KR102457760B1 - 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

표시 패널은 화소들; 상기 화소들에 각각 연결되고, 일단을 통해 외부 장치로부터 발광 제어 신호를 수신하여 상기 화소들에 상기 발광 제어 신호를 각각 전송하는 발광 제어 신호선들-상기 발광 제어 신호는 상기 화소들의 발광 시간을 제어함-; 및 상기 발광 제어 신호선들의 타단과 연결되고, 상기 발광 제어 신호에 기초하여 내부 손상의 발생 여부를 나타내는 검출 신호를 생성하는 검출 회로부를 포함한다.

Description

표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치{DISPLAY PANEL AND DISPLAY DEVICE INCLUDING THE SAME}
본 발명은 표시 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 어플리케이션 프로세서 및 이를 포함하는 표시 장치에 관한 것이다.
표시 패널은 주사선과 데이터선의 교차 영역에 형성된 화소들을 포함한다. 주사선들에 주사신호가 순차적으로 제공될 때, 주사신호에 대응하여 데이터선들을 통해 화소들에 데이터 신호가 기입된다. 화소들은 기입된 데이터 신호에 상응하는 영상을 표시한다.
표시 장치의 해상도가 높아짐에 따라 표시 패널에 형성된 선들은 인접하여 설계되므로, 표시 장치의 사용 중 물리적 충격에 의해 크랙(crack)이 발생하고, 선들 간에 단락이 발생할 수 있다. 선들 간에 단락가 발생하는 경우, 선들에 과도한 전류가 흐르고 표시 패널이 발화될 수 있다.
이러한 문제점을 해결하기 위해, 표시 장치는 화소부를 둘러쌓는 크랙 센싱 라인을 형성함으로써 크랙을 감지할 수 있다. 이 경우, 영상이 표시되는 화소부에서 발생하는 크랙을 감지하기 어렵고, 추가적인 배선이 형성됨에 따라 영상이 표시되지 않는 비표시 영역의 크기가 증가될 수 있다.
본 발명의 일 목적은 비표시 영역의 크기의 증가 없이 화소부에서 발생하는 크랙을 감지할 수 있는 표시 패널을 제공하고자 한다.
본 발명의 다른 목적은 상기 표시 패널을 포함하는 표시 장치를 제공하고자 한다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 패널은, 화소들; 상기 화소들에 각각 연결되고, 일단을 통해 외부 장치로부터 발광 제어 신호를 수신하여 상기 화소들에 상기 발광 제어 신호를 각각 전송하는 발광 제어 신호선들-상기 발광 제어 신호는 상기 화소들의 발광 시간을 제어함-; 및 상기 발광 제어 신호선들의 타단과 연결되고, 상기 발광 제어 신호에 기초하여 내부 손상의 발생 여부를 나타내는 검출 신호를 생성하는 검출 회로부를 포함 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검출 회로부는 상기 발광 제어 신호선들 중에서 제1 발광 제어 신호선을 통해 출력되는 제1 발광 제어 신호와, 상기 발광 제어 신호선들 중에서 제2 발광 제어 신호선을 통해 출력되는 제2 발광 제어 신호에 기초하여 제1 검출 신호를 생성하고, 상기 제1 검출 신호는 상기 검출 신호에 포함 될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 발광 제어 신호선들은 상기 표시 패널 상에서 제1 방향으로 연장되고, 제2 방향으로 이격되어 배치되며, 상기 제2 방향은 상기 제1 방향에 수직 일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검출 회로부는 상기 표시 패널의 제1 방향에 배치 될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 화소들 각각은, 제1 전원전압과 연결되는 제1 전극, 제1 노드에 연결되는 제2 전극 및 데이터 신호를 수신하는 게이트 전극을 구비하는 제1 트랜지스터; 상기 제1 노드에 연결되는 제1 전극, 제2 노드에 연결되는 제2 전극 및 상기 제1 발광 제어 신호를 수신하는 게이트 전극을 구비하는 제2 트랜지스터; 및 상기 제2 노드 및 제2 전원전압 사이에 연결되는 발광 소자를 포함 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검출 회로부는, 상기 제1 발광 제어 신호와 상기 제2 발광 제어 신호를 논리 합(AND) 연산하여 상기 제1 검출 신호를 출력 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검출 회로부는 논리 게이트를 포함하고, 상기 논리 게이트는 상기 제1 발광 제어 신호와 상기 제2 발광 제어 신호를 수신하여, 상기 제1 검출 신호를 출력 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검출 회로부는, 상기 발광 제어 신호선들 중에서 제3 발광 제어 신호선을 통해 출력되는 제3 발광 제어 신호에 기초하여, 제2 검출 신호를 생성 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검출 회로부는, 상기 발광 제어 신호선들 중에서 제3 발광 제어 신호선을 통해 출력되는 제3 발광 제어 신호와, 상기 발광 제어 신호선들 중에서 제4 발광 제어 신호선을 통해 출력되는 제4 발광 제어 신호에 기초하여, 제2 검출 신호를 생성 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검출 회로부는 상기 제1 검출 신호 및 상기 제2 검출 신호에 기초하여 상기 검출 신호를 생성 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검출 회로부는, 상기 제1 검출 신호와 상기 제2 검출 신호를 논리 합(AND) 연산하여 상기 검출 신호를 생성 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검출 회로부는 논리 게이트를 포함하고, 상기 논리 게이트는 상기 제1 검출 신호와 상기 제2 검출 신호를 수신하여, 상기 검출 신호를 출력
