KR102557812B1 - 파장 선택 광수신기 - Google Patents

Abstract

본 발명은 광수신기에 관한 것으로, 상호 직렬 배치된 액정 에탈론과 고체 에탈론과, 상기 액정 에탈론과 고체 에탈론을 통해 필터링된 광신호에 따른 전류신호를 출력하는 광검출기와, 상기 광검출기를 통해 검출된 광의 세기에 따른 제어를 수행하는 제어기와, 상기 제어기의 제어에 따라 상기 액정 에탈론에 공급되는 전압을 조정하여, 상기 액정 에탈론의 통과대역 피크와 상기 고체 에탈론의 통과대역 피크가 일치되도록 조정하는 전압 구동기를 포함할 수 있다.

Description

파장 선택 광수신기{Optical Wavelength selectable Receiver}

본 발명은 파장 선택 광수신기에 관한 것으로, 더 상세하게는 광수신기에 도달하는 광파장들 중에서 임의의 광파장을 선택적으로 수신하는 광수신기에 관한 것이다.

일반적으로, 광통신 네트워크는 전송 커버리지 및 기능에 따라 일반적으로 백본, 메트로, 액세스 네트워크 체계로 구성된다. 액세스 네트워크는 다시 서비스 종류에 따라 유선 액세스 네트워크와 무선 액세스 네트워크로 나누어 진다.

유선 액세스 네트워크는 현재까지 GE-PON, G-PON, 10G-PON, NG-PON 등으로 수동형 광네트워크(PON: Passive Optical Network) 형태 위에서 시분할다중 (TDM: Time Division Multiplexing) 기술을 바탕으로 전송속도가 향상되어 왔다.

도 1은 일반적인 수동형 광네트워크의 구성 예시도이다.

도 1을 참조하면, 수동형 광네트워크는 시분할 광네트워크와 파장분할 광네트워크로 구분할 수 있다.

도 1 (a)를 참조하면 시분할다중 기술은 각 액세스 포인트에게 서로 다른 통신시간(슬롯 또는 채널)을 할당하며, 이를 위해 광스플리터(Optical splitter)를 포함하는 네트워크 구성을 가질 수 있다.

통신국사에서 송출된 광신호는 광스플리터에서 스플리터 가지 수만큼 복제되고 연결되어 있는 모든 액세스 포인트들에게 전달된다.

이와 같은 특성은 마치 TV 송신국에서 송출된 TV 신호가 모든 TV 안테나에 전달되는 방송형태와 유사하다고 볼 수 있다.

한편, 연결되어 있는 모든 액세스 포인트들로부터 송출된 광신호들은 광스플리터에서 모여져 통신국사로 전달된다.

무선 액세스 네트워크는 유선 액세스 네트워크와는 다른 형태로 진화되어왔는데, 도 1의 (b)와 같이 점대점 (Point to point) 연결형태를 바탕으로 하며, 시분할 방식에 대응하여 다수의 파장을 중첩하여 사용하는 파장분할 수동형 네트워크 기술을 사용하고 있다.

4G에서는 저밀도 파장다중(CWDM: Coarse Wavelength Division Multiplexing)을 주로 사용하였고, 5G에서는 광채널 수를 늘리기 위해서 고밀도 파장다중(DWDM: Dense WDM) 기술을 사용하고 있다.

한편, 적지 않은 시간동안 액세스 네트워크의 단순화와 네트워크 인프라 구축 및 유지관리 비용 절감을 위해서 유선 액세스 네트워크와 무선 액세스 네트워크를 통합하고자 하는 노력이 계속되고 있으며, 특히 최근에는 구체적인 시도가 진행되고 있는 상황이다.

유선 액세스 네트워크는 광스플리터 기반이며, 5G 무선 액세스 네트워크는 40 채널 정도의 고밀도 광파장다중 기술을 사용하고 있으므로 두 네트워크를 통합하면 통신국사에서 송출된 다수의 파장다중 신호가 모든 액세스 포인트들에게 도달하게 된다. 따라서 두 네트워크를 통합하기 위해서 40채널 정도의 고밀도 다중화된 광파장들 중에서 특정 파장을 선택적으로 수신하는 파장가변 광수신 장치가 핵심적으로 요구된다.

현재까지 적지 않은 종류의 파장가변 광수신 방식들이 개발되었고 일부 상용화되었다. 광통신 용도의 파장가변 광수신 장치는 광트랜시버 내에 장착이 가능하도록 크기가 작아야 하며 또한 저가격이 가능해야 하므로 계측기 등 다른 용도의 장치에 비하여 제약이 크다고 볼 수 있다.

