KR102418763B1 - 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치 및 파우치의 실링부 두께 측정방법 - Google Patents

이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치 및 파우치의 실링부 두께 측정방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치 및 파우치의 실링부 두께 측정방법을 제공하는 것을 목적으로 하는 것으로, 본 발명의 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치의 구성은 이차전지용 파우치의 실링부(2S) 하면에 접촉되는 하부 프로브(30); 상기 파우치의 실링부(2S) 상면에 접촉되는 상부 프로브(20);를 포함하며, 상기 하부 프로브(30)는 상기 실링부(2S)의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)과 상기 실링부(2S)의 하면 사이의 두께 편차를 측정하도록 상기 실링부(2S)의 하면으로 전진하여 접촉되고, 상기 상부 프로브(20)는 상기 실링부(2S)의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)과 상기 실링부(2S)의 상면 사이의 두께 편차를 측정하도록 상기 실링부(2S)의 상면으로 전진하여 접촉되는 것을 특징으로 한다.

Description

이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치 및 파우치의 실링부 두께 측정방법{Secondary battery pouch sealing part thickness measuring assembly and pouch sealing part thickness measuring method}
본 발명은 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치 및 파우치의 실링부 두께 측정방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 이차전지 파우치의 실링부 두께를 정밀하게 측정할 수 있도록 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치 및 파우치의 실링부 두께 측정방법에 관한 것이다.
일반적으로, 파우치형 이차전지는 알루미늄 라미네이트 시트가 접합되어 이루어진 파우치에 전극조립체를 내장한 구조의 전지를 말한다. 파우치형 이차전지는 파우치와 상기 파우치의 전기적 연결을 위해 구비되는 전극탭을 포함한다. 상기 파우치는 개방되어진 상태에서 전해액이 주입되고, 상기 전극탭은 파우치의 외측으로 돌출되도록 파우치 내부의 전극으로부터 연장 형성된 상태에서 파우치가 밀폐되도록 실링되는 실링부가 형성된다.
이때, 이차전지 파우치에서 실링부의 두께 측정이 정확하게 이루어지지 못하면 파우치의 불량 여부 등을 제대로 알아내기가 어려우므로 이차전지 파우치의 실링부에 대한 정밀한 두께 측정이 중요하다. 파우치의 두께 측정이 제대로 되지 않아서 불량 여부 등을 제대로 파악하지 못할 경우 파우치 내부에서 예를 들어 가스가 찾을 때에 이차전지가 터질 수 있는 경우가 생기므로, 이차전치 파우치의 실링부에 대한 정밀한 두께 측정이 매우 중요하다. 이차전지 사용중에 파우치 내부에서 가스가 발생해서 차는 경우는 많지 않지만 파우치의 실링부 두께가 제대로 측정되지 않은 두께 불량 파우치를 사용한다면, 파우치 내부에서 가스가 찰 경우 이차전지가 터지는 것과 같은 문제가 생길 수 있으므로, 이차전지 파우치의 실링부 두께 측정이 매우 중요하다.
이차전지 파우치의 실링부 두께는 실링부의 여러 지점에서 측정한다. 적어도 파우치의 실링부의 3~5 군데 위치에서 두께 측정을 한다. 이때, 두께 측정 정확도는 적어도 1㎛ 정도로 확보하여야 한다.
그런데, 기존에는 측정 기준면에 측정용 프로브를 접촉시켜서 측정 기준면을 제로 셋팅(Zero setting : 영점 셋팅)한 상태에서 측정 기준면에 파우치의 실링부를 올려놓고 측정용 프로브를 파우치 실링면에 접촉시켜서 두께를 측정하는데, 파우치 실링면의 변형으로 인한 측정 오차가 발생하는 문제가 있다.
밀착 유닛을 사용하더라도 실링부의 강성으로 인하여 프로브의 밀착이 부정확하기 때문에, 실링부의 두께 측정이 제대로 되지 못한다.
또한, 기존에는 기준면의 상하 이동시에 반복 정밀도 문제가 발생한다. 실링부 두께 측정 기준면이 상하 이동을 반복하다보면 오차가 많이 생겨서 그만큼 실링부 두께 측정에 있어서 오차가 많이 생기게 된다.
마이크로 미터 단위로 파우치의 실링부 두께를 정확하게 측정해야 하는데, 파우치의 실링부가 용융되서 붙어서 만들어지기 때문에, 강성이 있고, 이러한 강성이 있는 실링부를 측정용 프로브에 의해서 누르더라도 두께가 정확하게 측정이 되어야 한다.
그러나, 파우치의 실링부의 강성으로 인하여 측정용 프로브와 파우치의 실링부 사이의 간극이 생기는데, 기존에는 이러한 간극으로 인한 두께 측정 오차를 극복하지 못하여 실링부 두께가 정확하게 측정되기 쉽지 않은 문제가 있다.
한국공개특허 제10-2012-0126932호(2012년11월21일 등록) 한국공개특허 제10-2016-0133041호(2016년11월22일 등록)
본 발명은 전술한 바와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 이차전지 파우치의 실링부 두께를 정밀하게 측정할 수 있는 파우치의 실링부 두께 측정 장치 및 파우치의 실링부 두께 측정방법을 제공하고자 하는 것이다. 본 발명은 파우치의 변형된 실링면에 대해서도 정확한 측정이 가능한 파우치의 실링부 두께 측정 장치와 파우치의 실링부 두께 측정방법을 제공하고자 한다.
