KR101959048B1 - 터치 패널의 불량 검사 방법과 검사 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 터치 패널의 합선 여부를 검사할 수 있는 터치 패널의 불량 검사 방법과 검사 장치를 제공한다. 본 발명의 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 장치는 상기 터치 패널이 안착되는 스테이지; 상기 터치 패널의 Tx 라인들에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터를 출력하는 터치 패널 구동회로; 및 상기 터치 로우 데이터에 제1 필터를 적용하여 필터 데이터를 산출한 후, 상기 Tx 라인별로 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 필터 데이터의 개수를 대표값으로 산출하고, 상기 대표값이 제2 문턱 값보다 큰 값을 갖는 경우가 산출되면 상기 터치 패널을 불량품으로 판단하는 양품 판단부를 포함한다.

Description

터치 패널의 불량 검사 방법과 검사 장치{METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF TOUCH PANEL}
본 발명은 터치 패널의 합선 여부를 검사할 수 있는 터치 패널의 불량 검사 방법과 검사 장치에 관한 것이다.
유저 인터페이스(User Interface, UI)는 사람(사용자)과 각종 전기, 전자 기기 등의 통신을 가능하게 하여 사용자가 기기를 쉽게 자신이 원하는 대로 제어할 수 있게 한다. 이러한 유저 인터페이스의 대표적인 예로는 키패드, 키보드, 마우스, 온스크린 디스플레이(On Screen Display, OSD), 적외선 통신 혹은 고주파(RF) 통신 기능을 갖는 원격 제어기(Remote controller) 등이 있다. 유저 인터페이스 기술은 사용자 감성과 조작 편의성을 높이는 방향으로 발전을 거듭하고 있다. 최근, 유저 인터페이스는 터치 UI, 음성 인식 UI, 3D UI 등으로 진화되고 있다.
터치 UI는 휴대용 정보기기에 필수적으로 채택되고 있는 추세에 있으며, 가전 제품에도 확대 적용되고 있다. 터치 UI를 구현하기 위한 터치 스크린 장치의 일 예로서, 터치뿐 아니라 근접 여부도 센싱하고 멀티 터치(또는 근접) 각각을 인식할 수 있는 상호 용량(mutual capacitance) 방식의 터치 스크린 장치가 각광받고 있다.
상호 용량 방식의 터치 스크린 장치는 Tx 라인들, Tx 라인들과 교차되는 Rx 라인들, 및 Tx 라인들과 Rx 라인들의 교차부에 형성된 센서 노드들을 구비한 터치 패널을 포함한다. 센서 노드들 각각은 상호 용량을 갖는다. 터치 스크린 장치는 터치(또는 근접) 전후의 센서 노드들에 충전된 전압의 변화를 감지하여 전도성 물질의 접촉(또는 근접) 여부와 그 위치를 판단한다. 터치 스크린 장치는 터치 패널의 Tx 라인들에 구동펄스를 공급하고 Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터인 터치 로우 데이터로 변환하고, 터치 콘트롤러를 통해 터치 로우 데이터를 분석하여 터치 좌표를 산출하게 된다.
한편, 터치 패널의 Tx 라인들 간에 합선이 발생하는 경우, 합선된 Tx 라인들은 다른 Tx 라인에 비해 더 많은 센서 노드들에 접속되므로, 합선된 Tx 라인들에서 Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력은 커지게 되는 문제가 있다. 또한, 터치 패널의 Rx 라인들 간에 합선이 발생하는 경우, 합선된 Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력은 서로 같아지는 문제가 있다. 즉, 터치 패널의 Tx 라인들 간의 합선 또는 Rx 라인들 간의 합선이 발생하는 경우, 터치 스크린 장치는 정상적으로 동작할 수 없다. 하지만, 터치 패널의 Tx 라인들 간의 합선 여부나 Rx 라인들 간의 합선 여부는 제품 완성 후 테스트하기 전에는 찾아내기 어려운 단점이 있다.
본 발명은 터치 패널의 불량 여부를 검사할 수 있는 터치 패널의 불량 검사 방법과 검사 장치를 제공한다.
본 발명의 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법은 터치 패널의 Tx 라인들에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터를 획득하는 단계; 상기 터치 로우 데이터에 제1 필터를 적용하여 필터 데이터를 산출하는 단계; 상기 Tx 라인별로 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 필터 데이터의 개수를 대표값으로 산출하는 단계; 및 상기 대표값이 제2 문턱 값보다 큰 값을 갖는 경우가 산출되면, 상기 터치 패널을 불량품으로 판단하는 단계를 포함한다.
본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법은 터치 패널의 Tx 라인들에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터를 획득하는 단계; i(i는 자연수) 프레임 기간의 상기 터치 로우 데이터를 상기 Rx 라인별로 합산하여 상기 Rx 라인별로 상기 터치 로우 데이터의 총합을 산출하는 단계; N 프레임 기간 동안 어느 한 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합이 이웃하는 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합과 동일한 경우의 개수를 상기 어느 한 Rx 라인의 대표값으로 산출하는 단계; 및 상기 어느 한 Rx 라인의 대표값의 합계가 제3 문턱값 이상인 경우가 산출되면, 상기 터치 패널을 불량품으로 판단하는 단계를 포함한다.