이러한 제약조건들을 만족하는 하는 방식으로는 패브리페로(Fabry-Perot) 에탈론(Etalon) 형태의 파장가변 필터를 들 수 있다.

도 2는 종래 상용화 된 파장가변 광수신기로서(Aegis 사) 고체에탈론 필터가 온도에 따라 공진 파장이 변화하는 특성을 사용하고 있으며, 온도 가변 범위의 제약으로 인해 4채널(1.6nm 간격) 범위에서 파장가변이 가능하다.

다른 예로서, 국제공개 WO 92/04653호와 같이 액정(Liquid Crystal)을 사용한 패브리페로 파장가변 필터로서 온도가 아닌 액정에 가해지는 전압에 의해 공진파장을 가변 할 수 있으며, 40 채널 이상(0.8 nm 채널 간격) 파장을 가변 할 수 있다.

파장 선별 기능과는 별도로 선별된 광신호의 원할한 수신을 위해서는 필터가 겪는 환경온도 및 광신호의 중심파장의 변화에도 불구하고 광신호가 필터를 안정적으로 통과하는 것이 중요하다.

이를 위해서 통과파장 대역이 고정된 수동필터(Passive Filter)의 규격과 유사한 통과파장 대역을 확보하려는 추구가 있다.

이러한 연구는 'John Arkwright et al, Modification of the spectral response of a Fabry-Perot etalon by spatial variation of the etalon thickness and reflectivity, Optical Engineering 44(2), 024001, February 2005)에 기재한 바와 같이 에탈론 필터를 형성하고 있는 양쪽 반사판들은 서로 평행을 유지해야 하는데, 이 평행도가 미소하게 깨지게 함으로써 최대 투과율(통과대역 피크)는 1 보다 작아지지만 통과대역이 평평해지는 현상을 사용한 예를 보여준다.

하지만, 평행도 깨짐을 1E-5 정도로 정밀하게 조절해야 하는 문제, 작지 않은 통과대역 피크의 손실, 그리고 얻을 수 있는 통과대역 크기가 요구되는 크기에 미치지 못하는 현실적인 문제가 있다.

또한, 'A.A.M SALEH et al. Two-stage Fabry-Perot filters as demultiplexers in optical FDMA LAN's, JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY, VOL 7, NO. 2, FEBRUARY 1989 323)에 기재된 바와 같이 평평한 통과 파장 대역을 실현하기 위한 또 다른 시도로서 두 개의 패브리페롯 에탈론 필터들을 상호 간섭시키는 간섭형 액정 패브리페롯 에탈론 필터 구조를 제안하고 있다.

한쪽의 에탈론 필터는 반사도가 R1과 R0로 구성되며, 다른 측의 에탈론 필터는 반사도가 R0와 R2로 구성된다. 여기서 R0는 중앙에 위치한다. 단일 에탈론 필터 구조에 비해 부피의 증가와 함께 복잡한 구조로 인해 실현을 위해서는 까다로운 공정이 요구된다.

도 3은 간섭형 액정 패브리페롯 에탈론 필터에 대해 시뮬레이션한 결과를 보여준다. 단일 에틸론 필터에 비해서 통과파장대역이 넓어졌지만, 통과파장대역의 모양이 중앙에 위치하는 반사도 R0의 값에 따라 대단히 민감하게 변화하는 특징을 보여준다. 이러한 특징은 간섭형 액정 패브리페롯 에탈론 필터의 전형적인 단점으로서 현실적으로 상용화에 큰 걸림돌이 되고 있다.

상기와 같은 종래기술을 감안한 본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 40 채널 이상의 파장 가변 범위(0.8nm 채널 간격 기준)를 가지면서도, 광트랜시버에 적용될 수 있도록 소형 및 저가격인 파장 선택 광수신기를 제공함에 있다.

또한, 본 발명이 해결하고자 하는 다른 과제는 환경 온도 변화 및 수신 광신호의 파장 변화에도 안정적인 광신호 수신이 가능한 파장 선택 광수신기를 제공함에 있다.