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는, 화소들 및 상기 화소들에 각각 연결되는 발광 제어 신호선들을 구비하고, 상기 발광 제어 신호선들 각각은 상기 화소들의 발광 시간을 제어하는 발광 제어 신호를 상기 화소들에 전송하는 표시 패널; 상기 발광 제어 신호선들 각각의 일단과 연결되고, 상기 발광 제어 신호에 기초하여 검출 신호를 생성하는 앤드 게이트 구동부; 및 상기 발광 제어 신호를 생성하고, 상기 발광 제어 신호선들 각각의 타단을 통해 상기 발광 제어 신호선들에 상기 발광 제어 신호를 제공하며, 상기 검출 신호에 기초하여 상기 표시 패널의 내부 손상의 발생 여부를 판단하는 제어부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 발광 제어 신호선들은 상기 표시 패널 상에서 제1 방향으로 연장되고, 제2 방향으로 이격되어 배치되며, 상기 제2 방향은 상기 제1 방향에 수직 일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 앤드 게이트 구동부는 상기 발광 제어 신호선들 중에서 제1 발광 제어 신호선을 통해 출력되는 제1 발광 제어 신호와, 상기 발광 제어 신호선들 중에서 제2 발광 제어 신호선을 통해 출력되는 제2 발광 제어 신호에 기초하여 상기 검출 신호를 생성 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제어부는, 상기 검출 신호를 기준 신호와 비교하여 상기 검출 신호의 파형이 상기 기준 신호의 파형과 다른 경우, 상기 표시 패널에 상기 내부 손상이 발생한 것으로 판단 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제어부는, 상기 발광 제어 신호를 생성하는 신호 생성 유닛; 및 상기 검출 신호에 기초하여 상기 표시 패널의 상기 내부 손상의 발생 여부를 판단하는 판단 유닛을 포함 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 신호 생성 유닛은 상기 기준 신호를 생성하되, 상기 기준 신호는 상기 발광 제어 신호의 반전 신호이고, 상기 판단 유닛은 상기 검출 신호와 상기 기준 신호를 논리 연산하여 상기 표시 패널의 상기 내부 손상의 발생 여부를 판단 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 판단 유닛은, 상기 검출 신호와 상기 기준 신호를 논리 곱(OR) 연산 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 장치는, 상기 화소들에 구동 전압을 공급하는 전원 공급부를 더 포함하고, 상기 제어부는 판단 결과에 기초하여 상기 구동 전압의 공급을 제어하는 전원 제어 신호를 생성하고, 상기 전원 제어 신호를 상기 전원 공급부에 제공 할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 패널은, 화소들의 발광 시간을 제어하기 위한 발광 제어 신호에 기초하여 검출 신호를 생성함으로써, 화소부에 발생하는 크랙을 감지할 수 있다. 또한, 표시 패널은 크랙 검출을 위한 별도의 배선을 필요로 하지 않으므로, 비표시 영역의 크기의 증가를 최소화할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 상기 표시 패널을 포함하므로, 표시 장치의 정상 구동 중이라 하더라도, 화소부에서 발생하는 크랙을 감지할 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상기 효과들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2a 내지 도 2c는 도 1의 표시 장치에 포함된 표시 패널의 예들을 나타내는 회로도이다.
도 3은 도 2a의 표시 패널에 포함된 검출 회로부의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 4는 도 3의 검출 회로부에서 생성되는 검출 신호의 일 예를 나타내는 파형도이다.
도 5는 도 1의 표시 장치에 포함된 타이밍 제어부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시예들을 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성 요소에 대해서는 동일하거나 유사한 참조 부호를 사용한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(100)는 표시 패널(110), 주사 구동부(120), 데이터 구동부(130), 앤드 게이트 구동부(140), 전원 공급부(150) 및 타이밍 제어부(160) 를 포함할 수 있다. 표시 장치(100)는 외부에서 제공되는 영상 데이터(예를 들어, 제1 영상 데이터(DATA1))에 기초하여 영상을 출력할 수 있다. 예를 들어, 표시 장치(100)는 유기 발광 표시 장치일 수 있다.
표시 패널(110)은 주사선들(S1 내지 Sn), 데이터선들(D1 내지 Dm), 발광 제어 신호선들(E1 내지 Em) 및 화소(111)를 포함할 수 있다(단, n과 m은 각각 2이상의 정수). 여기서, 발광 제어 신호선들(E1 내지 Em)은 화소(111)의 발광 시간을 제어하는 발광 제어 신호(EMS)를 화소(111)에 전송할 수 있다. 예를 들어, 발광 제어 신호선들(E1 내지 Em)은 일단을 통해 외부 장치(예를 들어, 타이밍 제어부(160))로부터 발광 제어 신호를 수신하고, 발광 제어 신호를 화소(111)에 전송할 수 있다.
화소(111)는 주사선들(S1 내지 Sn), 데이터선들(D1 내지 Dm) 및 발광 제어 신호선들(E1 내지 Em)의 교차 영역들에 배치될 수 있다. 화소(111)는 주사신호에 응답하여 데이터 신호를 저장하고, 저장된 데이터 신호에 기초하여 발광할 수 있다. 또한, 화소(111)는 발광 제어 신호에 기초하여 정해진 발광 시간 동안 발광할 수 있다.
주사 구동부(120)는 주사 구동제어신호(SCS)에 기초하여 주사신호를 생성할 수 있다. 주사 구동제어신호(SCS)는 타이밍 제어부(150)로부터 주사 구동부(120)에 제공될 수 있다. 주사 구동제어신호(SCS)는 스타트 펄스 및 클럭신호들을 포함하고, 주사 구동부(120)는 스타트 펄스 및 클럭신호들에 기초하여 순차적으로 주사신호를 생성하는 시프트 레지스터를 포함하여 구성될 수 있다.
데이터 구동부(130)는 영상 데이터(예를 들어, 제2 영상 데이터(DATA2))에 기초하여 데이터 신호를 생성할 수 있다. 데이터 구동부(130)는 데이터 구동제어신호(DCS)에 응답하여 데이터 신호를 표시 패널(110)에 제공할 수 있다. 데이터 구동제어신호(DCS)는 타이밍 제어부(140)로부터 데이터 구동부(130)에 제공될 수 있다.
