KR100735824B1

KR100735824B1 - 디지털시스템 및 광통신모듈의 비트에러율, 과부하 및수신감도를 측정하는 다기능 측정장치 및 그를 이용한과부하 및 수신감도의 측정방법

Info

Publication number: KR100735824B1
Application number: KR1020060116496A
Authority: KR
Inventors: 오대석
Original assignee: (주)루미콤
Priority date: 2006-11-23
Filing date: 2006-11-23
Publication date: 2007-07-06

Abstract

본 발명은 디지털시스템 및 광통신모듈의 비트에러율, 과부하 및 수신감도를 측정하는 다기능 측정장치, 및 그를 이용한 과부하 및 수신감도의 측정방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 외부입력 광신호 또는 내부에서 생성된 광신호를 선택하는 광선택부(110)와; 입력되는 광신호의 파워를 조정하고, 파워가 조정된 광신호에서 기 설정치 파워만큼 광신호를 분기하고, 분기된 광신호의 파워를 측정하는 광파워측정부(120)와; 상기 광파워측정부(120)의 출력에 기초하여 광신호의 파워를 결정하고, 클럭신호를 바탕으로 펄스패턴을 생성하고, 생성된 펄스패턴을 이용하여 피측정부의 에러를 검출하고, 자동으로 수신감도를 측정하기 위한 알고리즘을 내장하는 주제어부(130)와; 상기 주제어부(130)의 결과값을 출력하고, 제어신호를 입력하고, 펄스패턴 설정값을 지정하는 입출력부(140)와; 수신된 광신호를 전기신호로 변환하거나, 내부의 전기신호를 송신하기 위해 광신호로 변환하는 신호변환부(150)와; 내부클럭을 생성하거나 외부에서 사용자 지정 클럭을 수신하여 선택적으로 클럭신호를 상기 주제어부(130)에 전달하는 클럭공급부(160)와; 광신호의 파워를 측정하기 위한 광신호 입/출력단(170, 171)과, 외부 신호를 수신하는 광신호 입력단(182) 및 전기신호 입력단(183)과, 내부 신호를 외부로 전송하는 광신호 출력단(181) 및 전기신호 출력단(180)을 포함하여 구성된다.

상기와 같은 구성으로, 본 발명은 하나의 측정장치를 이용하여 광신호 또는 전기신호의 비트에러(bit error)를 측정할 수 있고, 수신되는 광신호의 파워를 조 절함으로서 피측정부의 비트에러(bit error)뿐만 아니라 과부하 및 수신감도를 측정할 수 있다. 또한, 본 발명은 내장된 알고리즘을 이용하여 상기 수신감도를 자동으로 측정할 수 있다.

광신호, 비트에러, 과부하, 수신감도, 측정장치

Description

디지털시스템 및 광통신모듈의 비트에러율, 과부하 및 수신감도를 측정하는 다기능 측정장치 및 그를 이용한 과부하 및 수신감도의 측정방법{Multifunctional Apparatus for Testing Bit Error Rate, Overload and Receive Sensitivity of Digital System and Optical Module, and Method for Testing Overload and Receive Sensitivity}

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 다기능 측정장치의 블럭 구성도.

도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 다기능 측정장치에 있어서, 비트에러율 측정대상인 피측정부가 연결된 도면.

도 3는 본 발명의 실시 예에 따른 다기능 측정장치에 있어서, 과부하 및 수신감도 측정대상인 피측정부가 연결된 도면.

도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 과부하 및 수신감도를 측정하는 방법을 도시한 순서도.

도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 다기능 측정장치에 있어서, 수신감도 측정대상인 피측정부가 연결된 도면.

도 6는 본 발명의 실시 예에 따른 수신감도를 측정하는 방법을 도시한 순서도.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >

100 : 다기능 측정장치

110 : 광선택부 111 : 광스위치

112 : 고출력 전/광 변환부 120 : 광파워측정부

121 : 광감쇄기 122 : 스플릿터

123 : 광/전 변환기 124 : 로그스케일DC변환부

130 : 주제어부 131 : 중앙처리기

132 : 에러검출부 133 : 펄스패턴생성부

134 : 직렬 변환부 135 : 병렬 변환부

136 : 전기신호선택기

140 : 입출력부 141 : 디스플레이부

142 : 제어입력부 143 : 장치환경설정부

150 : 신호변환부 151 : 전/광 신호변환부

152 : 광/전 신호변환부 160 : 클럭공급부

161 : 클럭선택기 162 : 내부클럭 생성부

163 : 외부클럭 입력단 170 : 광신호 출력단

171 : 광신호 입력단 180 : 전기신호 출력단

181 : 광신호 출력단 182 : 광신호 입력단

183 : 전기신호 입력단

200, 300, 400 : 피측정부

본 발명은 디지털시스템 및 광통신모듈의 비트에러율, 과부하 및 수신감도를 측정하는 다기능 측정장치, 및 그를 이용한 과부하 및 수신감도의 측정방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 하나의 장치로 피측정 대상인 디지털시스템 및 광통신모듈의 비트에러를 검출하고, 수신되는 광신호의 파워를 조절함으로서 과부하 및 수신감도를 측정하는 다기능 측정장치 및 그를 이용한 과부하 및 수신감도의 측정방법에 관한 것이다.

