KR102456459B1 - 제어기 입력 회로 검사 방법 및 이를 수행하는 제어기 입력 회로 검사 시스템 - Google Patents

제어기 입력 회로 검사 방법 및 이를 수행하는 제어기 입력 회로 검사 시스템 Download PDF

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Abstract

본 발명은, 제어기 입력 회로를 검사하는 한번의 과정 수행만으로도 불량 판정시 불량의 원인이 입력 회로에 있는 것인지 검사 장치에 있는 것인지 판단할 수 있는 제어기 입력 회로 검사 방법 및 이를 수행하는 제어기 입력 회로 검사 시스템으로서, 본 발명의 일 실시예에 따른 제어기 입력 회로 검사 방법은, 제어기로 입력될 신호로서 하이 신호와 로우 신호가 교번되는 검사 신호를 제어기 검사 장치에 설정하는 단계; 상기 제어기 검사 장치의 출력 핀과 상기 제어기의 입력 핀이 연결되기 전에 상기 기 설정된 검사 신호의 설정 값과 상기 검사 신호의 실제 출력 값을 비교하여 상기 제어기 검사 장치를 검사하는 단계; 및 상기 제어기 검사 장치의 출력 핀과 상기 제어기의 입력 핀이 연결된 이후, 상기 검사 신호의 입력에 의해 상기 제어기의 입력 핀에서 검출되는 제1 신호를 측정하고 상기 제어기의 마이크로 프로세서에 연결된 상기 제어기의 입력 회로의 출력단에서 검출되는 제2 신호를 측정하여 상기 제어기의 입력 회로를 검사하는 단계;를 포함할 수 있다.

Description

제어기 입력 회로 검사 방법 및 이를 수행하는 제어기 입력 회로 검사 시스템{Controller input circuit inspection method and controller input circuit inspection system performing the same}
본 발명은, 제어기 입력 회로 검사 방법 및 이를 수행하는 제어기 입력 회로 검사 시스템에 대한 것으로서, 보다 구체적으로는 제어기 입력 회로를 검사하는 한번의 과정 수행만으로도 불량 판정시 불량의 원인이 입력 회로에 있는 것인지 검사 장치에 있는 것인지 판단할 수 있는 제어기 입력 회로 검사 방법 및 이를 수행하는 제어기 입력 회로 검사 시스템에 관한 것이다.
자동차에는 ECU(Electronic Control Unit)라 불리는 제어기가 설치되어 있는데, 이는 엔진, 자동변속기, ABS(Anti-lock Break System) 등의 전자 장치를 제어하기 위한 장치이다. 이러한 제어기는 차량의 출고 전 불량 여부를 판정하기 위해 제어기의 입력 회로 및 출력 회로에 대한 기능 검사를 필수적으로 수행해야하는 바, 제어기의 입력 회로를 기능 검사하기 위해서는 외부 장비를 활용하여 제어기 입력 회로의 외부 핀에 입력신호를 인가하거나 외부 부품을 연결하여 검사를 하도록 되어 있다.
이러한 기능 검사는 외부 장비에서 인가하는 입력 신호와 입력 회로의 외부 부품이 모두 정상일 때만 정상적인 검사가 가능하다는 문제가 있다. 일 예로, 외부 장비를 이용하는 경우 환경적인 요인 때문에 외부 장비의 출력 핀과 입력 회로의 입력 핀 간 접촉 저항이 달라지거나 양산 라인의 그라운드로 유입되는 노이즈에 의해 신호 왜곡이 발생할 수 있다. 이처럼 외부 장비에서 제어기의 입력 회로로 인가되는 신호에 왜곡이 발생하는 경우 기능 검사를 위해 입력 회로의 출력단에서 검출하는 신호에도 영향을 주어 검사 결과가 불량으로 판정되므로 제어기 기능의 최종 불합격 판정이 내려지게 된다.
한편, 검사 결과가 불량으로 판정되는 경우 외부 장비의 문제인지 제어기의 입력 회로의 문제인지를 다시 검토해야 한다. 이러한 경우 외부 장비와 제어기를 모두 다시 검증하기 위한 시간과 비용이 추가로 발생한다.
이를 해결하기 위해 제어기 입력 핀에 노이즈 방지를 위한 부품을 추가할 수 있으나, 입력 회로의 전체적인 부품 속성이 바뀌게 되기 때문에 노이즈는 방지할 수 있지만 회로 본연의 검사가 불가능하게 된다. 또한 부품 추가에 대한 비용이 증가하게 된다.
한국공개특허공보 제2006-0029268호
본 발명은, 제어기 입력 회로를 검사하는 한번의 과정 수행만으로도 불량 판정시 불량의 원인이 입력 회로에 있는 것인지 검사 장치에 있는 것인지 판단할 수 있는 제어기 입력 회로 검사 방법 및 이를 수행하는 제어기 입력 회로 검사 시스템을 제공하는 것에 그 목적이 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 제어기 입력 회로 검사 방법은, 제어기로 입력될 신호로서 하이 신호와 로우 신호가 교번되는 검사 신호를 제어기 검사 장치에 설정하는 단계; 상기 제어기 검사 장치의 출력 핀과 상기 제어기의 입력 핀이 연결되기 전에 상기 기 설정된 검사 신호의 설정 값과 상기 검사 신호의 실제 출력 값을 비교하여 상기 제어기 검사 장치를 검사하는 단계; 및
상기 제어기 검사 장치의 출력 핀과 상기 제어기의 입력 핀이 연결된 이후, 상기 검사 신호의 입력에 의해 상기 제어기의 입력 핀에서 검출되는 제1 신호를 측정하고 상기 제어기의 마이크로 프로세서에 연결된 상기 제어기의 입력 회로의 출력단에서 검출되는 제2 신호를 측정하여 상기 제어기의 입력 회로를 검사하는 단계;를 포함할 수 있다.