상기와 같은 과제를 해결하기 위한 본 발명에 의하면, 이차전지용 파우치의 실링부 하면에 접촉되는 하부 프로브; 상기 파우치의 실링부 상면에 접촉되는 상부 프로브;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치가 제공된다.
상기 하부 프로브는 상기 실링부의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점과 상기 실링부의 하면 사이의 두께 편차를 측정하도록 상기 실링부의 하면으로 전진하여 접촉되고, 상기 상부 프로브는 상기 실링부의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점과 상기 실링부의 상면 사이의 두께 편차를 측정하도록 상기 실링부의 상면으로 전진하여 접촉되는 것을 특징으로 한다.
상기 하부 프로브의 상단부는 하부 콘택트부로 구성되고, 상기 상부 프로브의 하단부는 상부 콘택트부로 구성되어, 상기 하부 콘택트부와 상기 상부 콘택트부가 상기 파우치의 실링부의 하면과 상면에 각각 접촉된 것을 특징으로 한다.
상기 상부 프로브의 상부 콘택트부와 상기 하부 프로브의 하부 콘택트부가 상기 파우치의 실링부의 상면과 저면에 각각 접촉시키는 상부 콘택트 작동부와 하부 콘택트 작동부를 포함하고, 상기 하부 콘택트부가 상기 상부 콘택트부에 비하여 상기 파우치의 실링부를 상대적으로 더 큰 힘으로 접촉되도록 작동시키는 것을 특징으로 한다.
상기 하부 프로브와 상기 상부 프로브 사이에 배치되며 두께가 정해져 있는 측정 기준 지그;를 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
상기 측정 기준 지그에 상기 하부 프로브의 상단부와 상기 상부 프로브의 하단부가 접촉되어 파우치의 실링부의 두께 측정 기준면을 설정하고, 상기 측정 기준 지그를 치우고 상기 하부 프로브의 상단부와 상부 프로브의 하단부가 각각 상기 파우치의 실링부의 하면과 상면에 접촉된 상태로 상기 파우치의 실링부의 두께를 측정하도록 구성된 것을 특징으로 한다.
상기 파우치는 스탠드에 거치된 상태에서 상기 파우치의 실링부의 하면과 상면에 각각 상기 하부 프로브의 상단부와 상부 프로브의 하단부가 접촉되어 상기 실링부의 두께를 측정하도록 구성된 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정을 위한 제로 셋팅점을 셋팅하는 단계; 상기 하부 프로브의 상단부와 상기 상부 프로브의 상단부를 상기 파우치의 상기 실링부 하면과 상면에 각각 접촉시켜서 상기 제로 셋팅점을 기준으로 하부 프로브 측정값과 상기 상부 프로브 측정값을 취득하여 상기 파우치의 실링부의 두께를 측정하는 단계;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정방법이 제공된다.
상기 하부 프로브의 상단부와 상기 상부 프로브의 상단부를 접촉시켜서 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정을 위한 제로 셋팅점을 셋팅하고, 상기 하부 프로브의 상단부가 상기 실링부의 하면에 접촉된 상태에서 상기 제로 셋팅점을 기준으로 하부 프로브 측정값을 구하고, 상기 상부 프로브의 하단부가 상기 실링부의 상면에 접촉된 상태에서 상기 제로 셋팅점을 기준으로 상부 프로브 측정값을 구하도록 구성된 것을 특징으로 한다.
상기 하부 프로브 측정값과 상기 상부 프로브 측정값을 합산하여 파우치의 실링부의 두께를 측정한다.
상기 하부 프로브와 상기 상부 프로브 사이에 두께가 정해져 있는 측정 기준 지그를 배치시켜서 상기 파우치의 실링부의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점을 정하고, 상기 제로 셋팅점을 기준으로 하부 프로브 측정값과 상기 상부 프로브 측정값을 취득하여 상기 파우치의 실링부의 두께를 측정하도록 구성된 것을 특징으로 한다.
상기 하부 프로브와 상단부와 상기 상부 프로브의 하단부 사이에 상기 측정 기준 지그를 치우고, 상기 하부 프로브의 상단부가 상기 실링부의 하면에 접촉된 상태에서 상기 제로 셋팅점을 기준으로 하부 프로브 측정값을 구하고, 상기 상부 프로브의 하단부가 상기 실링부의 상면에 접촉된 상태에서 상기 제로 셋팅점을 기준으로 상부 프로브 측정값을 구하도록 구성된 것을 특징으로 한다.
상기 기준 측정 지그의 두께를 기준으로 하부 제로 셋팅점과 상부 제로 셋팅점이 정해지며, 상기 하부 제로 셋팅점에서 상기 하부 프로브의 상단부가 상기 파우치의 실링부에 접촉되도록 올라온 거리와 상기 상부 제로 셋팅점에서 상기 상부 프로브의 상단부가 상기 파우치의 실링부에 접촉되도록 내려온 거리를 상기 기준 측정 지그의 두께에서 차감하여 상기 파우치의 실링부의 두께를 측정한다.