현대 사회는 정보화 사회라고 일컬어질 만큼 다양한 정보와 그 정보의 신속한 전달이 요구됨에 따라, 초고속으로 대량의 데이터를 전송하는 시스템으로서 광통신을 이용한 광 가입자망 구축의 필요성이 증대되고 있다. 본 발명은 상기의 광 가입자망 등에 사용되는 광 통신기기 및 광 통신선의 성능 측정은 물론 통신시스템의 성능 측정도 겸하는 측정장치와 그 측정방법을 창안하여, 상기 제품의 생산성과 시설 유지의 효율성 증대를 도모하고자 한다.

종래의 광 통신기기 및 광 통신선의 성능 측정 방법으로서, 특허등록번호 제10-0154567호 "현장시험기용 광접속장치", 실용신안등록번호 제20-0202545호 "고속 신호 발생 및 에러검출 장치", 특허등록번호 재10-0350234호 "클럭 성분의 파워를 이용한 신호의 에러율 측정방법", 특허등록번호 제10-0547783호 "기가비트 수동 광 가입자망에서 광 신호 파워 레벨 측정장치 및 이를 포함하는 OLT" 등이 있었다.

하지만, 상기의 방법들에서 에러검출 또는 광신호의 파워를 측정할 수 있으나, 두가지 모두를 한꺼번에 측정할 수는 없어 상호 결합하여 측정해야 하는 어려움이 있고, 그에 따른 정밀성과 효율성도 떨어지는 문제가 발생한다. 또한, 입력 또는 출력 신호가 전기 신호일 경우 별도의 장치를 구비해야 하며, 종래의 범용 계측기는 일반적인 제품의 성능 측정에 있어 취급상의 어려움이 따른다.

따라서 본 발명의 목적은 비트에러를 측정할 수 있고, 광신호의 파워 측정을 이용한 과부하 및 수신감도를 측정할 수 있는 다기능 측정장치를 제공하는 것이다.

본 발명의 다른 목적은 특별한 주변장치를 구비할 필요가 없는 다기능 측정장치를 제공하는 것이다.

본 발명의 또 다른 목적은 측정과정이 용이하여 실제 적용함에 있어 효율성을 증진시킬 수 있는 다기능 측정장치 및 그 방법을 제공하는 것이다.

상기 목적을 달성하기 위해 본 발명은, 외부입력 광신호 또는 내부에서 생성된 광신호를 선택하는 광선택부(110)와; 수신된 광신호의 파워를 조정하고, 파워가 조정된 광신호에서 기 설정치 파워만큼 광신호를 분기시키고, 분기된 광신호의 파 워를 측정하는 광파워측정부(120)와; 상기 광파워측정부(120)의 출력에기초하여 광신호의 파워를 결정하고, 클럭신호를 바탕으로 펄스패턴을 생성하고, 생성된 펄스패턴을 이용하여 피측정부의 에러를 검출하고, 자동으로 수신감도를 측정하는 알고리즘을 내장한 주제어부(130)와; 상기 주제어부(130)의 결과값을 출력하고, 제어신호를 입력하고, 펄스패턴 설정값을 지정하는 입출력부(140)와; 수신된 광신호를 전기신호로 변환하거나, 내부의 전기신호를 송신하기 위해 광신호로 변환하는 신호변환부(150)와; 내부클럭을 생성하거나 외부에서 사용자 지정 클럭을 수신하여 선택적으로 클럭신호를 상기 주제어부(130)에 전달하는 클럭공급부(160)와; 광신호의 파워를 측정하기 위한 광신호 입/출력단(170, 171)과, 외부 신호를 수신하는 광신호 입력단(182) 및 전기신호 입력단(183)과, 내부 신호를 외부로 전송하는 광신호 출력단(181) 및 전기신호 출력단(180)을 포함하여 구성된다.

이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부한 도면을 참조하여 당해 분야에 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 설명한다. 첨부된 도면들에서 구성에 표기된 참조번호는, 다른 도면에서도 동일한 구성을 표기할 때에 가능한 한 동일한 참조번호를 사용하고 있음을 유의하여야 한다. 또한, 하기에서 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지의 기능 또는 공지의 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 다기능 측정장치(100)의 블럭 구성도이다.

