KR102420625B1 - 가공 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은, 가공 장치에 관한 것으로서, 가공 대상물의 미리 정해진 검사 영역에 미리 정해진 기준 거리를 두고 제1 기준선 및 제2 기준선을 각각 마킹하는 마킹 유닛; 상기 제1 기준선과 상기 제2 기준선이 마킹된 상기 가공 대상물에 외력을 인가하여, 상기 가공 대상물을 가공하는 가공 유닛; 상기 가공 유닛을 통과한 상기 검사 영역의 미리 정해진 단위 영역들 각각마다 상기 제1 기준선과 상기 제2 기준선 사이의 거리를 개별적으로 측정하는 측정 유닛; 및 상기 측정 유닛에 의해 측정된 상기 제1 기준선과 상기 제2 기준선 사이의 거리를 기준으로, 상기 단위 영역들 중 이상 상태로 가공된 이상 가공 영역을 특정하는 특정 유닛을 포함한다.

Description

가공 장치{Machining appratus}
본 발명은 가공 대상물을 가공하기 위한 가공 장치에 관한 것이다.
일반적으로 시트 형상을 갖는 제품은, 연신 롤러, 기타 부재를 이용해 제품을 제조하기 위한 원단에 인장력을 인가하여 원단을 연신시키는 연신 공정과, 압연 롤러, 기타 부재를 이용해 원단을 가압하여 원단을 압연시키는 압연 공정 등 원단에 외력을 인가하여 원단을 제품의 특성에 맞게 가공하는 가공 공정을 진행한 후 이처럼 가공된 원단을 미리 정해진 면적을 갖도록 절단하여 제조한다.
그런데, 롤러와 같은 가공 부재를 이용해 원단에 외력을 인가하는 경우에, 가공 부재의 설정 상태, 공정 상의 공차, 원단의 특성, 기타 원인으로 인해 외력이 원단의 영역 별로 불균일이 인가됨으로써, 원단이 불균일하게 가공되는 경우가 빈번했다. 그러나, 종래에는 외력이 원단의 영역 별로 어떠한 양상으로 불균일하게 인가되는지를 정밀하게 측정할 수 있는 가공 장치가 개발되어 있지 않아, 원단이 불균일하게 가공됨으로써 제품의 품질이 저하되는 문제점이 있었다.
본 발명은, 상술한 종래기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 가공 대상물의 가공을 위해 가공 대상물에 인가되는 외력이 가공 대상물의 영역 별로 불균일하게 인가되는 양상을 측정할 수 있도록 구조가 개선된 가공 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 가공 장치는, 가공 대상물의 미리 정해진 검사 영역에 미리 정해진 기준 거리를 두고 제1 기준선 및 제2 기준선을 각각 마킹하는 마킹 유닛; 상기 제1 기준선과 상기 제2 기준선이 마킹된 상기 가공 대상물에 외력을 인가하여, 상기 가공 대상물을 가공하는 가공 유닛; 상기 가공 유닛을 통과한 상기 검사 영역의 미리 정해진 단위 영역들 각각마다 상기 제1 기준선과 상기 제2 기준선 사이의 거리를 개별적으로 측정하는 측정 유닛; 및 상기 측정 유닛에 의해 측정된 상기 제1 기준선과 상기 제2 기준선 사이의 거리를 기준으로, 상기 단위 영역들 중 이상 상태로 가공된 이상 가공 영역을 특정하는 특정 유닛을 포함한다.
바람직하게, 상기 마킹 유닛과 상기 가공 유닛 사이에 설치되며, 상기 단위 영역들 각각에 포함된 제1 기준선의 제1 단위 구간과 제2 기준선의 제2 단위 구간을 1:1로 매칭하는 매칭 유닛을 더 포함하고, 상기 측정 유닛은, 상기 매칭 유닛에 의해 1:1로 매칭된 상기 제1 단위 구간과 상기 제2 단위 구간 사이의 거리를 상기 단위 구역들 각각마다 개별적으로 측정하며, 상기 특정 유닛은, 상기 측정 유닛에 의해 측정된 상기 제1 단위 구간과 상기 제2 단위 구간 사이의 거리를 기준으로 상기 이상 가공 영역을 특정한다.
바람직하게, 상기 매칭 유닛은, 서로 동일한 단위 영역에 속하는 제1 기준점과 제2 기준점이 상기 기준 거리만큼 이격되도록, 상기 제1 기준선 상의 제1 단위 구간들 각각마다 상기 제1 기준점을 설정함과 함께 상기 제2 기준선 상의 제2 단위 구간들 각각마다 상기 제2 기준점을 설정하고, 상기 측정 유닛은, 상기 단위 영역들 각각마다 상기 제1 기준점과 상기 제2 기준점 사이의 거리를 개별적으로 측정하며, 상기 특정 유닛은, 상기 단위 영역들 중 상기 측정 유닛에 의해 측정된 상기 제1 기준점과 상기 제2 기준점 사이의 거리가 미리 정해진 이상 거리에 해당하는 단위 영역을 상기 이상 가공 영역으로 특정한다.
바람직하게, 상기 매칭 유닛은, 상기 제1 기준선과 상기 제2 기준선을 촬영하는 매칭용 카메라와, 상기 매칭용 카메라에 의해 촬영된 촬영 이미지를 기준으로 상기 제1 단위 구간들 각각마다 제1 기준점을 설정함과 함께 상기 제2 단위 구간들 각각마다 제2 기준점을 설정하는 매칭 모듈을 구비한다.
바람직하게, 상기 매칭용 카메라는, 상기 제1 기준선을 촬영하는 제1 매칭용 카메라와, 상기 제1 매칭용 카메라로부터 상기 기준 거리만큼 이격되며, 상기 제2 기준선을 촬영하는 제2 매칭용 카메라를 갖는다.
바람직하게, 상기 측정 유닛은, 상기 제1 기준선 및 상기 제2 기준선을 촬영하는 측정용 카메라와, 상기 측정용 카메라에 의해 촬영된 촬영 이미지를 기준으로 상기 단위 영역들 각각마다 상기 제1 기준점과 상기 제2 기준점 사이의 거리를 개별적으로 측정하는 측정 모듈을 구비한다.
바람직하게, 상기 측정용 카메라는, 상기 제1 기준선을 촬영하는 제1 측정용 카메라와, 상기 제1 측정용 카메라로부터 상기 기준 거리만큼 이격되며, 상기 제2 기준선을 촬영하는 제2 측정용 카메라를 갖는다.
바람직하게, 상기 마킹 유닛은, 레이저빔을 생성하여 발진하는 레이저 발진기와, 상기 레이저 발진기로부터 전달된 레이저빔을 상기 검사 영역에 조사하여, 상기 제1 기준선과 상기 제2 기준선을 레이저 마킹하는 레이저 헤드를 구비한다.
