JP2010164406A - Probe unit and wiring check system - Google Patents

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JP2010164406A JP2009006531A JP2009006531A JP2010164406A JP 2010164406 A JP2010164406 A JP 2010164406A JP 2009006531 A JP2009006531 A JP 2009006531A JP 2009006531 A JP2009006531 A JP 2009006531A JP 2010164406 A JP2010164406 A JP 2010164406A
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probe
terminal
probes
continuity
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Masami Nakano
昌美 中野
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a probe unit facilitating continuity test on a plurality of terminals of a circuit board. <P>SOLUTION: This probe unit includes a unit plate 72 provided with a plurality of holes corresponding to the plurality of terminals and a plurality of probes 71 slidably mounted in the plurality of holes 73 provided in the unit plate 72. Each of the probes is equipped with a conductive trunk 74 sliding in the hole 73 and a contact mechanism 60 for putting one end of the trunk 74 into contact with a terminal 92. Each contact mechanism 60 comprises a conductive magnet 75 mounted on one end of the trunk 74 and attracting a terminal. Further, it comprises a spring 76 provided around the trunk 74 to press one end of the trunk 74 against the terminal 92. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

この発明は、プローブユニット及び配線確認システムに関するものである。   The present invention relates to a probe unit and a wiring confirmation system.

従来のプローブユニットには、以下のようなものがあった。
試験点の数だけプローブを用意し、これらプローブを各試験点の座標に応じた位置において保持板に挿通保持させる。保持板をボード側に移動させ、各試験点に各プローブを一斉に接触させる。
全試験点のID番号と基準データとがメモリに入力されている状態で、まずプローブを対応する試験点にそれぞれ接触させる。スイッチ選択部を制御して順に1個のスイッチのみをオンにして、その時の検出電圧をAD変換器でデジタル値に変換する。検出された電圧と、対応基準データとを比較し、その判定結果を表示部及びブザーで報知させる(たとえば、特許文献1)。
Conventional probe units include the following.
Probes are prepared as many as the number of test points, and these probes are inserted and held on the holding plate at positions corresponding to the coordinates of the test points. The holding plate is moved to the board side, and each probe is brought into contact with each test point simultaneously.
With the ID numbers and reference data of all test points being input to the memory, the probe is first brought into contact with the corresponding test points. The switch selection unit is controlled to turn on only one switch in turn, and the detected voltage at that time is converted into a digital value by the AD converter. The detected voltage is compared with the corresponding reference data, and the determination result is notified by a display unit and a buzzer (for example, Patent Document 1).

特開平6−230081号公報(「0033」「0034」図7)JP-A-6-230081 ("0033" "0034" FIG. 7) 特開2004−93333号公報JP 2004-93333 A 特開2001−343398号公報JP 2001-343398 A 特開平6−347476号公報JP-A-6-347476 実用新案登録第2534159号公報Utility Model Registration No. 2534159

従来の配線確認システムは、複数の配線を効率よく検査するものがなかった。   None of the conventional wiring confirmation systems efficiently inspect a plurality of wirings.

この発明は、複数の配線を効率よく検査するプローブユニット及び配線確認システムを提供するものである。   The present invention provides a probe unit and a wiring confirmation system for efficiently inspecting a plurality of wirings.

この発明のプローブユニットは、
回路基板の複数の端子の導通試験を行うプローブユニットにおいて、
複数の端子に対応して複数の孔が設けられたユニット板と、
ユニット板に設けられた複数の孔にスライド可能に取り付けられた複数のプローブと
を備え、
上記複数のプローブの各プローブは、
孔をスライドする導電性の胴部と、
胴部の一端を端子に電気的に接触させる接触機構とを備えたことを特徴とする。
The probe unit of this invention is
In a probe unit that conducts a continuity test of a plurality of terminals on a circuit board,
A unit plate provided with a plurality of holes corresponding to a plurality of terminals;
A plurality of probes slidably mounted in a plurality of holes provided in the unit plate,
Each probe of the plurality of probes is
A conductive body that slides through the hole;
And a contact mechanism for electrically contacting one end of the body portion with the terminal.

上記接触機構は、胴部の一端に取り付けられ端子に吸着する導電性磁石を有することを特徴とする。   The contact mechanism includes a conductive magnet that is attached to one end of the body portion and is attracted to the terminal.

上記接触機構は、胴部の周囲に設けられ胴部の一端を端子に押し付けるばねを有することを特徴とする。   The contact mechanism includes a spring that is provided around the trunk and presses one end of the trunk against the terminal.

この発明の配線確認システムは、
端子間の配線確認試験を行う配線確認システムであり、
1本の送電側プローブと、
複数の受電側プローブを備えた受電側プローブユニットと、
送電側プローブと受電側プローブユニットの複数の受電側プローブとを接続する配線確認装置とを備え、
上記配線確認装置は、
送電側プローブに通電して、導通テストをする通電部と、
通電部が導通テストをしている間に、受電側プローブユニットの複数の受電側プローブに対して、受電側プローブ1本づつ順に、導通チェックをして、いずれの受電側プローブに導通があるかを判定する導通サーチ部と、
導通サーチ部が導通ありと判定した受電側プローブの番号を出力する表示器とを備えたことを特徴とする。
The wiring confirmation system of this invention is
It is a wiring confirmation system that performs a wiring confirmation test between terminals.
One power transmission probe,
A power receiving side probe unit including a plurality of power receiving side probes; and
A wiring check device for connecting a power transmission side probe and a plurality of power reception side probes of the power reception side probe unit;
The wiring confirmation device
An energizing unit for conducting a continuity test by energizing the probe on the power transmission side;
While the energization unit is conducting the continuity test, the continuity check is performed on each of the power reception side probes of the power reception side probe unit one by one, and which of the power reception side probes has continuity. A continuity search unit for determining
The continuity search unit includes a display that outputs the number of the power receiving probe that is determined to be continuity.

この発明の配線確認システムは、
複数の端子と複数の端子との間の配線確認試験を行う配線確認システムであり、
複数の送電側プローブを備えた送電側プローブユニットと、
複数の受電側プローブを備えた受電側プローブユニットと、
送電側プローブユニットの複数の送電側プローブと受電側プローブユニットの複数の受電側プローブとを接続する配線確認装置とを備え、
上記配線確認装置は、
送電側プローブユニットの複数の送電側プローブに対して、送電側プローブ1本づつ順に通電して、導通テストをする導通テスト部と、
導通テスト部が導通テストをしている間に、受電側プローブユニットの複数の受電側プローブに対して、受電側プローブ1本づつ順に、導通チェックをして、いずれの受電側プローブに導通があるかを判定する導通サーチ部と、
導通テスト部が導通テストをした送電側プローブの番号と、導通サーチ部が導通ありと判定した受電側プローブの番号とを出力する出力部とを備えたことを特徴とする。
The wiring confirmation system of this invention is
A wiring confirmation system that performs a wiring confirmation test between a plurality of terminals and a plurality of terminals.
A power transmission side probe unit including a plurality of power transmission side probes; and
A power receiving side probe unit including a plurality of power receiving side probes; and
A wiring confirmation device for connecting a plurality of power transmission side probes of the power transmission side probe unit and a plurality of power reception side probes of the power reception side probe unit;
The wiring confirmation device
A continuity test unit for conducting a continuity test by sequentially energizing each of the power transmission side probes of the power transmission side probe unit one by one;
While the continuity test unit conducts the continuity test, the continuity check is performed on each of the power reception side probes of the power reception side probe unit one by one, and any of the power reception side probes has continuity. A continuity search unit for determining whether or not
The continuity test unit includes an output unit that outputs the number of the power transmission side probe that has been subjected to the continuity test and the number of the power reception side probe that has been determined that the continuity search unit has continuity.

配線確認システムは、さらに、配線確認装置と接続される情報処理装置を備え、
上記情報処理装置は、
複数の端子と複数の端子との間の結線関係を、端子番号による端子対情報として記憶する記憶部と、
上記出力部が出力する導通テスト部が導通テストをした送電側プローブの番号と、導通サーチ部が導通ありと判定した受電側プローブの番号とをプローブ対情報として入力する取り込み部と、
取り込み部が入力したプローブ対情報を、記憶部に記憶した端子対情報と比較して、配線に異常があるか否かを判定して出力する異常出力部と
を備えたことを特徴とする。
The wiring confirmation system further includes an information processing device connected to the wiring confirmation device,
The information processing apparatus
A storage unit that stores connection relationships between a plurality of terminals and a plurality of terminals as terminal pair information by terminal numbers;
A capturing unit that inputs, as probe pair information, the number of a power transmission side probe that the continuity test unit that the output unit outputs outputs a continuity test and the number of a power reception side probe that the continuity search unit determines to have continuity;
An abnormality output unit is provided that compares the probe pair information input by the capturing unit with the terminal pair information stored in the storage unit to determine whether or not there is an abnormality in the wiring.

この発明のプローブユニットは、プローブユニットの複数のプローブが、回路複数の端子に自律的に接触するので、人間がプローブを端子に接触させる必要がなくなり作業効率が向上する。
この発明の配線確認システムは、導通サーチ部が複数の受電側プローブの中から導通のある受電側プローブを自動的に検出するので、人間がいずれの受電側プローブを導通があるかを判断する必要がなくなり作業効率が向上する。
In the probe unit according to the present invention, since the plurality of probes of the probe unit autonomously come into contact with a plurality of terminals of the circuit, it is not necessary for a human to contact the probe with the terminals, thereby improving work efficiency.
In the wiring confirmation system according to the present invention, since the continuity search unit automatically detects a continuity of the power receiving side probe from the plurality of power receiving side probes, it is necessary for a human to determine which power receiving side probe is conductive. Work efficiency is improved.

配線確認システム100の構成図である。1 is a configuration diagram of a wiring confirmation system 100. FIG. プローブユニット70の部分構成図である。3 is a partial configuration diagram of a probe unit 70. FIG. プローブユニット70の部分斜視図である。4 is a partial perspective view of a probe unit 70. FIG. プローブユニット70の接触機構60と取付機構80の他の実施例を示す図である。It is a figure which shows the other Example of the contact mechanism 60 of the probe unit 70, and the attachment mechanism 80. FIG. プローブユニット70の接触機構60と取付機構80の他の実施例を示す図である。It is a figure which shows the other Example of the contact mechanism 60 of the probe unit 70, and the attachment mechanism 80. FIG. プローブユニット70の接触機構60と取付機構80の他の実施例を示す図である。It is a figure which shows the other Example of the contact mechanism 60 of the probe unit 70, and the attachment mechanism 80. FIG. プローブ71の実施例を示す図である。It is a figure which shows the Example of the probe 71. FIG. 配線確認装置30と情報処理装置40の構成図である。2 is a configuration diagram of a wiring confirmation device 30 and an information processing device 40. FIG. マニアル検査モードの動作フロー図である。It is an operation | movement flowchart in a manual inspection mode. 自動検査モードの動作フロー図である。It is an operation | movement flowchart in automatic test | inspection mode. 情報処理装置40の動作説明図である。6 is an operation explanatory diagram of the information processing apparatus 40. FIG.