도 1에 따르면, 본 발명에 의한 다기능 측정장치(100)는, 광선택부(110)와, 광파워측정부(120)와, 주제어부(130)와, 입출력부(140)와, 신호변환부(150)와, 클럭공급부(160)와, 다수의 신호 입출력단(170, 171, 180, 181, 182, 183)을 포함하여 구성된다.
상기 다수의 신호 입출력단(170, 171, 180, 181, 182, 183)은, 광신호의 파워를 측정하기 위한 광신호 출력단(170) 및 광신호 입력단(171)과; 외부에서 광신호를 수신하는 광신호 입력단(182)과; 외부에서 전기신호를 수신하는 전기신호 입력단(183)과; 다기능 측정장치(100)에서 생성된 광신호를 외부로 전송하는 광신호 출력단(181)과; 다기능 측정장치(100)에서 생성된 전기신호를 외부로 전송하는 전기신호 출력단(180)을; 포함하여 구성된다.

상기 광선택부(110)는, 상기 주제어부(130)에서 생성된 다중화 직렬 전기신호를 광신호로 변환하는 고출력 전/광 변환부(112)와; 상기 고출력 전/광 변환부(112)에서 전달되는 광신호 또는 상기 광신호 입력단(171)을 통해 입력된 외부 광신호 중에서 하나를 선택하여 상기 광파워측정부(120)로 전달하는 광스위치(111)를 포함하여 구성된다.

상기 광파워측정부(120)는, 피측정부(300, 400)의 과부하 및 수신감도를 측정하기 위해 상기 광선택부(110)에서 전달된 광신호의 파워를 조정하는 광감쇄기(121)와; 상기 광감쇄기(121)의 출력 광신호가 광신호 출력단(170)으로 전달되는 경로사이에 삽입되어, 상기 광감쇄기(121)의 출력 광신호 중에서 기 설정치 파워 광신호를 분기시키는 스플릿터(122)와; 상기의 분기된 광신호의 파워에 비례하는 전류신호를 생성하는 광/전변환기(123)와; 상기 광/전변환기(123)에서 생성된 전류신호의 로그(Log)값에 비례하는 직류전압을 출력하여, 상기 주제어부(130)로 전송하는 로그스케일DC변환부(124)를 포함하여 구성된다.

상기 주제어부(130)는, 상기 로그스케일DC변환부(124)의 출력신호를 디지털데이터로 변환하여 광신호 파워에 해당하는 수치값을 생성하고, 발생된 비트에러(bit error)를 수집하여 비트에러율(bit error rate)을 계산하고, 계산된 비트에러율(bit error rate)을 디스플레이하게 하는 중앙처리기(131)와; 외부에서 수신된 신호 데이터와 기준 펄스패턴 데이터를 상호 비교하여 비트에러(bit error)를 검출하는 에러검출부(132)와; 펄스패턴을 생성하고, 공급되는 클럭신호를 사용하여 병렬 전기신호를 출력하는 펄스패턴생성부(133)와; 병렬 전기신호를 고속의 다중화된 직렬 전기신호로 변환하여 상기 고출력 전/광 변환부(112), 전기신호 출력단(180) 또는 상기 신호변환부(150)로 전달하는 직렬변환부(134)와; 외부에서 수신된 고속의 다중화된 직렬 전기신호를 병렬 전기신호로 변환하는 병렬변환부(135)와; 외부에서 입력된 광신호가 변환되어 이루어진 다중화 직렬 전기신호 또는 외부에서 직접 입력된 다중화 직렬 전기신호 중에서 하나를 선택하는 전기신호선택기(136)를; 포함하여 구성된다.

상기 입출력부(140)는, 상기 중앙처리기(131)에서 처리된 계산값을 출력하는 디스플레이부(141)와; 각종 제어신호를 입력하는 제어입력부(142)와; 상기 에러검출부(132)와 펄스패턴생성부(133)의 펄스패턴 설정값을 조절하는 장치환경설정부(143)를 포함하여 구성된다.

상기 신호변환부(150)는, 상기 주제어부(130)에서 생성된 다중화 직렬 전기신호를 광신호로 변환하여 광신호출력단(181)을 통해 외부로 전송하는 전/광 신호변환부(151)와; 광신호 입력단(182)를 통해 외부에서 입력된 광신호를 다중화 직렬 전기신호로 변환하는 광/전 신호변환부(152)를; 포함하여 구성된다.

상기 클럭공급부(160)는, 기 설정된 방법으로 내부클럭을 생성하는 내부클럭생성부(162)와; 사용자 지정의 외부클럭을 입력받는 외부클럭 입력단(163)과; 상기 의 내부클럭 또는 외부클럭 중에서 하나를 선택하여 상기 주제어부(130)의 펄스패턴생성부(133)로 전달하는 클럭선택기(161)를; 포함하여 구성된다.

삭제

도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 다기능 측정장치에 있어서, 비트에러율 측정 대상인 피측정부(200)가 연결된 도면이다.