상기와 같은 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명 파장 선택 광수신기는, 상호 직렬 배치된 액정 에탈론과 고체 에탈론과, 상기 액정 에탈론과 고체 에탈론을 통해 필터링된 광신호에 따른 전류신호를 출력하는 광검출기와, 상기 광검출기를 통해 검출된 광의 세기에 따른 제어를 수행하는 제어기와, 상기 제어기의 제어에 따라 상기 액정 에탈론에 공급되는 전압을 조정하여, 상기 액정 에탈론의 통과대역 피크와 상기 고체 에탈론의 통과대역 피크가 일치되도록 조정하는 전압 구동기를 포함할 수 있다.

본 발명의 실시예에서, 상기 제어기는, 탭필터에서 분할된 광의 파장을 추출하는 파장정보 추출기로부터 파장정보를 수신하고, 기저장된 채널정보와 비교하여 수신된 광의 세기를 검출할 수 있다.

본 발명의 실시예에서, 상기 제어기는, 상기 광검출기의 전류신호를 궤환받아 수신된 광의 세기를 검출할 수 있다.

본 발명의 실시예에서, 상기 제어기의 제어에 따라 출력광의 파장을 가변하는 파장가변 광송신기와, 상기 파장가변 광송신기의 출력광 또는 외부광을 상기 액정 에탈론에 제공하는 광스위치를 더 포함할 수 있다.

본 발명의 실시예에서, 상기 제어기는, 상기 파장가변 광송신기를 목표 수신광 채널로 설정하여 출력광의 파장을 조정하고, 수신된 광의 세기를 확인하여 광의 세기가 최대인 것으로 확인되면, 상기 광스위치를 제어하여 외부 광이 액정 에탈론에 입력되도록 할 수 있다.

본 발명은 수신 광파장 가변 범위가 전형적인 광통신이 추구하는 C-band 전체를 포함하며, ITU-T가 정한 고밀도파장다중 채널간격을 장시간에 걸쳐 안정적으로 유지 가능하며, 크기를 소형화하고, 가격을 낮출 수 있는 효과가 있다.

도 1 내지 도 3은 각각 종래 기술의 예시도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 파장 선택 광수신기의 블록 구성도이다.
도 5는 본 발명 광수신기의 예시적인 파라미터들을 이용한 계산 결과그래프이다.
도 6은 수학식 1에서 사용된 파라미터의 정의 표이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 광수신기의 블록 구성도이다.

본 발명의 구성 및 효과를 충분히 이해하기 위하여, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 설명한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라, 여러가지 형태로 구현될 수 있고 다양한 변경을 가할 수 있다. 단지, 본 실시예에 대한 설명은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위하여 제공되는 것이다. 첨부된 도면에서 구성요소는 설명의 편의를 위하여 그 크기를 실제보다 확대하여 도시한 것이며, 각 구성요소의 비율은 과장되거나 축소될 수 있다.

'제1', '제2' 등의 용어는 다양한 구성요소를 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소는 위 용어에 의해 한정되어서는 안 된다. 위 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명의 권리범위를 벗어나지 않으면서 '제1구성요소'는 '제2구성요소'로 명명될 수 있고, 유사하게 '제2구성요소'도 '제1구성요소'로 명명될 수 있다. 또한, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 표현하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 발명의 실시예에서 사용되는 용어는 다르게 정의되지 않는 한, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 통상적으로 알려진 의미로 해석될 수 있다.

이하에서는, 도면을 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 파장 선택 광수신기에 대하여 상세히 설명한다.

도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 파장 선택 광수신기의 블록 구성도이다.

도 4를 참조하면 본 발명은 입력되는 하나 또는 둘 이상의 입력광신호중 특정 파장의 광신호를 통과시키는 액정 에탈론(10)과, 국제표준기구(ITU-T)가 정한 고밀도 파장다중에 일치하도록 채널 파장 기준을 정하는 고체 에탈론(20)과, 광신호 전력을 분할하는 탭필터(30)와, 상기 탭필터(30)에서 분할된 광의 일부를 수신하여 신호를 검출하는 광검출기(40)와, 상기 탭필터(30)에서 분할된 광의 일부를 수신하여 파장 정보를 검출하는 파장정보 추출기(50)와, 상기 파장정보 추출기(50)에서 추출된 파장 정보를 확인하여 채널을 판별하는 제어기(60)와, 상기 제어기(60)의 제어에 따라 상기 액정 에탈론(10)에 공급되는 전압을 가변하는 전압 구동기(70)를 포함한다.

이하, 상기와 같이 구성되는 본 발명 파장 선택 광수신기의 구성과 작용에 대하여 보다 구체적으로 설명한다.