바람직하게, 상기 가공 유닛은, 상기 가공 대상물을 압연 가공하는 압연기를 구비한다.
바람직하게, 상기 가공 유닛은, 상기 가공 대상물을 연신 가공하는 연신기를 구비한다.
바람직하게, 상기 제1 기준선과 상기 제2 기준선은, 상기 가공 대상물의 미리 정해진 일방향으로 상기 기준 거리만큼 이격되도록, 상기 일방향과 수직되는 타방향으로 서로 평행을 이루게 마킹된다.
바람직하게, 상기 특정 유닛에 의해 상기 이상 가공 영역으로 특정된 단위 영역이 정상 상태로 가공되도록 상기 가공 유닛을 제어하는 제어기를 더 포함한다.
본 발명은, 가공 장치에 관한 것으로서, 다음과 같은 효과를 갖는다.
첫째, 본 발명은, 가공 대상물에 제1 기준선과 제2 기준선과 미리 정해진 기준 거리를 두고 마킹한 후, 가공 유닛으로부터 인가되는 외력에 의해 가공 대상물이 가공되어 변화된 제1 기준선과 제2 기준선의 거리를 가공 대상물의 영역 별로 개별적으로 측정하여, 제1 기준선과 제2 기준선의 변화된 거리를 기준으로 가공 대상물의 가공 시 가공 대상물의 전체 영역 중 어느 영역에 외력이 불균일하게 인가되는지를 정밀하게 특정할 수 있다.
둘째, 본 발명은, 제1 기준선과 제2 기준선의 변화된 거리를 기준으로 가공 유닛을 조절 및 제어하여, 불균일하게 인가된 외력으로 인해 이상 상태로 가공된 이상 가공 영역을 정상 상태로 가공시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 가공 장치의 개략적인 구조를 나타내는 평면도.
도 2는 도 1에 도시된 가공 장치의 정면도.
도 3은 도 1에 도시된 가공 장치의 제어 계통을 설명하기 위한 블록도.
도 4는 연신기의 개략적인 구성을 나타내는 도면.
도 5는 압연기의 개략적인 구성을 나타내는 도면.
도 6은 도 1에 도시된 가공 장치를 이용해 가공 대상물을 가공하는 방법을 설명하기 위한 순서도.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명의 실시예를 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 실시예에 대한 이해를 방해한다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
본 발명의 실시예의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 또한, 다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가진 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 가공 장치(1)의 개략적인 구조를 나타내는 평면도이고, 도 2는 도 1에 도시된 가공 장치(1)의 정면도이며, 도 3은 도 1에 도시된 가공 장치(1)의 제어 계통을 설명하기 위한 블록도이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 가공 장치(1)는, 가공 대상물(P)의 미리 정해진 검사 영역(A0)에 미리 정해진 기준 거리(L)를 두고 제1 기준선(L1) 및 제2 기준선(L2)을 각각 마킹하는 마킹 유닛(10)과, 검사 영역(A0)의 미리 정해진 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각마다 제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2)을 개별적으로 매칭하는 매칭 유닛(20)과, 제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2)이 마킹된 검사 영역(A0)에 외력을 인가하여, 가공 대상물(P)을 가공하는 가공 유닛(30)과, 가공 유닛(30)을 통과한 검사 영역(A0)의 미리 정해진 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각마다 제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2) 사이의 거리를 개별적으로 측정하는 측정 유닛(40)과, 측정 유닛(40)에 의해 측정된 제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2) 사이의 거리를 기준으로, 단위 영역들(A1, A2, A3) 중 이상 상태로 가공된 이상 가공 영역을 특정하는 특정 유닛(50)과, 특정 유닛(50)에 의해 이상 가공 영역으로 특정된 단위 영역(A1, A2, A3)이 정상 상태로 가공되도록 가공 유닛(30)을 제어하는 제어기(60) 등을 포함할 수 있다.
가공 장치(1)를 이용해 가공 가능한 가공 대상물(P)의 종류는 특별히 한정되지 않는다. 예를 들어, 가공 대상물(P)은 필름 시트를 제조하기 위한 필름 원단일 수 있다. 이처럼 가공 대상물(P)이 원단인 경우에, 가공 장치(1)는 롤 상태로 미리 권취된 가공 대상물(P)을 권출하여 공급하는 공급 롤(미도시)과, 공급 롤로부터 공급된 가공 대상물(P)을 가공 유닛(30)을 통과하도록 미리 정해진 롤 패스를 따라 이송하는 이송 롤러(미도시)와, 가공 유닛(30)에 의해 가공이 완료된 가공 대상물(P)을 권취하여 회수하는 회수 롤(미도시) 등을 포함하는 롤투롤(Roll-to-Roll) 장치로 구성되는 것이 바람직하나, 이에 한정되는 것은 아니다. 이하에서는, 가공 대상물(P)이 스트립 형상을 길게 연장된 원단이고, 가공 장치(1)는 롤투롤 장치로 구성되는 경우를 예로 들어 본 발명을 설명하기로 한다.
먼저, 마킹 유닛(10)은, 가공 대상물(P)이 제1 기준선(L1) 및 제2 기준선(L2)에 의해 분할되지 않도록, 검사 영역(A0)의 표면을 미리 정해진 깊이 까지만 하프 커팅하여 제1 기준선(L1) 및 제2 기준선(L2)을 검사 영역(A0)에 마킹할 수 있도록 마련된다.
가공 대상물(P)의 검사 영역(A0)은 특별히 한정되지 않는다. 예를 들어, 도 1에 도시된 바와 같이, 검사 영역(A0)은 미리 정해진 기준 거리(L)에 비해 미리 정해진 비율만큼 긴 길이를 갖도록 정해질 수 있다.
이러한 검사 영역(A0)은, 복수의 단위 영역들(A1, A2, A3)로 구획될 수 있다. 예를 들어, 도 1에 도시된 바와 같이, 검사 영역(A0)은, 가공 대상물(P)의 폭 방향으로 미리 정해진 간격을 두고 설정되는 3개의 단위 영역들(A1, A2, A3)로 구획될 수 있다. 이 경우에, 단위 영역들(A1, A2, A3) 중 어느 하나의 단위 영역(A1)은 검사 영역(A0)의 일측 단부와 중심부 사이에 위치하도록 설정될 수 있고, 단위 영역들(A1, A2, A3) 중 다른 하나의 단위 영역(A2)은 검사 영역(A0)의 중심부에 위치하도록 설정될 수 있고, 단위 영역들(A1, A2, A3) 중 또 다른 하나의 단위 영역(A3)은 검사 영역(A0)의 중심부와 상기 일측 단부와 반대되는 타측 단부 사이에 위치하도록 설정될 수 있다.