도 2를 참조하여 다기능 측정장치(100)를 이용한 피측정부(200)의 비트에러율 측정방법을 설명하면, 내부클럭 생성부(162)에서 생성된 내부클럭 신호 또는 외부클럭 입력단(163)을 통해 입력된 외부클럭 신호 중에서 클럭선택부(161)에 의해 어느 하나가 선택되어 펄스패턴생성부(133)로 전달되는 단계(S210); 선택된 클럭 신호를 바탕으로 상기 펄스패턴생성부(133)에서 병렬신호인 펄스패턴이 생성되는 단계(S220); 상기 펄스패턴은 직렬변화부(134)에서 다중화된 직렬전기신호로 변환되고, 상기 직렬전기신호는 전/광 신호변환부(151)에서 광신호로 변환되어 광신호출력단(181)을 통해 피측정부(200)로 전송되는 단계(S230); 전송된 광신호에 따라 상기 피측정부(200)가 전기신호를 출력하면, 다기능 측정장치(100)는 상기 피측정 부(200)의 출력신호를 전기신호 입력단(183)을 통해 수신하는 단계(S240); 수신된 전기신호는 병렬변환부(135)에 의해 병렬신호로 변환되어 상기 에러검출부(132)로 전달되는 단계(S250); 상기 에러검출부(132)는 전달된 병렬신호와 기준 펄스패턴를 비교하여 패턴손실 및 비트에러를 검출하고, 상기 중앙처리기(131)는 상기 에러검출부(132)에서 검출된 비트에러를 수집하여 비트에러율을 계산하고 디스플레이부(141)에 결과값을 출력하는 단계(S260);를 수행하여 이루어진다.

바람직하게, 본 발명의 다기능 측정장치(100)는 전기신호 출력단(180)과 광신호 입력단(182)를 더 포함하여 구성되어 있다. 따라서, 피측정부(200)의 입/출력 신호가 광신호 또는 전기신호로 이루어져도, 상기 입/출력단(180, 182)과 광/전 신호변환부(152)를 내부에 구비한 상기 다기능 측정장치(100)는 별도의 광/전 변환기 또는 전/광 변환기를 필요치 않다.

도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 다기능 측정장치(100)에 있어서, 과부하 및 수신감도의 측정 대상인 피측정부(300)가 연결된 도면이다.

도 4는 도 3의 결선에 의한 상기 피측정부(300)의 과부하 및 수신감도를 측정하는 방법을 도시한 순서도이며, 도 4를 참조하여 상기 피측정부(300)의 과부하 및 수신감도를 수동으로 측정하는 방법을 설명하면 다음과 같다.

먼저 피측정부(300)의 과부하를 측정하는 방법은, 도 3에 따라 피측정부(300)가 다기능 측정장치(100)에 연결된 후, 광감쇄기(121)의 초기값이 0dB로 설정되는 단계(S310); 클럭공급부(160) 및 펄스패턴생성부(133)에 의해 생성된 펄스 패턴이 직렬변환부(134)를 거쳐 다중화 직렬 전기신호로 변환되고, 상기 직렬 전기신호가 고출력 전/광 변환부(112)에 의해 광신호로 변환되는 단계(S320); 상기 광신호가 광스위치(111)를 통하여 0dB로 초기화된 광감쇄기(121)를 거치고, 상기 광감쇄기(121)의 출력 광신호는 광신호 출력단(170)으로 전달되는 경로사이에 삽입된 상기 스플릿터(122)에 의해, 기설정 파워의 광신호가 분기되어 광/변환기(123)으로 전달되고, 상기 분기된 광신호는 로그스케일DC변환부(124)를 거쳐 중앙처리기(131)에서 광의 파워가 계산되고, 상기 스플릿터(122)에서 상기 광신호 출력단(170)로 전달된 광신호는 피측정부(300)로 전송되고, 상기 피측정부(300)의 출력전기신호가 전기신호 입력단(183) 및 전기신호선택기(136)를 거쳐 병렬변환부(136)에 의해 병렬신호로 변환되는 단계(S330); 상기 에러검출부(132)에 의해 상기 병렬신호와 상기 (S320)단계의 펄스패턴 신호가 상호 비교되어 패턴 손실 및 에러 발생 여부가 체크되는 단계(S340); 패턴 손실 및 에러가 발생되면, 상기 광감쇄기(121)를 조정하여 광감쇄를 증가시키는 단계(S341)와 패턴손실 및 에러 발생을 체크하는 상기 (S340)단계를, 패턴 손실 및 에러가 발생하지 않을 때까지 순환 동작하는 단계(S340, S341); 패턴 손실 및 에러가 발생하지 않을 때에 상기 광감쇄기(121)의 조정은 멈추고 그 때의 광의 파워를 측정하여 피측정부(300)의 과부하값을 얻는 단계(S350);를 수행함으로서 이루어진다.

