KR102547242B1 - Probe device and adjustable expandable probe device stand - Google Patents

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KR102547242B1
KR102547242B1 KR1020220187670A KR20220187670A KR102547242B1 KR 102547242 B1 KR102547242 B1 KR 102547242B1 KR 1020220187670 A KR1020220187670 A KR 1020220187670A KR 20220187670 A KR20220187670 A KR 20220187670A KR 102547242 B1 KR102547242 B1 KR 102547242B1
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황용관
손배영
박진성
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한전케이피에스 주식회사
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Abstract

본 발명은 프로브 장치 및 조절 가능한 확장식 프로브 장치 거치대에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 전기기기나 전력소자의 성능시험이나 건전성 시험시 Memory-Recorder 등의 계측기를 이용하여 전압, 전류 등의 데이터를 취득하여 설비의 이상유무 점검에 이용되는 프로브 장치 및 조절 가능한 확장식 프로브 장치 거치대에 관한 것이다.
본 발명의 일실시예에 따르면, 프로브 장치는, 계측장비의 케이블 숫단자가 접속되는 원통형상의 상부 암단자 프로브; 단자대의 개별 고정단자에 접촉되는 하부 접촉 프로브; 상기 상부 암단자 프로브와 상기 하부 접촉 프로브 사이에 개재되는 스프링; 상기 상부 암단자 프로브와 상기 하부 접촉 프로브 및 스프링이 삽입되는 외부 케이싱; 상기 외부 케이싱의 외주면에 형성된 나사산; 상기 나사산에 체결되는 프로브 고정너트;를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a probe device and an adjustable expandable probe device cradle, and more specifically, to obtain data such as voltage and current using a measuring instrument such as a Memory-Recorder during a performance test or soundness test of an electric device or power device. It relates to a probe device used to check whether or not there is an abnormality in a facility and an adjustable expandable probe device cradle.
According to one embodiment of the present invention, the probe device includes a cylindrical upper female terminal probe to which a male terminal of a cable of a measuring device is connected; a lower contact probe contacting individual fixed terminals of the terminal block; a spring interposed between the upper female terminal probe and the lower contact probe; an outer casing into which the upper female terminal probe, the lower contact probe, and a spring are inserted; a screw thread formed on an outer circumferential surface of the outer casing; It characterized in that it comprises a; probe fixing nut fastened to the screw thread.

Description

프로브 장치 및 조절 가능한 확장식 프로브 장치 거치대{Probe device and adjustable expandable probe device stand} Probe device and adjustable expandable probe device stand {Probe device and adjustable expandable probe device stand}

본 발명은 프로브 장치 및 조절 가능한 확장식 프로브 장치 거치대에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 전기기기나 전력소자의 성능시험이나 건전성 시험시 Memory-Recorder 등의 계측기를 이용하여 전압, 전류 등의 데이터를 취득하여 설비의 이상유무 점검에 이용되는 프로브 장치 및 조절 가능한 확장식 프로브 장치 거치대에 관한 것이다. The present invention relates to a probe device and an adjustable expandable probe device cradle, and more specifically, to acquire data such as voltage and current by using a measuring instrument such as a Memory-Recorder during a performance test or soundness test of an electric device or power device. It relates to a probe device used to check whether or not there is an abnormality in a facility and an adjustable expandable probe device cradle.

본 명세서에서 달리 표시되지 않는 한, 이 섹션에 설명되는 내용들은 이 출원의 청구항들에 대한 종래 기술이 아니며, 이 섹션에 포함된다고 하여 종래 기술이라고 인정되는 것은 아니다.Unless otherwise indicated herein, material described in this section is not prior art to the claims in this application, and inclusion in this section is not an admission that it is prior art.

일반적으로 Memory Recorder 등의 계측장비로 전압신호나 전류신호를 측정할 경우, 종래에는 집게형태의 악어클립 또는 후크타입 형태의 프로브(Probe)를 주로 사용한다. 이 경우에는 측정 시 단자에 정확히 연결할 수 없거나 단자간의 간격이 너무 좁아 집게형태나 후크형태의 Probe를 연결할 수 없어 단자를 풀어서 연결 또는 직접 사람이 단자와의 접촉상태를 유지하고 있어야 하는 번거로움이 있다.In general, when measuring a voltage signal or a current signal with a measuring device such as a memory recorder, a tong-type crocodile clip or a hook-type probe is usually used. In this case, it is difficult to connect the terminals accurately during measurement or the gap between the terminals is too narrow to connect the tongs or hook-type probe, so it is inconvenient to loosen the terminals and connect them or to maintain contact with the terminals directly. .