먼저, 본 발명의 광수신기에 도달한 하나 또는 둘 이상의 입력광신호는 임의의 편광상태인 것으로 한다.

상기 입력광신호는 액정 에탈론(10)의 편광의존성 여부에 따라 직접 또는 편광제어기(도면 미도시)에서 편광되어 입력되거나, 직접 입력되는 것으로 한다.

편광의존성이 없는 액정 에탈론(10)을 사용하는 경우 입력광신호가 직접 입력되며, 편광의존성이 있는 액정 에탈론(10)을 사용하는 경우 편광제어기를 통해 액정 에탈론(10)의 평광 특성에 맞게 조정된 후 액정 에탈론(10)에 입력된다.

액정 에탈론(10)의 FSR(Free Spectral Range)는 파장가변범위(0.8nm 채널 간격의 40 채널 파장가변인 경우 약 35 nm) 보다 커야 하며, 환경온도 변화 및 액정에탈론 중심파장 변화 등을 고려하여 충분히 크게 설계된 것으로 한다.

따라서 파장가변 범위 내에서는 단일 통과대역을 갖게 된다.

즉, 복수의 입력광신호는 액정 에탈론(10)의 통과대역과 일치하는 파장만 통과되므로 액정 에탈론(10) 출력은 단일 광파장의 광신호가 된다.

액정 에탈론(10)의 단일 광파장 광신호 출력은 고체 에탈론(20)에 수신된다.

고체 에탈론(20)은 본 발명의 광수신장치의 채널들이 국제표준기구인 ITU-T가 정하는 고밀도 다중 파장들에게 일치하도록 채널 파장 기준을 정해주는 역할을 한다.

본 발명의 실시예로서 채널들이 표준파장 범위에서 0.8nm의 간격으로 배열되도록 할 수 있다.

고체 에탈론(20)은 특정 파장의 광을 필터링하는 필터이며, 필터링된 파장의 광의 주파수 간격을 결정할 수 있다.

상기 고체 에탈론(20)을 통과한 광신호는 탭필터(30)에 수신되며, 탭필터(30)에서 분배 및 경로가 변경된다.

구체적으로 탭필터(30)는 고체 에탈론(20)을 통과한 특정 파장의 광신호를 90:10의 비율로 분할 및 분배하고, 90%는 광검출기(40)로 보내고, 10%는 파장정보 추출기(50)로 보내는 것으로 한다. 이때 전력의 분배는 파장정보 추출기(50)의 성능 및 수신 광신호 전력에 따라 조절 가능한 것으로 한다.

광검출기(40)는 수신된 광신호에 해당하는 전류 신호를 출력한다.

또한, 상기 파장정보 추출기(50)는 입력된 광신호의 파장에 관한 정보를 제공하며, 구체적으로 선형필터와 복수의 광검출기를 포함하는 것으로 할 수 있다.

이때의 파장 정보는 채널 판단의 기준이 된다.

상기 파장정보 추출기(50)에서 추출된 파장 정보는 제어기(60)로 제공되며, 제어기(60)는 저장된 채널 데이터와 비교하여 현재 수신된 광신호의 채널을 판단한다.

상기 제어기(60)는 MCU일 수 있으며, 파장정보 추출기(50)에서 추출된 파장정보 신호를 입력받아서 내장된 메모리에 저장된 채널 관련 데이터와 비교하여 광신호의 채널을 판단한다.

또한, 판단된 채널정보에 따라 액정 에탈론(10)의 통과대역을 조절하는 제어신호를 출력한다.

이때 제어신호는 액정 에탈론(10)을 통해 통과되는 광신호의 전력이 최대가 되도록 하거나, 해당 광신호가 통과하지 못하게 차단하는 신호일 수 있으며, 전압 제어 신호인 것으로 한다.

상기 제어기(60)의 제어신호는 전압 구동기(70)에 입력되어, 액정 에탈론(10)에 공급되는 전압을 제어하도록 할 수 있다.

전압 구동기(70)는 제어기(60)의 제어신호에 따라 액정 에탈론(10)의 구동전압을 제어하며, 따라서 원하는 파장의 광신호를 선택하여 수신할 수 있게 된다.

도 5는 본 발명 광수신기의 예시적인 파라미터들을 이용한 계산 결과그래프이다.

액정 에탈론(10) 및 고체 에탈론(20)의 FSR, 투과특성, 그리고 FWHM (Full Width Half Maximum) 대역폭(또는 3dB 대역폭)은 아래와 같은 수학식 1로 표현될 수 있다.