이때, 상기 검사 신호를 제어기 검사 장치에 설정하는 단계는, 상기 검사 신호에 대하여 하이 신호에서 로우 신호로 변화하거나 로우 신호에서 하이 신호로 변화하는 경우 트리거 동작을 하도록 제1 트리거 레벨을 설정하는 단계;를 포함할 수 있다.
또한, 상기 제어기 검사 장치를 검사하는 단계는, 상기 제어기 검사 장치에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격과, 상기 제어기 검사 장치에서 실제 출력되는 검사 신호에 대한 트리거 동작 사이의 시간 간격을 비교할 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 제어기 입력 회로 검사 방법은, 상기 제어기 검사 장치의 출력 핀과 상기 제어기의 입력 핀이 연결되고, 상기 제어기 검사 장치로부터 상기 마이크로 프로세서로 상기 제1 트리거 레벨의 정보 및 상기 제어기 검사 장치에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격의 정보가 전달되는 단계;를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 제어기의 입력 회로를 검사하는 단계에서, 상기 제2 신호는 상기 제어기의 입력 회로의 출력단에 배치된 커패시터의 전압 또는 전류이고, 상기 검사 신호의 입력에 따라 변화하는 상기 전압 또는 전류의 값을 측정할 수 있다.
또한, 상기 제어기의 입력 회로를 검사하는 단계는, 검출되는 상기 제1 신호에 대하여 하이 신호에서 로우 신호로 변화하거나 로우 신호에서 하이 신호로 변화하는 경우 트리거 동작을 하도록 제2 트리거 레벨을 설정하는 단계; 및 상기 제어기 검사 장치에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격과, 상기 제1 신호의 측정값에 대한 트리거 동작 사이의 시간 간격을 비교하는 단계;를 포함할 수 있다.
또한, 상기 제어기는, 차량의 전자 장치를 제어하는 ECU(Electronic Control Unit)일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 제어기 입력 회로 검사 시스템은, 적어도 하나 이상의 저항과 커패시터를 포함하는 입력 회로와, 상기 입력 회로의 특정 지점의 신호를 측정하는 마이크로 프로세서와, 외부로부터 신호를 입력 받기 위해 노출되는 입력 핀을 포함하는 제어기; 및 상기 입력 회로의 검사를 위해 구비되며 상기 제어기의 입력 핀으로 입력될 신호로서 하이 신호와 로우 신호가 교번되는 검사 신호가 기 설정되는 제어기 검사 장치;를 포함하고, 상기 제어기 검사 장치는, 상기 검사 신호에 대하여 하이 신호에서 로우 신호로 변화하거나 상기 로우 신호에서 상기 하이 신호로 변화하는 경우 트리거 동작을 하도록 제1 트리거 레벨이 기 설정될 수 있다.
여기서, 상기 제어기 검사 장치는, 상기 제어기 검사 장치의 출력 핀과 상기 제어기의 입력 핀이 연결되기 전에, 상기 제어기 검사 장치에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격과, 상기 제어기 검사 장치에서 실제 출력되는 검사 신호에 대한 트리거 동작 사이의 시간 간격을 비교할 수 있다.
또한, 상기 마이크로 프로세서는, 상기 제어기 검사 장치의 출력 핀과 상기 제어기의 입력 핀이 연결된 이후, 상기 검사 신호의 입력에 의해 상기 제어기의 입력 핀에서 검출되는 제1 신호를 측정하고, 상기 제어기의 마이크로 프로세서에 연결된 상기 제어기의 입력 회로의 출력단에서 검출되는 제2 신호를 측정할 수 있다.
또한, 상기 마이크로 프로세서는, 검출되는 상기 제1 신호에 대하여 하이 신호에서 로우 신호로 변화하거나 로우 신호에서 하이 신호로 변화하는 경우 트리거 동작을 하도록 제2 트리거 레벨을 설정하고, 상기 제어기 검사 장치에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격과, 상기 제1 신호의 측정값에 대한 트리거 동작 사이의 시간 간격을 비교할 수 있다.
또한, 상기 제2 신호는 상기 제어기의 입력 회로의 출력단에 배치된 커패시터의 전압 또는 전류이고, 상기 마이크로 프로세서는, 상기 검사 신호의 입력에 따라 변화되는 상기 전압 또는 전류를 측정할 수 있다.
또한, 상기 제어기 검사 장치는, 상기 제1 트리거 레벨의 정보 및 상기 제어기 검사 장치에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격의 정보를 상기 마이크로 프로세서에 전달할 수 있다.
또한, 상기 제어기는, 차량의 전자 장치를 제어하는 ECU(Electronic Control Unit)일 수 있다.
본 발명에 따르면, 검사 장치에 기 설정된 검사 신호가 정상 출력되는지 여부, 제어기 입력 핀에 상기 검사 신호가 정상적으로 인가되는지 여부 및 제어기 입력 회로의 출력 신호가 상기 검사 신호에 대응한 정상적인 신호로 출력되는지 여부에 대한 검사가 순차적으로 수행됨으로써 한번의 검사 과정 수행만으로도 불량 판정시 불량의 원인이 입력 회로에 있는 것인지 검사 장치에 있는 것인지 판단할 수 있다.