본 발명의 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 장치는 터치 패널이 안착되는 스테이지; 상기 터치 패널의 Tx 라인들에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터를 출력하는 터치 패널 구동회로; 및 상기 터치 로우 데이터에 제1 필터를 적용하여 필터 데이터를 산출한 후, 상기 Tx 라인별로 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 필터 데이터의 개수를 대표값으로 산출하고, 상기 대표값이 제2 문턱 값보다 큰 값을 갖는 경우가 산출되면 상기 터치 패널을 불량품으로 판단하는 양품 판단부를 포함한다.
본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 장치는 터치 패널이 안착되는 스테이지; 상기 터치 패널의 Tx 라인들에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터를 출력하는 터치 패널 구동회로; 및 i(i는 자연수) 프레임 기간의 상기 터치 로우 데이터를 상기 Rx 라인별로 합산하여 상기 Rx 라인별로 상기 터치 로우 데이터의 총합을 산출한 후, N 프레임 기간 동안 어느 한 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합이 이웃하는 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합과 동일한 경우의 개수를 상기 어느 한 Rx 라인의 대표값으로 산출하고, 상기 어느 한 Rx 라인의 대표값의 합계가 제3 문턱값 이상인 경우가 산출되면, 상기 터치 패널을 불량품으로 판단하는 양품 판단부를 포함한다.
본 발명은 터치 로우 데이터에 미분 필터를 포함한 제1 필터를 적용하여 필터 데이터를 산출한 후, 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 필터 데이터의 개수가 제2 문턱 값보다 큰 경우가 있는지를 판단함으로써, 터치 패널 합선 여부를 검사할 수 있다. 또한, 본 발명은 터치 로우 데이터에 미분 필터를 포함한 제2 필터를 적용하여 미분 값 데이터를 산출한 후, N 프레임 기간 동안 "0" 값을 갖는 미분 값 데이터들의 개수를 대표값으로 산출하고, 대표값이 제3 문턱 값보다 큰 경우가 있는지를 판단함으로써, 터치 패널 합선 여부를 검사할 수 있다. 즉, 본 발명은 터치 패널의 합선 여부를 손쉬운 방법으로 검사함으로써, 터치 패널의 불량을 검사할 수 있다. 이로 인해, 본 발명은 터치 패널의 합선 여부에 대한 전수 검사하거나 샘플링 검사의 개수를 늘릴 수 있으므로, 불량 터치 패널의 출하를 줄일 수 있다.
도 1은 터치 스크린 장치를 개략적으로 보여주는 일 예시도면.
도 2는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법을 보여주는 흐름도.
도 3a는 Tx 라인들 간에 합선이 발생한 경우 터치 로우 데이터를 보여주는 일 예시도면.
도 3b는 필터 데이터를 보여주는 일 예시도면.
도 4는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법을 보여주는 흐름도.
도 5a는 Rx 라인들 간에 합선이 발생한 경우 터치 로우 데이터를 보여주는 일 예시도면.
도 5b는 미분 값 데이터를 보여주는 일 예시도면.
도 5c는 미분 값 데이터가 "0"인 경우를 보여주는 그래프.
도 5d는 복수의 프레임 기간 동안 미분 값 데이터가 "0"인 경우의 개수를 보여주는 히스토그램.
도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 장치를 보여주는 블록도.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 실질적으로 동일한 구성요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다.
도 1은 터치 스크린 장치를 개략적으로 보여주는 일 예시도면이다. 도 1을 참조하면, 터치 스크린 장치는 터치 패널(10), 터치 패널 구동회로(20), 및 터치 콘트롤러(30)를 포함한다.
터치 패널(10)은 Tx 라인들(T1~Tn, n은 2 이상의 자연수), Tx 라인들(T1~Tn)과 교차하는 Rx 라인들(R1~Rm, m은 2 이상의 자연수), 및 Tx 라인들(T1~Tn)과 Rx 라인들(R1~Rm)의 교차부들에 형성된 m×n 개의 센서 노드들을 포함한다. 센서 노드들 각각은 등가 회로적으로 상호 용량(mutual capacitance)로 구현될 수 있으나, 이에 한정되지 않음에 주의하여야 한다.
터치 스크린 장치가 디스플레이 장치와 결합하는 경우, 터치 패널(10)은 디스플레이 장치의 표시패널의 상부에 접합될 수 있다. 특히, 디스플레이 장치가 액정표시장치로 구현되는 경우, 터치 패널(10)은 액정표시장치의 표시패널의 상부 편광판 상에 접합되거나, 상부 편광판과 표시패널의 상부기판 사이에 접합될 수 있다. 또한, 터치 패널(10)의 센서 노드들은 액정표시장치의 표시패널 내에서 픽셀 어레이와 함께 하부기판에 형성(인셀(In-cell) 타입)될 수 있다.