본 발명의 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치 및 파우치의 실링부 두께 측정방법은 파우치의 실링부의 변형으로 인한 측정 오차가 발생하는 문제를 해결하고, 밀착 유닛을 사용하지 않더라도 실링부의 강성으로 인하여 상부 프로브와 하부 프로브의 밀착이 부정확해지는 경우를 방지하므로, 실링부의 두께 측정이 제대로 될 수 있으며, 두께 측정 기준면의 상하 이동으로 인한 반복 정밀도 문제가 발생하는 경우도 방지하는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 의한 이차전지용 파우치의 실링부 두께를 측정할 때에 두께 측정 지점을 보여주는 평면도
도 2는 종래 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정을 위한 제로 셋팅점을 설정하는 과정을 보여주는 도면
도 3은 종래 이차전지용 파우치 실링부의 두께를 측정하는 과정을 보여주는 도면
도 4는 종래 이차전지용 파우치의 변형된 실링부의 두께를 측정할 때에 두께 측정 오차가 발생되는 경우를 보여주는 도면
도 5는 종래 측정 기준면의 상하 이동으로 인한 반복 정밀도 문제가 생기는 경우를 보여주는 도면
도 6은 본 발명에 의한 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치의 주요부를 보여주는 정면도
도 7은 본 발명에 의한 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치에 의해 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정을 위한 제로 셋팅점을 설정하는 과정을 보여주는 도면
도 8은 본 발명에 의한 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치에 의해 파우치의 실링부 두께를 측정하는 과정을 보여주는 도면
도 9는 본 발명에 의한 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치에 의해 파우치의 변형된 실링부에 대한 정확한 두께 측정이 가능한 상태를 보여주는 도면
도 10은 본 발명에 의한 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치의 주요부인 측정 기준 지그에 의해 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정을 위한 제로 셋팅점을 설정하는 과정을 보여주는 도면
도 11은 도 10에 도시된 측정 기준 지그에 의해 측정 기준점인 제로 셋팅점을 설정한 상태에서 상부 프로브와 하부 프로브에 의해 파우치의 변형된 실링부에 대한 정확한 두께 측정이 가능한 상태를 보여주는 도면
도 12는 파우치의 실링부를 상부 프레싱편과 하부 프레싱편에 의해 누른 상태에서 파우치의 실링부에 변형이 생긴 상태를 개략적으로 보여주는 도면
도 13은 본 발명의 다른 실시예의 주요부인 하부 프로브에 의해 파우치의 변형된 실링부를 평탄면으로 펴주어서 실링부의 두께를 오차 없이 측정하는 과정을 개략적으로 보여주는 도면
도 14는 본 발명의 다른 실시예의 주요부인 상부 프로브에 의해 파우치의 변형된 실링부를 평탄면으로 펴주어서 실링부의 두께를 오차 없이 측정하는 과정을 개략적으로 보여주는 도면
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세히 설명한다. 상기 본 발명의 목적과 특징 및 장점은 첨부도면 및 다음의 상세한 설명을 참조함으로써 더욱 쉽게 이해될 수 있을 것이다. 도면에서 동일 부분에 대해서는 동일 부호를 사용한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
도면을 참조하면, 본 발명의 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치는 이차전지용 파우치의 실링부(2S) 하면에 접촉되는 하부 프로브(30)와, 상기 파우치의 실링부(2S)의상면에 접촉되는 상부 프로브(20)를 구비한다.
상기 상부 프로브(20)의 하단부는 상부 콘택트부(22)로 구성되고, 상기 하부 프로브(30)의 상단부는 하부 콘택트부(32)로 구성된다. 상부 콘택트부(22)와 하부 콘택트부(32)는 반구 형상으로 구성된다. 상기 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)는 상부 콘택트 작동부와 하부 콘택트 작동부에 의해 승강되도록 구성된다.
메인 프레임에 상부 프로브 마운팅 패널과 하부 프로브 마운팅 패널이 상하 방향으로 슬라이드 가능하게 결합되고, 상기 상부 프로브 마운팅 패널과 하부 프로브 마운팅 패널에 각각 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)가 장착될 수 있다.
상기 메인 프레임에 상부 콘택트 작동부와 하부 콘택트 작동부가 장착되어, 상기 상부 프로브 마운팅 패널과 상부 프로브(20)를 상부 콘택트 작동부에 의해 승강시키고, 상기 하부 프로브 마운팅 패널과 하부 프로브(30)를 하부 콘택트 작동부에 의해 승강시키도록 구성될 수 있다. 이때, 상기 상부 콘택트 작동부는 실린더 로드가 상부 프로브 마운팅 패널에 연결된 상부 승강 작동 실린더로 구성되고, 상부 콘택트 작동부는 실린더 로드가 상부 프로브 마운팅 패널에 연결된 상부 승강 작동 실린더로 구성될 수 있다.
상기 상부 프레임과 하부 프레임은 상하 방향으로 동일 축선 상에 배치되어, 상기 상부 콘택트 작동부와 하부 콘택트 작동부에 의해 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)가 이차전지용 파우치의 둘레부로 나와있는 실링부(2S)의 상면과 하면에 각각 접촉될 수 있다. 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)와 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 파우치의 실링부(2S)의 상면과 저면에 각각 접촉된다. 상기 상부 콘택트 작동부와 하부 콘택트 작동부는 상기 상부 승강 작동 실린더와 하부 승강 작동 실린더 이외에 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)와 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 각각 파우치의 실링부(2S)의 상면과 저면에 접촉되도록 작동시킬키는 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)를 승강시키는 킬 수 있는 수단이면 모두 채용 가능하다.
한편, 상기 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)의 양쪽에 배치된 좌우 한 쌍의 상부 프레싱편(24)과 하부 프레싱편(34)이 파우치의 실링부(2S)를 각각 상면과 저면에서 눌러주고 있는 상태에서 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)와 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 파우치의 실링부(2S)의 상면과 저면에 각각 접촉되도록 구성될 수 있다.