본 발명의 적용 가능성의 추가적인 범위는 이하, 발명을 실시하기 위한 구체적인 내용으로부터 명백해질 것이다. 그러나 본 발명의 사상 및 범위 내에서 다양한 변경 및 수정은 해당 기술 분야의 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있으므로, 이하 발명을 실시하기 위한 구체적인 내용에 포함된 실시예와 같은 특정 실시예는 단지 예시로 주어진 것으로 이해되어야 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 제어기 입력 회로 검사 시스템을 개략적으로 나타낸 모식도이다.
도 2는 도 1의 제어기 입력 회로 검사 시스템의 회로 구성을 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 제어기 입력 회로 검사 방법의 흐름을 나타낸 순서도이다.
도 4는 도 3의 순서도에 대해 세부 흐름을 더 자세히 나타낸 순서도이다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 구체적으로 설명하고자 한다. 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 의도는 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 해석되어야 한다.
본 발명을 설명함에 있어서 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지 않을 수 있다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.
"및/또는"이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함할 수 있다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급되는 경우는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해될 수 있다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해될 수 있다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함할 수 있다.
본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것으로서, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해될 수 있다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가질 수 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석될 수 있으며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않을 수 있다.
아울러, 이하의 실시예는 당 업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것으로서, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있다.
이하에서는, 본 발명의 일 실시예에 따른 제어기 입력 회로 검사 방법에 대해 설명하기에 앞서 상기 방법을 수행할 수 있는 제어기 입력 회로 검사 시스템에 대해 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 제어기 입력 회로 검사 시스템을 개략적으로 나타낸 모식도이고, 도 2는 도 1의 제어기 입력 회로 검사 시스템의 회로 구성을 나타낸 도면이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 제어기 입력 회로 검사 시스템은, 제어기(100)와 제어기 검사 장치(200)를 포함하여 구성될 수 있다.
제어기(100)와 제어기 검사 장치(200) 사이에는 제어기(100)의 입력 회로(110)와 출력 회로(130)의 기능 검사를 위한 다수의 연결라인이 배치될 수 있다. 예를 들어, 제어기(100)에 동작 전원을 인가하기 위해 외부의 전원과 연결되는 전원 라인(201), 제어기(100) 기능 검사를 하기 위한 외부 신호가 입력되는 신호 입력 라인(202), 제어기 입력 회로(110)의 기능 검사를 하기 위한 외부 로드인 저항(입력 회로(110)를 위한 소전류 로드)과 연결되는 연결 라인(203), 제어기 출력 회로(130)의 기능 검사를 하기 위한 외부 로드인 부하(출력 회로(130)를 위한 고전류 로드)의 연결 라인(204), 제어기 출력 회로(130)를 기능 검사하기 위한 측정 신호를 검출하는 측정 라인(207), 제어기 검사 장치(200)에서 제어기(100)의 마이크로 프로세서(120)로 동작 명령을 전송하고 제어기(100)의 동작 및 응답을 수신하기 위한 통신(CAN 통신) 라인(205, 206) 등이 배치될 수 있다.
한편, 제어기(100)는 차량의 전자 장치를 제어하는 ECU(Electronic Control Unit)일 수 있고, 적어도 하나 이상의 저항(R)과 커패시터(C1, C2)를 포함하는 입력 회로(110), 외부에 구동 신호를 전달하기 위한 파워 트랜지스터를 포함하는 출력 회로(130), 제어기(100)의 유/무선 통신을 위해 구비되는 통신부(140), 제어기(100)의 동작을 제어하는 마이크로 프로세서(120) 및 외부로부터 신호를 입력 받기 위해 노출되는 입력 핀(111)을 포함할 수 있다.
이때, 입력 회로(110)와 입력 핀(111)은 서로 연결되어 있어 제어기 입력 회로(110)의 기능 검사 수행 시 제어기 검사 장치(200)로부터 생성된 검사 신호가 입력 핀(111)을 통해 입력 회로(110)로 인가될 수 있다.
마이크로 프로세서(또는, 마이컴)(120)는, 차량에 제어기(100)가 설치된 경우 제어기(100)의 전반적인 구동 제어를 수행하는 구성으로서, 제어기 입력 회로(110)의 기능 검사 수행 시에는 입력 회로(110)의 특정 지점의 신호를 측정하도록 구성될 수 있다.
출력 회로(130)는, 차량에 제어기(100)가 설치된 경우 제어기(100)가 제어해야 할 대상에 구동 신호를 출력하는 구성으로서, 마이크로 프로세서(120)의 제어에 따라 출력 회로(130)에 포함된 파워 트랜지스터의 온오프가 제어되는 방식으로 상기 구동 신호의 출력이 이루어질 수 있다.
통신부(140)는, 차량에 제어기(100)가 설치된 경우 타 제어기와의 유/무선 통신의 수행을 위해 차량에 널리 이용되는 CAN(Controller Area Network) 모듈 또는 이더넷(Ethernet) 모듈 등과 같은 공지된 통신 모듈을 포함하여 구성될 수 있다. 또한, 제어기 입력 회로(110)의 기능 검사 수행 시에는 통신부(140)를 통해 제어기 검사 장치(200)로부터 정보를 전달받을 수 있다.
제어기 검사 장치(200)는, 제어부(210)와 검사 신호 생성부(220)를 포함할 수 있다.