実施の形態1.
図1は、配線確認システム100の構成図である。
Embodiment 1 FIG.
FIG. 1 is a configuration diagram of the wiring confirmation system 100.

配線確認システム100は、プローブ針90と送電側プローブユニット10と受電側プローブユニット20と配線確認装置30と情報処理装置40とを備えている。
配線確認システム100は、回路基板91の端子92と端子93の間の結線が正しいか否かを検査するシステムである。
プローブ針90と送電側プローブユニット10とは、いずれかが使用される。
The wiring confirmation system 100 includes a probe needle 90, a power transmission side probe unit 10, a power reception side probe unit 20, a wiring confirmation device 30, and an information processing device 40.
The wiring confirmation system 100 is a system for inspecting whether or not the connection between the terminals 92 and 93 of the circuit board 91 is correct.
Either the probe needle 90 or the power transmission side probe unit 10 is used.

プローブ針90は、マニアル検査モードで、試験をする場合に使用される。作業者は、プローブ針90を用いて手動で、プローブ針90を端子92の一つ一つに接触させて導通試験を行う。   The probe needle 90 is used when testing in the manual inspection mode. The operator manually conducts the continuity test by bringing the probe needle 90 into contact with each of the terminals 92 using the probe needle 90.

送電側プローブユニット10は、自動検査モードで、試験をする場合に使用される。
送電側プローブユニット10は、図1においては、6本の送電側プローブ11を有している。これら複数の送電側プローブ11は、端子92の配列に対応して、配列されている。したがって、送電側プローブ11の本数と位置とは、回路基板91の端子92の個数と位置とに対応する。送電側プローブ11には、1番から6番までのプローブの番号が付されている。
受電側プローブユニット20も送電側プローブユニット10と同じ構成である。
The power transmission side probe unit 10 is used when testing in the automatic inspection mode.
The power transmission side probe unit 10 has six power transmission side probes 11 in FIG. The plurality of power transmission side probes 11 are arranged corresponding to the arrangement of the terminals 92. Therefore, the number and position of the power transmission side probes 11 correspond to the number and position of the terminals 92 of the circuit board 91. Probe numbers 1 to 6 are assigned to the power transmission side probe 11.
The power reception side probe unit 20 has the same configuration as the power transmission side probe unit 10.

配線確認装置30には、マニアル検査モードか自動検査モードかを選択するスイッチと、プローブの番号を表示する表示器がある。
配線確認装置30には、コネクタ56,57,58などの着脱可能なコネクタがあり、プローブ針90、送電側プローブユニット10の送電側プローブ11、受電側プローブユニット20の受電側プローブ21が、治具ケーブル79を介して着脱可能に接続される。配線確認装置30は、情報処理装置40とも信号ケーブルにより着脱可能に接続される。
The wiring confirmation device 30 includes a switch for selecting a manual inspection mode or an automatic inspection mode, and a display for displaying a probe number.
The wiring confirmation device 30 has detachable connectors such as connectors 56, 57, and 58. The probe needle 90, the power transmission side probe 11 of the power transmission side probe unit 10, and the power reception side probe 21 of the power reception side probe unit 20 are cured. It is detachably connected via a tool cable 79. The wiring confirmation device 30 is also detachably connected to the information processing device 40 by a signal cable.

情報処理装置40は、たとえばパーソナルコンピュータであり、キーボード50や表示画面51を備えている。   The information processing apparatus 40 is a personal computer, for example, and includes a keyboard 50 and a display screen 51.

以下、送電側プローブユニット10と受電側プローブユニット20をまとめて、プローブユニット70として、説明する。
図2は、プローブユニット70の部分構成図である。
図3は、プローブユニット70の部分斜視図である。
Hereinafter, the power transmission side probe unit 10 and the power reception side probe unit 20 will be described together as a probe unit 70.
FIG. 2 is a partial configuration diagram of the probe unit 70.
FIG. 3 is a partial perspective view of the probe unit 70.

この実施の形態のプローブユニット70は、回路基板91の複数の端子92と複数の端子93との導通試験を行うプローブユニット70である。
プローブユニット70は、複数の端子92に対応して複数の孔73が設けられたユニット板72を備えている。
ユニット板72は、絶縁体である。ユニット板72の複数の孔73の配置と個数は、回路基板91の端子92の配置と個数と同じである。
The probe unit 70 of this embodiment is a probe unit 70 that performs a continuity test between a plurality of terminals 92 and a plurality of terminals 93 of the circuit board 91.
The probe unit 70 includes a unit plate 72 provided with a plurality of holes 73 corresponding to the plurality of terminals 92.
The unit plate 72 is an insulator. The arrangement and the number of the plurality of holes 73 in the unit board 72 are the same as the arrangement and the number of the terminals 92 of the circuit board 91.

プローブユニット70は、ユニット板72に設けられた複数の孔73にスライド可能に取り付けられた複数のプローブ71を備えている。
各プローブ71は、孔73をスライドする導電性の胴部74と、胴部74の両端にスライドエンド82と胴端部83とを備え、孔73から抜け落ちないようになっている。
図において、各プローブ71の長さ・サイズ・形・間隔は同一であるが、端子92の位置・高さ・大きさによって異なっていてもよい。
全てのプローブ71は、胴部74の胴端部83側の一端を端子92に接触させる接触機構60と、プローブユニット70を回路基板91に取り付ける取付機構80とを備えている。
The probe unit 70 includes a plurality of probes 71 slidably attached to a plurality of holes 73 provided in the unit plate 72.
Each probe 71 includes a conductive body portion 74 that slides through the hole 73, and slide ends 82 and body end portions 83 at both ends of the body portion 74, so that the probe 71 does not fall out of the hole 73.
In the drawing, the length, size, shape, and interval of each probe 71 are the same, but may differ depending on the position, height, and size of the terminal 92.
All the probes 71 include a contact mechanism 60 that contacts one end of the body 74 on the body end 83 side to the terminal 92 and an attachment mechanism 80 that attaches the probe unit 70 to the circuit board 91.

上記接触機構60と取付機構80とは、胴部74の胴端部83の一端に取り付けられた磁石であって、端子92に吸着する導電性磁石75を有している。図1から図3で、導電性磁石は接触機構60と取付機構80との両方の構成に兼用されている。複数の導電性磁石75は、磁力が等しい永久磁石である。導電性の接着剤や導電ペースト(たとえば、ナミックス株式会社製「EジスPEN」(イージスペンは、登録商標))を用いて、胴端部83と導電性磁石75とを接着する。
治具ケーブル79はスライドエンド82に、はんだ付けされている。こうして、導電性磁石75と胴部74と治具ケーブル79とは電気的に接続された状態になる。
The contact mechanism 60 and the attachment mechanism 80 are magnets attached to one end of the trunk end portion 83 of the trunk portion 74, and have a conductive magnet 75 that is attracted to the terminal 92. In FIG. 1 to FIG. 3, the conductive magnet is used for both the contact mechanism 60 and the mounting mechanism 80. The plurality of conductive magnets 75 are permanent magnets having the same magnetic force. The body end 83 and the conductive magnet 75 are bonded to each other using a conductive adhesive or a conductive paste (for example, “E JIS PEN” manufactured by NAMICS Co., Ltd. (Aegis Pen is a registered trademark)).
The jig cable 79 is soldered to the slide end 82. Thus, the conductive magnet 75, the body 74, and the jig cable 79 are electrically connected.

ユニット板72と胴端部83の間の胴部74の周囲に、ばね76がある。ばね76は、接触機構60の一部であり、ユニット板72と胴端部83とを離隔させる圧縮コイルばねである。無負荷時のばね76の長さは、スライドエンド82と胴端部83の間の胴部74の長さ以上である。より正確には、無負荷時のばね76の長さは、ユニット板72の下面から胴端部83までの最大距離以上であればよい。その結果、ばね76は、スライドエンド82がユニット板72に接触するまでユニット板72と胴端部83とを遠くに引き離す。換言すれば、スライドエンド82がユニット板72に接触していない場合には、ばね76にはユニット板72と胴端部83とを遠くに引き離す反発力が増す。こうして、導電性磁石75は、ばね76により端子92に対して押し付けられる。   A spring 76 is provided around the body portion 74 between the unit plate 72 and the body end portion 83. The spring 76 is a part of the contact mechanism 60 and is a compression coil spring that separates the unit plate 72 and the body end portion 83. The length of the spring 76 when not loaded is equal to or longer than the length of the body 74 between the slide end 82 and the body end 83. More precisely, the length of the unloaded spring 76 may be equal to or longer than the maximum distance from the lower surface of the unit plate 72 to the trunk end 83. As a result, the spring 76 pulls the unit plate 72 and the body end 83 far away until the slide end 82 contacts the unit plate 72. In other words, when the slide end 82 is not in contact with the unit plate 72, the spring 76 has a repulsive force that separates the unit plate 72 and the body end portion 83 away from each other. Thus, the conductive magnet 75 is pressed against the terminal 92 by the spring 76.

6個の導電性磁石75の6個の端子92への合計吸着力(合計磁力)は、プローブユニット70と治具ケーブル79との全体の重さよりも大きい。したがって、プローブユニット70が逆さに端子92に取り付けられても、プローブユニット70が端子92から落下することはない。即ち、プローブユニット70は、6個の導電性磁石75により自律的に取り付けられる。プローブ71の個数が少ない場合でも、導電性磁石75の磁力を増せば、少ない数のプローブ71で自律的にプローブユニット70を回路基板91に取り付けることができる。つまり、1個の導電性磁石75でプローブユニット70が落下しなければよく、1個の導電性磁石75の磁力は、プローブユニット70の重量よりも大きいことが望ましい。
ここで、「自律的」とは、一旦、接触状態になると外力なしに接触状態を保ち続けるとともに、その接触状態は外力が加わるまで保たれることをいう。
ユニット板72は、操作者が手ではがそうとして(道具なしに)外力を加えることにより、回路基板91から容易にはがす事ができる。したがって、ユニット板72は、回路基板91に対して着脱自在に(着脱可能に)取り付けられる。
The total attractive force (total magnetic force) of the six conductive magnets 75 on the six terminals 92 is larger than the total weight of the probe unit 70 and the jig cable 79. Therefore, even if the probe unit 70 is attached to the terminal 92 upside down, the probe unit 70 does not fall from the terminal 92. That is, the probe unit 70 is autonomously attached by the six conductive magnets 75. Even when the number of probes 71 is small, the probe unit 70 can be autonomously attached to the circuit board 91 with a small number of probes 71 if the magnetic force of the conductive magnet 75 is increased. That is, the probe unit 70 is not dropped by one conductive magnet 75, and the magnetic force of one conductive magnet 75 is preferably larger than the weight of the probe unit 70.
Here, “autonomous” means that once in a contact state, the contact state is maintained without external force and the contact state is maintained until an external force is applied.
The unit board 72 can be easily peeled off from the circuit board 91 by applying an external force (without a tool) so as to be peeled off by hand by the operator. Accordingly, the unit plate 72 is detachably attached to the circuit board 91 (detachable).

