KR102538466B1 - 인공 위성의 정밀한 정렬을 위한 접착면 구조를 가지는 측정용 지그 - Google Patents

인공 위성의 정밀한 정렬을 위한 접착면 구조를 가지는 측정용 지그 Download PDF

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Abstract

일 실시예는 인공 위성의 정밀한 정렬을 위한 측정용 지그에 있어서 몸체, 상기 몸체의 일측에 위치한 광학 재료 접착면 및 상기 접착면에 대해 상기 접착면으로부터 상기 몸체의 타측에 위치한 타측면까지 연장하는 원통형 관통홀을 포함하고, 상기 접착면은 광학 재료가 맞물리는 접착 평면, 상기 관통홀의 원주를 따라 배열되고 방사 방향으로 연장하는 복수 개의 홈들 및 상기 홈들 사이의 모따기부들을 포함하는 측정용 지그에 관한 것으로서, 인공 위성 정렬 측정에 적합하다.

Description

인공 위성의 정밀한 정렬을 위한 접착면 구조를 가지는 측정용 지그{JIG WITH ADHESIVE SURFACE STRUCTURE FOR PRECISION ALIGNMENT MEASUREMENT OF SATELLITE}
이하 실시예들은 인공 위성의 정밀한 정렬을 위한 접착면 구조를 포함하는 측정용 지그에 관한 것이다.
인공 위성의 조립 정확도를 확인하기 위해서는 정밀 정렬(Alignment) 측정을 수행해야한다. 정밀정렬 측정은 수평각과 수직각을 측정할 수 있는 경위의(데오드라이트, Theodolite)와 레이저(Laser)를 반사할 수 있는 옵티컬 미러 또는 큐브(Optical Mirror or Cube)를 이용하여 광학적 메카니즘으로 진행된다.
이때 위성본체와 서브 시스템 유닛(Sub system Unit)에 광학 재료(미러 또는 큐브)를 부착하고 해당 광학체로부터 얻을 수 있는 방향벡터로 조립 정확도를 판단하게 된다.
측정용 광학 재료는 접착제 혹은 기계적인 조립방법을 통해 측정 대상물에 고정 및 접착 되어야한다. 또한 광학 재료의 고정 및 접착 정확도가 떨어지면 측정대상물의 조립 정확도에 오차를 부여하기 때문에 정확도를 확보하는 것이 중요하다.
예를 들어, 한국 공개특허공보 제10-2015-0181579는 위성체 얼라인먼트 통합 측정 장치 및 방법을 개시한다.
일 실시예에 따른 목적은 광학 재료가 편평하게 접착될 수 있는 접착면을 가지는 측정용 지그를 제공하는 것이다.
일 실시예에 따른 목적은 인공 위성의 정밀한 정렬을 위한 측정에 적합한 측정용 지그를 제공하는 것이다.
일 실시예에 따른 목적은 광학 재료를 측정용 지그에 편평하게 접착시킬 수 있는 방법을 제공하는 것이다.
일 실시예에 따른 인공 위성의 정밀한 정렬을 위한 측정용 지그는 몸체, 상기 몸체의 일측에 위치한 광학 재료 접착면 및 상기 접착면에 대해 상기 접착면으로부터 상기 몸체의 타측에 위치한 타측면까지 연장하는 원통형 관통홀을 포함할 수 있다.
상기 접착면은 광학 재료가 맞물리는 접착 평면, 상기 관통홀의 원주를 따라 배열되고 방사 방향으로 연장하는 복수 개의 홈들 및 상기 홈들 사이의 모따기부들을 포함할 수 있다.
상기 홈들은 서로 동일한 형상이고 측면으로 인접한 상기 홈들 사이의 상기 관통홀의 중심축에 대한 각도가 동일하게 배열될 수 있다.
또한 상기 홈들은 상기 접착 평면으로부터 상기 타측면 방향으로 연장하고, 상기 타측면과 만나지 않을 수 있다.
또한 상기 홈들 중 마주보는 2개의 홈들은, 상기 나머지 홈들보다 더 길게 연장할 수 있다.
일 실시예에 따른 인공 위성의 정밀한 정렬을 위한 측정용 지그는 상기 접착 평면의 지름과 상기 관통홀의 지름의 비는 3:1 에서 5:1일 수 있다.
상기 모따기부들의 모따기 시작위치는, 각각의 모따기부 양측에 위치하는 2개의 인접한 상기 홈들의 상기 관통홀 반대측 단부를 연결한 모서리일 수 있다.
