KR102557283B1 - 성능 저하를 감지하는 엑스선 영상 촬영 장치 및 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 엑스선 영상 촬영 장치의 엑스선 소스 및 디텍터의 성능 저하를 감지하는 엑스선 영상 촬영 장치 및 방법에 관한 것이다.
이를 위하여 본 발명의 장치는, 엑스선을 각각 순차적으로 조사하는 다수개의 엑스선 소스, 상기 각각의 엑스선에 대응하는 전기신호를 생성하는 단위 픽셀 센서를 제공하는 엑스선 디텍터 및 상기 전기신호 값과 사전에 정해진 성능저하 기준 값을 각각 비교하여 엑스선 소스 또는 엑스선 디텍터의 성능저하를 판정하는 성능 진단 디바이스를 포함한다.

Description

성능 저하를 감지하는 엑스선 영상 촬영 장치 및 방법{X-RAY IMAGE APPARATUS AND METHOD FOR SENSING PERFORMANCE DEGRADATION THEREOF}

본 발명은 엑스선 영상 촬영 장치의 엑스선 소스 및 엑스선 디텍터의 성능 저하를 감지하는 엑스선 영상 촬영 장치 및 방법에 관한 것이다.

도 1은 종래 기술의 엑스선 영상 촬영 장치로서, 맘모그래피를 도시한 도면이다.

도 1에 도시된 바와 같이, 엑스선 영상 촬영 장치(1)는 본체(2), 본체(2)를 따라 승강 및 회전 가능한 겐트리(3), 겐트리(3)의 일측에 장착되어 엑스선을 조사하는 엑스선 발생부(4), 겐트리(3)의 타측에 장착되어 엑스선을 수광하는 엑스선 디텍터(7), 엑스선 발생부(4)와 엑스선 디텍터(7) 사이에서 피검체를 가압하는 가압 패널(5)을 포함하며, 바람직하게는 가압 패널(5)과 엑스선 디텍터(7) 사이에서 피검체를 지지하는 지지패널(6)를 더 포함할 수 있다.

상기와 같은 엑스선 영상 촬영 장치(1)의 엑스선 발생부(3)는 단일 엑스선 소스로 피검체에 엑스선을 조사한다.

한편, 단일 엑스선 소스를 구비한 엑스선 영상 촬영 장치(1)는 겐트리(3)를 일정각도 범위에서 연속적(continuous)으로 회전시키거나, 단계적(discontinuous)으로 회전시키면서 엑스선 발생부(3)가 피검체에 대해 다방향의 엑스선을 조사하고 조사된 엑스선을 엑스선 디텍터(7)가 수광함으로써, 피검체에 대한 다방향의 엑스선 영상을 획득하게 된다.

한편, 겐트리(3)가 일정각도 범위에서 연속적으로 또는 단계적으로 회전함으로써, 엑스선 발생부(3) 또한 일정각도 범위에서 연속적으로 또는 단계적으로 회전하게 되는데, 엑스선 발생부(3)가 연속적으로 회전하면서 촬영하는 컨티뉴어스-샷(continuous-shoot) 방식은 획득되는 엑스선 영상의 경계가 불분명하게 나타나는 모션 블러(motion blur) 현상이 발생하여 영상 품질이 저하되는 문제가 있고, 엑스선 발생부(3)가 단계적으로 회전하면서 촬영하는 스톱-앤드-샷(stop-and-shoot) 방식은 소정의 각도 간격(angular interval)마다 완전히 멈춘 상태에서 엑스선 촬영을 진행하고 이동해야 하기 때문에 전체 촬영 시간이 길어지고, 진동과 소음이 발생하는 문제가 있다.

이러한 문제를 해결하고자, 최근에 복수의 엑스선 소스를 구비하는 엑스선 영상 촬영 장치가 개발되었다.

도 2는 통상적인 복수의 엑스선 소스를 구비하는 엑스선 영상 촬영 장치를 도시한 도면이다.

