KR102535830B1 - 광변환기 검사 시스템 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 광변환기 검사 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 광변환기의 광수신부 및 광송신부에 신호를 입력하고 출력되는 신호를 분석하여 광변환기의 건전성 검증을 자동으로 수행할 수 있는 광변환기 검사 시스템에 관한 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 광변환기 검사 시스템은 전압 및 펄스 신호를 수신하고 광 신호로 변환하여 송신하는 광송신부 및 광 신호를 수신하고 전압 및 펄스 신호로 변환하여 송신하는 광수신부를 포함하는 광변환기에 대한 복수 종류의 검사항목을 검사하기 위한 광변환기 검사 시스템에 있어서, 전압, 펄스 및 광 신호를 발생시켜 상기 광변환기로 입력하도록 구비되는 신호 입력부; 상기 신호 입력부의 발생 신호를 제어하고, 상기 광변환기로부터 출력되는 신호를 측정하여 기설정된 각 검사항목에 대한 판정기준 하에 측정된 신호의 정상여부를 판정하는 검사부; 및 상기 검사부를 통해 측정된 신호 및 측정된 신호의 이상여부 판정 결과를 출력하도록 구비되는 출력부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

광변환기 검사 시스템{A system for testing optical converter}
본 발명은 광변환기 검사 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 광변환기의 광수신부 및 광송신부에 신호를 입력하고 출력되는 신호를 분석하여 광변환기의 건전성 검증을 자동으로 수행할 수 있는 광변환기 검사 시스템에 관한 것이다.
일반적으로 광송신은 광섬유에 형성되는 코아 및 클래드의 영역이 갖는 빛의 굴절률값을 이용하여 일정한 파장대의 빛을 광섬유를 통해 전송함으로써 원하는 신호를 상대방에게 전송하게 된다. 상기 광섬유를 이용하여 광신호를 전송 및 수신하는 광송신은 광신호를 송신하는 송신모듈과 광신호를 수신하는 수신모듈로 구성된다.
그런데, 상기 송신모듈을 통해 송신되는 광신호의 펄스파형은 원래의 파형값을 갖지 못하고 송신모듈을 통과하면서 변형된 펄스파형이 송신되며, 수신모듈에서도 수신모듈을 통과하면서 수신된 펄스파형이 변형된다.
따라서, 상기 송신모듈과 수신모듈이 갖는 특성을 미리 시험하여 광신호가 송신모듈과 수신모듈을 통과할 때 변형이 발생하지 않도록 조절하여야 한다.
여기서, 광신호 송수신모듈은 능동소자(Active Photonic Device : 레이저 다이오드(LD: Laser Diode), 포토 다이오드(PD : Photo Diode) 등)와 수동소자(Passive Photonic : 웨이브 가이드(wave guide), 광섬유(optical fiber.) 등)로 구성된다.
그리고, 광 전송 시스템의 송신단은 채널 유니트(channel unit)라 칭할 수 있는데, 이러한 채널 유니트는 SDH(synchronous Digital Hierarchy)와 같은 다중화 계위에 따른 종속 장비로부터 수신된 광 송신신호의 파장 변환을 수행하는 역할을 한다.
이때 광 전송 시스템의 건전성 검증을 위해서는 전송 이상 유무를 확인하는 과정이 필요하다. 이를 위해 통상적으로 채널 유니트에서 송신되는 각 채널의 출력 광파워(Optical Power)를 광파워 미터(Optical Power meter)를 사용하여 측정함으로써, 광파워를 측정했다.
상기 광 파워 미터나 파장 검출기는 모듈로 제작하여 사용하여 왔었다. 그러나, 광 파워 미터나 파장 검출기 형태의 모듈은 고도의 광소자 제조 기술을 필요로 하며 그 제작 공정이 까다로운 광 소자와 아날로그/디지털 변환기등의 소자를 사용한다.
최근에는, 이러한 문제점을 해결하기 위해 한국등록특허 10-0689502호에 기재된 기술이 제안되었는데, 이에 기재된 기술은 광 송수신모듈의 구성부품들을 각기 다른 시험조건에서 동시에 신뢰성 시험을 수행할 수 있는 장점은 있으나, 이는 온도 조건에 대한 구성부품들의 작동변화를 검출하는 방식에 제한되며 광 송수신모듈에서 변환되고 출력되는 신호들에 대한 검사 시스템의 구현은 이루어지지 못하고 있는 실정이다.