상기 홈들 중 이웃하는 2개의 홈들은 직접 만나지 않을 수 있다.
일 실시예에 따른 인공 위성의 정밀한 정렬을 위한 측정용 지그의 제작 방법은 몸체, 상기 몸체의 일측에 위치하고 접착 평면과 접착구조를 포함하는 광학 재료 접착면, 상기 접착면에 대해 상기 접착면으로부터 상기 몸체의 타측에 위치한 타측면까지 연장하는 원통형 관통홀을 포함하는 지그가 제공되는 단계, 상기 접착 평면에 광학 재료를 위치시키는 단계, 상기 타측면으로부터 상기 관통홀에 접착제가 주입되는 단계 및 상기 접착제를 경화시키는 단계를 포함할 수 있다.
상기 접착제가 주입되는 단계는 상기 접착제가 상기 관통홀의 단면을 충진하는 때로 완료 시점이 결정될 수 있다.
일 실시예에 따른 측정용 지그의 접착면에는 광학 재료가 편평하게 접착될 수 있다.
일 실시예에 따른 측정용 지그는 인공 위성의 정밀한 정렬을 위한 측정에 적합하다.
일 실시예에 따른 측정용 지그 제작 방법은 광학 재료를 측정용 지그에 편평하게 접착시킬 수 있게 한다.
일 실시예에 따른 측정용 지그의 효과는 이상에서 언급된 것들에 한정되지 않으며, 언급되지 아니한 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 인공 위성의 정밀 정렬 측정을 위해 인공 위성의 추력기와 같은 인공 위성의 일부분에 조립되고, 광학 재료가 부착된 일 실시예에 따른 측정용 지그를 도시한다.
도 2는 일 실시예에 따른 측정용 지그의 사시도이다.
도 3a는 일 실시예에 따른 측정용 지그의 마주보는 홈들을 기준으로 하는 일 실시예에 따른 측정용 지그의 단면도이다.
도 3b는 일 실시예에 따른 측정용 지그의 마주보는 모따기부들을 기준으로 하는 일 실시예에 따른 측정용 지그의 단면도이다.
도 4a는 접착제가 주입된 상태의 일 실시예에 따른 측정용 마주보는 홈들을 기준으로 하는 일 실시예에 따른 측정용 지그의 단면도이다.
도 4b는 접착제가 주입된 상태의 일 실시예에 따른 측정용 지그의 마주보는 모따기부들을 기준으로 하는 일 실시예에 따른 측정용 지그의 단면도이다.
도 5a는 일 실시예에 따른 측정용 지그의 접착면의 확대도이다.
도 5b는 다른 실시예에 따른 측정용 지그의 접착면의 확대도이다.
도 5c는 다른 실시예에 따른 측정용 지그의 접착면의 확대도이다.
도 6은 일 실시예에 따른 측정용 지그의 효과를 증명하기 위한 실험에 사용된 플레이트이다.
도 7은 일 실시예에 따른 측정용 지그의 효과를 증명하기 위한 실험에서 접착제 경화 과정을 나타낸다.
이하에서, 첨부된 도면을 참조하여 실시예들을 상세하게 설명한다. 그러나, 실시예들에는 다양한 변경이 가해질 수 있어서 특허출원의 권리범위가 이러한 실시예들에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 실시예들에 대한 모든 변경, 균등물 내지 대체물이 권리 범위에 포함되는 것으로 이해되어야 한다.
실시예에서 사용한 용어는 단지 설명을 목적으로 사용된 것으로, 한정하려는 의도로 해석되어서는 안된다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 실시예가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
또한, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 도면 부호에 관계없이 동일한 구성 요소는 동일한 참조부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 실시예를 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 실시예의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.
또한, 실시예의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
어느 하나의 실시예에 포함된 구성요소와, 공통적인 기능을 포함하는 구성요소는, 다른 실시예에서 동일한 명칭을 사용하여 설명하기로 한다. 반대되는 기재가 없는 이상, 어느 하나의 실시예에 기재한 설명은 다른 실시예에도 적용될 수 있으며, 중복되는 범위에서 구체적인 설명은 생략하기로 한다.