상기 파우치는 메인 프레임에 구비된 스탠드에 거치된 상태에서 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)에 의해 거치된 실링부(2S)의 두께가 측정될 수 있도록 구성된다. 스탠드는 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)가 승강되는 영역의 옆에 배치되어, 파우치를 스탠드 위에 올려놓고 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)의 승강 영역으로 들어와 있는 파우치의 실링부(2S)의 두께를 측정하도록 구성된다.
상기 하부 프로브(30)는 실링부(2S)의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)과 실링부(2S)의 하면 사이의 두께 편차를 측정하도록 실링부(2S)의 하면으로 전진하여 접촉된다. 하부 프로브(30)가 파우치의 실링부(2S) 아래에 있어서 하부 프로브(30)가 위로 올라와서 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 파우치의 실링부(2S) 하면에 접촉된다.
상기 상부 프로브(20)는 실링부(2S)의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)과 실링부(2S)의 상면 사이의 두께 편차를 측정하도록 실링부(2S)의 상면으로 전진하여 접촉된다. 상부 프로브(20)가 파우치의 실링부(2S) 위에 있어서 상부 프로브(20)가 아래로 내려와서 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)가 파우치의 실링부(2S) 상면에 접촉된다.
한편, 본 발명에 의한 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정방법은 파우치의 실링부(2S) 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)을 셋팅하는 단계와, 상기 하부 프로브(30)의 상단부와 상부 프로브(20)의 상단부를 파우치의 실링부(2S) 하면과 상면에 각각 접촉시켜서 상기 제로 셋팅점(ZP)을 기준으로 하부 프로브 측정값과 상부 프로브 측정값을 취득하여 파우치의 실링부(2S)의 두께를 측정하는 단계를 포함한다.
본 발명에 의해서 파우치의 실링부(2S) 두께를 측정하는 원리를 설명하면 다음과 같다.
본 발명에서는 상하 두 개의 프로브를 사용한다. 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)를 사용한다.
상기 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)를 이용하여 제로 셋팅점(ZP)을 정한다. 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)와 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)를 위아래에서 접촉시키서 제로 셋팅점(ZP)을 정한다. 측정기 제로 셋팅(Zero setting)이다. 이 단계가 상기 제로 셋팅점(ZP)을 정하는 단계이다.
상기 제로 셋팅점(ZP)이 정해지면 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30) 사이에 파우치의 실링부(2S)를 배치하고, 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)와 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)를 각각 파우치의 실링부(2S) 상면과 하면에 접촉시킨다.
그러면, 상부 프로브 측정값과 하부 프로브 측정값을 구할 수 있다. 상기 제로 셋팅점(ZP)에서 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22) 사이의 거리가 상부 프로브 측정값이고, 상기 제로 셋팅점(ZP)에서 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32) 사이의 거리가 하부 프로브 측정값이다.
이렇게 구해진 상부 프로브 측정값과 하부 프로브 측정값을 합산하여 파우치의 실링부(2S) 두께를 측정할 수 있다. 즉, 파우치의 실링부 두께 = 상부 프로브 측정값 + 하부 프로브 측정값이 된다. 이 단계가 파우치의 실링부(2S)의 두께를 측정하는 단계이다.
이처럼 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)를 이용하여 파우치의 실링부(2S) 두께를 구하면 변형된 실링면에 대해서도 정확한 두께 측정이 가능하다.
따라서, 본 발명은 파우치의 실링부(2S)의 변형으로 인한 측정 오차가 발생하는 문제를 해결한다. 본 발명은 밀착 유닛을 사용하지 않더라도 실링부(2S)의 강성으로 인하여 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)의 밀착이 부정확해지는 경우가 없기 때문에, 실링부(2S)의 두께 측정이 제대로 될 수 있다.
또한, 본 발명에서는 기준면의 상하 이동으로 인한 반복 정밀도 문제가 발생하는 경우도 방지한다. 실링부(2S) 두께 측정 기준면이 상하 이동을 반복하는 것이 아니라서 두께 측정 오차가 많이 생기는 경우가 없으므로 그만큼 기존에 비해서 실링부(2S) 두께 측정에 있어서 오차가 생기는 경우가 방지된다.
상기한 바와 같이, 마이크로 미터 단위로 파우치의 실링부(2S) 두께를 정확하게 측정해야 하는데, 파우치의 실링부(2S)가 용융되서 붙어서 만들어지기 때문에, 강성이 있고, 이러한 강성이 있는 실링부(2S)를 측정용 프로브에 의해서 누르더라도 두께가 정확하게 측정이 되어야 한다.
그런데, 본 발명에서는 파우치의 실링부(2S)의 강성으로 인하여 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)와 파우치의 실링부(2S) 사이의 간극이 생기는 경우를 방지하고, 이러한 간극의 발생으로 인한 두께 측정 오차를 극복할 수 있으므로 실링부(2S) 두께가 정확하게 측정되는 효과가 있다.
한편, 본 발명은 측정 기준 지그(42)를 활용하여 파우치의 실링부(2S) 두께를 측정하도록 측정 기준 지그(42)를 더 포함한다. 상기 하부 프로브(30)와 상부 프로브(20) 사이에 측정 기준 지그(42)가 배치되며, 측정 기준 지그(42)는 상하면 사이의 두께가 정해져 있다. 측정 기준 지그(42)의 두께는 파우치의 실링부(2S)의 두께보다 더 두껍게 구성된다.
상기 하부 프로브(30)와 상기 상부 프로브(20) 사이에 두께가 정해져 있는 측정 기준 지그(42)를 배치시켜서 파우치의 실링부(2S)의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)을 정하고, 상기 제로 셋팅점(ZP)을 기준으로 하부 프로브 측정값과 상부 프로브 측정값을 취득함으로써, 상기 파우치의 실링부(2S)의 두께를 측정할 수 있다.