마킹 유닛(10)의 구조는 특별히 한정되지 않는다. 예를 들어, 마킹 유닛(10)은, 레이저빔을 이용해 기준선들(L1, L2)을 레이저 마킹 가능하게 마련될 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며, 마킹 유닛(10)은 칼날이 형성된 나이프를 이용해 기준선들(L1, L2)을 마킹 가능하게 마련될 수도 있다. 이하에서는, 레이저빔을 이용해 기준선들(L1, L2)을 레이저 마킹 가능하도록 마킹 유닛(10)이 마련되는 경우를 기준으로 본 발명을 설명하기로 한다.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 마킹 유닛(10)은, 제1 기준선(L1)을 레이저 마킹하기 위한 제1 마킹기(11)와, 제2 기준선(L2)을 레이저 마킹하기 위한 제2 마킹기(12) 등을 구비할 수 있다.
또한, 제1 마킹기(11)는, 레이저빔을 생성하여 발진하는 제1 레이저 발진기(미도시)와, 제1 레이저 발진기로부터 발진된 레이저빔을 검사 영역(A0)에 조사하는 제1 레이저 헤드(13)와, 제1 레이저 헤드(13)를 미리 정해진 방향으로 이송하는 제1 헤드 드라이버(14) 등을 가질 수 있다. 특히, 제1 헤드 드라이버(14)는, 제1 레이저 헤드(13)를 상기 폭 방향 또는 상기 폭 방향의 반대 방향으로 이송하기 위한 제1 이송 부재(14a)와, 제1 이송 부재(14a) 및 제1 이송 부재(14a)에 결합된 제1 레이저 헤드(13)를 상기 폭 방향과 수직되는 가공 대상물(P)의 길이 방향 또는 상기 길이 방향의 반대 방향으로 이송하기 위한 제2 이송 부재(14b) 등을 가질 수 있다.
이처럼 제1 마킹기(11)가 마련됨에 따라, 도 1에 도시된 바와 같이, 제1 헤드 드라이버(14)는 제1 레이저 헤드(13)를 상기 폭 방향으로 이송하고, 제1 레이저 헤드(13)는 제1 헤드 드라이버(14)에 의해 이송되면서 레이저빔을 검사 영역(A0)에 상기 폭 방향으로 조사하여 제1 기준선(L1)을 검사 영역(A0)에 레이저 마킹할 수 있다.
도 1에 도시된 바와 같이, 위와 같이 마킹된 제1 기준선(L1)은 상기 폭 방향으로 연장된다. 제1 기준선(L1)은 검사 영역(A0)의 일측 단부에서 타측 단부까지 연장되도록 마킹되는 것이 바람직하나, 이에 한정되는 것은 아니다.
또한, 제2 마킹기(12)는, 레이저빔을 생성하여 발진하는 제2 레이저 발진기(미도시)와, 제2 레이저 발진기로부터 발진된 레이저빔을 검사 영역(A0)에 조사하는 제2 레이저 헤드(15)와, 제2 레이저 헤드(15)를 미리 정해진 방향으로 이송하는 제2 헤드 드라이버(16) 등을 가질 수 있다. 특히, 제2 헤드 드라이버(16)는, 제2 레이저 헤드(15)를 상기 폭 방향 또는 상기 폭 방향의 반대 방향으로 이송하기 위한 제1 이송 부재(16a)와, 제1 이송 부재(16a) 및 제1 이송 부재(16a)에 결합된 제2 레이저 헤드(15)를 상기 길이 방향 또는 상기 길이 방향의 반대 방향으로 이송하기 위한 제2 이송 부재(16b) 등을 가질 수 있다.
또한, 제2 마킹기(12)는, 제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2)을 상기 길이 방향으로 미리 정해진 기준 거리(L)를 두고 검사 영역(A0)에 레이저 마킹할 수 있도록, 제1 마킹기(11)에 비해 상기 길이 방향으로 기준 거리(L)만큼 이격되도록 설치될 수 있다.
이처럼 제2 마킹기(12)가 마련됨에 따라, 도 1에 도시된 바와 같이, 제2 헤드 드라이버(16)는 제2 레이저 헤드(15)를 제1 마킹기(11)의 제1 레이저 헤드(13)에 비해 상기 길이 방향으로 기준 거리(L)만큼 이격된 상태로 상기 폭 방향으로 이송하고, 제2 레이저 헤드(15)는 제2 헤드 드라이버(16)에 의해 이송되면서 레이저빔을 검사 영역(A0)에 상기 폭 방향으로 조사하여 제2 기준선(L2)을 검사 영역(A0)에 레이저 마킹할 수 있다.
도 1에 도시된 바와 같이, 위와 같이 마킹된 제2 기준선(L2)은, 상기 제1 기준선(L1)과 평행을 이루도록 상기 폭 방향으로 연장되고, 상기 제1 기준선(L1)에 비해 상기 길이 방향으로 기준 거리(L)만큼 이격된다. 제2 기준선(L2)은 검사 영역(A0)의 일측 단부에서 타측 단부까지 연장되도록 마킹되는 것이 바람직하나, 이에 한정되는 것은 아니다.
도 1에 도시된 바와 같이, 이처럼 마킹된 제2 기준선(L2)은, 제1 기준선(L1)과 길이가 동일함과 함께, 제1 기준선(L1)과 평행을 이루게 된다.
다음으로, 매칭 유닛(20)은, 검사 영역(A0)의 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각마다 당해 단위 영역(A1, A2, A3)에 포함된 제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2)을 1:1로 매칭할 수 있도록 마련된다.
도 1에 도시된 바와 같이, 매칭 유닛(20)은, 마킹 유닛(10)에 의해 기준선들(L1, L2)이 형성된 검사 영역(A0)을 대상으로 매칭 작업을 실시할 수 있도록, 마킹 유닛(10)으로부터 상기 길이 방향으로 소정의 거리만큼 이격되도록 설치된다.
도 1에 도시된 바와 같이, 제1 기준선(L1)은 검사 영역(A0)의 일측 단부에서 타측 단부까지 마련되는 바, 검사 영역(A0)의 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각에는 당해 단위 영역(A1, A2, A3)의 폭에 대응하는 길이를 갖는 제1 기준선(L1)의 제1 단위 구간들(S11, S12, S13) 중 어느 하나와 제2 기준선(L2)의 제2 단위 구간들(S21, S22, S23) 중 어느 하나가 포함될 수 있다. 이에, 매칭 유닛(20)은, 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각마다 당해 단위 영역(A1, A2, A3)에 포함된 제1 기준선(L1)의 제1 단위 구간(S11, S12, S13)과 제2 기준선(L2)의 제2 단위 구간(S21, S22, S23)을 1:1로 매칭 가능하게 마련되는 것이 바람직하다.