도 1은 인공 위성(3)의 정밀한 정렬을 위한 측정을 위해 인공 위성(3)의 추력기와 같은 인공 위성(3)의 일부분에 조립되고, 광학 재료(2)가 부착된 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)를 도시한다. 상술한 바와 같이 인공 위성(3)의 본체 및 서브 유닛 등이 서로 정확하게 조립되었는지 확인하기 위하여, 광학 재료(2)를 이용하여 정렬 상태를 측정한다. 구체적으로, 광학 재료(2)를 인공 위성(3)의 본체 및 서브 유닛 등 여러 위치에 부착한 후, 각각의 광학 재료(2)로부터 얻는 방향 벡터를 이용하여 조립의 정확성을 확인하는 것이다.
이 때 도 1에 도시된 바와 같이, 광학 재료(2)는 인공 위성(3)의 부분들에 직접적으로 결합 또는 부착되지 않고, 조립 정확도 측정을 위해 별도로 제작된 측정용 지그(100)에 부착되고 이후에 그 측정용 지그(100)가 인공 위성(3)의 부분들에 결합될 수 있다.
측정용 지그(100)의 인공 위성(3)에 대한 결합 구조를 정밀하게 제작함으로써, 측정용 지그(100) 및 인공 위성(3) 사이의 결합 정확성은 개선할 수 있다. 반면에 광학 재료(2)는 접착제(4)를 이용하여 측정용 지그(100)의 접착면(120)에 부착되므로, 접착면(120)에 도포된 접착제(4)의 상태에 따라 광학 재료(2)가 편평하게 부착되지 않을 수도 있다.
이에 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)는 편평한 광학 재료(2)의 부착을 위한 접착면(120)을 포함할 수 있다.
도 2는 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 사시도이고, 도 3a는 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 마주보는 홈들(122)을 기준으로 하는 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 단면도이고, 도 3b는 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 마주보는 모따기부들(123)을 기준으로 한 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 단면도이고, 도 4a는 접착제(4)가 주입된 상태의 일 실시예에 따른 측정용 마주보는 홈들(122)을 기준으로 한 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 단면도이고, 도 4b는 접착제(4)가 주입된 상태의 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 마주보는 모따기부들(123)을 기준으로 한 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 단면도이다. 전체적인 이해를 위해서 도2 내지 도4b를 함께 참조한다.
도 2, 도 3a 및 도 3b를 참조하면, 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 전체적인 구조 및 단면도가 나타난다. 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)는 원통형의 몸체(110), 몸체(110)의 일측에 위치한 광학 재료(2) 접착면(120), 몸체(110)의 타측에 위치한 타측면(140) 및 몸체(110)의 일측에서 타측까지 연장하는 관통홀(130)을 포함할 수 있다.
후술하겠지만 광학재료의 접착과정을 간략히 설명하면, 접착면(120)에 광학 재료(2)가 놓인 뒤, 접착면(120)이 아래로 가고 타측면(140)이 위로 오게 된 상태에서 관통홀(130)에 접착제(4)를 주입하게 함으로써, 접착면(120)과 광학 재료(2) 사이의 틈새를 통해 접착면(120)에 전체적으로 접착제(4)가 스며들게 하여 광학 재료(2)를 측정용 지그(100)에 접착시킨다.
도 4a 및 도 4b를 참조하면, 상기의 과정이 마쳐지고 다시 광학 재료(2)가 위쪽으로 가게 놓인 상태의 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 단면이 도시되고, 접착제(4)는 모따기부들(123) 및 홈들(122)에 만충되어 있다. 도 4a 및 도 4b에 도시되지 않았지만, 광학 재료(2)와 접착 평면(121) 사이에는 접착제(4)가 스며들어 있을 수 있다.
일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 몸체(110)는 원통형의 형상으로 한정되지 않고 다양한 형상을 가질 수 있다. 또한 도 2 및 도 3a에 도시되지 않았지만, 몸체(110)는 타측면(140) 쪽에 인공 위성(3)의 일부분에 결합될 수 있는 구조를 포함할 수 있다.
일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 관통홀(130)은 실린더 형태일 수 있다. 또한 접착 평면(121)의 중앙부에 관통홀(130)이 위치할 수 있다.
일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 접착면(120)에는 광학 재료(2)가 접착될 수 있다. 접착면(120)은 광학 재료(2)가 직접 맞물리는 접착 평면(121), 관통홀(130)의 원주를 따라 배열되고 방사 방향으로 연장하는 복수 개의 홈들(122) 및 홈들(122) 사이의 모따기부들(123)을 포함할 수 있다.