앤드 게이트 구동부(140)(또는, 검출 회로부)는 발광 제어 신호선들(E1 내지 Em) 각각의 타단과 연결되고, 발광 제어 신호선들(E1 내지 Em)을 통해 전송된 발광 제어 신호들(EMS1 내지 EMSm)(즉, 표시 패널(110)을 횡단하여 표시 패널(110)로부터 출력되는 발광 제어 신호들(EMS1 내지 EMSm))에 기초하여 검출 신호(CDS)를 생성할 수 있다. 여기서, 검출 신호(CDS)는 표시 패널(110)의 내부 손상의 발생 여부를 나타낼 수 있다.
실시예들에서, 앤드 게이트 구동부(140)는 발광 제어 신호들(EMS1 내지 EMSm)을 논리 연산하여 검출 신호(CDS)를 출력할 수 있다. 예를 들어, 앤드 게이트 구동부(140)는 논리 게이트(예를 들어, 앤드 게이트)를 포함하고, 발광 제어 신호들(EMS1 내지 EMSm)을 논리 합(AND) 연산하여 검출 신호(CDS)를 출력할 수 있다.
전원 공급부(150)는 구동 전압을 생성하고, 구동 전압을 표시 패널(110)(또는, 화소(111))에 공급할 수 있다. 여기서, 구동 전압은 화소(111)의 구동에 필요한 전원 전압이고, 예를 들어, 구동 전압은 제1 전원전압(ELVDD) 및 제2 전원전압(ELVSS)를 포함할 수 있다. 여기서, 제1 전원전압(ELVDD)은 제2 전원전압(ELVSS)보다 클 수 있다.
실시예들에서, 전원 공급부(150)는 전원 제어 신호(PCS)에 기초하여 표시 패널(110)에 대한 구동 전압의 공급을 차단할 수 있다. 여기서, 전원 제어 신호(PCS)는 타이밍 제어부(160)로부터 제공될 수 있다.
타이밍 제어부(160)는 주사 구동부(120), 데이터 구동부(130)를 제어할 수 있다. 타이밍 제어부(160)는 주사 구동제어신호(SCS), 데이터 구동제어신호(DCS)를 생성하고, 상기 생성된 신호들에 기초하여 주사 구동부(120) 및 데이터 구동부(130)를 제어할 수 있다.
실시예들에서, 타이밍 제어부(160)는 발광 제어 신호(EMS)를 생성하고, 발광 제어 신호선들(E1 내지 Em)을 통해 발광 제어 신호(EMS)를 화소(111)에 제공할 수 있다. 또한, 타이밍 제어부(160)는 앤드 게이트 구동부(140)로부터 검출 신호(CDS)를 수신하고, 검출 신호(CDS)에 기초하여 표시 패널(110)의 내부 크랙 발생 여부를 판단할 수 있다.
예를 들어, 타이밍 제어부(160)는 검출 신호(CDS)와 기준 신호를 비교하고, 검출 신호(CDS)가 기준 신호와 다른 파형을 가지는 경우, 표시 패널(110)에 내부 크랙이 발생한 것으로 판단할 수 있다. 여기서, 기준 신호는 발광 제어 신호(EMS)와 동일한 파형을 가질 수 있다.
즉, 발광 제어 신호선들(E1 내지 Em)에 발광 제어 신호(EMS)가 공급되므로, 표시 패널(110)에 내부 크랙이 발생하지 않은 경우(예를 들어, 발광 제어 신호선들(E1 내지 Em)에 크랙이 발생하지 않은 경우), 발광 제어 신호선들(E1 내지 Em)을 통해 표시 패널(110)로부터 출력되는 발광 제어 신호들(EMS1 내지 EMSm)는 발광 제어 신호(EMS)와 동일한 파형을 가질 수 있다. 표시 패널(110)에 내부 크랙이 발생한 경우(예를 들어, 제1 발광 제어 신호선(E1)에 크랙이 발생한 경우), 제1 발광 제어 신호선(E1)의 저항은 변하고, 다른 발광 제어 신호선들(E2 내지 Em)과 다른 저항값을 가지므로, 해당 발광 제어 신호선을 통해 출력되는 제1 발광 제어 신호(EMS1)은 기준 신호(또는, 발광 제어 신호(EMS), 다른 발광 제어 신호(EMS2 내지 EMSm))와 다른 파형을 가질 수 있다. 따라서, 타이밍 제어부(160)는, 검출 신호(CDS)가 기준 신호와 다른 파형을 가지는 경우, 표시 패널(110)에 내부 크랙이 발생한 것으로 판단할 수 있다.
이 경우, 타이밍 제어부(160)는 전원 제어 신호(PCS)를 생성하고, 전원 공급부(150)는 전원 제어 신호(PCS)에 기초하여 표시 패널(110)에 대한 구동 전압의 공급을 차단할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치(100)는 발광 제어 신호선들(E1 내지 Em)을 표시 패널(110)을 횡단하여 표시 패널(110)로부터 출력되는 발광 제어 신호들(EMS1 내지 EMSm)에 기초하여 검출 신호(CDS)를 생성하므로, 표시 패널(110)의 내부 손상을 감지할 수 있다.
또한, 표시 장치(100)는 표시 패널(110)의 내부 손상을 검출하기 위한 추가적인 배선을 필요로 하지 않으므로, 비표시 영역(즉, 화소(111)가 형성되지 않고, 상기 추가적인 배선을 형성될 수 있는 표시 패널(110)의 특정 영역, 예를 들어, 데드 스페이스)의 증가를 최소화시킬 수 있다.
나아가, 발광 제어 신호들(EMS1 내지 EMSm)는 표시 장치(100)의 정상 구동 중에 생성/이용되므로, 표시 장치(100)는 표시 장치(100)의 정상 구동시에도 표시 패널(110)의 내부 손상을 감지할 수 있다.