이러한 제1 기준선(L1)의 제1 단위 구간(S11, S12, S13)과 제2 기준선(L2)의 제2 단위 구간(S21, S22, S23)의 매칭을 위하여, 매칭 유닛(20)은, 매칭 유닛(20)에 도달된 검사 영역(A0) 상에서 제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2)을 촬영하는 매칭용 촬영기(21)와, 매칭용 촬영기(21)에 의해 촬영된 촬영 이미지를 기준으로 서로 동일한 단위 영역(A1, A2, A3)에 속하는 제1 기준선(L1)의 제1 단위 구간(S11, S12, S13)과 제2 기준선(L2)의 제2 단위 구간(S21, S22, S23)을 1:1로 매칭하는 매칭 모듈(22) 등을 가질 수 있다.
또한, 매칭용 촬영기(21)는, 제1 매칭용 촬영기(23)와, 제2 매칭용 촬영기(24) 등을 가질 수 있다.
제1 매칭용 촬영기(23)는, 이송 롤러, 기타 가공 장치(1)에 구비된 이송 부재(미도시)에 의해 매칭 유닛(20)까지 이송된 검사 영역(A0) 상에서 제1 기준선(L1)을 선택적으로 촬영 가능하게 마련된다. 이러한 제1 매칭용 촬영기(23)는, 제1 기준선(L1)을 촬영하기 위한 제1 매칭용 카메라(25)와, 제1 매칭용 카메라(25)를 미리 정해진 방향으로 이송하기 위한 제1 카메라 드라이버(26) 등을 가질 수 있다.
제1 매칭용 카메라(25)의 설치 개수는 특별히 한정되지 않는다. 예를 들어, 도 1에 도시된 바와 같이, 제1 매칭용 촬영기(23)에는 단위 영역(A1, A2, A3)의 설정 개수와 동일한 개수의 제1 매칭용 카메라(25)가 설치될 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며, 제1 매칭용 카메라(25)가 이동하면서 제1 기준선(L1)을 촬영하도록 제1 매칭용 촬영기(23)가 마련되는 경우에, 제1 매칭용 촬영기(23)에는 하나의 제1 매칭용 카메라(25)만 설치될 수도 있다. 이하에서는, 단위 영역(A1, A2, A3)의 설정 개수와 동일한 개수의 제1 매칭용 카메라들(25)이 설치되는 경우를 기준으로 본 발명을 설명한다.
제1 카메라 드라이버(26)는, 제1 매칭용 카메라들(25)을 각각 상기 폭 방향 또는 상기 폭 방향의 반대 방향으로 개별적으로 이송하는 제1 이송 부재(26a)와, 제1 이송 부재(26a) 및 제1 이송 부재(26a)에 결합된 제1 매칭용 카메라들(25)을 상기 길이 방향 또는 상기 길이 방향의 반대 방향으로 이송하는 제2 이송 부재(26b) 등을 가질 수 있다.
제1 카메라 드라이버(26)는, 제1 매칭용 카메라들(25) 각각을, 당해 제1 매칭용 카메라(25)의 촬영 중심점과 제1 기준선(L1)의 제1 단위 구간들(S11, S12, S13) 중 당해 제1 매칭용 카메라(25)와 대응하는 어느 하나의 제1 단위 구간(S11, S12, S13)의 중심점이 서로 일치하는 위치로 이송할 수 있다. 이 경우에, 제1 매칭용 카메라들(25) 각각에 의해 촬영된 촬영 이미지의 중심부에는 당해 제1 매칭용 카메라(25)에 의해 촬영된 상기 어느 하나의 제1 기준선(L1)의 제1 단위 구간(S11, S12, S13)의 중심점이 위치하게 된다. 이에, 매칭 모듈(22)은, 제1 매칭용 카메라들(25) 각각에 의해 촬영된 촬영 이미지를 기준으로 제1 단위 구간들(S11, S12, S13) 각각의 중심점을 당해 제1 단위 구간(S11, S12, S13)의 제1 기준점(P11, P12, P13)으로 설정할 수 있다.
제2 매칭용 촬영기(24)는, 이송 롤러, 기타 가공 장치(1)에 구비된 이송 부재에 의해 매칭 유닛(20)까지 이송된 검사 영역(A0) 상에서 제2 기준선(L2)을 선택적으로 촬영 가능하게 마련된다. 이를 위하여, 도 1에 도시된 바와 같이, 제2 매칭용 촬영기(24)는, 제1 매칭용 촬영기(23)에 비해 상기 길이 방향으로 기준 거리(L)만큼 이격되도록 설치될 수 있다.
이러한 제2 매칭용 촬영기(24)는, 제2 기준선(L2)을 촬영하기 위한 제2 매칭용 카메라(27)와, 제2 매칭용 카메라(27)를 미리 정해진 방향으로 이송하기 위한 제2 카메라 드라이버(28) 등을 가질 수 있다.
제2 매칭용 카메라(27)의 설치 개수는 특별히 한정되지 않는다. 예를 들어, 도 1에 도시된 바와 같이, 제2 매칭용 촬영기(24)에는 단위 영역(A1, A2, A3)의 설정 개수와 동일한 개수의 제2 매칭용 카메라(27)가 설치될 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며, 제2 매칭용 카메라(27)가 이동하면서 제2 기준선(L2)을 촬영하도록 제2 매칭용 촬영기(24)가 마련되는 경우에, 제2 매칭용 촬영기(24)에는 하나의 제2 매칭용 카메라(27)만 설치될 수도 있다. 이하에서는, 단위 영역(A1, A2, A3)의 설정 개수와 동일한 개수의 제2 매칭용 카메라들(27)이 설치되는 경우를 기준으로 본 발명을 설명한다.
제2 카메라 드라이버(28)는, 제2 매칭용 카메라들(27)을 각각 상기 폭 방향 또는 상기 폭 방향의 반대 방향으로 개별적으로 이송하는 제1 이송 부재(28a)와, 제1 이송 부재(28a) 및 제1 이송 부재(28a)에 결합된 제2 매칭용 카메라들(27)을 상기 길이 방향 또는 상기 길이 방향의 반대 방향으로 이송하는 제2 이송 부재(28b) 등을 가질 수 있다.