접착 평면(121)의 면적은 관통홀(130)의 관통 단면적 및 광학 재료(2)의 밑면의 면적보다 더 클 수 있다. 이 때, 충분한 접착 표면을 확보를 위해서 또한 접착제(4)의 표면 장력으로 인해 접착제(4)가 관통홀(130)을 잘 통과하지 못하는 것을 막기 위해서, 접착 평면(121)의 지름은 관통홀(130)의 지름의 3배 이상일 수 있다.
한편, 접착 평면(121)의 면적이 관통홀(130)에 비해 과도하게 커지는 것을 방지하기 위해, 접착 평면(121)의 지름은 관통홀(130)의 지름의 5배 이하일 수 있다.
일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 접착 평면(121)에는 접착제(4)가 직접적으로 도포되는 것은 아니다. 하지만 상술한 바와 같이, 관통홀(130)로부터 주입된 접착제(4)가 홈들(122) 또는 모따기부들(123)을 통해, 접착 평면(121) 및 광학 재료(2) 사이로 스며들 수 있다.
도 2를 참조하면, 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 홈들(122)의 형상은 서로 동일할 수 있다. 하지만 홈들(122)의 형상은 제한되지 않으므로, 후술할 다른 실시예(도 5b)에 따른 측정용 지그(100)의 홈들(122)의 형상은 서로 다를 수 있다.
홈들(122)의 깊이 즉, 접착 평면(121)으로부터 홈의 밑면까지의 길이는 다양할 수 있다. 홈들(122)은 접착 평면(121)으로부터 타측면(140) 방향으로 연장할 수 있다. 이 때 홈들(122)의 깊이가 너무 깊어서 몸체(110)가 관통되지 않도록, 도 3a 및 도 3b에 도시된 바와 같이 홈들(122)은 타측면(140)과 만나지 않을 수 있다.
또한 홈들(122)의 개수는 제한되지 않으므로, 통상의 기술자는 홈들(122)의 개수를 예를 들면 3개, 4개, 6개 및 8개 등으로 설정할 수 있다. 도 2를 참조하면, 홈들(122)의 개수가 6개인 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)가 나타난다.
이때 홈들(122)은 대칭으로 배열될 수 있다. 또한 관통홀(130)의 원주를 따라 배열되는 경우, 관통홀(130)의 중심축을 기준으로 인접한 홈들(122) 사이의 각도가 동일하게 배열될 수 있다. 예를 들어 도 2를 참조하면 6개의 홈들(122) 중 인접한 2개의 홈들(122)의 관통홀(130)의 중심축에 대한 각도는 60도가 될 수 있다.
여러 홈들(122)이 원주를 따라 배열되는 경우, 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 홈들(122)은 스스로 독립적인 형태를 갖추기 위해 이웃하는 2개의 홈들(122)은 직접 만나지 않을 수 있다. 서로 이격되어 독립적인 형태를 갖춤으로써, 홈들(122)에 접착제(4)는 개별적으로 충진될 수 있다.
일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 모따기부들(123)의 모따기 각도는 다양할 수 있다. 구체적으로 모따기부들(123)의 모따기 각도는 30도, 45도 또는 60도일 수 있다. 이 경사진 부분을 따라서, 관통홀(130)로 주입된 접착제(4)가 스며들어 접착 평면(121)과 광학 재료(2) 사이에 도포될 수 있다.
도 2를 참조하면, 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 모따기부들(123)의 모따기 시작위치는 각각의 모따기부 양측에 위치하는 2개의 인접한 홈들(122)의 관통홀(130) 반대측 단부보다 더 관통홀(130)에 가까울 수 있다. 한편 다른 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 모따기부들(123)의 모따기 시작위치는 모따기부 양측에 위치하는 2개의 인접한 상기 홈들(122)의 상기 관통홀(130) 반대측 단부를 연결한 모서리일 수 있다.
한편, 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 접착면(120) 금속재료는 알루미늄 6061일 수 있다. 이는 접착면(120)과 위성부품이 맞닿을 때, 접착면(120)의 금속강성을 위성부품보다 약한 소재로 선택하여, 접착면(120) 부착으로 인한 위성부품 손상방지를 위한 것이다.
한편, 일 실시예에 따른 접착면(120) 구조는 평면가공(MCT가공 : Machine Center Tooling) 또는 원형가공(선반 가공)을 통해 가공될 수 있다. 이는 원하는 접착면(120)을 얻기 위한 것이다.