터치 패널 구동회로(20)는 Tx 라인들(T1~Tn)에 구동펄스를 공급하고 구동펄스에 동기하여 Rx 라인들(R1~Rm)을 통해 센서 노드 전압을 센싱한다. 터치 패널 구동회로(20)는 Tx 구동회로(21)와 Rx 구동회로(22)를 포함한다. Tx 구동회로(21)와 Rx 구동회로(22)는 하나의 ROIC(Read-out IC) 내에 집적될 수 있다.
Tx 구동회로(21)는 터치 콘트롤러(30)의 제어 하에 구동펄스를 출력할 Tx 채널을 선택하고, 선택된 Tx 채널과 연결된 Tx 라인들에 구동펄스를 공급한다. Rx 구동회로(22)는 터치 콘트롤러(30)의 제어 하에 센서 노드들의 전압을 수신할 Rx 채널을 선택하고, 선택된 Rx 채널과 연결된 Rx 라인들을 통해 센서 노드들의 전압을 수신한다. Rx 구동회로(22)는 Rx 라인들(R1~Rm)을 통해 수신된 센서 노드의 전압을 샘플링하여 적분기에 누적한다. Rx 구동회로(22)는 적분기에 누적된 전압을 아날로그-디지털 변환기(Analog to Digital Converter, ADC)에 입력하여 디지털 데이터인 터치 로우 데이터(touch raw data, TRD)로 변환하여 출력한다.
터치 콘트롤러(30)는 Tx 구동회로(21)에서 구동펄스가 출력될 Tx 채널을 설정하기 위한 Tx 셋업 신호와, Rx 구동회로(22)에서 센서 노드 전압을 수신할 Rx 채널을 설정하기 위한 Rx 셋업 신호를 발생한다. 또한, 터치 콘트롤러(30)는 Tx 구동회로(21)와 Rx 구동회로(22)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 타이밍 제어신호들을 발생한다.
터치 콘트롤러(30)는 터치 좌표 산출부를 포함한다. 터치 좌표 산출부는 Rx 구동회로(22)로부터 입력되는 터치 로우 데이터(TRD)를 소정의 문턱 값과 비교하고, 소정의 문턱 값 이상의 터치 로우 데이터(TRD)를 터치(또는 근접) 입력 데이터로서 판단하는 반면, 소정의 문턱 값보다 낮은 터치 로우 데이터(TRD)를 터치(또는 근접) 입력이 없는 데이터로 판단한다. 터치 좌표 산출부는 미리 설정된 터치 좌표 산출 알고리즘을 실행하여 터치(또는 근접) 입력 데이터로 판단된 터치 로우 데이터(TRD)들 각각에 대한 좌표를 산출하고, 좌표 정보를 포함한 터치 인식 결과 데이터(HIDxy)를 출력한다. 터치 좌표 산출 알고리즘은 공지의 어떠한 알고리즘으로도 구현가능하다. 터치 좌표 산출부는 MCU(Micro Controller Unit, MCU)로 구현될 수 있다.
한편, 터치 스크린 장치의 터치 패널(10)의 Tx 라인들(T1~Tn) 간에 합선이 발생하는 경우, 합선된 Tx 라인들은 다른 Tx 라인에 비해 더 많은 센서 노드들에 접속되므로, 합선된 Tx 라인들에서 Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력은 커지게 되는 문제가 있다. 또한, 터치 패널의 Rx 라인들(R1~Rm) 간에 합선이 발생하는 경우, 합선된 Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력은 서로 같아지는 문제가 있다. 즉, 터치 패널의 Tx 라인들(T1~Tn) 간에 합선이 발생하거나 Rx 라인들(R1~Rm) 간에 합선이 발생하는 경우, 터치 스크린 장치가 터치 좌표를 오산출하는 문제가 발생한다. 즉, 터치 스크린 장치가 정상적으로 동작할 수 없는 문제가 발생한다. 이하에서, 도 2, 도 3a, 도 3b, 도 4, 도 5a 내지 도 5d를 결부하여 터치 패널 합선 여부를 검사할 수 있는 검사 방법에 대하여 상세히 설명한다.
도 2는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법을 보여주는 흐름도이다. 도 2에는 터치 패널(10)의 Tx 라인들(T1~Tn) 간에 합선이 발생한 경우, 터치 패널(10)을 불량품으로 판단하는 터치 패널 불량 검사 방법이 나타나 있다. 도 2를 참조하면, 터치 패널 불량 검사 방법은 제1 내지 제4 단계(S101~S106)를 포함한다.
첫 번째로, 제1 단계(S101)는 터치 패널(10)의 Tx 라인들(T1~Tn)에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들(R1~Rm)을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터(TRD)를 획득한다.