이와 관련하여, 본 출원인이 특허출원하여 기 등록받은 등록특허공보 제10-1576668호(2015.12.22. 공고)에는 블록형 프로브 장치로서 다수의 고정단자(5)가 있는 다수의 블록중공(12)부를 갖는 단자대(2)에 상기 블록형 프로브 장치의 블록몸체(11)를 억지끼움 방식으로 밀착시키는 기술이 나타나 있다. In this regard, in Patent Registration No. 10-1576668 (published on December 22, 2015), which has been previously registered by the present applicant for a patent, a plurality of block hollows (12) having a plurality of fixed terminals (5) as a block-type probe device A technique of attaching the block body 11 of the block-type probe device to the terminal block 2 having a portion by an interference fitting method is shown.

그런데 상기 발명은 다수의 블록몸체(11)를 하나하나 단자대(2)의 블록중공(12)에 끼워 넣어야 하는 번거로움의 문제점이 대두되었다. However, in the above invention, a problem of the inconvenience of having to insert a plurality of block bodies 11 into the block hollows 12 of the terminal block 2 one by one has emerged.

등록특허공보 제10-1576668호(2015.12.22. 공고)Registered Patent Publication No. 10-1576668 (Announced on December 22, 2015)

이에, 본 발명은 상기 등록특허 발명의 문제점을 개선하기 위한 것으로, 다수의 프로브 장치를 하나하나 단자대에 억지 끼움식으로 밀착시키지 않고 고정자석을 구비한 거치대와 이에 프로브 장치들을 나사 결합시키고, 상기 거치대의 고정자석이 PNL(판넬)의 철제 부재에 강한 자력에 의해 용이하게 부착 고정됨으로써, 프로브와 고정단자의 접촉 신뢰성을 높이고 측정 포인트가 많은 경우에도 거치대의 확장이 용이한 프로브 장치 및 조절 가능한 확장식 프로브 장치 거치대를 제공하는데 목적이 있다. Therefore, the present invention is to improve the problems of the registered patent invention, by screwing together a cradle having a fixed magnet and the probe devices thereto without forcing a plurality of probe devices into close contact with the terminal block one by one, and the cradle The fixed magnet of the PNL is easily attached and fixed to the steel member of the PNL (panel) by strong magnetic force, thereby increasing the contact reliability of the probe and the fixed terminal, and the probe device and adjustable expandable An object of the present invention is to provide a probe device cradle.

또한, 상술한 바와 같은 기술적 과제들로 한정되지 않으며, 이하의 설명으로부터 또 다른 기술적 과제가 도출될 수도 있음은 자명하다.In addition, it is not limited to the technical problems as described above, and it is obvious that other technical problems may be derived from the following description.

본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 장치는, 계측장비의 케이블 숫단자가 접속되는 원통형상의 상부 암단자 프로브; 단자대의 개별 고정단자에 접촉되는 하부 접촉 프로브; 상기 상부 암단자 프로브와 상기 하부 접촉 프로브 사이에 개재되는 스프링; 상기 상부 암단자 프로브와 상기 하부 접촉 프로브 및 스프링이 삽입되는 외부 케이싱; 상기 외부 케이싱의 외주면에 형성된 나사산; 상기 나사산에 체결되는 프로브 고정너트;를 포함하는 것을 특징으로 한다.A probe device according to an embodiment of the present invention includes a cylindrical upper female terminal probe to which a male terminal of a cable of a measuring device is connected; a lower contact probe contacting individual fixed terminals of the terminal block; a spring interposed between the upper female terminal probe and the lower contact probe; an outer casing into which the upper female terminal probe, the lower contact probe, and a spring are inserted; a screw thread formed on an outer circumferential surface of the outer casing; It characterized in that it comprises a; probe fixing nut fastened to the screw thread.