重さと磁力の関係は以下の通りである。   The relationship between weight and magnetic force is as follows.

操作者の腕力
>導電性磁石75と端子92の合計吸着力
>プローブユニット70(と治具ケーブル79)の重さ
Operator's arm strength> Total attractive force of conductive magnet 75 and terminal 92> Weight of probe unit 70 (and jig cable 79)

1個の導電性磁石75と1個の端子92の吸着力
>1個のプローブ71(と1本の治具ケーブル79)の重さ
Adsorption force of one conductive magnet 75 and one terminal 92> Weight of one probe 71 (and one jig cable 79)

図1から図3において、ユニット板72を回路基板91に固定する機構は存在しない。作業者がプローブユニット70を手に持ってプローブユニット70を回路基板91に近づけると、図2に示すように、すべての端子92の頭部にすべての導電性磁石75が吸着することにより、プローブユニット70が自動的に、かつ、自律的に取り付けられる。したがって、作業者は、プローブユニット70をその場で保持し続けることはない。
図2に示すように、端子92の高さに差があっても、胴部74が孔73をスライドするので、各端子92の高さに合わせて、導電性磁石75が端子92に接触できる。その接触を確実なものとするために、ばね76が導電性磁石75を端子92に押し付ける。
図2と図3に示すように、回路基板91の端子92の上にユニット板72が取り付けられた場合は、ユニット板72は自重により、ばね76の反発力と拮抗する位置まで下方にさがる。
逆に、回路基板91を上にしてユニット板72を下にして、端子92の下にユニット板72が逆さに取り付けられた場合は、ユニット板72は自重により、スライドエンド82までさがる。この場合でも、磁力によりプローブユニット70が落下することはないし、導電性磁石75が端子92に吸いつき、かつ、ばね76が導電性磁石75を端子92に押し付ける。
図2と図3においては、接触機構60と取付機構80とは、各プローブ71の導電性磁石75によって構成されている。
1 to 3, there is no mechanism for fixing the unit plate 72 to the circuit board 91. When the operator holds the probe unit 70 in his hand and brings the probe unit 70 close to the circuit board 91, all the conductive magnets 75 are attracted to the heads of all the terminals 92 as shown in FIG. The unit 70 is automatically and autonomously attached. Therefore, the worker does not keep holding the probe unit 70 on the spot.
As shown in FIG. 2, even if there is a difference in the height of the terminal 92, the body 74 slides through the hole 73, so that the conductive magnet 75 can contact the terminal 92 according to the height of each terminal 92. . A spring 76 presses the conductive magnet 75 against the terminal 92 to ensure that contact.
As shown in FIGS. 2 and 3, when the unit plate 72 is attached on the terminal 92 of the circuit board 91, the unit plate 72 is lowered by its own weight to a position that antagonizes the repulsive force of the spring 76.
On the contrary, when the unit board 72 is mounted upside down under the terminal 92 with the circuit board 91 facing up and the unit board 72 facing down, the unit board 72 reaches the slide end 82 by its own weight. Even in this case, the probe unit 70 does not fall due to the magnetic force, the conductive magnet 75 attracts the terminal 92, and the spring 76 presses the conductive magnet 75 against the terminal 92.
In FIG. 2 and FIG. 3, the contact mechanism 60 and the attachment mechanism 80 are constituted by a conductive magnet 75 of each probe 71.

ばね76の機能は、端子92と導電性磁石75との接触を確実にすることにあるが、以下の場合に特に有効である。
1.プローブユニット70が逆さに取り付けられた場合でも、端子92と導電性磁石75との接触を確実にする。
2.複数の端子92のうち、いくつかの端子が磁力で吸着できないあるいは磁力で吸着しにくい材料でできている場合でも、全ての端子92と導電性磁石75との接触を確実にする。
The function of the spring 76 is to ensure contact between the terminal 92 and the conductive magnet 75, but is particularly effective in the following cases.
1. Even when the probe unit 70 is mounted upside down, the contact between the terminal 92 and the conductive magnet 75 is ensured.
2. Even when some of the plurality of terminals 92 are made of a material that cannot be attracted by magnetic force or is difficult to be attracted by magnetic force, contact between all the terminals 92 and the conductive magnet 75 is ensured.

以上のことから、複数のばね76の反発力関係は、以下の通りであることが望ましい。
1.均等
複数のばね76の力に差異があると、ユニット板72が傾き、正確な接触が得られにくいので、複数のばね76の力を均等(あるいは、ほぼ均等)にする。
From the above, it is desirable that the repulsive force relationship between the plurality of springs 76 is as follows.
1. Even if there is a difference in the force of the plurality of springs 76, the unit plate 72 is inclined and accurate contact is difficult to obtain, so that the force of the plurality of springs 76 is made equal (or substantially equal).

2.複数のばね76の合計力<ユニット板72の重量
各ばね76の力が強すぎると、プローブ71がユニット板72をスライドしない。プローブ71がユニット板72をスライドしないと、全ての端子92と導電性磁石75との接触を確実にすることができない。したがって、複数のばね76の合計力を、ユニット板72(と治具ケーブル79)の重量よりも小さくする。
2. Total force of a plurality of springs 76 <weight of unit plate 72 If the force of each spring 76 is too strong, the probe 71 does not slide the unit plate 72. Unless the probe 71 slides on the unit plate 72, the contact between all the terminals 92 and the conductive magnet 75 cannot be ensured. Therefore, the total force of the plurality of springs 76 is made smaller than the weight of the unit plate 72 (and the jig cable 79).

3.複数のばね76の合計力+ユニット板72の重量<1対の端子92と導電性磁石75との吸着力
1対の端子92と導電性磁石75との吸着力が複数のばね76の合計力とユニット板72の重量との和よりも大きければ、プローブユニット70が逆さに取り付けられてもその1対の端子92と導電性磁石75とは吸着するので、全ての端子92と導電性磁石75との接触を確実にすることができる。したがって、複数のばね76の合計力とユニット板72の重量との和を、1対の端子92と導電性磁石75との吸着力、即ち、1個の導電性磁石75の磁力よりも小さくする。
3. The total force of the plurality of springs 76 + the weight of the unit plate 72 <the attraction force between the pair of terminals 92 and the conductive magnet 75 The attraction force between the pair of terminals 92 and the conductive magnet 75 is the total force of the plurality of springs 76. If the probe unit 70 is mounted upside down, the pair of terminals 92 and the conductive magnets 75 are attracted to each other, so that all the terminals 92 and the conductive magnets 75 are attached. The contact with can be ensured. Therefore, the sum of the total force of the plurality of springs 76 and the weight of the unit plate 72 is made smaller than the attractive force between the pair of terminals 92 and the conductive magnet 75, that is, the magnetic force of one conductive magnet 75. .

4.1個のばね76の力>1個のプローブ71の重量
逆さの場合でも接触を確実にするために、1個のばね76の力を、1個のプローブ71(と1本の治具ケーブル79)の重量よりも大きくする。
4. Force of one spring 76> Weight of one probe 71 In order to ensure contact even in the case of upside down, the force of one spring 76 is applied to one probe 71 (and one jig 71). It is larger than the weight of the cable 79).

図4は、接触機構60と取付機構80の他の実施例を示す図である。
図4においては、接触機構60は、胴部の周囲に設けられ胴部の一端を端子に押し付けるばね76を有する。
図4で、取付機構80は、プローブユニット70の両サイドのプローブ71の導電性磁石75を有している。2個の導電性磁石75の磁力で、自律的にプローブユニット70を回路基板91に取り付けることができる。内側の3個のプローブ71には、導電性磁石75がなく、接触機構60となるばね76により胴部74の胴端部83を端子92に押し付けて接触させる。
図4において、両サイドのプローブ71はプローブとして用いてもよいし、取付機構80としてのみ用いてもよい。
なお、図4において、取付機構80となる導電性磁石75は、プローブ71に固定されてユニット板72に対してスライド可能に取り付けられているが、導電性磁石75はプローブ71ではなくユニット板72に固定されていてもかまわない。
FIG. 4 is a view showing another embodiment of the contact mechanism 60 and the attachment mechanism 80.
In FIG. 4, the contact mechanism 60 includes a spring 76 that is provided around the body portion and presses one end of the body portion against the terminal.
In FIG. 4, the attachment mechanism 80 includes the conductive magnets 75 of the probes 71 on both sides of the probe unit 70. The probe unit 70 can be autonomously attached to the circuit board 91 by the magnetic force of the two conductive magnets 75. The inner three probes 71 do not have the conductive magnet 75, and the body end portion 83 of the body portion 74 is pressed against the terminal 92 by the spring 76 serving as the contact mechanism 60.
In FIG. 4, the probes 71 on both sides may be used as probes or only as the attachment mechanism 80.
In FIG. 4, the conductive magnet 75 serving as the attachment mechanism 80 is fixed to the probe 71 and slidably attached to the unit plate 72. However, the conductive magnet 75 is not the probe 71 but the unit plate 72. It may be fixed to.

図5は、接触機構60と取付機構80の他の実施例を示す図である。
図5において、取付機構80は、プローブユニット70の両サイドにねじ77を有している。回路基板91には、ねじ77を受容するねじ穴があるものとする。その他の構成は、図4と同じである。
FIG. 5 is a view showing another embodiment of the contact mechanism 60 and the attachment mechanism 80.
In FIG. 5, the attachment mechanism 80 has screws 77 on both sides of the probe unit 70. It is assumed that the circuit board 91 has a screw hole for receiving the screw 77. Other configurations are the same as those in FIG.