이때, 제어부(210)는 제어기 입력 회로(110)의 기능 검사를 위한 검사 신호를 생성하도록 검사 신호 생성부(220)를 제어하는 구성이다. 보다 구체적으로, 제어기 검사 장치(200)에는 제어기 입력 회로(110)의 검사를 위한 검사 신호에 대한 정보가 기 설정되어 있을 수 있고 제어부(210)는 상기 정보에 따라 검사 신호 생성부(220)를 제어하여 검사 신호를 생성하도록 할 수 있다. 검사 신호는 하이(High) 신호와 로우(Low) 신호가 교번되는 구형파 신호일 수 있고 상기 정보는 구형파 신호의 주파수에 대한 정보일 수 있다.
검사 신호 생성부(220)는 그라운드(GND)와 전원(VS) 사이에서 스위칭 하도록 구비되며, 제어부(210)의 스위칭 제어에 의해 전원에 연결되면 하이 신호를, 그라운드에 연결되면 로우 신호를 생성할 수 있다. 생성된 검사 신호는 제어기 검사 장치(200)의 출력 핀(230)과 제어기(100)의 입력 핀(111)의 연결에 의해 신호 입력 라인(202)을 타고 제어기(100)의 입력 회로(110)에 인가될 수 있다.
한편, 제어기 검사 장치(200)의 제어부(210)에는 검사 신호에 대하여 하이 신호에서 로우 신호로 변화하거나 로우 신호에서 하이 신호로 변화하는 경우 트리거 동작을 하도록 제1 트리거 레벨이 기 설정될 수 있다. 또한, 제어기(100)는 검사 신호에 의한 트리거 동작이 수행되는 시간 간격을 측정할 수 있다.
또한, 제어기 검사 장치(200)의 제어부(210)에서는 제어기 검사 장치(200)의 출력 핀(230)과 제어기(100)의 상기 입력 핀(111)이 연결되기 전에, 제어기 검사 장치(200)에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격과, 제어기 검사 장치(200)에서 실제 출력되는 검사 신호에 대한 트리거 동작 사이의 시간 간격을 비교할 수 있다. 이러한 구성을 통해, 제어기 입력 회로(110)의 기능 검사를 수행하기 전에 제어기 검사 장치(200)에서 출력되는 검사 신호가 기 설정된 검사 신호와 일치하는지 검증할 수 있다. 즉, 제어기 검사 장치(200)에서 실제 출력되는 검사 신호의 트리거 동작을 검증함으로써 제어기 입력 회로(110)를 검사하기 전에 제어기 검사 장치(200)에는 이상이 없는지가 먼저 체크될 수 있다.
제어기 입력 회로(110)의 검사를 위해 제어기 검사 장치(200)의 출력 핀(230)과 제어기(100)의 입력 핀(111)이 연결되면, 제어기 검사 장치(200)는 상기 제1 트리거 레벨의 정보 및 제어기 검사 장치(200)에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격의 정보를 제어기(100)의 마이크로 프로세서(120)에 통신으로 전달할 수 있다. 이러한 정보의 전달은 제어기(100)와 제어기 검사 장치(200)가 연결됨과 동시에 이루어질 수도 있고 연결 직전 또는 직후에 이루어질 수도 있다. 이를 통해, 제어기(100)의 입력 핀(111)에 입력되는 검사 신호와 제어기 검사 장치(200)에 기 설정된 검사 신호를 상호 비교할 수 있으므로 제어기 입력 핀(111)의 이상이 체크될 수 있다.
한편, 제어기 검사 장치(200)의 출력 핀(230)과 제어기(100)의 입력 핀(111)이 연결된 이후에 제어기 검사 장치(200)로부터 검사 신호가 입력되면 제어기(100)의 마이크로 프로세서는, 제어기(100)의 입력 핀(111)에서 검출되는 제1 신호를 측정하고 제어기(100)의 마이크로 프로세서(120)에 연결된 제어기 입력 회로(110)의 출력단에서 검출되는 제2 신호를 측정할 수 있다. 즉, 종래에 제어기 입력 회로(110)의 기능 검사를 위해 검출되던 제2 신호에 추가하여 제어기(100)의 입력 핀(111)에서 제1 신호를 더 검출한다. 이는 제어기 검사 장치(200)에서 출력되는 검사 신호가 제어기(100)의 입력 핀(111)으로 노이즈 없이 입력되는지 여부를 제1 신호를 검증함으로써 체크하기 위함이며 이를 위해 제어기 검사 장치(200)는 검사 신호에 대한 정보를 제어기(100)의 마이크로 프로세서(120)로 미리 전송하는 것이다.
보다 구체적으로, 제1 신호를 검증하는 방법을 설명하자면, 먼저 제어기(100)의 마이크로 프로세서(120)는, 검출되는 제1 신호에 대하여 하이 신호에서 로우 신호로 변화하거나 로우 신호에서 상기 하이 신호로 변화하는 경우 트리거 동작을 하도록 제2 트리거 레벨을 설정할 수 있다.
이후, 제어기 검사 장치(200)로부터 검사 신호가 입력되면 제어기 검사 장치(200)로부터 전달받은 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격과, 제1 신호의 측정값에 대한 트리거 동작 사이의 시간 간격을 비교하게 된다. 즉, 검사 신호의 주기적 특성과 입력 핀(111)에서 검출되는 제1 신호의 주기적 특성이 일치하는지 비교하여 제1 신호의 트리거 동작을 검증하는 것이다. 제1 신호의 트리거 동작을 검증한 결과 검사 신호의 주기적 특성과 제1 신호의 주기적 특성이 일치한다면 검사 신호가 노이즈 없이 제1 신호로 입력된 것이므로 입력 핀(111)에는 이상이 없다고 판정할 수 있다.
