx 전극이 배열되고 상기 복수의 Rx 전극과 수직 방향으로 복수의 Tx 전극이 배열됨과 아울러 복수의 화소 영역이 구성되어 영상을 표시하면서도 터치를 감지하는 영상 표시부; 및
    영상 비표시부에 구성되며, 외부로부터의 스위칭 제어신호에 따라 상기 복수의 Rx 전극 중 홀수번째의 Rx 전극들과 짝수번째 Rx 전극들에 서로 다른 전압 레벨의 신호를 인가하거나 선택적으로 플로팅시킴과 아울러, 상기 복수의 Tx 전극 중 홀수번째의 Tx 전극들과 짝수번째 Tx 전극들에 서로 다른 전압 레벨의 신호를 인가하거나 선택적으로 플로팅시키는 검사 회로부를 포함하고,
    상기 검사 회로부는
    상기 복수의 Rx 전극 중 홀수번째의 Rx 전극 각각에 연결되는 복수의 제1 스위칭 소자; 상기 복수의 Rx 전극 중 짝수번째의 Rx 전극 각각에 연결되는 복수의 제2 스위칭 소자; 상기 복수의 Tx 전극 중 홀수번째의 Tx 전극 각각에 연결되는 복수의 제3 스위칭 소자; 및 상기 복수의 Tx 전극 중 짝수번째의 Tx 전극 각각에 연결되는 제4 스위칭 소자를 포함하고,
    상기 제1 스위칭 소자 및 상기 제3 스위칭 소자 각각은 PMOS 트랜지스터를 포함하고, 상기 제2 스위칭 소자 및 상기 제4 스위칭 소자 각각은 병렬 연결된 PMOS 트랜지스터 및 NMOS 트랜지스터를 포함하는 터치 패널.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 검사 회로부는
    스위칭 제어신호 입력패드로 입력되는 스위칭 제어신호에 따라 상기 복수의 Rx 전극 중 홀수번째의 Rx 전극 각각에 제1 Rx 신호패드로 입력되는 제1 레벨의 Rx 검사신호를 공급하는 상기 복수의 제1 스위칭 소자;
    상기 스위칭 제어신호에 따라 상기 복수의 Rx 전극 중 짝수번째의 Rx 전극 각각에 제2 Rx 신호패드로 입력되는 제2 레벨의 Rx 검사신호를 공급하는 상기 복수의 제2 스위칭 소자;
    상기 스위칭 제어신호에 따라 상기 복수의 Tx 전극 중 홀수번째의 Tx 전극 각각에 제1 Tx 신호패드로 입력되는 제3 레벨의 Tx 검사신호를 공급하는 상기 복수의 제3 스위칭 소자; 및
    상기 스위칭 제어신호에 따라 상기 복수의 Tx 전극 중 짝수번째의 Tx 전극 각각에 제2 Tx 신호패드로 입력되는 제4 레벨의 Tx 검사신호를 공급하는 상기 복수의 제4 스위칭 소자;
    를 포함하는 터치 패널.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 스위칭 제어신호는
    상기 복수의 제1 내지 제4 스위칭 소자를 턴-온시키거나 턴-오프시키기 위한 로우 또는 하이 레벨의 이진 DC 레벨의 신호이며,
    터치 검사를 위한 터치 감지기간에 상기 제1 레벨 Rx 검사신호와 상기 제2 레벨 Rx 검사신호의 전압 레벨 차이는 서로 상이하고, 상기 제3 레벨 Tx 검사신호와 상기 제4 레벨 Tx 검사신호의 전압 레벨 차이는 서로 상이하게 공급되는 터치 패널.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1 스위칭 소자의 상기 PMOS 트랜지스터는
    상기 스위칭 제어신호 입력패드로 입력되는 제1 레벨의 스위칭 제어신호에 따라 상기 복수의 Rx 전극 각각에 Rx 신호패드로부터의 제1 레벨의 Rx 신호를 구동신호로 공급하고,
    상기 제2 스위칭 소자의 상기 병렬 연결된 PMOS 트랜지스터 및 NMOS 트랜지스터는
    상기 스위칭 제어신호 입력패드로 입력되는 제2 레벨의 스위칭 제어신호에 따라 상기 짝수번째의 Rx 전극 각각에 상기 Rx 신호패드로부터의 제2 레벨 Rx 신호를 검사 신호로 공급하는, 터치 패널.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 제3 스위칭 소자의 상기 PMOS 트랜지스터는
    상기 제1 레벨의 스위칭 제어신호에 따라 상기 복수의 Tx 전극 각각에 Tx 신호패드로부터의 제1 레벨의 Tx 신호를 구동신호로 공급하고,
    상기 제4 스위칭 소자의 상기 병렬 연결된 PMOS 트랜지스터 및 NMOS 트랜지스터는