도 2를 참조하면, 엑스선 영상 촬영 장치(100)는, 수직 기둥 형상의 지지 칼럼(111)과, 지지 칼럼(111)을 따라 상하 방향으로 승강 가능하게 설치된 본체(110)를 포함하고, 본체(110)의 상단부에는 피검체에 대해 일정각도 범위에서 엑스선을 각각 조사하는 복수의 엑스선 소스가 배치된 엑스선 발생부(120)가 설치되고, 본체(110)의 하단부에는 엑스선 발생부(120)와 서로 마주보며 엑스선 발생부(120)가 조사하는 엑스선을 수광하는 엑스선 디텍터(130)가 설치된다.

이 엑스선 영상 촬영 장치(100)는, 엑스선 발생부(120)의 복수의 엑스선 소스가 각각 사전 결정된 위치에서 엑스선을 조사하고 엑스선 디텍터(130)가 엑스선을 각각 수광하여 피검체에 대한 다방향의 엑스선 영상을 획득할 수 있다. 따라서 엑스선 발생부(120)의 물리적 이동을 배제할 수 있으므로 엑스선 발생부의 연속적 또는 단계적 회전에 의한 종래 기술의 문제가 해소되었다.

그러나, 복수의 엑스선 소스를 구비하는 엑스선 영상 촬영 장치(100)는, 엑스선 소스들 각자의 성능 저하 시점이 서로 달라, 즉 엑스선 소스마다 수명이 달라, 적절한 시기에 엑스선 소스를 교체하는데 어려움을 겪고 있다.

따라서, 본 발명은 엑스선 소스 및 엑스선 디텍터의 성능 저하를 감지하는 엑스선 영상 촬영 장치 및 방법을 제공하고자 한다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 장치는, 엑스선을 각각 순차적으로 조사하는 다수개의 엑스선 소스, 상기 각각의 엑스선에 대응하는 전기신호를 생성하는 단위 픽셀 센서를 제공하는 엑스선 디텍터 및 상기 전기신호 값과 사전에 정해진 성능저하 기준 값을 각각 비교하여 엑스선 소스 또는 엑스선 디텍터의 성능저하를 판정하는 성능 진단 디바이스를 포함한다.

한편, 상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 방법은, (a) 다수개의 엑스선 소스가 엑스선을 각각 순차적으로 조사하는 단계, (b) 엑스선 디텍터의 단위 픽셀 센서가 상기 각각의 엑스선에 대응하는 전기신호를 순차적으로 생성하는 단계 및 (c) 상기 전기신호 값과 사전에 정해진 성능저하 기준 값을 비교하여 상기 엑스선 소스 또는 상기 엑스선 디텍터의 성능저하를 판정하는 단계를 포함한다.

또한, 본 발명은 엑스선 영상 촬영 장치의 성능저하 감지 방법을 실현시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체를 제공한다.

따라서, 본 발명은 엑스선 소스 및 엑스선 디텍터의 성능 저하 시점을 정확히 감지할 수 있게 되어, 사용자가 적절한 시기에 엑스선 소스 및 엑스선 디텍터를 교체할 수 있다.

도 1은 종래 기술에 따른 하나의 엑스선 소스를 구비한 엑스선 영상 촬영 장치를 도시한 도면,
도 2는 통상적인 다수의 엑스선 소스를 구비한 엑스선 영상 촬영 장치를 도시한 도면,
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 엑스선 영상 촬영 장치를 도시한 도면,
도 4는 단위 픽셀 센서들의 배치도,
도 5는 성능 진단 디바이스의 구성도,
도 6은 성능 진단 디바이스의 일반 감지모드와 특별 감지모드를 도시한 도면,
도 7은 S200 단계를 구체적으로 도시한 도면,
도 8은 단위 픽셀 센서들 중 기준 단위 픽셀 센서들의 위치를 나타내는 도면,
도 9는 S600 단계를 구체적으로 도시한 도면, 및
도 10은 S700 단계를 구체적으로 도시한 도면이다.

상술한 목적, 특징 및 장점은 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 후술되어 있는 상세한 설명을 통하여 보다 명확해 질 것이며, 그에 따라 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 것이다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서 본 발명과 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에 그 상세한 설명을 생략하기로 한다.