피측정부(300)의 수심감도를 측정하는 방법은, 상기 과부하 측정방법을 수행하여 과부하값을 얻은 후(S350), 상기 광감쇄기(121)의 광감쇄를 증가시키기 시작하는 단계(S410); 상기 에러검출부(132)에 의해 에러의 발생 여부를 체크하는 단 계(S420); 에러가 발생되면 상기 광감쇄기(121)를 조정하여 광감쇄를 증가시키는 단계(S421)와 상기 에러 발생을 체크하는 단계(S421)를, 에러가 발생할 때까지 순환 동작하는 단계(S420, S421); 에러가 발생하지 않을 때의 광 파워를 측정하여 피측정부(300)의 수신감도값을 얻는 단계(S430);를 수행함으로서 이루어진다.

도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 다기능 측정장치(100)에 있어서, 수신감도를 측정하기 위한 피측정부(400)의 연결 도면이며, 도 6은 도 5의 연결에 의해 피측정부(400)의 수신감도를 자동으로 측정하는 방법을 도시한 순서도이다.

상기 다기능 측정장치(100)의 내부 구성부분에 대한 작용의 설명은 상기 도 1에서 설명되었으므로, 피측정부(400)의 수신감도를 자동으로 측정하는 방법을 설명함에 있어, 상기 다기능 측정장치(100)의 내부 구성부분에 대한 작용의 설명을 간략하게 표현하였음에 유의해야 한다.

피측정부(400)의 수신감도를 자동 측정하는 방법은,

도 5와 같이 피측정부(400)를 다기능 측정장치(100)에 연결하여 클럭공급부(160), 펄스패턴생성부(133), 직렬변환부(134) 및 전/광 신호변환부(151)를 통해 광신호가 생성되고, 생성된 광신호는 외부 연결선(101)을 거쳐 광신호 입력단(171)과 광스위치(111)과 광감쇄기(121)를 거쳐 스플릿터(122)로 전달되고, 상기 스플릿터(122)에 전달된 광신호에서 기설정치 파워의 광신호가 분기되어 광/전변환기(123) 및 로그스케일DC변환부(124)를 거쳐 중앙처리기(131)로 전달되고, 상기 스플릿터(122)로부터 분기되고 남은 광신호는 광신호 출력단(170)을 통해 피측정 부(400)에 전송되며, 상기 피측정부(400)의 출력 광신호가 광신호 입력단(182)을 통해 다기능 측정장치(100)에 수신되고, 수신된 광신호가 광/전 신호변환부(152)와 전기신호선택기(136)와 병렬변환부(135)를 거쳐 병렬신호로 변환되어 에러검출부(132)에 전달되는 단계(S410);와

상기 중앙처리기(131)는 광 손실 검사와(S421) 패턴 손실 검사를(S422) 실행하고, 광손실 및 패턴손실이 발생하면 발생된 누적시간을 계산하여(S423) 기 설정값 시간 내에서는 상기 (S421, S422)의 검사단계를 반복실행하고, 기 설정값을 초과하면 자동수신감도 측정과정을 종료하고, 광손실 및 패턴손실이 발생하지 않으면 수신감도 측정 과정으로 넘어가는 선로 검사단계(S420);와

중앙처리기(131)에서 누적된 에러데이터를 삭제하여 에러검출을 초기화하는 단계(S430);와

중앙처리기(131)에서 현재 수신되는 광 파워를 계산하고, 통상의 수신감도를 감안하여 기 설정된 수신감도 임계치와 상기 광 파워의 차이값을 계산하고(S441), 상기 차이값에 따라 광감쇄 크기를 달리하여 광감쇄기(121)에서 광감쇄를 이행하고 (S442, S443, S444, S445, S446), 패턴손실 및 에러의 발생 여부를 검사하여(S447) 패턴손실 및 에러가 발생할 때까지 상기 (S441)단계와 상기 (S442, S443, S444, S445, S446)단계를 반복 실행하는 수신감도 추적을 위한 광감쇄단계(S440);와

상기 (S440)에서 패턴손실 및 에러가 발생되면 광감쇄기의 출력을 기설정된 소정의 파워만큼 증가시키고(S451), 중앙처리기(131)의 누적된 에러데이터를 삭제하고 기 설정시간 동안 대기하고(S452), 상기 대기 시간 후에 에러를 검출하 여(S453) 에러가 발생하지 않을 때까지 상기 (S451)단계와 상기 (S452)단계를 반복실행하는 수신감도 정밀 추적단계(S450);와

상기 (S450)단계를 거친 후 누적된 에러데이터를 삭제하고, 기설정 시간을 대기하여(S461) 에러를 검출하고(S462), 에러가 검출되면 상기 (S450)단계를 다시 실행하는 수신감도 검증단계(S460);와

상기 (S460)단계에서 에러가 검출되지 않으면, 현재 광의 파워를 수신감도로 판단하여 디스플레이부(141)에 출력시키는 단계(S470);를 포함하여 이루어진다.