    상기 제2 레벨의 스위칭 제어신호에 따라 상기 짝수번째의 Tx 전극 각각에 상기 Tx 신호패드로부터의 제2 레벨 Tx 신호를 검사 신호로 공급하는, 터치 패널.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 스위칭 제어신호 입력패드의 스위칭 제어신호는
    터치를 감지하지 않는 영상 표시기간에 상기 제1 스위칭 소자 내지 상기 제4 스위칭 소자의 상기 PMOS 트랜지스터를 모두 턴-온시키고, 상기 제2 스위칭 소자 및 상기 제4 스위칭 소자의 상기 NMOS 트랜지스터를 모두 턴-오프시키는 로우 레벨의 제1 레벨로 공급되고,
    터치 검사를 위한 터치 감지기간에는 상기 제1 스위칭 소자 내지 상기 제4 스위칭 소자의 상기 PMOS 트랜지스터를 모두 턴-오프시키면서 상기 제2 스위칭 소자 및 상기 제4 스위칭 소자의 상기 NMOS 트랜지스터를 모두 턴-온 시키는 하이 레벨의 제2 레벨로 공급되는, 터치 패널.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 터치를 감지하지 않는 영상 표시기간에 공급되는 상기 제1 레벨의 Rx 신호와 상기 제1 레벨의 Tx 신호는 공통 전압 레벨이며,
    상기 터치 검사를 위한 터치 감지기간에 공급되는 상기 제2 레벨의 Rx 신호는 상기 제1 레벨의 Rx 신호보다 더 낮은 전압 레벨이고,
    상기 터치 검사를 위한 터치 감지기간에 공급되는 상기 제2 레벨의 Tx 신호는 상기 제1 레벨의 Tx 신호보다 더 낮은 전압 레벨인 터치 패널.

  8. 청구항 제1항을 포함하는 인 셀 터치 패널 검사 방법에 있어서,
    복수의 Rx 전극이 배열되고 상기 복수의 Rx 전극과 수직 방향으로 복수의 Tx 전극이 배열됨과 아울러 복수의 화소 영역이 구성된 영상 표시부를 통해 영상을 표시하는 단계; 및
    외부로부터의 스위칭 제어신호에 따라 상기 복수의 Rx 전극 중 홀수번째의 Rx 전극들과 짝수번째 Rx 전극들에 서로 다른 전압 레벨의 신호를 인가하거나 선택적으로 플로팅시킴과 아울러, 상기 복수의 Tx 전극 중 홀수번째의 Tx 전극들과 짝수번째 Tx 전극들에 서로 다른 전압 레벨의 신호를 인가하거나 선택적으로 플로팅시키는 검사 회로부를 제어하여 터치 검사를 수행하는 단계;
    를 포함하는 터치 패널 검사방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 터치 검사를 수행하는 단계는
    상기 복수의 제1 스위칭 소자를 이용하여 스위칭 제어신호 입력패드로 입력되는 스위칭 제어신호에 따라 상기 복수의 Rx 전극 중 홀수번째의 Rx 전극 각각에 제1 Rx 신호패드로 입력되는 제1 레벨의 Rx 검사신호를 공급하는 단계;
    상기 복수의 제2 스위칭 소자를 이용하여 상기 스위칭 제어신호에 따라 상기 복수의 Rx 전극 중 짝수번째의 Rx 전극 각각에 제2 Rx 신호패드로 입력되는 제2 레벨의 Rx 검사신호를 공급하는 단계;
    상기 복수의 제3 스위칭 소자를 이용하여 상기 스위칭 제어신호에 따라 상기 복수의 Tx 전극 중 홀수번째의 Tx 전극 각각에 제1 Tx 신호패드로 입력되는 제3 레벨의 Tx 검사신호를 공급하는 단계; 및
    상기 복수의 제4 스위칭 소자를 이용하여 상기 스위칭 제어신호에 따라 상기 복수의 Tx 전극 중 짝수번째의 Tx 전극 각각에 제2 Tx 신호패드로 입력되는 제4 레벨의 Tx 검사신호를 공급하는 단계;
    를 포함하는 터치 패널 검사방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 스위칭 제어신호는
    상기 복수의 제1 내지 제4 스위칭 소자를 턴-온시키거나 턴-오프시키기 위한 로우 또는 하이 레벨의 이진 DC 레벨의 신호이며,
    터치 검사를 위한 터치 감지기간에 상기 제1 레벨 Rx 검사신호와 상기 제2 레벨 Rx 검사신호의 전압 레벨 차이는 서로 상이하고, 상기 제3 레벨 Tx 검사신호와 상기 제4 레벨 Tx 검사신호의 전압 레벨 차이는 서로 상이하게 공급되는 터치 패널 검사방법.