한편, 도 1에서, 표시 장치(100)는 발광 제어 신호들(EM1 내지 EMm)에 기초하여 검출 신호를 생성하는 것으로 설명하였으나, 표시 장치(100)는 이에 국한되는 것은 아니다. 예를 들어, 표시 장치(100)는 표시 패널(100)의 일측에 순차적으로 공급된 주사 신호를, 표시 패널(100)의 타측(즉, 주사선들(S1 내지 Sn)을 통해 표시 패널(100)을 횡단한 주사 신호)를 순차적으로 논리 연산(예를 들어, 논리 곱(OR) 연산)하여 검출 신호를 생성할 수 있다. 이 경우, 표시 장치(100)는 검출 신호와 기준 신호(예를 들어, 표시 패널(110) 상에 내부 손상이 없는 경우, 측정되는 기준 검출 신호)를 비교하여, 표시 패널(110)의 내부 손상을 검출할 수 있다.
또한, 도 1에서, 표시 장치(100)는 타이밍 제어부(160)를 이용하여 발광 제어 신호(EMS)를 생성하고, 검출 신호(CDS)에 기초하여 전원 제어 신호(PCS)를 생성하는 것으로 설명하였으나, 표시 장치(100)는 이에 국한되는 것은 아니다. 예를 들어, 표시 장치(100)는 발광 제어 신호(EMS)를 생성하고 전원 제어 신호(PCS)를 생성하는 별도의 제어부(예를 들어, 발광 제어 구동부)를 포함할 수 있다.
도 2a 내지 도 2c는 도 1의 표시 장치에 포함된 표시 패널의 예들을 나타내는 회로도이다.
도 1 및 도 2a를 참조하면, 표시 패널(110)은 화소들(111-1 내지 111-m), 발광 제어 신호선들(E1 내지 Em) 및 검출 회로부(210)를 포함할 수 있다.
화소들(111-1 내지 111-m)는 도 1을 참조하여 설명한 화소(111)와 실질적으로 동일할 수 있다. 화소들(111-1 내지 111-m) 각각은 제1 트랜지스터(T1), 제2 트랜지스터(T2) 및 발광 소자(EL)를 포함할 수 있다. 제1 트랜지스터(T1)은 제1 전원전압(ELVDD)과 연결되는 제1 전극, 제1 노드(N1)에 연결되는 제2 전극 및 데이터 신호(DATA)를 수신하는 게이트 전극을 구비할 수 있다. 제2 트랜지스터(T2)는 제1 노드(N1)에 연결되는 제1 전극, 제2 노드(N2)에 연결되는 제2 전극 및 발광 제어 신호(EMS)(또는, 제1 발광 제어 신호(EMS1) 내지 제m 발광 제어 신호(EMVSm))를 수신하는 게이트 전극을 포함할 수 있다. 발광 소자(EL)는 제2 노드(N2) 및 제2 전원전압(ELVSS) 사이에 연결되고, 데이터 신호(DATA) 및 발광 제어 신호(EMS)에 응답하여 발광할 수 있다. 예를 들어, 발광 소자(EL)은 유기 발광 다이오드일 수 있다.
발광 제어 신호선들(E1 내지 Em)은 제1 방향으로 연장되고, 제2 방향을 따라 배열될 수 있다. 여기서, 제2 방향은 제1 방향에 수직할 수 있다. 예를 들어, 제1 발광 제어 신호선(E1)은 제1 방향으로 연장되고, 제2 발광 제어 신호선(E2)는 제1 발광 제어 신호선(E1)으로부터 제2 방향으로 이격될 수 있다. 발광 제어 신호선들(E1 내지 Em)은 발광 제어 신호들(EMS1 내지 EMSm)을 각각 화소들(111-1 내지 111-m)에 전송할 수 있다.
발광 제어 신호들(EMS1 내지 EMSm)은 상호 동일한 파형을 가질 수 있다. 도 2a에서, 제1 발광 제어 신호(EMS1) 내지 제m 발광 제어 신호(EMSm)는 상호 독립되어 전송되는 것으로 도시되어 있으나, 도 1을 참조하여 설명한 바와 같이, 발광 제어 신호들(EMS1 내지 EMSm)은 타이밍 제어부(160)로부터 제공된 발광 제어 신호(EMS)와 실질적으로 동일할 수 있다. 즉, 표시 패널(110)에 제공되는 제1 발광 제어 신호(EMS1) 내지 제m 발광 제어 신호(EMSm)는 상호 동일한 파형을 가질 수 있다.
참고로, 발광 제어 신호(EMS)는 화소들(111-1 내지 111-m)의 발광 시간을 제어하기 위한 신호일 수 있다. 예를 들어, 표시 장치(100)는 화소들(111-1 내지 111-m)의 발광 시간을 전체적으로 단축시킴으로써, 표시 장치(100)의 소비 전력을 감소시킬 수 있다.
한편, 표시 패널(110)에서 출력되는 제1 발광 제어 신호(EMS1) 내지 제m 발광 제어 신호(EMSm)는 상호 동일한 파형을 가지거나, 또는 상호 다른 파형을 가질 수 있다. 즉, 표시 패널(110)의 상측으로 출력되는 제1 발광 제어 신호(EMS1) 내지 제m 발광 제어 신호(EMSm)는 제1 발광 제어 신호선(E1) 내지 제m 발광 제어 신호선(Em)의 저항값들에 따라 상호 다른 파형을 가질 수 있다.
검출 회로부(210)는 제1 발광 제어 신호(EMS1) 내지 제m 발광 제어 신호(EMSm)에 기초하여 검출 신호(CDS)를 생성할 수 있다. 여기서, 검출 신호(CDS)는, 앞서 도 1을 참조하여 설명한 검출 신호(CDS)와 실질적으로 동일하고, 표시 패널(110)의 내부 손상의 발생 여부를 나타낼 수 있다. 검출 회로부(210)는 도 1에 도시된 앤드 게이트 구동부(140)와 실질적으로 동일한 기능을 가질 수 있다. 즉, 도 1에 도시된 앤드 게이트 구동부(140)는 검출 회로부(210)로 구현되어 표시 패널(110)에 내장될 수 있다.
실시예들에서, 검출 회로부(210)는 제1 앤드 게이트(211) 및 제2 앤드 게이트(212)를 포함할 수 있다.