상기 하부 프로브(30)와 상단부와 상기 상부 프로브(20)의 하단부 사이에 상기 측정 기준 지그(42)를 치운 다음, 상기 하부 프로브(30)의 상단부가 실링부(2S)의 하면에 접촉된 상태에서 제로 셋팅점(ZP)을 기준으로 하부 프로브 측정값을 구하고, 상기 상부 프로브(20)의 하단부가 실링부(2S)의 상면에 접촉된 상태에서 제로 셋팅점(ZP)을 기준으로 상부 프로브 측정값을 구하게 된다.
상기 측정 기준 지그(42)를 활용하여 파우치의 실링부(2S) 두께를 측정하는 원리를 좀더 구체적으로 설명하면 다음과 같다.
상기 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)가 상하 방향으로 이격되어 있는 상태에서 상기 측정 기준 지그(42)를 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30) 사이에 배치시킨다.
이러한 상태에서 상부 프로브(20)를 내려서 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)가 파우치의 실링부(2S) 상면에 접촉되도록 하고, 하부 프로브(30)를 올려서 하부 콘택트부(32)가 파우치의 실링부(2S) 하면에 접촉되도록 한다.
그러면, 상기 상부 콘택트부(22)가 파우치의 실링부(2S)의 상면에 접촉된 지점이 상부 제로 셋팅점(ZP)이 되고, 상기 하부 콘택트부(32)가 파우치의 실링부(2S)의 하면에 접촉된 지점이 하부 제로 셋팅점(ZP)이 된다.
상기 상부 제로 셋팅점(ZP)과 하부 제로 셋팅점(ZP)이 정해진 상태에서 측정 기준 지그(42)를 치우고 파우치의 실링부(2S)를 상부 제로 셋팅점(ZP)과 하부 제로 셋팅점(ZP) 사이의 영역에 배치시킨다.
다음, 상기 상부 프로브(20)를 내리고 하부 프로브(30)를 올리면 상부 제로 셋팅점(ZP)에서 상부 프로브(20)가 더 내려온 거리가 상부 프로브 측정값이 되고, 하부 제로 셋팅점(ZP)에서 하부 프로브(30)가 더 올라온 거리는 하부 프로브 측정값이 된다. 즉, 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)가 상부 제로 셋팅점(ZP)에서 더 내려온 거리가 상부 프로브 측정값이고, 상기 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 하부 제로 셋팅점(ZP)에서 더 올라온 거리가 하부 프로브 측정값이다.
상기 측정 기준 지그(42)는 파우지의 실링부(2S)의 두께보다 더 두껍기 때문에, 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)가 상부 제로 셋팅점(ZP)에서 더 내려온 거리가 마이너스(-) 상부 프로브 측정값으로 구해지고, 상기 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 하부 제로 셋팅점(ZP)에서 더 올라온 거리가 마이너스(-) 하부 프로브 측정값으로 구해진다.
이처럼 상부 프로브 측정값과 하부 프로브 측정값이 구해지면, 상기 측정 기준 지그(42)의 두께에서 상기 상부 프로브 측정값과 하부 프로브 측정값을 차감하여 파우치의 실링부(2S) 두께를 측정할 수 있다. 예를 들어, 측정 기준 지그(42)의 두께가 500㎛이고, 상부 프로브 측정값이 200㎛이고, 하부 프로브 측정값이 100㎛이면, 파우치의 실링부 두께는 500㎛ - 200㎛ - 100㎛ = 200㎛가 된다.
따라서, 본 발명에서 측정 기준 지그(42)를 활용하여 파우치의 실링부(2S) 두께를 오차없이 정확하게 측정할 수 있다.
상기 측정 기준 지그(42)를 이용하여 파우치의 실링부(2S) 두께를 측정하는 경우에도 전술한 두 개의 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)만을 이용하여 파우치의 실링부(2S)를 측정하는 경우의 효과와 동일하므로, 측정 기준 지그(42)를 이용한 경우의 효과에 대한 중복 설명은 생략하기로 한다.
한편, 본 발명에서는 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)의 양쪽에 배치된 좌우 한 쌍의 상부 프레싱편(24)과 하부 프레싱편(34)이 파우치의 실링부(2S)를 각각 상면과 저면에서 눌러주고 있는 상태에서 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)와 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 파우치의 실링부(2S)의 상면과 저면에 각각 접촉되어 파우치의 실링부(2S) 두께를 측정하는데, 상기 파우치의 실링부(2S)는 파우치를 형성하기 위한 파우치 시트들이 용융되어 접합된 플라스틱이라 할 수 있어서 상부 프레싱편(24)과 하부 프레싱편(34)이 파우치의 실링부(2S)를 눌러서 잡은 상태이면 상기 실링부(2S)에서 눌리지 않은 부분은 정밀하게 보면 상부 프레싱편(24)과 하부 프레싱편(34)의 주위로 밀려나오면서 상기 실링부(2S)에 변형이 생길 수 있다. 도 12에서 화살표로 표시된 것과 같이 실링부(2S)에서 눌리지 않은 부분은 상부 프레싱편(24)과 하부 프레싱편(34)의 주위로 밀려나오면서 실링부(2S)의 변형이 생길 수도 있다. 특히 상부 프로부와 하부 프로브(30)의 상부 콘택트부(22)와 하부 콘택트부(32)가 접촉된 부분이 밀려들어온 부분에 의해 링클링되는 변형(울퉁불퉁해지는 변형)이 변형이 생길 수 있다. 1㎛ 단위와 같이 아주 정밀한 두께 기준으로 보면 상부 프로부와 하부 프로브(30)의 상부 콘택트부(22)와 하부 콘택트부(32)가 접촉된 부분이 밀려들어온 부분에 의해 링클링되는 변형이 생기는 것이다.