  11. 제 8 항에 있어서,
    상기 터치 검사를 수행하는 단계는
    상기 제1 스위칭 소자의 상기 PMOS 트랜지스터를 이용하여 스위칭 제어신호 입력패드로 입력되는 제1 레벨의 스위칭 제어신호에 따라 상기 복수의 Rx 전극 각각에 Rx 신호패드로부터의 제1 레벨의 Rx 신호를 구동신호로 공급하는 단계;
    상기 제2 스위칭 소자의 상기 NMOS 트랜지스터를 이용하여 상기 스위칭 제어신호 입력패드로 입력되는 제2 레벨의 스위칭 제어신호에 따라 상기 짝수번째의 Rx 전극 각각에 상기 Rx 신호패드로부터의 제2 레벨 Rx 신호를 검사 신호로 공급하는 단계;
    를 포함하는 터치 패널 검사방법.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 터치 검사를 수행하는 단계는
    상기 제3 스위칭 소자의 상기 PMOS 트랜지스터를 이용하여 상기 제1 레벨의 스위칭 제어신호에 따라 상기 복수의 Tx 전극 각각에 Tx 신호패드로부터의 제1 레벨의 Tx 신호를 구동신호로 공급하는 단계; 및
    상기 제4 스위칭 소자의 상기 NMOS 트랜지스터를 이용하여 상기 제2 레벨의 스위칭 제어신호에 따라 상기 짝수번째의 Tx 전극 각각에 상기 Tx 신호패드로부터의 제2 레벨 Tx 신호를 검사 신호로 공급하는 단계;
    를 더 포함하는 터치 패널 검사방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 스위칭 제어신호 입력패드의 스위칭 제어신호는
    터치를 감지하지 않는 영상 표시기간에 상기 제1 스위칭 소자 내지 상기 제4 스위칭 소자의 상기 PMOS 트랜지스터를 모두 턴-온시키고, 상기 제2 스위칭 소자 및 상기 제4 스위칭 소자의 상기 NMOS 트랜지스터를 모두 턴-오프시키는 로우 레벨의 제1 레벨로 공급되고,
    터치 검사를 위한 터치 감지기간에는 상기 제1 스위칭 소자 내지 상기 제4 스위칭 소자의 상기 PMOS 트랜지스터를 모두 턴-오프시키면서 상기 제2 스위칭 소자 및 상기 제4 스위칭 소자의 상기 NMOS 트랜지스터를 모두 턴-온 시키는 하이 레벨의 제2 레벨로 공급되는, 터치 패널 검사방법.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 터치를 감지하지 않는 영상 표시기간에 공급되는 상기 제1 레벨의 Rx 신호와 상기 제1 레벨의 Tx 신호는 공통 전압 레벨이며,
    상기 터치 검사를 위한 터치 감지기간에 공급되는 상기 제2 레벨의 Rx 신호는 상기 제1 레벨의 Rx 신호보다 더 낮은 전압 레벨이고,
    상기 터치 검사를 위한 터치 감지기간에 공급되는 상기 제2 레벨의 Tx 신호는 상기 제1 레벨의 Tx 신호보다 더 낮은 전압 레벨인 터치 패널 검사방법.
  15. 영상 표시부 및 검사 회로부가 영상 비표시부에 구성되어 영상을 표시하면서도 터치를 감지하는 상기 청구항 제 1 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 기재된 터치 패널;
    상기 영상 표시부의 화소 영역들을 구동하는 게이트 및 데이터 구동부;
    상기 Tx 전극 및 Rx 전극을 구동하여 상기 영상 표시부 상에 터치된 위치를 감지하는 Tx 및 Rx 구동부; 및
    상기 게이트 및 데이터 구동부와 상기 Tx 및 Rx 구동부를 제어하는 타이밍 제어부;
    를 포함하는 터치 패널을 포함하는 액정 표시장치.
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