제2 신호의 검사가 진정한 제어기 입력 회로(110)의 검사에 해당하는 검사로서, 제2 신호는 입력 회로(110)의 출력단에 배치된 커패시터(C2)의 전압 또는 전류일 수 있다. 마이크로 프로세서(120)는, 검사 신호의 입력에 따라 변화되는 커패시터(C2)의 전압 또는 전류를 측정함으로써 제2 신호를 검사할 수 있다. 제2 신호의 검사에 대해서는 공지된 다양한 방법이 사용될 수 있다. 예를 들어, 제2 신호는 제1 신호가 하이 신호일 때 커패시터(C2)가 충전되어 하이 레벨이 되고 제1 신호가 로우 신호일 때 커패시터(C2)가 방전되면서 로우 레벨로 된다. 이때, 마이크로 프로세서(120)는 상기 커패시터(C2)가 하이 레벨에서 로우 레벨이 되는 시간을 측정하여 이 시간이 제1 신호의 주기적 특성과 일치하는지 비교하는 방식으로 제2 신호에 대한 검사가 수행할 수 있다. 또한, 제1 신호로 하이 신호가 인가될 때 제2 신호가 정상적으로 하이 레벨에 되는지 여부 및 제1 신호로 로우 신호가 인가될 때 제2 신호가 정상적으로 로우 레벨이 되는지 검사하여 제2 신호의 이상 여부를 검사할 수 있다.
한편, 상술한 제1 신호에 대한 검사와 제2 신호에 대한 검사는 마이크로 프로세서(120)에서 동시에 수행될 수도 있고 제1 신호의 트리거 레벨(제2 트리거 레벨)을 먼저 설정한 후 제2 신호를 검사하고 제2 신호가 정상인 것으로 판단되면 제1 신호의 정상 여부를 제2 트리거 레벨에 대한 트리거 동작 시간을 검증하여 검사할 수도 있다. 다만, 본 발명에서 제1 신호와 제2 신호의 정상 여부를 확인하는 순서는 바뀌어도 무방하고 제1 신호와 제2 신호에 대한 검사가 모두 정상인 것으로 판단되어야 제어기 입력 회로(110)의 기능 검사에 대해 최종 합격 판정을 내릴 수 있다. 예를 들어, 제1 신호와 비교한 제2 신호의 검사 결과가 정상인 경우에도 제1 신호에 노이즈가 포함되어 제1 신호에 이상이 있는 것으로 판단되면 제어기 입력 회로(110)의 검사 결과는 최종 불합격 판정이 내려지며 이상이 있는 부품은 제어기 입력 핀(111)인 것으로 판단 내려질 수 있다. 또는 예를 들어, 검사 신호와 비교한 제1 신호의 검사 결과가 정상인 경우에도 제2 신호가 제1 신호의 입력 패턴과 다른 양상을 보여 이상이 있는 것으로 판단되면 제어기 입력 회로(110)의 검사 결과는 최종 불합격 판정이 내려지며 제어기 입력 회로(110)의 일 부품(커패시터 또는 저항)에 이상이 있는 것으로 판단 내려질 수 있다.
다시 말해, 본 발명은 종래의 제어기 입력 회로(110) 기능 검사와 비교하여 한번의 검사 과정으로 입력 회로(110)의 합격, 불합격 판정은 물론이고 불합격 판정시 각 부품의 재검증을 거칠 필요 없이 어느 부품의 불량인지까지 판정을 내릴 수 있다. 따라서, 기능 검사 속도의 향상 및 검사 비용의 절감이 가능한 효과가 있다.
이하에서는 본 발명의 일 실시예에 따른 제어기 입력 회로 검사 방법에 대해 설명한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 제어기 입력 회로 검사 방법의 흐름을 나타낸 순서도이고, 도 4는 도 3의 순서도에 대해 세부 흐름을 더 자세히 나타낸 순서도이다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 제어기 입력 회로 검사 방법은, 검사 신호 설정 단계(S100), 검사 장치의 검사 단계(S200), 검사 장치와 제어기 간의 연결 단계(S300) 및 제어기의 입력 회로 검사 단계(S400)를 포함할 수 있다.
검사 신호 설정 단계(S100)는, 제어기 입력 회로(110)의 검사를 위해 제어기(100)의 입력 핀(111)으로 입력될 신호인 검사 신호를 제어기 검사 장치(200)에 설정하는 단계이다. 이때, 상기 검사 신호로서 하이 신호와 로우 신호가 교번하여 출력되는 구형파 신호가 설정될 수 있다.(S110)
이때, 본 단계에서는 출력되는 검사 신호에 대하여 하이 신호에서 로우 신호로 변화하거나 로우 신호에서 하이 신호로 변화하는 경우 트리거 동작을 하도록 제1 트리거 레벨을 설정하는 단계(S120)를 포함할 수 있다.
다음으로, 검사 장치의 검사 단계(S200)는, 제어기 검사 장치(200)의 출력 핀(230)과 제어기(100)의 입력 핀(111)이 연결되기 전에 기 설정된 검사 신호의 설정 값과 검사 신호의 실제 출력 값을 비교하여 제어기 검사 장치(200)를 검사하는 단계이다.