본 발명의 다른 실시예에 따른 조절가능한 확장식 프로브 장치 거치대는, 적층된 테이블 형상의 상부판 및 하부판; 상기 상부판 및 하부판의 모서리부에 형성되는 수직다리부; 상기 수직다리부의 하면부에 형성되는 거치대 고정자석; 상기 상부판 및 하부판에는 다수의 관통홀이 형성되어 상기 다수의 프로브 장치가 삽입 고정되는 고정부;를 포함하고 상기 상부판 및 하부판은 마찰식 또는 롤러식 슬라이드로 확장 조절 가능한 것을 특징으로 한다. An adjustable expandable probe device cradle according to another embodiment of the present invention includes a stacked table-shaped upper plate and lower plate; vertical legs formed at the corners of the upper and lower plates; Cradle fixed magnet formed on the lower surface of the vertical leg portion; A plurality of through holes are formed in the upper plate and the lower plate, and a fixing part into which the plurality of probe devices are inserted and fixed, and the upper plate and the lower plate are expandable and adjustable by friction type or roller type slides.

본 발명의 바람직한 실시예에 따른 조절가능한 확장식 프로브 장치 거치대는, 상기 상부판 및 하부판의 관통홀의 외주연에 나사산이 형성되어 상기 프로브 장치의 외부 케이싱이 체결되고, 상기 외부케이싱의 체결면 상하측으로 고정너트가 체결되는 것을 특징으로 한다. In the adjustable expandable probe device holder according to a preferred embodiment of the present invention, threads are formed on the outer circumferences of the through holes of the upper and lower plates to fasten the outer casing of the probe device, and the outer casing is connected to the upper and lower sides of the fastening surface. It is characterized in that the fixing nut is fastened.

본 발명에 의하면, 다수의 프로브 장치를 하나하나 단자대의 블록중공부에 억지 끼움식으로 밀착시켜야 하는 번거로움을 해소할 수 있고, 고정자석을 구비한 거치대와 이에 프로브 장치들을 나사 결합시켜 상기 거치대의 고정자석이 PNL(판넬)의 철제 부재에 강한 자력에 의해 용이하게 부착 고정됨으로써 프로브와 고정단자의 접촉 신뢰성을 높이고, 거치대가 가변적으로 확장됨으로써 측정 포인트가 많은 경우에도 용이하게 접촉하여 계측 점검할 수 있는 효과가 있다. According to the present invention, it is possible to solve the inconvenience of having to forcefully fit a plurality of probe devices into the block hollow portion of the terminal block one by one, and by screwing together a cradle having a fixed magnet and probe devices thereto, the cradle of the cradle The fixed magnet is easily attached and fixed to the steel member of the PNL (panel) by strong magnetic force, thereby increasing the reliability of contact between the probe and the fixed terminal, and the variably extending cradle makes it possible to easily contact and check measurement even when there are many measuring points. There is an effect.

본 발명의 효과는 상기한 효과로 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 상세한 설명 또는 특허청구범위에 기재된 발명의 구성으로부터 추론 가능한 모든 효과를 포함하는 것으로 이해되어야 한다.The effects of the present invention are not limited to the above effects, and should be understood to include all effects that can be inferred from the detailed description of the present invention or the configuration of the invention described in the claims.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른, 프로브 장치의 개념도.
도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른, 조절 가능한 확장식 프로브 장치 거치대의 개념도.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른, 프로브 장치 및 조절 가능한 확장식 프로브 장치 거치대의 부착 상태도.1 is a conceptual diagram of a probe device according to an embodiment of the present invention;
2 is a conceptual diagram of an adjustable extendable probe device cradle according to another embodiment of the present invention.
3 is an attachment state diagram of a probe device and an adjustable extendable probe device cradle according to a preferred embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 바람직한 실시예에 따른 프로브 장치 및 조절 가능한 확장식 프로브 장치 거치대에 대하여 구체적으로 살펴본다. Hereinafter, a probe device and an adjustable extendable probe device cradle according to preferred embodiments will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

참고로, 이하 도면에서, 각 구성요소는 편의 및 명확성을 위하여 생략되거나 개략적으로 도시되었으며, 각 구성요소의 크기는 실제 크기를 반영하는 것은 아니다. 또한, 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성요소를 지칭하며 개별 도면에서 동일 구성에 대한 도면 부호는 생략하기로 한다. For reference, in the drawings below, each component is omitted or schematically illustrated for convenience and clarity, and the size of each component does not reflect the actual size. In addition, like reference numerals refer to like components throughout the specification, and reference numerals for like components in individual drawings will be omitted.