제1 앤드 게이트(211)는 제1 발광 제어 신호(EMS1) 내지 제i 발광 제어 신호(EMSi)를 논리 연산하여 제1 검출 신호를 출력할 수 있다(단, i는 2 이상이고, m보다 작은 양의 정수). 예를 들어, 제1 앤드 게이트(211)는 논리 게이트로 구현되고, 제1 발광 제어 신호(EMS1) 내지 제I 발광 제어 신호(EMSi)를 논리 합(AND) 연산할 수 있다.
제2 앤드 게이트(212)는 제j 발광 제어 신호(EMSj) 내지 제m 발광 제어 신호(EMSm)를 논리 연산하여 제2 검출 신호를 출력할 수 있다(단, j는 i보다 크고, m보다 작은 양의 정수). 예를 들어, 제2 앤드 게이트(212)는 논리 게이트로 구현되고, 제j 발광 제어 신호(EMSj) 내지 제m 발광 제어 신호(EMSm)를 논리 합(AND) 연산할 수 있다.
도 2a에 도시되지 않았으나, 검출 회로부(210)는 제3 앤드 게이트를 포함할 수 있다. 제3 앤드 게이트는 제1 검출 신호(즉, 제1 앤드 게이트(211)에서 출력되는 제1 검출 신호) 및 제2 검출 신호(즉, 제2 앤드 게이트(212)에서 출력되는 제2 검출 신호)를 논리 연산하여 검출 신호(CDS)를 출력할 수 있다.
도 2a에서, 제2 앤드 게이트(212)는 제j 발광 제어 신호(EMSj) 내지 제m 발광 제어 신호(EMSm)를 논리 연산하여 제2 검출 신호를 출력하는 것으로 설명하였으나, 제2 앤드 게이트(212)는 이에 국한되는 것은 아니다. 예를 들어, 제2 앤드 게이트(212)는 제m 발광 제어 신호(EMSm)를 수신하고, 제1 검출 신호와 제m 발광 제어 신호(EMSm)를 논리 연산하여 검출 신호(CDS)를 출력할 수 있다. 즉, 제2 앤드 게이트(212)는 제3 앤드 게이트로서 동작할 수 있다.
도 2a 및 도 2b를 참조하면, 도 2b에 도시된 표시 패널(110)은 검출 회로부(220)의 배치를 제외하고, 도 2a에 도시된 표시 패널(110)과 실질적으로 동일할 수 있다.
도 2b에 도시된 검출 회로부(220)는 도 2a에 도시된 검출 회로부(210)와 실질적으로 동일할 수 있다. 즉, 검출 회로부(220)는 제1 발광 제어 신호(EMS1) 내지 제m 발광 제어 신호(EMSm)를 논리 연산하여 검출 신호(CDS)를 출력할 수 잇다.
도 2a에 도시된 검출 회로부(210)는 표시 패널(110)의 상측에 배치될 수 있다. 이 경우, 발광 제어 신호들(EMS1 내지 EMSm)은 표시 패널(110)의 하측으로 인가되고, 표시 패널(110)의 상측으로 전송될 수 있다. 반면, 도 2b에 도시된 검출 회로부(220)는 표시 패널(110)의 하측에 배치될 수 있다. 이 경우, 발광 제어 신호들(EMS1 내지 EMSm)은 표시 패널(110)의 상측으로 인가되고, 표시 패널(110)의 하측으로 전송될 수 있다.
도 2a 및 도 2c를 참조하면, 도 2b에 도시된 표시 패널(110)은 수평 발광 제어 신호선들(EH1 내지 EHk)의 배치 및 제4 앤드 게이트(234)의 배치를 제외하고, 도 2a에 도시된 표시 패널(110)과 실질적으로 동일할 수 있다(단, k는 양의 정수).
수평 발광 제어 신호선들(EH1 내지 EHk)는 도 2a에 도시된 발광 제어 신호선들(E1 내지 Em)과 실질적으로 동일할 수 있다. 수평 발광 제어 신호선들(EH1 내지 EHk)은 제2 방향으로 연장되고, 제1 방향을 따라 배열될 수 있다. 예를 들어, 제1 수평 발광 제어 신호선(EH1)은 제1 방향으로 연장되고, 제k 수평 발광 제어 신호선(EHk)는 제1 수평 발광 제어 신호선(EH1)으로부터 제2 방향으로 이격되어 배치될 수 있다. 수평 발광 제어 신호선들(EH1 내지 EHk)은 발광 제어 신호들(EMS1 내지 EMSk)을 각각 화소들(111-1 내지 111-k)에 전송할 수 있다.
제4 앤드 게이트(234)는 도 2a를 참조하여 설명한 제1 앤드 게이트(231)과 실질적으로 동일할 수 있다. 즉, 제4 앤드 게이트(234)는 제1 발광 제어 신호(EMS1) 내지 제I 발광 제어 신호(EMSi)를 논리 연산하여 제4 검출 신호를 출력할 수 있다.
도 2a 내지 도 2c를 참조하여 설명한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 패널(110)은 발광 제어 신호들(EMS1 내지 EMSm)에 기초하여 검출 신호(CDS)를 생성하는 검출 회로부(210)를 포함할 수 있다. 따라서, 표시 패널(110)은 내부 손상을 감지할 수 있다. 또한, 검출 회로부(210)는 표시 패널(110)의 상측, 하측 또는 우측 등에 배치될 수 있다.
도 3은 도 2a의 표시 패널에 포함된 검출 회로부의 일 예를 나타내는 도면이고, 도 4는 도 3의 검출 회로부에서 생성되는 검출 신호의 일 예를 나타내는 파형도이다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 제1 앤드 게이트(211)는 앤드 게이트 회로로 구현되고, 제1 발광 제어 신호(EMS1) 내지 제i 발광 제어 신호(EMSi)를 논리 합(AND) 연산하여 제1 검출 신호(AEMS1)를 출력할 수 있다.