본 단계에서는, 검사 신호의 제1 트리거 레벨에 대한 트리거 동작 시간을 검사한다.(S210,S220) 보다 구체적으로, 제어기 검사 장치(200)에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격과, 제어기 검사 장치(200)에서 실제 출력되는 검사 신호에 대한 트리거 동작 사이의 시간 간격을 비교하여 일치하는지 여부로서 검사 신호의 트리거 동작 시간이 정상인지를 판단 및 검사 신호가 기 설정된 대로 정상적으로 출력되는지를 검증하는 것이며, 상기 비교 결과 일치하면 제어기 검사 장치(200)에는 이상이 없는 것이므로 제어기 검사 장치(200)를 제어기(100)와 연결하여 제어기 입력 회로(110)의 검사를 진행하게 된다. 만일 상기 비교 결과 불일치하면 검사 신호의 트리거 동작 시간이 비정상이고 기 설정된 검사 신호가 제대로 출력되지 않는 것이므로 제어기 검사 장치(200)에 대해 불합격 판정이 내려지게 된다.(S230)
한편, 제어기 검사 장치(200)에 이상이 없는 경우에는, 제어기 검사 장치(200)의 출력 핀(230)과 제어기(100)의 입력 핀(111)을 연결하는 단계가 수행된다.(S300) 이때, 제어기 검사 장치(200)의 출력 핀(230)과 제어기(100)의 입력 핀(111)이 연결되고, 제어기 검사 장치(200)로부터 제어기(100)의 마이크로 프로세서(120)로 제1 트리거 레벨의 정보 및 제어기 검사 장치(200)에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격의 정보가 전달된다. 다시 말해, 검사 신호가 제어기(100)의 입력 핀(111)으로 정상적으로 입력되는지 검증하기 위해 설정된 검사 신호에 대한 정보를 제어기(100)에 미리 전달하는 것이다.
제어기 검사 장치(200)와 제어기(100)가 연결된 이후 진행되는 제어기 입력 회로 검사 단계(S400)는, 제어기 검사 장치(200)로부터의 검사 신호의 입력에 의해 제어기(100)의 입력 핀(111)에서 검출되는 제1 신호를 측정하고 제어기(100)의 마이크로 프로세서에 연결된 제어기 입력 회로(110)의 출력단에서 검출되는 제2 신호를 측정하여 제어기(100)의 입력 회로(110)를 검사하는 단계이다.
본 단계에서는, 종래에 제어기 입력 회로(110)의 기능 검사를 위해 검출되던 제2 신호에 추가하여 제어기(100)의 입력 핀(111)에서 제1 신호를 더 검출한다. 이는 제어기 검사 장치(200)에서 출력되는 검사 신호가 제어기(100)의 입력 핀(111)으로 노이즈 없이 입력되는지 여부를 제1 신호를 검증함으로써 체크하기 위함이며, 이를 위해 상술한 바와 같이 기 설정된 검사 신호에 대한 정보를 제어기 검사 장치(200)로부터 제어기(100)의 마이크로 프로세서(120)로 미리 전송하는 것이다.
본 단계의 상세 흐름에 대해 설명하자면, 본 단계에서는 먼저, 제1 신호에 대한 제2 트리거 레벨이 설정된다.(S410) 보다 구체적으로, 제1 신호에 대하여 하이 신호에서 로우 신호로 변화하거나 로우 신호에서 하이 신호로 변화하는 경우 트리거 동작을 하도록 제2 트리거 레벨을 설정한다.(S420) 제2 트리거 레벨의 설정은 이후 단계에서 제1 신호의 트리거 동작 시간이 정상인지 판단하기 위한 것이고 제1 신호의 트리거 동작 시간이 정상인지 판단하기에 앞서 입력 회로(110)의 출력단에서 검출되는 제2 신호를 측정 및 검사하여 정상 여부를 먼저 판단할 수 있다.(S420,S430)
이때, 제2 신호는 입력 회로(110)의 출력단에 배치된 커패시터(C2)의 전압 또는 전류일 수 있고, 본 단계에서는 검사 신호의 입력에 따라 변화하는 상기 커패시터(C2)의 전압 또는 전류의 값을 측정하여 제2 신호가 정상적으로 출력되는지 여부를 검사한다.
한편, 제2 신호의 검사에 대해서는 공지된 다양한 방법이 사용될 수 있다. 예를 들어, 제2 신호는 제1 신호가 하이 신호일 때 커패시터(C2)가 충전되어 하이 레벨이 되고 제1 신호가 로우 신호일 때 커패시터(C2)가 방전되면서 로우 레벨로 된다. 이때, 마이크로 프로세서(120)는 상기 하이 레벨에서 로우 레벨이 되는 시간을 측정하여 이 시간이 제1 신호의 주기적 특성과 일치하는지 비교하는 방식으로 제2 신호에 대한 검사가 수행될 수 있다. 또한, 제1 신호로 하이 신호가 인가될 때 제2 신호가 정상적으로 하이 레벨에 되는지 여부 및 제1 신호로 로우 신호가 인가될 때 제2 신호가 정상적으로 로우 레벨이 되는지 검사하여 제2 신호의 이상 여부를 검사할 수 있다.