특히, 원자력 발전소에 설치된 광 송수신모듈의 경우에는 건전성 검증을 위해 이용할 수 있는 별도의 시험장비가 구축되지 않아, 시험을 위한 장비의 조합이 복잡하며 장비의 수동 조작으로 인한 광 송신모듈의 신호에 대한 측정에 있어서 오류가 발생할 수 있다는 문제점을 가지고 있다.
한국등록특허 제10-0689502호(2007.02.23)
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위해 창출된 것으로, 보다 상세하게는 광변환기에 대한 다양한 종류의 검사항목을 검사하기 위해 광수신부 및 광송신부에 각 검사항목에 적합한 신호를 주입하고 광변환기로부터 출력되는 신호를 분석하여 판정기준 하에 정상여부를 판정함으로써 광변환기의 건전성 검증을 수행할 수 있는 광변환기 검사 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 광변환기 검사 시스템은 전압 및 펄스 신호를 수신하고 광 신호로 변환하여 송신하는 광송신부 및 광 신호를 수신하고 전압 및 펄스 신호로 변환하여 송신하는 광수신부를 포함하는 광변환기에 대한 복수 종류의 검사항목을 검사하기 위한 광변환기 검사 시스템에 있어서, 전압, 펄스 및 광 신호를 발생시켜 상기 광변환기로 입력하도록 구비되는 신호 입력부; 상기 신호 입력부의 발생 신호를 제어하고, 상기 광변환기로부터 출력되는 신호를 측정하여 기설정된 각 검사항목에 대한 판정기준 하에 측정된 신호의 정상여부를 판정하는 검사부; 및 상기 검사부를 통해 측정된 신호 및 측정된 신호의 이상여부 판정 결과를 출력하도록 구비되는 출력부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
보다 상세하게는, 상기 검사부는, 상기 신호 입력부에서 발생되는 전압 신호를 증가시키면서 상기 광송신부로부터 광 신호가 출력되는 시점의 상기 신호 입력부에서 발생된 전압 신호를 측정하도록 구비되는 전압감도 검사부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
보다 상세하게는, 상기 전압감도 검사부는, 상기 광송신부가 전압 신호를 감지하여 동작하기 위한 전압의 최소값을 나타내는 최소 동작전압을 측정하도록 구비되며, 측정된 최소 동작전압이 기설정된 판정기준을 초과할 경우, 상기 광송신부의 최소 동작전압이 비정상 상태인 것으로 판정하는 것을 특징으로 한다.
보다 상세하게는, 상기 검사부는, 상기 신호 입력부를 통해 상기 광송신부로 고속 펄스 신호를 주입하고, 상기 광송신부로부터 출력되는 광 신호를 펄스 신호로 변환하여 주입된 상기 고속 펄스 신호와 비교하도록 구비되는 고속통신 검사부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
보다 상세하게는, 상기 고속통신 검사부는, 변환된 상기 펄스 신호가 상기 고속 펄스 신호와 일치하지 않을 경우, 상기 광송신부의 고속 펄스 신호에 대한 변환 능력이 비정상 상태인 것으로 판정하는 것을 특징으로 한다.
보다 상세하게는, 상기 검사부는, 상기 신호 입력부를 통해 상기 광송신부로 디지털 신호가 논리 레벨 H(High)에 해당하는 값을 가지도록 발생되는 전압 신호를 주입하고, 상기 광송신부로부터 출력되는 광 신호를 측정하도록 구비되는 광출력 검사부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
보다 상세하게는, 상기 광출력 검사부는, 측정된 상기 광 신호가 기설정된 판정기준 미만의 값인 경우, 상기 광송신부의 광 신호 출력 능력이 비정상 상태인 것으로 판정하는 것을 특징으로 한다.
보다 상세하게는, 상기 검사부는, 상기 신호 입력부에서 발생되는 광 신호를 증가시키면서 상기 광수신부로부터 펄스 신호가 출력되는 시점의 상기 신호 입력부에서 발생된 광 신호를 측정함으로써, 상기 광수신부가 광 신호를 감지하여 동작하기 위한 광파워의 최소값을 나타내는 광 수신감도를 측정하도록 구비되는 광감도 검사부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
보다 상세하게는, 상기 광감도 검사부는, 측정된 광 수신감도가 기설정된 판정기준을 초과할 경우, 상기 광수신부의 광 수신감도가 비정상 상태인 것으로 판정하는 것을 특징으로 한다.