제1 발광 제어 신호선(E1) 내지 제i 발광 제어 신호선(Ei) 상에 크랙이 발생하지 않은 경우, 제1 발광 제어 신호(EMS1) 내지 제i 발광 제어 신호(EMSi)는 발광 제어 신호(EMS)(즉, 도 1에 도시된 타이밍 제어부(160)에서 생성된 발광 제어 신호(EMS), 또는 기준 신호)와 동일한 파형을 가질 수 있다. 여기서, 발광 제어 신호(EMS)는 제1 구간(P1)(또는, 오프 듀티)에서 논리 하이 레벨(또는, 도 2a에 도시된 제2 트랜지스터(T2)를 턴오프시키는 턴오프 전압)을 가지고, 제2 구간(P2)(또는, 온 듀티)에서 논리 로우 레벨(또는, 도 2a에 도시된 제2 트랜지스터(T2)를 턴온시키는 턴온 전압)을 가질 수 있다. 제1 구간(P1)의 폭(또는, 너비, 크기)이 증가함에 따라, 화소(111)의 발광 시간은 감소되고, 표시 장치(100)의 소비 전력은 감소될 수 있다.
이 경우, 제1 앤드 게이트(211)는 발광 제어 신호(EMS)와 동일한 파형을 가지는 제1 검출 신호(AEMS1)를 출력할 수 있다.
유사하게, 제2 앤드 게이트(212)는 앤드 게이트 회로로 구현되고, 제j 발광 제어 신호(EMSj) 내지 제m 발광 제어 신호(EMSm)를 논리 합(AND) 연산하여 제2 검출 신호(AEMS1)를 출력할 수 있다.
예를 들어, 제m 발광 제어 신호선(Em) 상에 크랙이 발생한 경우, 제m 발광 제어 신호(EMSm)(즉, 제m 발광 제어 신호선(Em)의 타단을 통해 제2 앤드 게이트(212)로 출력되는 제m 발광 제어 신호(EMSm))는 발광 제어 신호(EMS)(또는, 제j 발광 제어 신호(EMSj))와 다른 파형을 가질 수 있다. 예를 들어, 제m 발광 제어 신호선(Em) 상에 단선(open)이 발생한 경우, 제m 발광 제어 신호(EMSm)는 시간 경과에도 불구하고 일정한 기준 전위(예를 들어, 그라운드 전위)를 가질 수 있다.
이 경우, 제2 앤드 게이트(211)는 발광 제어 신호(EMS)와 다른 파형을 가지는 제2 검출 신호(AEMS2)를 출력할 수 있다.
한편, 표시 장치(100)는 제1 검출 신호(AEMS1) 및 제2 검출 신호(AEMS2)에 기초하여 표시 패널(110)의 내부 손상을 감지할 수 있다. 예를 들어, 표시 장치(100)는 제1 검출 신호(AEMS1) 및 제2 검출 신호(AEMS2)를 비교하고, 제1 검출 신호(AEMS1)이 제2 검출 신호(AEMS2)와 다른 경우, 표시 패널(110)에 내부 손상이 발생한 것으로 판단할 수 있다.
다른 예를 들어, 표시 장치(100)는 제1 검출 신호(AEMS1) 및 제2 검출 신호(AEMS2)를 발광 제어 신호(EMS)(또는, 기준 신호)와 비교하고, 비교 결과에 기초하여 표시 패널(110)의 내부 손상의 발생 여부를 판단할 수 있다.
도 3 및 도 4를 참조하여 설명한 바와 같이, 검출 회로부(210)는 발광 제어 신호들(EMS1 내지 EMSm)에 기초하여 검출 신호들(AMES1 및 AEMS2)를 생성할 수 있다. 따라서, 표시 장치(100)는 표시 패널(110)의 내부 손상을 감지할 수 있다.
한편, 도 3 및 도 4에서, 검출 회로부(210)는 2개의 앤드 게이트를 포함하는 것으로 도시되어 있으나, 검출 회로부(210)는 이에 국한 되는 것은 아니다. 예를 들어, 검출 회로부(210)는 k개의 앤드 게이트들을 포함할 수 있다(단, k는 3 이상의 정수). 다른 예를 들어, 검출 회로부(210)는, 도 2a를 참조하여 설명한 제3 앤드 게이트를 포함하고, 제3 앤드 게이트를 이용하여 하나의 검출 신호(CDS)를 외부 장치(예를 들어, 타이밍 제어부(160))으로 출력할 수 있다. 앤드 게이트들의 수(N)은 표시 패널(110)(또는, 표시 장치(100))의 제조 비용 등을 고려하여 임의로 설정될 수 있다.
도 5는 도 1의 표시 장치에 포함된 타이밍 제어부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 1 및 도 5를 참조하면, 타이밍 제어부(160)는 신호 생성 유닛(510) 및 연산 유닛(520)을 포함할 수 있다.
신호 생성 유닛(510)은 발광 제어 신호(EMS)를 생성할 수 있다. 발광 제어 신호(EMS)는, 앞서 도 1 및 도 4를 참조하여 설명한 바와 같이, 오프 듀티를 가지고, 화소(111)의 발광 시간을 제어하는 데 이용될 수 있다. 신호 생성 유닛(510)은 발광 제어 신호(EMS)를 표시 패널(110)(또는, 발광 제어 신호선들(E1 내지 Em)의 일단)에 제공할 수 있다.
실시예들에서, 신호 생성 유닛(510)은 기준 발광 제어 신호(EMSR)를 생성할 수 있다. 여기서, 기준 발광 제어 신호(EMSR)은 발광 제어 신호(EMS)와 실질적으로 동일하거나, 또는 발광 제어 신호(EMS)의 반전 신호일 수 있다. 기준 발광 제어 신호(EMSR)는 검출 신호(CDS)가 정상적인지 여부를 판단하는데 이용될 수 있다. 예를 들어, 기준 발광 제어 신호(EMSR)은 연산 유닛(520)에 제공될 수 있다.