그런데, 본 발명에서는 이처럼 상부 프로부와 하부 프로브(30)의 상부 콘택트부(22)와 하부 콘택트부(32)가 접촉된 부분에 생긴 변형을 보상하여 실링부(2S) 두께 측정의 오차가 생기는 것을 방지하기 위하여 상기 하부 프로브(30)가 파우치의 실링부(2S) 하면에서 누르는 힘을 상부 프로브(20)가 파우치의 실링부(2S) 상면에서 누르는 힘보다 더 크게 주도록 구성된다. 상기 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)를 각각 상부 스프링과 하부 스프링의 힘으로 눌러주도록 구성될 수 있는데, 하부 스프링의 탄성력을 상부 스프링의 탄성력보다 더 크게 함으로써 상부 프로브(20)보다 하부 프로브(30)를 더 큰 힘으로 파우치의 실링부(2S)를 눌러준다. 한편, 상기한 상부 콘택트 작동부와 하부 콘택트 작동부에 의해서 하부 프로브(30)가 상부 프로브(20)보다 더 큰 힘으로 파우치의 실링부(2S)를 눌러주도록 구성될 수도 있다.
도 13에 도시된 바와 같이 하부 프로브(30)가 상부 프로브(20)보다 먼저 올라와서 상부 프로브(20)보다 더 큰 힘으로 파우치의 실링부(2S)를 밑에서 눌러주고, 상부 프로브(20)가 내려와서 상기 실링부(2S)를 눌러주면, 하부 프로브(30)가 밑에서 눌러주는 더 큰 힘에 의해 실링부(2S)가 위쪽으로 살짝 곡면형으로 벤딩되는 것과 같이 올라오면서 상기 실링부(2S)의 링클링된 부분을 펴주게 되면서 실링부(2S)를 원래의 정상 두께로 보상하게 된다.
이때, 상기 하부 프로브(30)는 파우치의 실링부(2S)의 링클링된 높이를 플랫하게 눌러서 펴주고 링클링된 부분을 펴준 상태에서는 상기 실링부(2S)를 더 눌러주지는 않을 정도의 힘으로 파우치의 실링부(2S)를 눌러주도록 구성된다. 즉, 하부 프로브(30)가 파우치의 실링부(2S)에서 링클링된 부분을 눌러주고 실링부(2S)를 링클링부가 펴진 상태에서 더 눌러줌으로 인한 변형은 생기지 않을 정도의 힘으로 파우치의 실링부(2S)를 눌러주는 것이다.
상기 파우치의 실링부(2S)에서 상부 프레싱편(24)과 하부 프레싱편(34)이 눌러주는 힘에 의해 밀려들어 와서 링클링된 부분을 하부 프로브(30)가 상부 프로브(20)보다 더 큰 힘으로 눌러서 플랫한 면(평평한 면)으로 펴준 상태에서 실링부(2S)의 두께를 측정하기 때문에, 파우치의 실링부(2S)가 링클링된 것으로 인한 두께 측정 오차를 방지하므로, 파우치의 실링부(2S)의 두께를 더욱더 착오없이 올바르게 측정할 수 있다.
또한, 상기 하부 프로브(30)가 상부 프로브(20)에 비하여 더 많이 눌러주는 힘에 의해서 파우치의 실링부(2S) 자체가 원래의 정상 두께보다 더 줄어드는 것과 같은 변형을 방지하도록 상기 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)의 곡률 반경을 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)의 곡률 반경보다 더 크도록 구성한다. 예를 들어, 예를 들어, 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)의 곡률 반경이 3㎜이면 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)의 곡률 반경은 1㎜로 구성한다.
이렇게 하면, 상기 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)에 비하여 상대적으로 더 플랫한 부분으로 눌러주기 때문에, 상기 하부 프로브(30)에 의해 상부 프로브(20)보다 더 큰 힘으로 눌러줌으로 인한 실링부(2S)의 두께 측정 오차도 보상하게 된다.
따라서, 하부 프로브(30)를 상부 프로브(20)에 비하여 상대적으로 더 큰 힘으로 눌러줌으로 인한 실링부(2S)의 두께 변형을 더 확실하게 방지하므로, 파우치의 실링부(2S)의 두께 측정 오차가 생기는 것을 완벽하게 방지할 수 있게 된다.
한편, 도 14에 도시된 바와 같이 상부 프로브(20)가 하부 프로브(30)보다 먼저 내려와서 하부 프로브(20)보다 더 큰 힘으로 파우치의 실링부(2S)를 위에서 눌러주고, 하부 프로브(30)가 올라와서 상기 실링부(2S)를 눌러주면, 상부 프로브(30)가 위에서 눌러주는 더 큰 힘에 의해 실링부(2S)가 아래쪽으로 살짝 곡면형으로 벤딩되는 것과 같이 내려오면서 상기 실링부(2S)의 링클링된 부분을 펴주게 되면서 실링부(2S)를 원래의 정상 두께로 보상하게 된다. 도 14에서는 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)의 곡률 반경이 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)의 곡률 반경보다 더 크다.