도 6에서는 (S440)단계와 (S450)단계에서 광감쇄기(121)의 조정값을 소정의 dBm값으로 표현되어 있으나, 상기의 조정값들은 측정대상에 따라 다르게 적용하는 것이 바람직하므로, 상기의 조정값들이 도 6과 같이 한정되는 값들이 아님에 유의해야 한다.

이상에서 본 발명의 기술적 사상을 예시하기 위해 구체적인 실시 예로 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 상기와 같이 구체적인 실시 예와 동일한 구성 및 작용에만 국한되지 않고, 여러가지 변형이 본 발명의 범위를 벗어나지 않는 한도 내에서 실시될 수 있다. 특히, 본 발명의 다기능 측정장치(100)는 외부 피측정부(200, 300, 400)에 신호를 전송하거나 신호를 받는 단자들(180, 181, 182, 183)이 전기신호 및 광신호를 선택적으로 수용할 수 있으므로, 상기 외부 피측정부(200, 300, 400)의 입/출력이 전기신호 및 광신호에 상관없이 적용할 수 있다.

따라서, 그와 같은 변형도 본 발명의 범위에 속하는 것으로 간주해야 하며, 본 발명의 범위는 후술하는 특허청구범위에 의해 결정되어야 한다.

따라서, 상기 설명한 바와 같이 본 발명의 실시예에 의하면, 하나의 측정장치로서 비트에러, 과부하 및 수신감도를 측정할 수 있다.

또한, 본 발명은 하나의 측정장치로서 비트에러, 과부하 및 수시감도를 측정함에 있어 특별한 주변장치가 필요 없다.

또한, 본 발명은 피측정부의 성능을 효율적으로 측정할 수 있고, 특히 수신감도를 자동으로 측정할 수 있어 제품 생산성을 향상시킬 수 있다.

Claims

디지털시스템 및 광통신모듈의 비트에러율, 과부하 및 수신감도를 측정하기 위하여, 광선택부(110)와, 광파워측정부(120)와, 주제어부(130)와, 입출력부(140)와, 신호변환부(150)와, 클럭공급부(160)와, 다수의 신호 입출력단(170, 171, 180, 181, 182, 183)으로 구성되는 다기능 측정장치에 있어서;

상기 다수의 신호 입출력단(170, 171, 180, 181, 182, 183)은, 광신호의 파워를 측정하기 위한 광신호 출력단(170) 및 광신호 입력단(171)과, 외부에서 광신호를 수신하는 광신호 입력단(182)과, 외부에서 전기신호를 수신하는 전기신호 입력단(183)과, 다기능 측정장치(100)에서 생성된 광신호를 외부로 전송하는 광신호 출력단(181)과, 다기능 측정장치(100)에서 생성된 전기신호를 외부로 전송하는 전기신호 출력단(180)을 포함하여 구성되고;

상기 광선택부(110)는, 상기 주제어부(130)에서 생성된 다중화 직렬 전기신호를 광신호로 변환하는 고출력 전/광 변환부(112)와, 상기 고출력 전/광 변환부(112)에서 전달되는 광신호 또는 상기 광신호 입력단(171)을 통해 입력된 외부 광신호 중에서 하나를 선택하여 상기 광파워측정부(120)로 전달하는 광스위치(111)를 포함하여 구성되고;

상기 광파워측정부(120)는, 전달되는 광신호 파워를 조정하는 광감쇄기(121)와, 입력된 광신호 중에서 기설정치 파워의 광신호를 분기시키고 나머지 광신호를 출력시키는 스플릿터(122)와, 상기의 분기된 광신호의 파워에 비례하는 전류신호를 생성하는 광/전변환기(123)와, 상기 광/전변환기(123)에서 생성된 전류신호의 로그(Log)값에 비례하는 직류전압을 출력하는 로그스케일DC변환부(124)를 포함하여 구성되고;

상기 주제어부(130)는, 상기 로그스케일DC변환부(124)의 출력신호인 아날로그신호를 디지털데이터로 변환하여 광파워에 해당하는 수치값을 생성하고, 발생된 비트에러(bit error)를 수집하여 비트에러율(bit error rate)을 계산하고, 계산된 비트에러율(bit error rate)을 디스플레이하게 하는 중앙처리기(131)와, 외부로부터 수신되어 변환된 병렬 전기신호 데이터와 기준 펄스패턴 데이터를 상호 비교하여 비트에러(bit error)를 검출하는 에러검출부(132)와, 펄스패턴을 생성하고 공급되는 클럭신호를 사용하여 병렬 전기신호를 출력하는 펄스패턴생성부(133)와, 병렬 전기신호를 다중화 직렬 전기신호로 변환하는 직렬변환부(134)와, 다중화 직렬 전기신호를 병렬 전기신호로 변환하는 병렬변환부(135)와, 외부로부터 입력된 광신호를 변환하여 이루어진 고속의 다중화 직렬 전기신호 또는 외부에서 직접 입력된 다중화 직렬 전기신호 중에서 하나를 선택하는 전기신호선택기(136)를 포함하여 구성되고;