図6は、接触機構60と取付機構80の他の実施例を示す図である。
図6において、取付機構80は、プローブユニット70の両サイドにクリップ78を有している。クリップ78は、板ばねや弾性体によりできており、クリップ78が回路基板91の両サイドを挟むことにより、プローブユニット70が回路基板91に取り付けられる。あるいは、回路基板91に基板面から突出した端子台がある場合に、クリップ78によって端子台の両側面を挟むことができる。クリップ78は、2サイドだけでなく、4サイドにあってもよい。その他の構成は、図4と同じである。
なお、図4から図6において、中央の3個のプローブが導電性磁石75を備えていてもよい。
また、図示しないが、取付機構80としてクリップ78の代わりに、吸着盤を備え、吸着盤で回路基板91に吸着するようにしてもよい。
FIG. 6 is a view showing another embodiment of the contact mechanism 60 and the attachment mechanism 80.
In FIG. 6, the attachment mechanism 80 has clips 78 on both sides of the probe unit 70. The clip 78 is made of a leaf spring or an elastic body, and the probe unit 70 is attached to the circuit board 91 when the clip 78 sandwiches both sides of the circuit board 91. Alternatively, when the circuit board 91 has a terminal block protruding from the board surface, the clip 78 can sandwich both side faces of the terminal board. The clip 78 may be on the four sides as well as the two sides. Other configurations are the same as those in FIG.
In FIGS. 4 to 6, the three probes at the center may include the conductive magnet 75.
Although not shown, the attachment mechanism 80 may be provided with a suction board instead of the clip 78 and may be sucked to the circuit board 91 by the suction board.

図7は、プローブ71のいくつかの実施例を示す図である。
(a)は、図1から図3に示したプローブ71の断面図である。プローブ71は回転体であり円柱状の胴部74の両端に円盤状のスライドエンド82と円柱状の胴端部83がある。スライドエンド82と胴端部83の直径は胴部74の直径よりも大きく、かつ、孔73の内径よりも大きい。胴部74の直径は孔73の内径よりも小さい。導電性磁石75は、円柱状・円盤状をしており、胴部74の端部の凹部に接合されている。
(b)と(c)に示すように、導電性磁石75は、環状・ドーナツ状をしており、導電性磁石75に胴部74の端部を貫通させていてもよい。導電性磁石75の端部内側にテーパー部または凹部を設け、導電性磁石75の下端面と胴部74の下端面とが同じ面になるようにしている。
(d)に示すように、導電性磁石75を胴部74に単に接着してもよい。
(e)に示すように、導電性磁石75の下端面を凹面にしてもよい。あるいは、(e)において導電性磁石75は、ドーナツ状や環状でもよい。
(f)に示すように、導電性磁石75の端部内側にテーパー部または凹部を設け、導電性磁石75の下端面が、胴部74の下端面より下になるようにしてもよい。
(g)に示すように、胴部74の周囲に絶縁パイプ84を設けてもよい。この場合、ユニット板72は絶縁材でなくてもよい。絶縁パイプ84の下半分に蛇腹構造を持たせて伸縮可能にしてばね76の代わりにしてもよい。
FIG. 7 is a diagram showing several embodiments of the probe 71.
(A) is sectional drawing of the probe 71 shown in FIGS. 1-3. The probe 71 is a rotating body, and has a disc-shaped slide end 82 and a columnar barrel end 83 at both ends of a columnar barrel 74. The diameters of the slide end 82 and the trunk end 83 are larger than the diameter of the trunk 74 and larger than the inner diameter of the hole 73. The diameter of the trunk portion 74 is smaller than the inner diameter of the hole 73. The conductive magnet 75 has a cylindrical shape or a disk shape, and is joined to the concave portion at the end of the body portion 74.
As shown in (b) and (c), the conductive magnet 75 has an annular / donut shape, and the end portion of the body portion 74 may penetrate the conductive magnet 75. A tapered portion or a concave portion is provided inside the end portion of the conductive magnet 75 so that the lower end surface of the conductive magnet 75 and the lower end surface of the body portion 74 are the same surface.
As shown in (d), the conductive magnet 75 may be simply bonded to the body 74.
As shown in (e), the lower end surface of the conductive magnet 75 may be concave. Alternatively, in (e), the conductive magnet 75 may be donut-shaped or annular.
As shown in (f), a tapered portion or a concave portion may be provided inside the end portion of the conductive magnet 75 so that the lower end surface of the conductive magnet 75 is lower than the lower end surface of the body portion 74.
As shown in (g), an insulating pipe 84 may be provided around the body portion 74. In this case, the unit plate 72 may not be an insulating material. The lower half of the insulating pipe 84 may be provided with a bellows structure so that it can be expanded and contracted, and the spring 76 may be used instead.

図7のいずれの場合も、導電性磁石75が、直接、端子92に接触できる構造になっている。導電性磁石75が胴部74に磁力を与え胴部74のみが端子92に接触する場合に比べて、導電性磁石75が直に端子92に吸着するので、確実な接触が期待できる。
また、(a)の場合は、端子92がねじの半球状の丸頭である場合に、点接触することになるが、(e)(f)の場合は、丸頭の端子92に対して、円接触できるので、より確実な接触が得られる。
なお、プローブ71の導電性磁石75の先端構造は、針状でも、柱状でも、半球状でもよい。
In any case of FIG. 7, the conductive magnet 75 can directly contact the terminal 92. Compared to the case where the conductive magnet 75 applies a magnetic force to the body portion 74 and only the body portion 74 contacts the terminal 92, the conductive magnet 75 is directly attracted to the terminal 92, so that reliable contact can be expected.
In the case of (a), point contact is made when the terminal 92 is a hemispherical round head of a screw. In the case of (e) and (f), the terminal 92 is in contact with the round head terminal 92. Since it is possible to make a circular contact, a more reliable contact can be obtained.
The tip structure of the conductive magnet 75 of the probe 71 may be needle-shaped, columnar, or hemispherical.

プローブ71をボルトとナットにより、以下のように構成してもよい。
プローブ71の胴部74=ボルトの軸部、
プローブ71の胴端部83=ボルトの頭部、
プローブ71のスライドエンド82=ボルトの軸部の端部に固定されたナット。
導電性磁石75は、ボルトの頭部に接着すればよい。あるいは、ボルトの頭部にマグネットを有するボルト(たとえば、株式会社ミスミ製のマグネット付きボルト)を用いればよい。
The probe 71 may be configured with bolts and nuts as follows.
The body 74 of the probe 71 = the shaft of the bolt,
The body end 83 of the probe 71 = the head of the bolt,
The slide end 82 of the probe 71 = a nut fixed to the end of the bolt shaft.
The conductive magnet 75 may be bonded to the head of the bolt. Alternatively, a bolt having a magnet at the head of the bolt (for example, a bolt with a magnet manufactured by MISUMI Corporation) may be used.

この実施の形態のプローブユニット70は、以下の4点の理由により、絶縁隔壁により端子を囲み、導電性のねじを用いて電線を端子に圧着して止める端子台(たとえば、IDEC株式会社製「BN1U形/ねじアップ形ターミナルブロック(端子台)」などのターミナルブロック)に対して、特に有効である。   The probe unit 70 of this embodiment has a terminal block (for example, “manufactured by IDEC Co., Ltd.”) that surrounds a terminal with an insulating partition wall and crimps the electric wire to the terminal by using a conductive screw for the following four reasons. This is particularly effective for BN1U type / screw up type terminal block (terminal block).

第1点目
通常、端子台は1台に、絶縁隔壁(絶縁壁)を間にして複数の端子92を配列しており、この実施の形態のプローブユニット70は、複数のプローブ71の間に絶縁隔壁が入り込めるため、絶縁隔壁があっても支障なく、各プローブ71を各端子92に接触させることができる。つまり、プローブ71の長さが、絶縁隔壁の高さより、長ければ、各プローブ71を各端子92に接触させることができる。
すなわち、
プローブ71の長さ>絶縁隔壁の高さ
である。ここで、
プローブ71の長さとは、ユニット板72の下面から導電性磁石75の下部までの最大距離である。
絶縁隔壁の高さとは、端子台の上面から端子の頂部までの最大距離である。
First Point Normally, a plurality of terminals 92 are arranged on one terminal block with an insulating partition wall (insulating wall) in between, and the probe unit 70 of this embodiment is arranged between a plurality of probes 71. Since the insulating partition enters, each probe 71 can be brought into contact with each terminal 92 without any problem even if the insulating partition exists. That is, if the length of the probe 71 is longer than the height of the insulating partition, each probe 71 can be brought into contact with each terminal 92.
That is,
The length of the probe 71> the height of the insulating partition. here,
The length of the probe 71 is the maximum distance from the lower surface of the unit plate 72 to the lower part of the conductive magnet 75.
The height of the insulating partition is the maximum distance from the upper surface of the terminal block to the top of the terminal.

第2点目
端子台は、ねじを用いて電線を圧着してねじ止めするので、ねじ頭の高さが、電線の太さや電線の噛み具合やねじの締め付け程度によって変化しやすいが、この実施の形態のプローブユニット70は、プローブ71がユニット板72をスライドして、端子台の端子の頂部の高さの差異が吸収できる。また、この実施の形態のプローブユニット70は、特開2002−329533号公報の図3に示されたような段差がある階段式の端子台においても端子台の端子の頂部の高さの差異が吸収できる。
Second point The terminal block uses a screw to crimp the wire and screw it in. Therefore, the height of the screw head is likely to change depending on the thickness of the wire, the degree of engagement of the wire, and the tightening degree of the screw. In the probe unit 70 of the form, the probe 71 slides on the unit plate 72 and can absorb the difference in height of the top of the terminal of the terminal block. Further, the probe unit 70 of this embodiment has a difference in the height of the top of the terminal of the terminal block even in a stepped terminal block having a step as shown in FIG. 3 of Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-329533. Can be absorbed.

第3点目
端子台のねじは、ねじ頭が半球状の丸ねじであることが多く、平面基板の平面端子に導電性磁石75が吸着するよりも、半球状のねじ頭に導電性磁石75がより吸着しやすい。仮に、半球状のねじ頭に導電性磁石75が斜めに吸着しても絶縁隔壁があるために、導電性磁石75が隣の導電性磁石75や隣の端子に接触する(ショートする)ことはない。
逆にいえば、絶縁隔壁があるので、プローブ71はユニット板72の板面に対して常に90度(垂直)方向に正確にスライドする必要はない。したがって、ユニット板72の厚さを薄くしたり、ユニット板72の孔73の加工精度をラフにすることができる。絶縁隔壁がない場合は、プローブ71の間隔、即ち、導電性磁石75の間隔を正確に端子間隔と一致させる必要があり、プローブ71はユニット板72の板面に対して常に90度(垂直)方向に正確にスライドする必要があるとともに、少なくとも、いかなる場合でも隣り合う導電性磁石75が接触しないようにプローブユニット70を製造しなければならない。
Third point The screw of the terminal block is often a hemispherical round screw, and the conductive magnet 75 is attached to the hemispherical screw head rather than the conductive magnet 75 is attracted to the flat terminal of the flat substrate. Is easier to adsorb. Even if the conductive magnet 75 is obliquely attracted to the hemispherical screw head, there is an insulating partition wall, so that the conductive magnet 75 contacts (shorts) the adjacent conductive magnet 75 or the adjacent terminal. Absent.
Conversely, since there is an insulating partition wall, the probe 71 does not always have to slide accurately in the direction of 90 degrees (perpendicular) with respect to the plate surface of the unit plate 72. Therefore, the thickness of the unit plate 72 can be reduced, and the processing accuracy of the hole 73 of the unit plate 72 can be made rough. When there is no insulating partition, it is necessary to make the interval between the probes 71, that is, the interval between the conductive magnets 75 exactly coincide with the terminal interval, and the probe 71 is always 90 degrees (perpendicular) to the plate surface of the unit plate 72. The probe unit 70 must be manufactured so that it is necessary to slide accurately in the direction and at least the adjacent conductive magnets 75 are not in contact with each other in any case.