보다 상세하게는, 상기 검사부는, 상기 신호 입력부를 통해 상기 광수신부로 최대 크기의 광파워를 가지는 광 신호를 주입하고, 상기 광수신부로부터 출력되는 전압 신호를 측정하도록 구비되는 전압출력 검사부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
보다 상세하게는, 상기 전압출력 검사부는, 상기 광수신부가 출력할 수 있는 전압의 최대값을 나타내는 최대 출력전압을 측정하도록 구비되며, 측정된 최대 출력전압이 기설정된 판정기준 미만의 값인 경우, 상기 광수신부의 최대 출력전압이 비정상 상태인 것으로 판정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 광변환기 검사 시스템은 검사부를 포함함으로써, 광변환기로부터 출력되는 신호를 측정하고 측정된 신호의 이상여부를 판정할 수 있어 광변환기에 대한 건전성 검증을 자동으로 수행할 수 있으며, 기존 수동 조작 검증 방식의 측정오류 문제를 해결할 수 있는 효과를 제공한다.
특히, 본 발명의 일 실시예에 따른 광변환기 검사 시스템은 검사부를 포함함으로써, 광변환기의 최소 동작전압, 고속펄스 변환 능력, 광 신호 출력 능력, 광 수신감도 및 최대 출력전압을 측정할 수 있으며, 명확한 수치 형태로 구성되는 판정기준을 기반으로 광변환기에 대한 각종 시험항목에 대한 정상여부를 판정할 수 있어 보다 정확한 광변환기의 건전성 검증을 진행할 수 있는 효과를 제공한다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 광변환기 검사 시스템은 출력부를 포함함으로써, 광변환기로부터 출력되는 신호 및 신호의 이상여부 판정 결과를 출력하여 검사자로 하여금 출력되는 정보를 확인 및 식별함으로써 광변환기의 검사를 용이하게 진행할 수 있는 효과를 제공한다.
그리고, 본 발명의 일 실시예에 따른 광변환기 검사 시스템은 광감도 검사부를 포함함으로써, 종래의 광변환기 검사 장비를 통해서는 시험할 수 없는 광수신부 및 광 RX가 동작하기 위한 광파워의 최소값을 나타내는 광 수신감도에 대한 시험을 진행할 수 있으며, 보다 정확한 광 수신감도 측정이 가능하도록 하는 효과를 제공한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광변환기 검사 시스템을 도식화한 블록선도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 광변환기 검사 시스템의 세부 구성에 대한 일예를 도식화한 블록선도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광변환기 검사 시스템을 구성하는 출력부 상에 검사부를 통해 측정된 신호가 출력되는 상태의 일예를 나타낸 사용상태도이다.
후술하는 본 발명에 대한 상세한 설명은, 본 발명이 실시될 수 있는 특정 실시예를 예시로서 도시하는 첨부 도면을 참조한다. 이들 실시예는 당업자가 본 발명을 실시할 수 있기에 충분하도록 상세히 설명된다. 본 발명의 다양한 실시예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 여기에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 일 실시예에 관련하여 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시예로 구현될 수 있다.
또한, 각각의 개시된 실시예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치는 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미로서 취하려는 것이 아니며, 본 발명의 범위는, 적절하게 설명된다면, 그 청구항들이 주장하는 것과 균등한 모든 범위와 더불어 첨부된 청구항에 의해서만 한정된다. 도면에서 유사한 참조부호는 여러 측면에 걸쳐서 동일하거나 유사한 기능을 지칭한다.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 하기 위하여, 본 발명의 바람직한 실시예들에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
먼저, 도 1 및 도 2를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 광변환기 검사 시스템에 대해 설명하도록 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광변환기 검사 시스템을 도식화한 블록선도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 광변환기 검사 시스템의 세부 구성에 대한 일예를 도식화한 블록선도이다.
여기서, 본 발명의 광변환기 검사 시스템은 광변환기(OC)에 대한 복수 종류의 검사항목을 검사하기 위한 시스템이다.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 광변환기 검사 시스템(1000)은 광변환기(OC), 신호 입력부(300), 검사부(400) 및 출력부(500)를 포함한다.