본 발명의 일 실시예를 도 1과 도 3을 참조하여 설명하면, 본 발명의 프로브 정치(100)는, 계측장비의 케이블 숫단자가 접속되는 원통형상의 상부 암단자 프로브(110); 단자대(160)의 개별 고정단자(170)에 접촉되는 하부 접촉 프로브(140); 상기 상부 암단자 프로브(110)와 상기 하부 접촉 프로브(140) 사이에 개재되는 스프링(130); 상기 상부 암단자 프로브(110)와 상기 하부 접촉 프로브(140) 및 스프링(130)이 삽입되는 외부 케이싱(120); 상기 외부 케이싱(120)의 외주면에 형성된 나사산(125); 상기 나사산(125)에 체결되는 프로브 고정너트(150);를 포함하는 것을 특징으로 한다.Referring to an embodiment of the present invention with reference to FIGS. 1 and 3, the probe station 100 of the present invention includes a cylindrical upper female terminal probe 110 to which a male cable terminal of a measuring instrument is connected; a lower contact probe 140 contacting the individual fixed terminals 170 of the terminal block 160; a spring 130 interposed between the upper female terminal probe 110 and the lower contact probe 140; an outer casing 120 into which the upper female terminal probe 110, the lower contact probe 140, and a spring 130 are inserted; A screw thread 125 formed on an outer circumferential surface of the outer casing 120; It is characterized in that it includes; a probe fixing nut 150 fastened to the screw thread 125.

보다 구체적으로, 도 1에는 본 발명인 프로브 장치(100)의 정면부를 나타내는 기본 개념도가 제시되고 있고, 도 3에는 본 발명의 프로브 장치(100)가 거치대(200)에 결합되어 고정자석(260)에 의해 단자대(160)에 부착되는 모습이 도시되어 있다. More specifically, FIG. 1 shows a basic conceptual diagram showing the front side of the probe device 100 of the present invention, and FIG. 3 shows the probe device 100 of the present invention coupled to the holder 200 to the stationary magnet 260. It is shown attached to the terminal block 160 by.

도 1에 나타나 있는 바와 같이, 프로브 장치의 상부 암단자 프로브(110)는 별도 계측장비의 케이블 숫단자(미도시)가 접속되는 원통형상으로 내부가 중공부로 형성되어 상기 케이블의 숫단자가 접속 체결되고 상부 암단자 프로브(110)의 하단부는 스프링(130)의 일단이 연결된다. 이때, 상부 암단자 프로브(110)는 외부 케이싱(120)의 내부에 고정 결합되고 외부케이싱(120)의 외부면에 형성된 나사산(125)부가 하측으로 전진할 때 하부 접촉 프로브(140)의 상단을 스프링(130)의 탄발력으로 가압할 수 있는 것이다. As shown in FIG. 1, the upper female terminal probe 110 of the probe device has a cylindrical shape to which the male terminal of a cable (not shown) of a separate measuring device is connected, and the inside is formed as a hollow part, so that the male terminal of the cable is connected and fastened One end of the spring 130 is connected to the lower end of the upper female terminal probe 110. At this time, the upper female terminal probe 110 is fixedly coupled to the inside of the outer casing 120, and when the screw thread 125 formed on the outer surface of the outer casing 120 moves downward, the upper end of the lower contact probe 140 is moved. It can be pressed by the elastic force of the spring 130.

또한, 프로브 장치(100)의 하부 접촉 프로브(140)는 단자대(160)의 계측 대상인 개별 고정단자(170)에 직접 접촉되는 구성으로 상단부에는 스프링(130)의 타단이 연결되어 고정단자(170)를 가압하여 접촉된다. In addition, the lower contact probe 140 of the probe device 100 is configured to directly contact the individual fixed terminals 170 to be measured by the terminal block 160, and the other end of the spring 130 is connected to the upper end so that the fixed terminal 170 is contacted by pressing.