第4点目
端子台は、規格品であったり、メーカーの寸法・仕様が既知であるため、汎用性があり、端子台の規格・仕様に合わせた汎用性のプローブユニット70を事前に準備することができる。
たとえば、プローブ71の本数は、端子台の端子数と一致させればよい。
また、端子台自体が、絶縁筺体を有しているので、端子台の絶縁筺体に合わせて、ユニット板72が自律的に取り付けられればよい。具体的には、図4から図6に示した取付機構80は、端子台の絶縁筺体に対する取付機構80であればよい。
Fourth point The terminal block is a standard product, and since the manufacturer's dimensions and specifications are known, it has versatility, and a versatile probe unit 70 that matches the terminal block standards and specifications is prepared in advance. be able to.
For example, the number of probes 71 may be matched with the number of terminals on the terminal block.
Further, since the terminal block itself has an insulating casing, the unit plate 72 may be attached autonomously in accordance with the insulating casing of the terminal block. Specifically, the attachment mechanism 80 shown in FIGS. 4 to 6 may be any attachment mechanism 80 for the terminal block insulating housing.

以下に、接触機構60と取付機構80について、まとめて説明する。
接触機構60:プローブ71を端子に接触させる機構のこと。
図1から図3:導電性磁石75、及び/又は、ばね76
図4から図6:ばね76
取付機構80:プローブユニット70を回路基板や端子台に取り付ける機構のこと。
図1から図3:導電性磁石75(接触機構60と兼用)
図4:導電性磁石75(接触機構60と兼用)
図5:ねじ77
図6:クリップ78
以上で、プローブユニット70の説明を終了する。
Below, the contact mechanism 60 and the attachment mechanism 80 are demonstrated collectively.
Contact mechanism 60: A mechanism for bringing the probe 71 into contact with a terminal.
1 to 3: conductive magnet 75 and / or spring 76
4 to 6: spring 76
Attachment mechanism 80: A mechanism for attaching the probe unit 70 to a circuit board or a terminal block.
1 to 3: conductive magnet 75 (also used as contact mechanism 60)
Fig. 4: Conductive magnet 75 (also used as contact mechanism 60)
Figure 5: Screw 77
Figure 6: Clip 78
Above, description of the probe unit 70 is complete | finished.

以下、この実施の形態の配線確認システム100の配線確認装置30と情報処理装置40と配線確認方法とを説明する。
図8は、配線確認装置30と情報処理装置40の構成図である。
Hereinafter, the wiring confirmation device 30, the information processing device 40, and the wiring confirmation method of the wiring confirmation system 100 according to this embodiment will be described.
FIG. 8 is a configuration diagram of the wiring confirmation device 30 and the information processing device 40.

「マニアル検査モード」
この実施の形態の配線確認システム100は、
端子間の配線確認試験を行う配線確認システムであり、マニアル検査モードのために、
1本の送電側プローブ(プローブ針90)と、
複数の受電側プローブ21を備えた受電側プローブユニット20と、
送電側プローブ(プローブ針90)と受電側プローブユニット20の複数の受電側プローブ21とを治具ケーブル79を介して接続する配線確認装置30とを備えている。
プローブ針90は、プローブユニット70と同一構成をしていても構わない。
"Manual inspection mode"
The wiring confirmation system 100 of this embodiment includes:
It is a wiring confirmation system that performs a wiring confirmation test between terminals.
One power transmission side probe (probe needle 90);
A power receiving side probe unit 20 including a plurality of power receiving side probes 21;
A wiring confirmation device 30 for connecting the power transmission side probe (probe needle 90) and the plurality of power reception side probes 21 of the power reception side probe unit 20 via a jig cable 79 is provided.
The probe needle 90 may have the same configuration as the probe unit 70.

上記配線確認装置30は、
送電側プローブ(プローブ針90)に通電して、導通テストをする通電部34と、
通電部34が導通テストをしている間(通電中)に、受電側プローブユニット20の複数の受電側プローブ21に対して、受電側プローブ1本づつ順に、導通チェックをして、いずれの受電側プローブ21に導通があるかを判定する導通サーチ部32と、
導通サーチ部32が導通ありと判定した受電側プローブ21の番号を出力する表示器39とを備えたことを特徴とする。
The wiring confirmation device 30 includes:
An energization unit 34 for energizing the power transmission side probe (probe needle 90) and performing a continuity test;
While the energization unit 34 is conducting a continuity test (while energizing), the continuity check is performed on each of the power reception side probes 21 of the power reception side probe unit 20 one by one in order. A conduction search unit 32 for determining whether the side probe 21 has conduction;
The continuity search unit 32 is provided with a display 39 that outputs the number of the power receiving probe 21 that is determined to have continuity.

「自動検査モードの構成」
また、この実施の形態の配線確認システム100は、
複数の端子92と複数の端子93との間の配線確認試験を行う配線確認システム100であり、自動検査モードのために、複数の送電側プローブ11を備えた送電側プローブユニット10を備えている。
送電側プローブユニット10の複数の送電側プローブ11は、治具ケーブル79を介して配線確認装置30に接続されている。
上記配線確認装置30は、
送電側プローブユニット10の複数の送電側プローブ11に対して、送電側プローブ1本づつ順に通電して、導通テストをする導通テスト部31と、
導通テスト部31が導通テストをしている間(通電中)に、受電側プローブユニット20の複数の受電側プローブ21に対して、受電側プローブ1本づつ順に、導通チェックをして、いずれの受電側プローブ21に導通があるかを判定する導通サーチ部32と、
導通テスト部31が導通テストをした送電側プローブの番号と、導通サーチ部32が導通ありと判定した受電側プローブの番号とを出力する出力部33とを備えている。
"Configuring Automatic Inspection Mode"
In addition, the wiring confirmation system 100 of this embodiment includes:
A wiring confirmation system 100 that performs a wiring confirmation test between a plurality of terminals 92 and a plurality of terminals 93, and includes a power transmission side probe unit 10 including a plurality of power transmission side probes 11 for an automatic inspection mode. .
The plurality of power transmission side probes 11 of the power transmission side probe unit 10 are connected to the wiring confirmation device 30 via a jig cable 79.
The wiring confirmation device 30 includes:
A continuity test unit 31 for conducting a continuity test by energizing each of the power transmission side probes 11 of the power transmission side probe unit 10 one by one in order;
While the continuity test unit 31 is conducting a continuity test (while energizing), the continuity check is performed on each of the power reception side probes 21 of the power reception side probe unit 20 one by one in order. A continuity search unit 32 for determining whether the power receiving probe 21 has continuity;
An output unit 33 is provided for outputting the number of the power transmission side probe for which the continuity test unit 31 has performed the continuity test and the number of the power reception side probe for which the continuity search unit 32 has determined that there is continuity.

上記配線確認装置30は、さらに、入力部69を備え、入力部69から入力した情報やチェック結果や判定結果を記憶するメモリ37を備えている。
上記配線確認装置30の各部は、制御部36により制御される。制御部36は、マイクロプロセッサなどの中央処理装置(CPU)やファームウエアやプログラムを備え、配線確認装置30の各部を制御する。
また、配線確認装置30は、マニアル検査モードと自動検査モードとを切り替えるモード切り替えスイッチ35を有している。
The wiring confirmation device 30 further includes an input unit 69 and a memory 37 for storing information input from the input unit 69, check results, and determination results.
Each unit of the wiring confirmation device 30 is controlled by the control unit 36. The control unit 36 includes a central processing unit (CPU) such as a microprocessor, firmware, and a program, and controls each unit of the wiring confirmation device 30.
Further, the wiring confirmation device 30 has a mode changeover switch 35 for switching between the manual inspection mode and the automatic inspection mode.

「情報処理装置40の説明」
配線確認システム100は、さらに、配線確認装置30と接続される情報処理装置40を備えている。
上記情報処理装置40は、記憶部43を備えている。記憶部43は、配線データファイル44を記憶する。配線データファイル44には、端子対テーブル45とプローブ対テーブル46とがある。
端子対テーブル45は、複数の端子と複数の端子との間の正常な結線関係を、端子番号による端子対情報として記憶したものである。
情報処理装置40は、正常な端子対情報をキーボード50から入出力部49を介して入力する。
正常な端子対情報は、端子対テーブル45に記憶される。端子対テーブル45は複数記憶することができる。
“Description of Information Processing Device 40”
The wiring confirmation system 100 further includes an information processing device 40 connected to the wiring confirmation device 30.
The information processing apparatus 40 includes a storage unit 43. The storage unit 43 stores a wiring data file 44. The wiring data file 44 includes a terminal pair table 45 and a probe pair table 46.
The terminal pair table 45 stores a normal connection relationship between a plurality of terminals and a plurality of terminals as terminal pair information by terminal numbers.
The information processing apparatus 40 inputs normal terminal pair information from the keyboard 50 via the input / output unit 49.
Normal terminal pair information is stored in the terminal pair table 45. A plurality of terminal pair tables 45 can be stored.

上記情報処理装置40は、さらに、
上記出力部33が出力する導通テスト部31が導通テストをした送電側プローブの番号と、導通サーチ部32が導通ありと判定した受電側プローブの番号とをプローブ対情報として入力する取り込み部41と、
取り込み部41が入力したプローブ対情報をプローブ対テーブル46に記憶し、プローブ対情報を記憶部43の端子対テーブル45に記憶した端子対情報と比較して、配線に異常があるか否かを判定して表示画面51に出力する異常出力部48と
を備えている。
The information processing apparatus 40 further includes:
A capturing unit 41 for inputting, as probe pair information, the number of the power transmission side probe that the continuity test unit 31 outputs from the output unit 33 and the number of the power reception side probe that the continuity search unit 32 determines to have continuity; ,
The probe pair information input by the capturing unit 41 is stored in the probe pair table 46, and the probe pair information is compared with the terminal pair information stored in the terminal pair table 45 of the storage unit 43 to determine whether there is an abnormality in the wiring. An abnormality output unit 48 that determines and outputs the result to the display screen 51 is provided.

上記情報処理装置40は、一つの端子対テーブル45を選択して、配線確認装置30に出力する書き込み部42を備えている。出力された端子対テーブル45は、配線確認装置30において、端子対テーブル38としてメモリ37に記憶される。   The information processing apparatus 40 includes a writing unit 42 that selects one terminal pair table 45 and outputs the selected terminal pair table 45 to the wiring confirmation apparatus 30. The output terminal pair table 45 is stored in the memory 37 as the terminal pair table 38 in the wiring confirmation device 30.