제2 카메라 드라이버(28)는, 제2 매칭용 카메라들(27) 각각을, 당해 제2 매칭용 카메라(27)의 촬영 중심점과 제2 기준선(L2)의 제2 단위 구간들(S21, S22, S23) 중 당해 제2 매칭용 카메라(27)과 대응하는 어느 하나의 제2 단위 구간(S21, S22, S23)의 중심점이 서로 일치하는 위치로 이송할 수 있다. 이 경우에, 제2 매칭용 카메라(27)들 각각에 의해 촬영된 촬영 이미지의 중심부에는 당해 제2 매칭용 카메라(27)에 의해 촬영된 제2 기준선(L2)의 상기 어느 하나의 제2 단위 구간(S21, S22, S23)의 중심점이 위치하게 된다. 이에, 매칭 모듈(22)은, 제2 매칭용 카메라(27)들 각각에 의해 촬영된 촬영 이미지를 기준으로 제2 단위 구간들(S21, S22, S23) 각각의 중심점을 당해 제2 단위 구간(S21, S22, S23)의 제2 기준점(P21, P22, P23)으로 설정할 수 있다.
그런데, 전술한 바와 같이, 제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2)은, 서로 평행을 이루며, 상기 길이 방향으로 기준 거리(L)만큼 이격된다. 이로 인해, 서로 동일한 단위 영역(A1, A2, A3)에 속하는 제1 단위 구간(S11, S12, S13)의 제1 기준점(P11, P12, P13)과 제2 단위 구간(S21, S22, S23)의 제2 기준점(P21, P22, P23)은 기준 거리(L)만큼 이격되어야 한다. 이에, 매칭 모듈(22)은 매칭용 카메라들(25, 27)에 의해 촬영된 촬영 이미지들을 기준으로 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각마다 당해 단위 영역(A1, A2, A3)에 속하는 제1 단위 구간(S11, S12, S13)의 제1 기준점(P11, P12, P13)과 제2 단위 구간(S21, S22, S23)의 제2 기준점(P21, P22, P23)이 실제로 기준 거리(L)만큼 이격되어 있는지 확인한다. 또한, 매칭 모듈(22)은, 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각마다 당해 단위 영역(A1, A2, A3)에 속하는 제1 단위 구간(S11, S12, S13)의 제1 기준점(P11, P12, P13)과 제2 단위 구간(S21, S22, S23)의 제2 기준점(P21, P22, P23)이 실제로 기준 거리(L)만큼 이격된다고 확인되면, 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각마다 당해 단위 영역(A1, A2, A3)에 속하는 제1 단위 구간(S11, S12, S13)의 제1 기준점(P11, P12, P13)과 제2 단위 구간(S21, S22, S23)의 제2 기준점(P21, P22, P23)을 1:1로 매칭한다.
다음으로, 가공 유닛(30)은, 가공 대상물(P)에 외력을 인가하여, 가공 대상물(P)을 이용해 제조하고자 하는 제품의 특성에 맞춰 가공 대상물(P)을 가공할 수 있게 마련된다.
가공 유닛(30)을 이용해 실시 가능한 가공의 종류는 특별히 한정되지 않는다. 예를 들어, 가공 유닛(30)은, 가공 대상물(P)에 인장력을 인가하여 가공 대상물(P)을 연신시키는 연신 공정과, 가공 대상물(P)을 가압하여 압연하는 압연 공정 등을 실시 가능하게 마련될 수 있다.
도 4를 참조하면, 연신 공정을 실시하고자 하는 경우에, 가공 유닛(30)은, 가공 대상물(P)을 가열하는 적어도 하나의 가열 롤러(32, 33, 34)와, 가열 롤러(32, 33, 34)에 의해 가열된 가공 대상물(P)에 상기 길이 방향으로 인장력을 인가하여 가공 대상물(P)을 상기 길이 방향으로 연신시키는 적어도 하나의 연신 롤러(35, 36) 등을 포함하는 연신기(31)를 가질 수 있다. 이처럼 연신기(31)는 가공 대상물(P)을 상기 길이 방향으로 연신시키는 종연신(Longitudinal stretching)을 실시 가능하게 마련되는 것이 바람직하나, 이에 한정되는 것은 아니다. 즉, 연신기(31)는 가공 대상물(P)을 상기 폭 방향으로 연신시키는 횡연신(Transverse streching)을 실시하거나 종연신과 횡연신을 모두 실시 가능하게 마련될 수도 있다. 이러한 연신기(31)는 통상적으로 사용되는 연신기와 동일한 구성을 가지므로, 연신기(31)의 구조에 대한 보다 자세한 설명은 생략하기로 한다.
가공 유닛(30)이 이러한 연신기(31)를 구비하는 경우에, 매칭 유닛(20)을 통과한 검사 영역(A0)은 연신기(31)에서 연신된 후 후술할 측정 유닛(40)에 전달될 수 있다.
도 5를 참조하면, 압연 공정을 실시하고자 하는 경우에, 가공 유닛(30)은, 가공 대상물(P)을 상하 방향으로 가압하는 한 쌍의 압연 롤러들(38, 39)을 포함하는 압연기(37)를 가질 수 있다. 압연기(37)는 통상적으로 사용되는 압연기와 동일한 구성을 가지므로, 압연기(37)의 구조에 대한 보다 자세한 설명은 생략하기로 한다.
가공 유닛(30)이 이러한 압연기(37)를 구비하는 경우에, 매칭 유닛(20)을 통과한 검사 영역(A0)은 압연기(37)에서 압연된 후 후술할 측정 유닛(40)에 전달될 수 있다.
다음으로, 측정 유닛(40)은, 가공 유닛(30)을 통과한 검사 영역(A0)을 대상으로, 1:1로 매칭된 제1 단위 구간(S11, S12, S13)과 제2 단위 구간(S21, S22, S23) 사이의 거리를 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각마다 개별적으로 측정 가능하게 마련된다.
도 1에 도시된 바와 같이, 측정 유닛(40)은, 이송 롤러, 기타 가공 장치(1)에 구비된 이송 부재에 의해 이송된 검사 영역(A0)을 가공 유닛(30)으로부터 전달받을 수 있도록 가공 유닛(30)에 비해 상기 길이 방향으로 소정의 거리만큼 이격되도록 설치된다.
측정 유닛(40)의 구조는 특별히 한정되지 않는다. 예를 들어, 도 1에 도시된 바와 같이, 측정 유닛(40)은, 측정 유닛(40)에 도달된 검사 영역(A0) 상에서 제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2)을 촬영하는 측정용 촬영기(41)와, 측정용 촬영기(41)에 의해 촬영된 촬영 이미지를 기준으로 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각마다 매칭 모듈(22)에 의해 1:1로 매칭된 제1 단위 구간(S11, S12, S13)과 제2 단위 구간(S21, S22, S23) 사이의 거리를 측정하는 측정 모듈(42) 등을 가질 수 있다.
또한, 측정용 촬영기(41)는, 제1 측정용 촬영기(43)와, 제2 측정용 촬영기(44) 등을 가질 수 있다.