한편 접착제(4)는 위성개발에 많이 사용되는 EC2216과 일반적인 산업현장에서 많이 사용되는 록타이트가 사용될 수 있다.
일 실시예에 따른 측정용 지그(100)에 광학 재료(2)를 접착시켜서, 광학 재료(2)가 접착된 인공 위성(3) 정밀정렬 측정용 지그(100)를 제작하는 방법은 아래와 같이 수행될 수 있다.
상술한 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)가 제공되는 단계, 접착 평면(121)에 광학 재료(2)를 위치시키는 단계, 광학 재료(2)가 아래로 가고 타측면(140)이 위로 가도록 광학 재료(2) 및 측정용지그가 배향되는 단계, 타측면(140)으로부터 관통홀(130)에 접착제(4)가 주입되는 단계, 접착제(4)가 모따기부들(123)과 홈들(122)을 모두 충진하여 도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이 접착제(4)가 관통홀(130)의 단면을 충진하는 때 충진이 완료되는 단계 및접착제(4)를 경화시키는 단계의 단계들을 거쳐서 수행될 수 있다.
상술한 바와 같이 접착제(4)가 관통홀(130)의 단면을 충진하는 때로 충진 완료 시점을 결정한 것은, 이 경우에 중력에 의해 접착제(4)가 모따기부들(123) 및 홈들(122) 모두에 충진되었음을 알 수 있기 때문이다.
다음으로, 도 5a는 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 접착면(120)의 확대도이고, 도 5b는 다른 실시예에 따른 측정용 지그(미도시)의 접착면(220)의 확대도이고, 도 5c는 다른 실시예에 따른 측정용 지그(미도시)의 접착면(320)의 확대도이다. 접착면(120,220,320)의 세부 구성들인 홈들(122,222,223,322)의 형태 또는 모따기부들(123,224,323)의 시작위치 등의 차이에 따라 다양한 실시예들이 존재할 수 있다.
도 5a의 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 접착면(120)은 6개의 모두 동일한 형태의 홈들(122)을 가지고 있고, 모따기부들(123)의 시작 위치는 각각의 모따기부(123) 양측에 위치하는 2개의 인접한 홈들(122)의 관통홀(130) 반대측 단부보다 관통홀(130)에 더 가깝다. 이하 이 실시예를 제1 실시예라고 한다.
도 5b에는 다른 실시예에 따른 측정용 지그(미도시)의 접착면(220)이 도시되어 있다. 이하, 이 실시예는 제2 실시예라고 한다. 제2 실시예에 따른 측정용 지그(미도시)의 홈들(222,223)은 제1 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 홈들(122)에 비해서 폭이 더 크다. 이를 통해 제2 실시예에 따른 측정용 지그(미도시)의 홈들(222,223)에는 더 많은 접착제가 충진될 수 있다.
또한 마주보는 위치의 2개의 홈들(223)의 길이가 더 길다. 이를 통해 접착 평면에서 관통홀의 중심축에 먼 부분까지 접착제가 스며들도록 유도할 수 있다.
도 5c에는 또 다른 실시예에 따른 측정용 지그(미도시)의 접착면(320)이 도시되어 있다. 이하 이 실시예는 제3 실시예라고 한다. 제3 실시예에 따른 측정용 지그(미도시)의 홈들(322)도 제2 실시예에 따른 측정용 지그(미도시)의 홈들(222,223)과 마찬가지로, 제1 실시예의 측정용 지그(100)의 홈들(122)에 비해 폭이 더 크다.
그 외에도, 모따기부(323)의 시작 위치가 제1 실시예에 따른 측정용 지그(100)의 모따기부들(123)의 시작위치해 비해 관통홀의 중심축에서 멀다. 이를 통해 접착제의 침투 효과를 높일 수 있다.
아무런 접착면 형상이 없는 측정용 지그와 달리, 상기 실시예들에 따른 측정용 지그(100)를 포함한 일 실시예에 따른 측정용 지그(100)에는 광학 재료(2)가 더욱 편평하게 부착되어 부착 정확도가 개선될 수 있다. 이 효과는 아래의 실험을 통해서 증명된다.
실험을 위해서, 제1 실시예에 따른 측정용 지그(100) 및 접착면을 구비하지 않는 비교예에 따른 측정용 지그를 준비하였다.
실험에 사용할 광학 재료(2)는 아래 표와 같은 스펙을 가진 것을 사용하였다. 또한, 편평도 측정을 위해서는 CMM(Coordinate Measuring Machine)을 이용하였다.