上記情報処理装置40の各部は、CPU47により制御される。CPU47は、マイクロプロセッサやファームウエアやプログラムを備え、情報処理装置40の各部を制御する。   Each unit of the information processing apparatus 40 is controlled by the CPU 47. The CPU 47 includes a microprocessor, firmware, and a program, and controls each unit of the information processing apparatus 40.

「機能の説明」
配線確認システムは、接続先検索機能(機能1)と配線確認検査機能(機能2)を備えている。
"Function Description"
The wiring confirmation system has a connection destination search function (function 1) and a wiring confirmation inspection function (function 2).

(機能1:マニアル検査モード)
配線の接続先検索機能は、配線確認装置30に情報処理装置40を未接続の状態にて、任意の接続元端子92から接続先端子93の検索を行い配線確認装置30の表示器39に接続端子番号を表示する。
(Function 1: Manual inspection mode)
The wiring connection destination search function searches the connection destination terminal 93 from an arbitrary connection source terminal 92 and connects to the display 39 of the wiring confirmation device 30 in a state where the information processing device 40 is not connected to the wiring confirmation device 30. Displays the terminal number.

(機能2:自動検査モード)
配線確認検査機能は、配線確認装置30と情報処理装置40とを接続することにより、正常な配線データと比較することにより良否判定を行い、不具合箇所を発見すると不具合内容(ショート、オープン)を情報処理装置40の表示画面51に表示し、記憶部43の結果ファイルに良否結果を保存する。
(Function 2: Automatic inspection mode)
The wiring confirmation inspection function connects the wiring confirmation device 30 and the information processing device 40, makes a pass / fail judgment by comparing with the normal wiring data, and finds a defect location (short, open) information. The result is displayed on the display screen 51 of the processing device 40, and the pass / fail result is stored in the result file of the storage unit 43.

「動作の説明」
図9は、マニアル検査モードの動作フロー図である。
1.作業者の準備作業
配線確認装置30のPOWERスイッチのOFFを確認する。
モード切り替えスイッチ35で「マニアル」(接続先検索機能)を選択する。
情報処理装置40を除き、配線確認装置30にプローブ針90、受電側プローブユニット20を治具ケーブル79を介して接続する。
受電側プローブユニット20を回路基板91に取り付け、複数の受電側プローブ21を複数の端子93に接触させる。
"Description of operation"
FIG. 9 is an operation flowchart of the manual inspection mode.
1. Worker's preparatory work It is confirmed that the POWER switch of the wiring confirmation device 30 is OFF.
“MANUAL” (connection destination search function) is selected with the mode switch 35.
The probe needle 90 and the power receiving side probe unit 20 are connected to the wiring confirmation device 30 via the jig cable 79 except for the information processing device 40.
The power receiving side probe unit 20 is attached to the circuit board 91, and the plurality of power receiving side probes 21 are brought into contact with the plurality of terminals 93.

2.マニアル検査モードの動作
作業者が配線確認装置30のPOWERスイッチをONする。
この時点で、図9のフローがスタートする。
2. Operation in Manual Inspection Mode The operator turns on the POWER switch of the wiring confirmation device 30.
At this point, the flow of FIG. 9 starts.

S1:通電ステップ
作業者が接続元の任意の1個の端子92にプローブ針90を接触させる。そして、通電部34がプローブ針90に通電する。
S1: Energization step The operator brings the probe needle 90 into contact with any one terminal 92 of the connection source. Then, the energization unit 34 energizes the probe needle 90.

S2:導通検査ステップ
導通サーチ部32が受電側プローブユニット20の受電側プローブ21の導通状態を順に1端子づつ検査する。導通サーチ部32は全端子について導通検査をして導通のあった端子番号を制御部36に出力する。
S2: Continuity test step The continuity search unit 32 inspects the continuity state of the power receiving probe 21 of the power receiving probe unit 20 one by one in order. The continuity search unit 32 conducts a continuity test on all terminals and outputs the terminal numbers that have been conducted to the control unit 36.

S3:表示ステップ
制御部36は、導通検査をして導通のあった端子番号をすべて表示器39に表示すると共にブザーを鳴らす。ブザー音は、接続先端子93が一箇所の場合は、“ピッ“と1回鳴る。接続先端子93が複数箇所の場合は、“ピッピッピッ“と3回鳴る。
作業者は、表示器39の表示とブザー音で配線の正誤を確認する。
なお、S2において、制御部36が導通のあった端子番号をメモリ37に記憶し、S3において、作業者が後からメモリ37に記憶した端子番号を表示器39に表示してもよい。
S3: Display Step The control unit 36 conducts a continuity test and displays all terminal numbers that have been conducted on the display 39 and sounds a buzzer. A buzzer sounds once when the connection terminal 93 is at one location. When there are a plurality of connection destination terminals 93, “beep” sounds three times.
The operator confirms the correctness of the wiring with the display on the display 39 and the buzzer sound.
In S2, the terminal number with which the control unit 36 is conductive may be stored in the memory 37, and the terminal number stored in the memory 37 later by the operator may be displayed on the display 39 in S3.

図10は、自動検査モードの動作フロー図である。
1.作業者の準備作業
情報処理装置40の記憶部43の配線データファイル44の端子対テーブル45に、検査対象となる回路基板91の正常な配線関係を示す端子対情報を記憶しておく。たとえば、図11の端子対テーブル45がその一例である。端子対テーブル45の端子対情報は、作業者がキーボード50から入力することができる。
配線確認装置30のPOWERスイッチのOFFを確認する。
モード切り替えスイッチ35の「自動」(配線確認機能)を選択する。
配線確認装置30に、送電側プローブユニット10、受電側プローブユニット20を治具ケーブル79を介して接続する。
配線確認装置30に、情報処理装置40を接続する。
送電側プローブユニット10を回路基板91に取り付け、送電側プローブ11を端子92に接触させる。
受電側プローブユニット20を回路基板91に取り付け、受電側プローブ21を端子93に接触させる。
FIG. 10 is an operation flowchart of the automatic inspection mode.
1. Preparatory work of the worker The terminal pair information indicating the normal wiring relationship of the circuit board 91 to be inspected is stored in the terminal pair table 45 of the wiring data file 44 of the storage unit 43 of the information processing apparatus 40. For example, the terminal pair table 45 of FIG. 11 is an example. The terminal pair information of the terminal pair table 45 can be input from the keyboard 50 by the operator.
It is confirmed that the POWER switch of the wiring confirmation device 30 is OFF.
Select "automatic" (wiring check function) of the mode switch 35.
The power transmission side probe unit 10 and the power reception side probe unit 20 are connected to the wiring confirmation device 30 via a jig cable 79.
The information processing device 40 is connected to the wiring confirmation device 30.
The power transmission side probe unit 10 is attached to the circuit board 91, and the power transmission side probe 11 is brought into contact with the terminal 92.
The power receiving side probe unit 20 is attached to the circuit board 91, and the power receiving side probe 21 is brought into contact with the terminal 93.

2.自動検査モードの動作
作業者が、配線確認装置30のPOWERスイッチをONする。
作業者が、情報処理装置40のプログラムを起動する。
この時点で、図10のフローがスタートする。
2. Operation in Automatic Inspection Mode The operator turns on the POWER switch of the wiring confirmation device 30.
The worker activates the program of the information processing device 40.
At this point, the flow of FIG. 10 starts.

S41:選択ステップ
作業者が、記憶部43の複数の端子対テーブル45から一つの端子対テーブル45を選択する。
S41: Selection Step The operator selects one terminal pair table 45 from the plurality of terminal pair tables 45 in the storage unit 43.

S42:起動ステップ
CPU47は、配線確認装置30の自動検査モードを起動する。選択された端子対テーブル45は、CPU47により書き込み部42から出力される。
S42: Activation Step The CPU 47 activates the automatic inspection mode of the wiring confirmation device 30. The selected terminal pair table 45 is output from the writing unit 42 by the CPU 47.

S30:起動ステップ
配線確認装置30は、自動検査モードを起動し、情報処理装置40から端子対テーブル45を入力部69を介して入力する。制御部36は端子対テーブル45をメモリ37に端子対テーブル38として記憶する。
S30: Activation Step The wiring confirmation device 30 activates the automatic inspection mode and inputs the terminal pair table 45 from the information processing device 40 via the input unit 69. The control unit 36 stores the terminal pair table 45 in the memory 37 as the terminal pair table 38.

S31:導通テストステップ
導通テスト部31は、送電側プローブユニット10の複数の送電側プローブ11に対して、送電側プローブ1本づつ順に通電して、導通テストをする。
S31: Continuity test step The continuity test unit 31 conducts a continuity test by energizing the plurality of power transmission side probes 11 of the power transmission side probe unit 10 one by one in order.

S32:導通サーチステップ
導通サーチ部32は、導通テスト部31が導通テストをしている間(通電中)に、受電側プローブユニット20の複数の受電側プローブ21に対して、受電側プローブ1本づつ順に、導通チェックをして、いずれの受電側プローブ21に導通があるかを判定する。
S32: Continuity Search Step The continuity search unit 32 has one power-receiving-side probe for the plurality of power-receiving-side probes 21 of the power-receiving-side probe unit 20 while the continuity test unit 31 is conducting a continuity test. In turn, a continuity check is performed to determine which of the power receiving side probes 21 has continuity.

S33:出力ステップ
出力部33は、メモリ37の端子対テーブル38と比較して、導通テスト部31が導通テストをした送電側プローブの番号と、導通サーチ部32が導通ありと判定した受電側プローブの番号とが、端子対テーブル38の配線情報と異なる場合に、導通テスト部31が導通テストをした送電側プローブの番号と、導通サーチ部32が導通ありと判定した受電側プローブの番号とをプローブ対情報として出力する。
S33: Output Step The output unit 33 compares the terminal pair table 38 of the memory 37 with the number of the power transmission side probe that the continuity test unit 31 has conducted the continuity test, and the power reception side probe that the continuity search unit 32 has determined to have continuity. Is different from the wiring information of the terminal pair table 38, the number of the power transmission side probe for which the continuity test unit 31 has performed the continuity test and the number of the power reception side probe for which the continuity search unit 32 has determined that there is continuity are obtained. Output as probe pair information.

S34:ループステップ
上記S31からS33を、全送電側プローブ11に順に通電して繰り返す。
なお、S33の個々の導通検査結果の出力をやめ、S34の後に、まとめて出力してもよい。また、メモリ37の端子対テーブル38と比較することをせず、全導通検査結果を情報処理装置40に出力してもよい。
S34: Loop Step The above steps S31 to S33 are repeated by energizing all the power transmission probes 11 in order.
Note that the output of the individual continuity test results in S33 may be stopped and output collectively after S34. Further, the entire continuity test result may be output to the information processing apparatus 40 without being compared with the terminal pair table 38 of the memory 37.