도 6은 수학식 1에서 사용된 파라미터의 정의 표이며, 파라미터 값을 수학식 1에 대입하여 산출한 결과 그래프를 도 5에 도시하였다.

도 5의 (a)는 액정 에탈론(10) 통과대역 피크(11)가 고체 에탈론(20)의 통과대역 피크(21)와 일치하는 경우의 예시도이다.

도 5의 (a)와 같이 액정 에탈론(10)과 고체 에탈론(20)의 통과 대역(12)이 중첩된다.

이처럼 액정 에탈론(10)과 고체 에탈론(20)의 통과 대역(12)이 일치할 경우, 수신 광파워는 최대가 되므로, 실시간으로 수신 광파워를 모니터링 하고 최대치를 찾음으로써 통과대역 일치를 유지할 수 있다.

즉, 도 5의 (a)의 상태에서 탭필터(30)를 통해 분할된 광신호를 수신한 파장정보 추출기(50)의 파장정보를 수신한 제어기(60)는 현재 상태를 유지하는 제어신호를 출력하여, 전압 구동기(70)의 출력전압을 유지하게 된다.

한편, 액정 에탈론(10)과 고체 에탈론(20)과 같은 수신 필터들은 인접 통과대역과 충분히 분리(isolation)가 되어야 하며, 1E-15 BER을 얻기 위해서는 시뮬레이션 결과와 같이 18dB 분리(22)가 요구된다.

도 5의 (b)와 같이 액정 에탈론(10)의 통과대역 피크(11)가 고체 에탈론(20)의 통과대역 최저점에 일치하는 경우를 나타낸다.

액정 에탈론(10) 통과대역 피크(11)가 고체 에탈론(20)의 통과대역 최저점(23)과 일치할 경우, 액정 에탈론(10)의 통과대역과 고체 에탈론(20)의 통과대역(12) 중첩 결과는 피크가 현저하게 낮아진다.

또한, 이 경우 인접채널 광수신 신호의 크기는 12 dB(24)로 낮아지게 된다.

따라서, 수신 광파워가 일정 크기 이하이면(예를 들어 10 Gbps 신호 경우 -12dBm 이하), 통과한 광신호는 광검출기(40)의 수신감도 이하가 되므로 광검출이 이루어지지 않는다.

이와 같은 상태에서 탭필터(30)의 분할 광신호를 입력받은 파장정보 추출기(50)의 파장정보를 수신한 제어기(60)는 현재 수신된 광신호의 채널 정보를 확인하고, 채널 정보를 변경하는 제어신호를 출력한다.

따라서 전압 구동기(70)는 출력 전압을 제어신호에 따라 가변하면서 액정 에탈론(10)의 통과대역을 조절하여, 도 5의 (a)와 같이 액정 에탈론(10)과 고체 에탈론(20)의 통과대역 피크가 일치할 때까지 제어를 수행하게 된다.

도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 광수신기의 블록 구성도이다.

도 7을 참고하면 본 발명의 다른 실시예에 따른 광수신기는, 입력 광신호를 편광시키는 편광제어기(71)와, 편광제어기(71)에서 편광된 광신호를 액정 에탈론(73)으로 입력하기 위한 제1광스위치(72)와, 액정 에탈론(73)을 통과한 광신호를 수신하여 고밀도 파장다중에 일치하도록 채널 파장 기준을 정하는 고체 에탈론(74)과, 상기 고체 에탈론(74)을 통과한 광신호를 전류신호로 변환하는 광검출기(75)와, 상기 전류신호의 전류값을 검출하여 채널을 판별하고, 판별 결과에 따라 제어신호를 출력하는 제어기(76)와, 상기 제어기(76)의 제어신호에 따라 액정 에탈론(73)에 공급되는 전압을 제어하는 전압 구동기(77)와, 상기 제어기(76)의 제어에 따라 광신호의 파장을 변경하여 송신하는 파장가변 광송신기(78)와, 초기 상태에서 상기 파장가변 광송신기(78)의 출력광을 제1광스위치(72)에 제공하여 액정 에탈론(10)에 수신되도록 하거나, 파장가변 광송신기(78)의 출력광을 외부로 출력하는 제2광스위치(79)를 포함하여 구성될 수 있다.