즉, 도 1에서 상기 스프링(130)은 상기 상부 암단자 프로브(110)와 상기 하부 접촉 프로브(140) 사이에 개재되어 압축 및 팽창되는데, 상기 하부 접촉 프로브(140)는 외부케이싱(120)의 내부에 고정되지 않고 자유롭게 상하 이동할 수 있어 외부케이싱(120)의 외부면에 형성된 나사산(125)부가 하측으로 전진할 때 단자대(160)의 고정단자(170)를 가압하여 긴밀히 접촉될 수 있는 것이다. 한편, 상기 스프링(130)은 상부 암단자 프로브(110)와 상기 하부 접촉 프로브(140) 사이에 개재되어 고정될 수 있는데, 그 고정은 납땜 등에 의할 수 있고 고정할 수 있는 것이라면 어떤 타입도 가능하다. That is, in FIG. 1 , the spring 130 is interposed between the upper female terminal probe 110 and the lower contact probe 140 to be compressed and expanded. The lower contact probe 140 is of the outer casing 120. It is not fixed inside and can move up and down freely, so that when the screw thread 125 formed on the outer surface of the outer casing 120 moves downward, it presses the fixed terminal 170 of the terminal block 160 to make close contact. Meanwhile, the spring 130 may be interposed between the upper female terminal probe 110 and the lower contact probe 140 and fixed. do.

또한, 상기 외부케이싱(120)은 앞서 설명한 바와 같이 그 내부 중공부에 상부 암단자 프로브(110)와 상기 하부 접촉 프로브(140) 및 스프링(130)이 삽입되는데, 상기 상부 암단자 프로브(110)는 외부케이싱(120)의 상단 일측에 고정될 수 있고, 이와 달리 하부 접촉 프로브(140)는 자유롭게 상하 이동이 가능할 수 있다. 여기서, 상기 상부 암단자 프로브(110)가 외부케이싱(120)의 상단 일측에 고정되는 수단은 나사결합일 수 있고 또는 납땜에 의한 고정 등 다양한 형태의 고정수단에 의해 고정이 가능할 수 있다.In addition, as described above, the upper female terminal probe 110, the lower contact probe 140, and the spring 130 are inserted into the inner hollow of the outer casing 120, and the upper female terminal probe 110 may be fixed to one side of the upper end of the outer casing 120, and in contrast, the lower contact probe 140 may freely move up and down. Here, the means by which the upper female terminal probe 110 is fixed to one side of the upper end of the outer casing 120 may be screwed or fixed by various types of fixing means such as soldering.

또한, 상기 외부케이싱(120)의 외주면에 형성된 나사산(125)에는 프로브 고정너트(150)가 체결되고, 프로브 고정너트(150)는 거치대(200)의 상부판(210) 및 하부판(220)에 와셔와 같은 밀착 수단을 개재시켜 프로브 장치(100)를 결합할 수 있다. In addition, the probe fixing nut 150 is fastened to the screw thread 125 formed on the outer circumferential surface of the outer casing 120, and the probe fixing nut 150 is attached to the upper plate 210 and the lower plate 220 of the holder 200. The probe device 100 may be coupled to each other through an adhesion means such as a washer.

본 발명의 다른 실시예에 따르면, 조절가능한 확장식 프로브 장치 거치대(200)는, 적층된 테이블 형상의 상부판(210) 및 하부판(220); 상기 상부판(210) 및 하부판(220)의 모서리부에 형성되는 수직다리부(250); 상기 수직다리부(250)의 하면부에 형성되는 거치대 고정자석(260); 상기 상부판(210) 및 하부판(220)에는 다수의 관통홀(215, 225)이 형성되어 상기 다수의 프로브 장치(100)가 삽입 고정되는 고정부(230);를 포함하고 상기 상부판(210) 및 하부판(220)은 마찰식 또는 롤러식 슬라이드로 확장 조절 가능한 것을 특징으로 한다. According to another embodiment of the present invention, the adjustable expandable probe device cradle 200 includes a stacked table-like upper plate 210 and lower plate 220; Vertical leg parts 250 formed at the corners of the upper plate 210 and the lower plate 220; Cradle stationary magnets 260 formed on the lower surface of the vertical legs 250; A plurality of through holes 215 and 225 are formed in the upper plate 210 and the lower plate 220, and a fixing part 230 into which the plurality of probe devices 100 are inserted and fixed; and the upper plate 210 ) And the lower plate 220 is characterized in that it is expandable and adjustable by a friction type or roller type slide.