먼저, 상기 광변환기(OC)는 광송신부(100) 및 광수신부(200)를 포함한다.
여기서, 상기 광송신부(100)는 상기 신호 입력부로부터 전압 및 펄스 신호를 수신하고 광 신호로 변환하여 송신하도록 구비된다.
보다 상세하게는, 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 광송신부(100)는 RS-422 수신기, 광송신기 및 광 TX를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 RS-422 수신기는 전압 및 펄스 신호를 수신하도록 구비된다.
그리고, 상기 광송신기는 상기 RS-422 수신기를 통해 수신한 전압 및 펄스 신호를 광 신호로 변환한다.
또한, 상기 광 TX는 상기 광송신기를 통해 변환된 광 신호를 출력하도록 구비된다.
다음으로, 상기 광수신부(200)는 광 신호를 수신하고 전압 및 펄스 신호로 변환하여 송신하도록 구비된다.
보다 상세하게는, 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 광수신부(200)는 광 RX, 광수신기 및 RS-422 송신기를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 광 RX는 상기 신호 입력부로부터 광 신호를 수신하도록 구비된다.
또한, 상기 광수신기는 상기 광 RX를 통해 수신한 광 신호를 전압 및 펄스 신호로 변환하도록 구비된다.
그리고, 상기 RS-422 송신기는 상기 광수신기를 통해 변환된 전압 및 펄스 신호를 출력하도록 구비된다.
보다 상세하게는, 상기 광송신부(100) 및 광수신부(200)는 전압 및 펄스 신호를 송수신하기 위해 직렬 통신을 이용할 수 있다.
여기서, 상기 직렬 통신은 앞서 언급한 "RS-422" 표준 통신 규격을 적용할 수 있으나, 이에 한정되지 않고 다양한 표준 통신 규격을 적용할 수 있다.
다음으로, 상기 신호 입력부(300)는 전압, 펄스 및 광 신호를 상기 광변환기(OC)로 입력하도록 구비된다.
도 2에 도시된 바와 같이, 상기 신호 입력부(300)는 가변전압 발생기, 고속펄스 발생기 및 광파워 발생기를 포함하도록 구성된다.
여기서, 상기 가변전압 발생기는 상기 광송신부의 RS-422 수신기로 주입되는 신호의 전압을 가변하도록 구비된다.
보다 상세하게는, 상기 가변전압 발생기는 상기 검사부의 제어에 의해 Tx 신호(트랜스퍼 신호)를 발생시켜 상기 광송신부의 RS-422 수신기로 입력하는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 고속펄스 발생기는 상기 광송신부의 RS-422 수신기로 주입되는 펄스 신호를 발생시키도록 구비된다.
예를 들어, 상기 고속펄스 발생기는 1 MHz의 통신펄스를 발생시킬 수 있다.
또한, 상기 신호 입력부(300)와 상기 광송신부(100) 사이에는 상기 가변전압 발생기 고속펄스 발생기 중 선택된 어느 하나만의 신호를 입력하기 위한 전환 스위치가 구비될 수 있다.
그리고, 상기 광파워 발생기는 상기 검사부의 제어에 의해 상기 광수신부의 광 RX로 주입되는 광 신호의 광파워를 가변하도록 구비된다.
다음으로, 상기 검사부(400)는 상기 신호 입력부의 발생 신호를 제어하고, 상기 광변환기로부터 출력되는 신호를 측정하여 기설정된 각 검사항목에 대한 판정기준 하에 측정된 신호의 정상여부를 판정하도록 구비된다.
도 2에 도시된 바와 같이, 상기 검사부(400)는 광파워 측정기, 전압 측정기 및 고속펄스 측정기를 포함하도록 구성된다.
여기서, 상기 광파워 측정기는 상기 광송신부의 광 TX로부터 출력되는 광 신호의 광파워를 측정하도록 광수신 센서를 포함할 수 있다.
보다 상세하게는, 상기 광파워 측정기는 증폭기 및 피크 검출기를 포함하도록 구성되어, 광파워의 최대 및 최소값을 각각 측정할 수 있다.