연산 유닛(520)은 검출 신호(CDS)를 수신하고, 검출 신호(CDS)에 기초하여 전원 제어 신호(PCS)를 생성할 수 있다. 여기서, 검출 신호(CDS)는 하나의 신호이거나, 또는 도 4를 참조하여 설명한 제1 검출 신호(AEMS1) 및 제2 검출 신호(AEMS2)를 포함할 수 있다.
실시예들에서, 연산 유닛(520)은 검출 신호(CDS)와 발광 제어 신호(EMS)를 비교하여 표시 패널(110)의 내부 손상의 발생 여부를 판단할 수 있다. 예를 들어, 연산 유닛(520)은 검출 신호(CDS)와 발광 제어 신호(EMS)가 동일한 경우, 표시 패널(110)에 내부 손상이 없는 것으로 판단할 수 있다. 다른 예를 들어, 연산 유닛(530)은 검출 신호(CDS)와 발광 제어 신호(EMS)가 상이한 경우, 표시 패널(110)에 내부 손상이 발생한 것으로 판단할 수 있다.
실시예들에서, 연산 유닛(520)은 검출 신호(CDS)와 기준 발광 제어 신호(EMSR)에 기초하여 표시 패널(110)의 내부 손상의 발생 여부를 판단할 수 있다. 여기서, 기준 발광 제어 신호(EMSR)은 발광 제어 신호(EMS)의 반전 신호일 수 있다. 예를 들어, 연산 유닛(520)은 오아(OR) 게이트 회로를 포함하고, 검출 신호(CDS) 및 발광 제어 신호(EMS)를 논리 곱(OR) 연산할 수 있다. 예를 들어, 연산 유닛(520)은 연산에 의해 생성된 출력 신호가 일정한 레벨을 가지는 경우, 표시 패널(110)에 내부 손상이 없는 것으로 판단할 수 있다. 다른 예를 들어, 연산 유닛(530)은 출력 신호가 시간 경과에 따라 변화하는 레벨을 가지는 경우, 표시 패널(110)에 내부 손상이 발생한 것으로 판단할 수 있다.
실시예들에서, 검출 신호(CDS)가 제1 검출 신호(AEMS1) 및 제2 검출 신호(AEMS2)를 포함하는 경우, 연산 유닛(520)은 제1 검출 신호(AEMS1) 및 제2 검출 신호(AEMS2)를 논리 연산하여 대표 검출 신호를 생성할 수 있다. 즉, 타이밍 제어부(160)에 검출 신호로서 복수의 신호들이 제공되는 경우, 연산 유닛(520)은 검출 신호(CDS)의 전처리 기능으로서, 복수의 신호들을 논리 연산하여 하나의 대표 검출 신호를 생성할 수 있다. 이 경우, 연산 유닛(520)은 대표 검출 신호에 기초하여 표시 패널(110)의 내부 손상의 발생 여부를 판단할 수 있다.
실시예들에서, 연산 유닛(520)은 판단 결과(즉, 표시 패널(110)의 내부 손상의 발생 여부에 대한 판단 결과)에 기초하여 전원 제어 신호(PCS)를 생성하여 전원 공급부(150)에 제공할 수 있다. 예를 들어, 연산 유닛(520)은, 표시 패널(110)에 내부 손상이 발생한 것으로 판단한 경우, 특정 레벨을 가지는 전원 제어 신호(PCS)를 생성하여 출력할 수 있다. 이 경우, 전원 공급부(150)는 전원 제어 신호(PCS)에 기초하여 표시 패널(110)에 대한 구동 전압의 공급을 차단(또는, 중단)할 수 있다. 따라서, 표시 장치(100)는 내부 손상에 의해 표시 패널(110)이 발화되는 것을 방지할 수 있다.
도 5를 참조하여 설명한 바와 같이, 타이밍 제어부(160)는 검출 신호(CDS)에 기초하여 표시 패널(110)의 내부 손상의 발생 여부를 판단하고, 표시 패널(110)에 내부 손상이 발생한 경우, 전원 제어 신호(PCS)를 생성하여 전원 공급부(150)를 제어할 수 있다.
이상, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치에 대하여 도면을 참조하여 설명하였지만, 상기 설명은 예시적인 것으로서 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 수정 및 변경될 수 있을 것이다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치는 다양한 디스플레이 시스템에 적용될 수 있다. 예를 들어, 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치는 텔레비전, 컴퓨터 모니터, 랩탑, 디지털 카메라, 셀룰러 폰, 스마트 폰, PDA, PMP, MP3 플레이어, 네비게이션 시스템, 비디오 폰 등에 적용될 수 있다.
100: 표시 장치 110: 표시 패널
111: 화소 120: 주사 구동부
130: 데이터 구동부 140: 앤드 게이트 구동부
150: 전원 공급부 160: 타이밍 제어부
111-1 내지 111-m: 화소들 210: 검출 회로부
211: 제1 앤드 게이트 212: 제2 앤드 게이트
220: 검출 회로부 221: 제1 앤드 게이트
222: 제2 앤드 게이트 234: 제4 앤드 게이트
510: 신호 생성 유닛 520: 연산 유닛

Claims (20)

  1. 발광 소자를 각각 포함하는 화소들;
    상기 화소들에 각각 연결되고, 일단을 통해 외부 장치로부터 발광 제어 신호를 수신하여 상기 화소들에 상기 발광 제어 신호를 각각 전송하는 발광 제어 신호선들-상기 발광 제어 신호는 상기 화소들의 발광 시간을 제어하기 위해 온 듀티 및 오프 듀티가 조절됨-; 및
    상기 발광 제어 신호선들의 타단과 연결되고, 상기 발광 제어 신호에 기초하여 내부 손상의 발생 여부를 나타내는 검출 신호를 생성하는 검출 회로부를 포함하는 표시 패널.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 검출 회로부는 상기 발광 제어 신호선들 중에서 제1 발광 제어 신호선을 통해 출력되는 제1 발광 제어 신호와, 상기 발광 제어 신호선들 중에서 제2 발광 제어 신호선을 통해 출력되는 제2 발광 제어 신호에 기초하여 제1 검출 신호를 생성하고,
    상기 제1 검출 신호는 상기 검출 신호에 포함되는 것을 특징으로 하는 표시 패널.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 발광 제어 신호선들은 상기 표시 패널 상에서 제1 방향으로 연장되고, 제2 방향으로 이격되어 배치되며,
    상기 제2 방향은 상기 제1 방향에 수직인 것을 특징으로 하는 표시 패널.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 검출 회로부는 상기 표시 패널의 제1 방향에 배치되는 것을 특징으로 하는 표시 패널.