이때, 상기 상부 프로브(20)는 파우치의 실링부(2S)의 링클링된 높이를 플랫하게 눌러서 펴주고 링클링된 부분을 펴준 상태에서는 상기 실링부(2S)를 더 눌러주지는 않을 정도의 힘으로 파우치의 실링부(2S)를 눌러주도록 구성된다. 즉, 상부 프로브(30)가 파우치의 실링부(2S)에서 링클링된 부분을 눌러주고 실링부(2S)를 링클링부가 펴진 상태에서 더 눌러줌으로 인한 변형은 생기지 않을 정도의 힘으로 파우치의 실링부(2S)를 눌러주는 것이다.
상기 파우치의 실링부(2S)에서 상부 프레싱편(24)과 하부 프레싱편(34)이 눌러주는 힘에 의해 밀려들어 와서 링클링된 부분을 상부 프로브(20)가 하부 프로브(30)보다 더 큰 힘으로 눌러서 플랫한 면(평평한 면)으로 펴준 상태에서 실링부(2S)의 두께를 측정하기 때문에, 파우치의 실링부(2S)가 링클링된 것으로 인한 두께 측정 오차를 방지하므로, 파우치의 실링부(2S)의 두께를 더욱더 착오없이 올바르게 측정할 수 있다.
도 14는 상부 프로브(20)가 먼저 실링부(2S)를 위에서 눌러서 실링부(2S)를 링클링된 부분으로 펴준 상태에서 하부 프로브(30)가 올라와서 하부 콘택트부(32)가 실링부(2S)의 밑에서 눌러주고, 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)의 곡률 반경을 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)의 곡률 반경보다 더 크게 구성한 실시예를 보여준다.
또한, 상기 상부 프로브(20)가 하부 프로브(30)에 비하여 더 많이 눌러주는 힘에 의해서 파우치의 실링부(2S) 자체가 원래의 정상 두께보다 더 줄어드는 것과 같은 변형을 방지하도록 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)의 곡률 반경을 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)의 곡률 반경보다 더 크도록 구성한다. 예를 들어, 예를 들어, 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)의 곡률 반경이 3㎜이면 하부 프로브(20)의 하부 콘택트부(32)의 곡률 반경은 1㎜로 구성한다.
이렇게 하면, 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)가 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)에 비하여 상대적으로 더 플랫한 부분으로 눌러주기 때문에, 상기 상부 프로브(20)에 의해 하부 프로브(30)보다 더 큰 힘으로 눌러줌으로 인한 실링부(2S)의 두께 측정 오차도 보상하게 된다.
따라서, 상부 프로브(20)를 하부 프로브(30)에 비하여 상대적으로 더 큰 힘으로 눌러줌으로 인한 실링부(2S)의 두께 변형을 더 확실하게 방지하므로, 파우치의 실링부(2S)의 두께 측정 오차가 생기는 것을 완벽하게 방지할 수 있게 된다.
이상, 본 발명의 특정 실시예에 대하여 상술하였다. 그러나, 본 발명의 사상 및 범위는 이러한 특정 실시예에 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 요지를 변경하지 않는 범위 내에서 다양하게 수정 및 변형이 가능하다는 것을 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이해할 것이다.
따라서, 이상에서 기술한 실시예들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이므로, 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 하며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
20. 상부 프로브 22. 상부 콘택트부
24. 상부 프레싱편 30. 하부 프로브
32. 하부 콘택트부 34. 하부 프레싱편
42. 측정 기준 지그

Claims (10)

  1. 이차전지용 파우치의 실링부(2S) 하면에 접촉되는 하부 프로브(30);
    상기 파우치의 실링부(2S) 상면에 접촉되는 상부 프로브(20);를 포함하여 구성되고,
    상기 하부 프로브(30)는 상기 실링부(2S)의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)과 상기 실링부(2S)의 하면 사이의 두께 편차를 측정하도록 상기 실링부(2S)의 하면으로 전진하여 접촉되고, 상기 상부 프로브(20)는 상기 실링부(2S)의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)과 상기 실링부(2S)의 상면 사이의 두께 편차를 측정하도록 상기 실링부(2S)의 상면으로 전진하여 접촉되고,
    상기 하부 프로브(30)의 상단부는 하부 콘택트부(32)로 구성되고, 상기 상부 프로브(20)의 하단부는 상부 콘택트부(22)로 구성되어, 상기 하부 콘택트부(32)와 상기 상부 콘택트부(22)가 상기 파우치의 실링부(2S)의 하면과 상면에 각각 접촉되도록 구성되고,
    상기 하부 프로브(30)와 상기 상부 프로브(20) 사이에 배치되며 두께가 정해져 있는 측정 기준 지그(42);를 더 포함하여 구성되고,
    상기 측정 기준 지그(42)의 두께는 파우치의 실링부(2S)의 두께보다 더 두껍게 구성되고,