이에 따라, 종래의 광파워미터를 이용하여 광파워의 평균값을 측정하는 방식과 대비하여 보다 정확한 광파워 및 광 신호의 세기에 대한 측정을 가능하도록 하는 효과를 제공한다.
그리고, 상기 전압 측정기는 상기 광수신부의 RS-422 송신기로부터 출력되는 전압 신호를 측정하도록 구비된다.
또한, 상기 고속펄스 측정기는 상기 광수신부의 RS-422 송신기로부터 출력되는 펄스 신호를 측정하도록 구비된다.
보다 상세하게는, 상기 고속펄스 측정기는 펄스 신호의 주파수를 측정하도록 구비된다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 광변환기 검사 시스템은 검사부(400)를 포함함으로써, 광변환기로부터 출력되는 신호를 측정하고 측정된 신호의 이상여부를 판정할 수 있어 광변환기에 대한 건전성 검증을 자동으로 수행할 수 있으며, 기존 수동 조작 검증 방식의 측정오류 문제를 해결할 수 있는 효과를 제공한다.
그리고, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 검사부(400)는 전압감도 검사부(410), 고속통신 검사부(420), 광출력 검사부(430), 광감도 검사부(440) 및 전압출력 검사부(450)를 포함한다.
먼저, 상기 전압감도 검사부(410)는 상기 신호 입력부에서 발생되는 전압 신호를 증가시키면서 상기 광송신부로부터 광 신호가 출력되는 시점의 상기 신호 입력부에서 발생된 전압 신호를 측정하도록 구비되는 것을 특징으로 한다.
보다 상세하게는, 상기 전압감도 검사부(410)는 상기 광송신부가 전압 신호를 감지하여 동작하기 위한 전압의 최소값을 나타내는 최소 동작전압을 측정하도록 구비되며, 측정된 최소 동작전압이 기설정된 판정기준을 초과할 경우, 상기 광송신부의 최소 동작전압이 비정상 상태인 것으로 판정하는 것을 특징으로 한다.
예를 들어, 상기 전압감도 검사부(410)는 상기 신호 입력부의 가변전압 발생기에서 발생되는 신호의 출력전압을 0 V에서 5 V까지 서서히 증가시켜 상기 광송신부의 RS-422 수신기로 주입하도록 제어한다.
이와 동시에, 상기 전압감도 검사부(410)는 상기 광파워 측정기를 통해 상기 광송신부의 광 TX로부터 광 신호의 출력이 발생한 것으로 감지하면, 이 시점에 가변전압 발생기에서 발생된 신호의 출력전압을 상기 광송신부를 구성하는 RS-422 수신기의 최소 동작전압으로 측정한다.
다음으로, 상기 고속통신 검사부(420)는 상기 신호 입력부를 통해 상기 광송신부로 고속 펄스 신호를 주입하고, 상기 광송신부로부터 출력되는 광 신호를 펄스 신호로 변환하여 주입된 상기 고속 펄스 신호와 비교하도록 구비된다.
보다 상세하게는, 상기 고속통신 검사부(420)는 변환된 상기 펄스 신호가 상기 고속 펄스 신호와 일치하지 않을 경우, 상기 광송신부의 고속 펄스 신호에 대한 변환 능력이 비정상 상태인 것으로 판정하는 것을 특징으로 한다.
예를 들어, 상기 고속통신 검사부(420)는 상기 신호 입력부의 고속펄스 발생기를 제어하여 상기 광송신부의 RS-422 수신기로 1 MHz의 고속펄스를 주입한다.
그리고, 상기 고속통신 검사부(420)는 상기 광파워 측정기를 통해 펄스 신호가 상기 광송신부의 광송신기를 거쳐 변환된 후, 광 TX로부터 출력되는 광 신호를 취득하여 펄스 신호로 변환하고, 변환된 펄스 신호가 1 MHz의 펄스인지 확인한다.
여기서, 변환된 펄스 신호가 1 MHz의 펄스가 아닌 것으로 확인되면, 상기 신호 입력부의 고속펄스 발생기로부터 주입된 펄스 신호와 일치하지 않는 것으로 판단하고, 상기 광송신부의 고속 펄스 신호에 대한 변환 능력이 비정상 및 불량 상태인 것으로 판정한다.