S43:取り込みステップ
取り込み部41は、上記出力部33が出力する導通検査結果、即ち、導通テスト部31が導通テストをした送電側プローブの番号と、導通サーチ部32が導通ありと判定した受電側プローブの番号とをプローブ対情報として入力する。
S43: Capture step The capture unit 41 receives the continuity test result output by the output unit 33, that is, the number of the power transmitting probe that the continuity test unit 31 has performed the continuity test, and the continuity search unit 32 determines that there is continuity. The probe number and the probe pair information are input.

S44:比較ステップ
CPU47は、取り込み部41が入力したプローブ対情報をプローブ対テーブル46に記憶し、プローブ対情報を記憶部43の端子対テーブル45に記憶した端子対情報と比較して、配線に異常があるか否かを判定する。
S44: Comparison step The CPU 47 stores the probe pair information input by the capturing unit 41 in the probe pair table 46, compares the probe pair information with the terminal pair information stored in the terminal pair table 45 of the storage unit 43, and performs wiring. Determine whether there is an abnormality.

S45:出力ステップ
異常出力部48は、表示画面51に判定結果を出力する。
S45: Output Step The abnormality output unit 48 outputs the determination result to the display screen 51.

図11は、CPU47の比較判定動作の一例を示す図である。
図11において、端子対テーブル45は正常な配線を示す。プローブ対テーブル46は配線確認装置30からの全導通検査結果である。
端子対テーブル45において端子番号1と端子番号1とは結線されており、プローブ対テーブル46でも結線されているので正常な結線である。
端子対テーブル45において端子番号2と端子番号2とは結線されており、プローブ対テーブル46では結線されていないので、オープン状態であり異常出力される。
端子対テーブル45において端子番号3と端子番号4とは結線されており、プローブ対テーブル46ではプローブ番号3とプローブ番号3とが結線されているので、ショート状態であり異常出力される。
端子対テーブル45において端子番号4と端子番号3とは結線されており、プローブ対テーブル46ではプローブ番号4とプローブ番号4とが結線されているので、ショート状態であり異常出力される。
FIG. 11 is a diagram illustrating an example of the comparison determination operation of the CPU 47.
In FIG. 11, the terminal pair table 45 shows normal wiring. The probe pair table 46 is a result of all continuity inspection from the wiring confirmation device 30.
In the terminal pair table 45, the terminal number 1 and the terminal number 1 are connected, and since the probe pair table 46 is also connected, it is a normal connection.
Since the terminal number 2 and the terminal number 2 are connected in the terminal pair table 45 and are not connected in the probe pair table 46, the terminal pair table 45 is in an open state and is abnormally output.
Since the terminal number 3 and the terminal number 4 are connected in the terminal pair table 45 and the probe number 3 and the probe number 3 are connected in the probe pair table 46, they are short-circuited and abnormally output.
Since the terminal number 4 and the terminal number 3 are connected in the terminal pair table 45 and the probe number 4 and the probe number 4 are connected in the probe pair table 46, they are short-circuited and abnormally output.

実施の形態2.
実施の形態1と異なる点について以下に説明する。
実施の形態1では、端子対テーブル45をキーボード50から入力して作成したが、実施の形態2では、通電部34と情報処理装置40を用いて端子対テーブル45を自動作成する。
先ず、良品の回路基板91を準備する。良品の回路基板91は配線が正常であるものとする。
配線確認装置30は、良品の回路基板91に対して、上記図10のS31からS34を繰り返し、得られた全端子の配線情報を正常な端子対情報として出力部33から情報処理装置40に出力する。
情報処理装置40は、正常な端子対情報を取り込み部41から取り込み、CPU47は、その正常な端子対情報のファイル名を付して端子対テーブル45として登録する。以後、その端子対テーブル45は、正常な端子対情報を記憶した端子対テーブル45として用いることができる。
Embodiment 2. FIG.
Differences from the first embodiment will be described below.
In the first embodiment, the terminal pair table 45 is created by inputting from the keyboard 50, but in the second embodiment, the terminal pair table 45 is automatically created using the energization unit 34 and the information processing device 40.
First, a non-defective circuit board 91 is prepared. The non-defective circuit board 91 is assumed to have normal wiring.
The wiring confirmation device 30 repeats S31 to S34 in FIG. 10 on the non-defective circuit board 91, and outputs the obtained wiring information of all terminals from the output unit 33 to the information processing device 40 as normal terminal pair information. To do.
The information processing apparatus 40 captures normal terminal pair information from the capture unit 41, and the CPU 47 adds the file name of the normal terminal pair information and registers it as the terminal pair table 45. Thereafter, the terminal pair table 45 can be used as the terminal pair table 45 storing normal terminal pair information.

実施の形態3.
実施の形態1と2と異なる点について以下に説明する。
Embodiment 3 FIG.
Differences from Embodiments 1 and 2 will be described below.

プローブユニット70の複数のプローブ71の配列は、以下のように任意である。
(M,Nは任意の2以上の整数)
1行×N列
M行×1列
M行×N列
複数のプローブ71は、配列されていなくてもよい。複数のプローブ71は、端子92及び端子93の配置に合わせて、環状、角状、台形状、放射線状、曲線状、ランダムに配置されていてもよい。
The arrangement of the plurality of probes 71 of the probe unit 70 is arbitrary as follows.
(M and N are arbitrary integers of 2 or more)
1 row × N columns M rows × 1 columns M rows × N columns The plurality of probes 71 may not be arranged. The plurality of probes 71 may be arranged in a ring shape, a square shape, a trapezoidal shape, a radial shape, a curved shape, or at random according to the arrangement of the terminals 92 and 93.

送電側プローブユニット10の送電側プローブ11の数と受電側プローブユニット20の受電側プローブ21の数は異なっていてもよく、以下に述べるように、複数回の試験をすれば全端子の試験ができる。   The number of the power transmission side probes 11 of the power transmission side probe unit 10 and the number of the power reception side probes 21 of the power reception side probe unit 20 may be different. As will be described below, if a plurality of tests are performed, all terminals can be tested. it can.

「送電側プローブユニット10の送電側プローブ11の数<受電側プローブユニット20の受電側プローブ21の数の場合」
1から20番の端子92と1から20番の端子93を検査するに当たり、送電側プローブユニット10の送電側プローブ11の数=10本、受電側プローブユニット20の受電側プローブ21の数=20本の場合は、以下のように2回の試験をすればよい。
“When the number of power transmission side probes 11 of the power transmission side probe unit 10 <the number of power reception side probes 21 of the power reception side probe unit 20”
In inspecting the 1st to 20th terminals 92 and the 1st to 20th terminals 93, the number of the power transmission side probes 11 of the power transmission side probe unit 10 = 10 and the number of the power reception side probes 21 of the power reception side probe unit 20 = 20. In the case of a book, the test may be performed twice as follows.

1回目の試験
1から10番の端子92と10本の送電側プローブ11を接続する。
1から20番の端子93と20本の受電側プローブ21を接続する。
この結果、1から10番の端子92と1から20番の端子93の結線関係が判明する。
First test The first to tenth terminals 92 and the ten power transmission probes 11 are connected.
The 1st to 20th terminals 93 and the 20 power receiving probes 21 are connected.
As a result, the connection relationship between the first to tenth terminals 92 and the first to twentieth terminals 93 is found.

2回目の試験
11から20番の端子92と10本の送電側プローブ11を接続する。
1から20番の端子93と20本の受電側プローブ21を接続する。
この結果、11から20番の端子92と1から20番の端子93の結線関係が判明する。
1回目と2回目の試験により、1から20番の端子92と1から20番の端子93の結線関係がすべて判明する。
Second test 11 to No. 20 terminal 92 and 10 power transmitting probes 11 are connected.
The 1st to 20th terminals 93 and the 20 power receiving probes 21 are connected.
As a result, the connection relationship between the 11th to 20th terminals 92 and the 1st to 20th terminals 93 is found.
From the first and second tests, all the connections between the first to twentieth terminals 92 and the first to twentieth terminals 93 are found.

「送電側プローブユニット10の送電側プローブ11の数>受電側プローブユニット20の受電側プローブ21の数の場合」
1から20番の端子92と1から20番の端子93を検査するに当たり、送電側プローブユニット10の送電側プローブ11の数=20本、受電側プローブユニット20の受電側プローブ21の数=10本の場合は、以下のように2回の試験をすればよい。
“The number of power transmission side probes 11 of the power transmission side probe unit 10> the number of power reception side probes 21 of the power reception side probe unit 20”
In inspecting the 1st to 20th terminals 92 and the 1st to 20th terminals 93, the number of the power transmission side probes 11 of the power transmission side probe unit 10 = 20 and the number of the power reception side probes 21 of the power reception side probe unit 20 = 10. In the case of a book, the test may be performed twice as follows.

1回目の試験
1から20番の端子92と20本の送電側プローブ11を接続する。
1から10番の端子93と10本の受電側プローブ21を接続する。
この結果、1から20番の端子92と1から10番の端子93の結線関係が判明する。
First test 1 to 20 terminals 92 and 20 power transmitting probes 11 are connected.
The first to tenth terminals 93 and the ten power receiving probes 21 are connected.
As a result, the connection relationship between the 1st to 20th terminals 92 and the 1st to 10th terminals 93 is found.

2回目の試験
1から20番の端子92と20本の送電側プローブ11を接続する。
11から20番の端子93と10本の受電側プローブ21を接続する。
この結果、1から20番の端子92と11から20番の端子93の結線関係が判明する。
1回目と2回目の試験により、1から20番の端子92と1から20番の端子93の結線関係がすべて判明する。
Second test 1 to 20 terminals 92 and 20 power transmitting probes 11 are connected.
The 11th to 20th terminals 93 and the 10 power receiving probes 21 are connected.
As a result, the connection relationship between the 1st to 20th terminals 92 and the 11th to 20th terminals 93 is found.
From the first and second tests, all the connections between the first to twentieth terminals 92 and the first to twentieth terminals 93 are found.

プローブ71の数は、端子92あるいは端子93の数より多くてもよく、プローブ71が余っていてもかまわない。逆に、プローブ71の数は、端子92の数より少なくてもよく、上記の通り、複数回の試験をすればよい。   The number of probes 71 may be larger than the number of terminals 92 or terminals 93, and the number of probes 71 may be excessive. Conversely, the number of probes 71 may be smaller than the number of terminals 92, and as described above, a plurality of tests may be performed.

実施の形態4.
実施の形態1から3と異なる点について以下に説明する。
Embodiment 4 FIG.
Differences from the first to third embodiments will be described below.