그리고 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 또는 "구비"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함하거나 구비할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서 전체의 기재에 있어서 일부 구성요소들을 단수형으로 기재하였다고 해서, 본 발명이 그에 국한되는 것은 아니며, 해당 구성요소가 복수 개로 이루어질 수 있음을 알 것이다.

도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 엑스선 영상 촬영 장치를 도시한 도면이다.

도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시 예에 따른 엑스선 영상 촬영 장치는, 엑스선을 각각 조사하는 다수의 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)가 구비된 엑스선 발생부(120), 이들로부터 조사된 엑스선을 각각 수광하고 수광한 엑스선의 세기에 대응하는 전기신호로 변환하는 엑스선 디텍터(130), 엑스선 디텍터(130)로부터 전기신호를 수신하고, 전기신호의 값과 성능 저하 기준 값을 비교하여 엑스선 영상 촬영 장치의 이상을 판정하는 성능 진단 디바이스(150) 및 이들을 제어하는 제어부(140)를 구비한다.

도 3에 도시된 바와 같이, 엑스선 발생부(120)는 엑스선 디텍터(130)를 중심으로 일정각도 범위를 커버하고, 엑스선 발생부(120)에는 적어도 일 열로 복수의 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)가 장착된다. 이때, 바람직하게는 각각의 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)는 엑스선 발생부(120)에 탈부착 가능하게 장착될 수 있다. 그리고 엑스선 발생부(120)의 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)는 일정규칙에 따라 각각 엑스선을 순차적으로 조사하고, 바람직하게는 고유번호를 각각 보유한다. 아래에서는 편의상 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)가 어느 한쪽에서부터 다른 한쪽으로 순차적으로 엑스선을 조사하는 것으로 가정한다.

엑스선 디텍터(130)는 엑스선 센서를 포함한다. 엑스선 디텍터(130)는 일정 면적을 갖는 면형 센서로서 엑스선 센서를 구성하는 각각의 단위 픽셀 센서들이 이차원적으로 배열된 형태, 즉, 단위 픽셀 센서들이 복수 행과 복수 열로 매트릭스(matrix)를 이루고 있는 형태이다.

도 4는 단위 픽셀 센서들의 배치를 개략적으로 도시한 도면이다.

도 4에 도시된 바와 같이, 각각의 단위 픽셀 센서들(131-1 내지 131-i)은 복수 행과 복수 열로 매트릭스(matrix)를 이루고 있다. 각각의 단위 픽셀 센서들(131-1 내지 131-i)은 엑스선을 각각 감지하고 감지한 엑스선의 세기에 대응하는 전기신호로 각각 변환하며, 바람직하게는 고유번호를 각각 보유한다.

도 5는 성능 진단 디바이스(150)를 도시한 도면이다.

도 5에 도시된 바와 같이, 성능 진단 디바이스(150)는 엑스선 디텍터(130)의 단위픽셀 센서들(131-1 내지 131-i) 일부 또는 전부로부터 변환된 전기신호와 성능 저하 기준 값을 비교하는 비교부(160), 비교부(160)의 비교 결과에 따라 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하를 판정하는 성능 저하 판정부(170) 및 판정 결과에 따라 사용자에게 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하를 알리는 알림부(180)를 포함한다.

이하에서는 도 3 내지 5를 참조하여 본원발명에 따른 엑스선 영상 촬영 장치의 작용을 상세하게 설명하겠다.

먼저, 비교부(160)는 엑스선 디텍터(130)의 단위픽셀 센서들(131-1 내지 131-i)로부터 변환된 전기신호의 값을 성능 저하 기준 값과 비교하고, 전기신호의 값이 성능 저하 기준 값보다 작은 경우, 해당 전기신호에 대응하는 엑스선을 조사하는 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)의 고유번호 및 단위 픽셀 센서들(131-1 내지 131-i)의 고유번호를 메모리(도시되지 않음)에 저장할 수 있다. 한편, 성능 저하 기준 값은 엑스선 센서(120) 및/또는 엑스선 디텍터(130)의 성능 저하를 판정할 수 있는 임의의 엑스선의 세기에 대응하는 전기신호의 값이다. 예를 들어, 각 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)마다 1mAs의 엑스선을 조사한 경우, 그 엑스선의 대략 95% 이하, 예를 들어, 0.95mAs의 엑스선의 세기에 대응하는 전기신호의 값이 성능 저하 기준 값으로 설정될 수 있다. 또한, 각각의 고유 번호는 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n) 및 단위 픽셀 센서들(131-1 내지 131-i)을 식별하기 위해 사전 설정된 번호이다.