다음으로, 상기 광출력 검사부(430)는 상기 신호 입력부를 통해 상기 광송신부로 디지털 신호가 논리 레벨 H(High)에 해당하는 값을 가지도록 발생되는 전압 신호를 주입하고, 상기 광송신부로부터 출력되는 광 신호를 측정하도록 구비된다.
보다 상세하게는, 상기 광출력 검사부(430)는 측정된 상기 광 신호가 기설정된 판정기준 미만의 값인 경우, 상기 광송신부의 광 신호 출력 능력이 비정상 상태인 것으로 판정하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 논리 레벨 H(High)는 디지털 논리 회로에서 입력 신호가 높은 전압 레벨을 나타내며, 디지털 신호의 "1" 또는 "참(True)"을 나타내는 전압값의 범위를 의미한다.
보다 상세하게는, 상기 논리 레벨 H(High)에 해당하는 값을 가지도록 발생되는 전압 신호는 시험 및 검사대상이 되는 광변환기의 규격에 따라 정해지며, 통상적으로 5 V 또는 3.3 V로 구성될 수 있다.
예를 들어, 상기 광출력 검사부(430)는 상기 신호 입력부의 가변전압 발생기를 통해 논리 레벨 H에 해당하는 Tx 신호를 발생시켜 상기 광송신부의 RS-422 수신기로 주입하도록 제어한다.
여기서, 논리 레벨 H에 해당하는 Tx 신호의 일예로는 Tx+ 신호의 출력전압을 5 V로, Tx- 신호의 출력전압을 0 V로 설정하도록 구성할 수 있다.
그리고, 상기 광출력 검사부(430)는 상기 광파워 측정기를 통해 Tx 전압 신호가 상기 광송신부의 광송신기를 거쳐 변환된 후, 광 TX로부터 출력되는 광 신호의 세기, 즉 광파워를 측정한다.
다음으로, 상기 광감도 검사부(440)는 상기 신호 입력부에서 발생되는 광 신호를 증가시키면서 상기 광수신부로부터 펄스 신호가 출력되는 시점의 상기 신호 입력부에서 발생된 광 신호를 측정함으로써, 상기 광수신부가 광 신호를 감지하여 동작하기 위한 광파워의 최소값을 나타내는 광 수신감도를 측정하도록 구비된다.
보다 상세하게는, 상기 광감도 검사부(440)는 측정된 광 수신감도가 기설정된 판정기준을 초과할 경우, 상기 광수신부의 광 수신감도가 비정상 상태인 것으로 판정하는 것을 특징으로 한다.
예를 들어, 상기 광감도 검사부(440)는 상기 신호 입력부의 광파워 발생기에서 발생되는 광 신호의 세기, 즉 광파워를 약 -60 dBm부터 서서히 증가시켜 상기 광수신부의 광 RX로 주입하도록 제어한다.
이와 동시에, 상기 광감도 검사부(440)는 상기 전압 측정기를 통해 광 신호가 상기 광수신부의 광수신기를 거쳐 변환된 후, RS-422 송신기로부터 출력되는 전압 신호를 측정하면서 펄스가 발생한 것으로 감지하면, 이 시점에 광파워 발생기에서 발생된 광파워를 상기 광수신부를 구성하는 광 RX의 광 수신감도로 측정한다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 광변환기 검사 시스템은 광감도 검사부(440)를 포함함으로써, 종래의 광변환기 검사 장비를 통해서는 시험할 수 없는 광수신부 및 광 RX가 동작하기 위한 광파워의 최소값을 나타내는 광 수신감도에 대한 시험을 진행할 수 있으며, 보다 정확한 광 수신감도 측정이 가능하도록 하는 효과를 제공한다.
다음으로, 상기 전압출력 검사부(450)는 상기 신호 입력부를 통해 상기 광수신부로 최대 크기의 광파워를 가지는 광 신호를 주입하고, 상기 광수신부로부터 출력되는 전압 신호를 측정하도록 구비된다.
보다 상세하게는, 상기 전압출력 검사부(450)는 상기 광수신부가 출력할 수 있는 전압의 최대값을 나타내는 최대 출력전압을 측정하도록 구비되며, 측정된 최대 출력전압이 기설정된 판정기준 미만의 값인 경우, 상기 광수신부의 최대 출력전압이 비정상 상태인 것으로 판정하는 것을 특징으로 한다.