[광학 재료의 스펙]
Wavelength Range 250~600nm
Material Borofloat 33
Refelectivity R_avg > 90% @250~600nm
Diameter 19.05 mm
Thickness 4.57 mm
비교예에 따른 측정용 지그의 표면에 접착제(4)를 투여한 뒤 광학 재료(2)를 부착하였고, 제1 실시예에 따른 측정용 지그(100)에는 광학 재료(2)를 접착 평면(121)에 위치시킨 뒤 타측면(140)으로부터 관통홀(130)을 통해 접착제(4)를 주입시켜 접착시켰다. 이후 접착제가 경화되는 시간을 거치며, 외부 충격이 가해지지 않도록 별도의 구역에서 보관하며 큐어링(curing)을 진행하였다.
경화이후 CMM을 이용하여 평행도를 측정한 결과, 아래 표 2와 같은 결과 값을 취득할 수 있었다.
[실험 결과]
항목 접착제 주입방식 평행도
비교예 Locktite 전면 0.6121
실시예 Locktite 후면 0.0677
실험결과에 따르면, 일실시예에 따른 접착면의 존재 여부에 따라 평행도에서 큰 편차가 나타났다. 즉, 일 실시예에 따른 측정용 지그를 이용하여 인공 위성의 정밀 정렬을 측정하면 비교예에 따른 측정용 지그를 사용할 때보다 더욱 정밀한 정렬을 할 수 있음을 알 수 있다.
이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기를 기초로 다양한 기술적 수정 및 변형을 적용할 수 있다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.
그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 청구범위와 균등한 것들도 후술하는 청구범위의 범위에 속한다.
2 : 광학 재료
3 : 인공 위성
4 : 접착제
100 : 측정용 지그

Claims (9)

  1. 인공 위성의 정밀한 정렬을 위한 측정용 지그에 있어서,
    몸체;
    상기 몸체의 일측에 위치한 광학 재료 접착면; 및
    상기 접착면에 대해 상기 접착면으로부터 상기 몸체의 타측에 위치한 타측면까지 연장하는 원통형 관통홀;
    을 포함하고,
    상기 접착면은,
    광학 재료가 맞물리는 접착 평면;
    상기 관통홀의 원주를 따라 배열되고, 방사 방향으로 연장하는 복수 개의 홈들; 및
    상기 홈들 사이의 모따기부들;
    을 포함하고,
    상기 접착 평면의 지름과 상기 관통홀의 지름의 비는 3:1 에서 5:1이고,
    상기 모따기부들의 모따기 시작위치는, 각각의 모따기부 양측에 위치하는 2개의 인접한 상기 홈들의 상기 관통홀 반대측 단부를 연결한 모서리이고,
    상기 홈들 중 이웃하는 2개의 홈들은 직접 만나지 않고,
    상기 모따기부들의 시작 위치는 각각의 모따기부 양측에 위치하는 2개의 인접한 홈들의 관통홀 반대측 단부보다 상기 관통홀에 더 가깝고,
    상기 홈들은,
    상기 접착 평면으로부터 상기 타측면 방향으로 연장하고, 상기 타측면과 만나지 않는,
    측정용 지그.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 홈들은,
    서로 동일한 형상이고, 측면으로 인접한 상기 홈들 사이의 상기 관통홀의 중심축에 대한 각도가 동일하게 배열되는,
    측정용 지그.
  3. 삭제
  4. 제1항에 있어서,
    상기 홈들 중 마주보는 2개의 홈들은, 나머지 홈들보다 더 길게 연장하는,
    측정용 지그.
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 인공 위성의 정밀한 정렬을 위한 측정용 지그의 제작 방법에 있어서,
    몸체, 상기 몸체의 일측에 위치하고 접착 평면과 접착구조를 포함하는 광학 재료 접착면, 상기 접착면에 대해 상기 접착면으로부터 상기 몸체의 타측에 위치한 타측면까지 연장하는 원통형 관통홀을 포함하는 지그가 제공되는 단계;
    상기 접착 평면에 광학 재료를 위치시키는 단계;
    상기 타측면으로부터 상기 관통홀에 접착제가 주입되는 단계; 및
    상기 접착제를 경화시키는 단계;
    를 포함하는,
    제작 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 접착제가 주입되는 단계는,
    상기 접착제가 상기 관통홀의 단면을 충진하는 때로 완료 시점이 결정되는,
    제작 방법.
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