도 3a는 Tx 라인들 간에 합선이 발생한 경우 터치 로우 데이터를 보여주는 일 예시도면이다. 도 3a에는 1 프레임 기간의 터치 로우 데이터(TRD)가 나타나 있으며, x 축은 Rx 라인의 위치, y 축은 Tx 라인의 위치, z 축은 터치 로우 데이터(TRD)의 크기를 나타낸다. 도 3a에 표시된 "A"를 참조하면, Tx 라인들(T1~Tn)은 x 축 방향으로 배열되어 있으므로, 합선된 Tx 라인들의 위치에서 터치 로우 데이터(TRD)가 다른 위치에서보다 크게 나타나는 것을 볼 수 있다. 이는 터치 패널(10)의 Tx 라인들(T1~Tn) 간에 합선이 발생하는 경우, 합선된 Tx 라인들은 다른 Tx 라인에 비해 더 많은 센서 노드들에 접속되므로, 합선된 Tx 라인들에서 Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력이 커지기 때문이다. (S101)
두 번째로, 제2 단계(S102)는 1 프레임 기간의 터치 로우 데이터(TRD)에 제1 필터(F1)를 적용하여 필터 데이터를 산출한다. 도 3a에서 Tx 라인들 간에 합선이 발생한 경우, 합선된 Tx 라인들의 위치인 y 축의 한 지점에서 터치 로우 데이터(TRD)가 크게 나타난다. 제1 필터(F1)는 y 축 방향으로 적용되는 미분 필터(differential filter)로 구현될 수 있다. 미분 필터는 샤프니스 필터(sharpness)로도 알려져 있다. 제1 필터(F1)는 미분 필터로 구현되는 경우, 어느 한 터치 로우 데이터와 y 축 방향으로 이웃하는 터치 로우 데이터의 차이를 증폭 상수(α)만큼 증폭하여 필터 데이터를 산출하므로, 합선된 Tx 라인들의 위치에서 필터 데이터(FD)는 도 3b의 "B"와 같이 큰 값으로 산출된다. 도 3b는 필터 데이터를 보여주는 일 예시도면이다. 도 3b에는 1 프레임 기간의 필터 데이터(FD)가 나타나 있으며, x 축은 Rx 라인의 위치, y 축은 Tx 라인의 위치, z 축은 필터 데이터(FD)의 크기를 나타낸다.
한편, 제1 필터(F1)는 수학식 1과 같이 정의될 수 있다.
Figure 112012090730455-pat00001
또는, 제1 필터(F1)는 수학식 2와 같이 정의될 수 있다.
Figure 112012090730455-pat00002
또한, 제1 필터(F1)는 y 축 방향으로 적용되는 미분 필터뿐만 아니라, x 축 방향으로 적용되는 평균 필터(mean filter)를 포함할 수 있다. 평균 필터는 스무딩 필터로도 알려져 있다. 구체적으로, 제1 필터(F1)는 수학식 3과 같이 정의될 수 있다.
Figure 112012090730455-pat00003
또는, 제1 필터(F1)는 수학식 4와 같이 정의될 수 있다.
Figure 112012090730455-pat00004
수학식 1 내지 4에서, α는 증폭 상수를 의미한다.
제1 필터(F1)가 수학식 3과 수학식 4와 같이 평균 필터를 포함하는 경우, 어느 한 터치 로우 데이터와 x 축 방향으로 이웃하는 터치 로우 데이터를 평균하여 필터 데이터(FD)를 산출하므로, 필터 데이터(FD)는 x 축 방향으로 평탄화되어 표현된다.
한편, 제2 단계(S102)에서 제1 필터(F1)의 미분 필터가 y 축 방향으로 적용되고, 평균 필터가 x 축 방향으로 적용되는 것으로 설명하였으나, 이에 한정되지 않음에 주의하여야 한다. 즉, 필요에 따라, 제1 필터(F1)의 미분 필터는 x 축 방향으로 적용될 수 있으며, 평균 필터는 y 축 방향으로 적용될 수도 있다. 또한, 제2 단계(S102)에서 제1 필터(F1)의 미분 필터를 x 축 방향과 y 축 방향으로 모두 적용하고, 평균 필터를 x 축 방향과 y 축 방향으로 모두 적용할 수도 있다. (S102)
세 번째로, 제3 단계(S103)는 Tx 라인별로 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 필터 데이터(FD)의 개수인 대표값을 산출한다. 구체적으로 수학식 5를 참조하여 설명하면, 제3 단계(S103)는 (j,k) 좌표에서의 필터 데이터(FD(j,k))가 제1 문턱 값(TH1)보다 큰 값을 갖는 경우, (j,k) 좌표에서의 비교값(C(j,k))으로 "1"을 할당한다. 제3 단계(S103)는 (j,k) 좌표에서의 필터 데이터(FD(j,k))가 제1 문턱 값(TH1) 이하인 큰 값을 갖는 경우, (j,k) 좌표에서의 비교값(C(j,k))으로 "0"을 할당한다. 제1 문턱 값(TH1)은 사전 실험을 통해 적절한 값으로 미리 설정될 수 있다.
Figure 112012090730455-pat00005
그리고 나서, 제3 단계(S103)는 수학식 6과 같이 제k(k는 1≤k≤n을 만족하는 자연수) Tx 라인의 대표값(Inspection(k))으로 제k Tx 라인의 비교값(C(j,k))(j는 1≤j≤m을 만족하는 자연수)들의 총합을 할당한다. j는 x 좌표 값, k는 y 좌표값을 의미한다.