예를 들어, 상기 전압출력 검사부(450)는 상기 신호 입력부의 광파워 발생기에서 광파워가 최대 크기, 즉 100 %로 발생되도록 제어하고, 상기 광수신부의 광 RX로 주입되도록 제어한다.
그리고, 상기 전압출력 검사부(450)는 상기 전압 측정기를 통해 광 신호가 상기 광수신부의 광수신기를 거쳐 변환된 후, RS-422 송신기로부터 출력되는 전압을 상기 광수신부를 구성하는 RS-422 송신기의 최대 출력전압으로 측정한다.
이에 따라, 본 발명의 광변환기 검사 시스템은 상술한 바와 같은 구성을 가지는 검사부(400)를 포함함으로써, 광변환기의 최소 동작전압, 고속펄스 변환 능력, 광 신호 출력 능력, 광 수신감도 및 최대 출력전압을 측정할 수 있으며, 명확한 수치 형태로 구성되는 판정기준을 기반으로 광변환기에 대한 각종 시험항목에 대한 정상여부를 판정할 수 있어 보다 정확한 광변환기의 건전성 검증을 진행할 수 있는 효과를 제공한다.
다음으로, 상기 출력부(500)는 상기 검사부를 통해 측정된 신호 및 측정된 신호의 이상여부 판정 결과를 출력하도록 구비된다.
도 3을 참조하여 상기 출력부(500)에 대해 보다 상세히 설명하도록 한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광변환기 검사 시스템을 구성하는 출력부(500) 상에 검사부를 통해 측정된 신호가 출력되는 상태의 일예를 나타낸 사용상태도이다.
여기서, 상기 출력부(500)는 상기 검사부를 통해 측정된 각종 신호를 실시간으로 출력하도록 구성된다.
예를 들어, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 출력부(500)는 특정 시간 간격 또는 대역의 전압 변화를 육안으로 확인할 수 있도록 구비되는 오실로스코프를 포함할 수 있다.
또한, 상기 출력부(500)는 오실로스코프를 통해 전압 및 전자적 신호의 파형 출력이 가능하며, 해당 파형의 전압 최소/최대치, 주기적 신호의 빈도, 펄스 간의 시간, 관련 신호 간의 시차 등에 대한 정보를 출력할 수 있다.
덧붙여, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 출력부(500)는 상기 검사부를 통해 측정된 신호의 이상여부 판정 결과를 글자, 조명 점멸 등의 시각적 형태로 출력할 수 있으며, 경고음 등의 청각적 식별이 가능한 형태를 동반할 수 있다.
이에 따라, 본 발명의 광변환기 검사 시스템은 출력부(500)를 포함함으로써, 광변환기로부터 출력되는 신호 및 신호의 이상여부 판정 결과를 출력하여 검사자로 하여금 출력되는 정보를 확인 및 식별함으로써 광변환기의 검사를 용이하게 진행할 수 있는 효과를 제공한다.
이상에서 본 발명이 구체적인 구성요소 등과 같은 특정 사항들과 한정된 실시예 및 도면에 의해 설명되었으나, 이는 본 발명의 보다 전반적인 이해를 돕기 위해서 제공된 것일 뿐, 본 발명이 상기 실시예들에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상적인 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형을 꾀할 수 있다.
따라서, 본 발명의 사상은 상기 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 아니 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등하게 또는 등가적으로 변형된 모든 것들은 본 발명의 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.