상기 입출력부(140)는, 상기 중앙처리기(131)에서 처리된 계산값을 출력하는 디스플레이부(141)와, 각종 제어신호를 입력하는 제어입력부(142)와, 상기 에러검출부(132)와 펄스패턴생성부(133)의 설정값을 조절하는 장치환경설정부(143)를 포함하여 구성되고;

상기 신호변환부(150)는, 상기 주제어부(130)에서 생성된 다중화 직렬 전기신호를 광신호로 변환하는 전/광 신호변환부(151)와, 외부에서 입력된 광신호를 다중화 직렬 전기신호로 변환하는 광/전 신호변환부(152)를 포함하여 구성되고;

상기 클럭공급부(160)는, 기 설정된 방법으로 내부클럭을 생성하는 내부클럭생성부(162)와, 사용자 지정의 외부클럭을 입력받는 외부클럭 입력단(163)과, 상기의 내부클럭 또는 외부클럭 중에서 하나를 선택하여 상기 펄스패턴생성부(133)로 전달하는 클럭선택기(161)를 포함하여 구성되는; 것을 특징으로 하는 디지털시스템 및 광통신모듈의 비트에러율, 과부하 및 수신감도를 측정하는 다기능 측정장치.
외부입력 광신호 또는 내부에서 생성된 광신호를 선택하는 광선택부(110)와; 수신된 광신호의 파워를 조정하고, 파워가 조정된 광신호에서 기 설정 파워 신호를 분기하여 광신호 파워를 측정하는 광파워측정부(120)와; 상기 광파워측정부(120)의 출력에 따라 광신호의 파워를 결정하고, 클럭신호를 바탕으로 펄스패턴을 생성하고, 수신된 신호의 펄스패턴으로부터 에러를 검출하고, 자동으로 수신감도를 측정하기 위한 알고리즘을 내장하는 주제어부(130)와; 상기 주제어부(130)의 결과값을 출력하고, 제어신호를 입력하고, 펄스패턴 설정값을 지정하는 입출력부(140)와; 수신된 광신호를 다중화 직렬 전기신호로 변환하거나, 내부의 다중화 직렬 전기신호를 송신하기 위해 광신호로 변환하는 신호변환부(150)와; 내부클럭을 생성하거나 외부에서 사용자 지정 클럭을 수신하여 선택적으로 클럭신호를 상기 주제어부(130)에 전달하는 클럭공급부(160)와; 광신호의 파워를 측정하기 위한 광신호 출력단(170) 및 광신호 입력단(171)과, 외부 신호를 수신하는 광신호 입력단(182) 및 전기신호 입력단(183)과, 내부 신호를 외부로 전송하는 광신호 출력단(181) 및 전기신호 출력단(180)을; 포함하여 구성되는 다기능 측정장치(100)를 이용한 과부하 및 수신감도의 측정방법에 있어서;

상기 광파워측정부(120)에서 광신호의 파워 조정값을 초기화하는 단계(S310);

상기 클럭공급부(160)의 클럭에 따라 상기 주제어부(130)에서 펄스패턴을 생성하여 다중화 직렬 전기신호로 변환하고, 상기 광선택부(110)에서 상기 다중화 직렬 전기신호를 광신호로 변환하는 단계(S320);

광파워측정부(120)에서 상기 광신호를 분기시켜 파워가 측정되고, 분기되고 남은 광신호를 피측정부로 전송하여 피측정부의 출력값을 수신하고, 수신된 신호를 상기 주제어부(130)로 전달하는 단계(S330);

수신된 신호와 기준 펄스패턴을 상호 비교하여 패턴 동조 손실 및 에러 발생 여부를 체크하는 단계(S340);

상기 (S340)단계에서 패턴 손실 또는 에러가 발생하면, 상기 광파워측정부(120)에서 광감쇄를 기 설정치만큼 증가시키고, 다시 상기 (S340)단계를 수행하게 하는 단계(S341);

상기 (S340)단계에서 패턴 손실 및 에러가 발생하지 않으면, 그때의 광 파워 값을 측정하여 피측정부의 과부하를 얻는 단계(S350);

상기 (S350)단계를 수행한 후, 상기 광파워측정부(120)에서 광감쇄를 기 설정치 증가시키는 단계(S410);

상기 주제어부(130)에서 에러를 검출하는 단계(S420);