回路基板91の代わりに、配線ケーブルを検査する場合や集積回路のピンを検査する場合でも構わない。配線ケーブルを検査する場合には、配線ケーブルの両端にあるコネクタと接続可能なコネクタを送電側プローブユニット10と受電側プローブユニット20の代わりの用いればよい。あるいは、配線確認装置30のコネクタ56と57とに、配線ケーブルの両端にあるコネクタを直接接続すればよい。
端子92と端子93とは、基板のパッドでもよいし、配線ランドでもよいし、電線を止めるねじでも構わない。また、集積回路のソケットピンでも構わない。また、コネクタ・ターミナル・ジャック・プラグ・スイッチなどと呼ばれるものでも構わない。
Instead of the circuit board 91, a case where a wiring cable is inspected or a pin of an integrated circuit may be inspected. When inspecting a wiring cable, connectors that can be connected to connectors at both ends of the wiring cable may be used instead of the power transmission side probe unit 10 and the power reception side probe unit 20. Or what is necessary is just to connect the connector in the both ends of a wiring cable to the connectors 56 and 57 of the wiring confirmation apparatus 30 directly.
The terminal 92 and the terminal 93 may be a board pad, a wiring land, or a screw for stopping the electric wire. Further, it may be a socket pin of an integrated circuit. Also, a connector, terminal, jack, plug, switch, or the like may be used.

ばね76は、ユニット板72とスライドエンド82とを連結した引張りコイルばねでもよい。また、ばね76は、端子92と導電性磁石75との接触を助けるもの、即ち、導電性磁石75を端子92に押すものであれば、コイルばねでなくてもよく、板ばねなどの他のばね構造のものでもよい。
また、ばね76は、鋼ばね・非鉄金属ばねなどの金属ばねに限らず、非金属ばねでもよい。たとえば、圧縮空気や弾性体(ゴム・スポンジ・合成樹脂)を用いた加圧構造のものでも構わない。蛇腹状・襞状の伸縮構造のものでも構わない。
The spring 76 may be a tension coil spring in which the unit plate 72 and the slide end 82 are connected. Further, the spring 76 may not be a coil spring as long as it assists the contact between the terminal 92 and the conductive magnet 75, that is, presses the conductive magnet 75 against the terminal 92. A spring structure may be used.
The spring 76 is not limited to a metal spring such as a steel spring or a non-ferrous metal spring, and may be a non-metal spring. For example, a pressurized structure using compressed air or an elastic body (rubber, sponge, synthetic resin) may be used. A bellows-like or bowl-like stretchable structure may be used.

胴部74をなくして、胴部74に代わりに導電性のばね76を用いてもよい。この場合は、治具ケーブル79と導電性磁石75とがばね76の両端に、はんだ付けされ、導電性磁石75とばね76と治具ケーブル79とは電気的に接続された状態になる。また、ばね76を磁石にすれば、導電性磁石75を省略することも可能である。   The body 74 may be eliminated, and a conductive spring 76 may be used instead of the body 74. In this case, the jig cable 79 and the conductive magnet 75 are soldered to both ends of the spring 76, and the conductive magnet 75, the spring 76, and the jig cable 79 are electrically connected. If the spring 76 is a magnet, the conductive magnet 75 can be omitted.

また、プローブ71の胴部74を磁石にし導電性磁石75を省略してもよい。   Further, the body 74 of the probe 71 may be a magnet and the conductive magnet 75 may be omitted.

端子番号やプローブ番号は数字でなくてもよく、A,B,C,・・・などの記号でもよいし、その他の一意に定まる記号や識別子でもよい。   The terminal number and probe number do not have to be numbers, but may be symbols such as A, B, C,..., Or other uniquely determined symbols or identifiers.

10 送電側プローブユニット、11 送電側プローブ、20 受電側プローブユニット、21 受電側プローブ、30 配線確認装置、31 導通テスト部、32 導通サーチ部、33 出力部、34 通電部、35 モード切り替えスイッチ、36 制御部、37 メモリ、38,45 端子対テーブル、39 表示器、40 情報処理装置、41 取り込み部、42 書き込み部、43 記憶部、44 配線データファイル、46 プローブ対テーブル、47 CPU、48 異常出力部、49 入出力部、50 キーボード、51 表示画面、60 接触機構、69 入力部、70 プローブユニット、71 プローブ、72 ユニット板、73 孔、74 胴部、75 導電性磁石、76 ばね、77 ねじ、78 クリップ、79 治具ケーブル、80 取付機構、82 スライドエンド、83 胴端部、84 絶縁パイプ、90 プローブ針、91 回路基板、92,93 端子、100 配線確認システム。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Power transmission side probe unit, 11 Power transmission side probe, 20 Power reception side probe unit, 21 Power reception side probe, 30 Wiring confirmation apparatus, 31 Continuity test part, 32 Continuity search part, 33 Output part, 34 Current supply part, 35 Mode change switch, 36 Control unit, 37 Memory, 38, 45 Terminal pair table, 39 Display, 40 Information processing device, 41 Capture unit, 42 Write unit, 43 Storage unit, 44 Wiring data file, 46 Probe pair table, 47 CPU, 48 Abnormal Output unit, 49 Input / output unit, 50 Keyboard, 51 Display screen, 60 Contact mechanism, 69 Input unit, 70 Probe unit, 71 Probe, 72 Unit plate, 73 Hole, 74 Body, 75 Conductive magnet, 76 Spring, 77 Screw, 78 clips, 79 Jig cable, 80 Attachment mechanism, 82 slide end, 83 barrel end, 84 insulation pipe, 90 probe needle, 91 circuit board, 92, 93 terminal, 100 wiring confirmation system.

Claims (6)

複数の端子の導通試験を行うプローブユニットにおいて、
複数の孔が設けられたユニット板と、
ユニット板に設けられた複数の孔にスライド可能に取り付けられた複数のプローブと
を備え、
上記複数のプローブの各プローブは、
孔をスライドする導電性の胴部と、
胴部の一端を端子に電気的に接触させる接触機構とを備えたことを特徴とするプローブユニット。
In the probe unit that conducts the continuity test of multiple terminals,
A unit plate provided with a plurality of holes;
A plurality of probes slidably mounted in a plurality of holes provided in the unit plate,
Each probe of the plurality of probes is
A conductive body that slides through the hole;
A probe unit comprising: a contact mechanism for electrically contacting one end of the body portion with the terminal.
上記接触機構は、胴部の一端に取り付けられ端子に吸着する導電性磁石を有することを特徴とする請求項1記載のプローブユニット。   The probe unit according to claim 1, wherein the contact mechanism includes a conductive magnet attached to one end of the body portion and attracted to the terminal. 上記接触機構は、胴部の周囲に設けられ胴部の一端を端子に押し付けるばねを有することを特徴とする請求項1又は2記載のプローブユニット。   The probe unit according to claim 1, wherein the contact mechanism includes a spring that is provided around the body portion and presses one end of the body portion against the terminal. 端子間の配線確認試験を行う配線確認システムにおいて、
1本の送電側プローブと、
複数の受電側プローブを備えた受電側プローブユニットと、
送電側プローブと受電側プローブユニットの複数の受電側プローブとを接続する配線確認装置とを備え、
上記配線確認装置は、
送電側プローブに通電して、導通テストをする通電部と、
通電部が導通テストをしている間に、受電側プローブユニットの複数の受電側プローブに対して、受電側プローブ1本づつ順に、導通チェックをして、いずれの受電側プローブに導通があるかを判定する導通サーチ部と、
導通サーチ部が導通ありと判定した受電側プローブの番号を出力する表示器とを備えたことを特徴とする配線確認システム。
In a wiring confirmation system that performs a wiring confirmation test between terminals,
One power transmission probe,
A power receiving side probe unit including a plurality of power receiving side probes; and
A wiring check device for connecting a power transmission side probe and a plurality of power reception side probes of the power reception side probe unit;
The wiring confirmation device
An energizing unit for conducting a continuity test by energizing the probe on the power transmission side;
While the energization unit is conducting the continuity test, the continuity check is performed on each of the power reception side probes of the power reception side probe unit one by one in order, and which power reception side probe is conductive. A continuity search unit for determining
A wiring confirmation system comprising: a display that outputs a number of a power receiving probe that is determined to be conductive by a continuity search unit.
複数の端子と複数の端子との間の配線確認試験を行う配線確認システムにおいて、
複数の送電側プローブを備えた送電側プローブユニットと、
複数の受電側プローブを備えた受電側プローブユニットと、
送電側プローブユニットの複数の送電側プローブと受電側プローブユニットの複数の受電側プローブとを接続する配線確認装置とを備え、
上記配線確認装置は、
送電側プローブユニットの複数の送電側プローブに対して、送電側プローブ1本づつ順に通電して、導通テストをする導通テスト部と、
導通テスト部が導通テストをしている間に、受電側プローブユニットの複数の受電側プローブに対して、受電側プローブ1本づつ順に、導通チェックをして、いずれの受電側プローブに導通があるかを判定する導通サーチ部と、
導通サーチ部の判定結果を出力する出力部とを備えたことを特徴とする配線確認システム。
In a wiring confirmation system that performs a wiring confirmation test between a plurality of terminals and a plurality of terminals,
A power transmission side probe unit including a plurality of power transmission side probes; and
A power receiving side probe unit including a plurality of power receiving side probes; and
A wiring confirmation device for connecting a plurality of power transmission side probes of the power transmission side probe unit and a plurality of power reception side probes of the power reception side probe unit;
The wiring confirmation device
A continuity test unit for conducting a continuity test by sequentially energizing each of the power transmission side probes of the power transmission side probe unit one by one;
While the continuity test unit conducts the continuity test, the continuity check is performed on each of the power reception side probes of the power reception side probe unit one by one, and any of the power reception side probes has continuity. A continuity search unit for determining whether or not
A wiring check system comprising: an output unit that outputs a determination result of the continuity search unit.
配線確認システムは、さらに、配線確認装置と接続される情報処理装置を備え、
上記情報処理装置は、
複数の端子と複数の端子との間の結線関係を、端子番号による端子対情報として記憶する記憶部と、
上記出力部が出力する判定結果をプローブ対情報として入力する取り込み部と、
取り込み部が入力したプローブ対情報を、記憶部に記憶した端子対情報と比較して、配線に異常があるか否かを判定して出力する異常出力部と
を備えたことを特徴とする請求項5記載の配線確認システム。
The wiring confirmation system further includes an information processing device connected to the wiring confirmation device,
The information processing apparatus
A storage unit that stores connection relationships between a plurality of terminals and a plurality of terminals as terminal pair information by terminal numbers;
A capturing unit that inputs the determination result output by the output unit as probe pair information;
An abnormality output unit that compares the probe pair information input by the capturing unit with the terminal pair information stored in the storage unit to determine whether or not there is an abnormality in the wiring and outputs the abnormality. Item 6. The wiring confirmation system according to item 5.
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