1000: 광변환기 검사 시스템
100: 광송신부
200: 광수신부
300: 신호 입력부
400: 검사부
410: 전압감도 검사부
420: 고속통신 검사부
430: 광출력 검사부
440: 광감도 검사부
450: 전압출력 검사부
500: 출력부
OC: 광변환기

Claims (11)

  1. 전압 및 펄스 신호를 수신하고 광 신호로 변환하여 송신하는 광송신부(100) 및 광 신호를 수신하고 전압 및 펄스 신호로 변환하여 송신하는 광수신부(200)를 포함하는 광변환기(OC)에 대한 복수 종류의 검사항목을 검사하기 위한 광변환기 검사 시스템에 있어서,
    전압, 펄스 및 광 신호를 발생시켜 상기 광변환기로 입력하도록 구비되는 신호 입력부(300);
    상기 신호 입력부의 발생 신호를 제어하고, 상기 광변환기로부터 출력되는 신호를 측정하여 기설정된 각 검사항목에 대한 판정기준 하에 측정된 신호의 정상여부를 판정하는 검사부(400); 및
    상기 검사부를 통해 측정된 신호 및 측정된 신호의 이상여부 판정 결과를 출력하도록 구비되는 출력부(500);를 포함하는 것을 특징으로 하는 광변환기 검사 시스템.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 검사부(400)는,
    상기 신호 입력부에서 발생되는 전압 신호를 증가시키면서 상기 광송신부로부터 광 신호가 출력되는 시점의 상기 신호 입력부에서 발생된 전압 신호를 측정하도록 구비되는 전압감도 검사부(410);를 포함하는 것을 특징으로 하는 광변환기 검사 시스템.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 전압감도 검사부(410)는,
    상기 광송신부가 전압 신호를 감지하여 동작하기 위한 전압의 최소값을 나타내는 최소 동작전압을 측정하도록 구비되며, 측정된 최소 동작전압이 기설정된 판정기준을 초과할 경우, 상기 광송신부의 최소 동작전압이 비정상 상태인 것으로 판정하는 것을 특징으로 하는 광변환기 검사 시스템.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 검사부(400)는,
    상기 신호 입력부를 통해 상기 광송신부로 고속 펄스 신호를 주입하고, 상기 광송신부로부터 출력되는 광 신호를 펄스 신호로 변환하여 주입된 상기 고속 펄스 신호와 비교하도록 구비되는 고속통신 검사부(420);를 포함하는 것을 특징으로 하는 광변환기 검사 시스템.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 고속통신 검사부(420)는,
    변환된 상기 펄스 신호가 상기 고속 펄스 신호와 일치하지 않을 경우, 상기 광송신부의 고속 펄스 신호에 대한 변환 능력이 비정상 상태인 것으로 판정하는 것을 특징으로 하는 광변환기 검사 시스템.
  6. 제 1항에 있어서,
    상기 검사부(400)는,
    상기 신호 입력부를 통해 상기 광송신부로 디지털 신호가 논리 레벨 H(High)에 해당하는 값을 가지도록 발생되는 전압 신호를 주입하고, 상기 광송신부로부터 출력되는 광 신호를 측정하도록 구비되는 광출력 검사부(430);를 포함하는 것을 특징으로 하는 광변환기 검사 시스템.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 광출력 검사부(430)는,
    측정된 상기 광 신호가 기설정된 판정기준 미만의 값인 경우, 상기 광송신부의 광 신호 출력 능력이 비정상 상태인 것으로 판정하는 것을 특징으로 하는 광변환기 검사 시스템.
  8. 제 1항에 있어서,
    상기 검사부(400)는,
    상기 신호 입력부에서 발생되는 광 신호를 증가시키면서 상기 광수신부로부터 펄스 신호가 출력되는 시점의 상기 신호 입력부에서 발생된 광 신호를 측정함으로써, 상기 광수신부가 광 신호를 감지하여 동작하기 위한 광파워의 최소값을 나타내는 광 수신감도를 측정하도록 구비되는 광감도 검사부(440);를 포함하는 것을 특징으로 하는 광변환기 검사 시스템.
  9. 제 8항에 있어서,
    상기 광감도 검사부(440)는,
    측정된 광 수신감도가 기설정된 판정기준을 초과할 경우, 상기 광수신부의 광 수신감도가 비정상 상태인 것으로 판정하는 것을 특징으로 하는 광변환기 검사 시스템.
  10. 제 1항에 있어서,
    상기 검사부(400)는,
    상기 신호 입력부를 통해 상기 광수신부로 최대 크기의 광파워를 가지는 광 신호를 주입하고, 상기 광수신부로부터 출력되는 전압 신호를 측정하도록 구비되는 전압출력 검사부(450);를 포함하는 것을 특징으로 하는 광변환기 검사 시스템.
  11. 제 10항에 있어서,
    상기 전압출력 검사부(450)는,
    상기 광수신부가 출력할 수 있는 전압의 최대값을 나타내는 최대 출력전압을 측정하도록 구비되며, 측정된 최대 출력전압이 기설정된 판정기준 미만의 값인 경우, 상기 광수신부의 최대 출력전압이 비정상 상태인 것으로 판정하는 것을 특징으로 하는 광변환기 검사 시스템.
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