  5. 제 2 항에 있어서, 상기 화소들 각각은,
    제1 전원전압과 연결되는 제1 전극, 제1 노드에 연결되는 제2 전극 및 데이터 신호를 수신하는 게이트 전극을 구비하는 제1 트랜지스터;
    상기 제1 노드에 연결되는 제1 전극, 제2 노드에 연결되는 제2 전극 및 상기 발광 제어 신호를 수신하는 게이트 전극을 구비하는 제2 트랜지스터; 및
    상기 제2 노드 및 제2 전원전압 사이에 연결되는 상기 발광 소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널.
  6. 제 2 항에 있어서, 상기 검출 회로부는, 상기 제1 발광 제어 신호와 상기 제2 발광 제어 신호를 논리 합(AND) 연산하여 상기 제1 검출 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 표시 패널.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 검출 회로부는 논리 게이트를 포함하고,
    상기 논리 게이트는 상기 제1 발광 제어 신호와 상기 제2 발광 제어 신호를 수신하여, 상기 제1 검출 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 표시 패널.
  8. 제 2 항에 있어서, 상기 검출 회로부는, 상기 발광 제어 신호선들 중에서 제3 발광 제어 신호선을 통해 출력되는 제3 발광 제어 신호에 기초하여, 제2 검출 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 패널.
  9. 제 2 항에 있어서, 상기 검출 회로부는, 상기 발광 제어 신호선들 중에서 제3 발광 제어 신호선을 통해 출력되는 제3 발광 제어 신호와, 상기 발광 제어 신호선들 중에서 제4 발광 제어 신호선을 통해 출력되는 제4 발광 제어 신호에 기초하여, 제2 검출 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 패널.
  10. 제 8 항에 있어서, 상기 검출 회로부는 상기 제1 검출 신호 및 상기 제2 검출 신호에 기초하여 상기 검출 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 패널.
  11. 제 10 항에 있어서, 상기 검출 회로부는, 상기 제1 검출 신호와 상기 제2 검출 신호를 논리 합(AND) 연산하여 상기 검출 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 패널.
  12. 제 11 항에 있어서, 상기 검출 회로부는 논리 게이트를 포함하고,
    상기 논리 게이트는 상기 제1 검출 신호와 상기 제2 검출 신호를 수신하여, 상기 검출 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 표시 패널.
  13. 발광 소자를 각각 포함하는 화소들 및 상기 화소들에 각각 연결되는 발광 제어 신호선들을 구비하고, 상기 발광 제어 신호선들 각각은 상기 화소들의 발광 시간을 제어하기 위해 온 듀티 및 오프 듀티가 조절되는 발광 제어 신호를 상기 화소들에 전송하는 표시 패널;
    상기 발광 제어 신호선들 각각의 일단과 연결되고, 상기 발광 제어 신호에 기초하여 검출 신호를 생성하는 앤드 게이트 구동부; 및
    상기 발광 제어 신호를 생성하고, 상기 발광 제어 신호선들 각각의 타단을 통해 상기 발광 제어 신호선들에 상기 발광 제어 신호를 제공하며, 상기 검출 신호에 기초하여 상기 표시 패널의 내부 손상의 발생 여부를 판단하는 제어부를 포함하는 표시 장치.
  14. 제 13 항에 있어서, 상기 발광 제어 신호선들은 상기 표시 패널 상에서 제1 방향으로 연장되고, 제2 방향으로 이격되어 배치되며,
    상기 제2 방향은 상기 제1 방향에 수직인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  15. 제 13 항에 있어서, 상기 앤드 게이트 구동부는 상기 발광 제어 신호선들 중에서 제1 발광 제어 신호선을 통해 출력되는 제1 발광 제어 신호와, 상기 발광 제어 신호선들 중에서 제2 발광 제어 신호선을 통해 출력되는 제2 발광 제어 신호에 기초하여 상기 검출 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  16. 제 13 항에 있어서, 상기 제어부는, 상기 검출 신호를 기준 신호와 비교하여 상기 검출 신호의 파형이 상기 기준 신호의 파형과 다른 경우, 상기 표시 패널에 상기 내부 손상이 발생한 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  17. 제 13 항에 있어서, 상기 제어부는,
    상기 발광 제어 신호를 생성하는 신호 생성 유닛; 및
    상기 검출 신호에 기초하여 상기 표시 패널의 상기 내부 손상의 발생 여부를 판단하는 판단 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  18. 제 17 항에 있어서, 상기 신호 생성 유닛은 기준 신호를 생성하되, 상기 기준 신호는 상기 발광 제어 신호의 반전 신호이고,
    상기 판단 유닛은 상기 검출 신호와 상기 기준 신호를 논리 연산하여 상기 표시 패널의 상기 내부 손상의 발생 여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  19. 제 18 항에 있어서, 상기 판단 유닛은, 상기 검출 신호와 상기 기준 신호를 논리 곱(OR) 연산하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  20. 제 13 항에 있어서,
    상기 화소들에 구동 전압을 공급하는 전원 공급부를 더 포함하고,
    상기 제어부는 판단 결과에 기초하여 상기 구동 전압의 공급을 제어하는 전원 제어 신호를 생성하고, 상기 전원 제어 신호를 상기 전원 공급부에 제공하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
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