성능 저하 판정부(170)는, 비교부(160)의 비교 결과에 따라 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하를 판정한다. 성능 저하 판정부(170)의 구체적인 판정 과정은 이하에서 도면을 참조하여 설명하도록 한다.

알림부(180)는, 디스플레이 장치 및/또는 스피커 장치를 구비하며, 엑스선 영상 촬영 장치의 성능에 이상이 발생한 경우(즉, 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하가 판정된 경우), 알림 문구 또는 컬러광(예컨대, 적색광)을 디스플레이 장치에 표시하거나/하고 알림 소리를 스피커 장치를 통해 방송할 수 있다. 그에 따라, 사용자는 알림부(180)의 알림을 통해 엑스선 영상 촬영 장치의 이상을 감지할 수 있다.

이하에서는, 도면을 참조하여, 성능 진단 디바이스(150)의 일반 감지모드와 특별 감지모드를 설명하도록 한다. 여기서, 일반 감지모드는 피검체에 대한 엑스선 영상을 획득하는 일반적인 엑스선 영상 촬영과 함께 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하를 개략적으로 감지하는 예비 모드이며, 특별 감지모드는 엑스선 영상 촬영 장치가 성능 저하 상태로 판정된 경우, 피검체 없이 엑스선 영상 촬영을 진행하여 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하를 정밀하게 감지하는 정밀 모드이다.

도 6은 성능 진단 디바이스(150)의 일반 감지모드와 특별 감지모드를 도시한 도면이다.

도 6에 도시된 바와 같이, 피검체에 대한 엑스선 영상 촬영 시 성능 진단 디바이스(150)는 S100 단계의 일반 감지모드를 개시한다. 그 다음 S200 단계에서 성능 진단 디바이스(150)는 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하를 개략적으로 감지한다.

도 7은 S200 단계를 구체적으로 도시한 도면이다.

도 7에 도시된 바와 같이, S210 단계에서, 제어부(140)의 제어 하에, 엑스선 발생부(120)의 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n) 중 일례로 첫 번째의 엑스선 소스가 엑스선 디텍터(130)를 향해 엑스선을 조사한다.

그 다음, S220 단계에서, 제어부(140)의 제어 하에, 엑스선 디텍터(130)의 단위 픽셀 센서(131-1 내지 131-i)는 조사된 엑스선을 수광하고, 수광한 엑스선의 세기에 대응하는 전기신호(예컨대, 전압)로 변환한다.

그 다음, S230 단계에서, 비교부(160)는 단위 픽셀 센서(131-1 내지 131-i) 중 기준 단위 픽셀 센서(132-1 내지 132-6)(도 8에 도시됨)가 수광한 엑스선의 세기에 대응하는 전기신호의 값과 성능 저하 기준 값을 비교한다.

바람직하게, 기준 단위 픽셀 센서(132-1 내지 132-6)는 피검체가 위치하지 않을 것으로 예상되는 엑스선 디텍터(130) 상의 단위 픽셀 센서가 선택된다. 예를 들어, 도 8에 도시된 바와 같이, 피검체가 피검자의 유방이면 엑스선 디텍터(130)의 모서리 부분에는 피검체가 위치하지 않을 것이므로, 그 지점의 단위 픽셀 센서들이 기준 단위 픽셀 센서들(132-1 내지 132-6)로서 사전 설정될 수 있고, 기준 단위 픽셀 센서들(132-1 내지 132-6)의 수량은 크게 제한이 없다.