제2 신호가 정상적으로 출력되지 않는 것으로 판단되면 제어기 입력 회로(110)의 검사 결과는 최종 불합격 판정이 내려지게 된다.(S440) 제2 신호가 정상적으로 출력되는 것으로 판단되면 입력 회로(110)의 내부 소자들(저항, 커패시터)에는 이상이 없는 것으로 판단할 수 있고 다음 단계가 진행된다.
제2 신호가 정상인 것으로 판단되었다면, 제1 신호의 트리거 동작 시간에 대한 검증이 이루어진다.(S450,S460) 보다 구체적으로, 상기 검증은 제어기 검사 장치(200)에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격과, 제1 신호의 측정값에 대한 트리거 동작 사이의 시간 간격을 비교하는 방식으로 이루어질 수 있다. 즉, 검사 신호의 주기적 특성과 입력 핀(111)에서 검출되는 제1 신호의 주기적 특성이 일치하는지 비교하여 제1 신호의 트리거 동작을 검증하는 것이다. 제1 신호의 트리거 동작을 검증한 결과 검사 신호의 주기적 특성과 제1 신호의 주기적 특성이 일치한다면 검사 신호가 노이즈 없이 제1 신호로 입력된 것이므로 제어기(100)의 입력 핀(111)에는 이상이 없다고 판정할 수 있다. 더불어, 제1 신호가 정상이고 제2 신호 또한 정상이므로 제어기 입력 회로(110)의 기능 검사가 최종 합격 판정이 내려질 수 있다.(S480) 반면에, 제1 신호의 트리거 동작을 검증한 결과 제1 신호의 주기적 특성이 입력되는 검사 신호의 주기적 특성과 일치하지 않는다면 최종 불합격 판정이 내려지며(S470) 이때 이상이 있는 부품은 제어기 입력 핀(111)으로서, 검사 신호가 제어기 입력 핀(111)으로 인가될 때 노이즈가 섞여 들어오는 것으로 판단할 수 있다.
한편, 제1 신호에 대한 검사와 제2 신호에 대한 검사는 상술한 바와 같이 제1 신호의 트리거 레벨(제2 트리거 레벨)을 먼저 설정한 후 제2 신호를 검사하고 제2 신호가 정상인 것으로 판단되면 제1 신호의 정상 여부를 제2 트리거 레벨에 대한 트리거 동작 시간을 검증하여 검사할 수 있다. 다만, 본 발명에서 제1 신호와 제2 신호의 정상 여부를 확인하는 순서는 바뀌어도 무방하고 제1 신호와 제2 신호에 대한 검사가 모두 정상인 것으로 판단되어야 제어기 입력 회로(110)의 기능 검사에 대해 최종 합격 판정을 내릴 수 있다. 예를 들어, 제1 신호와 비교한 제2 신호의 검사 결과가 정상인 경우에도 제1 신호에 노이즈가 포함되어 제1 신호에 이상이 있는 것으로 판단되면 제어기 입력 회로(110)의 검사 결과는 최종 불합격 판정이 내려지며 이상이 있는 부품은 제어기 입력 핀(111)으로 판단 내려질 수 있다. 또는 예를 들어, 검사 신호와 비교한 제1 신호의 검사 결과가 정상인 경우에도 제2 신호가 제1 신호의 입력 패턴과 다른 양상을 보여 이상이 있는 것으로 판단되면 제어기 입력 회로(110)의 검사 결과는 최종 불합격 판정이 내려지며 제어기 입력 회로(110)의 내부 부품(커패시터 또는 저항)에 이상이 있는 것으로 판단 내려질 수 있다.
이상 살펴본 바와 같이, 본 발명에 따르면, 검사 장치에 기 설정된 검사 신호가 정상 출력되는지 여부, 제어기 입력 핀에 상기 검사 신호가 정상적으로 인가되는지 여부 및 제어기 입력 회로의 출력 신호가 상기 검사 신호에 대응한 정상적인 신호로 출력되는지 여부에 대한 검사가 순차적으로 수행됨으로써 한번의 검사 과정 수행만으로도 불량 판정시 불량의 원인이 입력 회로에 있는 것인지 검사 장치에 있는 것인지 판단할 수 있다.
한편, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 상기의 실시예에 한정되는 것이 아니라 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 따라서, 본 발명의 기술적 사상은 청구범위에 의해서만 파악되어야 하고, 이의 균등 또는 등가적 변형 모두는 본 발명의 기술적 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.