도 2를 통해 본 발명의 프로브 장치(100)의 거치대(200)에 대해 설명하면, 상기 거치대(100)는 적층되는 상부판(210) 및 하부판(220)을 구비하는 4각 테이블 형태로 제작될 수 있고, 각 모서리부에는 4개의 수직다리부(250)가 형성될 수 있다. 여기서 상기 적층된 상부판(210) 및 하부판(220)은 슬라이드식으로 가변 확장될 수 있어 프로브 장치(100)가 많은 경우에도 용이하게 수용하여 계측 점검 할 수 있다. 상기 슬라이드 방식은 도면에 도시되어 있지 않으나 미끄럼 마찰식과 구름 롤러식 등 어떤 형태도 가능하다. Referring to the cradle 200 of the probe device 100 of the present invention through FIG. 2 , the cradle 100 may be manufactured in the form of a square table having an upper plate 210 and a lower plate 220 stacked thereon. , and four vertical leg parts 250 may be formed at each corner part. Here, since the stacked upper plate 210 and lower plate 220 can be variably extended in a sliding manner, even when there are many probe devices 100, they can be easily accommodated and measured. The sliding method is not shown in the drawing, but any type such as a sliding friction type and a rolling roller type is possible.

또한, 상기 4개의 수직다리부(250)의 하면부에는 거치대 고정자석(260)을 배치하고, 이에 따라 거치대(200)를 단자대(160)의 외곽에 형성된 철제 부위에 강한 자력으로 부착시켜 쉽게 단자대(160)의 고정단자(170)들과 한번에 쉽게 긴밀히 밀착 접촉시킬 수 있으므로 종래와 같이 블록몸체를 일일이 억지 끼울 필요가 없다. In addition, cradle stator magnets 260 are disposed on the lower surface of the four vertical legs 250, and accordingly, the cradle 200 is easily attached to the iron part formed on the outer edge of the terminal block 160 by strong magnetic force. Since it can be easily and closely contacted with the fixed terminals 170 of 160 at once, there is no need to forcibly fit the block body one by one as in the prior art.

본 발명의 다른 실시예의 바람직한 특징에 따르면, 상기 상부판(210) 및 하부판(220)의 관통홀(215, 225)의 외주연에 나사산이 형성되어 상기 프로브 장치(100)의 외부케이싱(120)이 체결되고, 상기 외부케이싱(120)의 체결면 상하측으로 고정너트(150)가 체결될 수 있다. According to a preferred feature of another embodiment of the present invention, threads are formed on the outer circumferences of the through holes 215 and 225 of the upper plate 210 and the lower plate 220 so that the outer casing 120 of the probe device 100 When this is fastened, the fixing nut 150 may be fastened to the upper and lower sides of the fastening surface of the outer casing 120 .

즉, 도 3에 나타나 있는 바와 같이, 상기 거치대(200)는 프로브 장치(100)를 유지 고정하는 것으로서, 이를 위해 상기 상부판(210) 및 하부판(220)에는 프로브 장치(100)가 삽입 거치될 수 있도록 관통홀(215, 225)이 형성되고 그 외주연에는 나사산이 형성되어 프로브 장치(100)의 외부케이싱(120)의 외주연부에 형성된 나사산이 체결될 수 있다. 그 다음, 상기 상부판(210) 및 하부판(220)과 확실한 고정을 위해 외부케이싱(120)의 체결면 상하측으로 고정너트(150)가 체결될 수 있다. That is, as shown in FIG. 3 , the cradle 200 holds and fixes the probe device 100, and for this, the probe device 100 is inserted and mounted in the upper plate 210 and the lower plate 220. Through-holes 215 and 225 are formed, and a thread is formed on the outer periphery thereof, so that the thread formed on the outer periphery of the outer casing 120 of the probe device 100 can be fastened. Then, fixing nuts 150 may be fastened to the upper and lower sides of the fastening surface of the outer casing 120 to securely fix the upper plate 210 and the lower plate 220 .