이하, 상기와 같이 구성되는 본 발명의 다른 실시예에 따른 광수신기의 구성과 작용에 대하여 보다 상세히 설명한다.

먼저, 액정 에탈론(73)의 초기 통과대역 채널 결정을 위하여, 제어기(76)는 파장가변 광송신기(78)를 제어하여 목표 채널로 설정한다. 파장가변 광송신기(78)의 출력광은 제2광스위치(79)와 제1광스위치(72)가 각각 크로스 상태가 됨에 따라 제2광스위치(79)와 제1광스위치(72)를 통해 액정 에탈론(73)에 수신된다.

상기 제1광스위치(72)는 2x1 스위치이고, 제2광스위치(79)는 1x2 스위치로서, 제1광스위치(72)의 일측 입력과 제2광스위치(79)의 일측 출력이 상호 연결되는 크로스 상태로 동작할 수 있다.

파장가변 광송신기(78)의 목표 채널의 광신호는 액정 에탈론(73)과 고체 에탈론(74)을 순차 통과하고, 광검출기(75)에 입력된다.

광검출기(75)는 수신된 광의 세기에 비례하는 전류를 출력한다.

이때, 전류의 일부는 제어기(76)에 입력되고, 제어기(76)는 전류가 최대치가 되도록 채널을 변경하는 제어를 수행한다.

제어기(76)의 제어에 따라 전압 구동기(77)는 액정 에탈론(73)에 공급되는 전압을 제어한다. 제어기(76)로 궤환된 전류가 최대치인 것으로 판단되면, 제어기(76)는 목표 수신광 채널의 세팅이 종료된 것으로 판단하고, 제1광스위치(72)와 제2광스위치(79)의 크로스 상태를 해제(Bar 상태로 전환)한다.

이후에는 외부의 입력 광신호가 편광제어기(71), 제1광스위치(72)를 통해 액정 에탈론(73)에 수신되며, 제2광스위치(79)를 통해 파장가변 광송신기(78)의 광신호를 송신할 수 있게 된다.

이때 역시 제어기(76)는 광검출기(75)에 수신된 외부 광신호의 전류변환값을 확인하여 전류의 크기가 최대가 되도록 전압 구동기(77)를 제어하여 액정 에탈론(73)에 공급되는 전압을 조정하여, 액정 에탈론(73)과 고체 에탈론(74)의 통과대역 피크를 일치시키는 제어를 수행한다.

이상에서 본 발명에 따른 실시예들이 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상적 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 범위의 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 다음의 청구범위에 의해서 정해져야 할 것이다.

10:액정 에탈론 20:고체 에탈론
30:탭필터 40:광검출기
50:파장정보 추출기 60:제어기
70:전압 구동기

Claims (5)

1. 상호 직렬 배치된 액정 에탈론과 고체 에탈론;
   상기 액정 에탈론과 고체 에탈론을 통해 필터링된 광신호에 따른 전류신호를 출력하는 광검출기;
   상기 광검출기를 통해 검출된 광의 세기에 따른 제어를 수행하는 제어기;
   상기 제어기의 제어에 따라 상기 액정 에탈론에 공급되는 전압을 조정하여, 상기 액정 에탈론의 통과대역 피크와 상기 고체 에탈론의 통과대역 피크가 일치되도록 조정하는 전압 구동기;
   상기 제어기의 제어에 따라 출력광의 파장을 가변하는 파장가변 광송신기; 및
   상기 파장가변 광송신기의 출력광 또는 외부광을 상기 액정 에탈론에 제공하는 광스위치를 포함하는 광수신기.
2. 제1항에 있어서,
   상기 제어기는,
   탭필터에서 분할된 광의 파장을 추출하는 파장정보 추출기로부터 파장정보를 수신하고,
   기저장된 채널정보와 비교하여 수신된 광의 세기를 검출하는 것을 특징으로 하는 광수신기.
3. 제1항에 있어서,
   상기 제어기는,
   상기 광검출기의 전류신호를 궤환받아 수신된 광의 세기를 검출하는 것을 특징으로 하는 광수신기.
4. 삭제
5. 제1항에 있어서,
   상기 제어기는,
   상기 파장가변 광송신기를 목표 수신광 채널로 설정하여 출력광의 파장을 조정하고,
   수신된 광의 세기를 확인하여 광의 세기가 최대인 것으로 확인되면,
   상기 광스위치를 제어하여 외부 광이 액정 에탈론에 입력되도록 하는 것을 특징으로 하는 광수신기.

Images