Figure 112012090730455-pat00006
제4 단계(S104, S105, S106)는 Tx 라인별로 산출된 대표값들 중에서 제2 문턱 값보다 큰 값을 갖는 대표값이 존재한다면, 터치 패널(10)을 불량품으로 판단한다. 구체적으로, 제4 단계(S104, S105, S106)는 제1 내지 제n Tx 라인들의 대표값들(Inspection(1)~Inspection(n)) 중에서 제2 문턱 값보다 큰 값을 갖는 대표값이 존재한다면, 터치 패널(10)을 불량품으로 판단한다. 제4 단계(S104, S105, S106)는 제1 내지 제n Tx 라인들의 대표값들(Inspection(1)~Inspection(n)) 중에서 제2 문턱 값보다 큰 값을 갖는 대표값이 존재하지 않는다면, 터치 패널(10)을 양품으로 판단한다. 제2 문턱 값은 사전 실험을 통해 적절한 값으로 미리 설정될 수 있다. (S104, S105, S106)
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명은 터치 로우 데이터(TRD)에 미분 필터를 포함한 제1 필터(F1)를 적용하여 필터 데이터(FD)를 산출한 후, 제1 문턱 값(TH1)보다 큰 값을 갖는 필터 데이터(FD)의 개수가 제2 문턱 값보다 큰 경우가 있는지를 판단함으로써, 터치 패널 합선 여부를 검사할 수 있다. 즉, 본 발명은 터치 패널의 합선 여부를 손쉬운 방법으로 검사함으로써, 터치 패널의 불량을 검사할 수 있다.
도 4는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법을 보여주는 흐름도이다. 도 4에는 터치 패널(10)의 Rx 라인들(R1~Rm) 간에 합선이 발생한 경우, 터치 패널(10)을 불량품으로 판단하는 터치 패널 불량 검사 방법이 나타나 있다. 도 4를 참조하면, 터치 패널 불량 검사 방법은 제1 내지 제4 단계를 포함한다.
첫 번째로, 제1 단계(S201)는 터치 패널(10)의 Tx 라인들(T1~Tn)에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들(R1~Rm)을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터(TRD)를 획득한다.
도 5a는 Rx 라인들 간에 합선이 발생한 경우 터치 로우 데이터를 보여주는 일 예시도면이다. 도 5a에는 1 프레임 기간의 터치 로우 데이터(TRD)가 나타나 있으며, x 축은 Rx 라인의 위치, y 축은 Tx 라인의 위치, z 축은 터치 로우 데이터(TRD)의 크기를 나타낸다. 터치 패널의 Rx 라인들(R1~Rm) 간에 합선이 발생하는 경우, 합선된 Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력은 서로 같다. (S201)
두 번째로, 제2 단계(S202)는 제i(i는 자연수) 프레임 기간의 터치 로우 데이터(TRDi)를 Rx 라인별로 합산하여 Rx 라인별로 터치 로우 데이터의 총합을 산출한다. 구체적으로, 제2 단계(S202)는 수학식 7과 같이 제j 수직 라인의 터치 로우 데이터들을 총합하여 제j 라인의 터치 로우 데이터 총합(RSi(j))을 산출한다.
Figure 112012090730455-pat00007
세 번째로, 제3 단계(S203)는 N 프레임 기간 동안 어느 한 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합이 이웃하는 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합과 동일한 경우의 개수를 상기 어느 한 Rx 라인의 대표값으로 산출한다. 구체적으로, 제3 단계(S203)는 Rx 라인별로 산출된 터치 로우 데이터의 총합에 제2 필터(F2)를 적용하여 Rx 라인별로 미분 값 데이터를 산출한다. 제2 필터(F2)는 미분 필터로 구현될 수 있다. 따라서, 제2 필터(F2)는 수학식 1 또는 수학식 2와 같이 정의될 수 있다. 즉, 제3 단계(S203)는 Rx 라인별로 산출된 터치 로우 데이터의 총합을 미분하여 Rx 라인별로 미분 값 데이터를 산출할 수 있다. 제3 단계(S203)는 제j Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합(RSi(j))을 미분하여 제j Rx 라인의 미분 값 데이터(Ti(j))를 산출할 수 있다.
Figure 112012090730455-pat00008
도 5b는 미분 값 데이터들을 보여주는 일 예시도면이다. 도 5b를 참조하면, x 축은 Rx 라인의 위치(j)를 지시하고, y 축은 미분 값 데이터를 지시한다. 제j Rx 라인의 미분 값 데이터(Ti(j))는 제j Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합(RSi(j))의 기울기 값을 의미한다. 따라서, 제j Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합(RSi(j))이 제j Rx 라인에 이웃하는 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합과 같은 경우, 제j Rx 라인의 미분 값 데이터(Ti(j))는 "0"으로 산출된다.
그리고 나서, 제3 단계(S203)는 N 프레임 기간 동안 Rx 라인별로 "0" 값을 갖는 미분 값 데이터들의 개수를 대표값으로 산출한다. 구체적으로, 제3 단계(S203)는 수학식 9와 같이 제j 라인의 미분 값 데이터(Ti(j))가 "0" 값을 갖는 경우 제j 라인의 개수 데이터(Ti'(j))를 "1"로 할당하고, 그렇지 않은 경우 제j 라인의 개수 데이터(Ti'(j))를 "0"으로 할당한다.