한편, 본 발명의 도 1 내지 3의 도시 사항은 개념도이므로 일부 생략 될 수 있고, 또한 상기 설명의 일부 기재와 실제 도시는 다소간의 차이가 날 수 있다. 이 경우 도면을 참고하되 본 발명의 명세서의 기재사항을 우선적으로 적용하여야 하고, 도면은 본 발명이 해결하고자 하는 발명의 구체적 목적 및 효과에 부합되게 바라보고 해석되어야 할 것이다. 1 to 3 of the present invention are conceptual diagrams, so some of them may be omitted, and some of the descriptions in the above description and the actual drawings may be slightly different. In this case, the drawings should be referred to, but the descriptions of the specification of the present invention should be applied preferentially, and the drawings should be viewed and interpreted in accordance with the specific purpose and effect of the invention to be solved by the present invention.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하였지만, 본 명세서에 기재된 실시와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 하고, 본 발명의 범위는 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Although the preferred embodiments of the present invention have been described with reference to the accompanying drawings, the implementations described in this specification and the configurations shown in the drawings are only the most preferred embodiments of the present invention, and do not represent all the technical ideas of the present invention. Since it is not, it should be understood that there may be various equivalents and modifications that can replace them at the time of this application. Therefore, the embodiments described above should be understood as illustrative and not restrictive in all respects, and the scope of the present invention is indicated by the claims to be described later rather than the detailed description, and the meaning and scope of the claims and their All changes or modified forms derived from equivalent concepts should be construed as being included in the scope of the present invention.

100: 프로브 장치, 110: 상부 암단자 프로브, 120: 외부케이싱, 130: 스프링, 140: 하부 접촉 프로브, 150: 프로브 고정너트, 160: 단자대, 170: 고정단자, 200: 가변 거치대, 210: 상부판, 220: 하부판, 215, 225: 관통홀, 230: 고정부, 250: 수직다리부, 260: 고정자석 100: probe device, 110: upper female terminal probe, 120: outer casing, 130: spring, 140: lower contact probe, 150: probe fixing nut, 160: terminal block, 170: fixed terminal, 200: variable cradle, 210: upper part Plate, 220: lower plate, 215, 225: through hole, 230: fixing part, 250: vertical leg part, 260: stator magnet

Claims (3)

삭제delete .계측장비의 케이블 숫단자가 접속되는 원통형상의 상부 암단자 프로브; 단자대의 개별 고정단자에 접촉되는 하부 접촉 프로브; 상기 상부 암단자 프로브와 상기 하부 접촉 프로브 사이에 개재되는 스프링; 상기 상부 암단자 프로브와 상기 하부 접촉 프로브 및 스프링이 삽입되는 외부 케이싱; 상기 외부 케이싱의 외주면에 형성된 나사산; 상기 나사산에 체결되는 프로브 고정너트;를 포함하는 프로브 장치를 고정하는 거치대로서,
적층된 테이블 형상의 상부판 및 하부판;
상기 상부판 및 하부판의 모서리부에 형성되는 수직다리부;
상기 수직다리부의 하면부에 형성되는 거치대 고정자석;
상기 상부판 및 하부판에는 다수의 관통홀이 형성되어 상기 다수의 프로브 장치가 삽입 고정되는 고정부;를 포함하고,
상기 상부판 및 하부판은 마찰식 또는 롤러식 슬라이드로 확장 조절 가능한 것을 특징으로 하는 조절 가능한 확장식 프로브 장치 거치대..Cylinder-shaped upper female terminal probe to which the male terminal of the cable of the measuring equipment is connected; a lower contact probe contacting individual fixed terminals of the terminal block; a spring interposed between the upper female terminal probe and the lower contact probe; an outer casing into which the upper female terminal probe, the lower contact probe, and a spring are inserted; a screw thread formed on an outer circumferential surface of the outer casing; A cradle for fixing a probe device including a probe fixing nut fastened to the screw thread,
Stacked table-shaped upper and lower plates;
vertical legs formed at the corners of the upper and lower plates;
Cradle fixed magnet formed on the lower surface of the vertical leg portion;
A plurality of through holes are formed in the upper plate and the lower plate, and a fixing portion into which the plurality of probe devices are inserted and fixed;
The adjustable extendable probe device cradle, characterized in that the upper plate and the lower plate can be extended and adjusted by a friction type or roller type slide. 제2항에 있어서,
상기 상부판 및 하부판의 관통홀의 외주연에는 나사산이 형성되어 상기 프로브 장치의 외부케이싱이 체결되고, 상기 외부케이싱의 체결면 상하측으로 고정너트가 체결되는 것을 특징으로 하는 조절 가능한 확장식 프로브 장치 거치대.
According to claim 2,
An adjustable expandable probe device cradle, characterized in that screw threads are formed on outer peripheries of the through holes of the upper and lower plates to fasten the outer casing of the probe device, and fastening nuts are fastened to the upper and lower sides of the fastening surfaces of the outer casing.
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