100: 제어기
110: 입력 회로
111: 입력 핀
120: 마이크로 프로세서
130: 출력 회로
140: 통신부
200: 제어기 검사 장치
210: 제어부
220: 검사 신호 생성부
230: 출력 핀

Claims (14)

  1. 제어기로 입력될 신호로서 하이 신호와 로우 신호가 교번되는 검사 신호를 제어기 검사 장치에 설정하는 단계;
    상기 제어기 검사 장치의 출력 핀과 상기 제어기의 입력 핀이 연결되기 전에 상기 기 설정된 검사 신호의 설정 값과 상기 검사 신호의 실제 출력 값을 비교하여 상기 제어기 검사 장치를 검사하는 단계; 및
    상기 제어기 검사 장치의 출력 핀과 상기 제어기의 입력 핀이 연결된 이후, 상기 검사 신호의 입력에 의해 상기 제어기의 입력 핀에서 검출되는 제1 신호를 측정하고 상기 제어기의 마이크로 프로세서에 연결된 상기 제어기의 입력 회로의 출력단에서 검출되는 제2 신호를 측정하여 상기 제어기의 입력 회로를 검사하는 단계;를 포함하는 제어기 입력 회로 검사 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 검사 신호를 제어기 검사 장치에 설정하는 단계는,
    상기 검사 신호에 대하여 하이 신호에서 로우 신호로 변화하거나 로우 신호에서 하이 신호로 변화하는 경우 트리거 동작을 하도록 제1 트리거 레벨을 설정하는 단계;를 포함하는 제어기 입력 회로 검사 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제어기 검사 장치를 검사하는 단계는,
    상기 제어기 검사 장치에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격과, 상기 제어기 검사 장치에서 실제 출력되는 검사 신호에 대한 트리거 동작 사이의 시간 간격을 비교하는 것을 특징으로 하는 제어기 입력 회로 검사 방법.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 제어기 검사 장치의 출력 핀과 상기 제어기의 입력 핀이 연결되고, 상기 제어기 검사 장치로부터 상기 마이크로 프로세서로 상기 제1 트리거 레벨의 정보 및 상기 제어기 검사 장치에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격의 정보가 전달되는 단계;를 더 포함하는 제어기 입력 회로 검사 방법.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 제어기의 입력 회로를 검사하는 단계에서,
    상기 제2 신호는 상기 제어기의 입력 회로의 출력단에 배치된 커패시터의 전압 또는 전류이고,
    상기 검사 신호의 입력에 따라 변화하는 상기 전압 또는 전류의 값을 측정하는 것을 특징으로 하는 제어기 입력 회로 검사 방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제어기의 입력 회로를 검사하는 단계는,
    검출되는 상기 제1 신호에 대하여 하이 신호에서 로우 신호로 변화하거나 로우 신호에서 하이 신호로 변화하는 경우 트리거 동작을 하도록 제2 트리거 레벨을 설정하는 단계; 및
    상기 제어기 검사 장치에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격과, 상기 제1 신호의 측정값에 대한 트리거 동작 사이의 시간 간격을 비교하는 단계;를 포함하는 제어기 입력 회로 검사 방법.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 제어기는,
    차량의 전자 장치를 제어하는 ECU(Electronic Control Unit)인 제어기 입력 회로 검사 방법.
  8. 적어도 하나 이상의 저항과 커패시터를 포함하는 입력 회로와, 상기 입력 회로의 특정 지점의 신호를 측정하는 마이크로 프로세서와, 외부로부터 신호를 입력 받기 위해 노출되는 입력 핀을 포함하는 제어기; 및
    상기 입력 회로의 검사를 위해 구비되며 상기 제어기의 입력 핀으로 입력될 신호로서 하이 신호와 로우 신호가 교번되는 검사 신호가 기 설정되는 제어기 검사 장치;를 포함하고,
    상기 제어기 검사 장치는,
    상기 검사 신호에 대하여 하이 신호에서 로우 신호로 변화하거나 상기 로우 신호에서 상기 하이 신호로 변화하는 경우 트리거 동작을 하도록 제1 트리거 레벨이 기 설정되는 것을 특징으로 하는 제어기 입력 회로 검사 시스템.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 제어기 검사 장치는,
    상기 제어기 검사 장치의 출력 핀과 상기 제어기의 입력 핀이 연결되기 전에,
    상기 제어기 검사 장치에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격과, 상기 제어기 검사 장치에서 실제 출력되는 검사 신호에 대한 트리거 동작 사이의 시간 간격을 비교하는 것을 특징으로 하는 제어기 입력 회로 검사 시스템.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 마이크로 프로세서는,
    상기 제어기 검사 장치의 출력 핀과 상기 제어기의 입력 핀이 연결된 이후,
    상기 검사 신호의 입력에 의해 상기 제어기의 입력 핀에서 검출되는 제1 신호를 측정하고, 상기 제어기의 마이크로 프로세서에 연결된 상기 제어기의 입력 회로의 출력단에서 검출되는 제2 신호를 측정하는 것을 특징으로 하는 제어기 입력 회로 검사 시스템.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 마이크로 프로세서는,
    검출되는 상기 제1 신호에 대하여 하이 신호에서 로우 신호로 변화하거나 로우 신호에서 하이 신호로 변화하는 경우 트리거 동작을 하도록 제2 트리거 레벨을 설정하고,
    상기 제어기 검사 장치에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격과, 상기 제1 신호의 측정값에 대한 트리거 동작 사이의 시간 간격을 비교하는 것을 특징으로 하는 제어기 입력 회로 검사 시스템.
  12. 제10항에 있어서,
    상기 제2 신호는 상기 제어기의 입력 회로의 출력단에 배치된 커패시터의 전압 또는 전류이고,
    상기 마이크로 프로세서는,
    상기 검사 신호의 입력에 따라 변화되는 상기 전압 또는 전류를 측정하는 것을 특징으로 하는 제어기 입력 회로 검사 시스템.
  13. 제8항에 있어서,
    상기 제어기 검사 장치는,
    상기 제1 트리거 레벨의 정보 및 상기 제어기 검사 장치에 기 설정된 검사 신호에 대한 하이 신호 사이의 시간 간격의 정보를 상기 마이크로 프로세서에 전달하는 것을 특징으로 하는 제어기 입력 회로 검사 시스템.
  14. 제8항에 있어서,
    상기 제어기는,
    차량의 전자 장치를 제어하는 ECU(Electronic Control Unit)인 제어기 입력 회로 검사 시스템.
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KR20060029268A (ko) 2006-03-15 2006-04-05 김진호 통합 회로검사장치
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