    상기 상부 프로브(20)와 상기 하부 프로브(30)가 상하 방향으로 이격되어 있는 상태에서 상기 측정 기준 지그(42)를 상기 상부 프로브(20)와 상기 하부 프로브(30) 사이에 배치시킨 상태에서 상기 상부 프로브(20)를 내려서 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)가 파우치의 실링부(2S) 상면에 접촉되도록 하고, 상기 하부 프로브(30)를 올려서 상기 하부 콘택트부(32)가 파우치의 실링부(2S) 하면에 접촉되도록 하여서 상기 상부 콘택트부(22)가 파우치의 실링부(2S)의 상면에 접촉된 지점이 상부 제로 셋팅점(ZP)이 되고, 상기 하부 콘택트부(32)가 파우치의 실링부(2S)의 하면에 접촉된 지점이 하부 제로 셋팅점(ZP)이 되고, 이러한 상태에서 상기 측정 기준 지그(42)를 치우고 상기 파우치의 실링부(2S)를 상기 상부 제로 셋팅점(ZP)과 상기 하부 제로 셋팅점(ZP) 사이의 영역에 배치시킨 다음, 상기 상부 프로브(20)를 내리고 하부 프로브(30)를 올리면 상부 제로 셋팅점(ZP)에서 상부 프로브(20)가 더 내려온 거리가 상부 프로브 측정값이 되고, 하부 제로 셋팅점(ZP)에서 하부 프로브(30)가 더 올라온 거리는 하부 프로브 측정값이 되어, 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)가 상부 제로 셋팅점(ZP)에서 더 내려온 거리가 상부 프로브 측정값이고, 상기 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 하부 제로 셋팅점(ZP)에서 더 올라온 거리가 하부 프로브 측정값이며,
    상기 측정 기준 지그(42)는 파우지의 실링부(2S)의 두께보다 더 두껍기 때문에, 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)가 상부 제로 셋팅점(ZP)에서 더 내려온 거리가 마이너스(-) 상부 프로브 측정값으로 구해지고, 상기 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 하부 제로 셋팅점(ZP)에서 더 올라온 거리가 마이너스(-) 하부 프로브 측정값으로 구해지며, 상기 상부 프로브 측정값과 하부 프로브 측정값이 구해지면, 상기 측정 기준 지그(42)의 두께에서 상기 상부 프로브 측정값과 하부 프로브 측정값을 차감하여 파우치의 실링부(2S) 두께를 측정할 수 있도록 구성된 것을 특징으로 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 이차전지용 파우치의 실링부(2S) 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)을 셋팅하는 단계;
    하부 프로브(30)의 상단부와 상부 프로브(20)의 상단부를 상기 파우치의 상기 실링부(2S) 하면과 상면에 각각 접촉시켜서 상기 제로 셋팅점(ZP)을 기준으로 하부 프로브 측정값과 상기 상부 프로브 측정값을 취득하여 상기 파우치의 실링부(2S)의 두께를 측정하는 단계;를 포함하여 구성되며,
    상기 하부 프로브(30)와 상기 상부 프로브(20) 사이에 배치되며 두께가 정해져 있는 측정 기준 지그(42);를 더 포함하도록 구성하고,
    상기 하부 프로브(30)의 상단부는 하부 콘택트부(32)로 구성되고, 상기 상부 프로브(20)의 하단부는 상부 콘택트부(22)로 구성되어, 상기 하부 콘택트부(32)와 상기 상부 콘택트부(22)가 상기 파우치의 실링부(2S)의 하면과 상면에 각각 접촉되도록 구성되고,
    상기 측정 기준 지그(42)의 두께는 파우치의 실링부(2S)의 두께보다 더 두껍게 구성하여,
    상기 상부 프로브(20)와 상기 하부 프로브(30)가 상하 방향으로 이격되어 있는 상태에서 상기 측정 기준 지그(42)를 상기 상부 프로브(20)와 상기 하부 프로브(30) 사이에 배치시킨 상태에서 상기 상부 프로브(20)를 내려서 상기 상부 프로브(20)의 상기 상부 콘택트부(22)가 파우치의 실링부(2S) 상면에 접촉되도록 하고, 상기 하부 프로브(30)를 올려서 상기 하부 콘택트부(32)가 파우치의 실링부(2S) 하면에 접촉되도록 하여서 상기 상부 콘택트부(22)가 파우치의 실링부(2S)의 상면에 접촉된 지점이 상부 제로 셋팅점(ZP)이 되고, 상기 하부 콘택트부(32)가 파우치의 실링부(2S)의 하면에 접촉된 지점이 하부 제로 셋팅점(ZP)이 되고, 이러한 상태에서 상기 측정 기준 지그(42)를 치우고 상기 파우치의 실링부(2S)를 상기 상부 제로 셋팅점(ZP)과 상기 하부 제로 셋팅점(ZP) 사이의 영역에 배치시킨 다음, 상기 상부 프로브(20)를 내리고 하부 프로브(30)를 올리면 상부 제로 셋팅점(ZP)에서 상부 프로브(20)가 더 내려온 거리가 상부 프로브 측정값이 되고, 하부 제로 셋팅점(ZP)에서 하부 프로브(30)가 더 올라온 거리는 하부 프로브 측정값이 되어, 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)가 상부 제로 셋팅점(ZP)에서 더 내려온 거리가 상부 프로브 측정값이고, 상기 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 하부 제로 셋팅점(ZP)에서 더 올라온 거리가 하부 프로브 측정값이며,
    상기 측정 기준 지그(42)는 파우지의 실링부(2S)의 두께보다 더 두껍기 때문에, 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)가 상부 제로 셋팅점(ZP)에서 더 내려온 거리가 마이너스(-) 상부 프로브 측정값으로 구해지고, 상기 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 하부 제로 셋팅점(ZP)에서 더 올라온 거리가 마이너스(-) 하부 프로브 측정값으로 구해지며, 상기 상부 프로브 측정값과 하부 프로브 측정값이 구해지면, 상기 측정 기준 지그(42)의 두께에서 상기 상부 프로브 측정값과 하부 프로브 측정값을 차감하여 파우치의 실링부(2S) 두께를 측정할 수 있도록 구성된 것을 특징으로 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정방법.
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