제1 측정용 촬영기(43)는, 이송 롤러, 기타 가공 장치(1)에 구비된 이송 부재에 의해 측정 유닛(40)까지 이송된 검사 영역(A0) 상에서 제1 기준선(L1)을 선택적으로 촬영 가능하게 마련된다. 이러한 제1 측정용 촬영기(43)는, 제1 기준선(L1)을 촬영하기 위한 제1 측정용 카메라(45)와, 제1 측정용 카메라(45)를 미리 정해진 방향으로 이송하기 위한 제1 카메라 드라이버(46) 등을 가질 수 있다.
제1 측정용 카메라(45)의 설치 대수는 특별히 한정되지 않는다. 예를 들어, 도 1에 도시된 바와 같이, 제1 측정용 카메라(45)에는 단위 영역(A1, A2, A3)의 설정 개수와 동일한 개수의 제1 측정용 카메라들(45)이 설치될 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며, 제1 측정용 카메라(45)가 이동하면서 제1 기준선(L1)을 촬영하도록 제1 측정용 촬영기(43)가 마련되는 경우에, 제1 측정용 촬영기(43)에는 하나의 제1 측정용 카메라(45)만 설치될 수도 있다. 이하에서는, 단위 영역(A1, A2, A3)의 설정 개수와 동일한 개수의 제1 측정용 카메라들(45)이 설치되는 경우를 기준으로 본 발명을 설명하기로 한다.
제1 카메라 드라이버(46)는, 제1 측정용 카메라들(45)을 각각 상기 폭 방향 또는 상기 폭 방향의 반대 방향으로 개별적으로 이송하는 제1 이송 부재(46a)와, 제1 이송 부재(46a) 및 제1 이송 부재(46a)에 결합된 제1 측정용 카메라들(45)을 상기 길이 방향 또는 상기 길이 방향의 반대 방향으로 이송하는 제2 이송 부재(46b) 등을 가질 수 있다.
제1 카메라 드라이버(46)는, 제1 측정용 카메라들(45) 각각을, 제1 기준선(L1)의 제1 단위 구간들(S11, S12, S13) 중 당해 제1 측정용 카메라(45)와 대응되는 어느 하나의 제1 단위 구간(S11, S12, S13)을 촬영 가능한 위치로 이송할 수 있다. 이 경우에, 제1 측정용 카메라들(45) 각각에 의해 촬영된 촬영 이미지에는 당해 제1 측정용 카메라(45)에 의해 촬영된 제1 단위 구간(S11, S12, S13)의 제1 기준점(P11, P12, P13)이 위치하게 된다. 이에, 측정 모듈(42)은, 제1 측정용 카메라(45)에 의해 촬영된 촬영 이미지를 기준으로 제1 단위 구간들(S11, S12, S13) 각각의 제1 기준점(P11, P12, P13)의 위치를 특정할 수 있다.
제2 측정용 촬영기(44)는, 이송 롤러, 기타 가공 장치(1)에 구비된 이송 부재에 의해 측정 유닛(40)까지 이송된 검사 영역(A0) 상에서 제2 기준선(L2)을 선택적으로 촬영 가능하게 마련된다. 이를 위하여, 도 1에 도시된 바와 같이, 제2 측정용 촬영기(44)는, 제1 측정용 촬영기(43)에 비해 상기 길이 방향으로 기준 거리(L)만큼 이격되도록 설치될 수 있다.
이러한 제2 측정용 촬영기(44)는, 제2 기준선(L2)을 촬영하기 위한 제2 측정용 카메라(47)와, 제2 측정용 카메라(47)를 미리 정해진 방향으로 이송하기 위한 제2 카메라 드라이버(48) 등을 가질 수 있다.
제2 측정용 카메라(47)의 설치 대수는 특별히 한정되지 않는다. 예를 들어, 도 1에 도시된 바와 같이, 제2 측정용 촬영기(44)에는 단위 영역(A1, A2, A3)의 설정 개수와 동일한 개수의 제2 측정용 카메라들(47)이 설치될 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며, 제2 측정용 카메라(47)가 이동하면서 제2 기준선(L2)을 촬영하도록 제2 측정용 촬영기(44)가 마련되는 경우에, 제2 측정용 촬영기(44)에는 하나의 제2 측정용 카메라(47)만 설치될 수도 있다. 이하에서는, 단위 영역(A1, A2, A3)의 설정 개수와 동일한 개수의 제2 측정용 카메라들(47)이 설치되는 경우를 기준으로 본 발명을 설명하기로 한다.
제2 카메라 드라이버(48)는, 제2 측정용 카메라(47)를 상기 폭 방향 또는 상기 폭 방향의 반대 방향으로 개별적으로 이송하는 제1 이송 부재(48a)와, 제1 이송 부재(48a) 및 제1 이송 부재(48a)에 결합된 제2 측정용 카메라들(47)을 상기 길이 방향 또는 상기 길이 방향의 반대으로 이송하는 제2 이송 부재(48b) 등을 가질 수 있다.
제2 카메라 드라이버(48)는, 제2 측정용 카메라들(47) 각각을, 제2 기준선(L2)의 제2 단위 구간들(S21, S22, S23) 중 당해 제2 측정용 카메라(47)와 대응되는 어느 하나의 제2 단위 구간(S21, S22, S23)을 촬영 가능한 위치로 이송할 수 있다. 예를 들어, 제2 카메라 드라이버(48)는, 제2 측정용 카메라들(47) 각각을, 제1 측정용 카메라들(45) 중 당해 제2 측정용 카메라(47)와 대응되는 어느 하나의 제1 측정용 카메라(45)로부터 상기 길이 방향으로 기준 거리(L) 또는 기준 거리(L)에 비해 미리 정해진 비율만큼 조절된 제2 기준 거리만큼 이격되되 상기 어느 하나의 제1 측정용 카메라(45)와 상기 폭 방향 좌표가 동일한 위치로 이송할 수 있다.
제2 기준 거리는 특별히 한정되지 않으며, 가공 장치(1)를 장시간 동안 사용하여 수집된 데이터를 기준으로 제2 측정용 카메라들(47)의 촬영 중심점들과 제2 단위 구간들(S21, S22, S23)의 제2 기준점들(P21, P22, P23) 사이의 평균 거리가 최소가 될 것으로 예측되는 거리가 제2 기준 거리로 설정되는 것이 바람직하다.
이처럼 제2 카메라 드라이버(48)에 의해 제2 측정용 카메라들(47)이 이송되는 경우에, 제2 측정용 카메라들(47) 각각에 의해 촬영된 촬영 이미지에는 당해 제2 측정용 카메라(47)에 의해 촬영된 제2 단위 구간(S21, S22, S23)의 제2 기준점(P21, P22, P23)이 위치하게 된다. 이에, 측정 모듈(42)은, 제2 측정용 카메라(47)에 의해 촬영된 촬영 이미지를 기준으로 제2 단위 구간들(S21, S22, S23) 각각의 제2 기준점(P21, P22, P23)의 위치를 특정할 수 있다.