Figure 112012090730455-pat00009
도 5c는 개수 데이터들을 보여주는 그래프이다. 도 5c를 참조하면, x 축은 Rx 라인의 위치(j)를 의미하고, y 축은 개수 데이터의 값을 의미한다. 도 5c와 같이 제i 프레임 기간 동안 제1 내지 제m 개수 데이터(Ti'(1)~Ti'(m))는 "0" 또는 "1" 값을 갖는다.
제3 단계(S203)는 수학식 10과 같이 N 프레임 기간 동안 제j 라인의 개수 데이터의 총합을 제j Rx 라인의 대표값(RxShort(j))으로 산출한다.
Figure 112012090730455-pat00010
도 5d는 N 프레임 기간 동안 "0" 값을 갖는 미분 값 데이터들의 개수(대표값)를 보여주는 히스토그램이다. 도 5d를 참조하면, x 축은 Rx 라인의 위치(j)를 의미하고, y 축은 대표값을 의미한다.
한편, 제3 단계(S203)는 N 프레임 기간 동안 "0" 값을 갖는 미분 값 데이터들의 개수의 평균을 대표값으로 산출할 수도 있다. (S203)
네 번째로, 제4 단계(S204, S205, S206)는 어느 한 Rx 라인의 대표값의 합계가 제3 문턱값 이상인 경우가 산출되면, 터치 패널(10)을 불량으로 판단한다. 구체적으로, 제4 단계(S204, S205, S206)는 제1 내지 제m Rx 라인들의 대표값들(RxShort(1)~Rxshort(m)) 중에서 제3 문턱 값보다 큰 값을 갖는 대표값이 존재한다면, 터치 패널(10)을 불량품으로 판단한다. 제4 단계(S204, S205, S206)는 제1 내지 제m Rx 라인들의 대표값들(RxShort(1)~Rxshort(m)) 중에서 제3 문턱 값보다 큰 값을 갖는 대표값이 존재하지 않는다면, 터치 패널(10)을 양품으로 판단한다. 제3 문턱 값은 사전 실험을 통해 적절한 값으로 미리 설정될 수 있다. (S104, S105, S106)
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명은 터치 로우 데이터(TRD)에 미분 필터를 포함한 제2 필터(F2)를 적용하여 미분 값 데이터(T)를 산출한 후, N 프레임 기간 동안 "0" 값을 갖는 미분 값 데이터들의 개수를 대표값으로 산출하고, 대표값이 제3 문턱 값보다 큰 경우가 있는지를 판단함으로써, 터치 패널 합선 여부를 검사할 수 있다. 즉, 본 발명은 터치 패널의 합선 여부를 손쉬운 방법으로 검사함으로써, 터치 패널의 불량을 검사할 수 있다.
도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 장치를 보여주는 블록도이다. 도 6을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 장치는 스테이지(100), 터치 패널 구동회로(200), 터치 콘트롤러(300), 양품 판단부(400), 디스플레이 장치(500) 등을 구비한다.
스테이지(100)에는 합선 여부를 검사받고자 하는 터치 패널(110)이 로딩(loading)되어 안착된다. 터치 패널 불량 검사 장치는 터치 패널(110)을 스테이지(100) 상에 로딩 또는 언로딩(unloading)시키는 로딩 장치를 더 구비할 수도 있다. 즉, 터치 패널(110)은 로딩 장치에 의해 스테이지(100) 상에 로딩된 후, 검사가 완료되면 로딩 장치에 의해 언로딩될 수 있다.
터치 패널(110)이 스테이지(100)에 안착된 후에, 터치 패널 구동회로(200)가 터치 패널(110)에 접속된다. 터치 패널 구동회로(200)는 Tx 라인들(T1~Tn)에 구동펄스를 공급하고 구동펄스에 동기하여 Rx 라인들(R1~Rm)을 통해 센서 노드 전압을 센싱한다. 터치 패널 구동회로(200)는 Tx 구동회로(210)와 Rx 구동회로(220)를 포함한다.
Tx 구동회로(210)는 터치 콘트롤러(300)의 제어 하에 구동펄스를 출력할 Tx 채널을 선택하고, 선택된 Tx 채널과 연결된 Tx 라인들에 구동펄스를 공급한다. Rx 구동회로(220)는 터치 콘트롤러(300)의 제어 하에 센서 노드들의 전압을 수신할 Rx 채널을 선택하고, 선택된 Rx 채널과 연결된 Rx 라인들을 통해 센서 노드들의 전압을 수신한다. Rx 구동회로(220)는 Rx 라인들(R1~Rm)을 통해 수신된 센서 노드의 전압을 샘플링하여 적분기에 누적한다. Rx 구동회로(220)는 적분기에 누적된 전압을 아날로그-디지털 변환기(ADC)에 입력하여 디지털 데이터인 터치 로우 데이터(TRD)로 변환하여 출력한다.