S230 단계에서의 비교 결과 기준 단위 픽셀 센서가 변환한 전기신호가 사전 설정된 성능 저하 기준 값 이하이면("예" 판정), S240 단계로 진행한다. 그러나 S230 단계에서의 비교 결과 기준 단위 픽셀 센서가 변환한 전기신호가 사전 설정된 성능 저하 기준 값을 초과하면("아니오" 판정), S250 단계로 진행한다. 이때, 바람직하게는 기준 단위 픽셀 센서가 변환한 전기신호는 사전 설정된 성능 저하 기준 값과 일대일 비교될 수 있다.

S240 단계에서, 비교부(160)는 해당 전기신호에 대응하는 엑스선을 조사한 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)의 고유 번호 및 단위 픽셀 센서들(131-1 내지 131-i)의 고유번호를 제어부(140)에 또는 별도로 마련된 메모리(도시되지 않음)에 저장한다.

그 다음, S250 단계에서, 제어부(140)는 최근에 엑스선을 조사한 엑스선 소스가 마지막 번째의 엑스선 소스인지를 판정한다.

S250 단계에서의 판정 결과 마지막 번째의 엑스선 소스이면("예" 판정), S300 단계로 진행하며, 마지막 번째의 엑스선 소스가 아니면("아니오" 판정), S260 단계로 진행한다.

한편, S260 단계에서, 제어부(140)는 최근에 엑스선을 조사한 엑스선 소스의 다음 번째의 엑스선 소스가 엑스선 디텍터(130)를 향해 엑스선을 조사하도록 제어한다.

다시 도 6에서, S300 단계에서, 성능 저하 판정부(170)는, S230 및 S240 단계에서의 결과를 이용하여, 엑스선 영상 촬영 장치의 상태를 판정한다. 예를 들어, 성능 저하 기준 값보다 작은 전기신호가 존재하는 경우, 성능 저하 판정부(170)는 엑스선 영상 촬영 장치를 예비 성능 저하 상태로 판정한다.

S300 단계에서의 판정 결과 엑스선 영상 촬영 장치의 상태가 예비 성능 저하 상태이면("예" 판정) S400 단계로 진행하며, 엑스선 영상 촬영 장치의 예비 상태가 성능 저하 상태가 아니면("아니오" 판정) S100 단계로 진행한다.

그 다음, S400 단계에서, 알림부(180)는 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하 상태를 사용자에게 알리는 제1 알림을 발생한다. 예를 들어, 제1 알림은 알림 문구 또는 컬러광(예컨대, 적색광)을 디스플레이 장치에 표시하거나/하고 알림 소리를 스피커 장치를 통해 방송하는 것으로 이루어질 수 있다.

그 다음, S500 단계에서 성능 진단 디바이스(150)는 일반 감지모드를 종료하고, 별도로 피검체가 없는 상태로 별도의 특별 감지모드를 개시한다. 이때, 특별 감지모드는 사용자의 별도 지시에 의해 개시될 수 있다.

그 다음, S600 단계에서, 성능 진단 디바이스(150)는 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하를 정밀하게 감지한다.

도 9는 S600 단계를 구체적으로 도시한 도면이다.

도 9에 도시된 바와 같이, S610 단계에서, 제어부(140)의 제어 하에, 엑스선 발생부(120)의 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n) 중 첫 번째의 엑스선 소스가 엑스선 디텍터(130)를 향해 엑스선을 조사한다.

그 다음, S620 단계에서, 제어부(140)의 제어 하에, 엑스선 디텍터(130)의 단위 픽셀 센서(131-1 내지 131-i)는 조사된 엑스선을 수광하고, 수광한 엑스선의 세기에 대응하는 전기신호(예컨대, 전압)로 변환한다.

그 다음, S630 단계에서, 비교부(160)는 단위 픽셀 센서(131-1 내지 131-i)가 수광한 엑스선의 세기에 대응하는 전기신호의 값과 성능 저하 기준 값을 비교한다. 여기에서, 일반 감지모드에 이용된 성능 저하 기준 값과 특별 감지 모드에 이용된 성능 저하 기준 값은 동일하거나 다르게 설정될 수 있다.