또한, 측정 모듈(42)은, 위와 같이 특정된 제1 단위 구간들(S11, S12, S13) 각각의 제1 기준점(P11, P12, P13)의 위치와 제2 단위 구간들(S21, S22, S23) 각각의 제2 기준점(P21, P22, P23)의 위치를 기준으로, 매칭 유닛(20)에 의해 1:1로 매칭된 제1 기준점(P11, P12, P13)과 제2 기준점(P21, P22, P23) 사이의 거리를 측정할 수 있다. 즉, 측정 모듈(42)은, 서로 동일한 영역에 속하는 제1 단위 구간(S11, S12, S13)의 제1 기준점(P11, P12, P13)과 제2 단위 구간(S21, S22, S23)의 제2 기준점(P21, P22, P23) 사이의 거리를, 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각마다 개별적으로 측정하는 것이다.
다음으로, 특정 유닛(50)은, 측정 모듈(42)에 의해 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각에 대해 개별적으로 측정된 제1 단위 구간(S11, S12, S13)과 제2 단위 구간(S21, S22, S23) 사이의 거리를 기준으로, 단위 영역들(A1, A2, A3) 중 이상 상태로 가공된 이상 가공 영역을 특정 가능하게 마련된다.
가공 유닛(30)에서 검사 영역(A0)이 인장력, 가압력, 기타 외력에 의해 가공될 때, 단위 영역들(A1, A2, A3)에 불균일하게 외력이 인가되면, 외력에 의해 단위 영역들(A1, A2, A3)의 길이가 변화되는 정도는 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각마다 상이할 수 있다. 이에, 측정 유닛(40)에 의해 측정된 제1 기준점(P11, P12, P13)과 제2 기준점(P21, P22, P23) 사이의 거리는 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각마다 서로 상이할 수 있다.
이러한 가공 대상물(P)의 가공 양상을 고려하여, 특정 유닛(50)은, 측정 모듈(42)에 의해 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각에 대해 개별적으로 측정된 제1 단위 구간(S11, S12, S13)의 제1 기준점(P11, P12, P13)과 제2 단위 구간(S21, S22, S23)의 제2 기준점(P21, P22, P23) 사이의 거리를 기준으로, 단위 영역들(A1, A2, A3) 중 어느 단위 영역(A1, A2, A3)에 미리 정해진 기준 외력 범위 미만이거나 기준 외력 범위를 초과하는 이상치의 외력이 인가되었는지 특정할 수 있다.
예를 들어, 특정 유닛(50)은, 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각마다 제1 기준점(P11, P12, P13)과 제2 기준점(P21, P22, P23) 사이의 거리가 기준 거리(L)에 비해 어느 정도의 변위량(Δ1, Δ2, Δ3)만큼 변화되었는지를 분석한 후, 상기 변위량(Δ1, Δ2, Δ3)이 미리 정해진 기준 변위 범위 미만이거나 기준 변위 범위를 초과하는 단위 영역(A1, A2, A3)은 상기 이상치로 인가된 외력으로 인해 이상 상태로 가공된 이상 가공 영역이라고 특정할 수 있다. 즉, 특정 유닛(50)은, 단위 영역들(A1, A2, A3) 중 제1 기준점(P11, P12, P13)과 제2 기준점(P21, P22, P23) 사이의 거리가 미리 정해진 이상 거리에 해당하는 단위 영역을 이상 가공 영역이라고 특정하는 것이다.
이처럼 특정 유닛(50)에 의해 이상 가공 영역이 특정되면, 제어기(60) 또는 작업자는 특정 유닛(50)에 의해 이상 가공 영역으로 특정된 단위 영역(A1, A2, A3)에 인가되는 외력이 상기 기준 외력 범위에 속하도록 가공 유닛(30)에 포함된 부품들에 대해 조절, 제어, 교체 및 보수 등의 관리 작업을 실시함으로써, 가공 대상물(P)의 후속 가공 시 특정 유닛(50)에 의해 이상 가공 영역으로 특정되었던 단위 영역(A1, A2, A3)에 대응하는 부분을 상기 변위량이 상기 기준 변위 범위에 속하는 정상 상태로 가공시킬 수 있다.
도 6은 도 1에 도시된 가공 장치(1)를 이용해 가공 대상물(P)을 가공하는 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
이하에서는, 도면을 참조하여, 가공 장치(1)를 이용해 가공 대상물(P)을 가공하는 방법을 설명하기로 한다.
먼저, 마킹 유닛(10)을 이용해, 공급 롤, 기타 공급 부재로부터 공급된 가공 대상물(P)의 미리 정해진 검사 영역(A0)에 제1 기준선(L1) 및 제2 기준선(L2)을 미리 정해진 기준 거리(L)를 두고 마킹한다(S 10).
다음으로, 매칭 유닛(20)을 이용해, 검사 영역(A0)의 미리 정해진 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각마다 당해 단위 영역(A1, A2, A3)에 포함된 제1 기준선(L1)의 제1 단위 구간(S11, S12, S13)과 제2 기준선(L2)의 제2 단위 구간(S21, S22, S23)을 1:1로 매칭한다(S 20).
이후에, 가공 유닛(30)을 이용해, 검사 영역(A0)에 외력을 인가하여 검사 영역을 가공한다(S 30).
다음으로, 측정 유닛(40)을 이용해, 단위 영역들(A1, A2, A3) 각각마다 당해 단위 영역(A1, A2, A3)에 포함된 제1 기준선(L1)의 제1 단위 구간(S11, S12, S13)과 제2 기준선(L2)의 제2 단위 구간(S21, S22, S23) 사이의 거리를 측정한다(S 40).
이후에, 특정 유닛(50)을 이용해, 단위 영역들(A1, A2, A3) 중 가공 유닛(30)에 의해 가공되어 변화된 제1 단위 구간(S11, S12, S13)과 제2 단위 구간(S21, S22, S23) 사이의 거리가 이상 거리에 해당하는 영역을, 가공 유닛(30)으로부터 불균일하게 인가된 외력으로 인해 이상 상태로 가공된 이상 가공 영역으로 특정한다(S 50).
다음으로, 제어기(60)를 이용해, 이상 가공 영역이 정상 상태로 가공될 수 있도록 가공 유닛(30)을 조절 및 제어한다(S 60).
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다.