터치 콘트롤러(300)는 Tx 구동회로(210)에서 구동펄스가 출력될 Tx 채널을 설정하기 위한 Tx 셋업 신호와, Rx 구동회로(220)에서 센서 노드 전압을 수신할 Rx 채널을 설정하기 위한 Rx 셋업 신호를 발생한다. 또한, 터치 콘트롤러(300)는 Tx 구동회로(210)와 Rx 구동회로(220)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 타이밍 제어신호들을 발생한다.
양품 판단부(400)는 Rx 구동회로(220)로부터 터치 로우 데이터(TRD)를 입력받는다. 양품 판단부(400)는 도 2를 결부하여 설명한 본 발명의 제1 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법에 기초하여 터치 패널(110)의 Tx 라인들(T1~Tn) 간에 합선이 발생했는지를 판단할 수 있다. 또한, 양품 판단부(400)는 도 4를 결부하여 설명한 본 발명의 제2 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법에 기초하여 터치 패널(110)의 Rx 라인들(R1~Rm) 간에 합선이 발생했는지를 판단할 수 있다. 또한, 양품 판단부(400)는 도 2를 결부하여 설명한 본 발명의 제1 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법과 도 4를 결부하여 설명한 본 발명의 제2 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법을 동시에 적용하여 터치 패널(110)의 Tx 라인들(T1~Tn) 간에 합선이 발생했는지와 Rx 라인들(R1~Rm) 간에 합선이 발생했는지를 한 번에 판단할 수 있다.
양품 판단부(400)는 터치 패널 불량 검사 결과를 지시하는 양품 판단 신호(Si)를 디스플레이 장치(500)에 출력한다. 양품 판단부(400)는 터치 패널(110)이 불량품이라고 판단된 경우, 불량품을 지시하는 제1 로직 레벨의 양품 판단 신호(Si)를 출력한다. 또한, 양품 판단부(400)는 터치 패널(110)이 양품이라고 판단된 경우, 양품을 지시하는 제2 로직 레벨의 양품 판단 신호(Si)를 출력한다.
디스플레이 장치(500)는 양품 판단부(400)로부터의 양품 판단 신호(Si)에 따라 터치 패널 합선 결과를 디스플레이해준다. 예를 들어, 디스플레이 장치(500)는 제1 로직 레벨의 양품 판단 신호(Si)가 입력되는 경우, "양품"이라는 글자 또는 초록색을 디스플레이할 수 있다. 디스플레이 장치(500)는 제2 로직 레벨의 양품 판단 신호(Si)가 입력되는 경우, "불량품"이라는 글자 또는 빨간색을 디스플레이할 수 있다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명은 터치 로우 데이터에 미분 필터를 포함한 제1 필터를 적용하여 필터 데이터를 산출한 후, 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 필터 데이터의 개수가 제2 문턱 값보다 큰 경우가 있는지를 판단함으로써, 터치 패널 합선 여부를 검사할 수 있다. 또한, 본 발명은 터치 로우 데이터에 미분 필터를 포함한 제2 필터를 적용하여 미분 값 데이터를 산출한 후, N 프레임 기간 동안 "0" 값을 갖는 미분 값 데이터들의 개수를 대표값으로 산출하고, 대표값이 제3 문턱 값보다 큰 경우가 있는지를 판단함으로써, 터치 패널 합선 여부를 검사할 수 있다. 즉, 본 발명은 터치 패널의 합선 여부를 손쉬운 방법으로 검사함으로써, 터치 패널의 불량을 검사할 수 있다. 이로 인해, 본 발명은 터치 패널의 합선 여부에 대한 전수 검사하거나 샘플링 검사의 개수를 늘릴 수 있으므로, 불량 터치 패널의 출하를 줄일 수 있다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
10, 110: 터치 패널 20, 200: 터치 패널 구동회로
21, 210: Tx 구동회로 22, 220: Rx 구동회로
30, 300: 터치 콘트롤러 100: 스테이지
400: 양품 판단부 500: 디스플레이 장치

Claims (17)

  1. 터치 패널의 Tx 라인들에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터를 획득하는 단계;
    상기 터치 로우 데이터에 제1 필터를 적용하여 필터 데이터를 산출하는 단계;
    상기 Tx 라인별로 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 필터 데이터의 개수를 대표값으로 산출하는 단계; 및
    상기 대표값이 제2 문턱 값보다 큰 값을 갖는 경우가 산출되면, 상기 터치 패널을 불량품으로 판단하는 단계를 포함하는 터치 패널 불량 검사 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1 필터는,
    Rx 라인 방향으로 적용되는 미분 필터를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 방법.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 제1 필터는,
    Tx 라인 방향으로 적용되는 평균 필터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 Tx 라인별로 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 필터 데이터의 개수를 대표값으로 산출하는 단계는,
    (j,k) 좌표에서의 필터 데이터가 상기 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 경우 (j,k) 좌표에서의 비교값에 "1"을 할당하는 단계;
    상기 (j,k) 좌표에서의 필터 데이터가 상기 제1 문턱 값 이하인 값을 갖는 경우 상기 (j,k) 좌표에서의 비교값에 "0"을 할당하는 단계; 및
    제k Tx 라인의 대표값으로 제k Tx 라인의 비교값들의 총합을 할당하는 단계를 포함하고,
    j는 1≤k≤m을 만족하는 자연수이고, k는 1≤k≤n을 만족하는 자연수이며, m은 상기 Rx 라인들의 개수, n은 상기 Tx 라인들의 개수를 의미하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 방법.