S630 단계에서의 비교 결과, 단위 픽셀 센서가 변환한 전기신호가 사전 설정된 성능 저하 기준 값 이하이면("예" 판정), S640 단계로 진행한다. 그러나 S630 단계에서의 비교 결과, 단위 픽셀 센서가 변환한 전기신호가 사전 설정된 성능 저하 기준 값을 초과하면("아니오" 판정), S650 단계로 진행한다.

S640 단계에서, 비교부(160)는 해당 전기신호에 대응하는 엑스선을 조사한 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)의 고유 번호 및 단위 픽셀 센서들(131-1 내지 131-i)의 고유번호를 메모리(도시되지 않음)에 저장한다.

그 다음, S650 단계에서, 제어부(140)는 최근에 엑스선을 조사한 엑스선 소스가 마지막 번째의 엑스선 소스인지를 판정한다.

S650 단계에서의 판정 결과 마지막 번째의 엑스선 소스이면("예" 판정), S700 단계로 진행하며, 마지막 번째의 엑스선 소스가 아니면("아니오" 판정), S660 단계로 진행한다.

한편, S660 단계에서, 제어부(140)는 최근에 엑스선을 조사한 엑스선 소스의 다음 번째의 엑스선 소스가 엑스선 디텍터(130)를 향해 엑스선을 조사하도록 제어한다.

다시 도 6의 S700 단계에서, 성능 저하 판정부(170)는 엑스선 영상 촬영 장치가 구체적인 성능 저하 상태인지 판정한다.

도 10은 S700 단계를 상세하게 도시한 도면이다.

S710 단계에서, 성능 저하 판정부(170)는 성능저하 기준 값 이하로 판정된 전기신호의 개수, 즉 단위 픽셀의 개수가 기준 카운트 값 이하인지를 판정한다. 여기서, 기준 카운트 값은 예비 성능저하 상태인 엑스선 영상 촬영 장치가 엑스선 디텍터(130)의 성능 저하 상태인지 엑스선 센서(120)의 성능 저하 상태인지를 판정하기 위해 사전 설정된 값이다. 기준 카운트 값은 엑스선 디텍터(130)의 단위 픽셀 센서(131-1 내지 131-i)의 개수에 대응되도록 사전 설정될 수 있다. 즉, 예를 들어, 기준 카운트 값은 단위 픽셀 센서 개수의 대략 90% 또는 100%로 사전 설정될 수 있다.

S710 단계에서의 판정 결과 성능저하 기준 값 이하로 판정된 전기신호의 개수가 기준 카운트 값 이하이면("예" 판정), S720 단계로 진행하며, 성능저하 기준 값 이하로 판정된 전기신호의 개수가 기준 카운트 값을 초과하면("아니오" 판정), S740 단계로 진행한다. 한편, S740 단계에서, 성능 저하 판정부(170)는 대응하는 엑스선 소스의 상태를 성능저하 상태로 갱신하여 메모리에 저장한다. 여기서, 대응하는 엑스선 소스는 현재 판정중인 전기신호에 대응하는 엑스선을 조사한 엑스선 소스이다.

그 다음, S720 단계에서, 성능 저하 판정부(170)는 성능저하 기준 값 이하로 판정된 전기신호의 개수가 0개인지를 판정한다.

S720 단계에서의 판정 결과 성능저하 기준 값 이하로 판정된 전기신호의 개수가 0개이면("예" 판정), S800 단계로 진행하며, 성능저하 기준 값 이하로 판정된 전기신호의 개수가 0개가 아니면("아니오" 판정), S730 단계로 진행한다.

그리고, S730 단계에서, 성능 저하 판정부(170)는 엑스선 디텍터의 상태를 성능저하 상태로 갱신하여 메모리에 저장한다.

마지막으로, S800 단계에서 제어부(140)는, S600 단계에서의 판정 결과에 따라, 성능저하 상태로서 인덱스 된 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n) 및/또는 엑스선 디텍터(130)에 대한 정보를 함께 사용자에게 알리는 제2 알림(즉, 구체적인 성능 저하 알림)을 발생한다. 예를 들어, 제2 알림은 알림 문구 또는 색(예컨대, 적색)을 디스플레이 장치에 표시하거나/하고 알림 소리를 스피커 장치를 통해 방송하며, 동시에 성능저하 상태인 엑스선 디텍터(130) 및/또는 성능저하 상태의 엑스선 소스의 고유 번호를 디스플레이 장치에 표시하는 것으로 이루어질 수 있다.