따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
1: 가공 장치
10 : 마킹 유닛
11 : 제1 마킹기
12 : 제2 마킹기
13 : 제1 레이저 헤드
14 : 제1 헤드 드라이버
14a : 제1 이송 부재
14b : 제2 이송 부재
15 : 제2 레이저 헤드
16 : 제2 헤드 드라이버
16a : 제1 이송 부재
16b : 제2 이송 부재
20 : 매칭 유닛
21 : 매칭용 촬영기
22 : 매칭 모듈
23 : 제1 매칭용 촬영기
24 : 제2 매칭용 촬영기
25 : 제1 매칭용 카메라
26 : 제1 카메라 드라이버
26a : 제1 이송 부재
26b : 제2 이송 부재
27 : 제2 매칭용 카메라
28 : 제2 카메라 드라이버
28a : 제1 이송 부재
28b : 제2 이송 부재
30 : 가공 유닛
31 : 연신기
32, 33, 34 : 가열 롤러
35, 36 : 연신 롤러
37 : 압연기
38, 39 : 압연 롤러
40 : 측정 유닛
41 : 측정용 촬영기
42 : 측정 모듈
43 : 제1 측정용 촬영기
44 : 제2 측정용 촬영기
45 : 제1 측정용 카메라
46 : 제1 카메라 드라이버
46a : 제1 이송 부재
46b : 제2 이송 부재
47 : 제2 측정용 카메라
48 : 제2 카메라 드라이버
48a : 제1 이송 부재
48b : 제2 이송 부재
50 : 특정 유닛
60 : 제어기
P : 가공 대상물
A0 : 검사 영역
A1, A2, A3 : 단위 영역
L1 : 제1 기준선
S11, S12, S13: 제1 단위 구간
P11, P12, P13 : 제1 기준점
L2 : 제2 기준선
S21, S22, S23 : 제2 단위 구간
P21, P22, P23 : 제2 기준점

Claims (12)

  1. 가공 대상물의 미리 정해진 검사 영역에 제1 기준선 및 제2 기준선을 미리 정해진 일방향으로 미리 정해진 기준 거리만큼 서로 이격되도록 상기 일방향과 수직을 이루는 타방향을 따라 평행하게 마킹하는 마킹 유닛;
    상기 제1 기준선과 상기 제2 기준선이 마킹된 상기 검사 영역에 외력을 인가하여, 상기 검사 영역을 가공하는 가공 유닛;
    상기 검사 영역이 상기 가공 유닛에 의해 가공된 상태에서, 상기 검사 영역에 상기 타방향을 따라 미리 정해진 간격을 두고 설정된 단위 영역들 각각마다 당해 단위 영역에 포함된 상기 제1 기준선의 제1 단위 구간과 상기 제2 기준선의 제2 단위 구간이 상기 일방향으로 서로 이격된 거리를 개별적으로 측정하는 측정 유닛; 및
    상기 측정 유닛에 의해 상기 단위 영역들 각각마다 측정된 상기 제1 단위 구간과 상기 제2 단위 구간이 상기 일방향으로 서로 이격된 거리를 기준으로, 상기 단위 영역들 중 이상 상태로 가공된 이상 가공 영역을 특정하는 특정 유닛을 포함하는, 가공 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 마킹 유닛과 상기 가공 유닛 사이에 설치되며, 상기 단위 영역들 중 서로 동일한 단위 영역에 속하는 상기 제1 단위 구간과 상기 제2 단위 구간을 1:1로 매칭하는 매칭 유닛을 더 포함하고,
    상기 측정 유닛은, 상기 매칭 유닛에 의해 1:1로 매칭된 상기 제1 단위 구간과 상기 제2 단위 구간이 상기 일방향으로 서로 이격된 거리를 상기 단위 영역들 각각마다 개별적으로 측정하는, 가공 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 매칭 유닛은, 상기 단위 영역들 중 서로 동일한 단위 영역에 속하는 제1 기준점과 제2 기준점이 상기 일방향으로 상기 기준 거리만큼 서로 이격되도록, 상기 제1 기준선 상의 제1 단위 구간들 각각마다 상기 제1 기준점을 설정함과 함께 상기 제2 기준선 상의 제2 단위 구간들 각각마다 상기 제2 기준점을 설정하고,
    상기 측정 유닛은, 상기 단위 영역들 각각마다 상기 제1 기준점과 상기 제2 기준점이 상기 일방향으로 서로 이격된 거리를 개별적으로 측정하며,
    상기 특정 유닛은, 상기 단위 영역들 중 상기 측정 유닛에 의해 측정된 상기 제1 기준점과 상기 제2 기준점이 상기 일방향으로 서로 이격된 거리가 미리 정해진 이상 거리에 해당하는 단위 영역을 상기 이상 가공 영역으로 특정하는, 가공 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 매칭 유닛은, 상기 제1 기준선과 상기 제2 기준선을 촬영하는 매칭용 카메라와, 상기 매칭용 카메라에 의해 촬영된 촬영 이미지를 기준으로 상기 제1 단위 구간들 각각마다 제1 기준점을 설정함과 함께 상기 제2 단위 구간들 각각마다 제2 기준점을 설정하는 매칭 모듈을 구비하는, 가공 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 매칭용 카메라는, 상기 제1 기준선을 촬영하는 제1 매칭용 카메라와, 상기 제1 매칭용 카메라로부터 상기 일방향으로 상기 기준 거리만큼 이격되며, 상기 제2 기준선을 촬영하는 제2 매칭용 카메라를 갖는, 가공 장치.
  6. 제3항에 있어서,
    상기 측정 유닛은, 상기 제1 기준선 및 상기 제2 기준선을 촬영하는 측정용 카메라와, 상기 측정용 카메라에 의해 촬영된 촬영 이미지를 기준으로 상기 단위 영역들 각각마다 상기 제1 기준점과 상기 제2 기준점이 상기 일방향으로 서로 이격된 거리를 개별적으로 측정하는 측정 모듈을 구비하는, 가공 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 측정용 카메라는, 상기 제1 기준선을 촬영하는 제1 측정용 카메라와, 상기 제1 측정용 카메라로부터 상기 일방향으로 상기 기준 거리만큼 이격되며, 상기 제2 기준선을 촬영하는 제2 측정용 카메라를 갖는, 가공 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 마킹 유닛은, 레이저빔을 생성하여 발진하는 레이저 발진기와, 상기 레이저 발진기로부터 전달된 레이저빔을 상기 검사 영역에 조사하여, 상기 제1 기준선과 상기 제2 기준선을 레이저 마킹하는 레이저 헤드를 구비하는, 가공 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 가공 유닛은, 상기 가공 대상물을 압연 가공하는 압연기를 구비하는, 가공 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 가공 유닛은, 상기 가공 대상물을 연신 가공하는 연신기를 구비하는, 가공 장치.
  11. 삭제
  12. 제1항에 있어서,
    상기 특정 유닛에 의해 상기 이상 가공 영역으로 특정된 단위 영역이 정상 상태로 가공되도록 상기 가공 유닛을 제어하는 제어기를 더 포함하는, 가공 장치.
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