  5. 터치 패널의 Tx 라인들에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터를 획득하는 단계;
    i(i는 자연수) 프레임 기간의 상기 터치 로우 데이터를 상기 Rx 라인별로 합산하여 상기 Rx 라인별로 상기 터치 로우 데이터의 총합을 산출하는 단계;
    N 프레임 기간 동안 어느 한 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합이 이웃하는 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합과 동일한 경우의 개수를 상기 어느 한 Rx 라인의 대표값으로 산출하는 단계; 및
    상기 어느 한 Rx 라인의 대표값의 합계가 제3 문턱값 이상인 경우가 산출되면, 상기 터치 패널을 불량품으로 판단하는 단계를 포함하는 터치 패널 불량 검사 방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 N 프레임 기간 동안 어느 한 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합이 이웃하는 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합과 동일한 경우의 개수를 상기 어느 한 Rx 라인의 대표값으로 산출하는 단계는,
    상기 Rx 라인별로 산출된 터치 로우 데이터의 총합에 제2 필터를 적용하여 상기 Rx 라인별로 미분 값 데이터를 산출하는 단계; 및
    상기 N 프레임 기간 동안 상기 Rx 라인별로 "0" 값을 갖는 미분 값 데이터들의 개수를 대표값으로 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 제2 필터는 미분 필터인 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 방법.
  8. 터치 패널이 안착되는 스테이지;
    상기 터치 패널의 Tx 라인들에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터를 출력하는 터치 패널 구동회로; 및
    상기 터치 로우 데이터에 제1 필터를 적용하여 필터 데이터를 산출한 후, 상기 Tx 라인별로 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 필터 데이터의 개수를 대표값으로 산출하고, 상기 대표값이 제2 문턱 값보다 큰 값을 갖는 경우가 산출되면 상기 터치 패널을 불량품으로 판단하는 양품 판단부를 포함하는 터치 패널 불량 검사 장치.
  9. 삭제
  10. 제 8 항에 있어서,
    상기 제1 필터는,
    Rx 라인 방향으로 적용되는 미분 필터를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 장치.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 제1 필터는,
    Tx 라인 방향으로 적용되는 평균 필터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 장치.
  12. 제 8 항에 있어서,
    상기 양품 판단부는,
    (j,k) 좌표에서의 필터 데이터가 상기 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 경우 (j,k) 좌표에서의 비교값에 "1"을 할당하고, 상기 (j,k) 좌표에서의 필터 데이터가 상기 제1 문턱 값 이하인 값을 갖는 경우 상기 (j,k) 좌표에서의 비교값에 "0"을 할당하며, 제k Tx 라인의 대표값으로 제k Tx 라인의 비교값들의 총합을 할당하고, j는 1≤k≤m을 만족하는 자연수이고, k는 1≤k≤n을 만족하는 자연수이며, m은 상기 Rx 라인들의 개수, n은 상기 Tx 라인들의 개수를 의미하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 장치.
  13. 터치 패널이 안착되는 스테이지;
    상기 터치 패널의 Tx 라인들에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터를 출력하는 터치 패널 구동회로; 및
    i(i는 자연수) 프레임 기간의 상기 터치 로우 데이터를 상기 Rx 라인별로 합산하여 상기 Rx 라인별로 상기 터치 로우 데이터의 총합을 산출한 후, N 프레임 기간 동안 어느 한 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합이 이웃하는 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합과 동일한 경우의 개수를 상기 어느 한 Rx 라인의 대표값으로 산출하고, 상기 어느 한 Rx 라인의 대표값의 합계가 제3 문턱값 이상인 경우가 산출되면, 상기 터치 패널을 불량품으로 판단하는 양품 판단부를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 장치.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 양품 판단부는,
    상기 Rx 라인별로 산출된 터치 로우 데이터의 총합에 제2 필터를 적용하여 상기 Rx 라인별로 미분 값 데이터를 산출하고, 상기 N 프레임 기간 동안 상기 Rx 라인별로 "0" 값을 갖는 미분 값 데이터들의 개수를 대표값으로 산출하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 장치.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 제2 필터는 미분 필터인 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 장치.
  16. 제 8 항 또는 제13항에 있어서,
    상기 양품 판단부는,
    상기 터치 패널이 불량품이라고 판단된 경우, 상기 불량품을 지시하는 제1 로직 레벨의 양품 판단 신호를 출력하고, 상기 터치 패널이 양품이라고 판단된 경우, 양품을 지시하는 제2 로직 레벨의 양품 판단 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 장치.
  17. 제 16 항에 있어서,
    상기 양품 판단부로부터 양품 판단 신호를 입력받고, 상기 터치 패널의 합선 결과를 디스플레이하는 디스플레이 장치를 더 포함하는 터치 패널 불량 검사 장치.
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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