한편, 전술한 바와 같은 본 발명에 따른 엑스선 영상 촬영 장치는, 엑스선 영상 촬영 장치의 엑스선 디텍터(130)가 성능 저하 상태이면, 공지의 불량 화소 정정(Bad Pixel Correction) 알고리즘을 이용하여, 성능저하 기준 값 이하로 판정된 화소들의 출력 전기신호의 세기를 보정할 수 있다.

또한, 전술한 바와 같은 본 발명에 따른 엑스선 영상 촬영 장치는, 엑스선 영상 촬영 장치 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)가 성능 저하 상태이면, 성능 저하 상태인 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)의 엑스선 영상 촬영을 배제한다.

한편, 전술한 바와 같은 본 발명에 따른 엑스선 소스 및 디텍터의 성능 저하를 감지할 수 있는 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 상기 매체는 프로그램 명령, 데이터 구조 등을 지정하는 신호를 전송하는 반송파를 포함하는 광 또는 금속선, 도파관 등의 전송 매체일 수도 있다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용하여 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기 하드웨어 장치는 본 발명의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.

이상과 같이 본 발명은 비록 한정된 실시 예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 상기의 실시 예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 치환, 변형 및 변경이 가능하다.

그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 국한되어 정해져서는 아니 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.

Claims (11)

1. 엑스선을 각각 순차적으로 조사하는 다수개의 엑스선 소스;
   상기 각각의 엑스선에 대응하는 전기신호를 생성하는 복수의 센서들을 제공하는 엑스선 디텍터; 및
   상기 전기신호 값과 사전에 정해진 성능저하 기준 값을 각각 비교하여 상기 엑스선 소스 또는 상기 엑스선 디텍터의 성능저하를 판정하는 성능 진단 디바이스를 포함하고,
   상기 성능 저하 기준 값은 상기 엑스선 소스와 상기 엑스선 디텍터 사이에 피검체가 놓여진 상태를 위한 제1 성능 저하 기준 값을 포함하고,
   상기 성능 진단 디바이스는,
   상기 복수의 센서들 중 상기 피검체가 놓이지 않은 센서의 전기신호 값과 상기 제1 성능 저하 기준 값을 비교하여, 상기 엑스선 소스 또는 상기 엑스선 디텍터의 성능 저하를 판정하는
   엑스선 영상 촬영 장치.
   
2. 제1항에 있어서,
   상기 성능 저하 기준 값은 상기 엑스선 소스와 상기 엑스선 디텍터 사이에 상기 피검체가 놓이지 않은 상태를 위한 제2 성능 저하 기준 값을 포함하고,
   상기 성능 진단 디바이스는
   상기 복수의 센서들 중 상기 피검체가 놓이지 않은 센서의 전기신호 값이 상기 제 1 성능 저하 기준값보다 낮으면, 상기 복수의 센서들 중 상기 피검체가 놓이지 않은 센서의 전기신호 값과 상기 제 2 성능 저하 기준값을 비교하여, 상기 엑스선 소스 또는 엑스선 디텍터의 성능 저하를 판정하는,
   엑스선 영상 촬영 장치.
   
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4. 제2항에 있어서,
   상기 성능 진단 디바이스는
   상기 제2 성능저하 기준 값 이하의 전기신호 값을 생성한 센서의 개수와 사전 설정된 기준 카운트 값을 비교하고,
   상기 제2 성능저하 기준 값 이하의 전기신호 값을 생성한 센서의 개수가 상기 기준 카운트 값 이하이면 상기 엑스선 디텍터가 성능 저하 상태인 것으로 판정하고, 상기 제2 성능저하 기준 값 이하의 전기신호 값을 생성한 센서의 개수가 상기 기준 카운트 값을 초과하면 상기 엑스선 소스가 성능 저하 상태인 것으로 판정하는,
   엑스선 영상 촬영 장치.
   
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