상기 (S420)단계에서 에러가 발생하지 않으면, 상기 광파워측정부(120)에서 광감쇄를 기 설정치만큼 증가시키고, 다시 상기 (S420)단계를 수행하는 단계(S421);

상기 (S420)단계에서 에러가 발생되면, 그때의 광 파워 값을 측정하여 피측정부의 수신감도를 얻는 단계(S430);를 이행하여 이루어지는 다기능 측정장치(100)를 이용한 과부하 및 수신감도의 측정방법.
외부입력 광신호 또는 내부에서 생성된 광신호를 선택하는 광선택부(110)와; 수신된 광신호의 파워를 조정하고, 파워가 조정된 광신호에서 기 설정 파워 신호를 분기하여 광신호 파워를 측정하는 광파워측정부(120)와; 상기 광파워측정부(120)의 출력에 따라 광신호의 파워를 결정하고, 클럭신호를 바탕으로 펄스패턴을 생성하고, 수신된 신호의 펄스패턴으로부터 에러를 검출하고, 자동으로 수신감도를 측정하기 위한 알고리즘을 내장하는 주제어부(130)와; 상기 주제어부(130)의 결과값을 출력하고, 제어신호를 입력하고, 펄스패턴 설정값을 지정하는 입출력부(140)와; 수신된 광신호를 다중화 직렬 전기신호로 변환하거나, 내부의 다중화 직렬 전기신호를 송신하기 위해 광신호로 변환하는 신호변환부(150)와; 내부클럭을 생성하거나 외부에서 사용자 지정 클럭을 수신하여 선택적으로 클럭신호를 상기 주제어부(130)에 전달하는 클럭공급부(160)와; 광신호의 파워를 측정하기 위한 광신호 출력단(170) 및 광신호 입력단(171)과, 외부 신호를 수신하는 광신호 입력단(182) 및 전기신호 입력단(183)과, 내부 신호를 외부로 전송하는 광신호 출력단(181) 및 전기신호 출력단(180)을; 포함하여 구성되는 다기능 측정장치(100)를 이용한 과부하 및 수신감도의 측정방법에 있어서;

상기 다기능 측정장치(100)에서 생성된 펄스패턴에 기초하여 이루어진 광신호를 피측정부(400)의 입력단에 전송하고, 상기 전송된 광신호에 대응하는 상기 피측정부(400)의 출력신호를 상기 다기능 측정장치(100)에서 수신하는 단계(S410);

수신된 신호와 기준 펄스패턴에 기초하여 광 손실 검사(S421) 및 패턴 손실 검사를(S422) 실행하며, 광손실 및 패턴손실이 발생하면 발생된 누적시간을 계산하여(S423) 상기 누적시간이 기 설정값을 초과하면 자동수신감도 측정과정을 종료하고, 광손실 및 패턴손실이 발생하지 않거나 상기 누적시간이 기 설정값이하에서 광손실 및 패턴손실이 발생하지 않기 시작하면 수신감도 측정 과정으로 넘어가는 선로 검사단계(S420);와

수신감도를 측정하기 시작하는 단계로서, 누적된 에러데이터를 삭제하여 에러검출을 초기화하는 단계(S430);와

현재 수신되는 광 파워를 계산하여, 통상의 수신감도를 감안하여 기 설정된 수신감도 임계치와 상기 광 파워의 차이값을 계산하고(S441), 상기 차이값에 따라 광감쇄 크기를 달리하여 광감쇄를 이행하며(S442, S443, S444, S445, S446), 패턴손실 및 에러의 발생 여부를 검사하여(S447) 패턴손실 및 에러가 발생할 때까지 상기 (S441)단계와 상기 (S442, S443, S444, S445, S446)단계를 반복 실행하는 수신감도 추적을 위한 광감쇄단계(S440);와

상기 (S440)에서 패턴손실 및 에러가 발생하면 광감쇄를 기설정된 소정의 파워만큼 줄인 후에(S451), 중앙처리기(131)의 누적된 에러데이터를 삭제하고 기 설정시간 동안 대기하고(S452), 상기 대기 시간 후에 에러를 검출하여(S453) 에러가 발생하지 않을 때까지 상기 (S451)단계와 상기 (S452)단계를 반복실행하는 수신감도 정밀 추적단계(S450);와

상기 (S450)단계를 거친 후 누적된 에러데이터를 삭제하고, 기설정 시간을 대기하여(S461) 에러를 검출하고(S462), 에러가 검출되면 상기 (S450)단계를 다시 실행하는 수신감도 검증단계(S460);와

상기 (S460)단계에서 에러가 검출되지 않으면, 현재 광의 파워를 수신감도로 판단하여 출력시키는 단계(S470);를 이행하여 이루어지는 다기능 측정장치(100)를 이용한 과부하 및 수신감도의 측정방법.